JP2007080691A - 偏向電磁石およびイオンビーム照射装置 - Google Patents

偏向電磁石およびイオンビーム照射装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 磁極間空間からのE×Bドリフトによる電子の損失を軽減して磁極間空間における電子の閉じ込めを良くして、閉じ込めた電子によってイオンビームの空間電荷を効率良く中和して、イオンビームの発散を抑制する。
【解決手段】 この偏向電磁石30aは、イオンビーム4が通過する磁極間空間34をあけて相対向する第1および第2の磁極32a、32bを有している。更に、磁極間空間34に、そのイオンビーム通過方向における中央付近で磁場が弱く、中央付近よりも入口寄りおよび出口寄りで磁場が強いミラー磁場を形成する永久磁石群54を備えている。永久磁石群54は、磁極間空間34の中央よりも入口寄りに配置された第1の対の永久磁石54aと、出口寄りに配置された第2の対の永久磁石54bとを備えている。
【選択図】 図11

Description

この発明は、例えば、イオンビームをターゲットに照射してイオン注入等の処理を施すイオンビーム照射装置等に用いられて、イオンビームを磁場によって曲げる偏向電磁石、および、それを備えるイオンビーム照射装置に関する。イオン注入を行う場合は、このイオンビーム照射装置はイオン注入装置とも呼ばれる。
イオンビーム照射装置の一例を図1に示す。このイオンビーム照射装置は、イオン源2から引き出したイオンビーム4をターゲット16に照射する構成をしている。ターゲット16は、例えば半導体基板である。
より具体的には、このイオンビーム照射装置は、特許文献1にも記載されているように、イオンビーム4を引き出すイオン源2と、それから引き出されたイオンビーム4から特定のイオン種を選別して導出する質量分離マグネット6と、それから導出されたイオンビーム4を加速または減速する加減速管8と、それから導出されたイオンビーム4から特定エネルギーのイオンを選別して導出するエネルギー分離マグネット10と、それから導出されたイオンビーム4を磁界によってY方向(例えば水平方向)に走査する走査マグネット12と、それから導出されたイオンビーム4を曲げ戻して走査マグネット12と協働してイオンビーム4の平行走査を行う、即ち平行なイオンビーム4を作る平行化マグネット14とを備えている。
平行化マグネット14から導出されたイオンビーム4は、処理室20内のホルダ18に保持されたターゲット16に照射され、それによってターゲット16に対してイオン注入等の処理が施される。その際、ターゲット16は、この例では図示しない走査機構によって、前記Y方向と実質的に直交するZ方向(例えば垂直方向)に往復駆動される。このターゲット16の往復駆動とイオンビーム4の走査との協働によって、ターゲット16の全面に均一性良くイオン注入等の処理を施すことができる。なお、イオンビーム4の経路は全て真空雰囲気に保たれる。
上記のようなイオンビーム照射装置においては、装置のスループットを高めると共に、ターゲット16上に形成する半導体デバイスの微細化に伴ってイオン注入深さを浅くする必要があるので、低エネルギーかつ大電流のイオンビーム4を効率良く輸送することが望まれている。しかし、イオンビーム4が低エネルギーかつ大電流になるほど、イオンビーム4の空間電荷による発散が大きくなるため、イオンビーム4を効率良く輸送することが困難になる。
イオンビーム4の輸送経路には、上記質量分離マグネット6、エネルギー分離マグネット10、走査マグネット12、平行化マグネット14等の多くのマグネットが存在する。これらはいずれも、イオンビーム4を偏向する(曲げる)ものであるため、偏向電磁石と総称することができる。このような偏向電磁石の磁極間空間を通過する距離が、イオンビーム4の輸送距離全体の大部分を占めている。このため、偏向電磁石の磁極間空間におけるイオンビームの空間電荷を中和して発散を抑制することが、イオンビーム4の輸送効率を高めるために、特に低エネルギーかつ大電流のイオンビーム4の輸送効率を高めるために重要である。
そのためには、例えば、磁極の外部から磁極間空間に電子を供給して、磁極間空間を通過するイオンビームの空間電荷を中和する方法が考えられる。しかし、磁極間空間の強い磁場のために電子のラーモア半径が非常に小さくなるために、電子を外部から磁極間空間に供給することは容易ではない。
他の方法として、磁極表面に電子源を設置してそれから電子を磁極間空間に供給して、磁極間空間を通過するイオンビームの空間電荷を中和する技術がある(例えば、特許文献2参照)。
また、イオンビームは、その周辺の一部が真空壁等に衝突して2次電子を発生させたり、真空中の微量の残留ガスに衝突してそれを電離して電子を発生させたりするため、元々はイオンビームおよびその近傍に電子が存在する。そこで他の方法として、このイオンビームを原因として発生した電子の閉じ込めを、イオンビームラインに形成したカスプ磁場によって改善して、イオンビームの空間電荷を中和する技術がある(例えば、特許文献3、4参照)。
特開2001−143651号公報(段落0004−0005、図4) 米国特許第6,762,423号明細書(図2) 特開2002−352765号公報(段落0012−0019、図5) 米国特許第6,759,665号明細書(図6)
上記電子源を設置する技術では、構造が複雑になると共に、磁極間空間は通常は非常に狭いために、電子源を設置するのは非常に難しい。しかも、電子源を設置すると、そのぶんイオンビームの通過可能面積が減少するので、電子源にイオンビームが衝突しやすくなり、それによってイオンビームの輸送効率を低下させる。
また、イオンビーム付近の電子は、イオンビーム自身が作る電場Eと偏向電磁石が作る磁場BとによるE×B(イー・クロス・ビー)ドリフトのためにすぐに磁極間空間の外部に流出して消失してしまうので、E×Bドリフトを抑制しない限り、たとえ電子源から電子を磁極間空間に供給したり、イオンビームライン中の電子の閉じ込めをカスプ磁場によって改善しようとしても、イオンビームの空間電荷を中和する効果はあまり期待できない。
それを以下に詳述する。まずE×Bドリフトについて説明する。
磁場Bがある場合、図2に示すように、電子38は磁場Bに巻き付くようにサイクロトロン運動をする。48はその旋回中心である。
更に上記磁場Bと直交する方向に電場Eが加わると、図3に示すように、E×Bの外積の方向に電子38の旋回中心の軌道40がずれていく現象が起こる。これがE×Bドリフトである。このE×Bドリフトは、電場E中の電子38の位置によって電子38の運動エネルギーが変わり、それによってラーモア半径が変化することによって、サイクロトロン運動がずれていくことによるものである。
また、図4に示すように、磁場Bが上下方向に向かっている場合、電子38は磁力線に平行な速度成分を持っているので、磁力線に沿って上下に移動する。更に、イオンビーム4が作る電場E(図5、図6参照)が存在すると、それが復元力となって、電子38は磁力線に沿って上下に往復運動をすることになる。そのために、磁場Bと電場Eとが存在すると、水平方向にはE×Bドリフトが起こり、かつ電子38は磁力線に沿って上下に移動するため、電子38は上下方向に往復運動しながら、水平方向にはE×Bドリフトするような複雑な軌道40をとることになる。50は軌道40の中心軌道である。
イオンビーム4は正の電位(ビームポテンシャル)を持っており、図5に示すように、イオンビーム4をビーム電流密度が均一な円柱として考えると、イオンビーム4が作る電場Eは、イオンビーム4の半径方向に放射状に生じる。
イオンビーム4の電位VB は、図6に示すように、イオンビーム4の中央に最大値を持ち、イオンビーム4の両端a、b付近で電場Eの絶対値の最大値ができる。その辺りで、電位VB の傾き、即ち|E|=|dVB /dY|が最大になるからである。電場Eの方向は、Y軸を境にして上下で反転している。
この電場Eに磁場Bが加わると、図7に示すように、電場Eが零となるイオンビーム4の中央ではE×Bドリフトが零になり、イオンビーム4の両端a、b付近では電場Eが最大になるためにE×Bドリフトが最大になる。イオンビーム4の中心からの距離が両端a、bから大きく離れると、電場Eは殆ど零になるために、E×Bはほぼ零になり、E×Bドリフトは殆ど起こらなくなる。E×Bドリフトの方向は、Y軸を境にして上下で反転している。
図8は、従来の偏向電磁石における電子のE×Bドリフトの概要を示す側面図である。図9は、図8の線D−Dに沿う断面図である。
この偏向電磁石30は、イオンビーム4が通過する磁極間空間34をあけて相対向する第1の磁極32aおよび第2の磁極32bを有していて、両磁極32a、32bによって磁極間空間34に発生させる磁場Bによって、磁極間空間34を通過するイオンビーム4を曲げる(この例では紙面の表裏方向に曲げる)構成をしている。この磁場Bを形成する磁力線36の一例を図示している。イオンビーム4は、例えば、矢印42で示す方向に通過するが、その逆方向でも良い。
この磁極間空間34における電子38のE×Bドリフトは、図2〜図7を参照して前述したとおりであり、当該E×Bドリフトの方向は、図9において、イオンビーム4に対して右側では紙面の表から裏方向に向き、左側ではその逆に紙面の裏から表方向に向き、それによって、電子38が磁極間空間34外へイオンビーム4に沿う方向に流出して損失する。その様子を図10に示す。イオンビーム4の左右で電子38のドリフト方向が反転しており、損失方向44、46が反転しているが、いずれにしてもE×Bドリフトによって、磁極間空間34外へ電子38が流失して損失する。なお、図10では、電子38のドリフトの様子を図示しやすくするために、上側にある磁極32aは想像線で示している。
上記電子38は、例えば、磁極間空間34を形成する壁面等にイオンビーム4の周辺の一部が衝突することによって発生する2次電子や、磁極間空間34における残留ガスがイオンビーム4の衝突によって電離されて発生する電子である。
また、特許第3399117号公報には、偏向電磁石(より具体的には質量分析電磁石)の外側に、イオンビームの軸に沿う方向の磁界を発生させて電子の閉じ込め(イオンビーム半径方向における閉じ込め)を磁気的に行う磁界発生手段と、その両端付近に配置されていて電子の閉じ込め(イオンビーム軸方向における閉じ込め)を静電的に行う第1および第2の筒状の電子閉じ込め電極を配置して、閉じ込めた電子によってイオンビームの空間電荷を抑制する技術が記載されているけれども、この技術は偏向電磁石内に適用することはできない。
なぜなら、偏向電磁石内では強力な磁場がイオンビームの進行方向にほぼ垂直に加わるので、上記のようにイオンビームの軸に沿う方向の磁界を発生させることができないからである。偏向電磁石内でイオンビームの空間電荷を中和することが重要であることは前述のとおりである。また、上記筒状の電子閉じ込め電極は単に負電圧によって電子を押し戻す作用しか奏しないので、その空間部から、E×Bドリフトによる電子の磁極間空間外への流出を抑制することもできない。
そこでこの発明は、磁極間空間からのE×Bドリフトによる電子の損失を軽減して磁極間空間における電子の閉じ込めを良くして、閉じ込めた電子によってイオンビームの空間電荷を効率良く中和して、イオンビームの発散を抑制することを主たる目的としている。
この発明に係る偏向電磁石は、イオンビームが通過する磁極間空間をあけて相対向する第1および第2の磁極を有していて、当該磁極間空間を通過するイオンビームを曲げる偏向電磁石であって、前記磁極間空間に、当該磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央よりも入口寄りおよび出口寄りで磁場が相対的に強いミラー磁場を形成する永久磁石群を備えていることを特徴としている。
この偏向電磁石によれば、磁極が形成する磁場と永久磁石群が形成するミラー磁場との合成磁場によって、磁極に実質的に垂直な磁場成分が作るE×Bドリフト、磁極に実質的に平行な磁場成分が作るE×Bドリフト、および、永久磁石群が形成する磁場の大きさの不均一によって作られるグラディエントBドリフトが生じるようになり、これらのドリフトの合成によって、イオンビーム内やその近傍で電子の軌道に閉じたものが存在するようになる。即ち、イオンビーム内やその近傍に、軌道が捕捉された状態の電子を存在させることができる。これによって、磁極間空間からのE×Bドリフトによる電子の損失を軽減して、磁極間空間における電子の閉じ込めを良くすることができる。
上記電子は、例えば、磁極間空間を形成する壁面等にイオンビームの周辺の一部が衝突することによって発生する2次電子や、磁極間空間における残留ガスがイオンビームの衝突によって電離されて発生する電子である。
前記永久磁石群は、そのより具体例を示すと、前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央よりも入口寄りの所に、イオンビームの経路に交差させてそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場を作る第1の対の永久磁石と、前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央よりも出口寄りの所に、イオンビームの経路に交差させてそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場を作る第2の対の永久磁石とを備えている。
前記磁極間空間に、当該磁極間空間のイオンビーム通過方向と交差する方向における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央よりも両端寄りで磁場が相対的に強い第2のミラー磁場を形成する第2の永久磁石群を更に備えていても良い。
前記第2の永久磁石群は、そのより具体例を示すと、前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向と交差する方向における中央よりも両端寄りの所に、イオンビームの経路に沿ってそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場をそれぞれ作る第3および第4の対の永久磁石を備えている。
この発明に係るイオンビーム照射装置は、イオン源から引き出したイオンビームをターゲットに照射する構成の装置であって、前記イオン源からターゲットまでのイオンビームの経路に、前記偏向電磁石を1以上備えていることを特徴としている。
請求項1、2に記載の発明によれば次のような効果を奏する。
(1)磁極間空間にミラー磁場を形成する永久磁石群を設けたことによって、イオンビーム内やその近傍に、軌道が捕捉された状態の電子を存在させることができる。これによって、磁極間空間からのE×Bドリフトによる電子の損失を軽減して、磁極間空間における電子の閉じ込めを良くすることができる。その結果、閉じ込めた電子によってイオンビームの空間電荷を効率良く中和して、イオンビームの発散を抑制することができ、ひいてはイオンビームの輸送効率を向上させることができる。
(2)電子をイオンビーム軌道の近傍内に閉じ込めることができるので、イオンビームが残留ガスと衝突することによってイオンビーム付近から発生する電子の閉じ込めを効率良く行うことができ、これによってイオンビームの空間電荷を中和する効果がより大きくなる。
(3)イオンビームラインに沿ってカスプ磁場を形成する場合に比べて、前記のようなミラー磁場を形成する方が永久磁石の数を遙かに少なくすることができるので、偏向電磁石の構造の簡素化が可能である。
(4)イオンビームを原因にして発生した電子を閉じ込めてイオンビームの空間電荷を中和するため、磁極表面や外部から磁極間空間に電子を供給する電子源を設置する必要がない。しかも、イオンビーム電流が多いと、イオンビームを原因にして発生する電子も多くなり、自然に空間電荷中和が調整されるため、大がかりな制御を必要としない。
(5)イオンビームが走査される場合でも、電子は軽くてイオンビームの電場に引きずられて移動し、かつ電子のドリフト速度は速いので、偏向電磁石が走査マグネットのようにイオンビームを走査するものである場合にも、上記効果を奏することができる。
請求項3、4に記載の発明によれば、第2の永久磁石群が形成する第2のミラー磁場によって、電子の閉じ込め領域を拡大して電子の閉じ込め性能をより高めることができる。その結果、イオンビームの空間電荷をより効率良く中和して、イオンビームの発散をより抑制することができ、ひいてはイオンビームの輸送効率をより向上させることができる。
請求項5に記載の発明によれば、前記のような偏向電磁石を1以上備えていて、当該各偏向電磁石において前記効果を奏するので、イオン源から引き出したイオンビームのターゲットへの輸送効率を向上させることができる。
図11は、この発明に係る偏向電磁石の第1の実施形態を示す概略斜視図である。図12は、図1の偏向電磁石をイオンビーム通過方向の横から見て示す概略側面図であり、磁力線の図示は省略している。図8〜図10に示した従来例と同一または相当する部分には同一符号を付し、以下においては当該従来例との相違点を主に説明する。
この偏向電磁石30aは、前記第1の磁極32aと第2の磁極32b間の磁極間空間34に、当該磁極間空間34のイオンビーム通過方向における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央付近よりも入口寄りおよび出口寄りで磁場が相対的に強いミラー磁場を形成する永久磁石群54を備えている。
永久磁石群54は、この実施形態では、第1の対の永久磁石54aと、第2の対の永久磁石54bとを備えている。
第1の対の永久磁石54aは、この実施形態では、前記磁極32a、32bの表面33a、33bであって、磁極間空間34のイオンビーム通過方向における中央よりも入口寄りの所に、より具体的には磁極間空間34の入口付近に、イオンビーム4の経路に交差させてそれぞれ配置されていて、磁極32a、32bが作る磁場を強める方向の磁場を作るものである。即ち、上下の永久磁石54aのイオンビーム4に向かう面の極性は、磁極32a、32bの表面33a、33bの極性とそれぞれ同じにしている。また、各永久磁石54aは、イオンビーム4の通過方向と交差する方向に伸びる棒状をしている。
第2の対の永久磁石54bは、この実施形態では、前記磁極32a、32bの表面33a、33bであって、磁極間空間34のイオンビーム通過方向における中央よりも出口寄りの所に、より具体的には磁極間空間34の出口付近に、イオンビーム4の経路に交差させてそれぞれ配置されていて、磁極32a、32bが作る磁場を強める方向の磁場を作るものである。即ち、上下の永久磁石54bのイオンビーム4に向かう面の極性は、磁極32a、32bの表面33a、33bの極性とそれぞれ同じにしている。また、各永久磁石54bは、イオンビーム4の通過方向と交差する方向に伸びる棒状をしている。
上記磁極32a、32b、永久磁石54a、54bの極性の例を図11、図12等に図示しているが、これらの極性を図示とは全て反対にしても良い。図21に示す実施形態においても同様である。また、図21に示す永久磁石64a、64bについても同様である。
上記永久磁石54a、54bは、磁極32a、32bの表面33a、33bに配置する代わりに、当該表面33a、33bの近傍に配置しても良い。図21に示す実施形態においても同様である。また、図21に示す永久磁石64a、64bについても同様である。
なお、図11以降の図示の仕方について説明すると次のとおりである。即ち、永久磁石54a、54b、64a、64bを図示しやすくするために、上側にある磁極32aを想像線で示している場合がある。イオンビーム4は便宜上、円柱状で図示しているが、これに限られるものではない。イオンビーム4は、本来、磁極32a、32bが作る磁場によって曲げられるが、図示を簡略化するために、当該磁場による曲がりは無視して直線で示している。
また、永久磁石54a、54bが形成するミラー磁場を表す磁力線56a、56bは、便宜上、磁極間空間34の内側に湾曲したものを何本かずつ図示しているが、実際は多数本存在し、かつ外側に湾曲した磁力線も存在する。説明の都合上、偏向電磁石30aの磁極間空間34における、互いに直交する座標軸X、Y、Zを図11等に示すように取る。即ち、磁極間空間34の中心の座標を原点Oとし、イオンビーム4の通過方向42に向かう方向をX軸、それと横に直交する方向をY軸、縦に直交する方向(即ち磁極32a、32b間の上下方向)をZ軸とする。
さて、図8〜図10に示した従来の偏向電磁石30においては、E×Bドリフトを生じさせる磁場は磁極32a、32bによるものだけであったが、図11、図12に示す偏向電磁石30aにおいては、磁極32a、32bが作る磁場に、永久磁石54a、54bが作る磁場が重畳されて、合成磁場Bが形成される。しかし、その合成磁場BのZ方向成分BZ についての前記電子38(図示されていない場合は、例えば図8〜図10、図24〜図27参照。以下同様)のE×Bドリフト(即ちE×BZ ドリフト)は、従来の偏向電磁石30におけるものと同じ現象になる。電子38は、前述したように、例えば、磁極間空間34を形成する壁面等にイオンビーム4の周辺の一部が衝突することによって発生する2次電子や、磁極間空間34における残留ガスがイオンビーム4の衝突によって電離されて発生する電子である。
図13に、上記E×BZ ドリフトの大きさ|E×BZ |を、斜線を付した平行四辺形の面積で示している。図14に、このE×BZ ドリフトの方向および大きさの分布を示している。このドリフトの大きさの分布は、イオンビーム4の半径方向で電場Eの最大値付近(即ちイオンビーム4の端部付近。図6参照)に最大値を持っている。イオンビーム4の中心を通るXZ平面内では、E×Bが零になるためにドリフトは起こらない。
また、図13に示すように、E×BZ ドリフトの大きさは、Y軸からの偏角θを考えると、cosθに従って変化し、かつイオンビーム4の半径方向には電場Eの大きさに応じて変化する。
電子38は、図14の第1象限Q1 、第4象限Q4 ではXの正方向にドリフトし、第2象限Q2 、第3象限Q3 ではXの負方向にドリフトする。これは、上述したように、磁極32a、32bに実質的に垂直な磁場成分BZ によるE×BZ ドリフトである。
一方、永久磁石54a、54b付近では、永久磁石54a、54bがミラー磁場を形成することで、磁極32a、32bに実質的に平行な磁場成分BX が作るE×Bドリフト(即ちE×BX ドリフト)も生じる。これを以下に説明する。
図15は、出口側の永久磁石54b付近のイオンビーム4を横から見た図であり、対を成す永久磁石54bが作る磁力線56bの幾つかが示されている。永久磁石54bがミラー磁場を形成しているので、磁極32a、32bが作る磁場と、対を成す永久磁石54bが作る磁場との合成磁場Bもミラー磁場になっている。このミラー磁場Bは磁極間空間34内側に湾曲しているために、磁極32a、32bに実質的に垂直な磁場成分BZ と、実質的に平行な磁場成分BX とを持っている。この磁場成分BX によって、Z軸上で(即ちY=0で)、−Y方向のドリフト成分が生じる。
電場Eは前述したようにイオンビーム4から放射状に出ているために、結局、図16に示すように、電子38のE×BX ドリフトは、YZ平面ではY軸の上側で−θ方向に、下側では+θ方向に起きることになる。Y軸上ではこのドリフトは起こらない。入口側の永久磁石54a付近においても同様にE×BX ドリフトが生じるが、ミラー磁場の湾曲方向が反対であるために、当該ドリフトの向きは出口側とは反対になる(図19参照)。
更に、永久磁石54a、54b近くではY軸付近よりも上記合成の磁場Bが強いために、磁場Bの大きさに不均一性が生じ、電子38のラーモア半径が場所によって変化し、やはりサイクロトロン運動がずれていき電子38がドリフトする現象が起きる。これはグラディエント(勾配)Bドリフトと呼ばれる。これは当然、永久磁石54a、54bに近い所でより強くなる。
図17に、上記磁場Bの勾配∇Bの、磁力線56bに垂直な成分を∇B⊥で示している。なお、この図17では、磁力線56bは磁極間空間34の内側方向(換言すれば−X方向)に湾曲しているもののみを図示しているが、磁極間空間34の外側方向(換言すれば+X方向)に湾曲しているものも存在する。磁場密度勾配∇Bは磁力線56bに垂直な成分∇B⊥と平行な成分∇B‖とに分けられるが、∇B‖×B=0であるので、垂直成分∇B⊥のみを考慮すれば良い。従って、それによる∇B⊥×Bドリフトを、以下ではグラディエントBドリフトと呼ぶことにする。磁力線56bはミラー磁場のために磁極間空間34の内側方向に湾曲しているので、グラディエントBドリフトは+Y方向になる。このドリフトは当然、電場の影響を受けない。
このグラディエントBドリフト(∇B⊥×Bドリフト)の大きさと向きは、図18に示すように、Y軸上で最小値を持ち、上下の永久磁石54b付近で最大となる。Y軸方向、即ち棒状の永久磁石54bの長手方向ではミラー磁場形状に変化はないので、同図(A)〜(C)に示すように、Y座標位置(例えば+Y1 、0、−Y1 )による上記ドリフトの変化はない。入口側の永久磁石54a付近においても同様にグラディエントBドリフトが生じるが、ミラー磁場の湾曲方向が反対であるために、当該ドリフトの向きは出口側とは反対になる(図19参照)。
以上に述べた電子38の各ドリフトを、上記磁極間空間34の、イオンビーム4通過方向の両端(入口端、出口端)付近および中央付近についてまとめたのが図19である。中央付近では、永久磁石54a、54bの影響は無視することができ、X方向のドリフトだけであるが、出口端付近ではX方向、θ方向(特にXZ平面上では−Y方向)、Y方向のドリフトが重なっている。それぞれは、前述したE×BZ ドリフト、E×BX ドリフト、グラディエントBドリフト(∇B⊥×Bドリフト)である。入口端付近でも同様のドリフトが重なっているが、E×BX ドリフトのθ方向の成分と、グラディエントBドリフト(∇B⊥×Bドリフト)のY方向の成分の向きは、入口端付近と出口端付近とでは逆向きである。E×BZ ドリフトのX方向成分は、Yの正負でそれぞれ負正のX成分を持っている。
図20に、上記各ドリフトの平均を矢印で示している。その上に、幾つかの典型的な場合の電子38のドリフトの平均的軌道の概要を示した。軌道cは、イオンビーム4から離れているので、電場Eが無視でき、円運動をしながら上下に動いている場合である。軌道dは、イオンビーム4の左右端の外側付近でX方向のE×BZ ドリフトが大きく、またY方向のグラディエントBドリフトで軌道が内側に近付いても、Y方向で逆向きのE×BX ドリフトで再び外側に押し出される場合である。この軌道dの電子38は、磁極間空間34からX方向に流出して損失となる。軌道eは、イオンビーム4の左右端よりも少し内側にあるため、X方向のE×BZ ドリフトが減少し、かつY方向のE×BX ドリフトも減少したために、Y方向のグラディエントBドリフトが勝り、電子38はイオンビーム4の内側に入り込みその軌道が捕捉されて閉じ込められた場合である。軌道fのように更に内側では、電場Eが零に近いために、X方向のE×BZ ドリフトが小さく、かつY方向のE×BX ドリフトも小さいので、イオンビーム4の軸近傍で細く閉じた軌道を持つ。
このように、上記各ドリフトの合成によって、イオンビーム4内やその近傍で電子38の軌道に閉じたものが存在するようになる。即ち、イオンビーム4内やその近傍に、軌道が捕捉された状態の電子38を存在させることができる。これによって、磁極間空間34からE×Bドリフトによる電子38の損失を軽減して、磁極間空間34における電子38の閉じ込めを良くすることができる。
その結果、閉じ込めた電子38によってイオンビーム4の空間電荷を効率良く中和して、イオンビーム4の発散を抑制することができ、ひいてはイオンビーム4の輸送効率を向上させることができる。
また、電子38をイオンビーム軌道の近傍内に閉じ込めることができるので、イオンビーム4が残留ガスと衝突することによってイオンビーム付近から発生する電子の閉じ込めを効率良く行うことができ、これによってイオンビーム4の空間電荷を中和する効果がより大きくなる。
また、従来例のようにイオンビームラインに沿ってカスプ磁場を形成する場合に比べて、上記のようなミラー磁場を形成する方が永久磁石の数を遙かに少なくすることができるので、例えばこの実施形態では2対(即ち四つの)永久磁石54a、54bで済むので、偏向電磁石30aの構造の簡素化が可能である。
また、イオンビーム4を原因にして発生した電子、即ち磁極間空間34を形成する壁面等にイオンビーム4の周辺の一部が衝突することによって発生した2次電子や、磁極間空間34における残留ガスがイオンビーム4の衝突によって電離されて発生した電子を閉じ込めてイオンビーム4の空間電荷を中和するため、磁極表面や外部から磁極間空間34に電子を供給する電子源を設置する必要がない。しかも、イオンビーム電流が多いと、イオンビーム4を原因にして発生する電子も多くなり、自然に空間電荷中和が調整されるため、大がかりな制御を必要としない。
更に、イオンビーム4が走査される場合でも、電子は軽くてイオンビーム4の電場に引きずられて移動し、かつ電子のドリフト速度は速いので、偏向電磁石30aが走査マグネットのようにイオンビーム4を走査するものである場合にも、上記効果を奏することができる。
図21は、この発明に係る偏向電磁石の第2の実施形態を示す概略斜視図である。以下においては、図11および図12に示した第1の実施形態との相違点を主体に説明する。
この偏向電磁石30bは、前記永久磁石群54に加えて、前記磁極間空間34に、当該磁極間空間34のイオンビーム通過方向と交差する方向(即ちY方向)における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央付近よりも両端寄りで磁場が相対的に強い第2のミラー磁場を形成する第2の永久磁石群64を更に備えている。
永久磁石群64は、この実施形態では、第3の対の永久磁石64aと、第4の対の永久磁石64bとを備えている。
第3および第4の対の永久磁石64a、64bは、この実施形態では、前記磁極32a、32bの表面33a、33bであって、磁極間空間34のイオンビーム通過方向と交差する方向(即ちY方向)における中央よりも両端寄りの所に、より具体的には両端付近に、イオンビーム4の経路に沿ってそれぞれ配置されていて、磁極32a、32bが作る磁場を強める方向の磁場をそれぞれ作るものである。即ち上下の永久磁石64a、64bのイオンビーム4に向かう面の極性は、磁極32a、32bの表面33a、33bの極性とそれぞれ同じにしている。また、各永久磁石64a、64bは、イオンビーム4の通過方向に沿う方向(即ちX方向)に伸びる棒状をしている。各永久磁石64a、64bは、この実施形態では、各々の両端が上記永久磁石54a、54bに当接するまで伸びているが、必ずしも当接している必要はない。
上記永久磁石64a、64bが形成するミラー磁場を表す磁力線66a、66bは、図21では便宜上、磁極間空間34の内側に湾曲したものを1本ずつ例示しているが、実際は多数本存在し、かつ図23に示すように外側に湾曲したものも存在する。
図23に、この第2の実施形態の偏向電磁石30bをYZ平面で切断した場合におけるE×Bドリフトの大きさ|E×B|の例を、斜線を付した平行四辺形の面積で示している。また、対を成す永久磁石64a、64bが作る磁力線66a、66bの例も図示している。永久磁石64a、64bがミラー磁場を形成しているので、磁極32a、32bが作る磁場と、対を成す永久磁石64a、64bが作る磁場との合成磁場Bもミラー磁場となっている。
比較のために、前記第1の実施形態の偏向電磁石30aのYZ平面におけるE×Bドリフトの大きさの例を図22に示す。磁極32a、32bが作る磁力線68の例も図示している。この偏向電磁石30aの場合は、上記永久磁石群(具体的には永久磁石54a、54b)はYZ平面内でミラー磁場を形成するものではないので、磁力線68はほぼ直線である。
図22と図23とを比べれば分かるように、第2の実施形態の偏向電磁石30bでは、磁場Bが湾曲しているために、Y軸から上または下に外れる位置では、第1の実施形態の偏向電磁石30aよりも、|E×B|が小さくなりE×Bドリフトが小さくなる。
更に、第2の実施形態の偏向電磁石30bでは、第2の永久磁石群64(具体的には永久磁石64a、64b)によっても、永久磁石群54について上述したような(図17〜図20およびその説明参照)グラディエントBドリフトが生じ、これによって更にグラディエントBドリフトを強化することができる。より具体的には、第2の永久磁石群64によるグラディエントBドリフトは、図20中に矢印G、Hで示す方向に生じ、このドリフトと、前記永久磁石群54によるグラディエントBドリフト(∇B⊥×Bドリフト)とが互いにつながるので、電子38が閉じた軌道を周回するようになり、電子が閉じ込められやすくなる。
このように、この偏向電磁石30bによれば、第2の永久磁石群64(具体的には永久磁石64a、64b)が形成する第2のミラー磁場によって、磁極32a、32b間の中心よりも磁極寄りの位置でのE×Bドリフトがより小さくなり、かつ、第2の永久磁石群64が形成する磁場の大きさの不均一によって作られるグラディエントBドリフトが生じてグラディエントBドリフトを強化することができるため、電子38の閉じ込め領域を拡大して電子の閉じ込め性能をより高めることができる。その結果、イオンビーム4の空間電荷をより効率良く中和して、イオンビーム4の発散をより抑制することができ、ひいてはイオンビーム4の輸送効率をより向上させることができる。
なお、従来の偏向電磁石30、第1の実施形態の偏向電磁石30a、第2の実施形態の偏向電磁石30bにおける電子の閉じ込め領域および非閉じ込め領域については、その概要を図28〜図30にそれぞれまとめている。これについては後述する。
次に、従来の偏向電磁石30、第1の実施形態の偏向電磁石30a、第2の実施形態の偏向電磁石30bにおける電子軌道のシミュレーション結果の例を図24〜図27にそれぞれ示す。なお、図24〜図27では、磁極32a、32bは、その表面33a、33bのみを図示している。
このシミュレーションでは、磁極32a、32bの寸法は、X方向に全長0.3m、Y方向に全長0.16m、磁極32a、32b間の間隔は0.065mとした。図25、図26に示す偏向電磁石30aでは、残留磁束密度が1T(テスラ)、幅(X方向の寸法)が5mm、厚み(Z方向の寸法)が3mmの永久磁石54a、54bを磁極32a、32bの表面33a、33bにそれぞれ取り付けている。この永久磁石54a、54b間のX方向の距離は0.15mとした。図27に示す偏向電磁石30bでは、永久磁石54a、54bと同じ残留磁束密度、幅(Y方向の寸法)および厚みの永久磁石64a、64bを、同表面33a、33bにそれぞれ取り付けている。
磁極32a、32bが磁極間空間34のX、Y方向の中央に作る磁場の大きさは、約10mTである。永久磁石54a、54bを設けた場合は、合成磁場の大きさは、ミラー磁場の中央で約15mTである。永久磁石64a、64bを更に設けた場合は、合成磁場の大きさは、ミラー磁場の中央で約18mTである。イオンビーム4は、円柱状の均一電流のものとし、その半径は0.02m、電流は1mA、エネルギーは5keV、イオン種は1価のホウ素とした。このイオンビーム4の等電位線70を各図中に併せて示している。電子38は、図中の矢印Pで示す位置、即ち磁極間空間34の中央の原点O(図11参照)付近から発射した。この電子38のエネルギーは10eVとした。
図24に示すように、従来の偏向電磁石30においては、磁極間空間34のX方向の端部付近で、電子38の軌道がイオンビーム4から大きく外れており、電子38を閉じ込めることができない。
図25に示すように、第1の実施形態の偏向電磁石30aにおいては、永久磁石54a、54b間に電子38をうまく閉じ込めることができる。
第1の実施形態の偏向電磁石30aにおいても、図26に示すように、電子38の発射位置によっては閉じ込めができない場合もある。その場合でも、第2の偏向電磁石30bにおいては、図27に示すように、電子38をうまく閉じ込めることができる。
電子38の閉じ込め範囲を調べるために、磁極間空間34の原点O付近から電子38を発射し、発射位置に対する電子38の、YZ平面における閉じ込め領域AC (ハッチングを付した領域)と非閉じ込め領域AN (ハッチングを付していない領域)との概要を図28〜図30に示す。図28は従来の偏向電磁石30、図29は第1の実施形態の偏向電磁石30a、図30は第2の実施形態の偏向電磁石30bにおけるものである。
図28に示すように、従来の偏向電磁石30においては、閉じ込め領域は存在せず、図示の全域が非閉じ込め領域AN である。
図29に示すように、第1の実施形態の偏向電磁石30aにおいては、Z軸付近に閉じ込め領域AC が形成されている。従って、電子38の閉じ込め性能が向上する。
図30に示すように、第2の実施形態の偏向電磁石30bにおいては、閉じ込め領域AC が図29の場合よりも2倍程度に拡大している。従って、電子38の閉じ込め性能がより向上する。
上記実施形態の偏向電磁石30a、30bは、イオンビーム照射装置に用いることができる。即ち、イオン源から引き出したイオンビーム4をターゲットに照射する構成のイオンビーム照射装置において、当該イオン源からターゲットまでのイオンビーム4の経路に、上記第1または第2の実施形態の偏向電磁石30aまたは30bを1以上備えていても良い。例えば、上記偏向電磁石30aまたは30bを、図1に示したイオンビーム照射装置の質量分離マグネット6、エネルギー分離マグネット10、走査マグネット12および平行化マグネット14の内の一つ以上に用いても良い。
そのようにすれば、各偏向電磁石において、前記効果を奏して、イオンビーム4の空間電荷を効率良く中和してイオンビーム4の発散を抑制することができるので、イオン源2から引き出したイオンビーム4のターゲット16への輸送効率を向上させることができる。
イオンビーム照射装置の一例を示す概略平面図である。 電子のサイクロトロン運動の概要を示す図である。 電子のE×Bドリフトの概要を示す図である。 磁極間での電子のE×Bドリフトの概要を示す図である。 イオンビームが作る電場の概要を示す図である。 図5のイオンビームの電位および電場の分布の概要を示す図である。 図5および図6の場合の電子のE×Bドリフトの概要を示す図である。 従来の偏向電磁石における電子のE×Bドリフトの概要を示す側面図である。 図8の線D−Dに沿う断面図である。 従来の偏向電磁石における電子のE×Bドリフトによる損失の概要を示す平面図である。 この発明に係る偏向電磁石の第1の実施形態を示す概略斜視図である。 図11の偏向電磁石をイオンビーム通過方向の横から見て示す概略側面図であり、磁力線の図示は省略している。 図11に示した偏向電磁石における電子のE×BZ ドリフトの大きさの概要を示す図である。 図13に示したE×BZ ドリフトの方向および大きさの分布の概要を示す図である。 図11に示した偏向電磁石におけるミラー磁場による電子のE×Bドリフトの概要を示す図である。 図15に示したE×BドリフトのYZ平面上における分布の概要を示す図である。 図11に示した偏向電磁石におけるミラー磁場による電子のグラディエントBドリフトの概要を示す図であり、磁力線はX方向の片側のみを図示している。 図17に示したグラディエントBドリフトの、異なるY座標位置での分布の概要を示す図である。 図11に示した偏向電磁石における電子の各ドリフトの概要をまとめて示す図である。 図11に示した偏向電磁石における電子の各ドリフトの平均および各ドリフトの平均的軌道の概要を示す平面図である。 この発明に係る偏向電磁石の第2の実施形態を示す概略斜視図である。 図11に示した偏向電磁石をYZ平面で切断した場合における電子のE×Bドリフトの大きさの概要を示す断面図である。 図21に示した偏向電磁石をYZ平面で切断した場合における電子のE×Bドリフトの大きさの概要を示す断面図である。 従来の偏向電磁石における電子軌道のシミュレーション結果の一例を示す図である。 第1の実施形態の偏向電磁石における電子軌道のシミュレーション結果の一例を示す図である。 第1の実施形態の偏向電磁石における電子軌道のシミュレーション結果の他の例を示す図である。 第2の実施形態の偏向電磁石における電子軌道のシミュレーション結果の一例を示す図である。 従来の偏向電磁石における電子の閉じ込め領域および非閉じ込め領域の概要を示す図である。 第1の実施形態の偏向電磁石における電子の閉じ込め領域および非閉じ込め領域の概要を示す図である。 第2の実施形態の偏向電磁石における電子の閉じ込め領域および非閉じ込め領域の概要を示す図である。
符号の説明
2 イオン源
4 イオンビーム
16 ターゲット
30a、30b 偏向電磁石
32a 第1の磁極
32b 第2の磁極
34 磁極間空間
38 電子
54 永久磁石群
54a、54b 永久磁石
64 第2の永久磁石群
64a、64b 永久磁石

Claims (5)

  1. イオンビームが通過する磁極間空間をあけて相対向する第1および第2の磁極を有していて、当該磁極間空間を通過するイオンビームを曲げる偏向電磁石であって、
    前記磁極間空間に、当該磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央よりも入口寄りおよび出口寄りで磁場が相対的に強いミラー磁場を形成する永久磁石群を備えていることを特徴とする偏向電磁石。
  2. 前記永久磁石群は、
    前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央よりも入口寄りの所に、イオンビームの経路に交差させてそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場を作る第1の対の永久磁石と、
    前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向における中央よりも出口寄りの所に、イオンビームの経路に交差させてそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場を作る第2の対の永久磁石とを備えている請求項1記載の偏向電磁石。
  3. 前記磁極間空間に、当該磁極間空間のイオンビーム通過方向と交差する方向における中央付近で磁場が相対的に弱く、中央よりも両端寄りで磁場が相対的に強い第2のミラー磁場を形成する第2の永久磁石群を更に備えている請求項1または2記載の偏向電磁石。
  4. 前記第2の永久磁石群は、前記第1および第2の磁極の表面またはその近傍であって、前記磁極間空間のイオンビーム通過方向と交差する方向における中央よりも両端寄りの所に、イオンビームの経路に沿ってそれぞれ配置されていて、前記第1および第2の磁極が作る磁場を強める方向の磁場をそれぞれ作る第3および第4の対の永久磁石を備えている請求項3記載の偏向電磁石。
  5. イオン源から引き出したイオンビームをターゲットに照射する構成のイオンビーム照射装置であって、
    前記イオン源からターゲットまでのイオンビームの経路に、請求項1ないし4のいずれかに記載の偏向電磁石を1以上備えていることを特徴とするイオンビーム照射装置。
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WO2010143479A1 (ja) * 2009-06-11 2010-12-16 日新イオン機器株式会社 イオンビーム照射装置及びイオンビーム発散抑制方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010503965A (ja) * 2006-09-19 2010-02-04 アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド イオンビームの磁場走査および補正のためのシステム
WO2010143479A1 (ja) * 2009-06-11 2010-12-16 日新イオン機器株式会社 イオンビーム照射装置及びイオンビーム発散抑制方法
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