JP2007136650A - 研磨体及びその製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】高精度の表面平坦化を要求されるウエハー対応の研磨体として、ダイヤモンド砥粒の配列、形状、大きさ、密度の均一なダイヤモンド膜をCVD法で直接基材に成膜させることにより、基材に対し密着性を向上し、かつダイヤモンド砥粒の脱落問題を解消するとともに、ドレッシングおよび研磨の均一化の向上を図る。
【解決手段】研磨体はCVD法により、直接、基材1に砥粒層2としての粒子の大きさ、形状、配列、密度、膜厚等を制御してダイヤモンドを生成させて製作される。砥粒層2と基材1の密着度も高く、優れたドレッシング効果、研磨効果を発揮する手段を提供する。
【選択図】図13
【解決手段】研磨体はCVD法により、直接、基材1に砥粒層2としての粒子の大きさ、形状、配列、密度、膜厚等を制御してダイヤモンドを生成させて製作される。砥粒層2と基材1の密着度も高く、優れたドレッシング効果、研磨効果を発揮する手段を提供する。
【選択図】図13
Description
本発明は、半導体用、平面パネル表示体用、通信用素子用、光学用素子用基板の研磨工程で使用される砥石、ドレッサー及びその製造方法に関するものである。
詳しくは、化学的機械的平面研磨装置(Chemical Mechanical Polishing:以下CMPと略記する)工程で基板を直接研磨する砥石と研磨パッドの目詰まりや異物処理を行い、研磨パッドを再生して研磨性能を回復させるための研磨パッド用ドレッサー及びその製造方法に関するものである。
詳しくは、化学的機械的平面研磨装置(Chemical Mechanical Polishing:以下CMPと略記する)工程で基板を直接研磨する砥石と研磨パッドの目詰まりや異物処理を行い、研磨パッドを再生して研磨性能を回復させるための研磨パッド用ドレッサー及びその製造方法に関するものである。
前記基板類の研磨に使用される装置は、研磨パッドに研磨剤を撒きながら固定された基板を押し付けて研磨するものが一般的である。
CMPとは、被研磨体の特性に従って機械的研磨を行う研磨パッドに酸性またはアルカリ性の成分を有する液体を含浸させ、被研磨体をヘッドと呼ばれる可動式の固定具に設置し研磨パッドが設置されている回転体に圧力を調整しながら押し付けることにより任意の研磨量を制御する方法である。
また、研磨パッドを使わず、被研磨体をヘッドに固定し回転させながら、固定された砥石を移動させながら被研磨体に接触させ、その接触面に前記の溶液または純水を吹きかける方法もある。この方式に使用される砥石は、研磨剤を固形化したものが一般的である。
以下、CMPで使用されるドレッサーと前記した砥石を総称して研磨体として説明する。説明をわかり易くするためにドレッサーとしての研磨体の例で詳述する。
LSIデバイスの多層配線化、素子寸法の微細化、高性能化が進められている。LSIデバイス化途中のウエハー表面の平坦化手法として代表的なのがCMPである。
CMPプロセスには酸化膜と金属配線の二種類があり、酸化膜にはアルカリスラリー、金属配線には酸性スラリーが用いられている。研磨パッドは発泡ポリウレタン、ポリエステル不織布等が用いられている。
この研磨パッドにウエハーを押し付けながら酸化膜、金属膜を平坦に研磨する、研磨中に研磨パッドをドレッシングして平面度の保持と目詰まりを防止する必要がある。CMPで使用されるドレッサーとしての研磨体(以下、研磨体と略記する)はリング状あるいは円盤状の基材の表面に砥粒であるダイヤモンドを電着、もしくは金属ろう材で溶着し製作されている。研磨体はCMPの研磨パッドの目立てに用いられるだけでなく。かかる研磨体は前述した砥石としてパターンのついていない基板ウエハーの原材の直接研磨にも利用される。
従来の研磨体を図13、図14、図15で説明する。図13は例えばステンレス鋼で製作された基材1の表面にダイヤモンドの砥粒3を配列し、ニッケルメッキで電着して製作された研磨体の実施例の模式図である。図14は基材1の表面に配列されたダイヤモンドの砥粒がニッケルメッキで電着されてなる砥粒層2、および基材1の断面図Z部を示す。
図15は図14のZ部の砥粒層の拡大図である。
他の実施例として特開平10−12579号公報で開示されているように基材1に前述したダイヤモンドの砥粒をニッケルメッキで電着する代わりに金属ろう材を用いて基材上にろう付けする方法が提案されている。砥粒層として基材1の表面に配列されたダイヤモンドの砥粒3をニッケルメッキ4で電着あるいは金属ろう材でろう付けして固着され形成される。
ダイヤモンドの砥粒3は無作為あるいは略同心円状に略等間隔で配列されているものの、研磨体の作用面全体ではダイヤモンドの砥粒3の砥粒間の間隔は不均一である。
研磨パッドに対し、ダイヤモンドの砥粒3が一様に接触しないとドレッシングの均一性が損なわれ、ウエハーの平坦化に支障が生ずることになる。またダイヤモンドの砥粒3が無作為に配列されていると砥粒3の配列の少ない部分のニッケルメッキの電着層あるいは金属ろう材4が局所的に磨耗し、最悪の場合はダイヤモンドの砥粒3が脱落ししてしまうことになる。ダイヤモンドの砥粒3の脱落はウエハーのスクラッチの原因となる。またCMPプロセスの金属配線の研磨作業に用いられるスラリーがニッケルと反応を起こし、ニッケルメッキの電着層を劣化させたり溶解させ、基板からダイヤモンドの砥粒3が脱落し、ウエハーに掻き傷をつける恐れがある。研磨体としては金属配線、酸化膜の両方のウエハー研磨に適したもの、ダイヤモンド砥粒層が基材に確実に固着され、ダイヤモンド砥粒の形状、粒子の大きさ、配列、密度、膜厚、等の均一性が要求される。また近年のウエハーの大口径化に伴い従来のダイヤモンドの砥粒を用いた研磨体では砥粒の配列の均一性等の点で問題があり、目的としたウエハーの平坦化研磨が不可能になりつつある。また前述した砥石としての研磨体の研磨効果にも難があった。
CMPとは、被研磨体の特性に従って機械的研磨を行う研磨パッドに酸性またはアルカリ性の成分を有する液体を含浸させ、被研磨体をヘッドと呼ばれる可動式の固定具に設置し研磨パッドが設置されている回転体に圧力を調整しながら押し付けることにより任意の研磨量を制御する方法である。
また、研磨パッドを使わず、被研磨体をヘッドに固定し回転させながら、固定された砥石を移動させながら被研磨体に接触させ、その接触面に前記の溶液または純水を吹きかける方法もある。この方式に使用される砥石は、研磨剤を固形化したものが一般的である。
以下、CMPで使用されるドレッサーと前記した砥石を総称して研磨体として説明する。説明をわかり易くするためにドレッサーとしての研磨体の例で詳述する。
LSIデバイスの多層配線化、素子寸法の微細化、高性能化が進められている。LSIデバイス化途中のウエハー表面の平坦化手法として代表的なのがCMPである。
CMPプロセスには酸化膜と金属配線の二種類があり、酸化膜にはアルカリスラリー、金属配線には酸性スラリーが用いられている。研磨パッドは発泡ポリウレタン、ポリエステル不織布等が用いられている。
この研磨パッドにウエハーを押し付けながら酸化膜、金属膜を平坦に研磨する、研磨中に研磨パッドをドレッシングして平面度の保持と目詰まりを防止する必要がある。CMPで使用されるドレッサーとしての研磨体(以下、研磨体と略記する)はリング状あるいは円盤状の基材の表面に砥粒であるダイヤモンドを電着、もしくは金属ろう材で溶着し製作されている。研磨体はCMPの研磨パッドの目立てに用いられるだけでなく。かかる研磨体は前述した砥石としてパターンのついていない基板ウエハーの原材の直接研磨にも利用される。
従来の研磨体を図13、図14、図15で説明する。図13は例えばステンレス鋼で製作された基材1の表面にダイヤモンドの砥粒3を配列し、ニッケルメッキで電着して製作された研磨体の実施例の模式図である。図14は基材1の表面に配列されたダイヤモンドの砥粒がニッケルメッキで電着されてなる砥粒層2、および基材1の断面図Z部を示す。
図15は図14のZ部の砥粒層の拡大図である。
他の実施例として特開平10−12579号公報で開示されているように基材1に前述したダイヤモンドの砥粒をニッケルメッキで電着する代わりに金属ろう材を用いて基材上にろう付けする方法が提案されている。砥粒層として基材1の表面に配列されたダイヤモンドの砥粒3をニッケルメッキ4で電着あるいは金属ろう材でろう付けして固着され形成される。
ダイヤモンドの砥粒3は無作為あるいは略同心円状に略等間隔で配列されているものの、研磨体の作用面全体ではダイヤモンドの砥粒3の砥粒間の間隔は不均一である。
研磨パッドに対し、ダイヤモンドの砥粒3が一様に接触しないとドレッシングの均一性が損なわれ、ウエハーの平坦化に支障が生ずることになる。またダイヤモンドの砥粒3が無作為に配列されていると砥粒3の配列の少ない部分のニッケルメッキの電着層あるいは金属ろう材4が局所的に磨耗し、最悪の場合はダイヤモンドの砥粒3が脱落ししてしまうことになる。ダイヤモンドの砥粒3の脱落はウエハーのスクラッチの原因となる。またCMPプロセスの金属配線の研磨作業に用いられるスラリーがニッケルと反応を起こし、ニッケルメッキの電着層を劣化させたり溶解させ、基板からダイヤモンドの砥粒3が脱落し、ウエハーに掻き傷をつける恐れがある。研磨体としては金属配線、酸化膜の両方のウエハー研磨に適したもの、ダイヤモンド砥粒層が基材に確実に固着され、ダイヤモンド砥粒の形状、粒子の大きさ、配列、密度、膜厚、等の均一性が要求される。また近年のウエハーの大口径化に伴い従来のダイヤモンドの砥粒を用いた研磨体では砥粒の配列の均一性等の点で問題があり、目的としたウエハーの平坦化研磨が不可能になりつつある。また前述した砥石としての研磨体の研磨効果にも難があった。
前述したような研磨体においては、ダイヤモンドの砥粒を無作為に配列しているため、ドレッシングの均一性を向上させるためには限界があった。また基材とダイヤモンドの砥粒層との密着性にも難がありニッケルメッキ電着、金属ろう材の磨耗や溶出によるダイヤモンドの砥粒の脱落等の問題があった。また研磨体に不具合が生じたとき研磨体の交換を短時間で行う必要がある。また基材に砥粒層が一体的に固着されているため、基材も廃棄することになり極めて不経済であった。本発明の第一の目的は高精度の表面平坦化を要求されるウエハー対応の研磨体として、ダイヤモンド砥粒の配列、形状、大きさ、密度の均一なダイヤモンド膜を前述したCVD法で直接基材に成膜させることにより、基材に対し密着性の向上した、かつダイヤモンド砥粒の脱落問題を解消するとともに、ドレッシングおよび研磨の均一化の向上を図ることにある。本発明の第二の目的は研磨体に不具合が生じたとき研磨体全体を廃棄し新規なものに交換するのではなく、基材からダイヤモンド砥粒層を分離し、容易に新規なダイヤモンド砥粒層を組替え使用できる等の経済効果のある研磨体を提供することにある。
ダイヤモンドの基材に対する薄膜の生成法として、わが国では化学技術庁無機材質研究所の熱フィラメントCVD法によるダイヤモンド合成の報告以来、気相法によるダイヤモンド合成の研究が盛んになり、その他、マイクロ波プラズマCVD法、DCプラズマCVD法、RFプラズマCVD法、ECRプラズマCVD法、EACVD法、プラズマジェットCVD法、燃焼炎法などの各種合成方法でのダイヤモンド合成が報告されている。本発明における研磨体は前述したCVD法により直接基材にダイヤモンド砥粒膜を生成させ製作、または研磨体としての所定の形状の基材に合わせた基材型に砥粒層としてのダイヤモンド膜を生成させ、基材型から熱衝撃や化学的処理または機械的処理にてダイヤモンド膜を分離させた、いわゆるダイヤモンドバルクを研磨体の砥粒層として基材の表面に金属ろう材でろう付けして製作、あるいはダイヤモンド膜でできた砥粒層を研磨体としての基材に固定具で固定して製作し、ダイヤモンド砥粒層を容易に交換できるように構成してなることを特徴としている。CVD法で成膜されたダイヤモンド層が有効な砥粒層としてドレッシング効果、または研磨効果を発揮する。
図1はCVD法による成膜法の一実施例であるマイクロ波プラズマCVD法によるダイヤモンド合成装置の模式図である。
本装置の構成は電源としてマイクロ波発振器5により2.45GHzのマイクロ波を用い、マイクロ波はアイソレータ6、電力モニター7、整合器8を介して導波管9より石英反応管10に導かれる。石英反応管10は上部の反応ガス入口11から反応ガスを供給し、下部より図示していない真空ポンプにより排気され、減圧された石英反応管10内にマイクロ波を導くことによりプラズマ12を発生させる。このプラズマ12の定在位置はプランジャー13によって制御され、基材14を石英製台15に設置し、マイクロ波の出力により基材14の温度は制御することができる。
反応ガスは通常メタン−水素系のガスが用いられるが、その他に一酸化炭素−水素系を用いたもの、酸素ガスを添加したもの、水蒸気を添加したものが報告されている。
その他、メタン−酸素系、アセチレン−水蒸気、アセチレン−酸素系の反応ガスを用いたダイヤモンド合成が報告されている。
また反応ガスを変えることによりダイヤモンドの粒子の大きさ、形状、密度、膜厚を自由に任意の位置に成長させることができると報告されている。最大160μm程度の粒子を有する多結晶のダイヤモンド膜が基材の表面に成膜され、このダイヤモンド膜が研磨体の砥粒層として有効なドレッシング効果および研磨効果を発揮する。本発明による研磨体はかかるCVD法による成膜法で基材の表面にダイヤモンド膜を成長させることにより製作することを特徴としている。
CVD法の実施例として図1においてマイクロ波プラズマCVD法によるダイヤモンド合成装置で説明したが前述した他のCVD法でも実施できる。
図2は図1の基材14の表面上に直接CVD法でダイヤモンド膜を成膜することにより基材14にダイヤモンド砥粒層16を有してなる研磨体の第一の実施例である。
図3は第2の実施例でCVD法により、成膜する際、基材14の上方に複数の穴を有するマスク板18を設け任意の位置に任意の配列、任意の密度、形状、膜厚にダイヤモンド粒子19を成長させることができる。
研磨体に最も適した形状、粒子の大きさ、密度、配列、膜厚をマスク板18のパターンによって選択的に成膜することができる。かかる成膜法で目的に合った研磨体が製作できる。図4は研磨体に用いる砥粒層としてのダイヤモンド膜21を、予め、基材型20の表面にCVD法で成膜した第3の実施例である。
図5は第4の実施例で図4の基材型20から砥粒層としてのダイヤモンド膜21を熱衝撃(基材型20とダイヤモンド膜18の膨脹率の差)や化学的処理あるいは機械的処理にて分離した、いわゆるダイヤモンドバルク22の製作方法を示す。
図6は研磨体としての砥粒層になる図5で製作されたダイヤモンドバルク22の形状に合った基材23の表面に、金属ろう材24でろう付けして固着して形成した研磨体の第5の実施例である。図7はダイヤモンドバルク22を基材23に固定具25A及び25Bで押さえこみ、ネジ26で固定して形成した研磨体の第6の実施例である。
研磨体の砥粒層としてのダイヤモンドバルク22に不具合が生じたとき、ダイヤモンドバルク22を取外し、容易に交換できるように構成したものである。
図8は図4と同様、補助基材27に前述したCVD法により直接ダイヤモンド膜18を生成させた実施例である。このときの補助基材27は研磨体の砥粒層としてのダイヤモンド膜18の強化材である。
図7で説明したようなダイヤモンドバルク22を直接基材23に交換可能に組付けるのではなく、補助基材27と、補助基材27の表面に生成させた砥粒層としてのダイヤモンド膜18を、一体的に基材28に図9に示すように交換可能に組み付けて構成した研磨体の第7の実施例である。
図10は本発明における研磨体の第9の実施例である。図9の研磨体の砥粒層としての補助基材27とダイヤモンド膜18の代わりに、18A・18B・18C・18D・18E・18F・18G・18Hとセグメント化してリング状、あるいは、図示してないが円盤状の基材28に組み付けて構成したものである。また前述したようなダイヤモンドバルク22をセグメント化して実施できることは勿論である。
図11、図12は、図9及び図10で説明した研磨体と同様に、砥粒層を構成する固定用ネジ穴を有する補助基材28をネジ部材30で基板29に交換可能に固定することによって製作した研磨体の第7の実施例である。
本装置の構成は電源としてマイクロ波発振器5により2.45GHzのマイクロ波を用い、マイクロ波はアイソレータ6、電力モニター7、整合器8を介して導波管9より石英反応管10に導かれる。石英反応管10は上部の反応ガス入口11から反応ガスを供給し、下部より図示していない真空ポンプにより排気され、減圧された石英反応管10内にマイクロ波を導くことによりプラズマ12を発生させる。このプラズマ12の定在位置はプランジャー13によって制御され、基材14を石英製台15に設置し、マイクロ波の出力により基材14の温度は制御することができる。
反応ガスは通常メタン−水素系のガスが用いられるが、その他に一酸化炭素−水素系を用いたもの、酸素ガスを添加したもの、水蒸気を添加したものが報告されている。
その他、メタン−酸素系、アセチレン−水蒸気、アセチレン−酸素系の反応ガスを用いたダイヤモンド合成が報告されている。
また反応ガスを変えることによりダイヤモンドの粒子の大きさ、形状、密度、膜厚を自由に任意の位置に成長させることができると報告されている。最大160μm程度の粒子を有する多結晶のダイヤモンド膜が基材の表面に成膜され、このダイヤモンド膜が研磨体の砥粒層として有効なドレッシング効果および研磨効果を発揮する。本発明による研磨体はかかるCVD法による成膜法で基材の表面にダイヤモンド膜を成長させることにより製作することを特徴としている。
CVD法の実施例として図1においてマイクロ波プラズマCVD法によるダイヤモンド合成装置で説明したが前述した他のCVD法でも実施できる。
図2は図1の基材14の表面上に直接CVD法でダイヤモンド膜を成膜することにより基材14にダイヤモンド砥粒層16を有してなる研磨体の第一の実施例である。
図3は第2の実施例でCVD法により、成膜する際、基材14の上方に複数の穴を有するマスク板18を設け任意の位置に任意の配列、任意の密度、形状、膜厚にダイヤモンド粒子19を成長させることができる。
研磨体に最も適した形状、粒子の大きさ、密度、配列、膜厚をマスク板18のパターンによって選択的に成膜することができる。かかる成膜法で目的に合った研磨体が製作できる。図4は研磨体に用いる砥粒層としてのダイヤモンド膜21を、予め、基材型20の表面にCVD法で成膜した第3の実施例である。
図5は第4の実施例で図4の基材型20から砥粒層としてのダイヤモンド膜21を熱衝撃(基材型20とダイヤモンド膜18の膨脹率の差)や化学的処理あるいは機械的処理にて分離した、いわゆるダイヤモンドバルク22の製作方法を示す。
図6は研磨体としての砥粒層になる図5で製作されたダイヤモンドバルク22の形状に合った基材23の表面に、金属ろう材24でろう付けして固着して形成した研磨体の第5の実施例である。図7はダイヤモンドバルク22を基材23に固定具25A及び25Bで押さえこみ、ネジ26で固定して形成した研磨体の第6の実施例である。
研磨体の砥粒層としてのダイヤモンドバルク22に不具合が生じたとき、ダイヤモンドバルク22を取外し、容易に交換できるように構成したものである。
図8は図4と同様、補助基材27に前述したCVD法により直接ダイヤモンド膜18を生成させた実施例である。このときの補助基材27は研磨体の砥粒層としてのダイヤモンド膜18の強化材である。
図7で説明したようなダイヤモンドバルク22を直接基材23に交換可能に組付けるのではなく、補助基材27と、補助基材27の表面に生成させた砥粒層としてのダイヤモンド膜18を、一体的に基材28に図9に示すように交換可能に組み付けて構成した研磨体の第7の実施例である。
図10は本発明における研磨体の第9の実施例である。図9の研磨体の砥粒層としての補助基材27とダイヤモンド膜18の代わりに、18A・18B・18C・18D・18E・18F・18G・18Hとセグメント化してリング状、あるいは、図示してないが円盤状の基材28に組み付けて構成したものである。また前述したようなダイヤモンドバルク22をセグメント化して実施できることは勿論である。
図11、図12は、図9及び図10で説明した研磨体と同様に、砥粒層を構成する固定用ネジ穴を有する補助基材28をネジ部材30で基板29に交換可能に固定することによって製作した研磨体の第7の実施例である。
以上説明してきたように、本発明による研磨体は高精度の表面研磨平坦化を要求されるCMP対応のドレッサーとしての研磨体、及び基板を直接研磨する砥石としての研磨体として使用される。
研磨体は砥粒層としてのダイヤモンド膜をマイクロ波プラズマCVD法、DCプラズマCVD法、RFプラズマCVD法、ECRプラズマCVD法、EACVD法、燃焼炎法等の各種合成法で直接基材の表面に目的に合ったダイヤモンド砥粒の配列、形状、大きさ、密度、膜厚等を均一に生成させることにより製作される。基材に対して密着性が向上したダイヤモンド砥粒の脱落の問題も解消でき効率的なドレッシング効果および研磨効果を発揮する。また、研磨体の形状に合った砥粒層としてのダイヤモンドバルクを製作し基材に対し金属ろう材でろう付けして固着、あるいはダイヤモンドバルクを基材に対して固定具で交換可能に組付けて研磨体を製作する。
補助基材にCVD法で研磨体の砥粒層として成膜したものを基材に交換容易に組付けて研磨体を製作する。また、かかるCVD法で成膜した前述したような研磨体の砥粒層をセグメント化して、交換容易に組付け製作できる等、研磨体として新規性のある有用技術を提供するものである。研磨体に不具合が生じたとき、研磨体全体を廃棄して新規なものに交換するのではなく、ダイヤモンド砥粒層を容易に組替え使用できる等経済効果大である。
研磨体は砥粒層としてのダイヤモンド膜をマイクロ波プラズマCVD法、DCプラズマCVD法、RFプラズマCVD法、ECRプラズマCVD法、EACVD法、燃焼炎法等の各種合成法で直接基材の表面に目的に合ったダイヤモンド砥粒の配列、形状、大きさ、密度、膜厚等を均一に生成させることにより製作される。基材に対して密着性が向上したダイヤモンド砥粒の脱落の問題も解消でき効率的なドレッシング効果および研磨効果を発揮する。また、研磨体の形状に合った砥粒層としてのダイヤモンドバルクを製作し基材に対し金属ろう材でろう付けして固着、あるいはダイヤモンドバルクを基材に対して固定具で交換可能に組付けて研磨体を製作する。
補助基材にCVD法で研磨体の砥粒層として成膜したものを基材に交換容易に組付けて研磨体を製作する。また、かかるCVD法で成膜した前述したような研磨体の砥粒層をセグメント化して、交換容易に組付け製作できる等、研磨体として新規性のある有用技術を提供するものである。研磨体に不具合が生じたとき、研磨体全体を廃棄して新規なものに交換するのではなく、ダイヤモンド砥粒層を容易に組替え使用できる等経済効果大である。
1:基材 2:砥粒層 3:砥粒 4:ニッケルメッキ
5:マイクロ波発振器 6:アイソレータ 7:電力モニター
8:整合器 9:導波管 10:石英反応管 11:反応ガス入口
12:プラズマ 13:プランジャー 14:基材 15:石英製台
16:ダイヤモンド砥粒層 18:マスク板 19:ダイヤモンド粒子
20:基材型 21:ダイヤモンド膜 22:ダイヤモンドバルク
23:基材 24:金属ろう材 25A、25B:固定具
27:補助基材 28:補助基材 29:基材
30:ネジ部材
5:マイクロ波発振器 6:アイソレータ 7:電力モニター
8:整合器 9:導波管 10:石英反応管 11:反応ガス入口
12:プラズマ 13:プランジャー 14:基材 15:石英製台
16:ダイヤモンド砥粒層 18:マスク板 19:ダイヤモンド粒子
20:基材型 21:ダイヤモンド膜 22:ダイヤモンドバルク
23:基材 24:金属ろう材 25A、25B:固定具
27:補助基材 28:補助基材 29:基材
30:ネジ部材
Claims (18)
- 基材表面に直接CVD(Chemical Vapor Deposition)により、粒子の大きさ、形状、配列、密度、膜厚を均一に生成してなるダイヤモンドを有することを特徴とするドレッサー
- 基材型の表面にCVDにより直接ダイヤモンドを生成させた後、該ダイヤモンドを前記基材型から分離してなるダイヤモンドバルクを砥粒層とすることを特徴とするドレッサー
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを砥粒層として基材に対し着脱自在に固定具で固定して形成してなることを特徴とするドレッサー
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを砥粒層として基材に金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とするドレッサー
- 補助基材表面にCVDにより直接ダイヤモンドを生成させてなる砥粒層を基材に着脱自在に固定具で固定して形成してなることを特徴とするドレッサー
- CVDにより基材表面の上方に複数の穴を有するマスク板を設け、前記基材の表面にマスクパターンに合わせて任意の位置、粒子の大きさ形状、配列、密度を制御したダイヤモンドを生成してなるダイヤモンド砥粒層を有することを特徴とするドレッサー
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを基材にセグメント化して金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とするドレッサー
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを基材にセグメント化して金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とするドレッサー
- 請求項5に記載のダイヤモンド砥粒層をセグメント化してなることを特徴とするドレッサー
- 基材表面に直接CVD(Chemical Vapor Deposition)により、粒子の大きさ、形状、配列、密度、膜厚を均一に生成してなるダイヤモンドを有することを特徴とする研磨砥石
- 基材型の表面にCVDにより直接ダイヤモンドを生成させた後、該ダイヤモンドを前記基材型から分離してなるダイヤモンドバルクを砥粒層とすることを特徴とする研磨砥石
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを砥粒層として基材に対し着脱自在に固定具で固定して形成してなることを特徴とする研磨砥石
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを砥粒層として基材に金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とする研磨砥石
- 補助基材表面にCVDにより直接ダイヤモンドを生成させてなる砥粒層を基材に着脱自在に固定具で固定して形成してなることを特徴とする研磨砥石
- CVDにより基材表面の上方に複数の穴を有するマスク板を設け、前記基材の表面にマスクパターンに合わせて任意の位置、粒子の大きさ形状、配列、密度を制御したダイヤモンドを生成してなるダイヤモンド砥粒層を有することを特徴とする研磨砥石
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを基材にセグメント化して金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とする研磨砥石
- 請求項2に記載のダイヤモンドバルクを基材にセグメント化して金属ろう材で溶着して形成してなることを特徴とする研磨砥石
- 請求項5に記載のダイヤモンド砥粒層をセグメント化してなることを特徴とする研磨砥石
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011156612A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Kazuyoshi Shimoda | ダイヤモンドブレード及びその製造方法 |
CN113430498A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-09-24 | 太原理工大学 | 一种高精密金刚石抛光片的制备方法 |
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2005
- 2005-11-18 JP JP2005363986A patent/JP2007136650A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011156612A (ja) * | 2010-01-29 | 2011-08-18 | Kazuyoshi Shimoda | ダイヤモンドブレード及びその製造方法 |
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