JP2007192637A - プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】観察照明光学系12と、試料10から観察情報を取り出す情報検出光学系11とが共通の対物レンズ14に対して設けることによって小型化をはかり、波長選択素子13によってこれら光学系11および12の波長の重複によるノイズの改善を図る。
【選択図】図1
Description
そして、試料100に対するプローブ位置を観察する観察照明光学系111と、試料100表面との原子間力によって変位するカンチレバー102の変位量を光学的に検出する情報検出光学系112とを有する。
この情報検出光学系112においては、カンチレバー102にレーザ光104を照射し、カンチレバー102の変位量に応じて変位するレーザ光104の反射光の変位量を検出して原子間力を測定し、プローブの変位が一定になるようにカンチレバー102もしくは試料の位置を制御し、その制御信号によって試料100の表面状態を観察するようになされている。
また、このように、観察照明光学系111と、情報検出光学系112との両光学系をそれぞれ設けることは、光学系が複雑かつ大型となる。
そして、このように、プローブ位置の観察および試料情報の取り出しを共通の対物レンズによって行う構成とし、これらプローブ位置の検出および試料情報の検出を、相互に近軸位置で行うことができることから、正確に試料情報もしくは光記録媒体の記録情報を取り出すことができる。
そして、このように、プローブ位置の観察および試料情報の取り出しを共通の対物レンズによって行うにも拘わらず、波長選択素子を光路に設けたことによって観察情報の取り出しにおいて照明光によって、情報取り出しが阻害されることがなく、また、照明光によってプローブ位置検出等が阻害されることがないものであり、それぞれの機能が確実になされた構成とされるものである。
図1〜図4は、本発明によるプローブ顕微鏡を例示する模式的構成図である。
本発明によるプローブ顕微鏡は、観察がなされる目的とする試料10の表面との原子間力が作用されるプローブ21が設けられたカンチレバー22を有するものであり、このカンチレバー22を介して試料10上の情報を検出する。
まず、本発明によるプローブ顕微鏡の実施の形態例について説明する。
図1はこの第1の実施形態例によるプローブ顕微鏡300の模式的構成図である。
この実施の形態例によるプローブ顕微鏡300は、試料10の試料情報例えば表面形状を得るプローブ顕微鏡である。
このプローブ顕微鏡300の光学系においては、試料10の試料情報を得るための情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系11と、情報検出レーザ光18の照射状態を観察する観察照明光学系12と、波長選択素子13とを有する。
そして、本発明においては、対物レンズ14がこれら情報検出光学系11と観察照明光学系12との両光学系に対して共通に設けられる。
照明光源15からの照明光20は、少なくとも情報検出レーザ光18の波長以外の波長帯を有する照明光とされる。
この実施形態例においては、試料10が移動ステージ60上に配置される。移動ステージ60は、プローブ顕微鏡300の上述した光軸方向に沿うz軸方向と、これとほぼ直交する面上で、互いに直交するx軸およびy軸方向に移動できる構成とされる。
また、この例においては、試料面10に対してプローブ21の先端が近接ないしは軽く接触する配置構成とされ、移動ステージ60のx軸およびy軸方向の移動によってプローブ21が試料10の表面に対してx軸およびy軸方向に走査するようになされる。
カンチレバー22は、プローブ21の先端と、試料10の観察がなされる表面との原子間力の作用によって支持端側を支点として撓曲変位する構成とされる。このカンチレバー22は、その長さが例えば100μm、厚さ400nm〜800nmを有し、所定のばね定数を有する。このカンチレバー22は、光透過性の例えばSiNより構成され、後述する情報検出レーザ光18の照射部に例えばAuあるいはAl等の金属膜による反射膜22R被着される。
この情報検出光学系11は、カンチレバー22に照射される情報検出レーザ光17例えば650nmの赤のレーザ光を発光するレーザ光源17例えば半導体レーザと、集光レンズ等の光学レンズ85を有し、更に情報検出レーザ光17のカンチレバー22からの戻り光を検出する情報検出装置19が設けられて成る。
この情報検出装置19は、例えば2分割フォトダイオード、4分割フォトダイオード、1次元センサ、PSD(Position Sensing Device)等によって構成することができる。
観察装置16は、例えばCCD(Charge Coupled Device)カメラなどの固体撮像素子による撮像素子83と、例えばその撮像光学像を映出するモニター84とを有して成る。
このようにして、カンチレバー22の傾きの変化によって、原子間力の測定、これによる試料10の表面の測定を行うことができる。
すなわち、プローブ21の試料表面に対する各走査位置での原子間力によって変位するカンチレバー22の変位量を検出することによって、原子間力を検出して、これによって試料10の移動ステージ60のz軸方向の制御を行って、変位が一定になるようにし、またこのときの制御信号によって試料10の観察がなされるものである。
したがって、この構成においては、図6で説明した従来構成における集光レンズとカンチレバー22との距離が大となること、斜め照射によることのスポット径の問題を回避でき、カンチレバーに対するレーザスポット径を充分小にすることができる。
したがって、カンチレバー22からこのレーザ光18がはみ出すことによるノイズの発生を効果的に回避できるものである。
また、上述したように、対物レンズ14を情報検出光学系11と、観察照明光学系12とに関して共通の対物レンズ14としたことによって、全体の小型化と、組み立て精度の向上を図ることができる。
そして、上述したように、照明光20は、照明による観察に適した白色光を用い、カンチレバー22の変位の検出を変位検出に適したレーザ光を用いて、これらに対して共通の対物レンズ14に導入するものであるが、波長選択素子13を配置して両者の波長が相互に重複することがないようにしたことから、それぞれの戻り光を正確に検出することができるものである。
そして、これらの例においては、試料10に対して近接場光いわゆる近接場光によって試料10の形状、各種化学的、物理的特性の情報を取り出すことができるようになされるものである。
図2は、この実施の形態例によるプローブ顕微鏡301の模式的構成図である。
図2において、図1と対応する部分には、同一符号を付して示すが、このプローブ顕微鏡301においては、試料10の試料情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系11と、レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系12と、カンチレバーの変位検出光学系110と、第1および第2の波長選択素子131および132とを有する。
そして、これら情報検出光学系11と、カンチレバーの変位検出光学系110と、観察照明光学系12に関して共通の対物レンズ14とが設けられる。
このため、この実施形態例においても、試料10が移動ステージ60上に配置される。移動ステージ60は、プローブ顕微鏡301の上述の光軸方向に沿うz軸方向と、これと直交する面上で、互いに直交するx軸およびy軸方向に移動できる構成とされる。
この移動ステージ60は、その制御装置61によって移動制御がなされる。
この情報検出装置19は、この情報検出装置19に導入される試料10からの戻り光の態様、目的とする検出信号態様等に応じて例えばフォトダイオード、光電子増倍管(フォトマルチプライヤ)分光器等によって構成される。
また、この情報検出装置19への例えば凹状プローブ21の凹状内周面からの不要反射光を排除する不要反射光排除手段87と、光路を形成するミラー88等が設けられる。
この変位検出装置190は、例えば2分割フォトダイオード、4分割フォトダイオード、PSD等によって構成することができる。
観察装置16は、例えばCCDカメラなどの固体撮像素子による例えば撮像素子83と、例えばその撮像光学像を映出するモニター84とを有して成る。
また、例えばダイクロイックミラーによる第2の波長選択素子132が、照明光20とカンチレバー変位検出レーザ光180とさらに情報検出レーザ光源17からの検出を共に対物レンズに導入する光路部に配置されて、ここにおいて、第2の波長選択素子132によって白色光の照明光20から情報検出レーザ光18の波長光すなわちこの例では500nmの緑の光を反射させて排除する。
このようにして、情報検出光学系11による情報検出レーザ光18が、光学レンズ85、ハーフミラー86を通じて、第2波長選択素子132のダイクロイックミラーによって反射され、対物レンズ14によってカンチレバー22のプローブ21の光学的細孔21hにフォーカスされるように集光される。このとき、導入された波長λのファーフィールドレーザ光は、プローブ21の内径dが、λに比し充分小となる位置で反射され、近接場光30は、光学的細孔21hから滲み出る。このとき、プローブ21の先端が試料10の表面に充分近接されていることによって、この微小スポットの近接場光30が試料10の表面に照射される。
このとき、プローブ21において、λ≫dの領域からの不要反射光もまた、上述した経路を辿って情報検出装置19に向かうが、これは、共焦点レンズ91による共焦点関係にないことから、その共焦点位置にあるアパーチャ90によって遮断され、この不要反射光がカットされる。つまり、ノイズが改善される。
したがって、この構成においても、図6で説明した従来構成における集光レンズとカンチレバー22との距離が大となること、斜め照射によることのスポット径、スポット形状の問題を回避でき、カンチレバーに対するレーザスポットを微小にすることができる。
また、試料10からの情報検出を近接場光30として、微小スポットが得られるようにしたことから、解像度の向上がはかられ、試料上の微細情報の検出が可能となるものである。
なお、このように分光器を設ける構成とする場合、第2の波長選択素子132としては、必要に応じて上述したダイクロイックミラーと、例えば分光器で必要とする波長光を反射させて図示の例ではハーフミラー86に向かわせて、分光器の配置部に向かわせる反射ミラー例えば赤外線ミラーとの組み合わせ構成とすることができる。
図3は、この実施の形態例によるプローブ顕微鏡302の模式的構成図である。
このプローブ顕微鏡302は、例えば試料10上の微小磁区の検出を、カー効果によって検出することができる構成とした場合である。
このプローブ顕微鏡302には、上述したプローブ顕微鏡301と同様に、試料10の試料情報を得る情報検出レーザ光照射がなされ情報検出光学系11と、レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系12と、カンチレバーの変位検出光学系110と、第1および第2の波長選択素子131および132とを有する。
そして、これら情報検出光学系11と、変位検出光学系110と、観察照明光学系12に関して共通の対物レンズ14が設けられる。
したがって、この第3の実施の形態例において、第2の実施の形態例との重複構成に関しては、図3において図2のプローブ顕微鏡301と対応する部分に同一符号を付して重複説明を省略し、このプローブ顕微鏡302の特徴的構成と動作について主として説明する。
また、この場合レーザ光源17からプローブ21に向かうハーフミラー86との間に1/4波長板141と、必要に応じて1/2波長板142とを配置した。
情報検出装置19は、例えば光電子増倍管を用いることができる。
そして、この円偏光のファーフィールド光は、プローブ顕微鏡301におけると同様にカンチレバー22のプローブ21の光学的細孔21hにフォーカシングされ、この細孔21hから、近接場光30が得られ、これが試料10に照射される。
この場合、対象となる試料10は、少なくとも表面が磁性体より成り、例えば光磁気記録による磁化パターンすなわち磁区が形成されていて、この磁化の向きに応じてカー効果によって、偏光面が回転される。このように偏光面の回転として変調されたレーザ光は、戻り光として、対物レンズ14、波長選択素子132、ハーフミラー86、ミラー88、1/4波長板143に導入され、直線偏光とされ、偏光角が調整されたG−T偏光板によるアナライザ144に導入される。
したがって、G−Tアナライザ144の偏光角を調整しておくことにより、試料面からの近接場光の戻り光のみを取り出すことができ、これを情報検出装置19における例えば光増倍管によって検出することができる。
このようにして、1/4波長板とG−Tアナライザ144によって、例えばプローブ内面からの不要な戻り光の排除を行なうことができ、磁区検出がなされた光のみを情報検出装置19に導入し、電気信号に変換した出力を取り出すことができる。すなわち、不要な戻り光によるノイズが効果的に排除された試料の磁気的情報の検出を行うことができる。
図4は、この実施の形態例によるプローブ顕微鏡303の模式的構成図である。
この実施の形態例においては、情報検出レーザ光18として直線偏光レーザ光を用いた場合である。
そして、この場合、情報検出を行うための不要ファーフィールド反射光の排除を行なう不要反射光除去手段87として、図2で説明したと同様の共焦点光学系191を用いた場合で、この場合、図3で説明したG−Tアナライザの前段に配置した1/4波長板143を省略することができる。
また、この例では、カンチレバー変位検出光学系110を外部に設けた構成とした。
そして、他の構成においては、例えば上述した第2実施の形態例もしくは第3の実施の形態例と同様の構成とすることができる。したがって、図4において、図2もしくは図3と対応する部分には同一符号を付して重複説明を省略する。
本発明によるプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置は、上述した本発明によるプローブ顕微鏡を、光記録媒体からの記録信号の読み出しを行なう光ピックアップとして用いた構成による。
図5は、このプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置200の模式的構成図で、その本体201が、本発明によるプローブ顕微鏡によって構成される。そして、上述した本発明によるプローブ顕微鏡における試料10に換えて例えば回転支持されたディスク型の光記録媒体202上の例えば凹凸ピットによる記録、相変化記録、光磁気記録を読み出す。
図5において、その光記録再生ヘッド本体201が、上述したプローブ顕微鏡の第1の実施の形態例によるプローブ顕微鏡300によって構成した場合である。この場合、例えばCD(Compact Disc)等の光記録媒体202に対する光記録再生ヘッド装置として有益である。
図5において、その光記録再生ヘッド本体201が、上述したプローブ顕微鏡の第2の実施の形態例によるプローブ顕微鏡301によって構成した場合である。
図5において、その光記録再生ヘッド本体201が、上述したプローブ顕微鏡の第3の実施の形態例によるプローブ顕微鏡302によって構成した場合である。この場合、例えば光磁気記録媒体等の光記録媒体202に対する光記録再生ヘッド装置として有益である。
図5において、その光記録再生ヘッド本体201が、上述したプローブ顕微鏡の第4の実施の形態例によるプローブ顕微鏡303によって構成した場合である。この場合においても、光磁気記録媒体による光記録媒体202の光記録再生ヘッド装置とすることが有益である。
また、このように、プローブ位置の観察および試料情報の取り出しを共通の対物レンズによって行う構成とし、これらプローブ位置の検出および試料情報の検出を、相互に少なくとも近軸位置で行うことができることから、正確に試料情報もしくは光記録媒体の記録情報を取り出すことができるものである。
また、プローブ位置の検出および試料情報の検出を、対物レンズの近軸光とすることができることから、光学的に、ひずみ、収差の小さい検出を行うことができる。したがって、高感度、高解像度化が図られる。
そして、このように、プローブ位置の観察および試料情報の取り出しを共通の対物レンズによって行うにも拘わらず、波長選択素子を光路に設けたことによって観察情報の取り出しにおいて照明光によって、情報取り出しが阻害されることがなく、また、照明光によってプローブ位置検出等が阻害されることがないものであり、それぞれの機能が確実になされた構成とされるものである。
そのほか、例えば図4で説明した第4の実施の形態例における情報光学検出系11において、不要反射光排除手段87としての共焦点光学系191、偏光面回転検出手段192による構成を、例えば第3の実施の形態例において適用するなど、また、カンチレバーの形状、構成、また、光路構成を使用態様に応じて変更させ得ることはいうまでもないところである。
Claims (13)
- 試料の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記試料の試料情報の検出がなされるプローブ顕微鏡であって、
上記試料の試料情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記情報検出レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系との両光学系に対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、上記カンチレバーへの上記情報検出レーザ光のレーザ光源と、上記情報検出レーザ光の上記カンチレバーからの上記試料の試料情報を含む戻り光により上記カンチレバーの変位の検出によって試料情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 試料の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記試料の試料情報の検出がなされるプローブ顕微鏡であって、
上記試料の試料情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
上記カンチレバーの変位検出光学系と、
第1および第2の波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系と上記カンチレバーの変位検出光学系とに対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、情報検出レーザ光の情報検出レーザ光源を有し、上記プローブに、上記情報検出レーザ光を照射して、近接場光を発生させ、該近接場光の上記試料への照射による試料情報を含む戻り光により試料情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記カンチレバーの変位検出光学系は、上記カンチレバーの変位検出レーザ光のレーザ光源と、上記変位検出レーザ光の上記カンチレバーからの戻り光から上記カンチレバーの変位を検出するカンチレバーの変位検出装置とを有し、
上記情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記第1の波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記カンチレバーの変位検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記カンチレバーの変位検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成り、
上記第2の波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 試料の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記試料の試料情報の検出がなされるプローブ顕微鏡であって、
上記試料の試料情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
上記カンチレバーの変位検出光学系と、
波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系とに対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、情報検出レーザ光の情報検出レーザ光源を有し、上記プローブに、上記情報検出レーザ光を照射して、近接場光を発生させ、該近接場光の上記試料への照射による試料情報を含む戻り光により試料情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記カンチレバーの変位検出光学系は、上記カンチレバーの変位検出レーザ光のレーザ光源と、上記変位検出レーザ光の上記カンチレバーからの戻り光から上記カンチレバーの変位を検出するカンチレバーの変位検出装置とを有し、上記カンチレバーの変位検出レーザ光は、上記共通の対物レンズとは異なる外部レンズ系を通じて上記カンチレバー照射され、上記変位検出装置によってカンチレバーの変位の検出がなされ、
上記試料情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長と上記変位検出レーザ光以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡。 - 上記波長選択素子がダイクロイックミラーである
ことを特徴とする請求項1、2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記波長選択素子が所要の波長をカットするカットフィルタである
ことを特徴とする請求項1、2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記情報検出光学系の上記近接場光による上記試料情報を含む戻り光の情報検出への導入光路に共焦点光学系が配置された
ことを特徴とする請求項2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記情報検出光学系の上記近接場光による上記試料情報を含む戻り光の情報検出への導入光路に円偏光検出光学系が配置された
ことを特徴とする請求項2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記情報検出光学系の光路に直線偏光検出光学系が配置された
ことを特徴とする請求項2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記情報検出光学系の上記近接場光による上記試料情報を含む戻り光の情報検出への導入光路もしくは情報検出部に分光器が配置された
ことを特徴とする請求項2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 上記情報検出光学系の上記近接場光による上記試料情報を含む戻り光の情報検出への導入光路もしくは情報検出部に分光器が配置され、
上記照明光源からの照明光から、上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る上記波長選択素子が、ダイクロイックミラーと、上記分光器によって分光させる波長光を反射させるミラーとを有して成り、上記試料情報を含む戻り光を上記分光器が配置された上記導入光路に反射導入させるようにした
ことを特徴とする請求項2または3に記載のプローブ顕微鏡。 - 光記録媒体に情報の記録および再生の少なくともいずれかを行うプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置であって、
光記録媒体の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記光記録媒体の記録情報の検出がなされ、
上記光記録媒体の記録情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記情報検出レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系との両光学系に対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、上記カンチレバーへの上記情報検出レーザ光のレーザ光源と、上記情報検出レーザ光の上記カンチレバーからの上記光記録媒体の記録情報を含む戻り光により上記カンチレバーの変位の検出によって上記記録情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置。 - 光記録媒体に情報の記録および再生の少なくともいずれかを行うプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置であって、
光記録媒体の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記光記録媒体の記録情報の検出がなされ、
上記光記録媒体の記録情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
上記カンチレバーの変位検出光学系と、
第1および第2の波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系と上記カンチレバーの変位検出光学系とに対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、情報検出レーザ光の情報検出レーザ光源を有し、上記プローブに、上記情報検出レーザ光を照射して、近接場光を発生させ、該近接場光の上記光記録媒体への照射による記録情報を含む戻り光により上記光記録媒体の記録情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記カンチレバーの変位検出光学系は、上記カンチレバーの変位検出レーザ光のレーザ光源と、上記変位検出レーザ光の上記カンチレバーからの戻り光から上記カンチレバーの変位を検出するカンチレバーの変位検出装置とを有し、
上記情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長と上記変位検出レーザ光以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記第1の波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記カンチレバーの変位検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記カンチレバーの変位検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成り、
上記第2の波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置。 - 光記録媒体に情報の記録および再生の少なくともいずれかを行うプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置であって、
上記光記録媒体の表面との原子間力が作用されるプローブが設けられたカンチレバーを有し、該カンチレバーを介して上記光記録媒体の記録情報の検出がなされ、
上記光記録媒体の記録情報を得る情報検出レーザ光照射がなされる情報検出光学系と、
上記レーザ光の照射状態を観察する観察照明光学系と、
上記カンチレバーの変位検出光学系と、
波長選択素子と、
上記情報検出光学系と上記観察照明光学系とに対する共通の対物レンズとを有し、
上記情報検出光学系は、情報検出レーザ光の情報検出レーザ光源を有し、上記プローブに、上記情報検出レーザ光を照射して、近接場光を発生させ、該近接場光の上記光記録媒体への照射による記録情報を含む戻り光により記録情報を検出する情報検出光学系であり、
上記観察照明光学系は、照明光源と、該照明光源からの照明光の上記観察情報を有する戻り光の光学像の観察装置とを有し、
上記カンチレバーの変位検出光学系は、上記カンチレバーの変位検出レーザ光のレーザ光源と、上記変位検出レーザ光の上記カンチレバーからの戻り光から上記カンチレバーの変位を検出するカンチレバーの変位検出装置とを有し、上記カンチレバーの変位検出レーザ光は、上記共通の対物レンズとは異なる外部レンズ系を通じて上記カンチレバー照射され、上記変位検出装置によってカンチレバーの変位の検出がなされ、
上記試料情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記情報検出レーザ光と上記カンチレバーの変位検出レーザ光とは互いに異なる波長のレーザ光であり、
上記照明光源は、少なくとも上記情報検出レーザ光の波長と上記変位検出レーザ光以外の波長帯を有する照明光の光源であり、
上記波長選択素子は、上記照明光源からの照明光から上記情報検出レーザ光の波長の光成分を排除し、該照明光を上記情報検出レーザ光とともに上記対物レンズに向かわせる波長選択性を有する光学素子より成る
ことを特徴とするプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006010175A JP2007192637A (ja) | 2006-01-18 | 2006-01-18 | プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置 |
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007192637A true JP2007192637A (ja) | 2007-08-02 |
Family
ID=38448462
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2006010175A Pending JP2007192637A (ja) | 2006-01-18 | 2006-01-18 | プローブ顕微鏡およびプローブ顕微鏡型光記録再生ヘッド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2007192637A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2278264A1 (en) * | 2009-07-13 | 2011-01-26 | Mitutoyo Corporation | Probe microscope |
JP2016080494A (ja) * | 2014-10-16 | 2016-05-16 | 日本分光株式会社 | 近接場測定方法および近接場光学顕微鏡 |
WO2019028416A1 (en) * | 2017-08-03 | 2019-02-07 | Bruker Nano, Inc. | THERMALLY STABLE DERIVATIVE RESISTANT SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0743372A (ja) * | 1993-07-29 | 1995-02-14 | Agency Of Ind Science & Technol | 蛍光走査型プローブ顕微鏡 |
JPH1151945A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Toyota Motor Corp | 分光分析機構を有する原子間力顕微鏡 |
-
2006
- 2006-01-18 JP JP2006010175A patent/JP2007192637A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0743372A (ja) * | 1993-07-29 | 1995-02-14 | Agency Of Ind Science & Technol | 蛍光走査型プローブ顕微鏡 |
JPH1151945A (ja) * | 1997-08-08 | 1999-02-26 | Toyota Motor Corp | 分光分析機構を有する原子間力顕微鏡 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2278264A1 (en) * | 2009-07-13 | 2011-01-26 | Mitutoyo Corporation | Probe microscope |
US8314940B2 (en) | 2009-07-13 | 2012-11-20 | Mitutoyo Corporation | Probe microscope |
JP2016080494A (ja) * | 2014-10-16 | 2016-05-16 | 日本分光株式会社 | 近接場測定方法および近接場光学顕微鏡 |
WO2019028416A1 (en) * | 2017-08-03 | 2019-02-07 | Bruker Nano, Inc. | THERMALLY STABLE DERIVATIVE RESISTANT SENSOR FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME |
US11644480B2 (en) | 2017-08-03 | 2023-05-09 | Bruker Nano, Inc. | Thermally stable, drift resistant probe for a scanning probe microscope and method of manufacture |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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