JP2008034506A - Substrate for integrated circuit package and its manufacturing method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体集積回路チップをフリップチップ実装するための複数の種類の予備半田を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板とその製造方法に関するものである。 The present invention relates to a substrate substrate for an integrated circuit package in which a plurality of types of preliminary solder for mounting a semiconductor integrated circuit chip on a flip chip is formed, and a manufacturing method thereof.
従来は、特許文献1から特許文献3のように、集積回路パッケージ用サブストレート基板1に半導体集積回路チップをフリップチップ実装するために形成した予備半田2には、Pb−Sn系の半田材料が広く用いられてきた。しかし、Pbが土壌に流出した場合、酸性雨によりPbが溶解され、環境に悪影響を及ぼす場合があり、環境問題の面からもPbを主成分としない半田材料を用いることが求められていた。そこで、特許文献4のように、Pb−Sn系の半田材料に代わる半田材料として、例えばSn(スズ)にAg(銀)を添加した半田材料が用いられ始めているが、その半田の融点は例えば200℃と比較的高い。また、Sn−Bi系の半田材料も用いられ、Sn−57%Biは融点が139℃と低い。あるいは、Sn−5%Sbを用いることができる。また、Pb−Sn系の半田材料も未だ使用される場合もある。これらの半田材料は融点が異なるので、それぞれの半田を用いる際には、それぞれの半田の融点に合わせて半導体集積回路チップの実装の際の加熱条件を変えなければならない。この様に多種類の半田が使われ、実装ライン毎に種類の異なる予備半田2が必要とされている。更に、実装する製品の数量によっても、実装ラインが用いる予備半田2の種類が異なる。そのため、同じ電子機器に使われる同じ配線パターン3の集積回路パッケージ用サブストレート基板1であっても、それに半導体集積回路チップを実装する実装ラインの特性に合せて予備半田2の種類を変え、実装ライン毎に異なる種類の予備半田2を設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造する必要があった。
Conventionally, as in
以下に公知文献を記す。
このように実装ライン毎に異なる種類の予備半田2を設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造した後に、ある集積回路パッケージ用サブストレート基板1にどの種類の半田を用いているかを判別する際には、外観の観察では容易には判別できなかった。そのため、従来は、設置する予備半田2の種類毎に、集積回路パッケージ用サブストレート基板1を異なる品名で製造し、その品名を予め作成した対照表と照合することで、設置された予備半田2の種類の異なる集積回路パッケージ用サブストレート基板1を判別していた。そのために異なる品名の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造するためには、設置する予備半田2の種類毎に、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造する必要があった。このため、予備半田2の種類毎にその製造コストが増す問題があった。
Thus, after manufacturing the integrated circuit
本発明は、この課題を解決するために、第1の種類の予備半田を半導体集積回路チップの半田バンプ用のバンプ接合パッドに設置した第1の集積回路パッケージ用サブストレー
ト基板と第2の種類の予備半田をバンプ接合パッドに設置した第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法において、前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドと副認識マーク用パッドへ半田ペーストを印刷する印刷パターンを形成した第1のスクリーンマスクと、前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドに前記半田ペーストを印刷し前記副認識マーク用パッドへは印刷しない印刷パターンを形成した第2のスクリーンマスクとを作成する第1の工程と、印刷配線板の外層面に、前記バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に前記副認識マーク用パッドを形成し作成する第2の工程と、前記第1のスクリーンマスクにより、前記第1の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷し、前記第2のスクリーンマスクにより、前記第2の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷する第3の工程と、前記半田ペーストを加熱して溶融させ冷却して固化させることで前記予備半田を形成することで前記第1および前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を製造する第4の工程と、前記副認識マーク用パッドへの前記予備半田の設置の有無を判別することにより前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板と前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を判別する第5の工程を有することを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法である。
In order to solve this problem, the present invention provides a first substrate substrate for an integrated circuit package in which a first type of preliminary solder is disposed on a bump bonding pad for solder bumps of a semiconductor integrated circuit chip, and a second type. In the manufacturing method of the second integrated circuit package substrate substrate in which the preliminary solder is placed on the bump bonding pad, the solder paste is applied to the bump bonding pad and the sub-recognition mark pad of the first integrated circuit package substrate substrate. A first screen mask on which a printing pattern for printing is formed, and a printing pattern in which the solder paste is printed on the bump bonding pad of the second integrated circuit package substrate substrate and not printed on the sub-recognition mark pad A first step of forming a second screen mask formed with an outer layer surface of the printed wiring board A pattern in which the bump bonding pads are arranged in an array; a recognition mark pad; a second step of forming the sub-recognition mark pad in the vicinity of the recognition mark pad; and the first screen mask. The solder paste for the first type of preliminary solder is printed on the printed wiring board, and the second screen mask is used to print the solder paste for the second type of preliminary solder on the printed wiring. A third step of printing on a board; and forming the preliminary solder by heating, melting, cooling and solidifying the solder paste to form the first and second integrated circuit package substrate substrates And determining whether or not the preliminary solder is placed on the sub-recognition mark pad, thereby determining the first integrated circuit package substrate. It is a manufacturing method of the substrate the substrate for an integrated circuit package and having a fifth step of determining that over preparative substrate said second integrated circuit substrate board package.
また、本発明は、外層に、予備半田の種類によらず共通の、バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、半導体集積回路チップの実装領域の認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に形成した副認識マーク用パッドを有し、前記バンプ接合パッドに設置した前記予備半田を有し、かつ、第1の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置し、第2の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置しないことを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板である。 The present invention also provides a pattern in which bump bonding pads are arranged in an array on the outer layer, regardless of the type of spare solder, a recognition mark pad in a mounting area of a semiconductor integrated circuit chip, and the recognition mark pad. A sub-recognition mark pad formed near the sub-recognition mark pad when the first-type pre-solder is installed. A substrate substrate for an integrated circuit package, wherein the preliminary solder is installed, and when the second type of preliminary solder is installed, the preliminary solder is not installed on the sub-recognition mark pad.
本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1は、複数の種類の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成することで、予備半田2の種類が増しても印刷配線板の品名を変えず、品名毎の配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造しないことで、印刷配線板の製造コストを低減するとともに、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の副認識マーク用パッド6への予備半田2の有り無しで予備半田2の種類を容易に判別することができる効果がある。また、本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を実装部門が受け取り、その上に半導体集積回路チップを実装する際に、その予備半田2の種類を容易に判別でき、誤り無く適切な実装条件で実装作業を行うことができる効果がある。
The
以下、本発明の実施の形態について、図1および図2に基づいて説明する。図1は、本実施の形態による集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造手順を示す図であり、図2は、出荷検査工程で予備半田2の種別を判別する装置のブロック図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a diagram showing a manufacturing procedure of an integrated
本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1に実装する半導体集積回路チップは、例えば、外形20mm□、入出力パッドは0.2mmピッチ程度でエリア上に配置され、その入出力パッドに半田バンプが形成された半導体集積回路チップを用いる。本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層には厚さ10μmから50μmの銅の配線パターン3を形成し、それにフリップチップ実装する半導体集積回路チップの半田バンプに合せた0.2mmピッチのバンプ接合パッド4を形成し、認識マーク用パッド5および第1の副認識マーク用パッド6を形成しておく。これらの配線パターン3と認識マーク用パッド5および第1の副認識マーク用パッド6をそれに設置する予備半田の種類によらず共通のパターンに形成した印刷配線板を作成し、その印刷配線板のバンプ接合パッド4に予備半田2を設置する。また、第1の副認識マーク用パッド6には、鉛フリー半田のSn−Ag−Cu系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では予備半田2を設置するが、Pb−Sn系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では設置しない。また、Sn−Bi系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では、予めもう1つ形成しておいた第2の副認識マーク用パッド6の上に予備半田2を設置する。このようにして、予備半田2の種別により、その設置パターンを区別した第1および第2の副認識マーク用パッド6を有する集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造する。
The semiconductor integrated circuit chip mounted on the
(予備半田付きの集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法)本実施形態で用いる予備半田付きの集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造方法を図1に示す。
(工程1)集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造工程で半田ペースト7を印刷するために用いるメタルマスクあるいは有機樹脂のスクリーンマスク8を、複数の種類の予備半田2に対応して、複数の種類を作成し用意しておく。それらのスクリーンマスク8は、第1の種類の予備半田2を設置する第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造用には、バンプ接合パッド4と副認識マーク用パッド6へ半田ペースト7を印刷する印刷パターンを形成した第1のスクリーンマスク8を作成する。そして、第2の種類の予備半田2を設置する第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造用には、バンプ接合パッド4に前記半田ペースト7を印刷し前記副認識マーク用パッド6へは印刷しない印刷パターンを形成した第2のスクリーンマスク8を作成する。
(Method for Manufacturing Substrate Substrate for Integrated Circuit Package with Pre-Solder) FIG. 1 shows a method for manufacturing the
(Step 1) A metal mask or an organic resin screen mask 8 used for printing the solder paste 7 in the manufacturing process of the integrated
(工程2)第1の種類と第2の種類との複数の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成する。この印刷配線板は、0.2mmピッチのパッドの半導体集積回路チップをベアチップでフリップチップ実装するために、それに対応するバンプ接合パッド4を表面に形成した印刷配線板であればなんでも良い。この印刷配線板の一実施形態は、ガラスエポキシのコア基板の表裏にビルドアップ層を設けたものであり、一般的な厚さは0.5〜2mm程度、例えば1.6mmである。また、本実施の形態の印刷配線板の外形は10mmから200mmで、例えば100mm□である。この印刷配線板の外層面に、図3あるいは図4に示すように、電気信号を伝送する銅の配線パターン3を形成し、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンを形成し、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサやチップ抵抗などのチップ部品接合パッド11の列を形成し、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に認識マーク用パッド5を形成し、その認識マーク用パッドの近傍に副認識マーク用パッド6を形成する。この認識マーク用パッド5は、電子部品実装装置が、半導体集積回路チップを集積回路パッケージ用サブストレート基板1に実装する際に基準位置として検出するために用いる。次に、印刷配線板の配線パターン3上にソルダーレジスト10を印刷する。
(Step 2) A common printed wiring board is created for the plurality of preliminary solders 2 of the first type and the second type. The printed wiring board may be any printed wiring board having a bump bonding pad 4 formed on the surface thereof for flip chip mounting of a semiconductor integrated circuit chip having a 0.2 mm pitch pad with a bare chip. In one embodiment of this printed wiring board, a build-up layer is provided on the front and back of a glass epoxy core substrate, and the general thickness is about 0.5 to 2 mm, for example, 1.6 mm. Further, the outer shape of the printed wiring board of the present embodiment is 10 mm to 200 mm, for example, 100 mm □. As shown in FIG. 3 or 4, a
以上のように、複数の種類の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成することで、予備半田2の種類が増しても印刷配線板の品名を変えて品名毎に配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造する必要が無い効果がある。
As described above, by creating a common printed wiring board for a plurality of types of preliminary solder 2, even if the number of types of preliminary solder 2 increases, the printed wiring board product names are changed and
(工程3)第1の種類の予備半田2を設置する第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1用には、第1のスクリーンマスク8で、工程2で作成した印刷配線板のバンプ接合パッド4、チップ部品接合パッド11、および副認識マーク用パッド6に、第1の種類の半田ペースト7を20〜60μmの厚さに印刷する。第2の種類の予備半田2を設置する第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1用には、第2のスクリーンマスク8で、工程2で作成した印刷配線板のバンプ接合パッド4、チップ部品接合パッド11に第2の種類の半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペーストを印刷しないようにする。
(工程4)次に、印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させ、次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。
(Step 3) For the first integrated
(Step 4) Next, the printed wiring board is put into a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7, and then the printed wiring board is taken out of the reflow furnace and cooled to solidify the solder, thereby bonding the bumps. The
(工程5)出荷検査工程で、図2に示す予備半田2の判別装置が、基板設置テーブル12に設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1をサブストレート基板認識カメラ13で読み取る。次に、その読み取った画像を画像認識手段14が演算することで副認識マーク用パッド6への予備半田2の設置の有無を判別する。その判別処理は、副認識マーク用パッド6へ予備半田2が設置された集積回路パッケージ用サブストレート基板1は第1の種類と判定し、副認識マーク用パッド6へ予備半田2が設置されていない集積回路パッケージ用サブストレート基板1は第2の種類と判定することで行う。これにより、副認識マーク用パッド6への予備半田2の有り無しで予備半田2の種類が容易に判別できる。そのため、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の出荷の際に異種半田の混入を防止できる効果がある。
(Step 5) In the shipping inspection step, the preliminary solder 2 discriminating device shown in FIG. 2 reads the integrated circuit
このようにして、本発明は、それに設置する予備半田2の種類が複数ある集積回路パッケージ用サブストレート基板1を、共通の印刷配線板を作成して用いる。そして、その印刷配線板のバンプ接合パッド4に印刷する半田ペースト7の種類に応じ、スクリーンマスク8の半田ペースト7の印刷パターンを、認識マーク用パッド5の近傍に形成した副認識マーク用パッド5上への半田ペースト7の印刷の有無を変えて異ならせた。これにより、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の副認識マーク用パッド5への予備半田の有無を外観観察することで、予備半田2の種類を判別できるようにする。そのため、複数の種類の予備半田2を設置する場合に、予備半田2の種類毎に異なる品名の印刷配線板を作成する必要を無くし、品名が増すことによる配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式の作成数量の増加を無くした。これにより、予備半田の種類により種類が異なる集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造コストを低減する効果がある。
In this way, the present invention uses a
また、本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1は、その外層の配線パターン7の、半導体集積回路チップの実装位置の認識マーク用パッド5の近傍に副認識マーク用パッド5を形成することにより、この集積回路パッケージ用サブストレート基板1を受け取り、その上に半導体集積回路チップを実装する部門が、認識マーク用パッド5の近傍をサブストレート基板認識カメラ13で観察することで容易にその予備半田2の種類を判別できる効果がある。半導体集積回路チップの実装装置は、この集積回路パッケージ用サブストレート基板1上への半導体集積回路チップの実装位置を定めるために、その認識マーク用パッド5をサブストレート基板認識カメラ13で観察する。その際に、副認識マーク用パッド6がその近傍にあるため、同時に観察できる。そして、その副認識マーク用パッド6上への予備半田2の有無を判別することにより、半導体集積回路チップの実装装置が容易に予備半田の種類の情報を得ることができる。それにより、半導体集積回路チップの実装装置が、集積回路パッケージ用サブストレート基板1に設置された予備半田2の種類に対応して、誤り無く適切な実装条件で実装作業を行うことができる効果がある。
Further, the
また、集積回路パッケージ用サブストレート基板1への予備半田2の形成方法としては、半田ペースト7の印刷とその溶融と固化により予備半田2を形成する製造方法以外に、半田材料のめっきにより予備半田2を形成することもできる。また、副認識マーク用パッド6は、認識マーク用パッド5の領域に、認識マーク用パッド5の位置を測定する領域以外の領域に形成することもできる。
Further, as a method of forming the preliminary solder 2 on the
図3に、実施例1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を形成する印刷配線板の外層の配線パターン3の一部分の平面図を示す。図3では、厚さ10μmの銅箔の配線パターン3の一部に、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンと、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサを実装するためのチップ部品接合パッド11の列と、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に寸法が0.05mmから2mmの大きさの認識マーク用パッド5と、その近傍に寸法が0.05mmから2mmの大きさの副認識マーク用パッド6を形成した印刷配線板を作成する。
FIG. 3 is a plan view of a part of the
この印刷配線板の作成と並行して、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスク8(スクリーンマスクAと呼ぶ)をメタルマスクで作成し、その印刷パターンは、図3のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11と副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷するパターンを形成する。また、Pb−Sn系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスク8(スクリーンマスクBと呼ぶ)をメタルマスクで作成し、その印刷パターンは、図3のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11に半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しないパターンを形成する。
In parallel with the production of the printed wiring board, a screen mask 8 (referred to as screen mask A) for printing the Sn—Ag—Cu-based solder paste 7 is produced with a metal mask, and the print pattern is shown in FIG. A pattern for printing the solder paste 7 on the bump bonding pad 4, the chip
次に、印刷配線板に半田ペースト7を印刷する。ここで、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷する場合は、スクリーンマスクAによりその半田ペースト7を印刷配線板に印刷することで、副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷する。また、Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷する場合は、スクリーンマスクBによりその半田ペースト7を印刷配線板に印刷することで、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しない。このようにして、予備半田2の種類により、副認識マーク用パッド6への半田ペースト7の印刷の有無を異ならせる。
Next, the solder paste 7 is printed on the printed wiring board. Here, when printing the Sn-Ag-Cu-based solder paste 7, the solder paste 7 is printed on the
次に、このように半田ペースト7を印刷した印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させる。ここで、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、210℃程度に加熱し半田ペースト7を溶融させる。一方、Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は共晶半田の融点の183℃以上の温度の例えば200℃程度に加熱することで半田ペースト7を溶融させる。次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。
Next, the printed wiring board on which the solder paste 7 is printed in this manner is placed in a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7. Here, the printed wiring board on which the Sn—Ag—Cu solder paste 7 is printed is heated to about 210 ° C. to melt the solder paste 7. On the other hand, the printed wiring board on which the solder paste 7 of Pb—Sn eutectic solder is printed is heated to a temperature of 183 ° C. or higher, for example, about 200 ° C., which is the melting point of the eutectic solder, thereby melting the solder paste 7. Next, the printed circuit board is taken out of the reflow furnace and cooled to solidify the solder, thereby forming the pre-solder 2 having a height of 20 to 60 μm on the bump bonding pad 4 and the chip
次に、図2に示す予備半田2の判別装置が、サブストレート基板認識カメラ13で、図3に示す、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の認識マーク用パッド5を観察するとともに、その近傍の副認識マーク用パッド6を観察する。Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に印刷した半田ペースト7が表面が曲面の予備半田2を形成しているため、その曲面で光が曲げられ、副認識マーク用パッド6の画像が暗くなる。サブストレート基板認識カメラ13の画像信号読み込みのスレッシホールドレベルを高くすることで、この副認識マーク用パッド6の画像が無いものと判定される。Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に予備半田2が無いため、副認識マーク用パッド6の画像が鮮明に観測される、副認識マーク用パッド6の画像が認識される。いずれの半田の種類の場合も認識マーク用パッド5の画像は認識される。このように、認識マーク用パッド5に対して近傍の副認識マーク用パッド6の画像パターンの有無のパターンを、画像認識手段14が、予め記憶していた比較用の画像パターンと照合し、一致した比較用画像パターンに対応して記憶しておいた予備半田2の種類データを読み出し、予備半田2の種類を判別する。
Next, the preliminary solder 2 discriminating device shown in FIG. 2 uses the substrate
図4に、実施例2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層の配線パターン3の一部分の平面図を示す。図4では、厚さ20μmの銅箔の配線パターン3の一部に、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンと、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサを実装するためのチップ部品接合パッド11の列と、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に寸法が0.2mmから2mmの大きさで副認識マーク用パッド6が認識マーク用パッド5と一体化された銅箔パターンを形成する。次に、その印刷配線板に、その銅箔パターンの一部に、寸法が0.1mmから2mmの大きさのエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの透明なソルダーレジスト10を印刷し、その部分を認識マーク用パッド5とし、透明なソルダーレジスト10が印刷されない部分を副認識マーク用パッド6とした印刷配線板を作成する。
FIG. 4 is a plan view of a part of the
次に、実施例1と同様にして、印刷配線板の作成と並行して、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスクAを、図4のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11と副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷するパターンに形成する。そして、Pb−Sn系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスクBを、図4のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11に半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しないパターンに形成する。
Next, in the same manner as in Example 1, in parallel with the production of the printed wiring board, the screen mask A for printing the Sn—Ag—Cu-based solder paste 7 was used as the bump bonding pad 4 and the chip in FIG. The solder paste 7 is formed in a pattern to be printed on the
次に、実施例1と同様にして、半田ペースト7を印刷した印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させ、次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。
Next, in the same manner as in Example 1, the printed wiring board on which the solder paste 7 is printed is placed in a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7, and then the printed wiring board is taken out of the reflow furnace and cooled. By solidifying the solder, the
次に、図2に示す予備半田2の判別装置が、サブストレート基板認識カメラ13で、図4に示す、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の認識マーク用パッド5を観察する。その際に、認識マーク用パッド5は、透明なソルダーレジスト10を通して観察されるが、透明なソルダーレジスト10で覆われていない領域の副認識マーク用パッド6には表面が曲面の予備半田2が形成されているため画像が暗くなり、副認識マーク用パッド6の画像が無いものと判定され、認識マーク用パッド5の画像のみが観測される。Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に予備半田2が無いため、副認識マーク用パッド6の画像と認識マーク用パッド5がともに鮮明に観測され、一体の銅箔パターンの画像として観測される。このように、認識マーク用パッド5の画像の形状の大きさが異なるパターンを、画像認識手段14が、予め記憶していた比較用の画像パターンと照合し、一致した比較用画像パターンに対応して記憶しておいた予備半田2の種類データを読み出し、予備半田2の種類を判別する。
Next, the discriminating apparatus for the preliminary solder 2 shown in FIG. 2 observes the
なお、副認識マーク用パッド6は、以上の実施例に限定されず、認識マーク用パッド5のパターンの中央部に、副認識マーク用パッド6を所定の間隙を隔てて埋め込み設置することもできる。また、半導体集積回路チップの実装装置のサブストレート基板認識カメラ13の照明光学系統を、副認識マーク用パッド6を拡散光で照明してサブストレート基板認識カメラ13が予備半田2の曲面にもかかわらず、予備半田2の読み取り画像の明るさを確保し、かつ、予備半田2の有無を色合いにより判別する光学系統を設置することもできる。この場合は、副認識マーク用パッド6として、認識マーク用パッド5自体を用いることもできる。その場合は、認識マーク用パッド5に予備半田2を設置した場合に予備半田2が認識マーク用パッド5の周辺にはみ出す恐れがある。その予備半田2のはみ出しが生じないように認識マーク用パッド5の周辺をソルダーレジストで覆った認識マーク用パッド5のパターンを副認識マーク用パッド6として形成しても良い。
The
このように認識マーク用パッド5の近傍に副認識マーク用パッド6を形成することにより、実装装置がサブストレート基板認識カメラ13で認識マーク用パッド5を観察する際に、副認識マーク用パッド6上の予備半田2を観察できるようにし、その上への予備半田2の設置の有無により容易に予備半田2の種別を判別できる効果がある、集積回路パッケージ用サブストレート基板1が得られる。
By forming the
1・・・集積回路パッケージ用サブストレート基板
2・・・予備半田
3・・・配線パターン
4・・・バンプ接合パッド
5・・・認識マーク用パッド
6・・・副認識マーク用パッド
7・・・半田ペースト
8・・・スクリーンマスク
10・・・ソルダーレジスト
11・・・チップ部品接合パッド
12・・・基板設置テーブル
13・・・サブストレート基板認識カメラ
14・・・画像認識手段
DESCRIPTION OF
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JP2006204340A JP4821482B2 (en) | 2006-07-27 | 2006-07-27 | Manufacturing method of substrate for integrated circuit package |
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