JP2007059776A - Electronic part mounting device, method for mounting electronic part and method for detecting noise level - Google Patents

Electronic part mounting device, method for mounting electronic part and method for detecting noise level Download PDF

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electronic part mounting device, a method for mounting an electronic part, and a method for detecting a noise level capable of accurately measuring the height of an electronic part by eliminating the affection of a delayed call in a sensor. <P>SOLUTION: The height of the electronic part is measured based on an approximate value of the noise level by averaging the noise level s2 detected at the time of noise drop and the noise level s4 detected at the time of noise rise, to calculate a true noise level s1 and an approximate value of s3, because a noise level is detected as deviated from a true noise level due to the delayed call of the sensor caused by a response time Δt required to transmit and receive a sensor signal. This allows the height of the electronic part to be accurately measured by correcting deviation in detected values caused by the delayed call of the sensor. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、ノズルにより電子部品をピックアップして基板に実装する電子部品実装装置、電子部品実装方法およびノズル高さ検出方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic component mounting apparatus, an electronic component mounting method, and a nozzle height detection method for picking up an electronic component by a nozzle and mounting the picked up electronic component on a substrate.

ノズルにより電子部品をピックアップして基板に実装する電子部品の実装分野においては、電子部品を正確に基板等の実装対象に実装するため、ノズルによりピックアップされた電子部品の高さを測定している。測定された電子部品の高さは、実装の際のノズルの高さ位置決め制御にフィードバックされる他、電子部品の寸法データと照合されて電子部品の吸着姿勢が判断され、異常吸着(電子部品が装着面を下方に向けた姿勢で吸着される以外の姿勢で吸着されること)等が検出される。これにより、電子部品が不安定な状態で基板等に実装される実装不良を未然に防いでいる。   In the field of electronic component mounting where electronic components are picked up by a nozzle and mounted on a substrate, the height of the electronic component picked up by the nozzle is measured in order to accurately mount the electronic component on a mounting target such as a substrate. . The measured height of the electronic component is fed back to the nozzle height positioning control at the time of mounting, and is checked against the dimension data of the electronic component to determine the suction posture of the electronic component. And the like are detected in a posture other than that in which the mounting surface is attracted downward. This prevents a mounting defect that is mounted on a substrate or the like in an unstable state of the electronic component.

電子部品の高さを測定する手段としては、光センサを用いたものが知られている(例えば特許文献1参照)。これは、離間して配置された投光器と受光器の間にノズルを下降させ、投光器から受光器に投光される光が、ノズル本体及びノズルにピックアップされた電子部品により遮光された時点のノズル高さを検出し、それぞれのノズル高さの差から電子部品の高さを算出するものである。
特開平11−298196号公報
As means for measuring the height of an electronic component, one using an optical sensor is known (see, for example, Patent Document 1). This is because the nozzle is lowered between the light projector and the light receiver that are spaced apart from each other, and the light projected from the light projector to the light receiver is blocked by the nozzle body and the electronic components picked up by the nozzle. The height is detected, and the height of the electronic component is calculated from the difference between the nozzle heights.
JP 11-298196 A

特許文献1記載の手段によるノズル高さの検出は、ノズルの昇降を駆動する駆動部のエンコーダ値を検出して行われる。エンコーダ値は、受光器の受光量がある閾値に達したときに発せられる電気信号を受けて検出されるため、ノズルの昇降速度を速くすると応答遅れが顕著に生じて、受光器の受光量がある閾値に達した時点の真のエンコーダ値から応答遅れ分だけずれたエンコーダ値が検出される。   The detection of the nozzle height by the means described in Patent Document 1 is performed by detecting the encoder value of the drive unit that drives the raising and lowering of the nozzle. The encoder value is detected in response to an electrical signal that is emitted when the amount of light received by the light receiver reaches a certain threshold value. An encoder value that deviates by a response delay from the true encoder value when a certain threshold is reached is detected.

このような応答遅れによるエンコーダ値のずれは、予め設定した補正値を適用することによりある程度修正することができるが、ノズルの下降速度やピックアップされた電子部品の高さ等の条件よってエンコーダ値のずれの量が異なるため、各条件に対応した補正値を正確に設定することは困難である。また、条件を外れた電子部品については、予め設定した補正地では対応することができない。一方、近年の更なる生産性の向上及び部品の微小化に伴い、高速かつ高精度なノズル高さの検出が要請されてきている。   The encoder value deviation due to such a response delay can be corrected to some extent by applying a preset correction value. However, the encoder value may vary depending on conditions such as the nozzle lowering speed and the height of the picked-up electronic component. Since the amount of deviation is different, it is difficult to accurately set a correction value corresponding to each condition. Also, electronic components that do not meet the conditions cannot be handled at a preset correction location. On the other hand, with the further improvement in productivity and miniaturization of parts in recent years, detection of the nozzle height at high speed and high accuracy has been demanded.

そこで本発明は、センサにおける応答遅れの影響を排して電子部品の高さを精確に測定することができる電子部品実装装置、電子部品実装方法およびノズル高さ検出方法を提供することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an electronic component mounting apparatus, an electronic component mounting method, and a nozzle height detection method capable of accurately measuring the height of an electronic component by eliminating the influence of response delay in a sensor. To do.

請求項1記載の発明は、ノズルの下端部に吸着されてピックアップされた電子部品の高さを測定して基板に実装する電子部品実装装置であって、投光器から投光される光を受光する受光器と、前記ノズルを前記投光器と前記受光器の間で投受光される光に対して昇降させるノズル駆動手段と、前記ノズルの昇降により前記ノズルの下端部が前記光と交差して前記受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズルの第1の高さとして前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第1の高さをそれぞれ検出するとともに、前記ノズルの昇降により前記ノズルの下端部に吸着された電子部
品が前記光と交差して前記受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズルの第2の高さとして前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第2の高さをそれぞれ検出する検出手段と、前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第1の高さから平均値を算出するとともに、上昇時と下降時における前記ノズルの第2の高さから平均値を算出する第1の演算手段と、前記ノズルの第1の高さの平均値と前記ノズルの第2の高さの平均値から前記ノズルの下端部に吸着された電子部品の高さを算出する第2の演算手段とを備えた。
The invention described in claim 1 is an electronic component mounting apparatus that measures the height of an electronic component picked up by being picked up by a lower end portion of a nozzle and mounts it on a substrate, and receives light projected from a projector. A light receiving device, nozzle driving means for moving the nozzle up and down with respect to the light projected and received between the light projector and the light receiving device, and the lower end of the nozzle intersects with the light by the raising and lowering of the nozzle. The first height of the nozzle at the time of rising and lowering of the nozzle is detected by using the height of the nozzle when the amount of light received by the detector reaches a predetermined threshold as the first height of the nozzle. In addition, the height of the nozzle when the electronic component adsorbed on the lower end of the nozzle by the raising and lowering of the nozzle intersects the light and the amount of light received by the light receiver reaches a predetermined threshold value is determined. Second height An average value is calculated from detection means for detecting the second height of the nozzle when the nozzle is raised and lowered, and the first height of the nozzle when the nozzle is raised and lowered. And a first computing means for calculating an average value from the second height of the nozzle at the time of ascent and descent, an average value of the first height of the nozzle and a second height of the nozzle. Second calculating means for calculating the height of the electronic component adsorbed on the lower end portion of the nozzle from the average value.

請求項2記載の発明は、電子部品実装装置に昇降自在に設けられたノズルの高さを投受光型の光電センサにより検出し、このノズルの下端部に吸着されてピックアップされた電子部品の高さを測定して基板に実装する電子部品実装方法であって、前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる第1の下降工程と、前記ノズルの下端部が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズル下降時の第1の高さとして検出する第1の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる第1の上昇工程と、この第1の上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さをノズル上昇時の第1の高さとして検出する第2の検出工程と、前記ノズル下降時の第1の高さと前記ノズル上昇時の第1の高さからノズルの第1の高さの平均値を算出する第1の演算工程と、下端部に電子部品を吸着した前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる第2の下降工程と、前記ノズルの下端部に吸着された電子部品が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズル下降時の第2の高さとして検出する第3の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる第2の上昇工程と、この第2の上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さをノズル上昇時の第2の高さとして検出する第4の検出工程と、前記ノズル下降時の第2の高さと前記ノズル上昇時の第2の高さからノズルの第2の高さの平均値を算出する第2の演算工程と、前記ノズルの第1の高さの平均値と前記ノズルの第2の高さの平均値から前記ノズルの下端部に吸着された電子部品の高さを算出する第3の演算工程とを含む。   According to the second aspect of the present invention, the height of the nozzle provided in the electronic component mounting apparatus so as to be movable up and down is detected by a light emitting / receiving photoelectric sensor, and the height of the electronic component picked up by being picked up by the lower end of the nozzle is detected. An electronic component mounting method for measuring the height and mounting the substrate on a substrate, wherein the first lowering step of lowering the nozzle with respect to the photoelectric sensor, and the light at which the lower end portion of the nozzle is projected and received by the photoelectric sensor A first detection step of detecting the height of the nozzle at the time when the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold as a first height when the nozzle is lowered; A first raising step for raising the nozzle, and a height of the nozzle at the time when the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold again in the first raising step, And a first calculation step of calculating an average value of the first height of the nozzles from the first height when the nozzle is lowered and the first height when the nozzle is raised. A second lowering step of lowering the nozzle having the electronic component adsorbed on its lower end with respect to the photoelectric sensor, and the electronic component adsorbed on the lower end of the nozzle intersecting with light projected and received by the photoelectric sensor Then, a third detection step of detecting the height of the nozzle when the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold as a second height when the nozzle is lowered, and the lowered nozzle A second raising step for raising, and the height of the nozzle when the amount of light received by the photoelectric sensor again reaches a predetermined threshold in the second raising step is defined as a second height when the nozzle is raised. 4th detection to detect A second computing step of calculating an average value of the second height of the nozzle from the second height when the nozzle is lowered and the second height when the nozzle is raised, and the first of the nozzle And a third calculation step of calculating the height of the electronic component adsorbed on the lower end portion of the nozzle from the average value of the height and the average value of the second height of the nozzle.

請求項3記載の発明は、電子部品実装装置に昇降自在に設けられたノズルの高さを投受光型の光電センサにより検出するノズル高さ検出方法であって、前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる下降工程と、前記ノズルの下端部が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さを検出する第1の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる上昇工程と、前記上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さを検出する第2の検出工程と、前記第1の検出工程と第2の検出工程により検出された前記ノズルの高さの平均値を算出する工程とを含む。   The invention according to claim 3 is a nozzle height detection method for detecting the height of a nozzle provided in an electronic component mounting apparatus so as to be movable up and down by a light emitting / receiving photoelectric sensor, wherein the nozzle is positioned relative to the photoelectric sensor. And detecting the height of the nozzle when the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold when the lower end of the nozzle intersects the light projected and received by the photoelectric sensor. A first detecting step, a rising step for raising the lowered nozzle, and a height of the nozzle at the time when the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold again in the rising step. A second detection step, and a step of calculating an average value of the heights of the nozzles detected by the first detection step and the second detection step.

本発明によれば、ノズルの下降時及び上昇時において検出されるそれぞれのノズル高さの平均値をとることにより、センサの応答遅れによるノズル高さ検出誤差を排するようにしているので、電子部品の高さを精確に測定することができる。   According to the present invention, the nozzle height detection error due to the response delay of the sensor is eliminated by taking the average value of the respective nozzle heights detected when the nozzle is lowered and raised. The height of the part can be accurately measured.

以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の平面図、図2(a)は本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の移載ヘッドの平面図、図2(b)は本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の移載ヘッドの正面図、図3(a)は本発明の一実施の形態におけるセンサユニットの構成図、図3(b)は本発明の一実施の形態における電子部品の高さ測定
方法の説明図、図4は本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の制御系のブロック図、図5(a)は本発明の一実施の形態におけるノズルの昇降によるZ軸変位を示すグラフ、図5(b)は本発明の一実施の形態におけるノズルの昇降速度を示すグラフ、図5(c)は本発明の一実施の形態におけるセンサ制御部からZ軸エンコーダに発せられる信号の状態を示す説明図、図6は本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の動作を示すフローチャートである。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. 1 is a plan view of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2A is a plan view of a transfer head of the electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 3A is a front view of a transfer head of an electronic component mounting apparatus in one embodiment of the present invention, FIG. 3A is a configuration diagram of a sensor unit in one embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 4 is a block diagram of a control system of an electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5A is an embodiment of the present invention. FIG. 5 (b) is a graph showing the lifting speed of the nozzle according to the embodiment of the present invention, and FIG. 5 (c) is a sensor according to the embodiment of the present invention. Status of signals emitted from the control unit to the Z-axis encoder Illustration showing, FIG. 6 is a flowchart showing the operation of the electronic component mounting apparatus according to an embodiment of the present invention.

まず、電子部品実装装置の全体構成について、図1及び図2を参照して説明する。図1において、基台1上の略中央には搬送ガイド2が配設されている。搬送ガイド2は、実装対象としての基板3を搬送して所定位置に位置決めする基板位置決め部となっている。なお、本発明においては、基板3の搬送方向をX方向とし、これに水平面内で直交する方向をY方向とする。搬送ガイド2のY方向における両側方には電子部品供給部4が配設されており、複数個のパーツフィーダ5が並設されている。   First, the overall configuration of the electronic component mounting apparatus will be described with reference to FIGS. 1 and 2. In FIG. 1, a conveyance guide 2 is disposed substantially at the center on the base 1. The conveyance guide 2 is a substrate positioning unit that conveys a substrate 3 as a mounting target and positions the substrate 3 at a predetermined position. In the present invention, the conveyance direction of the substrate 3 is the X direction, and the direction orthogonal to the substrate 3 in the horizontal plane is the Y direction. On both sides in the Y direction of the transport guide 2, electronic component supply units 4 are arranged, and a plurality of parts feeders 5 are arranged side by side.

基台1のX方向における両端部には一対のYテーブル6が配設されている。Yテーブル6上にはXテーブル7が架設されており、Yテーブル6の駆動によりY方向に移動できるようになっている。Xテーブル7の側部には移載ヘッド8が装着されており、Xテーブル7の駆動によりX方向に移動できるようになっている。すなわち、Yテーブル6及びXテーブル7は、移載ヘッド8を基台1上でX方向及びY方向に水平移動させる水平移動手段となっている。   A pair of Y tables 6 are disposed at both ends of the base 1 in the X direction. An X table 7 is installed on the Y table 6 and can be moved in the Y direction by driving the Y table 6. A transfer head 8 is mounted on the side of the X table 7 so that it can be moved in the X direction by driving the X table 7. That is, the Y table 6 and the X table 7 are horizontal moving means for horizontally moving the transfer head 8 on the base 1 in the X direction and the Y direction.

図2(a)において、移載ヘッド8には複数のノズルユニット10が並設されている(本実施の形態では、4個のノズルユニットをX方向に配列したノズルユニット列をY方向に2列配列している)。各ノズルユニット10の下端部には電子部品Pを吸着するノズル11が装着されており、各ノズル11は、Z方向に昇降及びXY平面内で回転できるようになっている。   In FIG. 2A, a plurality of nozzle units 10 are arranged in parallel on the transfer head 8 (in this embodiment, a nozzle unit row in which four nozzle units are arranged in the X direction is 2 in the Y direction). Column array). A nozzle 11 that sucks the electronic component P is attached to the lower end of each nozzle unit 10, and each nozzle 11 can be moved up and down in the Z direction and rotated in the XY plane.

図1において、搬送ガイド2と電子部品供給部4の間には、ラインカメラ14等からなる電子部品認識部が配設されており、ノズル11に吸着されてピックアップされた電子部品Pを下方から認識する。ラインカメラ14の側方には、センサユニット20が配設されており、ノズル11に吸着されてピックアップされた電子部品Pの高さを測定する。   In FIG. 1, an electronic component recognition unit including a line camera 14 and the like is disposed between the conveyance guide 2 and the electronic component supply unit 4, and the electronic component P picked up by the nozzle 11 is picked up from below. recognize. A sensor unit 20 is disposed on the side of the line camera 14 and measures the height of the electronic component P picked up by being picked up by the nozzle 11.

次に、センサユニット20について、図3(a)、(b)を参照して説明する。図3(a)において、センサユニット20は、離間して対向配置された投光器21及び受光器22と、投光器21及び受光器22と電気的に接続された増幅装置26とセンサ制御部27から構成される。投光器21と受光器22の対向する面には、それぞれ投光スポットとなる投光側オリフィス21aと受光スポットとなる受光側オリフィス22aが設けられており、投光側オリフィス21aを介して投光器21から水平に投光されるレーザ光25が受光側オリフィス22aを介して受光器22により受光される。   Next, the sensor unit 20 will be described with reference to FIGS. 3 (a) and 3 (b). 3A, the sensor unit 20 includes a projector 21 and a light receiver 22 that are spaced apart from each other, an amplifier 26 that is electrically connected to the projector 21 and the light receiver 22, and a sensor control unit 27. Is done. A light-projecting side orifice 21a serving as a light projecting spot and a light receiving side orifice 22a serving as a light receiving spot are provided on the opposing surfaces of the light projecting device 21 and the light receiving device 22, respectively. The laser light 25 projected horizontally is received by the light receiver 22 through the light receiving side orifice 22a.

投光器21と受光器22には、それぞれ投光器駆動部23と受光器駆動部24が備えられている。これらの投光器駆動部23と受光器駆動部24の駆動により、投光器21と受光器22をそれぞれ上下方向及び水平方向に移動及び回転させて、投光器21と受光器22の光軸調整を行うようになっている。   The light projector 21 and the light receiver 22 are provided with a light projector drive unit 23 and a light receiver drive unit 24, respectively. By driving the projector driving unit 23 and the receiver driving unit 24, the projector 21 and the receiver 22 are moved and rotated in the vertical and horizontal directions, respectively, so that the optical axes of the projector 21 and the receiver 22 are adjusted. It has become.

受光器22に受光されるレーザ光25は光電素子により電圧に変換され、増幅装置26で増幅されてセンサ制御部27に出力される。従って、レーザ光25が遮光されて受光量に変化がある場合、この変化量が僅かであっても、センサ制御部27において、増幅された電圧の変化量として明確に検出することができる。   The laser beam 25 received by the light receiver 22 is converted into a voltage by the photoelectric element, amplified by the amplification device 26, and output to the sensor control unit 27. Therefore, when the laser beam 25 is shielded and the amount of received light changes, even if this amount of change is small, the sensor control unit 27 can clearly detect the amount of change in the amplified voltage.

なお、投光側オリフィス21aと受光側オリフィス22aは、投光器21と受光器22の対向する面に設けられているが、図3においては説明の便宜上、投光側オリフィス21aと受光側オリフィス22aが設けられた面を前面に振った状態を図示している。   The light emitting side orifice 21a and the light receiving side orifice 22a are provided on the opposing surfaces of the light projecting device 21 and the light receiving device 22, but in FIG. 3, for convenience of explanation, the light projecting side orifice 21a and the light receiving side orifice 22a are provided. The state where the provided surface is swung to the front is illustrated.

図3(a)、(b)において、センサ制御部27はZ軸エンコーダ12と電気的に接続されている。Z軸エンコーダ12はZ軸駆動部13と直結しており、Z軸駆動部13の駆動によって昇降するノズル11のZ軸変位量をパルスによるエンコーダ値として検出する。   3A and 3B, the sensor control unit 27 is electrically connected to the Z-axis encoder 12. The Z-axis encoder 12 is directly connected to the Z-axis drive unit 13 and detects the Z-axis displacement amount of the nozzle 11 that moves up and down by driving the Z-axis drive unit 13 as an encoder value by a pulse.

Z軸駆動部13の駆動により、投光器21と受光器22の間でノズル11を昇降させると、ノズル11の下端部及びノズル11の下端部に吸着された電子部品Pがレーザ光25に交差することにより、レーザ光25が遮光されて受光器22の受光量が変化する。この受光量がある閾値に達すると、センサ制御部27からZ軸エンコーダ12にon/off信号が発せられ、その時点のエンコーダ値を取得してデータ処理部40に送信するようになっている。   When the nozzle 11 is moved up and down between the projector 21 and the light receiver 22 by driving the Z-axis drive unit 13, the electronic component P adsorbed on the lower end portion of the nozzle 11 and the lower end portion of the nozzle 11 intersects the laser beam 25. As a result, the laser beam 25 is shielded and the amount of light received by the light receiver 22 changes. When the amount of received light reaches a certain threshold value, an on / off signal is issued from the sensor control unit 27 to the Z-axis encoder 12, and the encoder value at that time is acquired and transmitted to the data processing unit 40.

図3(b)において、左側に示すノズル11は第1の高さに位置しており、電子部品Pを吸着していない状態のノズル11の下端部がレーザ光25と交差して受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点を示している。また、右側に示すノズル11は第2の高さに位置しており、ノズル11の下端部に吸着された電子部品Pがレーザ光25と交差して受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点を示している。このノズル11の第1の高さと第2の高さをZ軸エンコーダ12によりエンコーダ値として検出し、この両エンコーダ値の差から電子部品Pの高さhに相当するノズル11のZ軸変位量wを算出することにより電子部品Pの高さhを測定することができる。   In FIG. 3B, the nozzle 11 shown on the left side is located at the first height, and the lower end of the nozzle 11 in a state where the electronic component P is not sucked intersects the laser beam 25 and It shows the time when the amount of received light reaches a predetermined threshold. Further, the nozzle 11 shown on the right side is located at the second height, and the electronic component P adsorbed on the lower end portion of the nozzle 11 intersects the laser beam 25 and the received light amount of the light receiver is determined in advance. Indicates the point in time. The first height and the second height of the nozzle 11 are detected as encoder values by the Z-axis encoder 12, and the Z-axis displacement amount of the nozzle 11 corresponding to the height h of the electronic component P is determined from the difference between the two encoder values. The height h of the electronic component P can be measured by calculating w.

すなわち、Z軸エンコーダ12は、ノズル11の上昇及び下降によりノズル11の下端部がレーザ光25と交差して受光器22の受光量が予め定められた閾値に達した時点のノズル11の第1の高さを検出するとともに、ノズル11の上昇及び下降によりノズル11の下端部に吸着された電子部品Pがレーザ光25と交差して受光器22の受光量が予め定められた閾値に達した時点のノズル11の第2の高さを検出する検出手段となっている。また、Z軸駆動部13は、ノズル11を投光器21と受光器22の間で昇降させるノズル駆動手段となっている。   That is, the Z-axis encoder 12 is the first nozzle 11 at the time when the lower end of the nozzle 11 intersects the laser beam 25 due to the rise and fall of the nozzle 11 and the amount of light received by the light receiver 22 reaches a predetermined threshold. The electronic component P attracted to the lower end of the nozzle 11 by crossing the laser beam 25 due to the rising and lowering of the nozzle 11 crosses the laser beam 25 and the light receiving amount of the light receiver 22 reaches a predetermined threshold value. This is detection means for detecting the second height of the nozzle 11 at the time. Further, the Z-axis drive unit 13 serves as nozzle drive means for moving the nozzle 11 up and down between the projector 21 and the light receiver 22.

次に、電子部品実装装置の制御系について、図4を参照して説明する。制御部30は、搬送ガイド2、パーツフィーダ5、Yテーブル6、Xテーブル7、ノズルユニット10、ラインカメラ14、センサユニット20とバス31により接続されており、NCプログラム34に基づいてこれらの駆動を制御する。NCプログラム34はデータベース部32に予め記憶されており、このデータベース部32には、他に部品ライブラリ33、基板データ35、ノズルデータ36、受光量閾値データ37が記憶されている。この受光量閾値データ37には、予め定められた閾値が記憶されている。   Next, a control system of the electronic component mounting apparatus will be described with reference to FIG. The control unit 30 is connected to the conveyance guide 2, the parts feeder 5, the Y table 6, the X table 7, the nozzle unit 10, the line camera 14, and the sensor unit 20 via the bus 31, and drives these based on the NC program 34. To control. The NC program 34 is stored in advance in the database unit 32. In addition, the database unit 32 stores a component library 33, substrate data 35, nozzle data 36, and received light amount threshold value data 37. A predetermined threshold value is stored in the received light amount threshold value data 37.

また、制御部30はデータ処理部40と接続されており、データ処理部40は、センサユニット20において取得されたエンコーダ値から電子部品の高さを算出するとともに、部品ライブラリ33に記憶された各種電子部品の寸法データと比較し、品種の照合や電子部品の吸着姿勢等の確認を行う。   Further, the control unit 30 is connected to the data processing unit 40, and the data processing unit 40 calculates the height of the electronic component from the encoder value acquired in the sensor unit 20, and also stores various kinds of information stored in the component library 33. Compared with the dimensional data of the electronic parts, the product type is verified, and the suction posture of the electronic parts is confirmed.

操作・入力部41は、キーボードやデータドライブ等の入力手段からなり、電子部品実装装置の動作を手動にて制御し、データベース部32に予めデータを入力する。表示部42は、液晶パネルやCRT等の表示手段からなり、実装装置の動作等に関する各種の情報等を可視的に表示する。   The operation / input unit 41 includes input means such as a keyboard and a data drive, manually controls the operation of the electronic component mounting apparatus, and inputs data to the database unit 32 in advance. The display unit 42 includes a display unit such as a liquid crystal panel or a CRT, and visually displays various information related to the operation of the mounting apparatus.

次に、センサユニット20によるノズルの高さ検出について、図5(a)、(b)、(c)を参照して説明する。図5(a)及び図5(b)は、ノズル11の1サイクルの昇降動作におけるノズル11のZ軸変位とZ軸速度の関係を示している。ノズル11は、上死点P1から加速度aで下降し、昇降工程の略中間の変極点P2に達すると加速度aで減速しながら下死点P3まで下降する。下死点P3に達すると加速度aで上昇し、変極点P2に達すると加速度aで減速しながら上死点P1まで上昇する。   Next, nozzle height detection by the sensor unit 20 will be described with reference to FIGS. 5 (a), 5 (b), and 5 (c). FIG. 5A and FIG. 5B show the relationship between the Z-axis displacement of the nozzle 11 and the Z-axis speed in the one-cycle lifting operation of the nozzle 11. The nozzle 11 descends from the top dead center P1 with an acceleration a, and when it reaches an inflection point P2 approximately in the middle of the lifting / lowering process, the nozzle 11 descends to the bottom dead center P3 while decelerating at the acceleration a. When it reaches the bottom dead center P3, it rises at the acceleration a, and when it reaches the inflection point P2, it rises to the top dead center P1 while decelerating at the acceleration a.

図5(a)、(c)において、ノズル11がセンサ切替位置s1、s3に位置したときに受光量が閾値に達し、センサ制御部27からZ軸エンコーダ12にon/off信号が発せられる。このon/off信号がZ軸エンコーダ12に到達すると、その時点のエンコーダ値が取得される。しかし、センサ制御部27からon/off信号が送出されてからZ軸エンコーダ12においてエンコーダ値が取得されるまでの間には、僅かではあるが応答時間Δtだけ応答遅れが生じる。図5(c)において、時間t1の時点でセンサ制御部27からZ軸エンコーダ12へoff信号が送信されるが、応答遅れにより時間t2の時点のエンコーダ値が取得される。また、時間t3の時点でセンサ制御部27からZ軸エンコーダ12へon信号が送信されるが、応答遅れにより時間t4の時点のエンコーダ値が取得される。   5A and 5C, when the nozzle 11 is positioned at the sensor switching positions s1 and s3, the amount of received light reaches a threshold value, and an on / off signal is generated from the sensor control unit 27 to the Z-axis encoder 12. When this on / off signal reaches the Z-axis encoder 12, the encoder value at that time is acquired. However, there is a slight response delay of the response time Δt between the time when the on / off signal is sent from the sensor control unit 27 and the time when the encoder value is acquired by the Z-axis encoder 12. In FIG. 5C, an off signal is transmitted from the sensor control unit 27 to the Z-axis encoder 12 at time t1, but the encoder value at time t2 is acquired due to a response delay. Further, an on signal is transmitted from the sensor control unit 27 to the Z-axis encoder 12 at the time t3, but the encoder value at the time t4 is acquired due to a response delay.

この応答遅れにより、実際に取得されるエンコーダ値は、図5(a)に示すように、ノズル11の下降時においては、ノズル11がs1に位置した時点のものではなく、応答時間Δtが経過して更に下降したs2に位置した時点のエンコーダ値となり、ノズル11の上昇時においては、ノズル11がs3に位置した時点のものではなく、応答時間Δtが経過して更に上昇したs4に位置した時点のエンコーダ値となる。従って、ノズル11の下降時若しくは上昇時において取得されたエンコーダ値をそのまま用いて電子部品Pの高さを測定すると応答遅れに起因する誤差を含むことになるので、下降時及び上昇時において取得された両エンコーダ値の平均をとって近似的なエンコーダ修正値Scを算出して誤差を相殺する方法をとっている。   Due to this response delay, the actually acquired encoder value is not the one at the time when the nozzle 11 is positioned at s1 when the nozzle 11 is lowered, as shown in FIG. Thus, the encoder value at the time when the nozzle 11 is further lowered is not the one at the time when the nozzle 11 is located at s3, but at the time when the nozzle 11 is raised, the encoder value is located at s4 where the response time Δt has elapsed. Encoder value at the time. Accordingly, when the height of the electronic component P is measured using the encoder value acquired when the nozzle 11 is lowered or raised as it is, an error caused by a response delay is included, and thus the error is obtained when the nozzle 11 is lowered and raised. In other words, an average of both encoder values is taken to calculate an approximate encoder correction value Sc to cancel the error.

次に、エンコーダ修正値Scについて、計算値を用いて説明する。以下の計算においては、各エンコーダ値を下死点P3からの距離として表している。図5(a)、(b)において、上記s1〜s4はノズル11の下死点P3からの距離を示しており、v1〜v4は、ノズル11が上記s1〜s4を通過する時点のノズル11の速度を示している。また、s1及びs3は下死点P3から等距離にあり、この距離をSとする。   Next, the encoder correction value Sc will be described using calculated values. In the following calculation, each encoder value is expressed as a distance from the bottom dead center P3. 5A and 5B, s1 to s4 indicate the distance from the bottom dead center P3 of the nozzle 11, and v1 to v4 are the nozzles 11 when the nozzle 11 passes through the s1 to s4. Shows the speed. Moreover, s1 and s3 are equidistant from the bottom dead center P3, and this distance is S.

v2=v1−a・Δt、v4=v3+a・Δtであり、v1=v3であるので、v4=v1+a・Δtとなる。なお、ノズル11の昇降方向における符号の識別は考慮しない。次に、s2=S−(v1+v2)・Δt/2、s4=S+(v3+v4)・Δt/2である。エンコーダ修正値Sc=(s2+s4)/2であるので、上式を代入して計算すると、Sc=S+(a・Δt)/2となる。 Since v2 = v1−a · Δt, v4 = v3 + a · Δt, and v1 = v3, v4 = v1 + a · Δt. In addition, identification of the code | symbol in the raising / lowering direction of the nozzle 11 is not considered. Next, s2 = S− (v1 + v2) · Δt / 2, and s4 = S + (v3 + v4) · Δt / 2. Since the encoder correction value Sc = (s2 + s4) / 2, when calculated by substituting the above equation, Sc = S + (a · Δt 2 ) / 2.

ここで、本実施の形態においては、加速度a=2G(=19.6m/s)、応答時間Δt=300μsであるので、エンコーダ修正値Sc=S+8.82×10−7mとなり、真のエンコーダ値Sとの誤差は約0.9μmとなる。このように、近似的に算出したエンコーダ修正値Scは真のエンコーダ値Sと極めて近いものになっている。なお、同じ条件でs2を計算すると、s2=S−(v1+v2)・Δt/2より、s2=S−4.11×10−5mとなり、その誤差は41.1μmとなる。微小電子部品、例えば0603チップ部品の場合、縦寸法は0.6mm、横寸法は0.3mm、高さ寸法は0.3mmであり、これらの寸法の1/10程度の誤差があると電子部品の高さ測定における精度に与える影響が大きく、吸着姿勢等を誤認するおそれがある。 Here, in the present embodiment, since acceleration a = 2G (= 19.6 m / s 2 ) and response time Δt = 300 μs, the encoder correction value Sc = S + 8.82 × 10 −7 m, which is true The error from the encoder value S is about 0.9 μm. As described above, the encoder correction value Sc calculated approximately is very close to the true encoder value S. If s2 is calculated under the same conditions, s2 = S−4.11 × 10 −5 m from s2 = S− (v1 + v2) · Δt / 2, and the error is 41.1 μm. In the case of a minute electronic component, for example, 0603 chip component, the vertical dimension is 0.6 mm, the horizontal dimension is 0.3 mm, and the height dimension is 0.3 mm. If there is an error of about 1/10 of these dimensions, the electronic component This has a large effect on the accuracy of the height measurement, and there is a risk of misidentifying the suction posture.

エンコーダ修正値Scは、電子部品Pを吸着していない状態のノズル11と、電子部品Pを吸着した状態のノズル11についてそれぞれ算出される。すなわち、電子部品Pを吸着していない状態のノズル11の上昇時及び下降時において取得したノズル11の第1の高さのエンコーダ値の平均値から第1のエンコーダ修正値Sc1を算出するとともに、電子部品Pを吸着した状態のノズル11の上昇時及び下降時において取得した第2の高さのエンコーダ値の平均値から第2のエンコーダ修正値Sc2を算出する。このようにして算出された第1のエンコーダ修正値Sc1と第2のエンコーダ修正値Sc2から、電子部品Pの高さhに相当するノズル11のZ軸変位量wを算出することにより電子部品Pの高さhを測定する(図3(b)参照)。   The encoder correction value Sc is calculated for each of the nozzle 11 in a state where the electronic component P is not picked up and the nozzle 11 in a state where the electronic component P is picked up. That is, while calculating the first encoder correction value Sc1 from the average value of the encoder values of the first height of the nozzle 11 acquired when the nozzle 11 in the state in which the electronic component P is not picked up is lowered and lowered, The second encoder correction value Sc2 is calculated from the average value of the second height encoder values acquired when the nozzle 11 in the state where the electronic component P is sucked is raised and lowered. The electronic component P is calculated by calculating the Z-axis displacement amount w of the nozzle 11 corresponding to the height h of the electronic component P from the first encoder correction value Sc1 and the second encoder correction value Sc2 calculated in this way. Is measured (see FIG. 3B).

第1のエンコーダ修正値Sc1と第2のエンコーダ修正値Sc2の算出及び電子部品Pの高さhの測定は、データ処理部40(図4参照)において行われる。データ処理部40は、電子部品Pを吸着していない状態のノズル11の上昇時及び下降時におけるノズル11の第1の高さの平均値を算出するとともに、電子部品Pを吸着した状態のノズル11の上昇時及び下降時におけるノズル11の第2の高さの平均値を算出する第1の演算手段となっており、また、ノズル11の第1の高さの平均値とノズル11の第2の高さの平均値からノズル11の下端部に吸着された電子部品Pの高さを算出する第2の演算手段となっている。   The calculation of the first encoder correction value Sc1 and the second encoder correction value Sc2 and the measurement of the height h of the electronic component P are performed in the data processing unit 40 (see FIG. 4). The data processing unit 40 calculates the average value of the first heights of the nozzles 11 when the nozzles 11 are not picking up the electronic components P and when they are descending, and the nozzles are in a state where the electronic components P are picked up 11 is a first calculation means for calculating the average value of the second height of the nozzle 11 when the nozzle 11 is rising and descending, and the average value of the first height of the nozzle 11 and the first value of the nozzle 11 This is a second calculation means for calculating the height of the electronic component P attracted to the lower end portion of the nozzle 11 from the average value of the heights of two.

このように、本実施の形態における電子部品実装装置のノズル高さ検出においては、ノズルの下降時と昇降時において取得したエンコーダ値を平均することにより算出した近似的なエンコーダ修正値を用いることにより、センサユニットの応答遅れに起因するエンコーダ値のずれを修正し、電子部品の高さを精度よく測定できるようにしている。また、エンコーダ修正値を用いることにより、エンコーダ値のずれを補正するためのノズルの下降速度や電子部品の高さ等の各条件に対応した補正値を設定する必要はなく、条件を外れた電子部品についても対応することができる。   As described above, in the nozzle height detection of the electronic component mounting apparatus according to the present embodiment, the approximate encoder correction value calculated by averaging the encoder values acquired when the nozzle is lowered and when the nozzle is raised and lowered is used. The encoder value deviation caused by the response delay of the sensor unit is corrected so that the height of the electronic component can be accurately measured. In addition, by using the encoder correction value, it is not necessary to set a correction value corresponding to each condition such as the nozzle lowering speed and the height of the electronic component for correcting the deviation of the encoder value. Parts can also be handled.

次に、電子部品実装装置の実装動作について、ノズル高さ検出動作を中心に図6のフローチャートを参照して説明する。   Next, the mounting operation of the electronic component mounting apparatus will be described with reference to the flowchart of FIG. 6 focusing on the nozzle height detection operation.

実装動作を開始すると、ST1において、ノズル11をセンサユニット20のレーザ光25に交差させて下降させ(第1の下降工程)、下降時エンコーダ値を取得する(第1の検出工程)。ST2において、ST1で下降したノズル11をセンサユニット20のレーザ光25に交差させて上昇させ(第1の上昇工程)、上昇時エンコーダ値を取得する(第2の検出工程)。ST3において、ST2で取得された下降時エンコーダ値と上昇時エンコーダ値の平均値を算出して第1のエンコーダ修正値Sc1を算出する(第1の演算工程)。   When the mounting operation is started, in ST1, the nozzle 11 is lowered while intersecting the laser beam 25 of the sensor unit 20 (first lowering step), and the encoder value at the time of lowering is acquired (first detecting step). In ST2, the nozzle 11 lowered in ST1 is caused to intersect with the laser beam 25 of the sensor unit 20 and raised (first ascending step), and the ascending encoder value is acquired (second detecting step). In ST3, an average value of the descending encoder value and the ascending encoder value acquired in ST2 is calculated to calculate a first encoder correction value Sc1 (first calculation step).

ST4において、ノズル11をパーツフィーダ5の上方に移動させて電子部品Pを吸着してピックアップする。ST5において、電子部品Pを下端部に吸着したノズル11を、センサユニット20のレーザ光25に交差させて下降させ(第2の下降工程)、下降時エンコーダ値を取得する(第3の検出工程)。ST6において、ST5で下降したノズル11を、センサユニット20のレーザ光25に交差させて上昇させ(第2の上昇工程)、上昇時エンコーダ値を取得する(第4の検出工程)。ST7において、ST6で取得された下降時エンコーダ値と上昇時エンコーダ値の平均値を算出して第2のエンコーダ修正値Sc2を算出する(第2の演算工程)。ST8において、ST3で算出された第1のエンコーダ修正値Sc1と、ST7で算出された第2のエンコーダ修正値Sc2との差を演算することにより電子部品Pの高さを算出する(第3の演算工程)。これによりノズル11に吸着された電子部品Pの高さが測定される。   In ST4, the nozzle 11 is moved above the parts feeder 5 to suck and pick up the electronic component P. In ST5, the nozzle 11 that has attracted the electronic component P to the lower end is lowered while intersecting the laser beam 25 of the sensor unit 20 (second descending step), and the descending encoder value is acquired (third detecting step). ). In ST6, the nozzle 11 that has descended in ST5 is caused to intersect with the laser beam 25 of the sensor unit 20 (second ascending process), and the ascending encoder value is acquired (fourth detecting process). In ST7, an average value of the descending encoder value and the ascending encoder value obtained in ST6 is calculated to calculate a second encoder correction value Sc2 (second calculation step). In ST8, the height of the electronic component P is calculated by calculating the difference between the first encoder correction value Sc1 calculated in ST3 and the second encoder correction value Sc2 calculated in ST7 (third step). Calculation process). Thereby, the height of the electronic component P adsorbed by the nozzle 11 is measured.

算出された電子部品Pの高さは、部品ライブラリ33に記憶された電子部品の各品種の高さデータと照合され、所定の品種の電子部品が吸着されているかを判断したり、異常吸着が判断される。また、所定の品種であって正常吸着されている場合でも高さに差異がある場合があるので、このような電子部品を実装する際のノズルの高さ制御量に反映して適切な圧力で基板上に押圧して実装する(ST9)。その後、上記ST4〜ST9の動作を継続して行い、基板上の全ての実装箇所に電子部品の実装を終えると実装動作が終了する。   The calculated height of the electronic component P is collated with the height data of each type of electronic component stored in the component library 33 to determine whether or not a predetermined type of electronic component is picked up, To be judged. In addition, there may be a difference in height even if the product is of a predetermined type and is normally adsorbed. Therefore, it is necessary to reflect the amount of nozzle height control when mounting such electronic components at an appropriate pressure. It is pressed and mounted on the substrate (ST9). Thereafter, the operations of ST4 to ST9 are continuously performed, and the mounting operation is completed when the mounting of the electronic components is completed at all the mounting positions on the substrate.

なお、上記ST1〜ST3による第1のエンコーダ修正値Sc1の算出は、一つのノズル11につき一回行うと、その後はST7で算出される電子部品Pの品種毎の第2のエンコーダ修正値Sc2との差を演算することにより電子部品Pの高さを測定することができる。   The calculation of the first encoder correction value Sc1 in ST1 to ST3 is performed once for each nozzle 11, and thereafter, the second encoder correction value Sc2 for each type of electronic component P calculated in ST7 is calculated. The height of the electronic component P can be measured by calculating the difference.

また、上記説明においては、センサユニット20を基台1上に配設し、ノズル11をこのセンサユニット20に移動させることによりノズル高さを検出するようにしているが、本発明においては、センサユニット20とノズル11は相対的に移動すればよい。例えば、センサユニット20をノズル11と共に移載ヘッド8に搭載し、センサユニット20を各ノズル11に順次移動させることでも同様の効果を得ることができる。このように構成すると、電子部品をピックアップして基板3に実装するために移載ヘッド8が電子部品供給部4の上方と搬送ガイド2に位置決めされた基板3の上方の間を移動する過程で、ノズル11に吸着された電子部品Pの高さを測定することができるため、実装効率の向上を図ることができる。   In the above description, the sensor unit 20 is disposed on the base 1 and the nozzle height is detected by moving the nozzle 11 to the sensor unit 20. The unit 20 and the nozzle 11 may be moved relatively. For example, the same effect can be obtained by mounting the sensor unit 20 together with the nozzles 11 on the transfer head 8 and sequentially moving the sensor units 20 to the respective nozzles 11. With this configuration, the transfer head 8 moves between the electronic component supply unit 4 and the substrate 3 positioned on the conveyance guide 2 in order to pick up and mount the electronic component on the substrate 3. Since the height of the electronic component P adsorbed by the nozzle 11 can be measured, the mounting efficiency can be improved.

本発明によれば、センサの応答遅れによるノズル高さ検出誤差を排するようにしているので、電子部品の高さを精確に測定することができるという利点を有し、ノズルにより電子部品をピックアップして基板に実装する電子部品の実装分野において有用である。   According to the present invention, since the nozzle height detection error due to the response delay of the sensor is eliminated, there is an advantage that the height of the electronic component can be accurately measured, and the electronic component is picked up by the nozzle. Thus, it is useful in the field of mounting electronic components to be mounted on a substrate.

本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の平面図The top view of the electronic component mounting apparatus in one embodiment of this invention (a)本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の移載ヘッドの平面図(b)本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の移載ヘッドの正面図(A) Top view of the transfer head of the electronic component mounting apparatus in one embodiment of the present invention (b) Front view of the transfer head of the electronic component mounting apparatus in one embodiment of the present invention (a)本発明の一実施の形態におけるセンサユニットの構成図(b)本発明の一実施の形態における電子部品の高さ測定方法の説明図(A) Configuration diagram of sensor unit in one embodiment of the present invention (b) Explanatory diagram of a method for measuring the height of an electronic component in one embodiment of the present invention 本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の制御系のブロック図The block diagram of the control system of the electronic component mounting apparatus in one embodiment of this invention (a)本発明の一実施の形態におけるノズルの昇降によるZ軸変位を示すグラフ(b)本発明の一実施の形態におけるノズルの昇降におけるZ軸速度を示すグラフ(c)本発明の一実施の形態におけるセンサ制御部からZ軸エンコーダに発せられる信号の状態を示す説明図(A) Graph showing Z-axis displacement due to raising and lowering of nozzle in one embodiment of the present invention (b) Graph showing Z-axis speed in raising and lowering of nozzle in one embodiment of the present invention (c) One embodiment of the present invention Explanatory drawing which shows the state of the signal emitted to the Z-axis encoder from the sensor control part in the form of 本発明の一実施の形態における電子部品実装装置の動作を示すフローチャートThe flowchart which shows operation | movement of the electronic component mounting apparatus in one embodiment of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

11 ノズル
20 センサユニット
21 投光器
22 受光器
25 レーザ光
40 データ処理部
P 電子部品
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Nozzle 20 Sensor unit 21 Emitter 22 Light receiver 25 Laser beam 40 Data processing part P Electronic component

Claims (3)

ノズルの下端部に吸着されてピックアップされた電子部品の高さを測定して基板に実装する電子部品実装装置であって、
投光器から投光される光を受光する受光器と、前記ノズルを前記投光器と前記受光器の間で投受光される光に対して昇降させるノズル駆動手段と、前記ノズルの昇降により前記ノズルの下端部が前記光と交差して前記受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズルの第1の高さとして前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第1の高さをそれぞれ検出するとともに、前記ノズルの昇降により前記ノズルの下端部に吸着された電子部品が前記光と交差して前記受光器の受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズルの第2の高さとして前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第2の高さをそれぞれ検出する検出手段と、前記ノズルの上昇時及び下降時における前記ノズルの第1の高さから平均値を算出するとともに、上昇時と下降時における前記ノズルの第2の高さから平均値を算出する第1の演算手段と、前記ノズルの第1の高さの平均値と前記ノズルの第2の高さの平均値から前記ノズルの下端部に吸着された電子部品の高さを算出する第2の演算手段とを備えたことを特徴とする電子部品実装装置。
An electronic component mounting apparatus that measures the height of an electronic component picked up by being picked up by a lower end of a nozzle and mounts it on a substrate,
A light receiver for receiving light projected from the light projector, nozzle driving means for moving the nozzle up and down with respect to light projected and received between the light projector and the light receiver, and a lower end of the nozzle by raising and lowering the nozzle The nozzle at the time of rising and lowering of the nozzle with the height of the nozzle when the light receiving amount of the light receiver reaches a predetermined threshold when the section intersects the light as the first height of the nozzle The first height of each of the electronic components is detected, and the electronic component adsorbed on the lower end of the nozzle by the raising and lowering of the nozzle intersects with the light, and the amount of light received by the light receiver reaches a predetermined threshold value. Detection means for detecting the second height of the nozzle when the nozzle is raised and lowered, with the height of the nozzle as the second height of the nozzle, respectively, and when the nozzle is raised and lowered A first calculating means for calculating an average value from the first height of the nozzle and calculating an average value from the second height of the nozzle at the time of ascent and descent; and a first height of the nozzle An electronic component comprising: a second computing means for calculating the height of the electronic component adsorbed on the lower end of the nozzle from the average value of the height and the average value of the second height of the nozzle Mounting device.
電子部品実装装置に昇降自在に設けられたノズルの高さを投受光型の光電センサにより検出し、このノズルの下端部に吸着されてピックアップされた電子部品の高さを測定して基板に実装する電子部品実装方法であって、
前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる第1の下降工程と、前記ノズルの下端部が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズル下降時の第1の高さとして検出する第1の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる第1の上昇工程と、この第1の上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さをノズル上昇時の第1の高さとして検出する第2の検出工程と、前記ノズル下降時の第1の高さと前記ノズル上昇時の第1の高さからノズルの第1の高さの平均値を算出する第1の演算工程と、下端部に電子部品を吸着した前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる第2の下降工程と、前記ノズルの下端部に吸着された電子部品が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さをノズル下降時の第2の高さとして検出する第3の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる第2の上昇工程と、この第2の上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さをノズル上昇時の第2の高さとして検出する第4の検出工程と、前記ノズル下降時の第2の高さと前記ノズル上昇時の第2の高さからノズルの第2の高さの平均値を算出する第2の演算工程と、前記ノズルの第1の高さの平均値と前記ノズルの第2の高さの平均値から前記ノズルの下端部に吸着された電子部品の高さを算出する第3の演算工程とを含むことを特徴とする電子部品実装方法。
The height of the nozzle mounted on the electronic component mounting device is detected by a light emitting / receiving photoelectric sensor, and the height of the electronic component picked up and picked up by the lower end of this nozzle is measured and mounted on the substrate. Electronic component mounting method,
A first lowering step of lowering the nozzle with respect to the photoelectric sensor, and a lower end portion of the nozzle intersects with light projected and received by the photoelectric sensor, so that a received light amount at the photoelectric sensor becomes a predetermined threshold value A first detecting step for detecting the height of the nozzle at the time of reaching as the first height when the nozzle is lowered, a first raising step for raising the lowered nozzle, and the first raising step A second detection step of detecting the height of the nozzle when the amount of light received by the photoelectric sensor again reaches a predetermined threshold as a first height when the nozzle is raised, and a second detection step when the nozzle is lowered A first calculation step of calculating an average value of the first height of the nozzle from the height of 1 and the first height when the nozzle is raised, and the nozzle having an electronic component adsorbed on the lower end thereof to the photoelectric sensor Lower 2 and the nozzle when the electronic component adsorbed on the lower end of the nozzle intersects the light projected and received by the photoelectric sensor and the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold value. A third detection step of detecting the height of the nozzle as a second height when the nozzle is lowered, a second raising step of raising the lowered nozzle, and light reception by the photoelectric sensor in the second raising step A fourth detection step of detecting the height of the nozzle when the amount reaches a predetermined threshold again as a second height when the nozzle is raised; the second height when the nozzle is lowered; and the nozzle A second calculation step of calculating an average value of the second height of the nozzle from the second height at the time of ascent; an average value of the first height of the nozzle and a second height of the nozzle; From the average value, it is adsorbed to the lower end of the nozzle. Electronic component mounting method which comprises a third calculation step of calculating the height of the electronic component.
電子部品実装装置に昇降自在に設けられたノズルの高さを投受光型の光電センサにより検出するノズル高さ検出方法であって、
前記ノズルを前記光電センサに対して下降させる下降工程と、前記ノズルの下端部が前記光電センサにおいて投受光される光と交差して前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に達した時点の前記ノズルの高さを検出する第1の検出工程と、前記下降させたノズルを上昇させる上昇工程と、前記上昇工程において前記光電センサにおける受光量が予め定められた閾値に再度達した時点の前記ノズルの高さを検出する第2の検出工程と、前記第1の検出工程と第2の検出工程により検出された前記ノズルの高さの平均値を算出する工程とを含むことを特徴とするノズル高さ検出方法。
A nozzle height detection method for detecting the height of a nozzle provided in an electronic component mounting apparatus so as to be movable up and down by a light emitting / receiving photoelectric sensor,
A descent process in which the nozzle is lowered with respect to the photoelectric sensor, and a time point at which the lower end of the nozzle intersects light projected and received by the photoelectric sensor and the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold value A first detecting step for detecting the height of the nozzle, an ascending step for raising the lowered nozzle, and a time at which the amount of light received by the photoelectric sensor reaches a predetermined threshold again in the ascending step. A second detection step of detecting the height of the nozzle; and a step of calculating an average value of the height of the nozzle detected by the first detection step and the second detection step. Nozzle height detection method.
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