JP2007311685A - 素子の樹脂封止構造 - Google Patents
素子の樹脂封止構造 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007311685A JP2007311685A JP2006141268A JP2006141268A JP2007311685A JP 2007311685 A JP2007311685 A JP 2007311685A JP 2006141268 A JP2006141268 A JP 2006141268A JP 2006141268 A JP2006141268 A JP 2006141268A JP 2007311685 A JP2007311685 A JP 2007311685A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- resin
- electrodes
- output signals
- sealing structure
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/05—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of an individual bonding area
- H01L2224/0554—External layer
- H01L2224/0555—Shape
- H01L2224/05552—Shape in top view
- H01L2224/05553—Shape in top view being rectangular
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85909—Post-treatment of the connector or wire bonding area
- H01L2224/8592—Applying permanent coating, e.g. protective coating
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
【解決手段】所定構造の素子を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した封止構造において、基板10上の接続リード12の高さを、少なくとも1箇所で接続リード12周辺と同一とする。これにより、接続リード12の両側面には段差がなくなっているため、接続リード12に沿う樹脂の流動が生じることはなくなる。その結果、上記個所で機能領域へ向かう液体樹脂の流動が回避されるため、樹脂封止されてはならない部位が樹脂封止される問題が解決される。
【選択図】図1
Description
接合個所はワイヤの形態に限らず、下記特許文献1(特公平4−1301号公報、発明の名称:ガス検出装置)の第2図に示されるバンプ(符号は5)の個所のようなパッケージのインナーリードや表面実装基板とハンダによって接合した個所にも同様に被覆をする場合がある。さらにこの発明は、樹脂の流動が制御できることにより、封止技術分野だけではなく同様の技術課題を持つ多様な(応用)分野へ適用できるものである。
(1)樹脂の粘度を高めて樹脂の広がりを小さくすると、ボンディング接続部分の複雑かつ微細な隙間には充填されにくく、樹脂のボイド(空隙)が形成され、充分な樹脂封止の効果が得られない。立体構造物であるワイヤの周囲を被覆することが困難になる。粘度を低くしないとワイヤ裏側や高密度なワイヤ配置では樹脂を充填することができない。
(2)粘度を高くすると気泡が入りやすく、気泡の熱膨張・収縮量が大きいので、固化中はもちろん固化後も温度変動によりワイヤやチップにひずみが生じやすくなる。
(3)固化のためのキュアによって加熱されるので、粘度が低くなり流動性を増す。樹脂のキュアを行うと樹脂の粘度が低下する。樹脂中の粘度を高めるためのフィラーが添加されていてもフィラー保持される溶剤成分が温度上昇によって溶出してしまうので、樹脂が流動する。
(4)樹脂モールドを行う場合には、樹脂の流動抵抗により電極とワイヤの接続個所や微細ワイヤには負荷が大きく、破壊されやすい。
(5)樹脂の量が多くなってしまうので、薄く樹脂封止できず全体のコンパクト化が困難になる。従って、「ぬれ性」に優れ、低粘度の特性を持つ液体状態の樹脂を用いる必要がある。
下記特許文献4(特開2005−180930号公報、発明の名称:半導体センサ装置及びその製造方法)では、当該発明による効果に関し、以下の説明がなされている。
信号処理用ICチップは半導体センサ上に配置されているようにすれば、半導体センサ装置の平面サイズを小さくすることができる。さらに、少なくとも信号処理用ICチップの周縁部近傍に信号処理用ICチップ、半導体センサチップ間の空間を封止するための封止樹脂が形成されているようにすれば、半導体センサの例えばダイヤフラム部などの可撓部が半導体センサチップ表面に露出している場合に、信号処理用ICチップ及び封止樹脂により可撓部を被って保護することができる。
(1)特許文献5(特許第2880817号公報、発明の名称:半導体集積回路装置)では、空間内への樹脂の侵入防止(技術に、本発明が応用できる)。
(2)特許文献6(特開平5−291319号公報、発明の名称:樹脂封止型半導体装置)では、特許文献5と同じく空間内への封止樹脂の侵入防止。
(3)特許文献7(特開平8−116042号公報、発明の名称:固体撮像装置及びその製造方法)では、固体撮像素子チップの封止枠の気密封止。
(4)特許文献8(特開2000−311959号公報、発明の名称:半導体装置とその製造方法)では、放熱機能向上のために、樹脂封止しない箇所を設ける技術。
(5)特許文献9(特開平8−70061号公報、発明の名称:高周波集積回路、及びその製造方法)では、高周波集積回路の信号減衰回避のための空間封止。
(7)特許文献11(特許第3441082号公報、発明の名称:平面型磁気素子)では、平面コイルの空洞部による線間誘電率の確保。
(8)特許文献12(特開2003−163342号公報、発明の名称:固体撮像素子及びその製造方法)では、受光部気密封止部への樹脂侵入を回避するための技術。
(9)特許文献13(特開2004−111767号公報、発明の名称:半導体素子及び半導体装置)では、空隙を介して半導体基板表面に形成されたFBARなどの素子を覆うように形成されたエアブリッジを備えた半導体素子(薄膜圧電素子)を、エアブリッジが形成する空隙を残して樹脂封止する半導体装置。
(10)特許文献14(特開2005−79671号公報、発明の名称:薄膜圧電素子及び半導体装置)では、薄膜圧電素子をポーラス膜で被覆し、封止樹脂に接触しないようにする。
(12)特許文献16(特開平9−8596号公報、発明の名称:チップ上弾性表面波装置及びその製造方法)では、特許文献15と同じく弾性表面波素子の気密封止。
(13)特許文献17(特開2005−294462号公報、発明の名称:電子部品モジュール及び電子部品の製造方法)では、樹脂の進入を阻止しなければならない可動部のあるMEMS素子。すなわち、MEMS素子の稼動部となる空洞内への封止樹脂の進入を阻止し、これによりMEMS素子の空洞部側の稼動スペースを確保する。
(14)特許文献18(特開平4−29358号公報、発明の名称:半導体装置)では、EPROM透過光窓の固定方法。エポキシ樹脂がガラス版の上まで流れないようにする。
(15)特許文献19(特開2002−162306号公報、発明の名称:圧力センサモジュール)では、圧力センサモジュールのIC部の樹脂封止。すなわち、堰部を設けることで、IC部とROM搭載部とにわたり流し込む液状の樹脂を、半導体圧力センサ部に流れることを防止して、樹脂を無駄なく利用する。
(17)特許文献21(特開2004−296453号公報、発明の名称:固体撮像装置、半導体ウエハ、光学装置用モジュール、固体撮像装置の製造方法及び光学装置用モジュールの製造方法)では、接着部のパターン形成(形状、配置)を高精度に形成し、また複数同時に形成する。
(18)特許文献22(特開2005−286284号公報、発明の名称:機能素子実装モジュール並びに光機能素子実装モジュール及びその製造方法)では、液状の封止樹脂を用いて光機能素子を透明基板に接着する際に、封止樹脂を内側及び外側突堤部に沿って堰き止めて所望の形状の封止樹脂部を配置する。
(19)特許文献23(特許第3074112号公報、発明の名称:半導体装置及びその製造方法)では、半導体レーザ装置の樹脂封止における応力回避。
(20)特許文献24(特開2003−179092号公報、発明の名称:半導体装置及びそれに用いるワイヤボンディング装置)では、端子等が樹脂で被覆されるのを防止する(樹脂封止時のアウターリード側への樹脂漏れを防ぐ)。
(22)特許文献26(特開平10−125851号公報、発明の名称:半導体装置、製造方法並びにそれに用いるリードフレーム)では、特許文献25と同様である。
(23)特許文献27(特開平9−107266号公報、発明の名称:弾性表面波装置及びその製造方法)では、信号処理用ICチップとともに一体樹脂封止する。
(24)特許文献28(特開2005−109221号公報、発明の名称:ウエーハレベルパッケージ及びその製造方法)では、ウエーハレベルパッケージで貼り合せ樹脂を塗布する。
(25)特許文献29(特許第357610号公報、発明の名称:ICパッケージの補強構造)では、集積化・高密度化を図るとともに、封止個所の幅を小さくする。すなわち、ICパッケージの周囲及び上面を覆うとともに、樹脂充填可能な補強フレームを備えることにより、全体が大型化することなくICパッケージをマザーボード側に脱落不能に固定して、衝撃,振動等の機械的負荷による半田付け部の剥離等を簡易かつ確実に防止する。
(26)特許文献30(特許第3547333号公報、発明の名称:電力変換装置)では半導体素子、ボンディングワイヤの上面を樹脂が覆うので、流動性の高い樹脂を用いて一体成形しなければならず、そのため、より精密な構造の金型が必要である。
(27)特許文献31(特開2003−224234号公報、発明の名称:半導体装置)では、高密度集積化のために、均一にかつ薄く樹脂封止する必要がある。
(28)特許文献32(特開2004−282021号公報、発明の名称:ボンディングワイヤ補強装置、補強方法、ボンディング装置、ボンディングワイヤが補強された樹脂モールド半導体装置及び製造装置)では、封止時の樹脂流動に耐えることができるようにワイヤを補強する必要がある樹脂封止技術。
(29)特許文献33(特開2003−69080号公報、発明の名称:光モジュール)では、封止時の樹脂流動に耐えることができるように接着強度(回路基板へのボンディングワイヤの接着強度)を確保する必要がある樹脂封止技術。
(30)特許文献34(特開2005−277354号公報、発明の名称:半導体装置)では、加熱を伴う半導体装置の実装において、封止樹脂や、半導体チップ・基板間の接着剤が吸湿していても、パッケージにクラックが発生しないようにする。
(31)特許文献35(特開2005−260099号公報、発明の名称:半導体デバイスの気密封止構造)では、上記特許文献34と同様である。
(32)特許文献36(特開2001−77133号公報、発明の名称:半導体装置およびその製造方法)では、低粘度レジンで内側封止部を形成することによりレジンを、ボイドが発生することなくポッティングする。また、高粘度レジンで外側封止部を形成することで、ワイヤ群が樹脂封止体の表面に露出するのを防止する。
(33)特許文献37(特許第3392748号公報、発明の名称:半導体光モジュールの製造方法)では、上記特許文献36と同様。
(34)特許文献38(特開2005−217006号公報、発明の名称:真空成形装置および真空成形法)では、毛細管現象による隙間充填作用に基づいて流動性を向上させた圧力充填方法。液状樹脂をボンディングワイヤと基板との隙間へ、毛細管現象により徐々に進入させる。
(35)特許文献39(特開平10−144858号公報、発明の名称:電子部品搭載用基板の製造方法)では、ボイドなく樹脂を封止するべく、封止用樹脂の流動抵抗を増大させるための凸状のモールドリングを設ける。
(36)特許文献40(特開2004−349673号公報、発明の名称:半導体素子モジュール及びその放熱ベース基板)では、大面積封止で生じる応力に対応できるようにする。そのため、ベース基板の両面に半導体素子を配置し、基板両面ともに絶縁性樹脂で封止する構成とする。
液体状態の樹脂は「ぬれ性」が優れ、低粘度の特性を持つ必要がある。一方、素子の基板では、基板上に電極や接続リードなどを形成するにあたり、基板上に電極膜や接続リード膜を積層してパターン形成するために、基板表面に電極から接続リードまで連続した段差を生じている。この基板表面に形成されている段差に液体状態の樹脂が被覆された場合、「ぬれ性」が優れ低粘度の特性を持つため、段差に沿って毛管現象によって流動する。また、高粘度の特性であっても、加熱硬化させる過程において、硬化前に高温度になるため粘度が低くなり、結局は段差に沿って毛管現象によって流動する。結果として、流動が制御しきれず、樹脂封止しない基板の中央部の機能領域に達してしまうので、素子の機能を果たさなくなってしまう。
そこで請求項1の発明の目的は、基板表面に段差が全く形成されていないように構成するか、または段差がっても、この段差を不連続として(その具体例では、段差の長手方向つまり、液体の樹脂が流れようとする方向の途中で部分的に段差をなくして)、樹脂の流動を制御することにより、上記問題点を解決することにある。
請求項1の発明では、樹脂の流動を制御するために段差を不連続にしたが、段差があっても、液体樹脂の流動を止める構造が必要な場合があった。本発明は、この要求を満たすことにある。
請求項3に係る発明の課題:
封止樹脂の高さを請求項1、請求項2よりも更に低くすることにある。
基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の封止条件、寸法や材料と、基板の中央部の機能領域の封止条件、寸法や材料とがそれぞれの個所に最適な値を持つことによって、一律の条件や材料で作るよりも、優れた特性、特徴や新しい機能が得られる。この点に関し従来技術では、液体状態の樹脂の流動範囲を精度良く制御することが困難であるため容易には実現できていなかった。
高密度ワイヤ配置によって電極周辺の樹脂の流動性が阻害され、樹脂封止のボイド(欠陥、空洞)が生じやすくなる。「ぬれ性」に優れ、低粘度の特性を持つ封止樹脂を用いても、さらに高密度なワイヤ接合個所には、圧力注入するとワイヤが細線化されているので注入圧力で変形してしまう。また、基板の所定個所に、部材を樹脂によって接着する場合においても、目的の個所に精度良く形成することによって、微細な素子や部品をつくることができる。このような樹脂が流動する隙間の小さい個所や微細な個所や複雑な個所に、樹脂を充填させる技術が必要であった。この場合、基板上の樹脂を流動させて、樹脂を所定個所に所定寸法で充填させる必要があった。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板上の接続リード部とその周辺部は少なくとも1箇所で段差がないことを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させた素子の樹脂封止構造において、接続リードの下方に空洞を有することを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板の周辺部のみを、基板の周辺部の内側に比べて凹状に形状したことを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止し、かつ中央部の機能領域を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板上の接続リード部とその周辺部は少なくとも1箇所で段差がないことを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止し、かつ中央部の機能領域を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、接続リードに下部の空洞を有することを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、封止個所の基板上に毛細管の樹脂流動誘導路を設けた構造であることを特徴とする素子の樹脂封止構造である。
ワイヤと電極の接合補強ができ、ワイヤも樹脂封止できることにより補強されるとともに、特別のダム部材やダムスペースを付加しなくてもよく、工程も短縮できる。また、機能領域の内容や樹脂封止の目的によって、応用分野への作用効果も含めて、MEMS構造の空洞部への流入防止、基板の未封止部分の形成が高精度にできるため、より基板が小さくでき、機能のばらつきが少なくなった。さらには、樹脂モールド時の流入個所制御の条件が広くなり、高粘度の樹脂の注入時にワイヤに与えられる抵抗圧力が接合強度を越えることによる破壊がなくなった。さらに、高粘度の樹脂を選択する必要が無くなったので、封止個所のボイド(空隙)が少なくなり、樹脂の残留ひずみによるクラックが発生しにくくなった。
請求項1の発明の効果に加え、本発明を特にMEMS構造の素子に適用する場合は、接続リード下部の空洞部(溝)を形成する工程が同時に行われるため、工程を追加する必要がないという効果が得られる。
請求項1の発明の効果に加え、請求項3に係る発明は、下段にワイヤを接続することにより、全体として一段と薄い封止ができるため、ICカード、スマートメディア等の薄い形態や、基板を多数重ねたビルドアップ構造に用いることができる。
請求項1の効果に加え、請求項4および請求項5に係る発明によれば、素子の機能領域の内容や樹脂封止の目的によって、応用分野への作用効果も含めて、それぞれの個所に対応して低粘度、高粘度を使い分けるなど別々に樹脂封止できるため、樹脂モールド時の流入個所制御の条件が広くなった。また、高粘度の樹脂の注入時にワイヤに与えられる抵抗圧力が接合強度を越えることによる破壊がなくなった。
請求項1の発明の効果に加え、請求項6に係る発明によれば、電極周辺の樹脂の流動性が円滑になり、ワイヤ付近の樹脂のボイド(空隙)が生じなくなったため、高密度にワイヤを配置できる。また、高密度なワイヤにより封止個所の縮小化ができる。さらに、ワイヤ高さを充分に低く、ICカードやスマートメディアのような薄く樹脂封止する目的にも適合し、全体のコンパクト化が可能になった。さらに、MEMS構造の素子においては、部材の接着が高精度に確実にできるようになった。
[第1実施形態](請求項1)
図1は、本実施形態に係る樹脂封止構造を示す平面図(基板平面図)である。図2は図1のA−A線断面図、図3は図1のB−B線断面図である。図4は図1の樹脂封止構造の変形例を示す断面図であって、図2に対応するものである。図5は図4に示す樹脂封止構造の別の断面図であって、図3に対応するものである。なお図1では、樹脂封止個所を1箇所で代表記載してある。つまり、他の個所もこの樹脂封止個所と同一構成となっている。
このように本実施形態では、所定構造の素子を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した封止構造において、基板10の接続リード12の高さを、少なくとも1箇所で接続リード12周辺と同一とする。これにより、上記個所で機能領域へ向かう液体樹脂の流動が回避されるため、樹脂封止されてはならない部位が樹脂封止される問題が解決される。
本実施形態は、基板上に接続リード膜を積層してパターン形成した際に生じた段差があっても、液体樹脂の流動を止めることができる構造に係るものである。図6は本実施形態に係る樹脂封止構造を示す平面図(基板平面図)である。図7は図6のC−C線断面図、図8は図6のD−D線断面図である。なお図6では、樹脂封止個所を1箇所で代表記載してある。つまり、他の個所もこの樹脂封止個所と同一構成となっている。
[第3実施形態](請求項3)
上記特許文献4(特開2005−180930号公報)に示すダム材では、ダム材よりも内側の空間に封止樹脂が入り込むのを防止することができるが、ダム材の設置面積が必要であり、かつダム材の製造工程が必要になっている。それに対し、本実施形態では上記ダム材と同様に樹脂の流動を防ぐ高さを有する障壁の役割を果たす上記形状が、基板の形状加工と同一工程内でできるので、新たな部材の追加、位置合わせおよび設置を行うことなく、樹脂が伝わるのを高精度に止めることができる。
[第4実施形態](請求項4)
上記第1実施形態〜第3実施形態に係る素子構造に対し、基板周辺部とそれより内部の領域に樹脂が注入する(前者の樹脂は樹脂15a、後者の樹脂は樹脂15b)ことにより、図18および図19に示す構造を形成することができる。
図22は本実施形態に係る樹脂封止構造を示す平面図(基板平面図)である。なお図22では、樹脂封止個所を1箇所で代表記載してある。つまり、他の個所もこの樹脂封止個所と同一構成となっている。図23は図22のJ−J線断面図である。図24は図22の樹脂封止構造の第1変形例を示す断面図であって、図22に対応するものである。図25は図24のK−K線断面図である。図26は図22の樹脂封止構造の第2変形例を示す断面図であって、図25に対応するものである。
本実施形態によれば、図26に示すように、接着個所が狭小であっても均一かつ薄く液体樹脂を塗布できるので、微細なカバーを確実に接着することができる。
11 機能領域
12 接続リード
13 電極
14 ワイヤ
15,15a,15b 樹脂
16 ボンディング個所
17 電気絶縁層
21 空洞
22 (中央に配置された)上段
23 (周囲に配置された)下段
24 ダイシングライン
25 毛管
26 接着剤
27 段差
28 カバー部材
S 両側面
Claims (6)
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板上の接続リード部とその周辺部は少なくとも1箇所で段差がないことを特徴とする素子の樹脂封止構造。
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、接続リードの下方に空洞を有することを特徴とする素子の樹脂封止構造。
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板の周辺部のみを、基板の周辺部の内側に比べて凹状に形状したことを特徴とする素子の樹脂封止構造。
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止し、かつ中央部の機能領域を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、基板上の接続リード部とその周辺部は少なくとも1箇所で段差がないことを特徴とする素子の樹脂封止構造。
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止し、かつ中央部の機能領域を液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、接続リードに下部の空洞を有することを特徴とする素子の樹脂封止構造。
- 基板に、基板中央部に配された素子の機能領域と、基板周辺部の電極、および機能領域と電極との入出力信号を伝送する接続リードとを配し、かつ基板周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線を接合し、さらに中央部の機能領域を除き、少なくとも周辺部の電極と基板外部との入出力信号を伝送する配線とを接合する個所の周囲のみ、液体の樹脂で被覆し硬化させて封止した素子の樹脂封止構造において、封止個所の基板上に毛細管の樹脂流動誘導路を設けたことを特徴とする素子の樹脂封止構造。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006141268A JP2007311685A (ja) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 素子の樹脂封止構造 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006141268A JP2007311685A (ja) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 素子の樹脂封止構造 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007311685A true JP2007311685A (ja) | 2007-11-29 |
Family
ID=38844244
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006141268A Pending JP2007311685A (ja) | 2006-05-22 | 2006-05-22 | 素子の樹脂封止構造 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007311685A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11127702B2 (en) | 2016-12-20 | 2021-09-21 | Denso Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing same |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07174599A (ja) * | 1991-12-09 | 1995-07-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体センサー装置およびその製造方法 |
JPH0870061A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波集積回路、及びその製造方法 |
-
2006
- 2006-05-22 JP JP2006141268A patent/JP2007311685A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07174599A (ja) * | 1991-12-09 | 1995-07-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体センサー装置およびその製造方法 |
JPH0870061A (ja) * | 1994-08-30 | 1996-03-12 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波集積回路、及びその製造方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11127702B2 (en) | 2016-12-20 | 2021-09-21 | Denso Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing same |
US11699672B2 (en) | 2016-12-20 | 2023-07-11 | Denso Corporation | Semiconductor device and method for manufacturing same |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100636580B1 (ko) | 반도체 가속도 센서 장치 및 그것을 제조하는 방법 | |
JP5965706B2 (ja) | 流量センサの製造方法 | |
JP4609019B2 (ja) | 熱式流量センサ及びその製造方法 | |
JP4577370B2 (ja) | センサ装置およびその製造方法 | |
US20090230487A1 (en) | Semiconductor device, semiconductor device manufacturing method and lid frame | |
JP5125978B2 (ja) | センサ装置 | |
KR20120053022A (ko) | 유량 센서 및 그 제조 방법 그리고 유량 센서 모듈 및 그 제조 방법 | |
JP4281630B2 (ja) | センサ装置の製造方法 | |
US9327457B2 (en) | Electronic device and method for manufacturing electronic device | |
US20090127690A1 (en) | Package and Manufacturing Method for a Microelectronic Component | |
JP5212133B2 (ja) | 流量式センサ | |
US7745916B2 (en) | Module comprising polymer-containing electrical connecting element | |
US20080087095A1 (en) | Package structure of pressure sensor | |
CN105374778A (zh) | 晶片封装体及其制造方法 | |
JP2009031067A (ja) | センサ装置 | |
CN109637982B (zh) | 半导体元件和用于制造半导体元件的方法 | |
GB2432457A (en) | Sensor arrangement and method for fabricating a sensor arrangement | |
TWI583618B (zh) | 微機械系統與製造微機械系統的方法 | |
JP2007311685A (ja) | 素子の樹脂封止構造 | |
JP2010133865A (ja) | 熱式フローセンサの製造方法及び熱式フローセンサ | |
JP2009264741A (ja) | 熱式流量センサの製造方法 | |
US10458826B2 (en) | Mass flow sensor module and method of manufacture | |
JP5820342B2 (ja) | 流量センサおよびその製造方法 | |
JP6012833B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法並びに流量センサおよび湿度センサ | |
KR101708531B1 (ko) | 신뢰성있는 웨이퍼레벨 본딩을 위한 캡 웨이퍼 범프 구조물 및 그 제조 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090310 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110421 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110510 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110708 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120508 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120709 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130326 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130527 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140218 |