JP2007284096A - Electronic device and manufacturing method therefor - Google Patents

Electronic device and manufacturing method therefor Download PDF

Info

Publication number
JP2007284096A
JP2007284096A JP2006112619A JP2006112619A JP2007284096A JP 2007284096 A JP2007284096 A JP 2007284096A JP 2006112619 A JP2006112619 A JP 2006112619A JP 2006112619 A JP2006112619 A JP 2006112619A JP 2007284096 A JP2007284096 A JP 2007284096A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic device
cleaning
cleaned
lead
solder
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006112619A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Makoto Nakanishi
誠 中西
Masaki Tanaka
政樹 田中
Yutaka Hosokawa
細川  豊
Takashi Miyagawa
高志 宮川
Koji Azamawari
功二 字廻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2006112619A priority Critical patent/JP2007284096A/en
Publication of JP2007284096A publication Critical patent/JP2007284096A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic device that makes it unnecessary for a purchaser to take measure to protect against whiskers, and to provide a manufacturing method for the electronic device. <P>SOLUTION: An electronic device coated with a lead-free solder film is packaged in a packaging material. The electronic device is washed before packaged. Information such as "washed" or "cleaned" is shown on the electronic device or the packaging material. The manufacturing method includes the steps of forming a solder film of a lead-free solder on the electronic device, the step of washing the electronic device after the formation of the film, the step of packaging the electronic device after the process of washing, and the step of displaying information such as "washed" or "cleaned" on the electronic device or the packaging material. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、鉛フリー半田の半田被膜が形成され、梱包材により梱包された電子装置及びその製造方法に関し、特に購入者がウィスカ対策を行う必要がない電子装置及びその製造方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic device in which a solder film of lead-free solder is formed and packed with a packing material, and a method for manufacturing the same, and more particularly to an electronic device in which a purchaser does not need to take measures against whiskers and a method for manufacturing the same.

半導体デバイスや抵抗、コンデンサ、ソケット等の電子部品をプリント基板に実装することで電子装置が製造される。例えば、半導体デバイスの場合、チップをパッケージングした後、外部リードをプリント基板に半田実装する。この外部リードの表面には半田被膜が形成されている。   Electronic devices are manufactured by mounting electronic components such as semiconductor devices, resistors, capacitors, and sockets on a printed circuit board. For example, in the case of a semiconductor device, after packaging a chip, external leads are solder-mounted on a printed circuit board. A solder film is formed on the surface of the external lead.

また、近年、環境汚染を防ぐため、半田の鉛フリー化が進められている。しかし、半田被膜として鉛フリー半田を用いると、鉛入りの半田を用いた場合と比較してウィスカが発生し易い傾向がある。一般に、ウィスカの発生原因は内部応力であると言われているが、詳しくはよく判っていない。   In recent years, lead-free solder has been promoted to prevent environmental pollution. However, when lead-free solder is used as the solder coating, whiskers tend to occur more easily than when lead-containing solder is used. In general, it is said that whisker is caused by internal stress, but the details are not well understood.

ウィスカ対策として以下のものが提案されている。
(1)無光沢のメッキ浴を用いる。光沢メッキ浴を用いると、半田被膜内に光沢剤が入り結晶粒の形成が不規則になりウィスカが発生しやすいためである。
(2)下地として鉄系材料を用いる。下地として銅系材料を用いると錫金属間化合物の形成によりウィスカが発生しやすいためである。
(3)半田被膜厚を界面不整合の影響が出にくい8μm以上にする。メッキ厚が薄いと、下地格子と半田被膜の格子が界面で不整合を起こしウィスカが発生しやすいためである。
(4)半田被膜の熱処理を行う。これにより、半田被膜中の圧縮応力が緩和されウィスカが発生しにくい。
The following have been proposed as countermeasures against whiskers.
(1) Use a matte plating bath. This is because when a bright plating bath is used, a brightener is contained in the solder coating and the formation of crystal grains becomes irregular and whiskers are likely to occur.
(2) An iron-based material is used as a base. This is because if a copper-based material is used as the base, whiskers are easily generated due to the formation of a tin intermetallic compound.
(3) The solder film thickness is set to 8 μm or more which is not easily affected by interface mismatch. This is because if the plating thickness is small, the base lattice and the solder coating lattice are mismatched at the interface, and whiskers are likely to occur.
(4) A heat treatment of the solder coating is performed. As a result, the compressive stress in the solder coating is relieved and whiskers are hardly generated.

特許第3115565号公報Japanese Patent No. 3115565 特許第3187399号公報Japanese Patent No. 3187399

上記ウィスカ対策を行ってもウィスカが発生するという問題があった。これに対し、発明者は、電子装置を洗浄して半田被膜に付着している汚染物質を除去することで、ウィスカの発生を抑制できることを見出した。これにより、電子装置を洗浄した後に、梱包して販売すれば、購入者はウィスカ対策を行う必要がない。   There was a problem that whiskers were generated even when the above whisker measures were taken. On the other hand, the inventor has found that the occurrence of whiskers can be suppressed by cleaning the electronic device to remove contaminants adhering to the solder coating. Thus, if the electronic device is cleaned and then packed and sold, the purchaser does not need to take measures against whiskers.

しかし、購入者に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」であることを伝えなければ、購入者は不要なウィスカ対策を再び行ってしまう。なお、防湿表示については例えば特許文献1,2に開示されているが、ウィスカ対策済みであることを表示することは提案されていない。   However, if the purchaser is not informed that “cleaned” or “cleaning measures have been taken”, the purchaser again takes unnecessary whisker measures. The moisture-proof display is disclosed in, for example, Patent Documents 1 and 2, but it is not proposed to display that whisker countermeasures have been taken.

本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、購入者がウィスカ対策を行う必要がない電子装置及びその製造方法を得るものである。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to obtain an electronic device that does not require a purchaser to take countermeasures against whiskers and a method for manufacturing the same.

本発明に係る電子装置は、鉛フリー半田の半田被膜が形成され、梱包材により梱包された電子装置であって、電子装置は梱包前に洗浄されており、電子装置又は梱包材にはウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報が表示されている。   An electronic device according to the present invention is an electronic device in which a solder coating of lead-free solder is formed and packed with a packing material, the electronic device is washed before packing, and the electronic device or the packing material has a whisker countermeasure The information regarding “washed” or “cleaning countermeasures completed” is displayed.

また、本発明に係る電子装置の製造方法は、電子装置に鉛フリー半田の半田被膜を形成する成膜工程と、成膜工程の後に電子装置を洗浄する洗浄工程と、洗浄工程の後に電子装置を梱包材により梱包する工程と、電子装置又は梱包材に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する工程とを有する。本発明のその他の特徴は以下に明らかにする。   In addition, a method for manufacturing an electronic device according to the present invention includes a film forming process for forming a solder film of lead-free solder on an electronic device, a cleaning process for cleaning the electronic device after the film forming process, and an electronic device after the cleaning process. And a step of displaying information on “cleaned” or “cleaning countermeasures completed” on the electronic device or the packing material. Other features of the present invention will become apparent below.

本発明により、電子装置を購入した購入者がウィスカ対策を行う必要がない。   According to the present invention, it is not necessary for a purchaser who has purchased an electronic device to take measures against whiskers.

本発明は梱包材により梱包された電子装置及びその製造方法に関するが、ここでは電子装置として半導体デバイスを用いた場合について説明する。   The present invention relates to an electronic device packed with a packing material and a method for manufacturing the same. Here, a case where a semiconductor device is used as the electronic device will be described.

図1は、半導体デバイスの一例を示す一部切り欠き斜視図であり、図2はその断面図である。この半導体デバイス10は、FPP(Flat Plastic Package)またはQFP(Quad Flat Package)とよばれる面実装用パッケージである。   FIG. 1 is a partially cutaway perspective view showing an example of a semiconductor device, and FIG. 2 is a sectional view thereof. The semiconductor device 10 is a surface mounting package called FPP (Flat Plastic Package) or QFP (Quad Flat Package).

半導体デバイス10内において、半導体チップ11がAgペースト12を介してアイランド13上に固着されている。また、半導体チップ11上にはAlパッド14が形成されている。そして、リード15の内端にはAgメッキ16が形成されている。リード15の内端とAlパッド14とは金線17によりワイヤボンディングされている。そして、これらの構造体は、モールド樹脂18によってトランスファーモールドされている。   In the semiconductor device 10, the semiconductor chip 11 is fixed on the island 13 via the Ag paste 12. An Al pad 14 is formed on the semiconductor chip 11. An Ag plating 16 is formed on the inner end of the lead 15. The inner end of the lead 15 and the Al pad 14 are wire bonded by a gold wire 17. These structures are transfer molded with a mold resin 18.

この半導体デバイス10のモールド樹脂18から突出したリード15(外部リード)に、半田被膜19をメッキ法により形成する。ここで、リード15は銅やFe−Niアロイからなり、半田被膜19は、例えばSn−Ag,Sn−Bi,Su−Cu,純Snなどの鉛フリー半田からなる。   A solder coating 19 is formed by plating on the leads 15 (external leads) protruding from the mold resin 18 of the semiconductor device 10. Here, the lead 15 is made of copper or Fe—Ni alloy, and the solder coating 19 is made of lead-free solder such as Sn—Ag, Sn—Bi, Su—Cu, or pure Sn.

ここで、半田被膜19に汚染物質が付着していると、短時間で半田被膜19表面の酸化が進み、酸化に伴う体積膨張によって内部応力が発生してウィスカの発生を促すと考えられる。特に、半田被膜19の膜厚が20μm以下の場合、ウィスカの成長が顕著となる。そこで、半導体デバイス10を洗浄して、半田被膜19に付着している汚染物質を除去する。これにより、ウィスカの発生を抑制することができる。   Here, if contaminants adhere to the solder coating 19, it is considered that the oxidation of the surface of the solder coating 19 proceeds in a short time, and internal stress is generated by volume expansion accompanying the oxidation, thereby promoting the generation of whiskers. In particular, when the film thickness of the solder coating 19 is 20 μm or less, whisker growth becomes significant. Therefore, the semiconductor device 10 is washed to remove contaminants attached to the solder coating 19. Thereby, generation | occurrence | production of a whisker can be suppressed.

汚染物質としては、現時点では明確ではないが、ハロゲン系、イオウ、リン、チッソなどの陰イオンが考えられる。また、洗浄方法としては、水による洗浄、イオン洗浄、化学洗浄、中和などがあるが、特に水による洗浄が有効である。また、電子装置を個片化する前に洗浄を行えば、複数の電子装置を一度に洗浄できるため、製造工程を簡略化できる。   As pollutants, although not clear at present, anions such as halogens, sulfur, phosphorus, and nitrogen are considered. In addition, cleaning methods include water cleaning, ion cleaning, chemical cleaning, and neutralization, but water cleaning is particularly effective. Further, if cleaning is performed before the electronic devices are separated, a plurality of electronic devices can be cleaned at a time, so that the manufacturing process can be simplified.

洗浄後、半導体デバイス10を梱包材により梱包する。ここでは、梱包材として、図3に示すマガジン21と、図4に示す内装箱22と、図5に示す袋体23とを用いる。まず、図6に示すように、マガジン21内に複数の半導体デバイス10を詰め、マガジン21の端部に半導体デバイス10のマガジン外部への突出をおさえるためにストッパー24を装着する。そして、紙製の内装箱22に、マガジン21を収納する。   After cleaning, the semiconductor device 10 is packed with a packing material. Here, the magazine 21 shown in FIG. 3, the interior box 22 shown in FIG. 4, and the bag body 23 shown in FIG. 5 are used as packing materials. First, as shown in FIG. 6, a plurality of semiconductor devices 10 are packed in a magazine 21, and a stopper 24 is attached to the end of the magazine 21 in order to prevent the semiconductor device 10 from protruding outside the magazine. Then, the magazine 21 is stored in a paper-made interior box 22.

次に、図7に示すように、内装箱22を、袋体23内に入れ、脱気後、当該袋体23の開口部25を熱シールする。そして、袋体23の表面に、ウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する。具体的には、袋体23の表面に、当該情報を印刷するか又は当該情報を記したラベル26を貼着する。また、内装箱22やマガジン21の表面に当該情報を表示してもよく、半導体デバイス10自体に当該情報を表示してもよい。なお、当該情報は、「塩素イオン汚染量:100ng/cm以下」という具体的数値でもよい。また、文字が表示できない電子装置の本体には、” Clean Components against Whisker”を略して” CCW”マークを表示することもできる。 Next, as shown in FIG. 7, the interior box 22 is placed in the bag body 23, and after deaeration, the opening 25 of the bag body 23 is heat-sealed. And the information regarding "washing completed" or "cleaning countermeasure completed" of implementing the whisker countermeasure is displayed on the surface of the bag body 23. Specifically, the information is printed on the surface of the bag body 23 or a label 26 on which the information is written is attached. Further, the information may be displayed on the surface of the interior box 22 or the magazine 21, or the information may be displayed on the semiconductor device 10 itself. The information may be a specific numerical value of “chlorine ion contamination amount: 100 ng / cm 2 or less”. In addition, “CCW” mark can be displayed on the main body of an electronic device that cannot display characters by abbreviating “Clean Components against Whisker”.

これにより、電子装置を購入した購入者にウィスカの発生を防止したことを伝達することができる。従って、電子装置を購入した購入者は、ウィスカの発生を防止していない電子装置と区別でき、改めてウィスカ対策を行う必要がない。よって、商品価値を高めることができ、製造メーカの差別化も可能となる。   Thereby, it can be communicated to the purchaser who has purchased the electronic device that the occurrence of whiskers has been prevented. Therefore, a purchaser who has purchased an electronic device can be distinguished from an electronic device that does not prevent the occurrence of whiskers, and does not need to take another whisker countermeasure. Therefore, the product value can be increased and the manufacturer can be differentiated.

ここで、電子装置又は梱包材に、鉛フリーデバイスであることも表示するのが好ましい。また、電子部品の説明書、カタログ、パンフレット、技術資料、契約書、納入仕様書の何れかに「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を記載し、電子装置と共に梱包材により梱包するのが好ましい。また、放送、インターネットなどの伝達媒体を介して、前記「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を事前に伝達することも可能である。   Here, it is preferable to indicate that the electronic device or the packaging material is a lead-free device. In addition, write information on “washed” or “cleaned” in any of electronic component manuals, catalogs, pamphlets, technical documents, contracts, and delivery specifications, and pack it together with electronic equipment using packing materials. Is preferred. It is also possible to transmit in advance information related to the “cleaned” or “cleaning countermeasures completed” via a transmission medium such as broadcasting or the Internet.

なお、上記実施の形態では、電子装置として半導体デバイスを用いた場合について説明した。しかし、半導体デバイスに限らず、抵抗、コンデンサ等の電子部品、プリント基板(半完成品を含む)、そして電子部品をプリント基板に実装したものなど、鉛フリー半田の半田被膜が形成された他の電子装置にも本発明を適用することができる。   In the above embodiment, the case where a semiconductor device is used as the electronic device has been described. However, not only semiconductor devices, but other electronic components such as resistors and capacitors, printed circuit boards (including semi-finished products), and other electronic components mounted on printed circuit boards have other lead-free solder coatings. The present invention can also be applied to an electronic device.

また、半田被膜としては、メッキにより形成された半田被膜に限らず、コーティングにより形成された半田被膜や、半田実装に用いられた半田など、錫を含有する様々な半田材料が対象となる。   Further, the solder coating is not limited to a solder coating formed by plating, and various solder materials containing tin, such as a solder coating formed by coating and solder used for solder mounting, are targeted.

また、梱包材として、図8に示すトレー31を用いることもできる。トレー31は、帯電防止処理が施された塩化ビニールよりなり、アレー状に並んだ角型のくぼみ32に、半導体デバイス10が載置される。そして、トレー31を積み重ねて、内装箱22に収容した後、袋体23内に気密封入される。また、梱包材として、図9に示すテープ&リール方式を用いることもできる。リール33に巻き付けられたキャリア・テープ34上に粘着テープ35を介して半導体デバイス10が1列に保持されている。そして、リール33に巻き付けられた状態で1リールずつ袋体23内に気密封入される。この場合、トレー31、リール33又はキャリア・テープ34に「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する。   Moreover, the tray 31 shown in FIG. 8 can also be used as a packing material. The tray 31 is made of vinyl chloride that has been subjected to antistatic treatment, and the semiconductor device 10 is placed in a rectangular recess 32 that is arranged in an array. The trays 31 are stacked and accommodated in the interior box 22, and then hermetically sealed in the bag body 23. Further, as a packing material, a tape and reel system shown in FIG. 9 can be used. The semiconductor devices 10 are held in a row via an adhesive tape 35 on a carrier tape 34 wound around a reel 33. The reels 33 are hermetically sealed into the bag body 23 one reel at a time. In this case, information regarding “washed” or “cleaning countermeasures completed” is displayed on the tray 31, the reel 33, or the carrier tape 34.

半導体デバイスの一例を示す一部切り欠き斜視図である。It is a partially cutaway perspective view showing an example of a semiconductor device. 半導体デバイスの一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of a semiconductor device. マガジンを示す斜視図である。It is a perspective view which shows a magazine. 内装箱を示す斜視図である。It is a perspective view which shows an interior box. 袋体を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a bag body. マガジン内に半導体デバイスを詰めた状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which packed the semiconductor device in the magazine. 本発明の実施の形態に係る電子装置を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the electronic device which concerns on embodiment of this invention. トレーを示す斜視図である。It is a perspective view which shows a tray. テープ&リール方式を示す斜視図である。It is a perspective view which shows a tape & reel system.

符号の説明Explanation of symbols

10 半導体デバイス(電子装置)
19 半田被膜
21 マガジン(梱包体)
22 内装箱(梱包体)
23 袋体(梱包体)
26 ラベル
31 トレー(梱包体)
33 リール(梱包体)
34 キャリア・テープ(梱包体)




10 Semiconductor devices (electronic devices)
19 Solder coating 21 Magazine (packaging body)
22 Inner box (packaging body)
23 Bag (Packaging)
26 Label 31 Tray (Packaging body)
33 reel
34 Carrier tape (packaging body)




Claims (11)

鉛フリー半田の半田被膜が形成され、梱包材により梱包された電子装置であって、
前記電子装置は梱包前に洗浄されており、
前記電子装置又は前記梱包材にはウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報が表示されていることを特徴とする電子装置。
An electronic device in which a solder film of lead-free solder is formed and packed with a packing material,
The electronic device is cleaned before packing,
The electronic apparatus or the packing material is displayed with information on “washed” or “cleaning countermeasure completed” indicating that whisker countermeasures are being implemented.
前記電子装置又は前記梱包材には、鉛フリーデバイスであることも表示されていることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。   The electronic device according to claim 1, wherein the electronic device or the packing material also indicates that it is a lead-free device. 前記「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報が記載された電子部品の説明書、カタログ、パンフレット、技術資料、契約書、または納入仕様書を更に有することを特徴とする請求項1又は2に記載の電子装置。   The electronic component manual, catalog, pamphlet, technical data, contract, or delivery specification in which information on the “cleaned” or “cleaning countermeasures” is described is further provided. 3. The electronic device according to 2. 前記電子装置は梱包前に水で洗浄されていることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の電子装置。   The electronic device according to claim 1, wherein the electronic device is washed with water before packaging. 前記半田被膜の膜厚は20μm以下であることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の電子装置。   5. The electronic device according to claim 1, wherein the solder film has a thickness of 20 μm or less. 電子装置に鉛フリー半田の半田被膜を形成する成膜工程と、
前記成膜工程の後に前記電子装置を洗浄する洗浄工程と、
前記洗浄工程の後に前記電子装置を梱包材により梱包する工程と、
前記電子装置又は前記梱包材にウィスカ対策を実施していることの「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を表示する工程とを有することを特徴とする電子装置の製造方法。
A film forming process for forming a lead-free solder film on the electronic device;
A cleaning step of cleaning the electronic device after the film formation step;
Packing the electronic device with a packing material after the cleaning step;
And a step of displaying information related to “washed” or “cleaning countermeasure completed” indicating that the electronic device or the packing material is subjected to whisker countermeasures.
前記電子装置又は前記梱包材に、鉛フリーデバイスであることを表示する工程を更に有することを特徴とする請求項6に記載の電子装置の製造方法。   The method of manufacturing an electronic device according to claim 6, further comprising a step of displaying on the electronic device or the packaging material that the device is a lead-free device. 電子部品の説明書、カタログ、パンフレット、技術資料、契約書、または納入仕様書に前記「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を記載し、前記電子装置と共に前記梱包材により梱包し、もしくは、放送、インターネットなどの伝達媒体を介して、前記「洗浄済み」又は「クリーン化対策済み」に関する情報を伝達する工程を更に有することを特徴とする請求項6又は7に記載の電子装置の製造方法。   Describe information on the “cleaned” or “cleaned” in electronic manuals, catalogs, pamphlets, technical documents, contracts, or delivery specifications, and pack it with the packing material together with the electronic device, The electronic device according to claim 6, further comprising a step of transmitting information related to the “cleaned” or “cleaning countermeasure completed” via a transmission medium such as broadcast or the Internet. Production method. 前記洗浄工程において、前記電子装置を水で洗浄することを特徴とする請求項6〜8の何れか1項に記載の電子装置の製造方法。   The method for manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein in the cleaning step, the electronic device is cleaned with water. 前記洗浄工程は、前記電子装置を個片化する前に行うことを特徴とする請求項6〜9の何れか1項に記載の電子装置の製造方法。   The method for manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein the cleaning step is performed before the electronic device is singulated. 前記成膜工程において、前記半田被膜の膜厚を20μm以下にすることを特徴とする請求項6〜10の何れか1項に記載の電子装置の製造方法。


11. The method of manufacturing an electronic device according to claim 6, wherein the film thickness of the solder coating is 20 μm or less in the film forming step.


JP2006112619A 2006-04-14 2006-04-14 Electronic device and manufacturing method therefor Pending JP2007284096A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006112619A JP2007284096A (en) 2006-04-14 2006-04-14 Electronic device and manufacturing method therefor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006112619A JP2007284096A (en) 2006-04-14 2006-04-14 Electronic device and manufacturing method therefor

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007284096A true JP2007284096A (en) 2007-11-01

Family

ID=38756241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006112619A Pending JP2007284096A (en) 2006-04-14 2006-04-14 Electronic device and manufacturing method therefor

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007284096A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10431560B2 (en) Molded semiconductor package having an optical inspection feature
KR960015106B1 (en) Surface package type semiconductor package
KR101177329B1 (en) Structure for packing semiconductor device, method for packing semiconductor device, and embossed tape
TW302529B (en) The semiconductor device &amp; its manufacturing method
TW411538B (en) Semiconductor device, method of fabricating the same, and electronic apparatus
JP2005537663A (en) A package semiconductor comprising a coated lead, and a packaging method.
JPS59161851A (en) Electronic component parts
JP2007284096A (en) Electronic device and manufacturing method therefor
TWI302023B (en) Adhesive film for semiconductor
JPS62276855A (en) Electronic device protective tool and mounting method for electronic device by using the same
TW395036B (en) Carrier tape and manufacturing method of carrier tape
JP2005193935A (en) Electronic component packing method and electronic component mounting method
US4720741A (en) Antistatic and antitack coating for circuit devices
JP2596542B2 (en) Lead frame and semiconductor device using the same
JPH06255673A (en) Carrier tape for containing electronic component
JP3115566B2 (en) Manufacturing method of surface mount type semiconductor package package
JPS60161693A (en) Printed board
CN113556885A (en) Welding process based on anti-oxidation protection
JPH11263387A (en) Electronic parts packaging apparatus
KR100216988B1 (en) Power module
CN111128764A (en) Conformal shielding method
TW476164B (en) Manufacture method of diode
JPS5947749A (en) Resin package type semiconductor device
JPH01187846A (en) Semiconductor device
JP3765709B2 (en) Manufacturing method of plated metal plates and strips for heat sinks of electronic parts