JP2008053365A - 基板露光装置及び基板露光方法 - Google Patents
基板露光装置及び基板露光方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008053365A JP2008053365A JP2006226795A JP2006226795A JP2008053365A JP 2008053365 A JP2008053365 A JP 2008053365A JP 2006226795 A JP2006226795 A JP 2006226795A JP 2006226795 A JP2006226795 A JP 2006226795A JP 2008053365 A JP2008053365 A JP 2008053365A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- chuck
- exposure
- stage
- exposure mask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Abstract
【解決手段】本発明の基板露光装置は、照射光を照射する光源20と、光源20の下方に配置された露光マスク15と、露光マスク15の下方に並列に設けられ、露光マスク15に対して水平方向に移動可能な一対のステージ10とを備えている。各ステージ10は、ベース3と、当該ベース3上に設けられ、基板50を配置するチャック2とを有している。チャック2は、ベース3に対して上下方向に略一体に構成されている。チャック2側面に、バーミラー1が設けられている。チャック2の側方に、バーミラー1によるレーザ光の反射を受け、チャック2の水平方向位置を検出するレーザ照射測定部11を設けられている。
【選択図】図1
Description
以下、本発明に係る基板露光装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。ここで、図1乃至図7Cは本発明の実施の形態を示す図である。
2a,2b チャック
3a,3b ベース
5a,5b チルト
7b ピン
10a,10b ステージ
11x,11y レーザ照射測定部
15 露光マスク
20 光源
30 水平方向移動機構
31 X方向移動機構
36 Y方向移動機構
50a,50b,50b1,50b2 基板
60 基板移動機構
81 基板配置工程
82 第一移動工程
83 第一露光工程
87 第二移動工程
88 第二露光工程
Claims (7)
- 照射光を照射する光源と、
光源の下方に配置された露光マスクと、
露光マスクの下方に並列に設けられ、露光マスクに対して水平方向に移動可能な一対のステージとを備え、
各ステージは、ベースと、当該ベース上に設けられ、基板を配置するチャックとを有し、
チャックは、ベースに対して上下方向に略一体に構成され、
チャック側面に、バーミラーが設けられ、
チャック側方に、バーミラーによるレーザ光の反射を受け、チャックの水平方向位置を検出するレーザ照射測定部を設けたことを特徴とする基板露光装置。 - チャックは、ベースに対する間隙の大きさを調整するチルトを介して、ベースに連結され、ベースに対して微調整可能となることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- ステージは、チャックを貫通して上下方向に延び、チャック上に配置された基板を持ち上げる突出自在の複数のピンをさらに有することを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- 複数のピンによって持ち上げられた基板を、ステージから移動させる基板移動機構をさらに備えたことを特徴とする請求項3記載の基板露光装置。
- ステージは、水平方向に移動自在の水平方向移動機構上に配置されることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
- 水平方向移動機構は、水平方向のうち、一方向に移動するX方向移動機構と、水平方向のうち、当該一方向に直交する方向に移動するY方向移動機構とを有することを特徴とする請求項5記載の基板露光装置。
- 一の基板を、一方のステージのチャック上に配置する基板配置工程と、
一方のステージのチャック上に配置された一の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第一移動工程と、
露光マスク下方に移動させた一の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第一露光工程と、
一対のステージを水平移動させて、露光された一の基板を露光マスク下方の露光位置から露光位置外方の第一待機位置まで移動させるとともに、露光位置外方の第二待機位置にある他方のステージのチャック上に予め配置された他の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第二移動工程と、
露光マスク下方の露光位置に移動させた他の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第二露光工程と、
を備えたことを特徴とする基板露光方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006226795A JP4888768B2 (ja) | 2006-08-23 | 2006-08-23 | 基板露光装置及び基板露光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006226795A JP4888768B2 (ja) | 2006-08-23 | 2006-08-23 | 基板露光装置及び基板露光方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008053365A true JP2008053365A (ja) | 2008-03-06 |
JP4888768B2 JP4888768B2 (ja) | 2012-02-29 |
Family
ID=39237146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006226795A Expired - Fee Related JP4888768B2 (ja) | 2006-08-23 | 2006-08-23 | 基板露光装置及び基板露光方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4888768B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101227191B1 (ko) * | 2011-04-25 | 2013-01-28 | 위아코퍼레이션 주식회사 | 정밀 위치 제어에 의한 레이저 결정화 장치 및 방법 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05134753A (ja) * | 1991-11-14 | 1993-06-01 | Hitachi Ltd | 位置決め装置 |
JP2005189775A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Nsk Ltd | 露光装置 |
JP2005191557A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-07-14 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法、デバイス製造方法 |
-
2006
- 2006-08-23 JP JP2006226795A patent/JP4888768B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05134753A (ja) * | 1991-11-14 | 1993-06-01 | Hitachi Ltd | 位置決め装置 |
JP2005191557A (ja) * | 2003-12-03 | 2005-07-14 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法、デバイス製造方法 |
JP2005189775A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Nsk Ltd | 露光装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101227191B1 (ko) * | 2011-04-25 | 2013-01-28 | 위아코퍼레이션 주식회사 | 정밀 위치 제어에 의한 레이저 결정화 장치 및 방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4888768B2 (ja) | 2012-02-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI331357B (ja) | ||
JP5002440B2 (ja) | 投影システムの焦点面に対して基板のターゲット部分を位置合わせする方法 | |
JP6880032B2 (ja) | インスペクションのための方法及び装置 | |
JP4398912B2 (ja) | リソグラフィ装置 | |
TW201832024A (zh) | 用於預測量測方法的效能之方法及設備、量測方法和設備 | |
JP2005354066A (ja) | 整列マーカ、リソグラフィ装置およびそれを使うデバイス製造方法 | |
KR20090125010A (ko) | 기판 내의 결함들을 결정하는 방법 및 리소그래피 프로세스에서 기판을 노광하기 위한 장치 | |
JP2006024944A (ja) | アライメント方法及び装置、リソグラフィ装置、デバイス製造方法並びにアライメント・ツール | |
JP2009170874A (ja) | 基板を配置する方法、基板を搬送する方法、支持システムおよびリソグラフィ投影装置 | |
JP2009135442A (ja) | 基板搬送方法、搬送システムおよびリソグラフィ投影装置 | |
JP2021119622A (ja) | リソグラフィ装置及びリソグラフィ装置の動作方法 | |
JP4881407B2 (ja) | リソグラフィ装置、レチクル交換ユニットおよびデバイス製造方法 | |
JP4888768B2 (ja) | 基板露光装置及び基板露光方法 | |
US7405810B2 (en) | Method and apparatus for positioning a substrate on a substrate table | |
JP2012054500A (ja) | 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法 | |
NL2003577A (en) | Calibration method and lithographic apparatus for calibrating an optimum take over height of a substrate. | |
JP2007281384A (ja) | マーク形成方法,マーク計測装置およびマーク計測方法 | |
JP4831483B2 (ja) | 露光装置及び露光方法 | |
JP2004259845A (ja) | パラメータ調整方法、物体搬送方法、露光装置、及びプログラム | |
JP4641779B2 (ja) | 露光装置 | |
KR20180021140A (ko) | 기판에 마크 패턴을 전사하는 방법, 캘리브레이션 방법 및 리소그래피 장치 | |
TWI234189B (en) | A method of aligning a substrate, a computer readable medium, a device manufacturing method and a device manufactured thereby | |
JP2003060000A (ja) | 基板搬送装置及び露光装置、並びにデバイス製造方法 | |
JPH09320948A (ja) | 基板の受け渡し方法及び露光装置 | |
JP2003257841A (ja) | マーク位置検出方法及び装置、位置検出方法及び装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090625 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110708 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110715 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110908 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111118 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |