JP2007168309A - 光学走査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 照度補正精度の向上が実現するという効果を奏する。
【解決手段】 任意の像高にて複数の所定光量における像面照度分布を測定し、各光量における最大照度（あるいは最小照度）に対する照度差を補正値として算出する。これらの補正値を以って補正近似式を生成することにより照度補正精度の向上を図る。
【選択図】 図３

Description

本発明は、帯電された感光体表面にレーザ光を照射し静電潜像を形成して画像を形成する画像形成装置及びその制御方法に関するものである。

電子写真方式により画像を形成する画像形成装置では、感光ドラムの感光面を一様に帯電する帯電装置、その帯電された感光面に画像情報に応じた静電潜像を形成する潜像形成装置、その静電潜像を現像する現像装置を備える。更に、その現像された潜像を記録紙に転写する転写装置を備えており、感光ドラムの感光面を回転させながら逐次的に画像形成処理を行っている。

このような画像形成装置においては、感光ドラムに感光膜の厚さのバラツキがあると感度ムラを有することになり、この感度ムラは帯電や露光特性に影響し、感光膜の感度ムラが画像の濃度ムラとして発生していた。

また、感光ドラムの感度ムラだけでは無く、潜像形成装置内の光学ユニットのバラツキによっても画像の濃度ムラが発生していた。ここで言う光学ユニットのバラツキとは、光学ユニット内のレンズ及びミラーの取り付けや加工精度によるもので、複数レーザを備える光学ユニットでは、これらレーザ間の照射パターンのずれや光軸のずれとなって現れる。

従来は、このような濃度ムラは問題の無いレベルであったが、近年の高画質化の要求に伴って市場で許容できない問題として浮上してきた。

このような問題点に対して、従来は、光学ユニット自体のバラツキを抑える、つまり、光学ユニット内のレンズ及びミラーの取り付け精度を高めてバラツキを抑えていた。また製造された製品の中から条件を満足する製品を選別することによって、バラツキをある予め設定した値以下とし、各部品の仕上がり精度を向上させていた。

しかしながら、感光ドラムのムラを抑えたり、光学系ユニットを高精度にしたり調整や選別を行うことにより、装置の高コスト化を招くという問題がある。

また、光学ユニットでは、レーザを走査する際に、感光ドラムの端部、つまり走査開始側と走査終了側で光量が落ちてしまう傾向（以下、光量端部落ちと称する）がある。このような現象により、画像の主走査方向の端部では濃度が薄くなり、これも画像品位を低下させる原因となっていた。

従来、光量端部落ちを補正する方式として、１走査を主走査方向に複数ブロックで分割し、各ブロックに応じた光学系の光量端部落ちを補正する補正量（以後、プロファイルデータと称する）を記憶手段に持たせた提案がある。走査中にそのブロックのプロファイルデータと、隣接するブロックのプロファイルデータを読み出し、読み出したプロファイルデータを線形補間したデータを用いて、レーザの駆動電流を制御することによって光量端部落ちを補正している。（特許文献１）
特開２００５−２６２４８５号公報

しかしながら、レーザや光学ユニットの特性において、レーザの発光強度に対するＦＦＰ（ファーフィールドパターン）のばらつき、光軸のばらつきといった光学特性差を有している。図１４にレーザの発光強度に対するＦＦＰ（水平）プロポーションの変動を表す図を記す。レーザの発光強度の低下に伴いＦＦＰプロポーションが、発光強度の変化量に相関性なく、細ることがわかる。図１４に従来例の補正方法を用いた実際に必要な補正量との関係を示すグラフを記す。実際に必要な補正量に対する補正残差が、レーザの発光強度によって大きくなるケースが発生する。

一方、レーザの内部構造や発光強度の使用範囲の違いによっては光学ばらつきの比較的少ない場合も想定され、補正方法の複雑化はプログラム量、格納データの増加に伴う信頼性低下してしまうという問題がある。

かかる課題を解決するために、本発明の光学走査装置は、予め設定した複数の光量にて半導体レーザを発光し、補正値算出手段から得られる複数の補正値を以って、光量制御手段において各々の設定光量に対する補正値を結ぶ特性式を生成し、該設定光量以外の光量の補正値を算出した結果に基づいて半導体レーザの光量を制御することを特徴とする。

以上説明してきたように、本発明によれば、任意の像高にて複数の所定光量における像面照度分布を測定し、各光量における最大照度（あるいは最低照度）に対する照度差を補正値として算出する。これらの補正値を以って補正近似式を生成することにより照度補正精度の向上が実現するという効果を奏する。

以下、添付図面を参照して本発明の好適な実施の形態を詳しく説明する。

［実施の形態１］
図１は、本発明の実施の形態に係る光学走査装置２を含む画像形成装置１の抜粋構成図、図２は、光学走査装置２の構成図である。

光学走査装置は、レーザ駆動部１１、半導体レーザ１２及びコリメートレンズ１３から構成されるレーザユニットを有している。

半導体レーザによる一走査中での非画像領域において、レーザユニット内の半導体レーザ１２から出射したレーザービームＬ１はシリンドリカルレンズ１４を入射しポリゴンミラー１５に到達する。ポリゴンミラー１５は、スキャナモータユニット１６によって等角速度で回転している。ポリゴンミラー１５に到達したレーザービームは、ポリゴンミラー１５によって偏光され、ｆ−θレンズ１７によって感光ドラム１９の回転方向と直角方向に等速走査となるように変換され、反射ミラー１８にて反射し、ビーム検出（以下ＢＤと略す）センサ２０に受光させる。

半導体レーザによる一走査中での画像領域では、レーザービームＬ２はレーザービームＬ１同様にｆ−θレンズ１７を出射した後、反射ミラー１８を経由して感光ドラム１９上を照射することにより潜像形成を行う。感光ドラム１９に形成された潜像は、トナーで現像された後、用紙に転写・定着することにより画像印字される。

図３は、本実施形態におけるレーザ駆動部１１の構成を表すブロック図である。２１は、レーザ駆動回路であり、半導体レーザ１２の駆動電流を制御することにより、半導体レーザ１２を所定光量（強度）で一定に発光させる。

半導体レーザ１２は、レーザダイオード（以下ＬＤと略す）１２ａ及び、このＬＤ１２ａ出力されるレーザ光をモニタするフォトダイオード（以下ＰＤと略す）１２ｂにて構成される。ＰＤ１２ｂはモニタするレーザービームの光量に応じた電流を出力する。符号２３は、ＬＤ１２ａが所定の光量で発光するように調整する光量調整可変抵抗である。ＰＤ１２ｂから出力される、レーザービームの光量に応じたＰＤ電流２２は光量調整可変抵抗２３で電圧変換され、ＰＤ電圧信号２４として出力する。ＰＤ電圧信号２４は、基準電圧発生回路（Ｖｒｅｆ）２５で生成される基準電圧２６と共に光量制御回路（ＡＰＣ ＣＴＬ）２７に入力される。

光量制御回路２７は、エンジン制御部３から入力されるサンプル・ホールド（以下Ｓ／Ｈと略す）制御信号２９がサンプル要求時は、ＰＤ電圧信号２４と基準電圧２６を比較し、電流設定値２８を加減制御することにより半導体レーザ１２を所定光量とする。Ｓ／Ｈ制御信号２９がホールド要求時は、サンプル要求時に得られた結果に基づいた電流設定値２８を保持する。

符号３１は、電流制御回路（ＣＵＲＲＥＮＴ ＣＴＬ）であり、エンジン制御部３から入力されるデータ出力（ＤＡＴＡ ＯＵＴ）制御信号２９により、データ出力要求時は光量制御回路２７から出力される電流設定値２８にパラレル補正データ４５を演算し、その結果に応じた駆動電流３２を出力する。データ出力禁止時は光量制御回路２７から出力される電流設定値２８に応じた駆動電流３２を出力する。

パラレル補正データ４５は、エンジン制御部３から入力されるシリアル補正データ（ＣＯＲＲＥＣＴ ＤＡＴＡ）４３を補正データ変換回路（Ｃ．ＤＡＴＡ ＣＯＮＶＥＲＴ）４４にて変換した信号である。

符号３５は、差動入力を有する差動レシーバ（ＬＶＤＳ）であり、画像制御部５から入力される非反転データ（以下ＤＡＴＡと略す）信号３３、反転データ信号（以下／ＤＡＴＡと略す）信号３４を受信する。出力選択回路３８は、Ｓ／Ｈ制御信号２９またはデータ出力制御信号３０に依って決定されたスィッチング信号ａ３９及びスィッチング信号ｂ４０を出力する。

符号４１は、電流ドライバであり、トランジスタａ（４１ａ）及びトランジスタｂ（４１ｂ）のエミッタ端子を接続した差動増幅の構成としている。トランジスタａ（４１ａ）は、駆動電流３２を以ってスィッチング信号３９ａに基づいて、ＬＤ１２ａをスィッチング駆動する。同様にトランジスタｂ（４１ｂ）は、駆動電流３２を以ってスィッチング信号３９ｂに基づいて、負荷抵抗４２をスィッチング駆動する。

不揮発性メモリ（以下ＥＥＰＲＯＭと略す）４６は、シリアル補正データ４３を生成するためのデータが格納する。エンジン制御部３はＥＥＰＲＯＭ４６と通信制御を行い、ＥＥＰＲＯＭ４６に格納されたデータをシリアルデータ出力信号（ＤＯ）４９を経由して読み出す。

図４は、レーザ駆動回路２１の画像形成時の状態遷移を記すタイムチャート、図５は、レーザ駆動回路２１の動作機能表である。レーザ駆動回路２１の動作はＢＤセンサ２０出力信号の立ち下がりエッジを基準に、光量制御（ＡＰＣ）→レーザ強制消灯（ＯＦＦ）→データ出力（ＤＡＴＡ ＯＵＴ）→レーザ強制消灯（ＯＦＦ）→光量制御（ＡＰＣ）の順にシーケンシャルに制御される。データ出力は、用紙の印字範囲となる、画像領域である。

（１）光量制御（ＡＰＣ）
光量制御回路２７をサンプル状態、出力選択回路２８は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７の出力の如何に因らず、半導体レーザ１２が発光するよう強制的にＯＮデータを出力する。ＰＤ電圧信号２４と基準電圧２６の差分に応じた信号を以って、以下により半導体レーザ１２の発光光量を所定光量とする制御を行う。
・ＰＤ電圧信号２４＞基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量より大きいと判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２を減少することにより半導体レーザ１２の発光光量を低下する。
・ＰＤ電圧信号２４＜基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量より小さいと判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２を増加することにより半導体レーザ１２の発光光量を上昇する。
・ＰＤ電圧信号２４＝基準電圧２６：半導体レーザ１２の発光光量が所定光量と同一判断し、電流設定値２８、レーザ駆動電流３２共に増加減はしない。

（２）レーザ強制消灯（ＯＦＦ）
光量制御回路２７にて設定された電流設定値２８を保持し、出力選択回路２５は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７の出力の如何に因らず、半導体レーザ１２が消灯するよう強制的にＯＦＦデータを出力する。

（３）データ出力（ＤＡＴＡ ＯＵＴ）
光量制御回路２７にて設定された電流設定値２８を以って、出力選択回路３１は、レシーバ非反転出力信号３６、レシーバ反転出力信号３７に応じた信号を出力する。

（４）リセット
（図３不示図）リセット状態となり、光量制御回路２７にて設定された電流値を初期化し且つ、出力選択回路３８から半導体レーザ１２が消灯するよう強制的にＯＦＦデータを出力する。

［照度補正データ生成］
図６は、像面照度測定装置５１の概略構成図である。像面照度測定装置５１は光学ユニット５２、測定用フォトダイオード５３及び光学駆動部５４で概略構成される。測定用フォトダイオード（以下ＡＰＤと略す）５３はアバランシェ・フォトダイオード（ＡＰＤ）を用い、光学ユニット５２上、感光ドラム１９の照射位置相当に配備する。光学駆動部５４は光学ユニット５２を主走査方向、感光ドラム１９の回転方向と直角方向に稼動可能な構成としている。像面照度測定に使用する光学走査装置２のレーザユニット内の半導体レーザ１２から出射したレーザービームＬ２は走査光或いは静止光の何れでもよい。

符号５６は、照度測定用制御ユニットであり、ＡＰＤ制御部５７、アナログ−デジタル変換機（以下ＡＤと略す）及び電流制御部で構成される。ＡＰＤ制御部５７はＡＰＤ５３と測定用フォトダイオード制御信号５５と接続されており、ＡＰＤ５３への電源供給及びＡＰＤ５３から出力される電流を電圧信号に変換する。ＡＤ５９はＡＰＤ電圧信号５８を所定のサンプリングレート及び分解能により量子化をする。

符号６１は電流制御部であり、半導体レーザ１２を所定の光量となるようレーザ駆動１１内のレーザ駆動回路２１に対してレーザ駆動回路制御信号６２によって制御する。レーザ駆動回路制御信号６２は、Ｓ／Ｈ制御信号２９、データ出力（ＤＡＴＡ ＯＵＴ）制御信号３０及びシリアル補正データ４３で構成し、半導体レーザ１２を所定の光量とする設定値をシリアル補正データ４３によりレーザ駆動回路２１へ転送する。制御方法は画像形成装置１におけるそれと同一のため説明は省略する。

図７は照度補正データの生成の動作原理を説明するグラフ、図８は照度補正データの生成方法を記すフローチャートである。以下に補正データ生成仕様を記す。

１．光量調整
画像領域内像高（±１５０ｍｍ）を２５ｍｍ等間隔で計１３箇所で像面照度測定を行う。但し、像高の各位置の間隔は等間隔か否かは問わない。
１３箇所の像高での照度を測定、最低照度となる像高を検出し、その像高での照度が所定値となるようレーザ駆動回路２１を光量調整モードにし、光量調整可変抵抗２３にて調整する。以上によって得られた光量を１００％光量と定義し、この時に設定されるレーザ駆動電流３２を１００％光量駆動電流とする。
２．像面照度測定
光学駆動部５４にて光学ユニット５２上の測定用フォトダイオード５３を上記仕様に則って移動し、１３箇所の像高における像面照度を測定する。
３．補正前近似式の算出
像面照度測定で得られる１３箇所の像高における像面照度の測定値から４次近似式を生成する。
４．補正値算出
画像領域内像高（±１５０ｍｍ）を１２．５ｍｍ等間隔で計２５の補正ブロックで照度補正値の算出を行う。像高に対する補正ブロックの配置方法は像面照度測定時の像高と一致しなくともよい。４次近似式から、最低照度となる補正ブロックに対する他の２４ブロックの像面照度差（ΔＰ０〜ΔＰ２４）を算出する。像面照度差（ΔＰ０〜ΔＰ２４）を、レーザ駆動電流３２をフルスケールとして量子化し、補正データとする。
５．補正値格納
上記２〜４項についてレーザ駆動電流３２の各光量駆動電流を８０％、６０％、４０％及び２０％に設定した時の像面照度に対して、同様の方法で補正データを算出する。レーザ駆動電流３２の可変手段は、シリアル補正データ（ＣＯＲＲＥＣＴ ＤＡＴＡ）４３を所定の光量駆動電流とする値を入力することで実行される。以上により得られた補正データは、シリアルデータ入力信号（ＤＩ）４８を経由してＥＥＰＲＯＭ４６に格納する。

［補正近似式／算出方法］
図９は１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における各光量設定に対する補正データを記すグラフ、図１０は１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフである。

１００％電流設定値、８０％電流設定値、６０％電流設定値、４０％電流設定値及び２０％電流設定値での像面照度における最低値を１５番目の像高ブロックの像面照度の値との差分値を補正データとする。

光量設定値を以下の５個の領域に分割し、１５番目の補正データから補正近似式を求める。１００％発光設定から８０％光量設定値間の領域を１００％発光設定での補正値と８０％光量設定値での補正値を結んだ直線を近似式とする。以下同様にして近似式を求める。（係数はｄｅｃ値）
（１）近似式Ｌ１（１００％≦Ｐｏ＜８０％）：ΔＰ１４（１００％−８０％）＝９０ＩＬＤ−２６
（２）近似式Ｌ２（８０％≦Ｐｏ＜６０％）：ΔＰ１４（８０％−６０％）＝３０ＩＬＤ＋２２
（３）近似式Ｌ３（６０％≦Ｐｏ＜４０％）：ΔＰ１４（６０％−４０％）＝５５ＩＬＤ＋７
（４）近似式Ｌ４（４０％≦Ｐｏ＜２０％）：ΔＰ１４（４０％−２０％）＝１００ＩＬＤ−１１
（５）近似式Ｌ５（２０％≦Ｐｏ）：ΔＰ１４（２０％）＝９ＩＬＤ
以上の方法で全像高ブロックに対する近似式を求める。

［照度補正方法］
図１１はエンジン制御部３における照度補正のフローチャートである。
１．初期シーケンス
画像形成装置１が電源投入時あるいはリセット後には初期シーケンスを実行する。エンジン制御部３は光学走査装置２内のＥＥＰＲＯＭ４６から１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値を読み出し、バックアップメモリ６に格納する。

補正近似式／算出方法に則って近似式Ｌｎを算出し、バックアップメモリ６に格納する。

２．照度補正
光量設定値Ｐは、例えば感光ドラム１９の分光感度ばらつきによる潜像ムラに対して最適なドラム面照度を得るため必要な半導体レーザ１２の光量である。光量設定値Ｐ入力後、これに対応した近似式を選択する。

選択された近似式に光量設定値を代入し設定電流値を算出する。

例えば、光量設定値Ｐを７２％とするとバックアップメモリ６から近似式Ｌ２が選択され、［補正近似式／算出方法］から得られた補正データを用いて以下の様に算出される。
補正値ΔＰ１４：４３．６ｄｅｃ＝３０×０．７２＋２２（＝２Ｂｈ）
レーザ駆動電流ＩＬＤ：１４０．７２ｄｅｃ＝２５６×０．７２−４３．６（＝８Ｃｈ）
以上の方法で、全像高ブロックの補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤを求める。

［実施の形態２］
図１１は第２の実施の形態における１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフである。１００％電流設定値、８０％電流設定値、６０％電流設定値、４０％電流設定値及び２０％電流設定値での像面照度における最低値を１５番目の像高ブロックの像面照度の値との差分値を補正データとする。

光量設定値を以下の５個の領域に分割し、１５番目の補正データから補正近似式を求める。１００％発光設定から８０％光量設定値間の領域を１００％発光設定での補正値と８０％光量設定値から全像高ブロックに対する１次近似式を生成する。近似式は１次以上で生成してもよいことは言うまでもない。

図１２は第２の実施の形態におけるエンジン制御部３の照度補正のフローチャートである。

３．初期シーケンス
画像形成装置１が電源投入時あるいはリセット後には初期シーケンスを実行する。エンジン制御部３は光学走査装置２内のＥＥＰＲＯＭ４６から１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値を読み出し、バックアップメモリ６に格納する。

１００％光量設定補正値、８０％光量設定補正値、６０％光量設定補正値、４０％光量設定補正値及び２０％光量設定補正値から１次近似式Ｌを算出し、バックアップメモリ６に格納する。

４．照度補正
光量設定値Ｐ入力後、１次近似式Ｌに光量設定値を代入し設定電流値を算出する。

例えば、光量設定値Ｐを７２％とすると補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤ以下の様に算出される。
補正値ΔＰ１４：４６．２ｄｅｃ＝６３．５×０．７２＋０．５（＝２Ｅｈ）
レーザ駆動電流ＩＬＤ：１３８．１ｄｅｃ＝２５６×０．７２−４６．２（＝８Ａｈ）
以上の方法で全像高ブロックの補正値ΔＰｎ及びレーザ駆動電流ＩＬＤを求める。

本実施形態における光学走査装置を含む画像形成装置の抜粋構成図 本実施形態における光学走査装置の構成図 本実施形態におけるレーザ駆動部１１のブロック図 本実施形態におけるレーザ駆動回路２１の状態遷移を記すタイムチャート 本実施形態におけるレーザ駆動回路２１の動作機能表 像面照度測定装置５１の概略構成図 照度補正データの生成原理を記すグラフ図 照度補正データの生成方法を記すフローチャート図 １５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における各光量設定に対する補正データを記すグラフ図 １５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフ図 エンジン制御部３における照度補正のフローチャート図 第２実施形態における１５番目の像高ブロック（Ｎｏ．１４）における補正近似式算出方法を記すグラフ図 第２実施形態におけるエンジン制御部３の照度補正のフローチャート図 レーザの発光強度に対するＦＦＰ（水平）プロポーションの変動を表す図 従来例の補正方法を用いた実際に必要な補正量との関係を示すグラフ

Claims (12)

1. 画像信号によって変調された光ビームで感光体上を走査して画像を形成する画像形成装置であって、
   前記光ビームの一走査区間を複数ブロックに分割し、各ブロックに対応付けて、前記光ビームを射出する半導体レーザと感光体の間に配置される光学系ユニットの光学特性に対応する補正データを予め設定した複数の光量で求める補正値算出手段と、
   前記補正値算出手段から得られる複数の補正値を以って、前記各々の設定光量に対する補正値を結ぶ特性式を生成し、該特性式を用いて該設定光量以外の光量における補正値を算出し、算出した結果に基づいて前記半導体レーザの光量を制御することを特徴とする光学走査装置。
2. 任意の像高での照度と該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測した結果を以ってｎ次（ｎ≧１）近似式を生成し、該近似式に依り補正値を算出することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
3. 前記補正値算出手段において、予め設定した光量の各々で任意の像高での照度とは該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を含めた全てで最小となる像高での照度あることを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
4. 前記補正値算出手段にて予め設定した光量で前記半導体レーザを発光させた時の照度が最小値となる像高での照度を基準照度とし、これと該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測して得られた照度差と、
   前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の前記任意の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差と、
   前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の該像高以外の少なくとも一つ以上の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差を算出することにより複数の補正値とすることを特徴とする照度補正手段を有することを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
5. 前記補正値算出手段において、予め設定した光量の各々で任意の像高での照度とは該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を含めた全てで最大となる像高での照度あることを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
6. 前記補正値算出手段にて予め設定した光量で前記半導体レーザを発光させた時の照度が最大値となる像高での照度を基準照度とし、これと該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測して得られた照度差と、
   前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の前記任意の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差と、
   前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の該像高以外の少なくとも一つ以上の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差を算出することにより複数の補正値とすることを特徴とすることを特徴とする請求項１に記載の光学走査装置。
7. 半導体レーザを有し、該半導体レーザが予め設定した光量となるよう該半導体レーザへの供給電流を制御し、かつ画像データに基づいて変調された光ビームを射出するよう該半導体レーザを駆動するレーザ駆動手段、前記光ビームを偏向する回転多面鏡と、前記回転多面鏡により偏向された前記光ビームにより像担持体上に潜像を形成する光学走査装置を含む画像形成装置であって、
   光学走査装置を含む画像形成装置内或いは外部に配備され、前記像担持体と照射位置を同じくする位置で前記光学走査装置から出射される前記光ビームの照度を計測する照度計測手段、
   前記照度計測手段を以って任意の像高での照度と該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測して得られた照度差を算出し補正値とする補正値算出手段、
   前記補正値算出手段の結果に基づいて前記レーザ駆動手段の出力電流を加減することにより前記半導体レーザの光量を制御する光量制御手段、
   から構成される照度補正手段を有し、
   予め設定した複数の光量にて前記半導体レーザを発光し、前記補正値算出手段から得られる複数の補正値を以って、光量制御手段において各々の設定光量に対する補正値からｍ次（ｍ≧１）近似式を生成し、該近似式を用いて該設定光量以外の光量における該設定光量以外の光量の補正値を算出した結果に基づいて前記半導体レーザの発光強度を制御することを特徴とする前記照度補正手段を有する光学走査装置及びこれを含む画像形成装置。
8. 前記照度計測手段を以って任意の像高での照度と該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測した結果を以ってｋ次（ｋ≧１）近似式を生成し、該近似式に依り補正値を算出することを特徴とする前記照度補正手段を有することを特徴とする請求項７に記載の光学走査装置。
9. 前記補正値算出手段において、予め設定した光量の各々で任意の像高での照度とは該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を含めた全てで最小となる像高での照度あることを特徴とする前記照度補正手段を有することを特徴とする請求項７に記載の光学走査装置。
10. 前記補正値算出手段にて予め設定した光量で前記半導体レーザを発光させた時の照度が最小値となる像高での照度を基準照度とし、これと該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測して得られた照度差と、
    前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の前記任意の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差と、
    前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の該像高以外の少なくとも一つ以上の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差を算出することにより複数の補正値とすることを特徴とする前記照度補正手段を有することを特徴とする請求項７に記載の光学走査装置。
11. 前記補正値算出手段において、予め設定した光量の各々で任意の像高での照度とは該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を含めた全てで最大となる像高での照度あることを特徴とする前記照度補正手段を有することを特徴とする請求項７に記載の光学走査装置。
12. 前記補正値算出手段にて予め設定した光量で前記半導体レーザを発光させた時の照度が最大値となる像高での照度を基準照度とし、これと該像高以外の少なくとも一つ以上の像高の照度を計測して得られた照度差と、
    前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の前記任意の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差と、
    前記予め設定した光量以外の光量で発光させた時の該像高以外の少なくとも一つ以上の像高での照度と基準照度を計測して得られた照度差を算出することにより複数の補正値とすることを特徴とする前記照度補正手段を有することを特徴とする請求項７に記載の光学走査装置。

Images