JP2007335730A - 半導体素子搭載用パッケージ及び半導体装置並びにそれらの製造方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】凹部8を有するパッケージ本体7と、該パッケージ本体7に少なくとも一部が内包されてなるフレーム本体6とを有し、前記フレーム本体6は、前記凹部8の底面から露出する露出部を有するボンディング部3と、前記凹部8の側壁7Bに一部が内包される非露出部及びパッケージ本体7の側面から外側に突出するリード片部4A,5Aを有するリードフレーム部4,5と、を有し、前記非露出部は、前記パッケージ本体7と接するとともに、前記露出部は、金属層9A,9Bによって被覆されている。
【選択図】図2
Description
しかしながら、樹脂と銀とは密着性、つまり親和性(ぬれ性)が良くないことや、両者の熱収縮率の違いにより、樹脂の冷却時に銀と樹脂との間に隙間が発生することを回避することができないものであった。このように隙間が発生すると、隙間を通して湿気や水分が浸入してくるため、フレームや半導体素子の変色等の劣化現象を招いてしまう不都合があり、早期改善が要望されている。
前記水分の浸入を防止するものとしては、例えば樹脂成形体でなるパッケージ本体の底部に、蒸気不透過性物質からなる耐湿層をその片面がパッケージ本体の底部から露出するように備えさせたものが提案されている(例えば、特許文献1参照)。
又、樹脂との密着性のよい銅からなるリードフレームを樹脂にて覆う構成であるため、リードフレームと樹脂との間に隙間が発生し難いものの、熱収縮率の違いにより多少の隙間が発生してしまうこともある。そのため、その小さな隙間から水分が入り込んでしまうと、前記したようなフレームや半導体素子の変色等の劣化現象を招いてしまうことがあった。
上記のように、パッケージ本体から露出するフレーム本体の露出部、つまりボンディング部の露出部を金属層によって被覆することによって、樹脂との密着性、つまり親和性(ぬれ性)のよい材料(例えば銅等)からパッケージ本体を構成している場合には、フレーム本体の非露出部分が樹脂に接しているから、フレーム本体と樹脂との境界面に、隙間が発生することがない又は少ない。又、リード片部にも金属層を被覆しておけば、フレーム本体と樹脂との境界面に隙間が発生した場合でも、金属層が隙間を塞ぐ役割をすることができるから、パッケージ内に水分が入り込むことがない。
そして、前記フレーム本体6の非露出部分を樹脂にて直接覆うことにより該非露出部分が前記パッケージ本体7と接するとともに、前記リード片部4A,5A及び露出部3Aの両方(少なくとも露出部3Aだけでもよい)を導電性金属である銀(高反射率で導電性を有する金属)にて被覆して金属層としての反射層9A,9B及び鍍金層(場合によっては省略してもよい)10を備えさせている。前記反射層9A,9Bを備えさせることによって、発光素子1からの光の反射率を高めることができるようにしている。前記反射層9A,9Bのそれぞれが、前記発光素子1の正極及び負極に接続されているボンディングワイヤ11,12の他端を接続するために、前記凹部8に設けられた正電極及び負電極をそれぞれ構成している。前記リードフレーム部4,5の一部が外部に突出したものをリード片部4A,5Aとする他、リードフレーム部4,5全体が外部に突出したものをリード片部4A,5Aとしてもよい。前記ボンディングワイヤ11,12の他端を反射層9A,9Bに接続する他、ボンディング部3に直接接続してもよい。
詳述すれば、まず、圧延された長尺の銅板を任意の大きさに切断し、切断された銅板のうちのフレーム本体6となる部分をプレス金型にて所望の形状にプレスする(プレス工程13)。次に、前記プレス加工されたフレーム本体6、通常は多数のフレーム本体6を銅板にプレス成形し、それら多数のフレーム本体6の特定部分を樹脂にて覆うことによりパッケージ本体7を形成するのである(パッケージ本体形成工程14)。前記パッケージ本体形成工程14にてパッケージ本体7を形成した後、パッケージ本体7の露出部分である露出部3Aを連続して又は断続的に(パッケージ本体7を1個ずつ)鍍金し(鍍金工程15)、各パッケージ本体7毎に切断して半導体素子搭載用パッケージの製造を終了するようにしている。
前記半導体素子搭載用パッケージの製造方法にて製造された該半導体素子搭載用パッケージに、半導体素子を搭載する搭載工程(図示せず)と、該搭載工程にて搭載された半導体素子を封止部材にて封止する封止工程(図示せず)とを備えさせた製造方法にて半導体装置を製造してもよい。
前記のように製造された半導体素子搭載用パッケージに搭載工程にて半導体素子を搭載した後、該半導体素子を封止工程にて封止部材にて封止して、半導体装置を構成することになる。
図4に、銅からなるフレーム本体6の表裏両面に銀を鍍金して反射層19を備えさせたものを、樹脂にて覆うことによってパッケージ本体7を備えさせて製造された半導体素子搭載用パッケージを示している。この場合には、銀と樹脂との境界面G(上下2箇所にある)に、熱膨張率の違いにより樹脂の冷却時に隙間が発生することになる(隙間が小さいため図では示していない)。図4では、フレーム本体6に鍍金する場合には、フレーム本体6を鍍金槽に浸けて行うことが一般的であり、この場合には、フレーム本体6の全面に銀を鍍金することになることから、この銀の量に対して図2で示した本発明では、必要となる一部分にのみ、銀を鍍金することになり、鍍金する銀の量を少なくなくすることができるだけでなく、上下方向でのフレーム本体の厚みを薄くすることができる利点がある。
(発光素子)
発光素子は、基板上にGaAlN、ZnS、ZnSe、SiC、GaP、GaAlAs、AlN、InN、AlInGaP、InGaN、GaN、AlInGaN等の半導体を発光層として形成させたものを用いることができる。半導体の構造としては、MIS接合、PIN接合やPN接合を有したホモ構造、ヘテロ構造あるいはダブルへテロ構成のものが挙げられる。半導体層の材料やその混晶度によって発光波長を紫外光から赤外光まで種々選択することができる。発光層は、量子効果が生ずる薄膜とした単一量子井戸構造や多重量子井戸構造としても良い。発光素子は同一面側に電極を有するものを使用しているが、上下面に電極を有するものも使用することができる。また、ワイヤを用いずに、基台に発光素子をフェイスダウン実装することもできる。
発光素子は、1個に限られず複数個用いることができる。また、発光素子は紫外線から赤外光までの光を発するものを使用することができるが、可視光の光を発するものが好ましい。発光素子は、蛍光物質の吸収スペクトル、発光スペクトルや発光装置の発光色等によって適宜変更するが、発光ピーク波長が360nm乃至470nmにあることが好ましい。発光ピーク波長が300nm以下であると蛍光物質を保持する被覆部材が劣化してしまうからである。
発光素子は、パッケージの凹部の底面に搭載され、凹部の底面に配された外部接続用の電極と電気的に接続されている。ボンディングワイヤにて電気的に接続する場合、ボンディングワイヤは発光素子の電極とのオーミック性、機械的接続性、電気伝導性および熱伝導性が良い材料からなることが好ましい。熱伝導率としては50w/(m・k)以上が好ましく、より好ましくは、200w/(m・k)以上である。また、作業性などを考慮してボンディングワイヤの直径は、好ましくは10μm以上、45μm以下である。このようなボンディングワイヤとして、具体的には、金、銅、白金、アルミニウム等の金属およびそれらの合金を用いたワイヤが挙げられる。このようなボンディングワイヤは、ワイヤボンデイング装置によって、発光素子と内部端子との間に容易にボンデイング接続させることができる。図には示さないが、発光素子をフリップチップ実装することもできる。
(封止部材)
封止部材を構成する具体的材料としては、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂、変成シリコーン樹脂、アクリル樹脂、イミド樹脂及びユリア樹脂などを用いることができる。このうち、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂が好ましい。耐熱性、耐光性に優れているからである。封止部材は、発光素子からの光の波長を変換することができる蛍光物質を含有することができる。例えば、封止部材の粘度や揮発性、滴下条件等を調整することで、蛍光物質の分布状態を調整することができる。また、所定の所望外の波長をカットする目的で有機や無機の着色染料や着色顔料を含有させることもできる。
(蛍光物質)
蛍光物質は、発光素子からの光を吸収し異なる波長の光に波長変換するものであればよい。例えば、Eu、Ce等のランタノイド系元素で主に賦活される窒化物系蛍光体・酸窒化物系蛍光体、Eu等のランタノイド系、Mn等の遷移金属系の元素により主に付活されるアルカリ土類ハロゲンアパタイト蛍光体、アルカリ土類金属ホウ酸ハロゲン蛍光体、アルカリ土類金属アルミン酸塩蛍光体、アルカリ土類ケイ酸塩、アルカリ土類硫化物、アルカリ土類チオガレート、アルカリ土類窒化ケイ素、ゲルマン酸塩、又は、Ce等のランタノイド系元素で主に付活される希土類アルミン酸塩、希土類ケイ酸塩又はEu等のランタノイド系元素で主に賦活される有機及び有機錯体等から選ばれる少なくともいずれか1以上であることが好ましい。このうちCeで付活されるイットリウム・アルミニウム酸化物を用いて説明するが、これに限定されない。
2 封止樹脂
3 ボンディング部
3A 露出部
4,5 リードフレーム部
4A,5A リード片部
6 フレーム本体
7 パッケージ本体
7A 底部
7B 側壁(リフレクター部)
8 凹部
9A,9B 反射層
10 鍍金層
11,12 ボンディングワイヤ
13 プレス工程
14 パッケージ本体形成工程
15 鍍金工程
19 反射層
G 境界面
Claims (6)
- 凹部を有するパッケージ本体と、該パッケージ本体に少なくとも一部が内包されてなるフレーム本体とを有し、
前記フレーム本体は、前記凹部の底面から露出する露出部を有するボンディング部と、前記凹部の側壁に一部が内包される非露出部及びパッケージ本体の側面から外側に突出するリード片部を有するリードフレーム部と、を有し、
前記非露出部は、前記パッケージ本体と接するとともに、前記露出部は、金属層によって被覆されていることを特徴とする半導体素子搭載用パッケージ。 - 前記フレーム本体は、銅板をプレスされてなる請求項1記載の半導体素子搭載用パッケージ。
- 前記金属層が、導電性金属を電解鍍金または無電解鍍金してなり、鍍金する導電性金属が銀からなる請求項1または2に記載の半導体素子搭載用パッケージ。
- 請求項1〜請求項3の半導体素子搭載用パッケージの凹部に半導体素子が搭載され、該半導体素子が封止部材にて封止されている半導体装置。
- 一対のリードフレーム部と半導体素子を搭載するためのボンディング部とからなるフレーム本体を、該ボンディング部の一部が露出する状態で樹脂にて覆うことによりパッケージ本体を形成するためのパッケージ本体形成工程と、前記パッケージ本体形成工程にて形成されたパッケージ本体の側面から外側へ突出する前記リードフレーム部のリード片部及びボンディング部の露出部のうちの少なくともボンディング部の露出部を導電性金属にて鍍金するための鍍金工程とを備えたことを特徴とする半導体素子搭載用パッケージの製造方法。
- 前記半導体素子搭載用パッケージの製造方法にて製造された該半導体素子搭載用パッケージに半導体素子を搭載する搭載工程と、該搭載工程にて搭載された半導体素子を封止部材にて封止する封止工程とを備えたことを特徴とする半導体装置の製造方法。
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---|---|---|---|---|
JPH1041423A (ja) * | 1996-07-22 | 1998-02-13 | Sony Corp | 半導体パッケージの製造方法 |
JP2006024645A (ja) * | 2004-07-06 | 2006-01-26 | Rohm Co Ltd | 半導体発光装置 |
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- 2006-06-16 JP JP2006167459A patent/JP2007335730A/ja active Pending
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