JP2007035655A - Plasma display panel and its manufacturing method - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a PDP (plasma display panel) with improved discharge characteristics. <P>SOLUTION: In a position facing a discharge space S between a front glass substrate 1 and a back glass substrate 6, a magnesium oxide layer 5 containing crystalline powder wherein magnesium oxide crystalline performing cathode luminescence emission with a peak within a wave range of 200-300 nm excited by an electron beam is selected is provided. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネル及びその製造方法に関するものである。   The present invention relates to a plasma display panel and a manufacturing method thereof.

面放電方式交流型プラズマディスプレイパネル(以下、PDPという)は、放電ガスが封入されている放電空間を挟んで互いに対向される二枚のガラス基板のうち、一方のガラス基板に行方向に延びる行電極対が列方向に並設され、他方のガラス基板に列方向に延びる列電極が行方向に並設されていて、放電空間の行電極対と列電極がそれぞれ交差する部分に、マトリックス状に単位発光領域(放電セル)が形成されている。   A surface discharge AC plasma display panel (hereinafter referred to as PDP) is a row extending in the row direction to one of the two glass substrates facing each other across a discharge space in which a discharge gas is sealed. The electrode pairs are arranged side by side in the column direction, the column electrodes extending in the column direction are arranged in the row direction on the other glass substrate, and the row electrode pairs and the column electrodes in the discharge space intersect each other in a matrix. A unit light emitting region (discharge cell) is formed.

そして、このPDPには、行電極や列電極を被覆するために形成された誘電体層上の単位発光領域内に面する位置に、誘電体層の保護機能と単位発光領域内への2次電子放出機能とを有する酸化マグネシウム(MgO)膜が形成されている。   In this PDP, the protective function of the dielectric layer and the secondary to the unit light emitting region are provided at a position facing the unit light emitting region on the dielectric layer formed to cover the row electrode and the column electrode. A magnesium oxide (MgO) film having an electron emission function is formed.

このようなPDPの製造工程における酸化マグネシウム膜の形成方法としては、酸化マグネシウム粉末を混入したペーストを誘電体層上に塗布することによって形成するスクリーン印刷法が、簡便な手法であることから、その採用が検討されている(例えば、特許文献1参照)。   As a method for forming a magnesium oxide film in such a PDP manufacturing process, a screen printing method in which a paste mixed with magnesium oxide powder is applied onto a dielectric layer is a simple method. Adoption has been studied (for example, see Patent Document 1).

しかしながら、この特許文献1のように、水酸化マグネシウムを熱処理して精製した多結晶片葉形の酸化マグネシウムを混入したペーストを用いて、スクリーン印刷法によってPDPの酸化マグネシウム膜を形成する場合には、PDPの放電特性は、蒸着法によって酸化マグネシウム膜を形成する場合とほとんど同じかまたは僅かに向上する程度に過ぎない。   However, in the case of forming a PDP magnesium oxide film by screen printing using a paste mixed with polycrystalline single-leaf magnesium oxide purified by heat treatment of magnesium hydroxide as in Patent Document 1, The discharge characteristics of the PDP are almost the same or slightly improved as when the magnesium oxide film is formed by vapor deposition.

このため、放電特性をより一層向上させることが出来る酸化マグネシウム膜(保護膜)をPDPに形成出来るようにすることが要望されている。   For this reason, it is desired that a magnesium oxide film (protective film) that can further improve the discharge characteristics can be formed on the PDP.

特開平6−325696号公報JP-A-6-325696

この発明は、上記のような従来の酸化マグネシウム膜が形成されるPDPにおける問題点を解決することをその解決課題の一つとしている。   An object of the present invention is to solve the problems in the conventional PDP on which the magnesium oxide film as described above is formed.

本発明の以下に示す独立請求項に係る特徴を少なくとも具備するものである。   The present invention includes at least the features according to the following independent claims.

[請求項1]放電空間を介して対向する前面基板および背面基板と、この前面基板と背面基板の間に複数の行電極対およびこの行電極対に対して交差する方向に延びて行電極対との各交差部分の放電空間にそれぞれ単位発光領域を形成する複数の列電極が設けられているプラズマディスプレイパネルにおいて、電子線によって励起されて波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体が選別された結晶体粉末を含む酸化マグネシウム層が、前記前面基板と背面基板の間の単位発光領域に面する部分に設けられていることを特徴とするプラズマディスプレイパネル。   [Claim 1] A front substrate and a rear substrate facing each other through a discharge space, a plurality of row electrode pairs between the front substrate and the rear substrate, and a row electrode pair extending in a direction intersecting the row electrode pair In a plasma display panel provided with a plurality of column electrodes each forming a unit light emitting region in the discharge space at each intersection with the cathode luminescence emission having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm excited by an electron beam A plasma display panel, wherein a magnesium oxide layer including a crystal powder from which magnesium oxide crystals to be selected are selected is provided in a portion facing a unit light emitting region between the front substrate and the back substrate.

[請求項8]放電空間を介して対向する前面基板および背面基板と、この前面基板と背面基板の間に配置されて互いに交差する部分の放電空間にそれぞれ単位発光領域を形成する行電極対および列電極と、行電極対を被覆する誘電体層と、放電空間に面する部分に形成された酸化マグネシウム層とを有するプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、前記酸化マグネシウム層を形成する工程に、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体を選別する工程と、選別された結晶体粉末を含む結晶酸化マグネシウム層を形成する工程が含まれていることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。   [Claim 8] A front substrate and a rear substrate facing each other through the discharge space, and a pair of row electrodes which form unit light emitting regions in the discharge space of the portion disposed between the front substrate and the rear substrate and intersecting each other, and A method of manufacturing a plasma display panel having a column electrode, a dielectric layer covering a row electrode pair, and a magnesium oxide layer formed in a portion facing a discharge space, wherein the magnesium oxide layer is formed. , A step of selecting a magnesium oxide crystal that emits cathode luminescence having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam, and a crystalline magnesium oxide layer including the selected crystal powder is formed A method of manufacturing a plasma display panel, comprising a step.

この発明は、前面ガラス基板と背面ガラス基板の間の放電空間に面する位置に、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体の粉末から分級されて所定の粒径以上の結晶体の割合が所定値以上である粒度分布を有する結晶体粉末によって形成された結晶酸化マグネシウム層が設けられたPDPを、その最良の実施形態としており、さらに、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体を含む結晶酸化マグネシウム層の形成工程に、酸化マグネシウム結晶体の粉末から所定の粒径以上の結晶体の割合が所定値以上である粒度分布を有する結晶体粉末を分級する分級工程が含まれているPDPの製造方法を、その最良の実施形態としている。   The present invention relates to a magnesium oxide crystal that emits cathode luminescence having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam at a position facing a discharge space between a front glass substrate and a rear glass substrate. A PDP provided with a crystalline magnesium oxide layer formed from a crystalline powder having a particle size distribution in which the proportion of crystalline particles having a particle size equal to or greater than a predetermined value is classified from the powder of Furthermore, from the powder of the magnesium oxide crystal to the step of forming the crystalline magnesium oxide layer including the magnesium oxide crystal that emits cathode luminescence light having a peak in the wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam. A crystal having a particle size distribution in which the proportion of crystals having a predetermined particle size or more is a predetermined value or more. The manufacturing method of a PDP classification step of the body powder classification is included, and its best mode.

この実施形態におけるPDPによれば、放電空間に面するように形成された結晶酸化マグネシウム層が、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体を含んでいることによって、PDPにおける放電確率や放電遅れなどの放電特性が改善されて良好な放電特性を得ることが出来るとともに、この結晶酸化マグネシウム層を形成する酸化マグネシウム結晶体の粉末が、PDPの製造工程において分級工程を経ることにより、所定の粒径以上の結晶体の割合が所定値以上である粒度分布を有するようになっていることによって、放電遅れのさらなる大幅な改善や放電遅れのばらつきの低減,放電電圧低減,発光効率の向上,ガス吸着量の低減によるパネルの信頼性の向上などの効果が発揮される。   According to the PDP in this embodiment, the crystalline magnesium oxide layer formed so as to face the discharge space emits cathode luminescence having a peak in the wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam. By including the magnesium crystal, the discharge characteristics such as the discharge probability and the discharge delay in the PDP can be improved and good discharge characteristics can be obtained, and the magnesium oxide crystal powder forming this crystalline magnesium oxide layer However, through the classification process in the manufacturing process of the PDP, a further significant improvement in the discharge delay can be achieved by having a particle size distribution in which the proportion of crystals having a predetermined particle size or more is a predetermined value or more. For reducing variation in discharge delay, reducing discharge voltage, improving luminous efficiency, and reducing gas adsorption Effects such as that panel improve the reliability of is exhibited.

図1ないし3は、この発明によるPDPの実施形態の一実施例を示しており、図1はこの実施例におけるPDPを模式的に示す正面図、図2は図1のV−V線における断面図、図3は図1のW−W線における断面図である。   1 to 3 show an example of an embodiment of a PDP according to the present invention, FIG. 1 is a front view schematically showing the PDP in this example, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line V-V in FIG. FIG. 3 and FIG. 3 are sectional views taken along line WW in FIG.

この図1ないし3に示されるPDPは、表示面である前面ガラス基板1の背面に、複数の行電極対(X,Y)が、前面ガラス基板1の行方向(図1の左右方向)に延びるように平行に配列されている。   The PDP shown in FIGS. 1 to 3 has a plurality of row electrode pairs (X, Y) in the row direction of the front glass substrate 1 (left and right direction in FIG. 1) on the back surface of the front glass substrate 1 as a display surface. They are arranged in parallel so as to extend.

行電極Xは、T字形状に形成されたITO等の透明導電膜からなる透明電極Xaと、前面ガラス基板1の行方向に延びて透明電極Xaの狭小の基端部に接続された金属膜からなるバス電極Xbとによって構成されている。   The row electrode X includes a transparent electrode Xa made of a transparent conductive film such as ITO formed in a T shape, and a metal film that extends in the row direction of the front glass substrate 1 and is connected to a narrow base end portion of the transparent electrode Xa. And the bus electrode Xb.

行電極Yも同様に、T字形状に形成されたITO等の透明導電膜からなる透明電極Yaと、前面ガラス基板1の行方向に延びて透明電極Yaの狭小の基端部に接続された金属膜からなるバス電極Ybとによって構成されている。   Similarly, the row electrode Y is connected to the transparent electrode Ya made of a transparent conductive film such as ITO formed in a T-shape and the narrow base end portion of the transparent electrode Ya extending in the row direction of the front glass substrate 1. The bus electrode Yb is made of a metal film.

この行電極XとYは、前面ガラス基板1の列方向(図1の上下方向)に交互に配列されており、バス電極XbとYbに沿って並列されたそれぞれの透明電極XaとYaが、互いに対となる相手の行電極側に延びて、透明電極XaとYaの幅広部の頂辺が、それぞれ所要の幅の放電ギャップgを介して互いに対向されている。   The row electrodes X and Y are alternately arranged in the column direction (vertical direction in FIG. 1) of the front glass substrate 1, and the transparent electrodes Xa and Ya arranged in parallel along the bus electrodes Xb and Yb are respectively Extending to the paired row electrode side, the tops of the wide portions of the transparent electrodes Xa and Ya are opposed to each other via a discharge gap g having a required width.

前面ガラス基板1の背面には、列方向において隣接する行電極対(X,Y)の互いに背中合わせになったバス電極XbとYbの間に、このバス電極Xb,Ybに沿って行方向に延びる黒色または暗色の光吸収層(遮光層)2が形成されている。   The back surface of the front glass substrate 1 extends in the row direction along the bus electrodes Xb and Yb between the bus electrodes Xb and Yb of the row electrode pairs (X, Y) adjacent to each other in the column direction. A black or dark light absorption layer (light shielding layer) 2 is formed.

さらに、前面ガラス基板1の背面には、行電極対(X,Y)を被覆するように誘電体層3が形成されており、この誘電体層3の背面には、互いに隣接する行電極対(X,Y)の背中合わせに隣り合うバス電極XbおよびYbに対向する位置およびこの隣り合うバス電極XbとYbの間の領域部分に対向する位置に、誘電体層3の背面側に突出する嵩上げ誘電体層3Aが、バス電極Xb,Ybと平行に延びるように形成されている。   Further, a dielectric layer 3 is formed on the back surface of the front glass substrate 1 so as to cover the row electrode pair (X, Y), and adjacent row electrode pairs are formed on the back surface of the dielectric layer 3. Raised to protrude toward the back side of the dielectric layer 3 at a position facing the bus electrodes Xb and Yb adjacent to each other (X, Y) back to back and a position facing the region between the adjacent bus electrodes Xb and Yb. Dielectric layer 3A is formed to extend in parallel with bus electrodes Xb and Yb.

そして、この誘電体層3と嵩上げ誘電体層3Aの背面側には、蒸着法またはスパッタリングによって形成された薄膜の酸化マグネシウム層(以下、薄膜酸化マグネシウム層という)4が形成されていて、誘電体層3と嵩上げ誘電体層3Aの背面の全面を被覆している。   A thin magnesium oxide layer (hereinafter referred to as a thin film magnesium oxide layer) 4 formed by vapor deposition or sputtering is formed on the back side of the dielectric layer 3 and the raised dielectric layer 3A. The entire back surface of the layer 3 and the raised dielectric layer 3A is covered.

この薄膜酸化マグネシウム層4の背面側には、後で詳述するような、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近)にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光(CL発光)を行う酸化マグネシウム結晶体を含む酸化マグネシウム層(以下、結晶酸化マグネシウム層という)5が形成されている。   On the back side of the thin-film magnesium oxide layer 4, a cathode having a peak in the wavelength range of 200 to 300 nm (particularly in the range of 230 to 250 nm, around 235 nm) by being excited by an electron beam, as will be described in detail later. A magnesium oxide layer (hereinafter referred to as a crystalline magnesium oxide layer) 5 containing a magnesium oxide crystal that emits luminescence (CL emission) is formed.

この結晶酸化マグネシウム層5は、薄膜酸化マグネシウム層4の背面の全面または一部、例えば、後述する放電セルに面する部分に形成されている(図示の例では、結晶酸化マグネシウム層5が薄膜酸化マグネシウム層4の背面の全面に形成されている例が示されている)。   The crystalline magnesium oxide layer 5 is formed on the entire back surface of the thin film magnesium oxide layer 4 or a part thereof, for example, a portion facing a discharge cell described later (in the illustrated example, the crystalline magnesium oxide layer 5 is thin film oxidized. An example in which it is formed on the entire back surface of the magnesium layer 4 is shown).

一方、前面ガラス基板1と平行に配置された背面ガラス基板6の表示側の面上には、列電極Dが、各行電極対(X,Y)の互いに対となった透明電極XaおよびYaに対向する位置において行電極対(X,Y)と直交する方向(列方向)に延びるように、互いに所定の間隔を開けて平行に配列されている。   On the other hand, on the display side surface of the rear glass substrate 6 arranged in parallel with the front glass substrate 1, the column electrode D is connected to the transparent electrodes Xa and Ya that are paired with each other in each row electrode pair (X, Y). They are arranged in parallel at predetermined intervals so as to extend in a direction (column direction) orthogonal to the row electrode pair (X, Y) at the opposing positions.

背面ガラス基板6の表示側の面上には、さらに、列電極Dを被覆する白色の列電極保護層(誘電体層)7が形成され、この列電極保護層7上に、隔壁8が形成されている。   A white column electrode protective layer (dielectric layer) 7 covering the column electrode D is further formed on the display side surface of the rear glass substrate 6, and a partition wall 8 is formed on the column electrode protective layer 7. Has been.

この隔壁8は、各行電極対(X,Y)のバス電極XbとYbに対向する位置においてそれぞれ行方向に延びる一対の横壁8Aと、隣接する列電極Dの間の中間位置において一対の横壁8A間を列方向に延びる縦壁8Bとによって略梯子形状に形成されており、各隔壁8が、隣接する他の隔壁8の互いに背中合わせに対向する横壁8Aの間において行方向に延びる隙間SLを挟んで、列方向に並設されている。   The partition wall 8 includes a pair of horizontal walls 8A extending in the row direction at positions facing the bus electrodes Xb and Yb of each row electrode pair (X, Y), and a pair of horizontal walls 8A at an intermediate position between adjacent column electrodes D. The vertical walls 8B extending in the column direction are formed in a substantially ladder shape, and each partition wall 8 sandwiches a gap SL extending in the row direction between the adjacent side walls 8A of the other adjacent partition walls 8 facing each other back to back. And they are arranged side by side in the column direction.

そして、この梯子状の隔壁8によって、前面ガラス基板1と背面ガラス基板6の間の放電空間Sが、各行電極対(X,Y)において互いに対になっている透明電極XaとYaに対向する部分に形成される放電セルC毎に、それぞれ方形に区画されている。   The ladder-shaped partition wall 8 causes the discharge space S between the front glass substrate 1 and the rear glass substrate 6 to face the transparent electrodes Xa and Ya that are paired with each other in each row electrode pair (X, Y). Each discharge cell C formed in the portion is divided into squares.

放電空間Sに面する隔壁8の横壁8Aおよび縦壁8Bの側面と列電極保護層7の表面には、これらの五つの面を全て覆うように蛍光体層9が形成されており、この蛍光体層9の色は、各放電セルC毎に赤,緑,青の三原色が行方向に順に並ぶように配列されている。   A phosphor layer 9 is formed on the side surfaces of the horizontal and vertical walls 8A and 8B of the partition wall 8 facing the discharge space S and the surface of the column electrode protective layer 7 so as to cover all of these five surfaces. The color of the body layer 9 is arranged so that the three primary colors of red, green, and blue are arranged in order in the row direction for each discharge cell C.

嵩上げ誘電体層3Aは、この嵩上げ誘電体層3Aを被覆している結晶酸化マグネシウム層5(または、結晶酸化マグネシウム層5が薄膜酸化マグネシウム層4の背面の放電セルCに対向する部分にのみ形成されている場合には、薄膜酸化マグネシウム層4)が隔壁8の横壁8Aの表示側の面に当接される(図2参照)ことによって、放電セルCと隙間SLの間をそれぞれ閉じているが、縦壁8Bの表示側の面には当接されておらず(図3参照)、その間に隙間rが形成されて、行方向において隣接する放電セルC間がこの隙間rを介して互いに連通されている。   The raised dielectric layer 3A is formed only on the portion of the crystalline magnesium oxide layer 5 (or the portion where the crystalline magnesium oxide layer 5 faces the discharge cell C on the back surface of the thin-film magnesium oxide layer 4) covering the raised dielectric layer 3A. In this case, the thin-film magnesium oxide layer 4) is brought into contact with the display side surface of the lateral wall 8A of the partition wall 8 (see FIG. 2), thereby closing the space between the discharge cell C and the gap SL. However, it is not in contact with the display side surface of the vertical wall 8B (see FIG. 3), and a gap r is formed between them, and the discharge cells C adjacent in the row direction are mutually connected via this gap r. It is communicated.

放電空間S内には、キセノンガスを含む放電ガスが封入されている。   In the discharge space S, a discharge gas containing xenon gas is enclosed.

上記結晶酸化マグネシウム層5は、前述したような酸化マグネシウム結晶体が、スプレ法や静電塗布法などの方法によって誘電体層3および嵩上げ誘電体層3Aを被覆している薄膜酸化マグネシウム層4の背面側の表面に付着されることによって形成される。   The crystalline magnesium oxide layer 5 is composed of the thin-film magnesium oxide layer 4 in which the magnesium oxide crystal as described above covers the dielectric layer 3 and the raised dielectric layer 3A by a method such as spraying or electrostatic coating. It is formed by being attached to the surface on the back side.

なお、この実施例においては、誘電体層3および嵩上げ誘電体層3Aの背面に薄膜酸化マグネシウム層4が形成され、この薄膜酸化マグネシウム層4の背面に結晶酸化マグネシウム層5が形成される例について説明が行われるが、誘電体層3および嵩上げ誘電体層3Aの背面に結晶酸化マグネシウム層5が形成された後、この結晶酸化マグネシウム層5の背面に薄膜酸化マグネシウム層4が形成されるようにしても良い。   In this embodiment, the thin film magnesium oxide layer 4 is formed on the back surface of the dielectric layer 3 and the raised dielectric layer 3A, and the crystalline magnesium oxide layer 5 is formed on the back surface of the thin film magnesium oxide layer 4. As will be described, after the crystalline magnesium oxide layer 5 is formed on the back surface of the dielectric layer 3 and the raised dielectric layer 3A, the thin film magnesium oxide layer 4 is formed on the back surface of the crystalline magnesium oxide layer 5. May be.

図4は、誘電体層3の背面に薄膜酸化マグネシウム層4が形成され、この薄膜酸化マグネシウム層4の背面に、酸化マグネシウム結晶体がスプレー法や静電塗布法などの方法によって付着されて結晶酸化マグネシウム層5が形成されている状態を示している。   In FIG. 4, a thin film magnesium oxide layer 4 is formed on the back surface of the dielectric layer 3, and a magnesium oxide crystal is attached to the back surface of the thin film magnesium oxide layer 4 by a method such as spraying or electrostatic coating. The state in which the magnesium oxide layer 5 is formed is shown.

また、図5は、誘電体層3の背面に酸化マグネシウム結晶体がスプレー法や静電塗布法などの方法によって付着されて結晶酸化マグネシウム層5が形成された後、薄膜酸化マグネシウム層4が形成されている状態を示している。   Further, FIG. 5 shows that after the magnesium oxide crystal is attached to the back surface of the dielectric layer 3 by a method such as a spray method or an electrostatic coating method to form the crystalline magnesium oxide layer 5, the thin-film magnesium oxide layer 4 is formed. It shows the state being done.

上記PDPの結晶酸化マグネシウム層5は、下記の材料および方法によって形成されている。   The crystalline magnesium oxide layer 5 of the PDP is formed by the following materials and methods.

すなわち、結晶酸化マグネシウム層5の形成材料となる電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近)にピークを有するCL発光を行う酸化マグネシウム結晶体とは、例えば、マグネシウムを加熱して発生するマグネシウム蒸気を気相酸化して得られるマグネシウムの単結晶体(以下、このマグネシウムの単結晶体を気相酸化マグネシウム単結晶体という)を含み、この気相酸化マグネシウム単結晶体には、例えば、図6のSEM写真像に示されるような、立方体の単結晶構造を有する酸化マグネシウム単結晶体と、図7のSEM写真像に示されるような、立方体の結晶体が互いに嵌り込んだ構造(すなわち、立方体の多重結晶構造)を有する酸化マグネシウム単結晶体が含まれる。   That is, a magnesium oxide crystal that emits CL having a peak within a wavelength range of 200 to 300 nm (particularly within a range of 230 to 250 nm and around 235 nm) by being excited by an electron beam that is a material for forming the crystalline magnesium oxide layer 5; Includes, for example, a magnesium single crystal obtained by vapor-phase oxidation of magnesium vapor generated by heating magnesium (hereinafter, this magnesium single crystal is referred to as a vapor-phase magnesium oxide single crystal). Examples of the phase magnesium oxide single crystal include a magnesium oxide single crystal having a cubic single crystal structure as shown in the SEM photograph image of FIG. 6 and a cube as shown in the SEM photograph image of FIG. Magnesium oxide single crystal having a structure in which the crystal bodies are fitted to each other (that is, a cubic multiple crystal structure) It is included.

そして、この結晶酸化マグネシウム層5を形成する酸化マグネシウム結晶体には、分級によって粒径の小さい結晶体の粉末が取り除かれて、所定以上の大きさの粒度分布を有する結晶体粉体が用いられる。   As the magnesium oxide crystal forming the crystalline magnesium oxide layer 5, the crystal powder having a particle size distribution larger than a predetermined size is used by removing the crystal powder having a small particle size by classification. .

図8は、分級前と分級後の酸化マグネシウム結晶体粉体の粒度分布を体積基準で示したもので、図中、aが分級前の粒度分布を示し、bが分級後の粒度分布を示している。   FIG. 8 shows the particle size distribution of the magnesium oxide crystal powder before and after classification on a volume basis. In the figure, a represents the particle size distribution before classification, and b represents the particle size distribution after classification. ing.

この図8において、粒径0.7μm以下の酸化マグネシウム結晶体粉末については、粒度分布が分級前に31.6%であったのに対し、分級後には14.8%になっており、粒径1.0μm以上の酸化マグネシウム結晶体粉末については、粒度分布が分級前に50%であったのに対し、分級後に70%になっている。   In FIG. 8, for the magnesium oxide crystal powder having a particle size of 0.7 μm or less, the particle size distribution was 31.6% before classification, whereas it was 14.8% after classification. For the magnesium oxide crystal powder having a diameter of 1.0 μm or more, the particle size distribution was 50% before classification, whereas it was 70% after classification.

結晶酸化マグネシウム層5を形成する酸化マグネシウム結晶体には、体積基準において、粒径0.7μm以下の結晶体粉末の粒度分布が25%以下で、粒径1.0μm以上の結晶体粉末の粒度分布が55%以上のものを使用するのが望ましい。   The magnesium oxide crystal forming the crystalline magnesium oxide layer 5 has, on a volume basis, a particle size distribution of a crystal powder having a particle size of 0.7 μm or less of 25% or less and a particle size of a crystal powder having a particle size of 1.0 μm or more. It is desirable to use a distribution having a distribution of 55% or more.

酸化マグネシウム結晶体粉末の分級は、例えば、粉末分級機を用いて行われる。   The classification of the magnesium oxide crystal powder is performed using, for example, a powder classifier.

この結晶酸化マグネシウム層5を形成する酸化マグネシウム結晶体の粒径(DBET)は、窒素吸着法によってBET比表面積(s)が測定され、この値から次式によって算出される。   The particle size (DBET) of the magnesium oxide crystal forming the crystalline magnesium oxide layer 5 is calculated by the following formula from the BET specific surface area (s) measured by the nitrogen adsorption method.

DBET=A/s×ρ
A:形状計数(A=6)
ρ:マグネシウムの真密度
DBET = A / s × ρ
A: Shape counting (A = 6)
ρ: True density of magnesium

なお、気相酸化マグネシウム単結晶体の合成については、『材料』昭和62年11月号,第36巻第410号の第1157〜1161頁の『気相法によるマグネシア粉末の合成とその性質』等に記載されている。   In addition, about the synthesis | combination of a gaseous-phase magnesium oxide single crystal, "Materials" November 1987 issue, 36th volume, No. 410, pp. 1157 to 1161, "Synthesis and properties of magnesia powder by vapor phase method" Etc. are described.

結晶酸化マグネシウム層5は、前述したように、酸化マグネシウム結晶体がスプレー法や静電塗布法などの方法によって誘電体層3の表面等に付着されることにより形成される。   As described above, the crystalline magnesium oxide layer 5 is formed by adhering a magnesium oxide crystal to the surface of the dielectric layer 3 by a method such as spraying or electrostatic coating.

また、結晶酸化マグネシウム層5は、酸化マグネシウム結晶体の粉末を含有するペーストを、スクリーン印刷法またはオフセット印刷法,ディスペンサ法,インクジェット法,ロールコート法などの方法によって塗布することによって形成するようにしても良く、または、酸化マグネシウム結晶体を含有するペーストを支持フィルム上に塗布した後に乾燥させることによってフィルム状にし、これを薄膜酸化マグネシウム層上にラミネートするようにしても良い。   The crystalline magnesium oxide layer 5 is formed by applying a paste containing magnesium oxide crystal powder by a screen printing method, an offset printing method, a dispenser method, an ink jet method, a roll coating method or the like. Alternatively, a paste containing a magnesium oxide crystal may be applied to a support film and then dried to form a film, which may be laminated on a thin magnesium oxide layer.

この酸化マグネシウム結晶体は、後述するように、放電遅れの減少などの放電特性の改善に寄与する。   As will be described later, the magnesium oxide crystal contributes to improvement of discharge characteristics such as reduction of discharge delay.

そして、特に、気相酸化マグネシウム単結晶体は、他の方法によって得られる酸化マグネシウムと比較すると、高純度であるとともに微粒子が得られ、さらに、粒子の凝集が少ないなどの特徴を備えている。   In particular, the vapor-phase magnesium oxide single crystal has characteristics such as high purity, fine particles, and less aggregation of particles as compared with magnesium oxide obtained by other methods.

上記のPDPは、画像形成のためのリセット放電およびアドレス放電,維持放電が放電セルC内において行われる。   In the PDP, reset discharge, address discharge, and sustain discharge for image formation are performed in the discharge cell C.

そして、アドレス放電の前に行われるリセット放電が放電セルC内において発生される際に、この放電セルC内に結晶酸化マグネシウム層5が形成されていることによって、リセット放電によるプライミング効果が長く持続して、これによってアドレス放電が高速化される。   Then, when the reset discharge that is performed before the address discharge is generated in the discharge cell C, the priming effect by the reset discharge is sustained for a long time because the crystalline magnesium oxide layer 5 is formed in the discharge cell C. This speeds up the address discharge.

上記PDPは、図9および10に示されるように、結晶酸化マグネシウム層5が、上述したような例えば気相酸化マグネシウム単結晶体によって形成されていることにより、放電によって発生する電子線の照射によって、結晶酸化マグネシウム層5に含まれる粒径の大きな気相酸化マグネシウム単結晶体から、300〜400nmにピークを有するCL発光に加えて、波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近)にピークを有するCL発光が励起される。   As shown in FIGS. 9 and 10, the PDP has a crystalline magnesium oxide layer 5 made of, for example, a vapor-phase magnesium oxide single crystal as described above. In addition to the CL emission having a peak at 300 to 400 nm, the gas phase magnesium oxide single crystal having a large particle size contained in the crystalline magnesium oxide layer 5 has a wavelength range of 200 to 300 nm (in particular, 230 to 250 nm, 235 nm). CL emission having a peak in the vicinity) is excited.

この235nmにピークを有するCL発光は、図11に示されるように、通常の蒸着法によって形成される酸化マグネシウム層(この実施例における薄膜酸化マグネシウム層4)からは励起されず、300〜400nmにピークを有するCL発光のみが励起される。   The CL emission having a peak at 235 nm is not excited from a magnesium oxide layer (thin film magnesium oxide layer 4 in this embodiment) formed by a normal vapor deposition method as shown in FIG. Only CL emission with a peak is excited.

また、図9および10から分かるように、波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近,)にピークを有するCL発光は、気相酸化マグネシウム単結晶体の粒径が大きくなるほどそのピーク強度が大きくなる。   Further, as can be seen from FIGS. 9 and 10, CL emission having a peak within a wavelength range of 200 to 300 nm (particularly within 230 to 250 nm, around 235 nm) increases as the particle size of the vapor-phase magnesium oxide single crystal increases. The peak intensity increases.

この波長域200〜300nmにピークを有するCL発光の存在によって、放電特性の改善(放電遅れの減少,放電確率の向上)がさらに図られるものと推測される。   The presence of CL emission having a peak in this wavelength range of 200 to 300 nm is presumed to further improve the discharge characteristics (decrease in discharge delay and increase in discharge probability).

すなわち、この結晶酸化マグネシウム層5による放電特性の改善は、波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近)にピークを有するCL発光を行う気相酸化マグネシウム単結晶体が、そのピーク波長に対応したエネルギ準位を有し、そのエネルギ準位によって電子を長時間(数msec以上)トラップすることができ、この電子が電界によって取り出されることで、放電開始に必要な初期電子が得られことによって為されるものと推測される。   That is, the improvement of the discharge characteristics by the crystalline magnesium oxide layer 5 is that the vapor-phase magnesium oxide single crystal that performs CL emission having a peak in the wavelength range of 200 to 300 nm (particularly in the range of 230 to 250 nm, around 235 nm) It has an energy level corresponding to the peak wavelength, and can trap electrons for a long time (several milliseconds or more) by the energy level. By extracting the electrons by an electric field, initial electrons necessary for starting discharge are generated. It is presumed that this will be done.

そして、この気相酸化マグネシウム単結晶体による放電特性の改善効果が、波長域200〜300nm内(特に、230〜250nm内,235nm付近)にピークを有するCL発光の強度が大きくなるほど大きくなるのは、CL発光強度と気相酸化マグネシウム単結晶体の粒径との間にも相関関係があるためである。   And the improvement effect of the discharge characteristics by this vapor phase magnesium oxide single crystal increases as the intensity of CL emission having a peak in the wavelength range of 200 to 300 nm (especially in the range of 230 to 250 nm, around 235 nm) increases. This is because there is also a correlation between the CL emission intensity and the particle size of the vapor-phase magnesium oxide single crystal.

すなわち、大きな粒径の気相酸化マグネシウム単結晶体を形成しようとする場合には、マグネシウム蒸気を発生させる際の加熱温度を高くする必要があるため、マグネシウムと酸素が反応する火炎の長さが長くなり、この火炎と周囲との温度差が大きくなることによって、粒径の大きい気相酸化マグネシウム単結晶体ほど上述したようなCL発光のピーク波長(例えば、230〜250nm内,235nm付近)に対応したエネルギ準位が多数形成されるものと考えられる。   That is, when a vapor-phase magnesium oxide single crystal having a large particle size is to be formed, it is necessary to increase the heating temperature when generating the magnesium vapor. As the temperature difference between the flame and the surroundings increases, the vapor phase magnesium oxide single crystal having a larger particle size has a CL emission peak wavelength as described above (for example, within 230 to 250 nm, around 235 nm). It is thought that many corresponding energy levels are formed.

また、立方体の多重結晶構造の気相酸化マグネシウム単結晶体については、結晶面欠陥を多く含んでいて、その面欠陥エネルギ準位の存在が放電確率の改善に寄与しているとも推測される。   In addition, the vapor phase magnesium oxide single crystal having a cubic multiple crystal structure includes many crystal plane defects, and it is assumed that the presence of the plane defect energy level contributes to the improvement of the discharge probability.

図12は、酸化マグネシウム結晶体の粉末を分級した場合と分級しない場合のCL強度の比較を示すグラフである。   FIG. 12 is a graph showing a comparison of CL strengths when the magnesium oxide crystal powder is classified and when it is not classified.

この図12において、cは、分級前の平均粒径が3500オングストロームの酸化マグネシウム結晶体粉末から電子線の照射によって励起されるCL発光のピーク強度を示しており、dは、分級後の平均粒径が5000オングストローム以上の酸化マグネシウム結晶体粉末から励起されるCL発光のピーク強度を示している。   In FIG. 12, c represents the peak intensity of CL emission excited by electron beam irradiation from a magnesium oxide crystal powder having an average particle size before classification of 3500 angstroms, and d represents the average particle after classification. The peak intensity of CL emission excited from a magnesium oxide crystal powder having a diameter of 5000 angstroms or more is shown.

この図12から、酸化マグネシウム結晶体の粉末を分級することによって、CL発光のピーク強度が約1.5倍になっていることが分かる。   From FIG. 12, it is understood that the peak intensity of CL emission is increased about 1.5 times by classifying the powder of the magnesium oxide crystal.

図13は、CL発光強度と放電遅れとの相関関係を示すグラフである。   FIG. 13 is a graph showing the correlation between the CL emission intensity and the discharge delay.

この図13から、結晶酸化マグネシウム層5から励起される235nmのCL発光によって、PDPでの放電遅れが短縮されることが分かり、さらに、この235nmのCL発光強度が強いほどこの放電遅れが短縮されることが分かる。   From FIG. 13, it can be seen that the CL emission of 235 nm excited from the crystalline magnesium oxide layer 5 shortens the discharge delay in the PDP. Further, the stronger the emission intensity of CL at 235 nm, the shorter the discharge delay. I understand that

このことにより、上記PDPは、前述したように、その結晶酸化マグネシウム層5が、分級によって粒径の小さい結晶体粉末が取り除かれた所定の粒度分布を有する酸化マグネシウム結晶体の粉末によって形成されていることにより、PDPにおける放電遅れが大幅に改善される。   As a result, as described above, the PDP is formed by the magnesium oxide crystal powder having a predetermined particle size distribution in which the crystal magnesium oxide layer 5 is removed from the crystal powder having a small particle size by classification. As a result, the discharge delay in the PDP is greatly improved.

このPDPの放電遅れが酸化マグネシウム結晶体粉末の分級によって大幅に改善される理由は、以下の通りである。   The reason why the discharge delay of the PDP is greatly improved by the classification of the magnesium oxide crystal powder is as follows.

すなわち、酸化マグネシウム結晶体の粉末中には、235nm付近にピーク波長を有するCL発光を行わない粒子がある割合で存在しているため、分級を行わない酸化マグネシウム結晶体の粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成される場合には、結晶酸化マグネシウム層に、235nm付近にピーク波長を有するCL発光を行わない粒子が多く存在する領域部分が形成されてしまい、この結果、パネル面における放電遅れの大きさに、ばらつきが発生することとなる。   That is, in the magnesium oxide crystal powder, there is a certain proportion of particles that do not emit CL light having a peak wavelength in the vicinity of 235 nm. Is formed in the crystalline magnesium oxide layer, there is a region where there are many particles that do not emit CL light having a peak wavelength near 235 nm. As a result, the magnitude of the discharge delay on the panel surface is increased. In addition, variations will occur.

分級をすることで、酸化マグネシウム結晶体の粉末中に含まれる235nm付近にピーク波長を有するCL発光を行わない粒子が除去され、235nm付近にピーク波長を有するCL発光を行う酸化マグネシウム結晶体によってパネル面に沿って均一に結晶酸化マグネシウム層が形成されるので、パネル面における放電遅れにばらつきが減少されて、PDPの放電遅れが大幅に改善される。   By classification, particles that do not emit CL light having a peak wavelength near 235 nm contained in the powder of magnesium oxide crystal are removed, and a panel is formed by the magnesium oxide crystal that emits CL light having a peak wavelength near 235 nm. Since the crystalline magnesium oxide layer is uniformly formed along the surface, variations in the discharge delay on the panel surface are reduced, and the discharge delay of the PDP is greatly improved.

さらに、分級された酸化マグネシウム結晶体の粉末は粒径の大きい結晶体の粒度分布の割合が大きくなるので、この分級された酸化マグネシウム結晶体の粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成される場合には、分級が行われていない酸化マグネシウム結晶体の粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成される場合と比較して、酸化マグネシウム結晶体の粉末の量が少なくて済み、この結果、放電セル内において発生する可視光の透過率が高くなって、発光効率の向上が図られる。   Furthermore, since the classified magnesium oxide crystal powder has a larger proportion of the particle size distribution of the crystal having a large particle size, a crystalline magnesium oxide layer is formed by the classified magnesium oxide crystal powder. Compared with the case where the crystalline magnesium oxide layer is formed by the unclassified magnesium oxide crystal powder, the amount of the magnesium oxide crystal powder is small, and as a result, it is generated in the discharge cell. Visible light transmittance is increased, and luminous efficiency is improved.

さらに、分級された酸化マグネシウム結晶体の粉末は、粒径の大きい結晶体の粒度分布の割合が大きいため、結晶酸化マグネシウム層を形成する結晶体粉末の総表面積が小さくなり(例えば、粒径が3000オングストロームの分級されていない結晶体粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成される場合の総BET表面積が5.6m/gであるのに対し、分級された粒径が5600オングストロームの結晶体粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成される場合の総BET表面積は、約二分の一の3.0m/gになる)、これによって、放電ガスの吸着度が相対的に減少し、その結果、分級された酸化マグネシウム結晶体の粉末によって結晶酸化マグネシウム層が形成されることによるPDPの信頼性の向上が図られる。 Furthermore, since the classified magnesium oxide crystal powder has a large proportion of the particle size distribution of the crystal having a large particle size, the total surface area of the crystal powder forming the crystalline magnesium oxide layer is reduced (for example, the particle size is When the crystalline magnesium oxide layer is formed by an unclassified crystalline powder of 3000 angstroms, the total BET surface area is 5.6 m 2 / g, whereas the classified granular powder is 5600 angstroms of crystalline powder. When the crystalline magnesium oxide layer is formed, the total BET surface area is about one-half of 3.0 m 2 / g), which results in a relative decrease in the discharge gas adsorption, resulting in classification. The reliability of the PDP can be improved by forming the crystalline magnesium oxide layer with the powdered magnesium oxide crystal.

図14は、結晶酸化マグネシウム層が分級前の酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成されている場合(グラフe)と、分級後の酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成されている場合(グラフf)と、薄膜酸化マグネシウム層のみによる場合(グラフg)のそれぞれのPDPのパネル面内における放電遅れのばらつきを示すグラフである。   FIG. 14 shows a case where the crystalline magnesium oxide layer is formed by magnesium oxide crystal powder before classification (graph e), a case where it is formed by magnesium oxide crystal powder after classification (graph f), and a thin film. It is a graph which shows the dispersion | variation in the discharge delay in the panel surface of each PDP in the case of using only a magnesium oxide layer (graph g).

この図14において、グラフの横軸は、パネル面内の行方向におけるセル位置を示している。   In FIG. 14, the horizontal axis of the graph indicates the cell position in the row direction within the panel surface.

この図14から、酸化マグネシウム結晶体によって形成された結晶酸化マグネシウム層が設けられることによって、PDPにおける放電遅れが、薄膜酸化マグネシウム層のみが形成されている場合に比べて約五分の一に減少しており、さらに、結晶酸化マグネシウム層を形成する酸化マグネシウム結晶体の粉末が分級されることで、分級されていない場合と比較して放電遅れがさらに改善されるとともに、その放電遅れのパネル面におけるばらつきが減少していることが分かる。   From FIG. 14, by providing the crystalline magnesium oxide layer formed of the magnesium oxide crystal, the discharge delay in the PDP is reduced to about one-fifth compared with the case where only the thin magnesium oxide layer is formed. Furthermore, by classifying the magnesium oxide crystal powder forming the crystalline magnesium oxide layer, the discharge delay is further improved as compared with the case where the powder is not classified, and the panel surface of the discharge delay It can be seen that the variation in is reduced.

なお、図14において、PDPに薄膜酸化マグネシウム層のみが形成されている場合の放電遅れのばらつき(σ)は、σ=0.181μsであり、分級前の酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成された結晶酸化マグネシウム層が設けられている場合には、σ=0.041μsであり、分級後の酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成された結晶酸化マグネシウム層が設けられている場合には、σ=0.015μsである。   In FIG. 14, the discharge delay variation (σ) when only the thin magnesium oxide layer is formed on the PDP is σ = 0.181 μs, and the crystal formed by the magnesium oxide crystal powder before classification When a magnesium oxide layer is provided, σ = 0.041 μs, and when a crystalline magnesium oxide layer formed by classified magnesium oxide crystal powder is provided, σ = 0.015 μs. It is.

図15は、PDPが図1ないし3の構成のように薄膜酸化マグネシウム層4と結晶酸化マグネシウム層5の二層構造を備えている場合(グラフh)と、従来のPDPのように蒸着法によって形成された酸化マグネシウム層のみが形成されている場合(グラフi)の放電遅れ特性を比較したグラフである。   FIG. 15 shows a case where the PDP has a two-layer structure of a thin film magnesium oxide layer 4 and a crystalline magnesium oxide layer 5 as shown in FIGS. 1 to 3 (graph h), and a conventional PDP by a vapor deposition method. It is the graph which compared the discharge delay characteristic when only the formed magnesium oxide layer is formed (graph i).

この図15から分かるように、PDPが薄膜酸化マグネシウム層4と結晶酸化マグネシウム層5の二層構造を備えていることによって、放電遅れ特性が、従来の蒸着法によって形成された薄膜酸化マグネシウム層のみを備えているPDPに比べて、著しく改善されていることが分かる。   As can be seen from FIG. 15, since the PDP has the two-layer structure of the thin-film magnesium oxide layer 4 and the crystalline magnesium oxide layer 5, the discharge delay characteristic is only the thin-film magnesium oxide layer formed by the conventional vapor deposition method. It can be seen that it is remarkably improved as compared with the PDP provided with.

以上のように、上記PDPは、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するCL発光を行う酸化マグネシウム結晶体の粉末が分級されて、この分級により所定の粒径以上の結晶体が体積基準で所定の割合以上含まれるようになった粒度分布を有する酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成された結晶酸化マグネシウム層5が、蒸着法等によって形成された従来の薄膜酸化マグネシウム層4に積層されて形成されていることによって、放電遅れなどの放電特性が大幅に改善されて、良好な放電特性を備えることが出来るとともに、パネル面における放電遅れのばらつきの発生も大幅に低減され、さらに、発光効率の向上が図られるようになる。   As described above, the PDP is classified with a magnesium oxide crystal powder that emits CL light having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam. A conventional thin-film magnesium oxide layer in which a crystalline magnesium oxide layer 5 formed of a magnesium oxide crystal powder having a particle size distribution in which a predetermined amount or more of the crystal is contained on a volume basis is formed by vapor deposition or the like 4, the discharge characteristics such as the discharge delay are greatly improved, the discharge characteristics such as the discharge delay can be provided, and the variation of the discharge delay on the panel surface can be greatly reduced. In addition, the luminous efficiency can be improved.

結晶酸化マグネシウム層5は、前述したように、必ずしも薄膜酸化マグネシウム層4の全面を覆うように形成する必要はなく、例えば行電極X,Yの透明電極Xa,Yaに対向する部分や逆に透明電極Xa,Yaに対向する部分以外の部分などように、部分的にパターン化して形成するようにしても良い。   As described above, the crystalline magnesium oxide layer 5 is not necessarily formed so as to cover the entire surface of the thin-film magnesium oxide layer 4. For example, the portions of the row electrodes X and Y facing the transparent electrodes Xa and Ya, or conversely transparent It may be formed by partially patterning, such as a portion other than the portion facing the electrodes Xa and Ya.

この結晶酸化マグネシウム層5を部分的に形成する場合には、結晶酸化マグネシウム層5の薄膜酸化マグネシウム層4に対する面積比は、例えば、0.1〜85パーセントに設定される。   When this crystalline magnesium oxide layer 5 is partially formed, the area ratio of the crystalline magnesium oxide layer 5 to the thin-film magnesium oxide layer 4 is set to 0.1 to 85 percent, for example.

また、上記においては、結晶酸化マグネシウム層5が薄膜酸化マグネシウム層4に積層して形成された二層構造のPDPについて説明が行われているが、図16に示されるように、誘電体層3上に結晶酸化マグネシウム層5のみが単層で形成されるようにしても良い。   Further, in the above description, a PDP having a two-layer structure in which the crystalline magnesium oxide layer 5 is laminated on the thin magnesium oxide layer 4 has been described. However, as shown in FIG. Only the crystalline magnesium oxide layer 5 may be formed as a single layer.

また、上記においては、結晶酸化マグネシウム層5が誘電体層3上に形成されている例について説明が行われているが、図17に示されるように、放電セルが、発光のためのサステイン放電が行われる表示放電セルC1と、発光を行わせる表示放電セルC1を選択するためのアドレス放電が行われるアドレス放電セルC2の二つの放電領域に分割されているセル構造のPDPにおいて、アドレス放電セルC2内に、上記と同様の分級された酸化マグネシウム結晶体粉末によって形成された結晶酸化マグネシウム層15が配置されるようにしてもよい。   In the above description, the example in which the crystalline magnesium oxide layer 5 is formed on the dielectric layer 3 has been described. As shown in FIG. 17, the discharge cell has a sustain discharge for light emission. In the PDP having a cell structure divided into two discharge regions, a display discharge cell C1 in which address discharge is performed and an address discharge cell C2 in which address discharge is performed to select the display discharge cell C1 in which light emission is performed. A crystalline magnesium oxide layer 15 formed of classified magnesium oxide crystal powder similar to the above may be disposed in C2.

この場合、酸化マグネシウム結晶体粉末を含むペーストを用いて、スクリーン印刷法やディスペンサ法等によって、結晶酸化マグネシウム層15がアドレス放電セルC2内に形成される。   In this case, the crystalline magnesium oxide layer 15 is formed in the address discharge cell C2 by a screen printing method, a dispenser method, or the like using a paste containing magnesium oxide crystal powder.

なお、図17中、X1およびY1は行電極であり、18は、放電セルおよびこの放電セルを表示放電セルC1とアドレス放電セルC2に区画する隔壁であり、その他、図1ないし3のPDPと同様の構成部分については同一の符号が付されている。   In FIG. 17, X1 and Y1 are row electrodes, 18 is a discharge cell and a partition partitioning the discharge cell into a display discharge cell C1 and an address discharge cell C2, and in addition to the PDP shown in FIGS. The same code | symbol is attached | subjected about the same component.

上記においては、この発明を、前面ガラス基板に行電極対を形成して誘電体層によって被覆し背面ガラス基板側に蛍光体層と列電極を形成した反射型交流PDPに適用した例について説明を行ったが、この発明は、前面ガラス基板側に行電極対と列電極を形成して誘電体層によって被覆し、背面ガラス基板側に蛍光体層を形成した反射型交流PDPや、前面ガラス基板側に蛍光体層を形成し背面ガラス基板側に行電極対および列電極を形成して誘電体層によって被覆した透過型交流PDP,放電空間の行電極対と列電極の交差部分に放電セルが形成される三電極型交流PDP,放電空間の行電極と列電極の交差部分に放電セルが形成される二電極型交流PDPなどの種々の形式のPDPに適用することが出来る。   In the above, an example in which the present invention is applied to a reflective AC PDP in which row electrode pairs are formed on a front glass substrate and covered with a dielectric layer, and a phosphor layer and a column electrode are formed on the back glass substrate side will be described. Although the present invention has been carried out, the present invention provides a reflective AC PDP in which row electrode pairs and column electrodes are formed on the front glass substrate side and covered with a dielectric layer, and a phosphor layer is formed on the rear glass substrate side, and a front glass substrate. A transmissive AC PDP in which a phosphor layer is formed on the side and a row electrode pair and a column electrode are formed on the back glass substrate side and covered with a dielectric layer; a discharge cell is formed at the intersection of the row electrode pair and the column electrode in the discharge space The present invention can be applied to various types of PDPs such as a three-electrode AC PDP formed and a two-electrode AC PDP in which a discharge cell is formed at the intersection of a row electrode and a column electrode in a discharge space.

この発明の実施形態の実施例を示す正面図である。It is a front view which shows the Example of embodiment of this invention. 図1のV−V線における断面図である。It is sectional drawing in the VV line of FIG. 図1のW−W線における断面図である。It is sectional drawing in the WW line of FIG. 同実施例において薄膜マグネシウム層上に結晶酸化マグネシウム層が形成されている状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state in which the crystalline magnesium oxide layer is formed on the thin film magnesium layer in the Example. 同実施例において結晶酸化マグネシウム層上に薄膜マグネシウム層が形成されている状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state in which the thin film magnesium layer is formed on the crystalline magnesium oxide layer in the Example. 立方体の単結晶構造を有する酸化マグネシウム単結晶体のSEM写真像を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph image of the magnesium oxide single crystal which has a cubic single crystal structure. 立方体の多重結晶構造を有する酸化マグネシウム単結晶体のSEM写真像を示す図である。It is a figure which shows the SEM photograph image of the magnesium oxide single crystal which has a cubic multiple crystal structure. 分級前と分級後の酸化マグネシウム結晶体粉末の粒度分布を示すグラフである。It is a graph which shows the particle size distribution of the magnesium oxide crystal powder before classification and after classification. 同実施例において酸化マグネシウム単結晶体の粒径とCL発光の波長との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the particle size of a magnesium oxide single crystal body, and the wavelength of CL light emission in the Example. 同実施例において酸化マグネシウム単結晶体の粒径と235nmのCL発光の強度との関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the particle size of a magnesium oxide single crystal body and the intensity | strength of CL light emission of 235 nm in the Example. 蒸着法による酸化マグネシウム層からのCL発光の波長の状態を示すグラフである。It is a graph which shows the state of the wavelength of CL light emission from the magnesium oxide layer by a vapor deposition method. 分級前と分級後の酸化マグネシウム結晶体のCL強度の比較を示すグラフである。It is a graph which shows the comparison of CL intensity | strength of the magnesium oxide crystal body before classification and after classification. 酸化マグネシウム単結晶体からの235nmのCL発光のピーク強度と放電遅れとの関係を示すグラフである。It is a graph which shows the relationship between the peak intensity of CL light emission of 235 nm from a magnesium oxide single crystal body, and discharge delay. 放電遅れのばらつきの比較を示すグラフである。It is a graph which shows the comparison of the dispersion | variation in discharge delay. 保護層が蒸着法による酸化マグネシウム層のみによって構成されている場合と結晶マグネシウム層と蒸着法による薄膜マグネシウム層の二層構造になっている場合との放電遅れ特性の比較を示す図である。It is a figure which shows the comparison of the discharge delay characteristic with the case where the protective layer is comprised only by the magnesium oxide layer by a vapor deposition method, and the case where it has the double layer structure of the crystalline magnesium layer and the thin film magnesium layer by a vapor deposition method. 結晶酸化マグネシウム層が単層で形成されている状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state in which the crystalline magnesium oxide layer is formed with the single layer. 結晶酸化マグネシウム層がアドレス放電セル内に形成されている他の例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the other example in which the crystalline magnesium oxide layer is formed in the address discharge cell.

符号の説明Explanation of symbols

1 …前面ガラス基板(前面基板)
3 …誘電体層
4 …薄膜酸化マグネシウム層
5,15 …結晶酸化マグネシウム層
6 …背面ガラス基板(背面基板)
7 …列電極保護層
C …放電セル
C1 …表示放電セル
C2 …アドレス放電セル
X,Y …行電極(放電電極)
D …列電極(放電電極)
1 ... Front glass substrate (front substrate)
3 ... Dielectric layer 4 ... Thin-film magnesium oxide layer 5, 15 ... Crystalline magnesium oxide layer 6 ... Back glass substrate (back substrate)
7: Column electrode protective layer C: Discharge cell
C1 ... Display discharge cell C2 ... Address discharge cell X, Y ... Row electrode (discharge electrode)
D: Column electrode (discharge electrode)

Claims (9)

放電空間を介して対向する前面基板および背面基板と、この前面基板と背面基板の間に複数の行電極対およびこの行電極対に対して交差する方向に延びて行電極対との各交差部分の放電空間にそれぞれ単位発光領域を形成する複数の列電極が設けられているプラズマディスプレイパネルにおいて、
電子線によって励起されて波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体が選別された結晶体粉末を含む酸化マグネシウム層が、前記前面基板と背面基板の間の単位発光領域に面する部分に設けられていることを特徴とするプラズマディスプレイパネル。
Front and rear substrates facing each other through a discharge space, a plurality of row electrode pairs between the front substrate and the rear substrate, and each intersection portion of the row electrode pairs extending in a direction intersecting the row electrode pairs In the plasma display panel provided with a plurality of column electrodes each forming a unit light emitting region in the discharge space of
A unit between the front substrate and the back substrate is a magnesium oxide layer including a crystal powder selected from magnesium oxide crystals that are excited by an electron beam and emit cathode luminescence having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm. A plasma display panel provided on a portion facing a light emitting region.
前記酸化マグネシウム結晶体は、分級によって選別される請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。   The plasma display panel according to claim 1, wherein the magnesium oxide crystal is selected by classification. 前記酸化マグネシウム結晶体が、230ないし250nmにピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。   The plasma display panel according to claim 1, wherein the magnesium oxide crystal emits cathode luminescence having a peak at 230 to 250 nm. 前記酸化マグネシウム結晶体が、気相酸化法によって生成された請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。   The plasma display panel according to claim 1, wherein the magnesium oxide crystal is generated by a gas phase oxidation method. 前記酸化マグネシウム結晶体が、立方体の単結晶構造を有する酸化マグネシウム単結晶体である請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。   The plasma display panel according to claim 1, wherein the magnesium oxide crystal is a magnesium oxide single crystal having a cubic single crystal structure. 前記酸化マグネシウム結晶体が、立方体の多重結晶構造を有する酸化マグネシウム単結晶体である請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。 The plasma display panel according to claim 1, wherein the magnesium oxide crystal is a magnesium oxide single crystal having a cubic multiple crystal structure. 前記前面基板上に形成された誘電体層上に薄膜酸化マグネシウム層が形成され、この薄膜酸化マグネシウム層上に前記酸化マグネシウム層が形成される請求項1に記載のプラズマディスプレイパネル。   The plasma display panel according to claim 1, wherein a thin film magnesium oxide layer is formed on a dielectric layer formed on the front substrate, and the magnesium oxide layer is formed on the thin film magnesium oxide layer. 放電空間を介して対向する前面基板および背面基板と、この前面基板と背面基板の間に配置されて互いに交差する部分の放電空間にそれぞれ単位発光領域を形成する行電極対および列電極と、行電極対を被覆する誘電体層と、放電空間に面する部分に形成された酸化マグネシウム層とを有するプラズマディスプレイパネルの製造方法であって、
前記酸化マグネシウム層を形成する工程に、電子線によって励起されることにより波長域200〜300nm内にピークを有するカソード・ルミネッセンス発光を行う酸化マグネシウム結晶体を選別する工程と、選別された結晶体粉末を含む結晶酸化マグネシウム層を形成する工程が含まれていることを特徴とするプラズマディスプレイパネルの製造方法。
A front substrate and a rear substrate facing each other through the discharge space; a row electrode pair and a column electrode which are disposed between the front substrate and the rear substrate and each form a unit light emitting region in a discharge space at a portion intersecting each other; A method for manufacturing a plasma display panel, comprising: a dielectric layer covering electrode pairs; and a magnesium oxide layer formed in a portion facing the discharge space,
In the step of forming the magnesium oxide layer, a step of selecting a magnesium oxide crystal that performs cathodoluminescence emission having a peak in a wavelength range of 200 to 300 nm when excited by an electron beam, and a selected crystal powder The manufacturing method of the plasma display panel characterized by including the process of forming the crystalline magnesium oxide layer containing this.
前記誘電体層上に、蒸着法またはスパッタリング法によって薄膜酸化マグネシウム層を形成する工程と、この薄膜酸化マグネシウム層上に前記結晶酸化マグネシウム層を形成する工程が含まれる請求項8に記載のプラズマディスプレイパネルの製造方法。   9. The plasma display according to claim 8, comprising a step of forming a thin film magnesium oxide layer on the dielectric layer by vapor deposition or sputtering, and a step of forming the crystalline magnesium oxide layer on the thin film magnesium oxide layer. Panel manufacturing method.
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