JP2007324297A - Method of manufacturing wiring board - Google Patents

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秀克 関根
Kenji Kawamoto
憲治 河本
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a wiring board that incorporates a capacitor by which a change in shape of a dielectric can be reduced and the accuracy of the capacitor capacity in a substrate can be improved in the method of manufacturing the printed wiring board. <P>SOLUTION: A wiring layer 21a and a wiring layer 21b are formed on one surface of an insulating substrate 11, and a conductor layer 22 is formed on the other surface thereof, so as to manufacture a wiring board midway of a process. Next, a dielectric layer 31 and a conductor layer 25 are formed on the conductor layer 22, and the conductor layer 25 is patterned to form a capacitor upper electrode 25a. Furthermore, the dielectric layer 31 is patterned to form a dielectric 31a. The dielectric layer, protruding from the capacitor upper electrode 25a, is removed by blasting method, so as to form a dielectric 31b having corrected shape. The conductor layer 24 is patterned to form a capacitor lower electrode 24a, and a wiring board 100 incorporating a capacitor is obtained. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、各種電子機器に使用される配線基板に関し、詳しくは、キャパシタの容量精度を向上できるキャパシタ内蔵の配線基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a wiring board used in various electronic devices, and more particularly to a method of manufacturing a wiring board with a built-in capacitor that can improve the capacitance accuracy of the capacitor.

最近の部品内蔵の製造方法について以下に説明する。
キャパシタ内蔵の配線基板の製造方法の一例として、感光性の誘電体層を用いてパターン露光、現像等の一連のパターニング処理を行って、キャパシタ用の誘電体を形成する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
キャパシタ内蔵の配線基板の製造方法の一例を図5(a)〜(e)及び図6(f)〜(i)に示す。
まず、絶縁層111上に配線層121及び配線層122が、絶縁層112を介して銅箔等からなる導体層124が形成され、導体層124と配線層121及び配線層122とがビア123で電気的に接続されてなる途中工程の配線基板を作製する(図5(a)参照)。
A recent manufacturing method with built-in components will be described below.
As an example of a method of manufacturing a wiring board with a built-in capacitor, a method of forming a capacitor dielectric by performing a series of patterning processes such as pattern exposure and development using a photosensitive dielectric layer ( For example, see Patent Document 1).
An example of a method for manufacturing a wiring board with a built-in capacitor is shown in FIGS. 5 (a) to 5 (e) and FIGS. 6 (f) to 6 (i).
First, the wiring layer 121 and the wiring layer 122 are formed on the insulating layer 111, and the conductor layer 124 made of copper foil or the like is formed via the insulating layer 112. The conductor layer 124, the wiring layer 121 and the wiring layer 122 are formed by vias 123. A wiring substrate in an intermediate process that is electrically connected is manufactured (see FIG. 5A).

次に、ポジ型感光性エポキシ系樹脂等にセラミック粉末等を分散させた誘電材を導体層124上に塗工するか、もしくはシート形態でラミネートするかのいずれかの方法で誘電体層131を形成する。次いで、誘電体層131上に銅箔をラミネートする等の方法で導体層125を形成する(図5(b)参照)。
ここで、誘電体層131と導体層125(銅箔)とを一体構造とした誘電体シートを貼り合わせる方法もある(例えば、特許文献2参照)。
Next, the dielectric layer 131 is formed by either applying a dielectric material obtained by dispersing ceramic powder or the like in a positive photosensitive epoxy resin or the like on the conductor layer 124 or laminating it in a sheet form. Form. Next, the conductor layer 125 is formed on the dielectric layer 131 by a method such as laminating a copper foil (see FIG. 5B).
Here, there is a method in which a dielectric sheet in which the dielectric layer 131 and the conductor layer 125 (copper foil) are integrated is bonded (for example, see Patent Document 2).

次いで、導体層125上にフォトレジストを塗布するか、ドライフィルムをラミネートする等の方法で感光層を形成し、パターン露光、現像等のパターニング処理を行ってレジストパターン141を形成する(図5(c)参照)。   Next, a photosensitive layer is formed on the conductor layer 125 by a method such as applying a photoresist or laminating a dry film, and patterning processing such as pattern exposure and development is performed to form a resist pattern 141 (FIG. 5 ( c)).

次に、レジストパターン141をマスクにして導体層125を塩化第二銅等からなるエッチング液にてエッチングし、キャパシタ上部電極125aを形成し、且つ誘電体層131表面を露出させる(図5(d)参照)。   Next, using the resist pattern 141 as a mask, the conductor layer 125 is etched with an etchant made of cupric chloride or the like to form a capacitor upper electrode 125a and expose the surface of the dielectric layer 131 (FIG. 5D). )reference).

次いで、レジストパターン141は剥離せず、キャパシタ上部電極125aをマスクとして、誘電体層131を露光し、専用の現像液にて現像処理することにより、キャパシタ上部電極125aの下部に誘電体131aを形成する(図5(e)参照)。   Next, the resist pattern 141 is not peeled off, and the dielectric layer 131 is exposed using the capacitor upper electrode 125a as a mask and developed with a dedicated developer, thereby forming the dielectric 131a below the capacitor upper electrode 125a. (See FIG. 5E).

次に、誘電体131aを熱硬化した後、レジストパターン141を剥離し、導体層124上に誘電体131a及びキャパシタ上部電極125aを形成する(図6(f)参照)。   Next, after the dielectric 131a is thermally cured, the resist pattern 141 is peeled off, and the dielectric 131a and the capacitor upper electrode 125a are formed on the conductor layer 124 (see FIG. 6F).

次に、導体層124、誘電体131a及びキャパシタ上部電極125a上にフォトレジストを塗布するか、ドライフィルムをラミネートする等の方法で感光層142を形成し(図6(g)参照)、パターン露光、現像等のパターニング処理を行ってレジストパターン142a及び142bを形成する(図6(h)参照)。   Next, a photosensitive layer 142 is formed by applying a photoresist or laminating a dry film on the conductor layer 124, the dielectric 131a and the capacitor upper electrode 125a (see FIG. 6G), and pattern exposure. Then, patterning processing such as development is performed to form resist patterns 142a and 142b (see FIG. 6H).

次に、レジストパターン142a及び142bをマスクにして導体層124を塩化第二銅等からなるエッチング液にてエッチングし、キャパシタ下部電極124a及び配線層124bを形成し、キャパシタ上部電極125aと誘電体131aとキャパシタ下部電極124aとからなるキャパシタを形成する(図6(i)参照)。   Next, using the resist patterns 142a and 142b as a mask, the conductor layer 124 is etched with an etchant made of cupric chloride or the like to form a capacitor lower electrode 124a and a wiring layer 124b, and the capacitor upper electrode 125a and the dielectric 131a. And a capacitor lower electrode 124a are formed (see FIG. 6I).

また、別の方法としては、上記工程内におけるポジ型感光性エポキシ系樹脂等にセラミック粉末等を分散させた誘電体層131の代わりに、非感光性のエポキシ系樹脂等にセラミック粉末等を分散させた誘電層132と銅箔等を一体構造にした誘電体シート用いて、ラミネートして誘電体層132と導体層125を形成した後導体層125をパターニング処理してキャパシタ上部電極125aを形成し、キャパシタ上部電極125aをマスクにして専用のエッチング液にて誘電体層132をエッチングし、誘電体132aを形成するといった方法もある。   As another method, ceramic powder or the like is dispersed in non-photosensitive epoxy resin or the like in place of the dielectric layer 131 in which ceramic powder or the like is dispersed in positive photosensitive epoxy resin or the like in the above process. The dielectric layer 132 and the copper foil or the like made into an integrated structure are laminated to form the dielectric layer 132 and the conductor layer 125, and then the conductor layer 125 is patterned to form the capacitor upper electrode 125a. Alternatively, the dielectric layer 132 may be formed by etching the dielectric layer 132 with a dedicated etchant using the capacitor upper electrode 125a as a mask.

上記したような配線基板の製造方法では、誘電体層131または誘電体層132の加工を露光、現像、または、エッチングといった化学的加工のみで行うので、誘電体131a及び誘電体層132aの形状が台形の裾を引いた形状となり、また、その形状にもバラツキが大きく、キャパシタの容量精度を悪くするといった問題がある。   In the method for manufacturing a wiring board as described above, the dielectric layer 131 or the dielectric layer 132 is processed only by chemical processing such as exposure, development, or etching, so that the shapes of the dielectric 131a and the dielectric layer 132a are the same. There is a problem that the shape has a trapezoidal skirt, and the shape has a large variation, which deteriorates the capacitance accuracy of the capacitor.

更には、化学的加工のみでは、キャパシタ上部電極125aの下側が大きくサイドエッチングされ、そのバラツキが加算され、キャパシタの精度を悪くするといった問題がある。また、大きなサイドエッチングにより、多層化して行く際、サイドエッチ部に気泡が残り、熱、吸湿によるクラック等が発生し、信頼性を悪くするといった問題がある。
特開2002−534791号公報 特開2003−11270号公報
Furthermore, the chemical processing alone has a problem that the lower side of the capacitor upper electrode 125a is largely side-etched, and the variation is added to deteriorate the accuracy of the capacitor. In addition, there is a problem in that when multiple layers are formed by large side etching, bubbles remain in the side etched portion, cracks due to heat and moisture absorption, etc. occur, resulting in poor reliability.
JP 2002-534791 A JP 2003-11270 A

本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、キャパシタが内蔵されるプリント配線板の製造方法において、誘電体の形状バラツキを小さくして、基板内のキャパシタ容量の精度を向上させる配線基板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and in a method of manufacturing a printed wiring board with a built-in capacitor, a wiring board that reduces the variation in the shape of the dielectric and improves the accuracy of the capacitor capacity in the board. It aims at providing the manufacturing method of.

本発明に於いて上記課題を達成するために、まず、請求項1においては、少なくとも以下の工程を具備することを特徴とするキャパシタ内蔵の配線基板の製造方法としたものである。
(a)絶縁基材11の一方の面に配線層21a及び配線層21bを、他方の面に導体層22を形成し、配線層21a及び配線層21bと導体層22とがビア23で電気的に接続されてなる途中工程の配線基板を作製する工程。
(b)導体層22上に誘電体層31及び導体層25を形成する工程。
(c)導体層25上にレジストパターン41を形成する工程。
(d)レジストパターン41をマスクにして導体層25をエッチング処理し、キャパシタ上部電極25aを形成する工程。
(e)レジストパターン41及びキャパシタ上部電極25aをマスクにして誘電体層31をパターニング処理し、誘電体31aを形成する工程。
(f)キャパシタ上部電極25aよりはみ出した誘電体層をブラスト法にて除去し、形状補正された誘電体31bを形成する工程。
(g)導体層24の所定位置にレジストパターン42a及び42bを形成する工程。
(h)レジストパターン42a及び42bをマスクにして導体層24をエッチング処理し、レジストパターン42a及び42bを剥離処理して、キャパシタ下部電極24aを形成する工程。
In order to achieve the above object in the present invention, first, in claim 1, a method of manufacturing a wiring board with a built-in capacitor is provided, comprising at least the following steps.
(A) A wiring layer 21a and a wiring layer 21b are formed on one surface of the insulating substrate 11, and a conductor layer 22 is formed on the other surface. The wiring layer 21a, the wiring layer 21b, and the conductor layer 22 are electrically connected by a via 23. The process of producing the wiring board of the middle process formed by being connected to.
(B) A step of forming the dielectric layer 31 and the conductor layer 25 on the conductor layer 22.
(C) A step of forming a resist pattern 41 on the conductor layer 25.
(D) A step of etching the conductor layer 25 using the resist pattern 41 as a mask to form the capacitor upper electrode 25a.
(E) A step of patterning the dielectric layer 31 using the resist pattern 41 and the capacitor upper electrode 25a as a mask to form the dielectric 31a.
(F) A step of removing the dielectric layer protruding from the capacitor upper electrode 25a by a blast method to form a shape-corrected dielectric 31b.
(G) A step of forming resist patterns 42a and 42b at predetermined positions of the conductor layer 24.
(H) A step of forming the capacitor lower electrode 24a by etching the conductor layer 24 using the resist patterns 42a and 42b as a mask and peeling the resist patterns 42a and 42b.

また、請求項2においては、前記ブラスト法がウエットブラストであることを特徴とする請求項1記載の配線基板の製造方法としたものである。   According to a second aspect of the present invention, in the method for manufacturing a wiring board according to the first aspect, the blasting method is wet blasting.

本発明の配線基板の製造方法によると、誘電体層を化学的に加工して誘電体を形成した後、キャパシタ上部電極をマスクとして、ブラスト法を用い、キャパシタ上部電極よりはみ出した誘電体層を物理的に除去することで、キャパシタ上部電極と同じサイズの形状補正された誘電体が得られ、誘電体の形状を良好にすることで、配線基板内のキャパシタの容量精度が向上し、キャパシタの小型化が可能となる。   According to the method for manufacturing a wiring board of the present invention, after a dielectric layer is chemically processed to form a dielectric, a dielectric layer protruding from the capacitor upper electrode is formed using a blast method with the capacitor upper electrode as a mask. By physically removing the dielectric, a shape-corrected dielectric having the same size as the capacitor upper electrode can be obtained. By improving the shape of the dielectric, the capacitance accuracy of the capacitor in the wiring board is improved, and the capacitor Miniaturization is possible.

また、誘電体層の化学的な加工を最終形状まで行わないため、サイドエッチングが少ない状態で加工を終了させ、ブラスト法により、最終形状に形状補正することで、さらに、上層積層して多層化する際、サイドエッチ部に気泡が残り、熱、吸湿によるクラック等が発生するのを防止できる。   In addition, since the dielectric layer is not chemically processed to the final shape, the processing is completed with less side etching, and the shape is corrected to the final shape by the blast method. In doing so, it is possible to prevent bubbles from remaining in the side-etched portion and causing cracks due to heat and moisture absorption.

また、ブラスト法にウエットブラストを用いることで、より小さな砥粒が使用でき、また、水を使用するので基板の発熱がなく、金属の酸化や変形を防ぎ、後処理を軽減することができる。   Further, by using wet blasting in the blasting method, smaller abrasive grains can be used, and since water is used, there is no heat generation of the substrate, metal oxidation and deformation can be prevented, and post-treatment can be reduced.

以下本発明の実施の形態につき説明する。
図1(a)〜(f)及び図2(g)〜(j)は、本発明のキャパシタ内蔵の配線基板の製造方法の一実施例を示す部分模式構成断面図である。
まず、絶縁基材11の一方の面に配線層21a及び配線層21bを、他方の面に導体層22を形成し、配線層21a及び配線層21bと導体層22とがビア23で電気的に接続されてなる両面配線板20を作製する(図1(a)参照)。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
FIGS. 1A to 1F and FIGS. 2G to 2J are partial schematic cross-sectional views showing an embodiment of a method of manufacturing a wiring board with a built-in capacitor according to the present invention.
First, the wiring layer 21a and the wiring layer 21b are formed on one surface of the insulating substrate 11, and the conductor layer 22 is formed on the other surface. The wiring layer 21a, the wiring layer 21b, and the conductor layer 22 are electrically connected by the vias 23. The connected double-sided wiring board 20 is produced (see FIG. 1A).

次に、銅箔等からなる導体層24の片面に半硬化状態の誘電体層31を有する誘電体シート30を形成する(図1(b)参照)。
この誘電体シート30は、例えば、有機系の絶縁樹脂にセラミック系粉末を分散させた樹脂シートやグリーンシートなどの誘電材シートを銅箔等からなる導体層25にラミネートし、所望の熱処理を行う方法や、直接、銅箔等からなる導体層25上に誘電材を塗工する方法で形成する。また、銅箔等からなる導体層24の平滑面、または平滑化した面に誘電体層31を形成することで誘電層31の膜厚精度が向上し、キャパシタ容量の精度を上げることができる。
Next, a dielectric sheet 30 having a semi-cured dielectric layer 31 is formed on one side of the conductor layer 24 made of copper foil or the like (see FIG. 1B).
For example, the dielectric sheet 30 is formed by laminating a dielectric material sheet such as a resin sheet in which ceramic powder is dispersed in an organic insulating resin or a green sheet on the conductor layer 25 made of copper foil or the like, and performing a desired heat treatment. It is formed by a method or a method of directly applying a dielectric material on the conductor layer 25 made of copper foil or the like. Further, by forming the dielectric layer 31 on the smooth surface or the smoothed surface of the conductor layer 24 made of copper foil or the like, the film thickness accuracy of the dielectric layer 31 can be improved, and the capacitance of the capacitor can be increased.

次に、両面配線板20の導体層22上に、上記誘電体シート30の半硬化状態の誘電体層31をラミネートし、加熱硬化して、両面配線板20の導体層22上に誘電体層31及び導体層24を形成する(図1(c)参照)。
ここで、導体層22表面を平滑化した後、誘電体シート30を接着することで誘電体層31の膜厚精度が向上し、キャパシタ容量の精度を向上することができる。
Next, the dielectric layer 31 in a semi-cured state of the dielectric sheet 30 is laminated on the conductor layer 22 of the double-sided wiring board 20 and heat-cured, so that the dielectric layer is formed on the conductor layer 22 of the double-sided wiring board 20. 31 and the conductor layer 24 are formed (see FIG. 1C).
Here, after smoothing the surface of the conductor layer 22, the dielectric sheet 30 is adhered, thereby improving the film thickness accuracy of the dielectric layer 31 and improving the accuracy of the capacitor capacity.

次に、導体層24上にフォトレジストを塗布するか、ドライフィルムをラミネートする等の方法で感光層を形成し、パターン露光、現像等のパターニング処理を行ってレジストパターン41を形成する(図1(d)参照)。   Next, a photosensitive layer is formed on the conductor layer 24 by a method such as applying a photoresist or laminating a dry film, and patterning processing such as pattern exposure and development is performed to form a resist pattern 41 (FIG. 1). (See (d)).

次に、レジストパターン41をマスクにして導体層24を塩化第二銅等からなるエッチング液にてエッチングし、キャパシタ上部電極24aを形成し、且つ誘電体層31表面を露出させる(図1(e)参照)。   Next, using the resist pattern 41 as a mask, the conductor layer 24 is etched with an etchant made of cupric chloride or the like to form a capacitor upper electrode 24a and expose the surface of the dielectric layer 31 (FIG. 1 (e)). )reference).

次に、レジストパターン41は剥離せずに(剥離しても良い)、キャパシタ上部電極24aをマスクとして、誘電体層31を露光し、専用の現像液にて現像処理することにより
、キャパシタ上部電極24aの下部に誘電体31aを形成する(図1(f)参照)。
ここで、誘電体層31が感光性を有しない層の場合は、キャパシタ上部電極24aをマスクとして、化学的エッチング処理を行って、誘電体31aを形成する。
Next, the resist pattern 41 is not peeled off (may be peeled off), the capacitor upper electrode 24a is used as a mask, the dielectric layer 31 is exposed, and development processing is performed with a dedicated developer, whereby the capacitor upper electrode is exposed. A dielectric 31a is formed below 24a (see FIG. 1 (f)).
Here, when the dielectric layer 31 is a layer having no photosensitivity, the dielectric 31a is formed by performing a chemical etching process using the capacitor upper electrode 24a as a mask.

次に、誘電体31aを加熱硬化した後、キャパシタ上部電極24aをマスクにして、ブラスト法、例えば、ウエットブラストによりキャパシタ上部電極24aよりはみ出した誘電体層を除去し、同時にレジストパターン41を物理的に除去することで、キャパシタ上部電極24aと同じサイズの形状補正された誘電体31bを形成する(図2(g)参照)。
ここで、ブラスト加工前に誘電体31aを熱硬化させるのは、ブラスト加工時の加工性が良好になるからであり、ブラスト加工後に熱硬化させても良い。
Next, after the dielectric 31a is heat-cured, the dielectric layer protruding from the capacitor upper electrode 24a is removed by blasting, for example, wet blasting using the capacitor upper electrode 24a as a mask, and the resist pattern 41 is physically removed. As a result, the shape-corrected dielectric 31b having the same size as the capacitor upper electrode 24a is formed (see FIG. 2G).
Here, the reason why the dielectric 31a is thermally cured before blasting is that workability during blasting is improved, and may be thermally cured after blasting.

次に、導体層22、キャパシタ上部電極24a上にフォトレジストを塗布するか、ドライフィルムをラミネートする等の方法で感光層42を形成し(図2(h)参照)、パターン露光、現像等のパターニング処理を行ってレジストパターン42a及び42bを形成する(図2(i)参照)。   Next, a photosensitive layer 42 is formed by applying a photoresist or laminating a dry film on the conductor layer 22 and the capacitor upper electrode 24a (see FIG. 2 (h)), pattern exposure, development, etc. A patterning process is performed to form resist patterns 42a and 42b (see FIG. 2I).

次に、レジストパターン42a及び42bをマスクにして導体層22を塩化第二銅等からなるエッチング液にてエッチングし、レジストパターン42a及び42bを剥離処理して、キャパシタ下部電極22a及び配線層22bを形成し、キャパシタ上部電極24aと形状補正された誘電体31bとキャパシタ下部電極22aとからなるキャパシタが形成された配線基板100を作製する(図2(j)参照)。
ここでは、キャパシタ内蔵の配線基板について説明したが、配線層24bの形成と同時に、スパイラル型インダクタを形成することも可能で、さらに、抵抗素子等の受動素子を形成することもできる。
Next, using the resist patterns 42a and 42b as a mask, the conductor layer 22 is etched with an etchant made of cupric chloride or the like, and the resist patterns 42a and 42b are stripped to form the capacitor lower electrode 22a and the wiring layer 22b. A wiring board 100 is formed on which a capacitor is formed, which is formed of the capacitor upper electrode 24a, the shape-corrected dielectric 31b, and the capacitor lower electrode 22a (see FIG. 2J).
Although the wiring board with a built-in capacitor has been described here, a spiral inductor can be formed simultaneously with the formation of the wiring layer 24b, and a passive element such as a resistance element can also be formed.

さらに、ビルドアッププロセス等で、絶縁層、配線層、ビア、キャパシタ等の一連の配線基板の製造工程を行うことで、所望の層数のキャパシタ内蔵の多層配線基板を得ることができる。
尚、誘電体層31が形成される側の基板は、キャパシタ下部電極22a、配線層22b等があらかじめ形成されたものでも良く、更には、キャパシタ下部電極22aと配線層22b間に平滑化樹脂層12を設けることで、より平滑な誘電体層31を形成することができる(図3参照)。
Furthermore, by performing a series of manufacturing steps of a wiring board such as an insulating layer, a wiring layer, a via, and a capacitor by a build-up process or the like, a multilayer wiring board with a built-in capacitor having a desired number of layers can be obtained.
The substrate on which the dielectric layer 31 is formed may be one in which the capacitor lower electrode 22a, the wiring layer 22b, etc. are formed in advance, and further, a smoothing resin layer between the capacitor lower electrode 22a and the wiring layer 22b. By providing 12, a smoother dielectric layer 31 can be formed (see FIG. 3).

上記したように、本発明の配線基板の製造方法は、特に、携帯機器等の配線基板を小型化するのに有効で、特に、内蔵されるキャパシタの容量高精度化、小型化に有効である。   As described above, the method for manufacturing a wiring board according to the present invention is particularly effective for reducing the size of a wiring board for portable devices and the like, and particularly effective for increasing the capacity accuracy and reducing the size of a built-in capacitor. .

まず、不織ガラスにエポキシ樹脂を含浸させた片面銅張り板の銅箔をフォトエッチングプロセスにてパターン加工して絶縁基材11の一方の面に配線層21a及び配線層21bを、他方の面に無電解銅めっき及び電解銅めっきを用いたアディティブプロセスにてビア23及び導体層22を形成し、導体層22表面を平滑に研磨して、配線層21a及び配線層21bと導体層22とがビア23で電気的に接続された両面配線板20を作製した(図1(a)参照)。   First, a copper foil of a single-sided copper-clad plate impregnated with an epoxy resin in a non-woven glass is patterned by a photo-etching process, so that the wiring layer 21a and the wiring layer 21b are provided on one side of the insulating substrate 11, and the other side. Via 23 and conductor layer 22 are formed by an additive process using electroless copper plating and electrolytic copper plating, and the surface of conductor layer 22 is polished smoothly to form wiring layer 21a, wiring layer 21b, and conductor layer 22 A double-sided wiring board 20 electrically connected by vias 23 was produced (see FIG. 1A).

次に、ポジ型感光性エポキシ系樹脂にチタン酸バリウム等を混入した誘電材を表面が平滑に研摩された銅箔からなる導体層24の表面に塗工し、所望の温度で乾燥し、半硬化状態の誘電体層31を有する誘電体シート30を作製した(図1(b)参照)。   Next, a dielectric material in which barium titanate or the like is mixed in a positive photosensitive epoxy resin is applied to the surface of the conductor layer 24 made of a copper foil whose surface is polished smoothly, dried at a desired temperature, A dielectric sheet 30 having a cured dielectric layer 31 was produced (see FIG. 1B).

次に、両面配線板20の導体層22上に、上記誘電体シート30の半硬化状態の誘電体
層31をラミネートし、130℃、30N/cm2の条件で加熱、加圧して、両面配線板20の導体層22上に誘電体層31及び導体層24を形成した(図1(c)参照)。
Next, the dielectric layer 31 in a semi-cured state of the dielectric sheet 30 is laminated on the conductor layer 22 of the double-sided wiring board 20, and heated and pressed under the conditions of 130 ° C. and 30 N / cm 2 to double-sided wiring. A dielectric layer 31 and a conductor layer 24 were formed on the conductor layer 22 of the plate 20 (see FIG. 1C).

次に、導体層24上に厚さ15μmの感光性ドライフィルムをラミネートして感光層を形成し、パターン露光、現像のパターニング処理を行ってレジストパターン41を形成した(図1(d)参照)。   Next, a photosensitive dry film having a thickness of 15 μm was laminated on the conductor layer 24 to form a photosensitive layer, and pattern exposure processing and development processing were performed to form a resist pattern 41 (see FIG. 1D). .

次に、レジストパターン41をマスクにして導体層24を塩化第二銅からなるエッチング液にてエッチングし、キャパシタ上部電極24aを形成し、且つ誘電体層31表面を露出させた(図1(e)参照)。   Next, using the resist pattern 41 as a mask, the conductor layer 24 is etched with an etchant made of cupric chloride to form a capacitor upper electrode 24a and expose the surface of the dielectric layer 31 (FIG. 1 (e)). )reference).

次に、レジストパターン41は剥離せずに、キャパシタ上部電極24aをマスクとして、誘電体層31を露光し、専用の現像液にて現像処理し、200℃、1時間の熱処理を行なって、キャパシタ上部電極24aの下部に誘電体31aを形成した(図1(f)参照)。   Next, the resist pattern 41 is not peeled off, the capacitor upper electrode 24a is used as a mask, the dielectric layer 31 is exposed, developed with a dedicated developer, and subjected to a heat treatment at 200 ° C. for 1 hour. A dielectric 31a was formed below the upper electrode 24a (see FIG. 1 (f)).

次に、キャパシタ上部電極24aをマスクにして、約6μm径のアルミナ等の微細砥粒をエアー圧0.2MPa等でノズルから水と一緒に噴出させるウエットブラストにより、キャパシタ上部電極25aよりはみ出した誘電体層を除去し、同時にレジストパターン41を物理的に除去することで、キャパシタ上部電極24aと同じサイズの形状補正された誘電体31bを形成した(図2(g)参照)。   Next, by using the capacitor upper electrode 24a as a mask, the dielectric protruded from the capacitor upper electrode 25a by wet blasting in which fine abrasive grains such as alumina having a diameter of about 6 μm are jetted together with water from the nozzle at an air pressure of 0.2 MPa or the like. By removing the body layer and simultaneously removing the resist pattern 41 at the same time, the shape-corrected dielectric 31b having the same size as the capacitor upper electrode 24a was formed (see FIG. 2G).

次に、導体層22、キャパシタ上部電極24a上に感光性ドライフィルムをラミネートして感光層42を形成し(図2(h)参照)、パターン露光、現像のパターニング処理を行ってレジストパターン42a及び42bを形成した(図2(i)参照)。   Next, a photosensitive dry film is laminated on the conductor layer 22 and the capacitor upper electrode 24a to form the photosensitive layer 42 (see FIG. 2 (h)), and pattern exposure processing and development patterning are performed to form the resist pattern 42a and 42b was formed (see FIG. 2 (i)).

次に、レジストパターン42a及び42bをマスクにして導体層22を塩化第二銅からなるエッチング液にてエッチングし、レジストパターン42a及び42bを剥離処理して、キャパシタ下部電極22a及び配線層22bを形成し、キャパシタ上部電極24aと形状補正された誘電体31bとキャパシタ下部電極22aとからなるキャパシタが形成された配線基板100を作製した(図2(j)参照)。   Next, using the resist patterns 42a and 42b as a mask, the conductor layer 22 is etched with an etching solution made of cupric chloride, and the resist patterns 42a and 42b are stripped to form the capacitor lower electrode 22a and the wiring layer 22b. Then, the wiring substrate 100 on which the capacitor composed of the capacitor upper electrode 24a, the shape-corrected dielectric 31b, and the capacitor lower electrode 22a was formed (see FIG. 2J).

まず、不織ガラスにエポキシ樹脂を含浸させた片面銅張り板の銅箔をフォトエッチングプロセスにてパターン加工して絶縁基材11の一方の面に配線層21a及び配線層21bを、他方の面に無電解銅めっき及び電解銅めっきを用いたアディティブプロセスにてビア23及び導体層22を形成し、導体層22表面を平滑に研磨して、配線層21a及び配線層21bと導体層22とがビア23で電気的に接続された両面配線板20を作製した(図1(a)参照)。   First, a copper foil of a single-sided copper-clad plate impregnated with an epoxy resin in a non-woven glass is patterned by a photo-etching process, so that the wiring layer 21a and the wiring layer 21b are provided on one side of the insulating substrate 11, and the other side. Via 23 and conductor layer 22 are formed by an additive process using electroless copper plating and electrolytic copper plating, and the surface of conductor layer 22 is polished smoothly to form wiring layer 21a, wiring layer 21b, and conductor layer 22 A double-sided wiring board 20 electrically connected by vias 23 was produced (see FIG. 1A).

次に、エポキシ系樹脂にチタン酸バリウム等を混入した誘電材を表面が平滑に研摩された銅箔からなる導体層24の表面に塗工し、所望の温度で乾燥し、半硬化状態の誘電体層32を有する誘電体シート30aを作製した(図1(b)参照)。   Next, a dielectric material in which barium titanate or the like is mixed with an epoxy resin is applied to the surface of the conductor layer 24 made of a copper foil whose surface is polished smoothly, dried at a desired temperature, and semi-cured dielectric A dielectric sheet 30a having a body layer 32 was produced (see FIG. 1B).

次に、両面配線板20の導体層22上に、上記誘電体シート30aの半硬化状態の誘電体層32をラミネートし、130℃、30N/cm2の条件で加熱、加圧して、両面配線板20の導体層22上に誘電体層32及び導体層24を形成した(図1(c)参照)。 Next, the dielectric layer 32 in a semi-cured state of the dielectric sheet 30a is laminated on the conductor layer 22 of the double-sided wiring board 20, and heated and pressed under the conditions of 130 ° C. and 30 N / cm 2 to double-sided wiring. A dielectric layer 32 and a conductor layer 24 were formed on the conductor layer 22 of the plate 20 (see FIG. 1C).

次に、導体層24上に厚さ15μmの感光性ドライフィルムをラミネートして感光層を形成し、パターン露光、現像のパターニング処理を行ってレジストパターン41を形成し
た(図1(d)参照)。
Next, a photosensitive dry film having a thickness of 15 μm was laminated on the conductor layer 24 to form a photosensitive layer, and pattern exposure processing and development processing were performed to form a resist pattern 41 (see FIG. 1D). .

次に、レジストパターン41をマスクにして導体層24を塩化第二銅からなるエッチング液にてエッチングし、キャパシタ上部電極24aを形成し、且つ誘電体層32表面を露出させた(図1(e)参照)。   Next, using the resist pattern 41 as a mask, the conductor layer 24 is etched with an etchant made of cupric chloride to form a capacitor upper electrode 24a and expose the surface of the dielectric layer 32 (FIG. 1 (e)). )reference).

次に、レジストパターン41は剥離せずに、キャパシタ上部電極24aをマスクとして、専用のエッチング液を用いて露出した誘電体層32を下層の導体層22表面が現れない程度(サイドエッチを小さく)エッチングし、200℃、1時間の熱処理を行なって、キャパシタ上部電極24aの下部に誘電体32aを形成した(図4参照)。   Next, the resist pattern 41 is not peeled, and the surface of the lower conductive layer 22 does not appear on the dielectric layer 32 exposed using a dedicated etching solution using the capacitor upper electrode 24a as a mask (side etching is reduced). Etching and heat treatment at 200 ° C. for 1 hour were performed to form a dielectric 32a under the capacitor upper electrode 24a (see FIG. 4).

次に、キャパシタ上部電極24aをマスクにして、約6μm径のアルミナ等の微細砥粒をエアー圧0.2MPa等でノズルから水と一緒に噴出させるウエットブラストにより、キャパシタ上部電極25aよりはみ出した誘電体層を除去し、同時にレジストパターン41を物理的に除去することで、キャパシタ上部電極24aと同じサイズの形状補正された誘電体32bを形成した(図2(g)参照)。   Next, by using the capacitor upper electrode 24a as a mask, the dielectric protruded from the capacitor upper electrode 25a by wet blasting in which fine abrasive grains such as alumina having a diameter of about 6 μm are jetted together with water from the nozzle at an air pressure of 0.2 MPa or the like. By removing the body layer and simultaneously physically removing the resist pattern 41, the shape-corrected dielectric 32b having the same size as the capacitor upper electrode 24a was formed (see FIG. 2G).

次に、導体層22、キャパシタ上部電極24a上に感光性ドライフィルムをラミネートして感光層42を形成し(図2(h)参照)、パターン露光、現像のパターニング処理を行ってレジストパターン42a及び42bを形成した(図2(i)参照)。   Next, a photosensitive dry film is laminated on the conductor layer 22 and the capacitor upper electrode 24a to form the photosensitive layer 42 (see FIG. 2 (h)), and pattern exposure processing and development patterning are performed to form the resist pattern 42a and 42b was formed (see FIG. 2 (i)).

次に、レジストパターン42a及び42bをマスクにして導体層22を塩化第二銅からなるエッチング液にてエッチングし、レジストパターン42a及び42bを剥離処理して、キャパシタ下部電極22a及び配線層22bを形成し、キャパシタ上部電極24aと形状補正された誘電体32bとキャパシタ下部電極22aとからなるキャパシタが形成された配線基板100aを作製した(図2(j)参照)。   Next, using the resist patterns 42a and 42b as a mask, the conductor layer 22 is etched with an etching solution made of cupric chloride, and the resist patterns 42a and 42b are stripped to form the capacitor lower electrode 22a and the wiring layer 22b. Then, a wiring substrate 100a on which a capacitor composed of the capacitor upper electrode 24a, the shape-corrected dielectric 32b, and the capacitor lower electrode 22a was formed (see FIG. 2J).

(a)〜(f)は、本発明の配線基板の製造方法における工程の一部を示す模式構成断面図である。(A)-(f) is typical structure sectional drawing which shows a part of process in the manufacturing method of the wiring board of this invention. (g)〜(j)は、本発明の配線基板の製造方法における工程の一部を示す模式構成断面図である。(G)-(j) is typical structure sectional drawing which shows a part of process in the manufacturing method of the wiring board of this invention. キャパシ下部電極22aと配線層22b間に平滑化樹脂層を設けて、誘電体層31を形成する一例を示す模式構成断面図である。3 is a schematic cross-sectional view illustrating an example in which a dielectric layer 31 is formed by providing a smoothing resin layer between a capacitor lower electrode 22a and a wiring layer 22b. FIG. 誘電体層32をエッチングして得られた誘電体32aの形状の一例を示す模式構成断面図である。3 is a schematic cross-sectional view showing an example of the shape of a dielectric 32a obtained by etching a dielectric layer 32. FIG. (a)〜(e)は、従来の配線基板の製造方法における工程の一部を示す模式構成断面図である。(A)-(e) is typical structure sectional drawing which shows a part of process in the manufacturing method of the conventional wiring board. (f)〜(i)は、従来の配線基板の製造方法における工程の一部を示す模式構成断面図である。(F)-(i) is typical structure sectional drawing which shows a part of process in the manufacturing method of the conventional wiring board.

符号の説明Explanation of symbols

11……絶縁基材
12……平滑化樹脂層
21a、21b、22b、121、122……配線層
20……両面配線版
22、124……導体層
22a、124a……キャパシタ下部電極
23、123……ビア
24、125……導体層(銅箔)
24a、125a……キャパシタ上部電極
30、30a……誘電体シート
31、32、131、132……誘電体層
31a、32a、131a、132a……誘電体
31b、32b……形状補正された誘電体
41、42a、42b、141、142a、142b……レジストパターン
42、142……感光層
100、100a……配線基板
111、112……絶縁層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Insulating base material 12 ... Smoothing resin layer 21a, 21b, 22b, 121, 122 ... Wiring layer 20 ... Double-sided wiring board 22, 124 ... Conductor layer 22a, 124a ... Capacitor lower electrode 23, 123 ... via 24, 125 ... conductor layer (copper foil)
24a, 125a: Capacitor upper electrodes 30, 30a: Dielectric sheets 31, 32, 131, 132 ... Dielectric layers 31a, 32a, 131a, 132a ... Dielectrics 31b, 32b ... Shape-corrected dielectrics 41, 42a, 42b, 141, 142a, 142b... Resist pattern 42, 142... Photosensitive layer 100, 100a .. wiring substrate 111, 112.

Claims (2)

少なくとも以下の工程を具備することを特徴とするキャパシタ内蔵の配線基板の製造方法。
(a)絶縁基材(11)の一方の面に配線層(21a)及び配線層(21b)を、他方の面に導体層(22)を形成し、配線層(21a)及び配線層(21b)と導体層(22)とがビア(23)で電気的に接続されてなる途中工程の配線基板を作製する工程。
(b)導体層(22)上に誘電体層(31)及び導体層(25)を形成する工程。
(c)導体層(25)上にレジストパターン(41)を形成する工程。
(d)レジストパターン(41)をマスクにして導体層(25)をエッチング処理し、キャパシタ上部電極(25a)を形成する工程。
(e)レジストパターン(41)及びキャパシタ上部電極(25a)をマスクにして誘電体層(31)をパターニング処理し、誘電体(31a)を形成する工程。
(f)キャパシタ上部電極(25a)よりはみ出した誘電体層をブラスト法にて除去し、形状補正された誘電体(31b)を形成する工程。
(g)導体層(24)の所定位置にレジストパターン(42a)及び(42b)を形成する工程。
(h)レジストパターン(42a)及び(42b)をマスクにして導体層(24)をエッチング処理し、レジストパターン(42a)及び(42b)を剥離処理して、キャパシタ下部電極(24a)を形成する工程。
A method for manufacturing a wiring board with a built-in capacitor, comprising at least the following steps.
(A) A wiring layer (21a) and a wiring layer (21b) are formed on one surface of the insulating substrate (11), and a conductor layer (22) is formed on the other surface, and the wiring layer (21a) and the wiring layer (21b) are formed. ) And the conductor layer (22) are electrically connected by vias (23), and a process for producing a wiring substrate in the middle process.
(B) A step of forming a dielectric layer (31) and a conductor layer (25) on the conductor layer (22).
(C) A step of forming a resist pattern (41) on the conductor layer (25).
(D) A step of etching the conductor layer (25) using the resist pattern (41) as a mask to form a capacitor upper electrode (25a).
(E) A step of patterning the dielectric layer (31) using the resist pattern (41) and the capacitor upper electrode (25a) as a mask to form a dielectric (31a).
(F) A step of removing the dielectric layer protruding from the capacitor upper electrode (25a) by a blast method to form a shape-corrected dielectric (31b).
(G) A step of forming resist patterns (42a) and (42b) at predetermined positions of the conductor layer (24).
(H) Using the resist patterns (42a) and (42b) as a mask, the conductor layer (24) is etched, and the resist patterns (42a) and (42b) are stripped to form the capacitor lower electrode (24a). Process.
前記ブラスト法がウエットブラストであることを特徴とする請求項1記載の配線基板の製造方法。   2. The method for manufacturing a wiring board according to claim 1, wherein the blasting method is wet blasting.
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