JP2007163237A - 静電容量測定装置および静電容量測定方法 - Google Patents

静電容量測定装置および静電容量測定方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2007163237A
JP2007163237A JP2005358372A JP2005358372A JP2007163237A JP 2007163237 A JP2007163237 A JP 2007163237A JP 2005358372 A JP2005358372 A JP 2005358372A JP 2005358372 A JP2005358372 A JP 2005358372A JP 2007163237 A JP2007163237 A JP 2007163237A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
time
capacitance
measured
voltage value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005358372A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuhiro Ban
和浩 伴
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hioki EE Corp
Original Assignee
Hioki EE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hioki EE Corp filed Critical Hioki EE Corp
Priority to JP2005358372A priority Critical patent/JP2007163237A/ja
Publication of JP2007163237A publication Critical patent/JP2007163237A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

【課題】測定対象コンデンサについての規定電圧が印加されている状態での静電容量を測定し得る静電容量測定装置を提供する。
【解決手段】測定対象コンデンサ8に定電流Iを供給する電流供給部2と、測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcを測定する電圧測定部3と、時間計測部4と、電流供給部2によって測定対象コンデンサ8に定電流Iが供給されている状態において電圧測定部3によって測定されている充電電圧Vcが予め規定されている規定電圧の近傍に設定された下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を時間計測部4に計測させると共に、定電流Iの電流値、下限電圧値から上限電圧値までの電圧値、および計測された時間に基づいて測定対象コンデンサ8の静電容量を算出する演算制御部6とを備えている。
【選択図】図1

Description

本発明は、予め規定された規定電圧を印加した状態における測定対象コンデンサの静電容量を測定する静電容量測定装置および静電容量測定方法に関するものである。
測定対象コンデンサの静電容量を測定する静電容量測定装置としては、特開平6−242159号公報に開示されている静電容量測定装置が知られている。この静電容量測定装置では、並列接続した測定対象コンデンサ(被測定コンデンサ)と補助コンデンサとに定電流を流して、その充電電圧がゼロボルトから一定値に達するまでの充電時間をカウンタでカウントすることにより、定電流の値、補助コンデンサの静電容量、充電電圧および充電時間に基づいて測定対象コンデンサの静電容量を算出する。この静電容量測定装置によれば、測定対象コンデンサの容量が微小なときにおいても補助コンデンサを並列に接続することによって全体の静電容量を大きくすることができ、これによって充電時間に要する時間を所定の範囲内に収めておくことができる。したがって、この静電容量測定装置では、測定誤差が大きくなることを防止できる結果、高い精度での静電容量の測定が可能となっている。
特開平6−242159号公報(第3頁、第1図)
ところが、従来の静電容量測定装置には、以下の問題点がある。すなわち、測定対象コンデンサには、積層セラミックチップコンデンサのように、測定電圧によってその静電容量が変化するものがあり、このようなコンデンサに関しては、例えばその良否を検査するにあたり、予め規定されている規定電圧(直流電圧)が印加されている状態の静電容量を測定して基準静電容量と比較している。ところが、従来の静電容量測定装置では、充電電圧がゼロボルトから一定値に達するまでの充電時間に基づいて静電容量を測定しているため、上記の規定電圧のような特定の電圧での静電容量を測定することができない。したがって、この静電容量測定装置には、測定電圧(印加電圧)によってその静電容量が変化する測定対象コンデンサについての規定電圧での静電容量を測定できないという問題点が存在している。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、測定対象コンデンサについての規定電圧が印加されている状態での静電容量を測定し得る静電容量測定装置および静電容量測定方法を提供することを主目的とする。
上記目的を達成すべく請求項1記載の静電容量測定装置は、測定対象コンデンサに直流電流を供給する電流供給部と、前記測定対象コンデンサの充電電圧を測定する電圧測定部と、時間計測部と、前記電流供給部によって前記測定対象コンデンサに前記直流電流が供給されている状態において前記電圧測定部によって測定されている前記充電電圧が予め規定されている規定電圧の近傍に設定された下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を前記時間計測部に計測させると共に、前記直流電流の電流値、前記下限電圧値から前記上限電圧値までの電圧値、および前記計測された時間に基づいて前記測定対象コンデンサの静電容量を算出する演算部とを備えている。
また、請求項2記載の静電容量測定装置は、請求項1記載の静電容量測定装置において、前記下限電圧値および前記上限電圧値は前記規定電圧を挟んで設定されている。
また、請求項3記載の静電容量測定装置は、請求項1または2記載の静電容量測定装置において、前記電流供給部は、前記時間計測部による前記時間の計測中において、計測開始前よりも低い電流値の前記直流電流を供給する。
また、請求項4記載の静電容量測定方法は、測定対象コンデンサに直流電流を供給している状態において当該測定対象コンデンサの充電電圧を測定し、当該充電電圧が予め規定されている規定電圧の近傍に設定された下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を計測し、前記直流電流の電流値、前記下限電圧値から前記上限電圧値までの電圧値、および前記計測された時間に基づいて前記測定対象コンデンサの静電容量を算出する。
請求項1記載の静電容量測定装置および請求項4記載の静電容量測定方法によれば、測定対象コンデンサに直流電流を供給している状態において測定対象コンデンサの充電電圧が規定電圧の近傍の下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を計測し、直流電流の電流値、下限電圧値と上限電圧値との電圧差、および計測した時間に基づいて測定対象コンデンサの静電容量を算出することにより、規定電圧が印加されている状態での測定対象コンデンサの静電容量を測定することができる。
また、請求項2記載の静電容量測定装置によれば、規定電圧を挟んで下限電圧値および上限電圧値を設定したことにより、規定電圧が印加されている状態での測定対象コンデンサの静電容量を一層正確に測定することができる。
また、請求項3記載の静電容量測定装置では、時間計測部による時間の計測中において、電流供給部がこの時間の計測開始前よりも低い電流値の直流電流を供給することにより、充電電圧の上昇率を低下させて(上昇を緩やかにして)、時間計測部によって計測される時間を長く維持する。したがって、この静電容量測定装置によれば、下限電圧値と上限電圧値との電圧差が小さいときにおいても、時間計測部で計測される時間が短いことに起因する測定誤差の増大を回避できる結果、測定対象コンデンサの静電容量を精度良く測定することができる。
以下、添付図面を参照して、本発明に係る静電容量測定装置の最良の形態について説明する。
まず、静電容量測定装置1の構成について図面を参照して説明する。
静電容量測定装置1は、電流供給部2、電圧測定部3、時間計測部4、放電部5、演算制御部6および表示部7を備え、測定対象コンデンサ8の規定電圧Vrが印加された状態での静電容量C1を測定可能に構成されている。
具体的には、電流供給部2は、プローブ11を介して測定対象コンデンサ8に接続可能に構成されている。また、電流供給部2は、演算制御部6から出力される制御信号S1によって制御されて、プローブ11を介して測定対象コンデンサ8に例えば直流の定電流(本発明における直流電流)Iを供給することで、測定対象コンデンサ8を充電する。また、電流供給部2は、制御信号S1によって制御されて、供給する定電流Iの電流値を、値I1、値I1よりも小さい値I2、および値ゼロ(つまり定電流Iの供給停止)のいずれかに切り換え可能に構成されている。電圧測定部3は、プローブ12を介して測定対象コンデンサ8に接続可能に構成されている。また、電圧測定部3は、測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcを測定して、その充電電圧Vcの値を示すデータD1を演算制御部6に出力する。時間計測部4は、演算制御部6の制御下で、時間を計測すると共に、計測した時間を示すデータD2を演算制御部6に出力する。一例として、時間計測部4は、演算制御部6から出力される制御信号S3の立ち上がりから立ち下がりまでの時間を計測する。放電部5は、演算制御部6から出力される制御信号S2によって制御されて、充電された測定対象コンデンサ8を放電させる。
演算制御部6は、CPUおよびメモリ(いずれも図示せず)を備え、本発明における演算部として機能して、電流供給部2および放電部5に対する制御、並びに測定対象コンデンサ8の静電容量C1を算出する静電容量算出処理を実行する。また、メモリには、電流供給部2によって供給される定電流Iの電流値を値I1から値I2に切り替えるタイミングを特定するための電圧値V1、規定電圧Vrの近傍において規定電圧Vrを挟んで設定された下限電圧値V2および上限電圧値V3、並びに放電部5を作動させるタイミングを特定するための電圧値V4が予め記憶されている。本例では、一例として、規定電圧Vrが5ボルトのときの静電容量C1を測定するために、電圧値V1=4.5ボルト、下限電圧値V2=4.95ボルト、上限電圧値V3=5.05ボルト、電圧値V4=5.1ボルトに設定されている。この場合、下限電圧値V2および上限電圧値V3は、規定電圧Vrが印加された状態で測定対象コンデンサ8の静電容量C1を等価的に算出するために用いられるため、規定電圧Vrに対して極く近傍(±5%以内)に設定するのが好ましく、本例では、規定電圧Vrに対して±1%となる電圧値に設定されている。表示部7は、演算制御部6によって算出された静電容量C1を表示する。
次に、静電容量測定装置1による測定対象コンデンサ8についての静電容量C1の測定動作について、各図を参照して説明する。
まず、測定対象コンデンサ8の静電容量C1の測定に際して、図1に示すように、プローブ11およびプローブ12を測定対象コンデンサ8に接続して、電流供給部2から測定対象コンデンサ8への定電流Iの供給、および電圧測定部3による測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcの測定を可能な状態にする。
次いで、静電容量測定装置1の起動状態において、演算制御部6は、まず、制御信号S2を出力して放電部5を所定時間だけ作動させることにより、測定対象コンデンサ8を放電させてその充電電圧Vcをゼロボルトにする。放電完了後、演算制御部6は、制御信号S2の出力を停止して放電部5の作動を停止させ、次いで、電流供給部2に対して定電流I(値I1)の供給を開始させるための制御信号S1を出力する。これにより、電流供給部2が測定対象コンデンサ8への定電流I(値I1)の供給を開始する。この結果、測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcが図2に示すように上昇し始める。この際に、電圧測定部3は、測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcを所定周期で測定して(サンプリングして)、その充電電圧Vcの値を示すデータD1を演算制御部6に出力する。演算制御部6は、電圧測定部3から出力されたデータD1に基づいて、測定対象コンデンサ8についての充電電圧Vcの監視処理を開始する。具体的には、演算制御部6は、データD1に基づいて充電電圧Vcを算出すると共に、算出した充電電圧Vcを内部メモリに記憶されている電圧値V1、下限電圧値V2、上限電圧値V3および電圧値V4と比較する比較処理を実行する。演算制御部6は、この監視処理中において、充電電圧Vcが電圧値V1に達したことを比較処理によって検出し、その時点において、電流供給部2に対して定電流Iの値を値I2に切り替えるための制御信号S1を出力する。これにより、電流供給部2が測定対象コンデンサ8への定電流Iの値を値I2(<値I1)に切り換えるため、図2に示すように、測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcの上昇率が低下する。
続いて、演算制御部6は、この監視処理中において、充電電圧Vcが規定電圧Vrの下限電圧値V2に達したことを比較処理によって検出し、その時点において、時間計測部4に対して制御信号S3の出力を開始する。これに応じて、時間計測部4は、時間の計測動作を開始する。次いで、演算制御部6は、この監視処理中において、充電電圧Vcが規定電圧Vrの上限電圧値V3に達したことを比較処理によって検出し、その時点において、時間計測部4に対して制御信号S3の出力を停止する。これに応じて、時間計測部4は、計測動作を停止すると共に、計測した時間を示すデータD2を演算制御部6に出力する。この場合、データD2は、充電電圧Vcが規定電圧Vrの下限電圧値V2に達してからその上限電圧値V3に達するまでの時間Δtを示している(図2参照)。続いて、演算制御部6は、入力したデータD2からこの時間Δtを算出すると共に、この時間Δt、時間Δtの計測中において測定対象コンデンサ8に供給されている定電流Iの値I2、並びに規定電圧Vrの下限電圧値V2および上限電圧値V3を用いて、規定電圧Vrを印加している状態における測定対象コンデンサ8の静電容量C1を算出する。具体的には、演算制御部6は、上記した時間Δt等を下記式(1)に代入することにより、静電容量C1を算出する。
C1=I2×Δt/(V3−V2)・・・・・・ (1)
また、演算制御部6は、算出した静電容量C1を表示部7に表示させる。最後に、演算制御部6は、この監視処理中において、充電電圧Vcが電圧値V4に達したことを比較処理によって検出し、その時点において、電流供給部2に対して定電流Iの出力を停止させるための制御信号S1を出力する。これにより、電流供給部2が測定対象コンデンサ8への定電流Iの供給を停止する。次いで、制御部6は、制御信号S2を放電部5に出力して測定対象コンデンサ8を放電させて、各プローブ11,12を測定対象コンデンサ8から取り外し可能な状態とする。これにより、静電容量測定装置1による測定対象コンデンサ8についての規定電圧Vr(5ボルト)を印加した状態での静電容量C1の測定処理が完了する。
このように、この静電容量測定装置1およびこの静電容量測定装置1を用いた静電容量測定方法によれば、電流供給部2によって測定対象コンデンサ8に定電流I(値I2)が供給されている状態において電圧測定部3によって測定されている測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcが下限電圧値V2から上限電圧値V3まで増加するのに要する時間Δtを時間計測部4に計測させると共に、定電流Iの値I2、下限電圧値V2と上限電圧値V3との電圧差(V3−V2)、および時間Δtに基づいて演算制御部6が静電容量C1を算出することにより、この電圧差(V3−V2)を狭めることで、測定対象コンデンサ8についての規定電圧Vrを印加した状態での静電容量C1を正確に測定することができる。
また、この静電容量測定装置1およびこの静電容量測定装置1を用いた静電容量測定方法によれば、規定電圧Vrを挟んで下限電圧値V2および上限電圧値V3を設定したことにより、規定電圧Vrが印加されている状態での測定対象コンデンサ8の静電容量C1を一層正確に測定することができる。
また、この静電容量測定装置1およびこの静電容量測定装置1を用いた静電容量測定方法では、時間計測部4による時間Δtの計測中において、電流供給部2が時間Δtの計測開始前の値I1よりも低い値I2の定電流Iを供給することにより、充電電圧Vcの上昇率を低下させて(上昇を緩やかにして)、時間計測部4によって計測される時間Δtを長く維持することができる。したがって、この静電容量測定装置1およびこの静電容量測定方法によれば、下限電圧値V2と上限電圧値V3との電圧差Vrが小さいときにおいても、計測される時間Δtが短いことに起因する測定誤差の増大を回避できる結果、測定対象コンデンサ8の静電容量C1を精度良く測定することができる。この場合、時間計測部4による時間Δtの計測開始までの定電流Iの値I1は静電容量C1の測定精度に影響を与えない。このため、この静電容量測定装置1によれば、定電流Iの値I1を大きくして、時間計測部4による時間Δtの計測開始までの充電電圧Vcの上昇率を高めることにより、測定対象コンデンサ8についての静電容量C1の測定完了までの時間を短縮することができる。
なお、本発明は、上記の構成に限定されない。例えば、時間計測部4と演算制御部6とを別個独立して構成した例について説明したが、演算制御部6に時間計測部4を含める構成を採用することもできる。具体的には、演算制御部6内に時刻データを出力するタイマICを設けると共にこの時刻データに基づいてCPUが時間Δtを算出する構成を採用することもできる。また、タイマICを設けずに、CPUの動作クロックを分周したクロックをCPUがカウントすることによって時間Δtを計測する構成を採用することもできる。
また、例えば、規定電圧Vrの下限電圧値V2が低いために測定対象コンデンサ8の充電電圧Vcが下限電圧値V2に比較的短時間で達するようなときや、静電容量C1の測定に長い時間を要してもよいときには、測定開始当初から測定対象コンデンサ8に対して値I2(<値I1)の定電流Iを供給する構成を採用することもできる。また、下限電圧値V2および上限電圧値V3は、規定電圧Vrが印加された状態で測定対象コンデンサ8の静電容量C1を等価的に算出するためには、規定電圧Vrを挟んで極く近傍に設定するのが好ましいが、これに限らない。例えば、規定電圧Vrの近傍であって規定電圧Vrよりも高い電圧に下限電圧値V2および上限電圧値V3をそれぞれ設定することができるし、規定電圧Vrよりも低い電圧に下限電圧値V2および上限電圧値V3をそれぞれ設定することもできる。
静電容量測定装置1の構成を示すブロック図である。 充電電圧Vcと時間との関係を示す電圧推移図である。
符号の説明
1 静電容量測定装置
2 電流供給部
3 電圧測定部
4 時間計測部
6 演算制御部
8 測定対象コンデンサ
C1 静電容量
V2 下限電圧値
V3 上限電圧値
Vc 充電電圧
Vr 規定電圧
I 定電流
Δt 時間

Claims (4)

  1. 測定対象コンデンサに直流電流を供給する電流供給部と、前記測定対象コンデンサの充電電圧を測定する電圧測定部と、時間計測部と、前記電流供給部によって前記測定対象コンデンサに前記直流電流が供給されている状態において前記電圧測定部によって測定されている前記充電電圧が予め規定されている規定電圧の近傍に設定された下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を前記時間計測部に計測させると共に、前記直流電流の電流値、前記下限電圧値から前記上限電圧値までの電圧値、および前記計測された時間に基づいて前記測定対象コンデンサの静電容量を算出する演算部とを備えている静電容量測定装置。
  2. 前記下限電圧値および前記上限電圧値は前記規定電圧を挟んで設定されている請求項1記載の静電容量測定装置。
  3. 前記電流供給部は、前記時間計測部による前記時間の計測中において、計測開始前よりも低い電流値の前記直流電流を供給する請求項1または2記載の静電容量測定装置。
  4. 測定対象コンデンサに直流電流を供給している状態において当該測定対象コンデンサの充電電圧を測定し、当該充電電圧が予め規定されている規定電圧の近傍に設定された下限電圧値から上限電圧値まで増加するのに要する時間を計測し、前記直流電流の電流値、前記下限電圧値から前記上限電圧値までの電圧値、および前記計測された時間に基づいて前記測定対象コンデンサの静電容量を算出する静電容量測定方法。
JP2005358372A 2005-12-13 2005-12-13 静電容量測定装置および静電容量測定方法 Pending JP2007163237A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005358372A JP2007163237A (ja) 2005-12-13 2005-12-13 静電容量測定装置および静電容量測定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005358372A JP2007163237A (ja) 2005-12-13 2005-12-13 静電容量測定装置および静電容量測定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007163237A true JP2007163237A (ja) 2007-06-28

Family

ID=38246306

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005358372A Pending JP2007163237A (ja) 2005-12-13 2005-12-13 静電容量測定装置および静電容量測定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007163237A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009070004A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Wacom Co Ltd 位置指示器
JP2010054229A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Hioki Ee Corp 静電容量測定装置
US7797115B2 (en) * 2007-08-13 2010-09-14 Nuvoton Technology Corporation Time interval measurement for capacitive detection
JP2011109745A (ja) * 2009-11-13 2011-06-02 Panasonic Corp 蓄電装置
JP2014219335A (ja) * 2013-05-10 2014-11-20 日置電機株式会社 検査装置および検査方法
KR20150071543A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 터치전극의 정전용량 산출 장치 및 방법
JP6906718B1 (ja) * 2020-04-03 2021-07-21 三菱電機株式会社 伝送路長検出装置及びネットワーク通信装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS498285A (ja) * 1972-05-10 1974-01-24
JPS6392262A (ja) * 1986-10-06 1988-04-22 Ricoh Co Ltd 多出力スイツチングレギユレ−タ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS498285A (ja) * 1972-05-10 1974-01-24
JPS6392262A (ja) * 1986-10-06 1988-04-22 Ricoh Co Ltd 多出力スイツチングレギユレ−タ

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7797115B2 (en) * 2007-08-13 2010-09-14 Nuvoton Technology Corporation Time interval measurement for capacitive detection
US7945399B2 (en) 2007-08-13 2011-05-17 Nuvoton Technology Corporation Capacitive detection systems, modules and methods
US8169419B2 (en) 2007-08-13 2012-05-01 Nuvoton Technology Corporation Power efficient capacitive detection
US8330743B2 (en) 2007-08-13 2012-12-11 Nuvoton Technology Corporation Power efficient capacitive detection
JP2009070004A (ja) * 2007-09-11 2009-04-02 Wacom Co Ltd 位置指示器
JP2010054229A (ja) * 2008-08-26 2010-03-11 Hioki Ee Corp 静電容量測定装置
JP2011109745A (ja) * 2009-11-13 2011-06-02 Panasonic Corp 蓄電装置
JP2014219335A (ja) * 2013-05-10 2014-11-20 日置電機株式会社 検査装置および検査方法
KR20150071543A (ko) * 2013-12-18 2015-06-26 엘지디스플레이 주식회사 터치전극의 정전용량 산출 장치 및 방법
KR102080199B1 (ko) 2013-12-18 2020-02-24 엘지디스플레이 주식회사 터치전극의 정전용량 산출 장치 및 방법
JP6906718B1 (ja) * 2020-04-03 2021-07-21 三菱電機株式会社 伝送路長検出装置及びネットワーク通信装置
WO2021199432A1 (ja) * 2020-04-03 2021-10-07 三菱電機株式会社 伝送路長検出装置及びネットワーク通信装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2007163237A (ja) 静電容量測定装置および静電容量測定方法
KR101398151B1 (ko) 용량성 구성요소의 용량을 측정하기 위한 방법 및 장치
CN111934678B (zh) 芯片内时钟频率自动校准方法及相关产品
CN105974316B (zh) 电池余量预测装置及电池组
US7506184B2 (en) Current detection for microelectronic devices using source-switched sensors
JPWO2016038873A1 (ja) 制御装置、制御方法、及びプログラム
JP2023101509A (ja) 半導体装置、およびバッテリの残量の検出方法
JP2008066390A (ja) キャパシタの測定検査方法及び装置
JPH06242159A (ja) 静電容量測定装置
JP2009092640A (ja) 自動検査設備内部の寄生容量を精密に計測するシステム、回路および方法
JP2008064700A (ja) 電気二重層キャパシタの内部抵抗測定装置
JP4184657B2 (ja) 圧力測定装置
JP2010025667A (ja) 並列抵抗測定方法及びその装置
JP2006300717A (ja) 絶縁抵抗計
JP2003017139A (ja) 電池の残量計測装置
JPH09211041A (ja) 容量性素子の等価直列抵抗測定方法および等価直列抵抗測定装置
JP4456584B2 (ja) 電気二重層コンデンサの直流内部抵抗値の測定方法及びそのシステム
TW434873B (en) Current measurement method and current measurement device
US20140114593A1 (en) Apparatus and method for calculating electrical charge quantity or electrical discharge quantity for battery unit according to calibration parameter used for adjusting time interval of electrical charge/discharge calculation, and method for calibrating integral time interval
JPH07151820A (ja) 耐圧試験装置
TW202009676A (zh) 觸碰感測裝置及觸碰感測方法
JP3119386B2 (ja) 測定装置
JP2009236962A (ja) 画像形成装置及びそのキャパシタ容量測定方法
JP5086591B2 (ja) 容量測定装置および容量測定方法
JP2012233843A (ja) インピーダンス測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081212

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101217

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101221

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110419