JP2007250017A - 欠陥検出装置、光ディスク装置及び欠陥検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を高める。
【解決手段】欠陥検出装置１は、入力されたＲＦ信号のピークレベルを検出したピークホールド信号Ｓ１のボトムレベルを検出して得られるボトムホールド信号Ｓ２と、電圧閾値Ｖｔｈとを比較回路１２において比較し、欠陥検出信号を出力する。また、ピークホールド信号Ｓ１の信号レベルの減衰速度よりボトムホールド信号Ｓ２の信号レベルの減衰速度が小さくなるよう、信号Ｓ１を生成する高速ピークホールド回路１０及び信号Ｓ２を生成する低速ボトムホールド回路１１の減衰特性が決定されている。
【選択図】図１

Description

本発明は、レーザ光を用いて情報再生及び情報記録の少なくとも一方を行う光ディスク装置等の情報記録再生装置において使用され、光ディスク等の情報記録媒体から再生された信号を用いて情報記録媒体の欠陥を検出する欠陥検出装置に関する。

光ディスク装置は、レーザ光を光ディスクに照射し、光ディスクによる反射光の変化を検出することで光ディスクに記憶された情報の再生を行う。光ディスク装置には、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＯＭ等の再生専用型の光ディスクから情報の再生のみを行う装置、及び、ＣＤ−Ｒ、ＤＶＤ−Ｒ等の追記型の光ディスクやＣＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ等の書き換え可能型の光ディスクに対して情報記録及び情報再生を行う装置がある。

光ディスクに対する情報記録又は光ディスクからの情報再生を行う際には、トラッキングサーボ制御、フォーカスサーボ制御、スピンドルサーボ制御及びスレッドサーボ制御が行われる。トラッキングサーボ制御とは、光ディスクからの反射光を用いて光スポット中心と光ディスクのグルーブ中心との位置ずれを検出し、この位置すれを補正するよう駆動部を制御することにより、光ディスク上のグルーブ中心に光スポットの中心を維持する制御である。また、フォーカスサーボ制御は、光ディスクからの反射光を用いてレーザ光を集光する対物レンズの焦点位置のずれを検出し、この焦点ずれを補正するよう駆動部を制御することによって、光ディスクの上下ぶれに追随して、レーザ光を集光する対物レンズの焦点位置を光ディスクの面上に維持する制御である。スピンドルサーボ制御は、再生ＲＦ信号のデータレート、ウォブル周波数を一定とするようにスピンドル回転数を制御するものである。また、スレッドサーボ制御は、トラッキングエラー信号のＤＣ成分に追従し、レンズ傾きの抑制、長距離シークをするための制御である。

光ディスクには、光ディスク面へのゴミ又は指紋の付着や光ディスク面の傷等の欠陥領域が存在する場合がある。このような欠陥領域では光ディスクから正確な反射光を得られず、上述したサーボ制御を正常に行うことができない。このため、光ディスクによって反射された反射光の変化によって光ディスクの欠陥領域を検出し、欠陥領域中ではサーボ制御を欠陥領域前の状態に固定する等の対処を行って、サーボ制御の不具合を防止することが従来から行われている。また、光ディスクの欠陥領域を検出する装置及び方法は、例えば、特許文献１及び２に開示されている。

特許文献１には、光ディスクから再生したＲＦ信号の信号振幅に対する閾値判定を行って欠陥を検出する欠陥検出装置が開示されている。具体的には、ＲＦ信号のトップピークレベルが所定の閾値を下回る領域を欠陥領域と判定し、欠陥領域にあるときはＲＦ信号を増幅する可変利得増幅器（ＶＧＡ）のゲインを抑制する。これにより、欠陥領域脱出後の過増幅による再生信号レベルの変動に起因するトラッキングサーボ制御の不具合を防止するものである。

特許文献２には、３ビーム法での副ビーム（±１次回折光）のトップピークレベルに対する閾値判定を行うことにより欠陥領域を検出する光ディスク装置が開示されている。

また、ＲＦ信号等の再生信号のトップピークレベルに対して直接的に閾値判定を行う欠陥検出方法だけでなく、ＲＦ信号のトップピークレベルとＲＦ信号のボトムピークレベルとの差分に対する閾値判定を行うもの、減衰速度の異なる２つのピークホールド回路によってＲＦ信号のトップピークレベルをホールドすることにより２つのピークホールド信号を生成し、これら２つのピークホールド信号の差分に対する閾値判定を行う方法も行われている。
特開２００５−１６６１５１号公報 特開２００４−１４６０１３号公報

光ディスク表面への指紋の付着による欠陥は、光ディスク面の傷等の他の欠陥に比べて、再生信号の振幅の減衰量が小さく、また、欠陥領域内での反射率の変動があるために信号振幅の減衰量が一様でないという特徴がある。このような欠陥が存在する場合に、特許文献１及び２に開示されているような再生信号のトップピークレベル対する閾値判定、又は再生信号のトップピークレベルと他の信号との差分に対する閾値判定によって欠陥の検出を行うと、欠陥領域中での反射率のムラによって再生信号のトップピークレベルが変動することにより、再生信号のトップピークレベルが欠陥領域脱出判定の閾値を超過し、これによって欠陥領域脱出と誤判定してしまう可能性がある。

このように、従来の欠陥検出装置及び欠陥検出方法には、指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥を正しく検出できないという問題がある。

本発明にかかる欠陥検出装置は、情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出装置である。具体的には、前記再生信号のピークレベルを検出した第１のピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られる第１のボトムホールド信号の信号レベルの変動に基づいて欠陥領域を検出するものであり、かつ、前記第１のピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記第１のボトムホールド信号の減衰速度が小さいことを特徴とする。

ここで再生信号とは、例えば、光ディスクから再生されるＲＦ信号やウォブル信号等である。再生信号のピークレベルをホールドした信号（第１のピークホールド信号）をさらにボトムホールドして得られる信号（第１のボトムホールド信号）は、第１のピークホールド信号の微小な振幅変動を抑制したものとなる。したがって、第１のボトムホールド信号を用いて欠陥領域を判定することにより、欠陥領域内における再生信号や第１のピークホールド信号の微小な振幅変動に起因する欠陥領域脱出の誤検出を抑制することができる。これにより、指紋付着等の信号振幅の減衰量が比較的小さく、欠陥領域内で振幅レベルが変動する特性を有する欠陥の検出精度を向上することができる。

本発明にかかる光ディスク装置は、上述した本発明にかかる欠陥検出装置を備え、当該欠陥検出装置によって、光ディスクの欠陥領域を検出するものである。上述したように、本発明にかかる欠陥検出装置を用いることで、欠陥領域の検出精度を向上することができる。このため、本発明にかかる欠陥検出装置が出力する欠陥検出信号を用いてトラッキングサーボ制御を行うことで、サーボ制御の安定性を向上させることができる。なお、さらに、本発明にかかる欠陥検出装置による欠陥検出結果に基づいて、光ディスクから再生されたＲＦ信号を増幅するＡＧＣ増幅部の利得制御等を行うこととしてもよい。

本発明により、欠陥の検出精度の高い欠陥検出装置及び欠陥検出方法、並びにこれらの欠陥検出装置又は欠陥検出方法を用いてサーボ制御の安定性を向上させた光ディスク装置を提供することができる。

以下では、本発明を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図面において、同一要素には同一の符号が付されており、説明の明確化のため、必要に応じて重複説明は省略する。

発明の実施の形態１．
本実施の形態にかかる欠陥検出装置１の構成を図１に示す。欠陥検出装置１は、光ディスクから再生されたＲＦ信号を入力し、入力されたＲＦ信号を用いて光ディスクの欠陥を検出し、欠陥検出信号を外部に出力する。

図１において、高速ピークホールド回路１０は、入力されたＲＦ信号のトップピークレベルを検出して、ピークホールド信号Ｓ１を出力する。このように、高速ピークホールド回路１０は、入力されたＲＦ信号のトップピークレベルのエンベロープを検出する回路である。なお、高速ピークホールド回路１０は、入力されたＲＦ信号の高周波重畳成分を取り除いた上で、十分に早い時間で欠陥突入を検出できる程度のピークレベルへの追随性を有し、かつ、出力信号Ｓ１の減衰速度が後述する低速ボトムホールド回路１１の出力信号Ｓ２の減衰速度に比べて大きいという減衰特性を有する。

低速ボトムホールド回路１１は、高速ピークホールド回路１０の出力信号Ｓ１を入力し、入力された信号Ｓ１のボトムピークレベルを検出して、ボトムホールド信号Ｓ２を出力する。なお、上述したように、低速ボトムホールド回路１１の出力信号Ｓ２の減衰速度は、高速ピークホールド回路１０の出力信号Ｓ１の減衰速度より小さいという減衰特性を有する。

比較回路１２は、低速ボトムホールド回路１２の出力信号Ｓ２と、電圧閾値Ｖｔｈとを比較し、信号Ｓ２の値が電圧閾値Ｖｔｈ以下となる場合に光ディスクの欠陥領域であることを示す欠陥検出信号を出力する。つまり、電圧閾値Ｖｔｈは、欠陥領域への突入及び脱出を判定するための基準値である。

Ｄ／Ａコンバータ（ＤＡＣ）１３は、比較回路１２に対して電圧閾値Ｖｔｈを出力する。Ｄ／Ａコンバータ（ＤＡＣ）１３の入力デジタル値を変更することで、電圧閾値Ｖｔｈを変更可能である。

上述したＲＦ信号、信号Ｓ１、信号Ｓ２及び欠陥検出信号の関係を図２の波形図を用いて説明する。図２の最上段に示す波形は、光ディスクから再生されたＲＦ信号の一例である。図２のＲＦ信号における信号振幅の減少した領域は、指紋の付着等による欠陥領域を示している。

図２のＲＦ信号を高速ピークホールド回路１０に入力することによって得られる信号Ｓ１の波形は、図２の上から２段目の波形のようになる。さらに、図２の信号Ｓ１を低速ボトムホールド回路１１に入力することによって得られる信号Ｓ２の波形は、図２の上から３段目の波形のようになる。

図２に示すように、低速ボトムホールド回路１１の出力信号Ｓ２は、ＲＦ信号のトップピークレベルのエンベロープを示す信号Ｓ１の微小な振幅変動を抑制したものとなる。より詳細に述べると、信号Ｓ１の値が減少する際には、信号Ｓ２は信号Ｓ１に速やかに追随する。一方、信号Ｓ１の値が増加する際には、信号Ｓ２は信号Ｓ１に追随することなく、低速ボトムホールド回路１１の減衰特性によって定まる速度で増加する。つまり、ＲＦ信号のピークホールド後にさらにボトムホールドを行うことにより、ＲＦ信号のピークレベル上昇時の波形変化を鈍化させることができる。このような信号Ｓ２を、図２の電圧閾値Ｖｔｈと比較すれば、欠陥領域内で信号Ｓ２の値が閾値Ｖｔｈを越えることはなく、欠陥検出装置１が出力する欠陥検出信号の波形は図２の最下段に示すようになる。欠陥検出信号のＨｉｇｈレベルは欠陥領域を示し、Ｌｏｗレベルは欠陥領域でないことを示す。

上述したように、光ディスク表面への指紋の付着による欠陥は、光ディスク面の傷等の他の欠陥に比べて、再生信号の振幅の減衰量が小さく、また、欠陥領域内での反射率の変動があるために信号振幅の減衰量が一様でないという特徴がある。このような欠陥に対して、従来の欠陥検出装置は、ＲＦ信号のトップエンベロープ信号である信号Ｓ１を電圧閾値Ｖｔｈと比較することにより、欠陥領域の検出を行っていた。図２に示す信号Ｓ１の値を電圧閾値Ｖｔｈと比較して得られる従来の欠陥検出信号の波形を図９に示す。このように、従来の欠陥検出方法では、欠陥領域内においてＲＦ信号の振幅変動があると、信号Ｓ１の値が電圧閾値Ｖｔｈを超過し、欠陥領域内であるにも関わらず欠陥でないと誤判定する場合がある。

これに対して、本実施の形態にかかる欠陥検出装置１は、ＲＦ信号のトップピークをホールドした信号Ｓ１をさらにボトムホールドして得られる信号Ｓ２を用いて、欠陥領域を検出している。このため、欠陥領域内におけるＲＦ信号の微小な振幅変動に起因する欠陥領域脱出の誤検出を抑制することができる。

このように誤検出を抑制できることによって、従来は欠陥領域として検出することが困難であったＲＦ信号の信号振幅の減少が小さい欠陥の検出が可能となる。このため、欠陥検出装置１を用いることにより、電圧閾値Ｖｔｈを従来に比べて高く設定して欠陥検出を行うことが可能となり、小さな欠陥に対する検出感度を向上させることができる。さらに、電圧閾値Ｖｔｈを従来に比べて高く設定できることによって、欠陥領域への突入判定の応答性を向上できる。このため、欠陥検出装置１が出力する欠陥検出信号を用いて光ディスク装置のトラッキングサーボ制御や、ＲＦ信号を増幅する増幅回路の利得制御を行うことにより、サーボ制御の安定性を向上させることができる。

なお、欠陥検出装置１では、ボトムホールド後の信号Ｓ２に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定するため、信号Ｓ１に対する閾値判定によって欠陥領域の脱出を判定する場合に比べて、欠陥領域脱出の判定タイミングが遅くなるという性質がある。しかしながら、欠陥領域突入時はトラッキングサーボ制御、ＲＦ信号増幅時の利得制御といったサーボ制御を速やかにホールドするために高速応答が要求されるのに対して、欠陥領域脱出の判定に対する高速応答の要求は大きくない。欠陥領域と判定している間は、サーボ制御がホールドされているため、欠陥回復判定が遅れることによるサーボ制御への影響は小さいためである。

本実施の形態にかかる欠陥検出装置１の具体的な構成例を図３に示す。図３は、アナログ回路による構成例を示している。図３のピークホールド回路１０は、入力電圧（ＲＦ信号）に対するコンパレータとして動作するオペアンプ１０１、コンデンサＣ１の充放電を制御するスイッチとして動作するＮＰＮ型トランジスタ１０２、コンデンサＣ１の放電速度を決定する抵抗Ｒ１、及びインピーダンス変換を行うボルテージフォロワとして動作するオペアンプ１０３により構成されている。オペアンプ１０３からオペアンプ１０１へのネガティブフィードバックによって、コンデンサＣ１が入力電圧（ＲＦ信号レベル）まで充電されたことを検出すると、コンデンサＣ１の充電が停止される。ＲＦ信号のトップピークレベル上昇時は、コンデンサＣ１を充電することでオペアンプ１０３からの出力レベルがピークレベルの変化に追従する。また、ＲＦ信号のトップピークレベル下降時は、コンデンサＣ１の放電による電圧降下によってピークレベルの変化に追従することとなる。

また、図３のボトムホールド回路１１は、入力電圧（信号Ｓ１）に対するコンパレータとして動作するオペアンプ１１１、コンデンサＣ２の充放電を制御するスイッチとして動作するＰＮＰ型トランジスタ１１２、コンデンサＣ２の放電速度を決定する抵抗Ｒ２、及びインピーダンス変換を行うボルテージフォロワとして動作するオペアンプ１１３により構成されている。入力信号Ｓ１のレベル下降時は、ＰＮＰトランジスタ１１２がＯＮとなり、コンデンサＣ２が充電されるので、オペアンプ１１３からの出力レベルが入力信号Ｓ１の変化に追従する。また、入力信号Ｓ１のレベル上昇時は、コンデンサＣ２が放電することでオペアンプ１１３からの出力レベルが漸増する。

図３の比較回路１２は、オペアンプ１２１を用いて構成されている。なお、閾値電圧Ｖｔｈを与えるＤＡＣ１３の記載は省略している。

図３の構成では、高速ピークホールド回路１０の減衰時定数Ｃ１×Ｒ１と、低速ボトムホールド回路１１の減衰時定数Ｃ２×Ｒ２とを、Ｃ１×Ｒ１＜Ｃ２×Ｒ２の関係式が成立するよう決定する。なお、図３の構成は一例であり、欠陥検出装置１は他の回路構成によっても実現できること、またデジタル回路によっても実現できることは勿論である。

次に、本実施の形態にかかる欠陥検出装置１を用いた光ディスク装置の構成例を図４に示す。図４の光ディスク装置１００は、光ディスク４０に対する記録及び再生を行うものである。スピンドルモータ（ＳＰＭ）４１は、光ディスク４０を所定の速度で回転駆動するモータである。光学ヘッド４２は、光ディスク４０の記録面に対してレーザ光を照射するレーザ光源、レーザ光を光ディスク４０の記録面に集光させる対物レンズ、光ディスク４０の記録面によって反射されたレーザ光を受光し、主信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）及び補助信号（Ｅ，Ｆ）を出力する６分割光検出器、並びにトラッキングエラー及びフォーカスエラーを補正するためのファインアクチュエータ等を備える。

駆動部４３は、サーボ制御部４４からの制御信号に応じて、ＳＰＭ４１の駆動、光学ヘッド４２を光ディスク４０の径方向に移動させるコースアクチュエータの駆動、及びファインアクチュエータの駆動を行う。

サーボ制御部４４は、光学ヘッド４２から出力される主信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）及び補助信号（Ｅ，Ｆ）を用いてトラッキングエラー及びフォーカスエラーを検出し、これらを補正するようファインアクチュエータを動作させるための制御信号を生成して、駆動部４３に出力する。

ＡＧＣ増幅部は、自動利得制御（ＡＧＣ）機能を備える増幅器であり、光学ヘッド４２から出力される主信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）を加算して得られるＲＦ信号を所定レベルまで増幅して出力する。

信号処理部４６は、光ディスク４０から読み出されたＲＦ信号に対する同期化、復調、復号処理を行い、復号後のデータを外部ホストとのインタフェースに出力する。また、光ディスク４０に記録するデータを外部ホストから入力し、符号化及び変調後に記録パルスとしてレーザ駆動部４７に出力される。

レーザ駆動部４７は、光ディスク４０の書き込み位置に応じたパワー設定値で光ヘッド４２が備えるレーザ光源を駆動する。

光ディスク装置１００が備える欠陥検出装置１は、光学ヘッド４２から出力される主信号（Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）を加算して得られるＲＦ信号を入力して、上述した欠陥領域の検出動作を行う。欠陥検出装置１が欠陥を検出した場合は、欠陥検出信号（図４のＤＥＦ信号）がサーボ制御部４４及びＡＧＣ増幅部４５に出力される。欠陥検出信号を受信したサーボ制御部４４は、トラッキングサーボ制御を欠陥検出前の状態にホールドすることにより、トラッキングサーボ制御の暴走を防ぐ。また、欠陥検出信号を受信したＡＧＣ増幅部４５は、ＲＦ信号に対する利得を欠陥検出前の利得にホールドすることにより、ＲＦ信号の過増幅を防止する。

上述したように本実施の形態にかかる欠陥検出装置１によれば、欠陥領域の検出精度を向上させることができる。このため、欠陥検出装置１が出力する欠陥検出信号を用いてサーボ制御部４４によるトラッキングサーボ制御、及びＲＦ信号を増幅するＡＧＣ増幅部４５の利得制御を行うことにより、光ディスク装置１００のサーボ制御の安定性を向上させることができる。

なお、図４に示した光ディスク装置１の構成は一例である。欠陥検出回路１がＡＧＣ増幅部４５の後段に設けられる場合もあるし、ＡＧＣ増幅部４５を構成する複数の増幅回路の間に設けられる場合もある。また、欠陥検出回路１が出力する欠陥検出信号を用いて行われる制御は、上述したトラッキングサーボ制御及びＡＧＣ増幅部４５の利得制御の少なくとも一方でも良いし、さらにＤＶＤ−ＲＡＭディスク等への書き込み処理前に行われる欠陥領域の検出に利用しても良い。

その他の実施の形態．
発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置１は、ＲＦ信号のトップピークをホールドした信号Ｓ１をさらにボトムホールドして得られる信号Ｓ２に対する閾値判定によって欠陥領域を検出する構成であった。しかしながら、欠陥領域を検出するための閾値判定の対象となる信号は信号Ｓ２に限られない。例えば、図５に示す欠陥検出装置２は、減衰速度の異なる２つのピークホールド回路によってＲＦ信号のトップピークレベルをホールドすることにより２つのピークホールド信号を生成し、これら２つのピークホールド信号の差分に対する閾値判定を行うものである。

欠陥検出装置２が備える低速ピークホールド回路２１は、ＲＦ信号のトップピークレベルをホールドするものあって、高速ピークホールド回路１０に比べて減衰速度が小さいものである。また、差分回路２２は、低速ボトムホールド回路１１によって生成された信号Ｓ２と、低速ピークホールド回路２１によって生成されたピークホールド信号Ｓ３との差分信号Ｓ４（Ｓ４＝Ｓ３−Ｓ２）を生成する。得られた信号Ｓ４を比較回路１２において電圧閾値Ｖｔｈと比較することによっても欠陥領域を検出することができる。ＲＦ信号、信号Ｓ１乃至Ｓ４、並びに欠陥検出信号の波形図を図６に示す。

また、図６に示す欠陥検出装置３は、ＲＦ信号のトップピークレベルとＲＦ信号のボトムピークレベルとの差分に対する閾値判定を行うことにより、欠陥領域を検出するものである。欠陥検出装置３が備えるボトムホールド回路３１は、ＲＦ信号のボトムピークレベルをホールドするものである。また、差分回路３２は、低速ボトムホールド回路１１によって生成された信号Ｓ２と、ボトムホールド回路３１によって生成されたボトムホールド信号Ｓ５との差分信号Ｓ６（Ｓ６＝Ｓ２−Ｓ５）を生成する。このようにして得られた信号Ｓ６を比較回路１２において電圧閾値Ｖｔｈと比較することによっても欠陥領域を検出することができる。ＲＦ信号、信号Ｓ１、Ｓ２、Ｓ５及びＳ６、並びに欠陥検出信号の波形図を図８に示す。

このように、欠陥領域を検出するための閾値判定には様々な信号を用いることが可能であるが、ＲＦ信号のトップピークをホールドした信号Ｓ１をさらにボトムホールドして得られる信号Ｓ２、又は信号Ｓ２と他の信号との差分に対する閾値判定など、信号Ｓ２を利用した判定によって欠陥領域を検出することにより、欠陥領域の検出精度を高めることができる。

上述した発明の実施の形態では、ＲＦ信号を入力信号として欠陥領域を検出する場合を説明した。しかしながら、ＲＦ信号に替えて、光ディスクの欠陥領域の情報が反映された他の再生信号を入力して欠陥領域の検出を行うことも可能である。例えば、未記録のＤＶＤ−ＲＡＭディスクの欠陥領域を検出する場合には、ウォブリングされたプリグルーブから再生されるウォブル信号を本発明にかかる欠陥検出装置に入力して、欠陥領域の検出を行ってもよい。

上述した発明の実施の形態では、１つ信号（信号Ｓ２、Ｓ４、又はＳ６）に対する１つの閾値判定によって、欠陥領域への突入及び欠陥領域からの脱出を判定する場合を説明した。このような構成は、欠陥検出装置１の回路規模を削減できる点で有効である。しかしながら、欠陥領域への突入と欠陥領域からの脱出とを別個の閾値によって判定してもよい。また、欠陥領域への突入と欠陥領域からの脱出とを、別信号を用いて判定してもよい。

例えば、発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置１において、欠陥領域への突入は信号Ｓ１を用いて判定し、欠陥領域からの脱出は信号Ｓ２を用いて判定してもよい。信号Ｓ１のほうが信号Ｓ２に比べてＲＦ信号のピークレベル変動からの遅延が小さいため、欠陥領域への突入判定の応答性が向上する。なお、少なくとも欠陥領域からの脱出判定に信号Ｓ２を用いた判定を行うことにより、欠陥領域からの脱出を誤判定すること抑制できるため、欠陥領域の検出精度を高めることができる。

さらに、本発明は上述した実施の形態のみに限定されるものではなく、既に述べた本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることは勿論である。

発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置の構成図である。 発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。 発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置の実施例を示す図である。 発明の実施の形態１にかかる欠陥検出装置を備える磁気ディスク装置の構成例を示す図である。 本発明にかかる欠陥検出装置の構成図である。 本発明にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。 本発明にかかる欠陥検出装置の構成図である。 本発明にかかる欠陥検出装置の動作を示す波形図である。 従来の欠陥検出装置の動作を示す波形図である。

符号の説明

１、２、３ 欠陥検出装置
１０ 高速ピークホールド回路
１１ 低速ボトムホールド回路
１２ 比較回路
１３ Ｄ／Ａコンバータ（ＤＡＣ）
１００ 光ディスク装置
４０ 光ディスク
４１ 光学ヘッド
４２ スピンドルモータ（ＳＰＭ）
４３ 駆動部
４４ サーボ制御部
４５ ＡＧＣ増幅部
４６ 信号処理部
４７ レーザ駆動部

Claims (11)

1. 情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出装置であって、
   前記再生信号のピークレベルを検出した第１のピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られる第１のボトムホールド信号の信号レベルの変動に基づいて欠陥領域を検出するものであり、
   前記第１のピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記第１のボトムホールド信号の信号レベルの減衰速度が小さいことを特徴とする欠陥検出装置。
2. 前記再生信号のピークレベルを検出し、前記第１のピークホールド信号を生成する第１のピークホールド部と、
   前記第１のピークホールド信号のボトムレベルを検出し、前記第１のボトムホールド信号を生成する第１のボトムホールド部と、
   前記第１のボトムホールド信号を用いた閾値判定を行う比較部と、
   を備える請求項１に記載の欠陥検出装置。
3. 前記第１のピークホールド部の減衰時定数が前記第１のボトムホールド部の減衰時定数より小さい、請求項２に記載の欠陥検出装置。
4. 前記第１のボトムホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域からの脱出を検出する、請求項１又は２に記載の欠陥検出装置。
5. 前記第１のボトムホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域への突入を検出する、請求項４に記載の欠陥検出装置。
6. 前記第１のピークホールド信号を用いた閾値判定によって、欠陥領域への突入を検出する、請求項４に記載の欠陥検出装置。
7. 前記再生信号のピークレベルを検出し、前記第１のピークホールド信号より減衰速度が小さい第２のピークホールド信号を生成する第２のピークホールド部をさらに備え、
   前記検出部は、前記第２のピークホールド信号と前記第１のボトムホールド信号との差分信号に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定する、請求項２に記載の欠陥検出装置。
8. 前記再生信号のボトムレベルを検出し、第２のボトムホールド信号を生成する第２のボトムホールド部をさらに備え、
   前記検出部は、前記第１のボトムホールド信号と前記第２のボトムホールド信号との差分信号に対する閾値判定によって欠陥領域からの脱出を判定する、請求項２に記載の欠陥検出装置。
9. 光ディスクに対する情報記録又は光ディスクからの情報再生の少なくとも一方を行う光ディスク装置であって、
   前記光ディスクからの再生信号を入力し、前記再生信号のピークレベルを検出したピークホールド信号のボトムレベルを検出して得られるボトムホールド信号の信号レベルの変動に基づいて欠陥検出信号を生成し、かつ、前記ピークホールド信号の信号レベルの減衰速度より前記ボトムホールド信号の信号レベルの減衰速度が小さい欠陥検出装置を備え、
   前記欠陥検出信号に応じて、前記光ディスクに対するトラッキングサーボの制御状態の切り替えを行う光ディスク装置。
10. 前記再生信号は、ＲＦ信号又はウォブル信号である請求項９に記載の光ディスク装置。
11. 情報記録媒体による反射光を検出することによって得られる再生信号を用いて、情報記録媒体の欠陥領域を検出する欠陥検出方法であって、
    前記再生信号に対するピークホールドによってピークホールド信号を生成し、
    前記ピークホールド信号に対するボトムホールドによって、前記ピークホールド信号の減衰速度より減衰速度が小さいボトムホールド信号を生成し、
    前記ボトムホールド信号を用いた閾値判定によって前記欠陥領域を検出する欠陥検出方法。

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