JP2007178180A - 3線式温度測定の校正装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】校正誤差が小さく、メンテナンスコストが安価な3線式温度測定の校正装置を提供する。
【解決手段】基準抵抗器の一端に接続され基準電流が流れる第1端子と、前記基準抵抗器に接続される第2端子と、前記基準抵抗器の他端に接続され前記基準電流が流れる第3端子とを備え、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置において、前記基準抵抗器の一端に接続される接点と前記基準抵抗器の他端に接続される接点とを切り替えて前記第2端子に接続するスイッチを備えることを特徴とする3線式温度測定の校正装置。
【選択図】 図1
【解決手段】基準抵抗器の一端に接続され基準電流が流れる第1端子と、前記基準抵抗器に接続される第2端子と、前記基準抵抗器の他端に接続され前記基準電流が流れる第3端子とを備え、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置において、前記基準抵抗器の一端に接続される接点と前記基準抵抗器の他端に接続される接点とを切り替えて前記第2端子に接続するスイッチを備えることを特徴とする3線式温度測定の校正装置。
【選択図】 図1
Description
本発明は、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置に関する。
工業計測では、3線式温度測定回路が広く用いられている(例えば、特許文献1参照)。図2は、従来の校正装置を示す構成図である。
温度測定回路10は、電流源I1が接続される端子T11と、端子T12と、共通電位COMに接続される端子T13とを備える。また、マルチプレクサM1は、端子T11、端子T12、端子T13にそれぞれ接続され、アナログ/ディジタル変換器(A/D)はマルチプレクサM1に接続され、マイクロプロセッサCPUはアナログ/ディジタル変換器(A/D)に接続される。
また、温度測定において、測温抵抗体(図示せず)は、端子T11、端子T12、端子T13に接続される。さらに、端子T11に生ずる電圧、端子T12に生ずる電圧、端子T13に生ずる電圧は、マルチプレクサM1によって順次切り替えられ、アナログ/ディジタル変換器(A/D)により順次ディジタル値に変換され、マイクロプロセッサCPUの演算により、温度値に変換される。また、この温度値は、温度測定回路10の外部に出力され、伝送される。
そして、被測定物の温度が変化すると、測温抵抗体の抵抗値が変化し、端子T11に生ずる電圧及び端子T12に生ずる電圧が変化し、温度測定回路10の外部に出力される温度値が変化する。このようにして、温度測定回路10は、温度を測定する。
また、校正装置20は、基準抵抗器VRの一端に配線抵抗r1を介して接続され、基準電流I1が流れる第1端子T21を備える。さらに、校正装置20は、基準抵抗器VRに配線抵抗r2を介して接続される第2端子T22’を備える。また、校正装置20は、基準抵抗器VRの他端に配線抵抗r0を介して接続され、基準電流I1が流れる第3端子T23を備える。
さらに、校正において、第1端子T21は端子T11に接続し、第2端子T22’は端子T12に接続し、第3端子T23は端子T13に接続する。
そして、校正において、温度測定回路10は、第1端子T21及び端子T11に生ずる電圧と、第2端子T22’及び端子T12に生ずる電圧と、第3端子T23及び端子T13に生ずる電圧とをそれぞれ測定し、オフセット誤差、ゲイン誤差がなくなるようにする。このようにして、図2の従来例は校正を行う。
しかしながら、校正において、配線抵抗r1、配線抵抗r2、配線抵抗r0のアンバランスがあると校正誤差が生ずるという課題がある。具体的には、測温抵抗体にPT100を用いた場合、配線抵抗r1、配線抵抗r2、配線抵抗r0に40mΩのアンバランスがあると、0.1℃程度の校正誤差になる。
また、配線抵抗r1、配線抵抗r2、配線抵抗r0のバランスを長期間、安定して維持することが難しいという課題がある。このため、校正装置のメンテナンスコストが高価になるという課題がある。
本発明の目的は、以上説明した課題を解決するものであり、校正誤差が小さく、メンテナンスコストが安価な3線式温度測定の校正装置を提供することにある。
このような目的を達成する本発明は、次の通りである。
(1)基準抵抗器の一端に接続され基準電流が流れる第1端子と、前記基準抵抗器に接続される第2端子と、前記基準抵抗器の他端に接続され前記基準電流が流れる第3端子とを備え、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置において、前記基準抵抗器の一端に接続される接点と前記基準抵抗器の他端に接続される接点とを切り替えて前記第2端子に接続するスイッチを備えることを特徴とする3線式温度測定の校正装置。
(1)基準抵抗器の一端に接続され基準電流が流れる第1端子と、前記基準抵抗器に接続される第2端子と、前記基準抵抗器の他端に接続され前記基準電流が流れる第3端子とを備え、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置において、前記基準抵抗器の一端に接続される接点と前記基準抵抗器の他端に接続される接点とを切り替えて前記第2端子に接続するスイッチを備えることを特徴とする3線式温度測定の校正装置。
本発明によれば次のような効果がある。
本発明によれば、校正誤差が小さく、メンテナンスコストが安価な3線式温度測定の校正装置を提供できる。
本発明によれば、校正誤差が小さく、メンテナンスコストが安価な3線式温度測定の校正装置を提供できる。
以下に図1に基づいて本発明を詳細に説明する。図1は、本発明の一実施例を示す構成図である。図2の従来例と同一の要素には同一符号を付し、説明を省略する。
図1の実施例の特徴は、スイッチS1を備える点にある。
スイッチS1の接点Aは基準抵抗器VRの一端に配線抵抗r2_hを介して接続される。また、スイッチS1の接点Bは基準抵抗器VRの一端に配線抵抗r2を介して接続される。さらに、スイッチS1は、接点Aと接点Bとを切り替えて第2端子T22に接続する。
このような図1の実施例の校正について説明する。
まず、例えば、スイッチS1が接点Aのときに、温度測定回路10は、第1端子T21及び端子T11に生ずる電圧と、第2端子T22及び端子T12に生ずる電圧と、第3端子T23及び端子T13に生ずる電圧とをそれぞれ測定する。
次に、スイッチS1が接点Bのときに、温度測定回路10は、第1端子T21及び端子T11に生ずる電圧と、第2端子T22及び端子T12に生ずる電圧と、第3端子T23及び端子T13に生ずる電圧とをそれぞれ測定する。
そして、スイッチS1が接点Aのときの第2端子T22及び端子T12に生ずる電圧と、スイッチS1が接点Bのときの第2端子T22及び端子T12に生ずる電圧との差から、基準抵抗器VRの両端の電位差を算出する。そして、温度測定回路10は、オフセット誤差、ゲイン誤差がなくなるように校正される。
このとき、この基準抵抗器VRの両端の電位差は、配線抵抗r1、配線抵抗r0の影響を受けない。よって、図1の実施例は、校正誤差が小さく、メンテナンスコストが安価となる。
また、本発明は、上述の実施例に限定されることなく、その本質を逸脱しない範囲でさらに多くの変更及び変形を含むものである。
10 温度測定回路
20 校正装置
S1 スイッチ
T21 第1端子
T22,T22’ 第2端子
T23 第3端子
VR 基準抵抗器
r1,r2_h,r2,r0 配線抵抗
A,B 接点
I1 電流源
COM 共通電位
20 校正装置
S1 スイッチ
T21 第1端子
T22,T22’ 第2端子
T23 第3端子
VR 基準抵抗器
r1,r2_h,r2,r0 配線抵抗
A,B 接点
I1 電流源
COM 共通電位
Claims (1)
- 基準抵抗器の一端に接続され基準電流が流れる第1端子と、前記基準抵抗器に接続される第2端子と、前記基準抵抗器の他端に接続され前記基準電流が流れる第3端子とを備え、3線式温度測定回路の校正に用いる3線式温度測定の校正装置において、
前記基準抵抗器の一端に接続される接点と前記基準抵抗器の他端に接続される接点とを切り替えて前記第2端子に接続するスイッチを備える
ことを特徴とする3線式温度測定の校正装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005374811A JP2007178180A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 3線式温度測定の校正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005374811A JP2007178180A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 3線式温度測定の校正装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007178180A true JP2007178180A (ja) | 2007-07-12 |
Family
ID=38303531
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005374811A Pending JP2007178180A (ja) | 2005-12-27 | 2005-12-27 | 3線式温度測定の校正装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2007178180A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015219077A (ja) * | 2014-05-16 | 2015-12-07 | 株式会社日立産機システム | 校正システム |
CN105842621A (zh) * | 2016-06-06 | 2016-08-10 | 中国计量大学 | 一种网络化温度开关自动检定装置及方法 |
-
2005
- 2005-12-27 JP JP2005374811A patent/JP2007178180A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2015219077A (ja) * | 2014-05-16 | 2015-12-07 | 株式会社日立産機システム | 校正システム |
CN105842621A (zh) * | 2016-06-06 | 2016-08-10 | 中国计量大学 | 一种网络化温度开关自动检定装置及方法 |
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