JP2007216501A - Method for producing pattern forming mold and pattern forming mold - Google Patents

Method for producing pattern forming mold and pattern forming mold Download PDF

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Shigeru Yamaki
繁 山木
Junko Katayama
淳子 片山
Makoto Hanabatake
誠 花畑
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for producing a pattern forming mold which is good in adhesion between a substrate and a projection having a desired pattern and excellent in durability and can form the pattern exactly, and the pattern forming mold. <P>SOLUTION: The method for producing the pattern forming mold includes a process for forming the projection having the desired pattern on the surface of the substrate from a resist composition containing fine inorganic particles, a hydroxystyrene resin, and a photo-acid generating agent, a process for forming a hard coat layer on the surface of the substrate with the projection formed by the application of a coating solution containing a polysilazane, and a process for baking the substrate with the hard coat layer formed. The amount of the incorporated hydroxystyrene resin is 5-25 pts.wt. per 100 pts.wt. of the fine inorganic particles. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、パターン形成用モールドの製造方法およびパターン形成用モールドに関する。より詳細には、光インプリント法によるパターン形成に有用な、パターン形成用モールドの製造方法およびパターン形成用モールドに関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a pattern forming mold and a pattern forming mold. More specifically, the present invention relates to a pattern forming mold manufacturing method and a pattern forming mold that are useful for pattern formation by a photoimprint method.

近年、光インプリント法と呼ばれるパターンの転写技術が提案されている。以下、光インプリント法によるパターンの形成方法を説明する。基板上に光硬化性組成物を塗布し、表面に凹凸の形状を有し、かつ、石英などの透光性を有する材料からなるモールドを圧着させる。この状態で、モールドの裏面から光を照射し、光硬化性組成物を硬化させてパターンを得る。   In recent years, a pattern transfer technique called an optical imprint method has been proposed. Hereinafter, a pattern forming method by the optical imprint method will be described. A photocurable composition is applied on a substrate, and a mold made of a material having a concavo-convex shape on the surface and having a light-transmitting property such as quartz is pressed. In this state, light is irradiated from the back surface of the mold to cure the photocurable composition to obtain a pattern.

上記モールドの製造方法としては、「エッチング法」と「焼結法」が提案されている。「エッチング法」は、石英ガラス基板上に保護膜となるレジスト樹脂パターンを形成した後に、エッチングにより保護膜の形成されていない部分を除去する方法である。一方、「焼結法」は、基板上にセラミック前駆体で所望の形状を有する凸部を形成し、焼結して基板と凸部とを一体化する方法である(例えば、特許文献1参照)。したがって、「焼結法」は「エッチング法」に比べて、エッチング工程を省略できる点で有用である。   As the method for producing the mold, an “etching method” and a “sintering method” have been proposed. The “etching method” is a method in which after a resist resin pattern serving as a protective film is formed on a quartz glass substrate, a portion where the protective film is not formed is removed by etching. On the other hand, the “sintering method” is a method in which a convex portion having a desired shape is formed on a substrate with a ceramic precursor, and the substrate and the convex portion are integrated by sintering (for example, see Patent Document 1). ). Therefore, the “sintering method” is more useful than the “etching method” in that the etching process can be omitted.

しかし、「焼結法」は、基板と凸部とを焼結により一体化しているため、基板と凸部との密着性が悪く耐久性に劣るという問題がある。また、「焼結法」で得られたモールドは、基板上に形成された凸部が紫外線を吸収することにより、正確にパターン形成できないという問題がある。
特開平11−40548号公報
However, the “sintering method” has a problem in that the adhesion between the substrate and the convex portion is poor and the durability is poor because the substrate and the convex portion are integrated by sintering. In addition, the mold obtained by the “sintering method” has a problem that a pattern cannot be formed accurately because the convex portions formed on the substrate absorb ultraviolet rays.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-40548

本発明は、上記従来の課題を解決するためになされたものであり、その目的とするところは、基板と所望のパターンを有する凸部との密着性が良く耐久性に優れ、正確にパターン形成可能なパターン形成用モールドの製造方法およびパターン形成用モールドを提供することにある。   The present invention has been made in order to solve the above-described conventional problems. The object of the present invention is to provide good adhesion between the substrate and the convex portion having a desired pattern, excellent durability, and accurate pattern formation. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a pattern forming mold and a pattern forming mold.

本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、基板表面に、無機微粒子とヒドロキシスチレン系樹脂と光酸発生剤とを含むレジスト組成物で所望のパターンを有する凸部を形成する工程と、凸部を形成した基板表面に、ポリシラザンを含有する塗布液を塗布してハードコート層を形成する工程と、ハードコート層を形成した基板を焼成する工程とを含み、前記ヒドロキシスチレン系樹脂の配合量は、前記無機微粒子100重量部に対して5〜25重量部である。   The method for producing a mold for forming a pattern according to the present invention includes a step of forming a convex portion having a desired pattern on a substrate surface with a resist composition containing inorganic fine particles, a hydroxystyrene-based resin, and a photoacid generator; Including a step of applying a coating liquid containing polysilazane to the surface of the substrate on which the hard coat layer is formed, and a step of firing the substrate on which the hard coat layer is formed. , And 5 to 25 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the inorganic fine particles.

好ましい実施形態においては、上記ハードコート層を形成した基板を80〜300℃で焼成する。   In preferable embodiment, the board | substrate in which the said hard-coat layer was formed is baked at 80-300 degreeC.

本発明の別の局面においては、パターン形成用モールドが提供される。このパターン形成用モールドは、上記パターン形成用モールドの製造方法により得られる。   In another aspect of the present invention, a pattern forming mold is provided. This pattern forming mold is obtained by the method for manufacturing a pattern forming mold.

本発明によれば、基板と所望のパターンを有する凸部との密着性が良く耐久性に優れ、正確にパターン形成可能なパターン形成用モールドの製造方法およびパターン形成用モールドを得ることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the mold for pattern formation and the mold for pattern formation which are excellent in the adhesiveness of the board | substrate and the convex part which has a desired pattern, are excellent in durability, and can form a pattern correctly can be obtained.

以下、本発明の好ましい実施形態について説明するが、本発明はこれらの実施形態には限定されない。   Hereinafter, although preferable embodiment of this invention is described, this invention is not limited to these embodiment.

本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、基板表面に、無機微粒子とヒドロキシスチレン系樹脂と光酸発生剤とを含むレジスト組成物で所望のパターンを有する凸部を形成する工程と、凸部を形成した基板表面に、ポリシラザンを含有する塗布液を塗布してハードコート層を形成する工程と、ハードコート層を形成した基板を焼成する工程とを含む。以下、各々の工程について図1を参照しながら説明する。   The method for producing a mold for forming a pattern according to the present invention includes a step of forming a convex portion having a desired pattern on a substrate surface with a resist composition containing inorganic fine particles, a hydroxystyrene-based resin, and a photoacid generator; A step of applying a coating liquid containing polysilazane to the surface of the substrate on which the hard coat layer is formed, and a step of firing the substrate on which the hard coat layer is formed. Hereinafter, each step will be described with reference to FIG.

A凸部形成工程
本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、基板表面に、無機微粒子とヒドロキシスチレン系樹脂と光酸発生剤とを含むレジスト組成物で所望のパターンを有する凸部を形成する工程を含む。本工程で用いられる基板としては、任意の適切な基板が採用され得る。好ましくは、基板は石英で形成される。
A convex part formation process The manufacturing method of the mold for pattern formation of this invention forms the convex part which has a desired pattern with the resist composition containing an inorganic fine particle, a hydroxystyrene resin, and a photo-acid generator on the substrate surface. Process. Any appropriate substrate can be adopted as the substrate used in this step. Preferably, the substrate is made of quartz.

上記レジスト組成物は、無機微粒子を含む。無機微粒子としては、任意の適切な材料が採用され得る。具体例として、シリカ、酸化アルミニウム、酸化チタン、酸化錫等が挙げられる。好ましくはシリカである。紫外線を効率的に透過して、より正確にパターン形成し得るパターン形成用モールドが得られるからである。   The resist composition includes inorganic fine particles. Any appropriate material can be adopted as the inorganic fine particles. Specific examples include silica, aluminum oxide, titanium oxide, tin oxide and the like. Silica is preferred. This is because a pattern-forming mold capable of efficiently transmitting ultraviolet rays and forming a pattern more accurately can be obtained.

好ましくは、上記無機微粒子は、その表面に官能基を有する。この官能基としては、例えば、水酸基、アクリル基、メタクリル基、アミノ基、エポキシ基等が挙げられる。好ましくは、水酸基である。後述するポリシラザンと反応し、強固なハードコート層を形成し得るからである。その結果、耐久性に優れたパターン形成用モールドが得られ得る。   Preferably, the inorganic fine particles have a functional group on the surface thereof. Examples of this functional group include a hydroxyl group, an acryl group, a methacryl group, an amino group, and an epoxy group. Preferably, it is a hydroxyl group. This is because it reacts with polysilazane described later to form a strong hard coat layer. As a result, a pattern forming mold having excellent durability can be obtained.

上記無機微粒子の形状は、特に限定されず、球状、楕円形状、偏平状、ロッド状または繊維状であり得る。無機微粒子の平均粒子径は、好ましくは1〜1000nm、さらに好ましくは5〜100nm、特に好ましくは10〜20nmである。無機微粒子の平均粒子径が前記範囲内にあることにより、紫外線を効率的に透過して、より正確にパターン形成し得るパターン形成用モールドが得られるからである。   The shape of the inorganic fine particles is not particularly limited, and may be spherical, elliptical, flat, rod-like, or fibrous. The average particle diameter of the inorganic fine particles is preferably 1 to 1000 nm, more preferably 5 to 100 nm, and particularly preferably 10 to 20 nm. This is because when the average particle diameter of the inorganic fine particles is within the above range, a pattern forming mold capable of efficiently transmitting ultraviolet rays and forming a pattern more accurately can be obtained.

上記無機微粒子は、溶媒に分散されていることが好ましい。分散された無機微粒子としては、例えば、コロイダルシリカ等が挙げられる。コロイダルシリカはオルガノシリカゾルとして市販されている。具体例として、「スノーテックス コロイダルシリカ」(日産化学工業株式会社製)等が挙げられる。   The inorganic fine particles are preferably dispersed in a solvent. Examples of the dispersed inorganic fine particles include colloidal silica. Colloidal silica is commercially available as an organosilica sol. Specific examples include “Snowtex colloidal silica” (manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) and the like.

上記レジスト組成物は、ヒドロキシスチレン系樹脂を含む。ヒドロキシスチレン系樹脂を含むことにより、後述するポリシラザンとの反応性に優れ、耐久性に優れたパターン形成用モールドが得られ得る。ヒドロキシスチレン系樹脂は、好ましくは、フェノール性水酸基および/またはカルボキシル基を有する。ヒドロキシスチレン系樹脂の具体例としては、パラヒドロキシスチレンを(共)重合して得られたヒドロキシスチレン系樹脂等が挙げられる。   The resist composition includes a hydroxystyrene resin. By including a hydroxystyrene-based resin, a mold for pattern formation having excellent reactivity with polysilazane described later and excellent durability can be obtained. The hydroxystyrene-based resin preferably has a phenolic hydroxyl group and / or a carboxyl group. Specific examples of the hydroxystyrene resin include hydroxystyrene resins obtained by (co) polymerizing parahydroxystyrene.

上記ヒドロキシスチレン系樹脂がフェノール性水酸基を有する場合、好ましくは、当該フェノール性水酸基の一部は保護基に置換されている。当該置換基の具体例としては、アセタール基、t−ブトキシカルボニル基、テトラヒドロピラニル基、トリメチルシリル基等が挙げられる。   When the hydroxystyrene-based resin has a phenolic hydroxyl group, a part of the phenolic hydroxyl group is preferably substituted with a protecting group. Specific examples of the substituent include an acetal group, a t-butoxycarbonyl group, a tetrahydropyranyl group, and a trimethylsilyl group.

上記ヒドロキシスチレン系樹脂は、他のモノマーとの共重合体であってもよい。他のモノマーとしては、例えば、t−ブチルアクリレート、t−ブチルメタクリレート、スチレン等が挙げられる。   The hydroxystyrene resin may be a copolymer with another monomer. Examples of other monomers include t-butyl acrylate, t-butyl methacrylate, and styrene.

上記ヒドロキシスチレン系樹脂の重量平均分子量は、好ましくは1000〜100000、さらに好ましくは2000〜50000、特に好ましくは5000〜30000である。   The hydroxystyrene-based resin preferably has a weight average molecular weight of 1000 to 100,000, more preferably 2000 to 50000, and particularly preferably 5000 to 30000.

上記ヒドロキシスチレン系樹脂の配合量は、上記無機微粒子100重量部に対して5〜25重量部であり、好ましくは10〜25重量部、さらに好ましくは10〜15重量部である。前記範囲にすることにより、基板と凸部との密着性が良く耐久性に優れ、正確にパターン形成し得るパターン形成用モールドが得られ得る。   The amount of the hydroxystyrene-based resin is 5 to 25 parts by weight, preferably 10 to 25 parts by weight, and more preferably 10 to 15 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the inorganic fine particles. By setting it as the said range, the mold for pattern formation which can form a pattern accurately can be obtained that the adhesiveness of a board | substrate and a convex part is excellent, is excellent in durability, and is excellent.

上記レジスト組成物は、光酸発生剤を含む。光酸発生剤としては、市販品を用い得る。市販品の具体例としては、みどり化学株式会社製の「TPS−105(トリフェニルスルホニウムトリフレート)」、「BBI−106(ヨードニウムカンファサルフェイト」、「DAM−301(ジアゾメタンスルフォニウム)」等が挙げられる。   The resist composition includes a photoacid generator. A commercial item can be used as a photo-acid generator. Specific examples of commercially available products include “TPS-105 (triphenylsulfonium triflate)”, “BBI-106 (iodonium camphor sulfate),“ DAM-301 (diazomethanesulfonium) ”manufactured by Midori Chemical Co., Ltd. Is mentioned.

上記光酸発生剤の配合量は、上記ヒドロキシスチレン系樹脂100重量部に対して1〜20重量部であり、好ましくは1〜10重量部、さらに好ましくは2〜5重量部である。   The compounding amount of the photoacid generator is 1 to 20 parts by weight, preferably 1 to 10 parts by weight, and more preferably 2 to 5 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the hydroxystyrene resin.

好ましくは、上記レジスト組成物は溶媒を含む。この溶媒は、上記ヒドロキシスチレン系樹脂を溶解または分散し得るものであれば特に限定されない。溶媒の具体例としては、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)、プロピレングリコールモノメチルエーテル(PGME)、乳酸エチル(EL)、メチルアミルケトン(MAK)等が挙げられる。   Preferably, the resist composition includes a solvent. The solvent is not particularly limited as long as it can dissolve or disperse the hydroxystyrene resin. Specific examples of the solvent include propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA), propylene glycol monomethyl ether (PGME), ethyl lactate (EL), methyl amyl ketone (MAK) and the like.

上記レジスト組成物は、その他の成分を含んでいてもよい。その他の成分としては、界面活性剤、密着助剤等が挙げられる。   The resist composition may contain other components. Examples of other components include surfactants and adhesion assistants.

基板表面に所望のパターンを有する凸部20bを形成する方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。例えば、基板10上にレジスト組成物を塗布してレジスト組成物層20を形成する工程I(図1(a))と;所望のパターンと略同一形状のくりぬき部(明部)を有するマスクMを介して、前記レジスト組成物層20に紫外線を照射する工程II(図1(b))と;紫外線照射工程後に、レジスト組成物層をアルカリ溶液中に浸漬して、露光部分20aを除去する工程III(図1(c))とを含む方法が挙げられる(ポジ型)。   Any appropriate method can be adopted as a method of forming the convex portion 20b having a desired pattern on the substrate surface. For example, a step I (FIG. 1A) in which a resist composition is applied to the substrate 10 to form a resist composition layer 20; and a mask M having a hollow portion (bright portion) having substantially the same shape as a desired pattern. Step II (FIG. 1 (b)) of irradiating the resist composition layer 20 with ultraviolet rays through the step; After the ultraviolet irradiation step, the resist composition layer is immersed in an alkaline solution to remove the exposed portion 20a. And a method including Step III (FIG. 1C) (positive type).

上記工程Iにおいて、レジスト組成物を基板上に塗布する方法としては、任意の適切な方法が採用され得る。具体例として、スピンコート法、ディップコート法等が挙げられる。レジスト組成物層の厚みは、目的に応じて適宜設定され得る。代表的には、0.1〜5μmである。   In Step I, any appropriate method can be adopted as a method for applying the resist composition onto the substrate. Specific examples include spin coating and dip coating. The thickness of the resist composition layer can be appropriately set according to the purpose. Typically, it is 0.1 to 5 μm.

上記工程IIにおいて用いられるマスクの材質としては、紫外線を遮断し得る材質であれば特に限定されない。具体例として、ガラス、石英等が挙げられる。   The material of the mask used in step II is not particularly limited as long as it is a material that can block ultraviolet rays. Specific examples include glass and quartz.

上記工程IIにおいて、紫外線照射に用いられる光源の波長は、目的に応じて適宜設定し得る。代表的には、210〜400nmであり、さらに好ましくは、210〜320nmである。紫外線の照射光量は、好ましくは0.1〜10J/cm、さらに好ましくは0.5〜4J/cmである。 In Step II, the wavelength of the light source used for ultraviolet irradiation can be set as appropriate according to the purpose. Typically, it is 210-400 nm, More preferably, it is 210-320 nm. The amount of ultraviolet irradiation is preferably 0.1 to 10 J / cm 2 , more preferably 0.5 to 4 J / cm 2 .

上記紫外線照射手段Uの具体例としては、超高圧水銀ランプ、フラッシュUVランプ、高圧水銀ランプ、低圧水銀ランプ、深UVランプ、キセノンランプ、キセノンフラッシュランプ、メタルハライドランプ、発光ダイオード(LED)等が挙げられる。   Specific examples of the ultraviolet irradiation means U include an ultrahigh pressure mercury lamp, a flash UV lamp, a high pressure mercury lamp, a low pressure mercury lamp, a deep UV lamp, a xenon lamp, a xenon flash lamp, a metal halide lamp, and a light emitting diode (LED). It is done.

上記工程IIIにおけるアルカリ溶液としては、任意の適切な溶液が採用される。具体例として、水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液等が挙げられる。アルカリ溶液の濃度は、好ましくは1〜5重量%である。なお、アルカリ溶液としては、一般的に、2.38重量%の水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液が用いられる。レジスト組成物層をアルカリ溶液中に浸漬する時間は、レジスト組成物層の厚み等に応じて適宜設定し得る。代表的には、5〜60秒である。   Arbitrary appropriate solutions are employ | adopted as an alkaline solution in the said process III. Specific examples include tetramethylammonium hydroxide aqueous solution. The concentration of the alkaline solution is preferably 1 to 5% by weight. In addition, as an alkaline solution, 2.38 weight% tetramethylammonium hydroxide aqueous solution is generally used. The time for immersing the resist composition layer in the alkaline solution can be appropriately set according to the thickness of the resist composition layer. Typically, it is 5 to 60 seconds.

なお、基板表面に所望のパターンを有する凸部20bを形成する別の方法としては、基板10上にレジスト組成物を塗布してレジスト組成物層20を形成する工程I(図1(a))と;くりぬき部(明部)以外の部分が所望のパターンと略同一形状を有するマスクMを介して、前記レジスト組成物層20に紫外線を照射する工程II(図1(b))と;紫外線照射工程後に、露光されていない部分を除去する工程III(図1(c´))とを含む方法が挙げられる(ネガ型)。   In addition, as another method of forming the convex portion 20b having a desired pattern on the substrate surface, a step I of applying a resist composition on the substrate 10 to form the resist composition layer 20 (FIG. 1A). Step II (FIG. 1 (b)) in which the resist composition layer 20 is irradiated with ultraviolet rays through a mask M having a portion other than the hollowed out portion (bright portion) having substantially the same shape as the desired pattern; After the irradiation step, a method including a step III (FIG. 1 (c ′)) of removing an unexposed portion is included (negative type).

B.ハードコート層形成工程
本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、図1(d)に示すように、凸部20bを形成した基板10表面に、塗布液を塗布してハードコート層30を形成する工程を含む。
B. Hard Coat Layer Forming Step As shown in FIG. 1 (d), the method for producing a pattern forming mold of the present invention forms a hard coat layer 30 by applying a coating liquid on the surface of the substrate 10 on which the convex portions 20b are formed. The process of carrying out is included.

上記塗布液は、ポリシラザンを含有する。ポリシラザンは、分子内に下記式(1)で表される構成単位を有する化合物(ポリマーを含む)である。
ここで、Rは水素原子または有機基である。分子内に複数存在するRは、互いに同じであっても異なっていてもよい。好ましいポリシラザンの具体例としては、ペルヒドロポリシラザン(上記のRがすべて水素原子であるポリシラザン )が挙げられる。Rが水素原子であることにより、後述の焼成工程でより純粋なシリカへ転化し得る。その結果、透明性に優れ、正確にパターン形成可能なパターン形成用モールドが得られ得る。
The coating solution contains polysilazane. Polysilazane is a compound (including a polymer) having a structural unit represented by the following formula (1) in the molecule.
Here, R is a hydrogen atom or an organic group. A plurality of R present in the molecule may be the same or different from each other. Specific examples of preferable polysilazane include perhydropolysilazane (polysilazane in which all Rs are hydrogen atoms). When R is a hydrogen atom, it can be converted to a purer silica in the firing step described below. As a result, it is possible to obtain a pattern forming mold that is excellent in transparency and capable of forming a pattern accurately.

上記ポリシラザンは鎖状、環状、および/または架橋構造を有し得る。上記ポリシラザンの数平均分子量は、好ましくは300〜15000、さらに好ましくは300〜10000、特に好ましくは500〜2000である。   The polysilazane may have a chain, a ring, and / or a crosslinked structure. The number average molecular weight of the polysilazane is preferably 300 to 15000, more preferably 300 to 10,000, and particularly preferably 500 to 2,000.

本発明において、特定の構造を有するポリシラザンを2種以上組み合わせて用いてもよい。さらに、目的に応じて、ポリシラザンと他の有機または無機ポリマー(好ましくは、無機ポリマー)との共重合体を用いてもよい。   In the present invention, two or more polysilazanes having a specific structure may be used in combination. Furthermore, a copolymer of polysilazane and another organic or inorganic polymer (preferably an inorganic polymer) may be used depending on the purpose.

好ましくは、上記塗布液は溶剤を含む。この溶剤は、ポリシラザンを希釈し得、ポリシラザンと反応しないものであれば特に限定されない。溶剤の具体例としては、トルエン、キシレン、ジブチルエーテル、PGMEA、乳酸エチル、シクロヘキサノン等が挙げられる。   Preferably, the coating solution contains a solvent. This solvent is not particularly limited as long as it can dilute polysilazane and does not react with polysilazane. Specific examples of the solvent include toluene, xylene, dibutyl ether, PGMEA, ethyl lactate, and cyclohexanone.

上記塗布液におけるポリシラザン濃度は、ポリシラザンの数平均分子量や後述するポリシラザン塗布膜の厚みに応じて、適宜設定される。代表的には、ポリシラザン塗布液中のポリシラザン濃度は、1〜5重量%である。   The polysilazane concentration in the coating solution is appropriately set according to the number average molecular weight of the polysilazane and the thickness of the polysilazane coating film described later. Typically, the polysilazane concentration in the polysilazane coating solution is 1 to 5% by weight.

上記塗布液の塗布方法としては、例えば、ディップコート法、スピンコート法、スプレーコート法等が挙げられる。   Examples of the coating method of the coating solution include a dip coating method, a spin coating method, and a spray coating method.

上記ハードコート層の厚みは、好ましくは1〜500nm、さらに好ましくは1〜50nm、特に好ましくは1〜5nmである。ハードコート層の厚みが前記範囲内にあることにより、耐久性に優れたパターン形成用モールドが得られ得る。   The thickness of the hard coat layer is preferably 1 to 500 nm, more preferably 1 to 50 nm, and particularly preferably 1 to 5 nm. When the thickness of the hard coat layer is within the above range, a pattern forming mold having excellent durability can be obtained.

C.焼成工程
本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、ハードコート層30を形成した基板10を焼成する工程を含む。焼成後、図1(d)に示すように、基板10と凸部20bとが一体化し得、パターン形成用モールド100が得られ得る。焼成温度は、好ましくは80〜300℃、さらに好ましくは80〜160℃、特に好ましくは80〜120℃である。
C. Firing Step The method for producing a pattern forming mold of the present invention includes a step of firing the substrate 10 on which the hard coat layer 30 is formed. After firing, as shown in FIG. 1 (d), the substrate 10 and the convex portion 20b can be integrated, and the pattern forming mold 100 can be obtained. The firing temperature is preferably 80 to 300 ° C, more preferably 80 to 160 ° C, and particularly preferably 80 to 120 ° C.

上記焼成工程は、好ましくは大気雰囲気下および/または水蒸気雰囲気下で行われる。上記レジスト組成物中の無機微粒子と上記ポリシラザンとの反応が促進されるからである。その結果、耐久性に優れたモールドが得られ得る。焼成時間は、好ましくは30分〜3時間、さらに好ましくは30分〜1時間である。   The firing step is preferably performed in an air atmosphere and / or a water vapor atmosphere. This is because the reaction between the inorganic fine particles in the resist composition and the polysilazane is promoted. As a result, a mold having excellent durability can be obtained. The firing time is preferably 30 minutes to 3 hours, more preferably 30 minutes to 1 hour.

D.その他
本発明のパターン形成用モールドの製造方法は、好ましくは、上記焼成工程後の基板表面に防汚層を形成する工程を含む。防汚層を形成することにより、パターン形成の際、光硬化後の光硬化性組成物との剥離性に優れたモールドが得られ得る。防汚層を形成する防汚剤としては、任意の適切な材料を採用し得る。具体例として、フッ素系樹脂が挙げられる。
D. Others The method for producing a pattern forming mold of the present invention preferably includes a step of forming an antifouling layer on the substrate surface after the baking step. By forming the antifouling layer, a mold excellent in releasability from the photocurable composition after photocuring can be obtained during pattern formation. Any appropriate material can be adopted as the antifouling agent for forming the antifouling layer. A specific example is a fluororesin.

以下、本発明の作用について説明する。本発明によれば、基板と凸部との密着性が良く耐久性に優れ、正確にパターン形成可能なパターン形成用モールドの製造方法およびパターン形成用モールドを得ることができる。また、所定量の無機微粒子とヒドロキシスチレン系樹脂と光酸発生剤とを含むレジスト組成物で凸部を形成し、ポリシラザンを含有する塗布液でハードコート層を形成することにより、比較的低温な焼成条件で、耐久性に優れ、正確にパターン形成可能なパターン形成用モールドが得られることも本発明の優れた特徴の一つである。   The operation of the present invention will be described below. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the adhesiveness of a board | substrate and a convex part is excellent, it is excellent in durability, and the manufacturing method of the mold for pattern formation which can form a pattern correctly, and the mold for pattern formation can be obtained. Further, by forming a convex portion with a resist composition containing a predetermined amount of inorganic fine particles, a hydroxystyrene resin and a photoacid generator, and forming a hard coat layer with a coating liquid containing polysilazane, a relatively low temperature is obtained. It is one of the excellent features of the present invention that a mold for forming a pattern that is excellent in durability and capable of forming a pattern accurately under firing conditions is obtained.

以下、実施例に基づいて本発明をより詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although this invention is demonstrated in detail based on an Example, this invention is not limited to these Examples.

〔実施例1〕
(レジスト樹脂組成物の調製)
ポリヒドロキシスチレン(商品名:VP8000、日本曹達株式会社製)のフェノール性水酸基の40%を、定法に従ってエトキシエチル基に置換した。この樹脂10重量部と、光酸発生剤としてトリフェニルスルホニウムトリフレート(商品名:TPS−105、みどり化学株式会社製)0.3重量部と、溶媒としてプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)75重量部とを混合し、レジスト樹脂組成物を調製した。
[Example 1]
(Preparation of resist resin composition)
40% of the phenolic hydroxyl group of polyhydroxystyrene (trade name: VP8000, manufactured by Nippon Soda Co., Ltd.) was substituted with an ethoxyethyl group according to a conventional method. 10 parts by weight of this resin, 0.3 parts by weight of triphenylsulfonium triflate (trade name: TPS-105, manufactured by Midori Chemical Co., Ltd.) as a photoacid generator, and 75 parts by weight of propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) as a solvent And a part were mixed to prepare a resist resin composition.

(レジスト組成物の調製)
オルガノシリカゾル(商品名:PMA−ST、固形分:30重量%、日産化学工業株式会社製)216重量部と、上記で得られたレジスト樹脂組成物60重量部とを、室温で1時間攪拌することによりレジスト組成物を調製した。ここで、有機固形部分と無機固形分との重量比は11:100であった。
(Preparation of resist composition)
216 parts by weight of organosilica sol (trade name: PMA-ST, solid content: 30% by weight, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.) and 60 parts by weight of the resist resin composition obtained above are stirred at room temperature for 1 hour. Thus, a resist composition was prepared. Here, the weight ratio of the organic solid portion to the inorganic solid content was 11: 100.

(凸部の形成)
図1(a)に示すように、厚み1mmの石英基板上に、上記で得られたレジスト組成物を、スピンコート法により塗布して、厚み0.5μmのレジスト組成物層Aを形成した。次に、マスク(明部0.6μm、暗部0.6μmのストライプ状)を介して、レジスト組成物層A表面に大型マスクアライメント装置M−2L型(ミカサ株式会社製)で紫外線を照射した。その際、照射波長は248nm、照射光量は4J/cmであった。その後、紫外線照射工程後に、レジスト組成物層Aを形成した基板をアルカリ溶液(水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液、濃度:2.38重量%)中に10秒間浸漬し、積層体Aを得た。
(Formation of convex parts)
As shown in FIG. 1A, a resist composition layer A having a thickness of 0.5 μm was formed by applying the resist composition obtained above onto a quartz substrate having a thickness of 1 mm by a spin coating method. Next, the surface of the resist composition layer A was irradiated with ultraviolet rays with a large mask alignment apparatus M-2L (manufactured by Mikasa Co., Ltd.) through a mask (a stripe shape having a bright portion of 0.6 μm and a dark portion of 0.6 μm). At that time, the irradiation wavelength was 248 nm and the irradiation light amount was 4 J / cm 2 . Thereafter, after the ultraviolet irradiation step, the substrate on which the resist composition layer A was formed was immersed in an alkaline solution (tetramethylammonium hydroxide aqueous solution, concentration: 2.38 wt%) for 10 seconds to obtain a laminate A.

(ハードコート層の形成)
ポリシラザン(成分名:ポリヒドロキシポリシラザン、溶剤:キシレン、濃度:20重量%、商品名:アクアミカNN110、AZエレクトロニックマテリアルズ株式会社製)を、トルエンで5重量%まで希釈し、塗布液を調製した。得られた塗布液を上記積層体A表面(凸部が形成されている側)に、スピンコート法により塗布し、オーブン(100℃)で1時間乾燥させ、ハードコート層を形成した。
(Formation of hard coat layer)
Polysilazane (component name: polyhydroxypolysilazane, solvent: xylene, concentration: 20% by weight, trade name: Aquamica NN110, manufactured by AZ Electronic Materials Co., Ltd.) was diluted to 5% by weight with toluene to prepare a coating solution. The obtained coating solution was applied to the surface of the laminate A (side on which the convex portions were formed) by a spin coating method and dried in an oven (100 ° C.) for 1 hour to form a hard coat layer.

(焼成)
ハードコート層を形成した積層体Aを、大気雰囲気下、100℃で1時間焼成し、パターン形成用モールドを得た。
(Baking)
The laminate A on which the hard coat layer was formed was baked at 100 ° C. for 1 hour in an air atmosphere to obtain a pattern forming mold.

(防汚層の形成)
オプツール(商品名、ダイキン工業株式会社製)1重量%を含むデムナムソルベント(商品名、ダイキン工業株式会社製)に上記で得られたパターン形成用モールドを1分間浸漬した。その後、溶液からパターン形成用モールドを取り出して1分間放置し、デムナムソルベントにて洗浄した。その後、水蒸気雰囲気下、80℃で1時間反応させた。反応後、室温まで冷却した後、蒸留水で濯ぎ、オーブン(120℃)で30分間乾燥させ、防汚層を形成した。
(Formation of antifouling layer)
The pattern forming mold obtained above was immersed in a demnum solvent (trade name, manufactured by Daikin Industries, Ltd.) containing 1% by weight of OPTOOL (trade name, manufactured by Daikin Industries, Ltd.) for 1 minute. Thereafter, the mold for pattern formation was taken out of the solution, left for 1 minute, and washed with demnum solvent. Then, it was made to react at 80 degreeC for 1 hour in water vapor | steam atmosphere. After the reaction, the reaction mixture was cooled to room temperature, rinsed with distilled water, and dried in an oven (120 ° C.) for 30 minutes to form an antifouling layer.

〔比較例1〕
オルガノシリカゾル(商品名:PMA−ST)228重量部と、上記レジスト樹脂組成物23重量部とでレジスト組成物を調製したこと以外は実施例1と同様に行った。
[Comparative Example 1]
The same operation as in Example 1 was conducted except that a resist composition was prepared with 228 parts by weight of organosilica sol (trade name: PMA-ST) and 23 parts by weight of the resist resin composition.

走査型プローブ顕微鏡(SPA−400、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製)により、実施例1で得られたパターン形成用モールドを観察した。観察結果を図2に示す。一方、比較例1では、凸部形成時に、レジスト組成物がアルカリ溶液に溶解してしまい、パターン形成用モールドは作成できなかった。   The mold for pattern formation obtained in Example 1 was observed with a scanning probe microscope (SPA-400, manufactured by SII Nano Technology Co., Ltd.). The observation results are shown in FIG. On the other hand, in Comparative Example 1, the resist composition was dissolved in an alkaline solution when the convex portions were formed, and a pattern forming mold could not be created.

実施例1で得られたパターン形成用モールドを用い、以下の要領でパターンの形成を行った。
(光重合性基を有する無機微粒子の調製)
オルガノシリカゾル(商品名:IPA−ST、日産化学工業株式会社製)1500重量部と、メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(商品名:サイラエースS710、チッソ石油化学株式会社製)135重量部と、0.05Nの塩酸40重量部とを、室温下で24時間攪拌することにより、光重合性基を有する無機微粒子(固形分:450重量部)を調製した。
Using the pattern forming mold obtained in Example 1, a pattern was formed in the following manner.
(Preparation of inorganic fine particles having a photopolymerizable group)
1500 parts by weight of organosilica sol (trade name: IPA-ST, manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.), 135 parts by weight of methacryloxypropyltrimethoxysilane (trade name: Silaace S710, manufactured by Chisso Petrochemical Co., Ltd.), 0.05 N Inorganic fine particles having a photopolymerizable group (solid content: 450 parts by weight) were prepared by stirring 40 parts by weight of hydrochloric acid at room temperature for 24 hours.

(光硬化性組成物の調製)
上記で得られた光重合性基を有する無機微粒子に、トリメチロールプロパンEO付加トリアクリレート(商品名:ビスコートV360、大阪有機化学工業製)450重量部を加え混合した。その後、エバポレーター(東京理科器機株式会社製)を用いてオルガノシリカゾル中の溶媒を減圧留去させて無機微粒子含有モノマーを得た。この無機微粒子含有モノマー100重量部と、2,2,2−トリフルオロエチルアクリレート(商品名:ビスコート3F、大阪有機化学工業製)30重量部と、テトラエチレングリコールジメタクリレート(商品名:ライトエステル4EG、共栄社化学製)20重量部とを混合した。これに、光重合性開始剤として、ビス(2,5−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチル−ベンジルフォスフィンオキサイドと1−ヒドロキシ−シクロヘキシル−フェニル−ケトンとが1:3の割合で混合されたイルガキュア1800(商品名;長瀬産業製)1.5重量部を混合し、光硬化性組成物を得た。
(Preparation of photocurable composition)
To the inorganic fine particles having a photopolymerizable group obtained above, 450 parts by weight of trimethylolpropane EO-added triacrylate (trade name: Biscote V360, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry) was added and mixed. Thereafter, the solvent in the organosilica sol was distilled off under reduced pressure using an evaporator (manufactured by Tokyo Science Equipment Co., Ltd.) to obtain an inorganic fine particle-containing monomer. 100 parts by weight of the inorganic fine particle-containing monomer, 30 parts by weight of 2,2,2-trifluoroethyl acrylate (trade name: Biscoat 3F, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry), and tetraethylene glycol dimethacrylate (trade name: light ester 4EG) And 20 parts by weight of Kyoeisha Chemical Co., Ltd.). As a photopolymerizable initiator, bis (2,5-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethyl-benzylphosphine oxide and 1-hydroxy-cyclohexyl-phenyl-ketone were used at a ratio of 1: 3. 1.5 parts by weight of mixed Irgacure 1800 (trade name; manufactured by Nagase Sangyo Co., Ltd.) was mixed to obtain a photocurable composition.

(パターンの形成)
基板に、上記で得られた光硬化性組成物を滴下し、実施例1で得られたパターン形成用モールドで挟み込んだ。次いで、基板とパターン形成用モールドとをクリップで留めて、型押しを行いながら、高圧水銀灯で紫外光を照射した。滴下量は約0.1mL/cmであった。紫外光の照射光量は、365nm波長換算で、1J/cmであった。
(Pattern formation)
The photocurable composition obtained above was dropped onto the substrate and sandwiched between the pattern forming molds obtained in Example 1. Next, the substrate and the pattern forming mold were clipped and irradiated with ultraviolet light with a high-pressure mercury lamp while embossing. The amount dropped was about 0.1 mL / cm 2 . The irradiation light quantity of ultraviolet light was 1 J / cm 2 in terms of 365 nm wavelength.

上記で得られたパターンを走査型プローブ顕微鏡(SPA−400、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社製)で観察した。観察結果を図3に示す。図3に示すように、正確にパターンを形成できた。   The pattern obtained above was observed with a scanning probe microscope (SPA-400, manufactured by SII Nano Technology Co., Ltd.). The observation results are shown in FIG. As shown in FIG. 3, the pattern could be formed accurately.

本発明のパターン形成用モールドの製造方法およびモールドは、半導体、微小光学部品、MEMS等各種分野のパターン形成に利用され得る。   The method for producing a mold for pattern formation and the mold of the present invention can be used for pattern formation in various fields such as semiconductors, micro optical parts, MEMS and the like.

本発明の好ましい実施形態によるパターン形成用モールドの製造方法を示す概略図である。It is the schematic which shows the manufacturing method of the mold for pattern formation by preferable embodiment of this invention. 実施例1で得られたパターン形成用モールドの観察写真である。3 is an observation photograph of the pattern forming mold obtained in Example 1. FIG. 実施例1で得られたパターン形成用モールドを用いて得られたパターンの観察写真である。2 is an observation photograph of a pattern obtained using the pattern forming mold obtained in Example 1. FIG.

Claims (3)

基板表面に、無機微粒子とヒドロキシスチレン系樹脂と光酸発生剤とを含むレジスト組成物で所望のパターンを有する凸部を形成する工程と、
凸部を形成した基板表面に、ポリシラザンを含有する塗布液を塗布してハードコート層を形成する工程と、
ハードコート層を形成した基板を焼成する工程とを含み、
該ヒドロキシスチレン系樹脂の配合量は、該無機微粒子100重量部に対して5〜25重量部である、パターン形成用モールドの製造方法。
Forming a convex portion having a desired pattern on a substrate surface with a resist composition containing inorganic fine particles, a hydroxystyrene-based resin, and a photoacid generator;
A step of applying a coating liquid containing polysilazane to form a hard coat layer on the substrate surface on which the convex portions are formed;
Baking the substrate on which the hard coat layer is formed,
The amount of the hydroxystyrene-based resin is 5 to 25 parts by weight with respect to 100 parts by weight of the inorganic fine particles.
前記ハードコート層を形成した基板を80〜300℃で焼成する、請求項1に記載のパターン形成用モールドの製造方法。   The manufacturing method of the mold for pattern formation of Claim 1 which bakes the board | substrate in which the said hard-coat layer was formed at 80-300 degreeC. 請求項1または2に記載のパターン形成用モールドの製造方法で得られた、パターン形成用モールド。

A pattern forming mold obtained by the method for producing a pattern forming mold according to claim 1.

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