JP2007284096A - Electronic device and manufacturing method therefor - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、鉛フリー半田の半田被膜が形成され、梱包材により梱包された電子装置及びその製造方法に関し、特に購入者がウィスカ対策を行う必要がない電子装置及びその製造方法に関するものである。 The present invention relates to an electronic device in which a solder film of lead-free solder is formed and packed with a packing material, and a method for manufacturing the same, and more particularly to an electronic device in which a purchaser does not need to take measures against whiskers and a method for manufacturing the same.
半導体デバイスや抵抗、コンデンサ、ソケット等の電子部品をプリント基板に実装することで電子装置が製造される。例えば、半導体デバイスの場合、チップをパッケージングした後、外部リードをプリント基板に半田実装する。この外部リードの表面には半田被膜が形成されている。 Electronic devices are manufactured by mounting electronic components such as semiconductor devices, resistors, capacitors, and sockets on a printed circuit board. For example, in the case of a semiconductor device, after packaging a chip, external leads are solder-mounted on a printed circuit board. A solder film is formed on the surface of the external lead.
また、近年、環境汚染を防ぐため、半田の鉛フリー化が進められている。しかし、半田被膜として鉛フリー半田を用いると、鉛入りの半田を用いた場合と比較してウィスカが発生し易い傾向がある。一般に、ウィスカの発生原因は内部応力であると言われているが、詳しくはよく判っていない。 In recent years, lead-free solder has been promoted to prevent environmental pollution. However, when lead-free solder is used as the solder coating, whiskers tend to occur more easily than when lead-containing solder is used. In general, it is said that whisker is caused by internal stress, but the details are not well understood.
ウィスカ対策として以下のものが提案されている。
(1)無光沢のメッキ浴を用いる。光沢メッキ浴を用いると、半田被膜内に光沢剤が入り結晶粒の形成が不規則になりウィスカが発生しやすいためである。
(2)下地として鉄系材料を用いる。下地として銅系材料を用いると錫金属間化合物の形成によりウィスカが発生しやすいためである。
(3)半田被膜厚を界面不整合の影響が出にくい8μm以上にする。メッキ厚が薄いと、下地格子と半田被膜の格子が界面で不整合を起こしウィスカが発生しやすいためである。
(4)半田被膜の熱処理を行う。これにより、半田被膜中の圧縮応力が緩和されウィスカが発生しにくい。
The following have been proposed as countermeasures against whiskers.
(1) Use a matte plating bath. This is because when a bright plating bath is used, a brightener is contained in the solder coating and the formation of crystal grains becomes irregular and whiskers are likely to occur.
(2) An iron-based material is used as a base. This is because if a copper-based material is used as the base, whiskers are easily generated due to the formation of a tin intermetallic compound.
(3) The solder film thickness is set to 8 μm or more which is not easily affected by interface mismatch. This is because if the plating thickness is small, the base lattice and the solder coating lattice are mismatched at the interface, and whiskers are likely to occur.
(4) A heat treatment of the solder coating is performed. As a result, the compressive stress in the solder coating is relieved and whiskers are hardly generated.
上記ウィスカ対策を行ってもウィスカが発生するという問題があった。これに対し、発明者は、電子装置を洗浄して半田被膜に付着している汚染物質を除去することで、ウィスカの発生を抑制できることを見出した。これにより、電子装置を洗浄した後に、梱包して販売すれば、購入者はウィスカ対策を行う必要がない。 There was a problem that whiskers were generated even when the above whisker measures were taken. On the other hand, the inventor has found that the occurrence of whiskers can be suppressed by cleaning the electronic device to remove contaminants adhering to the solder coating. Thus, if the electronic device is cleaned and then packed and sold, the purchaser does not need to take measures against whiskers.
しかし、購入者に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」であることを伝えなければ、購入者は不要なウィスカ対策を再び行ってしまう。なお、防湿表示については例えば特許文献1,2に開示されているが、ウィスカ対策済みであることを表示することは提案されていない。 However, if the purchaser is not informed that “cleaned” or “cleaning measures have been taken”, the purchaser again takes unnecessary whisker measures. The moisture-proof display is disclosed in, for example, Patent Documents 1 and 2, but it is not proposed to display that whisker countermeasures have been taken.
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、購入者がウィスカ対策を行う必要がない電子装置及びその製造方法を得るものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to obtain an electronic device that does not require a purchaser to take countermeasures against whiskers and a method for manufacturing the same.
本発明に係る電子装置は、鉛フリー半田の半田被膜が形成され、梱包材により梱包された電子装置であって、電子装置は梱包前に洗浄されており、電子装置又は梱包材にはウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報が表示されている。 An electronic device according to the present invention is an electronic device in which a solder coating of lead-free solder is formed and packed with a packing material, the electronic device is washed before packing, and the electronic device or the packing material has a whisker countermeasure The information regarding “washed” or “cleaning countermeasures completed” is displayed.
また、本発明に係る電子装置の製造方法は、電子装置に鉛フリー半田の半田被膜を形成する成膜工程と、成膜工程の後に電子装置を洗浄する洗浄工程と、洗浄工程の後に電子装置を梱包材により梱包する工程と、電子装置又は梱包材に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する工程とを有する。本発明のその他の特徴は以下に明らかにする。 In addition, a method for manufacturing an electronic device according to the present invention includes a film forming process for forming a solder film of lead-free solder on an electronic device, a cleaning process for cleaning the electronic device after the film forming process, and an electronic device after the cleaning process. And a step of displaying information on “cleaned” or “cleaning countermeasures completed” on the electronic device or the packing material. Other features of the present invention will become apparent below.
本発明により、電子装置を購入した購入者がウィスカ対策を行う必要がない。 According to the present invention, it is not necessary for a purchaser who has purchased an electronic device to take measures against whiskers.
本発明は梱包材により梱包された電子装置及びその製造方法に関するが、ここでは電子装置として半導体デバイスを用いた場合について説明する。 The present invention relates to an electronic device packed with a packing material and a method for manufacturing the same. Here, a case where a semiconductor device is used as the electronic device will be described.
図1は、半導体デバイスの一例を示す一部切り欠き斜視図であり、図2はその断面図である。この半導体デバイス10は、FPP(Flat Plastic Package)またはQFP(Quad Flat Package)とよばれる面実装用パッケージである。
FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing an example of a semiconductor device, and FIG. 2 is a sectional view thereof. The
半導体デバイス10内において、半導体チップ11がAgペースト12を介してアイランド13上に固着されている。また、半導体チップ11上にはAlパッド14が形成されている。そして、リード15の内端にはAgメッキ16が形成されている。リード15の内端とAlパッド14とは金線17によりワイヤボンディングされている。そして、これらの構造体は、モールド樹脂18によってトランスファーモールドされている。
In the
この半導体デバイス10のモールド樹脂18から突出したリード15(外部リード)に、半田被膜19をメッキ法により形成する。ここで、リード15は銅やFe−Niアロイからなり、半田被膜19は、例えばSn−Ag,Sn−Bi,Su−Cu,純Snなどの鉛フリー半田からなる。
A
ここで、半田被膜19に汚染物質が付着していると、短時間で半田被膜19表面の酸化が進み、酸化に伴う体積膨張によって内部応力が発生してウィスカの発生を促すと考えられる。特に、半田被膜19の膜厚が20μm以下の場合、ウィスカの成長が顕著となる。そこで、半導体デバイス10を洗浄して、半田被膜19に付着している汚染物質を除去する。これにより、ウィスカの発生を抑制することができる。
Here, if contaminants adhere to the
汚染物質としては、現時点では明確ではないが、ハロゲン系、イオウ、リン、チッソなどの陰イオンが考えられる。また、洗浄方法としては、水による洗浄、イオン洗浄、化学洗浄、中和などがあるが、特に水による洗浄が有効である。また、電子装置を個片化する前に洗浄を行えば、複数の電子装置を一度に洗浄できるため、製造工程を簡略化できる。 As pollutants, although not clear at present, anions such as halogens, sulfur, phosphorus, and nitrogen are considered. In addition, cleaning methods include water cleaning, ion cleaning, chemical cleaning, and neutralization, but water cleaning is particularly effective. Further, if cleaning is performed before the electronic devices are separated, a plurality of electronic devices can be cleaned at a time, so that the manufacturing process can be simplified.
洗浄後、半導体デバイス10を梱包材により梱包する。ここでは、梱包材として、図3に示すマガジン21と、図4に示す内装箱22と、図5に示す袋体23とを用いる。まず、図6に示すように、マガジン21内に複数の半導体デバイス10を詰め、マガジン21の端部に半導体デバイス10のマガジン外部への突出をおさえるためにストッパー24を装着する。そして、紙製の内装箱22に、マガジン21を収納する。
After cleaning, the
次に、図7に示すように、内装箱22を、袋体23内に入れ、脱気後、当該袋体23の開口部25を熱シールする。そして、袋体23の表面に、ウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する。具体的には、袋体23の表面に、当該情報を印刷するか又は当該情報を記したラベル26を貼着する。また、内装箱22やマガジン21の表面に当該情報を表示してもよく、半導体デバイス10自体に当該情報を表示してもよい。なお、当該情報は、「塩素イオン汚染量:100ng/cm2以下」という具体的数値でもよい。また、文字が表示できない電子装置の本体には、” Clean Components against Whisker”を略して” CCW”マークを表示することもできる。
Next, as shown in FIG. 7, the
これにより、電子装置を購入した購入者にウィスカの発生を防止したことを伝達することができる。従って、電子装置を購入した購入者は、ウィスカの発生を防止していない電子装置と区別でき、改めてウィスカ対策を行う必要がない。よって、商品価値を高めることができ、製造メーカの差別化も可能となる。 Thereby, it can be communicated to the purchaser who has purchased the electronic device that the occurrence of whiskers has been prevented. Therefore, a purchaser who has purchased an electronic device can be distinguished from an electronic device that does not prevent the occurrence of whiskers, and does not need to take another whisker countermeasure. Therefore, the product value can be increased and the manufacturer can be differentiated.
ここで、電子装置又は梱包材に、鉛フリーデバイスであることも表示するのが好ましい。また、電子部品の説明書、カタログ、パンフレット、技術資料、契約書、納入仕様書の何れかに「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を記載し、電子装置と共に梱包材により梱包するのが好ましい。また、放送、インターネットなどの伝達媒体を介して、前記「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を事前に伝達することも可能である。 Here, it is preferable to indicate that the electronic device or the packaging material is a lead-free device. In addition, write information on “washed” or “cleaned” in any of electronic component manuals, catalogs, pamphlets, technical documents, contracts, and delivery specifications, and pack it together with electronic equipment using packing materials. Is preferred. It is also possible to transmit in advance information related to the “cleaned” or “cleaning countermeasures completed” via a transmission medium such as broadcasting or the Internet.
なお、上記実施の形態では、電子装置として半導体デバイスを用いた場合について説明した。しかし、半導体デバイスに限らず、抵抗、コンデンサ等の電子部品、プリント基板(半完成品を含む)、そして電子部品をプリント基板に実装したものなど、鉛フリー半田の半田被膜が形成された他の電子装置にも本発明を適用することができる。 In the above embodiment, the case where a semiconductor device is used as the electronic device has been described. However, not only semiconductor devices, but other electronic components such as resistors and capacitors, printed circuit boards (including semi-finished products), and other electronic components mounted on printed circuit boards have other lead-free solder coatings. The present invention can also be applied to an electronic device.
また、半田被膜としては、メッキにより形成された半田被膜に限らず、コーティングにより形成された半田被膜や、半田実装に用いられた半田など、錫を含有する様々な半田材料が対象となる。 Further, the solder coating is not limited to a solder coating formed by plating, and various solder materials containing tin, such as a solder coating formed by coating and solder used for solder mounting, are targeted.
また、梱包材として、図8に示すトレー31を用いることもできる。トレー31は、帯電防止処理が施された塩化ビニールよりなり、アレー状に並んだ角型のくぼみ32に、半導体デバイス10が載置される。そして、トレー31を積み重ねて、内装箱22に収容した後、袋体23内に気密封入される。また、梱包材として、図9に示すテープ&リール方式を用いることもできる。リール33に巻き付けられたキャリア・テープ34上に粘着テープ35を介して半導体デバイス10が1列に保持されている。そして、リール33に巻き付けられた状態で1リールずつ袋体23内に気密封入される。この場合、トレー31、リール33又はキャリア・テープ34に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する。
Moreover, the
10 半導体デバイス(電子装置)
19 半田被膜
21 マガジン(梱包体)
22 内装箱(梱包体)
23 袋体(梱包体)
26 ラベル
31 トレー(梱包体)
33 リール(梱包体)
34 キャリア・テープ(梱包体)
10 Semiconductor devices (electronic devices)
19
22 Inner box (packaging body)
23 Bag (Packaging)
26
33 reel
34 Carrier tape (packaging body)
Claims (11)
前記電子装置は梱包前に洗浄されており、
前記電子装置又は前記梱包材にはウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報が表示されていることを特徴とする電子装置。 An electronic device in which a solder film of lead-free solder is formed and packed with a packing material,
The electronic device is cleaned before packing,
The electronic apparatus or the packing material is displayed with information on “washed” or “cleaning countermeasure completed” indicating that whisker countermeasures are being implemented.
前記成膜工程の後に前記電子装置を洗浄する洗浄工程と、
前記洗浄工程の後に前記電子装置を梱包材により梱包する工程と、
前記電子装置又は前記梱包材にウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する工程とを有することを特徴とする電子装置の製造方法。 A film forming process for forming a lead-free solder film on the electronic device;
A cleaning step of cleaning the electronic device after the film formation step;
Packing the electronic device with a packing material after the cleaning step;
And a step of displaying information related to “washed” or “cleaning countermeasure completed” indicating that the electronic device or the packing material is subjected to whisker countermeasures.
11. The method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein the film thickness of the solder coating is 20 μm or less in the film forming step.
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