JP2008076399A - 間接的な照明を用いて表面の特性を解析する装置 - Google Patents

間接的な照明を用いて表面の特性を解析する装置 Download PDF

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Abstract

【課題】表面の特性を決定する装置および方法を提供すること。
【解決手段】表面の特性を解析する装置(1)であって、解析される表面(9)に直接的に放射を発する第1の放射デバイス(4)と、解析される表面(9)を間接的に照明する第1の照明デバイス(6、7)と、少なくとも1つの第1の放射検出デバイス(8)であって、解析される表面(9)から戻される該放射の少なくとも一部分を受信し、該放射の該一部分の特性である少なくとも1つの信号を出力する、少なくとも1つの第1の放射検出デバイスとを備え、放射散乱デバイス(10、11)が提供され、該放射散乱デバイス(10、11)は、該第1の照明デバイス(6、7)によって少なくとも部分的に照明され、該放射散乱デバイス(10、11)は、解析される表面(9)上に散乱された放射を伝達することを特徴とする、装置。
【選択図】図2

Description

本発明は、表面の特性を決定する装置および方法に関する。本発明は、自動車の表面に関して記載される。しかしながら、本発明はまた、その他の表面、例えば、家具のコーティング、床の被層のコーティング等にも用いられ得ることに留意されたい。
対象の光学的特性または対象の表面(特に、自動車の表面)の光学的特性は、表面の特性そのものによって大いに決定される。人間の目は、表面の特性の客観的決定に対し、制限された範囲にしか適合していないので、表面の特性を質的および量的に決定するための補助および装置が必要とされる。
表面の特性、例えば、光沢、オレンジピール(orange peel)、色、マクロ構造またはマイクロ構造、画像の鮮明さ、ぼやけ、表面構造および/または表面のトポグラフィー等が、決定される。
従来技術は、装置を開示しており、上記装置において、放射デバイスは、解析される表面に放射を発し、この表面によって反射および/または拡散される放射は、検出器によって受信され、評価される。塗装面の光学的な外観は、光のタイプの関数としてのみならず、表面に照射される照明のタイプの関数としても、変化する。例えば、塗装は、直射日光下では、拡散光における外観とは(例えば、空が曇っているとき)異なる外観を有する。
したがって、本発明の目的は、塗装または表面を、その上に衝突する光の関数としても評価することである。特に、散乱光および拡散光の下で表面の特性を評価することが可能となる。
本発明にしたがうと、このことは、請求項1に記載の装置によって、ならびに請求項13に記載の方法によって、達成される。有利な実施形態およびさらなる発展は、独立請求項の主題を形成する。表面の特性を解析する本発明にしたがう装置は、解析される表面を間接的に照明する第1の照明デバイスを備える。第1の放射検出デバイスもまた提供され、第1の放射検出デバイスは、解析される表面から戻される放射(すなわち、特に、解析される表面によって反射および/または散乱された放射)の少なくとも一部分を受信し、放射のこの一部分の特性である少なくとも1つの信号を出力する。本発明にしたがうと、放射散乱デバイスが提供され、上記放射散乱デバイスは、第1の照明デバイスによって少なくとも部分的に照明され、そして、解析される表面上に散乱された放射を伝達する。
好適には、第1の放射デバイスもまた提供され、第1の放射デバイスは、解析される表面に直接的に放射を発する。ここで、間接的な照明とは、照明デバイスが表面を直接的に照明することではなく、上述の放射散乱デバイスが照明し、その後、この放射散乱デバイスによって散乱された光が表面上へと通過することを意味することに留意されたい。特に、放射散乱デバイスは、照明デバイスによって放射された光を伝達しない散乱デバイスである。言い換えると、照明デバイスから表面へと走っている、直接のまたは直線状のビーム経路は、一切解析されない。
放射散乱デバイスを用いることにより、拡散光を用いて表面の照明をシミュレートすることが可能である。
放射は、好適には、可視波長範囲内の光であり、また、照明デバイスは、好適には、可視波長範囲内の光を発する。
1つの好適な実施形態において、放射散乱デバイスは、本質的に、放射吸収領域によって完全に包囲される。このことは、放射散乱デバイスが、迂闊にも放射デバイスからの光線(ray)によってもまた打たれることを防止し、このようにして、表面の間接的な照明と直接的な照明と間の一切の混合を防止する。本発明にしたがう放射散乱デバイスはまた、特に、表面の間接的な照明と直接的な照射とが互いに分離される状況、例えば、直接的な照射が間接的な成分を有さない状況をもたらすように企図されている。
1つの好適な実施形態において、放射散乱デバイスは、平面の外に配置され、上記平面は、光線が第1の放射デバイスから表面に伝達されるある放射方向と、表面と放射検出デバイスとの間に延びている第2の放射方向とを介して配置される。この平面は、特に、装置の中央の平面でもある。この平面の外に放射散乱デバイスを配置することにより、放射散乱デバイスが、放射デバイスによって衝突されることを防止し、このようにして、直接的な照明と間接的な照明との望ましくない混合が防止され得る。
さらなる有利な実施形態において、第2の放射散乱デバイスが提供され、第1の放射散乱デバイスおよび第2の放射散乱デバイスは、装置の中央の平面に関して本質的に対称的に配置される。この中央の平面は、特に、この場合もまた、上述の装置の平面である。この平面に関する2つの放射散乱デバイスのこの対称的な配置のおかげで、特に有利な方法で、例えば空が非常に曇っている場合に発生する際に、あらゆる側から来る散乱された光を、シミュレートすることが可能となる。
さらなる有利な実施形態において、第1の放射散乱デバイスおよび第1の照明デバイス(これは、第1の放射散乱デバイスを照明する)は、中央の平面に関して異なる側に配置される。このことは、放射散乱デバイスが、あたかも平面の反対の側から照明されるように照明されることを可能にする。別の実施形態において、照明デバイスおよび放射拡散デバイスが平面の同じ側に配置されることもまた可能であり、例えば、放射散乱デバイスを照明するために、照明デバイスに反射体が提供され得る。
さらなる有利な実施形態において、2つの放射散乱デバイスが提供され、2つの放射散乱デバイスは、中央の平面に関して対称的に配置され、2つの照明デバイスはそれぞれ、中央の平面に関して2つの照明デバイスの反対に配置された放射散乱デバイスを照明する。このようにして、特に効果的な方法で、あらゆる側から来る拡散放射をシミュレートすることが可能となる。
さらなる実施形態において、少なくとも1つの照明デバイスが、放射散乱デバイス内に配置される。言い換えると、ここでの放射散乱デバイスは、照明デバイスが提供される領域である。照明デバイスは、好適には、放射散乱デバイス内の本質的に中央に提供される。放射散乱デバイスとそれぞれ反対にある照明デバイスとの間のビーム経路は、好適にはまた、上述の中央の平面に対して本質的に垂直である。照明デバイスは、特に好適には、発光ダイオード(LED)を含む照明デバイスである。これは、白色発光ダイオードが特に好適であるが、このようにして白色の光を発生するために、いくつかの色成分を有する発光ダイオード(例えば、赤色、緑色、および青色の発光ダイオード)を用いることもまた、可能である。理想的には、白色LEDのスペクトトラムの分布は、標準的なタイプの光(例えば、D65)に相当し、検出器は、V(λ)分布(目の感度関数)に相当する。両方の基準は、正確には達成され得ないので、用いられる光のタイプと検出器の感度との積P(λ)は、上述の光のタイプD65と上述の標的V(λ)分布との標的の積に適合される。
好適な実施形態において、放射検出デバイス(または少なくとも1つの放射検出デバイス)は、そこに衝突する放射の局所的な分解(local resolution)を可能にする。このようにして、局所的に分解された画像は、出力され得る。この場合、放射検出デバイスは、特に、そこに衝突する放射の局所的に分解された画像を出力するCCDチップ等を有し得る。
さらなる有利な実施形態において、放射散乱デバイスは、円形または楕円形の輪郭を有する。加えて、輪郭は、好適には球形である(すなわち、放射散乱デバイスは、中央の平面に関して外向きの曲率を有する)。円形または楕円形の輪郭を組み合わせることもまた、可能である。
好適には、放射散乱デバイスは、反射性のコーティングを有し、このコーティングの反射の度合いは、特に好適には、250〜1500nmの波長範囲内の光に対して0.9よりも大きく、特に好適には、可視範囲の光に対して0.97よりも大きい。
装置は、好適には、開口を有する筐体を有しており、開口を介し、表面が照明され得る。しかしながら、この開口を除き、この筐体は、外からの光が表面に衝突し、測定を歪めることを防ぐために、閉じられる。
放射散乱デバイスは、好適には、この筐体の対向する側壁内または側壁上に配置される。特に好適には、2つの放射散乱デバイスは、筐体の側壁上または側壁内に配置される。
さらなる好適な実施形態において、少なくとも1つの放射散乱デバイスは、表面に垂直な方向に、表面から離れて配置される。このことは、特に、放射散乱デバイスが、直接的に開口に隣接せず、開口から離れていることを意味する。特に好適には、放射散乱デバイスと開口との間に、光吸収中間領域が提供される。この光吸収中間領域は、特に、他の散乱光を防ぐことまたは吸収することに役立つ。特に好適には、フォトレジストによってコーティングされた領域が、吸収中間領域として提供される。
さらに好適な実施形態において、第3の放射散乱デバイスまたは放射散乱ボディが提供され、これは、少なくとも中央の平面の一部のセクションにおいて走っている。好適には、これは、解析される表面上方に少なくとも部分的にこのように配置され、好適には、解析される表面上方に本質的に垂直に配置される領域である。この領域はまた、照明デバイスによって部分的に照明され、このようにして、自然の散乱光とのさらに良い適合が達成される。
さらなる好適な実施形態において、装置は、少なくとも1つの放射吸収カバーデバイスを有しており、上記放射吸収カバーデバイスにより、少なくとも1つの放射散乱デバイスが少なくとも部分的にカバーされ得る。このカバーデバイスは、放射散乱デバイスが表面の直接的な照射によって測定を歪めないことを意味する。
さらに好適な実施形態において、複数の放射デバイスが提供され、複数の放射デバイスは、異なる角度で表面を直接的に照射する。加えて、複数の放射検出器もまた、提供され得る。
さらなる好適な実施形態において、解析される表面に関して装置を移動させるために、移動デバイスが提供される。加えて、距離測定デバイスもまた提供され得、距離測定デバイスは、装置に関して進行する経路の長さを決定する。これらの実施形態は、放射検出デバイスによって記録された画像が、表面の位置の関数として出力され得ることを意味する。
本発明はまた、表面の特性を解析する方法にも関し、解析される表面は、第1の照明デバイスによって間接的に照明され、表面から戻される放射は、放射検出デバイスによって少なくとも部分的に受信され、放射検出デバイスによって受信された放射の特性である信号が出力される。本発明にしたがうと、放射散乱デバイスが提供され、放射散乱デバイスは、第1の照明デバイスによって少なくとも部分的に照明され、解析される表面上に散乱された放射を伝達する。
さらに、解析される表面は、有利にも、放射デバイスによって直接的に照射され、表面から戻る光は、放射検出デバイスによって受信され、解析される。特に好適には、照明デバイスによる照明および放射デバイスによる直接的な照射は、一時的にオフセットされた方法でなされる。
したがって、本発明はまた、特定の明度を(特に明度の表から)発見するための本発明にしたがう装置の使用に関連する。この使用は、特に、自動車の修理分野に関連する。さらに、本発明は、特別に適合された色レシピシステムによって特定の目標の色を生成するために用いられ得る。さらに、本発明にしたがう装置によって出力された測定された値は、シミュレーションの目的で、特にスクリーン上で用いられ得る(しかし、スクリーン上で用いられるとは限らない)。
本発明は、さらに以下の手段を提供する。
(項目1)
表面の特性を解析する装置(1)であって、
解析される表面(9)に直接的に放射を発する第1の放射デバイス(4)と、
解析される該表面(9)を間接的に照明する第1の照明デバイス(6、7)と、
少なくとも1つの第1の放射検出デバイス(8)であって、解析される該表面(9)から戻される該放射の少なくとも一部分を受信し、該放射のこの一部分の特性である少なくとも1つの信号を出力する、少なくとも1つの第1の放射検出デバイスと
を備え、
放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
該放射散乱デバイス(10、11)は、該第1の照明デバイス(6、7)によって少なくとも部分的に照明され、該放射散乱デバイス(10、11)は、解析される該表面(9)上に散乱された放射を伝達すること
を特徴とする、装置。
(項目2)
上記放射散乱デバイス(10、11)は、本質的に、放射吸収領域によって完全に包囲されていること
を特徴とする、項目1に記載の装置。
(項目3)
上記放射散乱デバイス(10)は、平面(E)の外に配置されており、
該平面(E)は、
光線が、上記第1の放射デバイス(4)から上記表面(9)に伝達される、第1の放射方向(R1)と、
該表面(9)と上記放射検出デバイス(8)との間を延びている、第2の放射方向と
を介して配置されていること
を特徴とする、項目1〜2の少なくとも一項に記載の装置。
(項目4)
第2の放射散乱デバイス(11)が提供され、
上記第1の放射散乱デバイス(10)および該第2の放射散乱デバイス(11)は、上記装置(1)の中央の平面(E)に関して、本質的に対称的に配置されていること
を特徴とする、項目1〜3の少なくとも一項に記載の装置。
(項目5)
上記第1の放射散乱デバイス(11)および上記第1の照明デバイス(6)は、上記中央の平面(E)に関して、異なる側に配置されていること
を特徴とする、項目1〜4の少なくとも一項に記載の装置。
(項目6)
2つの放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
該2つの放射散乱デバイス(10,11)は、上記中央の平面に関して、対称的に配置されており、
上記2つの照明デバイス(6、7)はまた、該中央の平面(E)に関して、該2つの照明デバイス(6、7)の反対に配置されている該放射散乱デバイス(10、11)をそれぞれ照明すること
を特徴とする、項目5に記載の装置。
(項目7)
少なくとも1つの照明デバイス(6、7)は、放射散乱デバイス(10、11)内に配置されていること
を特徴とする、項目1〜6の少なくとも一項に記載の装置。
(項目8)
上記装置は、開口(13)を有する筐体(3)を有しており、
該開口(13)を介して、上記表面(9)が照明され得ること
を特徴とする、項目1〜7の少なくとも一項に記載の装置。
(項目9)
上記放射散乱デバイス(10、11)は、上記筐体(3)の側壁(3a)に配置されていること
を特徴とする、項目8に記載の装置。
(項目10)
少なくとも1つの放射散乱デバイス(10、11)は、上記表面(9)に垂直な方向に、該表面(9)から離れて配置されていること
を特徴とする、項目1〜9の少なくとも一項に記載の装置。
(項目11)
放射散乱ボディ(29)が提供され、
該放射散乱ボディ(29)は、少なくとも上記中央の平面(E)における一部のセクションを走っていること
を特徴とする、項目1〜10の少なくとも一項に記載の装置。
(項目12)
上記装置は、少なくとも1つの放射吸収カバーデバイスを有しており、
該少なくとも1つの放射吸収カバーデバイスにより、少なくとも1つの放射散乱デバイス(10、11)がカバーされ得ること
を特徴とする、項目1〜11の少なくとも一項に記載の装置。
(項目13)
表面の特性を解析する方法であって、
解析される表面(9)は、第1の照明デバイス(6、7)によって間接的に照明され、
該表面(9)から戻される放射は、放射検出デバイス(8)によって少なくとも部分的に受信され、
該放射検出デバイスによって受信された該放射の特性である信号が出力され、
放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
該放射散乱デバイス(10、11)は、該第1の照明デバイス(4)によって少なくとも部分的に照明され、該放射散乱デバイス(10、11)は、解析される該表面(9)上に散乱された放射を伝達すること
を特徴とする、方法。
(項目14)
明度を見出すための、項目1〜12の少なくとも一項に記載の装置の使用、または項目13に記載の方法の使用。
(摘要)
表面の特性を解析する装置(1)であって、解析される表面(9)に直接的に放射を発する第1の放射デバイス(4)と、解析される表面(9)を間接的に照明する第1の照明デバイス(6、7)と、第1の放射検出デバイス(8)であって、解析される表面(9)から戻される放射の少なくとも一部分を受信し、放射の一部分の特性である少なくとも1つの信号を出力する、第1の放射検出デバイスと、を備える。本発明にしたがうと、放射散乱デバイス(10、11)が提供され、放射散乱デバイス(10、11)は、第1の照明デバイス(6、7)によって少なくとも部分的に照明され、放射散乱デバイス(10、11)は、解析される表面(9)上に散乱された放射を伝達する。
さらなる実施形態および利点は、添付の図面から明らかになる。
図1は、表面の特性を解析する本発明にしたがう装置1の側面図を示している。この装置は、第1の放射デバイス4を備えており、第1の放射デバイス4は、方向R1に沿って、解析される表面9上に放射を発する。この目的のために、装置の筺体3は、開口13を有しており、開口13を通って、放射が通過し、表面9上に衝突し得る。この開口13は、本質的には、筺体の単なる開口である。このようにして、妨害的な外部の光が装置の観察領域2に入ることを防ぐことが可能である。参照番号8は、放射検出デバイスを示し、放射検出デバイスは、表面9から戻される光(すなわち、特に、表面9によって反射および/または散乱される光)を受信することに役立つ。第1の放射デバイス4は、ここでは、中央の垂直な線Mに関して45°に配置される。参照番号R2は、表面9と放射検出デバイス8との間に延びている方向を示す。これらの方向R1およびR2は共に平面Eを形成し、これは、ここでは図面の平面に一致する。
参照番号15は、キャリアを示し(これは、図3aおよび図3bにおいて詳細に記載される)、キャリア上に、放射散乱デバイス10が配置される。
参照番号5は、さらなる放射デバイスを示し、放射デバイスは、各場合において、方向R2に関して異なる角度で表面に放射を発する。参照番号24は、さらなる放射検出デバイスを示し、特に、直接的な照明および/または照射の下で表面の特性を測定するための放射検出デバイスを示す。
キャリア15の平面は、中央の平面Eに関して横方向に同様に(前方または後方に向かって)ずれている。放射散乱デバイス15は、球形の輪郭を有しており、これは、以下で詳細に記載され、これは、キャリア15に関して外向きに湾曲している。照明デバイス7は、放射散乱デバイス内に配置される。この照明デバイス7は、放射散乱デバイス(図示されず)を照明し、これは、この場合、放射散乱デバイスの反対に配置される。さらなる照明デバイスが、反対の放射散乱デバイス(図示されず)内に配置され、今度は、さらなる照明デバイスは、図1に示されている放射散乱デバイス10を照明する。放射散乱デバイス10は、これには反射性が高い(したがって散乱性が高い)コーティングが提供され、これにより、反対の照明デバイス(図示されず)によって照明され、次に、表面9を照明し、その結果、表面9は、照明デバイス7によって間接的に照明される。
図2は、図1に示されている装置を通る、90°だけ回転された断面を示している。ここで、参照番号4は、放射デバイスを示し、この場合、例えば、異なる色の複数のLEDが、キャリアホイール14上に配置される。参照番号12a、12bは、さらなるレンズシステムを示し、さらなるレンズシステムには、本発明にしたがう装置のさらなる放射デバイスおよび放射検出デバイスが提供される。ビームスプリッタ32およびレンズ31を介し、放射検出デバイスに放射された光の一部分が、輝度を測定する目的のために、さらなる検出デバイスに結合され得、このようにして、統合された色の測定もまた実行される。
参照番号3bは、筺体のベースを示し、筺体のベース上に、キャリア15が、固定エレメント25を用いて、配置される。放射散乱デバイス10は、上部領域16と下部領域18とを有する。2つの領域は、内面上が(すなわち、平面Eに向かって)反射性の高いコーティングを用いて覆われる。下部領域18は、吸収過渡領域28と下向きの方向に隣接している。
放射散乱デバイス10、11の特別な設計により、放射デバイス4からの光が、放射散乱デバイス10にもまた衝突して、これによって、直接的な照明下での測定を歪めることを、防ぐことが可能である。参照番号20は、放射散乱デバイス10、11における開口を示し、いわゆるパワーLEDの形式の照明デバイス6、7は、これらの開口の各々に配置される。これらのパワーLEDは、キャリア26に取り付けられる。これらのキャリアは、同時に、外からの光に対し、開口20を閉じる。
参照番号3aは、筺体3の側壁を示し、側壁は、同様に、光に対し、内部を閉じる。
図2の参照番号29は、放射散乱ボディを示し、放射散乱ボディは、図2の2つの線AおよびBの内部に配置される。この散乱ボディ29はまた、中央の平面Eと交差し、照明デバイス6および7により、同様に少なくとも部分的に照明されるが、放射デバイス4によっては照明されない。放射散乱デバイス10、11および放射散乱ボディ29の相互作用により、開口13、そして表面9の特に有利な照明が達成され、これにより、拡散光は、特に有利な方法でシミュレートされる。
図3aは、本発明にしたがうキャリア15の前面図を放射散乱デバイス10と共に示している。放射散乱デバイス10の上部領域16が、本質的に半円形の断面を有していることが見られ得る。放射散乱デバイスの下部領域18は、半楕円形の断面を有している。上部領域16および下部領域18は、エッジ17を介して互いに合体している。開口20は、周辺エッジ23によって範囲が決定され、これは、照明デバイス(図示されず)を保持する。放射散乱デバイス10またはそれの下部領域18の下に、吸収領域28が備えられる。参照番号27は、放射デバイス4の光学的コンポーネントを受容することに役立つカットアウトを示す(図1参照)。
図3bは、図3aに示されているキャリア15の背面図を示している。放射散乱デバイス10の上部領域16が外側に向かって球状に湾曲していることが見られ得る。下部領域もまた、外向きの球状の湾曲を有している(図示されず)。しかしながら、ここで、開口20は、放射散乱デバイス内の中央に配置されず、むしろ、下部領域18が、放射散乱デバイスの上部領域16よりも、小さな表面積を有している。特別な幾何学的形状(すなわち、上部領域16および下部領域18の2つの球形の構成)は、全領域が、反対に配置されているそれぞれのLEDによって照明される場合に、特に有利な散乱された放射をもたらす。図3aおよび図3bにおいて上部領域16の上に示される領域22もまた、放射吸収性である。これは、放射デバイス10を横方向に区切るその他の表面15aおよび15bに関しても当てはまる。図3aおよび図3bに見ることができるように、領域および表面15a、15b、28および22は、1つの平面に配置される。このようにして、放射散乱デバイス10を除く全キャリア15は、吸収性であるように設計される。
全キャリアに反射性の高いコーティングが提供される場合、散乱照明の効率は、向上され得るが、散乱デバイスから検出器へと直接的に通過する妨害的な散乱光が、生成され得る。同じ理由のために、放射散乱デバイスは、全体的に半球として設計されず、むしろ図3aおよび図3bに示されている半球および半楕円の組み合わせで構成される。
一般に、放射散乱デバイスの形状は、一切の散乱光が、放射散乱デバイスから(単数または複数の)放射検出デバイスの中に直接的に通過することができないように、選択され得る。放射散乱デバイスの外向きに湾曲した形状もまた、この目的に役立つ。一連の複雑なテストにおいて、ここで示されている放射散乱デバイスの形状は、特に、最も一様な可能性がある表面の照明の要求と、放射散乱デバイスから放射検出デバイスへと通過する直接的な散乱光を回避する要求との両方に適合することが証明されている。
出願書類に開示された全ての特徴は、それらが個々または組み合わせで従来技術に対して新規である限りにおいて、本発明の本質としてクレームされる。
図1は、本発明にしたがう装置の側面図である。 図2は、図1の装置を介する断面を示している。 図3aは、放射散乱デバイスの前面図を示している。 図3bは、本発明にしたがう放射散乱デバイスの背面図を示している。
符号の説明
1 表面を解析する装置
2 観察領域
3 筐体
3a 側壁
3b 筐体のベース
4 第1の放射デバイス
5 さらなる放射デバイス
6 照明デバイス
7 照明デバイス
8 放射検出デバイス
9 表面
10、11 放射散乱デバイス
12a、12b レンズシステム
13 開口
14 キャリアホイール
15 キャリア
15a、15b キャリア15の表面
16 放射散乱デバイスの上部領域
17 エッジ
18 放射散乱デバイスの下部領域
20 放射散乱デバイスの開口
22 吸収領域
23 周辺エッジ
24 さらなる放射検出デバイス
25 固定エレメント
26 キャリア
27 カットアウト
28 吸収伝達領域
29 放射散乱ボディ
31 レンズ
32 ビームスプリッタ
A 線
B 線
E 中央の表面
M 中央の垂直な線
R1 方向
R2 方向

Claims (14)

  1. 表面の特性を解析する装置(1)であって、
    解析される表面(9)に直接的に放射を発する第1の放射デバイス(4)と、
    解析される該表面(9)を間接的に照明する第1の照明デバイス(6、7)と、
    少なくとも1つの第1の放射検出デバイス(8)であって、解析される該表面(9)から戻される該放射の少なくとも一部分を受信し、該放射のこの一部分の特性である少なくとも1つの信号を出力する、少なくとも1つの第1の放射検出デバイスと
    を備え、
    放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
    該放射散乱デバイス(10、11)は、該第1の照明デバイス(6、7)によって少なくとも部分的に照明され、該放射散乱デバイス(10、11)は、解析される該表面(9)上に散乱された放射を伝達すること
    を特徴とする、装置。
  2. 前記放射散乱デバイス(10、11)は、本質的に、放射吸収領域によって完全に包囲されていること
    を特徴とする、請求項1に記載の装置。
  3. 前記放射散乱デバイス(10)は、平面(E)の外に配置されており、
    該平面(E)は、
    光線が、前記第1の放射デバイス(4)から前記表面(9)に伝達される、第1の放射方向(R1)と、
    該表面(9)と前記放射検出デバイス(8)との間を延びている、第2の放射方向と
    を介して配置されていること
    を特徴とする、請求項1〜2の少なくとも一項に記載の装置。
  4. 第2の放射散乱デバイス(11)が提供され、
    前記第1の放射散乱デバイス(10)および該第2の放射散乱デバイス(11)は、前記装置(1)の中央の平面(E)に関して、本質的に対称的に配置されていること
    を特徴とする、請求項1〜3の少なくとも一項に記載の装置。
  5. 前記第1の放射散乱デバイス(11)および前記第1の照明デバイス(6)は、前記中央の平面(E)に関して、異なる側に配置されていること
    を特徴とする、請求項1〜4の少なくとも一項に記載の装置。
  6. 2つの放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
    該2つの放射散乱デバイス(10,11)は、前記中央の平面に関して、対称的に配置されており、
    前記2つの照明デバイス(6、7)はまた、該中央の平面(E)に関して、該2つの照明デバイス(6、7)の反対に配置されている該放射散乱デバイス(10、11)をそれぞれ照明すること
    を特徴とする、請求項5に記載の装置。
  7. 少なくとも1つの照明デバイス(6、7)は、放射散乱デバイス(10、11)内に配置されていること
    を特徴とする、請求項1〜6の少なくとも一項に記載の装置。
  8. 前記装置は、開口(13)を有する筐体(3)を有しており、
    該開口(13)を介して、前記表面(9)が照明され得ること
    を特徴とする、請求項1〜7の少なくとも一項に記載の装置。
  9. 前記放射散乱デバイス(10、11)は、前記筐体(3)の側壁(3a)に配置されていること
    を特徴とする、請求項8に記載の装置。
  10. 少なくとも1つの放射散乱デバイス(10、11)は、前記表面(9)に垂直な方向に、該表面(9)から離れて配置されていること
    を特徴とする、請求項1〜9の少なくとも一項に記載の装置。
  11. 放射散乱ボディ(29)が提供され、
    該放射散乱ボディ(29)は、少なくとも前記中央の平面(E)における一部のセクションを走っていること
    を特徴とする、請求項1〜10の少なくとも一項に記載の装置。
  12. 前記装置は、少なくとも1つの放射吸収カバーデバイスを有しており、
    該少なくとも1つの放射吸収カバーデバイスにより、少なくとも1つの放射散乱デバイス(10、11)がカバーされ得ること
    を特徴とする、請求項1〜11の少なくとも一項に記載の装置。
  13. 表面の特性を解析する方法であって、
    解析される表面(9)は、第1の照明デバイス(6、7)によって間接的に照明され、
    該表面(9)から戻される放射は、放射検出デバイス(8)によって少なくとも部分的に受信され、
    該放射検出デバイスによって受信された該放射の特性である信号が出力され、
    放射散乱デバイス(10、11)が提供され、
    該放射散乱デバイス(10、11)は、該第1の照明デバイス(4)によって少なくとも部分的に照明され、該放射散乱デバイス(10、11)は、解析される該表面(9)上に散乱された放射を伝達すること
    を特徴とする、方法。
  14. 明度を見出すための、請求項1〜12の少なくとも一項に記載の装置の使用、または請求項13に記載の方法の使用。
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