JP2008053365A - 基板露光装置及び基板露光方法 - Google Patents

基板露光装置及び基板露光方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2008053365A
JP2008053365A JP2006226795A JP2006226795A JP2008053365A JP 2008053365 A JP2008053365 A JP 2008053365A JP 2006226795 A JP2006226795 A JP 2006226795A JP 2006226795 A JP2006226795 A JP 2006226795A JP 2008053365 A JP2008053365 A JP 2008053365A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
chuck
exposure
stage
exposure mask
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006226795A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4888768B2 (ja
Inventor
Keiichi Kotani
谷 圭 一 小
Atsushi Yamamoto
本 篤 志 山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2006226795A priority Critical patent/JP4888768B2/ja
Publication of JP2008053365A publication Critical patent/JP2008053365A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4888768B2 publication Critical patent/JP4888768B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Abstract

【課題】バーミラーの振動によってチャックに対するバーミラーの位置がずれず、かつチャック上に配置された基板の位置を正確に把握することができる。
【解決手段】本発明の基板露光装置は、照射光を照射する光源20と、光源20の下方に配置された露光マスク15と、露光マスク15の下方に並列に設けられ、露光マスク15に対して水平方向に移動可能な一対のステージ10とを備えている。各ステージ10は、ベース3と、当該ベース3上に設けられ、基板50を配置するチャック2とを有している。チャック2は、ベース3に対して上下方向に略一体に構成されている。チャック2側面に、バーミラー1が設けられている。チャック2の側方に、バーミラー1によるレーザ光の反射を受け、チャック2の水平方向位置を検出するレーザ照射測定部11を設けられている。
【選択図】図1

Description

本発明は、基板に露光マスクを介して照射光を照射する基板露光装置及び基板露光方法に係り、とりわけ、基板の位置を正確に把握することができる基板露光装置及び基板露光方法に関する。
従来の基板露光装置のステージ10は、図8に示すように、ベース3と、当該ベース3上に設けられ、上下方向に移動自在な上下方向移動機構9と、当該上下方向移動機構9上に設けられ、基板50を配置するチャック2とを有している。なお、ステージ10は、水平方向に移動自在な水平方向移動機構(図示せず)上に配置されている。
また、ステージ10は、上下方向移動機構が、チャック2を下方に移動させると、チャック2に設けられた孔(図示せず)を通過して、基板50を支持する複数のピン(図示せず)を有している(図8参照)。そして、ステージ10近傍に配置された基板移動機構が、複数のピンで支持された露光後の基板50の下面を支持し、ステージか10から基板50を移動させる(図8参照)。
また、図8に示すように、ステージ10のベース3の側面には、チャック2の高さ位置にくるよう、固定棒8を介してバーミラー1が設けられている。また、チャック2の側方には、バーミラー1によるレーザ光LBの反射を受け、チャック2上の基板50の水平方向位置を検出するレーザ照射測定部11が設けられている。
しかしながら、ベース3の側面に、固定棒8を介してバーミラー1が設けられているため、水平方向移動機構によって、チャック2上に配置された基板50を露光位置に移動させると、チャック2に対してバーミラー1が相対的に振動してしまい、チャック2の位置を正確に把握することができない。また、このようにバーミラー1が振動することによって、バーミラー1のベース3に対する固定が弛んでしまい、チャック2に対するバーミラー1の位置がずれてしまうこともある。
本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、バーミラーの振動によってチャックに対するバーミラーの位置がずれず、かつチャック上に配置された基板の位置を正確に把握することができる基板露光装置、及び当該基板露光装置を用いた基板露光方法を提供することを目的とする。
本発明は、照射光を照射する光源と、光源の下方に配置された露光マスクと、露光マスクの下方に並列に設けられ、露光マスクに対して水平方向に移動可能な一対のステージとを備え、各ステージが、ベースと、当該ベース上に設けられ、基板を配置するチャックとを有し、チャックが、ベースに対して上下方向に略一体に構成され、チャック側面に、バーミラーが設けられ、チャック側方に、バーミラーによるレーザ光の反射を受け、チャックの水平方向位置を検出するレーザ照射測定部を設けたことを特徴とする基板露光装置である。
このような構成により、チャックに対するバーミラーの位置がずれず、かつチャック上に配置された基板の位置を正確に把握することができる。
本発明は、チャックが、ベースに対する間隙の大きさを調整するチルトを介して、ベースに連結され、ベースに対して微調整可能となることを特徴とする基板露光装置である。
このような構成により、チャックのベースに対する間隙を、微調整することができる。
本発明は、ステージが、チャックを貫通して上下方向に延び、チャック上に配置された基板を持ち上げる突出自在の複数のピンをさらに有することを特徴とする基板露光装置である。
このような構成により、複数のピンは、ステージのチャック上に配置された基板を上方に持ち上げることができ、当該基板を、容易にステージから取り除くことができる。
本発明は、複数のピンによって持ち上げられた基板を、ステージから移動させる基板移動機構をさらに備えたことを特徴とする基板露光装置である。
このような構成により、複数のピンによって持ち上げられた基板を、ステージから自動的に移動させることができる。
本発明は、ステージが、水平方向に移動自在の水平方向移動機構上に配置されることを特徴とする基板露光装置である。
このような構成により、ステージのチャック上に配置された基板は、水平方向に自在に移動することができる。
本発明は、水平方向移動機構が、水平方向のうち、一方向に移動するX方向移動機構と、水平方向のうち、当該一方向に直交する方向に移動するY方向移動機構とを有することを特徴とする基板露光装置である。
本発明は、一の基板を、一方のステージのチャック上に配置する基板配置工程と、一方のステージのチャック上に配置された一の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第一移動工程と、露光マスク下方に移動させた一の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第一露光工程と、一対のステージを水平移動させて、露光された一の基板を露光マスク下方の露光位置から露光位置外方の第一待機位置まで移動させるとともに、露光位置外方の第二待機位置にある他方のステージのチャック上に予め配置された他の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第二移動工程と、露光マスク下方の露光位置に移動させた他の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第二露光工程と、を備えたことを特徴とする基板露光方法である。
このような構成により、チャックに対するバーミラーの位置がずれず、かつチャック上に配置された基板の位置を正確に把握することができる。
本発明によれば、ベースに対して上下方向に略一体に構成されるとともに、側面にバーミラーが設けられたチャックを用いることによって、バーミラーの振動によってチャックに対するバーミラーの位置がずれず、かつチャック上に配置された基板の位置を正確に把握することができる。
実施の形態
以下、本発明に係る基板露光装置の実施の形態について、図面を参照して説明する。ここで、図1乃至図7Cは本発明の実施の形態を示す図である。
図1、図2及び図4に示すように、基板露光装置は、紫外線(照射光)を照射する光源20と、光源20の下方に配置された露光マスク15と、露光マスク15の下方に並列に設けられ、露光マスク15に対して水平方向に移動可能な一対のステージ10a,10bとを備えている。なお、露光マスク15は、その周縁で、マスク保持部40によって保持されている。
図1乃至図4に示すように、各ステージ10a,10bは、ベース3a,3bと、当該ベース3a,3b上に設けられ、基板50a,50bを配置するチャック2a,2bとを有している。このうち、各々のチャック2a,2bは、ベース3a,3bに対する間隙の大きさを調整するチルト5a,5bを介して、対応するベース3a,3bに連結されている。なお、チャック2a,2bは、チルト5a,5bによって、ベース3a,3bに対する間隙を、微調整できるだけであり、上下方向に略一体に構成されている。
また、図1乃至図4に示すように、チャック2aのY方向側の側面に、バーミラー1yaが設けられている。また、チャック2bのY方向側の側面に、バーミラー1ybが設けられ、X方向側の側面に、バーミラー1xが設けられている。
また、図1乃至図3に示すように、チャック2a,2bのY方向側の側方にレーザ照射測定部11yが設けられ、チャック2bのX方向側の側方にレーザ照射測定部11xが設けられている。
また、図4に示すように、ステージ10bは、チャック2bを貫通して上下方向に延び、チャック2b上に配置された基板50bを持ち上げる突出自在の複数のピン7bを有している。
また、図1に示すように、ステージ10b側方には、このように複数のピン7bによって持ち上げられた基板50bを、ステージ10bから移動させる基板移動機構60が配置されている。この基板移動機構60は、図5(a)(b)に示すように、基板50bを持ち上げている複数のピン7bの間に挿通され、基板50bをステージ10bから移動させる挿入棒61を有している。
なお、図示しないが、ステージ10aも同様に、チャック2aを貫通して上下方向に延び、チャック2a上に配置された基板50aを持ち上げる突出自在の複数のピンを有している。そして、ステージ10aのピンが基板50aを持ち上げた後、基板移動機構60は、基板50aを持ち上げている複数のピンの間に挿入棒61を挿通し、基板50aをステージ10aから移動させることができる。
また、図1、図2及び図4に示すように、各々のステージ10a,10bは一体となり、水平方向に移動自在の水平方向移動機構30上に配置されている。この水平方向移動機構30は、X方向(水平方向のうち、一方向)に移動するX方向移動機構31と、Y方向(水平方向のうち、当該一方向に直交する方向)に移動するY方向移動機構36とを有している。
また、図1に示すように、レーザ照射測定部11x及びレーザ照射測定部11yは各々、制御部11Aに接続されている。
なお、図1、図2及び図4に示すように、Y方向移動機構36は、基台13上に配置され、Y方向に延在するレール39と、当該レール39を摺動自在に把持する把持部38と、当該把持部38上に配置されたY土台37とからなっている。また、図1、図2及び図4に示すように、X方向移動機構31は、Y土台37上に配置され、X方向に延在するレール34と、当該レール34を摺動自在に把持する把持凹部33を有するX土台32とからなっている。
また、図2に示すように、光源20は、超高圧水銀灯20aと、この水銀灯20aの背部に設けられ、水銀灯20aからの光を集光するパラボラミラー21と、パラボラミラー21からの光を反射するコールドミラー22と、コールドミラー22からの光を反射する球面鏡23とを有している。また、コールドミラー22と球面鏡23との間に、シャッタ24およびインテグレータレンズ26とが設けられている。
ところで、図8に示すように、従来のチャック2は、上下方向に移動自在な上下方向移動機構9上に配置されている。このため、チャック2の側面にバーミラー1を設けたとしても、バーミラー1の上下方向の位置がずれてしまうので、チャック2上の基板50の水平方向位置を正確に検出することができない。
これに対して、本発明によれば、上述のように、チャック2a,2bが、上下方向移動機構9を介すことなく、ベース3a,3bに対して上下方向に略一体に構成されている。このため、図1乃至図4に示すように、チャック2a,2bの側面に、バーミラー1を直接設けることができる。
次に、このような構成からなる本実施の形態の作用について述べる。
まず、基板移動機構60が、基板(一の基板)50aを下方から支持した後、一方のステージ10aのチャック2a上に配置する(第一基板配置工程81)(図6及び図7A(a)参照)。このとき、基板50aは、第一待機位置に位置している。
次に、X方向移動機構31により、一対のステージ10a,10bがX方向(図7A(b)の矢印の方向)に移動する。このことによって、一方のステージ10aのチャック2a上に配置された基板50aが、露光マスク15下方の露光位置に移動する(第一移動工程82)(図6及び図7A(b)参照)。このとき、ステージ10aとステージ10bは一体となっているので、ステージ10bのチャック2b上に配置され、既に露光された基板(他の基板)50b1は、露光位置外方の第二待機位置に移動する(図7A(b)参照)。
このように、X方向移動機構31により、一対のステージ10a,10bがX方向に移動する際、チャック2のX方向側方に設けられたレーザ照射測定部11xから照射されたレーザ光LBxが、チャック2のX方向の側面に設けられたバーミラー1xによって反射されて、レーザ照射測定部11xに戻ってくる(図1及び図7A(b)参照)。
そして、制御部11Aが、レーザ照射測定部11xによりレーザ光LBxが照射されてから、バーミラー1xで反射されてレーザ照射測定部11xに戻ってくるまでの時間を測定する。このことによって、制御部11Aはレーザ照射測定部11xからバーミラー1xまでの距離を計算することができ、制御部11Aは基板50a及び基板50bのX方向の位置を計測する。
次に、露光マスク15下方に移動させた基板50aを、光源20から照射され露光マスク15を通過する紫外線により露光する(第一露光工程83)(図2及び図6)。
このとき、基板50aが、X方向移動機構31によりX方向に所望に応じて移動し、Y方向移動機構36によりY方向に所望に応じて移動する(図7A(c)参照)。
このように基板50aが、X方向及びY方向を移動する際、制御部11Aは、レーザ照射測定部11xによってレーザ光LBxが照射されてから、バーミラー1xで反射してレーザ照射測定部11xに戻ってくるまでの時間を測定する。このことによって、制御部11Aはレーザ照射測定部11xからバーミラー1xまでの距離を計算し、基板50aのX方向の位置を計測する。また、同様に、制御部11Aは、レーザ照射測定部11yによってレーザ光LByが照射されてから、バーミラー1yaで反射されてレーザ照射測定部11yに戻ってくるまでの時間を測定する。このことによって、制御部11Aは、レーザ照射測定部11yからバーミラー1yaまでの距離を計算し、基板50aのY方向の位置を計測する(図1及び図7A(c)参照)。
このように、制御部11Aにおいて、基板50aのX方向位置及びY方向位置を計測しているので、制御部11AによりX方向移動機構31及びY方向移動機構36を駆動制御することができる。
次に、複数のピン7bが、ステージ10bのチャック2b上に配置された基板50b1を上方に持ち上げる。その後、基板移動機構60が、当該複数のピン7bの間に、挿入棒61を挿入し、基板50b1を下方から支持して、基板50b1をステージ10bから取り除く(完了第二基板除去工程84)(図5(a)(b)、図6及び図7B(a)参照)。このように、複数のピン7bが、ステージ10bのチャック2b上に配置された基板50bを上方に持ち上げるので、基板移動機構60により、基板50bを、容易にステージ10から取り除くことができる。
次に、基板移動機構60が、基板50b1が取り除かれた他方のステージ10bに、新しい基板(他の基板)50b2を下方から支持した後、配置させる(新第二基板配置工程85)(図6及び図7B(b)参照)。
次に、X方向移動機構31により、一対のステージ10a,10bがX方向(図7C(a)の矢印の方向)に移動し、露光された基板50aが露光マスク15下方の露光位置から、露光位置外方の第一待機位置まで移動する。なお、ステージ10aとステージ10bは一体となっているので、露光位置外方の第二待機位置にある他方のステージ10b上に配置された基板50b2は、露光マスク15下方の露光位置に移動する(第二移動工程87)(図6及び図7C(a)参照)。
このようにX方向移動機構31によって、一対のステージ10がX方向に移動する際、制御部11Aは、レーザ照射測定部11xによりレーザ光LBxが照射されてから、バーミラー1xで反射されてレーザ照射測定部11xに戻ってくるまでの時間を測定する。このことによって、制御部11Aは、レーザ照射測定部11xからバーミラー1xまでの距離を計算し、基板50a及び基板50bのX方向の位置を計測する(図1及び図7C(a)参照)。
次に、露光マスク15下方の露光位置に移動させた基板50b2を、光源20から照射され露光マスク15を通過する紫外線により露光する(第二露光工程88)(図2及び図6参照)。
このとき、基板50b2が、X方向移動機構31によりX方向に所望に応じて移動し、Y方向移動機構36によりY方向に所望に応じて移動する(図7C(b)参照)。
このように基板50b2が、X方向及びY方向を移動する際、制御部11Aは、レーザ光LBxによりレーザ照射測定部11xが照射されてから、バーミラー1xで反射されてレーザ照射測定部11xに戻ってくるまでの時間を計測する。このことによって、制御部11Aはレーザ照射測定部11xからバーミラー1xまでの距離を計算し、レーザ基板50b2のX方向の位置を計測する。また、同様に、制御部11Aは、レーザ照射測定部11yによりレーザ光LByが照射されてから、バーミラー1ybで反射されてレーザ照射測定部11yに戻ってくるまでの時間を測定する。このことによって、制御部11Aは、レーザ照射測定部11yからバーミラー1ybまでの距離を計算し、基板50b2のY方向の位置を計測する(図1及び図7C(b)参照)。
このように、制御部11Aで、基板50b2のX方向位置及びY方向位置を計測しているので、制御部11AによりX方向移動機構31及びY方向移動機構36を駆動制御することができる。
次に、複数のピン(図示せず)が、ステージ10aのチャック2a上に配置された基板50aを上方に持ち上げる。その後、基板移動機構60が、当該複数のピンの間に、挿入棒61を挿入し、基板50aを下方から支持して、基板50aをステージ10aから取り除く(完了第一基板除去工程89)(図5(a)(b)、図6及び図7C(c)参照)。
後は、上述の第一基板配置工程81から、各工程を順次繰り返し行う(図6参照)。
本発明によれば、上述した一連の工程において、チャック2a,2bの側面にバーミラー1x,1ya,1ybが設けられているので、チャック2a,2bに対するバーミラー1x,1ya,1ybの位置がずれず、かつチャック2a,2b上に配置された基板50a,50bの位置を正確に把握することができる。
また、本発明の基板露光装置は、水平方向に移動可能な一対のステージ10a,10bを有している。このため、ステージ10aとステージ10bに順次基板50a,50bを配置し、次に露光する基板50a,50bを準備することができる。この結果、迅速かつ効率よく、基板50a,50bを露光することができる。
本発明による基板露光装置の実施の形態を示す平面図。 本発明の実施の形態による基板露光装置を図1の矢印II方向から見た側方図。 本発明の実施の形態による基板露光装置のステージの側方図。 本発明の実施の形態による基板露光装置を図1の矢印IV方向から見た側方図。 本発明の実施の形態による基板露光装置の基板移動機構によって基板を移動させる態様を示す平面図。 本発明の実施の形態による基板露光方法を示すフロー図。 本発明の実施の形態による基板露光装置によって、基板を配置し、移動させ、露光する態様を示す平面図。 本発明の実施の形態による基板露光装置によって、基板を交換する態様を示す平面図。 本発明の実施の形態による基板露光装置によって、基板を移動させ、露光し、取り除く態様を示す平面図。 従来の基板露光装置を示す側方図。
符号の説明
1x,1ya,1yb バーミラー
2a,2b チャック
3a,3b ベース
5a,5b チルト
7b ピン
10a,10b ステージ
11x,11y レーザ照射測定部
15 露光マスク
20 光源
30 水平方向移動機構
31 X方向移動機構
36 Y方向移動機構
50a,50b,50b1,50b2 基板
60 基板移動機構
81 基板配置工程
82 第一移動工程
83 第一露光工程
87 第二移動工程
88 第二露光工程

Claims (7)

  1. 照射光を照射する光源と、
    光源の下方に配置された露光マスクと、
    露光マスクの下方に並列に設けられ、露光マスクに対して水平方向に移動可能な一対のステージとを備え、
    各ステージは、ベースと、当該ベース上に設けられ、基板を配置するチャックとを有し、
    チャックは、ベースに対して上下方向に略一体に構成され、
    チャック側面に、バーミラーが設けられ、
    チャック側方に、バーミラーによるレーザ光の反射を受け、チャックの水平方向位置を検出するレーザ照射測定部を設けたことを特徴とする基板露光装置。
  2. チャックは、ベースに対する間隙の大きさを調整するチルトを介して、ベースに連結され、ベースに対して微調整可能となることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
  3. ステージは、チャックを貫通して上下方向に延び、チャック上に配置された基板を持ち上げる突出自在の複数のピンをさらに有することを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
  4. 複数のピンによって持ち上げられた基板を、ステージから移動させる基板移動機構をさらに備えたことを特徴とする請求項3記載の基板露光装置。
  5. ステージは、水平方向に移動自在の水平方向移動機構上に配置されることを特徴とする請求項1記載の基板露光装置。
  6. 水平方向移動機構は、水平方向のうち、一方向に移動するX方向移動機構と、水平方向のうち、当該一方向に直交する方向に移動するY方向移動機構とを有することを特徴とする請求項5記載の基板露光装置。
  7. 一の基板を、一方のステージのチャック上に配置する基板配置工程と、
    一方のステージのチャック上に配置された一の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第一移動工程と、
    露光マスク下方に移動させた一の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第一露光工程と、
    一対のステージを水平移動させて、露光された一の基板を露光マスク下方の露光位置から露光位置外方の第一待機位置まで移動させるとともに、露光位置外方の第二待機位置にある他方のステージのチャック上に予め配置された他の基板を、露光マスク下方の露光位置に移動させる第二移動工程と、
    露光マスク下方の露光位置に移動させた他の基板を、光源から照射され露光マスクを通過する照射光により露光する第二露光工程と、
    を備えたことを特徴とする基板露光方法。
JP2006226795A 2006-08-23 2006-08-23 基板露光装置及び基板露光方法 Expired - Fee Related JP4888768B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006226795A JP4888768B2 (ja) 2006-08-23 2006-08-23 基板露光装置及び基板露光方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006226795A JP4888768B2 (ja) 2006-08-23 2006-08-23 基板露光装置及び基板露光方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008053365A true JP2008053365A (ja) 2008-03-06
JP4888768B2 JP4888768B2 (ja) 2012-02-29

Family

ID=39237146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006226795A Expired - Fee Related JP4888768B2 (ja) 2006-08-23 2006-08-23 基板露光装置及び基板露光方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4888768B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101227191B1 (ko) * 2011-04-25 2013-01-28 위아코퍼레이션 주식회사 정밀 위치 제어에 의한 레이저 결정화 장치 및 방법

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05134753A (ja) * 1991-11-14 1993-06-01 Hitachi Ltd 位置決め装置
JP2005189775A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Nsk Ltd 露光装置
JP2005191557A (ja) * 2003-12-03 2005-07-14 Nikon Corp 露光装置及び露光方法、デバイス製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05134753A (ja) * 1991-11-14 1993-06-01 Hitachi Ltd 位置決め装置
JP2005191557A (ja) * 2003-12-03 2005-07-14 Nikon Corp 露光装置及び露光方法、デバイス製造方法
JP2005189775A (ja) * 2003-12-26 2005-07-14 Nsk Ltd 露光装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101227191B1 (ko) * 2011-04-25 2013-01-28 위아코퍼레이션 주식회사 정밀 위치 제어에 의한 레이저 결정화 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
JP4888768B2 (ja) 2012-02-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI331357B (ja)
JP5002440B2 (ja) 投影システムの焦点面に対して基板のターゲット部分を位置合わせする方法
JP6880032B2 (ja) インスペクションのための方法及び装置
JP4398912B2 (ja) リソグラフィ装置
TW201832024A (zh) 用於預測量測方法的效能之方法及設備、量測方法和設備
JP2005354066A (ja) 整列マーカ、リソグラフィ装置およびそれを使うデバイス製造方法
KR20090125010A (ko) 기판 내의 결함들을 결정하는 방법 및 리소그래피 프로세스에서 기판을 노광하기 위한 장치
JP2006024944A (ja) アライメント方法及び装置、リソグラフィ装置、デバイス製造方法並びにアライメント・ツール
JP2009170874A (ja) 基板を配置する方法、基板を搬送する方法、支持システムおよびリソグラフィ投影装置
JP2009135442A (ja) 基板搬送方法、搬送システムおよびリソグラフィ投影装置
JP2021119622A (ja) リソグラフィ装置及びリソグラフィ装置の動作方法
JP4881407B2 (ja) リソグラフィ装置、レチクル交換ユニットおよびデバイス製造方法
JP4888768B2 (ja) 基板露光装置及び基板露光方法
US7405810B2 (en) Method and apparatus for positioning a substrate on a substrate table
JP2012054500A (ja) 露光装置、露光方法及びデバイス製造方法
NL2003577A (en) Calibration method and lithographic apparatus for calibrating an optimum take over height of a substrate.
JP2007281384A (ja) マーク形成方法,マーク計測装置およびマーク計測方法
JP4831483B2 (ja) 露光装置及び露光方法
JP2004259845A (ja) パラメータ調整方法、物体搬送方法、露光装置、及びプログラム
JP4641779B2 (ja) 露光装置
KR20180021140A (ko) 기판에 마크 패턴을 전사하는 방법, 캘리브레이션 방법 및 리소그래피 장치
TWI234189B (en) A method of aligning a substrate, a computer readable medium, a device manufacturing method and a device manufactured thereby
JP2003060000A (ja) 基板搬送装置及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JPH09320948A (ja) 基板の受け渡し方法及び露光装置
JP2003257841A (ja) マーク位置検出方法及び装置、位置検出方法及び装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090625

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110708

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110715

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110908

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111118

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111201

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141222

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees