JP2008185467A - プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 - Google Patents
プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008185467A JP2008185467A JP2007019514A JP2007019514A JP2008185467A JP 2008185467 A JP2008185467 A JP 2008185467A JP 2007019514 A JP2007019514 A JP 2007019514A JP 2007019514 A JP2007019514 A JP 2007019514A JP 2008185467 A JP2008185467 A JP 2008185467A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plate
- coordinates
- opening
- storage means
- microscope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 73
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
【解決手段】プレート検査装置は、制御装置と、複数の孔2aが形成されたプレート2を支持する平板32を有するステージと、ステージが設けられた顕微鏡とを含んでいる。制御装置は、第1〜第3記憶部と、測定部と、算出部と、移動制御部とを有している。算出部は、第1〜第3記憶部42〜44に記憶された座標を、Xm´=X1´+(Xm−X1)×(X2´−X1´)/(X2−X1)、及び、Ym´=Y1´+(Ym−Y1)×(Y2´−Y1´)/(Y2−Y1)の2式に代入し、平板32の所定位置からずれた位置に配置されたプレート2の所望の孔2aの座標(Xm´、Ym´)を算出する。そして、移動制御部が、算出部によって算出された座標(Xm´、Ym´)と対物レンズの光軸とが一致するように、ステージを制御する。
【選択図】図5
Description
Xm´=X1´+(Xm−X1)×(X2´−X1´)/(X2−X1)
Ym´=Y1´+(Ym−Y1)×(Y2´−Y1´)/(Y2−Y1)
2 プレート
2a 孔(開口)
3 ステージ(移動装置)
4 顕微鏡
12 対物レンズ
32 平板(支持台)
42 第1記憶部(第1記憶手段)
43 第2記憶部(第2記憶手段)
44 第3記憶部(第3記憶手段)
45 測定部(測定手段)
46 算出部(算出手段)
47 移動制御部(移動制御手段)
Claims (8)
- 一面にn(n:3以上の自然数)個の開口が形成されたプレートを支持する支持台と、
前記支持台に支持された前記プレートの前記開口を拡大して検出することが可能な顕微鏡と、
前記顕微鏡の対物レンズと前記プレートとを対向させつつ、前記一面の面内に設定されたX方向及びこれと直交するY方向の2方向に、前記プレートが前記対物レンズに対して相対移動するように、前記顕微鏡及び前記支持台の少なくともいずれか一方を移動させる移動装置と、
前記プレートが前記支持台の所定位置に配置されたときの前記n個の開口の座標を記憶する第1記憶手段と、
前記対物レンズの光軸が前記プレートの前記一面と交差する点の座標である交点座標を測定する測定手段と、
前記プレートを支持する前記支持台及び前記顕微鏡のいずれか一方を移動して、予め前記第1記憶手段に記憶されている座標(X1、Y1)の第1基準点に対応した開口の前記測定手段によって測定された前記交点座標(X1´、Y1´)を記憶する第2記憶手段と、
前記プレートを支持する前記支持台及び前記顕微鏡のいずれか一方を移動して、予め前記第1記憶手段に記憶されている座標(X2、Y2)の第2基準点に対応した開口の前記測定手段によって測定された前記交点座標(X2´、Y2´)を記憶する第3記憶手段と、
前記第1記憶手段に記憶されたn個の開口のうち前記第1及び第2基準点に対応した開口を除くn−2の開口について、m(m:1以上の自然数)番目の開口座標を(Xm,Ym)としたとき、前記プレートが前記支持台の前記所定位置からずれた位置に配置されたときの前記m番目の開口に対応する補正位置の座標を(Xm´、Ym´)とし、Xm´をXm´=X1´+(Xm−X1)×(X2´−X1´)/(X2−X1)、Ym´をYm´=Y1´+(Ym−Y1)×(Y2´−Y1´)/(Y2−Y1)より算出する算出手段と、
前記交点座標が前記算出手段で算出された前記m番目の開口に対応する補正位置の座標(Xm´、Ym´)と一致するように、前記移動装置を制御する移動制御手段とを備えていることを特徴とするプレート検査装置。 - 前記移動制御手段が、前記第2記憶手段が前記交点座標(X1´、Y1´)を記憶していないときに、前記第1記憶手段に記憶された前記座標(X1、Y1)と前記交点座標とが一致するように、前記移動装置を制御することを特徴とする請求項1に記載のプレート検査装置。
- 前記移動制御手段が、前記第3記憶手段が前記交点座標(X2´、Y2´)を記憶していないときに、前記第1記憶手段に記憶された前記座標(X2、Y2)と前記交点座標とが一致するように、前記移動装置を制御することを特徴とする請求項2に記載のプレート検査装置。
- 前記プレートの前記第1基準点に対応した開口及び前記第2基準点に対応した開口が、前記n個の開口のうち、互いに最も離れていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のプレート検査装置。
- 一面にn(n:3以上の自然数)個の開口が形成されたプレートを支持する支持台と、前記支持台に支持された前記プレートの前記開口を拡大して検出することが可能な顕微鏡と、前記顕微鏡の対物レンズと前記プレートとを対向させつつ、前記一面の面内に設定されたX方向及びこれと直交するY方向の2方向に、前記プレートが前記対物レンズに対して相対移動するように、前記顕微鏡及び前記支持台の少なくともいずれか一方を移動させる移動装置と、前記プレートが前記支持台の所定位置に配置されたときの前記n個の開口の座標を記憶する記憶手段と、前記対物レンズの光軸が前記プレートの前記一面と交差する点の座標である交点座標を測定する測定手段とを備えたプレート検査装置を用いたプレートの開口検査方法において、
前記プレートを前記支持台に配置する配置工程と、
前記プレートを支持する前記支持台及び前記顕微鏡のいずれか一方を移動して、予め前記記憶手段に記憶されている座標(X1、Y1)の第1基準点に対応した開口の前記測定手段によって測定された前記交点座標(X1´、Y1´)を記憶する第1記憶工程と、
前記プレートを支持する前記支持台及び前記顕微鏡のいずれか一方を移動して、予め前記記憶手段に記憶されている座標(X2、Y2)の第2基準点に対応した開口の前記測定手段によって測定された前記交点座標(X2´、Y2´)を記憶する第2記憶工程と、
前記記憶手段に記憶されたn個の開口のうち前記第1及び第2基準点に対応した開口を除くn−2の開口について、m(m:1以上の自然数)番目の開口座標を(Xm,Ym)としたとき、前記プレートが前記支持台の前記所定位置からずれた位置に配置されたときの前記m番目の開口に対応する補正位置の座標を(Xm´、Ym´)とし、Xm´をXm´=X1´+(Xm−X1)×(X2´−X1´)/(X2−X1)、Ym´をYm´=Y1´+(Ym−Y1)×(Y2´−Y1´)/(Y2−Y1)より算出する算出工程と、
前記交点座標が前記算出工程において算出された前記m番目の開口に対応する補正位置の座標(Xm´、Ym´)と一致するように、前記移動装置を制御する移動制御工程とを備えていることを特徴とするプレートの開口検査方法。 - 前記配置工程後から第1記憶工程前において、前記交点座標が、予め前記記憶手段に記憶されている座標(X1、Y1)と一致するように、前記移動装置を制御する第1移動制御工程をさらに備えていることを特徴とする請求項5に記載のプレートの開口検査方法。
- 前記第1記憶工程後から第2記憶工程前において、前記交点座標が、予め前記記憶手段に記憶されている座標(X2、Y2)と一致するように、前記移動装置を制御する第2移動制御工程をさらに備えていることを特徴とする請求項6に記載のプレートの開口検査方法。
- 前記プレートの前記第1基準点に対応した開口及び前記第2基準点に対応した開口が、前記n個の開口のうち、互いに最も離れていることを特徴とする請求項5〜7のいずれか1項に記載のプレートの開口検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019514A JP4803052B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019514A JP4803052B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008185467A true JP2008185467A (ja) | 2008-08-14 |
JP4803052B2 JP4803052B2 (ja) | 2011-10-26 |
Family
ID=39728620
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007019514A Expired - Fee Related JP4803052B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4803052B2 (ja) |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH052633A (ja) * | 1991-06-26 | 1993-01-08 | Asahi Eng Co Ltd | 目づまり検査装置および方法 |
JPH10226070A (ja) * | 1997-02-18 | 1998-08-25 | Fujitsu Ltd | ノズル板、インクジェットヘッド、プリンタ、ノズル板の製造方法、及びノズル板の製造装置 |
JPH10311705A (ja) * | 1997-05-12 | 1998-11-24 | Nikon Corp | 画像入力装置 |
JP2000249738A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Uht Corp | テープ状物の導通検査装置 |
JP2001283194A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-12 | Sony Corp | 回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置 |
JP2002131253A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-05-09 | Applied Materials Inc | 基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム |
JP2004163174A (ja) * | 2002-11-11 | 2004-06-10 | Nec Kyushu Ltd | 座標補正方法及び外観検査方法 |
-
2007
- 2007-01-30 JP JP2007019514A patent/JP4803052B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH052633A (ja) * | 1991-06-26 | 1993-01-08 | Asahi Eng Co Ltd | 目づまり検査装置および方法 |
JPH10226070A (ja) * | 1997-02-18 | 1998-08-25 | Fujitsu Ltd | ノズル板、インクジェットヘッド、プリンタ、ノズル板の製造方法、及びノズル板の製造装置 |
JPH10311705A (ja) * | 1997-05-12 | 1998-11-24 | Nikon Corp | 画像入力装置 |
JP2000249738A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Uht Corp | テープ状物の導通検査装置 |
JP2001283194A (ja) * | 2000-03-28 | 2001-10-12 | Sony Corp | 回路基板の外観検査方法及び回路基板の外観検査装置 |
JP2002131253A (ja) * | 2000-10-18 | 2002-05-09 | Applied Materials Inc | 基板の欠陥検査方法および基板の欠陥検査システム |
JP2004163174A (ja) * | 2002-11-11 | 2004-06-10 | Nec Kyushu Ltd | 座標補正方法及び外観検査方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4803052B2 (ja) | 2011-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5977556B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
JP5977557B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
CN106217372A (zh) | 机器人、机器人控制装置以及机器人系统 | |
JP6559023B2 (ja) | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 | |
JP2012078306A (ja) | 硬さ試験機 | |
JP2009036969A (ja) | カバーガラス、スライドガラス、プレパラート、観察方法、及び顕微鏡装置 | |
JP6640497B2 (ja) | 試料ホルダ及び試料ホルダ群 | |
JP2014035236A (ja) | 硬さ試験機 | |
JP5910407B2 (ja) | 硬さ試験機および硬さ試験機における硬さ試験方法 | |
JP4803052B2 (ja) | プレート検査装置及びそれを用いたプレートの開口検査方法 | |
JP2015059756A (ja) | 硬さ試験機 | |
US20080282197A1 (en) | Microscopic-Measurement Apparatus | |
JP6760477B2 (ja) | 細胞観察装置 | |
JP2015129690A (ja) | ゲージ検査治具 | |
JP2017198985A (ja) | テーブルティルティング確認装置及び確認方法 | |
JP2014020943A (ja) | 硬さ試験機 | |
JP2007271350A (ja) | 平面表示型ディスプレイの基準平面設定方法及び視野角測定方法 | |
JP6040816B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
JP2006300935A (ja) | Xyzステージの側方片寄りを決定するための方法 | |
JPS62130305A (ja) | 画像処理式測定装置 | |
JP7326012B2 (ja) | 加工装置 | |
JP3935911B2 (ja) | 基板検査装置 | |
JP2012242085A (ja) | 曲率半径測定機の被測定体保持位置補正方法および曲率半径測定機 | |
JP6264313B2 (ja) | 硬さ試験機 | |
JP2011247842A (ja) | 硬度試験機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101124 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110124 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110712 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110725 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4803052 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140819 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |