JP2006105900A - Sensor circuit - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、オフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路に関するものである。 The present invention relates to a sensor circuit that can detect an abnormality of an offset voltage.
従来より、ジャイロセンサ等のように左右一対の振動子が備えられたセンサ装置が知られている。このようなセンサ装置に用いられるセンサ回路においては、例えば、各振動子それぞれの検出信号をチャージアンプで電圧変換させたのち、差動増幅回路によって電圧変換後のそれぞれの検出信号の差動出力を得て、その後、同期検波回路やローパスフィルタ(以下、LPF)および零点・感度温度特性調整回路を通過させたものとセンサ出力として用いている。 Conventionally, a sensor device including a pair of left and right vibrators such as a gyro sensor is known. In a sensor circuit used in such a sensor device, for example, after each detection signal of each vibrator is voltage-converted by a charge amplifier, a differential output of each detection signal after voltage conversion is performed by a differential amplifier circuit. After that, the sensor output is used after passing through a synchronous detection circuit, a low-pass filter (hereinafter referred to as LPF) and a zero / sensitivity temperature characteristic adjustment circuit.
このようなセンサ回路では、センサ装置の用途等に応じて、差動増幅回路での差動出力が所定値となるように設定されることになるが、この差動出力のオフセット電圧が異常になる場合がある。例えば、振動子とチャージアンプとを電気的に接続するボンディングワイヤが断線した場合等に、オフセット電圧が異常となる。 In such a sensor circuit, the differential output in the differential amplifier circuit is set to a predetermined value according to the application of the sensor device, etc., but the offset voltage of this differential output is abnormal There is a case. For example, the offset voltage becomes abnormal when a bonding wire that electrically connects the vibrator and the charge amplifier is disconnected.
このため、差動出力に基づいて、オフセット電圧が異常になっていることを検出する異常検出回路をセンサ回路に備えることが提案されている。この回路は、具体的には図6のような回路構成となっている。なお、図6において、入力信号は上述した差動増幅回路の差動出力を示しており、交流信号になる。 For this reason, it has been proposed that the sensor circuit includes an abnormality detection circuit that detects that the offset voltage is abnormal based on the differential output. Specifically, this circuit has a circuit configuration as shown in FIG. In FIG. 6, an input signal indicates a differential output of the above-described differential amplifier circuit, and is an AC signal.
この図に示されるように、入力信号がLPF100に入力されたのち、このLPF100を通過後の信号がウィンドウコンパレータ101に入力され、上限しきい値VRHと下限しきい値VRLと比較されるようになっている。そして、LPFを通過後の信号がこれら上限しきい値VRHと下限しきい値VRLの間の範囲に入っていればダイアグ信号が出力されず、その範囲から外れている場合にはダイアグ信号が出力されるようになっている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、上記従来のセンサ回路では、交流信号となる差動出力をLPFによって平滑化するようになっているため、LPFの時定数を十分に大きくしなければならない。このため、オフセット電圧の異常を検出するまでに遅延が生じるという問題、また、時定数以内で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できないという問題が発生することが判った。これらの問題について、図7および図8を用いて詳細に説明する。 However, in the conventional sensor circuit, since the differential output as an AC signal is smoothed by the LPF, the time constant of the LPF must be sufficiently increased. For this reason, it has been found that there is a problem that a delay occurs until an offset voltage abnormality is detected, and a problem that a temporary offset voltage abnormality that converges within a time constant cannot be detected. These problems will be described in detail with reference to FIGS.
図7および図8は、共に、図6に示した従来のセンサ回路に備えられる異常検出回路の回路構成を詳細に示したものであり、図7はLPFを非反転タイプとしたものの回路構成、図8は、LPFを反転タイプとしたものの回路構成を示している。 FIGS. 7 and 8 both show in detail the circuit configuration of the abnormality detection circuit provided in the conventional sensor circuit shown in FIG. 6, and FIG. 7 shows the circuit configuration of the non-inverted LPF. FIG. 8 shows a circuit configuration of an inversion type LPF.
入力信号の振幅をVa、直流成分をVdc、周波数をfdとし、その角周波数をωdとすると、角周波数ωdは次式で表される。 When the amplitude of the input signal is Va, the DC component is Vdc, the frequency is fd, and the angular frequency is ωd, the angular frequency ωd is expressed by the following equation.
(数1)
ωd=2・π・fd …数式(1)
したがって、入力信号VINは下記の式で表すことができる。
(Equation 1)
ωd = 2 · π · fd Formula (1)
Therefore, the input signal VIN can be expressed by the following equation.
(数2)
VIN(t)=Va・sin(ωd・t)+Vdc …数式(2)
ここでいう入力信号の直流成分がオフセット電圧の異常の検出に用いられるものである。図7および図8において、LPFの出力電圧をVLPFとし、図8においてLPFの基準電圧として使用される電圧をVREF(一般的にはVREF=VCC/2が用いられる)とすると、LPFを非反転タイプとした場合と反転タイプとした場合、それぞれにおいて、VLPFは以下のように示される。
(Equation 2)
VIN (t) = Va · sin (ωd · t) + Vdc (2)
The DC component of the input signal here is used for detecting an abnormality of the offset voltage. 7 and 8, if the output voltage of the LPF is VLPF and the voltage used as the reference voltage of the LPF in FIG. 8 is VREF (generally, VREF = VCC / 2 is used), the LPF is non-inverted. In the case of the type and the case of the inverted type, the VLPF is indicated as follows in each case.
非反転タイプの場合:
(数3)
VLPF=Vdc …数式(3)
反転タイプの場合:
(数4)
VLPF=2・VREF−Vdc …数式(4)
これらの電圧がウィンドウコンパレータ101に入力され、ウィンドウコンパレータ101に備えられた2つのコンパレータ101a、101bによって、電圧VRLおよびこの電圧よりも高い電圧VRHとそれぞれ比較される。そして、コンパレータ101bの方では電圧VRLよりもVLPFが低くなるとローレベル、コンパレータ101aの方では電圧VRLよりもVLPFが高くなるとローレベルが出力されるようになっている。このため、いずれか一方のコンパレータ101a、101bでもローレベルになるとアンド回路101cからローレベルが出力され、ダイアグ信号とされるようになっている。なお、電圧VRLおよび電圧VRHは、ウィンドウコンパレータ101内に備えられた分圧抵抗101d〜101fによって電源電圧VCCを分圧することで形成されたものである。
For non-inverted type:
(Equation 3)
VLPF = Vdc (3)
For reverse type:
(Equation 4)
VLPF = 2 · VREF−Vdc Equation (4)
These voltages are input to the window comparator 101, and are compared with the voltage VRL and a voltage VRH higher than this voltage by the two comparators 101a and 101b provided in the window comparator 101, respectively. The comparator 101b outputs a low level when the VLPF is lower than the voltage VRL, and the comparator 101a outputs a low level when the VLPF is higher than the voltage VRL. For this reason, when either one of the comparators 101a and 101b is at a low level, a low level is output from the AND circuit 101c to be a diagnosis signal. The voltage VRL and the voltage VRH are formed by dividing the power supply voltage VCC by the voltage dividing resistors 101d to 101f provided in the window comparator 101.
すなわち、図5および図6における入力信号に対するVLPFは図7のように示され、VREFを中心として設定される電圧VRL〜VRHの範囲(正常電圧範囲)内に、VLPFとVREFとの差ΔVdcが入っているか否かが判定されることになる。 That is, the VLPF with respect to the input signal in FIGS. 5 and 6 is shown in FIG. 7, and the difference ΔVdc between VLPF and VREF is within the range of voltages VRL to VRH (normal voltage range) set around VREF. It is determined whether or not it is present.
このような異常検出回路では、平滑化後に残るリップル(fd成分)が小さくなるようにするのが望ましい。また、LPF100のカットオフ周波数fcは、入力信号の周波数fdより十分に小さくする必要がある。このため、LPF100の時定数を大きくせざるを得ず、オフセット電圧の異常を検出するまでに遅延が生じ、また、時定数以内という短い時間で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できなくなるのである。 In such an abnormality detection circuit, it is desirable to reduce the ripple (fd component) remaining after smoothing. Further, the cut-off frequency fc of the LPF 100 needs to be sufficiently smaller than the frequency fd of the input signal. For this reason, the time constant of the LPF 100 has to be increased, a delay occurs until an offset voltage abnormality is detected, and a temporary offset voltage abnormality that converges within a short time within the time constant is detected. It will not be possible.
本発明は上記点に鑑みて、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止できるセンサ回路を提供することを第1の目的とする。また、短い時間で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路を提供することを第2の目的とする。 In view of the above, it is a first object of the present invention to provide a sensor circuit that can prevent a delay from occurring when an abnormality of an offset voltage is detected. Another object of the present invention is to provide a sensor circuit capable of detecting a temporary offset voltage abnormality that converges in a short time.
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、差動増幅手段(33)の出力を入力信号として、所定のサンプリング周期毎に、入力信号の最大電圧(Vmax)をホールドするピークホールド手段(41)と、所定のサンプリング周期毎に、入力信号の最小電圧(Vmin)をホールドするボトムホールド手段(42)と、ピークホールド手段(41)にホールドされた最大電圧(Vmax)とボトムホールド手段(42)にホールドされた最小電圧(Vmin)とを足し合わせた電圧を出力する加算手段(43)と、加算手段(43)が出力する電圧が上限しきい値(VRH)と下限しきい値(VRL)の間の範囲に入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出する判定手段(43)とを備えた異常検出回路(40)が備えられていることを特徴としている。 In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, the peak hold for holding the maximum voltage (Vmax) of the input signal every predetermined sampling period using the output of the differential amplifying means (33) as the input signal. Means (41), bottom hold means (42) for holding the minimum voltage (Vmin) of the input signal at every predetermined sampling period, and maximum voltage (Vmax) and bottom hold held by the peak hold means (41). An adding means (43) for outputting a voltage obtained by adding the minimum voltage (Vmin) held in the means (42), and a voltage output from the adding means (43) is an upper threshold (VRH) and a lower limit threshold. An abnormality detection circuit (40) having a determination means (43) for detecting an abnormality of the offset voltage depending on whether or not the value is in a range between the values (VRL). It is characterized in that they are gills.
このように、異常検出回路(40)をピークホールド手段(41)とボトムホールド手段(42)とを備えた構成としている。そして、ピークホールド手段(41)によってホールドされる最大電圧(Vmax)とボトムホールド手段(42)によってホールドされる最小電圧(Vmin)とを足し合わせた電圧に基づいて、オフセット電圧の異常を検出するようにしている。 As described above, the abnormality detection circuit (40) includes the peak hold means (41) and the bottom hold means (42). Then, an abnormality of the offset voltage is detected based on a voltage obtained by adding the maximum voltage (Vmax) held by the peak hold means (41) and the minimum voltage (Vmin) held by the bottom hold means (42). I am doing so.
これにより、入力信号のオフセット電圧が徐々に変化していくような異常や、入力信号のオフセット電圧が瞬間的に異常になるような場合にも、それを検出してダイアグ信号を出力させることが可能となる。 As a result, even if the input signal offset voltage gradually changes or the input signal offset voltage becomes instantaneously abnormal, it can be detected and a diagnostic signal output. It becomes possible.
このように、オフセット電圧の異常を検出することが可能となる。そして、このような構成によれば、従来のようにLPFの時定数を大きくしなければならない等の制約を受けないため、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止でき、また、短い時間で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路とすることが可能となる。 In this way, it is possible to detect an abnormality in the offset voltage. According to such a configuration, since there is no restriction such as the need to increase the time constant of the LPF as in the prior art, it is possible to prevent a delay from occurring when detecting an offset voltage abnormality. Thus, it is possible to provide a sensor circuit that can detect a temporary offset voltage abnormality that converges in a short time.
この場合、請求項2に示されるように、交流信号となる入力信号の周期に対して、所定のサンプリング周期の方が長くなるように設定することになる。例えば、請求項3に示されるように、所定のサンプリング周期は、入力信号の周期の複数倍に設定される。 In this case, as set forth in claim 2, the predetermined sampling period is set to be longer than the period of the input signal to be an AC signal. For example, as described in claim 3, the predetermined sampling period is set to a multiple of the period of the input signal.
なお、上記各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。 In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each said means shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.
以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
(第1実施形態)
本発明の一実施形態を適用した異常検出装置を備えるセンサ回路のブロック構成を図1に示す。以下、この図を参照して本実施形態におけるセンサ回路について説明する。
(First embodiment)
FIG. 1 shows a block configuration of a sensor circuit including an abnormality detection apparatus to which an embodiment of the present invention is applied. Hereinafter, the sensor circuit according to the present embodiment will be described with reference to FIG.
図1に示されるように、振動子10と、駆動回路20と、ヨー検出回路30と、異常検出回路40とが備えられ、これらによりセンサ回路が構成されている。 As shown in FIG. 1, a vibrator 10, a drive circuit 20, a yaw detection circuit 30, and an abnormality detection circuit 40 are provided, and a sensor circuit is configured by these.
振動子10は、センシング手段に相当するもので、駆動用およびヨー検出用のセンサエレメント(図示せず)を備えており、駆動用のセンサエレメントが駆動振動を行っている際にヨーが発生すると、コリオリ力によって一対で構成された検出用のセンサエレメントが振動するようになっている。この振動子10は、一対の検出用のセンサエレメントそれぞれでの振動に応じた出力(第1、第2検知信号)を発生させると共に、駆動用のセンサエレメントが的確に駆動振動しているかを検出するために駆動振動に応じた出力を発生させるようになっている。 The vibrator 10 corresponds to a sensing means, and includes a sensor element (not shown) for driving and detecting yaw, and when yaw is generated when the driving sensor element is performing driving vibration. The sensor element for detection composed of a pair is vibrated by the Coriolis force. The vibrator 10 generates outputs (first and second detection signals) corresponding to vibrations in each of the pair of detection sensor elements, and detects whether the drive sensor element is accurately driven and vibrated. Therefore, an output corresponding to the drive vibration is generated.
駆動回路20は、振動子10における駆動用センサエレメントを振動させるためのものである。この駆動回路20には、センサ駆動電源を含む昇圧回路21、チャージアンプ22、位相シフタ23および振幅一定制御部24が含まれている。 The drive circuit 20 is for vibrating the drive sensor element in the vibrator 10. The drive circuit 20 includes a booster circuit 21 including a sensor drive power supply, a charge amplifier 22, a phase shifter 23, and a constant amplitude control unit 24.
昇圧回路21は、センサ駆動電源からの電圧を昇圧することで振動子10における駆動用のセンサエレメントを振動させるための電圧を形成するもので、駆動用のセンサエレメントを所定振幅かつ所定周波数で駆動するために、センサ駆動電源が発生させる電圧を昇圧し、所定の周波数の電圧を駆動信号として駆動用のセンサエレメントに対して出力する。具体的には、チャージアンプ22を介してフィードバックされる駆動信号と振幅一定制御部24からの信号に基づいて、昇圧回路21が発生させる駆動信号を調整するようになっている。 The booster circuit 21 forms a voltage for oscillating the driving sensor element in the vibrator 10 by boosting the voltage from the sensor driving power source, and drives the driving sensor element with a predetermined amplitude and a predetermined frequency. For this purpose, the voltage generated by the sensor drive power supply is boosted, and a voltage having a predetermined frequency is output as a drive signal to the drive sensor element. Specifically, the drive signal generated by the booster circuit 21 is adjusted based on the drive signal fed back via the charge amplifier 22 and the signal from the constant amplitude control unit 24.
チャージアンプ22は、振動子10から、振動子10における駆動用のセンサエレメントの駆動振動に応じた検知信号(以下、駆動振動検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものである。このチャージアンプ22での電圧変換後の駆動振動検知信号が昇圧回路21、振幅一定制御部24および位相シフタ23に入力されるようになっている。 The charge amplifier 22 receives a detection signal (hereinafter referred to as a drive vibration detection signal) corresponding to the drive vibration of the driving sensor element in the vibrator 10 from the vibrator 10 and converts the voltage into a detection signal. A drive vibration detection signal after voltage conversion by the charge amplifier 22 is input to the booster circuit 21, the constant amplitude control unit 24, and the phase shifter 23.
位相シフタ23は、駆動信号の位相を調整するためのものである。上記したように昇圧回路21により駆動振動検知信号に基づいて駆動信号が形成されることになるため、駆動振動検知信号の位相が実際に駆動用のセンサエレメントに出力したい駆動信号の位相とずれている。この位相のズレを修復するために、駆動振動検知信号の位相を調整し、駆動信号の位相に合わせなければならない。このため、位相シフタ23によって、駆動振動検知信号の位相が補正され、その結果、それに基づいて形成される駆動信号の位相が調整されるようになっている。これにより、駆動信号の周波数がfdとされる。 The phase shifter 23 is for adjusting the phase of the drive signal. As described above, since the drive signal is formed by the booster circuit 21 based on the drive vibration detection signal, the phase of the drive vibration detection signal is shifted from the phase of the drive signal that is actually desired to be output to the drive sensor element. Yes. In order to repair this phase shift, the phase of the drive vibration detection signal must be adjusted to match the phase of the drive signal. For this reason, the phase of the drive vibration detection signal is corrected by the phase shifter 23, and as a result, the phase of the drive signal formed based on this is adjusted. Thereby, the frequency of the drive signal is set to fd.
振幅一定制御部24は、駆動振動検知信号から現在の駆動用のセンサエレメントの振幅を検知すると共に、その振幅が一定となるように補正するための信号を昇圧回路21に出力するものである。 The constant amplitude control unit 24 detects the current amplitude of the sensor element for driving from the driving vibration detection signal, and outputs a signal for correcting the amplitude to be constant to the booster circuit 21.
また、ヨー検出回路30は、振動子10の検出信号に基づいてセンサ出力を得るためのものである。このヨー検出回路30には、2つのチャージアンプ31、32と、差動増幅回路33と、同期検波回路34、LPF35および0点・感度温特調整回路36が備えられている。 The yaw detection circuit 30 is for obtaining a sensor output based on the detection signal of the vibrator 10. The yaw detection circuit 30 includes two charge amplifiers 31 and 32, a differential amplifier circuit 33, a synchronous detection circuit 34, an LPF 35, and a zero point / sensitivity temperature special adjustment circuit 36.
2つのチャージアンプ31、32は、一対の振動子10それぞれから、検出用センサエレメントに対してヨーが加わったときに発生する振動に応じた検知信号(以下、ヨー検知信号という)を受け取り、それを電圧変換するものであり、それぞれ第1、第2電圧変換手段に相当するものである。これら各チャージアンプでの電圧変換後のヨー検知信号が差動増幅回路33に入力されるようになっている。 The two charge amplifiers 31 and 32 receive a detection signal (hereinafter referred to as a yaw detection signal) corresponding to vibration generated when yaw is applied to the detection sensor element from each of the pair of vibrators 10. Are converted to voltages, which respectively correspond to first and second voltage conversion means. The yaw detection signal after voltage conversion by each of these charge amplifiers is input to the differential amplifier circuit 33.
差動増幅回路33は、各チャージアンプ31、32で電圧変化されたヨー検知信号の差動出力を発生させる差動増幅手段に相当するものである。この差動増幅回路33の差動出力が同期検波回路34に入力されるようになっていると共に、異常検出回路40における入力信号として用いられるようになっている。この差動増幅回路33の差動出力は、直流成分となる所定のオフセット電圧を含む交流信号となる。 The differential amplifier circuit 33 corresponds to a differential amplifier that generates a differential output of a yaw detection signal whose voltage has been changed by the charge amplifiers 31 and 32. The differential output of the differential amplifier circuit 33 is input to the synchronous detection circuit 34 and used as an input signal in the abnormality detection circuit 40. The differential output of the differential amplifier circuit 33 becomes an AC signal including a predetermined offset voltage that becomes a DC component.
同期検波回路34は、位相シフタ23によって調整された位相に基づいて、差動増幅回路33の差動出力から周波数fdと同期する成分を通過させ、LPF35に出力するものである。 The synchronous detection circuit 34 passes a component synchronized with the frequency fd from the differential output of the differential amplifier circuit 33 based on the phase adjusted by the phase shifter 23, and outputs it to the LPF 35.
LPF35は、同期検波回路34を通過後の信号のうち、所定周波数以下の成分のみを抽出するものである。 The LPF 35 extracts only components having a predetermined frequency or less from the signal after passing through the synchronous detection circuit 34.
0点・感度温特調整回路36は、LPF35を通過した後の信号にも、出力オフセットや感度の温度特性が含まれていることから、それを調整するものであり、この0点・感度温特調整回路36で調整された後の信号がセンサ出力として用いられる。 The zero point / sensitivity temperature special adjustment circuit 36 adjusts the signal after passing through the LPF 35 because the output offset and sensitivity temperature characteristics are also included. The signal after being adjusted by the special adjustment circuit 36 is used as a sensor output.
そして、異常検出回路40は、オフセット電圧の異常を検出するためのものである。この異常検出回路40には、ピークホールド回路41、ボトムホールド回路42、加算器43およびウィンドウコンパレータ44が備えられている。 The abnormality detection circuit 40 is for detecting an abnormality in the offset voltage. The abnormality detection circuit 40 includes a peak hold circuit 41, a bottom hold circuit 42, an adder 43, and a window comparator 44.
ピークホールド回路41は、交流信号として表される入力信号のピーク値として、最大電圧Vmaxをホールドするものであり、ピークホールド手段に相当するものである。このピークホールド回路41におけるサンプリング周波数は、少なくとも入力信号の周波数(正確には入力信号の交流信号の周波数)よりも低く、つまりサンプリング周期(サンプリング間隔)が入力信号の1周期よりも長くなるように設定されている。本実施形態では、入力信号の周波数Fdに対して、ピークホールド回路41のサンプリング周波数が1/4Fdとされ、ピークホールド回路41により、入力信号の4周期中における最大電圧Vmaxがホールドされるようになっている。 The peak hold circuit 41 holds the maximum voltage Vmax as the peak value of the input signal expressed as an AC signal, and corresponds to a peak hold means. The sampling frequency in the peak hold circuit 41 is at least lower than the frequency of the input signal (more precisely, the frequency of the AC signal of the input signal), that is, the sampling period (sampling interval) is longer than one period of the input signal. Is set. In the present embodiment, the sampling frequency of the peak hold circuit 41 is set to ¼ Fd with respect to the frequency Fd of the input signal, and the peak voltage 41 is held by the peak hold circuit 41 during the four cycles of the input signal. It has become.
ボトムホールド回路42は、交流信号として表される入力信号のボトム値として、最小電圧Vminをホールドするものであり、ボトムホールド手段に相当するものである。このボトムホールド回路42におけるサンプリング周波数は、少なくとも入力信号の周波数(正確には入力信号の交流信号の周波数)よりも低く、つまりサンプリング周期が入力信号の1周期よりも長くなるように設定されている。本実施形態では、入力信号の周波数Fdに対して、ボトムホールド回路42のサンプリング周波数が1/4Fdとされ、ボトムホールド回路42により、入力信号の4周期中における最小電圧Vminがホールドされるようになっている。なお、このボトムホールド回路42におけるサンプリング周期は、上述したピークホールド回路41におけるサンプリング周期と同じ値とされ、また、サンプリング期間もピークホールド回路41と同期させられている。 The bottom hold circuit 42 holds the minimum voltage Vmin as the bottom value of the input signal expressed as an AC signal, and corresponds to bottom hold means. The sampling frequency in the bottom hold circuit 42 is set to be lower than at least the frequency of the input signal (more precisely, the frequency of the AC signal of the input signal), that is, the sampling cycle is longer than one cycle of the input signal. . In the present embodiment, the sampling frequency of the bottom hold circuit 42 is set to 1/4 Fd with respect to the frequency Fd of the input signal, and the minimum voltage Vmin in the four cycles of the input signal is held by the bottom hold circuit 42. It has become. The sampling period in the bottom hold circuit 42 has the same value as the sampling period in the peak hold circuit 41 described above, and the sampling period is also synchronized with the peak hold circuit 41.
加算器43は、ピークホールド回路41によってホールドされた最大電圧Vmaxとボトムホールド回路42によってホールドされた最小電圧Vminとを足し合わせるものであり、加算手段に相当するものである。 The adder 43 adds the maximum voltage Vmax held by the peak hold circuit 41 and the minimum voltage Vmin held by the bottom hold circuit 42, and corresponds to addition means.
ウィンドウコンパレータ44は、差動出力回路42の差動出力、つまり入力信号の直流成分を上限しきい値VRHと下限しきい値VRLと比較する判定手段として用いられるものである。入力信号の直流成分が上限しきい値VRHと下限しきい値VRLの間の範囲に入っていれば、ウィンドウコンパレータ44からダイアグ信号が出力されず、その範囲から外れている場合にはウィンドウコンパレータ44からダイアグ信号が出力されるようになっている。 The window comparator 44 is used as a determination unit that compares the differential output of the differential output circuit 42, that is, the DC component of the input signal, with the upper limit threshold value VRH and the lower limit threshold value VRL. If the DC component of the input signal is in the range between the upper threshold value VRH and the lower threshold value VRL, the diagnostic signal is not output from the window comparator 44, and if it is out of the range, the window comparator 44 is output. A diagnostic signal is output from
図2に、上記のように構成されたセンサ回路における異常検出回路の具体的な回路構成の一例を示す。 FIG. 2 shows an example of a specific circuit configuration of the abnormality detection circuit in the sensor circuit configured as described above.
この図に示されるように、ピークホールド回路41は、オペアンプ41aとコンデンサ41b、スイッチ41cおよびダイオード41dを有した構成となっている。オペアンプ41aの非反転入力端子に入力信号が入力されるようになっており、オペアンプ41aの出力端子にダイオード41dのアノードが接続されている。また、ダイオード41dのカソードとオペアンプ41aの反転入力端子とが接続され、さらに、ダイオード41dのカソードとGNDとの間に、互いに並列接続されるようにコンデンサ41bとスイッチ41cとが接続されている。 As shown in this figure, the peak hold circuit 41 has an operational amplifier 41a, a capacitor 41b, a switch 41c, and a diode 41d. An input signal is input to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 41a, and the anode of the diode 41d is connected to the output terminal of the operational amplifier 41a. Further, the cathode of the diode 41d and the inverting input terminal of the operational amplifier 41a are connected, and a capacitor 41b and a switch 41c are connected between the cathode of the diode 41d and GND so as to be connected in parallel to each other.
このように構成されたピークホールド回路41では、サンプリング期間中はスイッチ41cがオフ状態とされ、サンプリング周期毎にスイッチ41cがオン状態に駆動される。サンプリング期間中には、ダイオード41dがオペアンプ41aの出力端子に対して順方向に接続されていることから、オペアンプ41aの出力端子が最も高い電圧となった場合にも帰還されることになる。このため、コンデンサ41bに対してサンプリング期間中の最大電圧Vmaxが充電される。そして、サンプリング周期の1周期、つまりサンプリング期間が終了すると、スイッチ41cがオン状態となって、コンデンサ41bに充電された電圧がリフレッシュされる。 In the peak hold circuit 41 configured as described above, the switch 41c is turned off during the sampling period, and the switch 41c is driven to the on state every sampling cycle. During the sampling period, since the diode 41d is connected in the forward direction with respect to the output terminal of the operational amplifier 41a, feedback is also provided when the output terminal of the operational amplifier 41a reaches the highest voltage. For this reason, the capacitor 41b is charged with the maximum voltage Vmax during the sampling period. When one sampling period, that is, the sampling period ends, the switch 41c is turned on, and the voltage charged in the capacitor 41b is refreshed.
また、ボトムホールド回路42は、オペアンプ42aとコンデンサ42b、スイッチ42cおよびダイオード42dを有した構成となっている。オペアンプ42aの非反転入力端子に入力信号が入力されるようになっており、オペアンプ42aの出力端子にダイオード42dのカソードが接続されている。また、ダイオード42dのアノードとオペアンプ42aの反転入力端子とが接続され、さらに、ダイオード42dのアノードとGNDとの間に、互いに並列接続されるようにコンデンサ42bとスイッチ42cとが接続されている。 The bottom hold circuit 42 includes an operational amplifier 42a, a capacitor 42b, a switch 42c, and a diode 42d. An input signal is inputted to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 42a, and the cathode of the diode 42d is connected to the output terminal of the operational amplifier 42a. Further, the anode of the diode 42d and the inverting input terminal of the operational amplifier 42a are connected, and further, the capacitor 42b and the switch 42c are connected between the anode of the diode 42d and GND so as to be connected in parallel to each other.
このように構成されたボトムホールド回路42は、基本的にピークホールド回路41と同様の動作を行う。ただし、ダイオード42dがオペアンプ42aの出力端子に対して逆方向に接続されていることから、オペアンプ42aの出力端子が最も低い電圧となった場合のみ帰還されることになる。このため、コンデンサ42bに対してサンプリング期間中の最小電圧Vminが充電される。そして、サンプリング周期の1周期、つまりサンプリング期間が終了すると、スイッチ42cがオン状態となって、コンデンサ42bに充電された電圧がリフレッシュされる。 The bottom hold circuit 42 configured in this manner basically performs the same operation as the peak hold circuit 41. However, since the diode 42d is connected in the reverse direction with respect to the output terminal of the operational amplifier 42a, feedback is performed only when the output terminal of the operational amplifier 42a has the lowest voltage. Therefore, the capacitor 42b is charged with the minimum voltage Vmin during the sampling period. When one sampling period, that is, the sampling period ends, the switch 42c is turned on, and the voltage charged in the capacitor 42b is refreshed.
なお、ピークホールド回路41とボトムホールド回路42の出力電圧は、エミッタホロワ回路45、46を通じて加算器43に入力されることになるが、このエミッタホロワ回路45、46は単なるバッファとして機能するものである。 The output voltages of the peak hold circuit 41 and the bottom hold circuit 42 are input to the adder 43 through the emitter follower circuits 45 and 46. The emitter follower circuits 45 and 46 function as simple buffers.
加算器43は、オペアンプ43aと、オペアンプ43aの反転入力端子とエミッタホロワ回路45の出力端子との間に接続される抵抗43bと、エミッタホロワ回路46の出力端子とオペアンプ43aの反転入力端子との間に接続される抵抗43cと、オペアンプ43aの反転入力端子と出力端子との間に接続される抵抗43dとを備えた構成となっている。 The adder 43 includes an operational amplifier 43a, a resistor 43b connected between the inverting input terminal of the operational amplifier 43a and the output terminal of the emitter follower circuit 45, and an output terminal of the emitter follower circuit 46 and the inverting input terminal of the operational amplifier 43a. The resistor 43c is connected, and the resistor 43d is connected between the inverting input terminal and the output terminal of the operational amplifier 43a.
このように構成される加算器43により、ピークホールド回路41とボトムホールド回路42の出力電圧、つまり最大電圧Vmaxと最小電圧Vminが足し合わされ、その足し合わされた電圧が出力されるようになっている。以下、この加算器43の出力を異常検出信号という。 The adder 43 configured as described above adds the output voltages of the peak hold circuit 41 and the bottom hold circuit 42, that is, the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin, and outputs the added voltage. . Hereinafter, the output of the adder 43 is referred to as an abnormality detection signal.
ウィンドウコンパレータ44は、電源電圧VCCを上限しきい値VRHと下限しきい値VRLとに分割する3つの分圧抵抗44a〜44cと、2つのコンパレータ44d、44eと、アンド回路44fとを備えて構成されている。 The window comparator 44 includes three voltage dividing resistors 44a to 44c that divide the power supply voltage VCC into an upper limit threshold value VRH and a lower limit threshold value VRL, two comparators 44d and 44e, and an AND circuit 44f. Has been.
このように構成されるウィンドウコンパレータ44では、2つのコンパレータ44d、44eによって、電圧VRLおよび電圧VRHとそれぞれ比較される。そして、コンパレータ44eの方では電圧VRLよりも異常検出信号の電圧が低くなるとローレベル、コンパレータ44dの方では電圧VRLよりも異常検出信号の電圧が高くなるとローレベルが出力されるようになっている。このため、コンパレータ44d、44eのいずれか一方でも出力がローレベルになるとアンド回路44fからローレベルが出力され、ダイアグ信号とされるようになっている。 In the window comparator 44 configured in this way, the two comparators 44d and 44e compare with the voltage VRL and the voltage VRH, respectively. The comparator 44e outputs a low level when the voltage of the abnormality detection signal is lower than the voltage VRL, and the comparator 44d outputs a low level when the voltage of the abnormality detection signal is higher than the voltage VRL. . For this reason, when the output of either one of the comparators 44d and 44e becomes a low level, a low level is output from the AND circuit 44f to be a diagnosis signal.
次に、以上のように構成されるセンサ回路の作動について説明するが、本実施形態に示したセンサ回路のうち異常検出回路40以外に関しては従来から用いられているものであるため、ここでは異常検出回路40の作動についてのみ説明する。 Next, the operation of the sensor circuit configured as described above will be described. Of the sensor circuits shown in the present embodiment, the parts other than the abnormality detection circuit 40 are conventionally used, and therefore, here, an abnormality is described. Only the operation of the detection circuit 40 will be described.
まず、ヨー検出回路30における差動増幅回路33の差動出力が発生させられると、それが入力信号としてピークホールド回路41およびボトムホールド回路42に入力される。そして、ピークホールド回路41から最大電圧Vmaxが出力させられると共に、ボトムホールド回路42から最小電圧Vminが出力される。そして、これら最大電圧Vmaxと最小電圧Vminが加算器43によって足し合わされ、それに応じた電圧が出力されることになる。 First, when the differential output of the differential amplifier circuit 33 in the yaw detection circuit 30 is generated, it is input to the peak hold circuit 41 and the bottom hold circuit 42 as input signals. The peak hold circuit 41 outputs the maximum voltage Vmax, and the bottom hold circuit 42 outputs the minimum voltage Vmin. Then, the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin are added by the adder 43, and a voltage corresponding to that is output.
このときの最大電圧Vmaxと最小電圧Vminおよびこれらを足し合わせた電圧について、オフセット電圧に異常が発生していない正常状態と、異常が発生した異常状態における入力信号波形を示して説明する。 The maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin at this time and the voltage obtained by adding them will be described with reference to the normal state in which no abnormality has occurred in the offset voltage and the input signal waveforms in the abnormal state in which the abnormality has occurred.
図3は、オフセット電圧に異常が発生していない正常状態における入力信号波形を示しており、図3(a)はヨーが発生していない場合、図3(b)はヨーが発生した場合をそれぞれ示している。また、図4は、オフセット電圧が徐々に変動してしまうような異常が発生した場合の入力信号波形、図5は、オフセット電圧が瞬間的に異常になった場合の入力信号波形を示している。 FIG. 3 shows an input signal waveform in a normal state where no abnormality occurs in the offset voltage. FIG. 3A shows a case where yaw has not occurred, and FIG. 3B shows a case where yaw has occurred. Each is shown. FIG. 4 shows an input signal waveform when an abnormality occurs such that the offset voltage gradually changes, and FIG. 5 shows an input signal waveform when the offset voltage becomes abnormal abnormally. .
図3(a)に示されるように、入力信号のオフセット電圧が異常となっていない場合には、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminは、基準電圧VREFを中心として同じ幅Vaを有する電圧となる。ヨーが発生している場合には、ヨーが発生していない場合に対して、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminの値が変動するものの、同様のことが言える。 As shown in FIG. 3A, when the offset voltage of the input signal is not abnormal, the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin are voltages having the same width Va around the reference voltage VREF. The same can be said when the yaw is generated, although the values of the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin fluctuate with respect to the case where the yaw is not generated.
したがって、次式の関係が成り立ち、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminを足し合わせた場合には、一定電圧(2×VREF)を示すことになる。 Therefore, the relationship of the following equation is established, and when the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin are added, a constant voltage (2 × VREF) is indicated.
(数5)
VREF=(Vmax+Vmin)/2 …数式(5)
これに対し、オフセット電圧に異常が発生した場合には、図4に示されるように入力信号の中心がVREFから徐々にVREF2に変化してしまったり、図5に示されるように交流波形となるはずの入力信号が瞬間的に歪んだりしてしまう。
(Equation 5)
VREF = (Vmax + Vmin) / 2 Formula (5)
On the other hand, when an abnormality occurs in the offset voltage, the center of the input signal gradually changes from VREF to VREF2 as shown in FIG. 4, or an AC waveform is obtained as shown in FIG. The expected input signal is momentarily distorted.
これらの場合には、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminとを足し合わせたものが上記一定電圧とならなくなる。具体的には、図4に示されるケースでは、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminとを足し合わせた電圧がVREFとVREF2との間となる。また、図5に示されるケースでは、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminとを足し合わせた電圧がVREFよりも大きくなる。 In these cases, the sum of the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin does not become the constant voltage. Specifically, in the case shown in FIG. 4, a voltage obtained by adding the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin is between VREF and VREF2. In the case shown in FIG. 5, the sum of the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin is greater than VREF.
そして、このように加算器43によって最大電圧Vmaxと最小電圧Vminとが足し合わされた電圧がウィンドウコンパレータ44に入力され、この電圧がVREFを中心として設定される電圧VRL〜VRHの範囲(正常電圧範囲)内に入っているか否かが判定されることになる。 Then, a voltage obtained by adding the maximum voltage Vmax and the minimum voltage Vmin by the adder 43 is input to the window comparator 44, and this voltage is set in a range of voltages VRL to VRH centered on VREF (normal voltage range). It is determined whether or not it is inside.
以上説明したように、本実施形態では、異常検出回路40をピークホールド回路41とボトムホールド回路42とを備えた構成としている。そして、ピークホールド回路41によってホールドされる最大電圧Vmaxとボトムホールド回路42によってホールドされる最小電圧Vminとを足し合わせた電圧に基づいて、オフセット電圧の異常を検出するようにしている。 As described above, in the present embodiment, the abnormality detection circuit 40 is configured to include the peak hold circuit 41 and the bottom hold circuit 42. An abnormality of the offset voltage is detected based on a voltage obtained by adding the maximum voltage Vmax held by the peak hold circuit 41 and the minimum voltage Vmin held by the bottom hold circuit 42.
これにより、入力信号のオフセット電圧が徐々に変化していくような異常や、入力信号のオフセット電圧が瞬間的に異常になるような場合にも、それを検出してダイアグ信号を出力させることが可能となる。 As a result, even if the input signal offset voltage gradually changes or the input signal offset voltage becomes instantaneously abnormal, it can be detected and a diagnostic signal output. It becomes possible.
このように、オフセット電圧の異常を検出することが可能となる。そして、このような構成によれば、従来のようにLPFの時定数を大きくしなければならない等の制約を受けないため、オフセット電圧の異常を検出する際に遅延が生じることを防止でき、また、時定数以内で収束するような一時的なオフセット電圧の異常を検出できるセンサ回路とすることが可能となる。 In this way, it is possible to detect an abnormality in the offset voltage. According to such a configuration, since there is no restriction such as the need to increase the time constant of the LPF as in the prior art, it is possible to prevent a delay from occurring when detecting an offset voltage abnormality. Thus, it is possible to provide a sensor circuit capable of detecting a temporary offset voltage abnormality that converges within a time constant.
(他の実施形態)
上記実施形態では、サンプリング周期を入力信号の周期の4倍とした例を示したが、上述したように、少なくともサンプリング周期が入力信号の周期よりも長く設定されていれば、最大電圧Vmaxと最小電圧Vminを正確に求めることが可能である。また、サンプリング周期が入力信号の周期の4倍以外の複数倍となるようにしても構わない。
(Other embodiments)
In the above embodiment, an example in which the sampling period is four times the period of the input signal has been shown. However, as described above, the minimum voltage Vmax and the minimum voltage are set as long as at least the sampling period is set longer than the period of the input signal. It is possible to accurately determine the voltage Vmin. Also, the sampling period may be a plurality of times other than four times the period of the input signal.
上記実施形態では、ジャイロセンサに用いられるようなセンサ回路を例に挙げて説明したが、2つの検出信号の差動を求めてセンサ出力を発生させるようなセンサ回路であれば、他のセンサ回路にも本発明を適用することができる。 In the above embodiment, a sensor circuit used for a gyro sensor has been described as an example. However, other sensor circuits may be used as long as the sensor circuit generates a sensor output by obtaining a difference between two detection signals. The present invention can also be applied to.
10…振動子、20…駆動回路、30…ヨー検出回路、40…異常検出回路、
41…ピークホールド回路、41a…オペアンプ、41b…コンデンサ、
41c…スイッチ、41d…ダイオード、42…ボトムホールド回路、
42a…オペアンプ、42b…コンデンサ、42c…スイッチ、
42d…ダイオード、43…加算器、43a…オペアンプ、43b〜43d…抵抗、
44…ウィンドウコンパレータ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Vibrator, 20 ... Drive circuit, 30 ... Yaw detection circuit, 40 ... Abnormality detection circuit,
41 ... Peak hold circuit, 41a ... Operational amplifier, 41b ... Capacitor,
41c ... switch, 41d ... diode, 42 ... bottom hold circuit,
42a ... operational amplifier, 42b ... capacitor, 42c ... switch,
42d ... Diode, 43 ... Adder, 43a ... Operational amplifier, 43b-43d ... Resistance,
44: Window comparator.
Claims (3)
前記第1、第2検知信号を電圧変換する第1、第2電圧変換手段(31、32)と、
前記第1、第2電圧変換手段(31、32)によって電圧変換された前記第1、第2検知信号の差動を取る差動増幅手段(33)と、
前記差動増幅手段(33)の出力を入力信号として、所定のサンプリング周期毎に、前記入力信号の最大電圧(Vmax)をホールドするピークホールド手段(41)と、
前記所定のサンプリング周期毎に、前記入力信号の最小電圧(Vmin)をホールドするボトムホールド手段(42)と、
前記ピークホールド手段(41)にホールドされた前記最大電圧(Vmax)と前記ボトムホールド手段(42)にホールドされた前記最小電圧(Vmin)とを足し合わせた電圧を出力する加算手段(43)と、
前記加算手段(43)が出力する電圧が上限しきい値(VRH)と下限しきい値(VRL)の間の範囲に入っているか否かにより、オフセット電圧の異常を検出する判定手段(43)と、を備えていることを特徴とするオフセット電圧の異常検出回路を備えたセンサ回路。 Sensing means (10) for outputting first and second detection signals corresponding to the physical quantity;
First and second voltage converting means (31, 32) for converting the voltage of the first and second detection signals;
Differential amplifying means (33) for taking a differential of the first and second detection signals voltage-converted by the first and second voltage converting means (31, 32);
Peak hold means (41) for holding the maximum voltage (Vmax) of the input signal for each predetermined sampling period using the output of the differential amplification means (33) as an input signal;
Bottom hold means (42) for holding the minimum voltage (Vmin) of the input signal for each predetermined sampling period;
Adding means (43) for outputting a voltage obtained by adding the maximum voltage (Vmax) held by the peak hold means (41) and the minimum voltage (Vmin) held by the bottom hold means (42); ,
Judgment means (43) for detecting an abnormality in the offset voltage depending on whether or not the voltage output from the adding means (43) is within a range between the upper threshold (VRH) and the lower threshold (VRL). And a sensor circuit including an offset voltage abnormality detection circuit.
The sensor circuit according to claim 2, wherein the predetermined sampling period is set to a multiple of the period of the input signal.
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20091222 |