JP2008154957A - 撮像装置及びその駆動方法 - Google Patents

撮像装置及びその駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008154957A
JP2008154957A JP2006350168A JP2006350168A JP2008154957A JP 2008154957 A JP2008154957 A JP 2008154957A JP 2006350168 A JP2006350168 A JP 2006350168A JP 2006350168 A JP2006350168 A JP 2006350168A JP 2008154957 A JP2008154957 A JP 2008154957A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
voltage
image
wiring
drive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006350168A
Other languages
English (en)
Inventor
Keigo Yokoyama
啓吾 横山
Tadao Endo
忠夫 遠藤
Toshio Kameshima
登志男 亀島
Tomoyuki Yagi
朋之 八木
Katsuro Takenaka
克郎 竹中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2006350168A priority Critical patent/JP2008154957A/ja
Publication of JP2008154957A publication Critical patent/JP2008154957A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

【課題】信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを確保しつつ、オフセット成分の画素毎のばらつきを解消できるようにする。
【解決手段】入射した放射線を電荷に変換する変換素子と前記電荷に基づく電気信号を転送するスイッチ素子とを含む画素111が2次元行列状に配設された変換回路110と、列方向の複数の画素に接続された信号配線M1〜M3と、当該信号配線に接続され各画素111からの電気信号を処理する信号処理回路と、信号配線M1〜M3に電圧を供給する可変電圧源Vp1〜Vp3と、予め信号処理回路により処理された画像データに基づいて各可変電圧源Vp1〜Vp3から各信号配線M1〜M3に供給する電圧を制御する制御回路134とを具備するようにする。
【選択図】図1

Description

本発明は、複数の画素が2次元状に配設された撮像装置及びその駆動方法に関する。
近年、ガラス等の絶縁基板上に成膜、形成したアモルファスシリコンやポリシリコンを材料とし、変換素子とスイッチ素子とで構成される画素を2次元状に複数配設したエリアセンサアレーを用いたフラットパネル型の撮像装置や放射線撮像装置が知られている。
一般的な撮像装置では、入射した放射線を電気信号に変換する複数の画素が2次元行列状に配列された変換回路を具備している。画素内には、入射した放射線を電荷に変換する変換素子と、駆動配線に印加される駆動信号によって制御されるスイッチ素子が設けられている。変換素子で得られた電荷に基づく電気信号は、スイッチ素子、並びに、スイッチ素子に繋がれた信号配線を介して信号処理回路に読み出される。
上述の撮像装置では、信号配線と駆動配線が交差する領域に生じる容量成分に、変動する駆動信号が印加されることによって生じるオフセット成分によって、信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを圧迫してしまう恐れがあった。これにより、S/N比が低減してしまう恐れがあった。
そこで、下記の特許文献1では、信号配線毎にスイッチ素子と容量で構成されたダミー画素を複数設け、また、ダミー画素のスイッチ素子に印加される駆動信号を画素のスイッチ素子に印加される駆動信号に対して逆位相にしている。このようにして、信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを確保している。
特開2004−37382号公報
しかしながら、変換素子及びスイッチ素子に起因するオフセット成分には、画素毎にばらつきがある。そのため、特許文献1の方法では、ダミー画素によって取得されるオフセット成分を、画素毎にばらついている画素のオフセット成分のすべてと一致させることは困難であり、オフセット成分の画素毎のばらつきを解消させることは困難であった。特に、絶縁基板に設けられた非単結晶半導体を用いたエリアセンサアレーにおいては、画素毎の変換素子及びスイッチ素子の特性及びオフセット成分のばらつきは大きい。そのため、ダミー画素によって取得されるオフセット成分を、画素毎にばらついている画素のオフセット成分のすべてと一致させることはより困難となる。
本発明は上記背景を鑑みてなされたもので、信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを確保しつつ、オフセット成分の画素毎のばらつきを解消できるようにすることを目的とする。
本発明の撮像装置は、入射した放射線を電荷に変換する変換素子と前記電荷に基づく電気信号を転送するスイッチ素子とを含む画素が2次元行列状に配設された変換回路と、列方向の複数の前記画素に接続された信号配線と、前記信号配線に接続され、前記電気信号を処理するための信号処理回路と、前記信号配線に電圧を供給するための供給手段と、予め前記信号処理回路により処理された画像データに基づいて前記供給手段から前記信号配線に供給する電圧を制御する制御手段とを有する。
本発明の撮像装置の駆動方法は、入射した放射線を電荷に変換する変換素子と前記電荷に基づく電気信号を転送するスイッチ素子とを含む画素が2次元行列状に配設された変換回路と、列方向の複数の前記画素に接続された信号配線と、前記信号配線に接続され、前記電気信号を処理するための信号処理回路とを具備する撮像装置の駆動方法であって、前記信号配線に電圧を供給する供給ステップと、予め前記信号処理回路により処理された画像データに基づいて前記供給ステップにおいて前記信号配線に供給する電圧を制御する制御ステップとを有する。
本発明によれば、信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを確保しつつ、オフセット成分の画素毎のばらつきを解消することができる。
以下、本発明の諸実施形態について、添付図面を参照しながら説明する。なお、以下に示す本発明の諸実施形態の説明においては、放射線として、可視光等の光が含まれるものとし、放射線には、X線やα線、β線、γ線なども含まれるものとする。
(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態について説明する。
図1は、第1の実施形態に係る撮像装置の概略構成を示す回路図である。
第1の実施形態における撮像装置は、入射した放射線(ここでは、「光」とする)を電荷に変換する複数の変換素子(光電変換素子)S1−1〜S3−3が2次元行列状に配列された光電変換回路110を具備している。更に、当該撮像装置には、各光電変換素子に駆動配線G1〜G3を介して駆動信号を入力する駆動回路(シフトレジスタ)120と、各光電変換素子から信号配線M1〜M3を介して電荷に基づく電気信号を読み出す読み出し回路130とが構成されている。
図1の例では、便宜上、光電変換回路110に3×3個の計9個の光電変換素子S1−1〜S3−3が構成された例を示している。実際の撮像装置の一例では、2000×2000程度の光電変換素子が存在していてもよい。
図1に示すように、1つの光電変換素子(S1−1〜S3−3)と、1つのスイッチ素子(T1−1〜T3−3)と、1つの容量素子(C1)とを有して、1つの画素111が構成されている。即ち、光電変換回路110には、画素111が2次元行列状に配設されて構成されている。また、各光電変換素子S1−1〜S3−3は、バイアス源112によりバイアスされている。各光電変換素子S1−1〜S3−3に対応して、当該各光電変換素子で生成された電荷に基づく電気信号を転送する、例えばTFTからなるスイッチ素子T1−1〜T3−3が設けられている。
読み出し回路130は、可変電圧源Vp1〜Vp3及び容量Cp1〜Cp3からなる電圧供給手段、メモリ(記憶手段)132、演算回路133及び制御回路134からなる制御手段、及び、信号処理回路135から構成されている。
読み出し回路130内の信号処理回路135は、信号配線M1〜M3に接続され、各スイッチ素子から転送される電気信号を処理するものである。信号処理回路135は、アンプA1〜A3、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3、サンプルホールド用容量CL1〜CL3、マルチプレックス用スイッチSr4、バッファアンプB、及びA/Dコンバータ131を含むものである。また、信号処理回路135は、アンプA1〜A3の帰還容量Cf1〜Cf3、帰還容量Cf1〜Cf3をリセットするためのスイッチSw1〜Sw3、バッファアンプBの帰還容量Cf4、帰還容量Cf4をリセットするためのスイッチSw4を更に含んでもよい。
読み出し回路130内の電圧供給手段は、アンプ(演算増幅器)A1〜A3の差動入力段と接続する信号配線M1〜M3に制御電圧を供給する(所定電位を与える)ものである。メモリ132は、可変電圧源Vp1〜Vp3の適切な電圧を決定するための画像(以下、「電圧値決定用画像」と称する)の画像データを含む各種の画像データを記憶する。読み出し回路130内の制御手段は、予め信号処理回路135により処理され、メモリ132に記憶されている電圧値決定用画像の画像データに基づいて、可変電圧源Vp1〜Vp3から各信号配線M1〜M3に供給する電圧を制御する。
撮影により光電変換回路110に光が照射されると、光電変換素子S1−1〜S3−3の光電変換部において光電変換が起きる。図1に示す例では、各光電変換素子の光電変換により発生した電荷は、当該光電変換素子の容量素子C1に蓄積される。また、各光電変換素子S1−1〜S3−3における各容量素子C1の容量は、ここでは同じと考えるが、実際の撮像装置の一例では、各光電変換素子で若干異なる場合がある。
図2は、第1の実施形態に係る撮像装置において、固定パターンノイズ画像(以下、「FPN画像」と称する)或いは撮影画像を取得する際のタイミングチャートである。ここで、図2では、説明の簡略化のために、駆動配線G1に接続された1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3から、電荷に基づく電気信号の読み取りを行う場合のみを示している。以下、撮影画像或いはFPN画像の取得方法を図2のタイミングチャートに従って説明する。
具体的に、図2では、FPN画像を取得する場合を示しており、FPN画像の取得の際は図2に示すように光入射を行わない状態で撮影が行われ、撮影画像の取得の際は光入射を行った状態で撮影される。また、撮影画像及びFPN画像の撮影に関しては、光入射を行うか否かのみが異なり、他の構成部のタイミングは同じである。また、撮影画像の取得の際における光入射のタイミングについては、例えば、図5に示すものとなる。
各光電変換素子S1−1〜S3−3で発生した電荷を読み出す際の順番は、駆動回路120により、各画素111を行方向に接続する駆動配線G1〜G3を介して制御される。具体的に読み出しは、駆動配線G1により駆動される1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3、駆動配線G2により駆動される2行目の光電変換素子S2−1〜S2−3、駆動配線G3により駆動される3行目の光電変換素子S3−1〜S3−3の順番で行われる。
図2に沿って、1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3における撮影画像或いはFPN画像を取得する際のタイミングについて説明する。
1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3の各容量素子C1に蓄積された信号電荷を読み出すために、駆動回路120から駆動配線G1に駆動信号(ゲート信号)を与える。これにより、1行目のスイッチ素子T1−1〜T1−3がON状態になり、1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3の各容量素子C1に蓄積されていた信号電荷が、各画素111を列方向に接続する信号配線M1〜M3に転送される。
読み出し回路130内に設けられた可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧パルスは、後述の図3に示す駆動タイミングで予め取得された電圧値決定用画像の画像データに基づいて、制御回路134により決定される。具体的に、制御回路134は、可変電圧源Vp1〜Vp3から供給される電圧パルスが、ゲート容量Cgによる各信号配線の電圧変化(電位変化)やダーク電流によるオフセット成分をキャンセルする(緩和する)ように、当該電圧パルスを制御する。ここで、上述したゲート容量Cgは、各スイッチ素子T1−1〜T1−3のゲートと当該スイッチ素子のソース又はドレインのうちの信号配線M1〜M3側の部位との間に形成される容量に相当する。可変電圧源Vp1〜Vp3から出力された電圧パルスは、各容量Cp1〜Cp3を介して各信号配線に供給される。
また、電圧パルスの供給のタイミングは、図2に示すように、駆動配線(G1)の電圧変化に合わせて行うことが望ましい。本実施形態の各可変電圧源Vp1〜Vp3から供給する電圧パルスは、対応する信号配線の駆動信号に基づくオフセット成分による電位変化とは、逆位相となる。また、各可変電圧源Vp1〜Vp3から供給する電圧パルスにより、各駆動配線の電位変化に基づく各信号配線の電荷移動が緩和される。一般に、ゲート容量Cgによる各信号配線の電位変化やダーク電流によるオフセット成分は各駆動配線毎に異なると考えられるため、この場合、各可変電圧源Vp1〜Vp3から供給される電圧の振幅は、電圧値決定用画像の画像データに基づき各駆動配線毎に異なる。
その後、スイッチ素子T1−1〜T1−3等をOFF状態にして、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3をONさせてサンプルホールドを行う。その後、マルチプレックス用スイッチSr4を介したマルチプレックスを行い、A/Dコンバータ131を介して電気信号を読み出す。
ここで、可変電圧源Vp1〜Vp3について、以下に詳しく述べる。
可変電圧源Vp1〜Vp3の制御は、上述したように制御回路134により行われる。可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧値は、メモリ132に保存されている予め取得された電圧値決定用画像の画像データに基づいて、演算回路133で演算処理され制御回路134で適切な値が決定されて制御される。
メモリ132に保存されている電圧値決定用画像の画像データは、デジタル化された画像データであり、光電変換回路110に光(放射線)を入射させず、且つ、可変電圧源Vp1〜Vp3をVref1〜Vref3と同じ電圧に固定し撮像されたものである。
図3は、第1の実施形態に係る撮像装置において、電圧値決定用画像を取得する際のタイミングチャートである。ここで、図3では、図2と同様に、説明の簡略化のために、駆動配線G1に接続された1行目の光電変換素子S1−1〜S1−3から、電荷に基づく電気信号の読み取りを行う場合のみを示している。また、Vp1〜Vp3は一定電圧であるため、図3に示すタイミングチャート中には記載していない。
以下に、図3のタイミングチャートを説明する。
光を入射せずに、駆動配線G1の電圧を上げ、スイッチ素子T1−1〜3をON状態にする。この段階で、図1のアンプA1の出力は、駆動配線G1の電圧の変化分や、光電変換素子S1−1〜3からのダーク出力等の様々なオフセット成分によって変化する。電圧値決定用画像の取得では、このスイッチ素子T1−1〜3のON状態で、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3をONさせてサンプルホールドを行う。その後、マルチプレックス用スイッチSr4でマルチプレックスを行い、スイッチ素子T1−1〜T1−3の電気信号を読み出す。また、スイッチ素子T1−1〜T1−3は、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3を用いたサンプルホールド終了後にOFFされる。
図3に示す動作を各駆動配線(G2及びG3)について行い、得られた電気信号から補正用画像である電圧値決定用画像を得る。この電圧値決定用画像には、駆動配線G1〜G3と信号配線M1〜M3が容量を持つことによって、駆動配線G1〜G3の電圧が変化する際に容量Cf1〜Cf3に流れる電荷や光電変換素子S1−1〜S3−3のダーク出力等の各種オフセット成分が含まれている。
この電圧値決定用画像は、駆動配線G1〜G3の電圧変化量やCf1の容量や得られた電気信号をデジタル信号に置き換えるまでのゲインを決定する各種容量CL1、Cf4等を変化させない限り、必ずしも測定毎に取得する必要はない。例えば、工場出荷時に、駆動配線の電圧変化量、各種設定した容量毎に電圧値決定用画像を予め取得し。撮影時に使用してもよいし、撮影直前に図3のタイミングに従って動作を行い取得してもよい。
本実施形態では、1枚の画像を取得するために、最低3回の測定を行うことが望ましい。まずは、図1及び図2に示す可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧値を決定するために、図3のタイミングに従って、光電変換回路110に光を照射せずに、電圧値決定用画像を取得する。次に、光を照射せずに、図2のタイミングに従って、FPN画像を取得する。この際、可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧値は、電圧値決定用画像を利用して決定する。そして最後に、再び、図2のタイミング(この場合、光入射は行う)に従って、撮影画像を取得する。ただし、撮影画像の取得とFPN画像の取得の順番は逆でも構わない。実際に、撮影者が見る表示画像は、撮影画像をFPN画像で減算処理した画像が望ましい。また、白補正等の他の補正方法を更に行うために、他の画像を用いて、さらに補正処理を行ってもよい。
実際の撮像装置に関して、光電変換素子を含む画素が2000×2000以上配列される場合も考えられる。このため、図1の可変電圧源Vp1〜Vp3に相当する部分は、複数の信号配線に対して共通であってもよい。例えば、信号配線がM本有して構成されている場合に、各信号配線に対応して接続されている各容量Cpを、複数のN(N<M)個のブロックからなる容量群に分け、当該容量群に対応して1つの可変電圧源Vpを設けるようにする。また、同じ信号配線を用いて異なる駆動配線に接続された光電変換素子からの信号を読み出す(即ち、画像を加算して読み出す)際に、可変電圧源Vpの印加電圧が当該複数の駆動配線による読み出し時で共通であってもよい。
上記のような、複数の画素で共通した可変電圧源Vpの電圧を用い、図2のタイミングチャートに従って読み出す場合において、その印加電圧は、前記複数の画素で電圧値決定用画像を平均化して得た値から決定するとよい。
例えば、図1に示す撮像装置において、前述の図3のタイミングに従って得られた電圧値決定用画像の出力値を、光電変換素子S1−1〜S3−3の画素について、A11〜A33とする。以下に、このA11〜A33からなる電圧値決定用画像の画像データの一部或いは画像全体を平均化処理して、当該平均化処理により得られた補正用画像を用いる場合について説明する。
一例として、1画素ずつ通常の読み出しを行う場合、図2のタイミングチャートの可変電圧源Vp1、Vp2及びVp3の印加電圧は、A11、A12及びA13それぞれのデジタル信号値に基づいて決定される。また、駆動配線G2及びG3に接続された光電変換素子S2−1〜S2−3及びS3−1〜S3−3からの電荷を読み出す際も、それぞれA21〜A23、A31〜A33によって印加電圧が決定される。
ここで、簡易化のために可変電圧源Vp1及びVp2が共通であったとすると、光電変換素子S1−1、S2−1の読み出し時の可変電圧源Vp1と可変電圧源Vp2の共通の電圧値は、電圧値決定用画像中のA11及びA12を平均した値を用いて決定される。同様に、光電変換素子S2−2とS2−3、及び、光電変換素子S3−2とS3−3の電圧値を決定する際は、それぞれ、電圧値決定用画像中のA21とA22、及び、A31とA32を平均化処理した値を用いる。
また、各駆動配線G1〜G3に駆動信号を供給して読み出す際に、可変電圧源Vp1の入力電圧の振幅を読み出す画素に関わらず共通にする場合、電圧値決定用画像のA1−1〜A1−3の値を平均化して、可変電圧源Vp1の電圧値を決定するのに用いるとよい。
また、画素の電気信号が複数の画素毎に加算、或いは、増幅されて読み出された場合、加算した画素の数或いは増幅量毎に、複数の電圧値決定用画像の画像データを使いわけて、可変電圧源Vp1〜Vp3から供給する電圧値を決定する形態であってもよい。
次に、第1の実施形態の作用・効果について説明する。
第1の実施形態の撮像装置では、読み出し回路130において、光電変換素子から信号電荷に基づく電気信号を読み出す途中で、オフセット成分を適確に削減することを可能としている。これにより、アンプA1〜A3及びその後段のアンプBのダイナミックレンジが各種オフセット成分により狭まることを抑制することができる。特に、画素加算や高ゲインで画像撮影を行う際に非常に有効である。
(第2の実施形態)
以下、本発明の第2の実施形態について説明する。
図4は、第2の実施形態に係る撮像装置の概略構成を示す回路図である。
図4では、光電変換素子MS1−1〜MS3−3は、MIS型の光電変換素子である。第2の実施形態の画素211では、第1の実施形態における画素111に対して、光電変換素子(MS1−1〜MS3−3)を初期化するための初期化用スイッチ素子であるスイッチ素子(TR1−1〜TR3−3)が追加されて構成されている。
また、第2の実施形態では、各スイッチ素子T1−1〜T1−3は、駆動配線G1〜G3を介して第1の駆動回路220aにより駆動され、各スイッチ素子TR1−1〜TR3−3は、駆動配線GR1〜GR3を介して第2の駆動回路220bにより駆動される。即ち、駆動回路としては、第1の実施形態に対して、第2の駆動回路220bが追加された形態となっている。
図4の例では、便宜上、光電変換回路210に3×3個の計9個の光電変換素子MS1−1〜MS3−3が構成された例を示している。実際の撮像装置の一例では、2000×2000程度の光電変換素子が存在していてもよい。各光電変換素子MS1−1〜MS3−3は、バイアス源212によりバイアスされている。各光電変換素子MS1−1〜MS3−3に対応して、当該各光電変換素子で生成された電荷に基づく電気信号を転送する、例えばTFTからなるスイッチ素子T1−1〜T3−3が設けられている。
読み出し回路230は、可変電圧源Vp1〜Vp3及び容量Cp1〜Cp3からなる電圧供給手段、メモリ(記憶手段)232、演算回路233及び制御回路234からなる制御手段、及び、信号処理回路235から構成されている。読み出し回路230の各構成部における主要な機能については、第1の実施形態と同様である。
図5は、第2の実施形態に係る撮像装置において、FPN画像或いは撮影画像を取得する際のタイミングチャートである。ここで、図5では、説明の簡略化のために、駆動配線G2に接続された2行目の光電変換素子MS2−1〜MS2−3から、電荷に基づく電気信号の読み取りを行う場合のみを示している。
具体的に、図5では、撮影画像を取得する場合を示しており、撮影画像の取得の際は図5に示すように光入射を行った状態で撮影が行われ、FPN画像の取得の際は光入射を行わない状態で撮影が行われる。また、撮影画像及びFPN画像の撮影に関しては、光入射を行うか否かのみが異なり、他の構成部のタイミングは同じである。また、FPN画像の取得の際における光入射のタイミングについては、例えば、図2に示すものとなる。
また、図6は、第2の実施形態に係る撮像装置において、電圧値決定用画像を取得する際のタイミングチャートである。ここで、図6では、図5と同様に、説明の簡略化のために、駆動配線G2に接続された2行目の光電変換素子MS2−1〜MS2−3から、電荷に基づく電気信号の読み取りを行う場合のみを示している。また、Vp1〜Vp3は一定電圧であるため、図6に示すタイミングチャート中には記載していない。
本実施形態においては、1つの画素に2つのスイッチ素子を有し、各々を別に動作させている。そのため、画素のオフセット成分は駆動配線方向に、図7で示すようなシェーディングを持つことが見出された。図7は、駆動配線方向に2000個の光電変換素子が配置された撮像装置におけるオフセットの一例を示す図である。この駆動配線方向にシェーディングを持ったオフセット量の計算による正確な導出は極めて困難であり、ダイナミックレンジを確保しつつシェーディングを抑制することが困難であった。
そこで本実施形態では、図6に示す電圧値決定用画像を取得することにより、ダイナミックレンジを確保しつつシェーディングを抑制することを達成する。以下に、図6の電圧値決定用画像を取得する際のタイミングチャートから説明を行う。
スイッチ素子T2−1〜T2−3は、第1の駆動回路220aから駆動配線G2に供給される駆動信号によって制御される。スイッチ素子T2−1〜T2−3の動作中に、既に読み出し動作が終了している前段の駆動配線G1に接続された、光電変換素子MS1−1〜MS1−3中の電位を初期条件に戻す動作を同時に行う。
具体的には、第2の駆動回路220bから駆動配線GR1に駆動信号を供給してスイッチ素子TR1−1〜TR1−3をONし、光電変換素子MS1−1〜MS1−3の当該スイッチ素子側の電位を、光電変換回路210内の電圧Vrefにする。ここで、スイッチ素子TR1−1〜TR1−3のON/OFFのタイミングは、図6に示すようにスイッチ素子T2−1〜T2−3と同じタイミングでもよいし、若干ずれていてもよい。また、電圧値決定用画像を取得する際は、第1の実施形態の図3で示されたタイミングと同様に、スイッチ素子T2−1〜T2−3をOFFする前に、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3を用いたサンプルホールドを行う。
次に、図5のFPN画像或いは撮影画像を取得する際のタイミングチャートについて説明する。
2行目の光電変換素子MS2−1〜MS2−3の各容量素子C1に蓄積された信号電荷に基づく電気信号を読み出すために、第1の駆動回路220aから駆動配線G2に駆動信号(ゲート信号)を与える。これにより、2行目のスイッチ素子T2−1〜T2−3がON状態になり、2行目の光電変換素子MS2−1〜MS2−3の各容量素子C1に蓄積されていた信号電荷に基づく電気信号が、各画素211を列方向に接続する各信号配線M1〜M3に転送される。
また、同時に、読み出し動作が終了している1行目の光電変換素子MS1−1〜MS1−3に接続されたスイッチ素子TR1−1〜TR1−3をONし、当該各光電変換素子内の電位を初期状態に戻す。ただし、最初の読み出し行である1行目の光電変換素子MS1−1〜MS1−3を読み出す際は、スイッチ素子T1−1〜T1−3をON状態にするだけである。
読み出し回路230内に設けられた可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧パルスは、図6に示す駆動タイミングで予め取得された電圧値決定用画像の画像データに基づいて、制御回路234により決定される。具体的に、制御回路234は、ゲート容量Cgによる各信号配線の電圧変化(電位変化)やダーク電流によるオフセット成分、2つのスイッチ素子が動作することで生じるオフセット成分等をキャンセルする(緩和する)ように、当該電圧パルスを制御する。可変電圧源Vp1〜Vp3から出力された電圧パルスは、各容量Cp1〜Cp3を介して各信号配線に供給される。
また、電圧パルスの供給のタイミングは、図5に示すように、駆動配線(G2)の電圧変化に合わせて行うことが望ましい。また、本実施形態の各可変電圧源Vp1〜Vp3から供給する電圧パルスは、対応する信号配線の駆動信号に基づくオフセット成分による電位変化とは、逆位相となる。
その後、スイッチ素子T2−1〜T2−3等をOFF状態にして、サンプルホールド用スイッチSr1〜Sr3をONさせてサンプルホールドを行う。その後、マルチプレックス用スイッチSr4を介したマルチプレックスを行い、A/Dコンバータ231を介して電気信号を読み出す。
ここで、可変電圧源Vp1〜Vp3について、以下に詳しく述べる。可変電圧源Vp1〜Vp3の制御は、上述したように制御回路234により行われる。可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧値は、メモリ232に保存されている予め取得された電圧値決定用画像の画像データに基づいて、演算回路233で演算処理され制御回路234で適切な値が決定されて制御される。
オフセットがどの程度生じるのかの計算は困難であるが、図6のタイミングに従って得られた電圧値決定用画像を用いることで的確に、オフセット成分を可変電圧源Vp1〜Vp3から供給する電圧により削減することが可能となる。また、FPN取得画像と撮影画像の補正方法や、電圧値決定用画像から可変電圧源Vp1〜Vp3の電圧値を決定する方法は、第1の実施形態と同様である。
本実施形態においては、駆動配線方向のオフセット成分のシェーディングのため、可変電圧源Vp1〜Vp3の印加電圧は当該撮像装置全体で共通の値を用いるのではなく、信号配線毎に異なる値を印加するとよい。或いは、第1の実施形態と同様に、各信号配線に対応して接続されている各容量Cpを、信号配線の本数Mに対して複数のN(N<M)個のブロックからなる容量群に分け、当該容量群に対応して1つの可変電圧源Vpを設けるようにするとよい。この際のVpの決定方法は、第1の実施形態と同様でよい。
次に、第2の実施形態の作用・効果について説明する。
第1の実施形態の撮像装置では、読み出し回路230において、光電変換素子から信号電荷に基づく電気信号を読み出す途中で、オフセット成分を適確に削減することを可能としている。これにより、アンプA1〜A3及びその後段のアンプBのダイナミックレンジ、さらにADコンバータ231のダイナミックレンジが各種オフセット成分により狭まることを抑制することができる。また、図7に示すような固定パターンノイズのシェーディングを抑えることができる。特に、画素加算や高ゲインで画像撮影を行う際に非常に有効である。
(第3の実施形態)
以下、本発明の第3の実施形態について説明する。
図8は、第3の実施形態に係る撮像装置の概略構成図である。
図8において、図1に示す第1の実施形態に係る撮像装置と同様の構成については、同様の符号を付している。第3の実施形態の撮像装置は、光電変換回路110の各画素111上に蛍光体113を組み合わせることによって、放射線を検出可能な放射線撮影装置となっている。ここで、放射線としては、上述したように、可視光等の電磁波やX線、α線、β線、γ線なども含まれる。
この蛍光体113は、入射した放射線を可視光に変換する波長変換体として機能し、例えば、Gd23、Gd22S及びCsIのうちから選ばれた1種を主材料として形成されている。また、画素111内に形成されている光電変換素子は、例えば、PIN型又はMIS型の光電変換素子で形成されている。
また、光電変換回路110における各画素111は、例えば、アモルファスシリコン(アモルファスSi)を主材料として形成されており、そのサイズは400mm四方程度と非常に大きい。この場合、駆動配線の長さは、400mm近くなり、駆動回路120からゲート信号(駆動信号)が供給されて、当該駆動回路120側に対して反対側の端に位置する画素に到達するまでに時間を要する。このため、本実施形態では、駆動のタイミングマージンを長く確保する代わりに、容量Cpと可変電圧Vpを用いて、第1の実施形態と同様の方法で、ゲート容量Cgを介した信号配線の電圧変化(電位変化)による出力変化の影響を低減させる。
(第4の実施形態)
以下、本発明の第4の実施形態について説明する。
図9は、第4の実施形態に係るX線撮像システムのシステム構成図である。本実施形態は、第1〜第3の実施形態に係る撮像装置をX線撮像システムに適用したものである。
本X線撮像システムの特徴は、以下の点である。
光電変換回路(110、210)、駆動回路(120、220a、220b)及び読み出し回路(130、230)を有して構成された撮像装置は、イメージセンサ6040内部に設けられている。イメージプロセッサ6070は、X線チューブ(X線発生装置)6050、イメージセンサ6040、ディスプレイ(表示装置)6080、及び、通信手段6090を制御している。
X線ルームでは、X線チューブ6050からX線6060が被撮影者6061の胴体6020に照射され、当該被撮影者6061の胴体6020を透過したX線がイメージセンサ6040に入射する。イメージセンサ6040は、被撮影者6061の画像情報(画像データ)を生成する。
コントロールルームでは、イメージプロセッサ6070において、その画像情報をディスプレイ6080に表示したり、通信手段6090を介してフィルムプロセッサ6100等に送信したりする制御が行われる。
また、ドクタールームでは、フィルムプロセッサ6100において、その画像情報をディスプレイ6081に表示したり、その画像情報をレーザープリンタによりフィルム6110に印刷したりする制御が行われる。
本発明に係る各実施形態によれば、信号処理回路に設けられている演算増幅器などのダイナミックレンジを確保しつつ、オフセット成分の画素毎のばらつきを解消することができる。
本発明に係る各実施形態では、予め取得したデジタル信号の電圧値決定用画像に基づいて、画像撮影時に発生する信号成分以外のオフセット成分をアナログ信号段階で補正するものである。この際、本発明に係る各実施形態によれば、計算による導出が困難なオフセット成分も適確に補正が可能である。
アナログ信号の段階で適確に補正を行うことにより、演算増幅器であるアンプで読み取る際のゲインや当該アンプのダイナミックレンジが変わらないのであれば、補正前に比べて当該アンプが光電変換によって得た信号電荷に基づく電気信号をより多く読み取ることが可能になる。また、信号電荷量が従来と同じである場合には、電気信号をより高いゲインで扱うことが可能になり、S/N比を向上させることが可能になる。
前述した各実施形態に係る撮像装置を構成する図1及び図4の各手段、並びに撮像装置の制御方法を示した図2、図3、図5及び図6の各ステップは、コンピュータのRAMやROMなどに記憶されたプログラムが動作することによって実現できる。このプログラム及び当該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体は本発明に含まれる。
具体的に、前記プログラムは、例えばCD−ROMのような記憶媒体に記録し、或いは各種伝送媒体を介し、コンピュータに提供される。前記プログラムを記録する記憶媒体としては、CD−ROM以外に、フレキシブルディスク、ハードディスク、磁気テープ、光磁気ディスク、不揮発性メモリカード等を用いることができる。他方、前記プログラムの伝送媒体としては、プログラム情報を搬送波として伝搬させて供給するためのコンピュータネットワーク(LAN、インターネットの等のWAN、無線通信ネットワーク等)システムにおける通信媒体を用いることができる。また、この際の通信媒体としては、光ファイバ等の有線回線や無線回線などが挙げられる。
また、コンピュータが供給されたプログラムを実行することにより各実施形態に係る撮像装置の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムがコンピュータにおいて稼働しているOS(オペレーティングシステム)或いは他のアプリケーションソフト等と共同して各実施形態に係る撮像装置の機能が実現される場合や、供給されたプログラムの処理の全て、或いは一部がコンピュータの機能拡張ボードや機能拡張ユニットにより行われて各実施形態に係る撮像装置の機能が実現される場合も、かかるプログラムは本発明に含まれる。
なお、上記実施形態は、何れも本発明を実施するにあたっての具体化の例を示したものに過ぎず、これらによって本発明の技術的範囲が限定的に解釈されてはならないものである。即ち、本発明はその技術思想、又はその主要な特徴から逸脱することなく、様々な形で実施することができる。
第1の実施形態に係る撮像装置の概略構成を示す回路図である。 第1の実施形態に係る撮像装置において、FPN画像或いは撮影画像を取得する際のタイミングチャートである。 第1の実施形態に係る撮像装置において、電圧値決定用画像を取得する際のタイミングチャートである。 第2の実施形態に係る撮像装置の概略構成を示す回路図である。 第2の実施形態に係る撮像装置において、FPN画像或いは撮影画像を取得する際のタイミングチャートである。 第2の実施形態に係る撮像装置において、電圧値決定用画像を取得する際のタイミングチャートである。 駆動配線方向に2000個の光電変換素子が配置された撮像装置におけるオフセットの一例を示す図である。 第3の実施形態に係る撮像装置の概略構成図である。 第4の実施形態に係るX線撮像システムのシステム構成図である。
符号の説明
110 光電変換回路
111 画素
112 バイアス源
120 駆動回路(シフトレジスタ)
130 読み出し回路
131 A/Dコンバータ
132 メモリ
133 演算回路
134 制御回路
135 信号処理回路
S1−1〜S3−3 光電変換素子
T1−1〜T3−3 スイッチ素子(TFT)
C1 容量素子
G1〜G3 駆動配線
M1〜M3 信号配線
A1〜A3、B アンプ
Sw1〜Sw4 リセット用スイッチ
Sr1〜Sr3 サンプルホールド用スイッチ
Sr4 マルチプレクッス用スイッチ(アナログマルチプレクサ)
Cp1、Cf1〜Cf4、CL1〜CL4 容量
Vp1〜Vp3 可変電圧源
Vref1〜Vref4 アンプの基準電源

Claims (15)

  1. 入射した放射線を電荷に変換する変換素子と前記電荷に基づく電気信号を転送するスイッチ素子とを含む画素が2次元行列状に配設された変換回路と、
    列方向の複数の前記画素に接続された信号配線と、
    前記信号配線に接続され、前記電気信号を処理するための信号処理回路と、
    前記信号配線に電圧を供給するための供給手段と、
    予め前記信号処理回路により処理された画像データに基づいて前記供給手段から前記信号配線に供給する電圧を制御する制御手段と
    を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記供給手段は、容量を介して前記信号配線に電圧を供給することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記信号処理回路は、演算増幅器を含み、
    前記供給手段は、前記演算増幅器の差動入力段と接続する前記信号配線に電圧を供給することを特徴とする請求項1又は2に記載の撮像装置。
  4. 行方向の複数の画素に接続された駆動配線と、
    前記駆動配線に駆動信号を印加する駆動回路とを更に有し、
    前記制御手段は、前記駆動信号に基づく前記駆動配線の電位変化と逆位相になるように、前記供給手段から供給する電圧を制御することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 前記制御手段は、前記駆動配線の電位変化に基づく前記信号配線の電荷移動を緩和するように、前記供給手段から供給する電圧を制御することを特徴とする請求項4に記載の撮像装置。
  6. 前記信号配線をM本有し、当該各信号配線に対応して前記供給手段は、N(N<M)個のブロックに分かれていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記供給手段から供給される電圧の振幅は、前記画像データに基づき、前記各駆動配線に対応して異なることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記画像データは、前記変換素子に前記放射線が入射していない状態で取得されたものであることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
  9. 前記制御手段は、前記画素の電気信号が、複数の画素毎に加算、或いは、増幅されて読み出された場合、加算した画素の数或いは増幅量毎に、複数の前記画像データを使いわけることを特徴とする請求項1乃至8のいずれか1項に記載の撮像装置。
  10. 前記制御手段は、前記画像データの一部或いは、画像全体を平均化処理して得た補正用画像を用いて、前記供給手段から供給する電圧を制御することを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載の撮像装置。
  11. 前記画素は、前記変換素子を初期化するための初期化用スイッチ素子を更に含むことを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. 前記初期化用スイッチ素子を駆動するための第2の駆動回路を更に有することを特徴とする請求項11に記載の撮像装置。
  13. 前記変換素子は、前記放射線を可視光に変換する波長変換体と、前記可視光を前記電荷に変換する光電変換素子とを有することを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の撮像装置。
  14. 前記画素は、アモルファスシリコンを主材料として形成されていることを特徴とする請求項1乃至13のいずれか1項に記載の撮像装置。
  15. 入射した放射線を電荷に変換する変換素子と前記電荷に基づく電気信号を転送するスイッチ素子とを含む画素が2次元行列状に配設された変換回路と、列方向の複数の前記画素に接続された信号配線と、前記信号配線に接続され、前記電気信号を処理するための信号処理回路とを具備する撮像装置の駆動方法であって、
    前記信号配線に電圧を供給する供給ステップと、
    予め前記信号処理回路により処理された画像データに基づいて前記供給ステップにおいて前記信号配線に供給する電圧を制御する制御ステップと
    を有することを特徴とする撮像装置の駆動方法。
JP2006350168A 2006-12-26 2006-12-26 撮像装置及びその駆動方法 Pending JP2008154957A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006350168A JP2008154957A (ja) 2006-12-26 2006-12-26 撮像装置及びその駆動方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006350168A JP2008154957A (ja) 2006-12-26 2006-12-26 撮像装置及びその駆動方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2008154957A true JP2008154957A (ja) 2008-07-10

Family

ID=39656492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006350168A Pending JP2008154957A (ja) 2006-12-26 2006-12-26 撮像装置及びその駆動方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2008154957A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010213097A (ja) * 2009-03-11 2010-09-24 Canon Inc 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2011120101A (ja) * 2009-12-04 2011-06-16 Canon Inc 撮像装置及び撮像システム
JP2013503325A (ja) * 2009-08-28 2013-01-31 パウル・シェラー・インスティトゥート 単一光子分解のための積算形読み出しチップを有するx線検出器
WO2014050532A1 (ja) * 2012-09-25 2014-04-03 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影プログラム
WO2014050531A1 (ja) * 2012-09-25 2014-04-03 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影プログラム
US9365822B2 (en) 1997-12-31 2016-06-14 Xy, Llc System and method for sorting cells

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9365822B2 (en) 1997-12-31 2016-06-14 Xy, Llc System and method for sorting cells
US9422523B2 (en) 1997-12-31 2016-08-23 Xy, Llc System and method for sorting cells
JP2010213097A (ja) * 2009-03-11 2010-09-24 Canon Inc 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2013503325A (ja) * 2009-08-28 2013-01-31 パウル・シェラー・インスティトゥート 単一光子分解のための積算形読み出しチップを有するx線検出器
US9046614B2 (en) 2009-08-28 2015-06-02 Paul Scherrer Institut X-ray detector with integrating readout chip for single photon resolution
JP2011120101A (ja) * 2009-12-04 2011-06-16 Canon Inc 撮像装置及び撮像システム
WO2014050532A1 (ja) * 2012-09-25 2014-04-03 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影プログラム
WO2014050531A1 (ja) * 2012-09-25 2014-04-03 富士フイルム株式会社 放射線画像撮影装置、放射線画像撮影システム、放射線画像撮影装置の制御方法、及び放射線画像撮影プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6391388B2 (ja) 放射線撮像装置
JP6491434B2 (ja) 放射線撮像装置及び放射線検出システム
TWI382756B (zh) A solid-state imaging device, a driving method of a solid-state imaging device, and an imaging device
EP0918434B1 (en) Photoelectric conversion device
JP6649775B2 (ja) 放射線撮像装置、その駆動方法及び放射線撮像システム
US8446495B2 (en) Image pickup apparatus and image pickup system
JP2009141439A (ja) 放射線撮像装置、その駆動方法及びプログラム
JP2010005212A (ja) 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム
JP2008271280A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置
JP2007050053A (ja) 放射線撮像装置、その制御方法及び放射線撮像システム
JP2007274672A (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2009194656A (ja) 撮像装置、撮像装置の制御方法及び撮像システム
JP2011091771A (ja) 撮像装置及び撮像システム、それらの制御方法及びそのプログラム
JP2009141631A (ja) 光電変換装置及び撮像装置
JP4888599B2 (ja) 光または放射線撮像装置
WO2016158484A1 (ja) 固体撮像装置および電子機器
JP2008154957A (ja) 撮像装置及びその駆動方法
JP5155759B2 (ja) 固体撮像装置
JP2014216794A (ja) 放射線撮像装置及び放射線検査装置
WO2018083894A1 (ja) 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の駆動方法およびプログラム
WO2018135293A1 (ja) 放射線撮像装置及び放射線撮像システム
JP2007288479A (ja) 撮像装置
WO2020022120A1 (ja) ストリーキング補正回路、撮像装置、及び、電子機器
GB2551027A (en) Imaging apparatus and radiographic imaging system
JP2016058877A (ja) 撮像装置及びその制御方法