JP2008182002A - Device and method for processing substrate, and method for manufacturing display component - Google Patents

Device and method for processing substrate, and method for manufacturing display component Download PDF

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JP2008182002A JP2007013354A JP2007013354A JP2008182002A JP 2008182002 A JP2008182002 A JP 2008182002A JP 2007013354 A JP2007013354 A JP 2007013354A JP 2007013354 A JP2007013354 A JP 2007013354A JP 2008182002 A JP2008182002 A JP 2008182002A
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Takahiro Kasahara
孝宏 笠原
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for processing a substrate capable of smoothly and rapidly conducting a maintenance work while improving an operating ratio and a production efficiency. <P>SOLUTION: Maintenance regions 33-1 and 33-2 are fitted on both left and right sides while holding a processing region 31. Two processing devices 17-1 and 17-2 are moved among the maintenance region 33-1 to a processing region 31 to the maintenance region 33-2 along the same axis of movement by a Y shifter 19. The maintenance regions 33 are fitted at every processing device 17, and are not shared among the two processing devices 17. One processing device 17-1 is moved between the processing region 31 and the maintenance region 33-1 on the left side, and the other processing device 17-2 is moved between the processing region 31 and the maintenance region 33-2 on the right side. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、表示装置におけるカラーフィルタ等のパターンを形成する基板加工装置に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus for forming a pattern such as a color filter in a display device.

従来、基板加工装置は、ガラス基板等の薄板状の基板(ワーク)をステージ上に載置し、当該ステージを介して位置決めを行い、基板上に精密パターニング加工を行う。加工装置としてインクジェット方式によりインク塗布を行うインクジェットヘッドを用いる場合には、加工対象の品目に応じて、ヘッドの位置決め等の段取り作業、インクやヘッドの交換作業、その他のメンテナンス作業を適宜行う必要がある。
また、インクジェットヘッドの交換位置の近傍において、定盤に切り欠きを設け、当該定盤の切り欠き部分を作業領域として、インクジェットヘッドの交換位置近傍まで台車、人等のアクセスを可能とするパターン形成装置が提案されている(例えば、[特許文献1]参照。)。
Conventionally, a substrate processing apparatus places a thin plate-like substrate (work) such as a glass substrate on a stage, performs positioning through the stage, and performs precision patterning on the substrate. When an inkjet head that applies ink by an inkjet method is used as a processing device, it is necessary to appropriately perform setup operations such as head positioning, ink and head replacement operations, and other maintenance operations according to the item to be processed. is there.
Also, a pattern is formed in the vicinity of the replacement position of the inkjet head, and a notch is provided in the surface plate, and the cutout portion of the surface plate is used as a work area to allow access to a carriage, a person, etc. up to the vicinity of the replacement position of the inkjet head An apparatus has been proposed (see, for example, [Patent Document 1]).

特開2005−181476号公報JP 2005-181476 A

しかしながら、従来のパターン形成装置では、定盤の形状は一般に矩形状であるので、台車や人等のアクセスに際し定盤が障害となり、インクジェットヘッドのメンテナンス作業が困難になるという問題点がある。また、基板が大型である場合、基板を支持するステージ、定盤、インクジェットヘッドユニットも大型化するので(例えば、数メートル規模等)、上記問題点は特に顕著である。
また、従来のパターン形成装置では、インクジェットヘッドのメンテナンス作業を行う際には、パターン形成処理を停止させる必要があるので、稼働率及び生産効率が低下するという問題点がある。
However, in the conventional pattern forming apparatus, since the shape of the surface plate is generally rectangular, there is a problem that the surface plate becomes an obstacle when accessing a carriage or a person, and the maintenance work of the inkjet head becomes difficult. Further, when the substrate is large, the stage, the surface plate, and the ink jet head unit that support the substrate are also enlarged (for example, several meters), so the above problem is particularly remarkable.
Further, the conventional pattern forming apparatus has a problem that the operation rate and the production efficiency are lowered because the pattern forming process needs to be stopped when performing maintenance work of the inkjet head.

本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、メンテナンス作業を円滑かつ迅速に行うと共に、稼働率及び生産効率を向上させることを可能とする基板加工装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus that can perform maintenance work smoothly and quickly, and improve the operating rate and production efficiency. To do.

前述した目的を達成するために第1の発明は、基板の加工を行う基板加工装置であって、前記基板の加工処理を行う2つの加工装置と、前記加工装置による加工処理が行われる加工領域と、前記加工装置のメンテナンス処理が行われる2つのメンテナンス領域と、の間で、前記2つの加工装置を移動させる移動装置と、を具備することを特徴とする基板加工装置である。   In order to achieve the above-described object, a first invention is a substrate processing apparatus for processing a substrate, the two processing apparatuses for processing the substrate, and a processing region in which the processing processing is performed by the processing apparatus And a moving device that moves the two processing devices between two maintenance areas in which maintenance processing of the processing device is performed.

基板加工装置は、インクジェットヘッド、ダイコート、レーザ照射ヘッド等の加工装置により基板にパターン形成等の加工処理を行う装置である。基板加工装置は、例えば、コータ、インクジェット装置、レーザ描画装置等である。加工対象の基板は、例えば、ガラス基板等の基板、シリコンウェハ等のウェハである。   The substrate processing apparatus is an apparatus that performs processing such as pattern formation on a substrate by a processing apparatus such as an inkjet head, a die coat, or a laser irradiation head. The substrate processing apparatus is, for example, a coater, an ink jet apparatus, a laser drawing apparatus, or the like. The substrate to be processed is, for example, a substrate such as a glass substrate or a wafer such as a silicon wafer.

基板加工装置には、2つ一組の加工装置が設けられる。また、基板加工装置には、加工領域と2つのメンテナンス領域が設けられる。
各加工装置は、1つまたは複数の加工部あるいは加工ユニットにより構成される。例えば、加工装置をインクジェットヘッドとし、全体として8つのヘッドユニットを用いる場合、2つの加工装置にはそれぞれ4つのヘッドユニットが設けられ、一方の加工装置に設けられる4つのヘッドユニットは加工側として使用され、他方の加工装置に設けられる4つのヘッドユニットはメンテナンス側として分けて使用される。
加工領域は、加工装置による加工処理が行われる領域である。メンテナンス領域は、加工装置のメンテナンス処理が行われる領域である。メンテナンス処理は、加工装置をインクジェットヘッドとした場合、インクジェットヘッドの位置決め等の段取り作業、ヘッド交換、インク交換、クリーニング等の作業である。移動装置は、加工領域と2つのメンテナンス領域との間で、2つの加工装置を移動させる装置である。
また、加工装置の移動方向に沿って前記加工領域の両外側にメンテナンス領域を設け、同一の移動軸に沿って、加工領域と2つのメンテナンス領域との間で、2つの加工装置を移動させることが望ましい。また、メンテナンス処理を行うメンテナンス装置を設けてもよい。
The substrate processing apparatus is provided with a pair of processing apparatuses. The substrate processing apparatus is provided with a processing area and two maintenance areas.
Each processing apparatus includes one or a plurality of processing units or processing units. For example, when the processing apparatus is an inkjet head and uses eight head units as a whole, each of the two processing apparatuses is provided with four head units, and the four head units provided in one processing apparatus are used as the processing side. The four head units provided in the other processing apparatus are used separately on the maintenance side.
The processing area is an area where the processing by the processing apparatus is performed. The maintenance area is an area where maintenance processing of the processing apparatus is performed. When the processing apparatus is an inkjet head, the maintenance process includes setup operations such as positioning of the inkjet head, head replacement, ink replacement, and cleaning. The moving device is a device that moves the two processing devices between the processing region and the two maintenance regions.
Also, maintenance areas are provided on both outer sides of the machining area along the movement direction of the machining apparatus, and the two machining apparatuses are moved between the machining area and the two maintenance areas along the same movement axis. Is desirable. Further, a maintenance device that performs maintenance processing may be provided.

基板加工装置は、2つの加工装置のうちいずれか一方の加工装置を加工領域に移動させて当該加工装置によって基板の加工処理を行い、他方の加工装置をメンテナンス領域に移動させて当該加工装置にメンテナンス処理を行う。
従って、一方の加工装置によって加工処理を行っている間に、他方の加工装置のメンテナンス処理を行うので、メンテナンス処理を行うために加工処理を停止させる必要がなく、稼働率及び生産効率を向上させることができる。
また、メンテナンス領域に加工装置を移動させて、当該加工装置のメンテナンス処理を行うので、台車や人のアクセスに際し定盤が障害とならず、メンテナンス処理を円滑かつ迅速に行うことができる。
The substrate processing apparatus moves one of the two processing apparatuses to the processing area, performs processing of the substrate by the processing apparatus, moves the other processing apparatus to the maintenance area, and moves the processing apparatus to the processing apparatus. Perform maintenance processing.
Accordingly, since the maintenance processing of the other processing device is performed while the processing processing is performed by one processing device, it is not necessary to stop the processing processing in order to perform the maintenance processing, thereby improving the operation rate and the production efficiency. be able to.
Further, since the processing device is moved to the maintenance area and the maintenance processing of the processing device is performed, the surface plate does not become an obstacle when accessing a cart or a person, and the maintenance processing can be performed smoothly and quickly.

第2の発明は、基板の加工を行う基板加工方法であって、加工処理が行われる加工領域と、メンテナンス処理が行われる2つのメンテナンス領域と、の間で、前記基板の加工処理を行う2つの加工装置を移動させる移動ステップ、を具備することを特徴とする基板加工方法である。
第2の発明は、基板の加工を行う基板加工方法に関する発明である。
A second invention is a substrate processing method for processing a substrate, wherein the substrate is processed between a processing area where the processing is performed and two maintenance areas where a maintenance process is performed. A substrate processing method comprising: a moving step of moving one processing apparatus.
The second invention relates to a substrate processing method for processing a substrate.

第3の発明は、第2の発明の基板加工方法を用いて表示装置の構成部材を製造する表示装置構成部材の製造方法である。表示装置構成部材は、例えば、有機EL(organic ElectroLuminescence)素子やカラーフィルタ等である。   3rd invention is a manufacturing method of the display apparatus structural member which manufactures the structural member of a display apparatus using the board | substrate processing method of 2nd invention. The display device constituent member is, for example, an organic EL (Organic ElectroLuminescence) element or a color filter.

本発明によれば、メンテナンス作業を円滑かつ迅速に行うと共に、稼働率及び生産効率を向上させることを可能とする基板加工装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, while performing a maintenance work smoothly and rapidly, the board | substrate processing apparatus which makes it possible to improve an operation rate and production efficiency can be provided.

以下、添付図面を参照しながら、本発明に係る基板加工装置の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、以下の説明及び添付図面において、略同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略することにする。   Hereinafter, preferred embodiments of a substrate processing apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description and the accompanying drawings, the same reference numerals are given to components having substantially the same functional configuration, and redundant description will be omitted.

(1.基板加工装置1の構成)
最初に、図1を参照しながら、本発明の実施形態に係る基板加工装置1の構成について説明する。
図1は、基板加工装置1の概略斜視図である。
尚、X方向は基板3の搬送方向を示し、Y方向は加工装置17−1及び加工装置17−2の移動方向や基板3あるいは吸着盤4の幅方向を示し、Z方向は鉛直方向回転軸を示し、θ方向はその回転方向を示す。X軸、Y軸、Z軸は、互いに直角をなす。
(1. Configuration of the substrate processing apparatus 1)
First, the configuration of the substrate processing apparatus 1 according to the embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a schematic perspective view of the substrate processing apparatus 1.
The X direction indicates the transport direction of the substrate 3, the Y direction indicates the moving direction of the processing device 17-1 and the processing device 17-2, the width direction of the substrate 3 or the suction plate 4, and the Z direction is the vertical rotation axis. The θ direction indicates the direction of rotation. The X axis, the Y axis, and the Z axis are perpendicular to each other.

基板加工装置1は、X方向移動装置5、θ方向回転装置7、エア浮上装置11、加工装置17−1及び加工装置17−2、Y方向移動装置19、アライメントカメラ21、ガントリ23、ベース24等から構成される。   The substrate processing apparatus 1 includes an X-direction moving device 5, a θ-direction rotating device 7, an air levitation device 11, a processing device 17-1 and a processing device 17-2, a Y-direction moving device 19, an alignment camera 21, a gantry 23, and a base 24. Etc.

基板加工装置1は、基板3に対して加工装置17−1あるいは加工装置17−2により加工処理を施し、カラーフィルタ、電子回路等の微細ピッチのパターン等を形成する装置である。
基板3は、加工処理の対象物であり、例えば、ガラス基板、シリコンウェハ、プリント基板等の基板である。
The substrate processing apparatus 1 is an apparatus that performs processing on the substrate 3 by the processing apparatus 17-1 or the processing apparatus 17-2 to form a fine pitch pattern such as a color filter or an electronic circuit.
The substrate 3 is an object to be processed, and is, for example, a substrate such as a glass substrate, a silicon wafer, or a printed substrate.

X方向移動装置5は、ベース24のX方向中央部に設置される。X方向移動装置5は、基板3を支持し、X方向に移動させると共に、X方向の位置決めを行う装置である。X方向移動装置5は、ガイド機構及び移動用アクチュエータを備える。ガイド機構は、例えば、スライダ及びスライドレール、エアースライドである。移動用アクチュエータは、例えば、ステップモータ、サーボモータ、リニアモータである。   The X-direction moving device 5 is installed at the center of the base 24 in the X direction. The X-direction moving device 5 is a device that supports the substrate 3 and moves it in the X direction and performs positioning in the X direction. The X-direction moving device 5 includes a guide mechanism and a moving actuator. The guide mechanism is, for example, a slider, a slide rail, or an air slide. The moving actuator is, for example, a step motor, a servo motor, or a linear motor.

θ方向回転装置7は、X方向移動装置5の上部に設けられ、X方向に移動可能である。θ方向回転装置7の上部には、吸着盤4が設けられる。θ方向回転装置7は、吸着盤4に吸着された基板3をθ方向に回転させてアライメント処理を行う。θ方向回転装置7は、例えば、フリーベアリングやダイレクトドライブモータである。   The θ-direction rotating device 7 is provided above the X-direction moving device 5 and can move in the X direction. On the upper part of the θ-direction rotating device 7, the suction disk 4 is provided. The θ-direction rotating device 7 performs alignment processing by rotating the substrate 3 adsorbed on the adsorbing board 4 in the θ direction. The θ-direction rotating device 7 is, for example, a free bearing or a direct drive motor.

吸着盤4は、基板3を吸着して固定支持する装置である。基板3の吸着は、吸着盤4と基板3との間の空気を減圧あるいは真空にすることにより行われる(バキューム、吸気)。吸着盤4には、空気を吸引するための小孔(図示しない)が設けられる。   The suction disk 4 is a device that sucks and supports the substrate 3. The adsorption of the substrate 3 is performed by reducing the pressure or vacuum of the air between the adsorption plate 4 and the substrate 3 (vacuum, intake air). The suction board 4 is provided with a small hole (not shown) for sucking air.

エア浮上装置11は、エアフロートであり、基板3を空気圧で押し上げあるいは吸引することにより、非接触に支持する装置である。エア浮上装置11は、複数のエアフロートユニットや多孔質板等により構成することができる。エア浮上装置11は、所定のZ方向精度(基板3と加工装置17−1及び加工装置17−2との間の相対距離精度)を実現する。   The air levitation device 11 is an air float, and is a device that supports the substrate 3 in a non-contact manner by pushing up or sucking the substrate 3 with air pressure. The air levitation device 11 can be composed of a plurality of air float units, a porous plate, and the like. The air levitation device 11 realizes predetermined Z-direction accuracy (relative distance accuracy between the substrate 3 and the processing device 17-1 and the processing device 17-2).

加工装置17−1及び加工装置17−2は、基板3に対して加工処理を施す装置であり、例えば、インクジェットヘッドユニット、ダイコートユニット、レーザ照射ヘッドユニット等である。加工装置17−1と加工装置17−2とは、同様の加工装置である。
加工装置17−1及び加工装置17−2は、それぞれ、1つまたは複数の加工部あるいは加工ユニットにより構成される。例えば、加工装置17−1及び加工装置17−2をインクジェットヘッドとし、全体として8つのヘッドユニットを用いる場合、加工装置17−1及び加工装置17−2にはそれぞれ4つのヘッドユニットが設けられ、一方の加工装置に設けられる4つのヘッドユニットは加工側として使用され、他方の加工装置に設けられる4つのヘッドユニットはメンテナンス側として分けて使用される。
加工装置17−1及び加工装置17−2は、Y方向移動装置19を介してガントリ23に設けられる。Y方向移動装置19は、加工装置17−1及び加工装置17−2をY方向に移動させて位置決めを行う。
The processing device 17-1 and the processing device 17-2 are devices that perform processing on the substrate 3, and are, for example, an inkjet head unit, a die coat unit, a laser irradiation head unit, or the like. The processing device 17-1 and the processing device 17-2 are similar processing devices.
Each of the processing device 17-1 and the processing device 17-2 includes one or a plurality of processing units or processing units. For example, when the processing device 17-1 and the processing device 17-2 are inkjet heads and eight head units are used as a whole, the processing device 17-1 and the processing device 17-2 are each provided with four head units, Four head units provided in one processing apparatus are used as a processing side, and four head units provided in the other processing apparatus are used separately as a maintenance side.
The processing device 17-1 and the processing device 17-2 are provided on the gantry 23 via the Y-direction moving device 19. The Y-direction moving device 19 performs positioning by moving the processing device 17-1 and the processing device 17-2 in the Y direction.

アライメントカメラ21は、θ方向回転装置7に吸着固定された基板3のθ方向角度及びXY座標を検出するために、基板3の所定箇所(基板上に形成されるアライメントマークやパターン等)を撮像するカメラである。アライメントカメラ21は、基板加工装置1のフレーム20に固定支持される。アライメントカメラ21を複数設けてもよいし、異なる視野(例えば、高精度用、粗精度用)のアライメントカメラ21を設けるようにしてもよい。   The alignment camera 21 images a predetermined portion (an alignment mark, a pattern, or the like formed on the substrate) of the substrate 3 in order to detect the θ-direction angle and XY coordinates of the substrate 3 attracted and fixed to the θ-direction rotating device 7. Camera. The alignment camera 21 is fixedly supported on the frame 20 of the substrate processing apparatus 1. A plurality of alignment cameras 21 may be provided, or alignment cameras 21 having different fields of view (for example, for high accuracy and coarse accuracy) may be provided.

また、ベース24のY方向両外側には、メンテナンススペース25−1及びメンテナンススペース25−2が設けられる。Y方向移動装置19は、メンテナンススペース25−1上のメンテナンス領域33−1〜エア浮上装置11上の加工領域31〜メンテナンススペース25−2上のメンテナンス領域33−2に渡って、加工装置17−1及び加工装置17−2をY方向に移動させる。   A maintenance space 25-1 and a maintenance space 25-2 are provided on both outer sides in the Y direction of the base 24. The Y-direction moving device 19 extends from the maintenance region 33-1 on the maintenance space 25-1 to the processing region 31 on the air levitation device 11 to the maintenance region 33-2 on the maintenance space 25-2. 1 and the processing device 17-2 are moved in the Y direction.

(2.プロセス制御)
次に、図2を参照しながら、基板加工装置1のプロセス制御について説明する。
図2は、基板加工装置1のプロセス制御の流れを示す図である。
アライメントカメラ21の撮像画像は、画像処理装置37に入力される。画像処理装置37は、撮像画像に基づいて基板3のθ方向角度及びXY座標を抽出する処理を行う。ステージコントローラ39は、抽出したデータを所定のデータと比較してそれらの偏差を算出し、偏差を小さくするように制御量を演算する。
(2. Process control)
Next, process control of the substrate processing apparatus 1 will be described with reference to FIG.
FIG. 2 is a diagram showing a flow of process control of the substrate processing apparatus 1.
A captured image of the alignment camera 21 is input to the image processing device 37. The image processing device 37 performs a process of extracting the θ direction angle and XY coordinates of the substrate 3 based on the captured image. The stage controller 39 compares the extracted data with predetermined data to calculate their deviation, and calculates the control amount so as to reduce the deviation.

サーボアンプθ41は、ステージコントローラ39から送られるθ方向制御量に基づいてθ方向回転装置7に制御信号を送出する。θ方向回転装置7は、基板3のθ方向のアライメントを行う。
サーボアンプX43は、ステージコントローラ39から送られるX方向制御量に基づいてX方向移動装置5に制御信号を送出する。X方向移動装置5は、基板3をX方向に移動させる。
サーボアンプY45は、ステージコントローラ39から送られるY方向制御量に基づいてY方向移動装置19に制御信号を送出する。Y方向移動装置19は、加工装置17−1及び加工装置17−2をY方向に移動させる。
プロセスシステム47は、ステージコントローラ39から送られる制御量に基づいて、加工装置17−1あるいは加工装置17−2の加工タイミングを調整する。
The servo amplifier θ41 sends a control signal to the θ-direction rotating device 7 based on the θ-direction control amount sent from the stage controller 39. The θ direction rotating device 7 performs alignment of the substrate 3 in the θ direction.
The servo amplifier X43 sends a control signal to the X-direction moving device 5 based on the X-direction control amount sent from the stage controller 39. The X direction moving device 5 moves the substrate 3 in the X direction.
The servo amplifier Y45 sends a control signal to the Y-direction moving device 19 based on the Y-direction control amount sent from the stage controller 39. The Y-direction moving device 19 moves the processing device 17-1 and the processing device 17-2 in the Y direction.
The process system 47 adjusts the processing timing of the processing apparatus 17-1 or the processing apparatus 17-2 based on the control amount sent from the stage controller 39.

(3.基板加工装置1の動作)
次に、図3を参照しながら、基板加工装置1の動作について説明する。
(3. Operation of substrate processing apparatus 1)
Next, the operation of the substrate processing apparatus 1 will be described with reference to FIG.

図3は、基板加工装置1の動作を示すフローチャートである。
基板加工装置1は、搬送処理(ステップ101)、補正量算出処理(ステップ102)、アライメント処理(ステップ103)、加工処理(ステップ104)の各処理を順次行う。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the substrate processing apparatus 1.
The substrate processing apparatus 1 sequentially performs each process of a conveyance process (step 101), a correction amount calculation process (step 102), an alignment process (step 103), and a processing process (step 104).

(3−1.搬送処理:ステップ101)
基板加工装置1は、基板3の一部を吸着盤4により吸着固定し、基板3の他の部分をエア浮上装置11によりエア浮上させて非接触支持する。基板加工装置1は、X方向移動装置5によりθ方向回転装置7及び基板3をX方向に移動させて加工装置17−1あるいは加工装置17−2の下方まで搬送する。
(3-1. Conveyance process: Step 101)
The substrate processing apparatus 1 sucks and fixes a part of the substrate 3 by the suction disk 4 and floats the other part of the substrate 3 by the air levitation device 11 to support it in a non-contact manner. The substrate processing apparatus 1 moves the θ-direction rotating device 7 and the substrate 3 in the X direction by the X-direction moving device 5 and conveys them below the processing apparatus 17-1 or the processing apparatus 17-2.

(3−2.補正量算出処理:ステップ102)
基板加工装置1は、アライメントカメラ21により基板3に付されたアライメントマークを撮像し、当該アライメントマークのXY座標に基づいてθ方向の補正量及びX方向ずれ量及びY方向ずれ量を算出する。
(3-2. Correction amount calculation process: Step 102)
The substrate processing apparatus 1 images the alignment mark attached to the substrate 3 by the alignment camera 21, and calculates the correction amount in the θ direction, the X direction deviation amount, and the Y direction deviation amount based on the XY coordinates of the alignment mark.

(3−3.アライメント処理:ステップ103)
基板加工装置1は、ステップ102の処理により算出したθ方向補正量に基づいて、θ方向回転装置7により基板3をθ方向に回転させてアライメント処理を行う。
(3-3. Alignment process: Step 103)
The substrate processing apparatus 1 performs alignment processing by rotating the substrate 3 in the θ direction by the θ direction rotating device 7 based on the θ direction correction amount calculated by the processing in step 102.

(3−4.加工処理:ステップ104)
基板加工装置1は、Y方向ずれ量に基づいて加工装置17−1あるいは加工装置17−2のY方向位置決めを行い、X方向ずれ量に基づいて加工処理の開始タイミング及び停止タイミングを調整し、加工装置17−1あるいは加工装置17−2により基板3に対して加工処理を行う。
(3-4. Processing: Step 104)
The substrate processing apparatus 1 performs Y-direction positioning of the processing apparatus 17-1 or 17-2 based on the Y-direction deviation amount, and adjusts the processing start timing and stop timing based on the X-direction deviation amount, The substrate 3 is processed by the processing device 17-1 or the processing device 17-2.

尚、基板3と加工装置17−1あるいは加工装置17−2との間の相対距離精度(Z方向精度)を向上させるべく、加工装置17−1及び加工装置17−2に基板3の位置を測定するセンサを設け、リアルタイムにフィードバックして、エア浮上装置11の空気圧を制御するようにしてもよい。   In order to improve the relative distance accuracy (Z-direction accuracy) between the substrate 3 and the processing device 17-1 or 17-2, the position of the substrate 3 is set on the processing device 17-1 and the processing device 17-2. A sensor for measurement may be provided, and the air pressure of the air levitation device 11 may be controlled by feedback in real time.

以上の過程を経て、基板加工装置1は、基板3の一部を吸着盤4により吸着固定し、基板3の他の部分をエア浮上装置11によりエア浮上させて非接触支持し、X方向移動装置5により基板3をX方向に搬送し、θ方向回転装置7により基板3のθ方向の位置決め行い、エア浮上装置11によりZ方向精度を維持して基板3の加工を行う。   Through the above process, the substrate processing apparatus 1 sucks and fixes a part of the substrate 3 by the suction disk 4 and floats the other part of the substrate 3 by the air levitation device 11 to support it in a non-contact manner and moves in the X direction. The substrate 3 is transported in the X direction by the device 5, the θ direction rotating device 7 positions the substrate 3 in the θ direction, and the air levitation device 11 processes the substrate 3 while maintaining the Z direction accuracy.

(4.加工装置17−1及び加工装置17−2の動作)
次に、図4〜図8を参照しながら、加工装置17−1及び加工装置17−2の動作について説明する。
図4は、加工装置17−1及び加工装置17−2の動作を示すフローチャートである。
図5〜図8は、加工装置17−1及び加工装置17−2の動作の流れを示す図である。図5は、加工装置17−1による加工処理時を示す。図6は、加工装置17−1の退避時を示す。図7は、加工装置17−2による加工処理時を示す。図8は、加工装置17−2の退避時を示す。
(4. Operations of the processing device 17-1 and the processing device 17-2)
Next, operations of the processing device 17-1 and the processing device 17-2 will be described with reference to FIGS.
FIG. 4 is a flowchart showing the operations of the processing device 17-1 and the processing device 17-2.
5-8 is a figure which shows the flow of operation | movement of the processing apparatus 17-1 and the processing apparatus 17-2. FIG. 5 shows the time of processing by the processing device 17-1. FIG. 6 shows when the machining device 17-1 is retracted. FIG. 7 shows the time of processing by the processing device 17-2. FIG. 8 shows when the machining device 17-2 is retracted.

図5に示すように、基板加工装置1は、加工領域31に移動させられた加工装置17−1によって基板3の加工処理を行う(ステップ201(図3のステップ101〜ステップ104)。メンテナンススペース25−2において、メンテナンス領域に退避させられた加工装置17−2のメンテナンス作業が行われる(ステップ202)。
図6に示すように、基板加工装置1は、加工装置17−1による加工処理を終了すると、加工装置17−1を加工領域31からメンテナンス領域33−1に退避させる(ステップ203)。基板加工装置1は、加工装置17−2をメンテナンス領域33−2から加工領域31に移動させる(ステップ204)。
As shown in FIG. 5, the substrate processing apparatus 1 processes the substrate 3 by the processing apparatus 17-1 moved to the processing region 31 (Step 201 (Step 101 to Step 104 in FIG. 3). Maintenance space. In 25-2, maintenance work is performed on the machining apparatus 17-2 that has been retreated to the maintenance area (step 202).
As shown in FIG. 6, when the substrate processing apparatus 1 finishes the processing by the processing apparatus 17-1, the processing apparatus 17-1 is retracted from the processing area 31 to the maintenance area 33-1 (step 203). The substrate processing apparatus 1 moves the processing apparatus 17-2 from the maintenance area 33-2 to the processing area 31 (step 204).

図7に示すように、加工領域31に移動させられた加工装置17−2によって基板3の加工処理を行う(ステップ205(図3のステップ101〜ステップ104)。メンテナンススペース25−1において、メンテナンス領域に退避させられた加工装置17−1のメンテナンス作業が行われる(ステップ206)。
図8に示すように、基板加工装置1は、加工装置17−2による加工処理を終了すると、加工装置17−2を加工領域31からメンテナンス領域33−2に退避させる(ステップ207)。基板加工装置1は、加工装置17−1をメンテナンス領域33−1から加工領域31に移動させる(ステップ208)。
7, the substrate 3 is processed by the processing device 17-2 moved to the processing region 31 (step 205 (step 101 to step 104 in FIG. 3). Maintenance is performed in the maintenance space 25-1. Maintenance work is performed on the machining device 17-1 that has been retracted to the area (step 206).
As shown in FIG. 8, when the processing by the processing apparatus 17-2 is completed, the substrate processing apparatus 1 retracts the processing apparatus 17-2 from the processing area 31 to the maintenance area 33-2 (Step 207). The substrate processing apparatus 1 moves the processing apparatus 17-1 from the maintenance area 33-1 to the processing area 31 (step 208).

以降、基板加工装置1は、ステップ201及びステップ202からの処理を繰り返す。以上の過程を経て、基板加工装置1は、2つの加工装置のうち一方を加工領域に移動させて加工処理を行い、他方をメンテナンス領域に退避させ、メンテナンススペースにおいてメンテナンス作業が行われる。   Thereafter, the substrate processing apparatus 1 repeats the processing from step 201 and step 202. Through the above process, the substrate processing apparatus 1 performs processing by moving one of the two processing apparatuses to the processing area, retreats the other to the maintenance area, and performs maintenance work in the maintenance space.

(5.効果等)
メンテナンス領域は、加工領域を挟んで左右両側に設けられる。2つの加工装置は、同一の移動軸に沿ってメンテナンス領域と加工領域との間を移動する。メンテナンス領域は、加工装置毎に設けられ、2つの加工装置に共用されない。例えば、一方の加工装置は、加工領域と左側のメンテナンス領域との間を移動し、他方の加工装置は、加工領域と右側のメンテナンス領域との間を移動する。
従って、一方の加工装置によって加工処理を行っている間に、他方の加工装置のメンテナンス処理を行うので、メンテナンス処理を行うために加工処理を停止させる必要がなく、稼働率及び生産効率を向上させることができる。
また、メンテナンススペース上のメンテナンス領域に加工装置を移動させて、当該加工装置のメンテナンス処理を行うので、台車や人のアクセスに際しベースが障害とならず、メンテナンス処理を円滑かつ迅速に行うことができる。
(5. Effects, etc.)
Maintenance areas are provided on both the left and right sides of the machining area. The two processing devices move between the maintenance area and the processing area along the same movement axis. The maintenance area is provided for each processing apparatus and is not shared by the two processing apparatuses. For example, one machining apparatus moves between the machining area and the left maintenance area, and the other machining apparatus moves between the machining area and the right maintenance area.
Accordingly, since the maintenance processing of the other processing device is performed while the processing processing is performed by one processing device, it is not necessary to stop the processing processing in order to perform the maintenance processing, thereby improving the operation rate and the production efficiency. be able to.
In addition, since the processing device is moved to the maintenance area on the maintenance space and the processing processing of the processing device is performed, the base does not become an obstacle when accessing a cart or a person, and the maintenance processing can be performed smoothly and quickly. .

(6.他の実施形態に係る基板加工装置1a)
次に、図9を参照しながら、他の実施形態に係る基板加工装置1aについて説明する。
図9は、基板加工装置1aの概略斜視図である。
(6. Substrate processing apparatus 1a according to another embodiment)
Next, a substrate processing apparatus 1a according to another embodiment will be described with reference to FIG.
FIG. 9 is a schematic perspective view of the substrate processing apparatus 1a.

加工装置17−1及び加工装置17−2のメンテナンス処理は、加工装置17−1及び加工装置17−2をインクジェットヘッドとした場合、インクジェットヘッドの位置決め等の段取り作業、ヘッド交換、インク交換、クリーニング等の作業である。加工装置17−1及び加工装置17−2のメンテナンス処理は、人手により行ってもよいし、メンテナンス装置を用いて行ってもよい。   Maintenance processing of the processing device 17-1 and the processing device 17-2 is performed when the processing device 17-1 and the processing device 17-2 are ink jet heads, such as setup operations such as positioning of the ink jet head, head replacement, ink replacement, and cleaning. Etc. Maintenance processing of the processing device 17-1 and the processing device 17-2 may be performed manually or using a maintenance device.

基板加工装置1aでは、ベース26−1及びベース26−2が、それぞれ、メンテナンススペース25−1及びメンテナンススペース25−2に設けられる。ベース26−2及びベース26−2には、それぞれ、Y方向移動装置27−1及びY方向移動装置27−2を介して、メンテナンスユニット28−1及びメンテナンスユニット28−2が設けられる。   In the substrate processing apparatus 1a, the base 26-1 and the base 26-2 are provided in the maintenance space 25-1 and the maintenance space 25-2, respectively. The base 26-2 and the base 26-2 are provided with a maintenance unit 28-1 and a maintenance unit 28-2 via a Y-direction moving device 27-1 and a Y-direction moving device 27-2, respectively.

メンテナンスユニット28−1及びメンテナンスユニット28−2は、それぞれ、加工装置17−1及び加工装置17−2のメンテナンスを行う装置である。メンテナンスユニット28−1及びメンテナンスユニット28−2は、例えば、クリーニングユニットである。メンテナンスユニット28−1及びメンテナンスユニット28−2は、それぞれ、Y方向移動装置27−1及びY方向移動装置27−2に沿って、ベース26−1及びベース26−2上を移動可能である。   The maintenance unit 28-1 and the maintenance unit 28-2 are devices that perform maintenance of the processing device 17-1 and the processing device 17-2, respectively. The maintenance unit 28-1 and the maintenance unit 28-2 are, for example, cleaning units. The maintenance unit 28-1 and the maintenance unit 28-2 are movable on the base 26-1 and the base 26-2 along the Y-direction moving device 27-1 and the Y-direction moving device 27-2, respectively.

メンテナンスユニット28−1は、メンテナンス領域33−1に退避させられた加工装置17−1のメンテナンス処理を行う。メンテナンスユニット28−2は、メンテナンス領域33−2に退避させられた加工装置17−2のメンテナンス処理を行う。   The maintenance unit 28-1 performs maintenance processing of the processing apparatus 17-1 that has been retracted to the maintenance area 33-1. The maintenance unit 28-2 performs maintenance processing of the processing device 17-2 that has been retracted to the maintenance area 33-2.

このように、基板加工装置1aでは、メンテナンスユニットにより加工装置のメンテナンス処理を行うので、人手による作業を軽減させることができる。   Thus, in the board | substrate processing apparatus 1a, since the maintenance process of a processing apparatus is performed by a maintenance unit, a manual operation | work can be reduced.

以上、添付図面を参照しながら、本発明にかかる基板加工装置の好適な実施形態について説明したが、本発明はかかる例に限定されない。当業者であれば、本願で開示した技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、それらについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。   The preferred embodiments of the substrate processing apparatus according to the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, but the present invention is not limited to such examples. It will be apparent to those skilled in the art that various changes or modifications can be conceived within the scope of the technical idea disclosed in the present application, and these are naturally within the technical scope of the present invention. Understood.

基板加工装置1の概略斜視図Schematic perspective view of substrate processing apparatus 1 基板加工装置1のプロセス制御の流れを示す図The figure which shows the flow of the process control of the substrate processing apparatus 1 基板加工装置1の動作を示すフローチャートFlow chart showing the operation of the substrate processing apparatus 1 加工装置17−1及び加工装置17−2の動作を示すフローチャートFlow chart showing the operation of the processing device 17-1 and the processing device 17-2. 加工装置17−1及び加工装置17−2の動作の流れを示す図(加工装置17−1による加工処理時)The figure which shows the flow of operation | movement of the processing apparatus 17-1 and the processing apparatus 17-2 (at the time of the processing by the processing apparatus 17-1) 加工装置17−1及び加工装置17−2の動作の流れを示す図(加工装置17−1の退避時)The figure which shows the flow of operation | movement of the processing apparatus 17-1 and the processing apparatus 17-2 (at the time of evacuation of the processing apparatus 17-1) 加工装置17−1及び加工装置17−2の動作の流れを示す図(加工装置17−2による加工処理時)The figure which shows the flow of operation | movement of the processing apparatus 17-1 and the processing apparatus 17-2 (at the time of the processing by the processing apparatus 17-2) 加工装置17−1及び加工装置17−2の動作の流れを示す図(加工装置17−2の退避時)The figure which shows the flow of operation | movement of the processing apparatus 17-1 and the processing apparatus 17-2 (at the time of retraction | saving of the processing apparatus 17-2) 他の実施形態に係る基板加工装置1aを示す概略斜視図Schematic perspective view showing a substrate processing apparatus 1a according to another embodiment

符号の説明Explanation of symbols

1………基板加工装置
3………基板
4………吸着盤
5………X方向移動装置
7………θ方向回転装置
11………エア浮上装置
17−1、17−2………加工装置
19………Y方向移動装置
20………フレーム
21………アライメントカメラ
23………ガントリ
24………ベース
25−1、25−2………メンテナンススペース
26−1、26−2………ベース
27−1、27−2………Y方向移動装置
28−1、28−2………メンテナンスユニット
37………画像処理装置
39………ステージコントローラ
41………サーボアンプθ
43………サーボアンプX
45………サーボアンプY
47………プロセスシステム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ......... Substrate processing device 3 ......... Substrate 4 ......... Suction board 5 ......... X direction moving device 7 ......... θ direction rotating device 11 ......... Air levitation device 17-1, 17-2 ... ... Processing device 19 ......... Y-direction moving device 20 ......... Frame 21 ......... Alignment camera 23 ......... Gantry 24 ......... Base 25-1, 25-2 ......... Maintenance space 26-1, 26- 2 .... Base 27-1, 27-2 .... Y direction moving device 28-1, 28-2 .... Maintenance unit 37 .... Image processing device 39 .... Stage controller 41 ..... Servo amplifier θ
43 ......... Servo Amplifier X
45 ......... Servo amplifier Y
47 ... Process system

Claims (7)

基板の加工を行う基板加工装置であって、
前記基板の加工処理を行う2つの加工装置と、
前記加工装置による加工処理が行われる加工領域と、前記加工装置のメンテナンス処理が行われる2つのメンテナンス領域と、の間で、前記2つの加工装置を移動させる移動装置と、
を具備することを特徴とする基板加工装置。
A substrate processing apparatus for processing a substrate,
Two processing devices for processing the substrate;
A moving device that moves the two processing devices between a processing region in which processing by the processing device is performed and two maintenance regions in which maintenance processing of the processing device is performed;
A substrate processing apparatus comprising:
前記2つのメンテナンス領域は、前記加工装置の移動方向に沿って前記加工領域の両外側に設けられ、
前記移動装置は、同一の移動軸に沿って、前記加工領域と前記2つのメンテナンス領域との間で、前記2つの加工装置を移動させることを特徴とする請求項1に記載の基板加工装置。
The two maintenance areas are provided on both outer sides of the processing area along the moving direction of the processing apparatus,
The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the moving device moves the two processing devices between the processing region and the two maintenance regions along the same movement axis.
前記加工装置のメンテナンス処理を行うメンテナンス装置を具備することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の基板加工装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, further comprising a maintenance apparatus that performs maintenance processing of the processing apparatus. 基板の加工を行う基板加工方法であって、
加工処理が行われる加工領域と、メンテナンス処理が行われる2つのメンテナンス領域と、の間で、前記基板の加工処理を行う2つの加工装置を移動させる移動ステップ、
を具備することを特徴とする基板加工方法。
A substrate processing method for processing a substrate,
A moving step of moving two processing devices for processing the substrate between a processing region in which processing is performed and two maintenance regions in which maintenance processing is performed;
A substrate processing method comprising:
前記2つのメンテナンス領域は、前記加工装置の移動方向に沿って前記加工領域の両外側に設けられ、
前記移動ステップは、同一の移動軸に沿って、前記加工領域と前記2つのメンテナンス領域との間で、前記2つの加工装置を移動させることを特徴とする請求項4に記載の基板加工方法。
The two maintenance areas are provided on both outer sides of the processing area along the moving direction of the processing apparatus,
The substrate processing method according to claim 4, wherein the moving step moves the two processing apparatuses between the processing region and the two maintenance regions along the same movement axis.
前記加工領域において、前記2つの加工装置のうちいずれか一方の加工装置が前記加工処理を行う間に、前記メンテナンス領域において、他方の加工装置に前記メンテナンス処理が行われることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の基板加工方法。   The maintenance process is performed on the other processing apparatus in the maintenance area while one of the two processing apparatuses performs the processing process in the processing area. The substrate processing method according to claim 4 or 5. 請求項4から請求項6までの少なくともいずれかに記載の基板加工方法を用いて表示装置の構成部材を製造する表示装置構成部材の製造方法。   The manufacturing method of the display apparatus structural member which manufactures the structural member of a display apparatus using the board | substrate processing method in any one of Claim 4-6.
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