JP2007086003A - 振動型ジャイロスコープ用測定素子 - Google Patents

振動型ジャイロスコープ用測定素子 Download PDF

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Abstract

【課題】振動子の基部における検出振動アーム用配線における静電結合の寄与による零点温度ドリフトを低減する。
【解決手段】振動型ジャイロスコープ用測定素子は、第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部2A、駆動振動アームおよび第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するための検出振動アームを備える振動子、駆動振動アームに設けられている駆動側信号電極32、駆動振動アームに設けられている駆動側接地電極33、検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側信号電極30A〜30D、検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側接地電極31、検出側信号電極に対応して基部2Aに形成されている検出側信号配線40、および検出側接地電極31に対応して基部2Aに形成されている検出側接地配線41を備えている。基部2Aに検出側信号配線40が複数設けられており、かつ複数の検出側信号配線40が互いに電気的に分離されている。
【選択図】 図8

Description

本発明は、振動型ジャイロスコープ用測定素子に関するものである。
本出願人は、特許文献1において、Y軸周りの回転角速度を検出可能な振動子を開示した。しかし、特許文献1においては、所定面に略垂直なZ軸周りの回転角速度を検出するジャイロは開示されておらず、多軸ジャイロには対応できない。
特開2004−301552
更に、本出願人は、特許文献2において、Y軸周りの回転角速度およびZ軸周りの回転角速度を同時に測定可能な振動型ジャイロスコープ用振動子を提案した。
特願2004−29241
本発明者は、振動型ジャイロスコープを小型の電子機器、例えば携帯電話に内蔵することを検討している。しかし、このためには振動子の寸法を著しく小さくする必要があり、振動子の寸法は例えば数mm程度となる。この大きさになると、従来の振動子では問題にならなかった静電結合が生じ、ノイズの原因になることがわかった。例えば、特許文献1には、駆動電極や検出電極の各配線系が例示されているが、これはZ軸周りの回転角速度を検出する素子であり、Y軸周りの回転角速度を検出する素子は開示されていない。また、特許文献2には、Y軸周りの回転角速度とZ軸周りの回転角速度とを同時に測定する素子が開示されているが、これには各駆動電極、検出電極の配線例は開示されていない。
ところが、特許文献2記載のような振動子において、複数の駆動振動アームおよびY軸検出振動アームに対応して、駆動側信号パッド、駆動側接地パッド、検出側信号パッド、検出側接地パッドを基部内に設ける必要がある。この際、パッド間の間隔は、例えば50μm程度しかとることができない。この水準の寸法になると、駆動側信号パッドと検出側パッドとの間での静電結合の寄与が大きくなる。この結果、振動子が静止しているときに2つの検出振動系からの検出値の差をとると、静電結合の寄与によって差が0にならず、ノイズを生ずる。また、環境温度が変化すると、零点温度ドリフトの原因となることが分かった。
本発明の課題は、基部、駆動振動アームおよびY軸検出振動アームを有する振動型ジャイロスコープ用測定素子において、基部における検出振動アーム用配線における静電結合の寄与による零点温度ドリフトを低減することである。
第一の発明は、第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アームおよび前記第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するための複数の検出振動アームを備える振動子、
検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側信号電極、
検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側接地電極、
検出側信号電極に対応して基部に形成されている検出側信号配線、
および検出側接地電極に対応して前記基部に形成されている検出側接地配線を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
基部に前記検出側信号配線が複数設けられており、かつ複数の検出側信号配線が互いに電気的に分離されていることを特徴とする。
第二の発明は、第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アームおよび前記第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するための複数の検出振動アームを備える振動子、
検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側信号電極、および
検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側接地電極を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
検出振動アームが、所定面に略平行な一対の表面と、所定面に略垂直な一対の側面および各表面からそれぞれ所定面に略垂直な方向に突出する一対の細長い突起とを備えており、検出側接地電極が、少なくとも側面上に形成されていることを特徴とする。
第三の発明は、第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アーム、第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するためのY軸検出振動アーム、および基部から第二の軸Yに沿って突出し、所定面に略垂直な第三の軸Zの周りの回転角速度を検出するためのZ軸検出振動アームを備える振動子、
Y軸検出振動アームに設けられているY軸検出側信号電極、
Y軸検出振動アームに設けられているY軸検出側接地電極、
Z軸検出振動アームに設けられているZ軸検出側信号電極、
Z軸検出振動アームに設けられているZ軸検出側接地電極、
Y軸検出側信号電極に対応して基部に形成されているY軸検出側信号配線、
Y軸検出側接地電極に対応して基部に形成されているY軸検出側接地配線、
Z軸検出側信号電極に対応して基部に形成されているZ軸検出側信号配線、および
Z軸検出側接地電極に対応して前記基部に形成されているZ軸検出側接地配線を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
Y軸検出側接地電極とZ軸検出側接地配線とが共通であることを特徴とする。
第一の発明によれば、基部にY軸周りの回転角速度検出用信号配線が複数設けられており、複数の検出側信号配線が互いに電気的に分離されている。これによって、前述した静電結合に起因する零点温度ドリフトを著しく低減できることを見いだした。
また、本発明者は、検出振動アームが、所定面に略平行な一対の表面と、所定面に略垂直な一対の側面および各表面からそれぞれ所定面に略垂直な方向に突出する一対の細長い突起とを備えている場合に、その側面へと向かって駆動振動アーム側から静電結合が生じ、これが零点温度ドリフトに寄与していることを見いだした。この知見に基づき、検出側接地電極を検出振動アームの少なくとも側面上に形成することによって、零点温度ドリフトを著しく低減することに成功した。
第三の発明によれば、Y軸周りの回転角速度とZ軸周りの回転角速度とを測定可能な素子において、基部上において、Y軸検出側接地電極とZ軸検出側接地配線とを共通とすることによって、零点温度ドリフトを著しく低減することに成功した。これは、基部内において、Y軸検出側配線とZ軸検出側配線との間で静電結合が生じており、零点温度ドリフトに寄与していたことを示している。
最初に、本発明の好適な実施形態に係る振動型ジャイロスコープ用測定素子の原理および動作について述べ、次いで第一−第三の発明について順次説明する。
図1、図2は、それぞれ、本発明の一実施形態に係る振動子1Aを備えた振動型ジャイロスコープを概略的に示す斜視図である。図1では、Z軸周りの回転角速度に対応する振動モードを示し、図2では、Y軸周りの回転角速度に対応する振動モードを示す。図3は、駆動電極の形態を示す回路図であり、図4は、Z軸検出電極の形態を示す回路図であり、図5は、Y軸検出電極の形態を示す回路図である。
振動子1Aの基部2Aは、振動子の重心Gを中心として、例えば2回対称の長方形をしている。基部2Aの2つの短辺からそれぞれ支持部3が突出しており、各支持部3の先端側から支持部3に直交する方向に延びるように一対の駆動振動アーム4が設けられている。各駆動振動アーム4の先端は、駆動振動アーム4よりも幅の大きい幅広部5が設けられている。
また、基部2Aの2つの長辺からは、それぞれ2本のY軸検出振動アーム8が延びており、また基部2Aの2つの長辺の各中央部からは、それぞれ1本のZ軸検出振動アーム6が延びている。各Y軸検出振動アーム8の先端には、それぞれ、検出振動アーム8よりも幅広い幅広部9が設けられている。また、各Z軸検出振動アーム6の先端には、それぞれ、各検出振動アーム6よりも幅広い幅広部7が設けられている。
駆動振動アーム4には、それぞれ、図3に示すように、一対の細長い溝10が形成されている。すなわち、駆動振動アーム4は略H字形状を有しており、一対の基部15と、一対の基部15を連結する連結部14とを備えている。そして、溝10内には駆動電極16、18が形成されており、駆動振動アーム4の側面4a上には各駆動電極17が形成されている。駆動電極17と駆動電極16との間に交流電圧を印加することによって、駆動振動アーム4を矢印AのようにX−Y面内で屈曲振動させる。
また、Z軸検出振動アームには、それぞれ、図4に示すように、一対の細長い溝21が形成されている。すなわち、Z軸検出振動アーム6は略H字形状を有しており、一対の基部6aと、一対の基部6aを連結する連結部6bとを備えている。そして、溝10内には検出側信号電極32が形成されており、アーム6の側面上には各検出側接地電極33が形成されている。検出振動アーム6を矢印CのようにX−Y面内で屈曲振動させることによって、検出側信号電極32と接地電極33との間に信号電圧を発生させる。この信号に基づき、Z軸の周りの回転角速度を算出する。
また、Y軸検出振動アーム8の断面形態を図5に示す。この検出振動アーム8は、基部20Cと、基部20Cの表面20aから突出する一対の細長い突起20A、20Bとを備えており、これによって略十字形状をなしている。表面20aは所定面(X−Y面)に対して略平行である。そして、検出振動アーム8が矢印EのようにZ軸方向に屈曲振動すると、検出電極30、31間に起電力が発生するので、この起電力を端子15で検出する。
各駆動電極16、17、18に交流電圧を印加し、各駆動振動アーム4に、X軸方向の駆動振動Aを励振する。この状態で、図1に示すように、振動子1AをZ軸を中心として回転させると、各支持部3に、Y軸方向へと向かって、矢印Bのように屈曲振動する。これに対応して、各検出振動アーム6に、矢印CのようにX−Y面内で屈曲振動が生ずる。この屈曲振動を検出振動とし、検出する。
また、各駆動電極16、17、18に交流電圧を印加し、各駆動振動アーム4に、X軸方向の駆動振動Aを励振する。ここで、この状態で、図2に示すように、振動子1AをY軸を中心として回転させると、各駆動振動アーム4に、Z軸方向へと向かって、矢印Dのような屈曲振動が励振される。これに対応して、各検出振動アーム8に、矢印EのようにZ方向で屈曲振動が生ずる。この屈曲振動を検出振動とし、検出する。
本発明においては、振動子の少なくとも基部(好ましくは更に駆動振動アーム、検出振動アーム)が所定面(X−Y面)内に延びているが、これは厳密に幾何学的意味で所定面内に延びていることを言うものではなく、本技術分野において常識的な値、例えば、厚さにして1mm以下の範囲内に振動子が形成されていることを意味する。
振動子の材質は特に限定するものでないが、水晶、LiNbO3、LiTaO3、ニオブ酸リチウム−タンタル酸リチウム固溶体(Li(Nb,Ta)O3)単結晶、ホウ酸リチウム単結晶、ランガサイト単結晶等からなる圧電単結晶を使用することが好ましい。
本発明の振動子を圧電性材料によって形成した場合には、この振動子に駆動電極および検出電極を設ける。圧電性材料としては、圧電単結晶の他に、PZT等の圧電セラミックスがある。また、本発明の振動子を、エリンバー等の恒弾性金属によって形成することもできる。この場合には、振動子の所定箇所に圧電体を取り付ける必要がある。
配線、各電極、各パッドを製造する方法としては、真空蒸着法、スパッタリング法、電解メッキ法、無電解メッキ法等の公知の方法を採用できる。また、レーザーアブレーションや逆スパッタリングによって、配線から材質の一部を除去することによって、各配線を微調整できる。
以下、図1〜図5の素子を参照しつつ、本発明について更に詳細に説明する。
図6は、図1〜図5の素子についての本発明外の配線パターン例を示す模式的所定面図である。本例では、Z軸検出振動アーム6上には、Z軸検出側接地電極33とZ軸検出側信号電極32とが形成されている。ここで、Z軸検出側接地電極32は、基部2A表面のZ軸検出側接地配線43に接続されている。Z軸検出側信号電極33は、基部2A表面のZ軸検出側信号配線42に接続されている。接地配線43はアースされており、信号配線42は検出信号処理回路に接続されている。
また、各Y軸検出振動アーム8には、それぞれ、検出側信号電極30A〜Dと検出側接地電極31とが設けられている。各検出側接地電極31は、基部2A上の検出側接地配線41に接続されており、各検出側信号電極30A〜Dは、基部2A上の検出側信号配線40に接続されている。基部2A上の検出側信号配線40はすべて電気的に接続されており、従って各検出側信号電極30A〜Dも電気的に接続されている。従って、各検出側信号電極30A〜Dは並列接続されている。
しかし、このような配線方法であると、図6における検出側信号配線において静電結合が生じやすく、このために零点温度ドリフトが生じやすいことを発見した。
このため、第一の発明においては、基部にY軸回転角速度検出用信号配線が複数設けられており、複数の検出側信号配線を電気的に分離した。これによって、前述した静電結合に起因する零点温度ドリフトを著しく低減できることを見いだした。図7〜図11はこの発明に係るものである。
図7は、駆動電極系の配線パターンを示すものである。各駆動振動アーム8にはそれぞれ駆動側信号電極35と駆動側接地電極36とが形成されている。各駆動側信号電極35は配線61を通して基部2A上の配線パッド37に接続されており、各駆動側接地電極36は、それぞれ、配線40を通して基部2A上のパッド38に接続されている。
図8は、一実施形態に係るY軸検出側の基部2Aの表面2aでの配線パターンを模式的に示す所定面図であり、図9は、図8の実施形態に係るY軸検出側の基部2Aの裏面2b上の配線パターンを模式的に示す所定面図である。なお、駆動電極側の配線パターンは、図7に示したので図示省略する。各Z軸検出振動アーム上には検出側信号電極32と検出側接地電極33とが形成されている。各検出側信号電極32は、基部2A上の検出側信号配線42に接続されており、各検出側接地電極33は、基部2A上の検出側接地配線43に接続されている。
また、Y軸検出振動アーム上には、それぞれ、信号電極30A〜Dおよび接地電極31が形成されている。信号電極30A〜Dは、基部2Aの表面上の検出側信号配線40および裏面上の検出側信号配線に接続されている。接地電極31は、基部2Aの表面上の検出側接地配線41および裏面上の検出側接地配線41Aに接続されている。そして、図8において左上側の信号電極30Aと右上側の信号電極30Bとは基部裏面上の検出側信号配線40Aを通じて電気的に接続されている。また、図8において左下側の信号電極30Cと右下側の信号電極30Dとは基部裏面上の検出側信号配線40Aを通じて電気的に接続されている。そして、図8において左上側および右上側の検出側信号電極30A、30Bは、右下側および左下側の検出側信号電極30C、30Dに対して電気的に接続されていない。
図10は、一実施形態に係るY軸検出側の基部2Aの表面2a上での配線パターンを模式的に示す所定面図であり、図11は、図10の実施形態に係るY軸検出側の基部2Aの裏面2b上の配線パターンを模式的に示す所定面図である。駆動電極側の配線パターンは図示省略する。各Z軸検出振動アーム上には検出側信号電極32と検出側接地電極33とが形成されている。各検出側信号電極32は、基部2A上の検出側信号配線42Bに接続されており、各検出側接地電極33は、基部2A上の検出側接地配線43Bに接続されている。
また、Y軸検出振動アーム上には、それぞれ、信号電極30A〜Dおよび接地電極31が形成されている。各信号電極は、基部2Aの表面2a上の検出側信号配線40Bおよび裏面上の検出側信号配線40Cに接続されている。各接地電極31は、基部2Aの表面上の検出側信号配線41Bおよび裏面上の検出側信号配線41Cに接続されている。そして、図10において左上側の駆動側信号電極30Aと左下側の駆動側信号電極30Cとは基部裏面上の検出側信号配線40Cを通じて電気的に接続されている。また、図10において右上側の駆動側信号電極30Bと右下側の駆動側信号電極30Dとは基部裏面上の検出側信号配線40Cを通じて電気的に接続されている。そして、図10において左上側および左下側の検出側信号電極30A、30Cは、右上側および右下側の検出側信号電極30B、30Dに対して電気的に接続されていない。
好適な実施形態においては、電気的に分離された各検出側信号電極から得られた検出値の差動に基づいて、回転角速度を検出する。図12は、図8、図9のように、上側のY軸検出側信号電極と下側の検出側信号電極とが電気的に分離されている場合の回路例である。図12の検出振動アーム8は、基部20Cと、基部20Cの表面20aから突出する一対の細長い突起20A、20Bとを備えており、これによって略十字形状をなしている。表面20aは所定面(X−Y面)に対して略平行である。そして、検出振動アーム8が矢印EのようにZ軸方向に屈曲振動すると、一対の検出電極30A、30Dと31との間に起電力が発生するので、この起電力を端子15A、15Bで検出する。
ここで、図12は、図12(および図8、図9)において、上側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Aで検出する。また、下側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Bで検出する。端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値は同符号であるので加算する。この加算値に基づいて回転角速度を算出する。
しかし、この方法では、原因不明の静電結合成分が残留し、零点温度ドリフトの原因となっていることが分かった。そこで、各電気的に分離された各検出振動アームからの検出値の差動に基づいて回転角速度を算出することによって、このような静電結合に起因する零点温度ドリフトを低減できることを発見した。
即ち、図13(および図8、図9)の例では、上側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Aで検出する。また、下側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Bで検出する。ここで、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値は逆符号となるようにする。従って、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値とを減算して差動をとり、この差動に基づいて回転角速度を検出する。この方法によると、前述した静電結合に起因する温度ドリフトが低減された。
また、図14の回路図は、図10、図11の素子に適合するものである。この例では、左側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Aで検出する。また、右側二つの検出振動アームにおける測定値を加算して端子15Bで検出する。ここで、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値は逆符号となるようにする。従って、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値とを減算して差動をとり、この差動に基づいて回転角速度を検出する。この方法によると、前述した静電結合に起因する温度ドリフトが低減された。
第二の発明においては、検出振動アームが、所定面に略平行な一対の表面と、所定面に略垂直な一対の側面および各表面からそれぞれ所定面に略垂直な方向に突出する一対の細長い突起とを備えており、検出側接地電極が、少なくとも側面上に形成されている。この発明の実施形態について述べる。
好適な実施形態においては、検出側接地電極が、検出振動アームの表面および突起の少なくとも一部を被覆する。また、好適な実施形態においては、検出側信号電極が、検出振動アームの表面および突起の少なくとも一部を被覆する。
例えば図15(a)に示すような電極パターンであると、この断面十字形状のアームの側面46と、隣接する駆動振動アーム上の電極との間で静電結合があり、零点温度ドリフトの原因となっていることを発見した。ここで、第二の発明に従い、図15(b)に示すように、接地電極31Aを延長して、側面46を被覆する側面被覆部31cを設けた。これによって、隣接する駆動振動アームとの静電結合に起因する零点温度ドリフトを低減することに成功した。
また、第三の発明においては、更にZ軸検出側信号配線およびZ軸検出側接地配線を基部上に設ける場合に、Y軸検出側接地電極とZ軸検出側接地配線とを共通配線とする。即ち、Y軸検出側接地配線とZ軸検出側接地配線とを電気的に導通させる。本発明者は、Y軸検出側配線とZ検出側配線との間での静電結合に起因する零点温度ドリフトを発見し、上記のように、Y軸検出側接地電極とZ軸検出側接地配線とを共通配線とすることによって、零点温度ドリフトを改善することに成功した。
図16、図17は、第三の発明の実施形態に係るものである。図16は基部の表面2a側を示し、図17は基部の裏面2b側を示す。Z軸検出側信号電極は、基部表面の検出側信号配線42Dに接続され、裏面(図17)側の検出側信号電極42Eにも接続される。Z軸検出側接地電極は、基部表面側の検出側信号配線60bに接続され、裏面側の検出側接地配線43Eにも接続される。
各Y軸検出側信号電極30A〜30Dは、基部表面側の検出側信号配線40Dおよび裏面側の検出側信号配線40Eに接続されている。図16において上側の二つのY軸検出側信号電極30A〜30Dは、検出側信号配線40Dおよび40Eを通じて互いに電気的に接続されており、下側の二つの検出側信号配線30A〜30Dは、検出側信号配線40Dおよび40Eを通じて互いに電気的に接続されている。上側の二つの検出側信号電極と下側の二つの検出側信号電極とは互いに電気的に導通していない。即ち、図16、図17の素子は、第一の発明の実施形態でもある。
ここで、本例では、各検出側接地電極31が、それぞれ対応する検出側接地配線60a、60cに対して接続されている。そして、各検出側接地配線60a、60cは、それぞれ中央にあるZ軸用の検出側接地配線60bと電気的に接続されており、一体の共通接地配線60を形成している。
(比較例1)
図1〜図5を参照しつつ説明した素子を作製し、静電結合差および零点温度ドリフトを測定した。
具体的には、図1〜図5に示すような形態を有する振動子1Aを、ホトリソグラフィーおよびエッチング技術を用いて製造した。ただし、振動子本体は、厚さ0.1mmの水晶基板から作製した。また、各電極は、厚さ0.03μmのCr(下地層)と厚さ0.2μmの電極用Au膜とから形成した。各駆動振動アーム4の厚さ/幅の比率(TA/WA)は、1.4とした。得られた振動子に共振周波数50kHzの駆動振動を励振した。振動子を回転させることなく、検出信号を計測した。
ここで、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図6の形態(共通配線)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)(側面被覆なし)とした。従って、本例は第一−第三の発明を満足していない。この結果、静電結合差は5Fであり、零点温度ドリフトは40dpsであった。この結果を表1に示す。
(実施例1)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図8の形態(上下分離)とし、Y軸における検出値の処理は和動(図12)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)(側面被覆なし)とした。従って、本例は第一の発明を満足する。この結果、静電結合差は2.5Fであり、零点温度ドリフトは20dpsであった。
(実施例2)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図8の形態(上下分離)とし、Y軸における検出値の処理は差動(図13)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)(側面被覆なし)とした。従って、本例は第一の発明を満足する。この結果、静電結合差は2Fであり、零点温度ドリフトは10dpsであった。
(実施例3)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図10の形態(左右分離)とし、Y軸における検出値の処理は和動(図12)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)(側面被覆なし)とした。従って、本例は第一の発明を満足する。この結果、静電結合差は2.6Fであり、零点温度ドリフトは25dpsであった。
(実施例4)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図10の形態(左右分離)とし、Y軸における検出値の処理は差動(図13)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)とした。従って、本例は第一の発明を満足する。この結果、静電結合差は2.1Fであり、零点温度ドリフトは12dpsであった。
(実施例5)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図8の形態(上下分離)とし、Y軸における検出値の処理は差動(図13)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(b)(側面被覆)とした。従って、本例は第一、第二の発明を満足する。この結果、静電結合差は1.7Fであり、零点温度ドリフトは8dpsであった。
(実施例6)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図16のパターン(上下分離)とし、Y軸における検出値の処理は差動(図13)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(a)(側面被覆せず)とした。従って、本例は第一、第三の発明を満足する。この結果、静電結合差は1.6Fであり、零点温度ドリフトは5dpsであった。
(実施例7)
実施例1と同様にして図1〜図5に示す素子を作製し、その静電結合差と零点温度ドリフトとを測定した。ただし、Y軸、Z軸関係の信号配線パターンは図16のパターン(上下分離)とし、Y軸における検出値の処理は差動(図13)とし、Y軸検出振動アームにおける電極被覆パターンは図15(b)(側面被覆)とした。従って、本例は第一、第二、第三の発明を満足する。この結果、静電結合差は1.2Fであり、零点温度ドリフトは3dpsであった。
Figure 2007086003
本発明を適用可能な測定素子1Aを示す斜視図であり、駆動振動AおよびZ軸検出振動モードCを示す。 図1の測定素子1Aを示す斜視図であり、駆動振動AおよびY軸検出振動モードEを示す。 駆動振動アーム4の横断面図である。 Z軸検出振動アーム6の横断面図である。 Y軸検出振動アーム8の横断面図である。 素子の配線例を示す図であり、Y軸検出側信号配線が共通配線となっている。 素子の駆動用配線例を示す図である。 基部表面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、上側の二つの検出側信号電極30A、30B用の検出側信号配線40と下側の二つの検出側信号電極30C、30D用の検出側信号配線40とが電気的に分離されている。 基部裏面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、上側の二つの検出側信号電極30A、30Bの検出側信号配線40Aと下側の二つの検出側信号電極30C、30D用の検出側信号配線40Aとが電気的に分離されている。 基部表面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、左側の二つの検出側信号電極30A、30C用の検出側信号配線40Bと左下側の二つの検出側信号電極30B、30D用の検出側信号配線40Bとが電気的に分離されている。 基部裏面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、左側の二つの検出側信号電極30A、30C用の検出側信号配線40Cと左下側の二つの検出側信号電極30B、30D用の検出側信号配線40Cとが電気的に分離されている。 検出側信号電極からの信号の処理回路を示す図であり、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値との和動に基づいて回転角速度を算出する。 検出側信号電極からの信号の処理回路を示す図であり、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値との差動に基づいて回転角速度を算出する。 検出側信号電極からの信号の処理回路を示す図であり、端子15Aにおける検出値と端子15Bにおける検出値との差動に基づいて回転角速度を算出する。 (a)は、Y軸検出振動アームにおける検出側信号電極および検出側接地電極の形態を示す横断面図であり、(b)は、第二の発明に係る、Y軸検出振動アームにおける検出側信号電極および検出側接地電極の形態を示す横断面図である。 基部表面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、上側の二つの検出側信号電極30A、30B用の検出側信号配線40Dと下側の二つの検出側信号電極30C、30D用の検出側信号配線40Dとが電気的に分離されており、Z軸検出側接地配線とY軸検出側接地配線とが共通配線をなしている。 基部裏面面におけるZ軸およびY軸用の配線例を示す図であり、上側の二つの検出側信号電極30A、30B用の検出側信号配線40Eと下側の二つの検出側信号電極30C、30D用の検出側信号配線40Eとが電気的に分離されており、Z軸検出側接地配線とY軸検出側接地配線とが共通配線をなしている。
符号の説明
1A 測定素子 2A 基部 4 駆動振動アーム 6 Z軸検出振動アーム 8 Y軸検出振動アーム 20A、20B 突起 20C Y軸検出振動アームの本体 30 Y軸検出側信号電極 31 Y軸検出側接地電極 32 Z軸検出側信号電極 3 Z軸 検出側接地電極 40、40A、40B、40C、40D、40E Y軸検出側信号配線 41、41A、41B、41C、41D、41E Y軸検出側接地配線 42、42A、42B、42C、42D、42E Z軸検出側信号配線 43、43A、43B、43C、43D、43E Z軸検出側接地配線 A 駆動振動 C Z軸検出振動 E Y軸検出振動

Claims (9)

  1. 第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アームおよび前記第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するための複数の検出振動アームを備える振動子、
    前記検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側信号電極、
    前記検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側接地電極、
    前記検出側信号電極に対応して前記基部に形成されている検出側信号配線、
    および前記検出側接地電極に対応して前記基部に形成されている検出側接地配線を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
    前記基部に前記検出側信号配線が複数設けられており、かつ複数の前記検出側信号配線が互いに電気的に分離されていることを特徴とする、振動型ジャイロスコープ用測定素子。
  2. 少なくとも二つの前記検出振動アームが前記第二の軸Yの正方向に向かって突出しており、少なくとも二つの前記検出振動アームが前記第二の軸Yの負方向へと向かって突出していることを特徴とする、請求項1記載の測定素子。
  3. 前記検出側信号配線が第一の検出側信号配線および第二の検出側信号配線を含み、前記第一の検出側信号配線が前記第二の軸Yの正方向へと向かって伸びる前記検出振動アームに対応しており、前記第二の検出側信号配線が前記第二の軸Yの負方向へと向かって伸びる前記検出振動アームに対応しており、前記第一の検出側信号配線と前記第二の検出側信号配線とが電気的に分離されていることを特徴とする、請求項2記載の測定素子。
  4. 前記検出側信号配線が第一の検出側信号配線および第二の検出側信号配線を含み、前記第一の検出側信号配線が、前記第二の軸Yの正方向へと向かって伸びる少なくとも一つの前記検出振動アームおよび前記第二の軸Yの負方向へと向かって伸びる少なくとも一つの前記検出振動アームに対応しており、前記第二の検出側信号配線が、前記第二の軸Yの正方向へと向かって伸びる少なくとも一つの前記検出振動アームおよび前記第二の軸Yの負方向へと向かって伸びる少なくとも一つの前記検出振動アームに対応しており、前記第一の検出側信号配線と前記第二の検出側信号配線とが電気的に分離されていることを特徴とする、請求項2記載の測定素子。
  5. 複数の前記検出側信号配線から得られた複数の検出値の差動に基づいて回転角速度を得ることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一つの請求項に記載の算出することを特徴とする、測定素子。
  6. 第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アームおよび前記第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するための複数の検出振動アームを備える振動子、
    前記検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側信号電極、および
    前記検出振動アームにそれぞれ設けられている検出側接地電極を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
    前記検出振動アームが、前記所定面に略平行な一対の表面と、前記所定面に略垂直な一対の側面および前記各表面からそれぞれ前記所定面に略垂直な方向に突出する一対の細長い突起とを備えており、前記検出側接地電極が、少なくとも前記側面上に形成されていることを特徴とする、振動型ジャイロスコープ用測定素子。
  7. 前記検出側接地電極が、前記表面および前記突起の少なくとも一部を被覆することを特徴とする、請求項6記載の測定素子。
  8. 前記検出側信号電極が、前記表面および前記突起の少なくとも一部を被覆することを特徴とする、請求項6記載の測定素子。
  9. 第一の軸Xおよび第二の軸Yを含む所定面に沿って伸びる基部、駆動振動アーム、前記第二の軸Yの周りの回転角速度を検出するためのY軸検出振動アーム、および前記前記所定面に略垂直な第三の軸Zの周りの回転角速度を検出するためのZ軸検出振動アームを備える振動子、
    前記Y軸検出振動アームに設けられているY軸検出側信号電極、
    前記Y軸検出振動アームに設けられているY軸検出側接地電極、
    前記Z軸検出振動アームに設けられているZ軸検出側信号電極、
    前記Z軸検出振動アームに設けられているZ軸検出側接地電極、
    前記Y軸検出側信号電極に対応して前記基部に形成されているY軸検出側信号配線、
    前記Y軸検出側接地電極に対応して前記基部に形成されているY軸検出側接地配線、
    前記Z軸検出側信号電極に対応して前記基部に形成されているZ軸検出側信号配線、および
    前記Z軸検出側接地電極に対応して前記基部に形成されているZ軸検出側接地配線を備えている振動型ジャイロスコープ用測定素子であって、
    前記Y軸検出側接地電極と前記Z軸検出側接地配線とが共通であることを特徴とする、振動型ジャイロスコープ用測定素子。
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