JP2007048304A - Contact/non-contact type data carrier module - Google Patents

Contact/non-contact type data carrier module Download PDF

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JP2007048304A JP2006253277A JP2006253277A JP2007048304A JP 2007048304 A JP2007048304 A JP 2007048304A JP 2006253277 A JP2006253277 A JP 2006253277A JP 2006253277 A JP2006253277 A JP 2006253277A JP 2007048304 A JP2007048304 A JP 2007048304A
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Satoru Kuramochi
持 悟 倉
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a contact/non-contact type data carrier module which is excellent in versatility and can satisfactorily meet requirements on security. <P>SOLUTION: The data carrier module has a base member, a semiconductor chip mounted on the base member, a coil connected to the semiconductor chip and to perform communication in a non-contact manner by electromagnetic coupling with an external booster antenna and contact terminals connected to the semiconductor chip and subjected to contact connection to external contacts. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、ICカード等に組み込まれて用いられるデータキャリアモジュールに係り、とりわけ、外部の読み書き装置(リーダライター)との間で接触式および非接触式のいずれの形態でも情報の授受を行うことができる、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールに関する。   The present invention relates to a data carrier module used by being incorporated in an IC card or the like, and in particular, exchanges information with an external read / write device (reader / writer) in both a contact type and a non-contact type. The present invention relates to a data carrier module for both contact type and non-contact type.

情報の機密性の面からICカードが次第に普及されつつある中、近年では、外部のリーダライターと接触せずに情報の授受を行う非接触式のICカードが提案されている。   While IC cards are gradually spreading from the viewpoint of information confidentiality, non-contact type IC cards that exchange information without contacting an external reader / writer have been proposed in recent years.

非接触式のICカードでは、外部のリーダライターとの信号交換、あるいは信号交換および電力供給の両方を、電磁波により行う方式のものが一般的である。   In a non-contact type IC card, a system in which signal exchange with an external reader / writer, or both signal exchange and power supply is performed by electromagnetic waves is generally used.

このような方式の非接触式のICカードおよびリーダライターはともに、互いに電磁波を送受信するためのアンテナを内蔵し、非接触式のICカードにおいて、リーダライターから受信した電磁波から電磁誘導によって動作電力を得るとともに、電磁波を利用してリーダライターとの間で信号交換を行うようになっている。 Both non-contact type IC cards and reader / writers of this type have built-in antennas for transmitting and receiving electromagnetic waves to each other, and in non-contact type IC cards, operating power is generated by electromagnetic induction from the electromagnetic waves received from the reader / writer. In addition, signals are exchanged with reader / writers using electromagnetic waves.

このような非接触式のICカードは、リーダライターとの接点がないので接触不良がなく、またリーダライターから数cm乃至数十cm程度離れた場所でも使用することができ、さらに汚れや雨、静電気に強いなどの特徴があることから、今後ますますその需要が高まるものと予想されている。   Such a non-contact type IC card has no contact with the reader / writer, so there is no contact failure, and it can be used at a location several centimeters to several tens of centimeters away from the reader / writer. Due to the characteristics such as being resistant to static electricity, the demand is expected to increase more and more in the future.

一方、データが格納されたICチップ(半導体チップ)にアンテナコイルを接続してなる、シート状ないし札状の非接触式のICタグが、近年、種々提案されており、商品や包装箱等に付けられて、万引きの防止や物流システムの改良等に利用されるようになってきている。   On the other hand, various types of non-contact IC tags in the form of sheets or bills, in which an antenna coil is connected to an IC chip (semiconductor chip) in which data is stored, have been recently proposed for products and packaging boxes. As a result, it has been used to prevent shoplifting and improve logistics systems.

このような中で、最近では、データが格納されるデータキャリアとしてのICチップ自体にアンテナを設けた、いわゆるコイルオンチップ型の半導体チップモジュールの試験品も提供されるようになってきており、このような試験品を使用した非接触式のICカードやICタグの研究も進められている。   Under such circumstances, recently, a test product of a so-called coil-on-chip type semiconductor chip module in which an antenna is provided on an IC chip itself as a data carrier for storing data has been provided. Research on contactless IC cards and IC tags using such test products is also underway.

このような非接触式のICカードやICタグ等の非接触式のデータキャリア装置は、通常、外部との信号交換のためのブースターアンテナコイルと、これを一次コイルとして、これと電磁結合するための二次コイルを設けたコイルオンチップ型の半導体チップ等のデータキャリアモジュールとを備えている。なお、本明細書中において、「データキャリアモジュール」という用語は、二次コイルとなる微細なコイルを有し、これを半導体チップ等のデータキャリア部分に接続してなるモジュールの総称として用いる。   Such a non-contact type data carrier device such as a non-contact type IC card or IC tag is usually used for a booster antenna coil for exchanging signals with the outside, and this is used as a primary coil and electromagnetically coupled thereto. And a data carrier module such as a coil-on-chip semiconductor chip provided with the secondary coil. In the present specification, the term “data carrier module” is used as a general term for a module having a fine coil as a secondary coil and connected to a data carrier portion such as a semiconductor chip.

この場合、一次コイルとしてのブースターアンテナコイルと、データキャリアモジュールの二次コイルとは、直接接続されないで、相対的に位置合わせされて使用される。具体的には例えば、ブースターアンテナコイル(一次コイル)側にコイル密集部を設け、その上に二次コイルが重なるようにデータキャリアモジュールを搭載する。なおこのとき、ブースターアンテナコイル(一次コイル)のコイル密集部の形状と、データキャリアモジュールの二次コイルの形状とをほぼ一致させることにより、電磁結合の効率を高くしている。   In this case, the booster antenna coil as the primary coil and the secondary coil of the data carrier module are not directly connected but are relatively aligned and used. Specifically, for example, a coil dense portion is provided on the booster antenna coil (primary coil) side, and the data carrier module is mounted so that the secondary coil overlaps thereon. At this time, the efficiency of electromagnetic coupling is increased by substantially matching the shape of the coil dense portion of the booster antenna coil (primary coil) with the shape of the secondary coil of the data carrier module.

ところで、近年、PHS(Personal Handyphone System)や移動電話等の無線方式の携帯電話装置や、携帯コンピュータ端末等が急激に普及し、多くの者がこれらを携行するようになっている中、ICカードを用いて携帯電話装置等に種々の付加価値を付ける試みもなされている。   By the way, in recent years, wireless cellular phone devices such as PHS (Personal Handyphone System) and mobile phones, portable computer terminals, and the like have spread rapidly, and many people carry them. Attempts have also been made to add various added values to mobile phone devices and the like.

例えば、特開平8−87655号公報には、取引銀行の情報を記録したICカードを携帯電話装置に挿入し、ICカードの所有者(携帯電話装置の所持者)が物品の購入や有償サービスの提供を受ける際に、物品等の提供装置が携帯電話装置を通じてICカードの記録情報を取得し、取得した記録情報を用いて自動的に電子決済を行うようにした情報処理システムが開示されている。なお、このような情報処理システムで用いられるICカードは一般に、接触式のICカードであり、携帯電話装置側には、電気的な接点を有する接触式のリーダライターが設けられる。   For example, in Japanese Patent Laid-Open No. 8-87655, an IC card in which information on a bank is recorded is inserted into a mobile phone device, and the owner of the IC card (owner of the mobile phone device) purchases goods or pays for services. An information processing system is disclosed in which, when receiving provision, an article providing device acquires record information of an IC card through a mobile phone device, and automatically performs electronic payment using the acquired record information. . An IC card used in such an information processing system is generally a contact IC card, and a contact reader / writer having electrical contacts is provided on the mobile phone device side.

このように、ICカードとしては、上述したような非接触式のICカードが広く普及しつつあるものの、エレクトリックコマースにおける電子決済用カードや、身分証明書カードのように、セキュリティ性が要求される場合には、非接触式のICカードよりもセキュリティ性の面で優れる、電気的な接点を有する接触式のICカードが、一般的に実用化されている。なお、接触式のICカードは、接点を通じてリーダライターに直接電気的に接続される構造を持つため、一般的に動作は安定している。   As described above, the non-contact type IC card as described above is widely used as the IC card, but security is required like an electronic payment card or an identification card in electric commerce. In some cases, a contact IC card having an electrical contact, which is superior in terms of security compared to a non-contact IC card, is generally put into practical use. Note that a contact-type IC card has a structure in which it is electrically connected directly to a reader / writer through a contact, so that the operation is generally stable.

また、上述したような非接触式のICカードは、コイルオンチップ型の半導体チップ等のデータキャリアモジュール(非接触ICモジュール)をカード状媒体に埋め込んでカード単位で使用されるものであるが、このようなデータキャリアモジュールを搭載した非接触式のICメディアは、従来のような使用形態に限定されなければならないものではない。また、その用途も、特定の分野のみならず、情報の伝達が介在する様々な分野で汎用的に活用されることが期待できるものである。   In addition, the non-contact type IC card as described above is used in units of cards by embedding a data carrier module (non-contact IC module) such as a coil-on-chip type semiconductor chip in a card-like medium. The non-contact type IC media on which such a data carrier module is mounted does not have to be limited to conventional usage forms. Moreover, it can be expected that the application is used not only in a specific field but also in various fields where information transmission is involved.

本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、汎用性に優れ、且つ、セキュリティ性の要求にも十分に対応することができる、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above points, and is a contact-type and non-contact-type data carrier module that is excellent in versatility and can sufficiently meet security requirements. The purpose is to provide.

本発明は、ベース基材と、前記ベース基材上に搭載された半導体チップと、前記半導体チップに接続され、外部のブースターアンテナ部との電磁結合により非接触で通信を行うためのコイルと、前記半導体チップに接続され、外部の接点と接触接続するための接触端子部とを備えたことを特徴とする、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールを提供する。   The present invention includes a base substrate, a semiconductor chip mounted on the base substrate, a coil connected to the semiconductor chip and performing non-contact communication by electromagnetic coupling with an external booster antenna unit, Provided is a contact-type and non-contact-type data carrier module characterized by comprising a contact terminal portion connected to the semiconductor chip and in contact connection with an external contact.

本発明の第1の態様において、前記半導体チップは、端子が設けられた端子面が外側を向くよう前記ベース基材の一方の面上に配設され、前記接触端子部は、前記半導体チップが配設される前記一方の面と反対側の他方の面上に配設され、前記半導体チップと前記接触端子部とは、前記ベース基材に形成された接触端子部用開口部を通して、接触端子部用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記接触端子部用接続部は、前記半導体チップの端子と前記接触端子部とを接続するボンディングワイヤであることが好ましい。また、前記接触端子部用接続部は、前記半導体チップの端子と前記接続用配線部とを接続するボンディングワイヤと、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記接触端子部用開口部内に形成され前記接続用配線部と前記接触端子部とを接続するビア部とからなることが好ましい。   1st aspect of this invention WHEREIN: The said semiconductor chip is arrange | positioned on one surface of the said base base material so that the terminal surface in which the terminal was provided faces outside, The said contact terminal part is the said semiconductor chip. The semiconductor chip and the contact terminal portion are disposed on the other surface opposite to the one surface disposed, and the contact terminal portion passes through the contact terminal portion opening formed in the base substrate. It is preferable that they are connected to each other by the connecting portion for part. Here, the contact terminal portion connection portion is preferably a bonding wire that connects the terminal of the semiconductor chip and the contact terminal portion. The contact terminal connecting portion includes a bonding wire that connects the terminal of the semiconductor chip and the connecting wiring portion, and a connecting wiring portion disposed on the one surface of the base substrate. Preferably, the base substrate includes a via portion formed in the contact terminal portion opening and connecting the connection wiring portion and the contact terminal portion.

また、本発明の第1の態様において、前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記コイル用接続部は、前記半導体チップの端子と前記コイルの端部とを接続するボンディングワイヤであることが好ましい。   In the first aspect of the present invention, it is preferable that the coil is disposed on the terminal surface of the semiconductor chip, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. . Here, the coil connection portion is preferably a bonding wire that connects a terminal of the semiconductor chip and an end portion of the coil.

さらに、本発明の第1の態様において、前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記コイル用接続部は、前記半導体チップの端子と前記コイルの端部とを接続するボンディングワイヤであることが好ましい。また、前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上のうち前記半導体チップの周囲近傍に配設されていることが好ましい。   Furthermore, in the first aspect of the present invention, the coil is disposed on the one surface of the base substrate, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. Is preferred. Here, the coil connection portion is preferably a bonding wire that connects a terminal of the semiconductor chip and an end portion of the coil. The coil is preferably disposed in the vicinity of the periphery of the semiconductor chip on the one surface of the base substrate.

本発明の第2の態様において、前記半導体チップは、端子が設けられた端子面が前記ベース基材側を向くよう前記ベース基材の一方の面上に配設され、前記接触端子部は、前記半導体チップが配設される前記一方の面と反対側の他方の面上に配設され、前記半導体チップと前記接触端子部とは、前記ベース基材に形成された接触端子部用開口部を通して、接触端子部用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記接触端子部用接続部は、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記接触端子部用開口部内に形成され前記接続用配線部と前記接触端子部とを接続するビア部とからなり、前記半導体チップの端子は、前記接続用配線部にフリップチップ接続されていることが好ましい。   In the second aspect of the present invention, the semiconductor chip is disposed on one surface of the base substrate so that a terminal surface provided with a terminal faces the base substrate side, and the contact terminal portion includes: The semiconductor chip and the contact terminal portion are disposed on the other surface opposite to the one surface on which the semiconductor chip is disposed, and the contact terminal portion opening formed in the base substrate It is preferable that the contact terminals are connected to each other through. Here, the connection portion for the contact terminal portion is formed in the connection wiring portion disposed on the one surface of the base substrate, and the contact terminal portion opening of the base substrate, and the connection It is preferable that the wiring portion and the contact terminal portion are connected to each other, and the terminal of the semiconductor chip is flip-chip connected to the connecting wiring portion.

また、本発明の第2の態様において、前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に形成された配線層と、前記配線層を覆うよう形成された絶縁層とを介して配設され、前記配線層は前記半導体チップの端子に接続され、前記コイル用接続部は、前記配線層と、前記絶縁層に形成され前記配線層と前記コイルの端部とを接続するビア部とからなることが好ましい。   In the second aspect of the present invention, it is preferable that the coil is disposed on the terminal surface of the semiconductor chip, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. . Here, the coil is disposed via a wiring layer formed on the terminal surface of the semiconductor chip and an insulating layer formed to cover the wiring layer, and the wiring layer is formed on the semiconductor chip. Preferably, the coil connection portion is connected to a terminal and includes the wiring layer and a via portion that is formed in the insulating layer and connects the wiring layer and the end of the coil.

さらに、本発明の第2の態様において、前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、前記ベース基材に形成された一対のコイル用開口部を通して、コイル用接続部により互いに接続されていることが好ましい。ここで、前記コイル用接続部は、前記ベース基材の前記他方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用端子部と、前記ベース基材の前記一対のコイル用開口部内に形成され、前記コイルの一側端部と前記接続用配線部、および前記接続用配線部と前記接続用端子部を接続する一対のビア部とからなり、前記半導体チップの端子は、前記コイルの一側端子に接続される前記接続用端子部、および前記コイルの他側端子にフリップチップ接続されていることが好ましい。   Furthermore, in the second aspect of the present invention, the coil is disposed on the one surface of the base substrate, and the semiconductor chip and the coil are a pair of coils formed on the base substrate. It is preferable that the coils are connected to each other through the coil opening. Here, the coil connection portion includes a connection wiring portion disposed on the other surface of the base substrate and a connection terminal portion disposed on the one surface of the base substrate. And a pair of vias that are formed in the pair of coil openings of the base substrate and connect one end of the coil and the connection wiring portion, and the connection wiring portion and the connection terminal portion. The terminal of the semiconductor chip is preferably flip-chip connected to the connection terminal connected to one side terminal of the coil and the other side terminal of the coil.

なお、本発明において、前記半導体チップ、前記コイルおよび前記配線部を樹脂封止する封止用樹脂層をさらに備えていることが好ましい。   In addition, in this invention, it is preferable to further provide the resin layer for sealing which resin-seals the said semiconductor chip, the said coil, and the said wiring part.

また、本発明に係るデータキャリアモジュールは、ブースターカード用のSIM、または携帯電話装置用のSIM(Subscriber Identity Module)として使用されることが好ましい。   The data carrier module according to the present invention is preferably used as a SIM for a booster card or a SIM (Subscriber Identity Module) for a mobile phone device.

さらに、本発明に係るデータキャリアモジュールの半導体チップは、所有者の認証処理を行うための個人認証機能回路と、インターネット接続可能な通信装置を利用してインターネット経由で各種の情報をダウンロードするための非接触通信機能回路とを有することが好ましい。   Furthermore, the semiconductor chip of the data carrier module according to the present invention is used for downloading various types of information via the Internet using a personal authentication function circuit for performing an authentication process of the owner and a communication device that can be connected to the Internet. It is preferable to have a non-contact communication function circuit.

本発明によれば、コイルにより、ブースターアンテナコイルを備えた外部機器や外部媒体と非接触で通信を行うことができ、かつ、接触端子部により、電気的な接点を有する外部機器や外部媒体の接点と接触接続して信号を行うことができる。このため、その用途は広く、汎用性に優れており、またセキュリティ性の要求にも十分に対応することができる。   According to the present invention, the coil can communicate with an external device or external medium provided with a booster antenna coil in a non-contact manner, and an external device or external medium having an electrical contact can be communicated with the contact terminal portion. Signals can be made in contact with the contacts. For this reason, the use is wide, it is excellent in versatility, and it can fully respond to security requirements.

本発明によれば、汎用性に優れ、且つ、セキュリティ性の要求にも十分に対応することができる、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールを提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide a data carrier module for both a contact type and a non-contact type that is excellent in versatility and can sufficiently meet the demand for security.

発明を実施するための形態BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1の実施の形態
まず、図1により、本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第1の実施の形態について説明する。
First Embodiment First, referring to FIG. 1, a first embodiment of a data carrier module for both contact type and non-contact type according to the present invention will be described.

図1に示すように、本発明の第1の実施の形態に係るデータキャリアモジュール101において、ベース基材120の一方の面120a上には半導体チップ110が搭載される。なお、半導体チップ110は、端子111a,111b,111c,111dが設けられた端子面110aが外側を向くようベース基材120の一方の面120a上に配設されている。ここで、半導体チップ110の端子面110a上にはコイル115が配設されている。なお、半導体チップ110およびコイル115によりコイルオンチップ型の半導体チップモジュール106が構成されている。   As shown in FIG. 1, in the data carrier module 101 according to the first embodiment of the present invention, a semiconductor chip 110 is mounted on one surface 120a of a base substrate 120. The semiconductor chip 110 is disposed on one surface 120a of the base substrate 120 so that the terminal surface 110a provided with the terminals 111a, 111b, 111c, and 111d faces outward. Here, the coil 115 is disposed on the terminal surface 110 a of the semiconductor chip 110. The semiconductor chip 110 and the coil 115 constitute a coil-on-chip type semiconductor chip module 106.

また、ベース基材120のうち半導体チップ110が配設される一方の面120aと反対側の他方の面120b上には接触端子部131,132が配設されている。   Further, contact terminal portions 131 and 132 are disposed on the other surface 120b of the base substrate 120 opposite to the one surface 120a on which the semiconductor chip 110 is disposed.

ここで、半導体チップ110と接触端子部131,132とは、半導体チップ110の端子111a,111bと接触端子部131,132とをボンディングワイヤ(接触端子部用接続部)145,146により接続することにより、互いに接続されている。なお、ベース基材120には、孔部(接触端子部用開口部)125,125が形成されており、ボンディングワイヤ145,146は、それぞれ、半導体チップ110の端子111a,111bから孔部125,125を通り、接触端子部131,132のベース基材120側の面に到達するように延びている。   Here, the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 connect the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 with bonding wires (contact terminal portion connection portions) 145 and 146, respectively. Are connected to each other. Note that holes (contact terminal portion openings) 125 and 125 are formed in the base substrate 120, and the bonding wires 145 and 146 are connected to the holes 125 and 146 from the terminals 111 a and 111 b of the semiconductor chip 110, respectively. 125, extending so as to reach the surface of the contact terminal portions 131 and 132 on the base substrate 120 side.

また、半導体チップ110とコイル115とは、半導体チップ110の端子111c,111dとコイル115の端部115a,115bとをボンディングワイヤ(コイル用接続部)141,142により接続することにより、互いに接続されている。   The semiconductor chip 110 and the coil 115 are connected to each other by connecting the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 and the ends 115a and 115b of the coil 115 with bonding wires (coil connection portions) 141 and 142, respectively. ing.

ここで、半導体チップ110は、半導体チップ110に電気的に接続されたコイル115を介して、外部のリーダライター(図示せず)との間でデータの交換を行うものであり、制御部、メモリ、受信回路および送信回路を有している。   Here, the semiconductor chip 110 exchanges data with an external reader / writer (not shown) via a coil 115 electrically connected to the semiconductor chip 110, and includes a control unit, a memory And a receiving circuit and a transmitting circuit.

コイル115は、外部機器や外部媒体のブースターアンテナコイル(一次コイル)との電磁結合により非接触で通信を行うための二次コイルであり、一般には、高密度集積したものでその線幅が微細なものが用いられる。なお、コイル115は、一次コイルとしてのブースターアンテナコイルとの間で電磁波をやりとりすることができるよう電磁的に露出した状態にあり、また、一次コイルとの間で共振回路を構成している。   The coil 115 is a secondary coil for performing non-contact communication by electromagnetic coupling with an external device or a booster antenna coil (primary coil) of an external medium. Generally, the coil 115 is densely integrated and has a fine line width. Is used. The coil 115 is in an electromagnetically exposed state so as to exchange electromagnetic waves with a booster antenna coil as a primary coil, and constitutes a resonance circuit with the primary coil.

図6(a)により、一次コイルとしてのブースターアンテナコイルと二次コイルとの位置合わせについて説明すると、外部媒体であるブースターカード620のブースターアンテナコイル621にはコイル密集部(符号650参照)が設けられ、このコイル密集部の上にコイル611(図1のコイル115に相当する)が重なるようにデータキャリアモジュール610が搭載される。   The alignment of the booster antenna coil as the primary coil and the secondary coil will be described with reference to FIG. 6A. The booster antenna coil 621 of the booster card 620 as an external medium is provided with a coil dense portion (see reference numeral 650). Then, the data carrier module 610 is mounted so that the coil 611 (corresponding to the coil 115 in FIG. 1) overlaps the coil dense portion.

なお、コイル115の線幅および密度は、ブースターアンテナコイルの線幅および密度に必ずしも一致させる必要はないが、両者の線幅および密度を可能な限り一致させることにより、電磁結合の効率を高くすることができる。   The line width and density of the coil 115 are not necessarily matched with the line width and density of the booster antenna coil, but the efficiency of electromagnetic coupling is increased by matching the line width and density of both as much as possible. be able to.

ここで、半導体チップ110およびコイル115からなるコイルオンチップ型の半導体チップモジュール106としては、後述するように、ウエハレベルで作製され、切断および分離されたものが種々提案されている。なお、コイル115としては、導電性およびコストの面から、銅層を単層で用いる他、銅層を主層とし、ニッケル(Ni)層や金(Au)層等を積層したものを用いることができる。   Here, as the coil-on-chip type semiconductor chip module 106 composed of the semiconductor chip 110 and the coil 115, various types manufactured, cut and separated at the wafer level have been proposed as will be described later. In addition, from the viewpoints of conductivity and cost, the coil 115 is not limited to a single copper layer, but a copper layer is used as a main layer and a nickel (Ni) layer, a gold (Au) layer, or the like is used. Can do.

ベース基材120は、半導体チップ110および接触端子部131,132を保持するものであり、通信機器用材料として一般的に用いられる電磁波透過性の絶縁材料を用いることができる。このような絶縁材料としては、例えば、エポキシ樹脂や、ポリイミド樹脂、フッ素樹脂等が挙げられる。   The base substrate 120 holds the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132, and an electromagnetic wave transmitting insulating material generally used as a communication device material can be used. Examples of such an insulating material include an epoxy resin, a polyimide resin, and a fluororesin.

接触端子部131,132は、半導体チップ110に電気的に接続されており、外部機器や外部媒体の接点と接触接続するための接点として機能するものである。なお、接触端子部131,132の形態は、ICカード等で一般的に用いられる接触端子部と基本的に同じ形態とすることが好ましい。また、接触端子部131,132としては、銅層を主層とし、その表面にニッケル(Ni)層や金(Au)層を設けたものを用いることができる。   The contact terminal portions 131 and 132 are electrically connected to the semiconductor chip 110 and function as contacts for contact connection with contacts of external devices and external media. In addition, it is preferable that the contact terminal portions 131 and 132 have basically the same form as that of a contact terminal portion generally used in an IC card or the like. In addition, as the contact terminal portions 131 and 132, those having a copper layer as a main layer and a nickel (Ni) layer or a gold (Au) layer provided on the surface thereof can be used.

次に、このような構成からなるデータキャリアモジュール101の製造方法の一例について説明する。   Next, an example of a method for manufacturing the data carrier module 101 having such a configuration will be described.

まず、半導体チップ110およびコイル115からなるコイルオンチップ型の半導体チップモジュール106を作製する。   First, the coil-on-chip type semiconductor chip module 106 including the semiconductor chip 110 and the coil 115 is manufactured.

具体的には、半導体チップ110をウエハレベルで形成した後、半導体チップ110の端子面110a側の全面に電解めっきのための給電層を形成し、その上の全面に感光性絶縁層を形成する。次に、フォトリソグラフィ法により感光性絶縁層を露光し、形成されるコイル115の形状に対応する開口を有する耐めっきレジスト層を形成する。そして、耐めっきレジスト層の開口から露出した給電層上に電解めっきを施し、コイル配線層(コイル115)を給電層上に設けた後、耐めっきレジスト層を剥離除去する。その後、耐めっきレジスト層の剥離除去により露出した給電層をコイル配線層を損なわないようにソフトエッチングによりエッチング除去する。これにより、半導体チップ110の端子面110a上にコイル配線層(コイル115)が形成される。最終的に、ウエハを各半導体チップ110ごとにダイシングして分離することにより、端子面110a上にコイル115が配設されたコイルオンチップ型の半導体チップモジュール106が得られる。   Specifically, after the semiconductor chip 110 is formed at the wafer level, a power feeding layer for electrolytic plating is formed on the entire surface of the semiconductor chip 110 on the terminal surface 110a side, and a photosensitive insulating layer is formed on the entire surface. . Next, the photosensitive insulating layer is exposed by photolithography to form a plating resistant resist layer having an opening corresponding to the shape of the coil 115 to be formed. Then, electrolytic plating is performed on the power supply layer exposed from the opening of the plating-resistant resist layer, the coil wiring layer (coil 115) is provided on the power supply layer, and then the plating-resistant resist layer is peeled and removed. Thereafter, the power feeding layer exposed by peeling and removing the plating-resistant resist layer is etched away by soft etching so as not to damage the coil wiring layer. As a result, a coil wiring layer (coil 115) is formed on the terminal surface 110 a of the semiconductor chip 110. Finally, the wafer is diced and separated for each semiconductor chip 110 to obtain the coil-on-chip type semiconductor chip module 106 in which the coil 115 is disposed on the terminal surface 110a.

一方、ベース基材120に孔部125,125を形成した後、ベース基材120の一方の面120a上に、必要に応じて接着剤層(図示せず)を介して半導体チップモジュール106を配設する。   On the other hand, after forming the holes 125, 125 in the base substrate 120, the semiconductor chip module 106 is disposed on one surface 120a of the base substrate 120 via an adhesive layer (not shown) as necessary. Set up.

また、ベース基材120の他方の面120b上に、必要に応じて接着剤層(図示せず)を介して接触端子部131,132を圧着ないし接着する。   Further, the contact terminal portions 131 and 132 are pressure-bonded or bonded to the other surface 120b of the base substrate 120 through an adhesive layer (not shown) as necessary.

その後、ワイヤボンディングにより、半導体チップ110の端子111a,111bと接触端子部131,132とを孔部125,125を介してボンディングワイヤ145,146により接続するとともに、半導体チップ110の端子111c,111dとコイル115の端部115a,115bとをボンディングワイヤ141,142により接続する。   Thereafter, the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 are connected by the bonding wires 145 and 146 through the hole portions 125 and 125 by wire bonding, and the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 are connected. The ends 115 a and 115 b of the coil 115 are connected by bonding wires 141 and 142.

これにより、最終的に、図1に示すようなデータキャリアモジュール101が製造される。   As a result, the data carrier module 101 as shown in FIG. 1 is finally manufactured.

なお、上述した第1の実施の形態においては、データキャリアモジュール101の半導体チップモジュール106側を樹脂封止し、半導体チップ110、コイル115およびボンディングワイヤ141,142,145,146を覆うよう封止用樹脂層190を設けるようにしてもよい。   In the first embodiment described above, the semiconductor chip module 106 side of the data carrier module 101 is resin-sealed to cover the semiconductor chip 110, the coil 115, and the bonding wires 141, 142, 145, and 146. A resin layer 190 may be provided.

第2の実施の形態
次に、図2により、本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第2の実施の形態について説明する。本発明の第2の実施の形態は、半導体チップの端子と接触端子部との接続方法が異なる点を除いて、他は図1に示す第1の実施の形態と略同一である。本発明の第2の実施の形態において、図1に示す第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
Second Embodiment Next, referring to FIG. 2, a second embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type according to the present invention will be described. The second embodiment of the present invention is substantially the same as the first embodiment shown in FIG. 1 except that the connection method between the terminal of the semiconductor chip and the contact terminal portion is different. In the second embodiment of the present invention, the same parts as those in the first embodiment shown in FIG.

図2に示すように、本発明の第2の実施の形態に係るデータキャリアモジュール102において、ベース基材120の一方の面120a上には接続用配線部151,152が配設されている。なお、半導体チップ110は、接続用配線部152上に配設されている。また、ベース基材120の他方の面120b上には接触端子部131,132が配設されている。   As shown in FIG. 2, in the data carrier module 102 according to the second embodiment of the present invention, connection wiring portions 151 and 152 are disposed on one surface 120 a of the base substrate 120. The semiconductor chip 110 is disposed on the connection wiring portion 152. Further, contact terminal portions 131 and 132 are disposed on the other surface 120 b of the base substrate 120.

ここで、ベース基材120には、孔部(接触端子部用開口部)126,126が形成されており、この孔部126,126内に、接続用配線部151,152と接触端子部131,132とをそれぞれ接続するビア部(バイアホール部)155,156が設けられている。また、半導体チップ110の端子111a,111bと接続用配線部151,152とはボンディングワイヤ145,146により接続されている。これにより、半導体チップ110と接触端子部131,132とは、半導体チップの端子111a,111bと接触端子部131,132とをボンディングワイヤ145,146、接続用配線部151,152およびビア部155,156により接続することにより、互いに接続されている。なお、ボンディングワイヤ145,146、接続用配線部151,152およびビア部155,156により、接触端子部用接続部が構成されている。   Here, holes (contact terminal portion openings) 126 and 126 are formed in the base substrate 120, and the connection wiring portions 151 and 152 and the contact terminal portion 131 are formed in the holes 126 and 126. , 132 are connected to via portions (via hole portions) 155, 156, respectively. Further, the terminals 111 a and 111 b of the semiconductor chip 110 and the connection wiring portions 151 and 152 are connected by bonding wires 145 and 146. As a result, the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 connect the semiconductor chip terminals 111a and 111b and the contact terminal portions 131 and 132 to the bonding wires 145 and 146, the connection wiring portions 151 and 152, and the via portions 155, respectively. By connecting by 156, they are connected to each other. The bonding wires 145, 146, the connection wiring portions 151, 152, and the via portions 155, 156 constitute a contact terminal portion connection portion.

次に、このような構成からなるデータキャリアモジュール102の製造方法の一例について説明する。   Next, an example of a method for manufacturing the data carrier module 102 having such a configuration will be described.

まず、上述した第1の実施の形態と同様の方法で、半導体チップ110の端子面110a上にコイル115が配設されたコイルオンチップ型の半導体チップモジュール106を作製する。   First, the coil-on-chip type semiconductor chip module 106 in which the coil 115 is disposed on the terminal surface 110a of the semiconductor chip 110 is manufactured by the same method as in the first embodiment described above.

一方、ベース基材120として両面銅貼り積層板材を準備し、ベース基材120の一方の面120a上に接続用配線部151,152を、他方の面120b上に接触端子部131,132を、フォトエッチング法によりエッチング形成する。ここで、ベース基材120には、フォトエッチングの前または後に孔部126,126を形成する。   On the other hand, a double-sided copper-clad laminate is prepared as the base substrate 120, the connection wiring portions 151 and 152 are provided on one surface 120a of the base substrate 120, and the contact terminal portions 131 and 132 are provided on the other surface 120b. Etching is performed by a photoetching method. Here, holes 126 and 126 are formed in the base substrate 120 before or after photoetching.

そして、ベース基材120の孔部126,126内にビア部155,156を無電解めっきおよび電解めっきにより形成した後、ベース基材120の一方の面120a上に形成された接続用配線部152上に半導体チップ106を配設する。なお、この場合、無電解めっきまたは電解めっきの前に、必要に応じて接触端子部131,132の表面等に金(Au)めっき等を施しておくことが好ましい。   Then, the via portions 155 and 156 are formed in the holes 126 and 126 of the base substrate 120 by electroless plating and electrolytic plating, and then the connection wiring portion 152 formed on the one surface 120a of the base substrate 120. A semiconductor chip 106 is disposed on the top. In this case, it is preferable to perform gold (Au) plating or the like on the surfaces of the contact terminal portions 131 and 132 as necessary before electroless plating or electrolytic plating.

その後、ワイヤボンディングにより、半導体チップ110の端子111a,111bと接続用配線部151,152とをボンディングワイヤ145,146により接続するとともに、半導体チップ110の端子111c,111dとコイル115の端部115a,115bとをボンディングワイヤ141,142により接続する。   Thereafter, the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 and the connection wiring portions 151 and 152 are connected by bonding wires 145 and 146 by wire bonding, and the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 and the end portions 115a of the coil 115 are connected. 115b is connected by bonding wires 141 and 142.

これにより、最終的に、図2に示すようなデータキャリアモジュール102が製造される。   As a result, the data carrier module 102 as shown in FIG. 2 is finally manufactured.

なお、データキャリアモジュール102の製造方法としては、上述した方法以外にも、次のような方法を用いることができる。   In addition to the method described above, the following method can be used as a method for manufacturing the data carrier module 102.

すなわち、ベース基材120に孔部126,126を形成した後、ベース基材120の一方の面120aおよび他方の面120b上にフォトリソグラフィ法により耐めっきレジスト層を形成し、ベース基材120の両面120a,120bおよび孔部126,126を活性化して無電解めっきを行った後、電解めっきにより、接続用配線部151,152、接触端子部131,132およびビア部155,156を形成する。   That is, after forming the holes 126, 126 in the base substrate 120, a plating-resistant resist layer is formed on one surface 120a and the other surface 120b of the base substrate 120 by a photolithography method. After both surfaces 120a and 120b and the holes 126 and 126 are activated and electroless plating is performed, connection wiring portions 151 and 152, contact terminal portions 131 and 132, and via portions 155 and 156 are formed by electrolytic plating.

そして、このようにして得られたベース基材120をソフトエッチングした後、ベース基材120の一方の面120a上に形成された接続用配線部152上に半導体チップ106を配設する。なお、この場合も、ソフトエッチング前に、必要に応じて接触端子部131,132の表面等に金(Au)めっき等を施しておくことが好ましい。   Then, after soft etching the base substrate 120 thus obtained, the semiconductor chip 106 is disposed on the connection wiring portion 152 formed on one surface 120a of the base substrate 120. Also in this case, it is preferable to perform gold (Au) plating or the like on the surfaces of the contact terminal portions 131 and 132 as necessary before the soft etching.

その後、ワイヤボンディングにより、半導体チップ110の端子111a,111bと接続用配線部151,152とをボンディングワイヤ145,146により接続するとともに、半導体チップ110の端子111c,111dとコイル115の端部115a,115bとをボンディングワイヤ141,142により接続する。   Thereafter, the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 and the connection wiring portions 151 and 152 are connected by bonding wires 145 and 146 by wire bonding, and the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 and the end portions 115a of the coil 115 are connected. 115b is connected by bonding wires 141 and 142.

これにより、上述した方法と同様に、最終的に、図2に示すようなデータキャリアモジュール102が製造される。   Thus, the data carrier module 102 as shown in FIG. 2 is finally manufactured in the same manner as described above.

なお、上述した第2の実施の形態においても、図1に示す第1の実施の形態と同様に、データキャリアモジュール102の半導体チップモジュール106側を樹脂封止し、半導体チップ110、コイル115、ボンディングワイヤ141,142,145,146および接続用配線部151,152を覆うよう封止用樹脂層を設けるようにしてもよい。   In the second embodiment described above, the semiconductor chip module 106 side of the data carrier module 102 is resin-sealed as in the first embodiment shown in FIG. A sealing resin layer may be provided so as to cover the bonding wires 141, 142, 145, 146 and the connection wiring portions 151, 152.

第3の実施の形態
次に、図3により、本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第3の実施の形態について説明する。本発明の第3の実施の形態は、コイルの配設位置が異なる点を除いて、他は図1に示す第1の実施の形態と略同一である。本発明の第3の実施の形態において、図1に示す第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
Third Embodiment Next, referring to FIG. 3, a third embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type according to the present invention will be described. The third embodiment of the present invention is substantially the same as the first embodiment shown in FIG. 1 except that the arrangement positions of the coils are different. In the third embodiment of the present invention, the same parts as those in the first embodiment shown in FIG.

図3に示すように、本発明の第3の実施の形態に係るデータキャリアモジュール103において、2次コイルとしてのコイル160は、半導体チップ110の端子面110a上ではなく、ベース基材120の一方の面120a上に配設されている。また、半導体チップ110とコイル160とは、半導体チップ110の端子111c,11dとコイル160の端部160a,160bとをボンディングワイヤ(コイル用接続部)141,142により接続することにより、互いに接続されている。なお、コイル160は、図3に示すように、ベース基材120の一方の面120a上のうち半導体チップ110の周囲近傍に配設されている。   As shown in FIG. 3, in the data carrier module 103 according to the third embodiment of the present invention, the coil 160 as the secondary coil is not on the terminal surface 110 a of the semiconductor chip 110 but on one side of the base substrate 120. Is disposed on the surface 120a. The semiconductor chip 110 and the coil 160 are connected to each other by connecting the terminals 111 c and 11 d of the semiconductor chip 110 and the ends 160 a and 160 b of the coil 160 by bonding wires (coil connection portions) 141 and 142. ing. As shown in FIG. 3, the coil 160 is disposed in the vicinity of the periphery of the semiconductor chip 110 on one surface 120 a of the base substrate 120.

次に、このような構成からなるデータキャリアモジュール103の製造方法の一例について説明する。   Next, an example of a method for manufacturing the data carrier module 103 having such a configuration will be described.

まず、ベース基材120として片面銅貼り積層板材を準備し、その一方の面120a上にコイル160をフォトエッチング法によりエッチング形成する。ここで、ベース基材120には、フォトエッチングの前または後に孔部125,125を形成する。   First, a single-sided copper-clad laminate is prepared as the base substrate 120, and a coil 160 is formed by etching on one surface 120a by a photoetching method. Here, the holes 125 and 125 are formed in the base substrate 120 before or after photoetching.

次に、このようにして得られたベース基材120の一方の面120a上に、必要に応じて接着剤層(図示せず)を介して半導体チップ110を配設する。   Next, the semiconductor chip 110 is disposed on one surface 120a of the base substrate 120 obtained in this way, with an adhesive layer (not shown) as necessary.

また、ベース基材120の他方の面120b上に、必要に応じて接着剤層(図示せず)を介して接触端子部131,132を圧着ないし接着する。   Further, the contact terminal portions 131 and 132 are pressure-bonded or bonded to the other surface 120b of the base substrate 120 through an adhesive layer (not shown) as necessary.

その後、ワイヤボンディングにより、半導体チップ110の端子111a,111bと接触端子部131,132とを孔部125,125を介してボンディングワイヤ145,146により接続するとともに、半導体チップ110の端子111c,111dとコイル160の端部160a,160bとをボンディングワイヤ141,142により接続する。   Thereafter, the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 are connected by the bonding wires 145 and 146 through the hole portions 125 and 125 by wire bonding, and the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 are connected. The ends 160 a and 160 b of the coil 160 are connected by bonding wires 141 and 142.

これにより、最終的に、図3に示すようなデータキャリアモジュール103が製造される。   As a result, the data carrier module 103 as shown in FIG. 3 is finally manufactured.

なお、上述した第3の実施の形態においても、図1に示す第1の実施の形態と同様に、データキャリアモジュール103の半導体チップ110側を樹脂封止し、半導体チップ110、コイル160、ボンディングワイヤ141,142,145,146を覆うよう封止用樹脂層を設けるようにしてもよい。   In the third embodiment described above, as in the first embodiment shown in FIG. 1, the semiconductor chip 110 side of the data carrier module 103 is resin-sealed, and the semiconductor chip 110, coil 160, and bonding are bonded. A sealing resin layer may be provided so as to cover the wires 141, 142, 145, and 146.

第4の実施の形態
次に、図4(a)(b)により、本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第4の実施の形態について説明する。なお、図4(a)は本発明の第4の実施の形態に係るデータキャリアモジュールを示す概略断面図、図4(b)は図4(a)のIVB部分を拡大して示す概略図である。本発明の第4の実施の形態は、半導体チップの配置状態、半導体チップの端子と接触端子部とを接続方法、および半導体チップの端子とコイルとの接続方法が異なる点を除いて、他は図1に示す第1の実施の形態と略同一である。本発明の第4の実施の形態において、図1に示す第1の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
Fourth Embodiment Next, referring to FIGS. 4 (a) and 4 (b), a fourth embodiment of the data carrier module for both contact and non-contact use according to the present invention will be described. 4A is a schematic sectional view showing a data carrier module according to the fourth embodiment of the present invention, and FIG. 4B is an enlarged schematic view showing the IVB portion of FIG. 4A. is there. The fourth embodiment of the present invention is different from the fourth embodiment except that the arrangement state of the semiconductor chip, the method of connecting the terminals of the semiconductor chip and the contact terminal portions, and the method of connecting the terminals of the semiconductor chip and the coils are different. This is substantially the same as the first embodiment shown in FIG. In the fourth embodiment of the present invention, the same parts as those in the first embodiment shown in FIG.

図4(a)(b)に示すように、本発明の第4の実施の形態に係るデータキャリアモジュール104において、半導体チップ110は、端子111a,111b,111c,111dが設けられた端子面110aがベース基材120側を向くようベース基材120の一方の面120a上に配設されている。   As shown in FIGS. 4A and 4B, in the data carrier module 104 according to the fourth embodiment of the present invention, the semiconductor chip 110 has a terminal surface 110a provided with terminals 111a, 111b, 111c, and 111d. Is arranged on one surface 120a of the base substrate 120 so as to face the base substrate 120 side.

図4(b)に示すように、半導体チップ110の端子面110a上には、半導体チップ110の端子111c,111dに接続された配線層171,172が形成され、この配線層171,172上には、配線層171,172を覆うよう絶縁層180が形成されている。また、絶縁層180の表面180a上にはコイル115が配設されている。なお、半導体チップ110およびコイル115によりコイルオンチップ型の半導体チップモジュール107が構成されている。   As shown in FIG. 4B, wiring layers 171 and 172 connected to the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 are formed on the terminal surface 110a of the semiconductor chip 110, and the wiring layers 171 and 172 are formed on the wiring layers 171 and 172. The insulating layer 180 is formed so as to cover the wiring layers 171 and 172. Further, the coil 115 is disposed on the surface 180 a of the insulating layer 180. The semiconductor chip 110 and the coil 115 constitute a coil-on-chip type semiconductor chip module 107.

ここで、絶縁層180にはビア部157a,157bが形成されており、配線層171,172とコイル115の端部115a,115bとをそれぞれ接続することができるようになっている。これにより、半導体チップ110とコイル115とは、配線層171,172およびビア部157a,157bにより、互いに接続されている。なお、配線層171,172およびビア部157a,157bにより、コイル用接続部が構成されている。   Here, via portions 157a and 157b are formed in the insulating layer 180, so that the wiring layers 171 and 172 and the end portions 115a and 115b of the coil 115 can be connected to each other. Thus, the semiconductor chip 110 and the coil 115 are connected to each other by the wiring layers 171 and 172 and the via portions 157a and 157b. The wiring layers 171 and 172 and the via portions 157a and 157b constitute a coil connection portion.

また、絶縁層180にはビア部158a,158bが形成されており、半導体チップ110の端子111a,111bと絶縁層180の表面180a上に配設された凸状端子112a,112bとをそれぞれ接続することができるようになっている。   In addition, via portions 158a and 158b are formed in the insulating layer 180, and the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 are connected to the convex terminals 112a and 112b disposed on the surface 180a of the insulating layer 180, respectively. Be able to.

一方、図4(a)に示すように、ベース基材120の一方の面120a上には接続用配線部151,152が配設され、他方の面120b上には接触端子部131,132が配設されている。   On the other hand, as shown in FIG. 4A, connection wiring portions 151 and 152 are disposed on one surface 120a of the base substrate 120, and contact terminal portions 131 and 132 are disposed on the other surface 120b. It is arranged.

ここで、ベース基材120には、孔部(接触端子部用開口部)126,126が形成されており、この孔部126,126内に、接続用配線部151,152と接触端子部131,132とをそれぞれ接続するビア部(バイアホール部)155,156が設けられている。また、半導体チップ110の端子111a,111bに接続された凸状端子112a,112bは、接続用配線部151,152にフリップチップ接続されている。これにより、半導体チップ110と接触端子部131,132とは、ビア部158a,158b、凸状端子112a,112b、接続用配線部151,152およびビア部155,156により、互いに接続されている。なお、ビア部158a,158b、凸状端子112a,112b、接続用配線部151,152およびビア部155,156により、接触端子部用接続部が構成されている。   Here, holes (contact terminal portion openings) 126 and 126 are formed in the base substrate 120, and the connection wiring portions 151 and 152 and the contact terminal portion 131 are formed in the holes 126 and 126. , 132 are connected to via portions (via hole portions) 155, 156, respectively. The convex terminals 112 a and 112 b connected to the terminals 111 a and 111 b of the semiconductor chip 110 are flip-chip connected to the connection wiring portions 151 and 152. Thus, the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 are connected to each other by the via portions 158a and 158b, the convex terminals 112a and 112b, the connection wiring portions 151 and 152, and the via portions 155 and 156. The via terminal portions 158a and 158b, the convex terminals 112a and 112b, the connecting wiring portions 151 and 152, and the via portions 155 and 156 constitute a contact terminal portion connecting portion.

次に、このような構成からなるデータキャリアモジュール104の製造方法の一例について説明する。   Next, an example of a method for manufacturing the data carrier module 104 having such a configuration will be described.

まず、半導体チップ110およびコイル115からなるコイルオンチップ型の半導体チップモジュール107を作製する。   First, the coil-on-chip type semiconductor chip module 107 including the semiconductor chip 110 and the coil 115 is manufactured.

具体的には、半導体チップ110をウエハレベルで形成した後、半導体チップ110の端子面110a側の全面に電解めっきのための給電層を形成し、その上の全面に感光性絶縁層を形成する。次に、フォトリソグラフィ法により感光性絶縁層を露光し、形成される配線層171,172の形状に対応する開口を有する耐めっきレジスト層を形成する。そして、耐めっきレジスト層の開口から露出した給電層上に電解めっきを施し、配線層171,172を給電層上に設けた後、耐めっきレジスト層を剥離除去する。その後、耐めっきレジスト層の剥離除去により露出した給電層を配線層171,172を損なわないようにソフトエッチングによりエッチング除去する。これにより、半導体チップ110の端子面110a上に配線層171,172が形成される。   Specifically, after the semiconductor chip 110 is formed at the wafer level, a power feeding layer for electrolytic plating is formed on the entire surface of the semiconductor chip 110 on the terminal surface 110a side, and a photosensitive insulating layer is formed on the entire surface. . Next, the photosensitive insulating layer is exposed by photolithography to form a plating-resistant resist layer having openings corresponding to the shapes of the wiring layers 171 and 172 to be formed. Then, electrolytic plating is performed on the power feeding layer exposed from the opening of the plating resistant resist layer, and the wiring layers 171 and 172 are provided on the power feeding layer, and then the plating resistant resist layer is peeled off. Thereafter, the power feeding layer exposed by peeling and removing the plating-resistant resist layer is etched away by soft etching so as not to damage the wiring layers 171 and 172. Thereby, wiring layers 171 and 172 are formed on the terminal surface 110 a of the semiconductor chip 110.

次いで、配線層171,172を覆うように感光性ポリイミドを半導体チップ110の端子面110a側の全面に塗布し、フォトリソグラフィ法によりビア部157,158の形成箇所を開口させた後、当該開口を含む感光性ポリイミド膜の全面を活性化して無電解めっきを行い、給電層を形成する。   Next, photosensitive polyimide is applied to the entire surface of the semiconductor chip 110 on the terminal surface 110a side so as to cover the wiring layers 171 and 172, and openings for forming the via portions 157 and 158 are formed by photolithography. The entire surface of the photosensitive polyimide film is activated and electroless plating is performed to form a power feeding layer.

次いで、給電層の全面に感光性絶縁層を形成し、フォトリソグラフィ法により感光性絶縁層を露光することにより、形成されるコイル115、ビア部157a,157b、ビア部158a,158b、凸状端子112a,112bの形状に対応する開口を有する耐めっきレジスト層を形成する。そして、耐めっきレジスト層の開口から露出した給電層上に電解めっきを施し、配線層171,172を給電層上に設けた後、耐めっきレジスト層を剥離除去する。その後、耐めっきレジスト層の剥離除去により露出した給電層をコイル115、ビア部157a,157b、ビア部158a,158b、凸状端子112a,112bを損なわないようにソフトエッチングによりエッチング除去する。これにより、半導体チップ110の端子面110a上に配線層171,172が形成される。   Next, a photosensitive insulating layer is formed on the entire surface of the power feeding layer, and the photosensitive insulating layer is exposed by a photolithography method, thereby forming the formed coil 115, via portions 157a and 157b, via portions 158a and 158b, and convex terminals. A plating-resistant resist layer having openings corresponding to the shapes of 112a and 112b is formed. Then, electrolytic plating is performed on the power feeding layer exposed from the opening of the plating resistant resist layer, and the wiring layers 171 and 172 are provided on the power feeding layer, and then the plating resistant resist layer is peeled off. Thereafter, the power feeding layer exposed by peeling off the plating-resistant resist layer is etched away by soft etching so as not to damage the coil 115, the via portions 157a and 157b, the via portions 158a and 158b, and the convex terminals 112a and 112b. Thereby, wiring layers 171 and 172 are formed on the terminal surface 110 a of the semiconductor chip 110.

最終的に、ウエハを各半導体チップ110ごとにダイシングして分離することにより、絶縁層180の表面180a上にコイル115が配設されたコイルオンチップ型の半導体チップモジュール107が得られる。   Finally, the wafer is diced and separated for each semiconductor chip 110 to obtain the coil-on-chip type semiconductor chip module 107 in which the coil 115 is disposed on the surface 180a of the insulating layer 180.

一方、ベース基材120として両面銅貼り積層板材を準備し、ベース基材120の一方の面120a上に接続用配線部151,152を、他方の面120b上に接触端子部131,132を、フォトエッチング法によりエッチング形成する。ここで、ベース基材120には、フォトエッチングの前または後に孔部126,126を形成する。   On the other hand, a double-sided copper-clad laminate is prepared as the base substrate 120, the connection wiring portions 151 and 152 are provided on one surface 120a of the base substrate 120, and the contact terminal portions 131 and 132 are provided on the other surface 120b. Etching is performed by a photoetching method. Here, holes 126 and 126 are formed in the base substrate 120 before or after photoetching.

そして、ベース基材120の孔部126,126内にビア部155,156を無電解めっきおよび電解めっきにより形成した後、半導体チップ110の端子111a,111bに接続された凸状端子112a,112bを、接続用配線部151,152にフリップチップ接続する。なお、必要に応じて、接続用配線部151,152のうち凸状端子112a,112bに対応する位置にバンプを形成するようにしてもよい。   Then, via portions 155 and 156 are formed in the holes 126 and 126 of the base substrate 120 by electroless plating and electrolytic plating, and then the convex terminals 112a and 112b connected to the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 are formed. Then, flip chip connection is made to the connection wiring portions 151 and 152. If necessary, bumps may be formed at positions corresponding to the convex terminals 112a and 112b in the connection wiring portions 151 and 152.

これにより、最終的に、図4(a)(b)に示すようなデータキャリアモジュール104が製造される。   As a result, the data carrier module 104 as shown in FIGS. 4A and 4B is finally manufactured.

なお、データキャリアモジュール104の製造方法としては、上述した方法以外にも、次のような方法を用いることができる。   In addition to the method described above, the following method can be used as a method for manufacturing the data carrier module 104.

すなわち、ベース基材120に孔部126,126を形成した後、ベース基材120の一方の面120aおよび他方の面120b上にフォトリソグラフィ法により耐めっきレジスト層を形成し、ベース基材120の両面120a,120bおよび孔部126,126を活性化して無電解めっきを行った後、電解めっきにより、接続用配線部151,152、接触端子部131,132およびビア部155,156を形成する。   That is, after forming the holes 126, 126 in the base substrate 120, a plating-resistant resist layer is formed on one surface 120a and the other surface 120b of the base substrate 120 by a photolithography method. After both surfaces 120a and 120b and the holes 126 and 126 are activated and electroless plating is performed, connection wiring portions 151 and 152, contact terminal portions 131 and 132, and via portions 155 and 156 are formed by electrolytic plating.

そして、このようにして得られたベース基材120をソフトエッチングした後、半導体チップ110の端子111a,111bに接続された凸状端子112a,112bを、接続用配線部151,152にフリップチップ接続する。なお、必要に応じて、接続用配線部151,152のうち凸状端子112a,112bに対応する位置にバンプを形成するようにしてもよい。   After the base substrate 120 thus obtained is soft-etched, the convex terminals 112a and 112b connected to the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 are flip-chip connected to the connection wiring portions 151 and 152. To do. If necessary, bumps may be formed at positions corresponding to the convex terminals 112a and 112b in the connection wiring portions 151 and 152.

これにより、上述した方法と同様に、最終的に、図4(a)(b)に示すようなデータキャリアモジュール104が製造される。   As a result, the data carrier module 104 as shown in FIGS. 4A and 4B is finally manufactured in the same manner as described above.

なお、上述した第4の実施の形態においても、図1に示す第1の実施の形態と同様に、データキャリアモジュール104の半導体チップモジュール107側を樹脂封止し、半導体チップ110、コイル115および接続用配線部151,152を覆うよう封止用樹脂層を設けるようにしてもよい。   In the fourth embodiment described above, as in the first embodiment shown in FIG. 1, the semiconductor chip module 107 side of the data carrier module 104 is sealed with resin, and the semiconductor chip 110, the coil 115, and A sealing resin layer may be provided so as to cover the connection wiring portions 151 and 152.

第5の実施の形態
次に、図5により、本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第5の実施の形態について説明する。本発明の第5の実施の形態は、コイルの配設位置、および半導体チップの端子とコイルとの接続方法が異なる点を除いて、他は図4(a)(b)に示す第4の実施の形態と略同一である。本発明の第5の実施の形態において、図4(a)(b)に示す第4の実施の形態と同一部分には同一符号を付して詳細な説明は省略する。
Fifth Embodiment Next, referring to FIG. 5, a fifth embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type according to the present invention will be described. The fifth embodiment of the present invention is the same as the fourth embodiment shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b) except that the arrangement position of the coil and the connection method between the terminal of the semiconductor chip and the coil are different. This is substantially the same as the embodiment. In the fifth embodiment of the present invention, the same parts as those of the fourth embodiment shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b) are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.

図5に示すように、本発明の第5の実施の形態に係るデータキャリアモジュール105において、2次コイルとしてのコイル160は、半導体チップ110の端子面110a上ではなく、ベース基材120の一方の面120a上に配設されている。   As shown in FIG. 5, in the data carrier module 105 according to the fifth embodiment of the present invention, the coil 160 as the secondary coil is not on the terminal surface 110a of the semiconductor chip 110 but on one side of the base substrate 120. Is disposed on the surface 120a.

ベース基材120の一方の面120a上には、端子111a,111b,111cに接続された接続用端子部(ラウンド)165,166,167が配設されている。また、ベース基材120の他方の面120b上には接触端子部131,132および接続用配線部159が配設されている。   On one surface 120a of the base substrate 120, connection terminal portions (rounds) 165, 166, and 167 connected to the terminals 111a, 111b, and 111c are disposed. Further, contact terminal portions 131 and 132 and a connection wiring portion 159 are disposed on the other surface 120 b of the base substrate 120.

ここで、ベース基材120には、孔部(コイル用開口部)127,127が形成されており、この孔部127,127内に、コイル160の一側端部160aと接続用配線部159、および接続用配線部159と接続用端子部167を接続する一対のビア部157a,157bが設けられている。また、半導体チップ110の端子111c,111dに接続された凸状端子112c,112dは、それぞれ、コイル160の一側端部160aに最終的に接続された接続用端子部167と、コイル160の他側端部160bとにフリップチップ接続されている。   Here, holes (coil openings) 127 and 127 are formed in the base substrate 120, and one side end 160 a of the coil 160 and the connection wiring portion 159 are formed in the holes 127 and 127. And a pair of via portions 157a and 157b for connecting the connection wiring portion 159 and the connection terminal portion 167 are provided. The convex terminals 112c and 112d connected to the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110 are the connection terminal part 167 finally connected to the one end 160a of the coil 160 and the other part of the coil 160, respectively. It is flip-chip connected to the side end 160b.

これにより、半導体チップ110とコイル160とは、半導体チップ110の端子111cとコイル160の端部160aとを、半導体チップ110の端子111c,111dに接続された凸状端子112c、接続用端子部167、ビア部157b、接続用配線部159およびビア部157aにより接続するとともに、半導体チップ110の端子111dとコイル160の端部160bとを凸状端子112dにより接続することにより、互いに接続されている。なお、凸状端子112c,112d、接続用端子部167、ビア部157a,157bおよび接続用配線部159により、コイル用接続部が構成されている。 As a result, the semiconductor chip 110 and the coil 160 have the terminal 111c of the semiconductor chip 110 and the end 160a of the coil 160 connected to the terminals 111c and 111d of the semiconductor chip 110, and the connection terminal portion 167. In addition, the via part 157b, the connecting wiring part 159 and the via part 157a are connected to each other, and the terminal 111d of the semiconductor chip 110 and the end part 160b of the coil 160 are connected to each other by the convex terminal 112d. The convex terminals 112c and 112d, the connection terminal part 167, the via parts 157a and 157b, and the connection wiring part 159 constitute a coil connection part.

また、ベース基材120には、孔部(接触端子部用開口部)126,126が形成されており、この孔部126,126内に、接続用端子部165,166と接触端子部131,132とをそれぞれ接続するビア部155,156が設けられている。また、半導体チップ110の端子111a,111bに接続された凸状端子112a,112bは、それぞれ、接続用端子部165,166にフリップチップ接続されている。これにより、半導体チップ110と接触端子部131,132とは、半導体チップの端子111a,111bと接触端子部131,132とを接続用端子部165,166およびビア部155,156により接続することにより、互いに接続されている。なお、接続用端子部165,166およびビア部155,156により、接触端子部用接続部が構成されている。   In addition, holes (openings for contact terminal portions) 126, 126 are formed in the base substrate 120. In the holes 126, 126, connection terminal portions 165, 166 and contact terminal portions 131, 126 are formed. Via portions 155 and 156 are provided for connecting to the H.132. The convex terminals 112a and 112b connected to the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip 110 are flip-chip connected to the connection terminal portions 165 and 166, respectively. Thereby, the semiconductor chip 110 and the contact terminal portions 131 and 132 are connected by connecting the terminals 111a and 111b of the semiconductor chip and the contact terminal portions 131 and 132 by the connection terminal portions 165 and 166 and the via portions 155 and 156, respectively. Are connected to each other. The connection terminal portions 165 and 166 and the via portions 155 and 156 constitute a contact terminal portion connection portion.

次に、このような構成からなるデータキャリアモジュール105の製造方法について説明する。   Next, a method for manufacturing the data carrier module 105 having such a configuration will be described.

まず、ベース基材120として両面銅貼り積層板材を準備し、ベース基材120の一方の面120a上にコイル160および接続用端子部165,166,167を、他方の面120b上に接触端子部131,132および接続用配線部159を、フォトエッチング法によりエッチング形成する。ここで、ベース基材120には、フォトエッチングの前または後に孔部126,126,127,127を形成する。   First, a double-sided copper-clad laminate is prepared as the base substrate 120, the coil 160 and connection terminal portions 165, 166, and 167 are provided on one surface 120a of the base substrate 120, and the contact terminal portion is provided on the other surface 120b. 131 and 132 and connection wiring part 159 are formed by etching using a photoetching method. Here, holes 126, 126, 127, 127 are formed in the base substrate 120 before or after photoetching.

そして、ベース基材120の孔部126,126、127,127内にビア部155,156,157a,157bを無電解めっきおよび電解めっきにより形成し、半導体チップ110の端子111a,111b,111c,111dに接続された凸状端子112a,112b,112c,112dを、接続用端子部165,166,167およびコイル160の他側端子160bにフリップチップ接続する。   Then, via portions 155, 156, 157a, 157b are formed in the holes 126, 126, 127, 127 of the base substrate 120 by electroless plating and electrolytic plating, and terminals 111a, 111b, 111c, 111d of the semiconductor chip 110 are formed. The convex terminals 112a, 112b, 112c, and 112d connected to are connected to the connection terminal portions 165, 166, and 167 and the other terminal 160b of the coil 160 by flip-chip connection.

これにより、最終的に、図5に示すようなデータキャリアモジュール105が製造される。   Thereby, the data carrier module 105 as shown in FIG. 5 is finally manufactured.

なお、データキャリアモジュール105の製造方法としては、上述した方法以外にも、次のような方法を用いることができる。   In addition to the method described above, the following method can be used as a method for manufacturing the data carrier module 105.

すなわち、ベース基材120に孔部126,126,127,127を形成した後、ベース基材120の一方の面120aおよび他方の面120b上にフォトリソグラフィ法により耐めっきレジスト層を形成し、ベース基材120の両面120a,120bおよび孔部126,126,127,127を活性化して無電解めっきを行った後、電解めっきにより、コイル160、接続用端子部165,166,167、接触端子部131,132、接続用配線部159およびビア部155,156,157a,157bを形成する。   That is, after forming the holes 126, 126, 127, 127 in the base substrate 120, a plating-resistant resist layer is formed on one surface 120a and the other surface 120b of the base substrate 120 by photolithography, and the base After activating the both surfaces 120a, 120b and the holes 126, 126, 127, 127 of the base material 120 and performing electroless plating, the coil 160, the connection terminal portions 165, 166, 167, and the contact terminal portions are obtained by electrolytic plating. 131, 132, connection wiring part 159 and via parts 155, 156, 157a, 157b are formed.

そして、このようにして得られたベース基材120をソフトエッチングした後、半導体チップ110の端子111a,111b,111c,111dに接続された凸状端子112a,112b,112c,112dを、接続用端子部165,166,167、およびコイル160の他側端子160bにフリップチップ接続する。   Then, after soft etching the base substrate 120 obtained in this way, the protruding terminals 112a, 112b, 112c, and 112d connected to the terminals 111a, 111b, 111c, and 111d of the semiconductor chip 110 are connected to the connection terminals. The parts 165, 166, and 167 and the other terminal 160b of the coil 160 are flip-chip connected.

これにより、最終的に、図5に示すようなデータキャリアモジュール105が製造される。   Thereby, the data carrier module 105 as shown in FIG. 5 is finally manufactured.

なお、上述した第5の実施の形態においても、図1に示す第1の実施の形態と同様に、データキャリアモジュール105の半導体チップ110側を樹脂封止し、半導体チップ110、コイル160および接続用端子部165,166,167を覆うよう封止用樹脂層を設けるようにしてもよい。   In the fifth embodiment described above, as in the first embodiment shown in FIG. 1, the semiconductor chip 110 side of the data carrier module 105 is resin-sealed, and the semiconductor chip 110, the coil 160, and the connection are connected. A sealing resin layer may be provided to cover the terminal portions 165, 166, and 167 for use.

使用形態
次に、図6(a)(b)(c)により、上述した第1乃至第5の実施の形態に係る接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの使用形態について説明する。
Usage Mode Next, with reference to FIGS. 6A, 6B, and 6C, usage modes of the contact-type and non-contact-type data carrier modules according to the first to fifth embodiments described above will be described.

図6(a)に示すように、データキャリアモジュール610(図1乃至図5に示すデータキャリアモジュール101〜105に対応)は、ブースターカード用のSIM(Subscriber Identity Module)、または携帯電話装置用のSIMとして使用することができる。   As shown in FIG. 6 (a), the data carrier module 610 (corresponding to the data carrier modules 101 to 105 shown in FIGS. 1 to 5) is a booster card SIM (Subscriber Identity Module) or a mobile phone device. It can be used as a SIM.

図6(a)に示すように、データキャリアモジュール610がブースターカード620用のSIMとして使用される場合には、ブースターカード620のスロット650に挿入されて使用される。   As shown in FIG. 6A, when the data carrier module 610 is used as a SIM for the booster card 620, it is inserted into the slot 650 of the booster card 620 and used.

この場合、ブースターカード620のブースターアンテナコイル(一次コイル)621には、スロット650の位置でコイル密集部が設けられ、このコイル密集部の上にコイル(二次コイル)611が重なるようにデータキャリアモジュール610が搭載される。なおこのとき、ブースターアンテナコイル621のコイル密集部の形状と、データキャリアモジュール610のコイル611の形状とをほぼ一致させることにより、電磁結合の効率を高くすることができる。   In this case, the booster antenna coil (primary coil) 621 of the booster card 620 is provided with a coil dense portion at the position of the slot 650, and the data carrier so that the coil (secondary coil) 611 overlaps the coil dense portion. A module 610 is mounted. At this time, the efficiency of electromagnetic coupling can be increased by substantially matching the shape of the coil dense portion of the booster antenna coil 621 and the shape of the coil 611 of the data carrier module 610.

このようにして、データキャリアモジュール610がブースターカード620のスロット650に挿入されると、外部の読み書き装置(リーダライター)から、ブースターアンテナコイル621を介して、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュール610の半導体チップを非接触でアクセスすることができる。   In this way, when the data carrier module 610 is inserted into the slot 650 of the booster card 620, a contact-type and non-contact-type data carrier is supplied from an external read / write device (reader / writer) via the booster antenna coil 621. The semiconductor chip of the module 610 can be accessed without contact.

ここで、データキャリアモジュール610の半導体チップは、制御部、メモリ、受信回路および送信回路を有し、コイル611からの入力信号は、受信回路および制御部を介してメモリヘアクセスされ、メモリからの信号は制御部を介して送信回路へ送られ、コイル611、およびブースターカード620のブースターアンテナコイル621を経て、外部のリーダライターへと送られる。なお、半導体チップのメモリには、データキャリア装置として必要な各種の情報が格納されている。   Here, the semiconductor chip of the data carrier module 610 includes a control unit, a memory, a reception circuit, and a transmission circuit, and an input signal from the coil 611 is accessed to the memory via the reception circuit and the control unit, The signal is sent to the transmission circuit via the control unit, and sent to the external reader / writer via the coil 611 and the booster antenna coil 621 of the booster card 620. The semiconductor chip memory stores various information necessary for the data carrier device.

ここで、ブースターカード620と外部のリーダライターとの間の通信には、125kHz(中波)や、13.56MHz、2.45GHz(マイクロ波)等の周波数帯が使用され、通常、125kHzでは2cm程度、13.56MHzでは20cm程度の通信距離であるが、実際の通信距離は、アンテナの面積やリーダライターの出力電力によって大きく変化する。   Here, a frequency band of 125 kHz (medium wave), 13.56 MHz, 2.45 GHz (microwave), or the like is used for communication between the booster card 620 and an external reader / writer. The communication distance is about 20 cm at 13.56 MHz, but the actual communication distance varies greatly depending on the antenna area and the output power of the reader / writer.

なお、ブースターカード620には、複数個のデータキャリアモジュール610が挿入されるよう複数個のスロットを設け、各スロットごとにデータキャリアモジュール610と外部のリーダライターとの間で通信を行うようにしてもよい。   The booster card 620 is provided with a plurality of slots so that a plurality of data carrier modules 610 are inserted, and communication is performed between the data carrier module 610 and an external reader / writer for each slot. Also good.

一方、図6(b)に示すように、データキャリアモジュール610が携帯電話装置630用のSIMとして使用される場合には、携帯電話装置630のスロット650に挿入されて使用される。   On the other hand, as shown in FIG. 6B, when the data carrier module 610 is used as a SIM for the mobile phone device 630, it is inserted into the slot 650 of the mobile phone device 630 and used.

この場合、携帯電話装置630のブースターアンテナコイル(一次コイル、図示せず)には、スロット650の位置でコイル密集部が設けられ、このコイル密集部の上にコイル(二次コイル)611が重なるようにデータキャリアモジュール610が搭載される。なおこのとき、ブースターアンテナコイルのコイル密集部の形状と、データキャリアモジュール610のコイル611の形状とをほぼ一致させることにより、電磁結合の効率を高くすることができる。なお、携帯電話装置630において、ブースターアンテナコイルは、携帯電話装置630の裏面側に形成することが好ましい。   In this case, a booster antenna coil (primary coil, not shown) of the cellular phone device 630 is provided with a coil dense portion at the position of the slot 650, and a coil (secondary coil) 611 overlaps with the coil dense portion. Thus, the data carrier module 610 is mounted. At this time, the efficiency of electromagnetic coupling can be increased by making the shape of the coil dense portion of the booster antenna coil substantially coincide with the shape of the coil 611 of the data carrier module 610. Note that in the cellular phone device 630, the booster antenna coil is preferably formed on the back side of the cellular phone device 630.

このようにして、データキャリアモジュール610が携帯電話装置630のスロット650に挿入されると、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュール610は、ブースターアンテナコイルを介して、携帯電話装置630と情報の授受を行うことができ、図6(b)に示すように、携帯電話装置630を介してインターネット通信を行ったり、図6(c)に示すように、パーソナルコンピュータ641との間で情報の授受を行ったりすることができる。なお、図6(b)(c)において、符号631は携帯電話装置630の表示部、符号632は通信用アンテナ、符号634は通信用アンテナ632から出射される電磁波、符号641はパーソナルコンピュータ640の表示部である。   Thus, when the data carrier module 610 is inserted into the slot 650 of the mobile phone device 630, the data carrier module 610 for both contact and non-contact use is connected to the mobile phone device 630 via the booster antenna coil. As shown in FIG. 6 (b), Internet communication is performed through the mobile phone device 630, and information is exchanged with the personal computer 641 as shown in FIG. 6 (c). You can give and receive. 6B and 6C, reference numeral 631 denotes a display portion of the cellular phone device 630, reference numeral 632 denotes a communication antenna, reference numeral 634 denotes an electromagnetic wave emitted from the communication antenna 632, and reference numeral 641 denotes a personal computer 640. It is a display unit.

なお、上述した第1乃至第5の実施の形態に係る接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの半導体チップには、所有者の認証処理を行うための個人認証機能回路と、インターネット接続可能な通信装置を利用してインターネット経由で各種の情報をダウンロードするための非接触通信機能回路とを設けることが好ましい。   The semiconductor chip of the contact-type and non-contact-type data carrier module according to the first to fifth embodiments described above can be connected to the personal authentication function circuit for performing owner authentication processing and the Internet. It is preferable to provide a non-contact communication function circuit for downloading various information via the Internet using a simple communication device.

この場合には、図6(b)(c)に示すように、インターネットに接続可能な携帯電話装置630等の通信装置のスロットに、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュール610を挿入することにより、その所有者が、インターネット経由で各種の情報を選択的にダウンロードし、かつ、その対価の課金を受けることができる。   In this case, as shown in FIGS. 6B and 6C, a contact-type and non-contact-type data carrier module 610 is inserted into a slot of a communication device such as a mobile phone device 630 that can be connected to the Internet. Thus, the owner can selectively download various kinds of information via the Internet and can be charged for the price.

なお、このような接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュール610では、データキャリアモジュール610にインターネット経由で情報を書き込んだ後、(1)データキャリアモジュール610を非接触ICモジュールとして用い、外部のリーダライターとの間で非接触で通信を行ったり、(2)データキャリアモジュール610が挿入された携帯電話装置630のアンテナブースターコイルを用いて、外部のリーダライターとの間で非接触で通信を行ったり、(3)データキャリアモジュール610が挿入された携帯電話装置630を介してパーソナルコンピュータ640等の他のメモリー装置との間で接触式で信号の交換を行ったりすることができる。   In such a contact-type and non-contact-type data carrier module 610, after writing information to the data carrier module 610 via the Internet, (1) using the data carrier module 610 as a non-contact IC module, Communicate in a contactless manner with a reader / writer, or (2) communicate in a contactless manner with an external reader / writer using the antenna booster coil of the cellular phone device 630 in which the data carrier module 610 is inserted. Or (3) exchange signals with another memory device such as a personal computer 640 via the mobile phone device 630 in which the data carrier module 610 is inserted.

本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第1の実施の形態を示す概略断面図。1 is a schematic cross-sectional view showing a first embodiment of a data carrier module for both contact and non-contact use according to the present invention. 本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第2の実施の形態を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows 2nd Embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type by this invention. 本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第3の実施の形態を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows 3rd Embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type by this invention. 本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第4の実施の形態を示す図。The figure which shows 4th Embodiment of the data carrier module for both contact type and non-contact type by this invention. 本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの第5の実施の形態を示す概略断面図、FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a fifth embodiment of the contact-type and non-contact-type data carrier module according to the present invention; 本発明による接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュールの使用形態を説明するための概略図である。It is the schematic for demonstrating the usage condition of the data carrier module for both contact type and non-contact type by this invention.

符号の説明Explanation of symbols

101〜105 データキャリアモジュール
106,107 コイルオンチップ型の半導体チップモジュール
110 半導体チップ
110a 端子面
111a,111b,111c,111d 端子
112a,112b 凸状端子
115 コイル(二次コイル)
115a,115b 端部
120 ベース基材
125,125 孔部(接触端子部用開口部)
126,126 孔部(接触端子部用開口部)
127,127 孔部(コイル用開口部)
131,132 接触端子部
141,142 ボンディングワイヤ(コイル用接続部)
145,146 ボンディングワイヤ(接触端子部用接続部)
151,152 接続用配線部
155,156 ビア部(バイアホール部)
157a,157b ビア部
158a,158b ビア部
159 接続用配線部
160 コイル(二次コイル)
160a,160b 端部
165,166,167 接続用端子部(ラウンド)
171,172 配線層
180 絶縁層
190 封止用樹脂層
610 データキャリアモジュール
611 コイル(二次コイル)
620 ブースターカード
621 ブースターアンテナコイル(一次コイル)
630 携帯電話装置
631 表示部
632 通信用アンテナ
634 電磁波
640 パーソナルコンピュータ
641 表示部
650 スロット
101-105 Data carrier modules 106, 107 Coil-on-chip type semiconductor chip module 110 Semiconductor chip 110a Terminal surfaces 111a, 111b, 111c, 111d Terminals 112a, 112b Convex terminal 115 Coil (secondary coil)
115a, 115b end portion 120 base material 125, 125 hole (opening for contact terminal portion)
126, 126 hole (opening for contact terminal)
127, 127 hole (coil opening)
131,132 Contact terminal part 141,142 Bonding wire (coil connection part)
145,146 Bonding wire (contact terminal connection)
151,152 Connection wiring part 155,156 Via part (via hole part)
157a, 157b Via part 158a, 158b Via part 159 Connection wiring part 160 Coil (secondary coil)
160a, 160b Ends 165, 166, 167 Terminals for connection (round)
171, 172 Wiring layer 180 Insulating layer 190 Resin layer for sealing 610 Data carrier module 611 Coil (secondary coil)
620 Booster card 621 Booster antenna coil (primary coil)
630 Mobile phone device 631 Display unit 632 Communication antenna 634 Electromagnetic wave 640 Personal computer 641 Display unit 650 Slot

Claims (19)

ベース基材と、
前記ベース基材上に搭載された半導体チップと、
前記半導体チップに接続され、外部のブースターアンテナ部との電磁結合により非接触で通信を行うためのコイルと、
前記半導体チップに接続され、外部の接点と接触接続するための接触端子部とを備えたことを特徴とする、接触式および非接触式兼用のデータキャリアモジュール。
A base substrate;
A semiconductor chip mounted on the base substrate;
A coil connected to the semiconductor chip for performing contactless communication by electromagnetic coupling with an external booster antenna unit;
A contact-type and non-contact-type data carrier module comprising a contact terminal portion connected to the semiconductor chip for contact connection with an external contact.
前記半導体チップは、端子が設けられた端子面が外側を向くよう前記ベース基材の一方の面上に配設され、前記接触端子部は、前記半導体チップが配設される前記一方の面と反対側の他方の面上に配設され、前記半導体チップと前記接触端子部とは、前記ベース基材に形成された接触端子部用開口部を通して、接触端子部用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項1記載のデータキャリアモジュール。   The semiconductor chip is disposed on one surface of the base substrate so that a terminal surface provided with terminals faces outward, and the contact terminal portion includes the one surface on which the semiconductor chip is disposed. The semiconductor chip and the contact terminal portion are disposed on the other surface on the opposite side, and are connected to each other by the contact terminal portion connection portion through the contact terminal portion opening formed in the base substrate. The data carrier module according to claim 1, wherein: 前記接触端子部用接続部は、前記半導体チップの端子と前記接触端子部とを接続するボンディングワイヤであることを特徴とする、請求項2記載のデータキャリアモジュール。   3. The data carrier module according to claim 2, wherein the contact terminal portion connection portion is a bonding wire that connects a terminal of the semiconductor chip and the contact terminal portion. 前記接触端子部用接続部は、前記半導体チップの端子と前記接続用配線部とを接続するボンディングワイヤと、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記接触端子部用開口部内に形成され前記接続用配線部と前記接触端子部とを接続するビア部とからなることを特徴とする、請求項2記載のデータキャリアモジュール。   The contact terminal portion connecting portion includes a bonding wire for connecting the terminal of the semiconductor chip and the connecting wiring portion, a connecting wiring portion disposed on the one surface of the base substrate, 3. The data carrier module according to claim 2, comprising a via portion that is formed in the contact terminal portion opening of the base substrate and connects the connection wiring portion and the contact terminal portion. 前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項2記載のデータキャリアモジュール。   3. The data carrier module according to claim 2, wherein the coil is disposed on the terminal surface of the semiconductor chip, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. . 前記コイル用接続部は、前記半導体チップの端子と前記コイルの端部とを接続するボンディングワイヤであることを特徴とする、請求項5記載のデータキャリアモジュール。   The data carrier module according to claim 5, wherein the coil connection portion is a bonding wire that connects a terminal of the semiconductor chip and an end portion of the coil. 前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項2記載のデータキャリアモジュール。   3. The data according to claim 2, wherein the coil is disposed on the one surface of the base substrate, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. Carrier module. 前記コイル用接続部は、前記半導体チップの端子と前記コイルの端部とを接続するボンディングワイヤであることを特徴とする、請求項7記載のデータキャリアモジュール。   The data carrier module according to claim 7, wherein the coil connection portion is a bonding wire that connects a terminal of the semiconductor chip and an end portion of the coil. 前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上のうち前記半導体チップの周囲近傍に配設されていることを特徴とする、請求項7記載のデータキャリアモジュール。   The data carrier module according to claim 7, wherein the coil is disposed in the vicinity of the periphery of the semiconductor chip on the one surface of the base substrate. 前記半導体チップは、端子が設けられた端子面が前記ベース基材側を向くよう前記ベース基材の一方の面上に配設され、前記接触端子部は、前記半導体チップが配設される前記一方の面と反対側の他方の面上に配設され、前記半導体チップと前記接触端子部とは、前記ベース基材に形成された接触端子部用開口部を通して、接触端子部用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項1記載のデータキャリアモジュール。   The semiconductor chip is disposed on one surface of the base substrate so that a terminal surface provided with terminals faces the base substrate side, and the contact terminal portion is disposed on the semiconductor chip. The semiconductor chip and the contact terminal portion are disposed on the other surface opposite to the one surface, and the contact terminal portion connection portion is formed through the contact terminal portion opening formed in the base substrate. The data carrier module according to claim 1, wherein the data carrier modules are connected to each other. 前記接触端子部用接続部は、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記接触端子部用開口部内に形成され前記接続用配線部と前記接触端子部とを接続するビア部とからなり、前記半導体チップの端子は、前記接続用配線部にフリップチップ接続されていることを特徴とする、請求項10記載のデータキャリアモジュール。   The contact terminal portion connecting portion is formed in the connection wiring portion disposed on the one surface of the base substrate, and the contact terminal portion opening portion of the base substrate, and the connection wiring portion. 11. The data carrier module according to claim 10, further comprising a via portion connecting the contact terminal portion and the contact terminal portion, wherein the terminal of the semiconductor chip is flip-chip connected to the connection wiring portion. 前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、コイル用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項10記載のデータキャリアモジュール。   11. The data carrier module according to claim 10, wherein the coil is disposed on the terminal surface of the semiconductor chip, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connecting portion. . 前記コイルは、前記半導体チップの前記端子面上に形成された配線層と、前記配線層を覆うよう形成された絶縁層とを介して配設され、前記配線層は前記半導体チップの端子に接続され、前記コイル用接続部は、前記配線層と、前記絶縁層に形成され前記配線層と前記コイルの端部とを接続するビア部とからなることを特徴とする、請求項12記載のデータキャリアモジュール。   The coil is disposed via a wiring layer formed on the terminal surface of the semiconductor chip and an insulating layer formed to cover the wiring layer, and the wiring layer is connected to a terminal of the semiconductor chip. 13. The data according to claim 12, wherein the coil connection portion includes the wiring layer and a via portion that is formed in the insulating layer and connects the wiring layer and an end portion of the coil. Carrier module. 前記コイルは、前記ベース基材の前記一方の面上に配設され、前記半導体チップと前記コイルとは、前記ベース基材に形成された一対のコイル用開口部を通して、コイル用接続部により互いに接続されていることを特徴とする、請求項10記載のデータキャリアモジュール。   The coil is disposed on the one surface of the base substrate, and the semiconductor chip and the coil are connected to each other by a coil connection portion through a pair of coil openings formed in the base substrate. 11. Data carrier module according to claim 10, characterized in that it is connected. 前記コイル用接続部は、前記ベース基材の前記他方の面上に配設された接続用配線部と、前記ベース基材の前記一方の面上に配設された接続用端子部と、前記ベース基材の前記一対のコイル用開口部内に形成され、前記コイルの一側端部と前記接続用配線部、および前記接続用配線部と前記接続用端子部を接続する一対のビア部とからなり、前記半導体チップの端子は、前記コイルの一側端子に接続される前記接続用端子部、および前記コイルの他側端子にフリップチップ接続されていることを特徴とする、請求項14記載のデータキャリアモジュール。   The coil connection portion includes a connection wiring portion disposed on the other surface of the base substrate, a connection terminal portion disposed on the one surface of the base substrate, Formed in the pair of coil openings of the base substrate, from one end of the coil and the connection wiring portion, and from the pair of via portions connecting the connection wiring portion and the connection terminal portion The terminal of the semiconductor chip is flip-chip connected to the terminal part for connection connected to one side terminal of the coil and the other side terminal of the coil. Data carrier module. 前記半導体チップ、前記コイルおよび前記配線部を樹脂封止する封止用樹脂層をさらに備えたことを特徴とする、請求項1乃至15のいずれかに記載のデータキャリアモジュール。   16. The data carrier module according to claim 1, further comprising a sealing resin layer for resin-sealing the semiconductor chip, the coil, and the wiring portion. ブースターカード用のSIMとして使用されることを特徴とする、請求項1乃至16のいずれかに記載のデータキャリアモジュール。   The data carrier module according to any one of claims 1 to 16, wherein the data carrier module is used as a SIM for a booster card. 携帯電話装置用のSIMとして使用されることを特徴とする、請求項1乃至16のいずれかに記載のデータキャリアモジュール。   The data carrier module according to claim 1, wherein the data carrier module is used as a SIM for a mobile phone device. 前記半導体チップは、所有者の認証処理を行うための個人認証機能回路と、インターネット接続可能な通信装置を利用してインターネット経由で各種の情報をダウンロードするための非接触通信機能回路とを有することを特徴とする、請求項1乃至18のいずれかに記載のデータキャリアモジュール。   The semiconductor chip has a personal authentication function circuit for performing an owner authentication process, and a non-contact communication function circuit for downloading various types of information via the Internet using a communication device connectable to the Internet. The data carrier module according to claim 1, characterized in that:
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