JP2007171663A - 走査型光学顕微鏡 - Google Patents
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Abstract
【課題】標本に照射される照明光の光量を容易に測定することが可能な走査型光学顕微鏡を提供する。
【解決手段】光源6と、光源6からの照明光を標本2に集光するための第一光学部4と、照明光を標本2上で走査するための走査装置5と、標本2を透過した光を受光するための受光装置11と、標本2を透過した光を受光装置11へ導くための第二光学部10と、受光装置11の出力信号から、標本2に照射される照明光の光量を演算するための演算情報を格納した記憶手段9と、前記演算情報に基づき、標本2に照射される照明光の光量を演算する演算装置8とを有していることを特徴とする。
【選択図】図1
【解決手段】光源6と、光源6からの照明光を標本2に集光するための第一光学部4と、照明光を標本2上で走査するための走査装置5と、標本2を透過した光を受光するための受光装置11と、標本2を透過した光を受光装置11へ導くための第二光学部10と、受光装置11の出力信号から、標本2に照射される照明光の光量を演算するための演算情報を格納した記憶手段9と、前記演算情報に基づき、標本2に照射される照明光の光量を演算する演算装置8とを有していることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、走査型光学顕微鏡に関する。
従来、照明光を標本上で走査させ、この標本からの透過光や反射光を検出することで標本像を得る走査型光学顕微鏡が知られている(例えば、特許文献1を参照。)。このような走査型光学顕微鏡では、使用者は標本に照射される照明光の光量を知るために、その都度、光量測定装置を標本の近傍に設置して光量測定を行っていた。
特許第3325096号公報
しかしながら、光量測定のたびに光量測定装置を標本の近傍に設置したり撤去したりする作業を行うことはとても煩雑であり、また標本像の観察と光量測定とを同時に行うことができないという問題があった。
そこで本発明は上記問題点に鑑みてなされたものであり、標本に照射される照明光の光量を容易に測定することが可能な走査型光学顕微鏡を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために本発明は、
光源と、
前記光源からの照明光を標本に集光するための第一光学部と、
前記照明光を前記標本上で走査するための走査装置と、
前記標本を透過した光を受光するための受光装置と、
前記標本を透過した光を前記受光装置へ導くための第二光学部と、
前記受光装置の出力信号から、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算するための演算情報を格納した記憶手段と、
前記演算情報に基づき、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算する演算装置とを有していることを特徴とする走査型光学顕微鏡を提供する。
光源と、
前記光源からの照明光を標本に集光するための第一光学部と、
前記照明光を前記標本上で走査するための走査装置と、
前記標本を透過した光を受光するための受光装置と、
前記標本を透過した光を前記受光装置へ導くための第二光学部と、
前記受光装置の出力信号から、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算するための演算情報を格納した記憶手段と、
前記演算情報に基づき、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算する演算装置とを有していることを特徴とする走査型光学顕微鏡を提供する。
また本発明の走査型光学顕微鏡は、
前記記憶手段には、前記第一光学部に対する前記第二光学部の開口率の情報が格納されていることが望ましい。
前記記憶手段には、前記第一光学部に対する前記第二光学部の開口率の情報が格納されていることが望ましい。
また本発明の走査型光学顕微鏡は、
前記記憶手段には、前記第二光学部の光の透過率の情報が格納されていることが望ましい。
前記記憶手段には、前記第二光学部の光の透過率の情報が格納されていることが望ましい。
また本発明の走査型光学顕微鏡は、
前記記憶手段には、前記受光装置の分光感度特性の情報が格納されていることが望ましい。
前記記憶手段には、前記受光装置の分光感度特性の情報が格納されていることが望ましい。
また本発明の走査型光学顕微鏡は、
前記記憶手段には、印加電圧に対する受光装置の感度比の情報が格納されていることが望ましい。
前記記憶手段には、印加電圧に対する受光装置の感度比の情報が格納されていることが望ましい。
また本発明の走査型光学顕微鏡は、
前記標本の透過率の高い箇所を透過した光を前記照明光の光量演算に用いることが望ましい。
前記標本の透過率の高い箇所を透過した光を前記照明光の光量演算に用いることが望ましい。
本発明によれば、標本に照射される照明光の光量を容易に測定することが可能な走査型光学顕微鏡を提供することができる。
以下、本発明の実施形態に係る走査型光学顕微鏡を添付図面に基づいて説明する。
はじめに、本走査型光学顕微鏡の全体的な構成について説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る走査型光学顕微鏡の構成を示す図である。
図1に示すように本実施形態に係る走査型光学顕微鏡1は、標本2を載置するステージ3、このステージ3の上方に配置された第一光学部4、スキャナ装置5、光源6、蛍光用受光部7、制御装置8、メモリ9、そしてステージ3の下方に配置された第二光学部10、受光装置11、透過照明用光源12を有している。
はじめに、本走査型光学顕微鏡の全体的な構成について説明する。
図1は、本発明の実施形態に係る走査型光学顕微鏡の構成を示す図である。
図1に示すように本実施形態に係る走査型光学顕微鏡1は、標本2を載置するステージ3、このステージ3の上方に配置された第一光学部4、スキャナ装置5、光源6、蛍光用受光部7、制御装置8、メモリ9、そしてステージ3の下方に配置された第二光学部10、受光装置11、透過照明用光源12を有している。
第一光学部4は、対物レンズ13、顕微鏡の第二対物レンズ(不図示)、及びスキャナ内のリレーレンズ(不図示)等を備えている。また、この走査型光学顕微鏡1には、透過照明用光源12を光源として、標本2を照明し、非走査の像を目視するための接眼観察部15が設けられている。
第二光学部10は、コンデンサレンズ16、フィールドレンズ(不図示)、視野絞り(不図示)、開口絞り(不図示)、反射ミラー17等を備えている。
第二光学部10は、コンデンサレンズ16、フィールドレンズ(不図示)、視野絞り(不図示)、開口絞り(不図示)、反射ミラー17等を備えている。
また、本実施形態において受光装置11は、受光器18として光電子増倍管(PMT)を備えており、透過照明用光源12を用いる際には受光器18を不図示のスライド機構によって光路外へ退避させることが可能な構成になっている。
そして、スキャナ装置5と受光装置11は制御装置8に接続されており、さらにこの制御装置8は、モニタ19を備えたPC20及びメモリ9に接続されている。
そして、スキャナ装置5と受光装置11は制御装置8に接続されており、さらにこの制御装置8は、モニタ19を備えたPC20及びメモリ9に接続されている。
以上の構成の下、光源6からの照明光は、スキャナ装置5を経て、第一光学部4によって標本2にスポット光として照射される。なお、このときこのスポット光は、制御装置8による制御の下でスキャナ装置5によって標本2上を二次元的に走査される。これにより、標本2から発生した蛍光は、第一光学部4を介して蛍光用受光部7へ導かれる。そして制御装置8が、蛍光用受光部7から出力信号を取り込み、モニタ上に標本2の蛍光像を表示させることで蛍光観察が可能となる。
なお、標本2を透過した光は、第二光学部10を介して受光装置11へ導かれる。これにより制御装置8は、受光装置11から出力信号を取り込み、モニタ上に標本像を表示させることで、標本2の二次元的な透過特性を観察することが可能となる。
また、透過照明用光源12を用いる場合には、上述のように受光装置11における受光器18を光路外へ退避させる。さらに、対物レンズ13を通った標本2からの光を接眼観察部15へ導くための光路切替え装置(不図示)を第一光学部4の中へ挿入する。これにより透過照明用光源12からの照明光は、第二光学部10を介して標本2へ照射される。そして標本2を透過した光は、第一光学部4を介して接眼観察部15へ導かれ、観察者による肉眼観察が可能となる。
また、透過照明用光源12を用いる場合には、上述のように受光装置11における受光器18を光路外へ退避させる。さらに、対物レンズ13を通った標本2からの光を接眼観察部15へ導くための光路切替え装置(不図示)を第一光学部4の中へ挿入する。これにより透過照明用光源12からの照明光は、第二光学部10を介して標本2へ照射される。そして標本2を透過した光は、第一光学部4を介して接眼観察部15へ導かれ、観察者による肉眼観察が可能となる。
次に、本実施形態に係る走査型光学顕微鏡1において最も特徴的な部分である、標本2に照射される照明光の光量測定について説明する。
本実施形態において、標本2に照射される照明光の光量測定は、上述した標本2の二次元的な透過特性の観察のために制御装置8が受光装置11から取り込んだ出力信号を、当該制御装置8が以下に述べる演算によって光量に換算することで行われ、得られた光量値はモニタ19に表示される。
本実施形態において、標本2に照射される照明光の光量測定は、上述した標本2の二次元的な透過特性の観察のために制御装置8が受光装置11から取り込んだ出力信号を、当該制御装置8が以下に述べる演算によって光量に換算することで行われ、得られた光量値はモニタ19に表示される。
本走査型光学顕微鏡1におけるメモリ9には、標本2に照射される照明光の光量測定に際して用いられる、図2に示す各テーブルが予め備えられている。なお、各テーブルにおける値には、設計値もしくは実測値が用いられている。
図2は、本発明の実施形態に係る顕微鏡のメモリに格納されている光量演算のための各テーブルを示す図である。図2における表1は第一光学部4に対する第二光学部10の開口率R(なお、最大値は1.0)のテーブルを示しており、表2は第二光学部10の光の透過率Tのテーブルを示しており、表3は受光器(PMT)18の分光感度特性Sのテーブルを示しており、表4は印加電圧に対する受光器(PMT)18の感度比Hのテーブルを示している。
図2は、本発明の実施形態に係る顕微鏡のメモリに格納されている光量演算のための各テーブルを示す図である。図2における表1は第一光学部4に対する第二光学部10の開口率R(なお、最大値は1.0)のテーブルを示しており、表2は第二光学部10の光の透過率Tのテーブルを示しており、表3は受光器(PMT)18の分光感度特性Sのテーブルを示しており、表4は印加電圧に対する受光器(PMT)18の感度比Hのテーブルを示している。
以下、一例として第一光学部4の種類が Plan Apo 60x W、第二光学部10の種類が Type B、光源6から発せられる照明光の波長が488nm、受光器18の印加電圧が550Vである走査型光学顕微鏡1を用いて、標本2として十分に透明な物体を観察する場合について説明する。
はじめに観察者は、走査型光学顕微鏡1の使用に際して、前述の装置情報をPC20を介して制御装置8に入力設定する。これにより制御装置8は、メモリ9に格納されている図2の各テーブルから装置情報に対応する数値を次のように算出する。
はじめに観察者は、走査型光学顕微鏡1の使用に際して、前述の装置情報をPC20を介して制御装置8に入力設定する。これにより制御装置8は、メモリ9に格納されている図2の各テーブルから装置情報に対応する数値を次のように算出する。
まず、第一光学部4の種類 Plan Apo 60x Wと第二光学部10の種類 Type Bに該当する開口率Rを表1より求める。
R=0.71
次に、第二光学部10の種類 Type Bと光源6の波長488nmに該当する透過率Tを、表2における450nmと500nmの値を線形近似することで求める。
T=0.75+(0.80-0.75)/(500-450)×(488-450)=0.788
R=0.71
次に、第二光学部10の種類 Type Bと光源6の波長488nmに該当する透過率Tを、表2における450nmと500nmの値を線形近似することで求める。
T=0.75+(0.80-0.75)/(500-450)×(488-450)=0.788
さらに、光源6の波長488nmに該当する受光器18の分光感度特性Sを、表3における450nmと500nmの値を線形近似することで求める。
S=0.50+(0.60-0.50)/(500-450)×(488-450)=0.576 (mA/W)
が得られる。
S=0.50+(0.60-0.50)/(500-450)×(488-450)=0.576 (mA/W)
が得られる。
最後に、印加電圧550Vに該当する受光器18の感度比Hを、表4における500Vと600Vの値を近似することで求める。なおこのとき、感度比(増幅比)が印加電圧に対して対数的に増加することを考慮して近似する。
H=10^{Log(7.0e+4)+[Log(3.0e+5)-Log(7.0e+4)]/(600-500)×(550-500)}≒1.45e+5
ここで、eは指数部、記号^はべき乗、Logは常用対数をそれぞれ表す。例えば、7.0e+4=70000、10^2=100、Log100=2である。
なお、算出された各値(R=0.71、T=0.788、S=0.576、H=1.45e+5)は、メモリ9に一時的に格納される。
H=10^{Log(7.0e+4)+[Log(3.0e+5)-Log(7.0e+4)]/(600-500)×(550-500)}≒1.45e+5
ここで、eは指数部、記号^はべき乗、Logは常用対数をそれぞれ表す。例えば、7.0e+4=70000、10^2=100、Log100=2である。
なお、算出された各値(R=0.71、T=0.788、S=0.576、H=1.45e+5)は、メモリ9に一時的に格納される。
斯かる背景の下、受光装置11で得られた単位時間当たりの出力信号Oが例えば5e-3mAであったとき、制御装置8は標本2に照射される照明光の光量Pを次式(a)から算出する。
式(a) P=O/R/T/S/H (但し、R>1ならばR=1)
したがって、
P=5e-3m/0.71/0.788/0.576/1.45e+5≒1.07e-4(W)=0.107(mW)
となる。
式(a) P=O/R/T/S/H (但し、R>1ならばR=1)
したがって、
P=5e-3m/0.71/0.788/0.576/1.45e+5≒1.07e-4(W)=0.107(mW)
となる。
以上より求められた標本2に照射される照明光の光量P=0.107mWは、モニタ9に表示され、これにより観察者は光量Pの測定を達成することができる。
なお、本実施形態では、上述のように設計値もしくは実測値で各テーブルを構成しているため、光量Pを絶対値で算出することができる。しかしながら本発明はこれに限られず、光量Pとして相対的な値だけを求める場合には、図2における各テーブルの値は相対値であればよい。
なお、メモリ9はPC20のメモリで代用してもよい。制御装置8の機能の一部又は全ては、PC20で代用してもよい。
また、制御装置8への前述の装置情報は、制御装置が装置の情報を検知して自動的に行う機能を有してもよい。
なお、本実施形態では、上述のように設計値もしくは実測値で各テーブルを構成しているため、光量Pを絶対値で算出することができる。しかしながら本発明はこれに限られず、光量Pとして相対的な値だけを求める場合には、図2における各テーブルの値は相対値であればよい。
なお、メモリ9はPC20のメモリで代用してもよい。制御装置8の機能の一部又は全ては、PC20で代用してもよい。
また、制御装置8への前述の装置情報は、制御装置が装置の情報を検知して自動的に行う機能を有してもよい。
以上の光量測定は、標本2として十分に透明な物体を観察する場合の演算であるが、本実施形態に係る走査型光学顕微鏡1によって十分に透明でない物体を標本2として観察する場合には、ステージ3から標本2を外して上記の演算を行うことで、光量測定を実現することができる。又は、標本2の透過率の高い箇所を透過した光を光量測定に用いるために、受光器18からの出力信号のうち出力すなわち光強度の大きな信号(具体的には、二次元画面における出力信号の最大値を求め、この最大値、又はこの最大値の例えば90%等の一定のしきい値以上の値の出力信号の平均値)を出力信号Oとして用いて上記の演算を行うことで、光量測定を実現することができる。
また、走査型光学顕微鏡1の第二光学部10の透過率Tが極端に小さくゼロに近い場合には、透過率Tを下げる原因となっている要素を光路から退避させる等の方法によって、透過率Tをゼロでない値としてから上記の演算を行うことで、光量測定を実現することができる。
例えば、透過微分干渉観察の場合、標本2に照射される光は直線偏光であって、第二光学部10にはこの直線偏光を透過しない向きの偏光板が配置される。したがって透過率Tは殆どゼロであるため、このような場合には、光量測定に際して偏光板を光路から外す又は前記直線偏光を透過する向きに変更する。これによって透過率Tをゼロでない値とすることができるため、この下で上記の演算を行うことで光量測定を実現することができる。
例えば、透過微分干渉観察の場合、標本2に照射される光は直線偏光であって、第二光学部10にはこの直線偏光を透過しない向きの偏光板が配置される。したがって透過率Tは殆どゼロであるため、このような場合には、光量測定に際して偏光板を光路から外す又は前記直線偏光を透過する向きに変更する。これによって透過率Tをゼロでない値とすることができるため、この下で上記の演算を行うことで光量測定を実現することができる。
なお、本実施形態では、上述のように標本2に照射される照明光の光量Pを求めるための演算情報として、開口率R、透過率T、分光感度特性S、及び感度比Hのテーブルをメモリ9に備えている。しかしながら本発明はこれに限られず、光量Pとして相対的な値だけを求める場合には、これらのうちの1つ又は複数のテーブルをメモリ9に備える構成とすることも可能である。例えば、メモリ9に開口率R、透過率Tのテーブルを備えている場合には、制御装置8が演算式(a)をP=O/R/Tとして光量を演算する構成とすればよい。この場合、受光装置11からの出力信号Oを測定するときには、受光器18の印加電圧を一定値にすることで、測定回毎の光量Pの相対的な値を簡易的に測定できる。
以上の構成により本実施形態に係る走査型光学顕微鏡1は、標本2に照射される照明光の光量Pを測定することができる。そして本走査型光学顕微鏡1は、上述のように受光装置11からの出力信号Oに基づいて光量Pを測定する構成であるため、上記従来の顕微鏡のように光量測定装置を標本の直前に配置したり撤去したりする作業を行う必要がなく、また標本像の観察と光量測定とを同時に行うことができる。
1 走査型光学顕微鏡
2 標本
3 ステージ
4 第一光学部
5 スキャナ装置
6 光源
7 蛍光受光装置
8 制御装置
9 メモリ
10 第二光学部
15 接眼観察部
18 受光器
19 モニタ
20 PC
2 標本
3 ステージ
4 第一光学部
5 スキャナ装置
6 光源
7 蛍光受光装置
8 制御装置
9 メモリ
10 第二光学部
15 接眼観察部
18 受光器
19 モニタ
20 PC
Claims (6)
- 光源と、
前記光源からの照明光を標本に集光するための第一光学部と、
前記照明光を前記標本上で走査するための走査装置と、
前記標本を透過した光を受光するための受光装置と、
前記標本を透過した光を前記受光装置へ導くための第二光学部と、
前記受光装置の出力信号から、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算するための演算情報を格納した記憶手段と、
前記演算情報に基づき、前記標本に照射される前記照明光の光量を演算する演算装置とを有していることを特徴とする走査型光学顕微鏡。 - 前記記憶手段には、前記第一光学部に対する前記第二光学部の開口率の情報が格納されていることを特徴とする請求項1に記載の走査型光学顕微鏡。
- 前記記憶手段には、前記第二光学部の光の透過率の情報が格納されていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の走査型光学顕微鏡。
- 前記記憶手段には、前記受光装置の分光感度特性の情報が格納されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の走査型光学顕微鏡。
- 前記記憶手段には、印加電圧に対する受光装置の感度比の情報が格納されていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の走査型光学顕微鏡。
- 前記標本の透過率の高い箇所を透過した光を前記照明光の光量演算に用いることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の走査型光学顕微鏡。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005370498A JP2007171663A (ja) | 2005-12-22 | 2005-12-22 | 走査型光学顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005370498A JP2007171663A (ja) | 2005-12-22 | 2005-12-22 | 走査型光学顕微鏡 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007171663A true JP2007171663A (ja) | 2007-07-05 |
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ID=38298294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005370498A Withdrawn JP2007171663A (ja) | 2005-12-22 | 2005-12-22 | 走査型光学顕微鏡 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2007171663A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010102264A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-05-06 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
-
2005
- 2005-12-22 JP JP2005370498A patent/JP2007171663A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010102264A (ja) * | 2008-10-27 | 2010-05-06 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
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