JP2007220211A - 半導体メモリ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 変換制御部は、書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部の変換機能を、コントローラ毎に有効または無効に設定する。したがって、元の外部データが必要なコントローラに対しては外部データを入出力でき、変換された内部データが必要なコントローラに対しては内部データを入出力できる。従来のコントローラが持っていたデータ変換機能を半導体メモリ内で実現できるため、コントローラの負荷を軽減できる。この結果、システムのパフォーマンスを向上できる。アクセス権のない無効なコントローラは、正しいデータ(変換前の元のデータ)を読み出すことができない。したがって、半導体メモリに書き込まれたデータのセキュリティを守ることができる。
【選択図】 図1
Description
ら読み出される内部データを元の外部データに変換する。例えば、書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部は、キーレジスタに格納されている変換キーを用いて変換動作を実行する。
コントローラの負荷を軽減できる。この結果、システムのパフォーマンスを向上できる。また、半導体メモリに書き込まれたデータのセキュリティを守ることができる。
たデータを外部データ端子DTに出力する。デコーダDECは、デコードイネーブル信号DECENが低レベルに非活性化されているときに、復号機能を無効にする。このため、メモリセルアレイARYから読み出された暗号化されたデータは、復号されることなくデコーダDECを通って外部データ端子DTに出力される。
、メモリMEMの外部から書き替え可能である。例えば、変換レジスタCNVRは、CPUのI/O空間に割り当てられている。
の他の構成は、第1の実施形態と同じである。すなわち、半導体メモリMEMは、FCRAMである。暗号化されていないデータは、CPUとメモリMEM間で転送される。暗号化されたデータは、DMACを用いてメモリMEMとHDD間で転送される。
ムできるため、暗号化、復号化のアルゴリズムをシステムSYSの仕様に合わせてシステムSYS上で変更できる。換言すれば、1つの半導体メモリMEMを開発することにより、複数の暗号化、復号化のアルゴリズムに対応することができる。
止してもよい。この場合、メモリセルアレイARYから無効なデータが読み出される。
ジスタCRRの値に応じて、メモリMEMから読み出される無効なデータの値は相違する。
様に、メモリセルアレイARYに格納されたデータ(内部データ)は、スクランブルアドレスにより示されるメモリセルから読み出されたときのみ、元のデータ(外部データ)として読み出される。
変更してもよい。
(付記1)
外部から供給される外部データを内部データに変換する書き込みデータ変換部と、
前記内部データを記憶するメモリセルを有するメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイから読み出される前記内部データを元の外部データに変換する読み出しデータ変換部と、
前記各書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部の機能を、前記メモリセルアレイにデータを入力または出力するコントローラ毎に有効/無効に設定する変換制御部とを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記2)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
変換キーが格納されるキーレジスタを備え、
前記書き込みデータ変換部または前記読み出しデータ変換部は、前記キーレジスタに格納されている前記変換キーを用いて変換動作を実行することを特徴とする半導体メモリ。(付記3)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
複数種の変換情報のいずれかが格納される変換レジスタを備え、
前記書き込みデータ変換部および読み出しデータ変換部は、前記変換レジスタに格納されている変換情報に対応する変換方法を用いて変換動作を実行することを特著とする半導体メモリ。
(付記4)
付記3記載の半導体メモリにおいて、
複数種の変換キーが格納されるキーレジスタを備え、
前記書き込みデータ変換部および読み出しデータ変換部は、前記変換レジスタに格納されている変換情報に対応する変換キーを前記キーレジスタから選択し、選択した変換キーを用いて変換動作を実行することを特著とする半導体メモリ。
(付記5)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記内部データを記憶するために前記メモリセルアレイに割り当てられる記憶領域の大きさを変更するための領域レジスタを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記6)
付記5記載の半導体メモリにおいて、
前記メモリセルアレイに対するアクセス権を前記コントローラ毎に設定可能なアクセスレジスタを備えていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記7)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記コントローラにそれぞれ対応して形成され、前記書き込みデータ変換部および前記読み出しデータ変換部の有効/無効を示す有効情報をそれぞれ記憶するイネーブルレジスタを備え、
前記変換制御部は、前記書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部を、前記イネーブルレジスタに保持されている前記有効情報に応じてそれぞれ有効/無効に設定することを特徴とする半導体メモリ。
(付記8)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記内部データのエラーを訂正するためのエラー訂正コードを生成するコード生成部と、
前記エラー訂正コードを用いて前記内部データのエラーを検出し、エラー訂正可能なエラーを訂正するエラー訂正部とを備え、
前記メモリセルアレイは、エラー訂正コードを記憶するエラーコード領域を備えていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記9)
付記8記載の半導体メモリにおいて、
前記エラー訂正部は、前記メモリセルアレイから読み出された前記内部データに訂正可能なエラーがあることを検出した場合、前記読み出しデータ変換部が有効に設定されているときのみ前記内部データのエラーを訂正することを特徴とする半導体メモリ。
(付記10)
付記9記載の半導体メモリにおいて、
前記エラー訂正部は、前記メモリセルアレイから読み出された前記内部データに訂正可能なエラーがあることを検出した場合、前記読み出しデータ変換部が無効に設定されているときに前記内部データのエラーを訂正しないことを特徴とする半導体メモリ。
(付記11)
付記9記載の半導体メモリにおいて、
前記エラー訂正部は、前記メモリセルアレイから読み出された前記内部データに訂正可能なエラーがあることを検出した場合、前記読み出しデータ変換部が無効に設定されているときに前記内部データのエラーを訂正することを特徴とする半導体メモリ。
(付記12)
付記9記載の半導体メモリにおいて、
訂正フラグが格納される訂正レジスタを備え、
前記エラー訂正部は、前記読み出しデータ変換部が無効に設定されている場合、前記メモリセルアレイから読み出された前記内部データに訂正可能なエラーがあることを検出したときに、訂正フラグの値に応じて前記内部データのエラーを訂正するか否かを決定することを特徴とする半導体メモリ。
(付記13)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部データを暗号化することで前記内部データに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記内部データを復号化することで元の外部データに変換することを特徴とする半導体メモリ。
(付記14)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部データを圧縮することで前記内部データに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記内部データを解凍することで元の外部データに変換することを特徴とする半導体メモリ。
(付記15)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部から供給され、外部データの格納先を示すアドレスをスクランブルアドレスに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記外部データを読み出すための前記アドレスを前記スクランブルアドレスに変換し、
前記外部データは、前記スクランブルアドレスにより示されるメモリセルに書き込まれることで、前記内部データに変換され、
前記内部データは、前記スクランブルアドレスにより示されるメモリセルから読み出されることで、元の外部データに変換されることを特徴とする半導体メモリ。
(付記16)
付記1記載の半導体メモリにおいて、
論理をプログラム可能なフィールドプログラマブル部と、
前記フィールドプログラマブル部の論理を構成するためのプログラムが格納される不揮発性のプログラム領域とを備え、
前記書き込みデータ変換部および前記読み出しデータ変換部は、前記フィールドプログラマブル部に形成されることを特徴とする半導体メモリ。
(付記17)
付記16記載の半導体メモリにおいて、
前記メモリセルアレイは、不揮発性の前記メモリセルで構成され、
前記プログラム領域は、前記メモリセルアレイの一部を使用して形成されていることを特徴とする半導体メモリ。
(付記18)
付記16記載の半導体メモリにおいて、
前記プログラム領域にプログラムを格納するためのプログラム入力端子を備えていることを特徴とする半導体メモリ。
Claims (10)
- 外部から供給される外部データを内部データに変換する書き込みデータ変換部と、
前記内部データを記憶するメモリセルを有するメモリセルアレイと、
前記メモリセルアレイから読み出される前記内部データを元の外部データに変換する読み出しデータ変換部と、
前記各書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部の機能を、前記メモリセルアレイにデータを入力または出力するコントローラ毎に有効/無効に設定する変換制御部とを備えていることを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
変換キーが格納されるキーレジスタを備え、
前記書き込みデータ変換部または前記読み出しデータ変換部は、前記キーレジスタに格納されている前記変換キーを用いて変換動作を実行することを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
複数種の変換情報のいずれかが格納される変換レジスタを備え、
前記書き込みデータ変換部および読み出しデータ変換部は、前記変換レジスタに格納されている変換情報に対応する変換方法を用いて変換動作を実行することを特著とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記内部データを記憶するために前記メモリセルアレイに割り当てられる記憶領域の大きさを変更するための領域レジスタを備えていることを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記コントローラにそれぞれ対応して形成され、前記書き込みデータ変換部および前記読み出しデータ変換部の有効/無効を示す有効情報をそれぞれ記憶するイネーブルレジスタを備え、
前記変換制御部は、前記書き込みデータ変換部または読み出しデータ変換部を、前記イネーブルレジスタに保持されている前記有効情報に応じてそれぞれ有効/無効に設定することを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記内部データのエラーを訂正するためのエラー訂正コードを生成するコード生成部と、
前記エラー訂正コードを用いて前記内部データのエラーを検出し、エラー訂正可能なエラーを訂正するエラー訂正部とを備え、
前記メモリセルアレイは、エラー訂正コードを記憶するエラーコード領域を備えていることを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部データを暗号化することで前記内部データに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記内部データを復号化することで元の外部データに変換することを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部データを圧縮することで前記内部データに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記内部データを解凍することで元の外部データに変換
することを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
前記書き込みデータ変換部は、外部から供給され、外部データの格納先を示すアドレスをスクランブルアドレスに変換し、
前記読み出しデータ変換部は、前記外部データを読み出すための前記アドレスを前記スクランブルアドレスに変換し、
前記外部データは、前記スクランブルアドレスにより示されるメモリセルに書き込まれることで、前記内部データに変換され、
前記内部データは、前記スクランブルアドレスにより示されるメモリセルから読み出されることで、元の外部データに変換されることを特徴とする半導体メモリ。 - 請求項1記載の半導体メモリにおいて、
論理をプログラム可能なフィールドプログラマブル部と、
前記フィールドプログラマブル部の論理を構成するためのプログラムが格納される不揮発性のプログラム領域とを備え、
前記書き込みデータ変換部および前記読み出しデータ変換部は、前記フィールドプログラマブル部に形成されることを特徴とする半導体メモリ。
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