JP2008058228A - 測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力を測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる測定装置を提供する。
【解決手段】測定装置１は、入力データを所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ変換して取得するサンプリングデータに基づいて、演算手段３３で測定区間ごとの測定値を算出し、Ａ／Ｄ変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出手段３４で検出し、当該いずれかの測定区間に関して、検出手段３４で検出した結果と演算手段３３で算出された測定値とを出力するデータ出力手段３６を備える。
【選択図】図１

Description

本発明は、デジタルサンプリング方式で電流・電圧・電力を測定する測定装置に関する。

従来、入力回路で測定したアナログの電流、電圧値を所定のサンプリング周期でデジタル変換し、電流値、電圧値あるいは演算による電力値を測定値として出力する、いわゆるデジタルサンプリング方式で電流・電圧・電力を測定する測定装置がある。例えば、特許文献１には、デジタルサンプリング方式の積算電力量計であって、インターバル毎の積算電力を求める機能に加えて、積算電力をリアルタイムでモニタリングする技術が開示されている。

すなわち図４は、上述した従来の測定装置１００の構成を模式的に示すブロック図である。測定装置１００は、入力回路１１１、１１２、Ａ／Ｄ１２１、１２２、ピーク検出回路１２３、１２４、ＤＳＰ１３０、ピークラッチ回路１４０、ＣＰＵ１５０、表示部１６０を有する構成である。

入力回路１１１、１１２は、特に図示しない端子から入力される電圧Ｖ、電流Ｉを正規化する。Ａ／Ｄ１２１、１２２は、入力回路１１１、１１２の出力を所定のダイナミックレンジ（変換範囲）でアナログ・デジタル変換する。なお、Ａ／Ｄ１２１、１２２は、変換範囲の上限値又は下限値を超えた値が入力された場合はその上限値又は下限値を出力する。ピーク検出回路１２３、１２４は、入力回路１１１、１１２の出力がＡ／Ｄ１２１、１２２の変換範囲外である場合のピークオーバを検出し、ピークオーバ信号をピークラッチ回路１４０に出力する。

ＤＳＰ１３０（Digital Signal Processor）は、特に図示しない作業用ＲＡＭ（Random Access Memory）などを有し、所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ１２１、１２２の出力を取得、つまり電圧値や電流値を取得し、瞬時電力（電流値×電圧値）の算出を行う。また、ＤＳＰ１３０は、作業用ＲＡＭに所定時間分のデータ（例えば１サイクル分のデータ）を格納することで、積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などを行う。例えば、ＤＳＰ１３０は、上記所定時間を１周期（１波）分に設定することで、周期ごとの電圧、電流、電力を求めるサイクルバイサイクル測定を行う。

具体的には、ＤＳＰ１３０は、電流、電圧、電力の測定（サイクルバイサイクル測定）時において図５に示すような動作処理を行う。同図に示すように、先ず、所定のサイクル分の測定を行うための測定ループ処理（ステップＳ１０１〜Ｓ１０９）が開始される。次いで、電圧ＶのＡ／Ｄ値（瞬時電圧）がＡ／Ｄ１２１から取得され（ステップＳ１０２）、電流ＩのＡ／Ｄ値（瞬時電流）がＡ／Ｄ１２２から取得され（ステップＳ１０３）、その取得された瞬時電圧と瞬時電流の積による瞬時電力が算出されて（ステップＳ１０４）、取得された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力が作業用ＲＡＭなどに格納される（ステップＳ１０５）。

ステップＳ１０５に次いで、所定の測定区間、例えばサイクルバイサイクル測定時における１サイクル分の測定区間が終了したか否かが判定され（ステップＳ１０６）、終了していない場合はステップＳ１０２へ戻る。つまり、このステップＳ１０２〜Ｓ１０６までの一連の処理は、瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力をサンプリングする処理であり、予め設定されたサンプリング周期で行われる。

ステップＳ１０６に次いで、１測定区間のサンプリングが終了した場合（ステップＳ１０６：ＹＥＳ）、作業用ＲＡＭなどに格納された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力などを元に積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などの測定値の算出が行われ（ステップＳ１０７）、その算出された測定値がＣＰＵ１５０へ転送され（ステップＳ１０８）、次のループに移行される（ステップＳ１０９）。ＤＳＰ１３０では、上述した動作処理を行い、測定値をＣＰＵ１５０へ出力する。

ピークラッチ回路１４０は、ピーク検出回路１２３、１２４から出力されるピークオーバ信号をラッチし、そのピークオーバ信号を割り込みハンドラを通じてＣＰＵ１５０に伝える。ＣＰＵ１５０（Central Processing Unit）は、制御プログラムなどが格納されたＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭなどを備え、当該制御プログラムをＲＡＭに読み出して順次実行することで測定装置１００の各部を統括制御する。表示部１６０は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）などであり、ＣＰＵ１５０からの指示に基づいた画面表示を行う。

測定装置１００は、ＣＰＵ１５０の制御の下、ＤＳＰ１３０での測定・演算結果や、割り込みハンドラを通じたピークオーバ信号に基づいたピークオーバ情報などを表示部１６０の画面に表示する。具体的には、図６に示すように、入力電流を所定のサンプリング周期でデジタル変換し、測定区間Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３…でサイクルバイサイクル測定を行った場合、ＤＳＰ１３０では測定区間Ｋ１、Ｋ２、Ｋ３でのサンプリングに次いで、演算、出力が順次行われ、ＣＰＵ１５０ではその出力を受けて測定値の表示制御が行われる。また、時刻ｔ１〜ｔ２の間や時刻ｔ３〜ｔ４の間のＡ／Ｄ変換範囲外のピークオーバ部分は、ピーク検出回路１２４での検出に基づいて、直ちにＣＰＵ１５０でピークオーバの表示制御が行われる。
特開平７−９２２０９号公報

上述したように、従来の測定装置１００におけるピークオーバの検出・表示は、測定区間ごとの測定値との間で同期を取ってはいなかった。これは、ピークオーバの検出・表示が入力回路の保護と危険防止を本来の目的とするためである。

また、サンプリングの過程において、瞬間的に過大入力などが発生し、Ａ／Ｄ変換範囲を超えてしまった場合、誤って変化されたデジタル値（測定値）を含んだまま演算された電流・電圧・電力の測定値は、演算結果が許容範囲内であっても、測定値は正常でないといった事象が発生する。しかし、測定区間を複数周期にわたって長く設定する場合などでは、サンプリング数が多くなるため、それほど大きく影響するものではなかった。

しかしながら、近年では、風力発電や小型モータの評価等において、１周期（１波）ごとに電圧、電流、電力を求めるサイクルバイサイクル測定の要求が高まってきている。このサイクルバイサイクル測定では、従来の複数周期にわたるサンプリングに比べてサンプリング数も少なく、１周期ごとの測定値を厳密に要求している背景からも、ピークオーバ検出時の測定値の正当性が無視できなくなる。ところが、従来の測定装置１００では、ピークオーバの検出と測定値との間で同期が取れていないため、測定値の正当性を評価することができなかった。

本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力を測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる測定装置を提供することである。

上記課題を解決するために、請求項１に記載の発明は、入力データを所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ変換して取得するサンプリングデータに基づいて、測定区間ごとの測定値を算出する演算手段を有する測定装置において、前記いずれかの測定区間において、Ａ／Ｄ変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出する検出手段と、前記いずれかの測定区間に関する前記検出結果を格納するフラグ用メモリと、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記フラグ用メモリに格納された検出結果とを出力するデータ出力手段と、を備えることを特徴とする。

請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、前記検出手段は、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが当該Ａ／Ｄ変換範囲内に予め設定された上限閾値以上の値又は下限閾値以下の値であるか否かを判定することで、前記入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出することを特徴とする。

請求項３に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記検出手段は、前記いずれかの測定区間において、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが前記上限閾値以上の値である場合に上限を超えたピークオーバ状態であることを検出し、前記データ出力手段は、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とを出力することを特徴とする。

請求項４に記載の発明は、請求項２に記載の発明において、前記検出手段は、前記いずれかの測定区間において、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが前記下限閾値以下の値である場合に下限を下回るピークオーバ状態であることを検出し、前記データ出力手段は、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とを出力することを特徴とする。

請求項５に記載の発明は、請求項２〜４のいずれか一項に記載の発明において、前記検出手段における予め設定された上限閾値は前記Ａ／Ｄ変換範囲の上限値であることを特徴とする。

請求項６に記載の発明は、請求項２〜４のいずれか一項に記載の発明において、前記検出手段における予め設定された下限閾値は前記Ａ／Ｄ変換範囲の下限値であることを特徴とする。

本発明によれば、入力データを所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ変換して取得するサンプリングデータに基づいて測定区間ごとの測定値の算出する測定装置において、いずれかの測定区間に関して、Ａ／Ｄ変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出した検出結果と、前記算出された測定値とを出力する構成であるため、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力などを測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる。

以下、この発明の実施の形態について図１〜３を参照して説明するが、この発明は以下の実施の形態に限定しない。また、この発明の実施の形態は発明の最も好ましい一形態を示すものであり、発明の用途や用語はこれに限定しない。図１は、本発明である測定装置１の機能的構成を模式的に示すブロック図である。図２は、測定装置１の測定時の動作を例示するフローチャートである。図３は、測定装置１の表示部５０に表示される測定結果を例示する概念図である。

図１に示すように、測定装置１は、入力回路１１、１２、Ａ／Ｄ２１、２２、ＤＳＰ３０、ＣＰＵ４０、表示部５０を有する構成である。入力回路１１、１２は、特に図示しない端子から入力される電圧Ｖ、電流Ｉを正規化する。Ａ／Ｄ２１、２２は、入力回路１１、１２の出力をアナログ・デジタル変換する。

ＤＳＰ３０は、メモリ３１、３２、演算手段３３、検出手段３４、フラグ用メモリ３５、データ出力手段３６を有し、所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ２１、２２の出力を取得、つまり電圧値や電流値の取得や、瞬時電力（電流値×電圧値）の算出を行う構成である。なお、ＤＳＰ３０における上記各部の機能は、特に図示しないＤＳＰ３０内のＲＯＭに格納された制御プログラムを同じく特に図示しないＲＡＭの作業領域に展開して順次実行することで、実現する構成であってよい。

メモリ３１、３２は、Ａ／Ｄ２１、２２で変換されたデジタルデータ（電圧Ｖ、電流Ｉ）であり、所定のサンプリング周期で取得されたサンプリングデータを順次格納する。演算手段３３は、メモリ３１、メモリ３２に格納されたサンプリングデータに基づいた演算を行い、測定値を算出する。演算手段３３における演算は、Ａ／Ｄ２１、２２で同時に取得された電圧値、電流値を元にした瞬時電力の算出など、サンプリングデータごとに演算した測定値の算出や、測定区間内のサンプリングデータの平均値（平均電圧、平均電流、平均電圧…）の算出など、測定区間ごとに演算した測定値の算出を行う。なお、測定区間は、例えばサイクルバイサイクル測定では１周期（１波）分の時間であり、特に図示しないスイッチ等の操作部などにより、予め所定の時間が設定されている。

検出手段３４は、Ａ／Ｄ２１、２２の変換範囲の最大値／最小値が予め設定されており、メモリ３１、３２に格納されたサンプリングデータを順次読み出して比較することで、最大値の場合は＋側のピークオーバ状態、最小値の場合は−側のピークオーバ状態であることを検出する。例えば、Ａ／Ｄ２１、２２が１６ｂｉｔのＡ／Ｄ変換を行ってＦＦＦＦ〜００００の値を出力する場合、検出手段３４は、サンプリングデータを読み出して、入力が正しく変換されたか否かの真偽が不明な最大値（ＦＦＦＦ）又は最小値（００００）である場合にピークオーバ状態であることを検出する。フラグ用メモリ３５は、検出手段３４で検出された結果をメモリ３１、３２に格納されるサンプリングデータと対応付けて記憶するメモリである。

なお、検出手段３４は、Ａ／Ｄ２１、２２の変換範囲の最大値／最小値が予め設定される構成だけでなく、当該最大値／最小値に対して、若干のマージンを持って上限又は下限を示す閾値が予め設定されており、その上限の閾値以上又は下限の閾値以下の場合にピークオーバ状態を検出する構成であってよい。例えば、Ａ／Ｄ２１、２２が１６ｂｉｔのＡ／Ｄ変換を行ってＦＦＦＦ〜００００の値を出力し、上限の閾値がＦＦＦ０、下限の閾値が０００Ｆに設定されている場合、検出手段３４は、サンプリングデータを読み出して、ＦＦＦＦ〜ＦＦＦ０までの値又は００００〜０００Ｆまでの値の場合にピークオーバ状態であることを検出する。

データ出力手段３６は、いずれかの測定区間に関して、検出手段３４で検出した結果と演算手段３３で算出された測定値とをＣＰＵ４０に出力する機能部であり、演算手段３３で測定区間ごとに演算して算出された測定値を出力する際に、その測定区間のサンプリングデータに関する検出手段３４での検出結果をフラグ用メモリ３５から読み出して出力する。

ここで、電流、電圧、電力の測定（例えばサイクルバイサイクル測定）時にＤＳＰ３０が行う動作について説明する。図２に示すように、先ず、所定のサイクル分の測定を行うための測定ループ処理（ステップＳ１１〜Ｓ３１）が開始される。

なお、この測定ループ処理において、電圧の取得に関するステップＳ１２、Ｓ１３はメモリ３１で行われる処理である。また、電圧のＡ／Ｄ値の判定とその結果であるピークオーバ情報をフラグ用メモリ３５へ格納するステップＳ１４〜Ｓ１８は検出手段３４で行われる処理である。また、電流の取得に関するステップＳ１９、Ｓ２０はメモリ３２で行われる処理である。また、電流のＡ／Ｄ値の判定とその結果であるピークオーバ情報をフラグ用メモリ３５へ格納するステップＳ２１〜Ｓ２５は検出手段３４で行われる処理である。また、瞬時電圧の算出から測定区間終了判定及び測定値算出に関するステップＳ２６〜Ｓ２９は演算手段３３で行われる処理である。また、測定値の出力と測定ループの終了判定に関するステップＳ３０、Ｓ３１はデータ出力手段３６で行われる処理である。

次いで、電圧ＶのＡ／Ｄ値（瞬時電圧）がＡ／Ｄ２１から取得され（ステップＳ１２）、取得された電圧Ｖがメモリ３１に格納される（ステップＳ１３）。

次いで、電圧ＶのＡ／Ｄ値が変換範囲の最大値であるか否かが判定され（ステップＳ１４）、最大値でない場合は電圧ＶのＡ／Ｄ値が変換範囲の最小値であるか否かが判定される（ステップＳ１５）。なお、ステップＳ１４において最大値である場合は電圧が＋側のピークオーバであることがメモリ３１に格納された電圧Ｖに対応付けてフラグ用メモリ３５に格納され（ステップＳ１６、Ｓ１８）、同様に、ステップＳ１５において最小値である場合は電圧が−側のピークオーバであることがメモリ３１に格納された電圧Ｖに対応付けてフラグ用メモリ３５に格納される（ステップＳ１７、Ｓ１８）。

次いで、電流ＩのＡ／Ｄ値（瞬時電流）がＡ／Ｄ２２から取得され（ステップＳ１９）、取得された電流Ｉがメモリ３２に格納される（ステップＳ２０）。

次いで、電流ＩのＡ／Ｄ値が変換範囲の最大値であるか否かが判定され（ステップＳ２１）、最大値でない場合は電流ＩのＡ／Ｄ値が変換範囲の最小値であるか否かが判定される（ステップＳ２２）。なお、ステップＳ２１において最大値である場合は電流が＋側のピークオーバであることがメモリ３２に格納された電流Ｉに対応付けてフラグ用メモリ３５に格納され（ステップＳ２３、Ｓ２５）、同様に、ステップＳ２２において最小値である場合は電流が−側のピークオーバであることがメモリ３２に格納された電流Ｉに対応付けてフラグ用メモリ３５に格納される（ステップＳ２４、Ｓ２５）。

次いで、瞬時電圧と瞬時電流の積による瞬時電力が算出され（ステップＳ２６）、メモリ３１、３２等のメモリに格納され（ステップＳ２７）、所定の測定区間、例えばサイクルバイサイクル測定時における１サイクル分の測定区間が終了したか否かが判定されて（ステップＳ２８）、終了していない場合はステップＳ１２に戻って、次のサンプリングデータに関する処理が行われる。つまり、このステップＳ１２〜Ｓ２８までの一連の処理は、瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力を取得する処理であり、予め設定されたサンプリング周期で行われる。

ステップＳ２８に次いで、１測定区間のサンプリングが終了した場合（ステップＳ２８：ＹＥＳ）、メモリ３１、３２に格納された瞬時電圧、瞬時電流、瞬時電力などを元に、積算電力の算出、平均電流値や平均電圧値の算出などの上記測定区間における測定値の算出が行われる（ステップＳ２９）。

次いで、その算出された測定値と共に、フラグ用メモリ３５に格納された上記測定区間の測定値の算出に係るサンプリングデータのピークオーバに関する情報（電圧／電流）がＣＰＵ４０に出力され（ステップＳ３０）、次のループに移行される（ステップＳ３１）。

ＤＳＰ３０では、上述した動作を行うことで、測定区間ごとの測定値（電圧、電流、電力）を出力する際に、その測定区間に係るサンプリングデータがＡ／Ｄ２１、２２のダイナミックレンジ（変換範囲）内の値であるか否かを検出した結果であるピークオーバ情報を出力する。

なお、上述したＤＳＰ３０の動作説明はサンプリングデータが変換範囲の最大値（上限値）又は最小値（下限値）の場合を検出する構成であるが、前述した上限の閾値以上又は下限の閾値以下の場合を検出する構成も同様であることは言うまでもない。

ＣＰＵ４０は、制御プログラムなどが格納されたＲＯＭやＲＡＭなどを備え、当該制御プログラムをＲＡＭに読み出して順次実行することで測定装置１の各部を統括制御する。表示部５０は、ＬＣＤやＣＲＴ（Cathode Ray Tube）などであり、ＣＰＵ４０からの指示に基づいた画面表示を行う。

測定装置１は、上述した構成により、表示部５０において、図３に示すようなＤＳＰ３０からの出力に基づいた測定結果を表示することができる。つまり、表示部５０には、
測定区間である「Ｎｏ．」ごとの「周波数」、「測定電圧」、「測定電流」、「測定電力」などの測定結果が表示される。

また、表示部５０には、ＤＳＰ３０からの出力に基づいて行われるため、いずれかの測定区間に係るサンプリングデータが変換範囲の下限を下回ったピークオーバである場合に、そのことを示す「Ｐ−」がその測定区間に対応する位置に表示される。同様に、表示部５０には、ＤＳＰ３０からの出力に基づいて、いずれかの測定区間に係るサンプリングデータが変換範囲の上限を上回ったピークオーバである場合に、そのことを示す「Ｐ＋」がその測定区間に対応する位置に表示される。このため、ユーザは、測定区間の測定値の正当性を視認することができる。

以上のように、測定装置１は、入力データを所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ変換して取得するサンプリングデータに基づいて、演算手段３３で測定区間ごとの測定値を算出し、Ａ／Ｄ変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に収まる値であるか否かを検出手段３４で検出し、当該いずれかの測定区間に関して、検出手段３４で検出した結果と演算手段３３で算出された測定値とを出力するデータ出力手段３６を備える構成である。このため、測定装置１は、所定の区間ごとに複数のサンプリングデータで電流・電圧・電力などを測定する際に、当該測定値の正当性を評価することができる。

なお、本実施の形態における記述は、本発明の一例を示すものであり、これに限定するものではない。本実施の形態における構成及び動作に関しては、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。

本発明である測定装置１の機能的構成を模式的に示すブロック図である。 測定装置１の測定時におけるＤＳＰ３０の動作を例示するフローチャートである。 測定装置１の表示部５０に表示される測定結果を例示する概念図である。 従来の測定装置１００の機能的構成を模式的に示すブロック図である。 測定装置１００の測定時の動作を例示するフローチャートである。 測定時における測定装置１００の各部の動作タイミングを例示するタイミングチャートである。

符号の説明

１ 測定装置
１１、１２ 入力回路
２１、２２ Ａ／Ｄ
３０ ＤＳＰ
３１、３２ メモリ
３３ 演算手段
３４ 検出手段
３５ フラグ用メモリ
３６ データ出力手段
４０ ＣＰＵ
５０ 表示部
Ｖ 電圧
Ｉ 電流

Claims (6)

1. 入力データを所定のサンプリング周期でＡ／Ｄ変換して取得するサンプリングデータに基づいて、測定区間ごとの測定値を算出する演算手段を有する測定装置において、
   前記いずれかの測定区間において、Ａ／Ｄ変換してサンプリングデータを取得する際の入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出する検出手段と、
   前記いずれかの測定区間に関する前記検出結果を格納するフラグ用メモリと、
   前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記フラグ用メモリに格納された検出結果とを出力するデータ出力手段と、
   を備えることを特徴とする測定装置。
2. 前記検出手段は、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが当該Ａ／Ｄ変換範囲内に予め設定された上限閾値以上の値又は下限閾値以下の値であるか否かを判定することで、前記入力データが当該Ａ／Ｄ変換範囲に基づいた値であるか否かを検出することを特徴とする請求項１に記載の測定装置。
3. 前記検出手段は、前記いずれかの測定区間において、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが前記上限閾値以上の値である場合に上限を超えたピークオーバ状態であることを検出し、
   前記データ出力手段は、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記上限を超えたピークオーバ状態である検出結果とを出力することを特徴とする請求項２に記載の測定装置。
4. 前記検出手段は、前記いずれかの測定区間において、前記Ａ／Ｄ変換したサンプリングデータが前記下限閾値以下の値である場合に下限を下回るピークオーバ状態であることを検出し、
   前記データ出力手段は、前記いずれかの測定区間に関して、前記演算手段で算出された測定値と前記下限を下回るピークオーバ状態である検出結果とを出力することを特徴とする請求項２に記載の測定装置。
5. 前記検出手段における予め設定された上限閾値は前記Ａ／Ｄ変換範囲の上限値であることを特徴とする請求項２〜４のいずれか一項に記載の測定装置。
6. 前記検出手段における予め設定された下限閾値は前記Ａ／Ｄ変換範囲の下限値であることを特徴とする請求項２〜４のいずれか一項に記載の測定装置。

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