JP2007249508A - メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システム及びメモリ制御方法 - Google Patents
メモリコントローラ、不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システム及びメモリ制御方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】不揮発性メモリの管理領域201に、不良ブロックのアドレス情報を格納する管理ブロックMB−1〜MB−mを設け、不良ブロックを除いてこれらを1つずつ巡回的に使用する。管理ブロックに格納された登録情報を更新する際は、新たな管理ブロックに書き込みを行い、書き込みが成功したことを確認してから元の管理ブロックのデータを消去する。
【選択図】図5
Description
前記複数の管理ブロック中の不良ブロックとしてアドレスが登録されたブロックを除いて1つずつ巡回的に管理ブロックを取得して、新たに発生した不良ブロックのアドレスを当該取得した管理ブロックに登録する制御部を有することを特徴とするものである。
101 アクセス装置
102 不揮発性記憶装置
103 メモリコントローラ
104 ホストI/F
105 バッファ
106 CPU
107 RAM
108 ROM
109 不揮発性メモリI/F
110 不揮発性メモリ
Claims (48)
- データの消去単位であるブロックを複数有し、前記ブロックはデータを保持する複数のデータブロックと、前記複数のブロック中の不良ブロックのアドレスを登録する複数の管理ブロックとを含む不揮発性メモリに対してデータの書き込み及び読み出しを制御するメモリコントローラであって、
前記複数の管理ブロック中の不良ブロックとしてアドレスが登録されたブロックを除いて1つずつ巡回的に管理ブロックを取得して、新たに発生した不良ブロックのアドレスを当該取得した管理ブロックに登録する制御部を有することを特徴とするメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記複数の管理ブロックのうちの1つの管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスを、巡回的に取得した別の管理ブロックに登録することを特徴とする請求項1に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスの登録を、巡回的に取得した別の管理ブロックに対して最大リトライ回数まで行なうことを特徴とする請求項2に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、それぞれの管理ブロックにおいて登録されている不良ブロックの数を調べ、その数が最大の管理ブロックを最新のデータが存在する管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記管理ブロックに不良ブロックのアドレスを登録する際に不良ブロック数も書き込み、前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記管理ブロックに書き込まれている前記不良ブロック数から、最新のデータが存在する管理ブロックを判断することを特徴とする請求項4に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記管理ブロックのデータを更新する際、前記巡回的に取得した別の管理ブロックに書き込みを行い、書き込んだデータにエラーがないことを確認した後、元の管理ブロックのデータを消去することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、不良ブロックの発生とは無関係に更新する必要のある第1の情報の更新に伴って、別の管理ブロックに前記更新された第1の情報が書き込まれるときに更新されるカウンタの値が最新で、かつ不良ブロックが登録されている数が最大のものを最新の管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 - 前記第1の情報は、論理アドレスと前記不揮発性メモリの物理アドレスとの対応関係を示す情報である請求項7記載のメモリコントローラ。
- 前記制御部は、
最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、少なくとも前記不良ブロックのアドレス情報、前記第1の情報、及び前記カウンタとから計算されるチェックコードを検査し、前記チェックコードが不正である管理ブロックを除外して最新のデータが存在する管理ブロックを検索することを特徴とする請求項7又は8に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記管理ブロックのデータの書き込み単位であるページの数以下の複数の領域に前記管理ブロックを分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用することを特徴とする請求項1〜9のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 - 前記制御部は、
前記管理ブロックはデータの書き込み単位であるページの数以下の複数の領域に前記管理ブロックを分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用し、
前記管理ブロックが分割されてできた前記複数の領域のうち、最初の領域にデータを書き込む際は、前記不良ブロックのアドレスと前記第1の情報とを書き込み、前記第1の情報を更新する際は、前記更新された第1の情報を次の領域に書き込むことを特徴とする請求項7〜9のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 - 前記不揮発性メモリは、フラッシュメモリであることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載のメモリコントローラ。
- データの消去単位であるブロックを複数有し、前記ブロックはデータを保持する複数のデータブロックと、前記複数のブロック中の不良ブロックのアドレスを登録する複数の管理ブロックとを含む不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリに対してデータの書き込み及び読み出しを制御するメモリコントローラと、を具備する不揮発性記憶装置であって、
前記メモリコントローラは、
前記複数の管理ブロック中の不良ブロックとしてアドレスが登録されたブロックを除いて1つずつ巡回的に管理ブロックを取得して、新たに発生した不良ブロックのアドレスを当該取得した管理ブロックに登録する制御部を有することを特徴とする不揮発性記憶装置。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記複数の管理ブロックのうちの1つの管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスを、巡回的に取得した別の管理ブロックに登録することを特徴とする請求項13に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスの登録を、巡回的に取得した別の管理ブロックに対して最大リトライ回数まで行なうことを特徴とする請求項14に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、それぞれの管理ブロックにおいて登録されている不良ブロックの数を調べ、その数が最大の管理ブロックを最新のデータが存在する管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項13〜15のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記管理ブロックに不良ブロックのアドレスを登録する際に不良ブロック数も書き込み、前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記管理ブロックに書き込まれている前記不良ブロック数から、最新のデータが存在する管理ブロックを判断することを特徴とする請求項16に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記管理ブロックのデータを更新する際、前記巡回的に取得した別の管理ブロックに書き込みを行い、書き込んだデータにエラーがないことを確認した後、元の管理ブロックのデータを消去することを特徴とする請求項13〜17のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記不揮発性メモリの管理ブロックは、不良ブロックの発生とは無関係に更新する必要のある第1の情報と、前記第1の情報の更新に伴って別の管理ブロックに前記更新された第1の情報が書き込まれるときに更新されるカウンタの情報と、を保持し、
前記メモリコントローラの制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記カウンタの値が最新で、かつ不良ブロックが登録されている数が最大のものを最新の管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項13〜18のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記第1の情報は、論理アドレスと前記不揮発性メモリの物理アドレスとの対応関係を示す情報である請求項19に記載の不揮発性記憶装置。
- 前記管理ブロックは、少なくとも前記不良ブロックのアドレス情報、前記第1の情報、及び前記カウンタとから計算されるチェックコードを保持し、
前記メモリコントローラの制御部は、最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記チェックコードを検査し、前記チェックコードが不正である管理ブロックを除外して最新のデータが存在する管理ブロックを検索することを特徴とする請求項19又は20に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記管理ブロックはデータの書き込み単位であるページを複数備え、
前記メモリコントローラの制御部は、前記管理ブロックを前記ページ数以下の複数の領域に分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用することを特徴とする請求項13〜21のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記管理ブロックはデータの書き込み単位であるページを複数備え、
前記メモリコントローラの制御部は、前記管理ブロックを前記ページ数以下の複数の領域に分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用し、
前記管理ブロックが分割されてできた前記複数の領域のうち、最初の領域にデータを書き込む際は、前記不良ブロックのアドレスと前記第1の情報とを書き込み、前記第1の情報を更新する際は、前記更新された第1の情報を次の領域に書き込むことを特徴とする請求項19〜21のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。 - 前記不揮発性メモリは、フラッシュメモリであることを特徴とする請求項13〜23のいずれか1項に記載の不揮発性記憶装置。
- データの消去単位であるブロックを複数有し、前記ブロックはデータを保持する複数のデータブロックと、前記複数のブロック中の不良ブロックのアドレスを登録する複数の管理ブロックとを含む不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリに対してデータの書き込み及び読み出しを制御するメモリコントローラと、
前記メモリコントローラに対して、前記不揮発性メモリへのデータの書き込みと読み出しとを指示するアクセス装置と、を具備する不揮発性記憶システムであって、
前記メモリコントローラは、
前記複数の管理ブロック中の不良ブロックとしてアドレスが登録されたブロックを除いて1つずつ巡回的に管理ブロックを取得して、新たに発生した不良ブロックのアドレスを当該取得した管理ブロックに登録する制御部を有することを特徴とする不揮発性記憶システム。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記複数の管理ブロックのうちの1つの管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスを、巡回的に取得した別の管理ブロックに登録することを特徴とする請求項25に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
不良ブロックのアドレスを前記管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスの登録を、巡回的に取得した別の管理ブロックに対して最大リトライ回数まで行なうことを特徴とする請求項26に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、それぞれの管理ブロックにおいて登録されている不良ブロックの数を調べ、その数が最大の管理ブロックを最新のデータが存在する管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項25〜27のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記管理ブロックに不良ブロックのアドレスを登録する際に不良ブロック数も書き込み、前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記管理ブロックに書き込まれている前記不良ブロック数から、最新のデータが存在する管理ブロックを判断することを特徴とする請求項28に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記メモリコントローラの制御部は、
前記管理ブロックのデータを更新する際、前記巡回的に取得した別の管理ブロックに書き込みを行い、書き込んだデータにエラーがないことを確認した後、元の管理ブロックのデータを消去することを特徴とする請求項25〜29のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記不揮発性メモリの管理ブロックは、不良ブロックの発生とは無関係に更新する必要のある第1の情報と、前記第1の情報の更新に伴って別の管理ブロックに前記更新された第1の情報が書き込まれるときに更新されるカウンタの情報と、を保持し、
前記メモリコントローラの制御部は、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記カウンタの値が最新で、かつ不良ブロックが登録されている数が最大のものを最新の管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項25〜30のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記第1の情報は、論理アドレスと前記不揮発性メモリの物理アドレスとの対応関係を示す情報である請求項31に記載の不揮発性記憶システム。
- 前記管理ブロックは、少なくとも前記不良ブロックのアドレス情報、前記第1の情報、及び前記カウンタとから計算されるチェックコードを保持し、
前記メモリコントローラの制御部は、最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記チェックコードを検査し、前記チェックコードが不正である管理ブロックを除外して最新のデータが存在する管理ブロックを検索することを特徴とする請求項31又は32に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記管理ブロックはデータの書き込み単位であるページを複数備え、
前記メモリコントローラの制御部は、前記管理ブロックを前記ページ数以下の複数の領域に分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用することを特徴とする請求項25〜33のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記管理ブロックはデータの書き込み単位であるページを複数備え、
前記メモリコントローラの制御部は、前記管理ブロックを前記ページ数以下の複数の領域に分割し、1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データの書き込みを行い、前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用し、
前記管理ブロックが分割されてできた前記複数の領域のうち、最初の領域にデータを書き込む際は、前記不良ブロックのアドレスと前記第1の情報とを書き込み、前記第1の情報を更新する際は、前記更新された第1の情報を次の領域に書き込むことを特徴とする請求項31〜33のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。 - 前記不揮発性メモリは、フラッシュメモリであることを特徴とする請求項25〜35のいずれか1項に記載の不揮発性記憶システム。
- データの消去単位であるブロックを複数有し、前記ブロックはデータを保持する複数のデータブロックと、前記複数のブロック中の不良ブロックのアドレスを登録する複数の管理ブロックとを含む不揮発性メモリに対してデータの書き込み及び読み出しを制御するメモリ制御方法であって、
前記複数の管理ブロック中の不良ブロックとしてアドレスが登録されたブロックを除いて1つずつ巡回的に管理ブロックを取得し、
新たに発生した不良ブロックのアドレスを当該取得した管理ブロックに登録することを特徴とするメモリ制御方法。 - 不良ブロックのアドレスを前記複数の管理ブロックのうちの1つの管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスを、巡回的に取得した別の管理ブロックに登録することを特徴とする請求項37に記載のメモリ制御方法。
- 不良ブロックのアドレスを前記管理ブロックに登録する際に、当該管理ブロックが不良ブロックとなった場合、当該管理ブロックに登録する予定であった前記不良ブロックのアドレスを含む全ての不良ブロックのアドレスの登録を、巡回的に取得した別の管理ブロックに対して最大リトライ回数まで行なうことを特徴とする請求項38に記載のメモリ制御方法。
- 前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、それぞれの管理ブロックにおいて登録されている不良ブロックの数を調べ、
その数が最大の管理ブロックを最新のデータが存在する管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項37〜39のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。 - 前記管理ブロックに不良ブロックのアドレスを登録する際に不良ブロック数も書き込み、
前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、前記管理ブロックに書き込まれている前記不良ブロック数から、最新のデータが存在する管理ブロックを判断することを特徴とする請求項40に記載のメモリ制御方法。 - 前記管理ブロックのデータを更新する際、前記巡回的に取得した別の管理ブロックに書き込みをし、
書き込んだデータにエラーがないことを確認した後、元の管理ブロックのデータを消去することを特徴とする請求項37〜41のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。 - 前記複数の管理ブロックから最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、不良ブロックの発生とは無関係に更新する必要のある第1の情報の更新に伴って別の管理ブロックに前記更新された第1の情報が書き込まれるときに更新されるカウンタの値が最新で、かつ不良ブロックが登録されている数が最大のものを最新の管理ブロックであると判断することを特徴とする請求項37〜42のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。
- 前記第1の情報は、論理アドレスと前記不揮発性メモリの物理アドレスとの対応関係を示す情報である請求項43に記載のメモリ制御方法。
- 最新のデータが存在する管理ブロックを検索する際、少なくとも前記不良ブロックのアドレス情報、前記第1の情報、及び前記カウンタとから計算されるチェックコードを検査し、
前記チェックコードが不正である管理ブロックを除外して最新のデータが存在する管理ブロックを検索することを特徴とする請求項43又は44に記載のメモリ制御方法。 - 前記管理ブロックのデータの書き込み単位であるページの数以下の複数の領域に前記管理ブロックを分割し、
1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データを書き込み、
前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用することを特徴とする請求項37〜45のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。 - 前記管理ブロックのデータの書き込み単位であるページの数以下の複数の領域に前記管理ブロックを分割し、
1つの管理ブロックについて前記複数の領域に順次データを書き込み、
前記複数の領域全てにデータが書き込まれた後に、別の管理ブロックを新たに使用し、
前記管理ブロックが分割されてできた前記複数の領域のうち、最初の領域にデータを書き込む際は、前記不良ブロックのアドレスと前記第1の情報とを書き込み、
前記第1の情報を更新する際は、前記更新された第1の情報を次の領域に書き込むことを特徴とする請求項43〜45のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。 - 前記不揮発性メモリは、フラッシュメモリであることを特徴とする請求項37〜47のいずれか1項に記載のメモリ制御方法。
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