JP2008076300A - 測定装置および材料試験機 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】交流信号をブリッジ回路に印加する。ウェーブレット変換回路114は、ブリッジ回路からその平衡状態に応じた計測信号を取得し、取得した計測信号に対してウェーブレット変換を施す。フーリエ変換回路115は、ウェーブレット変換が施された入力信号に対して周波数分析を行い、交流信号の周波数成分に対応する周波数成分の計測信号を抽出する。
【選択図】図3
Description
単に所定値以上の周波数帯域の信号を除去した後にフーリエ変換を行う場合、周波数の高い試験、すなわち高速試験では変換精度が悪い。また、搬送波の周波数帯域の近傍周波数帯域に雑音が含まれているときなどは、搬送波に重畳されている計測信号から特定周波数の信号成分を精度よく取り出せない。
(2)請求項2の発明は、請求項1に記載の測定装置において、ウェーブレット変換は、周波数分析手段での周波数分析において、交流電圧信号の周波数帯域に含まれる上記変化する信号に対する周波数応答性を向上させるようにマザーウェーブレットを定めることを特徴とする。
(3)請求項3の発明は、請求項2に記載の測定装置において、ウェーブレット変換手段は、マザーウェーブレットに対して交流電圧信号の周波数を適用してウェーブレット変換関数を算出し、検出手段から出力される信号をウェーブレット変換関数によりウェーブレット変換し、周波数分析手段はフーリエ変換回路であり、ウェーブレット変換された信号に対してフーリエ変換し、演算手段は、フーリエ変換された信号に基づいて計測値を演算することを特徴とする。
(4)請求項4の発明は、請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定装置において、検出手段は、計測対象の物理的変化を抵抗値変化に変換するホイートストーンブリッジであることを特徴とする。
(5)請求項5の発明による材料試験機は、請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定装置と、試験片を負荷する負荷アクチュエータと、測定装置で測定した測定信号に基づいてアクチュエータを制御して試験片を負荷する制御手段とを備えることを特徴とする。
測定回路10に容量成分の影響を受けない校正用ブリッジ16を接続し、抵抗成分による電位差Δvrの位相を予め測定する。この位相は搬送波に対する位相遅れであり、補償位相θvと呼ぶ。
(ii-1)測定回路10にケーブ61を介してロードセルブリッジ20を接続し、容量成分の電位差が重畳された計測信号を取得する。この計測信号をフーリエ変換し、抵抗成分による電位差Δvrと容量成分による電位差Δvcとを分離して算出する。
(ii-2)抵抗成分による電位差Δvrの位相を補償処理で得た補償位相θvだけ回転、すなわちずらし、抵抗成分による実際の電位差ΔvrAを算出する。
図4において、ベクトルAvは、平衡状態の校正用ブリッジ16から出力される計測信号を表し、ベクトルBvは、付加抵抗R21およびR22を平衡状態の校正用ブリッジ16に付加してバランスを崩した状態で校正用ブリッジ16から出力される計測信号を表す。ベクトルAvとベクトルBvとの差分であるベクトル差Bv−Avは、交流電圧信号の基準位相に対してθvだけ遅れている。このθvは、搬送波の位相に対する抵抗成分による電位差の位相遅れ、すなわち補償位相θvである。
X4=a×x3+b×y3
ただし、a,bは、a=x2-x1,b=y2-y1
マザーウェーブレットφ(t)を次式(1)で表す。
(1)測定回路10の最終出力段と入力初段に校正用ブリッジ回路16を設け、試験に先立って、搬送波である交流電圧信号の位相を基準として、抵抗成分による電位差の位相遅れを補償位相θvとして算出して記憶するようにした。計測時に得られた抵抗成分の計測信号の位相を補償位相θvだけずらし、その抵抗成分の実計測値を算出するようにした。その結果、本実施の形態の測定装置では、測定回路10とロードセルブリッジ20とを接続するケーブルなどの浮遊容量の影響を受けることがない。したがって、接続ケーブの引き回しが変わっても、検出値に影響がない。
本発明は、その特徴を損なわない限り、以上説明した実施の形態に何ら限定されない。
16 校正用ブリッジ 20 ロードセルブリッジ
50 材料試験機 114 ウェーブレット変換回路
115 フーリエ変換回路
Claims (5)
- 交流電圧信号が印加され、計測対象の物理的変化に応じて変化する信号を交流電圧信号に重畳して出力する検出手段と、
前記変化する信号が重畳された交流電圧信号を入力してウェーブレット変換を施して出力するウェーブレット変換手段と、
前記ウェーブレット変換が施されて出力される信号に対して周波数分析を行う周波数分析手段と、
前記周波数分析の結果に基づいて、前記計測対象の物理的変化を計測値として演算する演算手段とを備えることを特徴とする測定装置。 - 請求項1に記載の測定装置において、
前記ウェーブレット変換は、前記周波数分析手段での周波数分析において、前記交流電圧信号の周波数帯域に含まれる前記変化する信号に対する周波数応答性を向上させるようにマザーウェーブレットを定めることを特徴とする測定装置。 - 請求項2に記載の測定装置において、
前記ウェーブレット変換手段は、前記マザーウェーブレットに対して前記交流電圧信号の周波数を適用してウェーブレット変換関数を算出し、前記検出手段から出力される信号を前記ウェーブレット変換関数によりウェーブレット変換し、
前記周波数分析手段はフーリエ変換回路であり、前記ウェーブレット変換された信号に対してフーリエ変換し、
前記演算手段は、前記フーリエ変換された信号に基づいて前記計測値を演算することを特徴とする測定装置。 - 請求項1乃至3のいずれか1項に記載の測定装置において、
前記検出手段は、前記計測対象の物理的変化を抵抗値または容量値変化に変換するホイートストーンブリッジであることを特徴とする測定装置。 - 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の測定装置と、
試験片を負荷する負荷アクチュエータと、
前記測定装置で測定した測定信号に基づいて前記アクチュエータを制御して前記試験片を負荷する制御手段とを備えることを特徴とする材料試験機。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011227008A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-10 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
WO2020026363A1 (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5923898U (ja) * | 1982-08-04 | 1984-02-14 | 株式会社島津製作所 | 材料試験装置 |
JP2000136988A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | East Japan Railway Co | レール波状摩耗検出手法 |
JP2000258529A (ja) * | 1999-03-12 | 2000-09-22 | Nec Yonezawa Ltd | 動き検出装置 |
JP2000275098A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Toshiba Corp | 波形信号解析装置 |
JP2003329514A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | Denso Corp | ノックセンサ信号処理装置及びその設計方法 |
JP2005195509A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Tokyo Sokki Kenkyusho Co Ltd | 搬送波型ひずみ測定方法 |
JP2005331255A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5923898U (ja) * | 1982-08-04 | 1984-02-14 | 株式会社島津製作所 | 材料試験装置 |
JP2000136988A (ja) * | 1998-10-30 | 2000-05-16 | East Japan Railway Co | レール波状摩耗検出手法 |
JP2000258529A (ja) * | 1999-03-12 | 2000-09-22 | Nec Yonezawa Ltd | 動き検出装置 |
JP2000275098A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Toshiba Corp | 波形信号解析装置 |
JP2003329514A (ja) * | 2002-05-10 | 2003-11-19 | Denso Corp | ノックセンサ信号処理装置及びその設計方法 |
JP2005195509A (ja) * | 2004-01-08 | 2005-07-21 | Tokyo Sokki Kenkyusho Co Ltd | 搬送波型ひずみ測定方法 |
JP2005331255A (ja) * | 2004-05-18 | 2005-12-02 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011227008A (ja) * | 2010-04-23 | 2011-11-10 | Shimadzu Corp | 材料試験機 |
WO2020026363A1 (ja) * | 2018-07-31 | 2020-02-06 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
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