JP2008093577A - Substrate treatment device and substrate treatment method - Google Patents

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聡 鈴木
Junhei Kawane
旬平 川根
Akihito Shioda
明仁 塩田
Satoshi Yamamoto
悟史 山本
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a substrate treatment device and a substrate treatment method capable of preferably applying a washing treatment to a substrate. <P>SOLUTION: A chemical liquid unit 10 performs chemical liquid treatment of a substrate W. A washing unit 60 washes the substrate W fed with the chemical liquid from the chemical liquid unit 10 by micro-bubble water by feeding micro-bubble water to the substrate W. The washing unit 60 is mainly provided with multiple upper nozzles 61, multiple lower nozzles 62, a liquid knife 66, a storage tank 20, and a micro-bubble generating part 21. This configuration enables to feed micro-bubble water to the substrate W after the chemical liquid treatment. Thus, the chemical liquid attached to the substrate in the chemical liquid treatment can be quickly substituted with the micro-bubble water, to reduce the amount of the treatment liquid used for washing. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、半導体基板、液晶表示装置用ガラス基板、フォトマスク用ガラス基板、光ディスク用基板等(以下、単に「基板」と称する)に対して処理を施す基板処理装置および基板処理方法に関するもので、特に、基板の洗浄処理に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus and a substrate processing method for processing a semiconductor substrate, a glass substrate for a liquid crystal display device, a glass substrate for a photomask, a substrate for an optical disk, etc. (hereinafter simply referred to as “substrate”). In particular, the present invention relates to a substrate cleaning process.

従来より、純水とガスとを混合させた処理液を薬液が付着した基板に供給することによって基板を洗浄する技術が知られている(例えば、特許文献1)。ここで、特許文献1では、ガスとして炭酸ガス(CO2)が使用されている。   2. Description of the Related Art Conventionally, a technique for cleaning a substrate by supplying a treatment liquid in which pure water and gas are mixed to the substrate on which a chemical solution is attached is known (for example, Patent Document 1). Here, in Patent Document 1, carbon dioxide (CO2) is used as the gas.

特開2004−273984号公報JP 2004-273984 A

ここで、特許文献1において、基板に付着した薬液を除去するためには、大量の純水が必要とされる。すなわち、洗浄処理において、基板処理装置からは、薬液を含む多量の排液が排出される。その結果、多量の排液を処理可能な排液処理設備が必要となり、排液処理に関する設備コストが増大するという問題が生じていた。   Here, in patent document 1, in order to remove the chemical | medical solution adhering to a board | substrate, a lot of pure water is required. That is, in the cleaning process, a large amount of drainage liquid containing a chemical solution is discharged from the substrate processing apparatus. As a result, a drainage processing facility capable of processing a large amount of drainage is required, and there has been a problem that the facility cost related to the drainage treatment increases.

そこで、本発明では、基板に対して良好に洗浄処理を施すことができる基板処理装置および基板処理方法を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and a substrate processing method that can satisfactorily perform a cleaning process on a substrate.

上記の課題を解決するため、請求項1の発明は、基板に薬液を供給して薬液処理を可能とする薬液供給部と、マイクロバブルを発生させるマイクロバブル発生部と、前記薬液供給部により前記薬液が供給された前記基板に前記マイクロバブル発生部によって発生させられたマイクロバブルを含む処理液を供給して、前記処理液による洗浄処理を可能とする処理液供給部とを備えることを特徴とする。   In order to solve the above-mentioned problems, the invention of claim 1 is characterized in that the chemical solution supply unit that supplies the chemical solution to the substrate and enables chemical treatment, the microbubble generation unit that generates microbubbles, and the chemical solution supply unit A treatment liquid supply unit that supplies a treatment liquid containing microbubbles generated by the microbubble generation unit to the substrate to which a chemical solution is supplied, and enables a cleaning process using the treatment liquid; To do.

また、請求項2の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と不活性ガスとを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする。   In the substrate processing apparatus according to claim 1, the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit mixes pure water and an inert gas in the microbubble generation unit. It is characterized by including the microbubble generated by this.

また、請求項3の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記薬液供給部は、有機アミンを含む薬液を供給し、前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と炭酸ガスとを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする。   The invention of claim 3 is the substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the chemical solution supply unit supplies a chemical solution containing an organic amine, and the treatment solution supplied from the treatment solution supply unit is pure. Microbubbles generated by mixing water and carbon dioxide in the microbubble generator are included.

また、請求項4の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記薬液供給部から供給される前記薬液は、前記基板上に形成されており、エッチング処理を経たレジスト膜を剥離する剥離液であり、前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と酸化力を有する気体とを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする。   According to a fourth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus according to the first aspect, the chemical solution supplied from the chemical solution supply unit is formed on the substrate and peels off the resist film that has undergone the etching process. The stripping liquid, and the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit includes microbubbles generated by mixing pure water and a gas having an oxidizing power in the microbubble generation unit. .

また、請求項5の発明は、請求項1に記載の基板処理装置において、前記薬液供給部から供給される前記薬液は、前記基板上に形成されており、露光処理を経たレジスト膜を現像する現像液であり、前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と酸化力を有する気体とを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする。   Further, the invention of claim 5 is the substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the chemical solution supplied from the chemical solution supply unit is formed on the substrate and develops the resist film that has undergone exposure processing. The processing liquid supplied from the processing liquid supply unit, which is a developer, includes microbubbles generated by mixing pure water and a gas having an oxidizing power in the microbubble generation unit. .

また、請求項6の発明は、請求項4または請求項5に記載の基板処理装置において、前記酸化力を有する気体は、酸素を含むガスであることを特徴とする。   According to a sixth aspect of the present invention, in the substrate processing apparatus of the fourth or fifth aspect, the gas having an oxidizing power is a gas containing oxygen.

また、請求項7の発明は、請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の基板処理装置において、前記酸化力を有する気体は、オゾンガスであることを特徴とする。   The invention according to claim 7 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 6, wherein the gas having oxidizing power is ozone gas.

また、請求項8の発明は、請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の基板処理装置において、前記処理液供給部は、カーテン状とされた前記処理液を前記基板に向けて吐出し、搬送部による前記基板の搬送方向と略垂直な第1方向に沿って、前記処理液を前記基板に着液させることを特徴とする。   The invention according to claim 8 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the processing liquid supply unit discharges the processing liquid in a curtain shape toward the substrate. The treatment liquid is allowed to adhere to the substrate along a first direction substantially perpendicular to the conveyance direction of the substrate by the conveyance unit.

また、請求項9の発明は、請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の基板処理装置において、前記処理液供給部は、搬送部による前記基板の搬送方向と略垂直な第1方向に沿って配置された複数のノズルを有し、各ノズルは、前記第1方向に伸びる吐出口、を有することを特徴とする。   The invention according to claim 9 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 7, wherein the processing liquid supply unit is arranged in a first direction substantially perpendicular to a transport direction of the substrate by the transport unit. It has a plurality of nozzles arranged along, and each nozzle has a discharge mouth extended in the 1st direction.

また、請求項10の発明は、請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の基板処理装置において、前記処理液供給部は、貯留槽内で発生したマイクロバブルを前記基板に供給することを特徴とする。   The invention of claim 10 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the processing liquid supply unit supplies microbubbles generated in a storage tank to the substrate. Features.

また、請求項11の発明は、請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の基板処理装置において、前記処理液供給部と連通接続されており、前記処理液供給部側に前記処理液を供給する第1供給管、をさらに備え、前記マイクロバブル発生部は、前記第1供給管に設けられていることを特徴とする。   The invention according to claim 11 is the substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9, wherein the substrate processing apparatus is connected in communication with the processing liquid supply unit, and the processing liquid is supplied to the processing liquid supply unit side. A first supply pipe is further provided, and the microbubble generator is provided in the first supply pipe.

また、請求項12の発明は、請求項11に記載の基板処理装置において、前記マイクロバブル発生部は、マイクロバブル径が良好な洗浄処理において要求される範囲となるように、前記第1供給管の所定位置に取り付けられていることを特徴とする。   The invention according to claim 12 is the substrate processing apparatus according to claim 11, wherein the microbubble generator has the first supply pipe so that the microbubble diameter is in a range required in a cleaning process with a good microbubble diameter. It is attached to the predetermined position of this.

また、請求項13の発明は、(a)基板に薬液を供給する工程と、(b)マイクロバブル発生部によって発生させられたマイクロバブルを含む処理液を、前記工程(a)により前記薬液が供給された前記基板に供給する工程とを備えることを特徴とする。   The invention of claim 13 includes (a) a step of supplying a chemical solution to the substrate, and (b) a treatment solution containing microbubbles generated by the microbubble generator, wherein the chemical solution is converted into the step (a). And a step of supplying to the supplied substrate.

請求項1ないし請求項13に記載の発明によれば、薬液処理が施された基板に対して、マイクロバブルを含む処理液を供給することができる。これにより、薬液処理において、基板に付着した薬液をマイクロバブルを含む処理液によって迅速に置換することができる。そのため、洗浄処理に使用される処理液の量を低減させることができる。   According to the first to thirteenth aspects of the present invention, a processing liquid containing microbubbles can be supplied to a substrate that has been subjected to a chemical processing. Thereby, in the chemical solution processing, the chemical solution adhering to the substrate can be quickly replaced with a processing solution containing microbubbles. Therefore, the amount of processing liquid used for the cleaning process can be reduced.

また、薬液処理後の基板に付着している汚染物質(例えば、パーティクルや有機物等)を基板から良好に除去することができる。そのため、洗浄処理後の基板の清浄性を向上させることができる。   In addition, contaminants (for example, particles and organic substances) adhering to the substrate after the chemical treatment can be favorably removed from the substrate. Therefore, the cleanliness of the substrate after the cleaning process can be improved.

特に、請求項2に記載の発明において、マイクロバブルは、不活性ガスの微小気泡であり、マイクロバブルと純水とを含む処理液中にマイクロバブルが溶解したとしても、処理液の化学的安定性は高い。これにより、薬液供給部からの薬液に処理液が混入した場合であっても、薬液を劣化させることがない。そのため、薬液処理に悪影響を与えることなく、洗浄処理に使用される処理液の量を低減させ、洗浄処理後の基板の清浄性を向上させることができる。   In particular, in the invention according to claim 2, the microbubble is a microbubble of an inert gas, and even if the microbubble is dissolved in the processing liquid containing the microbubble and pure water, the chemical stability of the processing liquid is increased. The nature is high. Thereby, even if it is a case where a process liquid mixes with the chemical | medical solution from a chemical | medical solution supply part, a chemical | medical solution is not deteriorated. Therefore, the amount of the processing liquid used for the cleaning process can be reduced and the cleanliness of the substrate after the cleaning process can be improved without adversely affecting the chemical process.

特に、請求項3に記載の発明において、薬液処理を経た基板には有機アミンを含む薬液が付着しており、この有機アミンが純水と接触すると強アルカリが生成される。一方、処理液には炭酸ガスが溶解しており、処理液は酸性を有する。   In particular, in the invention described in claim 3, a chemical solution containing an organic amine adheres to the substrate that has been subjected to the chemical treatment, and when this organic amine comes into contact with pure water, a strong alkali is generated. On the other hand, carbon dioxide gas is dissolved in the treatment liquid, and the treatment liquid has acidity.

これにより、薬液処理後の基板に処理液が供給されると、薬液は酸性の処理液によって中和される。そのため、有機アミンに基づく強アルカリによって基板が腐食されることを防止しつつ、処理液による洗浄処理を良好に実行することができる。   Thus, when the processing liquid is supplied to the substrate after the chemical processing, the chemical is neutralized by the acidic processing liquid. Therefore, it is possible to satisfactorily execute the cleaning process with the processing liquid while preventing the substrate from being corroded by the strong alkali based on the organic amine.

特に、請求項4ないし請求項7に記載の発明において、薬液処理(剥離処理または現像処理)後の基板にはレジスト残渣等の有機物が付着している。この場合において、処理液は、酸化力を有する気体(例えば、酸素を含むガス、酸素ガス、またはオゾンガス等)によって形成されたマイクロバブルの酸化力により、基板に付着した有機物を分解して除去することができる。そのため、洗浄処理後の基板の清浄性をさらに向上させることができる。   In particular, in the inventions according to claims 4 to 7, organic substances such as a resist residue are attached to the substrate after the chemical treatment (peeling treatment or development treatment). In this case, the treatment liquid decomposes and removes organic substances attached to the substrate by the oxidizing power of microbubbles formed by a gas having oxidizing power (for example, a gas containing oxygen, oxygen gas, or ozone gas). be able to. Therefore, the cleanliness of the substrate after the cleaning process can be further improved.

特に、請求項8および請求項9に記載の発明によれば、搬送方向に搬送される基板全体に、マイクロバブルを含む処理液を良好に供給することができる。そのため、処理液による洗浄処理をさらに良好に実行することができる。   In particular, according to the inventions described in claims 8 and 9, the processing liquid containing microbubbles can be satisfactorily supplied to the entire substrate transported in the transport direction. Therefore, it is possible to execute the cleaning process with the processing liquid more satisfactorily.

特に、請求項10に記載の発明によれば、貯留槽内に十分な量のマイクロバブルを発生させ、その後、マイクロバブルを含む処理液を処理液供給部に供給することができる。これにより、有機物除去に十分な量のマイクロバブルを基板に供給することができる。そのため、処理液による洗浄処理をさらに良好に実行することができる。   In particular, according to the invention described in claim 10, it is possible to generate a sufficient amount of microbubbles in the storage tank, and then supply the processing liquid containing the microbubbles to the processing liquid supply unit. Thereby, an amount of microbubbles sufficient for organic substance removal can be supplied to the substrate. Therefore, it is possible to execute the cleaning process with the processing liquid more satisfactorily.

特に、請求項11に記載の発明によれば、第1供給管に設けられたマイクロバブル発生部以外に特別な装置を用いることなく、基板にマイクロバブルを含む処理液を供給することができる。そのため、装置の製造コストおよび装置のフットプリントを低減させることができる。   In particular, according to the eleventh aspect of the present invention, it is possible to supply the processing liquid containing the microbubbles to the substrate without using a special apparatus other than the microbubble generator provided in the first supply pipe. Therefore, the manufacturing cost of the apparatus and the footprint of the apparatus can be reduced.

特に、請求項12に記載の発明によれば、マイクロバブル発生部の取付位置を調整することにより、適切な径サイズのマイクロバブルを含む処理液を基板に供給することができる。そのため、処理液による洗浄処理をさらに良好に実行することができる。   In particular, according to the twelfth aspect of the present invention, by adjusting the mounting position of the microbubble generating portion, it is possible to supply the substrate with a processing liquid containing microbubbles having an appropriate diameter size. Therefore, it is possible to execute the cleaning process with the processing liquid more satisfactorily.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

<1.基板処理装置の構成>
図1は、本発明の実施の形態における基板処理装置1の全体構成の一例を示す図である。ここで、基板処理装置1は、(1)基板Wに薬液(例えば、露光処理を経たレジスト膜を現像する現像液や、エッチング処理を経たレジスト膜を剥離する剥離液等)を供給して薬液処理を実行する工程と、(2)薬液が供給された基板Wにマイクロバブルを含む純水(以下、単に、「マイクロバブル水」とも呼ぶ)を供給して洗浄処理を実行する工程と、を実行可能な装置である。図1に示すように、基板処理装置1は、主として、複数の搬送ローラ5と、薬液ユニット10と、洗浄ユニット60と、を備えている。
<1. Configuration of substrate processing apparatus>
FIG. 1 is a diagram showing an example of the overall configuration of a substrate processing apparatus 1 according to an embodiment of the present invention. Here, the substrate processing apparatus 1 supplies (1) a chemical solution to the substrate W (for example, a developing solution that develops a resist film that has undergone exposure processing, a stripping solution that strips a resist film that has undergone etching processing, etc.) And (2) supplying pure water containing microbubbles (hereinafter also simply referred to as “microbubble water”) to the substrate W to which the chemical solution is supplied, and executing a cleaning process. It is a viable device. As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 1 mainly includes a plurality of transport rollers 5, a chemical unit 10, and a cleaning unit 60.

なお、図1および以降の各図には、それらの方向関係を明確にすべく必要に応じて適宜、Z軸方向を鉛直方向とし、XY平面を水平面とするXYZ直交座標系が付されている。また、本実施の形態において、処理液には、現像液、剥離液、およびフッ酸等の薬液だけでなく純水も含まれる。   1 and the subsequent drawings have an XYZ orthogonal coordinate system in which the Z-axis direction is a vertical direction and the XY plane is a horizontal plane, as necessary, in order to clarify the directional relationship. . In the present embodiment, the processing solution includes not only a chemical solution such as a developing solution, a stripping solution, and hydrofluoric acid but also pure water.

複数の搬送ローラ5は、処理対象となる基板Wを、薬液ユニット10側から洗浄ユニット60側に搬送する搬送部であり、これら搬送ローラ5によって搬送路6が形成される。各搬送ローラ5は、不図示の駆動モータに接続されており、Y軸と略平行な回転軸を中心として回転させられる。そのため、搬送ローラ5上の基板Wは、搬送方向AR1(X軸と略平行)に搬送される。   The plurality of transport rollers 5 are transport units that transport the substrate W to be processed from the chemical liquid unit 10 side to the cleaning unit 60 side, and a transport path 6 is formed by the transport rollers 5. Each transport roller 5 is connected to a drive motor (not shown) and is rotated about a rotation axis substantially parallel to the Y axis. Therefore, the substrate W on the transport roller 5 is transported in the transport direction AR1 (substantially parallel to the X axis).

薬液ユニット10は、基板Wの薬液処理を可能とするユニットである。例えば、薬液ユニット10は、基板Wに現像液を供給することによって露光後の現像処理を実行したり、基板Wに剥離液を供給することによってエッチング後の剥離処理を実行する。図1に示すように、薬液ユニット10は、主として、複数の吐出ノズル11と、薬液供給管32と、を備えている。   The chemical liquid unit 10 is a unit that enables chemical processing of the substrate W. For example, the chemical unit 10 performs a development process after exposure by supplying a developer to the substrate W, or performs a stripping process after etching by supplying a stripping liquid to the substrate W. As shown in FIG. 1, the chemical liquid unit 10 mainly includes a plurality of discharge nozzles 11 and a chemical liquid supply pipe 32.

複数の吐出ノズル11は、処理室10a内であって搬送路6の上方に設けられており、基板Wの上面(Z軸プラス側の面)に薬液11aを供給する。また、図1に示すよに、各吐出ノズル11は、バルブ35が設けられた薬液供給管32を介して、薬液供給源31と連通接続されている。したがって、バルブ35が開放されることにより、各吐出ノズル11は、搬送路6の基板Wに向けて薬液11aを吐出する。このように複数の吐出ノズル11は、基板Wに薬液を供給する薬液供給部として使用される。   The plurality of discharge nozzles 11 are provided in the processing chamber 10 a and above the transport path 6, and supply the chemical solution 11 a to the upper surface (the surface on the Z axis plus side) of the substrate W. Further, as shown in FIG. 1, each discharge nozzle 11 is connected to a chemical solution supply source 31 through a chemical solution supply pipe 32 provided with a valve 35. Therefore, when the valve 35 is opened, each discharge nozzle 11 discharges the chemical solution 11 a toward the substrate W in the transport path 6. Thus, the plurality of discharge nozzles 11 are used as a chemical solution supply unit that supplies the chemical solution to the substrate W.

また、処理室10aの下部付近には、排出口13が設けられている。排出口13は、バルブ15が設けられた排出管14と、共通排出管92と介して、排液ドレイン91と連通接続されている。したがって、バルブ15が開放されることにより、薬液処理に使用された薬液は、排液として薬液ユニット10から排液ドレイン91側に排出される。   A discharge port 13 is provided near the lower portion of the processing chamber 10a. The discharge port 13 is connected to a drainage drain 91 through a discharge pipe 14 provided with a valve 15 and a common discharge pipe 92. Therefore, when the valve 15 is opened, the chemical liquid used for the chemical liquid treatment is discharged from the chemical liquid unit 10 to the drainage drain 91 side as drainage.

洗浄ユニット60は、薬液11aが供給された基板Wにマイクロバブル水を供給して、マイクロバブル水による洗浄処理を可能とするユニットである。なお、洗浄ユニット60の構成については、後述する。   The cleaning unit 60 is a unit that supplies microbubble water to the substrate W to which the chemical solution 11a is supplied, and enables cleaning processing with the microbubble water. The configuration of the cleaning unit 60 will be described later.

<2.洗浄ユニットの構成>
図2および図3は、上側ノズル61から吐出されるマイクロバブル水61aの吐出状況を説明するための図である。ここでは、洗浄ユニット60の構成について説明する。図1に示すように、洗浄ユニット60は、主として、複数の上側ノズル61と、複数の下側ノズル62と、液ナイフ66と、貯留槽20と、マイクロバブル発生部21と、を備えている。
<2. Configuration of cleaning unit>
2 and 3 are diagrams for explaining the discharge state of the microbubble water 61a discharged from the upper nozzle 61. FIG. Here, the configuration of the cleaning unit 60 will be described. As shown in FIG. 1, the cleaning unit 60 mainly includes a plurality of upper nozzles 61, a plurality of lower nozzles 62, a liquid knife 66, a storage tank 20, and a microbubble generator 21. .

複数の上側ノズル61は、図1に示すように、処理室60a内であって搬送路6の上方に設けられている。各上側ノズル61は、図2に示すように、その先端に、基板Wの搬送方向AR1と略垂直な方向(第1方向)(略Y軸方向)に伸びる吐出口61bを有している。   As shown in FIG. 1, the plurality of upper nozzles 61 are provided in the processing chamber 60 a and above the conveyance path 6. As shown in FIG. 2, each upper nozzle 61 has a discharge port 61 b extending at the tip thereof in a direction (first direction) (substantially Y-axis direction) substantially perpendicular to the transport direction AR <b> 1 of the substrate W.

これにより、各上側ノズル61から搬送路6の基板W上面に向けて吐出されたマイクロバブル水61a(処理液)につき、第1方向から見た該マイクロバブル水61aの断面は、図2に示すように略扇形状となる。そして、マイクロバブル水61aは、第1方向に沿って伸びる着液部61cに着液する。   Thereby, about the microbubble water 61a (process liquid) discharged toward the upper surface of the board | substrate W of the conveyance path 6 from each upper nozzle 61, the cross section of this microbubble water 61a seen from the 1st direction is shown in FIG. As shown in FIG. Then, the microbubble water 61a is deposited on the liquid landing part 61c extending along the first direction.

また、複数の上側ノズル61は、図3に示すように、第1方向に沿って配置されている。したがって、複数(本実施の形態では4つ)の上側ノズル61を一組とする上側ノズル列は、カーテン状とされたマイクロバブル水61aを基板W上面に向けて吐出することができ、マイクロバブル水61aを第1方向に沿って着液させることができる。そのため、搬送される基板Wの上面全体に対して、良好にマイクロバブル水61aを供給することができる。   Further, as shown in FIG. 3, the plurality of upper nozzles 61 are arranged along the first direction. Therefore, the upper nozzle row including a plurality of (four in the present embodiment) upper nozzles 61 can discharge microbubble water 61a in the form of a curtain toward the upper surface of the substrate W. The water 61a can be deposited along the first direction. Therefore, the microbubble water 61a can be satisfactorily supplied to the entire upper surface of the substrate W to be transported.

なお、本実施の形態において、図1に示すように、この複数の上側ノズル61を一組とする上側ノズル列は搬送路6の上方に3つ設けられているが、上側ノズル列の列数はこれに限定されない。例えば、1列または2列であってもよいし、4列以上であってもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 1, three upper nozzle rows each including a plurality of upper nozzles 61 are provided above the transport path 6. Is not limited to this. For example, it may be one or two rows, or four or more rows.

また、各上側ノズル列は、4つの上側ノズル61を有するものとして説明したが、上側ノズル61の本数はこれに限定されない。カーテン状にマイクロバブル水61aを吐出可能であれば、上側ノズル61の本数は、1本でもよいし、複数(2本以上)であってもよい。   Each upper nozzle row has been described as having four upper nozzles 61, but the number of upper nozzles 61 is not limited to this. If the microbubble water 61a can be discharged in the form of a curtain, the number of the upper nozzles 61 may be one or plural (two or more).

複数の下側ノズル62は、処理室60a内であって搬送路6の下方に設けられており、基板Wの下面(Z軸マイナス側の面)にマイクロバブル水62aを供給する。各下側ノズル62は、上側ノズル61と同様に、その先端に略Y軸方向(第1方向)に伸びる吐出口を有している。   The plurality of lower nozzles 62 are provided in the processing chamber 60a and below the transfer path 6, and supply the microbubble water 62a to the lower surface of the substrate W (the surface on the negative side of the Z axis). Each lower nozzle 62 has a discharge port extending in the substantially Y-axis direction (first direction) at the tip, similarly to the upper nozzle 61.

これにより、各下側ノズル62から搬送路6の基板W下面に向けて吐出されたマイクロバブル水62a(処理液)につき、第1方向から見た該マイクロバブル水62aの断面は、上側ノズル61の場合と同様に、略扇形状となる。そして、マイクロバブル水62aは、基板Wの搬送方向AR1と略垂直な方向(第1方向)(略Y軸方向)に沿って伸びる着液部に着液する。   As a result, regarding the microbubble water 62a (treatment liquid) discharged from each lower nozzle 62 toward the lower surface of the substrate W in the transport path 6, the cross section of the microbubble water 62a viewed from the first direction is the upper nozzle 61. As in the case of, the fan has a substantially fan shape. Then, the microbubble water 62a is deposited on a liquid landing portion extending along a direction (first direction) (substantially Y-axis direction) substantially perpendicular to the transport direction AR1 of the substrate W.

また、複数の下側ノズル62は、上側ノズル61と同様に、第1方向に沿って配置されている。したがって、複数の下側ノズル62を一組とする下側ノズル列は、カーテン状とされたマイクロバブル水62aを基板W下面に向けて吐出することができ、マイクロバブル水62aを第1方向に沿って着液させることができる。そのため、搬送される基板Wの下面全体に対して、良好にマイクロバブル水62aを供給することができる。   The plurality of lower nozzles 62 are arranged along the first direction, like the upper nozzle 61. Therefore, the lower nozzle row including a plurality of lower nozzles 62 can discharge the microbubble water 62a in the form of a curtain toward the lower surface of the substrate W, and the microbubble water 62a in the first direction. It can be made to land along. Therefore, the microbubble water 62a can be satisfactorily supplied to the entire lower surface of the substrate W being transferred.

なお、本実施の形態において、図1に示すように、この複数の下側ノズル62を一組とする下側ノズル列は、搬送路6の下方に、上側ノズル61と同様に、3つ設けられているが、下側ノズル列の列数はこれに限定されない。例えば、1列または2列であってもよいし、4列以上であってもよい。   In the present embodiment, as shown in FIG. 1, three lower nozzle rows each including a plurality of lower nozzles 62 are provided below the conveyance path 6 in the same manner as the upper nozzle 61. However, the number of lower nozzle rows is not limited to this. For example, it may be one or two rows, or four or more rows.

液ナイフ66は、図1に示すように、処理室60a内であって基板搬入口60bの上方に設けられている。これにいおり、液ナイフ66から吐出されるマイクロバブル水66a(処理液)によって、基板搬入口60b付近には液カーテンが形成される。そのため、前工程である薬液処理が実行される処理室10a内の雰囲気と、洗浄処理が実行される処理室60a内の雰囲気とは遮断される。   As shown in FIG. 1, the liquid knife 66 is provided in the processing chamber 60a and above the substrate carry-in port 60b. Accordingly, a liquid curtain is formed in the vicinity of the substrate carry-in port 60b by the microbubble water 66a (treatment liquid) discharged from the liquid knife 66. Therefore, the atmosphere in the processing chamber 10a in which the chemical process that is the previous process is executed is blocked from the atmosphere in the processing chamber 60a in which the cleaning process is executed.

また、液ナイフ66は、搬送方向AR1から見て上側ノズル61および下側ノズル62の上流側に設けられている。これにより、上側ノズル61および下側ノズル62による洗浄処理に先立って、液ナイフ66からのマイクロバブル水66aが基板Wに供給される。すなわち、上側ノズル61および下側ノズル62は、マイクロバブル水66aが浸された基板Wに対して、マイクロバブル水61a、62aを供給することができる。そのため、上側ノズル61および下側ノズル62による洗浄処理が効率的に実行される。   Further, the liquid knife 66 is provided on the upstream side of the upper nozzle 61 and the lower nozzle 62 as viewed from the transport direction AR1. Accordingly, the microbubble water 66 a from the liquid knife 66 is supplied to the substrate W prior to the cleaning process by the upper nozzle 61 and the lower nozzle 62. That is, the upper nozzle 61 and the lower nozzle 62 can supply the microbubble water 61a and 62a to the substrate W in which the microbubble water 66a is immersed. Therefore, the cleaning process by the upper nozzle 61 and the lower nozzle 62 is efficiently performed.

貯留槽20は、図1に示すように、その槽内にマイクロバブル発生部21が設けられており、マイクロバブル発生部21で発生したマイクロバブル水20aを貯留する。   As shown in FIG. 1, the storage tank 20 is provided with a microbubble generator 21 in the tank, and stores microbubble water 20 a generated in the microbubble generator 21.

マイクロバブル発生部21は、窒素ガス供給源41からの窒素ガス(気相)と、純水供給源51から供給される純水(液相)と、を混合させることによって、マイクロバブルを発生させる。例えば、マイクロバブルの発生は、気液二相の流体を高速旋回させることで生ずる遠向心分離作用を利用して行われている。   The microbubble generator 21 generates microbubbles by mixing nitrogen gas (gas phase) from the nitrogen gas supply source 41 and pure water (liquid phase) supplied from the pure water supply source 51. . For example, the generation of microbubbles is performed by utilizing a far-centered separation effect generated by rotating a gas-liquid two-phase fluid at high speed.

ここで、マイクロバブル水が、各ノズル61、62、66から吐出され、基板Wに衝突すると、基板Wの上面には、物理的な衝撃が付与される。そして、基板Wに付着した薬液、パーティクル、および有機物(例えば、レジスト残渣)等の汚染物質は、この物理的な衝撃によって、基板Wから遊離されて除去される。   Here, when microbubble water is discharged from the nozzles 61, 62, 66 and collides with the substrate W, a physical impact is applied to the upper surface of the substrate W. Then, contaminants such as chemicals, particles, and organic substances (for example, resist residues) attached to the substrate W are released from the substrate W and removed by this physical impact.

また、マイクロバブル水に含まれるマイクロバブルは、マイクロバブル水中において徐々に収縮し、その一部が消滅(いわゆる「圧壊」)する。このようにマイクロバブルが圧壊する場合、マイクロバブルは、その内部が断熱圧縮される。これにより、消滅直前にマイクロバブルが位置する微小領域(いわゆる「ホットスポット」)は、高温(例えば数千℃)、高圧(例えば数千気圧)となる。そのため、基板Wに付着した汚染物質は、ホットスポットから発散されるエネルギーの作用によって、基板Wから遊離されて除去される。   Further, the microbubbles contained in the microbubble water gradually contract in the microbubble water, and a part thereof disappears (so-called “collapse”). When the microbubbles are crushed in this way, the inside of the microbubbles is adiabatically compressed. As a result, a minute region (so-called “hot spot”) where the microbubbles are located immediately before disappearance becomes a high temperature (for example, several thousand degrees Celsius) and a high pressure (for example, several thousand atmospheres). Therefore, the contaminant adhering to the substrate W is released from the substrate W and removed by the action of energy emitted from the hot spot.

なお、マイクロバブル水の衝突による物理的衝撃は、主として、サイズの大きな汚染物質に作用する。一方、マイクロバブルの圧壊により発散されるエネルギーは、主として、サイズの小さな汚染物質に作用する。   In addition, the physical impact by the collision of microbubble water mainly acts on a large-sized contaminant. On the other hand, the energy dissipated by the collapse of the microbubbles mainly acts on small-size contaminants.

また、マイクロバブルは、電気的吸着性を有している。さらに、マイクロバブルのサイズは、70μm以下と微小であり、マイクロバブル水の単位体積当たりの表面積(気液界面の面積)は、大きくなる。そのため、マイクロバブル水中を浮遊する汚染物質は、マイクロバブルによって効率よく吸着される。   Moreover, the microbubble has electroadsorption property. Further, the size of the microbubble is as small as 70 μm or less, and the surface area per unit volume of microbubble water (area of the gas-liquid interface) becomes large. Therefore, contaminants floating in the microbubble water are efficiently adsorbed by the microbubbles.

さらに、マイクロバブル水は、マイクロバブルの電気的吸着性により、基板Wに付着した汚染物質を効率的に除去することができる。図4は、純水による基板W上面側の洗浄処理を説明するための図である。図5は、マイクロバブル水による基板W上面側の洗浄処理を説明するための図である。   Furthermore, the microbubble water can efficiently remove contaminants attached to the substrate W due to the electroadsorption property of the microbubbles. FIG. 4 is a diagram for explaining a cleaning process on the upper surface side of the substrate W with pure water. FIG. 5 is a diagram for explaining the cleaning process on the upper surface side of the substrate W with microbubble water.

ここで、純水による洗浄処理では、図4に示すように、基板Wの上面に純水81が供給されると、供給された純水81の一部は、その水流により基板W上に設けられたトレンチ溝85にも導入され、トレンチ溝85の内側に付着した薬液と置換される。   Here, in the cleaning process using pure water, as shown in FIG. 4, when pure water 81 is supplied to the upper surface of the substrate W, a part of the supplied pure water 81 is provided on the substrate W by the water flow. It is also introduced into the trench groove 85 and is replaced with the chemical solution adhered to the inside of the trench groove 85.

しかし、トレンチ溝85の底部コーナ付近に付着する薬液82は、高水圧の純水81をトレンチ溝85に導入しなければ、純水81と置換することができない。これにより、基板Wに多量の純水を供給することが必要となり、基板処理装置1からは多量の排液が排出されることになる。その結果、純水のみによる洗浄処理では、多量の排液を処理可能な排液処理設備が必要となり、排液処理に関する設備コストが増大するという問題が生じていた。   However, the chemical solution 82 adhering to the vicinity of the bottom corner of the trench groove 85 cannot be replaced with the pure water 81 unless the high-pressure pure water 81 is introduced into the trench groove 85. Accordingly, it is necessary to supply a large amount of pure water to the substrate W, and a large amount of drainage is discharged from the substrate processing apparatus 1. As a result, in the cleaning process using pure water only, a drainage treatment facility capable of treating a large amount of drainage is required, and there has been a problem that the equipment cost related to the drainage treatment increases.

これに対して、マイクロバブル水83による洗浄処理では、マイクロバブル水83の水流とマイクロバブルの電気的吸着作用により、薬液82がマイクロバブル水83と置換される。すなわち、図5に示すように、マイクロバブル22は、トレンチ溝85底部付近の薬液82に付着して、薬液82とともに上昇する。その結果、トレンチ溝85底部付近の薬液82は、マイクロバブル水83によって容易に置換される。   On the other hand, in the cleaning process using the microbubble water 83, the chemical liquid 82 is replaced with the microbubble water 83 by the water flow of the microbubble water 83 and the electric adsorption action of the microbubbles. That is, as shown in FIG. 5, the microbubbles 22 adhere to the chemical solution 82 near the bottom of the trench groove 85 and rise together with the chemical solution 82. As a result, the chemical solution 82 near the bottom of the trench groove 85 is easily replaced by the microbubble water 83.

このように、本実施の形態の洗浄ユニット60では、(1)マイクロバブル水(処理液)による物理的衝撃、(2)ホットスポットから発散されるエネルギー、および、(3)マイクロバブルが有する電気的吸着性によって、基板Wに付着した汚染物質が除去される。そのため、洗浄ユニット60は、洗浄処理に要する時間を低減させることができ、洗浄処理に要するマイクロバブル水の液量(処理液量)を低減させることができる。その結果、排液処理設備に要する設備コストおよび排液処理コストを低減させることができる。   As described above, in the cleaning unit 60 of the present embodiment, (1) physical impact caused by microbubble water (treatment liquid), (2) energy emitted from a hot spot, and (3) electricity possessed by the microbubble. Contaminants adhering to the substrate W are removed by the static adsorptivity. Therefore, the cleaning unit 60 can reduce the time required for the cleaning process, and can reduce the amount of microbubble water (processing liquid amount) required for the cleaning process. As a result, it is possible to reduce the facility cost and the drainage treatment cost required for the drainage treatment facility.

また、マイクロバブル水によって基板Wに付着した汚染物質が除去されると、基板W表面の接触角が下がり、濡れ性が向上する。これにより、洗浄処理の後工程において供給される処理液を基板Wに均一に供給することが可能となる。そのため、後工程における基板処理の均一性を向上させることができる。   Further, when the contaminants attached to the substrate W are removed by the microbubble water, the contact angle on the surface of the substrate W is lowered and wettability is improved. This makes it possible to uniformly supply the processing liquid supplied in the subsequent process of the cleaning process to the substrate W. Therefore, the uniformity of the substrate processing in the subsequent process can be improved.

図1に戻って、上側ノズル61は、ポンプ78が設けられた共通供給管71と、共通供給管71上の分岐点72aから分岐しており、バルブ76が設けられたマイクロバブル水供給管73とを介して、貯留槽20の下部付近と連通接続されている。また、下側ノズル62は、共通供給管71と、共通供給管71の分岐点71aから分岐しており、バルブ77が設けられたマイクロバブル水供給管74とを介して、貯留槽20と連通接続されちる。さらに、液ナイフ66は、共通供給管71と、分岐点72aから分岐しており、バルブ75が設けられたマイクロバブル水供給管72とを介して、貯留槽20と連通接続されている。   Returning to FIG. 1, the upper nozzle 61 is branched from a common supply pipe 71 provided with a pump 78 and a branch point 72a on the common supply pipe 71, and a micro bubble water supply pipe 73 provided with a valve 76. And is connected in communication with the vicinity of the lower part of the storage tank 20. The lower nozzle 62 is branched from a common supply pipe 71 and a branch point 71a of the common supply pipe 71, and communicates with the storage tank 20 via a microbubble water supply pipe 74 provided with a valve 77. Connected. Further, the liquid knife 66 is branched from a common supply pipe 71 and a branch point 72a, and is connected to the storage tank 20 through a microbubble water supply pipe 72 provided with a valve 75.

したがって、バルブ76が開放されて、バルブ75、バルブ77が閉鎖されるとともに、ポンプ78が駆動させられることにより、貯留槽20に貯留されたマイクロバブル水20aは、共通供給管71側に供給される。そして、マイクロバブル水20aは、上側ノズル61から吐出される。   Accordingly, the valve 76 is opened, the valves 75 and 77 are closed, and the pump 78 is driven, whereby the microbubble water 20a stored in the storage tank 20 is supplied to the common supply pipe 71 side. The Then, the microbubble water 20a is discharged from the upper nozzle 61.

また、バルブ77が開放されて、バルブ75、76が閉鎖されるとともに、ポンプ78が駆動させられることにより、貯留槽20のマイクロバブル水20aが下側ノズル62から吐出される。さらに、バルブ75が開放されて、バルブ76、77が閉鎖されるとともに、ポンプ78が駆動させられることにより、液ナイフ66からマイクロバブル水66aが吐出される。   Further, the valve 77 is opened, the valves 75 and 76 are closed, and the pump 78 is driven, whereby the microbubble water 20a in the storage tank 20 is discharged from the lower nozzle 62. Further, the valve 75 is opened, the valves 76 and 77 are closed, and the pump 78 is driven, whereby the microbubble water 66a is discharged from the liquid knife 66.

また、バルブ75〜77のうちのいずれか2つ以上が開放されることにより、対応する2つ以上のノズル61、62、66から貯留槽20に貯留されたマイクロバブル水20aが吐出されてもよい。   Moreover, even if any two or more of the valves 75 to 77 are opened, the microbubble water 20a stored in the storage tank 20 is discharged from the corresponding two or more nozzles 61, 62, 66. Good.

このように、本実施の形態において、複数の上側ノズル61、複数の下側ノズル62、および液ナイフ66は、マイクロバブル水(処理液)を供給して、マイクロバブル水による洗浄処理を可能とする処理液供給部として使用される。そして、基板Wに向けて吐出されたマイクロバブル水は、排出口63と、バルブ65が設けられた排出管64とを介して、洗浄ユニット60の処理室60aから排液ドレイン91側に排出される。   As described above, in the present embodiment, the plurality of upper nozzles 61, the plurality of lower nozzles 62, and the liquid knife 66 supply microbubble water (treatment liquid) and can be cleaned with microbubble water. Used as a processing liquid supply unit. Then, the microbubble water discharged toward the substrate W is discharged from the treatment chamber 60a of the cleaning unit 60 to the drainage drain 91 side through the discharge port 63 and the discharge pipe 64 provided with the valve 65. The

ここで、上述のように、マイクロバブル発生部21は、窒素ガスと純水とを混合させることによってマイクロバブルを発生させている。すなわち、このマイクロバブルは、不活性ガスの微小気泡であり、マイクロバブルと純水とを含む処理液中にマイクロバブル(窒素ガス)が溶解したとしても、処理液の化学的安定性は高い。   Here, as described above, the microbubble generator 21 generates microbubbles by mixing nitrogen gas and pure water. That is, these microbubbles are inert gas microbubbles, and even if the microbubbles (nitrogen gas) are dissolved in the processing liquid containing microbubbles and pure water, the chemical stability of the processing liquid is high.

これにより、薬液ユニット10の複数の吐出ノズル11から吐出された薬液11aにマイクロバブル水が混入した場合であっても、薬液を劣化させることがない。そのため、薬液処理に悪影響を与えることなく、洗浄処理に使用される処理液の量を低減させ、洗浄処理後の基板の清浄性を向上させることができる。   Thereby, even if it is a case where microbubble water mixes in the chemical | medical solution 11a discharged from the several discharge nozzle 11 of the chemical | medical solution unit 10, a chemical | medical solution is not deteriorated. Therefore, the amount of the processing liquid used for the cleaning process can be reduced and the cleanliness of the substrate after the cleaning process can be improved without adversely affecting the chemical process.

<3.本実施の形態の基板処理装置の利点>
以上のように、本実施の形態の基板処理装置1は、各ノズル61、62、66から吐出されたマイクロバブル水(処理液)を薬液処理後の基板Wに供給することができる。これにより、薬液処理において基板に付着した薬液をマイクロバブル水により迅速に置換することができる。そのため、洗浄処理に使用される処理液の量を低減させることができる。
<3. Advantages of the substrate processing apparatus of the present embodiment>
As described above, the substrate processing apparatus 1 of the present embodiment can supply the microbubble water (processing liquid) discharged from the nozzles 61, 62, and 66 to the substrate W after the chemical processing. Thereby, the chemical | medical solution adhering to the board | substrate in a chemical | medical solution process can be rapidly substituted with microbubble water. Therefore, the amount of processing liquid used for the cleaning process can be reduced.

また、マイクロバブル水によって、薬液処理後の基板Wに付着している汚染物質を基板Wから良好に除去することができる。そのため、洗浄処理後の基板Wの清浄性を向上させることができる。   Moreover, the contaminants adhering to the substrate W after the chemical treatment can be favorably removed from the substrate W by the microbubble water. Therefore, the cleanliness of the substrate W after the cleaning process can be improved.

<4.変形例>
以上、本発明の実施の形態について説明してきたが、本発明は上記実施の形態に限定されるものではなく様々な変形が可能である。
<4. Modification>
Although the embodiments of the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made.

(1)本実施の形態において、マイクロバブル発生部21は純水と窒素ガスとを混合させることによってマイクロバブルを発生させるものとして説明したが、これに限定されない。例えば、マイクロバブル発生部21で混合される気体は、炭酸ガスであってもよい。   (1) In the present embodiment, the microbubble generator 21 has been described as generating microbubbles by mixing pure water and nitrogen gas, but is not limited thereto. For example, the gas mixed in the microbubble generator 21 may be carbon dioxide.

この場合において、薬液ユニット10の複数の吐出ノズル11から有機アミンを含む薬液が供給されると、次のような利点が生ずる。すなわち、有機アミンが純水と接触すると強アルカリが生成される。一方、マイクロバブル水には炭酸ガスが溶解しており、マイクロバブル水は酸性を有する。   In this case, when the chemical liquid containing the organic amine is supplied from the plurality of discharge nozzles 11 of the chemical liquid unit 10, the following advantages arise. That is, when the organic amine comes into contact with pure water, a strong alkali is generated. On the other hand, carbon dioxide gas is dissolved in the microbubble water, and the microbubble water has acidity.

これにより、薬液処理後の基板Wにマイクロバブル水が供給されると、薬液は酸性のマイクロバブル水によって中和される。そのため、有機アミンに基づく強アルカリによって基板Wが腐食されることを防止しつつ、マイクロバブル水による洗浄処理を良好に実行することができる。   Thus, when the microbubble water is supplied to the substrate W after the chemical solution treatment, the chemical solution is neutralized by the acidic microbubble water. Therefore, it is possible to satisfactorily execute the cleaning process with the microbubble water while preventing the substrate W from being corroded by the strong alkali based on the organic amine.

(2)また、マイクロバブル発生部21で混合される気体は、酸化力を有する気体、例えば、酸素(O2)を含むガス(エア、空気)、酸素ガス、またはオゾンガスであってもよい。この場合において、剥離液や現像液が薬液として供給されると、次のような利点が生ずる。   (2) The gas mixed in the microbubble generator 21 may be a gas having an oxidizing power, for example, a gas (air, air) containing oxygen (O 2), oxygen gas, or ozone gas. In this case, the following advantages arise when the stripping solution or developer is supplied as a chemical solution.

すなわち、薬液処理(剥離処理または現像処理)後の基板Wにはレジスト残渣等の有機物が付着している。この場合において、基板Wに付着した有機物(例えば、炭素C、水素H等によって構成されている)やマイクロバブル水中の有機物は、酸化力を有する気体(酸素を含むガス、酸素ガス、またはオゾンガス等)によって形成されたマイクロバブルの酸化力により、例えばCO2とH2Oとに分解されて除去される。そのため、洗浄処理後の基板Wの清浄性をさらに向上させることができる。   That is, organic substances such as resist residues are attached to the substrate W after the chemical treatment (peeling treatment or development treatment). In this case, an organic substance (for example, composed of carbon C, hydrogen H, or the like) attached to the substrate W or an organic substance in microbubble water is a gas having an oxidizing power (a gas containing oxygen, oxygen gas, ozone gas, or the like). ) Is decomposed into, for example, CO 2 and H 2 O and removed by the oxidizing power of the microbubbles formed by (2). Therefore, the cleanliness of the substrate W after the cleaning process can be further improved.

(3)また、本実施の形態の薬液ユニット10において、薬液処理に使用された使用済みの薬液は、排液ドレイン91側に排出されているが、これに限定されるものでない。例えば、不図示の循環機構をさらに追加して、排出口13から排液された薬液を再度吐出ノズル11から吐出するようにしてもよい。これにより、薬液の使用量を低減させることができる。   (3) Further, in the chemical liquid unit 10 of the present embodiment, the used chemical liquid used for the chemical liquid treatment is discharged to the drainage drain 91 side, but is not limited thereto. For example, a circulation mechanism (not shown) may be further added so that the chemical liquid discharged from the discharge port 13 is discharged from the discharge nozzle 11 again. Thereby, the usage-amount of a chemical | medical solution can be reduced.

(4)さらに、本実施の形態において、マイクロバブル発生部21は、貯留槽20の槽内に設けられているものとして説明したが、マイクロバブル発生部21の取付位置はこれに限定されない。   (4) Furthermore, in this Embodiment, although the microbubble generation part 21 demonstrated as what was provided in the tank of the storage tank 20, the attachment position of the microbubble generation part 21 is not limited to this.

図6は、本発明の実施の形態の他の例である基板処理装置100の全体構成を示す図である。基板処理装置100は、マイクロバブル発生部の取付位置を除き、基板処理装置1と同様なハードウェア構成を有している。   FIG. 6 is a diagram showing an overall configuration of a substrate processing apparatus 100 as another example of the embodiment of the present invention. The substrate processing apparatus 100 has a hardware configuration similar to that of the substrate processing apparatus 1 except for the mounting position of the microbubble generating unit.

マイクロバブル発生部121は、図6に示すように、各ノズル61、62、66側にマイクロバブル水を供給する共通供給管71(第1供給管)に設けられている。また、マイクロバブル発生部121は、バルブ45が設けられたガス供給管42を介して、窒素ガス供給源41と連通接続されている。   As shown in FIG. 6, the microbubble generator 121 is provided in a common supply pipe 71 (first supply pipe) that supplies microbubble water to the nozzles 61, 62, and 66. The microbubble generator 121 is connected to the nitrogen gas supply source 41 through a gas supply pipe 42 provided with a valve 45.

したがって、マイクロバブル発生部121は、共通供給管71を流れる純水と、窒素ガス供給源41からの窒素ガスと、を混合させることによって、マイクロバブルを発生させることができる。これにより、基板処理装置100は、マイクロバブル発生部121以外に特別な装置を用いることなく、マイクロバブル水(処理液)を基板Wに供給することができる。そのため、基板処理装置100の製造コストおよび装置のフットプリントを低減させることができる。   Therefore, the microbubble generator 121 can generate microbubbles by mixing the pure water flowing through the common supply pipe 71 and the nitrogen gas from the nitrogen gas supply source 41. Thereby, the substrate processing apparatus 100 can supply microbubble water (processing liquid) to the substrate W without using a special apparatus other than the microbubble generating unit 121. Therefore, the manufacturing cost of the substrate processing apparatus 100 and the footprint of the apparatus can be reduced.

また、基板W上でのマイクロバブル径は、共通供給管71上におけるマイクロバブル発生部121の取付位置(すなわち、各ノズル61、62、66からマイクロバブル発生部121までの距離)に応じて変化する。すなわち、マイクロバブル発生部121の取付位置が調整されると、基板W上でのマイクロバブル径が制御される。   Further, the microbubble diameter on the substrate W changes according to the mounting position of the microbubble generator 121 on the common supply pipe 71 (that is, the distance from each nozzle 61, 62, 66 to the microbubble generator 121). To do. That is, when the mounting position of the microbubble generating unit 121 is adjusted, the microbubble diameter on the substrate W is controlled.

したがって、マイクロバブル径は、マイクロバブル発生部121が共通供給管71の所定位置に取り付けられることによって、良好な洗浄処理において要求される範囲内となるように制御される。これにより、適切な径サイズのマイクロバブルを含むマイクロバブル水を基板Wに供給することができる。そのため、洗浄処理をさらに良好に実行することが可能となる。なお、マイクロバブル発生部121が共通供給管71に取り付けられる所定位置は、例えば、実験によって求められる。   Therefore, the microbubble diameter is controlled to be within a range required in a good cleaning process by attaching the microbubble generator 121 to a predetermined position of the common supply pipe 71. Thereby, the microbubble water containing the microbubble of an appropriate diameter size can be supplied to the substrate W. Therefore, it is possible to perform the cleaning process more satisfactorily. In addition, the predetermined position where the microbubble generating unit 121 is attached to the common supply pipe 71 is obtained by experiment, for example.

本発明の実施の形態における基板処理装置の全体構成の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the whole structure of the substrate processing apparatus in embodiment of this invention. 上側ノズルから吐出されるマイクロバブル水(処理液)の吐出状況を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the discharge condition of the micro bubble water (process liquid) discharged from an upper nozzle. 上側ノズルから吐出されるマイクロバブル水(処理液)の吐出状況を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the discharge condition of the micro bubble water (process liquid) discharged from an upper nozzle. 純水による洗浄処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the washing process by a pure water. マイクロバブル水による洗浄処理を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the washing process by microbubble water. 本発明の実施の形態における基板処理装置の全体構成の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the whole structure of the substrate processing apparatus in embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1、100 基板処理装置
5 搬送ローラ(搬送部)
10 薬液ユニット
11 吐出ノズル
11a 薬液
20 貯留槽
21、121 マイクロバブル発生部
22 マイクロバブル
31 薬液供給源
41 窒素ガス供給源
51 純水供給源
60 洗浄ユニット
61 上側ノズル
61a、62a、66a マイクロバブル水
61b 吐出口
62 下側ノズル
66 液ナイフ
71 共通供給管(第1供給管)
AR1 搬送方向
W 基板
1, 100 Substrate processing device 5 Conveyance roller (conveyance unit)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Chemical liquid unit 11 Discharge nozzle 11a Chemical liquid 20 Storage tank 21, 121 Micro bubble generation part 22 Micro bubble 31 Chemical liquid supply source 41 Nitrogen gas supply source 51 Pure water supply source 60 Cleaning unit 61 Upper nozzle 61a, 62a, 66a Micro bubble water 61b Discharge port 62 Lower nozzle 66 Liquid knife 71 Common supply pipe (first supply pipe)
AR1 Transport direction W Substrate

Claims (13)

基板に薬液を供給して薬液処理を可能とする薬液供給部と、
マイクロバブルを発生させるマイクロバブル発生部と、
前記薬液供給部により前記薬液が供給された前記基板に前記マイクロバブル発生部によって発生させられたマイクロバブルを含む処理液を供給して、前記処理液による洗浄処理を可能とする処理液供給部と、
を備えることを特徴とする基板処理装置。
A chemical solution supply unit that supplies the chemical solution to the substrate and enables chemical treatment;
A microbubble generating section for generating microbubbles;
A treatment liquid supply unit that supplies a treatment liquid containing microbubbles generated by the microbubble generation unit to the substrate to which the chemical liquid is supplied by the chemical solution supply unit, and enables a cleaning process using the treatment liquid; ,
A substrate processing apparatus comprising:
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と不活性ガスとを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
The substrate processing apparatus, wherein the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit includes microbubbles generated by mixing pure water and an inert gas in the microbubble generation unit.
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記薬液供給部は、有機アミンを含む薬液を供給し、
前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と炭酸ガスとを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
The chemical solution supply unit supplies a chemical solution containing an organic amine,
The substrate processing apparatus, wherein the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit includes microbubbles generated by mixing pure water and carbon dioxide in the microbubble generation unit.
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記薬液供給部から供給される前記薬液は、前記基板上に形成されており、エッチング処理を経たレジスト膜を剥離する剥離液であり、
前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と酸化力を有する気体とを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
The chemical solution supplied from the chemical solution supply unit is a stripping solution that is formed on the substrate and strips a resist film that has undergone an etching process.
The substrate processing apparatus, wherein the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit includes microbubbles generated by mixing pure water and a gas having oxidizing power in the microbubble generating unit.
請求項1に記載の基板処理装置において、
前記薬液供給部から供給される前記薬液は、前記基板上に形成されており、露光処理を経たレジスト膜を現像する現像液であり、
前記処理液供給部から供給される前記処理液は、純水と酸化力を有する気体とを前記マイクロバブル発生部で混合させることによって発生したマイクロバブルを含むことを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 1,
The chemical solution supplied from the chemical solution supply unit is a developer that is formed on the substrate and develops a resist film that has undergone an exposure process,
The substrate processing apparatus, wherein the processing liquid supplied from the processing liquid supply unit includes microbubbles generated by mixing pure water and a gas having oxidizing power in the microbubble generating unit.
請求項4または請求項5に記載の基板処理装置において、
前記酸化力を有する気体は、酸素を含むガスであることを特徴とする基板処理装置。
In the substrate processing apparatus of Claim 4 or Claim 5,
The substrate processing apparatus, wherein the gas having an oxidizing power is a gas containing oxygen.
請求項1ないし請求項6のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記酸化力を有する気体は、オゾンガスであることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The substrate processing apparatus, wherein the gas having oxidizing power is ozone gas.
請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記処理液供給部は、カーテン状とされた前記処理液を前記基板に向けて吐出し、搬送部による前記基板の搬送方向と略垂直な第1方向に沿って、前記処理液を前記基板に着液させることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 7,
The treatment liquid supply unit discharges the treatment liquid in the form of a curtain toward the substrate, and the treatment liquid is applied to the substrate along a first direction substantially perpendicular to a conveyance direction of the substrate by a conveyance unit. A substrate processing apparatus, wherein the substrate is deposited.
請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記処理液供給部は、
搬送部による前記基板の搬送方向と略垂直な第1方向に沿って配置された複数のノズルを有し、
各ノズルは、
前記第1方向に伸びる吐出口、
を有することを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 7,
The treatment liquid supply unit
Having a plurality of nozzles arranged along a first direction substantially perpendicular to the substrate transport direction by the transport unit;
Each nozzle
A discharge port extending in the first direction;
A substrate processing apparatus comprising:
請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記処理液供給部は、貯留槽内で発生したマイクロバブルを前記基板に供給することを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9,
The substrate processing apparatus, wherein the processing liquid supply unit supplies microbubbles generated in a storage tank to the substrate.
請求項1ないし請求項9のいずれかに記載の基板処理装置において、
前記処理液供給部と連通接続されており、前記処理液供給部側に前記処理液を供給する第1供給管、
をさらに備え、
前記マイクロバブル発生部は、前記第1供給管に設けられていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 9,
A first supply pipe that is connected to the processing liquid supply unit and supplies the processing liquid to the processing liquid supply unit;
Further comprising
The substrate processing apparatus, wherein the microbubble generator is provided in the first supply pipe.
請求項11に記載の基板処理装置において、
前記マイクロバブル発生部は、マイクロバブル径が良好な洗浄処理において要求される範囲となるように、前記第1供給管の所定位置に取り付けられていることを特徴とする基板処理装置。
The substrate processing apparatus according to claim 11, wherein
The substrate processing apparatus, wherein the microbubble generator is attached to a predetermined position of the first supply pipe so that the microbubble diameter is in a range required in a cleaning process with a good microbubble diameter.
(a) 基板に薬液を供給する工程と、
(b) マイクロバブル発生部によって発生させられたマイクロバブルを含む処理液を、前記工程(a)により前記薬液が供給された前記基板に供給する工程と、
を備えることを特徴とする基板処理方法。
(a) supplying a chemical to the substrate;
(b) supplying a treatment liquid containing microbubbles generated by the microbubble generator to the substrate to which the chemical liquid has been supplied in the step (a);
A substrate processing method comprising:
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