JP2008046051A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2008046051A5
JP2008046051A5 JP2006223668A JP2006223668A JP2008046051A5 JP 2008046051 A5 JP2008046051 A5 JP 2008046051A5 JP 2006223668 A JP2006223668 A JP 2006223668A JP 2006223668 A JP2006223668 A JP 2006223668A JP 2008046051 A5 JP2008046051 A5 JP 2008046051A5
Authority
JP
Japan
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2006223668A
Other versions
JP2008046051A (ja
JP4947774B2 (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP2006223668A priority Critical patent/JP4947774B2/ja
Priority claimed from JP2006223668A external-priority patent/JP4947774B2/ja
Priority to CN2007101426393A priority patent/CN101126627B/zh
Publication of JP2008046051A publication Critical patent/JP2008046051A/ja
Publication of JP2008046051A5 publication Critical patent/JP2008046051A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4947774B2 publication Critical patent/JP4947774B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2006223668A 2006-08-18 2006-08-18 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法 Expired - Fee Related JP4947774B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006223668A JP4947774B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法
CN2007101426393A CN101126627B (zh) 2006-08-18 2007-08-20 光波干涉测定装置及光波干涉测定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006223668A JP4947774B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2008046051A JP2008046051A (ja) 2008-02-28
JP2008046051A5 true JP2008046051A5 (ja) 2009-08-06
JP4947774B2 JP4947774B2 (ja) 2012-06-06

Family

ID=39094712

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006223668A Expired - Fee Related JP4947774B2 (ja) 2006-08-18 2006-08-18 光波干渉測定装置および光波干渉測定方法

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP4947774B2 (ja)
CN (1) CN101126627B (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5095539B2 (ja) * 2008-07-17 2012-12-12 富士フイルム株式会社 収差測定誤差補正方法
JP5044495B2 (ja) * 2008-07-17 2012-10-10 富士フイルム株式会社 平行平板の厚み測定方法
CN101819069B (zh) * 2010-04-23 2012-05-23 浙江大学 具有快速调零系统的白光干涉仪
CN101986097B (zh) * 2010-07-09 2011-12-21 浙江大学 在球面面形干涉检测中高精度消除离焦误差及倾斜误差的方法
CN102207378B (zh) * 2011-03-09 2012-11-14 浙江大学 球面干涉检测中基于波前差分的高精度调整误差校正方法
TWI470184B (zh) * 2011-08-20 2015-01-21 Tonta Electro Optical Co Ltd 表面輪廓偵測裝置及其對位方法以及全口徑量測資料的擷取方法
WO2017154895A1 (ja) 2016-03-09 2017-09-14 浜松ホトニクス株式会社 測定装置、観察装置および測定方法
CN108024088B (zh) * 2016-10-31 2020-07-03 杭州海康威视系统技术有限公司 一种视频轮巡方法及装置
CN109997010B (zh) * 2016-11-18 2022-06-24 齐戈股份有限公司 用于优化干涉仪的光学性能的方法及设备
CN107796330B (zh) * 2017-09-30 2018-09-21 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种白光干涉三维形貌测量光学系统
JP7034803B2 (ja) * 2018-03-30 2022-03-14 浜松ホトニクス株式会社 測距ユニット及び光照射装置
JP7118809B2 (ja) * 2018-08-27 2022-08-16 キヤノン株式会社 位置検出装置およびこれを備えた装置、位置検出方法およびコンピュータプログラム
CN110132544B (zh) * 2019-04-19 2022-03-29 奥比中光科技集团股份有限公司 一种光学测试设备
CN111537198B (zh) * 2020-04-09 2021-04-23 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 一种星敏感器镜头干涉检测系统
CN111551129B (zh) * 2020-06-11 2021-12-07 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 大口径平面镜的中、低阶面形检测装置、系统及存储介质
CN115781055B (zh) * 2023-01-06 2024-01-16 山东宇影光学仪器有限公司 一种双操作台的菲涅尔透镜激光切割机
CN117481180A (zh) * 2023-11-28 2024-02-02 广东严工食品机械有限公司 一种切料生产线控制系统、方法及装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08334606A (ja) * 1995-06-05 1996-12-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd レンズ
JP3758763B2 (ja) * 1996-09-30 2006-03-22 本田技研工業株式会社 孔位置の光学的計測方法
JP2000088544A (ja) * 1998-09-11 2000-03-31 Nikon Corp 面形状測定装置および方法
JP3702733B2 (ja) * 1999-12-16 2005-10-05 松下電器産業株式会社 光学検査装置のアライメント方法およびその機構
JP2004271191A (ja) * 2003-03-05 2004-09-30 Pentax Corp 波面収差測定装置及び波面収差測定方法
JP2005156524A (ja) * 2003-10-30 2005-06-16 Hitachi Maxell Ltd 光学素子の光軸検出方法
JP4738949B2 (ja) * 2005-09-15 2011-08-03 富士フイルム株式会社 光波干渉装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
BRPI0720064A2 (ja)
BRMU8603216U8 (ja)
BRPI0715824A8 (ja)
JP2008046051A5 (ja)
BRPI0713487A2 (ja)
BR122016023444A2 (ja)
BRPI0708307B8 (ja)
CH2121272H1 (ja)
AT504380A8 (ja)
BY9789C1 (ja)
CN300725915S (zh) 童装(3728)
CN300725924S (zh) 童装(3789)
CN300725941S (zh) 童装(3872)
CN300725942S (zh) 童装(3874)
CN300725943S (zh) 童装(3876)
CN300725944S (zh) 童装(3890)
CN300725926S (zh) 童装(3793)
CN300726406S (zh) 书柜(一)
CN300725918S (zh) 童装(3748)
CN300725940S (zh) 童装(3870)
CN300726437S (zh) 更衣柜(组合式20)
CN300725912S (zh) 童装(3706)
CN300725913S (zh) 童装(3712)
CN300725914S (zh) 童装(3714)
CN300725919S (zh) 童装(3752)