JP2007081870A - 表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】画像取り込み機能を備えた表示装置において、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減する。
【解決手段】演算処理回路11により、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するようにn個1列に配置された遮光センサ9による出力信号N(1)〜N(n)を用いて、表示領域3においてn行m列に配置された表示素子8に内蔵された画像取り込みセンサ16により出力された撮像信号S(n,m)から出力信号N(1)〜N(n)を減算することで、ノイズ成分を除去する。
【選択図】図1
【解決手段】演算処理回路11により、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するようにn個1列に配置された遮光センサ9による出力信号N(1)〜N(n)を用いて、表示領域3においてn行m列に配置された表示素子8に内蔵された画像取り込みセンサ16により出力された撮像信号S(n,m)から出力信号N(1)〜N(n)を減算することで、ノイズ成分を除去する。
【選択図】図1
Description
本発明は、画像取り込み機能を備えた表示装置に関する。
近年、画像取り込み機能を備えた表示装置が開発されている(例えば、特許文献1参照)。このような表示装置では、画像取り込み時において、表示素子に内蔵されたセンサが、紙面などの画像取り込み対象物からの反射光または外光を受光し、受光した光強度に応じた撮像信号を出力する。
特開2004−318819号公報
しかしながら、センサにより得られた撮像信号には、熱やその他の影響によるノイズ成分が含まれる。このため、撮像信号の品位が劣化するという問題がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、画像取り込み機能を備えた表示装置において、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することを課題とする。
本発明に係る表示装置は、受光した光に応じた撮像信号を出力するセンサを内蔵した複数の表示素子が、行列状に配置されている表示領域と、遮光された撮像部を有する遮光センサが、表示領域の周囲に配置されている遮光センサ領域と、遮光センサによる出力信号を用いて、センサによる撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理回路と、を有する。
本発明にあっては、演算処理回路により、表示領域の周囲に配置された遮光センサによる出力信号を用いて、表示領域の表示素子に内蔵されたセンサにより出力された撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う。
また、上記表示装置における遮光センサは、表示領域の先頭列又は最終列の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように、列状に配置されていることを特徴とする。
本発明にあっては、演算処理回路により、表示領域の先頭列又は最終列の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように列状に配置された遮光センサによる出力信号を用いて、表示領域において行列状に配置された各表示素子に内蔵されたセンサにより出力された撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う。
さらに、上記表示装置における遮光センサは、遮光センサは、表示領域の先頭行又は最終行の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように、行状に配置されていることを特徴とする。
本発明にあっては、演算処理回路により、表示領域の先頭行又は最終行の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように行状に配置された遮光センサによる出力信号を用いて、表示領域において行列状に配置された各表示素子に内蔵されたセンサにより出力された撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う。
また、上記表示装置における遮光センサの撮像部は、金属性の薄膜又は遮光膜により遮光されていることを特徴とする。
本発明の画像取り込み機能を備えた表示装置によれば、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号を得ることができる。
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態に係る表示装置の概略的な構成を示す平面図である。同図に示すように、表示装置は、ガラス基板1と半導体基板2とを有する。ここで表示装置は、例えば、図示しないが、ガラス基板1に対向して配置されたガラス基板、両ガラス基板の間隙に配置された液晶層を有する液晶表示装置とする。
図1は、第1の実施の形態に係る表示装置の概略的な構成を示す平面図である。同図に示すように、表示装置は、ガラス基板1と半導体基板2とを有する。ここで表示装置は、例えば、図示しないが、ガラス基板1に対向して配置されたガラス基板、両ガラス基板の間隙に配置された液晶層を有する液晶表示装置とする。
ガラス基板1上には、表示領域3と、遮光センサ領域4と、信号線駆動回路5と、走査線駆動回路6と、検出・出力回路7とが配置され、また、ここでは図示しないが、センサにプリチャージ電圧を供給するプリチャージ回路、センサの入力線、出力線を駆動させるセンサ駆動回路が配置される。各回路は、例えば低温ポリシリコン技術を使用してガラス基板1上に一体的に形成される。
表示領域3においては、受光した光に応じた撮像信号を出力する画像取り込みセンサを内蔵した複数の表示素子8が、n行m列に配置されている。尚、n、mは互いに異なる正の整数とする。
遮光センサ領域4においては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9が、表示領域3の周囲に配置されている。ここでは、遮光センサ9は、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するように、n個1列に配置されている。
信号線駆動回路5は、デジタル画像データを表示素子8が有する画素TFTの駆動に適したアナログ電圧に変換するD/A変換回路を有し、信号線を駆動する。走査線駆動回路6は、走査線を駆動する。
検出・出力回路7は、センサで検出されたデジタルデータに変換するA/D変換回路と、変換されたパラレルデータをシリアルデータに変換するP/S変換回路とを有し、半導体基板2上の回路にデータを出力する。
半導体基板2上においては、制御回路10と、演算処理回路11とが実装されている。
制御回路10は、信号線駆動回路5、走査線駆動回路6に対して画像表示のタイミングを指示する制御信号、センサ駆動回路に画像取り込みのタイミングを指示する制御信号、プリチャージ回路に対してセンサを動作させるタイミングを指示する制御信号などを供給する。
演算処理回路11は、検出・出力回路7から出力された各センサからの信号を受信し、遮光センサ9による出力信号を用いて、画像取り込みセンサによる撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う。
ここでは、ガラス基板1上と半導体基板2は、フレキシブルプリント基板12を介して各種の信号の送受信を行うものとする。
次に、遮光センサと画像取り込みセンサの構成と共に図2を用いて説明する。同図は、図1の表示領域3と遮光センサ領域4との境界部分を拡大した平面図である。
同図に示すように、表示領域3において、表示素子8は、互いに交差して配線された走査線13と信号線14R〜14Bの各交差部に配置された3つの画素TFT15と、画素TFT15の一端に接続される液晶容量C1及び補助容量C2補助容量Csと、1つの画像取り込みセンサ16とを有する。ここでは例えば、画像取り込みセンサ16は、赤、緑、青の3つの画素に対応して1つ配置される。また、同図の添え字nは正の整数を表し、走査線の順番に相当する。
画像取り込みセンサ16は、プリチャージ用スイッチTFT17と、出力用スイッチTFT19と、図示しない撮像部と、電荷蓄積部と、撮像結果格納部とを有する。
プリチャージ用スイッチTFT17は、制御回路10からの指示に従って、センサ駆動回路からリセット制御信号線18に供給される制御信号により、画像取り込みセンサ16のプリチャージ電圧を供給する信号線14Gと画像取り込みセンサ16の入力部とを電気的に接続するか否かを切り換える。
出力用スイッチTFT19は、制御回路10からの指示に従って、センサ駆動回路から出力制御信号線20に供給される制御信号により、画像取り込みセンサ16の信号を出力する信号線14Bと画像取り込みセンサ16の出力部とを電気的に接続するか否かを切り換える。
撮像部は、それぞれが指定された範囲の入射光を受光して電気信号に変換する。ここで例えば、撮像部には、PINフォトダイオードを使用する。
電荷蓄積部は、撮像部で変換された電気信号に応じた電荷を蓄積する。ここで例えば、電荷蓄積部にはPINフォトダイオードのセンサ容量が相当する。
撮像結果格納部は、電荷蓄積部に蓄積された電荷に応じた信号を一時的に格納する。ここで例えば、撮像結果格納部にはSRAMを使用する。
遮光センサ領域4においては、遮光センサ9が、表示領域3の表示素子8に対応するように配置されている。
遮光センサ9は、プリチャージ用スイッチTFT17と、出力用スイッチTFT19と、図示しない撮像部と、電荷蓄積部と、撮像結果格納部とを有する。
プリチャージ用スイッチTFT17は、制御回路10からの指示に従って、センサ駆動回路からリセット制御信号線18に供給される制御信号により、遮光センサ9のプリチャージ電圧を供給するプリチャージ供給線21と遮光センサ9の入力部とを電気的に接続するか否かを切り換える。
出力用スイッチTFT19は、制御回路10からの指示に従って、センサ駆動回路から出力制御信号線20に供給される制御信号により、遮光センサ9の信号を出力する出力線22と遮光センサ9の出力部とを電気的に接続するか否かを切り換える。
撮像部は、それぞれが指定された範囲の入射光を受光して電気信号に変換する。ここで撮像部であるPINフォトダイオードは、例えば、金属性の薄膜により遮光される。
電荷蓄積部は、撮像部で変換された電気信号に応じた電荷を蓄積する。ここで例えば、電荷蓄積部にはPINフォトダイオードのセンサ容量が相当する。
撮像結果格納部は、電荷蓄積部に蓄積された電荷に応じた信号を一時的に格納する。ここで例えば、撮像結果格納部にはSRAMなどのメモリを使用する。
次に、画像取り込みセンサと遮光センサによる画像取り込み動作について説明する。画像取り込みセンサ16の画像取り込み動作においては、まず、センサ駆動回路により、リセット制御信号線18の制御信号がハイレベルになると、プリチャージ用スイッチTFT17により、信号線14Gと画像取り込みセンサ16の入力部とが接続され、プリチャージ回路から、信号線14Gを介して画像取り込みセンサ16のセンサ容量にプリチャージ電圧が供給される。
一定時間経過した後、外部からの入射光に応じて画像取り込みセンサ16のセンサ容量の電位が変動する。そして、センサ駆動回路により、出力制御信号線20の制御信号がハイレベルになると、出力用スイッチTFT19により、信号線14Bと画像取り込みセンサ16の出力部とが接続され、画像取り込みセンサ16のメモリに格納されたセンサ信号が、信号線14Bへ出力される。
このようにして、画像取り込みセンサ16により、画像取り込み対象物からの反射光若しくは外光などに応じた撮像信号が検出・出力回路7に出力される。
一方、遮光センサの画像取り込み動作においては、まず、センサ駆動回路により、リセット制御信号線18の制御信号がハイレベルになると、プリチャージ用スイッチTFT17により、プリチャージ供給線21と遮光センサ9の入力部とが接続され、プリチャージ回路から、プリチャージ供給線21を介して遮光センサ9のセンサ容量にプリチャージ電圧が供給される。
一定時間経過した後、遮光センサ9のセンサ容量の電位が変動する。遮光センサの撮像部は遮光されているので、センサ容量の変動は、熱やその他の影響によるノイズ成分によるものである。
そして、センサ駆動回路により、出力制御信号線20の制御信号がハイレベルになると、出力用スイッチTFT19により、出力線22と遮光センサ9の出力部とが接続され、遮光センサ9のメモリに格納されたセンサ信号が、出力線22へ出力される。
このようにして、遮光センサ9により、ノイズ成分のみの撮像信号が検出・出力回路7に出力される。
検出・出力回路7から出力された各センサからの信号は、演算処理回路11により、受信され撮像信号の強度を示す連続データに拡張される。ここで、n行×m列の表示素子8が配置された表示領域3における画像取り込みセンサ16による撮像信号をS(n,m)、列状に配置された遮光センサ9による出力信号をN(1)〜N(n)と表す。
次に、遮光センサと画像取り込みセンサにより検出された撮像信号の演算処理について説明する。演算処理回路11は、遮光センサ9による出力信号N(1)〜N(n)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)からノイズ成分を除去する演算を行う。ここでは、1行目の遮光センサ9による出力信号N(1)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(1,1)〜S(1,m)からノイズ成分を除去する演算について説明する。
次式を用いて、差分により、ノイズ成分が除去された撮像信号をS´(1,1)〜S´(1,m)を得る。
S´(1,1) = S(1,1) − N(1)
S´(1,2) = S(1,2) − N(1)
・・・ ・・・ ・・・
S´(1,m) = S(1,m) − N(1)
このように、1行目の遮光センサ9による出力信号N(1)を用いて、表示領域の1行目に配置された表示素子8に対応する画像取り込みセンサの撮像信号S(1,1)〜S(1,m)から出力信号N(1)を減算することで、ノイズ成分が除去された撮像信号S´(1,1)〜S´(1,m)が演算される。
S´(1,2) = S(1,2) − N(1)
・・・ ・・・ ・・・
S´(1,m) = S(1,m) − N(1)
このように、1行目の遮光センサ9による出力信号N(1)を用いて、表示領域の1行目に配置された表示素子8に対応する画像取り込みセンサの撮像信号S(1,1)〜S(1,m)から出力信号N(1)を減算することで、ノイズ成分が除去された撮像信号S´(1,1)〜S´(1,m)が演算される。
2行目以降の遮光センサ9による出力信号N(2)〜N(n)を用いた演算処理についても、同様な処理を行うことで、ノイズ成分が除去された撮像信号が演算される。
これにより、演算処理回路11により、各画像取り込みセンサ16で得られたn×mの撮像信号S(n,m)の全てに対してノイズ成分が除去された撮像信号S´(n,m)が演算される。
したがって、第1の実施の形態によれば、演算処理回路11により、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するようにn個1列に配置された遮光センサ9による出力信号N(1)〜N(n)を用いて、表示領域3においてn行m列に配置された表示素子8に内蔵された画像取り込みセンサ16により出力された撮像信号S(n,m)から出力信号N(1)〜N(n)を減算することで、ノイズ成分を除去する。
これにより、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号S´(n,m)を得ることができる。
尚、第1の各実施の形態においては、遮光センサを、表示領域の先頭列に配置された表示素子に対応するように列状に配置したが、これに限られるものではなく、表示領域の先頭列に配置された表示素子が有する画像取り込みセンサの撮像部を遮光することにより、画像取り込みセンサを遮光センサとして使用する構成にしてもよい。このような構成においても、第1の実施の形態と同等な効果を奏することができる。
また、第1の実施の形態においては、遮光センサを、表示領域の先頭列に配置された表示素子に対応するように、列状に配置する構成にしたが、これに限られるものではなく、例えば遮光センサを、表示領域の最終列に配置された表示素子に対応するように、列状に配置する構成や、表示領域の先頭行又は最終行に配置された表示素子に対応するように、行状に配置する構成にしてもよい。このような構成においても、第1の実施の形態と同等な効果を奏することができる。
[第2の実施の形態]
以下、第2の実施の形態に係る表示装置について説明する。
以下、第2の実施の形態に係る表示装置について説明する。
第2の実施の形態における表示装置の構成は、第1の実施の形態で説明したものと基本的な構成は同様である。第1の実施の形態と異なる点は、遮光センサが、表示領域の先頭列及び最終列に配置された表示素子に対応するように、表示領域の周囲に、それぞれ列状に配置されている点である。
以下では、第1の実施の形態と異なる点を中心に説明し、既に説明した点については説明を省略する。
図3は、第2の実施の形態に係る表示装置の概略的な構成を示した断面図である。同図に示すように、n行m列に配置され、画像取り込みセンサ16を内蔵した表示素子8を有する表示領域3の周囲には、互いに対向するように遮光センサ領域4aと4bとが設けられている。
遮光センサ領域4aにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9aが、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するようにn個1列に配置されている。
一方で、遮光センサ領域4bにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9bが、表示領域3の最終列に配置された表示素子8に対応するようにn個1列に配置されている。
n行×m列の表示素子8が配置された表示領域3における画像取り込みセンサ16による撮像信号をS(n,m)、列状に配置された遮光センサ9aによる出力信号をNa(1,1)〜Na(n,1)、列状に配置された遮光センサ9bよる出力信号をNb(1,m)〜Nb(n,m)と表す。
n行×m列の表示素子8が配置された表示領域3における画像取り込みセンサ16による撮像信号をS(n,m)、列状に配置された遮光センサ9aによる出力信号をNa(1,1)〜Na(n,1)、列状に配置された遮光センサ9bよる出力信号をNb(1,m)〜Nb(n,m)と表す。
次に、遮光センサと画像取り込みセンサにより検出された撮像信号の演算処理について説明する。演算処理回路11は、遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)〜Na(n,1)と、遮光センサ9bよる出力信号Nb(1,m)〜Nb(n,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)からノイズ成分を除去する演算を行う。
ここでは、1行目の遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)と、遮光センサ9bよる出力信号Nb(1,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(1,1)〜S(1,m)からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理について説明する。
ここでは、1行目の遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)と、遮光センサ9bよる出力信号Nb(1,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(1,1)〜S(1,m)からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理について説明する。
まず、線形補間法により、出力信号Na(1,1)と、出力信号Nb(1,m)の2つの信号から、m個の撮像信号S(1,1)〜S(1,m)に対応する出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を求める。
そして、次式に示すように差分により、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を用いてノイズ成分が除去された撮像信号S´ab(1,1)〜S´ab(1,m)を演算する。
S´ab(1,1) = S(1,1) − N´(1,1)
S´ab(1,2) = S(1,2) − N´(1,2)
・・・ ・・・ ・・・
S´ab(1,m) = S(1,m) − N´(1,m)
図4は、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を用いて、m個の撮像信号S(1,1)〜S(1,m)からノイズ成分が除去された撮像信号S´ab(1,1)〜S´ab(1,m)を演算する概念図である。
S´ab(1,2) = S(1,2) − N´(1,2)
・・・ ・・・ ・・・
S´ab(1,m) = S(1,m) − N´(1,m)
図4は、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を用いて、m個の撮像信号S(1,1)〜S(1,m)からノイズ成分が除去された撮像信号S´ab(1,1)〜S´ab(1,m)を演算する概念図である。
このように、1行目の遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)及び遮光センサ9bによる出力信号Nb(1,m)を線形補間した出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を用いて、表示領域の1行目に配置された表示素子8に対応する画像取り込みセンサの撮像信号S(1,1)〜S(1,m)から出力信号N´(1,1)〜N´(1,m)を減算することで、ノイズ成分が除去された撮像信号S´ab(1,1)〜S´ab(1,m)が演算される。
2行目以降の遮光センサ9aによる出力信号Na(2,1)〜Na(n,1)と、遮光センサ9bよる出力信号Nb(2,m)〜Nb(n,m)を用いた画像取り込みセンサ16による撮像信号からノイズ成分を除去する演算についても同様に、線形補間及び差分による演算処理を行う。
これにより、演算処理回路11により、画像取り込みセンサ16によるn×mの撮像信号S(n,m)全てに対してノイズ成分が除去された撮像信号したS´(n,m)が演算される。
したがって、第2の実施の形態によれば、演算処理回路11により、遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)〜Na(n,1)及び遮光センサ9bよる出力信号Nb(1,m)〜Nb(n,m)を線形補間して得られた出力信号N´(n,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)から出力信号N´(n,m)を減算することで、ノイズ成分を除去する。
これにより、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号S´(n,m)を得ることができる。
これにより、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号S´(n,m)を得ることができる。
尚、第2の各実施の形態においては、遮光センサを、表示領域の先頭列及び最終列に配置された表示素子に対応するように、表示領域の周囲に、それぞれ列状に配置する構成としたが、これに限られるものではなく、表示領域の先頭列及び最終列に配置された表示素子が有する画像取り込みセンサの撮像部を遮光することにより、画像取り込みセンサを遮光センサとして使用する構成にしてもよい。このような構成においても、第2の実施の形態と同等な効果を奏することができる。
また、第2の実施の形態においては、遮光センサを、表示領域の先頭列と最終列に配置された表示素子に対応するように、それぞれ列状に配置する構成としたが、これに限られるものではなく、例えば、遮光センサを、表示領域の先頭行と最終行に配置された表示素子に対応するように、それぞれ行状に配置する構成してもよい。このような構成においても、第2の実施の形態と同等な効果を奏することができる。
[第3の実施の形態]
以下、第3の実施の形態に係る表示装置について説明する。
以下、第3の実施の形態に係る表示装置について説明する。
第3の実施の形態における表示装置の構成は、第1の実施の形態で説明したものと基本的な構成は同様である。第1の実施の形態と異なる点は、遮光センサが、表示領域の先頭列及び最終列及び先頭行及び最終行に配置された表示素子に対応するように、表示領域の周囲に配置されている点である。
以下では、第1の実施の形態と異なる点を中心に説明し、既に説明した点については説明を省略する。
図5は、第3の実施の形態に係る表示装置の概略的な構成を示した断面図である。同図に示すように、n行m列に配置され、画像取り込みセンサ16を内蔵した表示素子8を有する表示領域3の周囲には、遮光センサ領域4a、4b、4c、4dが設けられている。
遮光センサ領域4aにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9aが、表示領域3の先頭列に配置された表示素子8に対応するように、n個1列に配置されている。
遮光センサ領域4bにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9bが、表示領域3の最終列に配置された表示素子8に対応するように、n個1列に配置されている。
遮光センサ領域4cにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9cが、表示領域3の先頭行に配置された表示素子8に対応するように、m個1行に配置されている。
遮光センサ領域4dにおいては、遮光された撮像部を有する遮光センサ9bが、表示領域3の最終行に配置された表示素子8に対応するように、m個1行に配置されている。
表示領域3におけるn行×m列の画像取り込みセンサ16による撮像信号をS(n,m)、遮光センサ9aによる出力信号をNa(1,1)〜Na(n,1)、遮光センサ9bよる出力信号をNb(1,m)〜Nb(n,m)、遮光センサ9cによる出力信号をNc(1,1)〜Nc(1,m)、遮光センサ9dによる出力信号をNd(n,1)〜Nd(n,m)と表す。
次に、遮光センサと画像取り込みセンサにより検出された撮像信号の演算処理について説明する。最初に、演算処理回路11により、遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,1)〜Nc(1,m)と、遮光センサ9dによる出力信号Nd(n,1)〜Nd(n,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)からノイズ成分を除去する演算が行われる。
ここでは、1列目の遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,1)と、遮光センサ9dよる出力信号Nd(n,1)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(1,1)〜S(n,1)からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理について説明する。
ここでは、1列目の遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,1)と、遮光センサ9dよる出力信号Nd(n,1)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(1,1)〜S(n,1)からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理について説明する。
まず、線形補間により、出力信号Nc(1,1)と、出力信号Nd(n,1)の2つの信号から、n個の撮像信号S(1,1)〜S(n,1)に対応する出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を求める。
次に、次式に示すように、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を用いてノイズ成分が除去された撮像信号S´cd(1,1)〜S´cd(n,1)を演算する。
S´cd(1,1) = S(1,1) − N´(1,1)
S´cd(2,1) = S(2,1) − N´(2,1)
・・・ ・・・ ・・・
S´cd(n,1) = S(n,1) − N´(n,1)
図6は、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を用いて、n個の撮像信号S(1,1)〜S(n,1)からノイズ成分が除去された撮像信号S´cd(1,1)〜S´cd(n,1)を演算する概念図である。
S´cd(2,1) = S(2,1) − N´(2,1)
・・・ ・・・ ・・・
S´cd(n,1) = S(n,1) − N´(n,1)
図6は、線形補間された出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を用いて、n個の撮像信号S(1,1)〜S(n,1)からノイズ成分が除去された撮像信号S´cd(1,1)〜S´cd(n,1)を演算する概念図である。
このように、1列目の遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,1)及び遮光センサ9dによる出力信号Nd(n,1)を線形補間した出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を用いて、表示領域の1列目に配置された表示素子8に対応する画像取り込みセンサの撮像信号S(1,1)〜S(n,1)から出力信号N´(1,1)〜N´(n,1)を減算することで、ノイズ成分が除去された撮像信号S´cd(1,1)〜S´cd(n,1)が演算される。
2列目以降の遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,2)〜Nc(1,m)と、遮光センサ9dよる出力信号Nd(n,2)〜Nd(n,m)を用いた画像取り込みセンサ16による撮像信号からノイズ成分を除去する演算についても同様に、線形補間及び差分による演算処理を行う。
次に、第2の実施の形態において既に説明した演算方法と同様な方法を用いて、演算処理回路11により、遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)〜Na(n,1)と、遮光センサ9bによる出力信号Nb(1,m)〜Nb(n,m)を用いて、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)からノイズ成分を除去されたS´ab(n,m)を演算する。
最後に、列状に配置された遮光センサ9a、9bにより得られた撮像信号S´ab(n,m)と、行状に配置された遮光センサ9cと9dにより得られた撮像信号S´cd(n,m)とを合成する。
ここでは、例えば、次式に示すように、S´ab(n,m)とS´cd(n,m)の各々の平均値をもって撮像信号S´(n,m)とする。
S´(n,m) = (S´ab(n,m) + S´cd(n,m))/2
図7は、列状に配置された遮光センサ9a、9bにより得られた撮像信号S´ab(n,m)と、行状に配置された遮光センサ9c、9dにより得られた撮像信号S´cd(n,m)を合成して得られた撮像信号S´(n,m)の分布の概念図である。
図7は、列状に配置された遮光センサ9a、9bにより得られた撮像信号S´ab(n,m)と、行状に配置された遮光センサ9c、9dにより得られた撮像信号S´cd(n,m)を合成して得られた撮像信号S´(n,m)の分布の概念図である。
これにより、演算処理回路11により、画像取り込みセンサ16によるn×mの撮像信号S(n,m)全てに対してノイズ成分が除去された撮像信号S´(n,m)が演算される。
したがって、第3の実施の形態によれば、演算処理回路11により、遮光センサ9aによる出力信号Na(1,1)〜Na(n,1)、遮光センサ9bよる出力信号Nb(1,m)〜Nb(n,m)、遮光センサ9cによる出力信号Nc(1,1)〜Nc(1,m)、遮光センサ9dよる出力信号Nd(n,1)〜Nd(n,m)を線形補間して得られた出力信号N´(n,m)により、画像取り込みセンサ16による撮像信号S(n,m)から出力信号N´(n,m)を減算することで、ノイズ成分を除去する。
これにより、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号S´(n,m)を得ることができる。
これにより、表示素子に内蔵されたセンサにより撮像された撮像信号に混入するノイズなどの影響を低減することができ、もって高品位の撮像信号S´(n,m)を得ることができる。
尚、第3の各実施の形態においては、表示領域の先頭列及び最終列及び先頭行及び最終行に配置された表示素子に対応するように、表示領域の周囲に配置する構成としたが、これに限られるものではなく、表示領域の先頭列及び最終列及び先頭行及び最終行に配置された表示素子が有する画像取り込みセンサの撮像部を遮光することにより、画像取り込みセンサを遮光センサとして使用する構成にしてもよい。このような構成においても、第3の実施の形態と同等な効果を奏することができる。
尚、上記の各実施の形態においては、表示装置は、図1のガラス基板1に対向して配置されたガラス基板、両ガラス基板の間隙に配置された液晶層を有する液晶表示装置としたが、これに限られるものではなく、表示素子にセンサを内蔵した表示装置であれば、例えば、有機EL,プラズマディスプレイ、FED等の他の方式を採用した表示装置であっても、遮光センサを表示領域の周辺に配置する構成とすることで、上記各実施の形態と同等の効果を奏することができる。
また、上記各実施の形態においては、遮光センサ9の撮像部は、金属性の薄膜により遮光するような構成としたが、これに限られるものではなく、例えば遮光膜には、遮光性に優れた黒着色性樹脂を使用するような構成にしてもよい。
1…ガラス基板
2…半導体基板
3…表示領域
4、4a〜4d…遮光センサ領域
5…信号線駆動回路
6…走査線駆動回路
7…検出・出力回路
8…センサを内蔵した表示素子
9,9a〜9d…遮光センサ
10…制御回路
11…演算処理回路
12…フレキシブルプリント基板
13…走査線
14R,14G,14B…信号線
15…画素TFT
16…画像取り込みセンサ
17…プリチャージ用スイッチTFT
18…リセット制御信号線
19…出力用スイッチTFT
20…出力制御信号線
21…遮光センサのプリチャージ供給線
22…遮光センサの出力線
C1…液晶容量
C2…補助容量
N,Na〜Nd、…遮光センサによる出力信号
S、Sab、Scd…画像取り込みセンサによる撮像信号
S´…ノイズ除去された撮像信号
2…半導体基板
3…表示領域
4、4a〜4d…遮光センサ領域
5…信号線駆動回路
6…走査線駆動回路
7…検出・出力回路
8…センサを内蔵した表示素子
9,9a〜9d…遮光センサ
10…制御回路
11…演算処理回路
12…フレキシブルプリント基板
13…走査線
14R,14G,14B…信号線
15…画素TFT
16…画像取り込みセンサ
17…プリチャージ用スイッチTFT
18…リセット制御信号線
19…出力用スイッチTFT
20…出力制御信号線
21…遮光センサのプリチャージ供給線
22…遮光センサの出力線
C1…液晶容量
C2…補助容量
N,Na〜Nd、…遮光センサによる出力信号
S、Sab、Scd…画像取り込みセンサによる撮像信号
S´…ノイズ除去された撮像信号
Claims (4)
- 受光した光に応じた撮像信号を出力するセンサを内蔵した複数の表示素子が、
行列状に配置されている表示領域と、
遮光された撮像部を有する遮光センサが、前記表示領域の周囲に配置されている遮光センサ領域と、
前記遮光センサによる出力信号を用いて、前記センサによる撮像信号からノイズ成分を除去する演算を行う演算処理回路と、
を有する表示装置。 - 前記遮光センサは、前記表示領域の先頭列又は最終列の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように、列状に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の表示装置。
- 前記遮光センサは、前記表示領域の先頭行又は最終行の少なくとも一方に配置された表示素子に対応するように、行状に配置されていることを特徴とする請求項1若しくは請求項2に記載の表示装置。
- 前記撮像部は、金属性の薄膜又は遮光膜により遮光されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の表示装置。
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-
2005
- 2005-09-14 JP JP2005267503A patent/JP2007081870A/ja active Pending
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