JP2007094858A - メモリインターフェース回路 - Google Patents
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Abstract
【課題】 電源電圧が異なる半導体記憶装置のいずれを接続した場合でも、その適切なアクセス動作を保証し得るメモリインターフェース回路を提供する。
【解決手段】 本発明は、半導体記憶装置とこの装置をアクセスするアクセス装置との間に設けられたメモリインターフェース回路に関する。そして、半導体記憶装置への出力信号を送出する出力バッファ手段の前段に設けられた出力側レジスタ手段へのクロック位相、及び、半導体記憶装置からの入力データを受信する入力バッファ手段の後段に設けられた入力側レジスタ手段へのクロック位相の少なくとも一方を、クロック位相変化手段によって選定させることを特徴とする。
【選択図】 図1
【解決手段】 本発明は、半導体記憶装置とこの装置をアクセスするアクセス装置との間に設けられたメモリインターフェース回路に関する。そして、半導体記憶装置への出力信号を送出する出力バッファ手段の前段に設けられた出力側レジスタ手段へのクロック位相、及び、半導体記憶装置からの入力データを受信する入力バッファ手段の後段に設けられた入力側レジスタ手段へのクロック位相の少なくとも一方を、クロック位相変化手段によって選定させることを特徴とする。
【選択図】 図1
Description
本発明はメモリインターフェース回路に関し、例えば、様々な動作電源電圧のシンクロナスDRAM(SDRAM)と接続可能なインターフェース回路をシステムLSIと同一のLSIチップ上で容易に実現しようとしたものである。
システムLSI(以下、単にLSIと呼ぶ)と、大容量の記憶素子としてSDRAMを組み込んだ機器も多く存在する。例えば、携帯型情報機器では、安価で大容量のメモリ素子としてSDRAMを使用することが多い。これらの機器では、低消費電力化のため、電源電圧(及びLSIとSDRAMとの間の入出力信号レベル)として、3.3V、2.5V、1.8Vといった様々な電圧が使用されている。以上のようなLSI及びSDRAM間での信号授受においても、電源電圧を問わずに、供給元からの信号を供給先において適切に取り込むことが当然に求められる。
2要素間の信号授受に介在するインターフェース回路として、遅延回路を利用してタイミングを調整し得るようにしたものとして、特許文献1〜特許文献3に記載の技術がある。
特許文献1に記載の技術は、クロック位相を可変遅延の遅延回路を介して遅延させ、これにより、データのラッチタイミングを調整し得るようにしたメモリ装置の入力回路及び出力回路(インターフェース回路)である。この技術は、複数のメモリ素子を基板上に配置した場合の配線遅延の影響をなくすことを意図してなされたものである。メモリコントローラとメモリとの距離が大きいほど、メモリに信号を早く到達させてグローバルなスキューを合わせることを意図している。
特許文献2に記載の技術は、入力データとクロックとの位相差に応じて、クロックを遅延回路に通すか否かを制御し、そのような制御後のクロックによって入力データをラッチする入力信号ラッチ回路(インターフェース回路)である。この技術は、非同期のクロックで動作する信号を取りこぼしなく正しくラッチするためのものであり、非同期のクロックに同期するためにクロック生成回路や位相比較器を使用している。
特許文献3に記載の技術は、入力データを異なる遅延量の遅延回路を通過させて位相が異なる複数の入力データを形成した後、検出された電源電圧に応じて、いずれかの入力データを選択する機能(インターフェース回路)を有する半導体装置である。この技術は、インターフェース回路を介する前後の入出力信号の遅延量が電源電圧に拘わらずに一定にしようとしたものである。
特開平10−340222号公報
特開平8−288798号公報
特開2002−100189号公報
ところで、SDRAMとの接続部に設けられたLSIの入出力バッファは、その電源電圧が低いほど伝搬遅延時間は増加する。そのため、LSIに低電源電圧のSDRAMが接続されたために低電源電圧が供給される入出力バッファの伝搬遅延時間は大きく、LSIに高電源電圧のSDRAMが接続されたために高電源電圧が供給される入出力バッファの伝搬遅延時間は小さい。
電源電圧が低く、入出力バッファの伝搬遅延時間が大きい場合には、特に、SDRAMからの読出し動作でのタイミングが厳しくなる。LSIからSDRAMに与えるアドレス、制御信号及びクロックのタイミングが出力バッファの大きな伝搬遅延時間のために遅くなり、その結果、SDRAMからのデータ出力のタイミングが遅れてしまう。この出力データはやはり大きな伝搬遅延時間の入力バッファを通り、電源電圧による伝搬遅延時間の影響を受けていないクロックに基づいてレジスタに取り込む。従って、レジスタへのデータ入力のタイミングは、電源電圧が高い場合に比べてかなり遅くなるにもかかわらず、クロックが変化するタイミングには変化がないため、レジスタでのデータの取り込みタイミングが厳しくなる。
そのため、異なる電源電圧のSDRAMが接続され得るLSIの設計を難しいものとしている。
上述したようなタイミング変化に伴う課題を、特許文献1〜3の記載技術を適用して解決することはできない。
特許文献1の記載技術をLSI及びSDRAM間のインターフェース回路に利用したとした場合には、クロックは一定周期で同じ変化を繰り返すため、PLLにより位相を早めてSDRAMに入力できるが、クロックサイクル毎に刻々とレベルが変化するアドレスやデータ、制御信号を、PLLによってLSIからSDRAMに到達するより早く確定させることは不可能であり、バッファの遅延量変化に伴う課題を解決することはできない。
特許文献2の記載技術は、上述のように、非同期のクロックで動作する信号を正しくラッチするためにクロック位相を調整するためにクロック生成回路や位相比較器を使用しているものであり、一方、本発明が意図している対象技術の一つは、SDRAMへ与えるクロックも、SDRAMから読み出されたデータを受け取るクロックも、LSI内部の同一のクロックソースを用いた、完全同期インターフェースである。従って、特許文献2の記載技術も、バッファの遅延量変化に伴う課題を解決することはできない。
特許文献3の記載技術は、ある回路の入出力信号の遅延量が電源電圧に拘わらずに一定にしようとしたものであり、上記課題を解決するように、入出力バッファでの遅延量変化を抑えるためには、各入出力バッファ毎に、特許文献3の記載技術を適用しなければならない。しかしながら、アドレスやデータのビット数も多く、制御信号の種類の多いので、実際上、信号線毎の入出力バッファの数は多大であり、特許文献3の記載技術を適用した場合には、入出力インタフェース回路を複雑、大型化させるという別な課題を生じさせ、特許文献3の記載技術を、バッファの遅延量変化に伴う課題を解決するものに適用することはできない。
そのため、電源電圧が異なる半導体記憶装置のいずれを接続した場合でも、その適切なアクセス動作を保証し得るメモリインターフェース回路が望まれている。
本発明は、半導体記憶装置と、上記半導体記憶装置をアクセスするアクセス装置との間に設けられたメモリインターフェース回路において、(1)クロックの供給元手段と、(2)上記半導体記憶装置へ各種信号を出力する、所定範囲内の電源電圧を動作電源電圧とし得る出力バッファ手段と、(3)上記半導体記憶装置からのデータを入力する、上記所定範囲内の電源電圧を動作電源電圧とし得る入力バッファ手段と、(4)上記出力バッファ手段が上記半導体記憶装置へ出力する各種信号を、入力されたクロックに基づいて取り込んで保持する出力側レジスタ手段と、(5)上記入力バッファ手段が上記半導体記憶装置から受信したデータを、入力されたクロックに基づいて取り込んで保持する入力側レジスタ手段と、(6)上記供給元手段から上記出力側レジスタ手段への、第2のクロック経路と重複しない第1のクロック経路と、上記供給元手段から上記入力側レジスタ手段への、第1のクロック経路と重複しない第2のクロック経路との少なくとも一方に設けられ、入力された位相制御信号に応じ、クロック位相を変化させるクロック位相変化手段とを備え、(7)上記クロック位相変化手段によるクロック位相変化が、上記所定範囲内での動作電源電圧の変化に対する、上記出力バッファ手段及び上記入力バッファ手段の伝搬遅延時間の変化分を補償可能なものであることを特徴とする。
本発明のメモリインターフェース回路によれば、出力バッファ手段の前段の出力側レジスタ手段へのクロック位相、及び又は、入力バッファ手段の後段の入力側レジスタ手段へのクロック位相を、クロック位相変化手段によって適宜変化させるようにしたので、電源電圧が異なる半導体記憶装置のいずれを接続した場合でも、その適切なアクセス動作を保証することができる。
(A)第1の実施形態
以下、本発明によるメモリインターフェース回路を、LSI(システムLSI)及びSDRAM(シンクロナスDRAM)間のインターフェースに適用した第1の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
以下、本発明によるメモリインターフェース回路を、LSI(システムLSI)及びSDRAM(シンクロナスDRAM)間のインターフェースに適用した第1の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
(A−1)第1の実施形態の構成
図1は、第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路の構成を示すブロック図である。
図1は、第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路の構成を示すブロック図である。
図1において、第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路は、SDRAM20を適宜アクセスするLSI21の入出力バッファ構成として、LSI21に搭載されて設けられているものである。
第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路は、クロック生成回路1、バッファ2、レジスタ群3、バッファ群4、バッファ6、レジスタ7、レジスタ8、レジスタ9、遅延セル10、遅延セル11及びマルチプレクサ12を有する。
クロック生成回路1は、クロックCLKを生成して各部に供給するものである。クロック生成回路1は、クロックCLKの周波数を可変し得るものであっても良い。
バッファ2は、クロック生成回路1が生成したクロックをインバータ、バッファセルなどの数段の伝搬素子を介したクロックを、SDRAM20のクロック(メモリクロック)SDCLKとして出力するものである。出力クロックSDCLKは生成クロックCLKとは論理レベルが反転している。なお、バッファ2が入出力バッファ構成(ドライバ、レシーバ構成)である場合には出力構成のみが機能するものである。
レジスタ群3は、SDRAM20へのアドレス、書き込みデータ、制御信号を、クロック生成回路1が生成した状態のクロックCLK(又は、そのクロックCLKを数段の伝搬素子を介したクロック)に基づいて取り込んで保持するものである。なお、図1では、レジスタ群3の各レジスタへの入力信号線は省略している。
バッファ群4は、レジスタ群3の信号(SDRAM20への書き込みデータ)をLSI21の外部へ出力するものである。言い換えると、レジスタ群3の信号(SDRAM20への書き込みデータ)をSDRAM20へ出力するものである。なお、バッファ群4が入出力バッファ構成である場合には出力構成のみが機能するものである。
バッファ6は、SDRAM20への書き込みデータ及びSDRAM20から読み出されたデータをバッファリングする入出力バッファ構成のものである。
レジスタ7は、後述するマルチプレクサ12からのクロックに同期して、SDRAM20から出力され、バッファ6でバッファリングされたデータを格納するものである。
レジスタ8は、クロック生成回路1が生成した状態のクロックCLKの反転信号(又は、その反転信号を数段の伝搬素子を介したクロック)に基づいて、レジスタ7の出力データを受け取るものである。
レジスタ9は、クロック生成回路1が生成した状態のクロックCLK(又は、その信号を数段の伝搬素子を介したクロック)に基づいて、レジスタ8の出力データを受け取り、LSI21内部のシステムバスへ出力するものである。
遅延セル10及び遅延セル11はそれぞれ、クロック生成回路1からレジスタ7までの間のクロックツリーにおける途中の同一の枝部分に並列に挿入されたものであり、各々異なる遅延時間を付与するものである。ここでは、遅延セル11の方が、遅延時間が大きいものとする。
マルチプレクサ12は、外部から与えられるソフトウェアにより設定可能な選択信号13に応じ、遅延セル10又は11のどちらかの出力を選択して、クロックとして、レジスタ7へ供給するものである。
また、図1では省略しているが、レジスタ9には、CPU又は他のバスマスタがSDRAM20に割り当てられたアドレス空間に対して読み出しを行ったときに、システムバスへデータを出力する、バスへの出力制御回路が接続されている。クロック生成回路1から各レジスタのクロック端子までの間には、クロックツリーが形成されている。
(A−2)第1の実施形態の動作
次に、第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路の動作を、図2及び図3のタイミングチャートをも参照しながら説明する。
次に、第1の実施形態のSDRAMインターフェース回路の動作を、図2及び図3のタイミングチャートをも参照しながら説明する。
LSI21に対して、接続可能な電源電圧が異なるSDRAM(例えば、3.3V、2.5V、1.8V)のうち、今、電源電圧が高いSDRAM(3.3V等)20を使用する場合には、SDRAMインターフェース回路の各バッファの電源(以下、VDDIO)に3.3Vが供給される。このときには、図示しないCPUからのソフトウェア制御により、選択信号13を論理「0」にし、クロックが、遅延時間が短い遅延セル10を通ってレジスタ7へ供給されるようにする。
LSI21がSDRAM20からデータを読み出す処理は、以下のように行われる。
SDRAM20に対し、データ読み出しのための適切な制御信号のシーケンスとアドレスを与えると、所定のアクセス時間の経過後に、SDRAM20からデータが出力される。以降、SDCLKの立上り毎に順次アドレスが1インクリメントされ、メモリセルに格納されたデータが出力される(バーストアクセス)。
図2のタイミングチャートに示すように、クロック生成回路1のCLKの立下ると(A)、それに応じて、バッファ2からのSDCLKが多少の時間TSだけ遅れて立上り(B)、これにより、SDRAM20に、そのときバッファ群4から出力されているアドレスや制御信号が取り込まれて、SDRAM20が読出し動作してデータを出力し(C)、バッファ6が受信したレジスタ7のデータ入力が確定する(D)。レジスタ7は、入力データを、マルチプレクサ12からのクロックの立上り(E)で取り込む。
ここで、1クロック毎にSDRAM20から出力されたデータがレジスタ7へ取り込まれるためには、図2のタイミングチャートに示すように、クロック生成回路1のCLKの立下り(A)→SDCLK立上り(B)→SDRAM20からのデータ出力(C)(SDRAM20の所定のデータアクセス時間後)→レジスタ7のデータ入力確定(D)という一連の信号の変化よりも後に、レジスタ7へのクロックが立上る(E)必要がある。すなわち
(A)→(B)→(C)→(D)の経路遅延時間TD
<(A)→(E)の経路遅延時間TE …(1)
という関係を満たす必要がある。右辺TEは、CLKの1周期と、CLKの立下りから、遅延セル10を介したレジスタ7のクロック立上りまでのレイテンシΔTE10との和であるので、レイアウト設計時に、遅延セル10の遅延値を調整する(遅延値の異なるセルに置き換える、あるいはバッファセルを複数段接続し、段数を調節する)ことで、レイテンシを変化させ、上記の(1)式を満たすことができる。
(A)→(B)→(C)→(D)の経路遅延時間TD
<(A)→(E)の経路遅延時間TE …(1)
という関係を満たす必要がある。右辺TEは、CLKの1周期と、CLKの立下りから、遅延セル10を介したレジスタ7のクロック立上りまでのレイテンシΔTE10との和であるので、レイアウト設計時に、遅延セル10の遅延値を調整する(遅延値の異なるセルに置き換える、あるいはバッファセルを複数段接続し、段数を調節する)ことで、レイテンシを変化させ、上記の(1)式を満たすことができる。
レジスタ7へ取り込まれたデータは、次のCLKの立下りでレジスタ8へ渡され、さらに、次のCLK立上がりでレジスタ9へ取り込まれる。以降、SDRAM20から読み出したデータがLSI21のシステムバスへ出力可能となる。
次に、電源電圧が低いSDRAM(例として1.8Vとする)20を使用する場合の動作を、図3のタイミングチャートをも参照しながら説明する。VDDIOには1.8Vが供給される。CPUのソフトウェア制御により、選択信号13を論理「1」にし、クロックが、遅延時間が長い遅延セル11を通ってレジスタ7へ供給されるようにする。
VDDIOが3.3Vの場合と比べて、電源電圧が下がることにより、SDRAMインターフェース回路のバッファ2、バッファ群4、バッファ6の遅延時間は増加するため、図3のタイミングチャート中、(A)→(B)の経路、及び(C)→(D)の経路の遅延時間が増加し、レジスタ7へのデータ到達時間が遅れてしまう。
なお、図3において、信号名が四角枠で囲まれている信号は、図2に示した場合よりも、タイミングが遅れている信号である。
しかし、LSI21のレイアウト設計時に、遅延セル11の遅延値(≒ΔTE11)を、遅延セル10の遅延値(≒ΔTE10)に対して、バッファ2とバッファ6の遅延増加分以上大きくなるよう調整することにより、レジスタ7へのクロック立上り(E)を遅らせ、上述した(1)式の関係を満たすことができる。すなわち、レジスタ7へのクロックの立上り(E)でSDRAM20の出力データを取り込むことが可能となる。
レジスタ7に読出しデータが取り込まれた後のデータの流れは、電源電圧が3.3Vの場合と同様である。
CPUが選択信号13の論理レベルを制御するソフトウェア制御方法としては、以下に例示するような方法(a)〜(e)を適用することができる。
(a)LSI21を組み込む装置を設計する時点で、どのSDRAM21を使用するかが明確に決まっている場合(装置の消費電力の仕様目標等から、この場合が最も多いと思われる)、装置の初期化時に常にCPUからは決まった選択信号レベルが与えられるよう、ソフトウェアに記述する。
(b)電源電圧を検出するセンサの出力や、ディップスイッチ、ジャンパー(0Ωの抵抗を実装するかしないかで信号レベルを設定する)等で設定した信号レベルをLSI21の入力端子からパラレルI/Oポート等を通じてCPUが読み取れるようにし、CPUから書き込み可能なレジスタを通じて、遅延値選択のマルチプレクサ12ヘの入力とする。この方法の場合、遅延値をどう設定するかという情報がソフトウェア中に保持されていない。LSI21上にアナログ回路を配置できる場合には、センサをLSI21のチップ上に集積しても良い。
このような場合、同一の回路構成で装置を組み立て、低電圧動作のSDRAM20を実装したかどうかをディップスイッチやジャンパー等で1か所設定するだけで、装置に用いる基板や部品、製造工程の大部分を共通にできる。
(c)メモリモジュール(1個又はそれ以上のメモリ素子が実装されていて、装置側のソケットに挿入して使用する、メモリの追加や交換を容易にできるようにしたモジュール)に、論理「1」又は論理「0」の論理レベルによって動作電源電圧範囲を表す信号を設け、その信号をLSI21に入力し、CPUがそれを取り込んで遅延値を選択するマルチプレクサ12への入力に接続することで、遅延値を決定する。この方法の場合にも、遅延値をどう設定するかという情報がソフトウェア中に保持されていない。
容量の変更や修理のためにメモリモジュールを交換するといった場合に、使用するメモリの動作電源電圧をユーザが把握することなく、自動的にメモリの電源電圧範囲に合ったインターフェースのタイミング設定がなされることになる。
(d)EEPROMやフラッシュメモリといった書き込み可能な不揮発メモリを、システムLSI21内部あるいは装置の内部に実装可能な場合、その一部の記憶領域をSDRAMの動作電源電圧範囲を表すデータとして使用し、CPUがその値を取り込んで遅延値を選択する選択信号を形成する。データはCPUのメモリ空間に割り付けたランダムアクセス可能なフラッシュメモリに置くことも、シリアルインターフェースを持つEEPROMに置くことも可能である。
(e)CPUが遅延値設定を変化させながらデータを読み書きし、エラーがなく(用途によってはエラーがより少なく)読み書きできる遅延値設定を採用するという、インテリデエントな方法も適用可能である。
(A−3)第1の実施形態の効果
以上のように、第1の実施形態によれば、電源電圧が異なる複数のSDRAMのいずれかが接続された場合であっても、SDRAMを適切にアクセスすることができる。すなわち、LSIの入出力バッファの遅延時間は電源電圧の変化に伴い大幅に変化するが、第1の実施形態によれば、遅延時間の変化分を補償し広い電源電圧の範囲で、一定以上のクロック周波数(例えば66MHzや100MHz、133MHz)での適切な動作が可能となる。
以上のように、第1の実施形態によれば、電源電圧が異なる複数のSDRAMのいずれかが接続された場合であっても、SDRAMを適切にアクセスすることができる。すなわち、LSIの入出力バッファの遅延時間は電源電圧の変化に伴い大幅に変化するが、第1の実施形態によれば、遅延時間の変化分を補償し広い電源電圧の範囲で、一定以上のクロック周波数(例えば66MHzや100MHz、133MHz)での適切な動作が可能となる。
例えば、LSIの入出力バッファの動作電圧を、接続されたSDRAMの電源電圧3.3V又は1.8Vに合わせるとする。第1の実施形態を適用しない場合であれば、低い電圧で動作可能なSDRAMを接続する場合、SDRAMのクロックとして一般に使用される100MHzや66MHzといった周波数での動作を、最も低いSDRAMの動作電圧(1.8V)で保証する必要がある。なぜならば、一般に、電源電圧VDDIOが低いほど、LSIの入出力バッファの伝搬遅延時間は増加し、タイミングが厳しくなるためである。このことは、逆に高い電源電圧(3.3V)においては、動作周波数に対して過剰に高速な入出力バッファを用いなければならないことを意味する。高速なバッファを使用することは、(a)同時スイッチングノイズによる誤動作、消費電力の増加、チップ面積の増加といった、LSIの性能の悪化や、(b)システムLSIの設計のためのライブラリに用意されている汎用入出力バッファではなく、カスタム設計により、より大きなトランジスタからなる専用入出力バッファを使用する等、回路設計上の対策が必要な場合がある、といった問題が生じる。また、使用するLSIの設計ルールや製造プロセスによっては、カスタム設計によっても低電源電圧下で入出力バッファの遅延時間を改善するのが困難な場合もあり得る。
第1の実施形態によれば、低電圧動作時のバッファ群2、4、6の遅延増加分を、データを受け取るレジスタ7のクロック到達を遅らせることで補償できるので、低電圧動作時のバッファ群2、4、6の遅延改善のために、高速なバッファを採用したり、カスタム設計したりすることなく、幅広い電源電圧範囲、例えば3.3Vと1.8Vの2種類のSDRAMに対応したLSIを容易に設計することができる。その結果、電源電圧が異なる複数のSDRAMのいずれかが接続された場合であっても、SDRAMを適切にアクセスすることができる。
また、第1の実施形態によれば、電源電圧の相違に応じてタイミングを調整する箇所は、レジスタ7へ与えるクロックだけであり、タイミング調整に必要な構成を最小限にすることができている。
(B)第2の実施形態
次に、本発明によるメモリインターフェース回路を、LSI(システムLSI)及びSDRAM(シンクロナスDRAM)間のインターフェースに適用した第2の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
次に、本発明によるメモリインターフェース回路を、LSI(システムLSI)及びSDRAM(シンクロナスDRAM)間のインターフェースに適用した第2の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
(B−1)第2の実施形態の構成
図4は、第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路の構成を示すブロック図であり、上述した第1の実施形態に係る図1との同一、対応部分には同一符号を付して示ししている。
図4は、第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路の構成を示すブロック図であり、上述した第1の実施形態に係る図1との同一、対応部分には同一符号を付して示ししている。
第2の実施形態は、低電源電圧時のバッファの遅延増加分を、SDCLKや、SDRAMへ入力する信号の出力までのレイテンシを小さくすることで補償しようとしたものである。すなわち、SDCLKを出力するバッファ2や、SDRAMアドレス、制御信号を出力するレジスタ群3までのクロックツリーのレイテンシを、電源電圧に応じて、変化させようとしたものである。
図4において、第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路も、SDRAM20を適宜アクセスするLSI21の入出力バッファ構成として、LSI21に搭載されて設けられているものである。
第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路は、第1の実施形態と同様な、クロック生成回路1、バッファ2、レジスタ群3、バッファ群4、バッファ6、レジスタ7、レジスタ8、レジスタ9及び遅延セル10に加え、遅延セル14、15及びマルチプレクサ16を有する。
遅延セル14及び15はそれぞれ、クロック生成回路1からレジスタ群3へのクロックツリーと、クロック生成回路1からバッファ2へのクロックツリーの共通な枝部分に並列に設けられたものであり、入力されたクロックを、自己に割り当てられている時間だけ遅延させて、マルチプレクサ17に出力するものである。なお、遅延セル15の遅延時間の方が、遅延セル14の遅延時間より長く割り当てられているとする。
マルチプレクサ16は、ソフトウェアにより設定可能な選択信号17の論理レベルに応じ、遅延セル14及び15のどちらの出力をクロックとしてバッファ2及びレジスタ群3へ供給するかを選択するものである。
なお、第1の実施形態における遅延セル11及びマルチプレクサ12に相当するものは、第2の実施形態では設けられておらず、遅延セル10だけが設けられている。従って、第2の実施形態のレジスタ7は、遅延セル10からのクロックによって、バッファ6のデータを取り込むものである。
(B−2)第2の実施形態の動作
次に、第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路の動作を、図5のタイミングチャートをも参照しながら説明する。
次に、第2の実施形態のSDRAMインターフェース回路の動作を、図5のタイミングチャートをも参照しながら説明する。
接続されたSDRAMの種類などに応じて、VDDIOが高い電圧(例えば3.3V)に設定された場合には、ソフトウェアにより選択信号17が論理「0」になるよう設定する。これにより、図5のタイミングチャートにおいて、SDCLKの出力遅延時間((A)→(B)間の遅延時間TS15)は、遅延時間が短い遅延セル15を通ったクロックによって決定される。そのため、レイアウト設計時に、遅延セル15の遅延値を調整することで、上述した(1)式の関係を満たすようにすることができ、レジスタ7がSDRAMの出力データを遅延セル10からのクロックによって有効に取り込むことができる。このような(1)式の満たすタイミング関係は、上述した第1の実施形態の回路でVDDIOが3.3Vの場合と同様である。
なお、図5において、信号名が四角枠で囲まれている信号は、図2に示した場合よりも、タイミングが早くなっている信号である。
また、VDDIOが低い電圧(例えば1.8V)に設定された場合、遅延セルとして同じものを選択しているときの3.3Vの場合と比較すると、バッファ2やバッファ群4の動作遅延により、(A)→(B)間及び(C)→(D)間の遅延時間は増加する。そこで、ソフトウェアにより選択信号17が論理「1」になるよう設定する。
このようにすると、SDCLK及びSDRAMの制御信号やアドレス(さらには書き込みデータ)の遅延時間は、遅延セル14を通ったクロックによって決定されるようになる。第1の実施形態においてVDDIOが1.8Vの場合と同様に、レイアウト設計時に、遅延セル14の遅延値を遅延セル15の遅延値より小さくし、(A)→(B)間の遅延時間TSを調整することにより、上述した(1)式の関係を満たし、レジスタ7がSDRAMの出力データを遅延セル10からのクロックによって有効に取り込むことが可能になる。
(A)→(B)間の遅延時間TSを調整すれば、(1)式の左辺である「(A)→(B)→(C)→(D)の経路遅延時間TD」も当然に調整されたことになる。
第1の実施形態では、低電源電圧時のバッファの遅延時間増加の影響により、SDRAMデータ出力が遅れた分、そのデータを受け取るレジスタのクロックを遅らせることで補償して、セットアップ時間を確保したのに対し、第2の実施形態では、バッファの遅延増加分を、SDCLKや、SDRAMへ入力する信号の出力までのレイテンシを小さくすることで補償している点が異なっている。
(B−3)第2の実施形態の効果
以上のように、第2の実施形態によっても、第1の実施形態と同様に、電源電圧が異なる複数のSDRAMのいずれかが接続された場合であっても、SDRAMを適切にアクセスすることができる。
以上のように、第2の実施形態によっても、第1の実施形態と同様に、電源電圧が異なる複数のSDRAMのいずれかが接続された場合であっても、SDRAMを適切にアクセスすることができる。
(C)他の実施形態
本発明は、第1及び第2の実施形態のものに限定されるものではなく、以下に例示するような変形実施形態を挙げることができる。
本発明は、第1及び第2の実施形態のものに限定されるものではなく、以下に例示するような変形実施形態を挙げることができる。
(C−1)上記第1の実施形態と第2の実施形態の技術思想を組み合わせて、低電圧動作時のバッファの遅延増加の課題を解決するようにしても良い。
例えば、第1の実施形態においては、SDRAM20から出力されたデータを受け取るレジスタ7について、クロックの到達を遅らせてセットアップ時間を確保したが、遅延できる時間には上限があり、レジスタ8へのクロック立上りまでにレジスタ7の出力が確定している必要がある。仮に、レジスタ8へのクロック立上りぎりぎりまでレジスタ7の出力を遅らせても、バッファの遅延増分を補償しきれない場合には、第2の実施形態のように、SDCLKを出力するバッファ2や、SDRAMアドレス、制御信号を出力するレジスタ群3までのクロックツリーのレイテンシを小さくすることで、低電源電圧時の遅延増加分を補償することも可能である。
また、第1の実施形態によるマルチプレクサと、第2の実施形態のマルチプレクサとの双方を設けた場合には、選択信号13及び選択信号17の論理レベルの組み合わせは4種類あり、電源電圧を4つの種類に分け、その種類によって、選択信号13及び選択信号17の論理レベルの組み合わせを選択して、相対的に低い側の電源電圧時の遅延増加分を補償するようにしても良い。
(C−2)第1及び第2の実施形態では、SDRAMがどの電圧範囲で動作するかをソフトウェアで設定する場合を示したが、ハードウェア的に設定するようにしても良い。
例えば、LSI21上にアナログ回路を搭載できる場合には、図6に示すように、基準電源18とコンパレータ19を用いてVDDIOの電圧レベルを検出し、コンパレータ19の出力をマルチプレクサ12(又は16)の選択信号13(又は17)とすることもできる。VDDIOが所定の電圧より低い場合は、マルチプレクサ12により遅延セル11の出力をレジスタ7へのクロックとして供給する。この場合、接続されたSDRAM21の動作電圧範囲をソフトウェアで把握する必要がなくなるという利点がある。
(C−3)クロック到達時間を選択するマルチプレクサ12への選択信号13の論理レベルを、LSI21の端子入力の信号レベルで決定するようにしても良い。
LSI21とSDRAM20を組み込んだ機器においては、上記端子の電圧レベルによってSDRAM21の動作電源電圧の範囲を決定することができるので、A−2の第1の実施例の動作における(b)、(C)と同様の効果を得ることができる。
第2の実施形態のマルチプレクサ16への選択信号17の論理レベルを、LSI21の端子入力の信号レベルで決定するようにしても良い。
(C−4)マルチプレクサ12及び16が2入力1出力のものとして説明したが、例えば、3入力としてそれぞれ、1.8V動作SDRAM用、2.5V動作SDRAM用、3.3V動作SDRAM用、というようにより広い電源電圧範囲、あるいは細かい電源電圧区分を設けることも可能である。すなわち、マルチプレクサ12又は16での選択数は2に限定されず、3以上であっても良い。
この場合において、マルチプレクサ12又は16への1つの入力経路には、遅延セルが設けられていないものであっても良い。
(C−5)上述の(C−3)と同様に、チップ上のパッドの信号レベルにより選択信号13のレベルが決定されるようにする。LSIのチップをパッケージ化するときに、当該パッドへのワイヤボンディングによりレベルを固定し、LSIのパッケージ外部には引き出さない。これにより、LSIのチップ自体の設計を変更することなく、例えば1.8V動作SDRAM専用、2.5V動作SDRAM専用、3.3V動作SDRAM専用といった複数の品種を生産することが可能になる。
(C−6)上記各実施形態では、インターフェース回路に接続されるメモリがSDRAMであるものを示したが、他の種類のメモリ(例えば、非同期式のSRAMやROM、クロック同期式のSRAMなど)であっても良い。例えば、接続されたメモリ種類によって、インターフェース回路のバッファでの電源電圧が変化する場合であれば、そのようなメモリに対するインターフェース回路に対しても本発明を適用することができる。
1…クロック生成回路、2…バッファ、3…レジスタ群、4…バッファ群、6…バッファ、7…レジスタ、8…レジスタ、9…レジスタ、10…遅延セル、11…遅延セル、12…マルチプレクサ、14…遅延セル、15…遅延セル、16…マルチプレクサ、20…SDRAM、21…システムLSI。
Claims (3)
- 半導体記憶装置と、上記半導体記憶装置をアクセスするアクセス装置との間に設けられたメモリインターフェース回路において、
クロックの供給元手段と、
上記半導体記憶装置へ各種信号を出力する、所定範囲内の電源電圧を動作電源電圧とし得る出力バッファ手段と、
上記半導体記憶装置からのデータを入力する、上記所定範囲内の電源電圧を動作電源電圧とし得る入力バッファ手段と、
上記出力バッファ手段が上記半導体記憶装置へ出力する各種信号を、入力されたクロックに基づいて取り込んで保持する出力側レジスタ手段と、
上記入力バッファ手段が上記半導体記憶装置から受信したデータを、入力されたクロックに基づいて取り込んで保持する入力側レジスタ手段と、
上記供給元手段から上記出力側レジスタ手段への、第2のクロック経路と重複しない第1のクロック経路と、上記供給元手段から上記入力側レジスタ手段への、第1のクロック経路と重複しない第2のクロック経路との少なくとも一方に設けられ、入力された位相制御信号に応じ、クロック位相を変化させるクロック位相変化手段とを備え、
上記クロック位相変化手段によるクロック位相変化が、上記所定範囲内での動作電源電圧の変化に対する、上記出力バッファ手段及び上記入力バッファ手段の伝搬遅延時間の変化分を補償可能なものである
ことを特徴とするメモリインターフェース回路。 - 上記クロック位相変化手段が、クロックが入力される遅延時間が異なる複数の遅延部と、上記位相制御信号に応じて定まる遅延部を介したクロックを選択するセレクタ部とを有することを特徴とする請求項1に記載のメモリインターフェース回路。
- 上記出力バッファ手段及び上記入力バッファ手段の動作電源電圧に応じて、上記位相制御信号を形成する位相制御信号形成手段を有することを特徴とする請求項1又は2に記載のメモリインターフェース回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005284923A JP2007094858A (ja) | 2005-09-29 | 2005-09-29 | メモリインターフェース回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=37980484
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Country | Link |
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JP (1) | JP2007094858A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1975007A2 (en) | 2007-03-30 | 2008-10-01 | Nichias Corporation | Soundproof cover |
-
2005
- 2005-09-29 JP JP2005284923A patent/JP2007094858A/ja active Pending
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