JP2007509326A - 半固体材料を検査するための方法および装置 - Google Patents

Abstract

半固体材料の特性を評価するための方法および装置が提供される。この方法および装置は、口紅、リップ軟膏、およびデオドラントスティックのようなスティック形状の半固体化粧品を検査するのに特に十分に適している。この方法は、材料の検査試料が、制御条件下で基板に対して移動されたときに、基板上への半固体材料の堆積率を検査するステップを含む。この方法は、検査試料が、制御条件下で基板に対して移動されたときに、材料の検査試料に対する引きずりを測定するステップも含む。例示されている検査装置により、研究者が、検査試料に関するこれらの検査を行うことが可能になる。この検査により、再現可能な定性データが得られ、このデータは、粘稠度について半固体材料の種々のバッチを比較するために用いることができ、研究開発の目的のために、半固体材料に関する人体検査パネルの定性データに相関させることができる。

Description

発明の詳細な説明

本出願は、２００３年１０月１７日に出願された米国仮特許出願第６０／５１２，２１９号の優先権を主張する。

（技術分野）
本発明は、半固体材料の特性を測定する分野に関する。より詳しくは、本発明は、人体の皮膚に擦り付けられる半固体化粧料の物理的特性を評価する分野に関する。しかし、本発明の原理は、化粧品以外の半固体材料の検査に適用することも可能である。

（背景技術）
人体の皮膚に塗布するための多数の化粧品は、硬度および粘度が濃縮液から、非常に硬質かつ実質的に非粘性の材料までの範囲にわたる半固体材料を含む。リップ軟膏のようないくつかの製品では、半固体材料自体を直接塗布することが、皮膚または人体にとって有益である。口紅のような他の製品では、半固体材料は、色および／あるいは１つまたは複数の活性組成物を皮膚の表面に供給するためのキャリアとして使用される。

化粧品には、多数の異なる形状がある。これらの形状の１つは、いわゆる「スティック」であり、このスティックは、通常、分配容器内に保持される長方形の棒状または円筒状の半固体材料であり、一般に、塗布されている間、その形状を保持する。スティックの一部が、皮膚の表面にわたって引っ張られた場合、半固体材料の残渣が移動されて皮膚に沈着される。スティック形状で設け得る化粧品の種類の例は、口紅、リップ軟膏、デオドラント、保湿剤、日焼け止め、およびアイブロウペンシルを含む。典型的に、スティックは、ワックスで構成されたスティック、ゲル、またはゲル化剤組成物であり、この場合、スティックは、ワックス材料またはゲルよりも粘度が高い液体を含む。ワックスで構成されたスティックの例は、米国特許第５，１６９，６２６号明細書と米国特許第４，７２５，４３２号明細書とに記載されている。本発明は、特に、「スティック」形状の化粧品の検査および測定に関するものであるが、他の形状の化粧品、および非化粧料を検査および測定するために使用してもよい。

ＡＳＴＭ法 Ｄ−１３２１とＤ−９３７は、半固体化粧料用の検査手順の例を提供している。これらの方法は、ニードルまたは円錐状プローブで探索することによって半固体材料の硬度を測定する。この探索から得られた測定値は、材料の硬度に相関し、材料の特性の差をバッチ毎に特定するために用いることが可能である。しかし、実際の製品性能、すなわち、ユーザが認識するような製品の品質または望ましさに関連させることが不可能である場合、データの獲得が困難になる。

株式会社資生堂アメリカ（Ｓｈｉｓｅｉｄｏ Ａｍｅｒｉｃａ，Ｉｎｃ．）は、自社独自の口紅破壊検査装置を開発した。資生堂（Ｓｈｉｓｅｉｄｏ）社製の検査装置では、口紅ホルダは、口紅試料を６０度の角度に保持する。自動化装置がオンになると、口紅ホルダは、紙が前進している間、紙上を端から端まで移動する。資生堂（Ｓｈｉｓｅｉｄｏ）社製の装置が目下使用されているとき、ストロークカウンタは、アームが端から端まで揺動した回数を計数し、ストロークカウンタが５０に達した場合、口紅組成物は検査に合格したとみなされる。他の任意の測定のための措置は行われない。したがって、破壊に関する傾向は、任意に決定された基準と比較して決定され、製品性能に容易には関連しない。

人体検査パネルは、典型的に、人体の皮膚に残った残渣の量を評価するために、および、組成物が、人体の「感触」の見地から望ましいかどうかを評価するために使用される。パネル検査において、消費者には、半固体化粧組成物の試料が与えられ、組成物を関連領域に塗布するように求められる。塗布したら、消費者には、皮膚上の組成物の感触がどのようなものであるかを評価するように、および相対的な尺度に関する経験を評価するように求められる。この結果は主観的なものである。これらの検査を通して、半固体材料の硬度と顧客満足とを相関させるための能力はほとんどない。さらに、検査結果の再現性および粘稠度は実現することが困難である。

したがって、客観的かつ再現可能に、この場合、ユーザの見地から、検査結果を半固体化粧料の「感触」または性能に相関させることができるように、半固体化粧料を検査するための方法が必要となる。

（発明の開示）
本発明は、半固体材料の試料を客観的かつ再現可能に検査するための手段を提供する。この検査から得られるデータにより、半固体材料の１つの検査試料と半固体材料の他の検査試料との客観的で正確な評価が可能になる。例えば、このデータを用いて、半固体材料の品質および粘稠度をバッチ毎にまとめることを保証することが可能である。半固体材料を人体に使用することの特性を再現することは必ずしも必要ではないが、この評価から得られるデータは、半固体材料を人体に使用する間の性能にほぼ対応するものと考えられる。したがって、このデータを用いて、半固体材料を人体に使用する間の所望の性能に相関する１組の目標基準に対して半固体材料を評価することもできる。例えば、このデータを用いて、消費者が所望するいくつかの特性を有する半固体化粧料の組成物を特定することができる。

本明細書に用いられる際、検査試料は、スティック、ボール等のような３次元形状に成形される任意の半固体材料を意味する。検査試料は、同質であり得る半固体材料の１つのみを含むことが可能であるか、または検査試料は、半固体材料を保持し、支持しまた収容するための材料または構造体を含むことも可能である。例えば、検査試料は、ある（好ましくは均一の）長さの口紅スティックのみを含み得る。あるいは、検査試料は、スティックを収容して保持するためのプラスチック管内の口紅スティックを含むことが可能である。

本明細書に用いられる際、半固体材料は任意の半固体材料を意味し、検査試料と基板とが互いに移動されたときに、半固体材料の少なくとも一部を検査試料から基板上に移動させることができる。「互いに移動される」という用語は、物理的接触がある間は互いに移動されることを意味する。半固体材料は、人体の皮膚に塗布するための化粧剤または活性剤であることが可能であり、当該化粧剤または活性剤には、ワックスで構成されたスティック、ゲルスティック、あるいはリップ軟膏、口紅、デオドラント、保湿剤、日焼け止めまたはアイブロウペンシルを含むゲル化剤スティックが含まれる。しかし、本発明は、人体の皮膚に使用するための化粧剤または活性剤の評価に限定されない。

本発明は、検査試料と基板とが制御条件下で互いに移動されたときに、半固体材料が検査試料から基板上に堆積することに関する特性を評価するための方法および装置を提供する。評価される特性の１つは、基板上への半固体材料の堆積率である。他の特性は、検査試料と基板とが互いに移動されたときに、検査試料と基板との間の摩擦によって発生される引きずりである。他の特性は、基板上における半固体材料の残渣の視覚的外観を含むことが可能である。例えば、基板上における残渣の厚さ、粘稠度、色、または反射率の目視検査を行うことが有用であり得る。

要するに、この方法は、検査試料と基板とを互いに移動させて、半固体材料のあるものを基板上に堆積させるステップを含む。この移動は制御条件下で行われる。例えば、この移動の相対速度および期間を制御し得る。検査試料を基板に対して移動させる経路も規定することが可能である。検査試料が基板に押し付けられる力も制御することが可能である。当然、基板の種類および表面特性も制御することが可能である。検査が行われた場合に、周囲温度および湿度を制御することが必要または望ましいかもしれない。

検査試料および基板の相互移動が行われた後に、検査試料または基板を計量して、検査試料から失われるかまたは基板上に堆積された半固体材料の量を決定することができる。基板上に堆積された半固体材料の量は、基板上への材料の堆積率に相関する。第１の検査試料が、第２の検査試料よりも多くの残渣を基板に堆積させ、検査毎の関連するすべての状態が制御されて同一に保たれた場合、第１の試料は、第２の試料よりも大きな堆積率を有する。

検査試料と基板とが互いに移動されたときに、検査試料に対する基板からの引きずり力を測定することも有益であり得る。力測定装置を検査装置で使用して、引きずりを測定することが可能である。

検査装置１の例示的な実施形態が図１に示されている。検査装置１は、本発明による半固体材料の検査を可能にするための装置の一例に過ぎない。読者は、例示的な検査装置１を無数に修正でき、特定のニーズに合うように、アセンブリの部分の構成を修正および改良できることを認識するであろう。

検査装置１はベースアセンブリ１５を有する。ベースアセンブリ１５は、基板１７に対する支持を行う。当業者は、ベースアセンブリ１５が、検査試料に近接する位置で基板１７を支持する限り、ベースアセンブリ１５が、種々の任意の形状および構造を有し得ることを理解するであろう。試料ホルダ３は、基板１７と接触して検査試料を配置する。

検査試料と基板１７とが互いに移動され、この結果、検査試料の半固体材料のあるものが擦り落とされて、基板上に堆積される。例示的な検査装置１では、基板１７は、ベースアセンブリ１５の頂面を横切って移動される。したがって、試料ホルダ３がベースアセンブリ１５に間接的に取り付けられると共に、基板１７が、検査試料に対して移動する。代わりに、基板１７をベースアセンブリ１５に固定して取り付けてもよく、試料ホルダ３をベースアセンブリ１５と基板１７とに対して移動できることも意図され、そのことを当業者が認識するであろう。あるいは、以下により詳細に説明するように、基板１７および検査試料の両方は、ベースアセンブリ１５に対して移動する構成要素であり得る。任意の適切な方法と任意の適切な機構とによって、試料ホルダ３に対する基板１７の移動を達成できる。

図１に示した例示的な検査装置１では、ストリップチャートレコーダ機構は、ベースアセンブリ１５の頂部の上方で基板１７を移動させるために使用される。ストリップチャートレコーダは公知のものであり、大量の基板１７を保管するために使用できるローラ１００を備え得る。基板１７がローラ１００から巻き解かれるときに、支持部材１９に配置された基板ガイド棒１２を使用して、基板１７を案内することができる。基板は、ローラ１００から巻き解かれ、ベースアセンブリ１５を横切ってまた試料ホルダ３の下に引っ張られて、駆動ローラガイドアセンブリ１１０に通される。駆動ローラガイドアセンブリ１１０は、駆動ローラ１１２を駆動するモータ１１１を含む。駆動ローラ１１２は、基板１７を掴んで、それをローラ１００からベースアセンブリ１５の頂部を横切って引っ張る摩擦力の高い表面または歯を有することができる。モータ１１１および／または駆動ローラ１１２の速度および／または角度位置は測定して制御することができる。半固体材料が基板上に堆積した後の基板の計量を容易にするように、移動可能な基板１７を所定の長さに切断するために、ストリップチャートレコーダ機構を任意に装備することが可能である。

代わりに、コンベヤまたは計量ベルトを移動可能な基板として使用してもよい。計量ベルトは、検査装置が動作されるときに半固体材料の堆積を直接測定する。当該技術分野で公知のこのような装置の一例は、２つのローラの間を移動しかつ計量機構と関連付けられる連続ベルトである。コンベヤまたは計量ベルトの部分は、試料ホルダ３の下にまた検査試料と接触して配置すべきである。コンベヤまたは計量ベルトの速度および位置のようなパラメータは制御可能であるべきである。コンベヤまたは計量ベルトを使用することにより、検査装置と、検査データを処理して記憶するためのコンピュータシステムとの相互接続が容易になり得る。コンベヤまたは計量ベルトには、半固体材料の残渣をベルトから取り除くためのシステムを設けることが望ましいかもしれない。

他の代替例として、ターンテーブル式の装置を使用して、基板１７を移動させてもよい。ターンテーブル装置は、半固体材料を堆積させることができる一体的な基板表面を含み得る。ターンテーブル装置は、代わりに、例えば感圧接着剤を基板上に塗布することによって、取り外し可能な基板を取り付けることが可能である表面を含んでもよい。ターンテーブル装置は、試料ホルダ３に隣接するターンテーブル装置の一部によってベースアセンブリ１５上で回転し、この結果、検査試料が基板に接触する。取り外し可能な基板が固定されたターンテーブル装置は、半固体材料が堆積する前のおよび堆積した後の基板の重量の迅速かつ正確な決定の利点を提供する。

検査すべき半固体材料に適合しかつ適切な大きさの摩擦を提供する紙またはポリマー製のシートまたはフィルムのような任意の適切な材料から、基板１７を形成することが可能であり、この結果、半固体材料は、検査試料から基板上に擦り落とされる。例えば、ポリウレタンまたはシリコーンポリマー製のシートまたはフィルムを使用して、基板１７を形成することが可能である。いくつかの半固体化粧料を検査する場合、人体の皮膚の特性に相関する表面特性を有するポリマー材料を選択することが望ましいかもしれない。検査が行われる前に、基板１７の表面を湿らせるかまたは濡らすようなある調製をすることが望ましいかもしれない。基板１７を形成する材料は、合理的で一貫した特性を有するべきであり、再現可能であるべきである。

図１に示したように、支持部材１９は、支柱１６によってベースアセンブリ１５の上方に配置される。支柱１６は、基板１７が支柱１６の間を、ベースアセンブリ１５の頂部をまた支持部材１９の下方を通過し得るように、互いに十分な距離に配置される。基板ガイド棒１２は、基板１７の通過を案内および制御するために、さらに、ベースアセンブリ１５の頂部における基板１７の移動を保証するために支持部材１９に配置される。基板ガイド棒１２は支持部材１９に調整可能に配置することが可能であるので、基板ガイド棒１２を種々の厚さの基板に合わせて調整できる。

支持部材１９は、検査アームアセンブリ１８をベースアセンブリ１５の上方に配置する。図２は、検査アームアセンブリ１８の詳細図を示している。検査アームアセンブリ１８は、互いに反対側にある第１の端部５６および第２の端部５８を有する第１のアーム部材２５を備える。第１のアーム部材２５の第１の端部５６は、万能型継手５０を介して支持部材１９に取り付けられる。

万能型継手５０により、第１のアーム部材２５が、支持部材１９に対する移動の複数の自由度を有することが可能になる。他の種類の適切な継手を使用して、第１のアーム部材２５を支持部材１９に連結してもよい。また、第１のアーム部材２５をベースアセンブリ１５に直接連結してもよい。万能型継手５０は、支持部材１９に取り付けられる第１の継手部材５１と、第１のピン５２を介して第１の継手部材５１にピン止めされる第２の継手部材５３と、第２のピン５４を介して第２の継手部材５３にピン止めされる第１の端部５６とを含む。第１のピン５２により、ほぼ水平の軸線を中心とする第１のアーム部材２５の回転が可能になり、第２のピン５４により、ほぼ垂直の軸線を中心とする第１のアーム部材の回転が可能になる。試料ホルダ３は第１のアーム部材２５の第２の端部５８に装着される。万能型継手５０により、試料ホルダ３が、基板１７に対してほぼ水平および垂直に移動することが可能になる。

図２に示した実施形態では、試料ホルダ３は第１の端部４０と第２の端部４２と開口部４４とを有する。開口部４４は検査試料を収容する。開口部４４は試料ホルダ３を完全に貫通し、開口部４４の軸線は、基板１７の表面に対して垂直である。所望ならば、検査試料が、ある角度で基板１７に接触するように、開口部４４を斜めにすることも可能である。試料ホルダ３は、検査試料を位置保持するためのクランプを含み得る。試料ホルダ３の第２の端部４２は、ねじ付きロッド４８を収容するためのねじ付き穴４６を有することが可能である。ねじ付きロッド４８は、ねじ付き穴４６を通してねじ込まれて開口部４４内に入ることにより、ブロック４９を押圧して検査試料を固定することができる。例えば、口紅の筒のような化粧容器が試料ホルダ３の開口部４４に配置された場合、ブロック４９が、検査のために、力を化粧容器に加えてそれを固定するまで、ロッド４８を回転させることが可能である。検査試料が、半固体材料を保持するための容器を含まない場合、ブロック４９は半固体材料を直接支承し得る。

試料ホルダ３は第１のアーム部材２５から取り外し可能であり得る。この構成により、ホルダの交換が可能になり、特定の検査試料に合わせたホルダ開口部４４のサイズおよび／または形状のカスタマイズが可能になる。図３は、カスタマイズされたホルダ開口部４４４を有する試料ホルダの代替実施形態を示している。このようなカスタマイズは、同じ種類のいくつかの試料を分析する必要がある場合に、例えば品質保証型検査の際に望ましいかもしれない。

再び、図２を参照すると、試料ホルダ３は、摺動継手装置を介して第１のアーム部材２５の第２の端部５８に取り付けられる。摺動継手装置により、試料ホルダが、基板１７の移動方向に対して横方向の第１のアーム部材２５に対して摺動することが可能になる。摺動継手装置は、第１のアーム部材２５の第２の端部５８に固定されたクロス部材２６を含む。並列ブロック２７は、クロス部材２６の各端部に取り付けられ、２つの平行滑動棒２８を配置する。試料ホルダ３は、滑動棒２８が摺動嵌合して通過する貫通孔を含む。このようにして、試料ホルダ３は、右側の並列ブロック２７に隣接する位置から、左側の並列ブロック２７に隣接する位置に横方向に移動できる。

試料ホルダ３が、基板１７に対して検査試料を押す力は、検査が再現可能であるように制御するために必要であり得る条件の１つである。本明細書に用いられる際、基板１７に対する検査試料の力は、力が定量的に測定された場合に、または単に、他の検査のために力を再現できた場合に認識される。図１の検査装置１では、第１のアーム部材２５、力測定装置６、および検査アームアセンブリ１８の関連する他の構成要素の重量は、基板１７に対する検査試料の力を発生させるように作用する。これらの構成要素の重量が一定である場合、力が認識されて、検査を正確に再現できる。これらの構成要素の重量が、有効な検査のために、十分でないかまたは多すぎる場合、錘または釣合い錘によって、重量を調整できる。

検査アームアセンブリ１８の有効重量を低減するために、および基板１７に対する検査試料の力を調整可能に設定するために、図１の検査装置１には釣合い錘が設けられる。基板に対する検査試料の力を調整するために、異なる多くの方法で、検査装置に錘および釣合い錘を装備し得ることが容易に認識されるであろう。図１に示した釣合い錘の設定は一例である。図１を参照すると、ロードアーム７０は第１のアーム部材２５に取り付けられる。ロードアーム７０には錘７６が装着される。錘７６は、試料ホルダ３の反対側の第１のピン５２を介して片持ち支持される。ロードアーム７０上の錘７６の位置は、付与される釣合いの大きさに対応する。錘７６の位置を調整して、基板１７に対する検査試料の力を調整することが可能である。ロードアーム７０は、第１のピン５２からの再現可能な距離における錘７６の配置を容易にするために、ロードアーム７０の長さに沿って銘刻を有し得る。錘７６は、ロードアーム７０が通過し得る錘７６に形成された貫通孔８０を介してロードアーム７０に装着することが可能である。クランプねじ８４は、錘７６を通過し、錘７６をロードアーム７０に締め付けて、錘７６の位置を保持することが可能である。

第２のアーム部材３１は、第１の端部３２と、それと反対側にある第２の端部３３とを有する。第１の端部３２は、ボールソケット継手、ピローブロック軸受、または基板１７の移動に対して横方向にあることを除いては第２のアーム部材３１と第１のアーム部材２５との間の移動を理想的に可能にする他の適切な遊動嵌合継手を介して第１のアーム部材に取り付けられる。第２のアーム部材３１の第２の端部３３は、回転板３５に装着された偏心クランク３７に回転可能に取り付けられる。電動モータ（図示せず）または他の適切な手段によって、回転板３５をその中央を中心に回転させることができる。回転板３５および第２のアーム部材３１は、スライダクランク機構と同様に動作する。回転板３５が回転するとき、偏心クランク３７により、第２のアーム部材３１が、検査アームアセンブリ１８を駆動して揺動運動させる。揺動運動は、第２のピン５４を中心とする検査アームアセンブリ１８の往復旋回である。

回転板３５を回転させるモータを制御装置９０に取り付けることにより、回転板３５の回転速度、したがって、検査アームアセンブリ１８の揺動運動の速度を制御することが可能になる。カウンタ９２を使用して、回転板３５の回転数、したがって、検査アームアセンブリ１８の揺動数を計数することも可能である。制御装置９０およびカウンタ９２は、当業者によって認識されるように、任意の適切な装置であり得る。

基板１７の移動に対して横方向のおよびそれに加えた揺動運動に関する措置は任意のものである。揺動運動が望まれる場合、多くの異なる方法で、検査アームアセンブリ１８を揺動させるための機構を配置できる。本図に示した機構は一例に過ぎない。

図１に示したように、制御盤２をベースアセンブリ１５に取り付け得る。回転板３５を駆動するモータ用の制御装置９０は、制御盤２に便利に装着することが可能である。同様に、駆動ローラ１１２を駆動するモータ１１１の速度を制御するための制御装置９１を制御盤２に便利に装着することが可能である。電源スイッチ９３も制御盤２に装着することが可能である。

力測定装置（またはゲージ）６を第１のアーム部材２５に取り付けて、検査試料に対する引きずりを測定することが可能である。図２に示した例では、力測定ゲージ６は、その種類のゲージのために特注されている容器に嵌め込まれる。引きずりを測定するために、任意の適切な構造の任意の適切な力測定装置を使用可能である。特に、図２の実施形態で測定された方向とは異なる方向で、引きずりを測定することが可能である。力測定ゲージ６はニードル７と柱８とを介して試料ホルダ３に取り付けられる。柱８は、試料ホルダ３に固定され、試料ホルダ３が滑動棒２８を移動するときに、試料ホルダ３と共に横方向に移動する。柱８が横方向に移動したときに、柱８は力測定ゲージ６のニードル７を作動させる。ニードル７が移動されたときに、力測定ゲージ６により、試料ホルダ３で横方向に（滑動棒２８に対して平行に）作用する引きずり力が測定される。力測定ゲージ６は、検査の進行中に試料ホルダ３が受ける最大の引きずりを検出する能力と、他の検査のために力測定ゲージ６がリセットされるまで、その最大の引きずりの測定値を表示し続ける能力とを有し得る。あるいは、力測定ゲージ６は、ある期間にわたって、平均的な引きずりを演算できる電子機器と関連付けることが可能である。一般に、異なる多くの方法で、検査試料に対する引きずりを測定することが可能であり、本図に示した設定は一例に過ぎない。

検査装置１を使用して、半固体材料の特性を測定するために、検査試料が試料ホルダ３に配置される。試料ホルダ３は、基板１７に対して検査試料を押す。基板１７は、駆動ローラ１１２とモータ１１１とによってベースアセンブリ１５の頂部を横切って移動される。基板１７が移動している間に、半固体材料の一部が検査試料から擦り落とされて、基板１７に堆積される。

所望ならば、検査装置で適切な措置を行った場合、基板１７が移動するのと同時に、試料ホルダ３を横方向に揺動させることが可能である。２つの構成要素の運動、すなわち、基板１７の運動および試料ホルダ３の揺動運動は、より小さな大きさの基板を要求して所定の検査を行うことによって有益となり得る。また、揺動運動から生じる基板１７に対する検査試料の運動方向の変化は、人が半固体化粧品を実際にどのように使用するかをより正確に再現することが可能である。

構成要素の揺動運動が用いられた場合、検査試料が２回以上接触する基板１７の領域を低減する速度で、基板１７を好ましくは移動させるべきである。正確にするために、検査試料は、半固体材料の残渣を依然として有していない基板１７のできるだけ同程度の新しい領域に接触することが好ましい。

検査中に半固体化粧スティックから基板１７に移動される半固体材料の分配、すなわち量を決定するために、テストランの前後に検査試料を計量できる。テストランの前と後の重量の差は、分配された半固体材料の量である。あるいは、いくつかの検査状況において、前後の重量の差が分配量であるので、テストランの前後に、基板を計量することがより有利であり得る。各検査試料の複数のテストランは、半固体材料の分配が、テストラン毎に一貫している方が望ましいかもしれない。

検査装置１は、スティック形状の半固体化粧品を検査するのに特に十分に適している。典型的に、このような半固体化粧品、例えば、口紅、リップ軟膏、またはデオドラントスティックは、例えば、プラスチックおよび金属製のディスペンサまたは容器内に貯蔵される。スティックを容器から取り外す必要がなく、典型的に、検査中に半固体スティックを容器内に保持することがより便利である。いくつかの化粧品では、検査試料を計量する前に、スティックの部分が露出されるように、スティックを容器から前進させることが好ましい。次に、スティックの端部を切断して、検査試料が試料ホルダ３に装着されたときに基板１７の表面に対して略平行であるスティックの端部を平坦面にすることが可能である。

計量後に、検査試料は検査装置１の試料ホルダ３に挿入され、スティックの端部の平坦面が基板１７に接触する。任意に、錘または釣合い錘を検査アームアセンブリ１８に加えることが可能であり、この結果、基板１７に対する検査試料の力が、検査のために適切になる。錘または釣合い錘が加えられた場合、その後の検査に関する条件を再現することを容易にするために、錘または釣合い錘の位置および重量をメモしておくべきである。

検査すべき半固体スティック試料が装置に配置されると、基板１７および試料ホルダ３の移動が（所望ならば）開始される。例えば、カウンタ９２で横方向の揺動数を計数することによって、基板に対する検査試料の変位を記録して制御することができる。検査試料の変位を記録して制御するための他の方法は、検査期間を単に計時すること、基板の残渣痕跡の長さをメモすること、駆動ローラ１１２の回転数を計数すること等を含み得る。任意の適切な方法を用いて、基板１７に対する検査試料の運動の長さを記録して制御することができる。本明細書に用いられる際、変位は、変位の大きさが測定された場合に、または単に、その後の検査で変位を再現できた場合に認識される。

所定の揺動数が完了した後に、検査試料を取り除いて計量することができ、検査前と検査後の重量の差に、分配された半固体材料の量が反映される。

基板上への半固体材料の堆積率の検査と独立してまたはそれと同時に、検査試料の引きずりを測定することが可能である。検査試料が試料ホルダ３に固定された後に、力測定ゲージ６はゼロにされる。次に、基板１７に対する検査試料の運動が開始される。この運動は、特定の半固体材料、および行うべき検査のために所望される１つまたは２つの構成要素の運動であり得る。引きずりの大きさは、運動中に任意の時点で力測定ゲージ６を読み取ることによってメモしておく。ゲージが読み取られる時点と、検査試料および基板１７の運動の条件とが同一である限り、試料毎に比較するための再現可能な定量データを得ることが可能である。

本発明者らは、本明細書に開示した方法の実験条件が、半固体化粧料を人体の皮膚に使用することを正確に再現するとは予想されないことを認識する。それにもかかわらず、本発明者らは、このデータを人体反応に有効に相関させることが可能であると考えており、このデータが、再現可能な試料毎の定量比較を可能にすると考えている。残渣堆積率、および半固体化粧料の引きずりの両方が、ユーザにとって重要であり得る。唇に塗布するために意図された半固体化粧料の場合、残渣堆積および引きずりの特性は、当該技術分野で知られている用語「口の感触」の重要な指標である。口の感触は、消費者にとって重要な因子であると考えられる。

以下の３つのチャートは、本方法に従って、および本発明の図１〜図３に示した装置を使用して口紅製品で行われ例示的な検査を示している。３つのチャートは、それらの検査からの例示的なデータも含む。

本明細書に記載されている方法および装置によって行われた検査から得られたデータの以下のチャートは、人体検査パネルからのデータに相関した。パネルの参加者は、製品の色、光沢、感触、被覆率／分配、摩耗等に関して、各製品の望ましさを判定した。被覆率／分配の評価について、検査パネルには、最良の評価を有する製品Ｂが、それに続いて製品Ｃが、その次に製品Ｄが選択された。製品Ｂ、ＣおよびＤは口紅であった。検査パネルの選択結果は、客観的な検査結果と好ましくは比較する。

方法のステップの特定の順序、および検査装置上の構成要素の特定の配置の記載によって、本発明について説明してきたが、当業者は、本発明の精神または範囲から逸脱することなく、種々の修正および変更をなし得ることを認識するであろう。上述の説明は、例示的なものに過ぎず、本発明の範囲を限定するようには決して意図されない。本発明の範囲は、添付された特許請求の範囲によって規定されるべきである。

本発明による検査装置の例示的な実施形態の図面である。 図１の検査装置の検査アームアセンブリの詳細図である。 試料ホルダの代替実施形態の図面である。

Claims (4)

1. 半固体材料の特性を測定する方法であって、
   検査試料と基板との間の認識される力により、前記半固体材料の前記検査試料を前記基板に接触させるステップと、
   前記基板に対する前記検査試料の認識される変位により、前記基板に対して前記検査試料を移動させて、前記半固体材料のあるものを前記検査試料から前記基板上に堆積させるステップと、
   前記検査試料から取り除かれて前記基板上に堆積された半固体材料の量を決定するステップと、
   を含む方法。
2. 半固体材料の特性を測定する方法であって、
   検査試料と基板との間の認識される力により、前記半固体材料の前記検査試料を前記基板に接触させるステップと、
   前記基板に対して前記検査試料を移動させて、前記半固体材料のあるものを前記検査試料から前記基板上に堆積させるステップと、
   前記検査試料が前記基板に対して移動している間に、前記検査試料が前記基板に対して移動することによって、および前記検査試料が前記基板に接触することによって前記検査試料に加えられる引きずり力を測定するステップと、
   を含む方法。
3. 半固体材料の特性を測定するための装置であって、
   ベースアセンブリと、
   前記ベースアセンブリの上方に配置された前記半固体材料の検査試料を保持するホルダと、
   前記ベースアセンブリと、前記検査試料に対して移動させるための前記ホルダとの間に配置された基板であって、前記検査試料と前記基板とが互いに接触する基板と、
   を備える装置であって、
   前記基板と前記検査試料とが互いに移動したときに、前記半固体材料の一部が前記基板上に堆積される装置。
4. 前記ベースアセンブリに取り付けられた検査アームアセンブリをさらに備え、前記ホルダが前記検査アームアセンブリに取り付けられ、
   前記基板が、前記ベースアセンブリに対して移動し、これによって、第１の方向において、前記ホルダに対する前記基板の移動が生じ、
   前記検査アームアセンブリが、前記第１の方向に対して略直角の第２の方向における前記基板に対する移動に適合される請求項３に記載の装置。
   
   

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