JP2007088363A - Electronic equipment - Google Patents

Electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2007088363A
JP2007088363A JP2005277960A JP2005277960A JP2007088363A JP 2007088363 A JP2007088363 A JP 2007088363A JP 2005277960 A JP2005277960 A JP 2005277960A JP 2005277960 A JP2005277960 A JP 2005277960A JP 2007088363 A JP2007088363 A JP 2007088363A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
core coil
wiring board
electronic device
coil
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005277960A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Deura
晃 出浦
Ikuyuki Ono
生幸 小野
Tadashi Kozu
正 神津
Takuma Tanimoto
琢磨 谷本
Iwamichi Kamishiro
岩道 神代
Sakae Kikuchi
栄 菊池
Shinji Moriyama
伸治 森山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Technology Corp
Original Assignee
Renesas Technology Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Technology Corp filed Critical Renesas Technology Corp
Priority to JP2005277960A priority Critical patent/JP2007088363A/en
Publication of JP2007088363A publication Critical patent/JP2007088363A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32225Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/4501Shape
    • H01L2224/45012Cross-sectional shape
    • H01L2224/45015Cross-sectional shape being circular
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00011Not relevant to the scope of the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19105Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/191Disposition
    • H01L2924/19101Disposition of discrete passive components
    • H01L2924/19107Disposition of discrete passive components off-chip wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/30107Inductance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3011Impedance
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the performance of a power amplification module by reducing the influence exerted by magnetic flux generated with an air coil on interconnect lines of the interior or the front surface of a wiring board. <P>SOLUTION: The RF power module 1 as an electronic equipment mounts semiconductor chips, passive components, and an air coil 6 on a wiring board 3; and seals them with sealant resin. The RF power module 1 has two systems of a power amplification circuit, and each of the power amplification circuit is configured so as to be possible to amplify signals of multiple bands. The air coil 6 is used in an output matching circuit. The air coil 6 of surface mount type comprises a coil 6a which coils a conductor wire 31 more than once, and two terminals 6b composed of the conductor wire 31 connected respectively to the both ends of the coil 6a. The conductor wire 31 comprising the coil 6a is covered by an insulating film, and the conductor wire 31 comprising the each terminals 6b with the insulating film removed therein is connected through a solder 32 to the board side terminal 12a which is in a position distant from the coil 6a, extending therethrough in the direction apart from the coil 6a. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、電子装置に関し、特に、移動体通信装置に搭載される高周波電力増幅モジュールに適用して有効な技術に関する。   The present invention relates to an electronic device, and more particularly to a technique that is effective when applied to a high-frequency power amplification module mounted on a mobile communication device.

近年、GSM(Global System for Mobile Communications)方式、PCS(Personal Communication Systems)方式、PDC(Personal Digital Cellular)方式、CDMA(Code Division Multiple Access)方式といった通信方式に代表される移動体通信装置(いわゆる携帯電話)が世界的に普及している。   In recent years, mobile communication devices (so-called mobile phones) represented by communication methods such as GSM (Global System for Mobile Communications), PCS (Personal Communication Systems), PDC (Personal Digital Cellular), and CDMA (Code Division Multiple Access) Phone) is widespread worldwide.

一般に、この種の移動体通信装置は、電波の放射と受信をするアンテナ、電力変調された高周波信号を増幅してアンテナへ供給する高周波電力増幅器(電力増幅モジュール)、アンテナで受信した高周波信号を信号処理する受信部、これらの制御を行う制御部、そしてこれらに電源電圧を供給する電池(バッテリー)で構成される。   In general, this type of mobile communication device includes an antenna that emits and receives radio waves, a high-frequency power amplifier (power amplification module) that amplifies a power-modulated high-frequency signal and supplies the signal to the antenna, and a high-frequency signal received by the antenna. A receiving unit that performs signal processing, a control unit that performs these controls, and a battery (battery) that supplies a power supply voltage thereto are configured.

特開平10−64731号公報(特許文献1)には、絶縁保護被膜を設けた銅線を所定寸法に切断し、この銅線の両端部で形成する端子部の絶縁保護被膜を剥離した後、この銅線の中央部を所定回数巻回してコイル部を形成し、前記端子部を表面実装に適した形状に曲げ加工を施し、前記コイル部に樹脂を適宜塗布した汎用表面実装タイプ高周波用空芯コイルに関する技術が記載されている。   In Japanese Patent Laid-Open No. 10-64731 (Patent Document 1), a copper wire provided with an insulating protective film is cut into a predetermined size, and after peeling off the insulating protective film of the terminal portion formed at both ends of the copper wire, A coil portion is formed by winding the central portion of the copper wire a predetermined number of times, the terminal portion is bent into a shape suitable for surface mounting, and a resin is appropriately applied to the coil portion. Techniques relating to core coils are described.

特開平6−236816号公報(特許文献2)には、複数の巻線によって形成されるコイル本体の両端のリード端部を、該コイル本体の外径より長くなるように下方に垂下し、それぞれの端部を互いに内側方向に折曲して半田付け端部を形成する技術が記載されている。   In Japanese Patent Laid-Open No. 6-236816 (Patent Document 2), the lead end portions at both ends of a coil body formed by a plurality of windings are suspended downward so as to be longer than the outer diameter of the coil body. A technique for forming the soldering end by bending the end of each inward is mutually described.

特開平6−53042号公報(特許文献3)には、芯線を巻き回して形成されるコイル部と該コイル部の両終端の取付端部で構成され、コイル部の下端にはプリント基板に載置するための略かまぼこ型の平坦面部が形成され、上記取付端部はそれぞれコイル部の芯線の巻き線方向と逆方向に折り曲げられて、上記コイル部の平坦面部と面一状態を構成している空芯コイルに関する技術が記載されている。   Japanese Patent Laid-Open No. 6-53042 (Patent Document 3) is composed of a coil portion formed by winding a core wire and attachment end portions at both ends of the coil portion, and is mounted on a printed circuit board at the lower end of the coil portion. A flat surface portion of a substantially kamaboko shape for placement, and the attachment end portions are bent in a direction opposite to the winding direction of the core wire of the coil portion to form a flat state with the flat surface portion of the coil portion. Techniques relating to existing air-core coils are described.

国際公開第02/052589号パンフレット(特許文献4)には、2つの増幅系を有し、増幅系は、複数の増幅段を従属接続した構成になり、各増幅系の最終増幅段と電源電圧端子との間に、空芯コイルが直列に接続された高周波電力増幅装置に関する技術が記載されている。
特開平10−64731号公報 特開平6−236816号公報 特開平6−53042号公報 国際公開第02/052589号パンフレット
WO 02/052589 (Patent Document 4) has two amplification systems, and the amplification system has a configuration in which a plurality of amplification stages are cascade-connected, and the final amplification stage and power supply voltage of each amplification system A technique related to a high-frequency power amplifying device in which air-core coils are connected in series between terminals is described.
Japanese Patent Laid-Open No. 10-64731 JP-A-6-236816 JP-A-6-53042 International Publication No. 02/052589 pamphlet

本発明者の検討によれば、次のことが分かった。   According to the study of the present inventor, the following has been found.

従来、米国内では携帯電話の通信方式にGSM方式を採用していなかったため、携帯電話に搭載して使用する電力増幅モジュールのような電子装置は、GSM帯としては、主に欧州で使用されているEUGSM帯(880〜915MHz)に対応すればよかった。   Conventionally, since the GSM system has not been adopted as a mobile phone communication system in the United States, an electronic device such as a power amplification module mounted on a mobile phone is mainly used in Europe as a GSM band. It should have been compatible with the existing EUGSM band (880 to 915 MHz).

しかしながら、近年、米国内でもGSM方式を採用し始めたため、電力増幅モジュールは、GSM帯として、主に北米で使用されるUSGSM帯(824〜849MHz)と主に欧州で使用されるEUGSM帯(880〜915MHz)の両方に対応することが求められ、電力増幅モジュールの広帯域化が要求されるようになった。   However, in recent years, since the GSM system has begun to be adopted in the United States, the power amplifying module is used as a GSM band in the USGSM band (824 to 849 MHz) mainly used in North America and the EUGSM band (880 in mainly Europe). To 915 MHz), it is required to increase the bandwidth of the power amplification module.

そこで、電力増幅モジュールの広帯域化について、本発明者が検討したところ、電力増幅モジュールの電力増幅回路の出力整合回路の構成を調整し、一方の端子がグランド(GND)に接続されたインダクタ素子(後述するインダクタ素子113aに対応)を追加することにより、電力増幅モジュールの周波数特性の広帯域化が可能になることが分かった。   Therefore, when the present inventor examined the widening of the power amplification module, the configuration of the output matching circuit of the power amplification circuit of the power amplification module was adjusted, and an inductor element (one terminal connected to the ground (GND)) ( It was found that the frequency characteristics of the power amplification module can be widened by adding an inductor element 113a described later.

広帯域化に加えて、更に、携帯電話の高性能化を図るために、電力増幅モジュールの電力付加効率をより高めて、電力増幅モジュールの性能を向上させることが求められている。しかしながら、出力整合回路に単にインダクタ素子を追加しただけでは、周波数特性を広帯域化することはできても、電力付加効率のような電力増幅モジュールの性能を十分に向上させることはできず、広帯域化のために出力整合回路に追加したインダクタンス素子のQ値をより高めることが必要であることが、本発明者の検討により分かった。   In addition to widening the bandwidth, in order to further improve the performance of mobile phones, it is required to improve the power added efficiency of the power amplification module and improve the performance of the power amplification module. However, simply adding an inductor element to the output matching circuit can broaden the frequency characteristics, but cannot sufficiently improve the performance of the power amplification module such as power added efficiency. For this reason, it has been found by the inventor's examination that it is necessary to further increase the Q value of the inductance element added to the output matching circuit.

本発明の目的は、電子装置の性能を向上させることができる技術を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a technique capable of improving the performance of an electronic device.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。   The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

本願において開示される発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。   Of the inventions disclosed in the present application, the outline of typical ones will be briefly described as follows.

本発明は、異なる複数の周波数帯の信号を出力可能な電力増幅回路を有する電子装置であって、複数の電極を有する配線基板と、前記配線基板の主面上に搭載された前記電力増幅回路を含む半導体チップと、前記配線基板の前記主面上に搭載された面実装型の空芯コイルとを有し、前記空芯コイルは導体線を複数回巻いたコイル部と前記コイル部の両端にそれぞれ接続された前記導体線からなる2つの端子部で構成され、前記コイル部の前記導体線は絶縁膜で被覆され、前記空芯コイルの前記各端子部は、前記コイル部から離れる方向に向かう方向に延在し、前記配線基板の前記電極と電気的に接続されているものである。   The present invention is an electronic device having a power amplifier circuit capable of outputting signals of a plurality of different frequency bands, the wiring board having a plurality of electrodes, and the power amplifier circuit mounted on the main surface of the wiring board A surface-mount type air-core coil mounted on the main surface of the wiring board, the air-core coil comprising a coil portion in which a conductor wire is wound a plurality of times and both ends of the coil portion The conductor wire of the coil part is covered with an insulating film, and each terminal part of the air-core coil is in a direction away from the coil part. It extends in the direction of heading and is electrically connected to the electrode of the wiring board.

また、本発明は、第1の電力増幅回路を含む複数の電力増幅回路を有する電子装置であって、複数の電極を有する配線基板と、前記配線基板の主面上に搭載された前記複数の電力増幅回路を含む半導体チップと、前記配線基板の前記主面上に搭載された面実装型の空芯コイルとを有し、前記第1の電力増幅回路は異なる複数の周波数帯の信号を増幅可能であり、前記空芯コイルは前記第1の電力増幅回路の出力整合回路に使用され、前記空芯コイルは導体線を複数回巻いたコイル部と前記コイル部の両端にそれぞれ接続された前記導体線からなる2つの端子部で構成され、前記コイル部の前記導体線は絶縁膜で被覆され、前記空芯コイルの前記各端子部は、前記コイル部から離れる方向に向かう方向に延在し、前記配線基板の前記電極と電気的に接続されているものである。   In addition, the present invention is an electronic device having a plurality of power amplifier circuits including a first power amplifier circuit, the wiring board having a plurality of electrodes, and the plurality of the plurality of electrodes mounted on the main surface of the wiring board. A semiconductor chip including a power amplifier circuit; and a surface mount type air-core coil mounted on the main surface of the wiring board, wherein the first power amplifier circuit amplifies signals in a plurality of different frequency bands. The air-core coil is used for an output matching circuit of the first power amplifier circuit, and the air-core coil is connected to a coil part in which a conductor wire is wound a plurality of times and to both ends of the coil part, respectively. The conductor wire of the coil part is covered with an insulating film, and each terminal part of the air-core coil extends in a direction away from the coil part. The electrode of the wiring board and the electricity Those that are connected to.

また、本発明は、電力増幅回路を有する電子装置であって、複数の電極を有する配線基板と、前記配線基板の主面上に搭載された前記電力増幅回路を含む半導体チップと、前記配線基板の前記主面上に搭載された面実装型の空芯コイルとを有し、前記空芯コイルは導体線を複数回巻くことにより形成されており、前記空芯コイルのうち、両端部近傍領が前記配線基板の前記主面に接触し、前記両端部近傍領域に比べて中央部が前記配線基板の前記主面から遠ざけられて前記配線基板と接触していないものである。   The present invention is also an electronic device having a power amplifier circuit, a wiring board having a plurality of electrodes, a semiconductor chip including the power amplifier circuit mounted on a main surface of the wiring board, and the wiring board A surface mount type air core coil mounted on the main surface of the air core coil, the air core coil being formed by winding a conductor wire a plurality of times. Is in contact with the main surface of the wiring board, and the central portion is away from the main surface of the wiring board and not in contact with the wiring board as compared to the region near both ends.

本願において開示される発明のうち、代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば以下のとおりである。   Among the inventions disclosed in the present application, effects obtained by typical ones will be briefly described as follows.

電子装置の性能を向上させることができる。   The performance of the electronic device can be improved.

以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でも良い。さらに、以下の実施の形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではないことは言うまでもない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除き、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。このことは、上記数値および範囲についても同様である。   In the following embodiments, when it is necessary for the sake of convenience, the description will be divided into a plurality of sections or embodiments. However, unless otherwise specified, they are not irrelevant to each other. There are some or all of the modifications, details, supplementary explanations, and the like. Further, in the following embodiments, when referring to the number of elements (including the number, numerical value, quantity, range, etc.), especially when clearly indicated and when clearly limited to a specific number in principle, etc. Except, it is not limited to the specific number, and may be more or less than the specific number. Further, in the following embodiments, the constituent elements (including element steps and the like) are not necessarily indispensable unless otherwise specified and apparently essential in principle. Needless to say. Similarly, in the following embodiments, when referring to the shapes, positional relationships, etc. of the components, etc., the shapes are substantially the same unless otherwise specified, or otherwise apparent in principle. And the like are included. The same applies to the above numerical values and ranges.

以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部材には同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、以下の実施の形態では、特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that components having the same function are denoted by the same reference symbols throughout the drawings for describing the embodiments, and the repetitive description thereof will be omitted. In the following embodiments, the description of the same or similar parts will not be repeated in principle unless particularly necessary.

また、実施の形態で用いる図面においては、断面図であっても図面を見易くするためにハッチングを省略する場合もある。また、平面図や斜視図であっても図面を見易くするためにハッチングを付す場合もある。   In the drawings used in the embodiments, hatching may be omitted even in a cross-sectional view so as to make the drawings easy to see. Further, even a plan view or a perspective view may be hatched to make the drawing easy to see.

(実施の形態1)
本実施の形態は、例えばGSM方式などのネットワークを利用して情報を伝送するデジタル携帯電話(移動体通信装置)に使用(搭載)されるRF(Radio Frequency)パワーモジュールなどの電力増幅モジュール(電子装置)である。
(Embodiment 1)
In this embodiment, for example, a power amplification module (electronic) such as an RF (Radio Frequency) power module used (installed) in a digital cellular phone (mobile communication device) that transmits information using a network such as the GSM system. Device).

ここで、GSM(Global System for Mobile Communication)は、デジタル携帯電話に使用されている無線通信方式の1つまたは規格をいう。   Here, GSM (Global System for Mobile Communication) refers to one or standard of a wireless communication method used for digital mobile phones.

GSM方式携帯電話に使用されるRFパワーモジュール(高周波電力増幅器)は、USGSM帯(824〜849MHz)、EUGSM帯(880〜915MHz)、DCS(Digital Cellular System)帯(1710〜1785MHz)およびPCS(Personal Communication Services)帯(1850〜1910MHz)の4つの周波数帯のRF信号(信号、高周波信号)を送信できるRFパワーモジュールが主流となっている。なお、USGSM帯は主に北米で使用され、EUGSM帯は主に欧州で使用されている。   RF power modules (high frequency power amplifiers) used for GSM mobile phones include USGSM band (824 to 849 MHz), EUGSM band (880 to 915 MHz), DCS (Digital Cellular System) band (1710 to 1785 MHz) and PCS (Personal). RF power modules that can transmit RF signals (signals and high-frequency signals) in four frequency bands of the (Communication Services) band (1850 to 1910 MHz) have become mainstream. The USGSM band is mainly used in North America, and the EUGSM band is mainly used in Europe.

本実施の形態のRFパワーモジュール(電子装置)1は、例えばこれらの周波数帯(高周波帯)で使用されるRFパワーモジュールである。   The RF power module (electronic device) 1 of the present embodiment is an RF power module used in these frequency bands (high frequency bands), for example.

図1は、本実施の形態のRFパワーモジュール(高周波電力増幅器、高周波電力増幅装置、高周波電力増幅モジュール、電力増幅モジュール、電力増幅器モジュール、RFモジュール、半導体装置、電子装置、HPA(High Power Amplifier))1を構成する増幅回路の回路ブロック図を示している。   FIG. 1 shows an RF power module (high-frequency power amplifier, high-frequency power amplification device, high-frequency power amplification module, power amplification module, power amplifier module, RF module, semiconductor device, electronic device, HPA (High Power Amplifier) of this embodiment. ) A circuit block diagram of an amplifier circuit constituting 1 is shown.

図1に示されるように、RFパワーモジュール1の回路構成は、3つの増幅段102A1,102A2,102A3からなるUSGSM帯およびEUGSM帯用の電力増幅回路102Aと、3つの増幅段102B1,102B2,102B3からなるDCS帯およびPCS帯用の電力増幅回路102Bと、それら電力増幅回路102A,102Bの増幅動作の制御や補佐などを行う周辺回路103とを有している。RFパワーモジュール1の回路構成は、更に、USGSM帯およびEUGSM帯用の入力端子104aと電力増幅回路102A(1段目の増幅段102A1)との間の整合回路(入力整合回路)105Aと、DCS帯およびPCS帯用の入力端子104bと電力増幅回路102B(1段目の増幅段102B1)との間の整合回路(入力整合回路)105Bとを有している。RFパワーモジュール1の回路構成は、更に、USGSM帯およびEUGSM帯用の出力端子106aと電力増幅回路102A(3段目の増幅段102A3)との間の整合回路(出力整合回路)107Aと、DCS帯およびPCS帯用の出力端子106bと電力増幅回路102B(3段目の増幅段102B3)との間の整合回路(出力整合回路)107Bとを有している。従って、電力増幅回路102Aの出力が整合回路107Aを経て出力端子106aから出力され、電力増幅回路102Bの出力が整合回路107Bを経て出力端子106bから出力されるようになっている。   As shown in FIG. 1, the circuit configuration of the RF power module 1 includes a power amplifier circuit 102A for USGSM band and EUGSM band composed of three amplifier stages 102A1, 102A2, and 102A3, and three amplifier stages 102B1, 102B2, and 102B3. DCS band and PCS band power amplifying circuits 102B, and a peripheral circuit 103 for controlling and assisting the amplifying operations of the power amplifying circuits 102A and 102B. The circuit configuration of the RF power module 1 further includes a matching circuit (input matching circuit) 105A between the input terminal 104a for the USGSM band and the EUGSM band and the power amplifier circuit 102A (first amplifier stage 102A1), DCS And a matching circuit (input matching circuit) 105B between the band and PCS band input terminals 104b and the power amplification circuit 102B (first amplification stage 102B1). The circuit configuration of the RF power module 1 further includes a matching circuit (output matching circuit) 107A between the output terminal 106a for the USGSM band and the EUGSM band and the power amplification circuit 102A (third amplification stage 102A3), DCS And a matching circuit (output matching circuit) 107B between the band and PCS band output terminal 106b and the power amplification circuit 102B (third amplification stage 102B3). Therefore, the output of the power amplifier circuit 102A is output from the output terminal 106a via the matching circuit 107A, and the output of the power amplifier circuit 102B is output from the output terminal 106b via the matching circuit 107B.

USGSM帯およびEUGSM帯用の電力増幅回路102Aの増幅段102A1と増幅段102A2の間には段間用の整合回路(段間整合回路)102AM1が設けられ、増幅段102A2と増幅段102A3の間には段間用の整合回路(段間整合回路)102AM2が設けられている。また、DCS帯およびPCS帯用の電力増幅回路102Bの増幅段102B1と増幅段102B2の間には段間用の整合回路(段間整合回路)102BM1が設けられ、増幅段102B2と増幅段102B3の間には段間用の整合回路(段間整合回路)102BM2が設けられている。   An interstage matching circuit (interstage matching circuit) 102AM1 is provided between the amplification stage 102A1 and the amplification stage 102A2 of the power amplification circuit 102A for the USGSM band and the EUGSM band, and between the amplification stage 102A2 and the amplification stage 102A3. An interstage matching circuit (interstage matching circuit) 102AM2 is provided. Further, an interstage matching circuit (interstage matching circuit) 102BM1 is provided between the amplification stage 102B1 and the amplification stage 102B2 of the power amplification circuit 102B for the DCS band and the PCS band, and the amplification stage 102B2 and the amplification stage 102B3 An interstage matching circuit (interstage matching circuit) 102BM2 is provided between them.

このうち、USGSM帯およびEUGSM帯用の電力増幅回路102A(増幅段102A1〜102A3)と、DCS帯およびPCS帯用の電力増幅回路102B(102B1〜102B3)と、周辺回路103とは、1つの半導体チップ(半導体増幅素子チップ、高周波用電力増幅素子チップ)2内に形成されている。他の形態として、電力増幅回路102A,102Bおよび周辺回路103を、複数の半導体チップにより形成することもでき、例えば、増幅段102A1,102B1が形成された半導体チップと、増幅段102A2,102B2が形成された半導体チップと、増幅段102A3,102B3が形成された半導体チップとを個別に形成することもできる。   Among these, the power amplification circuit 102A (amplification stages 102A1 to 102A3) for USGSM band and EUGSM band, the power amplification circuit 102B (102B1 to 102B3) for DCS band and PCS band, and the peripheral circuit 103 are one semiconductor. It is formed in a chip (semiconductor amplification element chip, high frequency power amplification element chip) 2. As another form, the power amplifier circuits 102A and 102B and the peripheral circuit 103 can be formed of a plurality of semiconductor chips. For example, the semiconductor chip in which the amplifier stages 102A1 and 102B1 are formed and the amplifier stages 102A2 and 102B2 are formed. The formed semiconductor chip and the semiconductor chip on which the amplification stages 102A3 and 102B3 are formed can also be formed individually.

周辺回路103は、制御回路103Aと、上記増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3にバイアス電圧を印加するバイアス回路103Bなどを有している。制御回路103Aは、上記電力増幅回路102A,102Bに印加する所望の電圧を発生する回路であり、電源制御回路103A1およびバイアス電圧生成回路103A2を有している。電源制御回路103A1は、上記増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3の各々の出力用の増幅素子(例えばMISFET)のドレイン端子に印加される第1電源電圧を生成する回路である。また、上記バイアス電圧生成回路103A2は、上記バイアス回路103Bを制御するための第1制御電圧を生成する回路である。ここでは、電源制御回路103A1が外部のベースバンド回路から供給される出力レベル指定信号に基づいて上記第1電源電圧を生成すると、バイアス電圧生成回路103A2が電源制御回路103A1で生成された上記第1電源電圧に基づいて、上記第1制御電圧を生成するようになっている。上記ベースバンド回路は、上記出力レベル指定信号を生成する回路である。この出力レベル指定信号は、電力増幅回路102A、102Bの出力レベルを指定する信号で、携帯電話と基地局との間の距離、すなわち、電波の強弱に応じた出力レベルに基づいて生成されているようになっている。   The peripheral circuit 103 includes a control circuit 103A and a bias circuit 103B for applying a bias voltage to the amplification stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3. The control circuit 103A is a circuit that generates a desired voltage to be applied to the power amplifier circuits 102A and 102B, and includes a power supply control circuit 103A1 and a bias voltage generation circuit 103A2. The power supply control circuit 103A1 is a circuit that generates a first power supply voltage to be applied to the drain terminal of the output amplification element (for example, MISFET) of each of the amplification stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3. The bias voltage generation circuit 103A2 is a circuit that generates a first control voltage for controlling the bias circuit 103B. Here, when the power supply control circuit 103A1 generates the first power supply voltage based on the output level designation signal supplied from the external baseband circuit, the bias voltage generation circuit 103A2 is generated by the power supply control circuit 103A1. The first control voltage is generated based on the power supply voltage. The baseband circuit is a circuit that generates the output level designation signal. This output level designation signal is a signal that designates the output level of the power amplifier circuits 102A and 102B, and is generated based on the distance between the mobile phone and the base station, that is, the output level corresponding to the strength of the radio wave. It is like that.

RFパワーモジュール1のUSGSM帯およびEUGSM帯用の入力端子104aに入力されたRF入力信号は、整合回路105Aを経て半導体チップ2に入力され、半導体チップ2内の電力増幅回路102A、すなわち3つの増幅段102A1〜102A3で増幅されて半導体チップ2から出力され、整合回路107Aを経てUSGSM帯およびEUGSM帯用の出力端子106aからRF出力信号として出力される。また、RFパワーモジュール1のDCS帯およびPCS帯用の入力端子104bに入力されたRF入力信号は、整合回路105Bを経て半導体チップ2に入力され、半導体チップ2内の電力増幅回路102B、すなわち3つの増幅段102B1〜102B3で増幅されて半導体チップ2から出力され、整合回路107Bを経てDCS帯およびPCS帯用の出力端子106bからRF出力信号として出力される。各整合回路102AM1,102AM2,105A,107A,102BM1,102BM2,105B,107Bは、インピーダンスの整合を行う回路である。   An RF input signal input to the input terminal 104a for the USGSM band and the EUGSM band of the RF power module 1 is input to the semiconductor chip 2 through the matching circuit 105A, and the power amplification circuit 102A in the semiconductor chip 2, that is, three amplifications The signals are amplified in the stages 102A1 to 102A3, output from the semiconductor chip 2, and output as RF output signals from the output terminal 106a for the USGSM band and the EUGSM band through the matching circuit 107A. Further, the RF input signal input to the DCS band and PCS band input terminals 104b of the RF power module 1 is input to the semiconductor chip 2 through the matching circuit 105B, and the power amplification circuit 102B in the semiconductor chip 2, that is, 3 Amplified by the two amplification stages 102B1 to 102B3, output from the semiconductor chip 2, and output as an RF output signal from the output terminal 106b for the DCS band and the PCS band via the matching circuit 107B. Each matching circuit 102AM1, 102AM2, 105A, 107A, 102BM1, 102BM2, 105B, and 107B is a circuit that performs impedance matching.

本実施の形態のRFパワーモジュール1は、USGSM帯(824〜849MHz)、EUGSM帯(880〜915MHz)、DCS帯(1710〜1785MHz)およびPCS帯(1850〜1910MHz)の4つの周波数帯のRF信号(高周波信号)を送信できるように構成されている。そして、これら4つの周波数帯のうち、周波数が近いUSGSM帯とEUGSM帯とを同じ電力増幅回路102Aにより増幅し、周波数が近いDCS帯とPCS帯とを同じ電力増幅回路102Bにより増幅する回路構成をとっている。このように、RFパワーモジュール1は、異なる複数の周波数帯の信号を出力可能な、電力増幅回路を有する電子装置である。   The RF power module 1 of the present embodiment includes RF signals in four frequency bands: USGSM band (824 to 849 MHz), EUGSM band (880 to 915 MHz), DCS band (1710 to 1785 MHz), and PCS band (1850 to 1910 MHz). (High frequency signal) can be transmitted. Of these four frequency bands, the USGSM band and the EUGSM band, which are close in frequency, are amplified by the same power amplifier circuit 102A, and the DCS band and the PCS band, which are close in frequency, are amplified by the same power amplifier circuit 102B. I'm taking it. Thus, the RF power module 1 is an electronic device having a power amplifier circuit that can output signals of a plurality of different frequency bands.

本実施の形態のRFパワーモジュール1は、複数系統の電力増幅回路、ここでは2系統の電力増幅回路102A,102Bを有し、各電力増幅回路102A,102Bに整合回路が接続されている。そして、電力増幅回路102Aは、異なる複数の周波数帯、ここではUSGSM帯とEUGSM帯の信号を増幅可能に構成され、電力増幅回路102Bは、異なる複数の周波数帯、ここではDCS帯とPCS帯の信号を増幅可能に構成されている。従って、電力増幅回路102Aの送信周波数帯は、USGSM帯とEUGSM帯を含む周波数帯である824〜915MHz帯となり、電力増幅回路102Aは、824〜915MHzの信号を増幅可能に構成され、また、電力増幅回路102Bの送信周波数帯は、DCS帯とPCS帯を含む周波数帯である1710〜1910MHz帯となり、電力増幅回路102Bは、1710〜1910MHzの信号を増幅可能に構成される。   The RF power module 1 of the present embodiment has a plurality of power amplifier circuits, here two power amplifier circuits 102A and 102B, and a matching circuit is connected to each of the power amplifier circuits 102A and 102B. The power amplifier circuit 102A is configured to amplify signals in different frequency bands, here USGSM band and EUGSM band, and the power amplifier circuit 102B has a plurality of different frequency bands, here DCS band and PCS band. The signal can be amplified. Therefore, the transmission frequency band of the power amplification circuit 102A is a frequency band including the USGSM band and the EUGSM band, which is 824 to 915 MHz, and the power amplification circuit 102A is configured to be able to amplify a signal of 824 to 915 MHz. The transmission frequency band of the amplifier circuit 102B is a 1710 to 1910 MHz band that is a frequency band including the DCS band and the PCS band, and the power amplifier circuit 102B is configured to be able to amplify a signal of 1710 to 1910 MHz.

図2は、整合回路(出力整合回路)107A,107Bの回路構成例を示す回路図(等価回路図)である。   FIG. 2 is a circuit diagram (equivalent circuit diagram) showing a circuit configuration example of the matching circuits (output matching circuits) 107A and 107B.

図2に示されるように、伝送線路111、容量素子112(ここでは容量素子112a,112b,112c,112d)およびインダクタ素子113(ここではインダクタ素子113a,113b)によって、各整合回路107A,107Bが構成されている。   As shown in FIG. 2, each matching circuit 107A, 107B is made up of a transmission line 111, a capacitive element 112 (here, capacitive elements 112a, 112b, 112c, 112d) and an inductor element 113 (here, inductor elements 113a, 113b). It is configured.

整合回路107A,107Bの入力端子114は、電力増幅回路102A,102Bの出力に接続(電気的に接続)されており、整合回路107A,107Bの出力端子115は、RFパワーモジュール1の出力端子106a,106bに接続(電気的に接続)されている。また、図2の端子116は、他の回路に接続される。従って、電力増幅回路102A,102Bで増幅されたRF信号(高周波信号)は、整合回路107A,107Bの入力端子114に入力されて整合回路107A,107Bでインピーダンスの整合が行われ、整合回路107A,107Bの出力端子115から出力されて、RFパワーモジュール1の出力端子106a,106bから出力される。なお、整合回路107Aと整合回路107Bとは同様の回路構成を有しているが、容量素子112a〜112dの容量値と伝送線路111およびインダクタ素子113a,113bのインダクタンス値は、整合回路107Aと整合回路107Bとでは異なっており、各整合回路107A,107Bの周波数帯などを考慮して、独立に設計することができる。本実施の形態では、詳細は後述するが、整合回路107A,107Bのインダクタ素子113aを、空芯コイル(後述する空芯コイル6に対応)により構成している。整合回路107A,107Bの各容量素子112は、例えばチップコンデンサ(後述する受動部品4に対応する)により構成している。また、インダクタ素子113bは、チップインダクタにより構成することもできるが、インダクタ素子113aと同様に空芯コイル(後述する空芯コイル6に対応)により構成すれば、より好ましい。   The input terminals 114 of the matching circuits 107A and 107B are connected (electrically connected) to the outputs of the power amplifier circuits 102A and 102B, and the output terminal 115 of the matching circuits 107A and 107B is the output terminal 106a of the RF power module 1. , 106b (connected electrically). Further, the terminal 116 in FIG. 2 is connected to another circuit. Therefore, the RF signals (high frequency signals) amplified by the power amplifier circuits 102A and 102B are input to the input terminals 114 of the matching circuits 107A and 107B, and impedance matching is performed by the matching circuits 107A and 107B. The signal is output from the output terminal 115 of 107B and output from the output terminals 106a and 106b of the RF power module 1. The matching circuit 107A and the matching circuit 107B have the same circuit configuration, but the capacitance values of the capacitive elements 112a to 112d and the inductance values of the transmission line 111 and the inductor elements 113a and 113b match the matching circuit 107A. It is different from the circuit 107B, and can be designed independently in consideration of the frequency bands of the matching circuits 107A and 107B. Although details will be described later in the present embodiment, the inductor elements 113a of the matching circuits 107A and 107B are configured by air core coils (corresponding to air core coils 6 described later). Each capacitance element 112 of the matching circuits 107A and 107B is configured by, for example, a chip capacitor (corresponding to a passive component 4 described later). Further, the inductor element 113b can be constituted by a chip inductor, but it is more preferable that the inductor element 113b is constituted by an air-core coil (corresponding to an air-core coil 6 described later) similarly to the inductor element 113a.

本実施の形態のRFパワーモジュール1では、1系統の電力増幅回路102Aにより、USGSM帯(824〜849MHz)とEUGSM帯(880〜915MHz)の高周波信号を増幅し、他の1系統の電力増幅回路102Bにより、DCS帯(1710〜1785MHz)とPCS帯(1850〜1910MHz)の高周波信号を増幅しているので、各電力増幅回路102A,102Bで増幅すべき周波数帯が広くなっている。このため、RFパワーモジュール1の電力付加効率の周波数特性を広帯域化する必要があり、各電力増幅回路102A,102Bで行う高周波信号の増幅の電力付加効率を、広い周波数帯で高める必要がある。すなわち、RFパワーモジュール1の電力増幅回路102Aで行う高周波信号の増幅の電力付加効率は、USGSM帯およびEUGSM帯を含む周波数帯、すなわち824〜915MHzで高くする必要があり、RFパワーモジュール1の電力増幅回路102Bで行う高周波信号の増幅の電力付加効率は、DCS帯およびPCS帯を含む周波数帯、すなわち1710〜1910MHzで高くする必要がある。   In the RF power module 1 of the present embodiment, a high-frequency signal in the USGSM band (824 to 849 MHz) and the EUGSM band (880 to 915 MHz) is amplified by one power amplifier circuit 102A, and another one power amplifier circuit Since the high frequency signals of the DCS band (1710 to 1785 MHz) and the PCS band (1850 to 1910 MHz) are amplified by the 102B, the frequency bands to be amplified by the power amplifier circuits 102A and 102B are widened. For this reason, it is necessary to widen the frequency characteristic of the power added efficiency of the RF power module 1, and it is necessary to increase the power added efficiency of the amplification of the high frequency signal performed in each of the power amplifier circuits 102A and 102B in a wide frequency band. That is, the power addition efficiency of the high frequency signal amplification performed by the power amplifier circuit 102A of the RF power module 1 needs to be increased in the frequency band including the USGSM band and the EUGSM band, that is, 824 to 915 MHz. The power added efficiency of amplification of the high frequency signal performed by the amplifier circuit 102B needs to be increased in a frequency band including the DCS band and the PCS band, that is, 1710 to 1910 MHz.

本発明者の検討によれば、出力整合回路である整合回路107A,107Bにおいて、図2に示されるように、一方の端子がグランド(GND)に接続されたインダクタ素子113aを導入(追加)することで、インダクタ素子113aがない場合に比べて、電力付加効率の周波数特性を広帯域化でき、各電力増幅回路102A,102Bにより行う増幅の電力付加効率を、より広い周波数帯で高めることができることが分かった。このため、本実施の形態では、出力整合回路である整合回路107Aにインダクタ素子113aを導入することで、RFパワーモジュール1の電力増幅回路102Aで行う高周波信号の増幅の電力付加効率を、USGSM帯およびEUGSM帯を含む周波数帯(824〜915MHz)全体で高くすることが可能になる。また、出力整合回路である整合回路107Bにインダクタ素子113aを導入することで、RFパワーモジュール1の電力増幅回路102Bで行う高周波信号の増幅の電力付加効率を、DCS帯およびPCS帯を含む周波数帯(1710〜1910MHz)全体で高くすることが可能になる。   According to the study of the present inventors, in the matching circuits 107A and 107B, which are output matching circuits, as shown in FIG. 2, an inductor element 113a having one terminal connected to the ground (GND) is introduced (added). As a result, compared with the case where the inductor element 113a is not provided, the frequency characteristic of the power added efficiency can be widened, and the power added efficiency of amplification performed by the power amplifier circuits 102A and 102B can be increased in a wider frequency band. I understood. For this reason, in the present embodiment, by introducing the inductor element 113a to the matching circuit 107A that is an output matching circuit, the power added efficiency of the amplification of the high-frequency signal performed by the power amplifier circuit 102A of the RF power module 1 is reduced to the USGSM band. And the frequency band including the EUGSM band (824 to 915 MHz) can be increased. Further, by introducing the inductor element 113a into the matching circuit 107B, which is an output matching circuit, the power added efficiency of the amplification of the high frequency signal performed by the power amplifier circuit 102B of the RF power module 1 can be increased in the frequency band including the DCS band and the PCS band. (1710-1910 MHz) It becomes possible to make it high overall.

次に、図3は、本実施の形態のRFパワーモジュール1を用いたデジタル携帯電話機システムDPSの一例を示している。図3の符号ANTは信号電波の送受信用のアンテナ、符号151はフロントエンド・モジュール、符号152は音声信号をベースバンド信号に変換したり、受信信号を音声信号に変換したり、変調方式切換信号やバンド切換信号を生成したりするベースバンド回路である。図3の符号153は受信信号をダウンコンバートして復調し、ベースバンド信号を生成したり送信信号を変調したりする変復調用回路、符号FLT1,FLT2は受信信号からノイズや妨害波を除去するフィルタである。フィルタFLT1はUSGSMおよびEUGSM用、フィルタFLT2はDCSおよびPCS用である。ベースバンド回路152は、DSP(Digital Signal Processor)やマイクロプロセッサ、半導体メモリ等の複数の半導体集積回路で構成されている。フロントエンド・モジュール151は、スイッチ回路154a,154b、コンデンサC5,C6および分波器156を有している。スイッチ回路154a,154bは送受信切り換え用のスイッチ回路、コンデンサC5,C6は受信信号から直流成分をカットする素子、分波器156は、USGSM帯およびEUGSM帯の信号と、DCS帯およびPCS帯の信号とを分波する回路であり、これら回路および素子は1つの配線基板上に搭載されてモジュールとされている。なお、スイッチ回路154a,154bの切換信号CNT1,CNT2は上記ベースバンド回路152から供給される。   Next, FIG. 3 shows an example of a digital cellular phone system DPS using the RF power module 1 of the present embodiment. Reference numeral ANT in FIG. 3 is an antenna for transmitting and receiving signal radio waves, reference numeral 151 is a front-end module, reference numeral 152 is a voice signal converted into a baseband signal, a received signal is converted into a voice signal, and a modulation system switching signal. And a baseband circuit for generating a band switching signal. Reference numeral 153 in FIG. 3 is a modulation / demodulation circuit that down-converts and demodulates the received signal to generate a baseband signal or modulates the transmitted signal. Reference numerals FLT1 and FLT2 denote filters that remove noise and interference waves from the received signal. It is. Filter FLT1 is for USGSM and EUGSM, and filter FLT2 is for DCS and PCS. The baseband circuit 152 includes a plurality of semiconductor integrated circuits such as a DSP (Digital Signal Processor), a microprocessor, and a semiconductor memory. The front end module 151 includes switch circuits 154a and 154b, capacitors C5 and C6, and a duplexer 156. Switch circuits 154a and 154b are switch circuits for switching between transmission and reception, capacitors C5 and C6 are elements for cutting a DC component from the received signal, and branching filter 156 is a signal in the USGSM band and the EUGSM band, and a signal in the DCS band and the PCS band. These circuits and elements are mounted on a single wiring board to form a module. The switching signals CNT1 and CNT2 of the switch circuits 154a and 154b are supplied from the baseband circuit 152.

図4は、本実施の形態のRFパワーモジュール1の構造を示す概念的な上面図(平面図)であり、図5は本実施の形態のRFパワーモジュール1の概念的な断面図であり、図6は本実施の形態のRFパワーモジュール1の概念的な斜視図である。図4および図6は、封止樹脂7を透視した状態が示されている。また、図5は断面図(側面断面図)に対応するが、RFパワーモジュール1の概念的な構造が示されており、図4や図6の構造を所定の位置で切断した断面とは完全には一致していない。また、図4および図6はRFパワーモジュール1の概念的な構造が示されたものであり、図4の上面図と図6の斜視図とでは、配線基板3の上面3aでの各部品の配置位置は完全には一致していない。   FIG. 4 is a conceptual top view (plan view) showing the structure of the RF power module 1 of the present embodiment, and FIG. 5 is a conceptual cross-sectional view of the RF power module 1 of the present embodiment. FIG. 6 is a conceptual perspective view of the RF power module 1 of the present embodiment. 4 and 6 show a state in which the sealing resin 7 is seen through. 5 corresponds to a cross-sectional view (side cross-sectional view), but shows a conceptual structure of the RF power module 1 and is completely different from a cross-section obtained by cutting the structure of FIGS. 4 and 6 at a predetermined position. Does not match. 4 and 6 show the conceptual structure of the RF power module 1. In the top view of FIG. 4 and the perspective view of FIG. 6, the components on the top surface 3a of the wiring board 3 are shown. The arrangement position is not completely coincident.

図4〜図6に示される本実施の形態のRFパワーモジュール1は、配線基板3と、配線基板3上に搭載(実装)された半導体チップ(半導体素子、能動素子)2と、配線基板3上に搭載(実装)された受動部品(受動素子、チップ部品)4と、配線基板3上に搭載(実装)された空芯コイル6と、半導体チップ2、受動部品4および空芯コイル6を含む配線基板3の上面3aを覆う封止樹脂(封止樹脂部、封止部、封止体)7とを有している。半導体チップ2、受動部品4および空芯コイル6は、配線基板3の導体層(電極、端子、配線)に電気的に接続されている。また、RFパワーモジュール1は、例えば図示しない外部回路基板またはマザーボードなどに実装することもできる。   The RF power module 1 of the present embodiment shown in FIGS. 4 to 6 includes a wiring board 3, a semiconductor chip (semiconductor element, active element) 2 mounted (mounted) on the wiring board 3, and a wiring board 3. A passive component (passive element, chip component) 4 mounted (mounted) on the top, an air core coil 6 mounted (mounted) on the wiring board 3, and the semiconductor chip 2, the passive component 4 and the air core coil 6 It has sealing resin (sealing resin part, sealing part, sealing body) 7 which covers the upper surface 3a of the wiring board 3 including. The semiconductor chip 2, the passive component 4, and the air core coil 6 are electrically connected to the conductor layer (electrode, terminal, wiring) of the wiring board 3. The RF power module 1 can also be mounted on, for example, an external circuit board (not shown) or a mother board.

配線基板(多層基板、多層配線基板、モジュール基板)3は、例えば、複数の絶縁体層(誘電体層)11と、複数の導体層または配線層(図示せず)とを積層して一体化した多層基板(多層配線基板)である。図5では、4つの絶縁体層11が積層されて配線基板3が形成されているが、積層される絶縁体層11の数はこれに限定されるものではなく種々変更可能である。配線基板3の絶縁体層11を形成する材料としては、例えばアルミナ(酸化アルミニウム、Al)などのようなセラミック材料を用いることができる。この場合、配線基板3はセラミック多層基板である。配線基板3の絶縁体層11の材料は、セラミック材料に限定されるものではなく種々変更可能であり、例えばガラスエポキシ樹脂などを用いても良い。 The wiring board (multilayer board, multilayer wiring board, module board) 3 is formed by, for example, laminating a plurality of insulator layers (dielectric layers) 11 and a plurality of conductor layers or wiring layers (not shown). This is a multilayer board (multilayer wiring board). In FIG. 5, four insulating layers 11 are laminated to form the wiring board 3, but the number of laminated insulating layers 11 is not limited to this and can be variously changed. As a material for forming the insulator layer 11 of the wiring board 3, for example, a ceramic material such as alumina (aluminum oxide, Al 2 O 3 ) can be used. In this case, the wiring board 3 is a ceramic multilayer board. The material of the insulator layer 11 of the wiring board 3 is not limited to a ceramic material and can be variously changed. For example, a glass epoxy resin may be used.

配線基板3の上面(表面、主面)3a上と下面(裏面、主面)3b上と絶縁体層11間とには、配線形成用の導体層(配線層、配線パターン、導体パターン)が形成されている。配線基板3の最上層の導体層によって、配線基板3の上面3aに導電体からなる基板側端子(電極、端子、配線パターン)12aが複数形成され、配線基板3の最下層の導体層によって、配線基板3の下面3bに導電体からなる外部接続端子(端子、電極、モジュール電極)12bが複数形成されている。外部接続端子12bは、例えば、図1における入力端子104a,104b、出力端子106a,106bなどに対応するものである。配線基板3の内部、すなわち絶縁体層11の間にも導体層(配線層、配線パターン、導体パターン)が形成されているが、図5では簡略化のために図示を省略している。また、配線基板3の導体層により形成される配線パターンのうち、基準電位供給用の配線パターン(例えば配線基板3の下面3bの基準電位供給用端子12cなど)は、絶縁体層11の配線形成面の大半の領域を覆うような矩形パターンで形成し、伝送線路用の配線パターンは帯状のパターンで形成することができる。   Between the upper surface (front surface, main surface) 3a and the lower surface (back surface, main surface) 3b of the wiring substrate 3 and between the insulator layers 11, there are wiring forming conductor layers (wiring layers, wiring patterns, conductor patterns). Is formed. A plurality of board-side terminals (electrodes, terminals, wiring patterns) 12a made of a conductor are formed on the upper surface 3a of the wiring board 3 by the uppermost conductor layer of the wiring board 3, and the lowermost conductor layer of the wiring board 3 A plurality of external connection terminals (terminals, electrodes, module electrodes) 12 b made of a conductor are formed on the lower surface 3 b of the wiring board 3. The external connection terminal 12b corresponds to, for example, the input terminals 104a and 104b and the output terminals 106a and 106b in FIG. A conductor layer (wiring layer, wiring pattern, conductor pattern) is also formed inside the wiring board 3, that is, between the insulator layers 11, but is not shown in FIG. 5 for simplification. Among the wiring patterns formed by the conductor layer of the wiring board 3, the wiring pattern for supplying the reference potential (for example, the reference potential supplying terminal 12 c on the lower surface 3 b of the wiring board 3) is used for forming the wiring of the insulator layer 11. The wiring pattern for the transmission line can be formed as a belt-like pattern so as to cover the most area of the surface.

配線基板3を構成する各導体層(配線層)は、必要に応じて絶縁体層11に形成されたビアホール(スルーホール)13内の導体または導体膜を通じて電気的に接続されている。従って、配線基板3の上面3aの基板側端子12aは、必要に応じて配線基板3の上面3aおよび/または内部の配線層やビアホール13内の導体膜などを介して結線され、配線基板3の下面3bの外部接続端子12bまたは基準電位供給用端子12cに電気的に接続されている。なお、ビアホール13のうち、半導体チップ2の下方に設けられたビアホール13aは、半導体チップ2で生じた熱を配線基板3の下面3b側に伝導させるためのサーマルビアとして機能することもできる。   Each conductor layer (wiring layer) constituting the wiring board 3 is electrically connected through a conductor or a conductor film in a via hole (through hole) 13 formed in the insulator layer 11 as necessary. Accordingly, the board-side terminal 12a on the upper surface 3a of the wiring board 3 is connected via the upper surface 3a of the wiring board 3 and / or the internal wiring layer or the conductor film in the via hole 13 as necessary. The external connection terminal 12b or the reference potential supply terminal 12c on the lower surface 3b is electrically connected. Of the via holes 13, the via holes 13 a provided below the semiconductor chip 2 can also function as thermal vias for conducting heat generated in the semiconductor chip 2 to the lower surface 3 b side of the wiring substrate 3.

半導体チップ2は、図1の回路ブロック図において半導体チップ2を示す点線で囲まれた回路構成に対応する半導体集積回路が形成された半導体チップ2である。従って、半導体チップ2は増幅回路(電力増幅回路)を含んでおり、半導体チップ2内(または表層部分)には、電力増幅回路102A,102B(の増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3)を構成する半導体増幅素子、周辺回路103を構成する半導体素子および整合回路(段間整合回路)102AM1,102AM2,102BM1,102BM1を構成する受動素子などが形成されている。上記電力増幅回路102A,102B(の増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3)を構成する半導体増幅素子は、例えば、MISFET(Metal Insulator Semiconductor Field Effect Transistor)、ヘテロ接合バイポーラトランジスタまたはHEMT(High Electron Mobility Transistor)などにより構成することができる。このように、RFパワーモジュール1は電力増幅回路(102A,102B)を有し、半導体チップ2はその電力増幅回路(102A,102B)を含む(構成する)能動素子である。半導体チップ2は、例えば、単結晶シリコンなどからなる半導体基板(半導体ウエハ)に半導体集積回路を形成した後、必要に応じて半導体基板の裏面研削を行ってから、ダイシングなどにより半導体基板を各半導体チップ2に分離したものである。   The semiconductor chip 2 is a semiconductor chip 2 on which a semiconductor integrated circuit corresponding to a circuit configuration surrounded by a dotted line indicating the semiconductor chip 2 in the circuit block diagram of FIG. 1 is formed. Therefore, the semiconductor chip 2 includes an amplifier circuit (power amplifier circuit), and the power amplifier circuits 102A and 102B (the amplifier stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3) are configured in the semiconductor chip 2 (or the surface layer portion). The semiconductor amplifying element, the semiconductor elements constituting the peripheral circuit 103, the passive elements constituting the matching circuits (interstage matching circuits) 102AM1, 102AM2, 102BM1, and 102BM1 are formed. The semiconductor amplifying elements constituting the power amplifier circuits 102A and 102B (amplifying stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3) are, for example, MISFETs (Metal Insulator Semiconductor Field Effect Transistors), heterojunction bipolar transistors, or HEMTs (High Electron Mobility Transistors). ) Or the like. As described above, the RF power module 1 includes the power amplification circuits (102A and 102B), and the semiconductor chip 2 is an active element including (configures) the power amplification circuits (102A and 102B). For example, the semiconductor chip 2 is formed by forming a semiconductor integrated circuit on a semiconductor substrate (semiconductor wafer) made of, for example, single crystal silicon, and then grinding the back surface of the semiconductor substrate as necessary, and then dicing or the like. The chip 2 is separated.

図7は、一例として、上記電力増幅回路102A,102B(の増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3)を構成する半導体増幅素子をLDMOSFET(Laterally Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor、横方向拡散MOSFET)により形成した場合の半導体チップ2の要部断面図である。   FIG. 7 shows, as an example, an LDMOSFET (Laterally Diffused Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor), a lateral diffusion MOSFET, which is a semiconductor amplifying element that constitutes the power amplifier circuits 102A and 102B (amplification stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3). 2 is a cross-sectional view of the main part of the semiconductor chip 2 when formed by (1).

図7に示されるように、p型単結晶シリコンからなる半導体基板201の主面には、p型単結晶シリコンからなるエピタキシャル層202が形成され、エピタキシャル層202の主面の一部には、LDMOSFETのドレインからソースへの空乏層の延びを抑えるパンチスルーストッパとして機能するp型ウエル206が形成されている。p型ウエル206の表面には、酸化シリコンなどからなるゲート絶縁膜207を介してLDMOSFETのゲート電極208が形成されている。ゲート電極208は、例えばn型の多結晶シリコン膜あるいはn型の多結晶シリコン膜と金属シリサイド膜の積層膜などからなり、ゲート電極208の側壁には、酸化シリコンなどからなるサイドウォールスペーサ211が形成されている。 As shown in FIG. 7, an epitaxial layer 202 made of p type single crystal silicon is formed on the main surface of a semiconductor substrate 201 made of p + type single crystal silicon, and a part of the main surface of the epitaxial layer 202 is formed. Is formed with a p-type well 206 that functions as a punch-through stopper that suppresses the extension of the depletion layer from the drain to the source of the LDMOSFET. On the surface of the p-type well 206, a gate electrode 208 of the LDMOSFET is formed via a gate insulating film 207 made of silicon oxide or the like. The gate electrode 208 is made of, for example, an n-type polycrystalline silicon film or a laminated film of an n-type polycrystalline silicon film and a metal silicide film. A sidewall spacer 211 made of silicon oxide or the like is formed on the side wall of the gate electrode 208. Is formed.

エピタキシャル層202の内部のチャネル形成領域を挟んで互いに離間する領域には、LDMOSFETのソース、ドレインが形成されている。ドレインは、チャネル形成領域に接するn型オフセットドレイン領域209と、n型オフセットドレイン領域209に接し、チャネル形成領域から離間して形成されたn型オフセットドレイン領域212と、n型オフセットドレイン領域212に接し、チャネル形成領域からさらに離間して形成されたn型ドレイン領域213とからなる。これらn型オフセットドレイン領域209、n型オフセットドレイン領域212およびn型ドレイン領域213のうち、ゲート電極208に最も近いn型オフセットドレイン領域209は不純物濃度が最も低く、ゲート電極208から最も離間したn型ドレイン領域213は不純物濃度が最も高い。 The source and drain of the LDMOSFET are formed in regions separated from each other across the channel formation region inside the epitaxial layer 202. Drain, n contact with the channel forming region - -type offset drain region 209, n - -type contact offset drain region 209, an n-type offset drain region 212 formed apart from the channel forming region, n-type offset drain region And an n + -type drain region 213 formed in contact with 212 and further away from the channel formation region. Among these n type offset drain region 209, n type offset drain region 212 and n + type drain region 213, n type offset drain region 209 closest to gate electrode 208 has the lowest impurity concentration and is the lowest from gate electrode 208. The separated n + -type drain region 213 has the highest impurity concentration.

LDMOSFETのソースは、チャネル形成領域に接するn型ソース領域210と、n型ソース領域210に接し、チャネル形成領域から離間して形成され、n型ソース領域210よりも不純物濃度が高いn型ソース領域214とからなる。n型ソース領域210の下部には、p型ハロー領域(図示せず)を形成することもできる。 The source of the LDMOSFET, n contact with the channel forming region - -type source region 210, n - -type source region 210 in contact, are formed apart from the channel forming region, n - impurity concentration than -type source region 210 higher n And a + type source region 214. A p-type halo region (not shown) may be formed below the n -type source region 210.

型ソース領域214の端部(n型ソース領域210と接する側と反対側の端部)には、n型ソース領域214と接するp型打抜き層204が形成されている。p型打抜き層204の表面近傍には、p型半導体領域215が形成されている。p型打抜き層204は、LDMOSFETのソースと半導体基板201とを電気的に接続するための導電層であり、例えばエピタキシャル層202に形成した溝203の内部に埋め込んだp型多結晶シリコン膜によって形成される。 A p-type punching layer 204 in contact with the n + -type source region 214 is formed at the end of the n + -type source region 214 (the end opposite to the side in contact with the n -type source region 210). A p + type semiconductor region 215 is formed near the surface of the p type punching layer 204. The p-type punching layer 204 is a conductive layer for electrically connecting the source of the LDMOSFET and the semiconductor substrate 201, and is formed of, for example, a p-type polycrystalline silicon film embedded in the groove 203 formed in the epitaxial layer 202. Is done.

LDMOSFETのp型打抜き層204(p型半導体領域215)、ソース(n型ソース領域214)およびドレイン(n型ドレイン領域213)のそれぞれの上部には、絶縁膜(層間絶縁膜)221に形成されたコンタクトホール222内のプラグ223が接続されている。p型打抜き層204(p型半導体領域215)およびソース(n型ソース領域214)には、プラグ223を介してソース電極224a(配線224)が接続され、ドレイン(n型ドレイン領域213)には、プラグ223を介してドレイン電極224b(配線224)が接続されている。 An insulating film (interlayer insulating film) 221 is formed on the p-type punching layer 204 (p + -type semiconductor region 215), source (n + -type source region 214), and drain (n + -type drain region 213) of the LDMOSFET. The plug 223 in the contact hole 222 formed in is connected. A source electrode 224 a (wiring 224) is connected to the p-type punching layer 204 (p + -type semiconductor region 215) and the source (n + -type source region 214) via a plug 223, and a drain (n + -type drain region 213). ) Is connected to a drain electrode 224b (wiring 224) through a plug 223.

ソース電極224aおよびドレイン電極224bのそれぞれには、ソース電極224aおよびドレイン電極224bを覆う絶縁膜(層間絶縁膜)225に形成されたスルーホール226内のプラグ227を介して配線228が接続されている。配線228の上部には、酸化シリコン膜と窒化シリコン膜の積層膜からなる表面保護膜(絶縁膜)229が形成されている。また、半導体基板201の裏面には裏面電極(ソース裏面電極)230が形成されている。   A wiring 228 is connected to each of the source electrode 224a and the drain electrode 224b via a plug 227 in a through hole 226 formed in an insulating film (interlayer insulating film) 225 that covers the source electrode 224a and the drain electrode 224b. . A surface protective film (insulating film) 229 made of a laminated film of a silicon oxide film and a silicon nitride film is formed on the wiring 228. A back electrode (source back electrode) 230 is formed on the back surface of the semiconductor substrate 201.

図8は、他の一例として、上記電力増幅回路102A,102B(の増幅段102A1〜102A3,102B1〜102B3)を構成する半導体増幅素子をヘテロ接合型バイポーラトランジスタ(HBT:Heterojunction Bipolar Transistor)により形成した場合の半導体チップ2の要部断面図である。   In FIG. 8, as another example, the semiconductor amplifying elements constituting the power amplifier circuits 102A and 102B (the amplification stages 102A1 to 102A3 and 102B1 to 102B3) are formed by heterojunction bipolar transistors (HBTs). It is principal part sectional drawing of the semiconductor chip 2 in the case.

図8に示されるように、半絶縁性のGaAs基板(半導体基板)251上にn型GaAs層よりなるサブコレクタ層252が形成され、サブコレクタ層252上にHBT253が形成されている。 As shown in FIG. 8, a subcollector layer 252 made of an n + -type GaAs layer is formed on a semi-insulating GaAs substrate (semiconductor substrate) 251, and an HBT 253 is formed on the subcollector layer 252.

各HBT253は、サブコレクタ層252上に形成された金などからなるコレクタ電極254と、このコレクタ電極254とは所定間隔だけ離間して形成されたコレクタメサ255を有している。コレクタメサ255は、例えばn型GaAs層より形成され、コレクタメサ255とコレクタ電極254はサブコレクタ層252を介して電気的に接続されている。   Each HBT 253 has a collector electrode 254 made of gold or the like formed on the sub-collector layer 252 and a collector mesa 255 formed at a predetermined distance from the collector electrode 254. The collector mesa 255 is formed of, for example, an n-type GaAs layer, and the collector mesa 255 and the collector electrode 254 are electrically connected via the subcollector layer 252.

コレクタメサ255上には、例えばp型GaAs層よりなるベースメサ256が形成されている。ベースメサ256上の周辺領域には金等よりなるベース電極257が形成されている。ベースメサ256の略中央部上にエミッタ層258が形成され、エミッタ層258上にエミッタ電極259が形成されている。エミッタ層258は、例えばn型InGaP層、GaAs層およびInGaAs層を積層した層より形成され、エミッタ電極259は、例えばタングステンシリサイドから形成されている。このように、ベースメサ(p型GaAs層)256とエミッタ層(n型InGaP層)258との間には異種半導体接合(ヘテロ接合)が形成されている。   A base mesa 256 made of, for example, a p-type GaAs layer is formed on the collector mesa 255. A base electrode 257 made of gold or the like is formed in the peripheral region on the base mesa 256. An emitter layer 258 is formed on a substantially central portion of the base mesa 256, and an emitter electrode 259 is formed on the emitter layer 258. The emitter layer 258 is formed of, for example, an n-type InGaP layer, a GaAs layer, and an InGaAs layer, and the emitter electrode 259 is formed of, for example, tungsten silicide. As described above, a heterogeneous semiconductor junction (heterojunction) is formed between the base mesa (p-type GaAs layer) 256 and the emitter layer (n-type InGaP layer) 258.

コレクタ電極254には、絶縁膜261に形成されたコンタクトホール262を介してコレクタ配線263が接続されている。エミッタ電極259には、絶縁膜264,261に形成されたスルーホール265を介してエミッタ配線266が接続されている。エミッタ配線266よりも上層の構造については、ここでは図示およびその説明を省略する。   A collector wiring 263 is connected to the collector electrode 254 through a contact hole 262 formed in the insulating film 261. An emitter wiring 266 is connected to the emitter electrode 259 via a through hole 265 formed in the insulating films 264 and 261. Illustration and description of the structure above the emitter wiring 266 is omitted here.

図4〜図6に示されるように、半導体チップ2は配線基板3の上面3aの導体層14に、例えば半田15などの接合材によりフェイスアップでダイボンディングされている。半導体チップ2のダイボンディングには、半田15の代わりに銀ペーストなどを用いることもできる。半導体チップ2の表面(上面)に形成された複数の電極(ボンディングパッド)2aは、それぞれ、ボンディングワイヤ(導電性ワイヤ)8を介して配線基板3の上面3aの基板側端子12aに電気的に接続されている。また、半導体チップ2の裏面には裏面電極2bが形成されており、この半導体チップ2の裏面電極2bは、配線基板3の上面3aの導体層14に半田15などの接合材により接続(接合)され、更にビアホール13内の導体膜などを介して、配線基板3の下面3bの基準電位供給用端子12cに電気的に接続されている。また、他の形態として、配線基板3の上面3aにキャビティ(窪み)を設け、配線基板3のキャビティ内に半導体チップ2を搭載することもでき、これにより、RFパワーモジュールの薄型化に有利となる。   As shown in FIGS. 4 to 6, the semiconductor chip 2 is die-bonded face-up to the conductor layer 14 on the upper surface 3 a of the wiring substrate 3 with a bonding material such as solder 15. For die bonding of the semiconductor chip 2, silver paste or the like can be used instead of the solder 15. A plurality of electrodes (bonding pads) 2 a formed on the surface (upper surface) of the semiconductor chip 2 are electrically connected to the substrate-side terminals 12 a on the upper surface 3 a of the wiring substrate 3 via bonding wires (conductive wires) 8. It is connected. Further, a back electrode 2 b is formed on the back surface of the semiconductor chip 2, and the back electrode 2 b of the semiconductor chip 2 is connected (bonded) to the conductor layer 14 on the top surface 3 a of the wiring substrate 3 by a bonding material such as solder 15. Further, it is electrically connected to the reference potential supply terminal 12 c on the lower surface 3 b of the wiring substrate 3 through a conductor film in the via hole 13. As another form, a cavity (depression) can be provided in the upper surface 3a of the wiring board 3, and the semiconductor chip 2 can be mounted in the cavity of the wiring board 3, which is advantageous for thinning the RF power module. Become.

受動部品4は、抵抗素子(例えばチップ抵抗)、容量素子(例えばチップコンデンサ)またはインダクタ素子(例えばチップインダクタ)などの受動素子からなり、例えばチップ部品からなる。受動部品4は、例えば整合回路(入力整合回路)105A,105Bや整合回路(出力整合回路)107A,107Bなどを構成する受動部品(受動素子)である。また、整合回路(段間整合回路)102AM1,102AM2,102BM1,102BM2を構成する受動素子は、半導体チップ2内に形成しても、あるいは半導体チップ2内に形成せずに、受動部品4により形成してもよい。受動部品4は、配線基板3の上面3aの基板側端子12aに半田17などの導電性の良い接合材により実装されている。   The passive component 4 includes a passive element such as a resistance element (for example, a chip resistor), a capacitance element (for example, a chip capacitor), or an inductor element (for example, a chip inductor), and includes, for example, a chip component. The passive component 4 is a passive component (passive element) that constitutes, for example, matching circuits (input matching circuits) 105A and 105B and matching circuits (output matching circuits) 107A and 107B. Further, the passive elements constituting the matching circuits (interstage matching circuits) 102AM1, 102AM2, 102BM1, 102BM2 are formed by the passive component 4 either in the semiconductor chip 2 or not in the semiconductor chip 2. May be. The passive component 4 is mounted on a board-side terminal 12 a on the upper surface 3 a of the wiring board 3 by a bonding material having good conductivity such as solder 17.

空芯コイル6は、整合回路(出力整合回路)107A,107Bに使用されるインダクタ素子、すなわち、整合回路(出力整合回路)107A,107Bの一部を構成するインダクタ素子であり、上記インダクタ素子113aに対応するインダクタ素子である。空芯コイル6は、絶縁被膜で覆われた導体線(例えば銅線、後述する導体線31に対応)を螺旋状に複数回巻くことにより形成されており、その導体線の両端部は絶縁被膜が除去されて、半田などの導電性の良い接合材(後述する半田32に対応)により配線基板3の上面3aの基板側端子12aに接合され、電気的に接続されている。   The air-core coil 6 is an inductor element used in the matching circuits (output matching circuits) 107A and 107B, that is, an inductor element constituting a part of the matching circuits (output matching circuits) 107A and 107B, and the inductor element 113a. It is an inductor element corresponding to. The air-core coil 6 is formed by winding a conductor wire (for example, a copper wire, corresponding to a conductor wire 31 described later) covered with an insulating film a plurality of times in a spiral shape, and both ends of the conductor wire are formed with an insulating film. Is removed and bonded to the board-side terminal 12a on the upper surface 3a of the wiring board 3 by a bonding material having good conductivity such as solder (corresponding to solder 32 described later) and is electrically connected.

本実施の形態では、配線基板3上に実装(搭載)された受動部品4(容量素子112a〜112dやインダクタンス素子113bを構成する受動部品4)および空芯コイル6(インダクタ素子113aを構成する空芯コイル6)と配線基板3の導体パターンにより形成された伝送線路(伝送線路111)により、上記各整合回路(出力整合回路)107A,107Bが形成されている。   In the present embodiment, the passive component 4 (passive component 4 constituting the capacitive elements 112a to 112d and the inductance element 113b) mounted on the wiring board 3 and the air core coil 6 (empty constituting the inductor element 113a). The matching circuits (output matching circuits) 107A and 107B are formed by the transmission line (transmission line 111) formed by the conductor pattern of the core coil 6) and the wiring board 3.

半導体チップ2、受動部品4または空芯コイル6が電気的に接続された配線基板3の上面3aの基板側端子12a間は、必要に応じて配線基板3の上面または内部の配線層やビアホール13内の導体膜などを介して結線され、配線基板3の下面3bの外部接続端子12bまたは基準電位供給用端子12cに電気的に接続されている。   Between the substrate-side terminals 12a on the upper surface 3a of the wiring substrate 3 to which the semiconductor chip 2, the passive component 4 or the air-core coil 6 is electrically connected, the upper surface of the wiring substrate 3 or an internal wiring layer or via hole 13 is provided as necessary. The wiring is connected via an inner conductor film or the like, and is electrically connected to the external connection terminal 12 b or the reference potential supply terminal 12 c on the lower surface 3 b of the wiring board 3.

封止樹脂7は、半導体チップ2、受動部品4、空芯コイル6およびボンディングワイヤ8を覆うように配線基板3の上面3a上に形成されている。封止樹脂7は、例えばエポキシ樹脂またはシリコーン樹脂などの樹脂材料からなり、フィラーなどを含有することもできる。   The sealing resin 7 is formed on the upper surface 3 a of the wiring board 3 so as to cover the semiconductor chip 2, the passive component 4, the air core coil 6, and the bonding wire 8. The sealing resin 7 is made of, for example, a resin material such as an epoxy resin or a silicone resin, and can contain a filler or the like.

次に、本実施の形態のRFパワーモジュール1における空芯コイル6について、より詳細に説明する。   Next, the air-core coil 6 in the RF power module 1 of the present embodiment will be described in more detail.

図9および図10は、本実施の形態のRFパワーモジュール1の要部斜視図、図11および図12はRFパワーモジュール1の要部上面図(要部平面図)、図13はRFパワーモジュール1の要部側面図であり、いずれも、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル6が示されている。図11の矢印30の方向から見たものが、図13にほぼ対応する。また、図10は、図9において半田32の図示を省略したものに対応し、図12は、図11において半田32の図示を省略したものに対応する。また、図10および図12は、それぞれ斜視図および平面図であるが、理解を簡単にするために、空芯コイル6を構成する導体線31のうち、絶縁被膜が除去されている部分(すなわち導体部が露出している部分)にハッチングを付してある(但し、図面を見易くするために、図10と図12とでハッチングの種類が異なっている)。また、図9には、空芯コイル6で生じる磁束(磁界)33を点線で模式的に示してある。   9 and 10 are perspective views of the main part of the RF power module 1 according to the present embodiment, FIGS. 11 and 12 are top views (main part plan views) of the main part of the RF power module 1, and FIG. 13 is the RF power module. 1 is a side view of an essential part of FIG. 1, and each shows an air-core coil 6 mounted on a wiring board 3 through a sealing resin 7. What was seen from the direction of the arrow 30 in FIG. 11 substantially corresponds to FIG. 10 corresponds to the solder 32 not shown in FIG. 9, and FIG. 12 corresponds to the solder 32 not shown in FIG. FIGS. 10 and 12 are a perspective view and a plan view, respectively, but for the sake of easy understanding, a portion of the conductor wire 31 constituting the air-core coil 6 from which the insulating coating has been removed (ie, The portions where the conductor portions are exposed are hatched (however, in order to make the drawings easier to see, the types of hatching are different between FIGS. 10 and 12). In FIG. 9, a magnetic flux (magnetic field) 33 generated by the air-core coil 6 is schematically shown by a dotted line.

本実施の形態の空芯コイル6は、面実装型の空芯コイルであり、配線基板3の上面3aに実装(面実装、搭載)されている。   The air-core coil 6 according to the present embodiment is a surface-mount type air-core coil, and is mounted (surface-mounted, mounted) on the upper surface 3 a of the wiring board 3.

図9〜図13に示されるように、空芯コイル6は、絶縁被膜(絶縁皮膜、絶縁膜)で覆われた導体線(例えば銅線)31を螺旋状に複数回巻く(巻回する、巻き回す)ことにより形成されたコイル部(コイル本体)6aと、コイル部6aの両端にそれぞれ接続された導体線31からなる2つの端子部6bとにより構成されている。空芯コイル6は1本の導体線31により形成されており、同じ導体線31により空芯コイル6のコイル部6aと2つの端子部6bとが一体的に形成されている。この空芯コイル6を構成する導体線31のうち、コイル部6aの導体線31(すなわちコイル部6aを構成する導体線31)は、表面が絶縁被膜で被覆され(覆われ)ているが、端子部6bの導体線31(すなわち端子部6bを構成する導体線31)は、絶縁被膜が除去されており、導体部(導体の芯部)が露出された状態となっている。   As shown in FIGS. 9 to 13, the air-core coil 6 spirally winds (winds) a conductor wire (for example, a copper wire) 31 covered with an insulating film (insulating film, insulating film). The coil portion (coil body) 6a is formed by winding and two terminal portions 6b each formed of a conductor wire 31 connected to both ends of the coil portion 6a. The air core coil 6 is formed by one conductor wire 31, and the coil portion 6 a and the two terminal portions 6 b of the air core coil 6 are integrally formed by the same conductor wire 31. Among the conductor wires 31 constituting the air-core coil 6, the conductor wire 31 of the coil portion 6a (that is, the conductor wire 31 constituting the coil portion 6a) is covered (covered) with an insulating film. The conductor wire 31 of the terminal portion 6b (that is, the conductor wire 31 constituting the terminal portion 6b) is in a state where the insulating coating is removed and the conductor portion (conductor core portion) is exposed.

空芯コイル6の各端子部6b(を構成する導体線31)は、空芯コイル6のコイル部6aから離れる方向に向かう方向に延在し、半田32のような導電性の接合材を介して、配線基板3の上面3aの基板側端子12a(電極)に接合され、電気的に接続されている。半田32は、鉛(Pb)を含有しない鉛(Pb)フリー半田であれば、より好ましい。空芯コイル6のコイル部6a(の下部)は、配線基板3の上面(主面)3aに接触しており、空芯コイル6は配線基板3の上面3aに面実装されている。   Each terminal portion 6b of the air-core coil 6 (the conductor wire 31 constituting the air-core coil 6) extends in a direction toward the direction away from the coil portion 6a of the air-core coil 6, and through a conductive bonding material such as the solder 32. The wiring board 3 is joined and electrically connected to the board-side terminal 12a (electrode) on the upper surface 3a. The solder 32 is more preferably a lead (Pb) -free solder that does not contain lead (Pb). The coil portion 6 a (lower part) of the air core coil 6 is in contact with the upper surface (main surface) 3 a of the wiring substrate 3, and the air core coil 6 is surface-mounted on the upper surface 3 a of the wiring substrate 3.

空芯コイル6の端子部6b(を構成する導体線31)の延在方向は、空芯コイル6のコイル部6aから離れる方向であるが、空芯コイル6のコイル部6aのターン円の接線方向に、空芯コイル6の端子部6b(を構成する導体線31)を延在させることが、より好ましい。従って、空芯コイル6の端子部6b(を構成する導体線31)の延在方向は、配線基板3の上面3a(主面)に略平行な方向であればより好ましく、また、コイル部6aを構成する導体線31の螺旋の進行方向と略垂直な方向であれば、より好ましい。また、空芯コイル6の端子部6bに半田32を介して電気的に接続された基板側端子12aは、空芯コイル6のコイル部6aから離れた位置にあり、コイル部6aの下には、その基板側端子12aが延在していないことが好ましい。   The extending direction of the terminal portion 6b of the air-core coil 6 (the conductor wire 31 constituting the air-core coil 6) is a direction away from the coil portion 6a of the air-core coil 6, but the tangent to the turn circle of the coil portion 6a of the air-core coil 6 It is more preferable to extend the terminal portion 6b of the air-core coil 6 (conducting conductor wire 31) in the direction. Therefore, the extending direction of the terminal portion 6b of the air-core coil 6 (the conductor wire 31 constituting the air core coil 6) is more preferably a direction substantially parallel to the upper surface 3a (main surface) of the wiring board 3, and the coil portion 6a. It is more preferable if the direction is substantially perpendicular to the direction of spiral of the conductor wire 31 constituting the wire. Further, the board-side terminal 12a electrically connected to the terminal portion 6b of the air-core coil 6 via the solder 32 is located away from the coil portion 6a of the air-core coil 6, and below the coil portion 6a. The substrate side terminal 12a is preferably not extended.

本実施の形態とは異なり、出力整合回路(107A,107B)のインダクタ素子113aとして、空芯コイル6の代わりにチップインダクタを用いることも考えられるが、この場合、チップインダクタはQ値が低いことから、出力整合回路(107A,107B)での損失が大きくなり、RFパワーモジュールの電力付加効率が低下する可能性がある。出力整合回路には電力増幅回路102A,102Bで増幅されたRF信号が入力されるので、出力整合回路のインダクタ素子、特に上記インダクタ素子113aのQ値が低いと、そのインダクタ素子113aでの損失は大きく、RFパワーモジュールの電力付加効率を低下するように作用してしまう。このため、本実施の形態のように、出力整合回路(107A,107B)のインダクタ素子、特に上記インダクタ素子113aとして、チップインダクタよりもQ値を高くすることが容易な空芯コイルを用いることで、RFパワーモジュール1の電力付加効率などを向上することが可能になる。   Unlike the present embodiment, a chip inductor may be used instead of the air-core coil 6 as the inductor element 113a of the output matching circuit (107A, 107B). In this case, the chip inductor has a low Q value. Therefore, the loss in the output matching circuit (107A, 107B) increases, and the power added efficiency of the RF power module may be reduced. Since the RF signal amplified by the power amplifier circuits 102A and 102B is input to the output matching circuit, if the Q value of the inductor element of the output matching circuit, particularly the inductor element 113a is low, the loss in the inductor element 113a is reduced. It is large and acts to reduce the power addition efficiency of the RF power module. For this reason, as in the present embodiment, an air core coil whose Q value is easier to increase than the chip inductor is used as the inductor element of the output matching circuit (107A, 107B), particularly the inductor element 113a. It becomes possible to improve the power addition efficiency of the RF power module 1.

しかしながら、本発明者の検討によれば、出力整合回路(107A,107B)のインダクタ素子、特に上記インダクタ素子113aを単純に空芯コイルに置き換えただけでは、空芯コイルの実装信頼性の向上と実効的なQ値の向上の両立は実現できないことが分かった。   However, according to the study by the present inventor, simply replacing the inductor element of the output matching circuit (107A, 107B), particularly the inductor element 113a, with an air-core coil can improve the mounting reliability of the air-core coil. It was found that effective improvement of the Q value cannot be realized at the same time.

図14および図15は第1の比較例のRFパワーモジュール301の要部斜視図、図16は第1の比較例のRFパワーモジュール301の要部側面図であり、それぞれ本実施の形態の図9,図10,図13に対応するものであり、いずれも、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル306が示されている。図15は、図14において半田332の図示を省略したものに対応し、理解を簡単にするために、空芯コイル306を構成する導体線331のうち、絶縁被膜が除去されている部分(すなわち導体部が露出している部分)にハッチングを付してある。また、図14には、空芯コイル306で生じる磁束(磁界)333を点線で模式的に示してある。   FIGS. 14 and 15 are perspective views of main parts of the RF power module 301 of the first comparative example, and FIG. 16 is a side view of main parts of the RF power module 301 of the first comparative example. 9, FIG. 10, and FIG. 13, all show an air-core coil 306 that is seen through the sealing resin 7 and mounted on the wiring board 3. FIG. 15 corresponds to the solder 332 not shown in FIG. 14, and for the sake of easy understanding, a portion of the conductor wire 331 constituting the air-core coil 306 from which the insulating film has been removed (ie, The portion where the conductor portion is exposed is hatched. In FIG. 14, a magnetic flux (magnetic field) 333 generated by the air-core coil 306 is schematically shown by a dotted line.

第1の比較例のRFパワーモジュール301は、空芯コイル306(本実施の形態の空芯コイル6に対応するもの)およびそれを接続する基板側端子312a(本実施の形態の基板側端子12aに対応するもの)以外は、本実施の形態のRFパワーモジュール1とほぼ同様の構成を有しているので、ここではその説明は省略する。   The RF power module 301 of the first comparative example includes an air-core coil 306 (corresponding to the air-core coil 6 of the present embodiment) and a substrate-side terminal 312a (the substrate-side terminal 12a of the present embodiment) that connects it. Other than the above, the configuration is almost the same as that of the RF power module 1 of the present embodiment, and the description thereof is omitted here.

図14〜図16に示される第1の比較例のRFパワーモジュール301では、空芯コイル306は、絶縁被膜で覆われた導体線331(本実施の形態の導体線31に対応するもの)を螺旋状に複数回巻くことにより形成されており、空芯コイル306の両端部で導体線331の絶縁被膜が剥がされて端子部306bとされている。そして、空芯コイル306の両端の下にそれぞれ延在する基板側端子312aに、空芯コイル306の端子部306bを半田332で接合している。   In the RF power module 301 of the first comparative example shown in FIGS. 14 to 16, the air-core coil 306 has a conductor wire 331 (corresponding to the conductor wire 31 of the present embodiment) covered with an insulating film. It is formed by winding a plurality of times in a spiral shape, and the insulating film of the conductor wire 331 is peeled off at both ends of the air-core coil 306 to form the terminal portion 306b. The terminal portions 306b of the air-core coil 306 are joined by solder 332 to the board-side terminals 312a extending under both ends of the air-core coil 306, respectively.

第1の比較例のRFパワーモジュール301では、巻き線(導体線331)の両外側2ターン(2巻き)分だけ絶縁被膜を剥がして端子部306bとし、その絶縁被膜が除去された2巻きの導体線331からなる端子部306bを端子部306bの下に延在する基板側端子312aに半田332で接合している。第1の比較例のRFパワーモジュール301において、導体線331の絶縁被膜を剥がした部分を空芯コイル306の巻き線の両外側2ターン(2巻き)よりも少なくした場合、基板側端子312aと空芯コイル306の端子部306bとの接合面積が少なくなり、空芯コイル306の実装信頼性が低下する可能性がある。それに対して、第1の比較例のRFパワーモジュール301では、巻き線の両外側2ターン(2巻き)分だけ絶縁被膜を剥がして端子部306bとしているので、基板側端子312aと空芯コイル306の端子部306bとの接合面積を大きくすることができ、空芯コイル306の実装信頼性を向上することができる。   In the RF power module 301 of the first comparative example, the insulating coating is peeled off by two turns (two windings) on both outer sides of the winding (conductor wire 331) to form the terminal portion 306b, and the two windings with the insulating coating removed. A terminal portion 306b made of a conductor wire 331 is joined to a board side terminal 312a extending below the terminal portion 306b by solder 332. In the RF power module 301 of the first comparative example, when the portion where the insulating film of the conductor wire 331 is peeled off is less than the two outer turns (two turns) of the winding of the air-core coil 306, the board-side terminal 312a There is a possibility that the bonding area of the air-core coil 306 with the terminal portion 306b is reduced, and the mounting reliability of the air-core coil 306 is lowered. On the other hand, in the RF power module 301 of the first comparative example, the insulating coating is peeled off for two turns (two turns) on both outer sides of the winding to form the terminal portion 306b. The bonding area with the terminal portion 306b can be increased, and the mounting reliability of the air-core coil 306 can be improved.

しかしながら、第1の比較例のRFパワーモジュール301では、配線基板への実装信頼性を向上するために両外側2ターン分だけ導体線331の絶縁被膜を剥がしているので、配線基板3に空芯コイル306を半田332で実装した際に、絶縁被膜を剥がした部分の導体線331に半田332が吸い上がり、図14および図16にも示されるように、空芯コイル306の外側面(外側壁)に半田332が吸い上がって付着してしまう。   However, in the RF power module 301 of the first comparative example, the insulating film of the conductor wire 331 is peeled off for two turns on both outer sides in order to improve the mounting reliability on the wiring board. When the coil 306 is mounted with the solder 332, the solder 332 is sucked into the conductor wire 331 where the insulating film is peeled off, and as shown in FIGS. 14 and 16, the outer surface (outer wall) of the air-core coil 306 is also shown. ), Solder 332 is sucked up and attached.

本発明者の検討によれば、空芯コイル306の外側面に半田332が吸い上がって付着すると、空芯コイル306により発生する磁束(磁界)333の一部が空芯コイル306の外側面に付着した半田332の影響で遮蔽されて磁束密度が低下し、空芯コイル306の実効的なQ値が低下し、空芯コイル306における渦電流損失が大きくなる可能性があることが分かった。これは、出力整合回路(107A,107B)での損失を大きくし、RFパワーモジュールの電力付加効率などを低下させるように作用する。このように、第1の比較例のRFパワーモジュール301では、空芯コイルの実装信頼性の向上と実効的なQ値の向上を両立することは困難である。   According to the study of the present inventor, when the solder 332 sucks up and adheres to the outer surface of the air core coil 306, a part of the magnetic flux (magnetic field) 333 generated by the air core coil 306 is formed on the outer surface of the air core coil 306. It has been found that there is a possibility that the magnetic flux density is reduced due to the influence of the attached solder 332, the effective Q value of the air-core coil 306 is lowered, and the eddy current loss in the air-core coil 306 is increased. This acts to increase the loss in the output matching circuit (107A, 107B) and to reduce the power added efficiency of the RF power module. Thus, in the RF power module 301 of the first comparative example, it is difficult to achieve both improvement in mounting reliability of the air-core coil and improvement in effective Q value.

図17は、第2の比較例のRFパワーモジュール401の要部側面図であり、本実施の形態の図13に対応するものであり、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル406が示されている。   FIG. 17 is a side view of an essential part of the RF power module 401 of the second comparative example, which corresponds to FIG. 13 of the present embodiment, and is mounted on the wiring board 3 through the sealing resin 7. An air core coil 406 is shown.

図17に示されるように、第2の比較例のRFパワーモジュール401では、空芯コイル406(本実施の形態の空芯コイル6に対応するもの)は、導体線431(本実施の形態の導体線31に対応するもの)を螺旋状に複数回巻くことにより形成されるコイル本体406aの両端で、導体線431をコイル本体406aの外径より長くなるように下方に垂下し、両端部を互いに内側方向に折曲して半田付け端部(端子部)406bを形成している。コイル本体406aでは、導体線431の表面は絶縁被膜で覆われているが、半田付け端部406bでは、導体線431の絶縁被膜は剥がされている。そして、この半田付け端部406bを配線基板3の基板側端子412a(本実施の形態の基板側端子12aに対応するもの)に半田432で接合している。   As shown in FIG. 17, in the RF power module 401 of the second comparative example, the air-core coil 406 (corresponding to the air-core coil 6 of the present embodiment) is a conductor wire 431 (of the present embodiment). The conductor wire 431 is hung down at both ends of the coil body 406a formed by spirally winding the wire (corresponding to the conductor wire 31) so as to be longer than the outer diameter of the coil body 406a. The soldering end portions (terminal portions) 406b are formed by bending inward from each other. In the coil main body 406a, the surface of the conductor wire 431 is covered with an insulating film, but the insulating film of the conductor wire 431 is peeled off at the soldering end 406b. The soldering end 406b is joined to the board-side terminal 412a (corresponding to the board-side terminal 12a of the present embodiment) of the wiring board 3 with solder 432.

第2の比較例のRFパワーモジュール401では、空芯コイル406の半田実装の信頼性を向上できるが、空芯コイル406のコイル本体406aが配線基板3の上面3aから高く浮いた状態になるので、空芯コイル406の最上部の高さ位置が高くなり、RFパワーモジュール401の厚みが厚くなってしまう。これは、近年のRFパワーモジュールの小型化・薄型化の要求とは逆行してしまう。   In the RF power module 401 of the second comparative example, the solder mounting reliability of the air-core coil 406 can be improved, but the coil body 406a of the air-core coil 406 is in a state of being floated high from the upper surface 3a of the wiring board 3. As a result, the height position of the uppermost portion of the air-core coil 406 is increased, and the thickness of the RF power module 401 is increased. This goes against the recent demand for smaller and thinner RF power modules.

図18は、第3の比較例のRFパワーモジュール501の要部断面図(側面断面図)であり、封止樹脂7の図示を省略し、配線基板503上に実装された空芯コイル506が示されている。   FIG. 18 is a cross-sectional view (side cross-sectional view) of the main part of the RF power module 501 of the third comparative example, the illustration of the sealing resin 7 is omitted, and an air-core coil 506 mounted on the wiring board 503 is provided. It is shown.

図18に示されるように、第3の比較例のRFパワーモジュール501では、空芯コイル506(本実施の形態の空芯コイル6に対応するもの)は、絶縁被膜で覆われた導体線531(本実施の形態の導体線31に対応するもの)を螺旋状に複数回巻くことにより形成されている。そして、空芯コイル506の両端の絶縁被膜を剥いだ導体線531からなる端子部506bを、配線基板503(本実施の形態の配線基板3に対応するもの)の上面503aに設けられた孔部534に挿入して孔部534の内壁に形成された導体膜からなる基板側端子512aに半田532で接合している。   As shown in FIG. 18, in the RF power module 501 of the third comparative example, the air core coil 506 (corresponding to the air core coil 6 of the present embodiment) is a conductor wire 531 covered with an insulating film. It is formed by winding a spiral (corresponding to the conductor wire 31 of the present embodiment) a plurality of times. Then, a terminal portion 506b made of the conductor wire 531 from which the insulating coating at both ends of the air-core coil 506 is peeled off is provided in a hole provided in the upper surface 503a of the wiring board 503 (corresponding to the wiring board 3 of the present embodiment). It is inserted into 534 and joined to a substrate-side terminal 512 a made of a conductor film formed on the inner wall of the hole 534 with solder 532.

第3の比較例のRFパワーモジュール501では、空芯コイル506の端子部506bを配線基板503の孔部534に挿入して半田実装しているので、空芯コイル506の半田実装の信頼性を向上できる。しかしながら、第3の比較例のRFパワーモジュール501では、配線基板503に孔部534および孔部534の側壁の基板側端子512aを形成する必要があるので、配線基板503の加工が難しく、配線基板503の製造工程が複雑化し、配線基板503およびそれを用いたRFパワーモジュール501の製造コストが増大してしまう。また、配線基板503への空芯コイル506の実装工程も複雑化してしまう。   In the RF power module 501 of the third comparative example, since the terminal portion 506b of the air core coil 506 is inserted into the hole 534 of the wiring board 503 and soldered, the reliability of the solder mounting of the air core coil 506 is improved. Can be improved. However, in the RF power module 501 of the third comparative example, since it is necessary to form the hole 534 and the board-side terminal 512a on the side wall of the hole 534 in the wiring board 503, it is difficult to process the wiring board 503. The manufacturing process of 503 becomes complicated, and the manufacturing cost of the wiring board 503 and the RF power module 501 using the wiring board 503 increases. Further, the mounting process of the air-core coil 506 on the wiring board 503 is complicated.

それに対して、本実施の形態では、図9〜図13にも示されるように、空芯コイル6の端子部6bは、空芯コイル6のコイル部6aから離れる方向に向かう方向に延在し、コイル部6aから離れた位置にある基板側端子12aに、半田32により接合されて電気的に接続されている。空芯コイル6の端子部6bを空芯コイル6のコイル部6aから離れる方向に向かう方向に延在させているので、絶縁被膜を剥がした(除去した)状態の導体線31からなる端子部6bの長さを長くすることができ、基板側端子12a上に位置する端子部6bの長さを長くすることができる。このため、基板側端子12aと空芯コイル6の端子部6bとの接合面積を大きくすることができ、配線基板3への空芯コイル6の実装(半田実装)の信頼性を向上することができる。   On the other hand, in the present embodiment, as shown in FIGS. 9 to 13, the terminal portion 6 b of the air-core coil 6 extends in the direction away from the coil portion 6 a of the air-core coil 6. The substrate side terminal 12a located away from the coil portion 6a is joined and electrically connected by solder 32. Since the terminal portion 6b of the air-core coil 6 extends in the direction away from the coil portion 6a of the air-core coil 6, the terminal portion 6b made of the conductor wire 31 in a state where the insulating coating is removed (removed). The length of the terminal portion 6b positioned on the board-side terminal 12a can be increased. For this reason, the bonding area between the board-side terminal 12a and the terminal portion 6b of the air-core coil 6 can be increased, and the reliability of mounting the air-core coil 6 on the wiring board 3 (solder mounting) can be improved. it can.

また、本実施の形態では、空芯コイル6の端子部6bを空芯コイル6のコイル部6aから離れる方向に向かう方向に延在させているので、空芯コイル6のコイル部6aを基板側端子12aから離れた位置に配置することができる。このため、空芯コイル6の端子部6bでは、導体線31の絶縁被膜が除去された(剥がされた)状態であるが、空芯コイル6のコイル部6aでは、導体線31が絶縁被膜で覆われた状態とすることができる。半田実装時には、空芯コイル6を構成する導体線31の絶縁被膜を除去した(剥いだ)部分でだけ半田が吸い上がることができ、導体線31の絶縁被膜で覆われた部分では半田は吸い上がらない。従って、配線基板3に空芯コイル6を半田32で実装した際に(すなわち空芯コイル6の端子部6bを基板側端子12aに半田32で接合した際に)、空芯コイル6を構成する導体線31のうち、端子部6b以外の部分(すなわちコイル部6a)に半田32が吸い上がるのを防止することができ、空芯コイル6の外側面に半田32が吸い上がって付着するのを防止できる。また、空芯コイル6の端子部6bを接続した基板側端子12aが、空芯コイル6のコイル部6aの下に延在していないことも、空芯コイル6の外側面への半田32の吸い上がり防止に有利に作用する。   In the present embodiment, since the terminal portion 6b of the air-core coil 6 is extended in the direction away from the coil portion 6a of the air-core coil 6, the coil portion 6a of the air-core coil 6 is placed on the substrate side. It can arrange | position in the position away from the terminal 12a. For this reason, in the terminal portion 6b of the air-core coil 6, the insulating coating of the conductor wire 31 is removed (peeled), but in the coil portion 6a of the air-core coil 6, the conductor wire 31 is an insulating coating. It can be in a covered state. At the time of solder mounting, the solder can be sucked up only at the portion where the insulating coating of the conductor wire 31 constituting the air-core coil 6 is removed (peeled), and the solder is absorbed at the portion covered with the insulating coating of the conductor wire 31. Does not rise. Therefore, when the air-core coil 6 is mounted on the wiring board 3 with the solder 32 (that is, when the terminal portion 6b of the air-core coil 6 is joined to the board-side terminal 12a with the solder 32), the air-core coil 6 is configured. It is possible to prevent the solder 32 from being sucked into a portion of the conductor wire 31 other than the terminal portion 6b (that is, the coil portion 6a), and the solder 32 is sucked up and attached to the outer surface of the air-core coil 6. Can be prevented. In addition, the fact that the board-side terminal 12 a connected to the terminal portion 6 b of the air-core coil 6 does not extend below the coil portion 6 a of the air-core coil 6 indicates that the solder 32 on the outer surface of the air-core coil 6 It works to prevent sucking up.

このため、本実施の形態では、上記第1の比較例のRFパワーモジュール301を参照して説明した空芯コイルにより発生する磁束(磁界)の一部が空芯コイルの外側面に付着した半田の影響で遮蔽される現象を防止でき、空芯コイル6における磁束密度の低下を防止できるので、空芯コイル6の実効的なQ値を向上でき、空芯コイル6における渦電流損失を低減することができる。従って、出力整合回路(107A,107B)での損失を小さくでき、RFパワーモジュール1の電力付加効率などを向上させることができる。このように、本実施の形態では、空芯コイル6の実装信頼性の向上と実効的なQ値の向上を両立することができ、RFパワーモジュール1の信頼性と性能(電力付加効率など)を向上して、両立することができる。   For this reason, in this embodiment, the solder in which a part of the magnetic flux (magnetic field) generated by the air core coil described with reference to the RF power module 301 of the first comparative example is attached to the outer surface of the air core coil. The phenomenon of being shielded by the influence of the air core coil 6 can be prevented, and the decrease in the magnetic flux density in the air core coil 6 can be prevented, so that the effective Q value of the air core coil 6 can be improved and the eddy current loss in the air core coil 6 can be reduced. be able to. Therefore, the loss in the output matching circuit (107A, 107B) can be reduced, and the power added efficiency of the RF power module 1 can be improved. Thus, in this embodiment, it is possible to achieve both improvement in mounting reliability of the air-core coil 6 and improvement in effective Q value, and reliability and performance (power added efficiency, etc.) of the RF power module 1. Can be improved.

また、本実施の形態では、配線基板3の上面3aに形成した基板側端子12aに空芯コイル6の端子部6bを半田32を介して接合するので、配線基板3の加工が容易で、配線基板3およびそれを用いたRFパワーモジュール1の製造コストを低減でき、また、配線基板3への空芯コイル6の実装も容易になる。   In the present embodiment, since the terminal portion 6b of the air-core coil 6 is joined to the board-side terminal 12a formed on the upper surface 3a of the wiring board 3 via the solder 32, the wiring board 3 can be easily processed, and the wiring The manufacturing cost of the board 3 and the RF power module 1 using the board 3 can be reduced, and the air-core coil 6 can be easily mounted on the wiring board 3.

また、本実施の形態では、空芯コイル6を配線基板3の上面3aに面実装しており、空芯コイル6のコイル部6aが配線基板3の上面3aに接触(近接)しているので、上記第2の比較例のRFパワーモジュール401などに比べて、空芯コイル6の最上部の高さ位置を低くすることができ、RFパワーモジュール1の厚みを薄くすることができる。これにより、RFパワーモジュールの小型化・薄型化が可能になる。   In the present embodiment, the air core coil 6 is surface-mounted on the upper surface 3 a of the wiring board 3, and the coil portion 6 a of the air core coil 6 is in contact (close proximity) with the upper surface 3 a of the wiring board 3. Compared with the RF power module 401 or the like of the second comparative example, the uppermost height position of the air-core coil 6 can be lowered, and the thickness of the RF power module 1 can be reduced. Thereby, the RF power module can be reduced in size and thickness.

図19は、空芯コイルのL値(インダクタンス値)の一例を示すグラフであり、図20は、空芯コイルのQ値の一例を示すグラフである。図19および図20のグラフの横軸は、周波数(RFパワーモジュールの送信周波数)に対応する。また、図19のグラフの縦軸は、空芯コイルのL値(インダクタンス値)に対応する。また、図20のグラフの縦軸は、空芯コイルのQ値に対応する。図19および図20のグラフには、本実施の形態のRFパワーモジュール1の空芯コイル6(図19および図20では実線で示されている)と、第1の比較例のRFパワーモジュール301の空芯コイル306(図19および図20では、点線で示されている)について、インダクタンス値およびQ値の周波数依存性を調べて、その一例をグラフ化してある。   FIG. 19 is a graph showing an example of the L value (inductance value) of the air-core coil, and FIG. 20 is a graph showing an example of the Q-value of the air-core coil. The horizontal axis of the graphs of FIGS. 19 and 20 corresponds to the frequency (the transmission frequency of the RF power module). Further, the vertical axis of the graph of FIG. 19 corresponds to the L value (inductance value) of the air-core coil. Further, the vertical axis of the graph of FIG. 20 corresponds to the Q value of the air-core coil. In the graphs of FIGS. 19 and 20, the air-core coil 6 (shown by a solid line in FIGS. 19 and 20) of the RF power module 1 of the present embodiment and the RF power module 301 of the first comparative example are shown. For the air-core coil 306 (shown by dotted lines in FIGS. 19 and 20), the frequency dependence of the inductance value and the Q value is examined, and an example thereof is graphed.

RFパワーモジュールの送信周波数帯近傍(例えば1GHz近傍)で比較すると、図19および図20に示されるように、インダクタンス値(L値)はそれほど変わらなくとも(例えば図19の場合はインダクタンス値の差は十数%程度である)、本実施の形態のRFパワーモジュール1の空芯コイル6のQ値は、第1の比較例のRFパワーモジュール301の空芯コイル306のQ値の約2倍とすることができる。このように、本実施の形態では、RFパワーモジュール1の空芯コイル6の実効的なQ値を高めることができ、空芯コイル6の低損失化が実現できる。   When compared in the vicinity of the transmission frequency band of the RF power module (for example, near 1 GHz), as shown in FIGS. 19 and 20, even if the inductance value (L value) does not change so much (for example, in the case of FIG. 19, the difference in inductance value). The Q value of the air core coil 6 of the RF power module 1 of the present embodiment is about twice the Q value of the air core coil 306 of the RF power module 301 of the first comparative example. It can be. Thus, in this Embodiment, the effective Q value of the air core coil 6 of the RF power module 1 can be raised, and the loss reduction of the air core coil 6 is realizable.

図21は、RFパワーモジュールの電力付加効率を示すグラフである。図21のグラフの横軸は周波数(RFパワーモジュールの送信周波数)に対応し、図21のグラフの縦軸はRFパワーモジュールの電力付加効率に対応する。図21のグラフには、本実施の形態のRFパワーモジュール1(図21のグラフでは実線で示されている)と、第1の比較例のRFパワーモジュール301(図21のグラフでは点線で示されている)と、出力整合回路においてインダクタ素子113a(空芯コイル6)を省略した第4の比較例のRFパワーモジュール(図21のグラフでは一点鎖線で示されている)とについて、電力付加効率の周波数依存性を調べてグラフ化してある。すなわち、図21において、「本実施の形態」は、出力整合回路の上記インダクタ素子113aを上記空芯コイル6により構成したRFパワーモジュール1に対応し、「第1の比較例」は、出力整合回路の上記インダクタ素子113aを上記空芯コイル306により構成したRFパワーモジュール301に対応し、「第4の比較例」は、上記インダクタ素子113aをなくして出力整合回路を構成したRFパワーモジュールに対応する。   FIG. 21 is a graph showing the power added efficiency of the RF power module. The horizontal axis of the graph of FIG. 21 corresponds to the frequency (transmission frequency of the RF power module), and the vertical axis of the graph of FIG. 21 corresponds to the power added efficiency of the RF power module. In the graph of FIG. 21, the RF power module 1 of the present embodiment (shown by a solid line in the graph of FIG. 21) and the RF power module 301 of the first comparative example (shown by a dotted line in the graph of FIG. 21). And an RF power module of the fourth comparative example (indicated by a one-dot chain line in the graph of FIG. 21) in which the inductor element 113a (air-core coil 6) is omitted in the output matching circuit. The frequency dependence of efficiency is examined and graphed. That is, in FIG. 21, “the present embodiment” corresponds to the RF power module 1 in which the inductor element 113a of the output matching circuit is configured by the air core coil 6, and the “first comparative example” is the output matching circuit. The inductor element 113a of the circuit corresponds to the RF power module 301 configured by the air-core coil 306, and the “fourth comparative example” corresponds to the RF power module configured by eliminating the inductor element 113a and configuring the output matching circuit. To do.

図21に示されるように、出力整合回路にインダクタ素子113aを導入した本実施の形態および第1の比較例のRFパワーモジュールは、出力整合回路にインダクタ素子113aを導入していない第4の比較例のRFパワーモジュールに比べて、電力付加効率の周波数特性を広帯域化できる、すなわち、より広い周波数帯に渡って電力付加効率を高めることができる。このため、出力整合回路にインダクタ素子113aを導入することにより、USGSM帯(824〜849MHz)とEUGSM帯(880〜915MHz)との両方で、電力付加効率を高めることができる。従って、1つの電力増幅回路102Aで複数(ここでは2つ)の周波数帯、すなわちUSGSM帯およびEUGSM帯の高周波信号を的確かつ効率よく増幅することができる。   As shown in FIG. 21, the RF power module of the present embodiment and the first comparative example in which the inductor element 113a is introduced into the output matching circuit is the fourth comparison in which the inductor element 113a is not introduced into the output matching circuit. Compared to the RF power module of the example, the frequency characteristic of the power added efficiency can be widened, that is, the power added efficiency can be increased over a wider frequency band. For this reason, by introducing the inductor element 113a to the output matching circuit, it is possible to increase the power added efficiency in both the USGSM band (824 to 849 MHz) and the EUGSM band (880 to 915 MHz). Therefore, a single power amplifier circuit 102A can accurately and efficiently amplify a plurality (here, two) of frequency bands, that is, high-frequency signals in the USGSM band and the EUGSM band.

更に、図21に示されるように、GSM帯の送信周波数(824〜915MHz)、すなわちUSGSM帯とEUGSM帯との両方の送信周波数帯において、本実施の形態のRFパワーモジュール1は、上記のように空芯コイル6の実効的なQ値を高めることができたことから、第1の比較例のRFパワーモジュール301よりも、数%程度、電力付加効率を向上することができる。   Furthermore, as shown in FIG. 21, in the GSM band transmission frequency (824 to 915 MHz), that is, in both the USGSM band and the EUGSM band, the RF power module 1 of the present embodiment is as described above. In addition, since the effective Q value of the air-core coil 6 can be increased, the power added efficiency can be improved by about several percent compared with the RF power module 301 of the first comparative example.

なお、図21には、RFパワーモジュールにおいて、電力増幅回路102Aにより高周波信号を増幅した場合について電力付加効率をグラフ化しているが、DCS帯(1710〜1785MHz)およびPCS帯(1850〜1910MHz)の高周波信号について電力増幅回路102Bにより高周波信号を増幅した場合についても、ほぼ同様の結果が得られるので、ここではその説明は省略する。   In FIG. 21, in the RF power module, the power addition efficiency is graphed when the high-frequency signal is amplified by the power amplifier circuit 102A, but in the DCS band (1710 to 1785 MHz) and the PCS band (1850 to 1910 MHz). Since the same result can be obtained when the high frequency signal is amplified by the power amplifier circuit 102B, the description thereof is omitted here.

このように、本実施の形態では、RFパワーモジュール1の出力整合回路(の特にインダクタ素子113a)に面実装型の低損失の空芯コイル6を使用することで、電力付加効率などの性能(モジュール特性)を向上することができる。   As described above, in the present embodiment, by using the surface mount type low-loss air-core coil 6 for the output matching circuit (in particular, the inductor element 113a) of the RF power module 1, performance such as power added efficiency ( Module characteristics) can be improved.

次に、本実施の形態のRFパワーモジュール1の製造工程の一例を図面を参照して説明する。   Next, an example of the manufacturing process of the RF power module 1 of the present embodiment will be described with reference to the drawings.

図22〜図24は、本実施の形態のRFパワーモジュール1の製造工程中の断面図である。本実施の形態のRFパワーモジュール1は、例えば次のようにして製造することができる。   22-24 is sectional drawing in the manufacturing process of RF power module 1 of this Embodiment. The RF power module 1 of the present embodiment can be manufactured as follows, for example.

まず、図22に示されるように、配線基板3を準備する。配線基板3は、例えば印刷法、シート積層法またはビルドアップ法などを用いて製造することができる。   First, as shown in FIG. 22, the wiring board 3 is prepared. The wiring board 3 can be manufactured using, for example, a printing method, a sheet lamination method, a build-up method, or the like.

次に、図23に示されるように、配線基板3の半導体チップ2、受動部品4および空芯コイル6などを搭載予定の基板側端子12aに半田などの接合材を必要に応じて印刷または塗布する。そして、配線基板3の上面3a上に半導体チップ2、受動部品4および空芯コイル6を搭載する。この際、半導体チップ2は、裏面側(裏面電極2b側)が下方(配線基板3側)を向き、表面側が上方を向くように(フェイスアップボンディング)、配線基板3の上面3aの導体層14上に搭載される。   Next, as shown in FIG. 23, a bonding material such as solder is printed or applied to the board-side terminal 12a on which the semiconductor chip 2, the passive component 4, the air core coil 6 and the like of the wiring board 3 are to be mounted as necessary. To do. Then, the semiconductor chip 2, the passive component 4 and the air core coil 6 are mounted on the upper surface 3 a of the wiring board 3. At this time, the semiconductor chip 2 has a conductor layer 14 on the upper surface 3a of the wiring substrate 3 such that the back surface side (back surface electrode 2b side) faces downward (wiring substrate 3 side) and the front surface side faces upward (face-up bonding). Mounted on top.

それから、半田リフロー処理などを行って、半導体チップ2、受動部品4および空芯コイル6を配線基板3に半田などの接合材を介して固着(接続)する。   Then, a solder reflow process or the like is performed, and the semiconductor chip 2, the passive component 4, and the air core coil 6 are fixed (connected) to the wiring substrate 3 via a bonding material such as solder.

次に、ワイヤボンディング工程を行って、半導体チップ3の表面の電極(ボンディングパッド)2aと配線基板3の上面3aの基板側端子12aとをボンディングワイヤ8を介して電気的に接続する。   Next, a wire bonding step is performed to electrically connect the electrodes (bonding pads) 2 a on the surface of the semiconductor chip 3 and the substrate-side terminals 12 a on the upper surface 3 a of the wiring substrate 3 through the bonding wires 8.

次に、図24に示されるように、配線基板3の上面3a上に、半導体チップ2、受動部品4、空芯コイル6およびボンディングワイヤ8を覆うように、封止樹脂7を形成する。封止樹脂7は、例えば印刷法またはモールド用金型(例えばトランスファモールド)などを用いて形成することができる。このようにして、RFパワーモジュール1が製造される。1枚の配線基板3から複数のRFパワーモジュール1を製造する場合は、封止樹脂7の形成後、配線基板3および封止樹脂7を所定の位置で分割(切断)し、各個片としてのRFパワーモジュール1を得ることができる。   Next, as shown in FIG. 24, a sealing resin 7 is formed on the upper surface 3 a of the wiring substrate 3 so as to cover the semiconductor chip 2, the passive component 4, the air core coil 6, and the bonding wire 8. The sealing resin 7 can be formed using, for example, a printing method or a mold for molding (for example, transfer mold). In this way, the RF power module 1 is manufactured. In the case of manufacturing a plurality of RF power modules 1 from a single wiring board 3, after the sealing resin 7 is formed, the wiring board 3 and the sealing resin 7 are divided (cut) at predetermined positions to obtain individual pieces. The RF power module 1 can be obtained.

次に、本実施の形態のRFパワーモジュール1の製造工程のうち、空芯コイル6の製造工程および配線基板3上への空芯コイル6の実装(搭載)工程の一例について説明する。   Next, an example of the manufacturing process of the air core coil 6 and the mounting (mounting) process of the air core coil 6 on the wiring substrate 3 among the manufacturing processes of the RF power module 1 of the present embodiment will be described.

図25〜図29は、本実施の形態のRFパワーモジュール1に用いられる空芯コイル6の製造工程および実装工程の説明図である。本実施の形態で用いられる空芯コイル6は、例えば次のようにして製造し、配線基板3に実装することができる。   25 to 29 are explanatory diagrams of the manufacturing process and mounting process of the air-core coil 6 used in the RF power module 1 of the present embodiment. The air-core coil 6 used in the present embodiment can be manufactured, for example, as follows and mounted on the wiring board 3.

まず、図25に示されるように、製造装置(空芯コイルの自動巻き装置、空芯コイルの製造装置)のスリーブ281から突出する巻芯(巻き付け芯)282に銅線(絶縁被膜付きの銅線)などからなる導体線31を所定の回数巻きつけてから、導体線31を所定の位置で切断する。これにより、導体線31からなる空芯コイル6が巻芯282に巻きつけられた状態が得られる。この際、空芯コイル6のコイル本体(コイル部6a)の導体線31は絶縁被膜で覆われているが、空芯コイル6の両端の導体線31(すなわち端子部6b)は、絶縁被膜が除去されて、巻芯282から離れる方向に(巻芯282の外周円の接線方向に)所定の長さだけ延在した状態とされている。   First, as shown in FIG. 25, a copper wire (copper with an insulating coating) is formed on a winding core (winding core) 282 protruding from a sleeve 281 of a manufacturing apparatus (air core coil automatic winding apparatus, air core coil manufacturing apparatus). After the conductor wire 31 made of a wire) is wound a predetermined number of times, the conductor wire 31 is cut at a predetermined position. Thereby, a state in which the air-core coil 6 made of the conductor wire 31 is wound around the winding core 282 is obtained. At this time, the conductor wire 31 of the coil main body (coil portion 6a) of the air-core coil 6 is covered with an insulating coating, but the conductor wire 31 (that is, the terminal portion 6b) at both ends of the air-core coil 6 has an insulating coating. It is removed and is in a state of extending a predetermined length in the direction away from the core 282 (in the tangential direction of the outer circumference of the core 282).

次に、図26に示されるように、下方からバックアップステージ284が上昇し、上方から実装用ノズル285が下降し、巻芯282に巻きつけられた空芯コイル6を実装用ノズル285とバックアップステージ284とで挟む。なお、図27は図26の矢印286の方向から実装用ノズル285と空芯コイル6を見た図であり、図27に示されるように、実装用ノズル285は吸着用の開口部(孔)を有した半円形状の先端部を備えており、その先端部に空芯コイル6を吸着可能に構成されている。   Next, as shown in FIG. 26, the backup stage 284 is raised from below, the mounting nozzle 285 is lowered from above, and the air core coil 6 wound around the winding core 282 is connected to the mounting nozzle 285 and the backup stage. 284. 27 is a view of the mounting nozzle 285 and the air-core coil 6 as viewed from the direction of the arrow 286 in FIG. 26. As shown in FIG. 27, the mounting nozzle 285 has an opening (hole) for suction. A semi-circular tip portion having a tip is provided, and the air-core coil 6 can be adsorbed to the tip portion.

次に、図28に示されるように、スリーブ281に対して巻芯282を引っ込め、導体線31からなる空芯コイル6から巻芯282を引き抜く(抜き取る)。これにより、螺旋状に巻かれた導体線31からなる空芯コイル6が得られるが、この空芯コイル6は、空芯コイル6から巻芯282が抜き取られても、実装用ノズル285に吸着(ピックアップ)されている。   Next, as shown in FIG. 28, the core 282 is retracted with respect to the sleeve 281, and the core 282 is extracted (extracted) from the air-core coil 6 formed of the conductor wire 31. As a result, the air-core coil 6 composed of the spirally wound conductor wire 31 is obtained. This air-core coil 6 is attracted to the mounting nozzle 285 even if the core 282 is removed from the air-core coil 6. (Pick up)

それから、図29に示されるように、実装用ノズル285を上昇させ、バックアップステージ284を下降させ、実装用ノズル285に吸着(ピックアップ)された空芯コイル6を実装用ノズル285とともに移動させ、この空芯コイル6を配線基板3(図29では図示省略)上に実装する。すなわち、実装用ノズル285に吸着された空芯コイル6を実装用ノズル285とともに配線基板3上に移動させ、配線基板3の上面3aの空芯コイル6の搭載予定位置上に空芯コイル6を配置する。この際、配線基板3の基板側端子12a(空芯コイル6を接続すべき基板側端子12a)上に、空芯コイル6の端子部6bが位置するようにする。このように、実装用ノズル285に吸着された空芯コイル6を、部品フィーダなどに備蓄することなく、速やかに配線基板3の上面3aに実装する。   Then, as shown in FIG. 29, the mounting nozzle 285 is raised, the backup stage 284 is lowered, and the air-core coil 6 attracted (pickup) to the mounting nozzle 285 is moved together with the mounting nozzle 285. The air-core coil 6 is mounted on the wiring board 3 (not shown in FIG. 29). That is, the air core coil 6 adsorbed by the mounting nozzle 285 is moved onto the wiring board 3 together with the mounting nozzle 285, and the air core coil 6 is placed on the planned mounting position of the air core coil 6 on the upper surface 3 a of the wiring board 3. Deploy. At this time, the terminal portion 6b of the air-core coil 6 is positioned on the board-side terminal 12a of the wiring board 3 (the board-side terminal 12a to which the air-core coil 6 is connected). Thus, the air-core coil 6 attracted by the mounting nozzle 285 is quickly mounted on the upper surface 3a of the wiring board 3 without being stored in a component feeder or the like.

それから、図25〜図29の工程を繰り返す。   Then, the steps of FIGS. 25 to 29 are repeated.

本実施の形態とは異なり、部品フィーダ(バルクフィーダ)の収納ケースなどに大量の空芯コイルを備蓄しておき、備蓄された大量の空芯コイルから1個の空芯コイル6を取り出して配線基板3上に実装する場合、空芯コイル同士が絡み合い、空芯コイルのピックアップ不良が発生する可能性がある。   Unlike this embodiment, a large amount of air-core coils are stored in a storage case of a component feeder (bulk feeder), and one air-core coil 6 is taken out from the stored large number of air-core coils and wired. When mounted on the substrate 3, the air-core coils may be entangled with each other, which may cause a pickup failure of the air-core coil.

それに対して、本実施の形態では、上記のように、空芯コイルの自動巻き装置の巻芯282に導体線31を巻きつけてから導体線31を切断し、巻芯282を引き抜くことで1個の空芯コイル6を形成し、この空芯コイル6を部品フィーダなどに備蓄することなく、自動ピックアップ機構(実装用ノズル285)により配線基板3上に実装(マウント)する。すなわち、本実施の形態では、1個の空芯コイル6を形成した後、この空芯コイル6を配線基板3に実装するが、1個の空芯コイル6を形成した後で、この空芯コイル6を配線基板3に実装する前に、個片化した複数の空芯コイルが絡み合う状態で空芯コイル6を備蓄しない。このため、空芯コイルのピックアップ不良が発生するのを防止でき、配線基板3上に的確に空芯コイル6を実装することができる。したがって、空芯コイル6を実装したRFパワーモジュールの製造歩留りを向上することができる。   On the other hand, in the present embodiment, as described above, the conductor wire 31 is wound around the core 282 of the air core coil automatic winding device, then the conductor wire 31 is cut, and the core 282 is pulled out. Individual air-core coils 6 are formed, and the air-core coils 6 are mounted (mounted) on the wiring board 3 by an automatic pickup mechanism (mounting nozzle 285) without being stored in a component feeder or the like. That is, in this embodiment, after forming one air-core coil 6, this air-core coil 6 is mounted on the wiring board 3. After forming one air-core coil 6, Before the coil 6 is mounted on the wiring board 3, the air core coil 6 is not stored in a state where a plurality of separated air core coils are intertwined. For this reason, it is possible to prevent the pickup defect of the air-core coil from occurring, and the air-core coil 6 can be accurately mounted on the wiring board 3. Therefore, the manufacturing yield of the RF power module on which the air-core coil 6 is mounted can be improved.

(実施の形態2)
図30は、上記第1の比較例のRFパワーモジュール301の要部側面図であり、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル306が示されている。図30は、上記図15の矢印330の方向から見たものに、ほぼ対応する。また、図30には、空芯コイル306で生じる磁束(磁界)333を矢印で模式的に示してある。また、図30は側面図であるが、理解を簡単にするために、半田332の図示を省略し、更に、空芯コイル306を構成する導体線331のうち、絶縁被膜が除去されている部分(すなわち導体部が露出している部分)にハッチングを付してある。
(Embodiment 2)
FIG. 30 is a side view of an essential part of the RF power module 301 of the first comparative example, and shows an air-core coil 306 mounted on the wiring board 3 through the sealing resin 7. FIG. 30 substantially corresponds to that seen from the direction of the arrow 330 in FIG. In FIG. 30, a magnetic flux (magnetic field) 333 generated by the air-core coil 306 is schematically shown by arrows. Further, FIG. 30 is a side view, but for the sake of easy understanding, illustration of the solder 332 is omitted, and further, a portion of the conductor wire 331 constituting the air-core coil 306 from which the insulating coating is removed. (In other words, the portion where the conductor portion is exposed) is hatched.

図30に示されるように、空芯コイル306を配線基板3の上面3aに面実装した場合、空芯コイル306の下部全体が配線基板3の上面3aに近接しており、空芯コイル306で発生した磁束(磁界)333が配線基板3の表面または内部の配線に影響を与える可能性がある。これは、RFパワーモジュール301の周波数特性のずれや、電力付加効率の低下を招く可能性がある。   As shown in FIG. 30, when the air-core coil 306 is surface-mounted on the upper surface 3 a of the wiring board 3, the entire lower part of the air-core coil 306 is close to the upper surface 3 a of the wiring board 3. The generated magnetic flux (magnetic field) 333 may affect the surface of the wiring board 3 or the internal wiring. This may cause a shift in frequency characteristics of the RF power module 301 and a decrease in power added efficiency.

図31は、本実施の形態のRFパワーモジュール1aの要部側面図であり、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル6cが示されている。図32および図33は、本実施の形態のRFパワーモジュール1aの要部断面図であり、封止樹脂7の図示を省略し、配線基板3上に実装された空芯コイル6cが示されている。図31は、上記図30と同様の向きで配線基板3上の空芯コイル6cを見たものに対応する。また、図31には、空芯コイル6cで生じる磁束(磁界)33aを矢印で模式的に示してある。また、図31は側面図であるが、理解を簡単にするために、半田32の図示を省略し、更に、空芯コイル6cを構成する導体線31のうち、絶縁被膜が除去されている部分(すなわち導体部が露出している部分)にハッチングを付してある。また、図32は、図31のA−A線の断面にほぼ対応し、図33は、図31のB−B線の断面にほぼ対応する。   FIG. 31 is a side view of an essential part of the RF power module 1a of the present embodiment, and shows an air-core coil 6c mounted on the wiring board 3 through the sealing resin 7. FIG. 32 and 33 are cross-sectional views of the main part of the RF power module 1a of the present embodiment, in which the sealing resin 7 is not shown, and the air-core coil 6c mounted on the wiring board 3 is shown. Yes. FIG. 31 corresponds to the air core coil 6c on the wiring board 3 viewed in the same direction as FIG. Further, in FIG. 31, the magnetic flux (magnetic field) 33a generated in the air-core coil 6c is schematically shown by arrows. Further, FIG. 31 is a side view, but for the sake of easy understanding, illustration of the solder 32 is omitted, and further, a portion of the conductor wire 31 constituting the air-core coil 6c from which the insulating coating is removed. (In other words, the portion where the conductor portion is exposed) is hatched. 32 substantially corresponds to the cross section taken along the line AA in FIG. 31, and FIG. 33 substantially corresponds to the cross section taken along the line BB in FIG.

本実施の形態のRFパワーモジュール1aは、空芯コイル6の代わりに空芯コイル6cを用いたこと以外は、上記実施の形態1のRFパワーモジュール1とほぼ同様の構成を有しているので、ここではその説明は省略する。   The RF power module 1a of the present embodiment has substantially the same configuration as the RF power module 1 of the first embodiment except that the air core coil 6c is used instead of the air core coil 6. The description is omitted here.

図31〜図33に示されるように、本実施の形態のRFパワーモジュール1aでは、絶縁被膜で覆われた導体線31を螺旋状に複数回巻く(巻回する、巻き回す)ことにより形成された面実装型の空芯コイル6cが配線基板3上に実装されており、この空芯コイル6cのうち、両方の端部近傍領域6eは配線基板3の上面(主面)3aに接触しているが、両端部近傍領域6eに比べて中央部6dが、配線基板3の上面(主面)3aから遠ざけられて配線基板3の上面3aと接触しないようにされている。   As shown in FIGS. 31 to 33, the RF power module 1a of the present embodiment is formed by winding a conductor wire 31 covered with an insulating film in a spiral shape a plurality of times (winding, winding). A surface mount type air-core coil 6c is mounted on the wiring board 3, and both end vicinity regions 6e of the air-core coil 6c are in contact with the upper surface (main surface) 3a of the wiring board 3. However, the central portion 6d is separated from the upper surface (main surface) 3a of the wiring substrate 3 and is not in contact with the upper surface 3a of the wiring substrate 3 as compared with the region 6e near both ends.

空芯コイル6cは、配線基板3に対向する側において中央部6dが端部近傍領域6eよりも窪むように導体線31を巻く(巻き回す)ことで、形成されている。すなわち、中央部6dにおけるコイル径(コイルの直径、導体線31を巻き回す直径)が、端部近傍領域6eにおけるコイル径(コイルの直径、導体線31を巻き回す直径)よりも小さくなるように、導体線31が巻かれて空芯コイル6cが形成されている。   The air-core coil 6c is formed by winding (winding) the conductor wire 31 so that the central portion 6d is recessed from the end vicinity region 6e on the side facing the wiring board 3. That is, the coil diameter in the central portion 6d (the diameter of the coil, the diameter around which the conductor wire 31 is wound) is made smaller than the coil diameter (the diameter of the coil, the diameter around which the conductor wire 31 is wound) in the end vicinity region 6e. The conductor wire 31 is wound to form the air-core coil 6c.

空芯コイル6cの中央部6dでは、導体線31の表面が絶縁被膜で覆われているが、中央部6dよりもコイル径が大きな両端部近傍領域6eでは、導体線31の絶縁被膜が除去されている。空芯コイル6cの端部近傍領域6eは、それぞれ、半田32のような導電性の接合材により、端部近傍領域6eの下に配置された基板側端子12a(電極)に接合され、電気的に接続されている。   In the central portion 6d of the air-core coil 6c, the surface of the conductor wire 31 is covered with an insulating coating. However, in the region 6e near both ends where the coil diameter is larger than that of the central portion 6d, the insulating coating on the conductor wire 31 is removed. ing. The end vicinity region 6e of the air-core coil 6c is joined to the board-side terminal 12a (electrode) disposed under the end vicinity region 6e by a conductive bonding material such as solder 32, respectively. It is connected to the.

中央部6dよりもコイル径が大きな両端部近傍領域6eは、それぞれ、導体線31が1巻き(1ターン)以上、より好ましくは2巻き(2ターン)巻かれて(巻き回されて)形成されている。これにより、配線基板3上に空芯コイル6cを容易かつ安定して実装することができる。   Both end vicinity regions 6e having a larger coil diameter than the central portion 6d are each formed by winding (winding) the conductor wire 31 one turn (1 turn) or more, more preferably 2 turns (2 turns). ing. Thereby, the air-core coil 6c can be easily and stably mounted on the wiring board 3.

本実施の形態では、RFパワーモジュール1aの配線基板3の上面3aに面実装した空芯コイル6cにおいて、空芯コイル6cの両方の端部近傍領域6eの下部は配線基板3の上面3aに接触しているが、中央部6dは配線基板3の上面3aから浮いた状態にされており、中央部6dは配線基板3の上面3aから所定の距離だけ間隔を空けて離れている。このため、空芯コイル6cで発生した磁束(磁界)33aが配線基板3の表面または内部の配線に与える影響を減少させることができ、RFパワーモジュール1aの周波数特性のずれや、電力付加効率の低下を防止することができ、RFパワーモジュール1aの性能を向上させることができる。また、空芯コイル6cの高さが高くなるのを防止できるので、RFパワーモジュール1aの厚みが厚くなるのを防止できる。   In the present embodiment, in the air-core coil 6c that is surface-mounted on the upper surface 3a of the wiring board 3 of the RF power module 1a, the lower portions of both end vicinity regions 6e of the air-core coil 6c are in contact with the upper surface 3a of the wiring board 3. However, the central portion 6d is in a state of floating from the upper surface 3a of the wiring substrate 3, and the central portion 6d is separated from the upper surface 3a of the wiring substrate 3 by a predetermined distance. For this reason, the influence which the magnetic flux (magnetic field) 33a generated in the air-core coil 6c has on the surface of the wiring board 3 or the internal wiring can be reduced, and the deviation of the frequency characteristics of the RF power module 1a and the power added efficiency can be reduced. The decrease can be prevented, and the performance of the RF power module 1a can be improved. Moreover, since it can prevent that the height of the air-core coil 6c becomes high, it can prevent that the thickness of RF power module 1a becomes thick.

また、本実施の形態は、空芯コイル6cで発生した磁束(磁界)33aが配線基板3の配線に与える影響を減少できることから、空芯コイル6cの直下の位置の配線基板3に配線が存在している場合に適用すれば、より効果が大きい。   Further, in the present embodiment, since the influence of the magnetic flux (magnetic field) 33a generated in the air core coil 6c on the wiring of the wiring board 3 can be reduced, the wiring exists on the wiring board 3 immediately below the air core coil 6c. If applied, the effect is greater.

次に、本実施の形態のRFパワーモジュール1aの製造工程のうち、空芯コイル6cの製造工程および配線基板3上への空芯コイル6cの実装(搭載)工程の一例について説明する。   Next, an example of the manufacturing process of the air-core coil 6c and the mounting (mounting) process of the air-core coil 6c on the wiring board 3 among the manufacturing processes of the RF power module 1a of the present embodiment will be described.

図34〜図37は、本実施の形態のRFパワーモジュール1aに用いられる空芯コイル6cの製造工程および実装工程の説明図である。このうち、図34は要部斜視図、図35〜図37は要部側面図に対応する。   34 to 37 are explanatory diagrams of a manufacturing process and a mounting process of the air-core coil 6c used in the RF power module 1a of the present embodiment. 34 corresponds to a perspective view of main parts, and FIGS. 35 to 37 correspond to side views of main parts.

本実施の形態で用いられる空芯コイル6cは、例えば次のようにして製造し、配線基板3に実装することができる。   The air-core coil 6c used in the present embodiment can be manufactured, for example, as follows and mounted on the wiring board 3.

空芯コイル6cの製造装置(空芯コイルの自動巻き装置)は、図34および図35に示されるように、それぞれスリーブ(図示せず)などから突出する一対の巻芯(巻き付け芯、巻き線用棒)282a,282bを有している。各巻芯282a,282bは、断面が略円形のベース部282dと、ベース部282dに一体的に連結され、断面が略半円形の先端部282cとを有している。巻芯282aと巻芯282bとは、鏡面対称の関係にあり、互いに対向する先端部282cの先端面同士が合わされることによって、一体的化されている。また、各巻芯282a,282bのベース部282dの下部に平坦面(平端部)を設けて、空芯コイル6cの実装時の安定性を高めることもできる。   As shown in FIG. 34 and FIG. 35, the air core coil 6c manufacturing apparatus (air core coil automatic winding apparatus) has a pair of cores (winding core, winding) protruding from a sleeve (not shown), respectively. Bar) 282a, 282b. Each of the winding cores 282a and 282b has a base portion 282d having a substantially circular cross section and a tip portion 282c integrally connected to the base portion 282d and having a substantially semicircular cross section. The winding core 282a and the winding core 282b are in a mirror-symmetrical relationship, and are integrated by combining the front end surfaces of the front end portions 282c facing each other. Further, by providing a flat surface (flat end portion) below the base portion 282d of each of the winding cores 282a and 282b, the stability at the time of mounting the air core coil 6c can be enhanced.

このような製造装置の一体化された一対の巻芯282a,282bに、図36に示されるように、銅線(絶縁被膜付きの銅線)などからなる導体線31を所定の回数巻きつけてから、導体線31を所定の位置で切断する。これにより、導体線31からなる空芯コイル6cが巻芯282a,282bに巻きつけられた状態が得られる。この際、巻芯282a,282bの先端部282cに巻きつけられた導体線31により空芯コイル6cの中央部6dが形成され、巻芯282a,282bのベース部282dに巻きつけられた導体線31により空芯コイル6cの端部近傍領域6eが形成される。巻芯282a,282bの先端部282cに巻きつけられて中央部6dとなる部分の導体線31は絶縁被膜で覆われているが、巻芯282a,282bのベース部282dに巻きつけられて端部近傍領域6eとなる部分の導体線31は、絶縁被膜が除去されている。   As shown in FIG. 36, a conductor wire 31 made of a copper wire (a copper wire with an insulating film) or the like is wound around a pair of cores 282a and 282b integrated with such a manufacturing apparatus a predetermined number of times. Then, the conductor wire 31 is cut at a predetermined position. Thereby, the state by which the air core coil 6c which consists of the conductor wire 31 was wound around the winding cores 282a and 282b is obtained. At this time, the conductor wire 31 wound around the tip portion 282c of the winding cores 282a and 282b forms the central portion 6d of the air core coil 6c, and the conductor wire 31 wound around the base portion 282d of the winding cores 282a and 282b. Thus, the end vicinity region 6e of the air-core coil 6c is formed. The portion of the conductor wire 31 that is wound around the tip 282c of the cores 282a and 282b and becomes the central portion 6d is covered with an insulating film, but is wound around the base portion 282d of the cores 282a and 282b. The insulating film is removed from the portion of the conductor wire 31 that becomes the vicinity region 6e.

次に、図37に示されるように、下方からバックアップステージ(図示せず)が上昇し、上方から実装用ノズル285が下降し、巻芯282a,282bに巻きつけられた空芯コイル6cを実装用ノズル285とバックアップステージとで挟む。それから、巻芯282a,282bを互いに逆方向に移動し、導体線31からなる空芯コイル6から巻芯282a,282bを引き抜く(抜き取る)。これにより、空芯コイル6cが得られるが、この空芯コイル6cは、空芯コイル6cから巻芯282a,282bが抜き取られても、実装用ノズル285に吸着(ピックアップ)されている。   Next, as shown in FIG. 37, the backup stage (not shown) rises from below, the mounting nozzle 285 descends from above, and the air-core coil 6c wound around the winding cores 282a and 282b is mounted. It is sandwiched between the nozzle 285 for use and the backup stage. Then, the winding cores 282a and 282b are moved in directions opposite to each other, and the winding cores 282a and 282b are pulled out (pulled out) from the air-core coil 6 made of the conductor wire 31. As a result, an air-core coil 6c is obtained. This air-core coil 6c is attracted (pick-up) to the mounting nozzle 285 even when the winding cores 282a and 282b are extracted from the air-core coil 6c.

その後、実装用ノズル285を上昇させ、実装用ノズル285に吸着(ピックアップ)された空芯コイル6cを実装用ノズル285とともに移動させ、この空芯コイル6cを配線基板3(図示省略)上に実装する。すなわち、実装用ノズル285に吸着された空芯コイル6cを実装用ノズル285とともに配線基板3上に移動させ、配線基板3の上面3aの空芯コイル6cの搭載予定位置上に空芯コイル6cを配置する。この際、配線基板3の基板側端子12a(空芯コイル6を接続すべき基板側端子12a)上に、空芯コイル6cの端部近傍領域6eが位置するようにする。このように、実装用ノズル285に吸着された空芯コイル6cを、部品フィーダなどに備蓄することなく、速やかに配線基板3の上面3aに実装する。   Thereafter, the mounting nozzle 285 is raised, the air core coil 6c attracted (pickup) to the mounting nozzle 285 is moved together with the mounting nozzle 285, and the air core coil 6c is mounted on the wiring board 3 (not shown). To do. That is, the air core coil 6c adsorbed by the mounting nozzle 285 is moved onto the wiring board 3 together with the mounting nozzle 285, and the air core coil 6c is placed on the planned mounting position of the air core coil 6c on the upper surface 3a of the wiring board 3. Deploy. At this time, the end vicinity region 6e of the air-core coil 6c is positioned on the board-side terminal 12a of the wiring board 3 (the board-side terminal 12a to which the air-core coil 6 is connected). Thus, the air-core coil 6c adsorbed by the mounting nozzle 285 is quickly mounted on the upper surface 3a of the wiring board 3 without being stored in a component feeder or the like.

それから、図34〜図37の工程を繰り返す。   Then, the steps of FIGS. 34 to 37 are repeated.

このように、径が小さな先端部282cと、それよりも径が大きなベース部282dとを有する巻芯282a,282bを一対用意し、それらを合わせて一体化した巻芯に導体線31を巻きつけることで、端部近傍領域6eよりも中央部6dの方がコイル径が小さな空芯コイル6cを形成することができる。そして、各巻芯282a,282bを互いに逆方向に引き抜くことにより、空芯コイル6cを巻芯282a,282bから分離することができる。   In this manner, a pair of winding cores 282a and 282b having a tip portion 282c having a small diameter and a base portion 282d having a larger diameter are prepared, and the conductor wire 31 is wound around the winding core obtained by combining them. Thus, the air core coil 6c having a smaller coil diameter can be formed in the central portion 6d than in the end vicinity region 6e. The air core coil 6c can be separated from the cores 282a and 282b by pulling out the cores 282a and 282b in opposite directions.

(実施の形態3)
図38および図39は、本実施の形態のRFパワーモジュール1bの要部側面図であり、封止樹脂7を透視し、配線基板3上に実装された空芯コイル6fが示されている。図38は、上記実施の形態2の図31に対応するものであり、図39は、上記実施の形態1の図13に対応するものである。
(Embodiment 3)
FIGS. 38 and 39 are principal part side views of the RF power module 1b of the present embodiment, and show the air-core coil 6f mounted on the wiring board 3 through the sealing resin 7. FIG. FIG. 38 corresponds to FIG. 31 of the second embodiment, and FIG. 39 corresponds to FIG. 13 of the first embodiment.

本実施の形態のRFパワーモジュール1bは、空芯コイル6,6cの代わりに空芯コイル6fを用いたこと以外は、上記実施の形態1,2のRFパワーモジュール1,1aとほぼ同様の構成を有しているので、ここではその説明は省略する。   The RF power module 1b of the present embodiment has substantially the same configuration as the RF power modules 1 and 1a of the first and second embodiments, except that the air core coil 6f is used instead of the air core coils 6 and 6c. The description thereof is omitted here.

本実施の形態は、上記実施の形態1と上記実施の形態2とを組み合わせたものである。すなわち、図38および図39に示されるように、本実施の形態のRFパワーモジュール1bでは、面実装型の空芯コイル6fが配線基板3の上面3a上に実装されている。この空芯コイル6fは、上記実施の形態1の空芯コイル6と同様に、絶縁被膜で覆われた導体線31を螺旋状に複数回巻くことにより形成されたコイル部(コイル本体)6aと、コイル部6aの両端に接続されてコイル部6aから離れる方向に向かう方向に延在する導体線31からなる端子部6bとにより構成されている。空芯コイル6fを構成する導体線31のうち、コイル部6aの導体線31は、表面が絶縁被膜で覆われているが、端子部6bの導体線31は、絶縁被膜が除去されて導体部が露出された状態となっている。空芯コイル6fのコイル部6aから離れた位置にあり、コイル部6aの両端の下には延在していない基板側端子12aに、半田32のような導電性の接合材を介して、空芯コイル6fの端子部6bが接合され、電気的に接続されている。   This embodiment is a combination of the first embodiment and the second embodiment. That is, as shown in FIG. 38 and FIG. 39, in the RF power module 1 b of the present embodiment, the surface mount type air-core coil 6 f is mounted on the upper surface 3 a of the wiring board 3. This air-core coil 6f has a coil portion (coil body) 6a formed by winding a conductor wire 31 covered with an insulating film in a spiral manner, like the air-core coil 6 of the first embodiment. The terminal portion 6b is composed of a conductor wire 31 connected to both ends of the coil portion 6a and extending in a direction away from the coil portion 6a. Of the conductor wires 31 constituting the air-core coil 6f, the surface of the conductor wire 31 of the coil portion 6a is covered with an insulating coating, but the conductor wire 31 of the terminal portion 6b is removed by removing the insulating coating. Is exposed. The board-side terminal 12a, which is located away from the coil part 6a of the air core coil 6f and does not extend under both ends of the coil part 6a, is emptied via a conductive bonding material such as solder 32. The terminal portion 6b of the core coil 6f is joined and electrically connected.

そして、上記実施の形態2の空芯コイル6cと同様に、配線基板3に対向する側において、空芯コイル6fのコイル部6aの中央部6dがコイル部6aの端部近傍領域6eよりも窪むように導体線31を巻くことで空芯コイル6fが形成されている。すなわち、空芯コイル6fのコイル部6aの中央部6dにおけるコイル径が、空芯コイル6fのコイル部6aの端部近傍領域6eにおけるコイル径よりも小さくなるように導体線31を巻くことで、空芯コイル6fが形成されている。これにより、空芯コイル6fのコイル部6aのうち、両方の端部近傍領域6eは配線基板3の上面3aに接触しているが、両端部近傍領域6eに比べて中央部6dは、配線基板3の上面(主面)3aから遠ざけられて配線基板3の上面3aと接触しないようにされている。   In the same manner as the air core coil 6c of the second embodiment, the central portion 6d of the coil portion 6a of the air core coil 6f is recessed from the end vicinity region 6e of the coil portion 6a on the side facing the wiring board 3. The air core coil 6f is formed by winding the conductor wire 31 in such a manner. That is, by winding the conductor wire 31 so that the coil diameter in the central part 6d of the coil part 6a of the air core coil 6f is smaller than the coil diameter in the end vicinity region 6e of the coil part 6a of the air core coil 6f, An air core coil 6f is formed. As a result, in the coil portion 6a of the air-core coil 6f, both end vicinity regions 6e are in contact with the upper surface 3a of the wiring board 3, but the central portion 6d is in contact with the upper surface 3a of the both ends vicinity region 6e. 3 is separated from the upper surface (main surface) 3a of the wiring board 3 so as not to contact the upper surface 3a of the wiring board 3.

また、空芯コイル6fのコイル部6aの中央部6dおよび両端部近傍領域6eでは、導体線31の表面が絶縁被膜で覆われており、端子部6bでは、導体線31の絶縁被膜が除去されている。   Further, in the central portion 6d of the coil portion 6a of the air-core coil 6f and the region 6e near both ends, the surface of the conductor wire 31 is covered with an insulating coating, and the insulating coating of the conductor wire 31 is removed in the terminal portion 6b. ing.

空芯コイル6fのコイル部6aでは、中央部6dよりもコイル径が大きな両端部近傍領域6eは、それぞれ、導体線31が1巻き(1ターン)以上、より好ましくは2巻き(2ターン)巻かれて形成されており、これにより、配線基板3上に空芯コイル6fを容易かつ安定して実装することができる。   In the coil portion 6a of the air-core coil 6f, the conductor wire 31 is 1 turn (1 turn) or more, more preferably 2 turns (2 turns) in the vicinity of both ends 6e having a larger coil diameter than the center portion 6d. Thus, the air-core coil 6f can be easily and stably mounted on the wiring board 3.

本実施では、上記実施の形態1と上記実施の形態2の両方の効果を得ることができる。すなわち、上記実施の形態1と同様に、空芯コイルにより発生する磁束(磁界)の一部が空芯コイルの外側面に付着した半田の影響で遮蔽される現象を防止でき、また、上記実施の形態2と同様に、空芯コイルで発生した磁束(磁界)が配線基板3の表面または内部の配線に与える影響を減少させることができ、これにより、RFパワーモジュールの性能や信頼性をより向上させることができる。   In this embodiment, the effects of both the first embodiment and the second embodiment can be obtained. That is, as in the first embodiment, it is possible to prevent a phenomenon in which a part of the magnetic flux (magnetic field) generated by the air core coil is shielded by the influence of the solder adhering to the outer surface of the air core coil. As in the second embodiment, the influence of the magnetic flux (magnetic field) generated by the air-core coil on the surface of the wiring board 3 or the internal wiring can be reduced, thereby improving the performance and reliability of the RF power module. Can be improved.

以上、本発明者によってなされた発明をその実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言うまでもない。   As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiment. However, the invention is not limited to the embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

本発明は、例えば、移動体通信装置に搭載される高周波電力増幅モジュールのような電子装置に適用して好適なものである。   The present invention is suitable for application to an electronic device such as a high-frequency power amplification module mounted on a mobile communication device, for example.

本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールを構成する増幅回路の回路ブロック図である。It is a circuit block diagram of the amplifier circuit which comprises the RF power module which is one embodiment of this invention. 出力整合回路の回路構成例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the circuit structural example of an output matching circuit. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールを用いたデジタル携帯電話機システムの一例の説明図である。It is explanatory drawing of an example of the digital mobile telephone system using the RF power module which is one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの構造を示す上面図である。It is a top view which shows the structure of RF power module which is one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの断面図である。It is sectional drawing of the RF power module which is one embodiment of this invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの概念的な斜視図である。1 is a conceptual perspective view of an RF power module according to an embodiment of the present invention. 半導体増幅素子をLDMOSFETにより形成した場合の半導体チップの要部断面図である。It is principal part sectional drawing of a semiconductor chip at the time of forming a semiconductor amplifier element by LDMOSFET. 半導体増幅素子をヘテロ接合型バイポーラトランジスタにより形成した場合の半導体チップの要部断面図である。It is principal part sectional drawing of the semiconductor chip at the time of forming a semiconductor amplifier element with a heterojunction bipolar transistor. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの要部斜視図である。It is a principal part perspective view of RF power module which is one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの要部斜視図である。It is a principal part perspective view of RF power module which is one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの要部上面図である。It is a principal part top view of RF power module which is one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの要部上面図である。It is a principal part top view of RF power module which is one embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module which is one embodiment of the present invention. 第1の比較例のRFパワーモジュールの要部斜視図である。It is a principal part perspective view of RF power module of the 1st comparative example. 第1の比較例のRFパワーモジュールの要部斜視図である。It is a principal part perspective view of RF power module of the 1st comparative example. 第1の比較例のRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module of the 1st comparative example. 第2の比較例のRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module of the 2nd comparative example. 第3の比較例のRFパワーモジュールの要部断面図である。It is principal part sectional drawing of RF power module of the 3rd comparative example. 空芯コイルのL値を示すグラフである。It is a graph which shows L value of an air core coil. 空芯コイルのQ値を示すグラフである。It is a graph which shows Q value of an air core coil. RFパワーモジュールの電力付加効率を示すグラフである。It is a graph which shows the electric power addition efficiency of RF power module. 本発明の一実施の形態であるRFパワーモジュールの製造工程中の断面図である。It is sectional drawing in the manufacturing process of RF power module which is one embodiment of this invention. 図22に続くRFパワーモジュールの製造工程中における断面図である。FIG. 23 is a cross-sectional view of the RF power module subsequent to FIG. 22 during the manufacturing process. 図23に続くRFパワーモジュールの製造工程中における断面図である。FIG. 24 is a cross-sectional view of the RF power module subsequent to FIG. 23 during the manufacturing process. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 第1の比較例のRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module of the 1st comparative example. 本発明の他の実施の形態のRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module of other embodiment of this invention. 図31のRFパワーモジュールの要部断面図である。FIG. 32 is a cross-sectional view of a main part of the RF power module of FIG. 図31のRFパワーモジュールの要部断面図である。FIG. 32 is a cross-sectional view of a main part of the RF power module of FIG. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 空芯コイルの製造工程および実装工程の説明図である。It is explanatory drawing of the manufacturing process and mounting process of an air-core coil. 本発明の更に他の実施の形態のRFパワーモジュールの要部側面図である。It is a principal part side view of RF power module of further another embodiment of this invention. 図38のRFパワーモジュールの他の要部側面図である。FIG. 39 is a side view of another main part of the RF power module of FIG. 38.

符号の説明Explanation of symbols

1,1a,1b RFパワーモジュール
2 半導体チップ
2a 電極
2b 裏面電極
3 配線基板
3a 上面
3b 下面
4 受動部品
6 空芯コイル
6a コイル部
6b 端子部
6c 空芯コイル
6d 中央部
6e 端部近傍領域
6f 空芯コイル
7 封止樹脂
8 ボンディングワイヤ
11 絶縁体層
12a 基板側端子
12b 外部接続端子
12c 基準電位供給用端子
13 ビアホール
14 導体層
15 半田
17 半田
30 矢印
31 導体線
32,32a 半田
33,33a 磁束
102A,102B 電力増幅回路
102A1,102A2,102A3,102B1,102B2,102B3 増幅段
102AM1,102AM2,102BM1,102BM2 整合回路
103 周辺回路
103A 制御回路
103A1 電源制御回路
103A2 バイアス電圧生成回路
103B バイアス回路
104a,104b 入力端子
105A,105B 整合回路
106a,106b 出力端子
107A,107B 整合回路
111 伝送線路
112,112a,112b,112c,112d 容量素子
113,113a,113b インダクタ素子
114 入力端子
115 出力端子
151 フロントエンド・モジュール
152 ベースバンド回路
153 変復調用回路
FLT1,FLT2 フィルタ
154a,154b スイッチ回路
156 分波器
C5,C6 コンデンサ
CNT1,CNT2 切換信号
201 半導体基板
202 エピタキシャル層
203 溝
204 p型打抜き層
205 素子分離領域
206 p型ウエル
207 ゲート絶縁膜
208 ゲート電極
209 n型オフセットドレイン領域
210 n型ソース領域
211 サイドウォールスペーサ
212 n型オフセットドレイン領域
213 n型ドレイン領域
214 n型ソース領域
215 p型半導体領域
221 絶縁膜
222 コンタクトホール
223 プラグ
224 配線
224a ソース電極
224b ドレイン電極
225 絶縁膜
226 スルーホール
227 プラグ
228 配線
229 表面保護膜
230 裏面電極
251 GaAs基板
252 サブコレクタ層
253 HBT
254 コレクタ電極
255 コレクタメサ
256 ベースメサ
257 ベース電極
258 エミッタ層
259 エミッタ電極
261 絶縁膜
262 コンタクトホール
263 コレクタ配線
264 絶縁膜
265 スルーホール
266 エミッタ配線
281 スリーブ
282 巻芯
282a,282b 巻芯
282c 先端部
282d ベース部
284 バックアップステージ
285 実装用ノズル
286 矢印
301 RFパワーモジュール
306 空芯コイル
306b 端子部
312a 基板側端子
330 矢印
331 導体線
332 半田
333 磁束
401 RFパワーモジュール
406 空芯コイル
406a コイル部
406b 半田付け端部
412a 基板側端子
431 導体線
432 半田
501 RFパワーモジュール
503 配線基板
503a 上面
506 空芯コイル
506b 端子部
512a 基板側端子
531 導体線
532 半田
534 孔部
1, 1a, 1b RF power module 2 Semiconductor chip 2a Electrode 2b Back electrode 3 Wiring board 3a Upper surface 3b Lower surface 4 Passive component 6 Air core coil 6a Coil portion 6b Terminal portion 6c Air core coil 6d Central portion 6e End vicinity region 6f Empty Core coil 7 Sealing resin 8 Bonding wire 11 Insulator layer 12a Substrate side terminal 12b External connection terminal 12c Reference potential supply terminal 13 Via hole 14 Conductor layer 15 Solder 17 Solder 30 Arrow 31 Conductor wires 32, 32a Solder 33, 33a Magnetic flux 102A , 102B Power amplifier circuit 102A1, 102A2, 102A3, 102B1, 102B2, 102B3 Amplifier stage 102AM1, 102AM2, 102BM1, 102BM2 Matching circuit 103 Peripheral circuit 103A Control circuit 103A1 Power supply control circuit 103A2 Bias voltage generation circuit 103B bias circuit 104a, 104b input terminal 105A, 105B matching circuit 106a, 106b output terminal 107A, 107B matching circuit 111 transmission line 112, 112a, 112b, 112c, 112d capacitive element 113, 113a, 113b inductor element 114 input terminal 115 output terminal 151 Front-end module 152 Baseband circuit 153 Modulation / demodulation circuit FLT1, FLT2 Filters 154a, 154b Switch circuit 156 Demultiplexer C5, C6 Capacitor CNT1, CNT2 Switching signal 201 Semiconductor substrate 202 Epitaxial layer 203 Groove 204 P-type punching layer 205 Element Isolation region 206 p-type well 207 gate insulating film 208 gate electrode 209 n type offset drain region 210 n type source region 211 side Wall spacer 212 n-type offset drain region 213 n + -type drain region 214 n + -type source region 215 p + -type semiconductor region 221 Insulating film 222 Contact hole 223 Plug 224 Wiring 224a Source electrode 224b Drain electrode 225 Insulating film 226 Through-hole 227 Plug 228 Wiring 229 Surface protective film 230 Back electrode 251 GaAs substrate 252 Subcollector layer 253 HBT
254 Collector electrode 255 Collector mesa 256 Base mesa 257 Base electrode 258 Emitter layer 259 Emitter electrode 261 Insulating film 262 Contact hole 263 Collector wiring 264 Insulating film 265 Through hole 266 Emitter wiring 281 Sleeve 282 Core 282a, 282b Core 282c Tip 282d Base 284 Backup stage 285 Mounting nozzle 286 Arrow 301 RF power module 306 Air core coil 306b Terminal portion 312a Board side terminal 330 Arrow 331 Conductor wire 332 Solder 333 Magnetic flux 401 RF power module 406 Air core coil 406a Coil portion 406b Solder end 412a Board side terminal 431 Conductor wire 432 Solder 501 RF power module 503 Wiring board 503a Upper surface 506 Air-core coil 506 Terminal portion 512a board-side terminal 531 conductor line 532 solder 534 holes

Claims (20)

異なる複数の周波数帯の信号を出力可能な、電力増幅回路を有する電子装置であって、
複数の電極を有する配線基板と、
前記配線基板の主面上に搭載された、前記電力増幅回路を含む半導体チップと、
前記配線基板の前記主面上に搭載された、面実装型の空芯コイルと、
を有し、
前記空芯コイルは、導体線を複数回巻いたコイル部と、前記コイル部の両端にそれぞれ接続された前記導体線からなる2つの端子部で構成され、
前記コイル部の前記導体線は絶縁膜で被覆され、
前記空芯コイルの前記各端子部は、前記コイル部から離れる方向に向かう方向に延在し、前記配線基板の前記電極と電気的に接続されていることを特徴とする電子装置。
An electronic device having a power amplifier circuit capable of outputting signals of a plurality of different frequency bands,
A wiring board having a plurality of electrodes;
A semiconductor chip including the power amplifier circuit mounted on the main surface of the wiring board;
A surface mount type air-core coil mounted on the main surface of the wiring board;
Have
The air-core coil is composed of a coil portion in which a conductor wire is wound a plurality of times, and two terminal portions consisting of the conductor wire connected to both ends of the coil portion,
The conductor wire of the coil portion is covered with an insulating film,
Each of the terminal portions of the air-core coil extends in a direction away from the coil portion, and is electrically connected to the electrode of the wiring board.
請求項1記載の電子装置において、
前記空芯コイルが前記電力増幅回路の出力整合回路に使用されていることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic device, wherein the air-core coil is used in an output matching circuit of the power amplifier circuit.
請求項1記載の電子装置において、
前記電子装置は、前記電力増幅回路を複数有し、
前記複数の電力増幅回路のうちの第1の電力増幅回路は、異なる複数の周波数帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic device has a plurality of the power amplifier circuits,
An electronic apparatus, wherein a first power amplifier circuit among the plurality of power amplifier circuits is capable of amplifying signals of a plurality of different frequency bands.
請求項3記載の電子装置において、
前記空芯コイルが前記第1の電力増幅回路の出力整合回路に使用されていることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 3.
The electronic device, wherein the air-core coil is used in an output matching circuit of the first power amplifier circuit.
請求項4記載の電子装置において、
前記第1の電力増幅回路は、USGSM帯とEUGSM帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 4.
The electronic device characterized in that the first power amplifier circuit can amplify signals in the USGSM band and the EUGSM band.
請求項4記載の電子装置において、
前記第1の電力増幅回路は、DCS帯とPCS帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 4.
The electronic device according to claim 1, wherein the first power amplifier circuit is capable of amplifying signals in a DCS band and a PCS band.
請求項1記載の電子装置において、
前記空芯コイルの前記各端子部は、半田を介して前記配線基板の前記電極と接合されていることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
Each of the terminal portions of the air-core coil is joined to the electrode of the wiring board via solder.
請求項7記載の電子装置において、
前記半田は鉛フリー半田であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 7.
The electronic device is characterized in that the solder is lead-free solder.
請求項1記載の電子装置において、
前記電力増幅回路は、824〜915MHzの信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic apparatus according to claim 1, wherein the power amplifier circuit is capable of amplifying a signal of 824 to 915 MHz.
請求項9記載の電子装置において、
前記電力増幅回路は、USGSM帯とEUGSM帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 9.
An electronic apparatus characterized in that the power amplifier circuit can amplify signals in the USGSM band and the EUGSM band.
請求項1記載の電子装置において、
前記電力増幅回路は、1710〜1910MHzの信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic apparatus according to claim 1, wherein the power amplifier circuit can amplify a signal of 1710 to 1910 MHz.
請求項11記載の電子装置において、
前記電力増幅回路は、DCS帯とPCS帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 11.
The power amplifier circuit is capable of amplifying DCS band and PCS band signals.
請求項1記載の電子装置において、
前記空芯コイルの前記コイル部が、前記配線基板の前記主面に接触していることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic device, wherein the coil portion of the air-core coil is in contact with the main surface of the wiring board.
請求項1記載の電子装置において、
前記空芯コイルの前記端子部に電気的に接続された前記配線基板の前記電極が、前記空芯コイルの前記コイル部の下に延在していないことを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 1.
The electronic device, wherein the electrode of the wiring board electrically connected to the terminal portion of the air-core coil does not extend below the coil portion of the air-core coil.
第1の電力増幅回路を含む複数の電力増幅回路を有する電子装置であって、
複数の電極を有する配線基板と、
前記配線基板の主面上に搭載された、前記複数の電力増幅回路を含む半導体チップと、
前記配線基板の前記主面上に搭載された、面実装型の空芯コイルと、
を有し、
前記第1の電力増幅回路は、異なる複数の周波数帯の信号を増幅可能であり、
前記空芯コイルは、前記第1の電力増幅回路の出力整合回路に使用され、
前記空芯コイルは、導体線を複数回巻いたコイル部と、前記コイル部の両端にそれぞれ接続された前記導体線からなる2つの端子部で構成され、
前記コイル部の前記導体線は絶縁膜で被覆され、
前記空芯コイルの前記各端子部は、前記コイル部から離れる方向に向かう方向に延在し、前記配線基板の前記電極と電気的に接続されていることを特徴とする電子装置。
An electronic device having a plurality of power amplifier circuits including a first power amplifier circuit,
A wiring board having a plurality of electrodes;
A semiconductor chip that is mounted on the main surface of the wiring board and includes the plurality of power amplifier circuits;
A surface mount type air-core coil mounted on the main surface of the wiring board;
Have
The first power amplifier circuit can amplify signals of different frequency bands,
The air-core coil is used for an output matching circuit of the first power amplification circuit,
The air-core coil is composed of a coil portion in which a conductor wire is wound a plurality of times, and two terminal portions consisting of the conductor wire connected to both ends of the coil portion,
The conductor wire of the coil portion is covered with an insulating film,
Each of the terminal portions of the air-core coil extends in a direction away from the coil portion, and is electrically connected to the electrode of the wiring board.
請求項15記載の電子装置において、
前記空芯コイルの前記各端子部は、半田を介して前記配線基板の前記電極と接合されていることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 15.
Each of the terminal portions of the air-core coil is joined to the electrode of the wiring board via solder.
請求項15記載の電子装置において、
前記第1の電力増幅回路は、824〜915MHzの信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 15.
The electronic device is characterized in that the first power amplifier circuit can amplify a signal of 824 to 915 MHz.
請求項17記載の電子装置において、
前記第1の電力増幅回路は、USGSM帯とEUGSM帯の信号を増幅可能であることを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 17.
The electronic device characterized in that the first power amplifier circuit can amplify signals in the USGSM band and the EUGSM band.
請求項15記載の電子装置において、
前記空芯コイルの前記端子部に電気的に接続された前記配線基板の前記電極が、前記空芯コイルの前記コイル部の下に延在していないことを特徴とする電子装置。
The electronic device according to claim 15.
The electronic device, wherein the electrode of the wiring board electrically connected to the terminal portion of the air-core coil does not extend below the coil portion of the air-core coil.
電力増幅回路を有する電子装置であって、
複数の電極を有する配線基板と、
前記配線基板の主面上に搭載された、前記電力増幅回路を含む半導体チップと、
前記配線基板の前記主面上に搭載された、面実装型の空芯コイルと、
を有し、
前記空芯コイルは導体線を複数回巻くことにより形成されており、
前記空芯コイルのうち、両端部近傍領域が前記配線基板の前記主面に接触し、前記両端部近傍領域に比べて中央部が前記配線基板の前記主面から遠ざけられて前記配線基板と接触していないことを特徴とする電子装置。
An electronic device having a power amplifier circuit,
A wiring board having a plurality of electrodes;
A semiconductor chip including the power amplifier circuit mounted on the main surface of the wiring board;
A surface mount type air-core coil mounted on the main surface of the wiring board;
Have
The air-core coil is formed by winding a conductor wire a plurality of times,
Of the air-core coil, a region near both ends is in contact with the main surface of the wiring board, and a central portion is away from the main surface of the wiring board as compared with the region near both ends, and is in contact with the wiring board. An electronic device characterized by not having.
JP2005277960A 2005-09-26 2005-09-26 Electronic equipment Pending JP2007088363A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005277960A JP2007088363A (en) 2005-09-26 2005-09-26 Electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005277960A JP2007088363A (en) 2005-09-26 2005-09-26 Electronic equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007088363A true JP2007088363A (en) 2007-04-05

Family

ID=37975020

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005277960A Pending JP2007088363A (en) 2005-09-26 2005-09-26 Electronic equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007088363A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014007246A1 (en) * 2014-05-16 2015-11-19 Erwin Büchele GmbH & Co. KG Suppression choke and method for producing a suppression choke
US10224632B2 (en) 2015-02-03 2019-03-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Antenna device and electronic apparatus
EP3916783A3 (en) * 2014-12-09 2022-07-13 Google LLC Method of making a three dimensional horizontal coil structure within a mold compound package having at least one integrated circuit chip

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014007246A1 (en) * 2014-05-16 2015-11-19 Erwin Büchele GmbH & Co. KG Suppression choke and method for producing a suppression choke
EP2947667B1 (en) * 2014-05-16 2019-09-04 Erwin Büchele GmbH & Co. KG Interference suppression choke and method for the preparation of an interference suppression choke
EP3916783A3 (en) * 2014-12-09 2022-07-13 Google LLC Method of making a three dimensional horizontal coil structure within a mold compound package having at least one integrated circuit chip
US10224632B2 (en) 2015-02-03 2019-03-05 Murata Manufacturing Co., Ltd. Antenna device and electronic apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10630243B2 (en) Semiconductor package having an isolation wall to reduce electromagnetic coupling
US7706756B2 (en) RF power module
US20100230789A1 (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
JP5239309B2 (en) Semiconductor device
US6075995A (en) Amplifier module with two power amplifiers for dual band cellular phones
KR100993277B1 (en) Semiconductor device and electronic device
US7453147B2 (en) Semiconductor device, its manufacturing method, and radio communication device
JP2007073611A (en) Electronic device and manufacturing method thereof
US20170271303A1 (en) Diffusion barrier layer for radio frequency transmission line
TW201240046A (en) Global system for mobile communications (GSM) radio-frequency emission front-end module adopting Quad Flat No-lead package
JP2010267944A (en) Semiconductor device and manufacturing method thereof
WO2005015636A1 (en) Semiconductor device
MX2012005267A (en) Flip-chip power amplifier and impedance matching network.
KR100993579B1 (en) Semiconductor device and electronic device
CN115362545A (en) Group III-nitride based radio frequency amplifier with backside source, gate and/or drain terminals
JP2006278832A (en) Semiconductor device and electronic apparatus
JP2007088363A (en) Electronic equipment
JP2007115904A (en) Method of manufacturing semiconductor device
JP2006180151A (en) Power amplifier module and its manufacturing method
JP2006165830A (en) Electronic equipment, low pass filter and method for manufacturing electronic equipment
JP2006310425A (en) Electronic apparatus and its manufacturing method
JP2008235759A (en) Electronic device
JP2008258369A (en) Semiconductor device and its manufacturing method
JP2014241309A (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP2007149930A (en) Electronic apparatus and manufacturing method thereof