JP2007221624A - 照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム - Google Patents
照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2007221624A JP2007221624A JP2006042023A JP2006042023A JP2007221624A JP 2007221624 A JP2007221624 A JP 2007221624A JP 2006042023 A JP2006042023 A JP 2006042023A JP 2006042023 A JP2006042023 A JP 2006042023A JP 2007221624 A JP2007221624 A JP 2007221624A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output value
- image sensor
- noise
- image
- exposure time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
Abstract
【解決手段】光の強さを電気エネルギに変換して出力する撮像素子が異なる露光時間で撮像して得られた撮像データを用い、撮像素子の出力値における前記撮像素子で発生するノイズの影響をモデル化したノイズモデルデータを算出するノイズモデルデータ算出部12と、算出されたノイズモデルデータと、撮像素子が所定の画像を撮像した際の前記撮像素子の出力値とから、前記ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を算出し、そのノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を用いて、撮像素子の出力値と光エネルギ(撮像素子が感知した光の強さ×露光時間)との対応関係から光エネルギを取得し、取得した光エネルギと、前記撮像素子が所定の画像を撮像した際の露光時間とから撮像素子の光の強さを算出する照度算出部(放射照度算出部13)とを有する。
【選択図】図3
Description
このように、撮像素子としてCCDセンサを用いることにより、CCDセンサを用いたディジタルカメラなどを用いて放射照度を算出することができる。
を有することを特徴とする。
図1(a)は、ある画素iの撮像データにおける露光時間Δtの変化に対するCCDセンサ出力値を示す図である。図1(a)においては、露光時間Δtを、ΔtA,ΔtB,ΔtC(ただし、ΔtA<ΔtB<ΔtC)と変化させたときのCCDセンサ出力値を示している。なお、図1(a)においてハッチングを施した部分は、CCDセンサに発生するノイズの影響(ノイズによるCCDセンサ出力値の増分)を示している。図1(a)からもわかるように、ノイズの影響は露光時間が長いほど大きな値となる。
Z=f(E・Δt) ・・・(1)
と表すことができ、この(1)式から、CCDセンサ出力値と光エネルギとの関係式は、
E・Δt=g(Z) ・・・(2)
で表すことができる。これに対して、ノイズの影響を考慮したCCDセンサ出力値は、
Z=f(E・Δt)+δ ・・・(3)
と表すことができ、この(3)式から、ノイズの影響を考慮したCCDセンサ出力値と光エネルギとの関係式は、
E・Δt=g(Z−δ) ・・・(4)
と表すことができる。なお、(1)〜(4)式において、ZはCCDセンサ出力値、Eは放射照度、Δtは露光時間であり、δはノイズによる影響(ノイズによるCCDセンサ出力値の増分)、E・Δtは光エネルギ、gはg=f−1である。
E=g(Z−δ)/Δt ・・・(6)
と表すことができる。(6)式で算出される放射照度Eは、ノイズの影響を考慮したCCDセンサ出力値による放射照度、すなわち、ノイズの影響が除去された放射照度となる。
図3は本発明の実施形態に係る照度取得装置の構成を示す図である。本発明の実施形態に係る照度取得装置は、図3に示すように、ノイズモデルデータを算出する際に使用する複数の画素位置データを画素位置データとして出力する画素位置データ出力部11、ノイズモデルデータを算出するノイズモデルデータ算出部12、CCDセンサが感知する光の強さすなわち放射照度を算出する照度算出部13(図3では放射照度算出部13としている)を有している。
δ=α・Δt ・・・(10)
と表すことができる。
δ=α・Δt+β・(Δt)2 ・・・(11)
と表すことができる。(10)式および(11)式において、α,βは定数である。
まず、前述の(8)式を、
αΔtj+β(Δtj)2=φi,j ・・・(15)
とおく。ここで、φi,jは、
ZMid=(ZMax+ZMin)/2 ・・・(19)
で求められるものとする。
また、本発明は前述の実施形態において説明した照度取得処理をコンピュータに実行させるためのプログラムとしての照度取得プログラムを各種の記録媒体に記録させておくことも可能である。したがって、本発明は、照度取得プログラムを記録した記録媒体をも含むものである。また、照度取得プログラムはネットワークから取得するようにしてもよい。
Claims (9)
- 感知した光の強さを電気エネルギに変換して出力する撮像素子の出力値と、前記撮像素子が感知した光の強さと露光時間との積で得られる光エネルギとの対応関係を用い、前記撮像素子の出力値に対応する光エネルギを異なる露光時間毎に取得し、前記異なる露光時間で取得した前記光エネルギと前記対応関係から前記撮像素子が感知した光の強さを算出し、算出した前記撮像素子が感知した光の強さを取得する照度取得装置であって、
前記撮像素子が異なる露光時間で撮像することによって得られた撮像データを用い、前記撮像素子の出力値における前記撮像素子で発生するノイズの影響をモデル化したノイズモデルデータを算出するノイズモデルデータ算出部と、
前記ノイズモデルデータと、前記撮像素子が所定の画像を撮像した際の前記撮像素子の出力値とから、ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を算出し、算出した前記ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を用いて、前記対応関係から光エネルギを取得し、取得した前記光エネルギと、前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際の露光時間とから前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際に感知した光の強さを算出する照度算出部と、
を有することを特徴とする照度取得装置。 - 請求項1に記載の照度取得装置において、
前記撮像データから複数の画素を選択して、当該選択した画素を選択画素として設定し、設定した複数の前記選択画素の画素位置を画素位置データとして出力する画素位置データ出力部をさらに有することを特徴とする照度取得装置。 - 請求項2に記載の照度取得装置において、
前記選択画素は、前記撮像データから複数の画素を選択画素候補として設定し、設定した前記複数の選択画素候補の中から、前記撮像素子の出力値が前記異なる露光時間の各露光時間で異なった値を出力する画素を選ぶことによって設定されることを特徴とする照度取得装置。 - 請求項2または3に記載の照度取得装置において、
前記ノイズモデルデータを算出する際に用いられる前記撮像素子の出力値は、前記画素位置データで指示される画素における前記撮像素子の出力値を用いることを特徴とする照度取得装置。 - 請求項1〜4のいずれかに記載の照度取得装置において、
前記ノイズモデルデータ算出部および前記照度算出部は、前記ノイズモデルデータおよび前記撮像素子が感知した光の強さを算出する際、前記撮像素子の出力値における白飛び領域および黒つぶれ領域の影響を軽減する重み付けを行うことを特徴とする照度取得装置。 - 請求項1〜5のいずれかに記載の照度取得装置において、
前記ノイズモデルデータは、前記露光時間をパラメータとして持つことを特徴とする照度取得装置。 - 請求項1〜6のいずれかに記載の照度取得装置において、
前記撮像素子は、CCDセンサであることを特徴とする照度取得装置。 - 感知した光の強さを電気エネルギに変換して出力する撮像素子の出力値と、前記撮像素子が感知した光の強さと露光時間との積で得られる光エネルギとの対応関係を用い、前記撮像素子の出力値に対応する光エネルギを異なる露光時間毎に取得し、前記異なる露光時間で取得した前記光エネルギと前記対応関係から前記撮像素子が感知した光の強さを算出し、算出した前記撮像素子が感知した光の強さを取得する照度取得方法であって、
前記撮像素子が異なる露光時間で撮像することによって得られた撮像データを用い、前記撮像素子の出力値における前記撮像素子で発生するノイズの影響をモデル化したノイズモデルデータを算出するステップと、
前記ノイズモデルデータと、前記撮像素子が所定の画像を撮像した際の前記撮像素子の出力値とから、ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を算出し、算出した前記ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を用いて、前記対応関係から光エネルギを取得し、取得した前記光エネルギと、前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際の露光時間とから前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際に感知した光の強さを算出するステップと、
を有することを特徴とする照度取得方法。 - 感知した光の強さを電気エネルギに変換して出力する撮像素子の出力値と、前記撮像素子が感知した光の強さと露光時間との積で得られる光エネルギとの対応関係を用い、前記撮像素子の出力値に対応する光エネルギを異なる露光時間毎に取得し、前記異なる露光時間で取得した前記光エネルギと前記対応関係から前記撮像素子が感知した光の強さを算出し、算出した前記撮像素子が感知した光の強さを取得する照度取得プログラムであって、
前記撮像素子が異なる露光時間で撮像することによって得られた撮像データを用い、前記撮像素子の出力値における前記撮像素子で発生するノイズの影響をモデル化したノイズモデルデータを算出するステップと、
前記ノイズモデルデータと、前記撮像素子が所定の画像を撮像した際の前記撮像素子の出力値とから、ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を算出し、算出した前記ノイズの影響を考慮した撮像素子の出力値を用いて、前記対応関係から光エネルギを取得し、取得した前記光エネルギと、前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際の露光時間とから前記撮像素子が前記所定の画像を撮像した際に感知した光の強さを算出するステップと、
を有することを特徴とする照度取得プログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006042023A JP4466584B2 (ja) | 2006-02-20 | 2006-02-20 | 照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム |
US11/674,382 US8013891B2 (en) | 2006-02-20 | 2007-02-13 | Illuminance acquiring device, illuminance acquiring method, and illuminance acquiring program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006042023A JP4466584B2 (ja) | 2006-02-20 | 2006-02-20 | 照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007221624A true JP2007221624A (ja) | 2007-08-30 |
JP4466584B2 JP4466584B2 (ja) | 2010-05-26 |
Family
ID=38427779
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006042023A Expired - Fee Related JP4466584B2 (ja) | 2006-02-20 | 2006-02-20 | 照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8013891B2 (ja) |
JP (1) | JP4466584B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160074484A (ko) | 2013-10-21 | 2016-06-28 | 소니 주식회사 | 고체 촬상 소자 및 전자 기기 |
CN107806898A (zh) * | 2016-09-09 | 2018-03-16 | 大塚电子株式会社 | 光学测定方法以及光学测定装置 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10671052B2 (en) * | 2017-11-15 | 2020-06-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Synchronized parallel tile computation for large area lithography simulation |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3420303B2 (ja) | 1993-10-29 | 2003-06-23 | キヤノン株式会社 | 画像合成装置 |
US7038712B1 (en) * | 2002-04-18 | 2006-05-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Geometric and photometric calibration of cameras |
JP2005303803A (ja) | 2004-04-14 | 2005-10-27 | Olympus Corp | 撮像装置と画像記録媒体、および画像処理装置ならびに画像処理プログラムとその記録媒体 |
EP1919191A1 (en) * | 2006-11-06 | 2008-05-07 | Dialog Imaging Systems GmbH | On chip test mode implementation |
-
2006
- 2006-02-20 JP JP2006042023A patent/JP4466584B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-02-13 US US11/674,382 patent/US8013891B2/en active Active
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20160074484A (ko) | 2013-10-21 | 2016-06-28 | 소니 주식회사 | 고체 촬상 소자 및 전자 기기 |
KR102277598B1 (ko) | 2013-10-21 | 2021-07-15 | 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 | 고체 촬상 소자 및 전자 기기 |
CN107806898A (zh) * | 2016-09-09 | 2018-03-16 | 大塚电子株式会社 | 光学测定方法以及光学测定装置 |
CN107806898B (zh) * | 2016-09-09 | 2021-10-29 | 大塚电子株式会社 | 光学测定方法以及光学测定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4466584B2 (ja) | 2010-05-26 |
US8013891B2 (en) | 2011-09-06 |
US20070195201A1 (en) | 2007-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20140015954A1 (en) | Image processing apparatus, image processing system, image processing method, and image processing program | |
JP2009171008A (ja) | 色再現装置および色再現プログラム | |
JP2009104547A (ja) | 画像処理装置、画像処理システムおよび画像処理プログラム | |
JP2011124948A (ja) | 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 | |
KR20180132210A (ko) | 컬러반응곡선을 이용한 hdr 영상 생성방법, hdr 영상 생성장치, 카메라 및 기록매체 | |
TWI388200B (zh) | A method for generating a high dynamic range image and a digital image pickup device thereof | |
JP4830068B2 (ja) | 二次元色彩計及び分光感度補正方法 | |
JP4466584B2 (ja) | 照度取得装置、照度取得方法および照度取得プログラム | |
JP2000261687A (ja) | カラーイメージング装置をモデル化する方法、機器、及び記憶媒体 | |
JP5527035B2 (ja) | 画像処理プログラム、画像処理装置および撮像装置 | |
JP2017147638A (ja) | 映像投影システム、映像処理装置、映像処理プログラムおよび映像処理方法 | |
JP6210772B2 (ja) | 情報処理装置、撮像装置、制御方法、及びプログラム | |
JP2007306422A (ja) | 撮像装置及び撮像方法 | |
JP4534992B2 (ja) | 画素位置取得方法 | |
JP6757392B2 (ja) | 画像生成装置、画像生成方法及び画像生成プログラム | |
JP2018088207A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、画像処理プログラム、および記録媒体 | |
CN102186020A (zh) | 图像处理装置、图像处理方法 | |
JP2015171039A (ja) | 色処理装置およびその方法 | |
JP2017028583A (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、画像処理プログラム、および、記憶媒体 | |
JP2007251485A (ja) | 撮像素子の応答特性モデル生成方法、撮像素子の応答特性モデル生成装置及び撮像素子の応答特性モデル生成プログラム | |
JP2021093694A (ja) | 情報処理装置およびその制御方法 | |
JP4830511B2 (ja) | フレア検査装置、フレア検査方法、フレア検査プログラム、及び記録媒体 | |
JP6555881B2 (ja) | 画像処理装置、撮像装置、画像処理方法、画像処理プログラム、および、記憶媒体 | |
JP2009105844A (ja) | 画像処理装置、画像処理システムおよび画像処理プログラム | |
JP4946928B2 (ja) | 画像処理装置および画像処理方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091111 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091117 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100106 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100202 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100215 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130305 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140305 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |