JP2008170378A - シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置 - Google Patents

シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2008170378A
JP2008170378A JP2007005904A JP2007005904A JP2008170378A JP 2008170378 A JP2008170378 A JP 2008170378A JP 2007005904 A JP2007005904 A JP 2007005904A JP 2007005904 A JP2007005904 A JP 2007005904A JP 2008170378 A JP2008170378 A JP 2008170378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scintillation
interference pattern
image data
evaluation method
data including
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2007005904A
Other languages
English (en)
Inventor
秀也 ▲関▼
Hideya Seki
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2007005904A priority Critical patent/JP2008170378A/ja
Priority to US12/007,566 priority patent/US20080181483A1/en
Publication of JP2008170378A publication Critical patent/JP2008170378A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/31Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3191Testing thereof
    • H04N9/3194Testing thereof including sensor feedback
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/31Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3141Constructional details thereof
    • H04N9/315Modulator illumination systems
    • H04N9/3161Modulator illumination systems using laser light sources
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00Details of colour television systems
    • H04N9/12Picture reproducers
    • H04N9/31Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3179Video signal processing therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

【課題】シンチレーションの程度を客観的かつ定量的に評価できるとともに、シンチレーションの微妙な差異も十分に評価できる方法および装置を提供する。
【解決手段】本発明のシンチレーション評価装置は、シンチレーションの干渉パターンSを含む画像データを取得するピンホールカメラ10と、干渉パターンSを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去するとともに、干渉パターンSを含む画像データの解像度を低下させる画像処理を行う画像処理部と、ノイズ成分除去後かつ解像度低下後の干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出する演算部と、を備えたことを特徴とする。
【選択図】図2

Description

本発明は、種々のディスプレイ、特にレーザ光源を用いたプロジェクタ等で強く発生するシンチレーションの評価方法および評価装置に関するものである。
近年、プロジェクタが、プレゼンテーション用途から映像鑑賞用途まで急速な普及を見せている。特に、プロジェクションテレビジョンは、大画面テレビジョンの一形態として一定の市場を形成している。一方、プロジェクタの光源として、従来のランプに代わり、エネルギー効率、色再現性、長寿命、瞬時点灯などの点で有利な発光ダイオード(Light Emitting Diode, LED)やレーザ光源に期待が集まっている。
ところが、プロジェクタによる画像表示は、いわゆる「シンチレーション」、あるいは「スペックル」などと呼ばれる特有の画像ノイズを生じていた。これは、あたかも眼前にベールを張ったかのような圧迫感を与える他、スクリーン画像と併せて2重の像を見ることになるため、鑑賞者に大きな疲労感をもたらしていた。特にレーザ光源の場合、レーザ光自体が高い干渉性を持っているため、これをプロジェクタに用いると、耐え難いほどのシンチレーションが発生していた。
シンチレーションは、プロジェクタのみならず、他のディスプレイにおいても発生し得るものである。その理由は、一般に、ディスプレイ表面には、外光反射を低減させるための粗面加工(アンチグレア処理またはノングレア処理)が施される。これにより、散乱構造を有するプロジェクタ用スクリーンと同様、ディスプレイ表面に無数の2次波源が生成され、これら2次波源から発する光の相互干渉によって干渉縞が生じるからである。すなわち、冷陰極管(Cathode Ray Tube, CRT)、液晶テレビジョン、プラズマディスプレイ(Prasma Display Panel, PDP)等においても、注意して観察すると、ムラを持ったぎらつきを認めることができる。特に液晶テレビジョンは、プロジェクタと同様の平行光照明を用いているため、プロジェクタほどではないにしろ、シンチレーションは比較的大きい。
そこで、各種のディスプレイについて、シンチレーションを定量的に比較できるような評価方法、評価装置が必要とされていた。特に、プロジェクションテレビジョンの開発においては、シンチレーションをどのレベルまで低減するかの指標が求められていた。しかしながら、このようなシンチレーションの定量的な評価は、従来から非常に困難とされていた。従来の評価方法を見ても、目視によってシンチレーションの発生の有無を観察し、○×評価を行う例が見られるに過ぎない(例えば特許文献1、2参照)。
特開平10−293361号公報 特開2000−180973号公報
上述したように、従来のシンチレーションの評価方法は、全て目視による○×評価という最も単純な官能評価に頼っていた。すなわち、従来の方法は、シンチレーションの程度を客観性をもって定量的に把握できるものではなかった。したがって、評価するたびに評価結果が逆転したり、実験者が異なると評価結果の再現性が得られない、といったことが起こり、各種ディスプレイのシンチレーションに関する性能比較やシンチレーション低減技術の評価等を行うのが難しかった。
上述したような官能評価に頼らざるを得ない事情は、当該分野の技術者であれば十分に理解できる。なぜならば、シンチレーションは人間の眼の中(網膜上)で起こる干渉現象であり、その強度は個人の眼の形状や視力によって変わるからである。また、シンチレーションが気になる度合いについても、個人のヒューマンキャラクタ(例えば神経質か大雑把かといった点)、疲労の度合い、鑑賞環境の明るさ等によって大きな影響を受ける。よって、シンチレーションを客観的に定量化することは、不可能とさえ考えられていた。このため、従来は、上述したような単純な方法、あるいは多少工夫したとしても心理物理測定法のような、人間による官能評価法に頼らざるを得なかったのである。従来のシンチレーション評価はこのような状況であったため、例えばプロジェクションテレビジョン同士のメーカ間の差異、モデル間の差異等、微妙な優劣を普遍性をもって判定するのは甚だ困難であった。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであって、シンチレーションの程度を客観的かつ定量的に評価できるとともに、シンチレーションの微妙な差異も十分に評価できる方法および装置を提供することを目的とする。
本発明者は、従来のシンチレーション評価方法について考察を重ねた結果、従来の方法は以下の3点に関する問題点を抱えていることを見い出した。そして、これら3点の問題点のうちの1点でも改善されれば、従来の評価方法に比べて精度が高く、人間の視感に合致した評価が行えると考えた。
まず、それらの問題点について以下、説明する。
[問題点1:検出感度について]
上では説明を省略したが、従来からもシンチレーション(スペックル)を定量化する試みはなされている。唯一知られているものは、人間の眼のF♯(5.6)と残像時間(1/30秒)に合わせたカメラを用い、スクリーン面をデフォーカス状態で撮影し、撮影結果からスペックルコントラスト値を求め、その値でシンチレーションを評価するというものである。スペックルコントラスト値は、干渉パターンを含む画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいて計算される。ところが、本方法は、レーザプロジェクタの画像(顕著なシンチレーションが生じる画像)とランプ光源プロジェクタの画像を比較する場合のように、シンチレーションの程度に顕著な差があるサンプル間の評価には有効である反面、ランプ光源プロジェクタ、液晶テレビジョン、CRT、PDP間等の微妙な差異を検出するのは困難であった。あるいは、シンチレーション対策を施したプロジェクタ間での対策の効果は人間の眼では識別できるにもかかわらず、それを定量化して示すことが困難であった。すなわち、従来の方法では、シンチレーションの検出感度が低く、スペックルコントラスト値の差が小さくて不安定であったばかりか、数値の優劣が人間の視感と逆転する結果がしばしば生じていた。
[問題点2:画素格子ノイズについて]
液晶テレビジョン、CRT、PDPは空間色合成型のディスプレイであるため、1色が1/3画素毎のストライプとなっている。特にCRTでは、画像を撮影すると、シャドウマスクやアパーチャグリルの存在のためにくっきりした画素格子が生じていた。また、プロジェクションテレビジョンにおいても、ライトバルブの画素分割に従って画像の中にセル状の格子が見られる。上述のスペックルコントラスト値による評価は、ヒストグラムが正規分布であることを前提としてそのばらつきを比較するものである。ところが、上述の画素格子の成分があると、それがノイズとなって画素の階調分布は正規分布から外れてしまう。その場合、このようなヒストグラムから計算したスペックルコントラスト値は甚だ不正確なものとなり、これも数値評価と視感評価との逆転現象の一因となっていた。
[問題点3:眼の解像度条件について]
シンチレーション(スペックル)による干渉縞は、スクリーンの散乱層がランダム面であればランダムパターンとなる。すなわち、干渉縞のパターンは、全域にわたって一様に分布する。例えば単純なランダムパターンのヒストグラムはホワイトノイズ状であり、フラットになる。ところが、このようなヒストグラムでも、ある領域で移動平均をとると、正規分布が現れる。一方、人間の眼の空間解像度は有限であるため、これと同様の平均化の効果をもたらす。よって、これを考慮しなければ、本来シンチレーションを定量的に評価することはできない。ところが、従来の方法では、シンチレーションが干渉縞の画素階調のばらつきのみで評価されており、空間軸方向の条件が加味されていなかった。このことが数値評価と視感評価とがずれる一因となっていた。
そこで、上記の問題点を解決するために、本発明者が創出したシンチレーション評価方法は、シンチレーションを定量的に評価する方法であって、前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、前記干渉パターンのコントラストを増大させる工程と、コントラスト増大後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とする。
より具体的には、コントラスト増大後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することができる。
本発明のシンチレーション評価方法によれば、干渉パターンのコントラストを増大させる工程を有しているため、従来の方法が持っている検出感度の低さを解決することができる。その結果、例えば異種のディスプレイで性能を比較したときにスペックルコントラスト値の差が大きくなり、人間の視感に合致した評価結果を得ることができる。
干渉パターンのコントラストを増大させるための具体的な手法として、ピンホールカメラを用いてシンチレーションを撮像することにより、前記干渉パターンのコントラストを増大させた状態で前記干渉パターンを含む画像データを取得することができる。
この構成によれば、シンチレーションの干渉パターンを撮影する際にピンホールによって入射光が制限されることで、平均化の効果が抑制されたり、オフセット成分が減る結果、コントラストを増大させることができる。ピンホールカメラを用いた場合、このような効果を簡単に得ることができる。この詳細は[発明を実施するための最良の形態]の項で後述する。
また、干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程を備えることが望ましい。
この構成によれば、画素格子に相当するノイズ成分が除去されることで階調値のヒストグラムが正規分布により近いものとなり、このヒストグラムに基づいて算出するスペックルコントラスト値の精度を向上させることができる。その結果、人間の視感に合致した評価結果を得ることができる。
前記ノイズ成分を除去する具体的な方法として、フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理によって前記ノイズ成分を除去することができる。
この構成によれば、画像処理ソフトを用いてノイズ成分の除去を極めて容易に実施することができる。
さらに、前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる工程を備えることが望ましい。
この構成によれば、解像度を低下しない状態で作成したヒストグラムが人間の眼の空間解像度を考慮したヒストグラムに変換されることと等価になり、後者のヒストグラムに基づいて算出するスペックルコントラスト値による評価を人間の視感評価により合致させることができる。
前記解像度を低下させる具体的な方法として、移動平均フィルタを用いた平均化処理によって前記解像度を低下させることができる。
この構成によれば、画像処理ソフトを用いて解像度の低下を極めて容易に実施することができる。
本発明のシンチレーション評価方法は、シンチレーションを定量的に評価する方法であって、前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、前記干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程と、前記ノイズ成分除去後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とする。
より具体的には、前記ノイズ成分除去後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することができる。
本発明のシンチレーション評価方法によれば、画素格子に相当するノイズ成分が除去されることで階調値のヒストグラムが正規分布により近いものとなり、このヒストグラムに基づいて算出するスペックルコントラスト値の精度を向上させることができる。その結果、人間の視感に合致した評価結果を得ることができる。
前記ノイズ成分を除去する具体的な方法として、上述したのと同様、フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理によって前記ノイズ成分を除去することができる。
この構成によれば、画像処理ソフトを用いてノイズ成分の除去を極めて容易に実施することができる。
本発明のシンチレーション評価方法は、シンチレーションを定量的に評価する方法であって、前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる工程と、前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とする。
より具体的には、前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することができる。
本発明のシンチレーション評価方法によれば、解像度を低下しない状態で作成したヒストグラムが人間の眼の空間解像度を考慮したヒストグラムに変換されることと等価になり、後者のヒストグラムに基づいて算出するスペックルコントラスト値による評価を人間の視感評価により合致させることができる。
前記解像度を低下させる具体的な方法として、上述したのと同様、移動平均フィルタを用いた平均化処理によって前記解像度を低下させることができる。
この構成によれば、画像処理ソフトを用いて解像度の低下を極めて容易に実施することができる。
本発明のシンチレーション評価装置は、シンチレーションを定量的に評価するための装置であって、前記シンチレーションの干渉パターンを含む画像データを取得するピンホールカメラと、前記干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去するとともに、前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる画像処理を行う画像処理部と、前記ノイズ成分除去後かつ前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する演算部と、を備えたことを特徴とする。
さらに、前記演算部においては、前記ノイズ成分除去後かつ前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することができる。
本発明のシンチレーション評価装置によれば、ピンホールカメラを用いてシンチレーションを撮像することによって干渉パターンのコントラストを増大させた状態で画像データを取得することができる。その後、画像処理部によって画像データからのノイズ成分除去と画像データの解像度低下が実施された後、演算部によって画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値が算出される。したがって、この評価装置によって得られたスペックルコントラスト値は人間の視感により合致したものとなる。
[第1の実施の形態]
以下、本発明の第1の実施の形態を図1〜図21を参照して説明する。
本実施形態では、リアプロジェクタのシンチレーション評価を行う場合を例に挙げて説明する。
図1はシンチレーションの発生状況を説明するための図である。図2は本実施形態のシンチレーション評価装置を含む評価システム全体の概略構成図である。図3は同評価装置のピンホールカメラの作用効果を説明するための図である。図4は画素格子ノイズの除去工程の概念図である。図5〜図20は同除去工程で用いる画像処理の各段階での画像を示す図である。図21は解像度低下工程の概念図である。
以下の図面においては、図面を見やすくするため、各構成要素の膜厚や寸法の比率などは適宜異ならせてある。
リアプロジェクタ1は、図1に示すように、光源2と、フライアイインテグレータ3と、液晶ライトバルブ4と、投射レンズ5と、スクリーン6とを備えている。光源2から射出された光は、フライアイインテグレータ3によってその照度が均一化された後、液晶ライトバルブ4で変調され、変調後の光が投射レンズ5によってスクリーン6上に投射される。このようにして、変調後の光による画像がスクリーン6上に形成され、鑑賞者Mはその画像を見ることができる。スクリーン6は画像を形成するための散乱構造を有しているが、微視的には散乱構造は2次波源の集合体であり、各2次波源から射出される光が互いに干渉し、スクリーン6から若干距離離れた位置に干渉パターンS(干渉縞)が形成される。これが本発明のシンチレーション評価方法および評価装置が評価対象とするシンチレーション(スペックル)である。
本実施形態の評価システムの全体は、図2に示すように、投射エンジン7とスクリーン6とを備えたリアプロジェクタ1とピンホールカメラ10とを有している。投射エンジン7は、上述したように、光源2、液晶ライトバルブ4、色合成プリズム8、投射レンズ5等を有している。一方、ピンホールカメラ10は、対物レンズ11、ピンホール12、リレーレンズ13、CCD等からなる撮像素子14を有している。スクリーン6上の画像およびシンチレーションの像はピンホールカメラ10によって撮影され、これらの像が撮像素子14に取り込まれる。また、撮像素子14にはデータ処理回路15(画像処理部、演算部)が接続されており、データ処理回路15は撮像素子14が捉えた画像データを受けて、後述の画像処理を行うとともに、スペックルコントラスト値を算出する。
本実施形態のシンチレーション評価方法は、ピンホールカメラ10を用いてシンチレーションを含むスクリーン6上の画像を撮像して、シンチレーションの干渉パターンのコントラストを増大させた状態で干渉パターンを含む画像データを取得する工程と、干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程と、干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる工程と、干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出する工程と、をこの順に行う。また、画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程では、フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理を行う。また、画像データの解像度を低下させる工程では、移動平均フィルタを用いた平均化処理を行う。
第1の工程として、ピンホールカメラ10を用いてシンチレーションの干渉パターンSを含むスクリーン6上の画像を撮影する。本発明者は、ピンホールカメラによって画像を撮影した場合に干渉パターンのコントラストがなぜ増大するのかという点について、以下の2つの解釈を行っている。
(解釈1:選択的干渉)
スクリーン上で干渉に寄与する2次波源の数が多いと、可干渉距離を過ぎて重ね合わされた光線同士は再干渉せず、足し合わされるため、やがて平均化されて一様になる。よって、この場合は干渉パターン(干渉縞)のコントラストは低下してしまう。これに対して、図3に示すように、ピンホールカメラ10のピンホール12を用いると、スクリーン6上の限られた数の2次波源Hからの光のみが抽出され、撮像素子14に捉えられる。この場合、それらの光により形成される干渉パターンはあまり平均化されないため、干渉パターンのコントラストが高くなる。その結果、より鮮明な干渉パターンを観測できるようになる。
(解釈2:光源像分離)
散乱光を捉える撮影において、光源から直接発する光線成分はオフセット分となり、散乱光の明暗のコントラストを低下させる。これは明室でディスプレイのコントラストが低下するのと同じ原理である。そこで、光線の性質の違いを利用して散乱光と光源光とを分離し、散乱光のみを取り出す光学系が考えられる。本実施形態の構成では、散乱光はあらゆる角度からピンホールを通過することができるが、光源像を形成する平行光は僅かしかピンホールを通過することができない。したがって、散乱光が選択的に撮像素子に導かれる。このようにして、光源によるオフセット分が少なくなるので、高いコントラストで干渉パターンを観測することができるようになる。
次に、第2の工程として、フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理を行うことにより、干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する。ここで、図4に示すように、干渉パターンを空間周波数軸に展開した後、空間周波数が比較的低い画素格子に相当する空間周波数成分(図4の2点鎖線の円内のノイズ成分)を除去する。この一連の処理は画像処理ソフトを用いて容易に行うことができる。画素格子に相当するノイズ成分を除去することによって、階調値のヒストグラムが図4に示すように正規分布により近いものとなる。
図5〜図20は、本発明者が画像処理の各段階において実際の画像を撮影した写真を図面化したものである。図5は液晶テレビジョンを100mmの距離で接写した際の元画像を示す図である。図6は元画像をフーリエ変換した後の画像を示す図である。図7はフーリエ変換後の画像から画素格子ノイズに相当する部分を消去した後の画像を示す図である。図8は同画像格子ノイズ消去後の画像を逆フーリエ変換した後の画像を示す図である。同様に、図9はプラズマテレビジョンを100mmの距離で接写した際の元画像を示す図である。図10はフーリエ変換後の画像を示す図、図11は画素格子ノイズ消去後の画像を示す図、図12は逆フーリエ変換後の画像を示す図、である。図13はリアプロジェクタを100mmの距離で接写した際の元画像を示す図である。図14はフーリエ変換後の画像を示す図、図15は画素格子ノイズ消去後の画像を示す図、図16は逆フーリエ変換後の画像を示す図、である。図17はリアプロジェクタを0mmの距離で接写した際の元画像を示す図である。図18はフーリエ変換後の画像を示す図、図19は画素格子ノイズ消去後の画像を示す図、図20は逆フーリエ変換後の画像を示す図、である。
最終的な画像処理結果を示す図8、図12、図16、図20を見ると明らかなように、画素格子のノイズ成分を除去することによって、元画像ではほとんど認められなかったシンチレーションの干渉パターンが鮮明に確認できるようになることがわかった。さらに、液晶テレビジョン、プラズマテレビジョン、リアプロジェクタといった異種ディスプレイ間でのシンチレーションの差異が明確になることがわかった。
次に、第3の工程として、移動平均フィルタを用いた平均化処理を行うことにより、干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる。画像処理上では、図8、図12、図16、図20に示したような画素格子ノイズ除去後の画像から解像度を低下させる。図21(a)は一例として4288×2848の画素数を持つピンホールカメラで撮影した画像に基づく階調数の出現頻度を表すヒストグラム、図21(b)は画素数(解像度)を800×600に低下させた場合の同ヒストグラム、である。
例えば、4288×2848の画素数を持つピンホールカメラで60インチの画面を撮影した場合、1画素は30μm以下となり、これは人間の眼の解像力では見ることができない。したがって、このような解像度低下処理を行うことにより、人間の眼の解像力を考慮した評価を行うことができる。
最後に、第4の工程として、干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する。本実施形態では、干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出する。ここで、スペックルコントラスト値は、横軸を階調値、縦軸を当該階調値となる画素の出現頻度で表したヒストグラム(例えば図21(b)のヒストグラム)において、その標準偏差を平均値で正規化した値である。すなわち、下の(1)式で算出することができる。
スペックルコントラスト値=標準偏差/平均値 ……(1)
本実施形態のシンチレーション評価方法によれば、ピンホールカメラ10による撮影を用いたことによって撮像素子14が捉える干渉パターンSのコントラストが増大し、より鮮明な干渉パターンとなる。その結果、微妙なシンチレーションの差異が増幅され、ひいてはスペックルコントラスト値の差となって反映される。また、空間周波数フィルタ処理によって、画素格子やブラックマスクによる周期成分が除去される。また、照度ムラのようなさらに大きな周期のノイズ成分も除去される。これにより、ディスプレイの種類が異なっても各々の画像から干渉による「まだら感」を生じる空間周波数成分のみを抽出することができ、画素構造によらない公平な評価を行うことができる。さらに、平均化処理によって、空間軸方向における人間の視覚特性がシミュレートされ、眼の解像度条件を加味した評価となる。その結果、人間の視感に合致した評価結果を得ることができる。
以上をまとめると、本実施形態のシンチレーション評価方法によれば、異種のプロジェクタ間の微妙なシンチレーションの差を比較したり、一つのプロジェクタでの微妙なシンチレーション対策効果の差を比較することが可能になる。また、画素格子によるバックグラウンドノイズの影響が低減されるので、高感度で再現性、確度の高いシンチレーション評価を行うことができる。また、異種ディスプレイのスペックルコントラスト値を一軸比較することができ、シンチレーション対策の目標値を設定することができる。また、評価結果に人間の眼の解像度が反映されるため、心理物理値との整合性が向上する。また、民生用カメラと汎用ソフトを用いた評価装置によって、世界中の誰もが低コストで同一の評価結果を得ることができる。
また、本実施形態の場合、第1の工程はピンホールカメラ10による光学的な処理を用い、第2,第3の工程は画像処理によるソフト的な処理を用いているので、最も構成が簡易で汎用性のある評価装置を実現することができる。その理由は、第2,第3の工程で用いるフーリエ変換、逆フーリエ変換、移動平均フィルタ処理(解像度変換)等は市販のソフトで一般的に用いられている反面、画像処理を用いて干渉パターンのコントラスト(感度)を向上させるのは先の2つの工程に比べると若干難しいからである。
[第2の実施の形態]
以下、本発明の第2の実施の形態を図22を参照して説明する。
以下では単独の評価装置としての構成例を5例列挙するが、本実施形態では、透過型スクリーン用のシンチレーション評価装置の例を説明する。
図22は本実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。
本実施形態のシンチレーション評価装置20は、図22に示すように、筐体21の内部に光源2とピンホールカメラ10とデータ処理回路15とが設置されている。筐体21の上面には試料挿入口21aが設けられており、評価対象の試料である透過型スクリーンの切れ端(試料6a)が試料挿入口21aから筐体21内に挿入される構成となっている。光源2は、射出された光が試料6aに照射されるように配置されており、試料6aを介して光源2と反対側にはピンホールカメラ10が配置され、ピンホールカメラ10は試料6aの光照射面と反対側から試料6aを撮影できるようになっている。また、筐体21の上面には評価結果であるスペックルコントラスト値を表示するためのディスプレイ22が設置されている。そして、ピンホールカメラ10内の撮像素子が捉えた画像データはデータ処理回路15に送られ、その画像データに対して第1実施形態で説明した画像処理およびスペックルコントラスト値の算出が行われ、算出されたスペックルコントラスト値がディスプレイ22に表示される。本装置により、透過型スクリーン単体でのシンチレーション評価を行うことができる。
[第3の実施の形態]
以下、本発明の第3の実施の形態を図23を参照して説明する。
本実施形態では、反射型スクリーン用のシンチレーション評価装置の例を説明する。
図23は本実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。なお、本図において図22と共通の構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態のシンチレーション評価装置24は、図23に示すように、第2実施形態のシンチレーション評価装置20と略同一の構成である。唯一異なるのが、光源2とピンホールカメラ10とが試料6a(反射型スクリーンの切れ端)の同一面側に配置されており、ピンホールカメラ10が試料6aの光照射面側から試料を撮影する点のみである。本装置により、反射型スクリーン単体でのシンチレーション評価を行うことができる。
[第4の実施の形態]
以下、本発明の第4の実施の形態を図24を参照して説明する。
本実施形態は、反射型スクリーン用のシンチレーション評価装置の他の例である。
図24は本実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。なお、本図において図22、図23と共通の構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態のシンチレーション評価装置26は、図24に示すように、第3実施形態のシンチレーション評価装置24と略同一の構成である。唯一異なるのが、光源2とピンホールカメラ10とが筐体21の外部に向けて設置されており、光源2からの光は筐体21の外部に向けて射出され、ピンホールカメラ10は筐体21の外部の試料6aを撮影できる点のみである。したがって、本装置では、第3実施形態のようにスクリーンの切れ端を用いることなく、大型の反射型スクリーンをそのままの状態で評価することができる。
[第5の実施の形態]
以下、本発明の第5の実施の形態を図25を参照して説明する。
本実施形態では、投射エンジンのシンチレーション評価装置の例を説明する。
図25は本実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。なお、本図において図22〜図24と共通の構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態のシンチレーション評価装置28は、図25に示すように、筐体21の一側面の一部が開口し、その開口部に標準スクリーン29が取り付けられている。そして、ピンホールカメラ10が標準スクリーン29を撮影できるように配置されている。標準スクリーン29に対して外部の投射エンジン7から光を投射した際にピンホールカメラ10がシンチレーション画像を捉えることができる。なお、標準スクリーン29は交換可能に取り付けられることが好ましく、それにより各種スクリーンと投射エンジンとの相性を見ることもできる。本装置により、投射エンジンとしていかに低干渉光を投射できるかといった評価を行うことができる。
[第6の実施の形態]
以下、本発明の第6の実施の形態を図26を参照して説明する。
本実施形態では、リアプロジェクタをはじめとする各種ディスプレイのシンチレーション評価装置の例を説明する。
図26は本実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。なお、本図において図22〜図25と共通の構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態のシンチレーション評価装置30は、上記実施形態と異なり、光源も標準スクリーンも不要であり、基本的にはピンホールカメラ10とデータ処理回路15とディスプレイ22があればよい。そして、ピンホールカメラ10で試料(この例ではリアプロジェクタ1の画面)を撮影しさえすれば、シンチレーション評価を行うことができる。本装置によれば、スクリーン等の画面を含めた表示装置全体のシンチレーションを総合的に評価することができる。
なお、本発明の技術範囲は上記実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変更を加えることが可能である。例えば、上記実施形態ででは干渉パターンのコントラストを増大させるためにピンホールカメラを用いて画像を撮影する手法を用いたが、この手法に画像処理を用いることもできる。また、各工程の順番は上記実施の形態に限ることはなく、適宜変更が可能である。さらに、上述の3つの問題点のうち、いずれかの問題点のみを解決できればよいのであれば、それに対応した工程のみを備えていればよい。
シンチレーションの発生状況を説明するための図である。 本発明の第1実施形態の評価システム全体の概略構成図である。 同評価装置のピンホールカメラの作用効果を説明するための図である。 画素格子ノイズの除去工程の概念図である。 液晶テレビジョン(100mmで接写)の元画像を示す図である。 元画像をフーリエ変換した後の画像を示す図である。 画素格子ノイズを消去した後の画像を示す図である。 逆フーリエ変換した後の画像を示す図である。 プラズマテレビジョン(100mmで接写)の元画像を示す図である。 元画像をフーリエ変換した後の画像を示す図である。 画素格子ノイズを消去した後の画像を示す図である。 逆フーリエ変換した後の画像を示す図である。 リアプロジェクタ(100mmで接写)の元画像を示す図である。 元画像をフーリエ変換した後の画像を示す図である。 画素格子ノイズを消去した後の画像を示す図である。 逆フーリエ変換した後の画像を示す図である。 リアプロジェクタ(0mmで接写)の元画像を示す図である。 元画像をフーリエ変換した後の画像を示す図である。 画素格子ノイズを消去した後の画像を示す図である。 逆フーリエ変換した後の画像を示す図である。 解像度低下工程の概念図である。 本発明の第2実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。 本発明の第3実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。 本発明の第4実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。 本発明の第5実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。 本発明の第6実施形態のシンチレーション評価装置の概略構成図である。
符号の説明
1…リアプロジェクタ、6…スクリーン、7…投射エンジン、10…ピンホールカメラ、12…ピンホール、15…データ処理回路(画像処理部、演算部)、20,24,26,28,30…シンチレーション評価装置。

Claims (15)

  1. シンチレーションを定量的に評価する方法であって、
    前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、
    前記干渉パターンのコントラストを増大させる工程と、
    コントラスト増大後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とするシンチレーション評価方法。
  2. コントラスト増大後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することを特徴とする請求項1に記載のシンチレーション評価方法。
  3. ピンホールカメラを用いてシンチレーションを撮像することにより、前記干渉パターンのコントラストを増大させた状態で前記干渉パターンを含む画像データを取得することを特徴とする請求項1または2に記載のシンチレーション評価方法。
  4. 前記干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程を備えたことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載のシンチレーション評価方法。
  5. フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理によって前記ノイズ成分を除去することを特徴とする請求項4に記載のシンチレーション評価方法。
  6. 前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる工程を備えたことを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載のシンチレーション評価方法。
  7. 移動平均フィルタを用いた平均化処理によって前記解像度を低下させることを特徴とする請求項6に記載のシンチレーション評価方法。
  8. シンチレーションを定量的に評価する方法であって、
    前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、
    前記干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去する工程と、
    前記ノイズ成分除去後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とするシンチレーション評価方法。
  9. 前記ノイズ成分除去後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することを特徴とする請求項8に記載のシンチレーション評価方法。
  10. フーリエ変換を用いた空間周波数フィルタ処理によって前記ノイズ成分を除去することを特徴とする請求項8または9に記載のシンチレーション評価方法。
  11. シンチレーションを定量的に評価する方法であって、
    前記シンチレーションの干渉パターンを少なくとも含む画像データを取得する工程と、
    前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる工程と、
    前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する工程と、を備えたことを特徴とするシンチレーション評価方法。
  12. 前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することを特徴とする請求項11に記載のシンチレーション評価方法。
  13. 移動平均フィルタを用いた平均化処理によって前記解像度を低下させることを特徴とする請求項11または12に記載のシンチレーション評価方法。
  14. シンチレーションを定量的に評価するための装置であって、
    前記シンチレーションの干渉パターンを含む画像データを取得するピンホールカメラと、
    前記干渉パターンを含む画像データから画素格子に相当するノイズ成分を除去するとともに、前記干渉パターンを含む画像データの解像度を低下させる画像処理を行う画像処理部と、
    前記ノイズ成分除去後かつ前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データの輝度のばらつきの大きさを算出する演算部と、を備えたことを特徴とするシンチレーション評価装置。
  15. 前記演算部において、前記ノイズ成分除去後かつ前記解像度低下後の前記干渉パターンに相当する画像データを個々の階調値の出現頻度で表したヒストグラムに基づいてスペックルコントラスト値を算出することにより、前記輝度のばらつきの大きさを算出することを特徴とする請求項14に記載のシンチレーション評価装置。
JP2007005904A 2007-01-15 2007-01-15 シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置 Pending JP2008170378A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007005904A JP2008170378A (ja) 2007-01-15 2007-01-15 シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置
US12/007,566 US20080181483A1 (en) 2007-01-15 2008-01-11 Scintillation evaluation method and device thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007005904A JP2008170378A (ja) 2007-01-15 2007-01-15 シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008170378A true JP2008170378A (ja) 2008-07-24

Family

ID=39668041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007005904A Pending JP2008170378A (ja) 2007-01-15 2007-01-15 シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20080181483A1 (ja)
JP (1) JP2008170378A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014032371A (ja) * 2012-08-06 2014-02-20 Oxide Corp スペックルコントラスト発生器及びスペックルコントラスト評価装置
JP2017044702A (ja) * 2015-08-28 2017-03-02 ビステオン グローバル テクノロジーズ インコーポレイテッド 主観的スペックル形成の特徴付けのためのデバイス及び方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI792395B (zh) 2021-07-08 2023-02-11 瑞昱半導體股份有限公司 適用屏下相機的干涉圖案偵測方法、補償方法與電路系統

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08159725A (ja) * 1994-12-07 1996-06-21 Canon Inc 形状計測方法
JP2000304648A (ja) * 1999-02-19 2000-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 面ぎらの定量的評価方法、評価装置、防眩性フィルム及びその製造方法
JP2001086324A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置
JP2001228050A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Seiko Epson Corp 点欠陥検出装置及びその方法
JP2003279485A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Fuji Photo Film Co Ltd 防眩フィルムのギラツキ評価装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1152286A4 (en) * 1998-12-18 2002-05-15 Mitsubishi Rayon Co REVIEW SCREEN
DE60130671D1 (de) * 2001-12-24 2007-11-08 St Microelectronics Srl Verfahren zur Kontrastverbesserung in digitalen Farbbildern
EP1835458A1 (en) * 2005-01-07 2007-09-19 Niigata University Image processing method, image processing device, and recording medium containing image processing program
DE102005002934A1 (de) * 2005-01-21 2006-07-27 Roche Diagnostics Gmbh System und Verfahren zur optischen Abbildung von Objekten auf eine Detektionsvorrichtung mittels einer Lochblende
US7179676B2 (en) * 2005-03-28 2007-02-20 Kenet, Inc. Manufacturing CCDs in a conventional CMOS process

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08159725A (ja) * 1994-12-07 1996-06-21 Canon Inc 形状計測方法
JP2000304648A (ja) * 1999-02-19 2000-11-02 Dainippon Printing Co Ltd 面ぎらの定量的評価方法、評価装置、防眩性フィルム及びその製造方法
JP2001086324A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Fuji Xerox Co Ltd 画像処理装置
JP2001228050A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Seiko Epson Corp 点欠陥検出装置及びその方法
JP2003279485A (ja) * 2002-03-26 2003-10-02 Fuji Photo Film Co Ltd 防眩フィルムのギラツキ評価装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014032371A (ja) * 2012-08-06 2014-02-20 Oxide Corp スペックルコントラスト発生器及びスペックルコントラスト評価装置
JP2017044702A (ja) * 2015-08-28 2017-03-02 ビステオン グローバル テクノロジーズ インコーポレイテッド 主観的スペックル形成の特徴付けのためのデバイス及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20080181483A1 (en) 2008-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4154447B2 (ja) 画像処理方法、画像処理システムおよび画像処理プログラム
JP6030396B2 (ja) 映像処理装置
JP6355684B2 (ja) 主観的スペックル形成の特徴付けのためのデバイス及び方法
WO2012020835A1 (en) Display
TWI759669B (zh) 顯示畫面檢測方法與顯示畫面檢測系統
JP2009175041A (ja) 表示画像のギラツキ評価方法
JP2009180583A (ja) ディスプレイの輝度ムラ評価方法および装置
CN103426403A (zh) Led显示屏的校正用图像采集方法、画面显示方法和校正方法
JP5994301B2 (ja) 画像処理装置、情報処理装置、方法、プログラムおよび記録媒体
JP6536567B2 (ja) 検知装置、検知方法、及びコンピュータプログラム
TWI471550B (zh) 濾光器及顯示器評估系統
JP2008170378A (ja) シンチレーション評価方法およびシンチレーション評価装置
JP3766342B2 (ja) 防眩フィルムのギラツキ評価装置
JP2019047336A5 (ja)
JP2009204388A (ja) 欠陥検査方法
JP2014093604A (ja) 画像投射装置評価方法、画像投射装置、画像投射装置の製造方法および画像投射装置の評価システム
WO2018207300A1 (ja) 計測装置、計測方法及び計測プログラム
Ledda et al. HDR displays: a validation against reality
JPWO2017187827A1 (ja) ムラ評価方法及びムラ評価装置
JP5083053B2 (ja) 目立ち画像生成装置、及び目立ち画像生成プログラム
JP6591176B2 (ja) 保護フィルムのギラツキ評価値算出方法及び保護フィルムのギラツキ評価値算出装置
JP2009027640A (ja) マーカ検出装置およびマーカ検出プログラム
JP5165611B2 (ja) 高速度カメラの画像処理装置、画像処理方法及び高速度カメラ装置
JP2004186789A (ja) 画像評価装置
Kim et al. Performance investigation of cameras using HDR sensors for daylight glare evaluations

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081021

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20081219

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090216

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20091005

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20091005

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100420