JP2008140800A - プリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法及びプリント基板 - Google Patents
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Abstract
【課題】はんだ部の歪や温度を正確に測定することができとともに、センサのはんだ部への取付が容易であり、かつセンサが電界や磁界の影響を受けない。
【解決手段】プリント基板1への電子部品の実装がスルーホール型である場合、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aを電子部品のリード線2と共にスルーホール1aに挿通して、リード線2をスルーホール1aに固定するはんだ部3に埋め込み、光ファイバー部4aの変形によりはんだ部3の歪または温度を測定する。
【選択図】図1
【解決手段】プリント基板1への電子部品の実装がスルーホール型である場合、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aを電子部品のリード線2と共にスルーホール1aに挿通して、リード線2をスルーホール1aに固定するはんだ部3に埋め込み、光ファイバー部4aの変形によりはんだ部3の歪または温度を測定する。
【選択図】図1
Description
この発明は、電子部品をプリント基板に取り付ける際に使用する、プリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法及びプリント基板に関するものである。
一般に、電子部品をプリント基板に固定する方法として、「はんだ付け」が古くから使用されている。近年、電子部品の小形・高密度化のために、はんだ付けされる面積(体積)が減少し、直径数mmから数μmの大きさになってきている。一般的に、電子部品とプリント基板とはんだ部では、はんだ部の強度が弱く、このはんだ部が機器の不良原因の多くの割合を占めている。はんだ部の機械的特性として、室温でもクリープが生じるため、使用環境(温度の時間的変化)の履歴により、発生する歪が異なり、実機での歪変化の履歴を直接測定することが強度評価には重要である。
そこで、はんだ部の歪測定方法が種々検討されており、はんだ部の上に半導体材料からなるゲージ(センサ)を付けたもの等が提案されているが、実機でははんだ部の寸法が小さくて、センサの取付ができないこと、機器使用中の電流や電界、磁界の影響があること、温度変化に耐えられること等について、センサの仕様が満たされ、実際のプリント基板上のはんだ部の歪を測定する方法は見当たらなかった。
なお、この出願の発明に関連する先行技術文献情報としては、次のものがある。
特開2004−12270号公報
特開2000−292283号公報
特開2000−268271号公報
特開平7−318438号公報
ところで、はんだ部は通電しているため、導体からなるセンサ及び磁性体からなるセンサを使うことはできない。又、はんだ部の寸法は微小であるため、センサも微小でなければならない。さらに、はんだ部の温度上昇にセンサは耐えられなければならない。
通常良く用いられている歪ゲージは、ゲージ長は0.2mm程度であるが、ベース部分が数mmあるため、はんだ部のみを測定することができない。また、歪ゲージが抵抗変化を用いているため、電流や磁界が変化する場所では、歪ゲージを使うことができない。一方、光学的手法を用いて表面形状の変化を測定する、モアレ法やレーザースペックル法では、はんだの表面形状が立体的で、光沢があるので、基準となる格子等の焼付け、測定による判断が難しい。さらに、内部の測定は実施できない。
上記のような理由により、実機のプリント基板のはんだ部の歪を直接測定する方法は、今まで無かった。
この発明は上記のような課題を解決するために成されたものであり、センサが小さくてはんだ部への取付が容易であるとともに、電界や磁界の影響を受けず、かつ高温にも耐えることができ、はんだ部の歪や温度を直接かつ正確に測定することができるプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法及びプリント基板を得ることを目的とする。
この発明の請求項1に係るプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法は、プリント基板に電子部品をはんだ付けした構造におけるはんだ部の歪または温度の測定方法において、はんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込み、この光ファイバー部の変形によりはんだ部の歪または温度を測定するものである。
請求項2に係るプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法は、プリント基板への電子部品の実装がスルーホール型である場合、光ファイバー部を電子部品のリード線と共にスルーホールに挿通して、リード線をスルーホールに固定するはんだ部に埋め込むものである。
請求項3に係るプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法は、プリント基板への電子部品の実装が表面実装である場合、光ファイバー部をプリント基板と平行にはんだ部に埋め込むものである。
請求項4に係るプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法は、プリント基板への電子部品の実装が表面実装である場合、光ファイバー部をプリント基板と垂直にはんだ部に埋め込むものである。
請求項5に係るプリント基板は、電子部品をはんだ付けしたプリント基板において、はんだ部の歪または温度を測定するためにはんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込んだものである。
以上のようにこの発明の請求項1によれば、はんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込み、この光ファイバー部の変形によりはんだ部の歪または温度を測定しており、はんだ部の歪または温度を直接的かつ正確に測定することができる。又、光ファイバーセンサは絶縁体であるので、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。さらに、光ファイバーセンサの光ファイバー部ははんだ部に比べて小さい(細い)ので、はんだ部に埋め込むことが容易である。
請求項2によれば、プリント基板への電子部品の実装がスルーホール型である場合、光ファイバー部を電子部品のリード線と共にスルーホールに挿通して、リード線をスルーホールに固定するはんだ部に埋め込んでおり、はんだ部の歪または温度を直接的かつ正確に測定することができる。又、光ファイバーセンサは絶縁体であるので、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。さらに、光ファイバーセンサの光ファイバー部ははんだ部及びスルーホールに比べて小さい(細い)ので、スルーホールに挿通してはんだ部に埋め込むことが容易である。
請求項3,4によれば、プリント基板への電子部品の実装が表面実装である場合、光ファイバー部をプリント基板と平行または垂直にはんだ部に埋め込んでおり、はんだ部の歪または温度を直接的かつ正確に測定することができる。又、光ファイバーセンサは絶縁体であるので、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。さらに、光ファイバーセンサの光ファイバー部ははんだ部に比べて小さい(細い)ので、はんだ部に埋め込むことが容易である。
請求項5によれば、電子部品をはんだ付けしたプリント基板において、はんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込んでおり、請求項1と同様な効果を奏する。
実施最良形態1
以下、この発明の実施の形態を図面とともに説明する。ところで、光ファイバーセンサを用いた歪計及び温度計が提案されている。これは、樹脂のモールドや繊維強化プラスチックの積層界面での歪、温度の測定に用いられている。この光ファイバーセンサは石英製であるため、絶縁体であり、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる特性を持っている。さらに、この光ファイバーセンサの直径は約180μmであり、スルーホールや抵抗器の寸法に対して十分に小さい。又、石英ははんだ付けが可能であり、電極等と一緒にはんだ付けが可能である。図1はこの発明の実施最良形態1によるスルーホール型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断斜視図を示し、1はプリント基板であり、スルーホール1aを有している。スルーホール1aには電子部品(図示せず)のリード線2が挿通され、はんだ部3によりはんだ付けされる。このはんだ付けの際にはんだ部3をヒータやはんだごてで溶融させ、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aもスルーホール1aに挿通させ、はんだ部3を冷却固化させて光ファイバー部4aをはんだ部3中に埋め込む。はんだ部3の濡れ性を良くするために、光ファイバー部4aの表面の脱脂を行うとともに、はんだ部3の種類に合ったフラックスの塗布により、より強固に固定できる。5はスルーホール1aの上下に設けたパッドであり、例えば銅やアルミ等により形成され、電子部品が取り付けられる。
以下、この発明の実施の形態を図面とともに説明する。ところで、光ファイバーセンサを用いた歪計及び温度計が提案されている。これは、樹脂のモールドや繊維強化プラスチックの積層界面での歪、温度の測定に用いられている。この光ファイバーセンサは石英製であるため、絶縁体であり、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる特性を持っている。さらに、この光ファイバーセンサの直径は約180μmであり、スルーホールや抵抗器の寸法に対して十分に小さい。又、石英ははんだ付けが可能であり、電極等と一緒にはんだ付けが可能である。図1はこの発明の実施最良形態1によるスルーホール型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断斜視図を示し、1はプリント基板であり、スルーホール1aを有している。スルーホール1aには電子部品(図示せず)のリード線2が挿通され、はんだ部3によりはんだ付けされる。このはんだ付けの際にはんだ部3をヒータやはんだごてで溶融させ、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aもスルーホール1aに挿通させ、はんだ部3を冷却固化させて光ファイバー部4aをはんだ部3中に埋め込む。はんだ部3の濡れ性を良くするために、光ファイバー部4aの表面の脱脂を行うとともに、はんだ部3の種類に合ったフラックスの塗布により、より強固に固定できる。5はスルーホール1aの上下に設けたパッドであり、例えば銅やアルミ等により形成され、電子部品が取り付けられる。
又、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aの一端には図2に示すような測定部4bが接続される。測定部4bにおいては、シリカガラス管6内に反射ファイバー7と入出力ファイバー8とが相対向して接着剤により固定され、二つのファイバー7,8の端面7a,8aで反射し、干渉した光を測定することにより、端面7a,8a間の距離(エアギャップ)Gを計測する。即ち、対向する高反射率を有する平行な端面7a,8aで一定の厚さの空気間隔を挟み、繰り返し反射を行わせると、多数の光束が干渉に関与し、干渉縞が極めて細い縞となり、この縞のずれを測定する。光ファイバー部4aは入出力ファイバー8に光学的に接続する。
上記構成において、ファイバー7,8の端面7a,8a間の距離を計測し、この距離の変化を計測する。この距離の変化は光ファイバー部4aの変形、即ち長さの変化であり、この変形ははんだ部3の歪及び温度変化に対応する。
実施最良形態1においては、光ファイバーセンサ4は石英製であり、絶縁体であるので、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。又、この光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aはスルーホール1aやはんだ部3に比べて十分に小さい(細い)ので、はんだ部3への埋め込みは容易である。このように、光ファイバー部4aをはんだ部3に埋め込んだので、実機の使用状態での歪あるいは温度の測定を直接的にかつ正確に行うことができる。また、これにより、歪範囲が明確になるため、試験段階で製品の定常状態での疲労破壊回数の推定が可能となる。
又、機器使用中の歪測定が可能であるため、はんだ部3に亀裂等の幾何学的変化が発生した場合の亀裂の検出が可能となり、これによって損傷の予知が可能となり、損傷がプリント基板1や機器全体に及ぶ前に、製品の使用を中止することができる。また、歪履歴あるいは温度履歴を記録することにより、使用回数が明確になり、残存寿命がどのくらいであるかを正確に把握することができ、プリント基板1の余寿命を正しく管理することができる。さらに、機器使用中の温度測定が可能となるため、各電子部品の損傷や劣化(抵抗増加)を検出することができ、プリント基板1の保守点検が容易となる。
実施最良形態2
図3(a),(b)はこの発明の実施最良形態2による表面実装型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断正面図及び縦断斜視図を示し、9は表面実装型のプリント基板であり、プリント基板9の表面にはパッド10を介して電子部品11がはんだ部12により実装固定され、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aがはんだ部12にプリント基板9と平行に挿通して埋め込まれる。
図3(a),(b)はこの発明の実施最良形態2による表面実装型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断正面図及び縦断斜視図を示し、9は表面実装型のプリント基板であり、プリント基板9の表面にはパッド10を介して電子部品11がはんだ部12により実装固定され、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aがはんだ部12にプリント基板9と平行に挿通して埋め込まれる。
上記構成において、光ファイバーセンサ4によりはんだ部12のプリント基板9と平行な方向の歪及び温度が測定される。
実施最良形態2によれば、光ファイバーセンサ4は石英製であり、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。又、この光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aははんだ部12に比べて十分に小さい(細い)ので、はんだ部12への埋め込みは容易である。又、このように光ファイバー部4aをはんだ部12に埋め込んだので、はんだ部12の歪あるいは温度の測定を直接的かつ正確に行うことができる。その他、実施最良形態1と同様の効果を奏する。
実施最良形態3
図4(a),(b)はこの発明の実施最良形態3による表面実装型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断正面図及び縦断斜視図を示し、表面実装型のプリント基板9の表面にはパッド10を介して電子部品11がはんだ部12により実装固定され、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aがはんだ部12にプリント基板9と垂直に挿通して埋め込まれる。光ファイバー部4aの下端は測定部4bに接続される。又、光ファイバー部4aの上端ははんだ部12を貫通しないように埋め込むが、はんだ部12が小さい場合は点線で示すように光ファイバー部4aの上端にはんだ部12から上方にはみ出る部分4´aが生じる。
図4(a),(b)はこの発明の実施最良形態3による表面実装型基板へ光ファイバーセンサを適用した場合の縦断正面図及び縦断斜視図を示し、表面実装型のプリント基板9の表面にはパッド10を介して電子部品11がはんだ部12により実装固定され、光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aがはんだ部12にプリント基板9と垂直に挿通して埋め込まれる。光ファイバー部4aの下端は測定部4bに接続される。又、光ファイバー部4aの上端ははんだ部12を貫通しないように埋め込むが、はんだ部12が小さい場合は点線で示すように光ファイバー部4aの上端にはんだ部12から上方にはみ出る部分4´aが生じる。
上記構成において、光ファイバーセンサ4によりはんだ部12のプリント基板9と垂直な方向の歪及び温度が測定される。光ファイバー部4aはプリント基板9も貫通しているが、プリント基板9の歪や温度変化は微小なので、影響はない。
実施最良形態3によれば、光ファイバーセンサ4は石英製であり、磁界や電界の影響を受けず、高温にも耐えられる。又、この光ファイバーセンサ4の光ファイバー部4aははんだ部12に比べて十分に小さい(細い)ので、はんだ部12への埋め込みは容易である。又、このように光ファイバー部4aをはんだ部12に埋め込んだので、はんだ部12の歪あるいは温度の測定を直接的かつ正確に行うことができる。その他、実施最良形態1と同様の効果を奏する。
1,9…プリント基板
1a…スルーホール
2…リード線
3,12…はんだ部
4…光ファイバーセンサ
4a…光ファイバー部
4b…測定部
5,10…パッド(銅、アルミ)
11…電子部品
1a…スルーホール
2…リード線
3,12…はんだ部
4…光ファイバーセンサ
4a…光ファイバー部
4b…測定部
5,10…パッド(銅、アルミ)
11…電子部品
Claims (5)
- プリント基板に電子部品をはんだ付けした構造におけるプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法において、はんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込み、この光ファイバー部の変形によりはんだ部の歪または温度を測定することを特徴とするプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法。
- プリント基板への電子部品の実装がスルーホール型である場合、光ファイバー部を電子部品のリード線と共にスルーホールに挿通して、リード線をスルーホールに固定するはんだ部に埋め込むことを特徴とする請求項1記載のプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法。
- プリント基板への電子部品の実装が表面実装である場合、光ファイバー部をプリント基板と平行にはんだ部に埋め込むことを特徴とする請求項1記載のプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法。
- プリント基板への電子部品の実装が表面実装である場合、光ファイバー部をプリント基板と垂直にはんだ部に埋め込むことを特徴とするプリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法。
- 電子部品をはんだ付けしたプリント基板において、はんだ部の歪または温度を測定するためにはんだ部に光ファイバー部と測定部とからなる光ファイバーセンサの光ファイバー部を埋め込んだことを特徴とするプリント基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006322711A JP2008140800A (ja) | 2006-11-30 | 2006-11-30 | プリント基板のはんだ部の歪または温度の測定方法及びプリント基板 |
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ID=39602011
Family Applications (1)
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102246051A (zh) * | 2008-12-11 | 2011-11-16 | 罗伯特·博世有限公司 | 用于确定控制设备的至少一个部件的状态的方法 |
WO2011155032A1 (ja) * | 2010-06-09 | 2011-12-15 | トヨタ自動車株式会社 | クラック特定装置と半導体装置 |
JP2021524009A (ja) * | 2018-04-27 | 2021-09-09 | リンデ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングLinde GmbH | プレート式熱交換器、プロセスエンジニアリングシステム及び方法 |
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2006
- 2006-11-30 JP JP2006322711A patent/JP2008140800A/ja active Pending
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