JP2008096331A - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 ステージ14と、X線測定光学系13と、ステージ14を駆動信号に基づいて移動させるステージ駆動機構16と、表示装置23とを備えるX線検査装置1であって、被測定物Sについての複数の測定位置の配置関係を含む被測定物関連データが入力され記憶するデータ記憶部25と、被測定物関連データに基づいて、表示装置23に被測定物Sについての測定位置を示す模式図24bの画像表示を行う模式図表示部33とを備えることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
さらに、X線検査装置は、X線源とX線検出器との間で被測定物を載置するステージを備える。そして、ステージの回転移動や並進移動等で被測定物の位置を調整しながら、透視X線像を撮影している。このとき、ステージの回転移動や並進移動等を行うステージ駆動機構の制御は、種々の駆動信号が与えられることによって実行される。
具体的には、部品(例えば、電子部品等)のカタログ又はデータシート等に記載された部品パッケージの各種寸法に関する情報を、コンピュータで読み取ることができるように電子データ化した電子データ、マウンタ等の実装基板製造用装置が扱う基板や部品に関する入力データ、基板設計CADで作成された基板設計データ等が挙げられ、X線検査装置が読み込むことができるものである。
また、「所定の領域」とは、透視X線像として撮影される被測定物の一部分のことをいう。
また、被測定物関連データに基づいて、被測定物についての複数の測定位置を設定することができる。よって、基準測定物を用いて、一の被測定物について複数の測定位置をティーチングする必要もなくなる。さらに、例えば、BGAパッケージの多数のハンダボールのように被測定物に同一形状の部材が多数個並んでいても、被測定物関連データを用いて設定するので、容易に測定位置を設定することができる。
また、本発明のX線検査装置においては、前記模式図には、前記被測定物についての全部の測定位置を示す内容が含まれているようにしてもよい。
また、本発明のX線検査装置においては、さらに、前記ステージを移動させる駆動信号を出力するとともに、前記ステージの現在位置を含むステージ位置データを記憶させる制御を実行する駆動信号発生部と、前記被測定物関連データ及びステージ位置データに基づいて、前記模式図に、X線画像の画像表示が行われている被測定物の位置を示す現在位置情報の画像表示を行う現在位置情報表示部とを備えるようにしてもよい。
このような本発明のX線検査装置によれば、X線画像の画像表示が行われている被測定物の位置を示す現在位置情報の画像表示が行われるので、透視X線像が撮影されている被測定物の位置を容易に把握することができる。
このような本発明のX線検査装置によれば、X線画像中に画像表示された基準位置がポインタで指定されることにより、被測定物状態算出部で、ステージ位置データとしてステージの現在の位置を記憶させているとともに、被測定物関連データとして被測定物についての基準位置と複数の測定位置との配置関係を記憶させているので、被測定物がステージに配置された状態を算出することができる。その結果、自動的に一の被測定物を移動させながら測定位置を正確に観察することができる。よって、基準測定物と被測定物との正確な位置合わせを行って、ステージ上に被測定物を載置する必要もない。
また、本発明のX線検査装置においては、入力操作される入力装置と、前記入力装置によってステージを移動させる基準位置信号を駆動信号発生部に出力する基準位置信号発生部とを備え、さらに、前記基準位置信号によるステージの移動量を算出することにより、前記被測定物がステージに配置された状態を算出する被測定物状態算出部を備えるようにしてもよい。
このような本発明のX線検査装置によれば、画像表示されたX線画像を参考にして、入力装置でステージを、例えば、X線画像中の被測定物の所定の位置をX線画像の中心となるように移動させることにより、被測定物状態算出部で、ステージの移動量を算出して、被測定物がステージに配置された状態を算出することができる。その結果、自動的に一の被測定物を移動させながら測定位置を正確に観察することができる。よって、基準測定物と被測定物との正確な位置合わせを行って、ステージ上に被測定物を載置する必要もない。
このような本発明のX線検査装置によれば、被測定物の一の測定位置を入力装置で指定することにより、被測定物の一の測定位置がX線画像の中心となるように、被測定物の一の測定位置のX線画像が画像表示されるので、被測定物の一の測定位置をより観察することができる。
X線検査装置1は、X線発生装置11とX線検出器12とを有するX線測定光学系13と、被測定物Sを載置するステージ14と、ステージ駆動機構16と、X線検査装置1全体の制御を行う制御系(コンピュータ)20と、フロッピディスク、CD、DVD等の記録媒体に記録された電子データを読み込む記憶媒体読取装置26等の外部装置とにより構成される。
よって、IIが透視用X線を検出することにより蛍光像を形成することになる。さらに、この蛍光像をCCDカメラで撮影することによって、透視用X線の映像信号(アナログ信号)がコンピュータ20に出力される。
なお、下部板状体14bは、ステージ駆動機構16により、ステージ14面に平行な方向(XY方向)に移動したり、ステージ14面に垂直な方向(Z方向)に昇降移動したりするように、並進移動可能に設けられている。さらに、上部板状体14aは、ステージ駆動機構16により、回転移動可能に設けられている。
よって、ステージ14の位置を移動させることにより、被測定物Sの位置を移動させることになる。
また、CPU21が処理する機能をブロック化して説明すると、X線画像作成部31と、ポインタ表示部32と、模式図表示部33と、電子データ読込部34と、ティーチング情報記憶制御部35と、駆動信号発生部36と、現在位置情報表示部37と、割込信号発生部39と、被測定物状態算出部38とを有する。また、メモリ25は、被測定物関連データ記憶領域41と、ステージ位置データ記憶領域42とを有する。
模式図表示部33は、被測定物関連データに基づいて、モニタ画面23aに模式図24bの画像表示を行う制御を行うものである。例えば、図3に示すように、縦9列、横12列に並んだ、全てのハンダボールPの配置関係を示す概略図である模式図24bを作成して、模式図24bの画像表示を行うことになる。このとき、模式図24bの画像表示中に、各ハンダボールPに付されているピン番号情報(被測定物関連データ記憶領域41に記憶させている)を、数個のハンダボールPには対応付けして、数個のピン番号情報(図3中のA、L、1、12)の画像表示を行っている。これにより、模式図24bを参考にして、透視X線像を撮影している被測定物Sの現在の位置を把握させることができるようになる。
なお、被測定物Sの2つの基準位置93a、93bは、3×3個のハンダボールPを含む測定範囲D0についてX線画像24aの画像表示が行われているときに、X線画像24a中に含まれるような位置で被測定物Sに形成されている。
次に、ステップS102の処理において、電子データ読込部34は、記憶媒体読取装置26で読み込まれた被測定物関連データを被測定物関連データ記憶領域41に記憶させる。
次に、ステップS105の処理において、基準の位置(0、0、0、0)にあるステージ14上に、被測定物Snを載置する。このとき、被測定物Snは、例えば、産業用ロボット等の搬送手段により載置される。
次に、ステップS107の処理において、X線画像24a中に画像表示された2つの基準位置93a、93bをポインタ24eで指定する。
次に、ステップS109の処理において、Dn=D0と関数として記憶される。
次に、ステップS111の処理において、X線検出器12で被測定物Snの3×3個のハンダボールPを含む測定範囲Dnの透視X線像が撮影されることにより、モニタ画面23aに測定範囲DnについてのX線画像24aの画像表示が行われる。このとき、現在位置情報表示部37は、被測定物関連データ及びステージ位置データに基づいて、模式図24bに、現在位置情報24cの画像表示を行うので、操作者が透視X線像を撮影している被測定物Snの現在の位置を容易に把握することができる。なお、ステージ14と被測定物Snとの正確な位置合わせを行っていないが、被測定物Snがステージ14に配置された状態を算出しているので、位置ずれにより間違えることなく、意図したハンダボールPを正確に観察することができる。
一方、割込信号を出力しないと判断した場合には、ステップS114の処理において、Dn=D11であるか否かを判定する。Dn=D11でないと判定した場合には、ステップS115の処理に進むことにより、Dn=Dn+1と記憶され、さらにステップS110の処理に戻る。つまり、Dn=D11であると判定するときまで、ステップS110及びS111の処理は繰り返し実行されて、全てのハンダボールPの観察を行うことになる。
次に、ステップS117の処理において、Sn=Smaxであるか否かを判定する。Sn=Smaxでないと判定した場合には、ステップS118の処理に進むことにより、Sn=Sn+1と記憶され、さらにステップS105の処理に戻る。つまり、Sn=Smaxであると判定するときまで、ステップS105〜S116の処理は繰り返し実行されて、被測定物のX線検査を次々と行う。
一方、Sn=Smaxであると判断した場合には、本フローチャートを終了させることになる。
次に、ステップS202の処理において、割込信号発生部39は、ピン番号情報に対応する被測定物SのハンダボールPの透視X線像が中心となるように撮影されるように、駆動信号発生部36に割込信号を出力する。そして、割込信号を受信した駆動信号発生部36は、ステージ14を移動させる駆動信号をステージ駆動機構16に出力する。
一方、自動的に順番に測定位置を観察する状態に戻ると判断した場合には、例えば、終了ボタン等を押すことにより、本フローチャートを終了させることになる。
(1)上述したX線検査装置1において、 被測定物関連データ記憶領域41には、予め、形状が異なる種々の被測定物(異なる基板の種類)についての被測定物関連データを記憶させておき、検査を行おうとする被測定物についての被測定物関連データを選択することにより、被測定物を検査することができる構成としてもよい。
(2)上述したX線検査装置1において、被測定物関連データ記憶領域41には、予め、形状が異なる種々の部品(異なるIC番号)についての被測定物関連データを記憶させておき、検査を行おうとする被測定物上の複数の異なる部品ついて検査することができる構成としてもよい。このとき、検査を行おうとする部品についての被測定物関連データを選択することにより、模式図24bとして、一の部品のみについての模式図の画像表示が行われる構成としてもよい。なお、部品には、同一形状の部材が多数個並んでいるものとする。
(3)上述したX線検査装置1において測定する被測定物Sに、基準位置として、三角印93a、93bを形成する構成としたが、被測定物Sに三角印93a、93bを形成せず、被測定物Sの特徴的なスルーホールや基板角等を基準位置とする構成としてもよい。
(4)上述したX線検査装置1において、被測定物関連データは、基準位置93a、93bと測定位置との配置関係を含み、X線画像中に画像表示された基準位置93a、93bがポインタ24eで指定されることにより、被測定物Sがステージ14に配置された状態を算出する構成としたが、入力装置によってステージ14を移動させる基準位置信号を駆動信号発生部に出力する基準位置信号発生部を備え、さらに、基準位置信号によるステージ14の移動量を算出することにより、被測定物Sがステージ14に配置された状態を算出するような構成としてもよい。
11: X線発生装置(X線源)
12: X線検出器
13: X線測定光学系
14: ステージ
16: ステージ駆動機構
20: 制御系(コンピュータ)
21: CPU
22: 入力装置
23: 表示装置
24a: X線画像
24b: 模式図
25: メモリ(データ記憶部)
31: X線画像作成部
33: 模式図表示部
35: ティーチング情報記憶制御部
91、101: 基板
S: 被測定物
Claims (7)
- 基板上に搭載される部品を有する被測定物を載置するステージと、
前記被測定物の所定の領域の透視X線像を撮影するX線検出器と当該X線検出器に向けて透視用X線を照射するX線源とを有するX線測定光学系と、
前記ステージを駆動信号に基づいて移動させるステージ駆動機構と、
前記透視X線像に基づいて作成されたX線画像の画像表示が行われる表示装置とを備えるX線検査装置であって、
前記被測定物についての複数の測定位置の配置関係を含む被測定物関連データが入力され記憶するデータ記憶部と、
前記被測定物関連データに基づいて、前記表示装置に被測定物についての測定位置を示す模式図の画像表示を行う模式図表示部とを備えることを特徴とするX線検査装置。 - 前記模式図には、前記被測定物についての全部の測定位置を示す内容が含まれていることを特徴とする請求項1に記載のX線検査装置。
- さらに、前記ステージを移動させる駆動信号を出力するとともに、前記ステージの現在位置を含むステージ位置データを記憶させる制御を実行する駆動信号発生部と、
前記被測定物関連データ及びステージ位置データに基づいて、前記模式図に、X線画像の画像表示が行われている被測定物の位置を示す現在位置情報の画像表示を行う現在位置情報表示部とを備えることを特徴とする請求項1又は2に記載のX線検査装置。 - 前記被測定物関連データは、基準位置と測定位置との配置関係を含み、
さらに、入力操作される入力装置と、
前記入力装置によって操作されるポインタの画像表示を行うポインタ表示部と、
前記X線画像中に画像表示された基準位置が前記ポインタで指定されることにより、前記被測定物関連データ及びステージ位置データに基づいて、前記被測定物がステージに配置された状態を算出する被測定物状態算出部とを備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のX線検査装置。 - 入力操作される入力装置と、
前記入力装置によってステージを移動させる基準位置信号を駆動信号発生部に出力する基準位置信号発生部とを備え、
さらに、前記基準位置信号によるステージの移動量を算出することにより、前記被測定物がステージに配置された状態を算出する被測定物状態算出部を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のX線検査装置。 - 前記駆動信号発生部は、前記被測定物の一の測定位置が入力装置で指定されることにより、前記被測定物の一の測定位置が、X線画像の中心となるように撮影される制御を実行することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載のX線検査装置。
- 前記被測定物は、BGA又はCSPパッケージであり、
前記被測定物関連データは、BGA又はCSPパッケージの底面のハンダボール位置の配置関係を含むことを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載のX線検査装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2008096331A true JP2008096331A (ja) | 2008-04-24 |
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Family
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101045016B1 (ko) | 2009-01-21 | 2011-06-30 | (주)세현 | 패턴 검사장치 |
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