JP2007501311A - 触媒ストリッパー中の触媒温度の制御 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (45)
- 炭化水素フィードをより軽質の炭化水素生成物に接触分解するための接触分解方法であって、
(a)炭化水素フィードを、接触分解反応器中で熱触媒粒子と接触させて、使用済み触媒粒子およびより軽質の炭化水素生成物を含む流出物を生成するステップと、
(b)前記使用済み触媒粒子を、セパレータ中で前記軽質炭化水素生成物から分離するステップと、
(c)前記使用済み触媒粒子をストリッピングゾーン中でストリッピング媒体と接触させることによって、前記使用済み触媒粒子をストリッピングするステップと、
(d)前記ストリッピングゾーン中の使用済み触媒粒子の温度が約950°F〜約1075°Fの目標ストリッピング温度を超えるかどうか決定するために温度を監視するステップと、
(e)使用済み触媒粒子の温度が前記目標ストリッピング温度を超えた場合に、前記使用済み触媒粒子の一部分を前記ストリッピングゾーンから抜き出し、前記使用済み触媒粒子を触媒冷却器に誘導するステップと、
(f)前記抜き出された触媒を前記触媒冷却器中で冷却し、前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻して、前記ストリッピングゾーン中の触媒の温度を、前記目標ストリッピング温度より低い温度に下げるステップとを含む方法。 - 前記分解反応器が、ライザー型反応器、横型反応器、および下降流反応器からなる群から選択される請求項1に記載の方法。
- 前記分解反応器がライザー型反応器である請求項2に記載の方法。
- 前記炭化水素原料油が、ナフサ、ガスコンデンセート、ラフィネート、常圧軽油、減圧軽油、留出液、原油、粗残油、および上記のいずれかの混合物からなる群から選択される請求項1に記載の方法。
- 前記セパレータが分離容器の上部希薄相ゾーンに配置され、前記ストリッピングゾーンが前記分離容器の下部濃密相ゾーンに配置された請求項1に記載の方法。
- 前記ストリッピングゾーンにバッフルが設けられている請求項5に記載の方法。
- 前記ストリッピングゾーンに充填物が設けられている請求項5に記載の方法。
- 前記触媒冷却器が前記分離容器の外部に配置された請求項5に記載の方法。
- 前記触媒冷却器が使用済み熱触媒を前記ストリッピングゾーンの塔頂部分から受容し、前記使用済み熱触媒を間接熱交換器中で冷却し、冷却使用済み触媒を前記ストリッピングゾーンの下部部分に戻す請求項8に記載の方法。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容し、リフトガスを前記抜き出された使用済み熱触媒に加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を、冷却用の間接熱交換器に通して上昇させ、前記冷却使用済み触媒を前記分離容器の上部希薄相に戻し、リフトガスを前記冷却使用済み触媒から分離し、分離された冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻す請求項8に記載の方法。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容し、リフトガスを前記抜き出された使用済み熱触媒に加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を、冷却用の間接熱交換器に通して上昇させ、前記冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻す請求項8に記載の方法。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1050°Fである請求項1に記載の方法。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1025°Fである請求項12に記載の方法。
- 温度監視ステップ(d)が、少なくとも1個の温度センサをストリッピングゾーンに配置し、前記温度センサが、弁制御手段に、前記ストリッピングゾーンから前記触媒冷却器に抜き出される触媒の量を制御するように信号を送ることを含む請求項1に記載の方法。
- さらに、(g)ストリッピングされた使用済み触媒を前記ストリッピングゾーンから触媒再生装置に抜き出すステップと、(h)触媒を前記再生装置中で再生して、再生熱触媒を生成するステップと、(i)再生熱触媒を前記反応器に戻すステップとを含む請求項1に記載の方法。
- 触媒ストリッピングゾーンを含む改善された接触分解方法であって、前記改善が(i)前記ストリッピングゾーン中の使用済み触媒粒子の温度が、約950°F〜約1075°Fの目標ストリッピング温度を超えたかどうかを決定するために温度を監視するステップと、(ii)使用済み触媒粒子の温度が前記目標ストリッピング温度を超えた場合に、前記使用済み触媒粒子の一部分を前記ストリッピングゾーンから抜き出し、前記使用済み触媒粒子を触媒冷却器に誘導するステップと、(iii)前記抜き出された触媒を前記触媒冷却器中で冷却し、前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻して、前記ストリッピングゾーン中の触媒の温度を、前記目標ストリッピング温度より低い温度に下げるステップとを含む方法。
- 前記触媒冷却器が、使用済み熱触媒を前記ストリッピングゾーンの塔頂部分から受容し、前記使用済み熱触媒を間接熱交換器中で冷却し、冷却使用済み触媒を前記ストリッピングゾーンの下部部分に戻す請求項16に記載の改善された方法。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容し、リフトガスを前記抜き出された使用済み熱触媒に加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を、冷却用の間接熱交換器に通して上昇させ、前記冷却使用済み触媒を前記分離容器の上部希薄相に戻し、リフトガスを前記冷却使用済み触媒から分離し、分離された冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻す請求項16に記載の改善された方法。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容し、リフトガスを前記抜き出された使用済み熱触媒に加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を、冷却用の間接熱交換器に通して上昇させ、前記冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻す請求項16に記載の改善された方法。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1050°Fである請求項16に記載の改善された方法。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1025°Fである請求項20に記載の改善された方法。
- 温度監視ステップが、少なくとも1個の温度センサをストリッピングゾーンに配置し、前記温度センサが、弁制御手段に、前記ストリッピングゾーンから前記触媒冷却器に抜き出される触媒の量を制御するように信号を送ることを含む請求項16に記載の方法。
- 炭化水素原料油の接触分解用装置であって、
(a)炭化水素フィードを熱触媒粒子と接触させて、使用済み触媒粒子およびより軽質の炭化水素生成物を含む流出物を生成する接触分解反応器、
(b)前記使用済み触媒粒子を前記軽質炭化水素生成物から分離するためのセパレータ、
(c)前記使用済み触媒粒子をストリッピング媒体と接触させることによって、前記使用済み触媒粒子をストリッピングするためのストリッピングゾーン、
(d)前記ストリッピングゾーン中の使用済み触媒粒子の温度が、約950°F〜約1075°Fの目標ストリッピング温度を超えたかどうかを決定するために温度を監視するための感温手段、
(e)前記ストリッパーから抜き出された前記使用済み触媒粒子の一部分を冷却し、それによって冷却使用済み触媒を生成するための触媒冷却器であって、使用済み触媒粒子の温度が前記目標ストリッピング温度を超える場合に、前記使用済み触媒の前記一部分を前記ストリッピングゾーンから抜き出すためのストリッパー−冷却器間導管と、前記冷却触媒を前記冷却器から前記ストリッピングゾーンに戻して、前記ストリッピングゾーン中の触媒の温度を前記目標ストリッピング温度より低い温度に下げるための冷却触媒戻り導管とを含む触媒冷却器
を含む装置。 - 前記分解反応器が、ライザー型反応器、横型反応器、および下降流反応器からなる群から選択される請求項23に記載の装置。
- 前記分解反応器がライザー型反応器である請求項24に記載の装置。
- 前記反応器が、ナフサ、ガスコンデンセート、ラフィネート、常圧軽油、減圧軽油、留出液、原油、粗残油、および上記のいずれかの混合物からなる群から選択される炭化水素原料油を接触させるように適合された請求項23に記載の装置。
- 前記セパレータが分離容器の上部希薄相ゾーンに配置され、前記ストリッピングゾーンが前記分離容器の下部濃密相ゾーンに配置された請求項23に記載の装置。
- 前記ストリッピングゾーンがバッフルを備えている請求項27に記載の装置。
- 前記ストリッピングゾーンが充填物を備えている請求項27に記載の装置。
- 前記触媒冷却器が前記分離容器の外部に配置された請求項27に記載の装置。
- 前記触媒冷却器が、前記抜き出された使用済み熱触媒を前記ストリッパーの塔頂部分から受容し、前記抜き出された使用済み熱触媒を冷却し、冷却使用済み触媒を前記ストリッピングゾーンの下部部分に戻すように適合された請求項30に記載の装置。
- 前記触媒冷却器が、ストリッパー−冷却器間導管を介して、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容するように適合され、かつ前記ストリッパー−冷却器間導管中の前記抜き出された使用済み熱触媒にリフトガスを加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を冷却用の間接熱交換器に通して上昇させる手段を含み、前記触媒冷却器がさらに、冷却触媒戻り導管を介して、前記冷却使用済み触媒を前記分離容器の上部希薄相に戻すように適合され、かつ前記冷却使用済み触媒からリフトガスを分離し、分離された冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻すセパレータを含む請求項30に記載の装置。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容し、リフトガスを前記抜き出された使用済み熱触媒に加えて、前記抜き出された使用済み熱触媒を、冷却用の間接熱交換器に通して上昇させ、前記冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻すように適合された請求項30に記載の装置。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1050°Fである請求項23に記載の装置。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1025°Fである請求項34に記載の装置。
- 感温手段(d)が、ストリッピングゾーンに配置された少なくとも1個の温度センサを含み、前記温度センサ装置が、弁制御手段に、前記ストリッピングゾーンから前記触媒冷却器に抜き出される触媒の量を制御するように信号を送る請求項23に記載の装置。
- さらに、(h)触媒を再生し、再生熱触媒を生成し、前記再生熱触媒を前記反応器に戻すように適合された触媒再生装置を含む請求項23に記載の装置。
- 触媒ストリッピングゾーンを含む改善された接触分解装置であって、前記改善が
(i)前記ストリッピングゾーン中の使用済み触媒粒子の温度が約950°F〜約1075°Fの目標ストリッピング温度を超えたかどうかを決定するために温度を監視するための感温手段と、
(ii)前記使用済み触媒粒子を冷却するための、前記ストリッピングゾーンに流体で連結された触媒冷却器と、
(iii)使用済み触媒粒子の温度が前記目標ストリッピング温度を超えた場合に、前記使用済み触媒粒子の一部分を前記ストリッピングゾーンから抜き出し、前記使用済み触媒粒子を前記触媒冷却器に誘導するための手段と、
(iv)前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻して、前記ストリッピングゾーン中の触媒の温度を前記目標ストリッピング温度より低い温度に下げるための手段とを含む装置。 - 前記触媒冷却器が、使用済み熱触媒を前記ストリッピングゾーンの塔頂部分から受容し、前記使用済み熱触媒を間接熱交換器中で冷却し、冷却使用済み触媒を前記ストリッピングゾーンの下部部分に戻すように適合された請求項38に記載の改善された装置。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容するように適合され、使用済み熱触媒を抜き出すための前記手段が、さらに前記抜き出された使用済み触媒を冷却用の間接熱交換器に通して流動化させるためにリフトガスを導入する手段を含み、前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻すための前記手段が、前記冷却使用済み触媒を前記分離容器の上部希薄相に戻し、リフトガスを前記冷却使用済み触媒から分離し、分離された冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻すように適合された請求項38に記載の改善された装置。
- 前記触媒冷却器が、前記ストリッピングゾーンの下部部分から抜き出された使用済み熱触媒を受容するように適合され、使用済み熱触媒を抜き出すための前記手段が、さらに前記抜き出された使用済み触媒を冷却用の間接熱交換器に通して流動化させるためにリフトガスを導入する手段を含み、前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻すための前記手段が、前記冷却使用済み触媒をストリッピングゾーンに戻すように適合された請求項38に記載の改善された装置。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1050°Fである請求項38に記載の改善された装置。
- 前記目標ストリッピング温度が約950°F〜約1025°Fである請求項42に記載の改善された装置。
- 感温手段が、ストリッピングゾーンに配置された少なくとも1個の温度センサを含み、前記感温手段が、弁制御手段に、前記ストリッピングゾーンから前記触媒冷却器に抜き出される触媒の量を制御するように信号を送る請求項38に記載の装置。
- 炭化水素フィードをより軽質の炭化水素生成物に接触分解するための接触分解方法であって、
(a)反応ゾーン中の炭化水素フィードを、接触分解反応器中で熱触媒粒子と接触させて、使用済み触媒粒子およびより軽質の炭化水素生成物を含む流出物を生成するステップと、
(b)前記流出物を反応器出口から濃厚床に吐出するステップと、
(c)前記反応ゾーン中で前記フィードを接触させる前記粒子状熱触媒の量を制御することによって、反応器出口温度を約1075°Fより高い温度に制御するステップと、
(d)前記使用済み触媒粒子をストリッピング媒体と接触させることによって、前記濃厚床の下部部分のストリッピングゾーンにおいて前記使用済み触媒粒子をストリッピングするステップと、
(e)前記ストリッピングゾーン中の使用済み触媒粒子の温度が、約950°F〜約1075°Fの目標ストリッピング温度を超えたかどうかを決定するために温度を監視するステップと、
(f)使用済み触媒粒子の温度が前記目標ストリッピング温度を超えた場合に、前記使用済み触媒粒子の一部分を前記ストリッピングゾーンから抜き出し、前記抜き出された使用済み触媒粒子を触媒冷却器に誘導するステップと、
(g)前記抜き出された触媒を前記触媒冷却器中で冷却し、前記冷却触媒を前記ストリッピングゾーンに戻して、前記ストリッピングゾーン中の触媒の温度を前記目標ストリッピング温度より低い温度に下げるステップとを含む方法。
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