JP2008034506A - Substrate for integrated circuit package and its manufacturing method - Google Patents

Substrate for integrated circuit package and its manufacturing method Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To arrange preliminary solder different in kind on each mounting line on a substrate for an integrated circuit package, and to provide a method for preventing the increase of a manufacturing cost due to the arrangement. <P>SOLUTION: The substrate for the integrated circuit package includes in the external layer: a pattern which is common regardless of the kinds of preliminary solder, and where bump joint pads 4 are arrayed; a recognition mark pad 5 for recognizing the mounting region of a semiconductor integrated circuit chip; and sub-recognition mark pads 6 formed in the neighborhood of the recognition mark pad 5. The preliminary solder is arranged in the bump joint pads 4. The substrate for the integrated circuit package is manufactured by arranging the preliminary solder in the sub-recognition mark pads 6 when the first kind of preliminary solder is arranged, and without arranging the preliminary solder in the sub-recognition mark pads 6 when the second kind of preliminary solder is arranged. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、半導体集積回路チップをフリップチップ実装するための複数の種類の予備半田を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板とその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a substrate substrate for an integrated circuit package in which a plurality of types of preliminary solder for mounting a semiconductor integrated circuit chip on a flip chip is formed, and a manufacturing method thereof.

従来は、特許文献1から特許文献3のように、集積回路パッケージ用サブストレート基板1に半導体集積回路チップをフリップチップ実装するために形成した予備半田2には、Pb−Sn系の半田材料が広く用いられてきた。しかし、Pbが土壌に流出した場合、酸性雨によりPbが溶解され、環境に悪影響を及ぼす場合があり、環境問題の面からもPbを主成分としない半田材料を用いることが求められていた。そこで、特許文献4のように、Pb−Sn系の半田材料に代わる半田材料として、例えばSn(スズ)にAg(銀)を添加した半田材料が用いられ始めているが、その半田の融点は例えば200℃と比較的高い。また、Sn−Bi系の半田材料も用いられ、Sn−57%Biは融点が139℃と低い。あるいは、Sn−5%Sbを用いることができる。また、Pb−Sn系の半田材料も未だ使用される場合もある。これらの半田材料は融点が異なるので、それぞれの半田を用いる際には、それぞれの半田の融点に合わせて半導体集積回路チップの実装の際の加熱条件を変えなければならない。この様に多種類の半田が使われ、実装ライン毎に種類の異なる予備半田2が必要とされている。更に、実装する製品の数量によっても、実装ラインが用いる予備半田2の種類が異なる。そのため、同じ電子機器に使われる同じ配線パターン3の集積回路パッケージ用サブストレート基板1であっても、それに半導体集積回路チップを実装する実装ラインの特性に合せて予備半田2の種類を変え、実装ライン毎に異なる種類の予備半田2を設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造する必要があった。   Conventionally, as in Patent Document 1 to Patent Document 3, the preliminary solder 2 formed for flip-chip mounting of the semiconductor integrated circuit chip on the substrate board 1 for integrated circuit package is made of a Pb-Sn solder material. Widely used. However, when Pb flows out into the soil, Pb is dissolved by acid rain and may adversely affect the environment. From the viewpoint of environmental problems, it has been required to use a solder material that does not contain Pb as a main component. Therefore, as disclosed in Patent Document 4, for example, a solder material in which Ag (silver) is added to Sn (tin) has begun to be used as a solder material that replaces the Pb—Sn solder material. The melting point of the solder is, for example, It is relatively high at 200 ° C. Sn-Bi solder material is also used, and Sn-57% Bi has a low melting point of 139 ° C. Alternatively, Sn-5% Sb can be used. In addition, a Pb—Sn solder material may still be used. Since these solder materials have different melting points, when using each solder, the heating conditions for mounting the semiconductor integrated circuit chip must be changed according to the melting point of each solder. In this way, various types of solder are used, and different types of spare solder 2 are required for each mounting line. Furthermore, the type of the preliminary solder 2 used by the mounting line varies depending on the number of products to be mounted. Therefore, even if the substrate substrate 1 for the integrated circuit package has the same wiring pattern 3 used for the same electronic device, the type of the preliminary solder 2 is changed according to the characteristics of the mounting line on which the semiconductor integrated circuit chip is mounted. It was necessary to manufacture a substrate board 1 for an integrated circuit package in which different types of preliminary solder 2 were installed for each line.

以下に公知文献を記す。
特開平7−201870号公報 特開2002−134538号公報 特開2003−163232号公報 特開平11−330678号公報
The known literature is described below.
JP-A-7-201870 JP 2002-134538 A JP 2003-163232 A JP-A-11-330678

このように実装ライン毎に異なる種類の予備半田2を設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造した後に、ある集積回路パッケージ用サブストレート基板1にどの種類の半田を用いているかを判別する際には、外観の観察では容易には判別できなかった。そのため、従来は、設置する予備半田2の種類毎に、集積回路パッケージ用サブストレート基板1を異なる品名で製造し、その品名を予め作成した対照表と照合することで、設置された予備半田2の種類の異なる集積回路パッケージ用サブストレート基板1を判別していた。そのために異なる品名の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造するためには、設置する予備半田2の種類毎に、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造する必要があった。このため、予備半田2の種類毎にその製造コストが増す問題があった。   Thus, after manufacturing the integrated circuit package substrate substrate 1 in which different types of preliminary solder 2 are installed for each mounting line, it is determined which type of solder is used for a certain integrated circuit package substrate substrate 1. In some cases, it could not be easily determined by visual observation. Therefore, conventionally, for each type of spare solder 2 to be installed, the integrated circuit package substrate substrate 1 is manufactured with a different product name, and the product name is checked against a comparison table prepared in advance, whereby the installed spare solder 2 is used. Different types of substrate substrates 1 for integrated circuit packages have been discriminated. Therefore, in order to manufacture the substrate board 1 for the integrated circuit package having a different product name, the wiring pattern 3 and the solder resist 10 for forming the substrate pattern 1 for the integrated circuit package are formed for each type of the preliminary solder 2 to be installed. It was necessary to produce a complete original film. For this reason, there is a problem that the manufacturing cost increases for each type of the preliminary solder 2.

本発明は、この課題を解決するために、第1の種類の予備半田を半導体集積回路チップの半田バンプ用のバンプ接合パッドに設置した第1の集積回路パッケージ用サブストレー
ト基板と第2の種類の予備半田をバンプ接合パッドに設置した第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法において、前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドと副認識マーク用パッドへ半田ペーストを印刷する印刷パターンを形成した第1のスクリーンマスクと、前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドに前記半田ペーストを印刷し前記副認識マーク用パッドへは印刷しない印刷パターンを形成した第2のスクリーンマスクとを作成する第1の工程と、印刷配線板の外層面に、前記バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に前記副認識マーク用パッドを形成し作成する第2の工程と、前記第1のスクリーンマスクにより、前記第1の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷し、前記第2のスクリーンマスクにより、前記第2の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷する第3の工程と、前記半田ペーストを加熱して溶融させ冷却して固化させることで前記予備半田を形成することで前記第1および前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を製造する第4の工程と、前記副認識マーク用パッドへの前記予備半田の設置の有無を判別することにより前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板と前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を判別する第5の工程を有することを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法である。
In order to solve this problem, the present invention provides a first substrate substrate for an integrated circuit package in which a first type of preliminary solder is disposed on a bump bonding pad for solder bumps of a semiconductor integrated circuit chip, and a second type. In the manufacturing method of the second integrated circuit package substrate substrate in which the preliminary solder is placed on the bump bonding pad, the solder paste is applied to the bump bonding pad and the sub-recognition mark pad of the first integrated circuit package substrate substrate. A first screen mask on which a printing pattern for printing is formed, and a printing pattern in which the solder paste is printed on the bump bonding pad of the second integrated circuit package substrate substrate and not printed on the sub-recognition mark pad A first step of forming a second screen mask formed with an outer layer surface of the printed wiring board A pattern in which the bump bonding pads are arranged in an array; a recognition mark pad; a second step of forming the sub-recognition mark pad in the vicinity of the recognition mark pad; and the first screen mask. The solder paste for the first type of preliminary solder is printed on the printed wiring board, and the second screen mask is used to print the solder paste for the second type of preliminary solder on the printed wiring. A third step of printing on a board; and forming the preliminary solder by heating, melting, cooling and solidifying the solder paste to form the first and second integrated circuit package substrate substrates And determining whether or not the preliminary solder is placed on the sub-recognition mark pad, thereby determining the first integrated circuit package substrate. It is a manufacturing method of the substrate the substrate for an integrated circuit package and having a fifth step of determining that over preparative substrate said second integrated circuit substrate board package.

また、本発明は、外層に、予備半田の種類によらず共通の、バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、半導体集積回路チップの実装領域の認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に形成した副認識マーク用パッドを有し、前記バンプ接合パッドに設置した前記予備半田を有し、かつ、第1の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置し、第2の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置しないことを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板である。   The present invention also provides a pattern in which bump bonding pads are arranged in an array on the outer layer, regardless of the type of spare solder, a recognition mark pad in a mounting area of a semiconductor integrated circuit chip, and the recognition mark pad. A sub-recognition mark pad formed near the sub-recognition mark pad when the first-type pre-solder is installed. A substrate substrate for an integrated circuit package, wherein the preliminary solder is installed, and when the second type of preliminary solder is installed, the preliminary solder is not installed on the sub-recognition mark pad.

本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1は、複数の種類の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成することで、予備半田2の種類が増しても印刷配線板の品名を変えず、品名毎の配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造しないことで、印刷配線板の製造コストを低減するとともに、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の副認識マーク用パッド6への予備半田2の有り無しで予備半田2の種類を容易に判別することができる効果がある。また、本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を実装部門が受け取り、その上に半導体集積回路チップを実装する際に、その予備半田2の種類を容易に判別でき、誤り無く適切な実装条件で実装作業を行うことができる効果がある。   The substrate board 1 for an integrated circuit package of the present invention changes the product name of a printed wiring board by creating a common printed wiring board for a plurality of types of preliminary solder 2 even if the number of types of preliminary solder 2 increases. In addition, the manufacturing cost of the printed wiring board is reduced by not manufacturing the original film set for forming the wiring pattern 3 and the solder resist 10 for each product name, and the sub-recognition mark pad of the substrate board 1 for the integrated circuit package Thus, there is an effect that the type of the preliminary solder 2 can be easily discriminated without using the preliminary solder 2 to 6. Further, when the mounting department receives the integrated circuit package substrate 1 of the present invention and mounts the semiconductor integrated circuit chip thereon, the type of the preliminary solder 2 can be easily discriminated, and appropriate mounting conditions without error. There is an effect that the mounting work can be performed.

以下、本発明の実施の形態について、図1および図2に基づいて説明する。図1は、本実施の形態による集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造手順を示す図であり、図2は、出荷検査工程で予備半田2の種別を判別する装置のブロック図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a diagram showing a manufacturing procedure of an integrated circuit package substrate 1 according to the present embodiment, and FIG. 2 is a block diagram of an apparatus for discriminating the type of preliminary solder 2 in a shipping inspection process.

本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1に実装する半導体集積回路チップは、例えば、外形20mm□、入出力パッドは0.2mmピッチ程度でエリア上に配置され、その入出力パッドに半田バンプが形成された半導体集積回路チップを用いる。本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層には厚さ10μmから50μmの銅の配線パターン3を形成し、それにフリップチップ実装する半導体集積回路チップの半田バンプに合せた0.2mmピッチのバンプ接合パッド4を形成し、認識マーク用パッド5および第1の副認識マーク用パッド6を形成しておく。これらの配線パターン3と認識マーク用パッド5および第1の副認識マーク用パッド6をそれに設置する予備半田の種類によらず共通のパターンに形成した印刷配線板を作成し、その印刷配線板のバンプ接合パッド4に予備半田2を設置する。また、第1の副認識マーク用パッド6には、鉛フリー半田のSn−Ag−Cu系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では予備半田2を設置するが、Pb−Sn系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では設置しない。また、Sn−Bi系の予備半田2を設置する集積回路パッケージ用サブストレート基板1では、予めもう1つ形成しておいた第2の副認識マーク用パッド6の上に予備半田2を設置する。このようにして、予備半田2の種別により、その設置パターンを区別した第1および第2の副認識マーク用パッド6を有する集積回路パッケージ用サブストレート基板1を製造する。   The semiconductor integrated circuit chip mounted on the substrate 1 for integrated circuit package of the present invention has, for example, an outer shape of 20 mm □ and input / output pads arranged on an area with a pitch of about 0.2 mm, and solder bumps are provided on the input / output pads. The formed semiconductor integrated circuit chip is used. A copper wiring pattern 3 having a thickness of 10 μm to 50 μm is formed on the outer layer of the substrate board 1 for an integrated circuit package of the present invention, and a 0.2 mm pitch matched to a solder bump of a semiconductor integrated circuit chip to be flip-chip mounted thereon. A bump bonding pad 4 is formed, and a recognition mark pad 5 and a first sub-recognition mark pad 6 are formed. A printed wiring board in which the wiring pattern 3 and the recognition mark pad 5 and the first sub-recognition mark pad 6 are formed in a common pattern regardless of the type of spare solder to be installed on the printed wiring board is created. Preliminary solder 2 is placed on the bump bonding pad 4. The first sub-recognition mark pad 6 is provided with the pre-solder 2 in the substrate substrate 1 for the integrated circuit package in which the Sn-Ag-Cu pre-solder 2 of lead-free solder is provided. It is not installed on the substrate board 1 for the integrated circuit package on which the Sn-based preliminary solder 2 is installed. Further, in the integrated circuit package substrate 1 on which the Sn—Bi-based preliminary solder 2 is installed, the preliminary solder 2 is installed on the second sub-recognition mark pad 6 formed in advance. . In this manner, the integrated circuit package substrate board 1 having the first and second sub-recognition mark pads 6 in which the installation patterns are distinguished depending on the type of the preliminary solder 2 is manufactured.

(予備半田付きの集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法)本実施形態で用いる予備半田付きの集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造方法を図1に示す。
(工程1)集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造工程で半田ペースト7を印刷するために用いるメタルマスクあるいは有機樹脂のスクリーンマスク8を、複数の種類の予備半田2に対応して、複数の種類を作成し用意しておく。それらのスクリーンマスク8は、第1の種類の予備半田2を設置する第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造用には、バンプ接合パッド4と副認識マーク用パッド6へ半田ペースト7を印刷する印刷パターンを形成した第1のスクリーンマスク8を作成する。そして、第2の種類の予備半田2を設置する第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造用には、バンプ接合パッド4に前記半田ペースト7を印刷し前記副認識マーク用パッド6へは印刷しない印刷パターンを形成した第2のスクリーンマスク8を作成する。
(Method for Manufacturing Substrate Substrate for Integrated Circuit Package with Pre-Solder) FIG. 1 shows a method for manufacturing the substrate substrate 1 for integrated circuit package with pre-solder used in this embodiment.
(Step 1) A metal mask or an organic resin screen mask 8 used for printing the solder paste 7 in the manufacturing process of the integrated circuit package substrate 1 is made to correspond to a plurality of types of preliminary solder 2 and Create and prepare types. Those screen masks 8 are used to manufacture the first integrated circuit package substrate substrate 1 on which the first type of preliminary solder 2 is placed, and to solder paste 7 to the bump bonding pads 4 and the sub-recognition mark pads 6. A first screen mask 8 on which a printing pattern for printing is formed is created. Then, for manufacturing the second integrated circuit package substrate substrate 1 on which the second kind of preliminary solder 2 is installed, the solder paste 7 is printed on the bump bonding pad 4 to the sub-recognition mark pad 6. Creates a second screen mask 8 on which a printing pattern not to be printed is formed.

(工程2)第1の種類と第2の種類との複数の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成する。この印刷配線板は、0.2mmピッチのパッドの半導体集積回路チップをベアチップでフリップチップ実装するために、それに対応するバンプ接合パッド4を表面に形成した印刷配線板であればなんでも良い。この印刷配線板の一実施形態は、ガラスエポキシのコア基板の表裏にビルドアップ層を設けたものであり、一般的な厚さは0.5〜2mm程度、例えば1.6mmである。また、本実施の形態の印刷配線板の外形は10mmから200mmで、例えば100mm□である。この印刷配線板の外層面に、図3あるいは図4に示すように、電気信号を伝送する銅の配線パターン3を形成し、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンを形成し、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサやチップ抵抗などのチップ部品接合パッド11の列を形成し、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に認識マーク用パッド5を形成し、その認識マーク用パッドの近傍に副認識マーク用パッド6を形成する。この認識マーク用パッド5は、電子部品実装装置が、半導体集積回路チップを集積回路パッケージ用サブストレート基板1に実装する際に基準位置として検出するために用いる。次に、印刷配線板の配線パターン3上にソルダーレジスト10を印刷する。   (Step 2) A common printed wiring board is created for the plurality of preliminary solders 2 of the first type and the second type. The printed wiring board may be any printed wiring board having a bump bonding pad 4 formed on the surface thereof for flip chip mounting of a semiconductor integrated circuit chip having a 0.2 mm pitch pad with a bare chip. In one embodiment of this printed wiring board, a build-up layer is provided on the front and back of a glass epoxy core substrate, and the general thickness is about 0.5 to 2 mm, for example, 1.6 mm. Further, the outer shape of the printed wiring board of the present embodiment is 10 mm to 200 mm, for example, 100 mm □. As shown in FIG. 3 or 4, a copper wiring pattern 3 for transmitting an electrical signal is formed on the outer layer surface of the printed wiring board, and a pattern in which bump bonding pads 4 are arranged in an array at a pitch of 0.2 mm is formed. A row of chip component bonding pads 11 such as chip capacitors and chip resistors arranged so as to surround the array pattern is formed, and a recognition mark pad 5 is formed in a region surrounded by the chip component bonding pads 11. The auxiliary recognition mark pad 6 is formed in the vicinity of the recognition mark pad. The recognition mark pad 5 is used by the electronic component mounting apparatus to detect the semiconductor integrated circuit chip as a reference position when mounting the semiconductor integrated circuit chip on the substrate board 1 for the integrated circuit package. Next, the solder resist 10 is printed on the wiring pattern 3 of the printed wiring board.

以上のように、複数の種類の予備半田2に対して共通な印刷配線板を作成することで、予備半田2の種類が増しても印刷配線板の品名を変えて品名毎に配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式を製造する必要が無い効果がある。   As described above, by creating a common printed wiring board for a plurality of types of preliminary solder 2, even if the number of types of preliminary solder 2 increases, the printed wiring board product names are changed and wiring patterns 3 and There is an effect that it is not necessary to manufacture a complete original film for forming the solder resist 10.

(工程3)第1の種類の予備半田2を設置する第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1用には、第1のスクリーンマスク8で、工程2で作成した印刷配線板のバンプ接合パッド4、チップ部品接合パッド11、および副認識マーク用パッド6に、第1の種類の半田ペースト7を20〜60μmの厚さに印刷する。第2の種類の予備半田2を設置する第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1用には、第2のスクリーンマスク8で、工程2で作成した印刷配線板のバンプ接合パッド4、チップ部品接合パッド11に第2の種類の半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペーストを印刷しないようにする。
(工程4)次に、印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させ、次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。
(Step 3) For the first integrated circuit package substrate 1 on which the first type of preliminary solder 2 is installed, the bump bonding pad of the printed wiring board produced in Step 2 is formed with the first screen mask 8. 4. The first type solder paste 7 is printed to a thickness of 20 to 60 μm on the chip component bonding pad 11 and the sub recognition mark pad 6. For the substrate board 1 for the second integrated circuit package on which the second kind of preliminary solder 2 is installed, the second screen mask 8 is used to form the bump bonding pads 4 of the printed wiring board produced in step 2 and chip components. The second type solder paste 7 is printed on the bonding pad 11 and the solder paste is not printed on the sub-recognition mark pad 6.
(Step 4) Next, the printed wiring board is put into a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7, and then the printed wiring board is taken out of the reflow furnace and cooled to solidify the solder, thereby bonding the bumps. The substrate board 1 for an integrated circuit package in which the preliminary solder 2 having a height of 20 to 60 μm is formed on the pad 4 and the chip component bonding pad 11 is obtained.

(工程5)出荷検査工程で、図2に示す予備半田2の判別装置が、基板設置テーブル12に設置した集積回路パッケージ用サブストレート基板1をサブストレート基板認識カメラ13で読み取る。次に、その読み取った画像を画像認識手段14が演算することで副認識マーク用パッド6への予備半田2の設置の有無を判別する。その判別処理は、副認識マーク用パッド6へ予備半田2が設置された集積回路パッケージ用サブストレート基板1は第1の種類と判定し、副認識マーク用パッド6へ予備半田2が設置されていない集積回路パッケージ用サブストレート基板1は第2の種類と判定することで行う。これにより、副認識マーク用パッド6への予備半田2の有り無しで予備半田2の種類が容易に判別できる。そのため、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の出荷の際に異種半田の混入を防止できる効果がある。   (Step 5) In the shipping inspection step, the preliminary solder 2 discriminating device shown in FIG. 2 reads the integrated circuit package substrate substrate 1 installed on the substrate installation table 12 with the substrate substrate recognition camera 13. Next, the image recognition means 14 calculates the read image to determine whether or not the auxiliary solder 2 is installed on the sub-recognition mark pad 6. In the determination process, the substrate board 1 for integrated circuit package in which the preliminary solder 2 is installed on the sub-recognition mark pad 6 is determined as the first type, and the preliminary solder 2 is installed on the sub-recognition mark pad 6. The substrate substrate 1 for an integrated circuit package that does not exist is determined as the second type. As a result, the type of the spare solder 2 can be easily discriminated with or without the spare solder 2 on the sub-recognition mark pad 6. Therefore, there is an effect that it is possible to prevent mixing of different types of solder when the integrated circuit package substrate board 1 is shipped.

このようにして、本発明は、それに設置する予備半田2の種類が複数ある集積回路パッケージ用サブストレート基板1を、共通の印刷配線板を作成して用いる。そして、その印刷配線板のバンプ接合パッド4に印刷する半田ペースト7の種類に応じ、スクリーンマスク8の半田ペースト7の印刷パターンを、認識マーク用パッド5の近傍に形成した副認識マーク用パッド5上への半田ペースト7の印刷の有無を変えて異ならせた。これにより、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の副認識マーク用パッド5への予備半田の有無を外観観察することで、予備半田2の種類を判別できるようにする。そのため、複数の種類の予備半田2を設置する場合に、予備半田2の種類毎に異なる品名の印刷配線板を作成する必要を無くし、品名が増すことによる配線パターン3およびソルダーレジスト10の形成用の原画フィルム一式の作成数量の増加を無くした。これにより、予備半田の種類により種類が異なる集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造コストを低減する効果がある。   In this way, the present invention uses a substrate substrate 1 for integrated circuit packages having a plurality of types of preliminary solder 2 to be installed on it, by creating a common printed wiring board. Then, in accordance with the type of solder paste 7 to be printed on the bump bonding pad 4 of the printed wiring board, the printing pattern of the solder paste 7 of the screen mask 8 is formed in the vicinity of the recognition mark pad 5. It was made different by changing the presence or absence of printing of the solder paste 7 on the top. Thus, the type of the preliminary solder 2 can be determined by observing the appearance of the preliminary solder on the sub-recognition mark pad 5 of the substrate board 1 for the integrated circuit package. Therefore, when a plurality of types of preliminary solder 2 are installed, it is not necessary to create a printed wiring board having a different product name for each type of the preliminary solder 2, and the wiring pattern 3 and the solder resist 10 are formed by increasing the product name. The increase in the production amount of original film set of was eliminated. Thereby, there is an effect of reducing the manufacturing cost of the substrate board 1 for the integrated circuit package whose type differs depending on the type of the preliminary solder.

また、本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1は、その外層の配線パターン7の、半導体集積回路チップの実装位置の認識マーク用パッド5の近傍に副認識マーク用パッド5を形成することにより、この集積回路パッケージ用サブストレート基板1を受け取り、その上に半導体集積回路チップを実装する部門が、認識マーク用パッド5の近傍をサブストレート基板認識カメラ13で観察することで容易にその予備半田2の種類を判別できる効果がある。半導体集積回路チップの実装装置は、この集積回路パッケージ用サブストレート基板1上への半導体集積回路チップの実装位置を定めるために、その認識マーク用パッド5をサブストレート基板認識カメラ13で観察する。その際に、副認識マーク用パッド6がその近傍にあるため、同時に観察できる。そして、その副認識マーク用パッド6上への予備半田2の有無を判別することにより、半導体集積回路チップの実装装置が容易に予備半田の種類の情報を得ることができる。それにより、半導体集積回路チップの実装装置が、集積回路パッケージ用サブストレート基板1に設置された予備半田2の種類に対応して、誤り無く適切な実装条件で実装作業を行うことができる効果がある。   Further, the substrate board 1 for integrated circuit package of the present invention is formed by forming the sub-recognition mark pad 5 in the vicinity of the recognition mark pad 5 at the mounting position of the semiconductor integrated circuit chip on the wiring pattern 7 of the outer layer. The division that receives the substrate board 1 for integrated circuit package and mounts the semiconductor integrated circuit chip thereon observes the vicinity of the recognition mark pad 5 with the substrate board recognition camera 13 so that the preliminary soldering can be easily performed. There is an effect that the two types can be distinguished. The semiconductor integrated circuit chip mounting apparatus observes the recognition mark pad 5 with the substrate substrate recognition camera 13 in order to determine the mounting position of the semiconductor integrated circuit chip on the integrated circuit package substrate substrate 1. At this time, since the sub-recognition mark pad 6 is in the vicinity thereof, it can be observed at the same time. Then, by determining the presence or absence of the spare solder 2 on the sub-recognition mark pad 6, the semiconductor integrated circuit chip mounting apparatus can easily obtain information on the type of the spare solder. Accordingly, the semiconductor integrated circuit chip mounting apparatus can perform mounting work under appropriate mounting conditions without error in accordance with the type of the preliminary solder 2 installed on the substrate board 1 for the integrated circuit package. is there.

また、集積回路パッケージ用サブストレート基板1への予備半田2の形成方法としては、半田ペースト7の印刷とその溶融と固化により予備半田2を形成する製造方法以外に、半田材料のめっきにより予備半田2を形成することもできる。また、副認識マーク用パッド6は、認識マーク用パッド5の領域に、認識マーク用パッド5の位置を測定する領域以外の領域に形成することもできる。   Further, as a method of forming the preliminary solder 2 on the substrate board 1 for the integrated circuit package, in addition to the manufacturing method of forming the preliminary solder 2 by printing the solder paste 7 and melting and solidifying the solder paste 7, the preliminary solder 2 is plated by a solder material. 2 can also be formed. The sub-recognition mark pad 6 can also be formed in a region other than the region for measuring the position of the recognition mark pad 5 in the region of the recognition mark pad 5.

図3に、実施例1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1を形成する印刷配線板の外層の配線パターン3の一部分の平面図を示す。図3では、厚さ10μmの銅箔の配線パターン3の一部に、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンと、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサを実装するためのチップ部品接合パッド11の列と、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に寸法が0.05mmから2mmの大きさの認識マーク用パッド5と、その近傍に寸法が0.05mmから2mmの大きさの副認識マーク用パッド6を形成した印刷配線板を作成する。   FIG. 3 is a plan view of a part of the wiring pattern 3 on the outer layer of the printed wiring board forming the substrate board 1 for the integrated circuit package according to the first embodiment. In FIG. 3, a pattern in which bump bonding pads 4 are arranged in an array at a pitch of 0.2 mm on a part of a wiring pattern 3 of copper foil having a thickness of 10 μm, and a chip capacitor arranged so as to surround the array pattern Of the chip component bonding pads 11 for mounting the chip, the recognition mark pad 5 having a size of 0.05 mm to 2 mm in the region surrounded by the chip component bonding pad 11, and the size of 0 in the vicinity thereof. A printed wiring board on which sub-recognition mark pads 6 having a size of 0.05 mm to 2 mm are formed is prepared.

この印刷配線板の作成と並行して、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスク8(スクリーンマスクAと呼ぶ)をメタルマスクで作成し、その印刷パターンは、図3のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11と副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷するパターンを形成する。また、Pb−Sn系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスク8(スクリーンマスクBと呼ぶ)をメタルマスクで作成し、その印刷パターンは、図3のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11に半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しないパターンを形成する。   In parallel with the production of the printed wiring board, a screen mask 8 (referred to as screen mask A) for printing the Sn—Ag—Cu-based solder paste 7 is produced with a metal mask, and the print pattern is shown in FIG. A pattern for printing the solder paste 7 on the bump bonding pad 4, the chip component bonding pad 11, and the sub-recognition mark pad 6 is formed. Further, a screen mask 8 (referred to as a screen mask B) for printing the Pb—Sn solder paste 7 is formed using a metal mask, and the printed pattern is the bump bonding pad 4 and the chip component bonding pad 11 of FIG. The solder paste 7 is printed on the sub-recognition mark pad 6, and a pattern on which the solder paste 7 is not printed is formed.

次に、印刷配線板に半田ペースト7を印刷する。ここで、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷する場合は、スクリーンマスクAによりその半田ペースト7を印刷配線板に印刷することで、副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷する。また、Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷する場合は、スクリーンマスクBによりその半田ペースト7を印刷配線板に印刷することで、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しない。このようにして、予備半田2の種類により、副認識マーク用パッド6への半田ペースト7の印刷の有無を異ならせる。   Next, the solder paste 7 is printed on the printed wiring board. Here, when printing the Sn-Ag-Cu-based solder paste 7, the solder paste 7 is printed on the sub-recognition mark pad 6 by printing the solder paste 7 on the printed wiring board using the screen mask A. . When printing the solder paste 7 of Pb—Sn eutectic solder, the solder paste 7 is not printed on the sub-recognition mark pad 6 by printing the solder paste 7 on the printed wiring board using the screen mask B. . In this manner, the presence or absence of printing of the solder paste 7 on the sub-recognition mark pad 6 varies depending on the type of the preliminary solder 2.

次に、このように半田ペースト7を印刷した印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させる。ここで、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、210℃程度に加熱し半田ペースト7を溶融させる。一方、Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は共晶半田の融点の183℃以上の温度の例えば200℃程度に加熱することで半田ペースト7を溶融させる。次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。   Next, the printed wiring board on which the solder paste 7 is printed in this manner is placed in a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7. Here, the printed wiring board on which the Sn—Ag—Cu solder paste 7 is printed is heated to about 210 ° C. to melt the solder paste 7. On the other hand, the printed wiring board on which the solder paste 7 of Pb—Sn eutectic solder is printed is heated to a temperature of 183 ° C. or higher, for example, about 200 ° C., which is the melting point of the eutectic solder, thereby melting the solder paste 7. Next, the printed circuit board is taken out of the reflow furnace and cooled to solidify the solder, thereby forming the pre-solder 2 having a height of 20 to 60 μm on the bump bonding pad 4 and the chip component bonding pad 11. A substrate substrate for package 1 is obtained.

次に、図2に示す予備半田2の判別装置が、サブストレート基板認識カメラ13で、図3に示す、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の認識マーク用パッド5を観察するとともに、その近傍の副認識マーク用パッド6を観察する。Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に印刷した半田ペースト7が表面が曲面の予備半田2を形成しているため、その曲面で光が曲げられ、副認識マーク用パッド6の画像が暗くなる。サブストレート基板認識カメラ13の画像信号読み込みのスレッシホールドレベルを高くすることで、この副認識マーク用パッド6の画像が無いものと判定される。Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に予備半田2が無いため、副認識マーク用パッド6の画像が鮮明に観測される、副認識マーク用パッド6の画像が認識される。いずれの半田の種類の場合も認識マーク用パッド5の画像は認識される。このように、認識マーク用パッド5に対して近傍の副認識マーク用パッド6の画像パターンの有無のパターンを、画像認識手段14が、予め記憶していた比較用の画像パターンと照合し、一致した比較用画像パターンに対応して記憶しておいた予備半田2の種類データを読み出し、予備半田2の種類を判別する。   Next, the preliminary solder 2 discriminating device shown in FIG. 2 uses the substrate substrate recognition camera 13 to observe the recognition mark pad 5 of the integrated circuit package substrate substrate 1 shown in FIG. The sub-recognition mark pad 6 is observed. In the printed wiring board on which the Sn-Ag-Cu solder paste 7 is printed, the solder paste 7 printed on the sub-recognition mark pad 6 forms the preliminary solder 2 having a curved surface. The image of the sub-recognition mark pad 6 is darkened by being bent. By raising the threshold level for reading the image signal of the substrate substrate recognition camera 13, it is determined that there is no image of the sub recognition mark pad 6. Since the printed wiring board on which the solder paste 7 of Pb—Sn eutectic solder is printed does not have the preliminary solder 2 on the sub-recognition mark pad 6, the image of the sub-recognition mark pad 6 is clearly observed. The image of the pad 6 is recognized. In any solder type, the image of the recognition mark pad 5 is recognized. In this way, the image recognition unit 14 compares the pattern of the presence / absence of the image pattern of the sub-recognition mark pad 6 adjacent to the recognition mark pad 5 with the comparison image pattern stored in advance, and matches the pattern. The type data of the spare solder 2 stored in correspondence with the comparison image pattern is read, and the type of the spare solder 2 is determined.

図4に、実施例2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層の配線パターン3の一部分の平面図を示す。図4では、厚さ20μmの銅箔の配線パターン3の一部に、バンプ接合パッド4をアレイ状に0.2mmピッチで並べたパターンと、そのアレイ状パターンを囲むように配置されたチップコンデンサを実装するためのチップ部品接合パッド11の列と、そのチップ部品接合パッド11で囲まれる領域内に寸法が0.2mmから2mmの大きさで副認識マーク用パッド6が認識マーク用パッド5と一体化された銅箔パターンを形成する。次に、その印刷配線板に、その銅箔パターンの一部に、寸法が0.1mmから2mmの大きさのエポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの透明なソルダーレジスト10を印刷し、その部分を認識マーク用パッド5とし、透明なソルダーレジスト10が印刷されない部分を副認識マーク用パッド6とした印刷配線板を作成する。   FIG. 4 is a plan view of a part of the wiring pattern 3 on the outer layer of the substrate board 1 for an integrated circuit package according to the second embodiment. In FIG. 4, a pattern in which bump bonding pads 4 are arranged in an array at a pitch of 0.2 mm on a part of a wiring pattern 3 of a copper foil having a thickness of 20 μm, and a chip capacitor arranged so as to surround the array pattern. The sub-recognition mark pad 6 has a size of 0.2 mm to 2 mm in the region surrounded by the chip-component bond pad 11 and the recognition mark pad 5. An integrated copper foil pattern is formed. Next, a transparent solder resist 10 such as an epoxy resin or a polyimide resin having a size of 0.1 mm to 2 mm is printed on a part of the copper foil pattern on the printed wiring board, and the part is recognized. A printed wiring board is created in which the portion where the transparent solder resist 10 is not printed is used as the secondary recognition mark pad 6.

次に、実施例1と同様にして、印刷配線板の作成と並行して、Sn−Ag−Cu系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスクAを、図4のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11と副認識マーク用パッド6に半田ペースト7を印刷するパターンに形成する。そして、Pb−Sn系の半田ペースト7を印刷するためのスクリーンマスクBを、図4のバンプ接合パッド4とチップ部品接合パッド11に半田ペースト7を印刷し、副認識マーク用パッド6には半田ペースト7を印刷しないパターンに形成する。   Next, in the same manner as in Example 1, in parallel with the production of the printed wiring board, the screen mask A for printing the Sn—Ag—Cu-based solder paste 7 was used as the bump bonding pad 4 and the chip in FIG. The solder paste 7 is formed in a pattern to be printed on the component bonding pads 11 and the sub-recognition mark pads 6. Then, the screen mask B for printing the Pb—Sn solder paste 7 is printed on the bump bonding pad 4 and the chip component bonding pad 11 in FIG. 4, and the sub-recognition mark pad 6 is soldered. The paste 7 is formed in a pattern that is not printed.

次に、実施例1と同様にして、半田ペースト7を印刷した印刷配線板をリフロー炉に入れ加熱する事で半田ペースト7を溶融させ、次に、印刷配線板をリフロー炉から取り出して冷却して半田を固化させることで、バンプ接合パッド4およびチップ部品接合パッド11の上に20〜60μmの高さの予備半田2を形成した集積回路パッケージ用サブストレート基板1を得る。   Next, in the same manner as in Example 1, the printed wiring board on which the solder paste 7 is printed is placed in a reflow furnace and heated to melt the solder paste 7, and then the printed wiring board is taken out of the reflow furnace and cooled. By solidifying the solder, the substrate board 1 for an integrated circuit package in which the preliminary solder 2 having a height of 20 to 60 μm is formed on the bump bonding pad 4 and the chip component bonding pad 11 is obtained.

次に、図2に示す予備半田2の判別装置が、サブストレート基板認識カメラ13で、図4に示す、集積回路パッケージ用サブストレート基板1の認識マーク用パッド5を観察する。その際に、認識マーク用パッド5は、透明なソルダーレジスト10を通して観察されるが、透明なソルダーレジスト10で覆われていない領域の副認識マーク用パッド6には表面が曲面の予備半田2が形成されているため画像が暗くなり、副認識マーク用パッド6の画像が無いものと判定され、認識マーク用パッド5の画像のみが観測される。Pb−Sn共晶半田の半田ペースト7を印刷した印刷配線板は、副認識マーク用パッド6に予備半田2が無いため、副認識マーク用パッド6の画像と認識マーク用パッド5がともに鮮明に観測され、一体の銅箔パターンの画像として観測される。このように、認識マーク用パッド5の画像の形状の大きさが異なるパターンを、画像認識手段14が、予め記憶していた比較用の画像パターンと照合し、一致した比較用画像パターンに対応して記憶しておいた予備半田2の種類データを読み出し、予備半田2の種類を判別する。   Next, the discriminating apparatus for the preliminary solder 2 shown in FIG. 2 observes the recognition mark pad 5 of the substrate board 1 for the integrated circuit package shown in FIG. At this time, the recognition mark pad 5 is observed through the transparent solder resist 10, but the auxiliary solder mark 2 having a curved surface is provided on the sub-recognition mark pad 6 in a region not covered with the transparent solder resist 10. Since it is formed, the image becomes dark and it is determined that there is no image of the sub-recognition mark pad 6, and only the image of the recognition mark pad 5 is observed. Since the printed wiring board on which the solder paste 7 of Pb—Sn eutectic solder is printed does not have the spare solder 2 on the sub-recognition mark pad 6, both the image of the sub-recognition mark pad 6 and the recognition mark pad 5 are clear. Observed as an image of an integral copper foil pattern. In this manner, the image recognition means 14 compares patterns having different shapes in the shape of the image of the recognition mark pad 5 with a comparison image pattern stored in advance, and corresponds to the matched comparison image pattern. The type data of the spare solder 2 stored in advance is read out, and the type of the spare solder 2 is determined.

なお、副認識マーク用パッド6は、以上の実施例に限定されず、認識マーク用パッド5のパターンの中央部に、副認識マーク用パッド6を所定の間隙を隔てて埋め込み設置することもできる。また、半導体集積回路チップの実装装置のサブストレート基板認識カメラ13の照明光学系統を、副認識マーク用パッド6を拡散光で照明してサブストレート基板認識カメラ13が予備半田2の曲面にもかかわらず、予備半田2の読み取り画像の明るさを確保し、かつ、予備半田2の有無を色合いにより判別する光学系統を設置することもできる。この場合は、副認識マーク用パッド6として、認識マーク用パッド5自体を用いることもできる。その場合は、認識マーク用パッド5に予備半田2を設置した場合に予備半田2が認識マーク用パッド5の周辺にはみ出す恐れがある。その予備半田2のはみ出しが生じないように認識マーク用パッド5の周辺をソルダーレジストで覆った認識マーク用パッド5のパターンを副認識マーク用パッド6として形成しても良い。   The sub-recognition mark pad 6 is not limited to the above-described embodiment, and the sub-recognition mark pad 6 can be embedded in the center of the pattern of the recognition mark pad 5 with a predetermined gap. . Further, the illumination optical system of the substrate substrate recognition camera 13 of the semiconductor integrated circuit chip mounting apparatus is illuminated with the sub-recognition mark pad 6 with diffused light, so that the substrate substrate recognition camera 13 is related to the curved surface of the preliminary solder 2. It is also possible to install an optical system that ensures the brightness of the read image of the preliminary solder 2 and discriminates the presence or absence of the preliminary solder 2 based on the hue. In this case, the recognition mark pad 5 itself can be used as the sub-recognition mark pad 6. In this case, when the preliminary solder 2 is installed on the recognition mark pad 5, there is a possibility that the preliminary solder 2 protrudes around the recognition mark pad 5. A pattern of the recognition mark pad 5 in which the periphery of the recognition mark pad 5 is covered with a solder resist so that the preliminary solder 2 does not protrude may be formed as the sub-recognition mark pad 6.

このように認識マーク用パッド5の近傍に副認識マーク用パッド6を形成することにより、実装装置がサブストレート基板認識カメラ13で認識マーク用パッド5を観察する際に、副認識マーク用パッド6上の予備半田2を観察できるようにし、その上への予備半田2の設置の有無により容易に予備半田2の種別を判別できる効果がある、集積回路パッケージ用サブストレート基板1が得られる。   By forming the sub-recognition mark pad 6 in the vicinity of the recognition mark pad 5 in this way, when the mounting apparatus observes the recognition mark pad 5 with the substrate substrate recognition camera 13, the sub-recognition mark pad 6. The substrate board 1 for an integrated circuit package can be obtained, which has the effect of allowing the preliminary solder 2 to be observed and easily determining the type of the preliminary solder 2 depending on whether or not the preliminary solder 2 is placed thereon.

本発明の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の製造手順を示す図である。It is a figure which shows the manufacture procedure of the substrate board 1 for integrated circuit packages of this invention. 出荷検査工程で予備半田2の種別を判別する装置のブロック図である。It is a block diagram of the apparatus which discriminate | determines the kind of the preliminary | backup solder 2 at a shipment inspection process. 実施例1の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層の配線パターン3の部分を示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing a portion of a wiring pattern 3 on the outer layer of the substrate board 1 for integrated circuit package according to the first embodiment. 実施例2の集積回路パッケージ用サブストレート基板1の外層の配線パターン3の部分を示す平面図である。FIG. 6 is a plan view showing a portion of an outer layer wiring pattern 3 of an integrated circuit package substrate 1 according to a second embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・集積回路パッケージ用サブストレート基板
2・・・予備半田
3・・・配線パターン
4・・・バンプ接合パッド
5・・・認識マーク用パッド
6・・・副認識マーク用パッド
7・・・半田ペースト
8・・・スクリーンマスク
10・・・ソルダーレジスト
11・・・チップ部品接合パッド
12・・・基板設置テーブル
13・・・サブストレート基板認識カメラ
14・・・画像認識手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Substrate substrate 2 for integrated circuit packages 2 ... Preliminary solder 3 ... Wiring pattern 4 ... Bump bonding pad 5 ... Recognition mark pad 6 ... Sub recognition mark pad 7 Solder paste 8 Screen mask 10 Solder resist 11 Chip component bonding pad 12 Substrate installation table 13 Substrate substrate recognition camera 14 Image recognition means

Claims (2)

第1の種類の予備半田を半導体集積回路チップの半田バンプ用のバンプ接合パッドに設置した第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板と第2の種類の予備半田をバンプ接合パッドに設置した第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法において、前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドと副認識マーク用パッドへ半田ペーストを印刷する印刷パターンを形成した第1のスクリーンマスクと、前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板の前記バンプ接合パッドに前記半田ペーストを印刷し前記副認識マーク用パッドへは印刷しない印刷パターンを形成した第2のスクリーンマスクとを作成する第1の工程と、印刷配線板の外層面に、前記バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に前記副認識マーク用パッドを形成し作成する第2の工程と、前記第1のスクリーンマスクにより、前記第1の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷し、前記第2のスクリーンマスクにより、前記第2の種類の予備半田用の前記半田ペーストを前記印刷配線板上に印刷する第3の工程と、前記半田ペーストを加熱して溶融させ冷却して固化させることで前記予備半田を形成することで前記第1および前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を製造する第4の工程と、前記副認識マーク用パッドへの前記予備半田の設置の有無を判別することにより前記第1の集積回路パッケージ用サブストレート基板と前記第2の集積回路パッケージ用サブストレート基板を判別する第5の工程を有することを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板の製造方法。   A first integrated circuit package substrate substrate in which a first type of preliminary solder is disposed on a bump bonding pad for solder bumps of a semiconductor integrated circuit chip, and a second type of preliminary solder is disposed on a bump bonding pad. In the method of manufacturing a substrate substrate for an integrated circuit package, a first screen on which a printing pattern for printing a solder paste on the bump bonding pad and the sub-recognition mark pad of the substrate substrate for the first integrated circuit package is formed. A mask and a second screen mask on which the solder paste is printed on the bump bonding pads of the second integrated circuit package substrate substrate and a printing pattern not printed on the sub-recognition mark pads are formed. In the first step, the bump bonding pads are arranged in an array on the outer layer surface of the printed wiring board. The first type of preliminary pattern, a second step of forming and forming the sub-recognition mark pad in the vicinity of the recognition mark pad, and the first screen mask. A third step of printing the solder paste for solder on the printed wiring board and printing the solder paste for the second kind of preliminary solder on the printed wiring board by the second screen mask. A fourth step of manufacturing the first and second integrated circuit package substrate substrates by forming the preliminary solder by heating, melting, cooling and solidifying the solder paste; The first integrated circuit package substrate substrate and the second integrated circuit package are determined by determining whether or not the preliminary solder is placed on the sub-recognition mark pad. A method of fabricating an integrated circuit substrate board package, characterized in that it comprises a fifth step of discriminating the substrate board di. 外層に、予備半田の種類によらず共通の、バンプ接合パッドをアレイ状に並べたパターンと、半導体集積回路チップの実装領域の認識マーク用パッドと、前記認識マーク用パッドの近傍に形成した副認識マーク用パッドを有し、前記バンプ接合パッドに設置した前記予備半田を有し、かつ、第1の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置し、第2の種類の前記予備半田を設置する場合に前記副認識マーク用パッドに前記予備半田を設置しないことを特徴とする集積回路パッケージ用サブストレート基板。   A common pattern of bump bonding pads arranged in an array on the outer layer regardless of the type of spare solder, a recognition mark pad in the mounting area of the semiconductor integrated circuit chip, and a sub-pattern formed in the vicinity of the recognition mark pad A recognition mark pad, the spare solder placed on the bump bonding pad, and the spare solder placed on the sub-recognition mark pad when the first type of spare solder is placed. A substrate substrate for an integrated circuit package, wherein the preliminary solder is not installed on the sub-recognition mark pad when the second type of preliminary solder is installed.
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