JP2007222753A - Washing device and washing method - Google Patents

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JP2007222753A JP2006045773A JP2006045773A JP2007222753A JP 2007222753 A JP2007222753 A JP 2007222753A JP 2006045773 A JP2006045773 A JP 2006045773A JP 2006045773 A JP2006045773 A JP 2006045773A JP 2007222753 A JP2007222753 A JP 2007222753A
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Kuniyuki Honda
邦之 本田
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a washing device and a washing method performing high quality washing of a large substrate, and enhancing the production efficiency. <P>SOLUTION: The washing device 1 comprises first and second washing tubs 2, 3, first and second charging/recovering means 4, 5, a carrying part 6 for connection, and a control part 7. The first charging/recovering means 4, first washing tub 2, carrying part 6 for connection, second washing tub 3, and second charging/recovering means 5 are linearly juxtaposed from the left to right. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、洗浄装置及び洗浄方法に関し、特に、二以上のスピン洗浄槽と、各スピン洗浄槽に設けられた投入回収手段と、スピン洗浄槽どうしの間に設けられた連結用搬送部と、被処理体の搬送経路を制御する制御部を備え、大型基板に対して高品質な洗浄を行うとともに、生産効率を向上させることが可能な洗浄装置及び洗浄方法に関する。   The present invention relates to a cleaning apparatus and a cleaning method, and in particular, two or more spin cleaning tanks, input and recovery means provided in each spin cleaning tank, a connecting transport unit provided between the spin cleaning tanks, The present invention relates to a cleaning apparatus and a cleaning method that include a control unit that controls a conveyance path of an object to be processed, perform high-quality cleaning on a large substrate, and improve production efficiency.

LSI用フォトマスクやLCD用大型フォトマスク等のフォトマスクは、製造プロセス中にさまざまな汚染にさらされるため、製造プロセス中又は最終製品において洗浄される。この洗浄方法としては、一般的に、ディップ式の洗浄方法が用いられていた。
ディップ式の洗浄方法は、並列に配置された洗浄液槽,リンス槽及び乾燥槽に、垂直方向に支持されたフォトマスク基板を順次浸漬させる方法である。なお、これらの槽において使用する薬液の種類やリンス、乾燥方法は、様々な組合わせが用いられる。
Photomasks such as LSI photomasks and LCD large photomasks are exposed to various contaminations during the manufacturing process, and are therefore washed during the manufacturing process or in the final product. As this cleaning method, a dip-type cleaning method is generally used.
The dip type cleaning method is a method in which a photomask substrate supported in a vertical direction is sequentially immersed in a cleaning liquid tank, a rinsing tank, and a drying tank arranged in parallel. Note that various combinations of types, rinses, and drying methods of the chemicals used in these tanks are used.

上記ディップ式の洗浄方法は、例えばLSI用フォトマスク等のマスクサイズが小さい基板に対しては、一度に複数枚の基板を処理することができるため、スループットも高く適しているが、LCD用大型フォトマスク等の大型基板に対しては、各槽が大型化し、薬液も大量に必要となるなどの問題があった。ましてや、近年、液晶表示パネル等の表示パネルやそれらを製造するためのフォトマスクの基板サイズは、さらに大型化する傾向にある。すなわち、例えば、液晶パネルの製造においては、多面取りや大画面化の傾向にあることから液晶パネル基板が大型化し、それにともない、液晶パネルを製造するためのフォトマスクも大型化している。このように基板が大型化し、また高精度化する傾向にあるなか、大型の薬液槽において清浄な洗浄液で洗浄しようとすると、多量の薬液が必要となるため、ディップ方式の洗浄を行うのが困難となってきたのが実状である。   The above-described dip cleaning method is suitable for high throughput because a plurality of substrates can be processed at a time for a substrate having a small mask size such as an LSI photomask. For large substrates such as photomasks, each tank has a large size and a large amount of chemical solution is required. Furthermore, in recent years, the substrate size of display panels such as liquid crystal display panels and photomasks for manufacturing them has been increasing. That is, for example, in the manufacture of a liquid crystal panel, the liquid crystal panel substrate has become larger due to the trend toward multi-cavity and a larger screen, and accordingly, the photomask for producing the liquid crystal panel has also become larger. In such a trend of increasing the size and accuracy of the substrate, it is difficult to perform dip cleaning because a large amount of chemical is required when cleaning with a clean cleaning solution in a large chemical tank. The actual situation has become.

上記実情を解決する技術として、枚葉式スピン洗浄法が注目され開発されている。この枚葉式スピン洗浄法は、回転する基板保持部材にフォトマスク基板等を保持し、回転させながら、洗浄、リンス、乾燥を連続的に行う方法である。すなわち、まず処理室内において水平に保持した基板を回転させながら、該基板に対し、処理液として薬液を噴出して洗浄する薬液洗浄、処理液として純水を噴出して洗浄する水洗浄、処理液を噴出しながらブラシ等を用いて洗浄するスクラブ洗浄、供給する処理液に超音波を与える超音波洗浄等の洗浄を行った後、純水等でリンスを行い、次いで、基板を所定時間だけ高速回転させることにより乾燥を行う。この方法によれば、上記のディップ方式に比べ、同じ処理室内で一連の処理が可能となるため装置が小型化できるとともに、洗浄液が少なくてすみ、かつ洗浄時間を短縮できるという利点がある(例えば、特許文献1)。   As a technique for solving the above situation, a single wafer spin cleaning method has been noticed and developed. This single wafer spin cleaning method is a method in which a photomask substrate or the like is held on a rotating substrate holding member, and cleaning, rinsing, and drying are continuously performed while rotating. That is, first, while rotating a substrate held horizontally in a processing chamber, chemical cleaning is performed on the substrate by ejecting and cleaning a chemical as a processing liquid, and water cleaning and processing liquid in which pure water is ejected and cleaned as a processing liquid. After scrub cleaning with a brush or the like while spraying, cleaning with ultrasonic cleaning that applies ultrasonic waves to the processing solution to be supplied, rinsing with pure water, etc., and then the substrate at a high speed for a predetermined time Dry by rotating. According to this method, compared to the above dip method, a series of processes can be performed in the same processing chamber, so that the apparatus can be miniaturized, less cleaning liquid is required, and cleaning time can be shortened (for example, Patent Document 1).

ところで、スピン洗浄装置は、基本的に一つのスピン洗浄槽内で一連の洗浄工程(薬液洗浄などの洗浄、リンス、乾燥)を実施可能であることから、通常、一つのスピン洗浄槽が設けられている。また、このようなスピン洗浄装置においては、被処理体の汚れ具合や洗浄品質等に応じた洗浄条件が設定されている。
特開2004−290934号公報
By the way, since a spin cleaning apparatus can basically perform a series of cleaning steps (cleaning such as chemical cleaning, rinsing and drying) in one spin cleaning tank, one spin cleaning tank is usually provided. ing. In such a spin cleaning apparatus, cleaning conditions are set in accordance with the degree of contamination of the object to be processed, the cleaning quality, and the like.
JP 2004-290934 A

しかしながら、上記スピン洗浄装置は、基本的に一つのスピン洗浄槽内で一連の洗浄工程を実施可能であるものの、洗浄品質を向上させるためには、より優れた洗浄条件を設定する必要があった。すなわち、一つのスピン洗浄槽を用いて、所望される洗浄品質を実現するには、洗浄装置に対して複雑な制御を行わなければならず、洗浄工程が煩雑になるという問題点があった。
また、高品質な洗浄を必要とする場合、薬液洗浄を行ったスピン洗浄槽にてリンスを行っても、残留薬液ミストの影響により高品質な洗浄が困難となる場合があるといった問題があった。
さらに、メーカーにとって、洗浄工程は製造工程の一つであり、洗浄工程の生産効率を向上させることは、常に要望されていた。
However, although the above spin cleaning apparatus can basically perform a series of cleaning steps in one spin cleaning tank, in order to improve cleaning quality, it was necessary to set more excellent cleaning conditions. . That is, in order to achieve a desired cleaning quality using one spin cleaning tank, complicated control must be performed on the cleaning apparatus, and there is a problem that the cleaning process becomes complicated.
In addition, when high-quality cleaning is required, there is a problem that even if rinsing is performed in a spin cleaning tank that has performed chemical cleaning, high-quality cleaning may be difficult due to the influence of residual chemical mist. .
Furthermore, for manufacturers, the cleaning process is one of the manufacturing processes, and it has always been desired to improve the production efficiency of the cleaning process.

本発明は、上記問題を解決すべくなされたものであり、大型基板に対して高品質な洗浄を行うとともに、生産効率を向上させることが可能な洗浄装置及び洗浄方法の提供を目的とする。   The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a cleaning apparatus and a cleaning method capable of performing high-quality cleaning on a large substrate and improving production efficiency.

上記目的を達成するために、本発明の洗浄装置は、被処理体に対して複数の洗浄処理を実施可能であり、前記被処理体を搬送する搬送口が少なくとも二個所に設けられた二以上の洗浄槽と、前記洗浄槽ごとに設けられ、前記搬送口の第一の搬送口に対して、前記被処理体を搬送する投入回収手段と、前記洗浄槽どうしの間に設けられ、前記洗浄槽の第二の搬送口に対して、前記被処理体を搬送するための連結用搬送部と、前記被処理体の洗浄処理に応じて、前記被処理体の搬送経路を制御する制御部とを具備した構成としてある。
このようにすると、被処理体に対して、各洗浄槽が異なる洗浄処理を順にあるいは独立して行うことができるので、洗浄品質を向上させることができる。たとえば、各洗浄槽が異なる処理を行う場合、被処理体を所定の洗浄槽に直接投入し、洗浄後に所定の洗浄槽から直接回収することができるので、被処理体が異なる薬液雰囲気中を通過しなくてもすみ、洗浄品質の低下を抑制することができる。また、各洗浄槽が独立した状態で洗浄することもできるので、生産効率を向上させることができる。
In order to achieve the above object, the cleaning apparatus of the present invention can perform a plurality of cleaning processes on an object to be processed, and two or more transport ports for transporting the object to be processed are provided at least in two places. The cleaning tank is provided for each of the cleaning tanks, and is provided between the cleaning tank and the input and recovery means for transporting the object to be processed with respect to the first transport port of the transport port. A connection transport unit for transporting the object to be processed with respect to the second transport port of the tank, and a control unit for controlling the transport path of the object to be processed according to the cleaning process of the object to be processed. It is set as the structure comprised.
If it does in this way, since each washing tank can perform a different washing process sequentially or independently with respect to a processed object, washing quality can be raised. For example, when each cleaning tank performs different processing, the object to be processed can be directly put into a predetermined cleaning tank and recovered directly from the predetermined cleaning tank after cleaning, so that the object to be processed passes through different chemical atmospheres. It is not necessary to do so, and the deterioration of the cleaning quality can be suppressed. Moreover, since each washing tank can also be washed in an independent state, production efficiency can be improved.

また、本発明の洗浄装置は、前記搬送経路として、前記被処理体が、前記投入回収手段から前記第一の搬送口を経由して前記洗浄槽に搬送され、洗浄処理が終了すると、該第一の搬送口を経由して該投入回収手段に搬送される経路と、前記被処理体が、前記投入回収手段から前記第一の搬送口を経由して前記洗浄槽に搬送され、洗浄処理が終了すると、前記連結用搬送部を経由して他の前記洗浄槽に搬送され、他の前記洗浄槽にて洗浄処理が終了すると、他の前記洗浄槽における前記第一の搬送口を経由して前記投入回収手段に搬送される経路とを有する構成としてある。
このようにすると、各洗浄槽が独立した状態で洗浄したり、各洗浄槽が連結された状態で洗浄することができるので、生産効率を向上させることができる。
In the cleaning apparatus of the present invention, the object to be processed is transferred from the input / collecting means to the cleaning tank via the first transfer port as the transfer path, and when the cleaning process is completed, A path transported to the input / recovery means via one transport port, and the object to be processed is transported from the input / recovery means to the cleaning tank via the first transport port to perform a cleaning process. When finished, it is transported to the other cleaning tank via the connection transport section, and when the cleaning process is finished in the other cleaning tank, it passes through the first transport port in the other cleaning tank. And a path transported to the input / recovery means.
If it does in this way, since it can wash in the state where each washing tub became independent, or each washing tub was connected, production efficiency can be improved.

また、本発明の洗浄装置は、前記洗浄槽が、スピン洗浄槽である構成としてある。
このようにすると、被処理体が大型基板であっても、薬液などの使用量を低減することができる。
In the cleaning apparatus of the present invention, the cleaning tank is a spin cleaning tank.
In this way, even if the object to be processed is a large substrate, the amount of chemical solution used can be reduced.

また、本発明の洗浄装置は、前記連結用搬送部が、前記被処理体を反転させる反転手段を備えた構成としてある。
このようにすると、基板の両面に対して効果的な洗浄を行うことができ、洗浄品質をさらに向上させることができる。
In the cleaning apparatus of the present invention, the connection transport unit includes a reversing unit that reverses the object to be processed.
In this way, effective cleaning can be performed on both sides of the substrate, and the cleaning quality can be further improved.

また、本発明の洗浄装置は、前記被処理体が、長辺が300mm以上の矩形基板である構成としてある。
このようにすると、基板保持部材に基板を確実に保持することができるので、基板への損傷を防止するとともに、基板保持部材を用いることにより、スピン洗浄槽及び反転手段などの構造を単純化することができる。
In the cleaning apparatus of the present invention, the object to be processed is a rectangular substrate having a long side of 300 mm or more.
In this way, since the substrate can be reliably held on the substrate holding member, damage to the substrate can be prevented, and the structure of the spin cleaning tank and the reversing means can be simplified by using the substrate holding member. be able to.

また、上記目的を達成するために、本発明の洗浄方法は、二以上のスピン洗浄槽が連結された洗浄装置を用いて、被処理体を洗浄する洗浄方法であって、前記スピン洗浄槽の少なくとも一つを用いて、前記被処理体を薬液洗浄した後、リンスを行う薬液洗浄+リンス工程と、リンス専用のスピン洗浄槽を用いて、前記薬液洗浄+リンス工程を経た前記被処理体に対して、さらにリンスを行う過剰リンス工程とを有する方法としてある。
このようにすると、薬液をより確実に除去することができ、洗浄品質を向上させることができる。
In order to achieve the above object, the cleaning method of the present invention is a cleaning method for cleaning an object to be processed using a cleaning apparatus in which two or more spin cleaning tanks are connected. Using at least one, the target object that has undergone the chemical solution cleaning and the rinsing step is cleaned using a chemical solution cleaning and rinsing process for rinsing after the target object is cleaned with a chemical solution, On the other hand, the method further includes an excessive rinsing step of rinsing.
If it does in this way, a chemical | medical solution can be removed more reliably and cleaning quality can be improved.

本発明の洗浄装置及び洗浄方法によれば、大型基板に対して高品質な洗浄を行うとともに、生産効率を向上させることができる。   According to the cleaning apparatus and the cleaning method of the present invention, high-quality cleaning can be performed on a large substrate, and the production efficiency can be improved.

[洗浄装置]
図1aは、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の概略平面図を示している。
また、図1bは、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の概略正面図を示している。
図1a,1bにおいて、洗浄装置1は、第一洗浄槽2,第二洗浄槽3,第一投入回収手段4,第二投入回収手段5,連結用搬送部6及び制御部7とからなっており、左から右に向かって、第一投入回収手段4,第一洗浄槽2,連結用搬送部6,第二洗浄槽3及び第二投入回収手段5が直線的に並設された構成としてある。
[Cleaning equipment]
FIG. 1 a shows a schematic plan view of a cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 1b shows a schematic front view of the cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention.
1a and 1b, the cleaning apparatus 1 includes a first cleaning tank 2, a second cleaning tank 3, a first input recovery means 4, a second input recovery means 5, a connecting transport section 6 and a control section 7. From left to right, the first input / recovery means 4, the first cleaning tank 2, the connecting transport unit 6, the second cleaning tank 3 and the second input / recovery means 5 are arranged in a straight line. is there.

(第一投入回収手段)
第一投入回収手段4は、直方体状の筐体構造としてあり、洗浄装置1の左端に配置されている。この第一投入回収手段4は、第一洗浄槽2の第一搬送口21と隣接して設けられており、第一搬送口21に対して、被処理体であるフォトマスク基板8を搬送(すなわち、搬入及び/又は搬出)する。これにより、フォトマスク基板8を第一洗浄槽2に投入したり、第一洗浄槽2から回収する。
(First input recovery means)
The first input / recovery means 4 has a rectangular parallelepiped housing structure and is disposed at the left end of the cleaning apparatus 1. The first input / recovery means 4 is provided adjacent to the first transfer port 21 of the first cleaning tank 2, and transfers the photomask substrate 8, which is an object to be processed, to the first transfer port 21 ( That is, carry-in and / or carry-out). As a result, the photomask substrate 8 is loaded into the first cleaning tank 2 or recovered from the first cleaning tank 2.

第一投入回収手段4は、上部の正面側及び背面側に、左右方向に沿って対向する一対のレール24が設けられており、レール24の上部に、左右方向に移動自在にクレーン(図示せず)が掛けられている。第一投入回収手段4は、クレーンを移動させるための第一移動手段(図示せず)を備えており、この第一移動手段は、制御部7によって制御され、クレーンを第一投入回収手段4の搬入・搬出位置A,第一洗浄槽2の洗浄位置B,連結用搬送部6の受渡し位置C及び第二洗浄槽3の洗浄位置Dの間で移動する。
また、図示してないが、クレーンは、正面側及び背面側に、対向する一対のチャックが、前後方向に移動自在に設けてある。このチャックは、制御部7によって制御され、チャックどうしが、基板保持部材81を挟持する。
The first input / recovery means 4 is provided with a pair of rails 24 facing in the left-right direction on the front side and back side of the upper part, and a crane (not shown) is movable on the upper side of the rails 24 in the left-right direction. )). The first input / recovery means 4 includes first movement means (not shown) for moving the crane. The first movement means is controlled by the control unit 7 and the crane is moved to the first input / recovery means 4. Are moved between a carry-in / carry-out position A, a washing position B of the first washing tank 2, a delivery position C of the connecting transport unit 6, and a washing position D of the second washing tank 3.
Moreover, although not shown in figure, the crane is provided with a pair of opposed chucks on the front side and the back side so as to be movable in the front-rear direction. This chuck is controlled by the control unit 7, and the chucks sandwich the substrate holding member 81.

ここで、好ましくは、フォトマスク基板8を、長辺が300mm以上の矩形基板とするとよい。このようにすると、基板保持部材81にフォトマスク基板8を確実に保持することができるので、フォトマスク基板8への損傷を防止するとともに、基板保持部材81を用いることにより、第一洗浄槽2,第二洗浄槽3及び基板反転手段63などの構造を単純化することができる。また、スピン洗浄の効果を発揮させ、経済的な洗浄を行うことができる。
なお、フォトマスク基板とは、フォトマスク用ガラス基板,フォトマスクブランク及びフォトマスクを含むものとする。
Here, the photomask substrate 8 is preferably a rectangular substrate having a long side of 300 mm or more. In this way, since the photomask substrate 8 can be reliably held on the substrate holding member 81, damage to the photomask substrate 8 can be prevented, and the first cleaning tank 2 can be used by using the substrate holding member 81. , The structures of the second cleaning tank 3 and the substrate reversing means 63 can be simplified. Further, the effect of spin cleaning can be exhibited and economical cleaning can be performed.
Note that the photomask substrate includes a glass substrate for photomask, a photomask blank, and a photomask.

(第一洗浄槽)
第一洗浄槽2は、第一搬送口21,第二搬送口22及びレール24を備えた直方体状のスピン洗浄槽としてあり、洗浄装置1の左側に配置してある。第一洗浄槽2をスピン洗浄槽とすることにより、フォトマスク基板8が大型基板であっても、薬液などの処理液の使用量が低減される。また、第一洗浄槽2は、複数の洗浄処理(たとえば、薬液洗浄,純水洗浄,スクラブ洗浄,リンス,乾燥など)を実施する。
(First cleaning tank)
The first cleaning tank 2 is a rectangular parallelepiped spin cleaning tank including a first transport port 21, a second transport port 22 and a rail 24, and is disposed on the left side of the cleaning device 1. By using the first cleaning tank 2 as a spin cleaning tank, even when the photomask substrate 8 is a large substrate, the amount of processing liquid such as a chemical solution is reduced. The first cleaning tank 2 performs a plurality of cleaning processes (for example, chemical cleaning, pure water cleaning, scrub cleaning, rinsing, drying, etc.).

第一洗浄槽2は、フォトマスク基板8を搬送する、第一搬送口21及び第二搬送口22がそれぞれ左側面上部及び右側面上部に設けられており、また、上部の正面側及び背面側に、左右方向に沿って対向する一対のレール24が設けられている。このレール24上を、上記クレーンが左右方向に自在に移動する。   The first cleaning tank 2 is provided with a first transfer port 21 and a second transfer port 22 for transferring the photomask substrate 8 at the upper left side and upper right side, respectively, and the front side and the back side of the upper side. In addition, a pair of rails 24 facing in the left-right direction are provided. On the rail 24, the crane moves freely in the left-right direction.

第一洗浄槽2は、図示してないが、通常、処理カップ、シャワーパイプ及びロールブラシなどが設けられており、クレーンにて搬送されるフォトマスク基板8及び基板保持部材81を処理カップ内に収容した状態で、フォトマスク基板8をスピン洗浄する。シャワーパイプやロールブラシは、各種薬液や純水が供給され、洗浄条件に応じた洗浄(各種の薬液や純水などによる洗浄,スクラブ洗浄,リンスなど)を行う。また、第一洗浄槽2は、シーケンサやコンピュータなどの情報処理装置からなるコントローラ(図示せず)が備えられており、このコントローラが、第一洗浄槽2の洗浄に関する制御を行う。   Although not shown, the first cleaning tank 2 is usually provided with a processing cup, a shower pipe, a roll brush, and the like, and the photomask substrate 8 and the substrate holding member 81 conveyed by a crane are placed in the processing cup. The photomask substrate 8 is spin cleaned in the accommodated state. The shower pipe and roll brush are supplied with various chemicals and pure water, and perform cleaning (cleaning with various chemicals and pure water, scrub cleaning, rinsing, etc.) according to the cleaning conditions. Further, the first cleaning tank 2 is provided with a controller (not shown) composed of an information processing device such as a sequencer or a computer, and this controller controls the cleaning of the first cleaning tank 2.

(第二投入回収手段)
第二投入回収手段5は、直方体状の筐体構造としてあり、洗浄装置1の左端に配置されている。この第二投入回収手段5は、第二洗浄槽3の第一搬送口31と隣接して設けられており、第一搬送口31に対して、被処理体であるフォトマスク基板8を搬送(すなわち、搬入及び/又は搬出)する。これにより、フォトマスク基板8を第二洗浄槽3に投入したり、第二洗浄槽3から回収する。
(Second input recovery means)
The second input / recovery means 5 has a rectangular parallelepiped housing structure and is disposed at the left end of the cleaning apparatus 1. The second input / recovery means 5 is provided adjacent to the first transfer port 31 of the second cleaning tank 3, and transfers the photomask substrate 8, which is the object to be processed, to the first transfer port 31 ( That is, carry-in and / or carry-out). Thereby, the photomask substrate 8 is put into the second cleaning tank 3 or recovered from the second cleaning tank 3.

第二投入回収手段5は、上部の正面側及び背面側に、左右方向に沿って対向する一対のレール24が設けられており、レール24の上部に、左右方向に移動自在にクレーン(図示せず)が掛けられている。第二投入回収手段5は、クレーンを移動させるための第二移動手段(図示せず)を備えており、この第二移動手段は、制御部7によって制御され、クレーンを第二投入回収手段5の搬入・搬出位置E,第二洗浄槽3の洗浄位置D,連結用搬送部6の受渡し位置C及び第一洗浄槽2の洗浄位置Bとの間で移動する。すなわち、洗浄装置1は、第一投入回収手段4と第二投入回収手段5が、それぞれクレーンを備えている。
また、図示してないが、クレーンは、正面側及び背面側に、対向する一対のチャックが、前後方向に移動自在に設けてある。このチャックは、制御部7によって制御され、チャックどうしが、基板保持部材81を挟持する。
なお、第二投入回収手段5のその他の構成は、第一投入回収手段4とほぼ同様としてある。
The second input / recovery means 5 is provided with a pair of rails 24 facing in the left-right direction on the front side and back side of the upper part, and a crane (not shown) is movably movable in the left-right direction above the rails 24. )). The second input / recovery means 5 is provided with second moving means (not shown) for moving the crane. This second moving means is controlled by the control unit 7, and the crane is moved to the second input / recovery means 5. Are moved between a carry-in / carry-out position E, a washing position D of the second washing tank 3, a delivery position C of the connecting transport unit 6, and a washing position B of the first washing tank 2. That is, in the cleaning apparatus 1, the first input / recovery means 4 and the second input / recovery means 5 are each provided with a crane.
Moreover, although not shown in figure, the crane is provided with a pair of opposed chucks on the front side and the back side so as to be movable in the front-rear direction. This chuck is controlled by the control unit 7, and the chucks sandwich the substrate holding member 81.
The other configuration of the second input / recovery means 5 is substantially the same as that of the first input / recovery means 4.

(第二洗浄槽)
第二洗浄槽3は、第一搬送口31,第二搬送口32及びレール24を備えた直方体状のスピン洗浄槽としてあり、洗浄装置1の右側に配置してある。第二洗浄槽3をスピン洗浄槽とすることにより、フォトマスク基板8が大型基板であっても、薬液など処理液の使用量が低減される。第二洗浄槽3は、複数の洗浄処理(たとえば、薬液洗浄,純水洗浄,スクラブ洗浄,リンス,乾燥など)を実施する。
(Second cleaning tank)
The second cleaning tank 3 is a rectangular parallelepiped spin cleaning tank including a first transport port 31, a second transport port 32, and a rail 24, and is disposed on the right side of the cleaning device 1. By using the second cleaning tank 3 as a spin cleaning tank, even when the photomask substrate 8 is a large substrate, the amount of processing solution such as a chemical solution used is reduced. The second cleaning tank 3 performs a plurality of cleaning processes (for example, chemical cleaning, pure water cleaning, scrub cleaning, rinsing, and drying).

第二洗浄槽3は、フォトマスク基板8を搬送する、第一搬送口31及び第二搬送口32がそれぞれ右側面上部及び左側面上部に設けられており、また、上部の正面側及び背面側に、左右方向に沿って対向する一対のレール24が設けられている。このレール24上を、上記クレーンが左右方向に自在に移動する。   The second cleaning tank 3 is provided with a first transfer port 31 and a second transfer port 32 for transferring the photomask substrate 8 at the upper part on the right side and the upper side on the left side, respectively. In addition, a pair of rails 24 facing in the left-right direction are provided. The crane moves freely on the rail 24 in the left-right direction.

第二洗浄槽3は、図示してないが、通常、処理カップ、シャワーパイプ及びロールブラシなどが設けられており、クレーンにて搬送されるフォトマスク基板8及び基板保持部材81を処理カップ内に収容した状態で、フォトマスク基板8をスピン洗浄する。シャワーパイプやロールブラシは、各種薬液や純水が供給され、洗浄条件に応じた洗浄(各種の薬液や純水などによる洗浄,スクラブ洗浄,リンスなど)を行う。また、第二洗浄槽3は、シーケンサやコンピュータなどの情報処理装置からなるコントローラ(図示せず)が備えられており、このコントローラが、第二洗浄槽3の洗浄に関する制御を行う。   Although not shown, the second cleaning tank 3 is usually provided with a processing cup, a shower pipe, a roll brush, and the like, and the photomask substrate 8 and the substrate holding member 81 conveyed by a crane are placed in the processing cup. The photomask substrate 8 is spin cleaned in the accommodated state. The shower pipe and roll brush are supplied with various chemicals and pure water, and perform cleaning (cleaning with various chemicals and pure water, scrub cleaning, rinsing, etc.) according to the cleaning conditions. Further, the second cleaning tank 3 is provided with a controller (not shown) composed of an information processing device such as a sequencer or a computer, and this controller controls the cleaning of the second cleaning tank 3.

(連結用搬送部)
連結用搬送部6は、レール24と基板反転手段63を備えた直方体状の筐体構造としてあり、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3の間に配置されている。この連結用搬送部6は、レール24上を二つのクレーンが移動することにより、第一洗浄槽2の第二搬送口22及び第二洗浄槽3の第二搬送口32に対して、フォトマスク基板8が搬送される。
(Conveying part for connection)
The connection transport unit 6 has a rectangular parallelepiped housing structure including the rails 24 and the substrate reversing means 63, and is disposed between the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3. This connection transport unit 6 is a photomask for the second transport port 22 of the first cleaning tank 2 and the second transport port 32 of the second cleaning tank 3 by moving two cranes on the rail 24. The substrate 8 is transferred.

図2は、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の基板反転手段における要部の概略平面図を示している。
同図において、基板反転手段63は、載置板61と反転部630とからなっている。
載置板61は、連結用搬送部6のほぼ中央部に、昇降自在に設けられた基板保持部材81の載置される円板である。連結用搬送部6は、載置板61を昇降させるための昇降手段(図示せず)を備えている。この昇降手段は、制御部7によって制御され、左右方向に移動する反転部630の挟持アームがフォトマスク基板8を挟持すると、降下し、続いて、反転部630が反転し、フォトマスク基板8を反転させる。反転されたフォトマスク基板8は、上昇する基板保持部材81に、反転された状態で保持される。
なお、本実施形態では、連結用搬送部6が基板反転手段63を備えた構成としてあるが、これに限定されるものではなく、たとえば、基板反転手段63を設けない構成としてもよい。
FIG. 2 is a schematic plan view of the main part of the substrate reversing means of the cleaning apparatus according to the embodiment of the present invention.
In the figure, the substrate reversing means 63 includes a mounting plate 61 and a reversing unit 630.
The mounting plate 61 is a disc on which a substrate holding member 81 is provided at a substantially central portion of the connecting transport unit 6 so as to be movable up and down. The connecting conveyance unit 6 includes elevating means (not shown) for elevating the mounting plate 61. This raising / lowering means is controlled by the control unit 7 and descends when the sandwiching arm of the reversing unit 630 moving in the left-right direction sandwiches the photomask substrate 8, and then the reversing unit 630 reverses to move the photomask substrate 8. Invert. The inverted photomask substrate 8 is held in an inverted state by the rising substrate holding member 81.
In the present embodiment, the connecting transport unit 6 includes the substrate reversing unit 63. However, the present invention is not limited to this. For example, the substrate reversing unit 63 may not be provided.

(制御部)
制御部7は、シーケンサやコンピュータなどの情報処理装置であり、被処理体の洗浄処理に応じて、被処理体の搬送経路を制御する。すなわち、制御部7は、第一投入回収手段4、第二投入回収手段5及び連結用搬送部6を制御する。
(Control part)
The control unit 7 is an information processing apparatus such as a sequencer or a computer, and controls the conveyance path of the object to be processed according to the cleaning process of the object to be processed. That is, the control unit 7 controls the first input / recovery unit 4, the second input / recovery unit 5, and the connection transport unit 6.

また、洗浄装置1は、被処理体の搬送経路として、被処理体が、投入回収手段4(5)から第一の搬送口21(31)を経由して洗浄槽2(3)に搬送され、洗浄処理が終了すると、第一の搬送口21(31)を経由して投入回収手段4(5)に搬送される経路と、被処理体が、投入回収手段4から第一の搬送口21を経由して洗浄槽2に搬送され、洗浄処理が終了すると、連結用搬送部6を経由して他の洗浄槽5に搬送され、他の洗浄槽5にて洗浄処理が終了すると、他の洗浄槽5における第一の搬送口31を経由して投入回収手段5に搬送される経路とを有している。
このようにすると、各洗浄槽2,3が独立した状態で洗浄したり、各洗浄槽2,3が連結された状態で洗浄することができるので、生産効率を向上させることができる。
Further, in the cleaning apparatus 1, the object to be processed is transferred from the input / collecting means 4 (5) to the cleaning tank 2 (3) via the first transfer port 21 (31) as a transfer path of the object to be processed. When the cleaning process is completed, the path transported to the input / recovery means 4 (5) via the first transport port 21 (31) and the object to be processed are transferred from the input / recovery means 4 to the first transport port 21. When the cleaning process is completed, the cleaning process is finished. In the other cleaning tank 5, the cleaning process is completed. And a path that is transported to the input / recovery means 5 via the first transport port 31 in the cleaning tank 5.
If it does in this way, since each washing tank 2 and 3 can wash in the state where it became independent, or each washing tank 2 and 3 can be washed in the connected state, production efficiency can be improved.

次に、上記洗浄装置1の洗浄例及び動作について、図面を参照して説明する。
<第一洗浄例>
図3は、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第一洗浄例を説明するための基板反転手段の概略平面図を示している。
同図において、洗浄装置1は、フォトマスク基板8を第一投入回収手段4,第一洗浄槽2,連結用搬送部6,第二洗浄槽3,第二投入回収手段5の順に搬送し、フォトマスク基板8の表面に対し、第一洗浄槽2が薬液洗浄+リンスを行い、第二洗浄槽3が過剰リンスを行う。
Next, cleaning examples and operations of the cleaning apparatus 1 will be described with reference to the drawings.
<First cleaning example>
FIG. 3: has shown the schematic plan view of the board | substrate inversion means for demonstrating the 1st cleaning example of the cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention.
In the figure, the cleaning apparatus 1 transports the photomask substrate 8 in the order of the first input / recovery means 4, the first cleaning tank 2, the connecting transport unit 6, the second cleaning tank 3, and the second input / recovery means 5. The first cleaning tank 2 performs chemical solution cleaning + rinsing on the surface of the photomask substrate 8, and the second cleaning tank 3 performs excessive rinsing.

まず、洗浄装置1は、第一投入回収手段4に、フォトマスク基板8の保持された基板保持部材81が装着され、スタートスイッチ(図示せず)が押下されると、両チャックが中央側に移動し、チャックが、基板保持部材81を挟持する。このとき、クレーンは、A点に位置している。
次に、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、B点まで移動し停止する(すなわち、フォトマスク基板8を第一洗浄槽2に投入する)。
First, in the cleaning apparatus 1, when the substrate holding member 81 holding the photomask substrate 8 is mounted on the first input / recovery means 4 and a start switch (not shown) is pressed, both chucks are moved to the center side. The chuck moves to sandwich the substrate holding member 81. At this time, the crane is located at point A.
Next, the crane moves to the right on the rail 24, moves to the point B, and stops (that is, the photomask substrate 8 is put into the first cleaning tank 2).

次に、洗浄装置1は、基板保持部材81及びフォトマスク基板8を処理カップ内に収容し、クレーン43がA点に移動する。
続いて、第一洗浄槽2は、フォトマスク基板8を回転させるとともに、シャワーパイプが薬液を放出し、フォトマスク基板8の表面を薬液洗浄する。所定時間経過後、シャワーパイプからの薬液の放出が停止され、フォトマスク基板8の回転を停止する。
Next, the cleaning apparatus 1 accommodates the substrate holding member 81 and the photomask substrate 8 in the processing cup, and the crane 43 moves to the point A.
Subsequently, in the first cleaning tank 2, the photomask substrate 8 is rotated, and the shower pipe discharges the chemical solution to clean the surface of the photomask substrate 8 with the chemical solution. After a predetermined time has elapsed, the discharge of the chemical solution from the shower pipe is stopped, and the rotation of the photomask substrate 8 is stopped.

次に、第一洗浄槽2は、フォトマスク基板8を回転させるとともに、シャワーパイプが純水を放出し、フォトマスク基板8の表面をリンスする。所定時間経過後、シャワーパイプからの純水の放出が停止され、フォトマスク基板8の回転を停止する。
続いて、A点から移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持し、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、D点まで移動し停止する。
Next, the first cleaning tank 2 rotates the photomask substrate 8 and the shower pipe discharges pure water to rinse the surface of the photomask substrate 8. After a predetermined time has elapsed, the release of pure water from the shower pipe is stopped, and the rotation of the photomask substrate 8 is stopped.
Subsequently, the chuck of the crane that has moved from the point A is closed, the substrate holding member 81 is held, and the crane moves rightward on the rail 24, moves to the point D, and stops.

次に、洗浄装置1は、基板保持部材81及びフォトマスク基板8を、第二洗浄槽3の処理カップ内に収容し、クレーンがA点に移動する。
続いて、第二洗浄槽3は、フォトマスク基板8を回転させるとともに、シャワーパイプが純粋を放出し、フォトマスク基板8の表面を過剰リンスする。所定時間経過後、シャワーパイプからの純水の放出が停止され、フォトマスク基板8の回転を停止する。
Next, the cleaning apparatus 1 accommodates the substrate holding member 81 and the photomask substrate 8 in the processing cup of the second cleaning tank 3, and the crane moves to point A.
Subsequently, the second cleaning tank 3 rotates the photomask substrate 8, and the shower pipe releases pure, thereby excessively rinsing the surface of the photomask substrate 8. After a predetermined time has elapsed, the release of pure water from the shower pipe is stopped, and the rotation of the photomask substrate 8 is stopped.

次に、E点からD点まで移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持し、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、E点まで移動し停止する。
次に、第二投入回収手段5は、両チャックが開き、フォトマスク基板8の保持された基板保持部材81が取り外され、フォトマスク基板8の洗浄が完了する。
Next, the chuck of the crane that has moved from the point E to the point D is closed, the substrate holding member 81 is clamped, the crane moves rightward on the rail 24, moves to the point E, and stops.
Next, the second input / recovery means 5 opens both chucks, removes the substrate holding member 81 holding the photomask substrate 8, and completes the cleaning of the photomask substrate 8.

このように、第一洗浄例によれば、フォトマスク基板8に対して、リンスが過剰に行われた高品質な洗浄を行うことができる。なお、本洗浄例では、第一洗浄槽2が薬液洗浄+リンスを行い、第二洗浄槽3が過剰リンスを行う構成としてあるが、これに限定されるものではなく、たとえば、第一洗浄槽2が薬液(イ)洗浄+リンスを行い、第二洗浄槽3が薬液(ロ)洗浄+リンスを行う構成としてもよい。   As described above, according to the first cleaning example, it is possible to perform high-quality cleaning in which the photomask substrate 8 is rinsed excessively. In this cleaning example, the first cleaning tank 2 performs chemical solution cleaning + rinsing, and the second cleaning tank 3 performs excessive rinsing. However, the present invention is not limited to this. For example, the first cleaning tank 2 may perform a chemical solution (b) cleaning + rinse, and the second cleaning tank 3 may perform a chemical solution (b) cleaning + rinse.

<第二洗浄例>
図4は、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第二洗浄例を説明するための基板反転手段の概略平面図を示している。
同図において、洗浄装置1は、フォトマスク基板8を第一投入回収手段4,第一洗浄槽2,連結用搬送部6,第二洗浄槽3,第二投入回収手段5の順に搬送し、フォトマスク基板8の表面に対し、第一洗浄槽2が薬液洗浄+リンスを行い、連結用搬送部6がフォトマスク基板8を反転させ、フォトマスク基板8の裏面に対し、第二洗浄槽3が薬液洗浄+リンスを行う。
<Second cleaning example>
FIG. 4: has shown the schematic plan view of the board | substrate inversion means for demonstrating the 2nd cleaning example of the cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention.
In the figure, the cleaning apparatus 1 transports the photomask substrate 8 in the order of the first input / recovery means 4, the first cleaning tank 2, the connecting transport unit 6, the second cleaning tank 3, and the second input / recovery means 5. The first cleaning tank 2 performs chemical cleaning and rinsing on the surface of the photomask substrate 8, the connecting transport unit 6 reverses the photomask substrate 8, and the second cleaning tank 3 on the back surface of the photomask substrate 8. Do chemical cleaning and rinsing.

まず、洗浄装置1は、上述したように、第一投入回収手段4にフォトマスク基板8が装着されると、第一投入回収手段4がフォトマスク基板8を第一洗浄槽2に投入し、第一洗浄槽2がフォトマスク基板8を洗浄する。
次に、第一洗浄槽2が薬液洗浄+リンスを行った後、A点から移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持する。続いて、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、C点まで移動し停止する。
First, as described above, when the photomask substrate 8 is mounted on the first input / recovery unit 4, the cleaning apparatus 1 inputs the photomask substrate 8 into the first cleaning tank 2, The first cleaning tank 2 cleans the photomask substrate 8.
Next, after the first cleaning tank 2 performs chemical cleaning and rinsing, the chuck of the crane that has moved from the point A is closed, and the substrate holding member 81 is clamped. Subsequently, the crane moves to the right on the rail 24, moves to point C, and stops.

次に、洗浄装置1は、連結用搬送部6の基板反転手段63が、上述したように、フォトマスク基板8を反転させ、基板保持部材81がフォトマスク基板8を保持する。続いて、E点から移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持し、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、D点まで移動し停止する。   Next, in the cleaning apparatus 1, the substrate reversing unit 63 of the connecting transport unit 6 reverses the photomask substrate 8 as described above, and the substrate holding member 81 holds the photomask substrate 8. Subsequently, the chuck of the crane that has moved from the point E is closed, the substrate holding member 81 is clamped, the crane moves rightward on the rail 24, moves to the point D, and stops.

次に、洗浄装置1は、基板保持部材81及びフォトマスク基板8を、第二洗浄槽3の処理カップ内に収容し、クレーンがE点に移動する。
次に、第二洗浄槽3は、フォトマスク基板8を回転させるとともに、シャワーパイプから薬液を放出し、フォトマスク基板8の裏面を薬液洗浄する。所定時間経過後、シャワーパイプからの薬液の放出が停止され、続いて、シャワーパイプが純粋を放出し、フォトマスク基板8の表面をリンスする。所定時間経過後、シャワーパイプからの純水の放出が停止され、フォトマスク基板8の回転を停止する。このようにすると、連続的にフォトマスク基板8の両面に、薬液洗浄+リンスを行うことができる。
Next, the cleaning apparatus 1 accommodates the substrate holding member 81 and the photomask substrate 8 in the processing cup of the second cleaning tank 3, and the crane moves to the point E.
Next, the second cleaning tank 3 rotates the photomask substrate 8 and discharges the chemical solution from the shower pipe to clean the back surface of the photomask substrate 8 with the chemical solution. After a predetermined time elapses, the discharge of the chemical solution from the shower pipe is stopped, and then the shower pipe releases pure and rinses the surface of the photomask substrate 8. After a predetermined time has elapsed, the release of pure water from the shower pipe is stopped, and the rotation of the photomask substrate 8 is stopped. In this way, it is possible to perform chemical cleaning and rinsing on both surfaces of the photomask substrate 8 continuously.

次に、E点からD点まで移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持し、クレーンは、レール24上を右方向に移動し、D点まで移動し停止する。
次に、第二投入回収手段5は、両チャックが開き、フォトマスク基板8の保持された基板保持部材81が取り外され、フォトマスク基板8の両面洗浄が完了する。
このように、第二洗浄例によれば、フォトマスク基板8の両面に対して、効率よく洗浄を行うことができる。
Next, the chuck of the crane that has moved from point E to point D is closed, the substrate holding member 81 is clamped, the crane moves right on the rail 24, moves to point D, and stops.
Next, the second input / recovery means 5 opens both chucks, removes the substrate holding member 81 holding the photomask substrate 8, and completes the double-sided cleaning of the photomask substrate 8.
Thus, according to the second cleaning example, both surfaces of the photomask substrate 8 can be efficiently cleaned.

<第三洗浄例>
図5は、本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第三洗浄例を説明するための概略平面図を示している。
同図において、洗浄装置1は、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3とを、独立させた状態で作動させる構成としてあり、第一投入回収手段4から投入したフォトマスク基板8は、第一洗浄槽2にて洗浄された後、第一投入回収手段4によって回収され、また、第二投入回収手段5から投入したフォトマスク基板8は、第二洗浄槽3にて洗浄された後、第二投入回収手段によって回収される。
なお、本洗浄例では、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3を作動させる構成としてあるが、これに限定されるものではなく、たとえば、第一洗浄槽2のみを作動させたり、あるいは、第二洗浄槽3のみを作動させたりする構成としてもよい。
<Example of third cleaning>
FIG. 5: has shown the schematic plan view for demonstrating the 3rd cleaning example of the washing | cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention.
In the figure, the cleaning apparatus 1 is configured to operate the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 in an independent state. The photomask substrate 8 input from the first input recovery means 4 is After washing in the first washing tank 2, the photomask substrate 8 collected by the first loading / collecting means 4 and fed from the second loading / collecting means 5 is washed in the second washing tank 3, It is recovered by the second input recovery means.
In this cleaning example, the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 are operated. However, the present invention is not limited to this. For example, only the first cleaning tank 2 is operated, or It is good also as a structure which operates only the 2nd washing tank 3.

第一洗浄槽2を用いた洗浄は、上述したように、第一投入回収手段4にフォトマスク基板8が装着されると、第一投入回収手段4が第一洗浄槽2にフォトマスク基板8を投入し、第一洗浄槽2がフォトマスク基板8を洗浄する。この洗浄は、一般的に、薬液洗浄+リンスの洗浄が行われる。なお、第一洗浄槽2における洗浄は、上記薬液洗浄+リンスの洗浄に限定されるものではなく、たとえば、リンスのみの洗浄などでもよい。
次に、上記洗浄が終了し、A点から移動してきたクレーンのチャックが閉じ、基板保持部材81を挟持する。続いて、クレーンは、レール24上を左方向に移動し、搬入・搬出位置Aまで移動し停止する(すなわち、フォトマスク基板8を第一洗浄槽2から回収する)。
In the cleaning using the first cleaning tank 2, as described above, when the photomask substrate 8 is mounted on the first input / recovery means 4, the first input / recovery means 4 is placed in the first cleaning tank 2. The first cleaning tank 2 cleans the photomask substrate 8. This cleaning is generally performed by chemical cleaning + rinsing. In addition, the cleaning in the first cleaning tank 2 is not limited to the above chemical solution cleaning + rinse cleaning, and may be, for example, a rinse only.
Next, the cleaning is completed, the chuck of the crane moved from the point A is closed, and the substrate holding member 81 is clamped. Subsequently, the crane moves to the left on the rail 24, moves to the loading / unloading position A and stops (that is, collects the photomask substrate 8 from the first cleaning tank 2).

次に、第一投入回収手段4は、両チャックが開き、フォトマスク基板8の保持された基板保持部材81が載置板41から取り外され、第一洗浄槽2によるフォトマスク基板8の洗浄が完了する。   Next, in the first input / recovery means 4, both chucks are opened, the substrate holding member 81 holding the photomask substrate 8 is removed from the mounting plate 41, and the photomask substrate 8 is cleaned by the first cleaning tank 2. Complete.

また、第二洗浄槽3を用いた洗浄は、まず、第二投入回収手段5に、フォトマスク基板8の保持された基板保持部材81が装着され、スタートスイッチ(図示せず)が押下されると、チャックが、基板保持部材81を挟持する。続いて、クレーンは、レール24上を左方向に移動し、D点まで移動し停止する(すなわち、フォトマスク基板8を第二洗浄槽3に投入する)。   In the cleaning using the second cleaning tank 3, first, the substrate holding member 81 holding the photomask substrate 8 is mounted on the second input / collecting means 5, and a start switch (not shown) is pressed. Then, the chuck holds the substrate holding member 81. Subsequently, the crane moves to the left on the rail 24, moves to the point D, and stops (that is, the photomask substrate 8 is put into the second cleaning tank 3).

次に、上述したように、第二洗浄槽3が洗浄を行う。この洗浄は、一般的に、リンスのみの洗浄が行われ、フォトマスク基板8が比較的軽度に汚れている場合に用いられる。なお、第二洗浄槽3における洗浄は、上記リンスのみの洗浄に限定されるものではなく、たとえば、薬液洗浄+リンスの洗浄などでもよい。
次に、第二洗浄槽3による洗浄が終了すると、上述したように、E点から移動してきたクレーンがフォトマスク基板8を第二投入回収手段5に回収し、第二投入回収手段5からフォトマスク基板8が取り外され、フォトマスク基板8の第二洗浄槽3による洗浄が完了する。
Next, as described above, the second cleaning tank 3 performs cleaning. This cleaning is generally used when only the rinse is performed and the photomask substrate 8 is relatively lightly soiled. Note that the cleaning in the second cleaning tank 3 is not limited to the above-described rinse only, and may be, for example, chemical solution cleaning + rinse cleaning.
Next, when the cleaning by the second cleaning tank 3 is completed, as described above, the crane that has moved from the point E recovers the photomask substrate 8 to the second input recovery means 5, The mask substrate 8 is removed and the cleaning of the photomask substrate 8 by the second cleaning tank 3 is completed.

このように、第三洗浄例によれば、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3を独立した状態で作動させるとこができるので、洗浄装置1の稼働率を向上させることができる。また、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3が異なる処理を行う場合、フォトマスク基板8を所定の第一洗浄槽2又は第二洗浄槽3に直接投入し、洗浄後に所定の第一洗浄槽2又は第二洗浄槽3から直接回収することができるので、たとえば、フォトマスク基板8が異なる薬液雰囲気中を通過しなくてもすみ、洗浄品質の低下を抑制することができる。   As described above, according to the third cleaning example, since the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 can be operated in an independent state, the operating rate of the cleaning device 1 can be improved. When the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 perform different processes, the photomask substrate 8 is directly put into the predetermined first cleaning tank 2 or the second cleaning tank 3, and the predetermined first cleaning is performed after the cleaning. Since it can collect | recover directly from the tank 2 or the 2nd washing tank 3, it does not need to pass through the chemical | medical solution atmosphere from which the photomask substrate 8 differs, for example, and can suppress the fall of washing | cleaning quality.

なお、本洗浄例は、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3は、それぞれフォトマスク基板8の一方の面のみを洗浄する構成としてあるが、この構成に限定されるものではない。たとえば、第一洗浄槽2における洗浄において、第一投入回収手段4にフォトマスク基板8が装着されると、第一投入回収手段4が第一洗浄槽2に投入し、第一洗浄槽2がフォトマスク基板8の表面を洗浄する。次に、A点から移動してきたクレーン43がフォトマスク基板8をC点まで移動させる。次に、基板反転手段63がフォトマスク基板8を反転した後、クレーンは、フォトマスク基板8をB点まで移動させ、第一洗浄槽2が、フォトマスク基板8の裏面を洗浄する。次に、裏面の洗浄が行われた後、A点から移動してきたクレーンがフォトマスク基板8を第一投入回収手段4に回収し、第一投入回収手段4からフォトマスク基板8が取り外され、フォトマスク基板8の両面洗浄が完了する。   In this cleaning example, the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 are configured to clean only one surface of the photomask substrate 8, respectively, but are not limited to this configuration. For example, in the cleaning in the first cleaning tank 2, when the photomask substrate 8 is mounted on the first input / recovery means 4, the first input / recovery means 4 is input into the first cleaning tank 2, and the first cleaning tank 2 is The surface of the photomask substrate 8 is cleaned. Next, the crane 43 moved from the point A moves the photomask substrate 8 to the point C. Next, after the substrate reversing unit 63 reverses the photomask substrate 8, the crane moves the photomask substrate 8 to the point B, and the first cleaning tank 2 cleans the back surface of the photomask substrate 8. Next, after the back surface is cleaned, the crane that has moved from point A collects the photomask substrate 8 in the first input / recovery means 4, and the photomask substrate 8 is removed from the first input / recovery means 4, The double-sided cleaning of the photomask substrate 8 is completed.

上述したように、洗浄装置1によれば、フォトマスク基板8に対して、第一洗浄槽2,第二洗浄槽3が異なる処理を順にあるいは独立して行うことができるので、洗浄品質を向上させることができる。また、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3が独立した状態で洗浄することができるので、生産効率を向上させることができる。   As described above, according to the cleaning apparatus 1, the first cleaning tank 2 and the second cleaning tank 3 can perform different processes sequentially or independently on the photomask substrate 8, thereby improving the cleaning quality. Can be made. Moreover, since the 1st washing tank 2 and the 2nd washing tank 3 can wash | clean in the independent state, production efficiency can be improved.

[洗浄方法]
本発明は、洗浄方法としても有効であり、本発明の一実施形態にかかる洗浄方法は、上記洗浄装置1を用いて、被処理体であるフォトマスク基板8を洗浄する洗浄方法であって、第一洗浄槽2を用いて、フォトマスク基板8を薬液洗浄した後、リンスを行う薬液洗浄+リンス工程と、リンス専用の第二洗浄槽3を用いて、薬液洗浄+リンス工程を経たフォトマスク基板8に対して、さらにリンスを行う過剰リンス工程とを有する方法としてある。
このようにすると、薬液雰囲気の存在しない第二洗浄槽3にてリンスを行うことができ、薬液をより確実に除去することができ、洗浄品質を向上させることができる。
[Cleaning method]
The present invention is also effective as a cleaning method, and the cleaning method according to an embodiment of the present invention is a cleaning method for cleaning the photomask substrate 8 which is a processing object, using the cleaning apparatus 1. A photomask that has undergone chemical cleaning and rinsing using the first cleaning tank 2 and the chemical cleaning + rinsing process for rinsing after the photomask substrate 8 is cleaned with the chemical cleaning using the first cleaning tank 2 The method further includes an excessive rinsing step of rinsing the substrate 8.
If it does in this way, it can rinse in the 2nd washing tank 3 without a chemical | medical solution atmosphere, a chemical | medical solution can be removed more reliably, and cleaning quality can be improved.

以上、本発明の洗浄装置及び洗浄方法について、好ましい実施形態を示して説明したが、本発明に係る洗浄装置及び洗浄方法は、上述した実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の範囲で種々の変更実施が可能であることは言うまでもない。
たとえば、洗浄装置1は、第一洗浄槽2と第二洗浄槽3の二つの洗浄槽を備えた構成としてあるが、この構成に限定されるものではなく、たとえば、三以上の洗浄槽を備えた構成としてもよい。
While the cleaning apparatus and the cleaning method of the present invention have been described with reference to the preferred embodiments, the cleaning apparatus and the cleaning method according to the present invention are not limited to the above-described embodiments, and the scope of the present invention. Needless to say, various modifications can be made.
For example, although the washing | cleaning apparatus 1 is set as the structure provided with the two washing tanks of the 1st washing tank 2 and the 2nd washing tank 3, it is not limited to this structure, For example, it comprises three or more washing tanks. It is good also as a structure.

本発明の洗浄装置及び洗浄方法は、フォトマスク基板を洗浄する構成に限定されるものではなく、セラミック板や、金属板などの洗浄装置及び洗浄方法に利用することができる。   The cleaning apparatus and the cleaning method of the present invention are not limited to the configuration for cleaning the photomask substrate, and can be used for cleaning apparatuses and cleaning methods for ceramic plates, metal plates, and the like.

本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の概略平面図を示している。1 shows a schematic plan view of a cleaning apparatus according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の概略正面図を示している。The schematic front view of the washing device concerning one embodiment of the present invention is shown. 本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の基板反転手段における要部の概略平面図を示している。The schematic plan view of the principal part in the board | substrate inversion means of the washing | cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention is shown. 本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第一洗浄例を説明するための基板反転手段の概略平面図を示している。The schematic plan view of the board | substrate inversion means for demonstrating the 1st cleaning example of the washing | cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention is shown. 本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第二洗浄例を説明するための基板反転手段の概略平面図を示している。The schematic plan view of the board | substrate inversion means for demonstrating the 2nd cleaning example of the cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention is shown. 本発明の一実施形態にかかる洗浄装置の第三洗浄例を説明するための概略平面図を示している。The schematic plan view for demonstrating the 3rd cleaning example of the washing | cleaning apparatus concerning one Embodiment of this invention is shown.

符号の説明Explanation of symbols

1 洗浄装置
2 第一洗浄槽
3 第二洗浄槽
4 第一投入回収手段
5 第二投入回収手段
6 連結用搬送部
7 制御部
8 フォトマスク基板
21 第一搬送口
22 第二搬送口
24 レール
31 第一搬送口
32 第二搬送口
61 載置板
63 基板反転手段
81 基板保持部材
630 反転部
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Cleaning apparatus 2 1st washing tank 3 2nd washing tank 4 1st input collection means 5 2nd input collection means 6 Connection conveyance part 7 Control part 8 Photomask board | substrate 21 1st conveyance port 22 2nd conveyance port 24 Rail 31 First transport port 32 Second transport port 61 Placement plate 63 Substrate reversing means 81 Substrate holding member 630 Reversing unit

Claims (6)

被処理体に対して複数の洗浄処理を実施可能であり、前記被処理体を搬送する搬送口が少なくとも二個所に設けられた二以上の洗浄槽と、
前記洗浄槽ごとに設けられ、前記搬送口の第一の搬送口に対して、前記被処理体を搬送する投入回収手段と、
前記洗浄槽どうしの間に設けられ、前記洗浄槽の第二の搬送口に対して、前記被処理体を搬送するための連結用搬送部と、
前記被処理体の洗浄処理に応じて、前記被処理体の搬送経路を制御する制御部と
を具備したことを特徴とする洗浄装置。
A plurality of cleaning treatments can be performed on the object to be processed, and two or more cleaning tanks provided with at least two transfer ports for transferring the object to be processed;
Input / recovery means that is provided for each of the cleaning tanks and that transports the object to be processed with respect to the first transport port of the transport port;
A connecting transport unit for transporting the object to be processed to the second transport port of the cleaning tank, provided between the cleaning tanks,
A cleaning apparatus comprising: a control unit that controls a transfer path of the object to be processed according to a cleaning process of the object to be processed.
前記搬送経路として、
前記被処理体が、前記投入回収手段から前記第一の搬送口を経由して前記洗浄槽に搬送され、洗浄処理が終了すると、該第一の搬送口を経由して該投入回収手段に搬送される経路と、
前記被処理体が、前記投入回収手段から前記第一の搬送口を経由して前記洗浄槽に搬送され、洗浄処理が終了すると、前記連結用搬送部を経由して他の前記洗浄槽に搬送され、他の前記洗浄槽にて洗浄処理が終了すると、他の前記洗浄槽における前記第一の搬送口を経由して前記投入回収手段に搬送される経路と
を有することを特徴とする請求項1記載の洗浄装置。
As the transport path,
The object to be processed is transferred from the input / recovery means to the cleaning tank via the first transfer port, and when the cleaning process is completed, it is transferred to the input / recovery means via the first transfer port. Route,
The object to be processed is transported from the input / collecting means to the cleaning tank via the first transport port, and when the cleaning process is completed, it is transported to the other cleaning tank via the connection transport unit. And when the cleaning process is completed in the other cleaning tank, the path is transported to the input and recovery means via the first transport port in the other cleaning tank. The cleaning apparatus according to 1.
前記洗浄槽が、スピン洗浄槽であることを特徴とする請求項1又は2記載の洗浄装置。   The cleaning apparatus according to claim 1, wherein the cleaning tank is a spin cleaning tank. 前記連結用搬送部が、前記被処理体を反転させる反転手段を備えたことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の洗浄装置。   The cleaning apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the connection transport unit includes a reversing unit that reverses the object to be processed. 前記被処理体が、長辺が300mm以上の矩形基板であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の洗浄装置。   The cleaning apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is a rectangular substrate having a long side of 300 mm or more. 二以上のスピン洗浄槽が連結された洗浄装置を用いて、被処理体を洗浄する洗浄方法であって、
前記スピン洗浄槽の少なくとも一つを用いて、前記被処理体を薬液洗浄した後、リンスを行う薬液洗浄+リンス工程と、
リンス専用のスピン洗浄槽を用いて、前記薬液洗浄+リンス工程を経た前記被処理体に対して、さらにリンスを行う過剰リンス工程と
を有することを特徴とする洗浄方法。
A cleaning method for cleaning an object to be processed using a cleaning apparatus in which two or more spin cleaning tanks are connected,
Using at least one of the spin cleaning tanks, the target object is cleaned with a chemical solution and then rinsed with a chemical solution cleaning + rinsing step;
An excessive rinsing step of further rinsing the target object that has undergone the chemical solution cleaning + rinsing step using a spin cleaning bath dedicated to rinsing.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07135192A (en) * 1993-11-09 1995-05-23 Sony Corp Polishing post-treatment for substrate and polishing device to be used for this
JPH1022187A (en) * 1996-06-28 1998-01-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate treating device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07135192A (en) * 1993-11-09 1995-05-23 Sony Corp Polishing post-treatment for substrate and polishing device to be used for this
JPH1022187A (en) * 1996-06-28 1998-01-23 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Substrate treating device

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