JP2008046077A - 粒度測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ベルトコンベア22で搬送されている粉粒体24の表面の変位を変位計12で測定し、測定変位を示す変位計12からの出力信号をデータ収集装置14により所定のサンプリング時間で読み取り、これを変位データとして収集する。演算処理装置16によってデータ収集装置14が収集した変位データをウェーブレット変換して時系列にプロットした図形から粒径を測定し、粒度分布を求める。
【選択図】図1
Description
Claims (4)
- 移動体に載せられて移動している粉粒体の表面の変位を所定のサンプリング時間で測定し、
こうして得られた変位データを時系列にプロットした図形から粒子間の接触もしくは重なりを示す部分を不連続点として検出し、これより粒径を測定して粒度分布を求めることを特徴とする粒度測定方法。 - 前記不連続点の検出にウェーブレット変換を用いることを特徴とする請求項1に記載の粒度測定方法。
- 前記粉粒体の表面の変位測定は、前記粉粒体の表面への照射光とその反射光とを用いて行うことを特徴とする請求項1にまたは請求項2に記載の粒度測定方法。
- 前記粉粒体の表面の変位測定は、前記移動体の粉粒体の載置面に対して、複数箇所で行われていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の粒度測定方法。
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