JP2008073072A - Impedance detector, impedance detection method, living body recognition apparatus and fingerprint authentication apparatus - Google Patents

Impedance detector, impedance detection method, living body recognition apparatus and fingerprint authentication apparatus Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To highly precisely detect an impedance of a subject by suppressing the deterioration of a detection precision due to a process fluctuation or the like with a simple circuit constitution. <P>SOLUTION: A waveform information detection section 4 is provided with a reply signal conversion circuit 41 and a digital phase comparison circuit 43, the reply signal conversion circuit 41 converts a reply signal 3S from a reply signal generation section 3 into a comparison object signal 41S consisting of a digital signal indicating a voltage change of the reply signal 3S and outputs it, the digital phase comparison circuit 43 compares the phases of a rectangular-wave digital criterion signal 42S synchronized with a feed signal 2S from a feed signal generation section 2 and the comparison object signal 41S to detect a phase difference between the comparison object signal 41S and the feed signal 2S as waveform information, and generates a detection signal 4S consisting of the digital signal having the pulse width according to the phase difference. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、インピーダンス検出技術に関し、特に被検体となる生体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて生体のインピーダンスを検出するインピーダンス検出技術、およびこのインピーダンス検出技術を用いて生体認識を行う技術、さらにはこの生体認識技術を用いて指紋認証を行う指紋認証技術に関するものである。   The present invention relates to an impedance detection technique, and in particular, an impedance detection technique for applying a predetermined signal to a living body as a subject and detecting the impedance of the living body based on the obtained response signal, and the impedance detection technique. The present invention relates to a technique for performing biometric recognition, and further relates to a fingerprint authentication technique for performing fingerprint authentication using this biometric recognition technique.

情報化社会の進展に伴い、情報処理システムの機密保持に関する技術が発達している。例えばコンピュータールームなどの入出管理には、従来よりIDカードが使用されていたが、IDカードの紛失や盗難の可能性が大きかった。このため、IDカードに代わり各個人の指紋等を予め登録しておき、入室時に照合する個人認識システムが導入され始めている。このような個人認識システムは、登録されている指紋のレプリカ等を作成すれば検査を通過できる場合がある。したがって、個人認識システムは指紋照合だけではなく、被検体が生体であることも認識する必要がある。   Along with the progress of the information society, technology for maintaining confidentiality of information processing systems has been developed. For example, an ID card has been conventionally used for entrance / exit management of a computer room or the like, but there is a high possibility that the ID card is lost or stolen. For this reason, a personal recognition system is being introduced in which fingerprints of individual persons are registered in advance instead of ID cards and collated when entering a room. In some cases, such a personal recognition system can pass a test if a replica of a registered fingerprint or the like is created. Therefore, the personal recognition system needs to recognize not only the fingerprint verification but also that the subject is a living body.

従来、被検体が生体であることを検知する技術として、被検体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて被検体のインピーダンスを検出するインピーダンス検出技術を用いたものが提案されている(例えば、特許文献1など参照)。
図24は、従来の生体認識装置の構成を示すブロック図である。この生体認識装置には、主な機能部として、検出素子1、供給信号生成部2、応答信号生成部3、波形情報検出部4X、および生体認識部5が設けられている。
Conventionally, as a technique for detecting that a subject is a living body, a technique using an impedance detection technique that applies a predetermined signal to the subject and detects the impedance of the subject based on the obtained response signal. It has been proposed (see, for example, Patent Document 1).
FIG. 24 is a block diagram showing a configuration of a conventional biometric recognition apparatus. This biological recognition apparatus includes a detection element 1, a supply signal generation unit 2, a response signal generation unit 3, a waveform information detection unit 4X, and a biological recognition unit 5 as main functional units.

検出素子1は、検出電極12を介して被検体10と電気的に接触し、被検体10の持つインピーダンスZfのリアクタンス成分および抵抗成分を応答信号生成部3へ接続する。なお、被検体10が生体の場合、被検体10のインピーダンスZfのうちリアクタンス成分(虚数成分)は主に容量成分から構成されている。以下では、検体10のリアクタンス成分が容量成分からなるものと仮定して説明する。   The detection element 1 is in electrical contact with the subject 10 via the detection electrode 12 and connects the reactance component and resistance component of the impedance Zf of the subject 10 to the response signal generation unit 3. When the subject 10 is a living body, the reactance component (imaginary component) of the impedance Zf of the subject 10 is mainly composed of a capacitive component. In the following description, it is assumed that the reactance component of the specimen 10 is a capacitive component.

供給信号生成部2は、所定周波数の正弦波などからなる供給信号を生成して応答信号生成部に出力する。
応答信号生成部3は、供給信号生成部2と検出素子1との間に接続された抵抗素子Rsを有し、この抵抗素子Rsを介して供給信号生成部2からの供給信号2Sを印加信号1Sとして検出素子1に印加し、抵抗素子Rsの一端すなわち抵抗素子Rsと検出素子1との接続点から、検出素子1のインピーダンスZf、ここでは被検体10の持つインピーダンスの容量成分および抵抗成分により変化する応答信号3Sを波形情報検出部4Xへ出力する。
The supply signal generation unit 2 generates a supply signal including a sine wave having a predetermined frequency and outputs the supply signal to the response signal generation unit.
The response signal generation unit 3 includes a resistance element Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection element 1, and the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 is applied as an application signal via the resistance element Rs. 1S is applied to the detection element 1 from one end of the resistance element Rs, that is, the connection point between the resistance element Rs and the detection element 1, depending on the impedance Zf of the detection element 1, here the capacitance component and resistance component of the impedance of the subject 10 The changing response signal 3S is output to the waveform information detector 4X.

波形情報検出部4Xは、応答信号生成部3からの応答信号3Sが示す波形から、供給信号2Sとの位相差または振幅を検出し、これら位相差または振幅を示す波形情報を含んだ検出信号4Sを生体認識部5へ出力する。
生体認識部5は波形情報検出部4Xからの検出信号4Sに含まれる波形情報に基づき被検体10が生体か否かを認識判定し、その認識結果5Sを出力する。
The waveform information detection unit 4X detects a phase difference or amplitude from the supply signal 2S from the waveform indicated by the response signal 3S from the response signal generation unit 3, and a detection signal 4S including waveform information indicating the phase difference or amplitude. Is output to the biometric recognition unit 5.
The living body recognition unit 5 recognizes and determines whether or not the subject 10 is a living body based on the waveform information included in the detection signal 4S from the waveform information detection unit 4X, and outputs the recognition result 5S.

生体認識装置の動作は以下のようになる。
まず、被検体10が検出素子1に接触した場合、供給信号生成部2からの供給信号2Sに基づいて検出素子1に印加されている印加信号1Sが、被検体10に固有のインピーダンス特性すなわち容量成分および抵抗成分により変化し、これが応答信号3Sとして応答信号生成部3から出力される。この応答信号3Sとは、波形情報検出部4Xでその位相差または振幅が検出され、これら検出結果を示す情報を含んだ検出信号4Sが生体認識部5へ出力される。
The operation of the biological recognition apparatus is as follows.
First, when the subject 10 comes into contact with the detection element 1, the applied signal 1S applied to the detection element 1 based on the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 is an impedance characteristic, that is, a capacitance inherent to the subject 10. This varies depending on the component and the resistance component, and this is output from the response signal generator 3 as the response signal 3S. The phase difference or amplitude of the response signal 3S is detected by the waveform information detection unit 4X, and a detection signal 4S including information indicating these detection results is output to the living body recognition unit 5.

生体認識部5では、波形情報検出部4Xからの検出信号4Sに含まれる波形情報が、正当な生体の波形情報の基準範囲内にあるか否かに基づいて、被検体10が生体か否かを認識判定し、その認識結果5Sを出力する。
なお、これらの位相差や振幅から被検体のインピーダンスのリアクタンス成分や抵抗成分の大きさを算出し、正当な生体の持つリアクタンス成分や抵抗成分の基準範囲と比較してもよい。この場合、検出素子を介して接触している被検体のインピーダンスを検出したことになる。
In the living body recognition unit 5, whether or not the subject 10 is a living body is determined based on whether or not the waveform information included in the detection signal 4S from the waveform information detection unit 4X is within the reference range of the legitimate living body waveform information. Is recognized and the recognition result 5S is output.
Note that the magnitude of the reactance component and resistance component of the impedance of the subject may be calculated from these phase differences and amplitudes and compared with the reference range of the reactance component and resistance component of a legitimate living body. In this case, the impedance of the subject in contact with the detection element is detected.

次に、図25を参照して、生体認識装置における従来の被検体のインピーダンス情報を検出する技術として、位相差を検出する具的な方法を説明する。図25は、位相差を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示すブロック図であり、前述の図24と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。   Next, with reference to FIG. 25, a specific method for detecting a phase difference will be described as a conventional technique for detecting impedance information of a subject in a living body recognition apparatus. FIG. 25 is a block diagram showing a specific configuration of a conventional impedance detection apparatus for detecting a phase difference, and the same or equivalent parts as those in FIG.

図25において、検出素子1には、被検体10と電気的に接触するための検出電極11と検出電極12が設けられている。
供給信号生成部2には、周波数発生回路21と波形整形回路22とが設けられている。応答信号生成部3には、電流−電圧変換回路32が設けられている。波形情報検出部4Xには、オフセット補正回路41X、基準信号発生回路42X、および位相比較回路43Xが設けられている。生体認識部5(図示せず)には、信号変換回路と判定回路が設けられている。
In FIG. 25, the detection element 1 is provided with a detection electrode 11 and a detection electrode 12 for making electrical contact with the subject 10.
The supply signal generation unit 2 is provided with a frequency generation circuit 21 and a waveform shaping circuit 22. The response signal generation unit 3 is provided with a current-voltage conversion circuit 32. The waveform information detection unit 4X is provided with an offset correction circuit 41X, a reference signal generation circuit 42X, and a phase comparison circuit 43X. The biometric recognition unit 5 (not shown) is provided with a signal conversion circuit and a determination circuit.

検出素子1において、検出電極11は接地電位などの共通電位に接続され、検出電極12は応答信号生成部3の電流−電圧変換回路32の出力段に接続されている。供給信号生成部2において、周波数発生回路21は所定周波数のクロック信号を生成し、波形整形回路22は周波数発生回路21からのクロック信号に基づき正弦波などからなる供給信号2Sを生成して出力する。   In the detection element 1, the detection electrode 11 is connected to a common potential such as a ground potential, and the detection electrode 12 is connected to the output stage of the current-voltage conversion circuit 32 of the response signal generation unit 3. In the supply signal generation unit 2, the frequency generation circuit 21 generates a clock signal having a predetermined frequency, and the waveform shaping circuit 22 generates and outputs a supply signal 2 </ b> S composed of a sine wave or the like based on the clock signal from the frequency generation circuit 21. .

応答信号生成部3の電流−電圧変換回路32は、供給信号生成部2と検出素子10との間に接続された抵抗素子Rsからなり、生体のインピーダンスに対して十分低い所定の出力インピーダンスで、供給信号2Sを印加信号1Sとして被検体10に印加し、その際に検出素子1を介して被検体10に流れる電流を電圧に変換し応答信号3Sとして出力する。   The current-voltage conversion circuit 32 of the response signal generation unit 3 includes a resistance element Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection element 10, and has a predetermined output impedance that is sufficiently lower than the impedance of the living body. The supply signal 2S is applied to the subject 10 as the application signal 1S, and the current flowing through the subject 10 via the detection element 1 at that time is converted into a voltage and output as a response signal 3S.

波形情報検出部4Xのオフセット補正回路41Xは、被検体10の抵抗成分に応じて応答信号に生じるオフセット電位すなわち応答信号3Sの中心電圧と基準電位との電位差を補正し、被比較信号41XSとして位相比較回路43Xへ出力する。基準信号発生回路42Xは、供給信号2Sに同期した基準信号42XSを位相比較回路43Xへ出力する。位相比較回路43Xは、被比較信号41XSと基準信号42XSとの位相を比較することにより、被検体10に固有のインピーダンス特性、ここではリアクタンス成分に対応する位相差を波形情報として検出し、その波形情報を含む検出信号4Sを出力する。   The offset correction circuit 41X of the waveform information detection unit 4X corrects the offset potential generated in the response signal in accordance with the resistance component of the subject 10, that is, the potential difference between the center voltage of the response signal 3S and the reference potential, and outputs the phase as the signal to be compared 41XS. Output to the comparison circuit 43X. The reference signal generation circuit 42X outputs a reference signal 42XS synchronized with the supply signal 2S to the phase comparison circuit 43X. The phase comparison circuit 43X compares the phase of the signal to be compared 41XS and the reference signal 42XS, thereby detecting, as waveform information, an impedance characteristic unique to the subject 10, in this case, a phase difference corresponding to a reactance component. A detection signal 4S including information is output.

図25のインピーダンス検出装置の動作は以下のようになる。
まず、被検体10が、検出素子1の検出電極11と検出電極12とを介して電流−電圧変換回路32の出力段に接続される。ここで被検体10に固有のインピーダンスは、検出素子1の検出電極11と検出電極12との間に接続されたリアクタンス成分(主に容量成分)と抵抗成分で示すことができる。したがって、電流−電圧変換回路32から所定の出力インピーダンスで印加された印加信号1Sは、電流−電圧変換回路32の出力インピーダンスと被検体10に固有のインピーダンスとで分圧される。そして、被検体10に流れる電流が、被検体10に固有のインピーダンスに応じてその位相および振幅が変化し、これら変化が電圧に変換された応答信号3Sとして出力される。
The operation of the impedance detection apparatus of FIG. 25 is as follows.
First, the subject 10 is connected to the output stage of the current-voltage conversion circuit 32 via the detection electrode 11 and the detection electrode 12 of the detection element 1. Here, the impedance inherent to the subject 10 can be represented by a reactance component (mainly a capacitive component) and a resistance component connected between the detection electrode 11 and the detection electrode 12 of the detection element 1. Therefore, the applied signal 1S applied with a predetermined output impedance from the current-voltage conversion circuit 32 is divided by the output impedance of the current-voltage conversion circuit 32 and the impedance unique to the subject 10. Then, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 changes according to the impedance inherent to the subject 10, and these changes are output as a response signal 3S converted into a voltage.

図26は、図25のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。供給信号生成部2の波形整形回路22では、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位を中心電圧VAとする供給信号2Sが生成され印加信号1Sとして被検体10に印加される。応答信号3Sは、被検体10の抵抗成分によるオフセット電位を含む信号となる。例えば、抵抗成分が所定値より大きい場合は基準電位VBより高いVB2が中心電圧となり、抵抗成分が上記所定値より小さい場合は基準電位VBより低いVB1が中心電圧となる。この際、オフセット補正回路41Xは、応答信号3Sの中心電圧が位相比較回路43Xで用いる基準電位VBと一致するようにレベルシフトし、オフセット電位が補正された被比較信号41XSを出力する。位相比較回路43Xは、被比較信号41XSと基準信号42XSの位相差に対応したパルス幅を有する波形を検出信号4Sとして出力する。このパルス幅は、位相差としての波形情報を含んでいる。   FIG. 26 is a signal waveform example in each part of the impedance detection apparatus of FIG. In the waveform shaping circuit 22 of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S having a center voltage VA that is a substantially intermediate potential between the operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) of the circuit is generated, and the subject 10 is used as the application signal 1S. To be applied. The response signal 3S is a signal including an offset potential due to the resistance component of the subject 10. For example, when the resistance component is larger than a predetermined value, VB2 higher than the reference potential VB becomes the center voltage, and when the resistance component is smaller than the predetermined value, VB1 lower than the reference potential VB becomes the center voltage. At this time, the offset correction circuit 41X is level-shifted so that the center voltage of the response signal 3S matches the reference potential VB used in the phase comparison circuit 43X, and outputs the compared signal 41XS with the offset potential corrected. The phase comparison circuit 43X outputs a waveform having a pulse width corresponding to the phase difference between the signal to be compared 41XS and the reference signal 42XS as the detection signal 4S. This pulse width includes waveform information as a phase difference.

国際公開05/016146号パンフレットInternational Publication No. 05/016146 Pamphlet

しかしながら、このような従来技術では、被検体のインピーダンスに応じた位相差を検出する際、アナログ信号からなる被比較信号と基準信号の位相を比較しているため、回路の複雑化や半導体プロセスの変動による検出精度の低下を招く要因となり、簡素な回路構成で被検体のインピーダンスを高精度で検出できるインピーダンス検出装置を実現できないという問題点があった。   However, in such a conventional technique, when detecting the phase difference according to the impedance of the subject, the phase of the comparison signal made of an analog signal and the phase of the reference signal are compared. This causes a decrease in detection accuracy due to fluctuations, and there is a problem in that an impedance detection apparatus that can detect the impedance of a subject with high accuracy with a simple circuit configuration cannot be realized.

すなわち、従来技術では、波形情報検出部において被検体のインピーダンスに応じた位相差を検出する場合、アナログ電位を補正・検出するアナログ回路を用いて、アナログ信号からなる被比較信号と基準信号の位相を比較している。このため、被検体のインピーダンスの検出精度を高めようとした場合、上記アナログ回路が複雑化し、回路規模が増大する。
また、半導体プロセス技術を用いた集積回路によりアナログ回路を構成した場合、プロセス変動等の要因でその特性が変動するため、アナログ電位を補正・検出するアナログ回路において、位相差や振幅の波形情報の検出精度が低下してしまう。
That is, in the prior art, when detecting a phase difference according to the impedance of the subject in the waveform information detection unit, an analog circuit that corrects and detects an analog potential is used to compare the phase of the signal to be compared and the reference signal made up of analog signals. Are comparing. For this reason, when trying to increase the detection accuracy of the impedance of the subject, the analog circuit becomes complicated and the circuit scale increases.
In addition, when an analog circuit is configured by an integrated circuit using semiconductor process technology, its characteristics fluctuate due to factors such as process fluctuations. Therefore, in an analog circuit that corrects and detects an analog potential, waveform information of phase difference and amplitude Detection accuracy is reduced.

また、従来技術を生体認識装置のインピーダンス検出手段に用いた場合、前述した理由から認識の精度を高められないという問題がある。また、このような生体認識装置を、指紋認証装置を用いた個人認識システムに搭載した場合、システム全体のセキュリティ性能を高めることができないという問題がある。   Further, when the conventional technique is used for the impedance detection means of the biological recognition apparatus, there is a problem that the recognition accuracy cannot be increased for the reason described above. Further, when such a biometric recognition device is mounted on a personal recognition system using a fingerprint authentication device, there is a problem that the security performance of the entire system cannot be improved.

本発明はこのような課題を解決するためのものであり、簡素な回路構成で、プロセス変動等の要因による検出精度の劣化を抑制でき、被検体のインピーダンスを高精度で検出できるインピーダンス検出装置およびインピーダンス検出方法を提供し、高い認識精度が得られる生体認識装置、さらには高いセキュリティ性能が得られる指紋認証装置を提供することを目的としている。   The present invention is for solving such problems, and with a simple circuit configuration, it is possible to suppress deterioration in detection accuracy due to factors such as process fluctuations, and to detect an impedance of a subject with high accuracy and An object of the present invention is to provide an impedance detection method, a biometric recognition device that can obtain high recognition accuracy, and a fingerprint authentication device that can obtain high security performance.

このような目的を達成するために、本発明にかかるインピーダンス検出装置は、被検体と電気的に接触する検出素子と、交流の供給信号を生成する供給信号生成部と、供給信号生成部と検出素子との間に接続されて、供給信号に応じた印加信号を被検体へ印加するとともに、印加信号に伴って被検体に流れる電流により変化する交流の応答信号を生成して出力する応答信号生成部と、応答信号から当該応答信号の波形の特徴を示す波形情報を検出し、この波形情報に基づいて被検体のインピーダンスに応じた検出信号を生成して出力する波形情報検出部とを備え、波形情報検出部は、応答信号を当該応答信号の電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号に変換して出力する応答信号変換回路と、供給信号に同期した矩形波のデジタル基準信号と被比較信号との位相を比較することにより、波形情報として被比較信号と供給信号の位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第1の検出信号を生成し検出信号として出力するデジタル位相比較回路とを有している。   In order to achieve such an object, an impedance detection device according to the present invention includes a detection element that is in electrical contact with a subject, a supply signal generation unit that generates an alternating supply signal, a supply signal generation unit, and a detection Response signal generation connected to the element to apply an applied signal corresponding to the supply signal to the subject, and to generate and output an alternating response signal that changes depending on the current flowing through the subject in accordance with the applied signal A waveform information detection unit that detects waveform information indicating characteristics of the waveform of the response signal from the response signal, and generates and outputs a detection signal according to the impedance of the subject based on the waveform information, The waveform information detection unit includes a response signal conversion circuit that converts the response signal into a signal to be compared that is a digital signal indicating a voltage change of the response signal, and a rectangular wave digital base synchronized with the supply signal. By comparing the phase of the signal and the signal to be compared, the phase difference between the signal to be compared and the supply signal is detected as waveform information, and the first detection signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is detected. And a digital phase comparison circuit that generates and outputs a detection signal.

この際、供給信号生成部に、所定周波数のクロック信号を生成して出力する周波数発生回路と、クロック信号に基づいて当該クロック信号に同期した正弦波、三角波、または台形波のいずれか1つを生成し供給信号として出力する波形整形回路とを設けてもよい。   At this time, the supply signal generation unit is supplied with a frequency generation circuit that generates and outputs a clock signal having a predetermined frequency, and a sine wave, a triangular wave, or a trapezoidal wave synchronized with the clock signal based on the clock signal. A waveform shaping circuit that generates and outputs as a supply signal may be provided.

また、応答信号変換回路は、応答信号を増幅することによりデジタル信号に変換し被比較信号として出力するリミッタアンプから構成してもよく、応答信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換し被比較信号として出力するしきい値回路から構成してもよい。   The response signal conversion circuit may be composed of a limiter amplifier that amplifies the response signal to convert it into a digital signal and outputs it as a signal to be compared. You may comprise from the threshold circuit which converts into a signal and outputs as a signal to be compared.

また、デジタル位相比較回路は、被比較信号とデジタル基準信号の排他的論理和を検出信号として出力する排他的論理和回路から構成してもよい。   Further, the digital phase comparison circuit may be composed of an exclusive OR circuit that outputs an exclusive OR of the signal to be compared and the digital reference signal as a detection signal.

また、波形情報検出部は、クロック信号をデジタル基準信号として用いてもよい。   The waveform information detection unit may use the clock signal as a digital reference signal.

また、波形情報検出部に、供給信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換しデジタル基準信号として出力するしきい値回路からなるデジタル基準信号発生回路を設けてもよい。   Further, the waveform information detection unit may be provided with a digital reference signal generation circuit including a threshold circuit that converts a supply signal into a digital signal by comparing it with a predetermined threshold voltage and outputs the digital signal as a digital reference signal.

また、波形情報検出部に、供給信号に同期した基準信号を生成する基準信号発生回路と、基準信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換しデジタル基準信号として出力するしきい値回路と、からなるデジタル基準信号発生回路を設けてもよい。   In addition, the waveform information detector converts the reference signal to a digital signal by comparing the reference signal with a predetermined threshold voltage and outputs the digital signal as a digital reference signal. A digital reference signal generation circuit comprising a threshold circuit may be provided.

また、波形情報検出部に、波形情報として応答信号の電圧変化を検出し、当該電圧変化に基づいて応答信号を応答信号の大きさに応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第2の検出信号へ変換し検出信号として出力するパルス変換回路をさらに設けてもよい。   Further, the waveform information detection unit detects a voltage change of the response signal as the waveform information, and based on the voltage change, the response signal is a second detection signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the magnitude of the response signal. There may be further provided a pulse conversion circuit which converts the signal into a detection signal and outputs it as a detection signal.

また、パルス変換回路は、応答信号を所定のしきい値電圧と比較し、その比較結果に応じたデジタル信号を第2の検出信号として出力するしきい値回路から構成してもよい。   The pulse conversion circuit may be configured by a threshold circuit that compares the response signal with a predetermined threshold voltage and outputs a digital signal corresponding to the comparison result as the second detection signal.

また、しきい値回路で、応答信号を所定のしきい値電圧と比較することにより得られた被比較信号を、被検体のインピーダンスにより変化する応答信号の電圧変化に応じたパルス幅を有する第2の検出信号として出力するようにしてもよい。   In addition, the threshold signal has a pulse width corresponding to the voltage change of the response signal that changes according to the impedance of the subject. 2 may be output as a detection signal.

また、波形情報検出部に、応答信号に含まれる高周波成分を除去するローパスフィルタをさらに設け、応答信号変換回路で、ローパスフィルタから出力された応答信号を被比較信号へ変換するようにしてもよい。   Further, the waveform information detection unit may be further provided with a low-pass filter that removes high-frequency components contained in the response signal, and the response signal conversion circuit may convert the response signal output from the low-pass filter into a signal to be compared. .

また、検出素子に、被検体と電気的に接触しかつ所定の共通電位に接続されている第1の検出電極と、被検体と電気的に接触して応答信号生成部からの印加信号を被検体へ印加する第2の検出電極とを設けてもよい。   In addition, the first detection electrode that is in electrical contact with the subject and connected to a predetermined common potential is connected to the detection element, and the applied signal from the response signal generation unit is subjected to electrical contact with the subject. A second detection electrode applied to the specimen may be provided.

また、応答信号生成部は、供給信号生成部と検出素子との間に接続された抵抗素子で構成され、当該抵抗素子と検出素子との接続節点から応答信号を出力する電流−電圧変換回路から構成してもよい。   The response signal generation unit includes a resistance element connected between the supply signal generation unit and the detection element, and a current-voltage conversion circuit that outputs a response signal from a connection node between the resistance element and the detection element. It may be configured.

また、応答信号生成部は、供給信号生成部と検出素子との間に接続された抵抗素子と、当該抵抗素子の両端電圧を差動増幅することにより応答信号を生成して出力する差動増幅器を有する電流−電圧変換回路から構成してもよい。   The response signal generation unit includes a resistance element connected between the supply signal generation unit and the detection element, and a differential amplifier that generates and outputs a response signal by differentially amplifying the voltage across the resistance element. You may comprise from the current-voltage conversion circuit which has.

あるいは、応答信号生成部は、一端が供給信号生成部に接続された第1の抵抗素子と、当該第1の抵抗素子の他端と検出素子との間に接続された第2の抵抗素子と、第2の抵抗素子の両端電圧を差動増幅することにより応答信号を生成して出力する差動増幅器を有する電流−電圧変換回路から構成してもよい。   Alternatively, the response signal generation unit includes a first resistance element having one end connected to the supply signal generation unit, and a second resistance element connected between the other end of the first resistance element and the detection element. A current-voltage conversion circuit having a differential amplifier that generates and outputs a response signal by differentially amplifying the voltage across the second resistor element may be used.

また、本発明にかかるインピーダンス検出方法は、検出素子を介して電気的に接触した被検体に対し、交流の供給信号に応じた印加信号を印加するとともに、印加信号に伴って被検体に流れる電流により変化する応答信号を生成して出力する応答信号生成ステップと、応答信号から当該応答信号の波形の特徴を示す波形情報を検出し、この波形情報に基づいて被検体のインピーダンスに応じた検出信号を生成して出力する波形情報検出ステップとを備え、波形情報検出ステップは、応答信号を当該応答信号の電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号に変換して出力する応答信号変換ステップと、供給信号に同期した矩形波のデジタル基準信号と被比較信号との位相を比較することにより、波形情報として被比較信号と供給信号の位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第1の検出信号を生成し検出信号として出力するデジタル位相比較ステップとを有している。   In addition, the impedance detection method according to the present invention applies an applied signal corresponding to an AC supply signal to a subject that is in electrical contact with the detection element, and a current that flows through the subject in accordance with the applied signal. A response signal generating step for generating and outputting a response signal that varies depending on the waveform, and detecting waveform information indicating the characteristics of the waveform of the response signal from the response signal, and detecting signals corresponding to the impedance of the subject based on the waveform information A waveform information detection step for generating and outputting the response information, wherein the waveform information detection step converts the response signal into a signal to be compared consisting of a digital signal indicating a voltage change of the response signal, and outputs a response signal conversion step; By comparing the phase of the digital reference signal with the rectangular wave synchronized with the supply signal and the phase of the signal to be compared, The detected, and a digital phase step of outputting as a first generation detecting signal a detection signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference.

また、本発明にかかる生体認識装置は、被検体のインピーダンスに応じた検出信号を出力する上記インピーダンス検出装置と、インピーダンス検出装置から出力された検出信号に基づき被検体が生体であるか否かを判定する生体認識部とを備えている。   The living body recognition apparatus according to the present invention includes the impedance detection apparatus that outputs a detection signal corresponding to the impedance of the subject, and whether or not the subject is a living body based on the detection signal output from the impedance detection apparatus. A biometric recognition unit for determination.

また、本発明にかかる指紋認証装置は、被検体のインピーダンスに応じた検出信号に基づき被検体が生体であるか否かを判定する上記生体認識装置と、被検体から指紋の凹凸を示す指紋データを検出する指紋検出装置と、指紋データと予め登録されている照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う指紋認証部と、生体認識装置から出力された生体判定結果と指紋認証部から出力された指紋認証結果とに基づいて利用者の指紋認証成否を判定する認証判定部とを備えている。   The fingerprint authentication apparatus according to the present invention includes the biometric recognition apparatus that determines whether or not the subject is a living body based on a detection signal corresponding to the impedance of the subject, and fingerprint data indicating the unevenness of the fingerprint from the subject. A fingerprint detection device that detects fingerprints, a fingerprint authentication unit that compares fingerprint data and pre-registered verification data, and performs user fingerprint authentication based on the verification result, and a biometric determination output from the biometric recognition device An authentication determination unit that determines whether the user has succeeded in fingerprint authentication based on the result and the fingerprint authentication result output from the fingerprint authentication unit;

本発明によれば、波形情報検出部の応答信号変換回路により、応答信号生成部からの応答信号が当該応答信号の電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号に変換されて出力され、波形情報検出部のデジタル位相比較回路により、供給信号生成部からの供給信号に同期した矩形波のデジタル基準信号と被比較信号との位相が比較され、波形情報として被比較信号と供給信号の位相差が検出され、当該波形情報に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号が生成されて出力される。
これにより、アナログ回路を複雑化することなく、簡素な回路構成で、プロセス変動等の要因による検出精度の劣化を抑制でき、被検体のインピーダンスを高精度で検出することが可能となる。
According to the present invention, the response signal conversion circuit of the waveform information detection unit converts the response signal from the response signal generation unit into a signal to be compared that is composed of a digital signal indicating a voltage change of the response signal, and outputs the waveform information. The phase of the digital reference signal of the rectangular wave synchronized with the supply signal from the supply signal generation unit and the signal to be compared are compared by the digital phase comparison circuit of the detection unit, and the phase difference between the signal to be compared and the supply signal is obtained as waveform information. Detection is performed, and a detection signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the waveform information is generated and output.
Thereby, without complicating the analog circuit, it is possible to suppress deterioration in detection accuracy due to factors such as process fluctuations with a simple circuit configuration, and to detect the impedance of the subject with high accuracy.

また、正弦波だけでなく、三角波や台形波を供給信号として用いることができ、回路構成をシンプルにしながら検出精度を高めることができる。特に、インピーダンス検出装置を生体認識装置のインピーダンス検出手段に用いれば、生体固有のインピーダンスが広範囲に分布したときに、認識の精度を高める効果がある。また、このような生体認識装置を、指紋認証装置を用いた個人認識システムに搭載すれば、システム全体のセキュリティ性能を高めることができ効果大である。   Further, not only a sine wave but also a triangular wave or a trapezoidal wave can be used as a supply signal, and the detection accuracy can be improved while simplifying the circuit configuration. In particular, when the impedance detection device is used as the impedance detection means of the living body recognition device, there is an effect of improving the recognition accuracy when the impedance inherent in the living body is distributed over a wide range. In addition, if such a biometric recognition device is installed in a personal recognition system using a fingerprint authentication device, the security performance of the entire system can be improved, which is very effective.

次に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
まず、図1を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図1は、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図24と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
[First Embodiment]
First, with reference to FIG. 1, an impedance detection apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the first embodiment of the present invention. The same or equivalent parts as those in FIG.

インピーダンス検出装置100は、被検体に対して所定の信号を印加し、得られた応答信号に基づいて被検体のインピーダンスを検出する装置である。このインピーダンス検出装置100には、主な機能部として、検出素子1、供給信号生成部2、応答信号生成部3、および波形情報検出部4が設けられている。これら機能部は、後述する各実施の形態にかかるインピーダンス検出装置に共通する構成である。   The impedance detection device 100 is a device that applies a predetermined signal to the subject and detects the impedance of the subject based on the obtained response signal. The impedance detection apparatus 100 includes a detection element 1, a supply signal generation unit 2, a response signal generation unit 3, and a waveform information detection unit 4 as main functional units. These functional units have a configuration common to the impedance detection apparatuses according to the embodiments described later.

本実施の形態は、波形情報検出部4に、応答信号変換回路41とデジタル位相比較回路43とを設け、応答信号変換回路41により、応答信号生成部3からの応答信号3Sを当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換して出力し、デジタル位相比較回路43により、供給信号生成部2からの供給信号2Sに同期した矩形波のデジタル基準信号42Sと被比較信号41Sとの位相を比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号(第1の検出信号)4Sを生成して出力するようにしたものである。   In the present embodiment, the waveform information detection unit 4 is provided with a response signal conversion circuit 41 and a digital phase comparison circuit 43, and the response signal conversion circuit 41 converts the response signal 3S from the response signal generation unit 3 into the response signal 3S. The signal is converted into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating a voltage change of the signal, and is compared with the digital reference signal 42S of a rectangular wave synchronized with the supply signal 2S from the supply signal generator 2 by the digital phase comparison circuit 43. By comparing the phase with the signal 41S, a phase difference between the signal to be compared 41S and the supply signal 2S is detected as waveform information, and a detection signal (first detection signal) having a pulse width corresponding to the phase difference is detected. Signal) 4S is generated and output.

以下、図1を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の各機能部について詳細に説明する。
検出素子1は、検出電極11,12を介して被検体10と電気的に接触し、被検体10の持つインピーダンスのリアクタンス成分および抵抗成分を応答信号生成部3へ接続する機能を有している。
Hereafter, with reference to FIG. 1, each function part of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention is demonstrated in detail.
The detection element 1 is in electrical contact with the subject 10 through the detection electrodes 11 and 12 and has a function of connecting the reactance component and the resistance component of the impedance of the subject 10 to the response signal generation unit 3. .

検出電極(第1の検出電極)11は、接地電位などの共通電位に接続され、検出電極(第2の検出電極)12は応答信号生成部3の電流−電圧変換回路32の出力段に接続されている。この共通電位は、電源回路などの所定の供給回路部(図示せず)から一定の電位(低インピーダンス)で供給されている。なお、被検体10が生体の場合、被検体10のインピーダンスZfのうちリアクタンス成分(虚数成分)は主に容量成分から構成されている。以下では、理解を容易とするため検体10のリアクタンス成分が容量成分からなるものと見なして説明するが、実際には位相情報として、インダクタンス成分を含むリアクタンス成分が検出されている。   The detection electrode (first detection electrode) 11 is connected to a common potential such as a ground potential, and the detection electrode (second detection electrode) 12 is connected to the output stage of the current-voltage conversion circuit 32 of the response signal generator 3. Has been. This common potential is supplied at a constant potential (low impedance) from a predetermined supply circuit unit (not shown) such as a power supply circuit. When the subject 10 is a living body, the reactance component (imaginary component) of the impedance Zf of the subject 10 is mainly composed of a capacitive component. In the following description, it is assumed that the reactance component of the specimen 10 is composed of a capacitive component for easy understanding, but in reality, a reactance component including an inductance component is detected as phase information.

供給信号生成部2は、周波数発生回路21と波形整形回路22を有し、所定周波数の正弦波などからなる供給信号2Sを生成して応答信号生成部3に出力する機能を有している。周波数発生回路21は、所定周波数の矩形波からなるクロック信号21Sを生成する機能を有している。波形整形回路22は、周波数発生回路21からのクロック信号21Sに基づき正弦波や三角波などの繰り返し波形からなる交流の供給信号2Sを生成して応答信号生成部3へ出力する機能を有している。なお、供給信号2Sは供給信号生成部2の代わりに外部の波形生成装置から供給してもよい。   The supply signal generation unit 2 includes a frequency generation circuit 21 and a waveform shaping circuit 22, and has a function of generating a supply signal 2 </ b> S composed of a sine wave having a predetermined frequency and outputting it to the response signal generation unit 3. The frequency generation circuit 21 has a function of generating a clock signal 21S composed of a rectangular wave having a predetermined frequency. The waveform shaping circuit 22 has a function of generating an AC supply signal 2S having a repetitive waveform such as a sine wave or a triangular wave based on the clock signal 21S from the frequency generation circuit 21, and outputting the generated signal to the response signal generation unit 3. . The supply signal 2S may be supplied from an external waveform generation device instead of the supply signal generation unit 2.

応答信号生成部3は、電流−電圧変換回路32を有し、供給信号生成部2からの供給信号2Sに応じた印加信号1Sを検出素子1に印加し、この印加信号1Sに伴って検出素子1の出力インピーダンスすなわち被検体10の持つインピーダンスの容量成分および抵抗成分により変化する応答信号3Sを生成して波形情報検出部4へ出力する機能を有している。電流−電圧変換回路32は、印加信号1Sに基づいて被検体10に流れる電流を電圧信号からなる応答信号3Sに変換して波形情報検出部4へ出力する機能を有している。   The response signal generation unit 3 includes a current-voltage conversion circuit 32, applies an application signal 1S corresponding to the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 to the detection element 1, and detects the detection element along with the application signal 1S. 1 has a function of generating a response signal 3S that changes in accordance with the output impedance of 1, that is, the capacitance component and resistance component of the impedance of the subject 10 and outputting the response signal 3S to the waveform information detection unit 4. The current-voltage conversion circuit 32 has a function of converting a current flowing through the subject 10 into a response signal 3S composed of a voltage signal based on the applied signal 1S and outputting the response signal 3S to the waveform information detection unit 4.

波形情報検出部4は、応答信号変換回路41、デジタル基準信号発生回路42、およびデジタル位相比較回路43を有し、応答信号生成部3からの応答信号3Sの波形から、被検体10のインピーダンスに応じた波形の特徴を示す波形情報として、応答信号3Sと供給信号2Sとの位相差を検出する機能と、これら位相差からなる波形情報に基づいて被検体10のインピーダンスを示す検出信号4Sを出力する機能とを有している。   The waveform information detection unit 4 includes a response signal conversion circuit 41, a digital reference signal generation circuit 42, and a digital phase comparison circuit 43. The waveform information detection unit 4 converts the response signal 3S from the response signal generation unit 3 into the impedance of the subject 10. A function for detecting the phase difference between the response signal 3S and the supply signal 2S and a detection signal 4S indicating the impedance of the subject 10 based on the waveform information consisting of these phase differences are output as waveform information indicating the characteristics of the corresponding waveform. It has the function to do.

応答信号変換回路41は、応答信号生成部3からの応答信号3Sを当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換して出力する機能を有している。デジタル基準信号発生回路42は、供給信号生成部2からの供給信号2Sに同期した矩形波のデジタル基準信号42Sを生成する機能を有している。デジタル位相比較回路43は、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号(第1の検出信号)4Sを生成して出力する機能を有している。   The response signal conversion circuit 41 has a function of converting the response signal 3S from the response signal generation unit 3 into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating a voltage change of the response signal 3S and outputting it. The digital reference signal generation circuit 42 has a function of generating a rectangular digital reference signal 42S synchronized with the supply signal 2S from the supply signal generator 2. The digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. It has a function of detecting a phase difference between 41S and the supply signal 2S, and generating and outputting a detection signal (first detection signal) 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference.

次に、図1を参照して、本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
応答信号生成部3に入力された供給信号2Sは、電流−電圧変換回路32を介して印加信号1Sとして検出素子1に印加される。
電流−電圧変換回路32は、検出素子1を介して被検体10のインピーダンスに印加信号1Sを与えることで被検体10へ電流を流すと同時に、被検体10へ流れた電流を電圧に変換し応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The supply signal 2S input to the response signal generation unit 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the current-voltage conversion circuit 32.
The current-voltage conversion circuit 32 applies an applied signal 1S to the impedance of the subject 10 via the detection element 1 to cause the current to flow to the subject 10 and at the same time converts the current flowing to the subject 10 into a voltage and responds. Output as signal 3S.

波形情報検出部4は、応答信号3Sに含まれる位相情報を検出し、この位相情報を含んだ検出信号4Sを出力する。
この際、波形情報検出部4の応答信号変換回路41は、応答信号生成部3からの応答信号3Sを当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換して出力する。デジタル位相比較回路43は、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。
The waveform information detector 4 detects the phase information included in the response signal 3S and outputs a detection signal 4S including this phase information.
At this time, the response signal conversion circuit 41 of the waveform information detection unit 4 converts the response signal 3S from the response signal generation unit 3 into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating a voltage change of the response signal 3S and outputs it. . The digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. A phase difference between 41S and the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

このように、本実施の形態は、波形情報検出部4に、応答信号変換回路41とデジタル位相比較回路43とを設け、応答信号変換回路41により、応答信号生成部3からの応答信号3Sを当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換して出力し、デジタル位相比較回路43により、供給信号生成部2からの供給信号2Sに同期した矩形波のデジタル基準信号42Sと被比較信号41Sとの位相を比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力するようにしたので、アナログ回路を複雑化することなく、簡素な回路構成で、プロセス変動等の要因による検出精度の劣化を抑制でき、被検体のインピーダンスを高精度で検出することが可能となる。   Thus, in the present embodiment, the waveform information detection unit 4 is provided with the response signal conversion circuit 41 and the digital phase comparison circuit 43, and the response signal conversion circuit 41 receives the response signal 3S from the response signal generation unit 3. A digital reference signal of a rectangular wave synchronized with the supply signal 2S from the supply signal generation unit 2 by the digital phase comparison circuit 43 after being converted into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. By comparing the phase of 42S and the signal to be compared 41S, a phase difference between the signal to be compared 41S and the supply signal 2S is detected as waveform information, and a detection signal 4S comprising a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is detected. Because the analog circuit is generated and output, the degradation of detection accuracy due to factors such as process fluctuations can be suppressed with a simple circuit configuration without complicating the analog circuit. Can, it is possible to detect the impedance of the object with high precision.

また、本実施の形態は、供給信号生成部を、所定周波数のクロック信号を生成して出力する周波数発生回路と、クロック信号に基づいて当該クロック信号に同期した正弦波、三角波、または台形波のいずれか1つを生成し供給信号として出力する波形整形回路とから構成したので、極めて簡単な回路構成で所定周波数の任意波形の供給信号を生成できる。
また、本実施の形態は、検出素子を、被検体と電気的に接触しかつ所定の共通電位に接続されている第1の検出電極と、被検体と電気的に接触して応答信号生成部からの印加信号を被検体へ印加する第2の検出電極とから構成したので、極めて簡単な構成で被検体へ電流を印加でき、被検体のインピーダンスに応じた電流変化を検出できる。
In the present embodiment, the supply signal generation unit generates a clock signal having a predetermined frequency and outputs it, and a sine wave, a triangular wave, or a trapezoidal wave synchronized with the clock signal based on the clock signal. Since it comprises the waveform shaping circuit that generates any one and outputs it as a supply signal, it is possible to generate a supply signal having an arbitrary waveform with a predetermined frequency with a very simple circuit configuration.
Further, in the present embodiment, the detection element is electrically contacted with the subject and connected to a predetermined common potential, and the response signal generator is electrically contacted with the subject. Since the second detection electrode for applying the signal applied to the subject is applied to the subject, a current can be applied to the subject with a very simple configuration, and a current change corresponding to the impedance of the subject can be detected.

[第2の実施の形態]
次に、図2を参照して、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図2は、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図1と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Second Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the second embodiment of the present invention, and the same or equivalent parts as those in FIG.

本実施の形態では、第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の具体的構成例として、波形情報検出部4において、応答信号変換回路41をリミッタアンプ41Aから構成し、デジタル基準信号発生回路42を基準信号発生回路42Aとしきい値回路42Bから構成し、デジタル位相比較回路43をXOR回路から構成した場合について説明する。なお、ここでは供給信号2Sとして正弦波を用いる場合を例として説明する。   In the present embodiment, as a specific configuration example of the impedance detection apparatus according to the first embodiment, in the waveform information detection section 4, the response signal conversion circuit 41 is configured by a limiter amplifier 41A, and a digital reference signal generation circuit 42 is provided. Will be described as comprising a reference signal generating circuit 42A and a threshold circuit 42B, and a digital phase comparison circuit 43 comprising an XOR circuit. Here, a case where a sine wave is used as the supply signal 2S will be described as an example.

図2において、波形情報検出部4のリミッタアンプ41Aは、十分な増幅率を有する増幅器であり、アナログ電圧信号からなる応答信号3Sを、その中心電圧を基準としピーク値としてHighレベル(電源電位VDD)とLowレベル(接地電位GND)のいずれかの電位からなるフル振幅のデジタル信号に変換し、被比較信号41Sとして出力する機能を有している。リミッタアンプについては、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。   In FIG. 2, a limiter amplifier 41A of the waveform information detection unit 4 is an amplifier having a sufficient amplification factor, and the response signal 3S composed of an analog voltage signal is set to a high level (power supply potential VDD) with a peak value based on the center voltage. ) And Low level (ground potential GND), and has a function of converting to a full amplitude digital signal and outputting it as a signal to be compared 41S. The limiter amplifier does not require a unique configuration in the present embodiment, and a general known circuit may be used.

デジタル基準信号発生回路42は、基準信号発生回路42Aとしきい値回路42Bを有している。基準信号発生回路42Aは、供給信号2Sに同期した例えば正弦波からなる基準信号を出力する機能を有している。しきい値回路42Bは、インバータ回路(反転論理回路)を組み合わせたバッファ回路等により実現され、基準信号発生回路42Aからの基準信号を所定のしきい値電圧Vt1と比較することによりデジタル信号に変換しデジタル基準信号42Sとして出力する機能を有している。しきい値回路については、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。   The digital reference signal generation circuit 42 includes a reference signal generation circuit 42A and a threshold circuit 42B. The reference signal generation circuit 42A has a function of outputting a reference signal composed of, for example, a sine wave synchronized with the supply signal 2S. The threshold circuit 42B is realized by a buffer circuit combined with an inverter circuit (inverted logic circuit) or the like, and converts the reference signal from the reference signal generation circuit 42A into a digital signal by comparing it with a predetermined threshold voltage Vt1. And has a function of outputting as a digital reference signal 42S. The threshold circuit is not required to have a unique configuration in this embodiment, and a generally known circuit may be used.

デジタル位相比較回路43は、XOR回路43Aを有している。このXOR回路43Aは、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの排他的論理和を算出することにより、両者の位相をデジタル信号処理で比較する機能を有している。これにより、XOR回路43Aで、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差が検出され、当該位相差に基づいて検出信号4Sが生成されて出力される。   The digital phase comparison circuit 43 has an XOR circuit 43A. The XOR circuit 43A calculates the exclusive OR of the signal 41S to be compared from the response signal conversion circuit 41 and the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42, thereby digitally processing the phases of both. It has a function to compare. As a result, the XOR circuit 43A detects the phase difference between the signal to be compared 41S and the supply signal 2S as waveform information, and the detection signal 4S is generated and output based on the phase difference.

応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31は、供給信号生成部2と検出素子1との間に接続された抵抗素子(第1の抵抗素子)Rsを有し、この抵抗素子Rsを介して供給信号生成部2からの供給信号2Sを印加信号1Sとして検出素子1に印加する機能と、検出素子1のインピーダンスすなわち被検体10の持つインピーダンスにより変化する印加信号1Sの電流変化を元にして、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する機能とを有している。   The current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 includes a resistance element (first resistance element) Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection element 1, and the resistance element Rs is interposed therebetween. Based on the function of applying the supply signal 2S from the supply signal generator 2 to the detection element 1 as the application signal 1S and the current change of the applied signal 1S that changes depending on the impedance of the detection element 1, that is, the impedance of the subject 10. The phase information of the current flowing through the subject 10 is converted into a voltage signal and output as a response signal 3S.

供給信号生成部2には、波形整形回路22として正弦波発生回路22Aが設けられている。正弦波発生回路22Aは、図1の波形整形回路22の具体例であり、周波数発生回路21からのクロック信号21Sに基づき正弦波からなる交流の供給信号2Sを生成して応答信号生成部3へ出力する機能を有している。正弦波発生回路22Aの具体例については、例えばD/A変換器を用いて生成したり、三角波の波形をダイオード素子などを用いて鈍らせて生成するなど、公知の回路を用いればよい。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、波形情報検出部4、電流−電圧変換回路31、および正弦波発生回路22A以外の構成については、第1の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
The supply signal generation unit 2 is provided with a sine wave generation circuit 22 </ b> A as the waveform shaping circuit 22. The sine wave generation circuit 22A is a specific example of the waveform shaping circuit 22 in FIG. 1, and generates an alternating supply signal 2S composed of a sine wave based on the clock signal 21S from the frequency generation circuit 21 and supplies it to the response signal generation unit 3. It has a function to output. As a specific example of the sine wave generation circuit 22A, a known circuit may be used, such as a generation using a D / A converter or a generation of a triangular wave waveform blunted using a diode element.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, configurations other than the waveform information detection unit 4, the current-voltage conversion circuit 31, and the sine wave generation circuit 22A are the same as those in the first embodiment, and here The detailed description in is omitted.

次に、図2を参照して、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
波形整形回路22から出力されて応答信号生成部3に入力された交流正弦波の供給信号2Sは、抵抗素子Rsからなる電流−電圧変換回路31を介し、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。電流−電圧変換回路31は、この印加信号1Sの電流変化を元にして、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC sine wave supply signal 2S output from the waveform shaping circuit 22 and input to the response signal generation unit 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the current-voltage conversion circuit 31 including the resistance element Rs. The The current-voltage conversion circuit 31 converts the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal based on the current change of the applied signal 1S, and outputs it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、リミッタアンプ41Aにより、応答信号3Sをその中心電圧を基準として増幅することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 amplifies the response signal 3S with reference to the center voltage by the limiter amplifier 41A, thereby converting the response signal 3S into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. The comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 and the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing, thereby comparing the signal to be compared 41S as waveform information. The phase difference of the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図3は、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。ここでは、供給信号2Sが正弦波からなる場合を例として説明する。
供給信号生成部2の正弦波発生回路22Aでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、正弦波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 3 is a signal waveform diagram showing an operation of the impedance detection device according to the second exemplary embodiment of the present invention. Here, a case where the supply signal 2S is a sine wave will be described as an example.
In the sine wave generation circuit 22A of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a sine wave is generated with a central voltage VA, which is a substantially intermediate potential VA between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). It is output to the response signal generator 3.

この供給信号2Sが応答信号生成部3の抵抗素子Rsを介して被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、この電流変化が電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。
応答信号3Sは、被検体10の抵抗成分によるオフセット電位を含む信号となる。例えば、抵抗成分が所定値より大きい場合は基準電位VBより高いVB2が中心電圧となり、抵抗成分が上記所定値より小さい場合は基準電位VBより低いVB1が中心電圧となる。
When the supply signal 2S is applied to the subject 10 via the resistance element Rs of the response signal generation unit 3, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 become impedance inherent to the subject 10. Will change accordingly. In the response signal generator 3, this current change is converted into a voltage signal and output as a response signal 3S.
The response signal 3S is a signal including an offset potential due to the resistance component of the subject 10. For example, when the resistance component is larger than a predetermined value, VB2 higher than the reference potential VB becomes the center voltage, and when the resistance component is smaller than the predetermined value, VB1 lower than the reference potential VB becomes the center voltage.

このオフセット電位を含む応答信号3Sは、応答信号変換回路41のリミッタアンプ41Aで増幅されて、オフセット電位を含まない矩形波のデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
また、基準信号発生回路42Aからの基準信号は、しきい値回路42Bにより、その基準信号の中心電圧であるしきい値電圧Vt1と比較されてデジタル基準信号42Sに変換される。
これら被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sは、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力されて位相差が検出され、その位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが出力される。
The response signal 3S including the offset potential is amplified by the limiter amplifier 41A of the response signal conversion circuit 41 and converted into a signal to be compared 41S formed of a rectangular wave digital signal not including the offset potential.
Further, the reference signal from the reference signal generating circuit 42A is compared with the threshold voltage Vt1 which is the center voltage of the reference signal by the threshold circuit 42B and converted into the digital reference signal 42S.
The signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S are input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43 to detect a phase difference, and a detection signal 4S having a signal waveform having a pulse width corresponding to the phase difference is output. The

このように、本実施の形態は、応答信号変換回路41を、応答信号3Sを増幅することによりデジタル信号に変換し被比較信号41Sとして出力するリミッタアンプ41Aにより実現したので、被検体10のインピーダンスに応じた振幅を有し、かつ直流のオフセット電位を含むアナログ信号の応答信号3Sを、極めて簡素な回路構成でデジタル信号の被比較信号41Sに変換できる。   Thus, in this embodiment, the response signal conversion circuit 41 is realized by the limiter amplifier 41A that converts the response signal 3S into a digital signal by amplifying the response signal 3S and outputs it as the signal to be compared 41S. The response signal 3S of an analog signal having an amplitude corresponding to the above and including a DC offset potential can be converted to a digital signal to be compared 41S with a very simple circuit configuration.

また、本実施の形態は、デジタル位相比較回路43を、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの排他的論理和を検出信号4Sとして出力するXOR回路43Aにより実現したので、被検体10のインピーダンスのリアクタンス成分に応じたパルス幅を有する検出信号4Sを、極めて簡素な回路で検出出力することができる。   Further, in this embodiment, the digital phase comparison circuit 43 is realized by the XOR circuit 43A that outputs the exclusive OR of the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S as the detection signal 4S. The detection signal 4S having a pulse width corresponding to the reactance component can be detected and output by an extremely simple circuit.

なお、本実施の形態では、デジタル基準信号発生回路42で、供給信号2Sとは別個にデジタル基準信号42Sを生成する場合を例として説明したが、供給信号2Sに基づきデジタル基準信号42Sを生成してもよい。
図4は、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図であり、図2と比較して、デジタル基準信号発生回路42が、しきい値回路42Cから構成されている点が異なる。
In the present embodiment, the case where the digital reference signal generation circuit 42 generates the digital reference signal 42S separately from the supply signal 2S has been described as an example. However, the digital reference signal 42S is generated based on the supply signal 2S. May be.
FIG. 4 is a block diagram showing another configuration of the impedance detection device according to the second exemplary embodiment of the present invention. Compared with FIG. 2, the digital reference signal generation circuit 42 includes a threshold circuit 42C. It is different in the configuration.

図4のしきい値回路42Cは、インバータ回路(反転論理回路)を組み合わせたバッファ回路等により実現され、供給信号生成部2からの供給信号2Sを所定のしきい値電圧Vt1と比較することによりデジタル信号に変換しデジタル基準信号42Sとして出力する機能を有している。しきい値回路については、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。
これにより、デジタル基準信号発生回路42において、供給信号生成部2の周波数発生回路21と同期した基準信号を発生させる精度の高い基準信号発生回路42Aを省くことができ、回路の簡素化やコストダウンを実現できる。
The threshold circuit 42C of FIG. 4 is realized by a buffer circuit combined with an inverter circuit (inverted logic circuit) or the like, and by comparing the supply signal 2S from the supply signal generator 2 with a predetermined threshold voltage Vt1. It has a function of converting it into a digital signal and outputting it as a digital reference signal 42S. The threshold circuit is not required to have a unique configuration in this embodiment, and a generally known circuit may be used.
As a result, in the digital reference signal generation circuit 42, it is possible to omit the highly accurate reference signal generation circuit 42A that generates a reference signal synchronized with the frequency generation circuit 21 of the supply signal generation unit 2, thereby simplifying the circuit and reducing the cost. Can be realized.

この他、図5に示すように、デジタル基準信号42Sとして、供給信号生成部2の周波数発生回路21から出力されるクロック信号21Sを用いてもよい。図5は、本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図であり、図2と比較して、供給信号生成部2の周波数発生回路21から出力されるクロック信号21Sがデジタル基準信号42Sとしてそのままデジタル位相比較回路43へ入力されている。
これにより、波形情報検出部4において、デジタル基準信号発生回路42そのものを省くことができ、回路の簡素化やコストダウンを実現できる。
In addition, as shown in FIG. 5, a clock signal 21S output from the frequency generation circuit 21 of the supply signal generation unit 2 may be used as the digital reference signal 42S. FIG. 5 is a block diagram showing another configuration of the impedance detection device according to the second exemplary embodiment of the present invention, which is output from the frequency generation circuit 21 of the supply signal generation unit 2 as compared with FIG. The clock signal 21S is directly input to the digital phase comparison circuit 43 as the digital reference signal 42S.
Thereby, in the waveform information detection unit 4, the digital reference signal generation circuit 42 itself can be omitted, and the circuit can be simplified and the cost can be reduced.

[第3の実施の形態]
次に、図6を参照して、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図6は、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図4と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Third Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of an impedance detection device according to the third exemplary embodiment of the present invention. The same or equivalent parts as those in FIG. 4 described above are denoted by the same reference numerals.

第2の実施の形態では、応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31を抵抗素子Rsで構成した場合を例として説明した。
本実施の形態では、電流−電圧変換回路31を抵抗素子Rsと差動増幅器31Aで構成した場合を例として説明する。
In the second embodiment, the case where the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 is configured by the resistance element Rs has been described as an example.
In the present embodiment, a case where the current-voltage conversion circuit 31 is configured by a resistance element Rs and a differential amplifier 31A will be described as an example.

図6において、応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31には、抵抗素子(第1の抵抗素子)Rsと差動増幅器31Aが設けられている。
抵抗素子Rsは、供給信号生成部2と検出素子1との間に接続された抵抗素子である。差動増幅器31Aは、正極性入力端子が供給信号生成部2の出力に接続され、逆極性入力端子が検出電極12に接続され、出力端子が波形情報検出部4Aの入力に接続されている。この差動増幅器31Aは、正極性入力端子に入力された供給信号2Sと、逆極性入力端子に入力された印加信号1Sを差動増幅して、出力端子から応答信号3Sを出力する機能を有している。
In FIG. 6, the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 is provided with a resistance element (first resistance element) Rs and a differential amplifier 31A.
The resistance element Rs is a resistance element connected between the supply signal generation unit 2 and the detection element 1. The differential amplifier 31A has a positive input terminal connected to the output of the supply signal generation unit 2, a reverse polarity input terminal connected to the detection electrode 12, and an output terminal connected to the input of the waveform information detection unit 4A. This differential amplifier 31A has a function of differentially amplifying the supply signal 2S input to the positive input terminal and the applied signal 1S input to the reverse polarity input terminal and outputting the response signal 3S from the output terminal. is doing.

なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、電流−電圧変換回路31以外の構成については、第2の実施の形態の図4と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。   In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the current-voltage conversion circuit 31 is the same as that in FIG. 4 of the second embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図6を参照して、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
応答信号生成部3に入力された交流正弦波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子Rsを介し、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC sine wave supply signal 2S input to the response signal generator 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the resistance element Rs of the current-voltage conversion circuit 31. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、リミッタアンプ41Aにより、応答信号3Sをその中心電圧を基準として増幅することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 amplifies the response signal 3S with reference to the center voltage by the limiter amplifier 41A, thereby converting the response signal 3S into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. The comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 and the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing, thereby comparing the signal to be compared 41S as waveform information. The phase difference of the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図7は、本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。
供給信号生成部2の正弦波発生回路22Aでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、正弦波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 7 is a signal waveform diagram showing the operation of the impedance detection device according to the third exemplary embodiment of the present invention.
In the sine wave generation circuit 22A of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a sine wave is generated with a central voltage VA, which is a substantially intermediate potential VA between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). It is output to the response signal generator 3.

この供給信号2Sが応答信号生成部3の抵抗素子Rsを介して被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、抵抗素子Rsに表れたこれら変化が差動増幅器31Aにより増幅されて電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。
この際、被検体10に流れる電流をIfとすると、抵抗素子Rsに流れる電流もIfとなる。その結果、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電圧差はRs・Ifとなる。したがって、差動増幅器31Aの増幅率をAとするとその出力電圧はV=A・Rs・Ifで求められ、被検体10に流れる電流を、直接、電圧信号からなる応答信号3Sに変換することができる。
When the supply signal 2S is applied to the subject 10 via the resistance element Rs of the response signal generation unit 3, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 become impedance inherent to the subject 10. Will change accordingly. In the response signal generation unit 3, these changes appearing in the resistance element Rs are amplified by the differential amplifier 31A, converted into a voltage signal, and output as a response signal 3S.
At this time, if the current flowing through the subject 10 is If, the current flowing through the resistance element Rs is also If. As a result, the voltage difference between the two input terminals of the differential amplifier 31A is Rs · If. Therefore, when the amplification factor of the differential amplifier 31A is A, the output voltage is obtained by V = A · Rs · If, and the current flowing through the subject 10 can be directly converted into a response signal 3S composed of a voltage signal. it can.

また、電流−電圧変換回路31に差動増幅器31Aを用いているため、第2の実施の形態とは異なり、応答信号3Sの基準電位VBは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位となるとともに、第2の実施の形態とは逆に、被検体10の抵抗成分が所定値より大きい場合は基準電位VBより低いVB2が中心電位となり、抵抗成分が上記所定値より小さい場合は基準電位VBより高いVB1が中心電圧となる。   Further, since the differential amplifier 31A is used in the current-voltage conversion circuit 31, unlike the second embodiment, the reference potential VB of the response signal 3S is the circuit operating power supply potential VDD and the ground potential (0 V = In contrast to the second embodiment, when the resistance component of the subject 10 is larger than a predetermined value, VB2 lower than the reference potential VB becomes the center potential, and the resistance component is the above-described potential. When it is smaller than the predetermined value, VB1 higher than the reference potential VB becomes the center voltage.

応答信号3Sは、応答信号変換回路41のリミッタアンプ41Aで増幅されて、オフセット電位を含まない矩形波のデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
応答信号変換回路41のリミッタアンプ41Aは、応答信号3Sを増幅してデジタル信号からなる被比較信号41Sへ変換する際、前述の通り応答信号3Sの基準電位VBが回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位となっているため、リミッタアンプ41Aの入力レンジ、ここでは応答信号3S増幅時の中心電圧の変動許容幅を第2の実施の形態よりも小さくすることができる。
The response signal 3S is amplified by the limiter amplifier 41A of the response signal conversion circuit 41 and converted into a signal to be compared 41S composed of a rectangular wave digital signal not including an offset potential.
When the limiter amplifier 41A of the response signal conversion circuit 41 amplifies the response signal 3S and converts it into a signal to be compared 41S composed of a digital signal, the reference potential VB of the response signal 3S is grounded with the operating power supply potential VDD of the circuit as described above. Since the potential is almost in the middle of the potential (0V = GND), the input range of the limiter amplifier 41A, here, the allowable fluctuation range of the center voltage when the response signal 3S is amplified is made smaller than in the second embodiment. Can do.

このようにして、図3と同様の信号波形を有する、被比較信号41Sおよびデジタル基準信号42Sが生成されて、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力され、これら位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが得られる。   In this way, the compared signal 41S and the digital reference signal 42S having the same signal waveform as in FIG. 3 are generated and input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43, and the pulse width corresponding to these phase differences A detection signal 4S having a signal waveform having

このように、本実施の形態は、応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31を、供給信号生成部2と検出素子1との間に接続された抵抗素子Rsと、この抵抗素子Rsの両端電圧を差動増幅することにより応答信号3Sを生成して出力する差動増幅器31Aとから構成したので、被検体10に流れる電流を、直接、電圧の応答信号3Sに変換することができる。また、リミッタアンプ41Aの入力レンジを比較的小さくすることができ、リミッタアンプの回路構成を簡素化することができる。   As described above, in the present embodiment, the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 includes the resistance element Rs connected between the supply signal generation unit 2 and the detection element 1, and the resistance element Rs. Since the differential amplifier 31A that generates and outputs the response signal 3S by differentially amplifying the voltage at both ends, the current flowing through the subject 10 can be directly converted into the voltage response signal 3S. Further, the input range of the limiter amplifier 41A can be made relatively small, and the circuit configuration of the limiter amplifier can be simplified.

[第4の実施の形態]
次に、図8を参照して、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図8は、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図6と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Fourth Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of an impedance detection apparatus according to the fourth embodiment of the present invention, and the same or equivalent parts as those in FIG.

第3の実施の形態では、電流−電圧変換回路31を抵抗素子Rsと差動増幅器31Aで構成した場合を例として説明した。
本実施の形態では、第3の実施の形態の電流−電圧変換回路31において、抵抗素子Rsと供給信号生成部2との間に抵抗素子Rrを追加した場合を例として説明する。
In the third embodiment, the case where the current-voltage conversion circuit 31 includes the resistance element Rs and the differential amplifier 31A has been described as an example.
In the present embodiment, a case where a resistance element Rr is added between the resistance element Rs and the supply signal generation unit 2 in the current-voltage conversion circuit 31 of the third embodiment will be described as an example.

図8において、応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31には、抵抗素子(第1の抵抗素子)Rs、抵抗素子(第2の抵抗素子)Rr、および差動増幅器31Aが設けられている。
抵抗素子Rsと抵抗素子Rrは、供給信号生成部2と検出素子1との間に直列接続されており、正極性入力端子に入力された供給信号2Sと、逆極性入力端子に入力された印加信号1Sを差動増幅して、出力端子から応答信号3Sを出力する。
In FIG. 8, the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generator 3 is provided with a resistance element (first resistance element) Rs, a resistance element (second resistance element) Rr, and a differential amplifier 31A. Yes.
The resistance element Rs and the resistance element Rr are connected in series between the supply signal generation unit 2 and the detection element 1, and supply signal 2S input to the positive polarity input terminal and application input to the reverse polarity input terminal The signal 1S is differentially amplified and a response signal 3S is output from the output terminal.

抵抗素子Rsと供給信号生成部2の間に抵抗素子Rrが設けられた場合、被検体10のインピーダンスに応じてRsとRrの節点の電位が変動する。これにより、被検体10のインピーダンスに大小に応じて生じる、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電位変動をキャンセルでき、応答信号のオフセット変動を小さくすることができる。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、電流−電圧変換回路31の抵抗素子Rr以外の構成については、第3の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
When the resistance element Rr is provided between the resistance element Rs and the supply signal generation unit 2, the potentials at the nodes of Rs and Rr vary according to the impedance of the subject 10. As a result, the potential fluctuation of the two input terminals of the differential amplifier 31A, which occurs according to the impedance of the subject 10, can be canceled, and the offset fluctuation of the response signal can be reduced.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the resistance element Rr of the current-voltage conversion circuit 31 is the same as that of the third embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図8を参照して、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
応答信号生成部3に入力された交流正弦波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, with reference to FIG. 8, operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 4th Embodiment of this invention is demonstrated.
The AC sine wave supply signal 2S input to the response signal generator 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、リミッタアンプ41Aにより、応答信号3Sをその中心電圧を基準として増幅することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 amplifies the response signal 3S with reference to the center voltage by the limiter amplifier 41A, thereby converting the response signal 3S into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. The comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 and the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing, thereby comparing the signal to be compared 41S as waveform information. The phase difference of the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図9は、本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。
供給信号生成部2の正弦波発生回路22Aでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、正弦波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 9 is a signal waveform diagram showing the operation of the impedance detection device according to the fourth exemplary embodiment of the present invention.
In the sine wave generation circuit 22A of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a sine wave is generated with a central voltage VA, which is a substantially intermediate potential VA between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). It is output to the response signal generator 3.

この供給信号2Sが応答信号生成部3の抵抗素子Rsを介して被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、この電流変化が電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。
この際、被検体10のインピーダンスに応じて被検体10に流れる電流が変化するためRsとRrの節点の電位が変動する。これにより、被検体10のインピーダンスに大小に応じて生じる、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電位変動がキャンセルされ、応答信号3Sのオフセット変動が小さく抑制される。
When the supply signal 2S is applied to the subject 10 via the resistance element Rs of the response signal generation unit 3, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 become impedance inherent to the subject 10. Will change accordingly. In the response signal generator 3, this current change is converted into a voltage signal and output as a response signal 3S.
At this time, since the current flowing through the subject 10 changes according to the impedance of the subject 10, the potentials at the nodes of Rs and Rr vary. As a result, the potential fluctuation of the two input terminals of the differential amplifier 31A, which occurs according to the impedance of the subject 10, is canceled, and the offset fluctuation of the response signal 3S is suppressed to be small.

応答信号3Sは、波形情報検出部4のリミッタアンプ41Aで増幅されて、オフセット電位を含まない矩形波のデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
このようにして、図3と同様の信号波形を有する、被比較信号41Sおよびデジタル基準信号42Sが生成されて、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力され、これら位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが得られる。
The response signal 3S is amplified by the limiter amplifier 41A of the waveform information detection unit 4 and converted into a signal to be compared 41S composed of a rectangular wave digital signal not including an offset potential.
In this way, the compared signal 41S and the digital reference signal 42S having the same signal waveform as in FIG. 3 are generated and input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43, and the pulse width corresponding to these phase differences A detection signal 4S having a signal waveform having

このように、本実施の形態は、応答信号生成部3の電流−電圧変換回路31を、一端が供給信号生成部2に接続された抵抗素子Rrと、抵抗素子Rrと検出素子1との間に接続された抵抗素子Rsと、抵抗素子Rsの両端電圧を差動増幅することにより応答信号3Sを生成して出力する差動増幅器31Aとから構成したので、被検体10に流れる電流を、直接、電圧の応答信号3Sに変換することができる。また、リミッタアンプ41Aの入力レンジを比較的小さくすることができ、リミッタアンプの回路構成を簡素化することができる。また、被検体10のインピーダンスに大小に応じて生じる、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電位変動をキャンセルでき、応答信号3Sのオフセット変動を小さく抑制して検出精度を向上させることが可能となる。   As described above, in the present embodiment, the current-voltage conversion circuit 31 of the response signal generation unit 3 is changed between the resistance element Rr, one end of which is connected to the supply signal generation unit 2, and the resistance element Rr and the detection element 1. And the differential amplifier 31A that generates and outputs the response signal 3S by differentially amplifying the voltage across the resistor element Rs, so that the current flowing through the subject 10 is directly The voltage response signal 3S can be converted. Further, the input range of the limiter amplifier 41A can be made relatively small, and the circuit configuration of the limiter amplifier can be simplified. Further, it is possible to cancel the potential fluctuation of the two input terminals of the differential amplifier 31A, which occurs according to the impedance of the subject 10, and to suppress the offset fluctuation of the response signal 3S to improve the detection accuracy. Become.

[第5の実施の形態]
次に、図10を参照して、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図10は、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図8と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Fifth Embodiment]
Next, an impedance detection apparatus according to a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 10 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the fifth embodiment of the present invention, and the same or equivalent parts as those in FIG.

第2〜第4の実施の形態では、応答信号変換回路41をリミッタアンプ41Aで構成した場合を例として説明した。
本実施の形態では、応答信号変換回路41をしきい値回路41Bで構成した場合を例として説明する。
In the second to fourth embodiments, the case where the response signal conversion circuit 41 is configured by the limiter amplifier 41A has been described as an example.
In the present embodiment, a case where the response signal conversion circuit 41 is configured by a threshold circuit 41B will be described as an example.

図10において、波形情報検出部4の応答信号変換回路41には、しきい値回路41Bが設けられている。
しきい値回路41Bは、インバータ回路(反転論理回路)を組み合わせたバッファ回路等により実現され、応答信号生成部3からの応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt2と比較することによりデジタル信号に変換し被比較信号41Sとして出力する機能を有している。しきい値回路については、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、しきい値回路41B以外の構成については、第4の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
In FIG. 10, the response signal conversion circuit 41 of the waveform information detection unit 4 is provided with a threshold circuit 41B.
The threshold circuit 41B is realized by a buffer circuit combined with an inverter circuit (inverted logic circuit) or the like, and compares the response signal 3S from the response signal generation unit 3 with a predetermined threshold voltage Vt2 to generate a digital signal. It has a function of converting and outputting as a compared signal 41S. The threshold circuit is not required to have a unique configuration in this embodiment, and a generally known circuit may be used.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the threshold circuit 41B is the same as that of the fourth embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図10を参照して、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
応答信号生成部3に入力された交流正弦波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, with reference to FIG. 10, an operation of the impedance detection apparatus according to the fifth exemplary embodiment of the present invention will be described.
The AC sine wave supply signal 2S input to the response signal generator 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、しきい値回路41Bにより、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt1と比較することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 compares the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt1 by the threshold circuit 41B, thereby converting the response signal 3S into a signal to be compared 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. Then, the digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. A phase difference between the comparison signal 41S and the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図11は、本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。
供給信号生成部2の正弦波発生回路22Aでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、正弦波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 11 is a signal waveform diagram showing the operation of the impedance detection device according to the fifth exemplary embodiment of the present invention.
In the sine wave generation circuit 22A of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a sine wave is generated with a central voltage VA, which is a substantially intermediate potential VA between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). It is output to the response signal generator 3.

この供給信号2Sに基づいて応答信号生成部3から被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、抵抗素子Rsに表れたこれら変化が差動増幅器31Aにより増幅されて電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。   When the application signal 1S is applied from the response signal generator 3 to the subject 10 based on the supply signal 2S, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 change according to the impedance inherent in the subject 10. . In the response signal generation unit 3, these changes appearing in the resistance element Rs are amplified by the differential amplifier 31A, converted into a voltage signal, and output as a response signal 3S.

応答信号3Sは、応答信号変換回路41のしきい値回路41Bで所定のしきい値電圧Vt2と比較されて、オフセット電位を含まない矩形波のデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
このようにして、図3と同様の信号波形を有する、被比較信号41Sおよびデジタル基準信号42Sが生成されて、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力され、これら位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが得られる。
The response signal 3S is compared with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B of the response signal conversion circuit 41, and is converted into a signal to be compared 41S composed of a rectangular wave digital signal not including an offset potential.
In this way, the compared signal 41S and the digital reference signal 42S having the same signal waveform as in FIG. 3 are generated and input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43, and the pulse width corresponding to these phase differences A detection signal 4S having a signal waveform having

ここで、XOR回路43Aにより、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sを比較した場合、図11に示すように、供給信号2Sの1周期に相当する期間内に検出信号4Sのパルスが2つ発生する。また、しきい値回路41Bで用いられるしきい値電圧Vt2やしきい値回路42Cでデジタル基準信号42Sの生成に用いられるしきい値電圧Vt1の選択によっては、これらパルスのパルス幅が変化する。しかし、これらパルスは位相差としての波形情報を含んでおり、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差を検出することができる。その理由を以下に説明する。   Here, when the compared signal 41S and the digital reference signal 42S are compared by the XOR circuit 43A, as shown in FIG. 11, two pulses of the detection signal 4S are generated within a period corresponding to one cycle of the supply signal 2S. To do. Further, the pulse width of these pulses varies depending on the selection of the threshold voltage Vt2 used in the threshold circuit 41B and the threshold voltage Vt1 used in the generation of the digital reference signal 42S in the threshold circuit 42C. However, these pulses include waveform information as a phase difference, and the phase difference between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be detected. The reason will be described below.

被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φは、それぞれのパルスの立ち下がりや立ち上がりのタイミングの差で表されるが、被比較信号41Sのパルスの中心タイミングAとデジタル基準信号42Sのパルスの中心タイミングBの差でも表すことができる。
ここで、検出信号4Sの各パルスの幅をTaとTbとすると、φ=(Ta−Tb)/2と表される。このため、検出信号4Sのパルスの幅TaとTbを抽出することにより被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φを得ることができる。
したがって、しきい値回路41Bで用いられるVt2は、応答信号3Sの中心電圧を用いる必要はない。また、しきい値回路42Cでデジタル基準信号42Sの生成に用いられるしきい値電圧Vt1についても、供給信号2Sの中心電圧を用いる必要はない。
The phase difference φ between the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S is expressed by the difference in the timing of the fall or rise of each pulse, but the center timing A of the pulse of the signal to be compared 41S and the pulse of the digital reference signal 42S. It can also be expressed by the difference in the center timing B.
Here, if the width of each pulse of the detection signal 4S is Ta and Tb, φ = (Ta−Tb) / 2. Therefore, the phase difference φ between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be obtained by extracting the pulse widths Ta and Tb of the detection signal 4S.
Therefore, it is not necessary to use the center voltage of the response signal 3S as Vt2 used in the threshold circuit 41B. Further, it is not necessary to use the center voltage of the supply signal 2S as the threshold voltage Vt1 used for generating the digital reference signal 42S in the threshold circuit 42C.

このように、本実施の形態は、応答信号変換回路41を、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt1と比較することによりデジタル信号に変換し被比較信号41Sとして出力するしきい値回路41Bにより実現したので、被検体10のインピーダンスに応じた位相を有し、かつ直流のオフセット電位を含むアナログ信号の応答信号3Sを、極めて簡素な回路構成でデジタル信号の被比較信号41Sに変換できる。   As described above, in the present embodiment, the response signal conversion circuit 41 converts the response signal 3S into the digital signal by comparing the response signal 3S with the predetermined threshold voltage Vt1, and outputs the digital signal as the compared signal 41S. Thus, the analog signal response signal 3S having a phase corresponding to the impedance of the subject 10 and including a DC offset potential can be converted into a digital signal comparison signal 41S with a very simple circuit configuration.

また、検出信号4Sにおいて、供給信号2Sの1周期に相当する期間内に発生した2つのパルスの中心タイミングの差に基づいて、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差を検出することができるため、しきい値回路41Bで用いられるしきい値電圧Vt2やしきい値回路42Cでデジタル基準信号42Sの生成に用いられるしきい値電圧Vt1を自由に選択することが可能となる。
したがって、プロセス変動によりこれらしきい値電圧が変動しても、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差、すなわち被検体10のインピーダンスのリアクタンス成分に応じた位相情報を精度よく検出することが可能となる。
Further, in the detection signal 4S, the phase difference between the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S can be detected based on the difference between the center timings of two pulses generated within a period corresponding to one cycle of the supply signal 2S. Therefore, the threshold voltage Vt2 used in the threshold circuit 41B and the threshold voltage Vt1 used in the generation of the digital reference signal 42S in the threshold circuit 42C can be freely selected.
Therefore, even if these threshold voltages fluctuate due to process fluctuations, it is possible to accurately detect phase information corresponding to the phase difference between the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S, that is, the reactance component of the impedance of the subject 10. It becomes possible.

[第6の実施の形態]
次に、図12を参照して、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図12は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図10と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Sixth Embodiment]
Next, with reference to FIG. 12, an impedance detection apparatus according to a sixth embodiment of the present invention will be described. FIG. 12 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the sixth embodiment of the present invention, and the same or equivalent parts as those in FIG.

第1〜第5の実施の形態では、波形情報検出部4において、応答信号生成部3からの応答信号3Sに基づいて、被検体10のインピーダンスのリアクタンス成分を示す位相情報を検出する場合を例として説明した。
本実施の形態では、波形情報検出部4において、応答信号生成部3からの応答信号3Sに基づいて、被検体10のインピーダンスのリアクタンス成分を示す位相情報と抵抗成分を示す振幅情報の両方を検出する場合を例として説明する。
In the first to fifth embodiments, the waveform information detection unit 4 detects phase information indicating the reactance component of the impedance of the subject 10 based on the response signal 3S from the response signal generation unit 3 as an example. As explained.
In the present embodiment, the waveform information detection unit 4 detects both the phase information indicating the reactance component of the impedance of the subject 10 and the amplitude information indicating the resistance component based on the response signal 3S from the response signal generation unit 3. An example of the case will be described.

図12において、波形情報検出部4には、しきい値回路44Aからなるパルス変換回路44が設けられている。
パルス変換回路44のしきい値回路44Aは、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt3と比較することにより、応答信号3Sから波形情報として応答信号3Sの電圧変化を検出し、この電圧変化に基づいて応答信号3Sの大きさ、すなわち被検体10のインピーダンスの抵抗成分に応じたパルス幅を有する矩形波からなる検出信号(第2の検出信号)4SBを生成して出力する機能を有している。しきい値回路については、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、パルス変換回路44以外の構成については、第5の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
In FIG. 12, the waveform information detection unit 4 is provided with a pulse conversion circuit 44 including a threshold circuit 44A.
The threshold value circuit 44A of the pulse conversion circuit 44 detects the voltage change of the response signal 3S as waveform information from the response signal 3S by comparing the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt3. Based on this, the detection signal (second detection signal) 4SB having a pulse width corresponding to the magnitude of the response signal 3S, that is, the resistance component of the impedance of the subject 10, is generated and output. Yes. The threshold circuit is not required to have a unique configuration in this embodiment, and a generally known circuit may be used.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the pulse conversion circuit 44 is the same as that of the fifth embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図12を参照して、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
応答信号生成部3に入力された交流正弦波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the sixth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC sine wave supply signal 2S input to the response signal generator 3 is applied to the detection element 1 as the application signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、しきい値回路41Bにより、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt2と比較することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4SAを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 compares the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B, thereby converting the response signal 3S into a compared signal 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. Then, the digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. A phase difference between the comparison signal 41S and the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4SA composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

また、波形情報検出部4は、しきい値回路44Aにより、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt3と比較することにより、波形情報として応答信号3Sの電圧変化として、応答信号3Sの信号電圧としきい値電圧Vt3との大小関係を検出し、当該電圧変化ここでは大小関係に基づいて応答信号3Sの大きさに応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4SBを生成して出力する。   Further, the waveform information detection unit 4 compares the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt3 by the threshold circuit 44A, and as a voltage change of the response signal 3S as waveform information, the signal voltage of the response signal 3S. And the threshold voltage Vt3 are detected, and a detection signal 4SB composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the magnitude of the response signal 3S is generated and output based on the voltage change, here the magnitude relationship.

図13は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。なお、被比較信号41S、デジタル基準信号42S、および検出信号4SAについては、図11と同様であり、ここでの詳細な説明は省略する。
供給信号生成部2の正弦波発生回路22Aでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、正弦波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 13: is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. Note that the signal to be compared 41S, the digital reference signal 42S, and the detection signal 4SA are the same as in FIG. 11, and a detailed description thereof is omitted here.
In the sine wave generation circuit 22A of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a sine wave is generated with a central voltage VA, which is a substantially intermediate potential VA between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). It is output to the response signal generator 3.

この供給信号2Sに基づいて応答信号生成部3から被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、抵抗素子Rsに表れたこれら変化が差動増幅器31Aにより増幅されて電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。   When the application signal 1S is applied from the response signal generator 3 to the subject 10 based on the supply signal 2S, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 change according to the impedance inherent in the subject 10. . In the response signal generation unit 3, these changes appearing in the resistance element Rs are amplified by the differential amplifier 31A, converted into a voltage signal, and output as a response signal 3S.

この際、被検体10に流れる電流をIfとすると、抵抗素子Rsに流れる電流もIfとなる。その結果、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電圧差はRs・Ifとなる。したがって、差動増幅器31Aの増幅率をAとするとその出力電圧はV=A・Rs・Ifで求められ、被検体10に流れる電流を、直接。電圧信号からなる応答信号3Sに変換することができる。
また、電流−電圧変換回路31に差動増幅器31Aを用いているため、応答信号3Sの基準電位は、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位となるとともに、被検体10の抵抗成分が所定値より大きい場合は中間電位より低い電位となり、抵抗成分が上記所定値より小さい場合は中間電位より高い電位となる。
At this time, if the current flowing through the subject 10 is If, the current flowing through the resistance element Rs is also If. As a result, the voltage difference between the two input terminals of the differential amplifier 31A is Rs · If. Therefore, when the amplification factor of the differential amplifier 31A is A, the output voltage is obtained by V = A · Rs · If, and the current flowing through the subject 10 is directly obtained. The response signal 3S can be converted to a voltage signal.
In addition, since the differential amplifier 31A is used for the current-voltage conversion circuit 31, the reference potential of the response signal 3S is an intermediate potential between the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND). When the resistance component of the subject 10 is larger than a predetermined value, the potential is lower than the intermediate potential, and when the resistance component is smaller than the predetermined value, the potential is higher than the intermediate potential.

この後、応答信号3Sは、パルス変換回路44のしきい値回路44Aで所定のしきい値電圧Vt3と比較されて、応答信号3Sの振幅値に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが得られる。
したがって、被検体10の抵抗成分が所定値より小さい場合、その応答信号3Sの大きさ、ここでは応答信号3Sの上側ピーク電圧から接地電位(0V=GND)までの振幅Aに対応したパルス幅TAを有する検出信号4Sが生成される。また、被検体10の抵抗成分が所定値より大きい場合、その応答信号3Sの大きさ、ここでは応答信号3Sの上側ピーク電圧から接地電位(0V=GND)までの振幅Bに対応したパルス幅TBを有する検出信号4Sが生成される。
Thereafter, the response signal 3S is compared with a predetermined threshold voltage Vt3 by the threshold circuit 44A of the pulse conversion circuit 44, and a detection signal 4S having a signal waveform having a pulse width corresponding to the amplitude value of the response signal 3S. Is obtained.
Therefore, when the resistance component of the subject 10 is smaller than the predetermined value, the pulse width TA corresponding to the magnitude of the response signal 3S, here, the amplitude A from the upper peak voltage of the response signal 3S to the ground potential (0V = GND). A detection signal 4S is generated. When the resistance component of the subject 10 is larger than a predetermined value, the pulse width TB corresponding to the magnitude of the response signal 3S, here, the amplitude B from the upper peak voltage of the response signal 3S to the ground potential (0V = GND). A detection signal 4S is generated.

このように、本実施の形態は、波形情報検出部4に、しきい値回路44Aからなるパルス変換回路44を設け、応答信号3を所定のしきい値電圧Vt3と比較することにより、応答信号3Sから波形情報として応答信号3Sの電圧変化を検出し、この電圧変化に基づいて応答信号3Sの大きさ、すなわち被検体10のインピーダンスの抵抗成分に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4SBを生成して出力するようにしたので、被検体10のインピーダンスの抵抗成分とリアクタンス成分を検出する際、検出素子1、供給信号生成部2、および応答信号生成部3を兼用することができ、極めて簡素な回路構成で、被検体10のインピーダンスの抵抗成分とリアクタンス成分を検出することができる。
これにより、被検体の材料や材質を選択してその抵抗成分およびリアクタンス成分を個別に調整することが極めて難しくなり、人工指による不正認識行為に対して高いセキュリティが得られる。
As described above, in this embodiment, the waveform information detector 4 is provided with the pulse conversion circuit 44 including the threshold circuit 44A, and the response signal 3 is compared with the predetermined threshold voltage Vt3. A detection signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the magnitude of the response signal 3S, that is, the resistance component of the impedance of the subject 10 based on the voltage change. Since 4SB is generated and output, when the resistance component and reactance component of the impedance of the subject 10 are detected, the detection element 1, the supply signal generation unit 2, and the response signal generation unit 3 can be combined. The resistance component and reactance component of the impedance of the subject 10 can be detected with an extremely simple circuit configuration.
This makes it extremely difficult to select the material or material of the subject and individually adjust the resistance component and the reactance component, and high security is obtained against fraud recognition by an artificial finger.

また、本実施の形態では、パルス変換回路44としてしきい値回路44Aを用いたので、プロセス変動によりVt3が変動しても、応答信号3Sの振幅と検出信号4Sのパルス幅との対応関係は変化しないことから、精度よく振幅情報すなわち抵抗成分を検出できる。   In the present embodiment, since the threshold circuit 44A is used as the pulse conversion circuit 44, even if Vt3 varies due to process variations, the correspondence between the amplitude of the response signal 3S and the pulse width of the detection signal 4S is Since it does not change, amplitude information, that is, a resistance component can be detected with high accuracy.

また、本実施の形態では、電流−電圧変換回路31で抵抗素子Rsと供給信号生成部2の間に抵抗素子Rrが設け、抵抗素子Rsの両端電圧を差動増幅器31Aで増幅することにより応答信号3Sを生成するようにしたので、被検体10のインピーダンスに大小に応じて生じる、差動増幅器31Aの2つの入力端子の電位変動をキャンセルでき、応答信号のオフセット変動を小さくすることができる。これにより、被検体10のインピーダンスが変化しても応答信号3Sを常にしきい値電圧Vt3と交差する電圧範囲に調整することができる。   In the present embodiment, the current-voltage conversion circuit 31 is provided with a resistance element Rr between the resistance element Rs and the supply signal generation unit 2, and a response is obtained by amplifying the voltage across the resistance element Rs with the differential amplifier 31A. Since the signal 3S is generated, the potential fluctuation of the two input terminals of the differential amplifier 31A, which occurs according to the impedance of the subject 10, can be canceled, and the offset fluctuation of the response signal can be reduced. Thereby, even if the impedance of the subject 10 changes, the response signal 3S can always be adjusted to a voltage range that intersects the threshold voltage Vt3.

なお、本実施の形態では、波形情報検出部4に、しきい値回路44Aからなるパルス変換回路44を設けて、被検体10のインピーダンスの抵抗成分に応じたパルス幅を有する検出信号4SBを生成して出力する場合を例として説明したが、しきい値回路41Bをパルス変換回路44と見なし、しきい値回路41Bからの被比較信号41Sを検出信号4SBとして出力してもよい。   In the present embodiment, the waveform information detection unit 4 is provided with a pulse conversion circuit 44 including a threshold circuit 44A to generate a detection signal 4SB having a pulse width corresponding to the resistance component of the impedance of the subject 10. However, the threshold value circuit 41B may be regarded as the pulse conversion circuit 44, and the compared signal 41S from the threshold value circuit 41B may be output as the detection signal 4SB.

図14は、本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図であり、図12と比較して、しきい値回路44Aをしきい値回路41Bで兼用している点が異なる。
第5の実施の形態で説明したように、しきい値回路41Bは、しきい値回路44Aと同等の機能を有しており、被比較信号41Sは被検体10のインピーダンスの抵抗成分に応じたパルス幅を有する矩形波と見なせる。
したがって、しきい値回路41Bの出力を検出信号4SBとして出力する配線や出力端子を設けるだけで、しきい値回路44Aを省くことができ、さらに簡素な回路構成で、被検体10のインピーダンスの抵抗成分とリアクタンス成分を検出することができる。
FIG. 14 is a block diagram showing another configuration of the impedance detection device according to the sixth exemplary embodiment of the present invention. Compared with FIG. 12, the threshold circuit 44A is also used as the threshold circuit 41B. Is different.
As described in the fifth embodiment, the threshold circuit 41B has a function equivalent to that of the threshold circuit 44A, and the signal to be compared 41S corresponds to the resistance component of the impedance of the subject 10. It can be regarded as a rectangular wave having a pulse width.
Therefore, the threshold circuit 44A can be omitted only by providing a wiring and an output terminal for outputting the output of the threshold circuit 41B as the detection signal 4SB, and the impedance resistance of the subject 10 can be reduced with a simple circuit configuration. Components and reactance components can be detected.

[第7の実施の形態]
次に、図15を参照して、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図15は、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図10と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Seventh Embodiment]
Next, with reference to FIG. 15, an impedance detection apparatus according to a seventh embodiment of the present invention will be described. FIG. 15 is a block diagram showing a configuration of an impedance detection apparatus according to the seventh embodiment of the present invention, and the same or equivalent parts as those in FIG.

第5の実施の形態では、電流−電圧変換回路31を抵抗素子Rs、抵抗素子Rr、および差動増幅器31Aで構成し、供給信号2Sとして所定周波数の正弦波を用いた場合を例として説明した。
本実施の形態では、第5の実施の形態において、供給信号2Sとして三角波を用いた場合を例として説明する。
In the fifth embodiment, the current-voltage conversion circuit 31 is configured by the resistance element Rs, the resistance element Rr, and the differential amplifier 31A, and the case where a sine wave having a predetermined frequency is used as the supply signal 2S has been described as an example. .
In the present embodiment, a case where a triangular wave is used as the supply signal 2S in the fifth embodiment will be described as an example.

図15において、供給信号生成部2には、波形整形回路22として三角波発生回路22Bが設けられている。三角波発生回路22Bは、図1の波形整形回路22の具体例であり、周波数発生回路21からのクロック信号21Sに基づき三角波からなる交流の供給信号2Sを生成して応答信号生成部3へ出力する機能を有している。通常、正弦波は、例えばD/A変換器を用いて生成したり、三角波の波形をダイオード素子などを用いて鈍らせて生成する。したがって、三角波の生成は正弦波の生成よりも回路構成を簡素化することができる。三角波発生回路22Bの具体例については、公知の回路を用いればよい。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、三角波発生回路22B以外の構成については、第5の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
In FIG. 15, the supply signal generation unit 2 is provided with a triangular wave generation circuit 22 </ b> B as the waveform shaping circuit 22. The triangular wave generation circuit 22B is a specific example of the waveform shaping circuit 22 in FIG. 1, and generates an alternating supply signal 2S composed of a triangular wave based on the clock signal 21S from the frequency generation circuit 21 and outputs it to the response signal generation unit 3. It has a function. Usually, the sine wave is generated using, for example, a D / A converter, or the waveform of a triangular wave is generated using a diode element or the like. Therefore, the generation of the triangular wave can simplify the circuit configuration more than the generation of the sine wave. As a specific example of the triangular wave generation circuit 22B, a known circuit may be used.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the triangular wave generation circuit 22B is the same as that of the fifth embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図15を参照して、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
三角波発生回路22Bから出力されて応答信号生成部3に入力された交流三角波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the seventh embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC triangular wave supply signal 2S output from the triangular wave generation circuit 22B and input to the response signal generation unit 3 is applied to the detection element 1 as the applied signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. Is done. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、しきい値回路41Bにより、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt2と比較することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 compares the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B, thereby converting the response signal 3S into a compared signal 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. Then, the digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. A phase difference between the comparison signal 41S and the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図16は、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。図17は、本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。ここでは、供給信号2Sが三角波からなる場合を例として説明する。
供給信号生成部2の三角波発生回路22Bでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、三角波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 16 is a signal waveform diagram showing an operation of the impedance detection device according to the seventh exemplary embodiment of the present invention. FIG. 17 is a signal waveform diagram showing an operation of the impedance detection device according to the seventh exemplary embodiment of the present invention. Here, a case where the supply signal 2S is a triangular wave will be described as an example.
In the triangular wave generation circuit 22B of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a triangular wave is generated with a potential VA that is approximately in the middle of the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) as a center voltage. It is output to the generation unit 3.

ここで、図16に示すように、被検体10のインピーダンスが容量成分のみの場合、三角波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は三角波の微分応答波形となり、矩形波に近い波形を有する応答信号3Scが得られる。
また、被検体10のインピーダンスが抵抗成分のみの場合、三角波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は三角波と同じ波形の応答波形となり、元の三角波の波形を有する応答信号3Srが得られる。
Here, as shown in FIG. 16, when the impedance of the subject 10 is only a capacitive component, when a supply signal 2S consisting of a triangular wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance becomes a differential response waveform of the triangular wave, and is rectangular. A response signal 3Sc having a waveform close to a wave is obtained.
Further, when the impedance of the subject 10 is only a resistance component, when a supply signal 2S composed of a triangular wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance becomes a response waveform having the same waveform as the triangular wave, and has the original triangular wave waveform. A response signal 3Sr is obtained.

したがって、被検体10のインピーダンスが容量成分と抵抗成分を持つ場合、三角波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は、三角波の微分応答と元の三角波とが合成された波形となる。したがって、応答信号3Sは、応答信号3Scと応答信号3Srが合成された波形、すなわち、三角波の上昇期間と下降期間とで、微分応答分だけ電圧のズレを有する信号波形となる。   Therefore, when the impedance of the subject 10 has a capacitance component and a resistance component, when a supply signal 2S consisting of a triangular wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance is combined with the differential response of the triangular wave and the original triangular wave. Waveform. Therefore, the response signal 3S has a waveform obtained by synthesizing the response signal 3Sc and the response signal 3Sr, that is, a signal waveform having a voltage deviation corresponding to the differential response between the rising period and the falling period of the triangular wave.

図17に示すように、被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10のインピーダンスの容量成分に応じて応答信号3Sの振幅の大きさが変化する。すなわち容量成分が大きい場合、インピーダンスに流れる電流が増加して応答信号3Sの振幅が大きくなり、容量成分が小さい場合、インピーダンスに流れる電流が減少して応答信号3Sの振幅が小さくなる。
応答信号3Sは、応答信号変換回路41のしきい値回路41Bで所定のしきい値電圧Vt2と比較されて、その振幅の大きさに応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
As shown in FIG. 17, when the application signal 1S is applied to the subject 10, the magnitude of the amplitude of the response signal 3S changes according to the capacitance component of the impedance of the subject 10. That is, when the capacitance component is large, the current flowing through the impedance increases and the amplitude of the response signal 3S increases. When the capacitance component is small, the current flowing through the impedance decreases and the amplitude of the response signal 3S decreases.
The response signal 3S is compared with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B of the response signal conversion circuit 41, and is compared to a signal 41S to be compared which is a digital signal having a pulse width corresponding to the amplitude. Converted.

また、供給信号2Sは、しきい値回路42Cにより、しきい値電圧Vt1と比較されてデジタル基準信号42Sに変換される。
これら被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sは、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力されて位相差が検出され、その位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが出力される。
Further, the supply signal 2S is compared with the threshold voltage Vt1 by the threshold circuit 42C and converted into the digital reference signal 42S.
The signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S are input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43 to detect a phase difference, and a detection signal 4S having a signal waveform having a pulse width corresponding to the phase difference is output. The

ここで、XOR回路43Aにより、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sを比較した場合、図17に示すように、供給信号2Sの1周期に相当する期間内に検出信号4Sのパルスが2つ発生する。また、しきい値回路41Bで用いられるしきい値電圧Vt2やしきい値回路42Cでデジタル基準信号42Sの生成に用いられるしきい値電圧Vt1の選択によっては、これらパルスのパルス幅が変化する。しかし、これらパルスは位相差としての波形情報を含んでおり、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差を検出することができる。その理由を以下に説明する。   Here, when the compared signal 41S and the digital reference signal 42S are compared by the XOR circuit 43A, as shown in FIG. 17, two pulses of the detection signal 4S are generated within a period corresponding to one cycle of the supply signal 2S. To do. Further, the pulse width of these pulses varies depending on the selection of the threshold voltage Vt2 used in the threshold circuit 41B and the threshold voltage Vt1 used in the generation of the digital reference signal 42S in the threshold circuit 42C. However, these pulses include waveform information as a phase difference, and the phase difference between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be detected. The reason will be described below.

被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φは、それぞれのパルスの立ち下がりや立ち上がりのタイミングの差で表されるが、被比較信号41Sのパルスの中心タイミングAとデジタル基準信号42Sのパルスの中心タイミングBの差でも表すことができる。
ここで、検出信号4Sの各パルスの幅をTaとTbとすると、φ=(Ta−Tb)/2と表される。このため、検出信号4Sのパルスの幅TaとTbを抽出することにより被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φを得ることができる。
The phase difference φ between the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S is expressed by the difference in the timing of the fall or rise of each pulse, but the center timing A of the pulse of the signal to be compared 41S and the pulse of the digital reference signal 42S. It can also be expressed by the difference in the center timing B.
Here, if the width of each pulse of the detection signal 4S is Ta and Tb, φ = (Ta−Tb) / 2. Therefore, the phase difference φ between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be obtained by extracting the pulse widths Ta and Tb of the detection signal 4S.

この際、容量成分が大きい場合、被比較信号41Sの中心が中心タイミングA’へ変化し、位相がΔφだけ進んだことになる。このため、Tbが短くなり、結果として位相差φが大きくなる。したがって、三角波からなる供給信号2Sを用いて、被検体10のインピーダンスの容量成分の変化に伴う位相差の変化を検出することが可能となる。また、半導体プロセス変動等によりしきい値Vt1,Vt2の設定値にばらつきが生じても、上記位相差φを用いることにより検出信号4Sの位相情報と被検体10のインピーダンスとの大小関係は維持されるため、位相情報すなわち位相差φの変化で被検体10のインピーダンスの容量成分の変化を捉えることができる。   At this time, if the capacitance component is large, the center of the signal to be compared 41S changes to the center timing A ', and the phase has advanced by Δφ. For this reason, Tb is shortened, and as a result, the phase difference φ is increased. Therefore, it is possible to detect a change in the phase difference accompanying a change in the capacitance component of the impedance of the subject 10 using the supply signal 2S formed of a triangular wave. Even if the set values of the threshold values Vt1 and Vt2 vary due to semiconductor process fluctuations, the magnitude relationship between the phase information of the detection signal 4S and the impedance of the subject 10 is maintained by using the phase difference φ. Therefore, the change in the capacitance component of the impedance of the subject 10 can be captured by the change in the phase information, that is, the phase difference φ.

このように、本実施の形態は、波形整形回路22を三角波発生回路22Bで構成したので、正弦波を用いる場合と比較して供給信号2Sの生成に要する回路を簡略化でき、全体として極めて簡素な回路で、プロセス変動等の要因による検出精度の劣化を抑制でき、被検体10のインピーダンスを高精度で検出することが可能となる。   Thus, in this embodiment, since the waveform shaping circuit 22 is configured by the triangular wave generation circuit 22B, the circuit required for generating the supply signal 2S can be simplified as compared with the case where a sine wave is used, and the overall configuration is extremely simple. With a simple circuit, it is possible to suppress deterioration in detection accuracy due to factors such as process fluctuations, and it is possible to detect the impedance of the subject 10 with high accuracy.

[第8の実施の形態]
次に、図18を参照して、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図18は、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図15と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Eighth Embodiment]
Next, with reference to FIG. 18, the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 18 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the eighth embodiment of the present invention. The same reference numerals are given to the same or equivalent parts as those in FIG.

第7の実施の形態では、第5の実施の形態において、供給信号2Sとして三角波を用いた場合を例として説明した。
本実施の形態では、第7の実施の形態において、応答信号生成部3と応答信号変換回路41との間にローパスフィルタ45を設けた場合を例として説明する。
In the seventh embodiment, the case where a triangular wave is used as the supply signal 2S in the fifth embodiment has been described as an example.
In the present embodiment, a case where the low-pass filter 45 is provided between the response signal generation unit 3 and the response signal conversion circuit 41 in the seventh embodiment will be described as an example.

図18において、波形情報検出部4には、応答信号生成部3と応答信号変換回路41との間にローパスフィルタ(LPF)45が設けられている。
ローパスフィルタ45は、三角波からなる応答信号3Sに含まれる高周波成分を除去する機能を有している。ローパスフィルタについては、本実施の形態に独特の構成は必要なく、一般的な公知の回路を用いればよい。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、ローパスフィルタ45以外の構成については、第7の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
In FIG. 18, the waveform information detection unit 4 is provided with a low-pass filter (LPF) 45 between the response signal generation unit 3 and the response signal conversion circuit 41.
The low-pass filter 45 has a function of removing a high-frequency component contained in the response signal 3S composed of a triangular wave. The low-pass filter does not require a unique configuration in the present embodiment, and a general known circuit may be used.
In the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the low-pass filter 45 is the same as that of the seventh embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図18を参照して、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
三角波発生回路22Bから出力されて応答信号生成部3に入力された交流三角波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the eighth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC triangular wave supply signal 2S output from the triangular wave generation circuit 22B and input to the response signal generation unit 3 is applied to the detection element 1 as the applied signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. Is done. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、ローパスフィルタ45により、三角波からなる応答信号3Sに含まれる高周波成分を除去し、しきい値回路41Bにより、ローパスフィルタ45からの応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt2と比較する。これにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 removes a high-frequency component contained in the response signal 3S composed of a triangular wave by the low-pass filter 45, and outputs the response signal 3S from the low-pass filter 45 to a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B. Compare with As a result, the response signal 3S is converted into a compared signal 41S composed of a digital signal indicating a voltage change, and the compared signal 41S from the response signal converting circuit 41 and the digital reference signal generating circuit 42 are converted by the digital phase comparison circuit 43. By comparing the phase with the digital reference signal 42S by digital signal processing, the phase difference between the signal 41S to be compared and the supply signal 2S is detected as waveform information, and the digital signal has a pulse width corresponding to the phase difference. A detection signal 4S is generated and output.

図19は、本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。
供給信号生成部2の三角波発生回路22Bでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、三角波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 19 is a signal waveform diagram showing an operation of the impedance detection device according to the eighth exemplary embodiment of the present invention.
In the triangular wave generation circuit 22B of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a triangular wave is generated with a potential VA that is approximately in the middle of the circuit operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) as a center voltage. It is output to the generation unit 3.

この供給信号2Sに基づいて応答信号生成部3から被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10に流れる電流の位相および振幅が、被検体10に固有のインピーダンスに応じて変化する。応答信号生成部3において、抵抗素子Rsに表れたこれら変化が差動増幅器31Aにより増幅されて電圧信号に変換され、応答信号3Sとして出力される。
この後、応答信号3Sは、ローパスフィルタ45で高周波成分が除去された後、パルス変換回路44のしきい値回路44Aで所定のしきい値電圧Vt3と比較されて、応答信号3Sの振幅値に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが得られる。
When the application signal 1S is applied from the response signal generator 3 to the subject 10 based on the supply signal 2S, the phase and amplitude of the current flowing through the subject 10 change according to the impedance inherent in the subject 10. . In the response signal generation unit 3, these changes appearing in the resistance element Rs are amplified by the differential amplifier 31A, converted into a voltage signal, and output as a response signal 3S.
Thereafter, the high-frequency component is removed from the response signal 3S by the low-pass filter 45, and then compared with a predetermined threshold voltage Vt3 by the threshold circuit 44A of the pulse conversion circuit 44 to obtain the amplitude value of the response signal 3S. A detection signal 4S having a signal waveform having a corresponding pulse width is obtained.

このように、本実施の形態は、応答信号生成部3と応答信号変換回路41との間にローパスフィルタ45を設け、三角波からなる応答信号3Sに含まれる高周波成分を除去した後、波形情報を検出するようにしたので、波形情報検出部4Aにおける波形情報の検出精度を高めることができる。   As described above, in the present embodiment, the low-pass filter 45 is provided between the response signal generation unit 3 and the response signal conversion circuit 41, and after removing the high-frequency component contained in the response signal 3S composed of a triangular wave, the waveform information is obtained. Since it is made to detect, the detection accuracy of the waveform information in the waveform information detector 4A can be improved.

[第9の実施の形態]
次に、図20を参照して、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置について説明する。図20は、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図であり、前述した図10と同じまたは同等部分には同一符号を付してある。
[Ninth Embodiment]
Next, with reference to FIG. 20, the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention is demonstrated. FIG. 20 is a block diagram showing the configuration of the impedance detection apparatus according to the ninth embodiment of the present invention. The same reference numerals are given to the same or equivalent parts as those in FIG.

第5の実施の形態では、電流−電圧変換回路31を抵抗素子Rs、抵抗素子Rr、および差動増幅器31Aで構成し、供給信号2Sとして所定周波数の正弦波を用いた場合を例として説明した。
本実施の形態では、第5の実施の形態において、供給信号2Sとして台形波を用いた場合を例として説明する。
In the fifth embodiment, the current-voltage conversion circuit 31 is configured by the resistance element Rs, the resistance element Rr, and the differential amplifier 31A, and the case where a sine wave having a predetermined frequency is used as the supply signal 2S has been described as an example. .
In the present embodiment, a case where a trapezoidal wave is used as the supply signal 2S in the fifth embodiment will be described as an example.

図20において、供給信号生成部2には、波形整形回路22として台形波発生回路22Cが設けられている。台形波発生回路22Cは、図1の波形整形回路22の具体例であり、周波数発生回路21からのクロック信号21Sに基づき台形波からなる交流の供給信号2Sを生成して応答信号生成部3へ出力する機能を有している。なお、台形波発生回路22Cは、一般的な公知の回路を用いればよく、正弦波発生回路と比較して回路構成を簡素化できる。また、台形波形によれば、三角波と比較して高周波成分が少なく正弦波に近い波形を生成でき、被検体10のインピーダンスをより正確に検出できる。
なお、本実施の形態にかかるインピーダンス検出装置において、台形波発生回路22C以外の構成については、第5の実施の形態と同等であり、ここでの詳細な説明は省略する。
In FIG. 20, the supply signal generation unit 2 is provided with a trapezoidal wave generation circuit 22 </ b> C as the waveform shaping circuit 22. The trapezoidal wave generation circuit 22C is a specific example of the waveform shaping circuit 22 of FIG. 1, and generates an alternating supply signal 2S composed of a trapezoidal wave based on the clock signal 21S from the frequency generation circuit 21 and supplies it to the response signal generation unit 3. It has a function to output. The trapezoidal wave generating circuit 22C may be a general known circuit, and the circuit configuration can be simplified as compared with the sine wave generating circuit. In addition, according to the trapezoidal waveform, it is possible to generate a waveform with less high-frequency components and close to a sine wave compared to a triangular wave, and the impedance of the subject 10 can be detected more accurately.
Note that, in the impedance detection apparatus according to the present embodiment, the configuration other than the trapezoidal wave generation circuit 22C is the same as that of the fifth embodiment, and detailed description thereof is omitted here.

次に、図20を参照して、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作について説明する。
台形波発生回路22Cから出力されて応答信号生成部3に入力された交流台形波の供給信号2Sは、電流−電圧変換回路31の抵抗素子RrおよびRsを介して、印加信号1Sとして検出素子1に印加される。この際、被検体10のインピーダンスに応じて印加信号1Sの電流が変化し、その電流変化が抵抗素子Rsの両端に発生する。差動増幅器31Aは、この抵抗素子Rsの両端の電位差を差動増幅することにより、被検体10に流れる電流の位相情報を電圧信号に変換し、応答信号3Sとして出力する。
Next, the operation of the impedance detection apparatus according to the ninth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
The AC trapezoidal wave supply signal 2S output from the trapezoidal wave generation circuit 22C and input to the response signal generation unit 3 is detected as the applied signal 1S via the resistance elements Rr and Rs of the current-voltage conversion circuit 31. To be applied. At this time, the current of the applied signal 1S changes according to the impedance of the subject 10, and the current change occurs at both ends of the resistance element Rs. The differential amplifier 31A differentially amplifies the potential difference between both ends of the resistance element Rs, thereby converting the phase information of the current flowing through the subject 10 into a voltage signal and outputting it as a response signal 3S.

波形情報検出部4は、しきい値回路41Bにより、応答信号3Sを所定のしきい値電圧Vt2と比較することにより、当該応答信号3Sの電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換し、デジタル位相比較回路43により、応答信号変換回路41からの被比較信号41Sとデジタル基準信号発生回路42からのデジタル基準信号42Sとの位相をデジタル信号処理で比較することにより、波形情報として被比較信号41Sと供給信号2Sの位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる検出信号4Sを生成して出力する。   The waveform information detection unit 4 compares the response signal 3S with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B, thereby converting the response signal 3S into a compared signal 41S composed of a digital signal indicating the voltage change of the response signal 3S. Then, the digital phase comparison circuit 43 compares the phase of the signal to be compared 41S from the response signal conversion circuit 41 with the phase of the digital reference signal 42S from the digital reference signal generation circuit 42 by digital signal processing. A phase difference between the comparison signal 41S and the supply signal 2S is detected, and a detection signal 4S composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the phase difference is generated and output.

図21は、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。図22は、本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す他の信号波形図である。ここでは、供給信号2Sが台形波からなる場合を例として説明する。
供給信号生成部2の台形波発生回路22Cでは、回路の動作電源電位VDDと接地電位(0V=GND)のほぼ中間の電位VAを中心電圧とした、台形波からなる供給信号2Sが生成され、応答信号生成部3へ出力される。
FIG. 21 is a signal waveform diagram showing an operation of the impedance detection device according to the ninth exemplary embodiment of the present invention. FIG. 22 is another signal waveform diagram showing the operation of the impedance detection apparatus according to the ninth exemplary embodiment of the present invention. Here, a case where the supply signal 2S is a trapezoidal wave will be described as an example.
In the trapezoidal wave generation circuit 22C of the supply signal generation unit 2, a supply signal 2S composed of a trapezoidal wave is generated with a central voltage VA which is approximately between the operation power supply potential VDD and the ground potential (0V = GND) of the circuit, It is output to the response signal generator 3.

ここで、図21に示すように、被検体10のインピーダンスが容量成分のみの場合、台形波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は台形波の微分応答波形となり、矩形の階段波形を有する応答信号3Scが得られる。
また、被検体10のインピーダンスが抵抗成分のみの場合、台形波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は台形波と同じ波形の応答波形となり、元の台形波の波形を有する応答信号3Srが得られる。
Here, as shown in FIG. 21, when the impedance of the subject 10 is only a capacitive component, when a supply signal 2S consisting of a trapezoidal wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance becomes a trapezoidal differential response waveform. A response signal 3Sc having a rectangular staircase waveform is obtained.
Further, when the impedance of the subject 10 is only a resistance component, when a supply signal 2S composed of a trapezoidal wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance becomes a response waveform having the same waveform as the trapezoidal wave, and the original trapezoidal wave A response signal 3Sr having a waveform is obtained.

したがって、被検体10のインピーダンスが容量成分と抵抗成分を持つ場合、台形波からなる供給信号2Sを被検体10へ入力すると、そのインピーダンスに流れる電流は、台形波の微分応答と元の台形波とが合成された波形となる。したがって、応答信号3Sは、応答信号3Scと応答信号3Srが合成された波形、すなわち、台形波の上昇期間、平坦区間、および下降期間で、微分応答分だけ電圧のズレを有する信号波形となる。   Therefore, when the impedance of the subject 10 has a capacitance component and a resistance component, when the supply signal 2S composed of a trapezoidal wave is input to the subject 10, the current flowing through the impedance is changed to the differential response of the trapezoidal wave and the original trapezoidal wave. Becomes a synthesized waveform. Therefore, the response signal 3S has a waveform obtained by synthesizing the response signal 3Sc and the response signal 3Sr, that is, a signal waveform having a voltage deviation corresponding to the differential response in the rising, flat, and falling periods of the trapezoidal wave.

図22に示すように、被検体10に印加信号1Sが印加されると、被検体10のインピーダンスの容量成分に応じて応答信号3Sの振幅の大きさが変化する。すなわち容量成分が大きい場合、インピーダンスに流れる電流が増加して応答信号3Sの振幅が大きくなり、容量成分が小さい場合、インピーダンスに流れる電流が減少して応答信号3Sの振幅が小さくなる。
応答信号3Sは、応答信号変換回路41のしきい値回路41Bで所定のしきい値電圧Vt2と比較されて、その振幅の大きさに応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる被比較信号41Sに変換される。
As shown in FIG. 22, when the application signal 1S is applied to the subject 10, the magnitude of the amplitude of the response signal 3S changes according to the capacitance component of the impedance of the subject 10. That is, when the capacitance component is large, the current flowing through the impedance increases and the amplitude of the response signal 3S increases. When the capacitance component is small, the current flowing through the impedance decreases and the amplitude of the response signal 3S decreases.
The response signal 3S is compared with a predetermined threshold voltage Vt2 by the threshold circuit 41B of the response signal conversion circuit 41, and is compared to a signal 41S to be compared which is a digital signal having a pulse width corresponding to the amplitude. Converted.

また、供給信号2Sは、しきい値回路42Cにより、しきい値電圧Vt1と比較されてデジタル基準信号42Sに変換される。
これら被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sは、デジタル位相比較回路43のXOR回路43Aに入力されて位相差が検出され、その位相差に対応したパルス幅を有する信号波形の検出信号4Sが出力される。
Further, the supply signal 2S is compared with the threshold voltage Vt1 by the threshold circuit 42C and converted into the digital reference signal 42S.
The signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S are input to the XOR circuit 43A of the digital phase comparison circuit 43 to detect a phase difference, and a detection signal 4S having a signal waveform having a pulse width corresponding to the phase difference is output. The

ここで、XOR回路43Aにより、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sを比較した場合、図22に示すように、供給信号2Sの1周期に相当する期間内に検出信号4Sのパルスが2つ発生する。また、しきい値回路41Bで用いられるしきい値電圧Vt2やしきい値回路42Cでデジタル基準信号42Sの生成に用いられるしきい値電圧Vt1の選択によっては、これらパルスのパルス幅が変化する。しかし、これらパルスは位相差としての波形情報を含んでおり、被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差を検出することができる。その理由を以下に説明する。   Here, when the compared signal 41S and the digital reference signal 42S are compared by the XOR circuit 43A, as shown in FIG. 22, two pulses of the detection signal 4S are generated within a period corresponding to one cycle of the supply signal 2S. To do. Further, the pulse width of these pulses varies depending on the selection of the threshold voltage Vt2 used in the threshold circuit 41B and the threshold voltage Vt1 used in the generation of the digital reference signal 42S in the threshold circuit 42C. However, these pulses include waveform information as a phase difference, and the phase difference between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be detected. The reason will be described below.

被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φは、それぞれのパルスの立ち下がりや立ち上がりのタイミングの差で表されるが、被比較信号41Sのパルスの中心タイミングAとデジタル基準信号42Sのパルスの中心タイミングBの差でも表すことができる。
ここで、検出信号4Sの各パルスの幅をTaとTbとすると、φ=(Ta−Tb)/2と表される。このため、検出信号4Sのパルスの幅TaとTbを抽出することにより被比較信号41Sとデジタル基準信号42Sの位相差φを得ることができる。
The phase difference φ between the signal to be compared 41S and the digital reference signal 42S is expressed by the difference in the timing of the fall or rise of each pulse, but the center timing A of the pulse of the signal to be compared 41S and the pulse of the digital reference signal 42S. It can also be expressed by the difference in the center timing B.
Here, if the width of each pulse of the detection signal 4S is Ta and Tb, φ = (Ta−Tb) / 2. Therefore, the phase difference φ between the compared signal 41S and the digital reference signal 42S can be obtained by extracting the pulse widths Ta and Tb of the detection signal 4S.

この際、容量成分が大きい場合、Tbが短くなり、結果として位相差φが大きくなる。したがって、台形波からなる供給信号2Sを用いて、被検体10のインピーダンスの容量成分の変化に伴う位相差の変化を検出することが可能となる。また、半導体プロセス変動等によりしきい値Vt1,Vt2の設定値にばらつきが生じても、上記位相差φを用いることにより検出信号4Sの位相情報と被検体10のインピーダンスとの大小関係は維持されるため、位相情報すなわち位相差φの変化で被検体10のインピーダンスの容量成分の変化を捉えることができる。   At this time, when the capacitance component is large, Tb becomes short, and as a result, the phase difference φ becomes large. Therefore, it is possible to detect a change in the phase difference accompanying a change in the capacitance component of the impedance of the subject 10 using the supply signal 2S formed of a trapezoidal wave. Even if the set values of the threshold values Vt1 and Vt2 vary due to semiconductor process fluctuations, the magnitude relationship between the phase information of the detection signal 4S and the impedance of the subject 10 is maintained by using the phase difference φ. Therefore, the change in the capacitance component of the impedance of the subject 10 can be captured by the change in the phase information, that is, the phase difference φ.

このように、本実施の形態は、波形整形回路22を台形波発生回路22Cで構成したので、正弦波を用いる場合と比較して供給信号2Sの生成に要する回路を簡略化でき、全体として極めて簡素な回路で、プロセス変動等の要因による検出精度の劣化を抑制でき、被検体のインピーダンスを高精度で検出することが可能となる。   Thus, in this embodiment, since the waveform shaping circuit 22 is configured by the trapezoidal wave generation circuit 22C, the circuit required for generating the supply signal 2S can be simplified as compared with the case where a sine wave is used. With a simple circuit, deterioration in detection accuracy due to factors such as process variations can be suppressed, and the impedance of the subject can be detected with high accuracy.

[第10の実施の形態]
次に、図23を参照して、本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置について説明する。図23は、本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置の構成を示すブロック図である。
[Tenth embodiment]
Next, with reference to FIG. 23, a biometric recognition apparatus and a fingerprint recognition apparatus according to the tenth embodiment of the present invention will be described. FIG. 23 is a block diagram showing configurations of the biometric recognition apparatus and the fingerprint recognition apparatus according to the tenth embodiment of the present invention.

生体認識装置110は、被検体10が生体か否かを認識する装置であり、インピーダンス検出装置100と生体認識部101とから構成されている。
インピーダンス検出装置100は、本発明の第1〜第9の実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置から構成されており、被検体10に対して所定の印加信号1Sを印加し、被検体10に流れる電流に基づいて被検体のインピーダンスを検出し、当該インピーダンスに応じた波形情報を有する検出信号4Sを出力する機能を有している。
The biological recognition device 110 is a device that recognizes whether or not the subject 10 is a living body, and includes an impedance detection device 100 and a biological recognition unit 101.
The impedance detection apparatus 100 includes any one of the impedance detection apparatuses described in the first to ninth embodiments of the present invention, applies a predetermined application signal 1S to the subject 10, and 10 has a function of detecting the impedance of the subject based on the current flowing through 10 and outputting a detection signal 4S having waveform information corresponding to the impedance.

生体認識部101は、インピーダンス検出装置100からの検出信号4Sの波形情報が、正当な生体のインピーダンス特性を示す基準範囲にあるか否かを判定することにより、被検体10に対する生体か否かの認識判定を行い、被検体10に対する生体認識結果110Sを出力する機能を有している。この生体認証部102は、専用の回路から構成してもよく、CPUなどの演算処理部を用いて構成してもよい。
このように、インピーダンス検出装置100として本発明の各実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を用いているため、高い精度で被検体のインピーダンスを検出でき、被検体に対する生体認識精度を高めることができる。
The living body recognition unit 101 determines whether or not the waveform information of the detection signal 4S from the impedance detection device 100 is within the reference range indicating the legitimate living body impedance characteristics, thereby determining whether or not the living body is the living body with respect to the subject 10. It has a function of performing recognition determination and outputting a biometric recognition result 110S for the subject 10. The biometric authentication unit 102 may be configured from a dedicated circuit or may be configured using an arithmetic processing unit such as a CPU.
As described above, since any one of the impedance detection devices described in the embodiments of the present invention is used as the impedance detection device 100, the impedance of the subject can be detected with high accuracy, and the living body recognition accuracy for the subject is improved. be able to.

指紋認識装置120は、指からなる被検体10から検出した指紋データ1Fに基づいて、利用者の本人認証を行う装置であり、生体認識装置110、指紋検出装置111、指紋認証部112、および認証判定部113から構成されている。
生体認識装置110は、前述のとおり、本発明の第1〜第9の実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を用いて、被検体10が生体か否かを認識する機能を有している。
The fingerprint recognition device 120 is a device that authenticates a user based on fingerprint data 1F detected from a subject 10 made of a finger. The biometric recognition device 110, the fingerprint detection device 111, the fingerprint authentication unit 112, and the authentication The determination unit 113 is configured.
As described above, the living body recognition apparatus 110 has a function of recognizing whether or not the subject 10 is a living body using any one of the impedance detection apparatuses described in the first to ninth embodiments of the present invention. ing.

指紋検出装置111は、被検体10から指紋の凹凸を示す表面形状情報1Pに応じた指紋データ111Sを検出する機能を有している。
指紋認証部112は、指紋検出装置111ら出力された指紋データ111Sと予め登録しておいた正当な指紋を示す照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う機能を有している。
認証判定部113は、生体認識装置110から出力された生体認識結果110Sと指紋認証部112から出力された指紋認証結果112Sとに基づいて利用者の指紋認証成否を判定し、判定結果120Sを出力する機能を有している。
これら指紋検出装置111、指紋認証部112、および認証判定部113は、専用の回路から構成してもよく、CPUなどの演算処理部を用いて構成してもよい。
The fingerprint detection device 111 has a function of detecting fingerprint data 111S corresponding to the surface shape information 1P indicating the fingerprint irregularities from the subject 10.
The fingerprint authentication unit 112 compares the fingerprint data 111S output from the fingerprint detection device 111 with verification data indicating a legitimate fingerprint registered in advance, and performs user fingerprint authentication based on the verification result have.
The authentication determination unit 113 determines whether the user has succeeded in fingerprint authentication based on the biometric recognition result 110S output from the biometric recognition device 110 and the fingerprint authentication result 112S output from the fingerprint authentication unit 112, and outputs the determination result 120S. It has a function to do.
The fingerprint detection device 111, the fingerprint authentication unit 112, and the authentication determination unit 113 may be configured by a dedicated circuit or may be configured by using an arithmetic processing unit such as a CPU.

このように、インピーダンス検出装置100として本発明の各実施の形態で説明したいずれかのインピーダンス検出装置を利用した生体認識装置110を用いているため、高い精度で被検体のインピーダンスを検出でき、被検体に対する生体認識精度を高めることができる。したがって、高い精度で利用者本人の指紋認証を行うことができ、このような指紋認証装置を個人認識システムに搭載すれば、システム全体のセキュリティ性能を高めることができる。   As described above, since the biometric recognition device 110 using any one of the impedance detection devices described in the embodiments of the present invention is used as the impedance detection device 100, the impedance of the subject can be detected with high accuracy, The biometric recognition accuracy for the specimen can be increased. Accordingly, fingerprint authentication of the user can be performed with high accuracy. If such a fingerprint authentication device is installed in a personal recognition system, the security performance of the entire system can be improved.

[実施の形態の拡張]
以上の各実施の形態では、当該実施の形態の特徴的構成について理解を容易とするため、それぞれ近しい構成からなる実施の形態をベースとして説明したが、当該実施の形態の全体構成についてはそれぞれの実施の形態で説明した構成例に限定されるものではなく、他の実施の形態と任意に組合せて実施してもよい。
[Extended embodiment]
In each of the above embodiments, in order to facilitate understanding of the characteristic configuration of the embodiment, the description has been made based on the embodiment having a similar configuration. However, the overall configuration of the embodiment has not been described. The present invention is not limited to the configuration example described in the embodiment, and may be implemented in any combination with other embodiments.

本発明の第1の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other structure of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第2の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other structure of the impedance detection apparatus concerning the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第4の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 4th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第5の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 5th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第6の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の他の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the other structure of the impedance detection apparatus concerning the 6th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第7の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 7th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第8の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 8th Embodiment of this invention. 本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. 本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. 本発明の第9の実施の形態にかかるインピーダンス検出装置の動作を示す信号波形図である。It is a signal waveform diagram which shows operation | movement of the impedance detection apparatus concerning the 9th Embodiment of this invention. 本発明の第10の実施の形態にかかる生体認識装置および指紋認識装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the biometric recognition apparatus and fingerprint recognition apparatus concerning the 10th Embodiment of this invention. 従来の生体認識装置の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the conventional biometric recognition apparatus. 位相差を検出する従来のインピーダンス検出装置の具体的構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the specific structure of the conventional impedance detection apparatus which detects a phase difference. 図25のインピーダンス検出装置の各部における信号波形例である。It is an example of a signal waveform in each part of the impedance detection apparatus of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

100…インピーダンス検出装置、1S…印加信号、1…検出素子、11,12…検出電極、2…供給信号生成部、21…周波数発生回路、21S…クロック信号、22…波形整形回路、22A…正弦波発生回路、22B…三角波発生回路、22C…台形波発生回路、2S…供給信号、3…応答信号生成部、3S…応答信号、31…電流−電圧変換回路、31A…差動増幅器、4…波形情報検出部、4S,4SA,4SB…検出信号、41…応答信号変換回路、41A…リミッタアンプ、41B…しきい値回路、42…デジタル基準信号発生回路、42S…デジタル基準信号、42A…基準信号発生回路、42B,42C…しきい値回路、43…デジタル位相比較回路、43A…XOR回路、44…パルス変換回路、44A…しきい値回路、45…ローパスフィルタ、Zf…インピーダンス、101…生体認識部、110…生体認識装置、110S…生体認識結果、1P…表面形状情報、1Z…インピーダンス情報、111…指紋検出装置、111S…指紋データ、112…指紋認証部、112S…指紋認識結果、113…認識判定部、120…指紋認識装置、120S…判定結果。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Impedance detection apparatus, 1S ... Applied signal, 1 ... Detection element, 11, 12 ... Detection electrode, 2 ... Supply signal generation part, 21 ... Frequency generation circuit, 21S ... Clock signal, 22 ... Waveform shaping circuit, 22A ... Sine Wave generation circuit, 22B ... Triangular wave generation circuit, 22C ... Trapezoid wave generation circuit, 2S ... Supply signal, 3 ... Response signal generation unit, 3S ... Response signal, 31 ... Current-voltage conversion circuit, 31A ... Differential amplifier, 4 ... Waveform information detection unit, 4S, 4SA, 4SB ... detection signal, 41 ... response signal conversion circuit, 41A ... limiter amplifier, 41B ... threshold circuit, 42 ... digital reference signal generation circuit, 42S ... digital reference signal, 42A ... reference Signal generation circuit, 42B, 42C ... threshold circuit, 43 ... digital phase comparison circuit, 43A ... XOR circuit, 44 ... pulse conversion circuit, 44A ... threshold circuit, DESCRIPTION OF SYMBOLS 5 ... Low pass filter, Zf ... Impedance, 101 ... Biometric recognition part, 110 ... Biometric recognition apparatus, 110S ... Biometric recognition result, 1P ... Surface shape information, 1Z ... Impedance information, 111 ... Fingerprint detection apparatus, 111S ... Fingerprint data, 112 ... fingerprint authentication unit, 112S ... fingerprint recognition result, 113 ... recognition judgment unit, 120 ... fingerprint recognition device, 120S ... judgment result.

Claims (19)

被検体と電気的に接触する検出素子と、
交流の供給信号を生成する供給信号生成部と、
前記供給信号生成部と前記検出素子との間に接続されて、前記供給信号に応じた印加信号を前記被検体へ印加するとともに、前記印加信号に伴って前記被検体に流れる電流により変化する交流の応答信号を生成して出力する応答信号生成部と、
前記応答信号から当該応答信号の波形の特徴を示す波形情報を検出し、この波形情報に基づいて前記被検体のインピーダンスに応じた検出信号を生成して出力する波形情報検出部と
を備え、
前記波形情報検出部は、
前記応答信号を当該応答信号の電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号に変換して出力する応答信号変換回路と、
前記供給信号に同期した矩形波のデジタル基準信号と前記被比較信号との位相を比較することにより、前記波形情報として前記被比較信号と前記供給信号の位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第1の検出信号を生成し前記検出信号として出力するデジタル位相比較回路と
を有する
ことを特徴とするインピーダンス検出装置。
A sensing element in electrical contact with the subject;
A supply signal generator for generating an alternating supply signal;
An AC that is connected between the supply signal generation unit and the detection element, applies an application signal corresponding to the supply signal to the subject, and changes according to a current flowing through the subject in accordance with the application signal. A response signal generator for generating and outputting a response signal of
A waveform information detection unit that detects waveform information indicating the characteristics of the waveform of the response signal from the response signal, and generates and outputs a detection signal corresponding to the impedance of the subject based on the waveform information; and
The waveform information detector
A response signal converting circuit that converts the response signal into a signal to be compared that is a digital signal indicating a voltage change of the response signal and outputs the signal to be compared;
A phase difference between the signal to be compared and the supply signal is detected as the waveform information by comparing the phase of the digital reference signal having a rectangular wave synchronized with the supply signal and the signal to be compared, and the phase difference is determined according to the phase difference. And a digital phase comparison circuit that generates a first detection signal composed of a digital signal having a pulse width and outputs the first detection signal as the detection signal.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記供給信号生成部は、所定周波数のクロック信号を生成して出力する周波数発生回路と、前記クロック信号に基づいて当該クロック信号に同期した正弦波、三角波、または台形波のいずれか1つを生成し前記供給信号として出力する波形整形回路とを有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The supply signal generation unit generates a clock signal having a predetermined frequency and generates one of a sine wave, a triangular wave, and a trapezoidal wave synchronized with the clock signal based on the clock signal. And a waveform shaping circuit that outputs the supply signal.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記応答信号変換回路は、前記応答信号を増幅することによりデジタル信号に変換し前記被比較信号として出力するリミッタアンプからなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The response signal conversion circuit comprises a limiter amplifier that amplifies the response signal to convert it into a digital signal and outputs it as the signal to be compared.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記応答信号変換回路は、前記応答信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換し前記被比較信号として出力するしきい値回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The response signal conversion circuit comprises a threshold circuit that converts the response signal into a digital signal by comparing the response signal with a predetermined threshold voltage and outputs the digital signal as the signal to be compared.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記デジタル位相比較回路は、前記被比較信号と前記デジタル基準信号の排他的論理和を前記検出信号として出力する排他的論理和回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The impedance detection apparatus, wherein the digital phase comparison circuit comprises an exclusive OR circuit that outputs an exclusive OR of the signal to be compared and the digital reference signal as the detection signal.
請求項2に記載のインピーダンス検出装置において、
前記波形情報検出部は、前記クロック信号を前記デジタル基準信号として用いることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 2,
The waveform detection unit uses the clock signal as the digital reference signal.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記波形情報検出部は、前記供給信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換し前記デジタル基準信号として出力するしきい値回路からなるデジタル基準信号発生回路を有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The waveform information detection unit includes a digital reference signal generation circuit including a threshold circuit that converts the supply signal to a digital signal by comparing it with a predetermined threshold voltage and outputs the digital signal as the digital reference signal. Impedance detection device.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記波形情報検出部は、前記供給信号に同期した基準信号を生成する基準信号発生回路と、前記基準信号を所定のしきい値電圧と比較することによりデジタル信号に変換し前記デジタル基準信号として出力するしきい値回路と、からなるデジタル基準信号発生回路を有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The waveform information detection unit converts a reference signal generation circuit that generates a reference signal synchronized with the supply signal into a digital signal by comparing the reference signal with a predetermined threshold voltage, and outputs the digital signal as the digital reference signal An impedance detection apparatus comprising a digital reference signal generation circuit comprising a threshold circuit for performing the above operation.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記波形情報検出部は、前記波形情報として前記応答信号の電圧変化を検出し、当該電圧変化に基づいて前記応答信号を前記応答信号の大きさに応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第2の検出信号へ変換し前記検出信号として出力するパルス変換回路をさらに有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The waveform information detection unit detects a voltage change of the response signal as the waveform information, and based on the voltage change, the response signal is a second signal composed of a digital signal having a pulse width corresponding to the magnitude of the response signal. An impedance detection device further comprising a pulse conversion circuit that converts the detection signal into a detection signal and outputs the detection signal.
請求項9に記載のインピーダンス検出装置において、
前記パルス変換回路は、前記応答信号を所定のしきい値電圧と比較し、その比較結果に応じたデジタル信号を前記第2の検出信号として出力するしきい値回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection device according to claim 9, wherein
The pulse conversion circuit comprises a threshold circuit that compares the response signal with a predetermined threshold voltage and outputs a digital signal corresponding to the comparison result as the second detection signal. Detection device.
請求項4に記載のインピーダンス検出装置において、
前記しきい値回路は、前記応答信号を所定のしきい値電圧と比較することにより得られた前記被比較信号を、前記被検体のインピーダンスにより変化する前記応答信号の電圧変化に応じたパルス幅を有する第2の検出信号として出力することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection device according to claim 4, wherein
The threshold circuit compares the response signal obtained by comparing the response signal with a predetermined threshold voltage, and the pulse width corresponding to the voltage change of the response signal that changes according to the impedance of the subject. An impedance detection device that outputs the second detection signal as a second detection signal.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記波形情報検出部は、前記応答信号に含まれる高周波成分を除去するローパスフィルタをさらに有し、
前記応答信号変換回路は、前記ローパスフィルタから出力された応答信号を前記被比較信号へ変換する
ことを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The waveform information detection unit further includes a low-pass filter that removes a high-frequency component included in the response signal,
The response detection circuit converts the response signal output from the low-pass filter into the signal to be compared.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記検出素子は、前記被検体と電気的に接触しかつ所定の共通電位に接続されている第1の検出電極と、前記被検体と電気的に接触して前記応答信号生成部からの前記印加信号を前記被検体へ印加する第2の検出電極とを有することを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The detection element includes a first detection electrode that is in electrical contact with the subject and connected to a predetermined common potential; and the application from the response signal generation unit that is in electrical contact with the subject. An impedance detection apparatus comprising: a second detection electrode that applies a signal to the subject.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記応答信号生成部は、前記供給信号生成部と前記検出素子との間に接続された抵抗素子で構成され、当該抵抗素子と前記検出素子との接続節点から前記応答信号を出力する電流−電圧変換回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The response signal generation unit includes a resistance element connected between the supply signal generation unit and the detection element, and outputs a response signal from a connection node between the resistance element and the detection element. An impedance detection device comprising a conversion circuit.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記応答信号生成部は、前記供給信号生成部と前記検出素子との間に接続された抵抗素子と、当該抵抗素子の両端電圧を差動増幅することにより前記応答信号を生成して出力する差動増幅器を有する電流−電圧変換回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The response signal generation unit generates and outputs the response signal by differentially amplifying a resistance element connected between the supply signal generation unit and the detection element and a voltage across the resistance element. An impedance detection apparatus comprising a current-voltage conversion circuit having a dynamic amplifier.
請求項1に記載のインピーダンス検出装置において、
前記応答信号生成部は、一端が前記供給信号生成部に接続された第1の抵抗素子と、当該第1の抵抗素子の他端と前記検出素子との間に接続された第2の抵抗素子と、前記第2の抵抗素子の両端電圧を差動増幅することにより前記応答信号を生成して出力する差動増幅器を有する電流−電圧変換回路からなることを特徴とするインピーダンス検出装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1,
The response signal generation unit includes a first resistance element having one end connected to the supply signal generation unit, and a second resistance element connected between the other end of the first resistance element and the detection element. And a current-voltage conversion circuit having a differential amplifier that differentially amplifies the voltage across the second resistance element to generate and output the response signal.
検出素子を介して電気的に接触した被検体に対し、交流の供給信号に応じた印加信号を印加するとともに、前記印加信号に伴って前記被検体に流れる電流により変化する応答信号を生成して出力する応答信号生成ステップと、
前記応答信号から当該応答信号の波形の特徴を示す波形情報を検出し、この波形情報に基づいて前記被検体のインピーダンスに応じた検出信号を生成して出力する波形情報検出ステップと
を備え、
前記波形情報検出ステップは、
前記応答信号を当該応答信号の電圧変化を示すデジタル信号からなる被比較信号に変換して出力する応答信号変換ステップと、
前記供給信号に同期した矩形波のデジタル基準信号と前記被比較信号との位相を比較することにより、前記波形情報として前記被比較信号と前記供給信号の位相差を検出し、当該位相差に応じたパルス幅を有するデジタル信号からなる第1の検出信号を生成し前記検出信号として出力するデジタル位相比較ステップと
を有する
ことを特徴とするインピーダンス検出方法。
An application signal corresponding to an AC supply signal is applied to a subject that is in electrical contact with the detection element, and a response signal that varies depending on the current flowing through the subject is generated along with the application signal. A response signal generation step to output;
A waveform information detecting step of detecting waveform information indicating the characteristics of the waveform of the response signal from the response signal, and generating and outputting a detection signal according to the impedance of the subject based on the waveform information, and
The waveform information detection step includes
A response signal conversion step of converting the response signal into a signal to be compared consisting of a digital signal indicating a voltage change of the response signal and outputting the signal to be compared;
A phase difference between the signal to be compared and the supply signal is detected as the waveform information by comparing the phase of the digital reference signal having a rectangular wave synchronized with the supply signal and the signal to be compared, and the phase difference is determined according to the phase difference. And a digital phase comparison step of generating a first detection signal composed of a digital signal having a pulse width and outputting the detection signal as the detection signal.
被検体のインピーダンスに応じた検出信号を出力する請求項1に記載のインピーダンス検出装置と、
前記インピーダンス検出装置から出力された検出信号に基づき前記被検体が生体であるか否かを判定する生体認識部と
を備えることを特徴とする生体認識装置。
The impedance detection apparatus according to claim 1, which outputs a detection signal corresponding to the impedance of the subject;
A living body recognition device comprising: a living body recognition unit that determines whether or not the subject is a living body based on a detection signal output from the impedance detection device.
被検体のインピーダンスに応じた検出信号に基づき前記被検体が生体であるか否かを判定する請求項18に記載された生体認識装置と、
前記被検体から指紋の凹凸を示す指紋データを検出する指紋検出装置と、
前記指紋データと予め登録されている照合データとを照合し、その照合結果に基づいて利用者の指紋認証を行う指紋認証部と、
前記生体認識装置から出力された生体判定結果と前記指紋認証部から出力された指紋認証結果とに基づいて前記利用者の指紋認証成否を判定する認証判定部と
を備えることを特徴とする指紋認証装置。
The living body recognition apparatus according to claim 18, wherein it is determined whether or not the subject is a living body based on a detection signal corresponding to the impedance of the subject.
A fingerprint detection device for detecting fingerprint data indicating irregularities of the fingerprint from the subject;
A fingerprint authentication unit that compares the fingerprint data with previously registered verification data, and performs fingerprint authentication of the user based on the verification result;
An authentication determination unit that determines success or failure of fingerprint authentication of the user based on a biometric determination result output from the biometric recognition device and a fingerprint authentication result output from the fingerprint authentication unit. apparatus.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010000224A (en) * 2008-06-20 2010-01-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Living body recognizing apparatus
KR101007616B1 (en) * 2008-06-11 2011-01-12 한전케이디엔주식회사 Probe inspection equipment and its inspection method
US9864895B1 (en) 2016-07-07 2018-01-09 Fingerprint Cards Ab Fingerprint sensing system with finger detect
CN113760025A (en) * 2020-06-04 2021-12-07 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Adjustable constant current source, electrical impedance imaging system and image reconstruction method thereof

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10165382A (en) * 1996-12-16 1998-06-23 Sony Corp Living body detector
JPH10240942A (en) * 1997-02-28 1998-09-11 Nec Corp Living matter identification device
JP2000098048A (en) * 1998-09-28 2000-04-07 Omron Corp Organism detector
WO2005016146A1 (en) * 2003-08-15 2005-02-24 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Organism recognition system
WO2005019767A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Surface shape recognition sensor
JP2005143804A (en) * 2003-11-14 2005-06-09 Glory Ltd Apparatus and method for detecting living body, and fingerprint authentication apparatus

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10165382A (en) * 1996-12-16 1998-06-23 Sony Corp Living body detector
JPH10240942A (en) * 1997-02-28 1998-09-11 Nec Corp Living matter identification device
JP2000098048A (en) * 1998-09-28 2000-04-07 Omron Corp Organism detector
WO2005016146A1 (en) * 2003-08-15 2005-02-24 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Organism recognition system
WO2005019767A1 (en) * 2003-08-26 2005-03-03 Nippon Telegraph And Telephone Corporation Surface shape recognition sensor
JP2005143804A (en) * 2003-11-14 2005-06-09 Glory Ltd Apparatus and method for detecting living body, and fingerprint authentication apparatus

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101007616B1 (en) * 2008-06-11 2011-01-12 한전케이디엔주식회사 Probe inspection equipment and its inspection method
JP2010000224A (en) * 2008-06-20 2010-01-07 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Living body recognizing apparatus
US9864895B1 (en) 2016-07-07 2018-01-09 Fingerprint Cards Ab Fingerprint sensing system with finger detect
WO2018009121A1 (en) * 2016-07-07 2018-01-11 Fingerprint Cards Ab Fingerprint sensing system with finger detection
CN107924467A (en) * 2016-07-07 2018-04-17 指纹卡有限公司 Fingerprint sensing system with finger detection
CN113760025A (en) * 2020-06-04 2021-12-07 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Adjustable constant current source, electrical impedance imaging system and image reconstruction method thereof

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