JP2007150543A - Mobile terminal - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、携帯端末装置に係り、特に内蔵された集積回路の試験に関する。 The present invention relates to a portable terminal device, and more particularly, to a test of a built-in integrated circuit.
携帯電話機、PHS(Personal Handy phone System:簡易型携帯電話)などの携帯端末装置に故障が生じた場合、故障原因が分析される。 When a failure occurs in a mobile terminal device such as a mobile phone or PHS (Personal Handy phone System), the cause of the failure is analyzed.
故障原因の分析は、発生した故障現象の確認から行われ、携帯端末装置に搭載されているLSI(Large Scale Integration:集積回路)に起因する故障か、電源の出力電圧の降下による故障かなどが推測される。 The cause of the failure is analyzed by confirming the failure phenomenon that has occurred, whether it is a failure caused by an LSI (Large Scale Integration) integrated in the portable terminal device or a failure caused by a drop in the output voltage of the power supply. Guessed.
これらの推測を確認するため、次に示すような試験が行われる。 In order to confirm these assumptions, the following tests are performed.
故障原因が搭載されている集積回路にあると推測される場合には、故障の原因と思われる集積回路を携帯端末装置から取り外して試験したり、取り外された集積回路の後に、代わりとなる良品の集積回路を取り付けて、携帯端末装置の動作を試験することが行われる。 If it is presumed that the cause of the failure is in the integrated circuit on which it is mounted, remove the integrated circuit that seems to be the cause of the failure from the portable terminal device and test it, or replace the non-defective product after the removed integrated circuit. The operation of the portable terminal device is tested by attaching the integrated circuit.
上記のように集積回路を携帯端末装置から取り外して試験を行う代わりに、通常の携帯端末装置の動作を制御するための制御用プログラムが格納されているROM(Read Only Memory:読み出し専用メモリ)の内容を集積回路の試験を行うテストプログラムに書き換えて、このテストプログラムにより試験する方法がある。 Instead of removing the integrated circuit from the portable terminal device and performing the test as described above, a ROM (Read Only Memory) in which a control program for controlling the operation of the normal portable terminal device is stored is stored. There is a method in which the contents are rewritten to a test program for testing an integrated circuit and the test is performed using this test program.
この場合、試験を行う際にはROMにテストプログラムを書き込み、試験が終了すると動作を制御する制御用プログラムを再度ROMに書き込むことでROMに格納する内容を元に戻す必要がある。 In this case, when performing a test, it is necessary to write the test program into the ROM, and when the test is completed, the control program for controlling the operation is written again into the ROM so that the contents stored in the ROM are restored.
このような試験を行う際の手間を避けるため、あらかじめテストプログラムが格納された試験専用のROMが、携帯端末装置を動作させるための制御用プログラムを記憶したROMとは別に携帯端末装置内に設けられ、この試験専用のROMに格納されたテストプログラムによって、内蔵された集積回路の試験を行う携帯端末装置がある。 In order to avoid the trouble of performing such a test, a dedicated test ROM in which a test program is stored in advance is provided in the mobile terminal device separately from the ROM storing the control program for operating the mobile terminal device. There is a portable terminal device that tests a built-in integrated circuit using a test program stored in a ROM dedicated to the test.
故障原因が、電源の出力電圧の降下によるものと推測される場合には、内蔵された電気部品に供給する電源の電圧を変化させて、試験する。 When the cause of the failure is estimated to be due to a drop in the output voltage of the power supply, the voltage of the power supply supplied to the built-in electrical component is changed and tested.
このような電源電圧を変化させて集積回路、電気部品の試験を行う方式として、電圧を変化させるための制御を行う電源制御部と、電源制御部の制御を受け出力電圧を変動可能な電源部と、電源制御部から試験電圧値の書き込みが可能なバッテリバックアップメモリと、バッテリバックアップメモリにメモリ保持用電源を供給するバッテリとを有した情報処理装置の電源電圧を変化させる電圧マージン試験方式が開示されている(特許文献1参照)。 As a method of testing integrated circuits and electrical components by changing the power supply voltage, a power supply control unit that performs control for changing the voltage, and a power supply unit that can control the output voltage and control the power supply control unit And a voltage margin test method for changing a power supply voltage of an information processing apparatus having a battery backup memory in which a test voltage value can be written from a power supply control unit and a battery for supplying a memory holding power to the battery backup memory (See Patent Document 1).
この情報処理装置においては、バッテリバックアップメモリに書き込まれた試験電圧値が電源制御部に読み込まれ、電源制御部はこの読み込んだ試験電圧値になるように電源部の電圧を変化させて情報処理装置の電圧マージン試験が行なわれる。 In this information processing apparatus, the test voltage value written in the battery backup memory is read into the power supply control unit, and the power supply control unit changes the voltage of the power supply unit so as to be the read test voltage value. A voltage margin test is performed.
この電源部の電圧の変化により情報処理装置に故障が再現するときは、この故障が電圧の変化に起因することが分かる。
取り外した集積回路に試験を実施して故障の再現を行うことで、取り外した集積回路が故障を発生していたと判断され、故障原因が取り外した集積回路にあることが分かる。 By performing a test on the removed integrated circuit and reproducing the failure, it is determined that the removed integrated circuit has failed, and the cause of the failure is found in the removed integrated circuit.
他方、集積回路が取り外された後に良品の集積回路が携帯端末装置に取り付けられ、この携帯端末装置に対して試験を実施して、携帯端末装置に故障が発生しなくなったことを確認することで、故障を生じていた集積回路が携帯端末装置から除去されたことが分かる。 On the other hand, after the integrated circuit is removed, a non-defective integrated circuit is attached to the portable terminal device, and a test is performed on the portable terminal device to confirm that the portable terminal device no longer fails. Thus, it can be seen that the integrated circuit that has failed is removed from the portable terminal device.
しかしながら携帯端末装置には、多数の集積回路および電気部品が搭載されており、これらの集積回路や電気部品を取り外して試験し原因となっている故障部品を特定するまでの調査には、多くの手間と長い時間が掛かるという問題があった。 However, a large number of integrated circuits and electrical components are mounted on the mobile terminal device, and many investigations until the faulty component causing the integrated circuit and electrical components to be removed and tested are identified. There was a problem that it took time and labor.
携帯端末装置は、このように多数の電気部品が狭いスペースに搭載された複雑な構造となっているため、集積回路および電気部品の交換の際に他の構成部品を破損したり、集積回路および電気部品が搭載されている回路基板を損傷することがあるという問題があった。 Since the portable terminal device has a complicated structure in which a large number of electrical components are mounted in a narrow space, other components may be damaged when the integrated circuit and the electrical components are replaced, and the integrated circuit and There has been a problem that the circuit board on which the electrical component is mounted may be damaged.
制御用プログラムが格納されたROMにテストプログラムを書き込んで試験を行う場合、試験終了後にROMの記憶内容を元に戻すため制御用プログラムをROMに再度焼きなおす手間が掛かるという問題があった。 When a test is performed by writing a test program in a ROM in which a control program is stored, there is a problem in that it takes time to rewrite the control program in the ROM again to restore the stored contents of the ROM after the test is completed.
テストプログラムを記憶する専用のROMが別に設けられている場合には、この専用のROMを搭載するスペースを携帯端末装置に確保する必要があり、携帯端末装置の小型化、軽量化に対しての制約となるという問題があった。 When a dedicated ROM for storing the test program is provided separately, it is necessary to secure a space for mounting the dedicated ROM in the portable terminal device, which can reduce the size and weight of the portable terminal device. There was a problem of being a restriction.
集積回路、電気部品に供給される電源電圧を電源部により変化させて試験を行う電圧マージン試験では、この試験を行うためのバックアップメモリが必要であり、このバックアップメモリおよび専用のバッテリを設置するスペースを設ける必要があるという問題があった。 In the voltage margin test in which the power supply voltage supplied to the integrated circuit and electrical components is changed by the power supply unit, a backup memory is required to perform this test, and the space for installing this backup memory and a dedicated battery is required. There was a problem that it was necessary to provide.
そこで本発明の目的は、内蔵された集積回路に発生した故障現象を、ダウンロードしたテストプログラムにより試験することのできる携帯端末装置を提供することである。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a portable terminal device that can test a failure phenomenon occurring in a built-in integrated circuit using a downloaded test program.
上記目的を達成するために、本発明の携帯端末装置の第1の発明は、携帯端末装置基地局との通信を行い、該通信を行うための信号処理を行う集積回路を内蔵する携帯端末装置において、
前記携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部と、
前記キー入力部への入力内容が、前記集積回路の試験をするテスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合、所定の外部格納手段から、前記テスト用のプログラムをダウンロードするダウンロード部と、
前記テスト用のプログラムを格納する第1の記憶装置と、
前記携帯端末装置基地局との通信を行うための制御用のプログラムを格納した第2の記憶装置と、
前記制御用のプログラムを前記第2の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記携帯端末装置基地局との通信を行い、前記テスト用のプログラムを前記第1の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記集積回路を試験する中央処理装置と、
前記テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、前記第2の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定し、第1の記憶装置に前記テスト用のプログラムが格納された場合に、前記第1の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定するメモリ制御部と、
前記中央処理装置の読み込み領域の指定が前記メモリ制御部により変更された場合、または、前記携帯端末装置の前記利用者から指定された場合に、リセット信号を前記中央処理装置に出力するリセット部と、を備え、
前記中央処理装置は、前記リセット信号を受け付けると、前記メモリ制御部により前記読み込み領域として指定されている前記第1または前記第2の記憶装置から前記プログラムを読み込んで実行する携帯端末装置である。
To achieve the above object, a first aspect of the portable terminal device of the present invention is a portable terminal device including an integrated circuit that performs communication with the portable terminal device base station and performs signal processing for the communication. In
A key input unit that receives key input from a user of the mobile terminal device;
A download unit for downloading the test program from a predetermined external storage means when the input content to the key input unit is a content to start downloading a test program for testing the integrated circuit When,
A first storage device for storing the test program;
A second storage device storing a control program for performing communication with the mobile terminal device base station;
By reading and executing the control program from the second storage device, communication with the mobile terminal device base station is performed, and the test program is read from the first storage device and executed. A central processing unit for testing the integrated circuit;
Until the key input to the key input unit for starting the download of the test program is performed, the second storage device is designated as a reading area of the central processing unit, and the first storage device A memory control unit for designating the first storage device as a reading area of the central processing unit when a test program is stored;
A reset unit that outputs a reset signal to the central processing unit when the designation of the reading area of the central processing unit is changed by the memory control unit or when specified by the user of the portable terminal device; With
When receiving the reset signal, the central processing unit is a portable terminal device that reads and executes the program from the first or second storage device specified as the reading area by the memory control unit.
第2の発明は、第1の発明に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置基地局に接続されたデータサーバであるものである。
2nd invention is the portable terminal device as described in 1st invention,
The predetermined external storage means is a data server connected to the mobile terminal device base station.
第3の発明は、第1の発明に記載の携帯端末装置において、
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置に有線接続可能なパーソナルコンピュータまたは外部記憶装置であるものである。
3rd invention is the portable terminal device as described in 1st invention,
The predetermined external storage means is a personal computer or an external storage device that can be wired to the portable terminal device.
第4の発明は、第1の発明に記載の携帯端末装置において、
前記集積回路に電源を供給し、
前記集積回路に供給される電源の電圧を、前記中央処理装置の制御に応じて変化させる電源制御部をさらに備えたものである。
4th invention is the portable terminal device as described in 1st invention,
Supplying power to the integrated circuit;
A power supply control unit is further provided for changing the voltage of the power supplied to the integrated circuit in accordance with the control of the central processing unit.
従来携帯端末装置に故障が生じ、この故障の原因が内蔵されている集積回路にあると推測されるときには、この内蔵された集積回路を携帯端末装置から取り外して、集積回路の試験を行っていた。 Conventionally, when a failure has occurred in a portable terminal device and the cause of this failure is assumed to be in the built-in integrated circuit, the built-in integrated circuit is removed from the portable terminal device and the integrated circuit is tested. .
これに対して、本発明では携帯端末装置に故障が生じ、内蔵された集積回路の試験を行う必要があるときには、集積回路の試験を行うためのテスト用のプログラムのダウンロードを所定の外部格納手段から携帯端末装置に行う。 On the other hand, in the present invention, when a failure occurs in the mobile terminal device and it is necessary to test the built-in integrated circuit, a test program for downloading the integrated circuit is downloaded to a predetermined external storage means. To the mobile terminal device.
このダウンロードされたテスト用のプログラムは、通常携帯端末装置の制御用のプログラムが格納されている読み出し専用の第2の記憶装置ではなく、制御用のプログラムを実行する上で必要とされるデータを一時的に格納する第1の記憶装置に格納される。 The downloaded test program is not a read-only second storage device that normally stores a control program for the mobile terminal device, but data necessary for executing the control program. It is stored in the first storage device that temporarily stores it.
このように、テスト用のプログラムの第1の記憶装置への格納は、既に第2の記憶装置に格納されている制御用のプログラムの格納には影響しない。 As described above, storing the test program in the first storage device does not affect the storage of the control program already stored in the second storage device.
テスト用のプログラムが格納された第1の記憶装置は、テスト用のプログラムが格納された後に、メモリ制御部によって中央処理装置の読み込み領域に指定される。 The first storage device storing the test program is designated as a reading area of the central processing unit by the memory control unit after the test program is stored.
メモリ制御部の読み込み領域の指定により、第2の記憶装置が読み込み領域に指定されているときは制御用のプログラムの中央処理装置への読み込みが可能な状態となり、第1の記憶装置にテスト用のプログラムが格納され第1の記憶装置が読み込み領域に指定されているときはテスト用のプログラムの中央処理装置への読み込みが可能な状態となる。 When the second storage device is designated as the read area by the designation of the read area of the memory control unit, the control program can be read into the central processing unit, and the first storage device is used for testing. When the first storage device is stored and the first storage device is designated as the reading area, the test program can be read into the central processing unit.
中央処理装置は、通常リセット信号が入力されると中央処理装置の読み込み領域に指定された領域を読み込みに行き、読み込まれたプログラムを起動・実行する。 When a normal reset signal is input, the central processing unit goes to read the area designated as the reading area of the central processing unit, and starts and executes the read program.
電源投入時には、第1の記憶装置にテスト用のプログラムは格納されておらず、第1の記憶装置は中央処理装置の読み込み領域に指定されておらず、第2の記憶装置が読み込み領域に指定されおり、第2の記憶装置から制御用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ、起動・実行される。 When the power is turned on, the test program is not stored in the first storage device, the first storage device is not designated as the reading area of the central processing unit, and the second storage device is designated as the reading area. The control program is read from the second storage device into the central processing unit, and is activated and executed.
この携帯端末装置の通常の使用状態から、テスト用のプログラムのダウンロード、第1の記憶装置への格納、第1の記憶装置の読み込み領域の指定が終了した状態で、中央処理装置にリセット信号が入力されることで、テスト用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ、起動・実行される。 The reset signal is sent to the central processing unit from the normal use state of the portable terminal device after the downloading of the test program, the storage to the first storage device, and the designation of the reading area of the first storage device are completed. By being input, a test program is read into the central processing unit and activated / executed.
テスト用のプログラムの実行により、集積回路の試験が行われる際には、集積回路に供給される電源電圧を変化させる試験も併せて行われる。 When an integrated circuit test is performed by executing a test program, a test for changing a power supply voltage supplied to the integrated circuit is also performed.
集積回路に供給する電源電圧を変化させた電圧マージン試験を行うことで、集積回路の電圧動作マージンを確認し、集積回路への供給電源の電圧が降下したような場合の故障の再現も行う。 By performing a voltage margin test in which the power supply voltage supplied to the integrated circuit is changed, the voltage operation margin of the integrated circuit is confirmed, and the failure is also reproduced when the voltage of the power supply to the integrated circuit drops.
テスト用のプログラムによる試験が終了すると、第2の記憶装置がメモリ制御部によって読み込み領域として指定され、リセット部によって中央処理装置にリセット信号が入力されることで中央処理装置にリセットが掛けられる。 When the test by the test program is completed, the second storage device is designated as a reading area by the memory control unit, and the reset signal is input to the central processing unit by the reset unit, whereby the central processing unit is reset.
このリセットにより、通常の制御用のプログラムが中央処理装置に読み込まれ実行され、携帯端末装置基地局と通信を行う状態に復帰する。 As a result of this reset, the normal control program is read and executed by the central processing unit, and returns to the state of communicating with the mobile terminal device base station.
本発明によれば、内蔵された集積回路に発生した故障現象を、ダウンロードしたテストプログラムにより試験することのできる携帯端末装置を得られる。 According to the present invention, it is possible to obtain a portable terminal device capable of testing a failure phenomenon that has occurred in a built-in integrated circuit using a downloaded test program.
本発明を実施するための形態について図面を参照して詳細に説明する。 Embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
図1は、本実施形態の携帯端末装置の構成例を示すブロック図である。 FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration example of a mobile terminal device according to the present embodiment.
本携帯端末装置は、従来の携帯電話端末と同様に、図示しない携帯端末装置基地局との通信を行うことで他の電話機との音声通信を行い、また携帯端末装置基地局を介して携帯端末装置基地局に接続された携帯電話用ウェブサイトとの間でデータ通信を行う。 Like the conventional mobile phone terminal, this mobile terminal device performs voice communication with another telephone by communicating with a mobile terminal device base station (not shown), and the mobile terminal via the mobile terminal device base station Data communication is performed with a mobile phone website connected to the device base station.
図示したように携帯端末装置は、携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部106と、キー入力部106への入力内容が、集積回路の試験をするテスト用のプログラムとしてのテストプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合所定の外部格納手段から、テストプログラムをダウンロードするダウンロード部101と、ダウンロードしたテストプログラムを格納する第1の記憶装置であるRAM104と、携帯端末装置基地局との通信を行う際の制御を行う制御用のプログラムとしての制御用プログラムをあらかじめ格納した第2の記憶装置であるROM105と、テストプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部106へのキー入力がなされるまではROM105を中央処理装置102の初期の読み込み領域として指定し、RAM104にテストプログラムが格納された場合にRAM104を初期の読み込み領域として指定するメモリ制御部103と、制御用プログラムをROM105から読み込んで実行することにより携帯端末装置基地局との通信を行い、テストプログラムをRAM104から読み込んで実行することにより集積回路を試験する中央処理装置102と、中央処理装置102の読み込み領域の指定がメモリ制御部103により変更された場合または携帯端末装置の利用者から指定された場合にリセット信号を中央処理装置102に出力し中央処理装置を102をリセットさせるリセット部107と、携帯端末装置の状態などを表示する表示部109と、表示部109の表示を制御するLCD制御部108と、携帯端末装置に内蔵され通信を行うために信号処理を行う集積回路などのテスト対象ブロック111、112と、テスト対象ブロック111、112に供給される電源の電圧を中央処理装置102の制御に応じて変化させる電源制御部110とを備えて構成されている。
As shown in the figure, the mobile terminal device includes a
ダウンロード部101は中央処理装置102に接続されており、中央処理装置102はリセット部107に接続されており、リセット部107はキー入力部106に接続されており、キー入力部106はメモリ制御部103に接続されており、メモリ制御部103はROM105に接続されており、RAM104はメモリ制御部103に接続されており、メモリ制御部103はリセット部107に接続されており、キー入力部106は中央処理装置102に接続されている。
The
メモリ制御部103は中央処理装置102に接続されており、中央処理装置102は電源制御部110に接続されており、電源制御部110はテスト対象ブロック112に接続されており、テスト対象ブロック112は中央処理装置102に接続されており、中央処理装置102はテスト対象ブロック111に接続されており、テスト対象ブロック111は電源制御部110に接続されており、中央処理装置102はLCD制御部108に接続されており、LCD制御部108は表示部109に接続されている。
The
中央処理装置102は、一般的にCPU(Central Processing Unit:中央演算処理装置)と称される演算処理のための装置であり、中央処理装置102と本携帯端末装置内の各部構成部位とはバスを介して接続されている。
The
中央処理装置102は、このバスを介した各部構成部位との接続によって、これら各部構成部位の制御を行う機能を有する。
The
中央処理装置102は、RAM104にテストプログラムが格納された後、RAM104が初期の読み込み領域に指定され、リセット部107からのリセット信号の入力によって中央処理装置102がリセットされたときに、RAM104からテストプログラムを読み込んで実行することができる。
The
中央処理装置102は、テストプログラムの実行が終了し、メモリ制御部103によってROM105が初期の読み込み領域に指定され、リセット部107からのリセット信号の入力によって中央処理装置102がリセットされたときに、ROM105から制御用プログラムを読み込んで実行することができる。
When the
ROM105は、中央処理装置102が実行するための各種の制御用プログラムや固定的なデータを格納した読み出し専用のメモリである。
The
このROM105に格納された制御用プログラムなどの実行ソフトウェアの中には、テストプログラムのダウンロードを行うためのダウンロードプログラムも含まれている。
The execution software such as a control program stored in the
このダウンロードプログラムが、ROM105から中央処理装置102に読み込まれて、読み込まれたダウンロードプログラムが中央処理装置102で実行されることによって、テスト対象ブロック111、112の試験を行うためのテストプログラムを携帯端末装置基地局を介して本携帯端末装置にダウンロードすることができる。
The download program is read from the
このダウンロードプログラムによりダウンロードされたテストプログラムは、内蔵された集積回路(以下、LSIと表記する)などのテスト対象ブロック111、112の診断のためのテストプログラムであって、単体機能ブロック試験を実施するためのテストプログラムがテスト対象ブロック111、112ごとに用意されてもよく、テスト対象ブロック111、112を一括して行う総合的なテストプログラムが用意されてもよい。 The test program downloaded by this download program is a test program for diagnosing the test target blocks 111 and 112 such as a built-in integrated circuit (hereinafter referred to as LSI), and performs a single function block test. A test program may be prepared for each of the test target blocks 111 and 112, or a comprehensive test program for collectively performing the test target blocks 111 and 112 may be prepared.
このテストプログラムは、携帯端末装置が例えばiモード(株式会社エヌ・ティ・ティ・ドコモ:登録商標)などの通信機能を用いて数種類のテストプログラムが収められている携帯電話用ウェブサイトの所定の外部格納手段であるデータサーバに携帯端末装置基地局を介してアクセスして、この所定の外部格納手段であるデータサーバと通信することにより、携帯端末装置にエアーダウンロードできるようにしておくとよい。 This test program is a predetermined program on a mobile phone website in which several types of test programs are stored using a communication function such as i-mode (NTT DOCOMO: registered trademark). The data server as the external storage means may be accessed via the mobile terminal device base station and communicated with the data server as the predetermined external storage means so that the data can be downloaded to the mobile terminal device.
またテストプログラムは、USB(Universal Serial Bus)ケーブルもしくはRS−232C(TIA/EIA-232-E規格)ケーブルなどを用いて、本携帯端末装置と複数のテストプログラムを保存してある所定の外部格納手段である図示しないパーソナルコンピュータとを有線接続して、接続されたパーソナルコンピュータから必要なテストプログラムをダウンロード部101を介してダウンロードできるようにしておいてもよい。
The test program is stored in a predetermined external storage in which the portable terminal device and a plurality of test programs are stored using a USB (Universal Serial Bus) cable or an RS-232C (TIA / EIA-232-E standard) cable. A necessary test program may be downloaded from the connected personal computer via the
またこのテストプログラムを格納している所定の外部格納手段である図示しない外部記憶装置を用意しておいて、本携帯端末装置と外部記憶装置とを有線接続して、接続された外部記憶装置から必要なテストプログラムをダウンロードできるようにしておいてもよい。 In addition, an external storage device (not shown) that is a predetermined external storage means for storing the test program is prepared, and the portable terminal device and the external storage device are connected by wire, and the connected external storage device is You may be able to download the required test program.
この場合、ダウンロード部101は、携帯端末装置基地局と通信を行う高周波送受信機能のほかに、パーソナルコンピュータまたは外部記憶装置とデータの送受信ができるUSBもしくはRS−232Cなどのインタフェース機能を有するとよい。
In this case, the
RAM104は、作業用に割り当てられるメモリであり、中央処理装置102が制御用プログラムを実行する上で必要とされるデータを一時的に格納する機能を有する。
The
メモリ制御部103は、中央処理装置102がROM105およびRAM104にアクセスしてメモリの読み出し/書き込みをするためのメモリバスの制御を行うメモリコントローラの機能を有する。
The
さらにこのメモリ制御部103は、キー入力部106への入力内容に応じて、ROM105およびRAM104のメモリマッピングを行う機能を有しており、この機能によって行われたメモリマッピングによって、必要な領域を0番地に指定することができる。
Further, the
この0番地は、通常本携帯端末装置に電源が投入されたとき、もしくは本携帯端末装置の中央処理装置102がリセット部107によりリセットされたときに、中央処理装置102がメモリに記憶されているプログラム、データを最初に読み込みに行く初期の読み込み領域のアドレスの先頭の番地である。
This address 0 is normally stored in the memory of the
すなわち、通常は中央処理装置102の起動時に中央処理装置102がプログラムを読み込みにいくのはメモリの0番地からであり、テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、0番地からのアクセス領域は通常メモリ制御部103の指定によりROM105に割り当てられている。
That is, normally, when the
中央処理装置102が、0番地からのアクセス領域を読みに行くことにより、ROM105に格納された制御用プログラムが中央処理装置102に読み込まれる。
When the
これに対して、例えばこのメモリ制御部103におけるメモリマッピングの仕方によっては、RAM104の領域を0番地に指定することにより、RAM104を制御用プログラム領域またはテストプログラム領域に設定することが可能である。
On the other hand, for example, depending on the memory mapping method in the
このRAM104の領域が0番地に指定されることで、RAM104にテストプログラムが格納されているときは、リセット部107によるリセット信号の出力によりこのテストプログラムがRAM104から中央処理装置102に読み込まれる。
When the test program is stored in the
このようにメモリ制御部103によるRAM104領域の0番地指定により、制御用プログラムなどの実行ソフトウェアをROM105に格納したままで、中央処理装置102は、0番地に指定されたRAM104に格納されたテストプログラムをRAM104から読み出し実行できる。
As described above, the
また、テストプログラムの実行が終了した後、メモリ制御部103によるROM105領域の0番地再指定により制御用プログラムを実行することができ、従来のような試験終了後にROM105に実行ソフトウェアである制御用プログラムなどをやき直す手間はいらない。
Further, after the execution of the test program is completed, the control program can be executed by re-designating the address 0 of the
表示部109は、LCD(Liquid Crystal Display:液晶ディスプレイ)モジュールなどで構成されており、LCD制御部108から表示部109に入力された信号に応じて表示を行う表示機能を有している。
The
表示部109の表示内容は、本携帯端末装置の操作状態や通話状態などのほか、試験を行うためのテストプログラムをダウンロードする際の指示、操作状態の表示であったり、ダウンロードされたテストプログラムにより行われる試験の試験項目、試験結果などである。
The display contents of the
LCD制御部108は、表示部109に種々の表示をさせるための制御を行う機能を有しており、LCD制御部108に入力された信号を変換、処理して表示部109に入力することにより、この変換、処理された信号に対応した表示を表示部109に表示させることができる。
The
キー入力部106は、本携帯端末装置の操作を行うためのキー入力を行う機能を有しており、このキー入力部106からのキー入力によりテストプログラムのダウンロードを行う指示を出したり、表示部109に表示された試験項目を選択したりすることができる。
The
このキー入力部106のキー入力は、携帯端末装置の利用者からの指定によりリセット部107から出力されるリセット信号を中央処理装置102に入力させることを意味したり、メモリ制御部103により中央処理装置102の読み込み領域の指定が変更されることを意味することもある。
This key input of the
リセット部107は、キー入力部106より特定のキーが入力されることにより、メモリ制御部103が0番地の領域をRAM104に割り当てた後、リセットが指定されたときに、リセット部107から中央処理装置102に対しリセット信号の挿入を行い、中央処理装置102にリセットを掛ける機能を有した回路である。
When a specific key is input from the
またリセット部107は、キー入力部106より特定のキーが入力される代わりにメモリ制御部103から出力されたメモリマッピングの切り替えの完了の通知により、中央処理装置102に対しリセット信号の挿入を行い、中央処理装置102にリセットを掛けることを行ってもよい。
The
ダウンロード部101は、本携帯端末装置が携帯端末装置基地局との送受信を行う機能を有した回路であり、携帯端末装置基地局を介して携帯電話用ウェブサイトからテストプログラムをダウンロードする機能を有する。
The
テスト対象ブロック111、112は、集積回路などの電気回路で構成され、通信を行うための処理を中央処理装置102とともに行う信号処理、データ処理、演算処理などの機能を有する。
The test target blocks 111 and 112 are configured by an electric circuit such as an integrated circuit, and have functions such as signal processing, data processing, and arithmetic processing for performing processing for performing communication with the
電源制御部110は、テスト対象ブロック111、112に電源を供給し、また供給される電源電圧を制御する機能を有する。
The
このため、テストプログラムによりテスト対象ブロック111、112の試験を行うときに、中央処理装置102からの指令によりテスト対象ブロック111、112に供給される電源電圧を変化させることができる。
For this reason, when the test target blocks 111 and 112 are tested by the test program, the power supply voltage supplied to the test target blocks 111 and 112 can be changed by a command from the
電源制御部110による供給電源の電圧の変化は、内蔵されたLSIなどのテスト対象ブロック111、112の故障、不良を判定する際に、テスト対象ブロック111、112の動作における電圧マージンをみるために行う。
The change in the voltage of the power supply by the power
従来は、このようなLSIの供給電源の電圧を変化させるような試験は携帯端末装置の図示しない回路基板からLSIなどのテスト対象ブロック111、112を1つずつ取り外してテスト用の回路基板、試験治具などに装着して行っていた。 Conventionally, such a test that changes the voltage of the power supply of the LSI is performed by removing the test target blocks 111 and 112 such as LSI one by one from a circuit board (not shown) of the portable terminal device. It was done by attaching it to a jig.
本携帯端末装置は、電源制御部110を設けテスト対象ブロック111、112への供給電源の電圧を変化させる機能を持たせることにより、携帯端末装置の回路基板にテスト対象ブロック111、112を装着したまま取り外さずに供給電源電圧を通常のレベルから変化させて自己テストすることが可能となる。
This mobile terminal device is provided with the
これらのダウンロード部101、中央処理装置102、ROM105、RAM104、キー入力部106、LCD制御部108および表示部109などの構成部位は、従来の携帯端末装置に備えられている構成部位をそのまま使用してもよく、これらの構成部位を既に説明したような構成、機能とすることにより、本実施形態に用いてもよい。
The components such as the
次に本実施形態の携帯端末装置の動作について、図1および図2を用いて詳細に説明する。 Next, the operation of the portable terminal device according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIGS.
図2は、本実施形態の携帯端末装置の処理動作を示すフローチャートである。 FIG. 2 is a flowchart showing the processing operation of the mobile terminal device of this embodiment.
本携帯端末装置の利用者が、本携帯端末装置に内蔵されたLSIの動作について試験を行いたい場合には、利用者はテスト用のプログラムのダウンロードを開始することを指示するキー入力部106の特定のキーを押す。
When the user of the portable terminal device wants to test the operation of the LSI incorporated in the portable terminal device, the user uses the
利用者はこのキー入力により表示部109のメニュー画面の指示にしたがって、キー入力部106からの入力によりダウンロードするテストプログラムの選択を行う。
The user selects a test program to be downloaded by an input from the
利用者のテストプログラムの選択に応じて、試験に必要なテストプログラムが携帯端末装置基地局からダウンロード部101を介してダウンロードされる(ステップ210)。 In response to the user's selection of the test program, a test program necessary for the test is downloaded from the mobile terminal device base station via the download unit 101 (step 210).
このようにテストプログラムが携帯端末装置にダウンロードされると、ダウンロードされたテストプログラムは、中央処理装置102の指示によりメモリ制御部103を介してRAM104メモリに保存される(ステップ220)。
When the test program is downloaded to the portable terminal device in this way, the downloaded test program is stored in the
次に利用者は、テストプログラムのダウンロードが終了しテストプログラムがRAM104に保存された旨の通知が表示部109に表示されると、表示部109に表示された指示によって指定されたキー入力部106のメモリマッピングを切り替える特定のキーによるキー入力を行う。
Next, when the notification that the test program has been downloaded and the test program has been stored in the
この特定のキー入力によってメモリ制御部103は、それまでROM105領域に割り当てられていた0番地を新たにRAM104領域に割り当てるように携帯端末装置内のメモリマッピングを切り替える(ステップ230)。
By this specific key input, the
メモリマッピングの切り替えを完了したメモリ制御部103は、このメモリマッピングの切り替えの完了をリセット部107に通知し、この通知を受けたリセット部107は、中央処理装置102に対してリセット信号の挿入を行う(ステップ235)。
The
ステップ230において行われるメモリマッピングを切り替えおよびステップ235において行われるリセット信号の挿入は、代わりに下記のように行ってもよい。
The switching of the memory mapping performed in
ダウンロードが終了したことが中央処理装置102からメモリ制御部103に通知され、この通知にしたがってメモリ制御部103はRAM104を初期の読み込み領域に指定した後、メモリ制御部103からリセット部107への読み込み領域の指定終了の通知により、リセット部107が中央処理装置102をリセットさせるようにしておいてもよい。
The
メモリ制御部103によりメモリマッピングの切り替えを行った場合、通常はメモリマッピングの切り替えを行った後も中央処理装置102がリセットされない限り、通常の制御用プログラムが中央処理装置102で実行されている状態のままである。
When memory mapping is switched by the
リセット部107から中央処理装置102へのリセット信号の挿入によって、中央処理装置102は、ステップ230のメモリマッピングの切り替えまで0番地に指定されたROM105に保存されている制御用プログラムを読み込み実行していた代わりに、新たに0番地に指定されたRAM104に保存されているテストプログラムを読み込み、読み込んだテストプログラムを起動する(ステップ240)。
By inserting a reset signal from the
中央処理装置102は、起動したテストプログラムにしたがって、内蔵されたLSIであるテスト対象ブロック111、112の試験項目をLCD制御部108を介して表示部109に表示させる(ステップ250)。
The
利用者は、表示部109に表示されたテスト対象ブロック111、112の試験項目から希望する項目をキー入力部106のキー入力により選択して(ステップ255)、試験項目で選択された試験をテスト対象ブロック111、112に対して行う。
The user selects a desired item from the test items of the test target blocks 111 and 112 displayed on the
または、テストプログラムの実行により、自動的に各試験項目が行われるようにしておいもよい。 Alternatively, each test item may be automatically performed by executing the test program.
この実行中の試験項目は、随時表示部109に表示される(ステップ260)。
The test item being executed is displayed on the
この試験の実行は、テスト対象ブロック111、112の動作が正常か否かを確認するためのもので、具体的にはテスト対象ブロック111、112の演算機能が正常に動作しているかの確認を行ったり、テスト対象ブロック111、112の信号処理機能、データ処理機能や制御機能などが正常に動作しているかの確認を行う試験である。 The execution of this test is for confirming whether or not the operation of the test target blocks 111 and 112 is normal. Specifically, it is confirmed whether the arithmetic function of the test target blocks 111 and 112 is operating normally. This is a test for checking whether the signal processing function, data processing function, control function, etc. of the test target blocks 111, 112 are operating normally.
この試験は、例えばLSIなどのテスト対象ブロック111、112の出荷検査に用いられる試験と同様の試験であってもよい。 This test may be the same test as the test used for shipping inspection of the test target blocks 111 and 112 such as LSI, for example.
またこれらの試験を実行するに当たっては、テストプログラムの指示にしたがって、電源制御部110の制御によりテスト対象ブロック111、112に供給されている電源の供給電圧を段階的に変化させる(ステップ270)。
In executing these tests, the supply voltage of the power supplied to the test target blocks 111 and 112 is changed stepwise under the control of the
この電源の供給電圧を段階的に変化させる試験の実施は、携帯端末装置に装着された図示しない電池パックの供給電圧が降下して低電圧になったことによりこの特定の低電圧値の状態でテスト対象ブロック111、112が故障を示す異常な動作を、この試験により再現させることを意味する。 The test for changing the supply voltage of the power supply stepwise is performed in the state of this specific low voltage value because the supply voltage of a battery pack (not shown) attached to the portable terminal device drops to a low voltage. This means that an abnormal operation in which the test target blocks 111 and 112 indicate a failure is reproduced by this test.
この試験の実施により、LSI故障の中でも半導体メーカの出荷選別で流出しやすいLSI内のトランジスタのスピード不良を試験により容易に発見することができる。 By performing this test, it is possible to easily find a speed failure of a transistor in the LSI, which is likely to be leaked by the shipment selection of a semiconductor manufacturer, even among LSI failures.
またこの電源電圧を変化させる試験の実施は、携帯端末装置が特定の温度において動作が正常でない状態になることがあり、この特定の温度において正常でない動作を擬似的に作り出し再現させることを意味する。 In addition, the execution of the test for changing the power supply voltage means that the mobile terminal device may be in an abnormal state at a specific temperature, and the abnormal operation at the specific temperature is simulated and reproduced. .
次に、電圧変動試験終了の判定を行う(ステップ280)。 Next, the end of the voltage fluctuation test is determined (step 280).
あらかじめ定められた供給電圧を段階的に変化させる一連の電圧振り試験が完了したと判定された場合には、ステップ280の下方の「YES」の流れを辿る。
If it is determined that a series of voltage swing tests for changing the predetermined supply voltage stepwise is completed, the flow of “YES” below
中央処理装置102は、テストプログラムによって行った試験結果をLCD制御部108を介して表示部109に表示させる。(ステップ290)。
The
この表示部109に表示された試験結果により、本携帯端末装置の利用者は試験結果の良否を知ることができる。
From the test result displayed on the
この表示部109に試験結果を表示させるとともに、行われた試験項目のなかで試験結果が否である項目がある場合には、テストプログラムによる中央処理装置102の指示によって、LCD制御部108を介して表示部109に表示を行い本携帯端末装置の修理を行う必要があることを利用者に通知させてもよい。
When the test result is displayed on the
さらには、行われた試験項目のなかで試験結果が否である項目がある場合には、この試験結果を携帯端末装置基地局を介して例えば携帯端末装置の修理サービスセンターに通知し、本携帯端末装置の故障履歴を修理サービスセンターにおいて記録させたり、通知を受けた修理サービスセンターが修理の対応をしたりしてもよい。 Furthermore, if there is an item in which the test result is negative among the test items performed, the test result is notified to the repair service center of the mobile terminal device via the mobile terminal device base station, for example, The failure history of the terminal device may be recorded at the repair service center, or the repair service center that receives the notification may handle the repair.
あらかじめ定められた供給電圧を段階的に変化させる一連の電圧振り試験が完了していないと判定された場合には、ステップ280の右方の「NO」の流れを辿り、テストプログラムによってさらにステップ260の試験実行し、ステップ270のテスト対象ブロック111、112への供給電圧を変化させ、引き続き試験を行う。
If it is determined that a series of voltage swing tests for changing the predetermined supply voltage in stages is not completed, the flow of “NO” on the right side of
このようにして、テストプログラムによる試験が終了して試験結果が表示された後、利用者が本携帯端末装置への電源再投入をキー入力部106へのキー入力によって行うことにより、メモリ制御部103を介してRAM104に0番地が再度割当てられて、この再割当の後リセット部107を介して中央処理装置102がリセットされる(ステップ300)。
In this way, after the test by the test program is completed and the test result is displayed, the user performs power-on to the mobile terminal device again by key input to the
このリセットがなされなければ、メモリ制御部103によってROM105に0番地が再度割当てられはいるが、RAM104に格納されテストプログラムがステップ240から起動・実行されて試験が終了したテストモードの状態のままである。
If this reset is not performed, address 0 is reassigned to
このリセット部107によるリセットがなされることで、携帯端末装置は電源投入時の初期設定に戻り、RAM104に格納されていたデータはクリアされるとよい。
When the reset by the
電源投入時の初期設定では0番地に指定されるアクセス領域はROM105であり、制御用プログラムである実行ソフトウェアはROM105に格納されたままであるので、この制御用プログラムが読み出されることになる。
In the initial setting at power-on, the access area designated as address 0 is the
中央処理装置102は、リセットされたことにより、ROM105に格納されている制御用プログラムを読み込んで、制御用プログラムの再起動を行う(ステップ310)。
When reset, the
この再起動によりLSIの試験実施状態であった携帯端末装置は、通常の通話、通信を行う運用状態に復帰する。 By this restart, the portable terminal device that has been in the LSI test state returns to an operation state in which normal communication and communication are performed.
ステップ300において行われるリセットおよびステップ310において行われる制御用プログラムの再起動は、代わりに下記のように行ってもよい。
The reset performed in
試験が終了したことが中央処理装置102からメモリ制御部103に通知され、この通知にしたがってメモリ制御部103はROM105を初期の読み込み領域に再度指定した後、メモリ制御部103からリセット部107への読み込み領域の指定終了の通知により、リセット部107が中央処理装置102をリセットさせ、再起動が自動的に行われるようにしておいてもよい。
The
このようにして、テストプログラムをダウンロードしてLSIの試験を行うことで、携帯端末装置に故障が発生した場合に、故障が搭載されているLSIに起因するものか、内蔵されているソフトウェアによる不具合であるのか、ユーザの操作ミスによるものであるのか、電源の出力電圧の降下によるものであるのかなどを分析するための情報となる。 In this way, when a failure occurs in the mobile terminal device by downloading the test program and testing the LSI, the failure is caused by the LSI in which the failure is installed, or a failure caused by the built-in software This is information for analyzing whether it is due to a user's operation error or a drop in the output voltage of the power source.
以上説明したように本発明によれば、次に示すような優れた効果を得られる。
(1)本携帯端末装置は、動作に異常があった場合、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているLSIの試験を行うことにより、利用者にこの携帯端末装置の動作の異常が搭載されているLSIに起因するものか、また電源の出力電圧の降下に起因する故障かを知らせることができる。
(2)本携帯端末装置は、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているLSIの試験を行うことにより、従来行っていたLSIを取り外して試験を行うことが不要となり、調査に掛かる手間と時間を従来に比べて大幅に短縮することができる。
(3)本携帯端末装置は、テストプログラムをダウンロードして内蔵されているLSIの試験を行うことにより、従来のように試験を行うに当たってのLSIの取り外し、交換の際に生じる他の構成部品やLSIの搭載されている回路基板または、LSIを損傷することがなくなる。
(4)また本携帯端末装置は、ROMに格納された制御用プログラムをそのままにしてダウンロードされたテストプログラムをRAMに格納して使用することにより、テストプログラムを制御用プログラムの代わりにROMに格納し試験終了後に元の状態に戻すために制御用プログラムなどのソフトウェアをROMに再度焼きなおす手間が掛からない。試験終了後は、本携帯端末装置を再起動することによって携帯端末装置を通常使用する状態に戻すことができる。
(5)また本携帯端末装置は、ダウンロードしたテストプログラムを通常使用しているRAMに一時的に保存して試験に用いるため、このテストプログラムを保存する専用のROMを用意する必要がなく、携帯端末装置の小型化、軽量化が容易になる。
(6)本携帯端末装置は、電源制御部が設けられていることにより、内蔵のLSIを携帯端末装置から取り外すことなく、供給電源の電圧変化によるLSIの動作の良否を試験により判定することができる。この電源制御部の電圧変化により故障現象が再現するときは、この故障が電圧の変化に起因することが分かる。本携帯端末装置では、従来のような試験を行うためのバッテリバックアップメモリおよび専用のメモリ保持用電源は不要である。
As described above, according to the present invention, the following excellent effects can be obtained.
(1) If the mobile terminal device has an abnormality in operation, a test program is downloaded and the built-in LSI is tested, so that the user has an abnormality in the operation of the mobile terminal device. It is possible to inform whether it is due to the LSI being present or a failure due to a drop in the output voltage of the power supply.
(2) This mobile terminal device downloads a test program and tests the built-in LSI, thereby eliminating the need to remove the conventional LSI and performing the test. This can be greatly shortened compared to the prior art.
(3) This mobile terminal device downloads a test program and tests the built-in LSI, thereby removing other components and components generated when removing and replacing the LSI during the conventional test. The circuit board on which the LSI is mounted or the LSI is not damaged.
(4) Also, the portable terminal device stores the test program in the ROM instead of the control program by using the downloaded test program in the RAM while using the control program stored in the ROM as it is. In order to restore the original state after the test is completed, there is no need to rewrite software such as a control program in the ROM again. After the test is completed, the mobile terminal device can be returned to a normal use state by restarting the mobile terminal device.
(5) Since this portable terminal device temporarily stores the downloaded test program in the RAM that is normally used and uses it for the test, it is not necessary to prepare a dedicated ROM for storing the test program. The terminal device can be easily reduced in size and weight.
(6) Since the power supply control unit is provided in the portable terminal device, it is possible to determine whether the operation of the LSI is good or bad due to a change in the voltage of the power supply by a test without removing the built-in LSI from the portable terminal device. it can. When the failure phenomenon is reproduced by the voltage change of the power supply control unit, it can be understood that the failure is caused by the voltage change. This portable terminal device does not require a battery backup memory and a dedicated memory holding power source for performing a conventional test.
101 ダウンロード部
102 中央処理装置
103 メモリ制御部
104 RAM(第1の記憶装置)
105 ROM(第2の記憶装置)
106 キー入力部
107 リセット部
108 LCD制御部
109 表示部
110 電源制御部
111 テスト対象ブロック
112 テスト対象ブロック
210〜310 ステップ
DESCRIPTION OF
105 ROM (second storage device)
106
Claims (4)
前記携帯端末装置の利用者からのキー入力を受け付けるキー入力部と、
前記キー入力部への入力内容が、前記集積回路の試験をするテスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨の内容である場合、所定の外部格納手段から、前記テスト用のプログラムをダウンロードするダウンロード部と、
前記テスト用のプログラムを格納する第1の記憶装置と、
前記携帯端末装置基地局との通信を行うための制御用のプログラムを格納した第2の記憶装置と、
前記制御用のプログラムを前記第2の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記携帯端末装置基地局との通信を行い、前記テスト用のプログラムを前記第1の記憶装置から読み込んで実行することにより、前記集積回路を試験する中央処理装置と、
前記テスト用のプログラムのダウンロードを開始する旨のキー入力部へのキー入力がなされるまでは、前記第2の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定し、第1の記憶装置に前記テスト用のプログラムが格納された場合に、前記第1の記憶装置を前記中央処理装置の読み込み領域として指定するメモリ制御部と、
前記中央処理装置の読み込み領域の指定が前記メモリ制御部により変更された場合、または、前記携帯端末装置の前記利用者から指定された場合に、リセット信号を前記中央処理装置に出力するリセット部と、を備え、
前記中央処理装置は、前記リセット信号を受け付けると、前記メモリ制御部により前記読み込み領域として指定されている前記第1または前記第2の記憶装置から前記プログラムを読み込んで実行することを特徴とする携帯端末装置。 In a mobile terminal device having an integrated circuit that performs communication with a mobile terminal device base station and performs signal processing for the communication,
A key input unit that receives key input from a user of the mobile terminal device;
A download unit for downloading the test program from a predetermined external storage means when the input content to the key input unit is a content to start downloading a test program for testing the integrated circuit When,
A first storage device for storing the test program;
A second storage device storing a control program for performing communication with the mobile terminal device base station;
By reading and executing the control program from the second storage device, communication with the mobile terminal device base station is performed, and the test program is read from the first storage device and executed. A central processing unit for testing the integrated circuit;
Until the key input to the key input unit for starting the download of the test program is performed, the second storage device is designated as a reading area of the central processing unit, and the first storage device A memory control unit for designating the first storage device as a reading area of the central processing unit when a test program is stored;
A reset unit that outputs a reset signal to the central processing unit when the designation of the reading area of the central processing unit is changed by the memory control unit or when specified by the user of the portable terminal device; With
When the central processing unit receives the reset signal, the central processing unit reads the program from the first or second storage device specified as the reading area by the memory control unit and executes the program. Terminal device.
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置基地局に接続されたデータサーバである携帯端末装置。 The mobile terminal device according to claim 1,
The predetermined external storage means is a mobile terminal device that is a data server connected to the mobile terminal device base station.
前記所定の外部格納手段は、前記携帯端末装置に有線接続可能なパーソナルコンピュータまたは外部記憶装置である携帯端末装置。 The mobile terminal device according to claim 1,
The predetermined external storage means is a personal computer or an external storage device that can be wired to the mobile terminal device.
前記集積回路に電源を供給し、
前記集積回路に供給される電源の電圧を、前記中央処理装置の制御に応じて変化させる電源制御部をさらに備えた携帯端末装置。 The mobile terminal device according to claim 1,
Supplying power to the integrated circuit;
The portable terminal device further provided with the power supply control part which changes the voltage of the power supply supplied to the said integrated circuit according to control of the said central processing unit.
Priority Applications (1)
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8588767B2 (en) | 2011-03-31 | 2013-11-19 | Fujitsu Limited | Mobile terminal device, self-diagnosis method and non-transitory, computer readable storage medium |
-
2005
- 2005-11-25 JP JP2005340265A patent/JP2007150543A/en active Pending
Cited By (1)
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