JP2007524002A - プロセスチャンバの高さが安定したcvd反応装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】プロセスチャンバの高さを一定に保つための手段を提案すること。
【解決手段】リアクタ筐体(1)内に配置されたプロセスチャンバ(2)を備え、プロセスチャンバ(2)が、プロセスチャンバステージ(7)と、プロセスチャンバステージ(7)から距離(h)離れて配置されたプロセスチャンバデッキ(6)とを有し、リアクタ筐体(1)が、少なくとも、リアクタ筐体(1)内の圧力の変化によって僅かに弾性的に変形可能なリアクタ壁(3、4)を有し、リアクタ壁(3、4)が、機能エレメント(9、10)が突き出る同心円状の開口(17、18)を有し、機能エレメント(9、10)が、第1の部分(9’、10’)でプロセスチャンバ壁(6、7)に強固に連結され、リアクタ筐体(1)の外の第2の部分(9’’、10’’)を有し、機能エレメント(9、10)が、弾性的な隙間を形成可能にリアクタ壁(3、4)に連結されるように構成される。
【選択図】図1
【解決手段】リアクタ筐体(1)内に配置されたプロセスチャンバ(2)を備え、プロセスチャンバ(2)が、プロセスチャンバステージ(7)と、プロセスチャンバステージ(7)から距離(h)離れて配置されたプロセスチャンバデッキ(6)とを有し、リアクタ筐体(1)が、少なくとも、リアクタ筐体(1)内の圧力の変化によって僅かに弾性的に変形可能なリアクタ壁(3、4)を有し、リアクタ壁(3、4)が、機能エレメント(9、10)が突き出る同心円状の開口(17、18)を有し、機能エレメント(9、10)が、第1の部分(9’、10’)でプロセスチャンバ壁(6、7)に強固に連結され、リアクタ筐体(1)の外の第2の部分(9’’、10’’)を有し、機能エレメント(9、10)が、弾性的な隙間を形成可能にリアクタ壁(3、4)に連結されるように構成される。
【選択図】図1
Description
本発明は、リアクタ筐体内に配置されたプロセスチャンバを備え、プロセスチャンバが、プロセスチャンバ壁が取り囲むプロセスチャンバステージと、プロセスチャンバステージから所定距離離れて配置されたプロセスチャンバデッキを有し、リアクタ筐体が少なくとも、リアクタ筐体内の圧力の変化によって僅かに弾性的に変形可能なリアクタ壁を有し、リアクタ壁が、特に機能エレメントが貫通する同心円状の開口を有し、機能エレメントが、第1の部分を介してプロセスチャンバ壁に強固に連結され、リアクタ筐体の外に配置された第2の部分を有するCVD反応装置に関する。
このようなCVD反応装置は、特許文献1〜13から知られている。
公知のCVD反応装置は、内部にプロセスチャンバが配置されたリアクタ筐体を備える。このリアクタ筐体は、上下の壁と、プロセスチャンバを取り囲む側壁と、を備える。上部の壁の中央及びオプションで下部の壁の中央に開口が設けられる。リアクタデッキとも称される上部の壁の開口を通って、ガス導入機構が外部からリアクタ筐体内に突き出ている。このガス導入機構を通って、プロセスガスがプロセスチャンバ内に導入される。さらに、ガス導入機構がリアクタ筐体の中央に設けられ、これが同時にプロセスチャンバを上方で仕切るプロセスチャンバデッキの支持部材でもある。プロセスチャンバデッキに対向するプロセスチャンバステージは、リアクタ筐体の底、リアクタ筐体壁、又は底の開口を貫通する回転駆動部材に連結されるのでもよい。
公知のCVD反応装置は、内部にプロセスチャンバが配置されたリアクタ筐体を備える。このリアクタ筐体は、上下の壁と、プロセスチャンバを取り囲む側壁と、を備える。上部の壁の中央及びオプションで下部の壁の中央に開口が設けられる。リアクタデッキとも称される上部の壁の開口を通って、ガス導入機構が外部からリアクタ筐体内に突き出ている。このガス導入機構を通って、プロセスガスがプロセスチャンバ内に導入される。さらに、ガス導入機構がリアクタ筐体の中央に設けられ、これが同時にプロセスチャンバを上方で仕切るプロセスチャンバデッキの支持部材でもある。プロセスチャンバデッキに対向するプロセスチャンバステージは、リアクタ筐体の底、リアクタ筐体壁、又は底の開口を貫通する回転駆動部材に連結されるのでもよい。
プロセスチャンバの高さは、プロセスチャンバデッキとプロセスチャンバステージとの間の内側の距離である。この距離は、プロセスチャンバ内で行われる所定のプロセスに敏感に影響する。これは、一定に保持されるべきものである。
プロセスチャンバ内で進められるプロセスは、一般に、大気圧と異なり、大気圧より低いトータル圧で行われる。プロセスチャンバ内のトータル圧は、そのために、0〜1000mbarの間に調節されうる。同時に、これによって、圧力障壁として機能するリアクタデッキとリアクタ底部が変形する。
公知のCVD反応装置において、少なくとも、プロセスチャンバデッキは、中央でプロセスチャンバデッキに堅固に連結されるガス供給機構に強固に連結される。そして、リアクタデッキは、リアクタから取り外し可能になっている。同時に、これによって、プロセスチャンバはまた、充填又は取り出しの為に開くようになっている。その結果、この構成は、プロセスチャンバデッキとプロセスチャンバステージとの間の距離が、プロセスチャンバ内のトータル圧に応じて変化しうるものになっている。この効果を妨げるために、プロセスチャンバデッキ又はプロセスチャンバステージはこれに応じて硬くされる。
生産性の向上のため、より大型のプロセスチャンバが求められている。これは、プロセスチャンバ壁の直径を大きくすることにつながり、もってトータル圧調節の変化の増大につながる。
独国公開第10043597A1号公報
独国公開第10043599A1号公報
独国公開第10043600A1号公報
独国公開第10043601A1号公報
独国公開第10057134A1号公報
独国公開第10064941A1号公報
独国公開第10064942A1号公報
独国公開第10064944A1号公報
独国公開第10124609A1号公報
独国公開第10133914A1号公報
独国公開第10136858A1号公報
独国公開第10153463A1号公報
独国公開第10211442A1号公報
本発明の課題は、プロセスチャンバの高さを一定に保つための手段を提案することである。
課題は、特許請求の範囲に規定された発明によって解決される。
請求項1は、略、実質的に、機能エレメントが弾性的な隙間を設けることができるようにリアクタ壁に連結されることを意図している。そして、プロセスチャンバステージは、適切な手段を介してプロセスチャンバデッキに強固に連結されるのでもよい。この強固な連結は、対向する両方のリアクタ壁を分離しつつ行われる。その結果、リアクタ底部とリアクタデッキの両方は、より弱い剛性を有するように構成されるのでもよい。これらの変形は、プロセスチャンバステージとプロセスチャンバデッキとの間の距離には、それほど大きく影響しない。
請求項1は、略、実質的に、機能エレメントが弾性的な隙間を設けることができるようにリアクタ壁に連結されることを意図している。そして、プロセスチャンバステージは、適切な手段を介してプロセスチャンバデッキに強固に連結されるのでもよい。この強固な連結は、対向する両方のリアクタ壁を分離しつつ行われる。その結果、リアクタ底部とリアクタデッキの両方は、より弱い剛性を有するように構成されるのでもよい。これらの変形は、プロセスチャンバステージとプロセスチャンバデッキとの間の距離には、それほど大きく影響しない。
むしろ、この距離は、プロセスチャンバデッキをプロセスチャンバステージに連結するエレメントによって、決定される。機能エレメントとリアクタ壁との間の弾性的な隙間を設けることができる連結は、特に、機能エレメント、ガス導入機構、又はリアクタ底部を貫通する駆動シャフトがリアクタデッキ又はリアクタ底部の開口を貫通するように行われる。そのため、ガス導入機構はプロセスチャンバデッキに強固に連結され、駆動シャフトはプロセスチャンバステージに強固に連結される。プロセスチャンバステージは、同時に基板ホルダを有するのでもよい。この駆動シャフトは、リアクタ筐体内に配置され、リアクタ筐体の側壁又は壁の周囲に強固に連結された支持部材に軸支されるのでもよい。
しかしながら、駆動シャフトを軸支する支持部材は、また、リアクタ筐体の外部に配置されるのでもよい。そして、これは、駆動シャフトがガス導入機構に強固に連結されることについても、適用されるのでもよい。しかしながら、プロセスチャンバデッキはまた、側壁に又はリアクタデッキの周辺部に強固に連結され、もって、リアクタデッキの周辺部が、圧力変化によってわずかに変形するのでもよい。
後者は、リアクタデッキがカバーに設けられるときに、チャンバが充填又は取り出しの為に開けられるという、利点を有する。プロセスチャンバステージは、ガス誘導リング、プロセスチャンバヒータ、又は基板ステージ等の、密閉アッセンブリを有するのでもよい。後者は、プロセスチャンバステージによって軸支されるように配置されるのでもよい。機能エレメントがリアクタ壁を通って突き出すための開口が、ベローズを介して密閉されるのは、好ましい。このベローズは、機能エレメントと、この機能エレメントに割り当てられた壁との間の弾性的な連結であり、好ましくは、所謂ステンレス鋼からなる。さらに、プロセスチャンバステージ、ガス誘導リング、プロセスチャンバヒータ、及び駆動シャフトが設けられる構造アッセンブリが、リアクタ筐体に連結されて設けられた支持部材に強固に連結され、リアクタ壁が、リアクタ筐体内の変形によって、支持部材に対して移動又は変形可能になっているのでもよい。本発明の他の構成例において、プロセスチャンバデッキとプロセスチャンバステージとは、周辺部の連結手段を介して相互に強固に連結される。
この構成では、全プロセスチャンバは、これによって、ガス導入機構に吊り下げ可能になっている。プロセスチャンバステージをプロセスチャンバデッキに強固に連結する連結エレメントは、リアクタの内側と外側の両方に配置されるのでもよい。この連結エレメントは、それどころか、強固な連結を有する方向に変形しない、リアクタの壁のエレメント上に配置されるのでもよい。そして、プロセスチャンバを取り囲む側壁が、特に、この機能を有するのでもよい。これには、プロセスチャンバデッキがそこに、ただ支持されるだけで足りる。
本発明の実施例は、付随の図面を介して明示される。
各実施例に図示されたリアクタ筐体は、それぞれ実質的に円形ディスク状で、同様に実質的に円形のリアクタ底部4に対向するリアクタデッキ3を備える。リアクタの断面形状は、しかしながら、円形の形状からずれていてもよい。リアクタ底部4とリアクタデッキ3との間に配置された反応室は、側面が円筒状のリアクタ側壁5によって取り囲まれている。
各実施例に図示されたリアクタ筐体は、それぞれ実質的に円形ディスク状で、同様に実質的に円形のリアクタ底部4に対向するリアクタデッキ3を備える。リアクタの断面形状は、しかしながら、円形の形状からずれていてもよい。リアクタ底部4とリアクタデッキ3との間に配置された反応室は、側面が円筒状のリアクタ側壁5によって取り囲まれている。
リアクタデッキ3は、リアクタ筐体1内にガス導入機構9が突き出す、中央の開口17を有する。ガス導入機構9は、リアクタ筐体1の外側に配置された部分9’’、及びリアクタ筐体1の内部に配置された部分9’を有する。ガス導入機構を用いて、特に、冒頭の引例に記載されたように、プロセスガスがプロセスチャンバ2内に導入される。また、ガス排出口21を介して、プロセスガスが排出される。
プロセスチャンバ2は、上方がプロセスチャンバデッキ6によって、下方がプロセスチャンバデッキ6に平行に広がったプロセスチャンバステージ7によって、仕切られている。プロセスチャンバデッキ6から距離h離れているプロセスチャンバステージ7は、基板ホルダ又はサセプタを有する。プロセスチャンバステージ7の上には、中央に配置されたガス導入機構9の周りに、リング状に、成膜する基板が配置される。ガス導入機構9から流れ出たプロセスガスは、円形ディスク状のプロセス室2を中央から周辺に向かって流れていく。周辺部には、特に、ガス誘導リング等の、図示しないガス誘導手段が設けられるのでもよい。図3は、このようなガス誘導リング20を模式的に示す。
同様に、ヒータ19がプロセスチャンバステージ7用に設けられているのが模式的にのみ示されている。プロセスチャンバデッキ6もまた加熱されるのでもよい。ヒータ19とガス誘導リング20の両方が、プロセスチャンバステージ7と一体化されて構造アッセンブリとして設けられるのでもよい。
ガス導入機構突き出るリアクタデッキ3の開口17は、ガス導入機構9、又はガス導入機構9に強固に連結されたプロセスデッキ6の位置がプロセスチャンバステージ7に対して変化することなく、リアクタデッキ3が弾性的に変化できるように、所謂ステンレス鋼からなるベローズ12を用いて密閉されている。
図1に示された実施例では、同様に、リアクタ底部4は実質的に中央に開口18を有する。この中央の開口18を通って、駆動シャフト10が、リアクタ筐体1の外部に配置された、図示しない駆動機構によって回転駆動させられる。
リアクタ筐体1内には、駆動シャフト10が支持部材8に強固に連結されるベアリング11が設けられ、支持部材8が連結エレメント15を介してリアクタ側壁5に堅固に連結される。連結エレメント15は、リアクタ底部4の周辺部に設けられる。
リアクタデッキ3の周辺部の外側に、プロセスチャンバデッキ6とリアクタデッキ3の周辺部とが連結される連結エレメント14が設けられる。リアクタデッキ3又はリアクタ底部4の周辺部は、リアクタ側壁5を介して相互に堅固に連結されている。その結果、この機構的な上部構造は、ベアリング11をガス導入機構に堅固に連結する。プロセスチャンバは、リアクタデッキ3を持ち上げることによって開くようになっている。
リアクタ筐体1内に突き出ている駆動シャフト10の部分10’は、駆動シャフト10がプロセスチャンバステージ7を回転駆動できるように、プロセスチャンバステージ7に強固に連結されている。
引用符号19で示され、模式的にのみ示したヒータ19は、支持部材8に直接強固に連結されるのでもよい。
駆動シャフト10が貫通する開口18は、ベローズ13によって密閉されている。
図2に図示されたCVD反応装置において、プロセスチャンバデッキ6は、ガス導入機構9に強固に連結されている。プロセスチャンバデッキ6は、しかしながら、そこに、プロセスチャンバ側壁16を介してプロセスチャンバステージ7に直接連結されている。プロセスチャンバ側壁16は、ガス誘導リングをなすのでもよい。
図3に図示された実施例において、プロセスチャンバデッキ6は、連結エレメント14を介して中空円筒形状のリアクタ側壁5に、強固に連結されている。プロセスチャンバデッキ6は、また、リアクタデッキ3を取り外すことによってプロセスチャンバが開けられるように、単にそこに支持されている。また、ベアリング11を介して駆動シャフト10を支持する支持部材8は、この実施例において、リアクタ側壁5に連結される。
図4に図示された実施例において、駆動シャフト10のベアリング11は、リアクタ筐体1の外側に設けられる。ベアリング11は、リアクタ筐体1の、ガス導入機構9も支持される、外側の取り囲む支持部材8に強固に連結される。この実施例において、ガス導入機構9と駆動シャフト10は、支持部材8に強固に連結される。
全ての開示された特徴は、(それ自身が)発明の要部をなす。これでもって、出願の開示において、同封の又は添付の優先権の基礎出願(先の出願のコピー)の公開内容は、また十分に取り込まれ、この書面の目的及び特徴に関しても、また、先の出願の特許請求の範囲内に含まれている。本願の公開内容において、本願の引例もまた明確に取り込まれている。
1 リアクタ筐体
2 プロセスチャンバ
3 リアクタデッキ
4 リアクタ底部
5 リアクタ側壁
6 プロセスチャンバデッキ
7 プロセスチャンバステージ
8 支持部材
9 機能エレメント(ガス導入機構)
9’、10’、9’’、10’’ 機能エレメントの部分
10 機能エレメント(駆動シャフト)
12、13 ベローズ
14、15 連結エレメント
16 プロセスチャンバ側壁
17、18 開口
19 ヒータ
20 ガス誘導リング
21 ガス排出口
2 プロセスチャンバ
3 リアクタデッキ
4 リアクタ底部
5 リアクタ側壁
6 プロセスチャンバデッキ
7 プロセスチャンバステージ
8 支持部材
9 機能エレメント(ガス導入機構)
9’、10’、9’’、10’’ 機能エレメントの部分
10 機能エレメント(駆動シャフト)
12、13 ベローズ
14、15 連結エレメント
16 プロセスチャンバ側壁
17、18 開口
19 ヒータ
20 ガス誘導リング
21 ガス排出口
Claims (11)
- リアクタ筐体(1)内に配置されたプロセスチャンバ(2)を備え、前記プロセスチャンバ(2)が、プロセスチャンバ壁が取り囲む、プロセスチャンバステージ(7)と、前記プロセスチャンバステージ(7)から距離(h)離れて配置されたプロセスチャンバデッキ(6)とを有し、前記リアクタ筐体(1)が、少なくとも、前記リアクタ筐体(1)内の圧力の変化によって僅かに弾性的に変形可能なリアクタ壁(3、4)を有し、前記リアクタ壁(3、4)が、特に機能エレメント(9、10)が突き出る同心円状の開口(17、18)を有し、前記機能エレメント(9、10)が、第1の部分(9’、10’)を介してプロセスチャンバ壁(6、7)に強固に連結され、前記リアクタ筐体(1)の外に配置された第2の部分(9’’、10’’)を有し、0〜1000mbarの圧力でプロセスを行うためのCVD反応装置であって、
前記機能エレメント(9、10)が、弾性的な隙間を設けることができるように前記リアクタ壁(3、4)に連結され、プロセスチャンバデッキ(6)に強固に連結されたガス導入機構又は基板ホルダを配置するプロセスチャンバステージ(7)用の駆動シャフト(10)のいずれかが、対向する両方のリアクタ壁(3、4)をバイパスにして、プロセスチャンバステージ(7)がプロセスチャンバデッキ(6)に強固に連結されるようになっていることを特徴とするCVD反応装置。 - 前記プロセスチャンバステージ(7)が、特に、周辺部で前記プロセスチャンバデッキ(6)に強固に連結されていることを特徴とする請求項1に記載のCVD反応装置。
- 前記ガス導入機構(9)が、特に円形状の前記リアクタデッキ(3)の開口(17)から突き出ていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のCVD反応装置。
- 前記駆動シャフト(10)が、特に円形状のリアクタ底部(4)の開口(18)から突き出ていることを特徴とする請求項1乃至請求項3に記載のCVD反応装置。
- 前記駆動シャフト(10)が、前記リアクタ筐体内に配置されて前記リアクタ筐体の側壁(5)又は壁(4)の周辺部に強固に連結された支持部材(8)に軸支されていることを特徴とする請求項1乃至請求項4に記載のCVD反応装置。
- 前記プロセスチャンバデッキ(6)が、側壁(5)又はリアクタデッキ(3)の周辺部に強固に連結されていることを特徴とする請求項1乃至請求項5に記載のCVD反応装置。
- ガス誘導リング、プロセスチャンバヒータ又は基板ステージを含む更なるアッセンブリが、前記プロセスチャンバステージ(7)に強固に連結されていることを特徴とする請求項1乃至請求項6に記載のCVD反応装置。
- 前記機能エレメント(9、10)が、ベローズ(12、13)を介して前記割り当てられた壁(3、4)に連結されていることを特徴とする請求項1乃至請求項7に記載のCVD反応装置。
- プロセスチャンバステージ(7)、ガス誘導リング、プロセスチャンバステージのヒータ、及び駆動シャフト(10)を有する構造アッセンブリが、前記リアクタ筐体(1)内に配置された支持部材(8)に強固に連結され、前記リアクタ壁(3、4)が、前記リアクタ筐体(1)内の圧力変化によって前記支持部材(8)に対して移動又は変形可能になっていることを特徴とする請求項1乃至請求項8に記載のCVD反応装置。
- 前記プロセスチャンバデッキ(6)と前記プロセスチャンバ台(7)とが、特にガス誘導リングとして設けられたプロセスチャンバ側壁(19)を介して強固に相互に連結されていることを特徴とする請求項1乃至請求項9に記載のCVD反応装置。
- 前記ガス導入機構(9)と前記駆動シャフト(10)とが、前記リアクタ筐体(1)の外部に配置された支持部材(8)を介して相互に強固に連結されていることを特徴とする請求項1乃至請求項10に記載のCVD反応装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004009772A DE102004009772A1 (de) | 2004-02-28 | 2004-02-28 | CVD-Reaktor mit Prozesskammerhöhenstabilisierung |
PCT/EP2005/050242 WO2005083153A1 (de) | 2004-02-28 | 2005-01-20 | Cvd-reaktor mit prozesskammerhöhenstabilisierung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007524002A true JP2007524002A (ja) | 2007-08-23 |
Family
ID=34853818
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007500200A Pending JP2007524002A (ja) | 2004-02-28 | 2005-01-20 | プロセスチャンバの高さが安定したcvd反応装置 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20070074661A1 (ja) |
JP (1) | JP2007524002A (ja) |
KR (1) | KR20070003978A (ja) |
DE (1) | DE102004009772A1 (ja) |
TW (1) | TW200530425A (ja) |
WO (1) | WO2005083153A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006011107B3 (de) | 2006-03-08 | 2007-07-05 | Benteler Automobiltechnik Gmbh | Querlenker |
US8039052B2 (en) * | 2007-09-06 | 2011-10-18 | Intermolecular, Inc. | Multi-region processing system and heads |
FI122940B (fi) * | 2009-02-09 | 2012-09-14 | Beneq Oy | Reaktiokammio |
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-
2004
- 2004-02-28 DE DE102004009772A patent/DE102004009772A1/de not_active Withdrawn
-
2005
- 2005-01-20 WO PCT/EP2005/050242 patent/WO2005083153A1/de active Application Filing
- 2005-01-20 KR KR1020067020017A patent/KR20070003978A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-01-20 JP JP2007500200A patent/JP2007524002A/ja active Pending
- 2005-01-20 TW TW094101616A patent/TW200530425A/zh unknown
-
2006
- 2006-08-28 US US11/511,110 patent/US20070074661A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2005083153A1 (de) | 2005-09-09 |
KR20070003978A (ko) | 2007-01-05 |
TW200530425A (en) | 2005-09-16 |
US20070074661A1 (en) | 2007-04-05 |
DE102004009772A1 (de) | 2005-09-15 |
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