JP2007035604A - マイクロ波プラズマ発生装置 - Google Patents

マイクロ波プラズマ発生装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2007035604A
JP2007035604A JP2005221622A JP2005221622A JP2007035604A JP 2007035604 A JP2007035604 A JP 2007035604A JP 2005221622 A JP2005221622 A JP 2005221622A JP 2005221622 A JP2005221622 A JP 2005221622A JP 2007035604 A JP2007035604 A JP 2007035604A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microwave
conductor
plasma
plate
coaxial waveguide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005221622A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaaki Nagatsu
雅章 永津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shizuoka University NUC
Nissin Co Ltd
Original Assignee
Shizuoka University NUC
Nissin Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shizuoka University NUC, Nissin Co Ltd filed Critical Shizuoka University NUC
Priority to JP2005221622A priority Critical patent/JP2007035604A/ja
Publication of JP2007035604A publication Critical patent/JP2007035604A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

【課題】大面積化および均一化を図るとともに、マイクロ波パワー増加に伴う密度ジャンプを抑制し、プラズマ放電の熱的安定性を図る。
【解決手段】マイクロ波プラズマ発生装置を励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、プラズマガス源と、前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、前記容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、前記同軸導波管の外導体33に固着された第1導体21、同軸導波管中心導体32に接続されるとともに第1導体21に装着された石英板23、石英板23に固着され、マイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体22とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャー20と、により構成する。
【選択図】図3

Description

本発明は、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、プラズマガス源と、プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、平板状共振器構造を有するマイクロ波ランチャーとを具えたマイクロ波プラズマ発生装置に係り、高密度プラズマを大面積かつ均一に発生しようとするものである。このようなマイクロ波プラズマ発生装置は、半導体プロセス分野、液晶パネルなどジャイアントプロセス分野さらには製紙製造における表面処理工程への応用、繊維業界における表面機能処理への応用など応用分野がきわめて広い。
従来、大面積プラズマプロセスでは専ら平行平板構造の高周波(RF、13.56MHz)を用いたプラズマ装置が用いられているが、プラズマの密度が低いことや、電子温度が高いため解離を過剰に促進するなど、プロセシング用プラズマとしては改善すべき点が多い。このため大面積プラズマ発生のための試みは行われているが、今も開発途上の状態である。例えば、マイクロ波を用いたプラズマ発生装置の開発においては、一般的に大面積化に伴い真空用シールに必要な石英板のサイズも大きくなり、1mサイズの真空容器の場合には石英板に10トンもの力が真空下で作用することとなり、このためそのような力を保持するためには板厚が5cm以上の石英板が必要となる。
またマイクロ波励起プラズマでは、マイクロ波パワーの増加とともに密度が不連続にジャンプする密度ジャンプが起こる問題が指摘されている。
特開2004−200113 A. Ogino et al, Jpn. J. Appl. Phys. Vol44 (2005) L352
この様な状況の中で、真空窓の板厚を低減し、マイクロ波パワー増加に伴う密度ジャンプの抑制するとともに、大面積化および均一化をはかり、プラズマ放電の熱的安定性をはかるとともに大面積表面波および大容積体積波プラズマを発生しようとするものである。
本発明においては、特に誘電体板、石英板の取り付け方法を改良し、螺子を用いてランチャー金属枠に直接固定しようとするものである。これまでのプラズマによる熱的問題を解決するためは、石英板中心部を貫通して螺子で固定する方式、即ち石英板の中心部に孔を設け、同軸導波管の内部導体と石英板表面に取り付ける金属板と挟み込んで固定する方法が、提案されていた。このような方式に代えて、同軸導波管中心導体の端面を石英板の面に当接させる。さらに石英板の周辺部に空隙を設け、マイクロ波の漏れを促進する構造としている。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、
励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
プラズマガス源と、
前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
前記容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
前記同軸導波管の外導体に固着された第1導体、前記同軸導波管中心導体に接続されるとともに前記第1導体に装着された誘電体板、前記誘電体板に固着され、マイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
を具えたことを特徴とする。
本発明は、上記のマイクロ波プラズマ発生装置において、前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
プラズマガス源と、
前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
前記容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
前記同軸導波管の外導体に固着された第1導体、前記同軸導波管中心導体の下端面に当接されるとともに前記第1導体に螺子により固定された誘電体板、前記誘電体板に螺子により固定されるとともにマイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
を具えたことを特徴とする。
本発明は、上記のマイクロ波プラズマ発生装置において、前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
プラズマガス源と、
前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
前記真空容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
前記同軸導波管の外導体に固着され、周縁部に円筒部を具えた第1導体、前記同軸導波管中心導体の下端面に当接されるとともに前記第1導体に螺子により固定され、前記第1導体の円筒部との間に空隙を形成する誘電体板、前記誘電体板に螺子により固定されるとともにマイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
を具えたことを特徴とする。
本発明は、上記のマイクロ波プラズマ発生装置において、前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、矩形導波管からマイクロ波を同軸変換し、円筒真空容器内部に挿入した当該マイクロ波ランチャーにマイクロ波を供給し、高密度プラズマを大面積かつ均一に生成することを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、平行平板ランチャーを石英板表面中心部に直径20cmの第2導体の金属板を螺子で固定し、石英板周縁部には第1導体の円筒部との間に5mmの空隙を設けた構成としたことを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、平行平板ランチャーの下部に一様な表面波励起マイクロ波プラズマを生成することを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、平行平板ランチャー下部全域に広がる体積波励起マイクロ波プラズマを生成することを特徴とする。
本発明は、マイクロ波プラズマ発生装置において、前記マイクロ波源をパルス放電マイクロ波とすることを特徴とする。
本発明は、上記のような構成を採用したことにより、所定の入射パワーの範囲内で、均一な分布が得られた。また入射パワーの増加とともにほぼ単調に増加しており、密度ジャンプは見られなかった。
以下、図面を参照して、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置の実施の形態について説明する。
図1は、従来のマイクロ波プラズマ発生装置の主要部の断面図である。
図2は、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置の主要部の断面図である。
図3は、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置のランチャー部の拡大断面図及び拡大下面図である。
図1において、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源が駆動されて、同軸導波管3を通じて励起用のマイクロ波がプラズマ発生用の真空容器1に導入される。また図示しないプラズマガス源からプラズマガスが供給される。平行平板状ランチャー2は、同軸導波管3の外導体4に装着された第1の導体2、石英板6及び第2導体7を具えている。同軸導波管中心導体5は、石英板6の孔8を貫通している。
第1の導体2、第2導体7の間に配置された石英板6は、共振空洞を形成する平行平板状ランチャー2を構成している。
図2は、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置の概略の断面図である。図3は、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置のランチャー部の拡大断面図及び下面図である。
図2において、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源が駆動されて、同軸導波管31を通じて励起用のマイクロ波がプラズマ発生用の真空容器1に導入される。また図示しないプラズマガス源からプラズマガスが供給される。平行平板状ランチャー20は、同軸導波管31の外導体31に装着された第1の導体21、石英板23及び第2導体22を具えている。同軸導波管中心導体32は、石英板23の上面に当接している。
図3は、本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置のランチャー部の拡大断面図及び拡大下面図である。
図3において、励起マイクロ波を発生するマイクロ波源が駆動されて、同軸導波管を通じて励起用のマイクロ波がプラズマ発生用の真空容器1に導入される。また図示しないプラズマガス源からプラズマガスが供給される。平行平板状ランチャー20は、同軸導波管の外導体33に装着された第1の導体21、石英板23及び第2導体22を具えている。同軸導波管中心導体32は、石英板23の上面に当接している石英板23は、螺子51により第1導電板21に固定される。
第2導体22は、螺子52により石英板23とともに第1導電板21に固定される。
プラズマ装置は、直径600mm、高さ350mmの円筒形ステンレス製で、2.45GHzマイクロ波発振器を用い矩形導波管から同軸変換してマイクロ波を真空容器1内に取り付けられたマイクロ波ランチャー20部分に伝送する。
マイクロ波ランチャー20には直径420mm、厚さ15mmの石英板23を用い、第2導体22として、直径200mmの金属板を石英板23に取り付ける。
そして直径200mmから550mmまで、該金属板の大きさを変えて、プラズマ生成特性の比較を行った。
なお金属板に代えて、開口孔を具えたパンチングプレートにすることもできる。
また本発明においては、第1導電板21の周縁部に円筒部24を設けて、石英板23の周縁部との間に空隙25を設けている。これによりマイクロ波の漏れを促進している。
また最大1.5 kWのマイクロ波発振器を用い、真空容器1は、ロータリーポンプを用いてmTorrオーダーまで排気を行った。真空容器1下部には高さを自由に変えることが可能な基板ステージ29が取り付けられており、マイクロ波ランチャーと基板ステージ29の最大間隔は約18cmまで調整できる。放電ガスとしてはAr、Heを用いる。また側面に取り付けられたポートからプローブを挿入してイオン飽和電流の空間分布測定を行った。なお、分布は軸対称であると仮定し、マイクロ波ランチャー中心から容器壁付近まで測定を行った。
上記のAr、Heに代えてO2 或いはAr,He,O2の混合ガスを用いることができる。
図4(a)は、Arガスによる表面波プラズマ、(b)は、Heガスによる体積波プラズマの放電の様子を示している。
図4(a)では、ガス流量105sccmで入射電力1.0kWの場合の放電状態を示しているが、マイクロ波ランチャー全体にプラズマが広がっている様子が分かる。なお中心部で暗くなっているのはランチャー下部に金属板が取り付けてあるためである。
一方、図4(b)の放電条件は、ガス流量70sccm、入射電力210Wであり、ランチャー下部全体に輝度の低いプラズマの生成を確認した。マイクロ波パワーが約400W以下では図4(b)のような体積波プラズマが生成され、それ以上に入射パワーを増加させると表面波プラズマに遷移することが確認できた。
図5は、Arプラズマにおけるラングミュアプローブによるイオン飽和電流の半径方向分布の測定結果を示している。放電条件は、Arガス流量190sccm、圧力200mTorrである。図から分かるように、入射パワー0.5−1.0kWの範囲で半径約15cmにわたり均一な分布が得られた。
図6は、プローブ位置をr=0cm、10cmおよび15cmとしたとき入射パワーを変化させた時のイオン飽和電流の変化を示している。図から解るように、入射パワーの増加とともにほぼ単調に増加しており、密度ジャンプは見られなかった。
従来のマイクロ波プラズマ発生装置の主要部の断面図である。 本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置の主要部の断面図である。 本発明に係るマイクロ波プラズマ発生装置のランチャー部の拡大断面図及び拡大下面図である。 本発明によるプラズマ放電の状態を示す。 本発明によるイオン飽和電流の半径方向分布を示す。 本発明によるイオン飽和電流の入射電力依存性を示す。
符号の説明
1 真空容器
2 平行平板状ンチャー
3 同軸導波管
4 外導体
5 同軸導波管中心導体
6 石英板
7 第2導体
8 孔
20 平行平板状ランチャー
21 第1導体
22 第2導体
23 石英板
24 円筒部
25 空隙
31 同軸導波管
32 同軸導波管中心導体
51 螺子
52 螺子

Claims (11)

  1. 励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
    プラズマガス源と、
    前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
    前記容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
    前記同軸導波管の外導体に固着された第1導体、前記同軸導波管中心導体に接続されるとともに前記第1導体に装着された誘電体板、前記誘電体板に固着され、マイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
    を具えたことを特徴とするマイクロ波プラズマ発生装置。
  2. 前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする請求項1に記載されたマイクロ波プラズマ発生装置。
  3. 励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
    プラズマガス源と、
    前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
    前記容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
    前記同軸導波管の外導体に固着された第1導体、前記同軸導波管中心導体の下端面に当接されるとともに前記第1導体に螺子により固定された誘電体板、前記誘電体板に螺子により固定されるとともにマイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
    を具えたことを特徴とするマイクロ波プラズマ発生装置。
  4. 前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする前記請求項3に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  5. 励起マイクロ波を発生するマイクロ波源と、
    プラズマガス源と、
    前記プラズマガス源からガスが供給されるプラズマ発生用の真空容器と、
    前記真空容器内に励起用のマイクロ波を導入する同軸導波管と、
    前記同軸導波管の外導体に固着され、周縁部に円筒部を具えた第1導体、前記同軸導波管中心導体の下端面に当接されるとともに前記第1導体に螺子により固定され、前記第1導体の円筒部との間に空隙を形成する誘電体板、前記誘電体板に螺子により固定されるとともにマイクロ波を前記真空容器内に放出する第2導体とからなる共振空洞を形成する平行平板ランチャーと、
    を具えたことを特徴とするマイクロ波プラズマ発生装置。
  6. 前記誘電体板を石英板としたことを特徴とする前記請求項5に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  7. 矩形導波管からマイクロ波を同軸変換し、円筒真空容器内部に挿入した当該マイクロ波ランチャーにマイクロ波を供給し、高密度プラズマを大面積かつ均一に生成することを特徴とする請求項1乃至6の何れか1項に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  8. 平行平板ランチャーを石英板表面中心部に直径20cmの第2導体の金属板を螺子で固定し、石英板周縁部には第1導体の円筒部との間に5mmの空隙を設けた構成としたことを特徴とする請求項1乃至7の何れか1項に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  9. 平行平板ランチャーの下部に一様な表面波励起マイクロ波プラズマを生成することを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  10. 平行平板ランチャー下部全域に広がる体積波励起マイクロ波プラズマを生成することを特徴とする請求項1乃至8の何れか1項に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。
  11. 前記マイクロ波源をパルス放電マイクロ波とすることを特徴とする請求項1乃至10の何れか1項に記載のマイクロ波プラズマ発生装置。

JP2005221622A 2005-07-29 2005-07-29 マイクロ波プラズマ発生装置 Pending JP2007035604A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005221622A JP2007035604A (ja) 2005-07-29 2005-07-29 マイクロ波プラズマ発生装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005221622A JP2007035604A (ja) 2005-07-29 2005-07-29 マイクロ波プラズマ発生装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007035604A true JP2007035604A (ja) 2007-02-08

Family

ID=37794580

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005221622A Pending JP2007035604A (ja) 2005-07-29 2005-07-29 マイクロ波プラズマ発生装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007035604A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007258093A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 National Univ Corp Shizuoka Univ マイクロ波プラズマ発生装置
JP2009218083A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Jiima Kk プラズマ発生装置
CN104507249A (zh) * 2014-12-09 2015-04-08 吉林大学 一种矩形波导微波等离子体源发生装置
CN111380401A (zh) * 2020-04-13 2020-07-07 武汉大学 一种微波空气等离子体炮弹射击装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1074733A (ja) * 1996-09-02 1998-03-17 Hitachi Ltd 表面波プラズマ処理装置
JP2000173798A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Sumitomo Metal Ind Ltd マイクロ波プラズマ処理装置
JP2003045813A (ja) * 2001-08-01 2003-02-14 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2003046327A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Canon Inc プラズマ処理装置におけるラジアルラインスロットアンテナの構造
JP2004200113A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Hamamatsu Kagaku Gijutsu Kenkyu Shinkokai マイクロ波プラズマ発生装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1074733A (ja) * 1996-09-02 1998-03-17 Hitachi Ltd 表面波プラズマ処理装置
JP2000173798A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Sumitomo Metal Ind Ltd マイクロ波プラズマ処理装置
JP2003046327A (ja) * 2001-07-31 2003-02-14 Canon Inc プラズマ処理装置におけるラジアルラインスロットアンテナの構造
JP2003045813A (ja) * 2001-08-01 2003-02-14 Tokyo Electron Ltd プラズマ処理装置
JP2004200113A (ja) * 2002-12-20 2004-07-15 Hamamatsu Kagaku Gijutsu Kenkyu Shinkokai マイクロ波プラズマ発生装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007258093A (ja) * 2006-03-24 2007-10-04 National Univ Corp Shizuoka Univ マイクロ波プラズマ発生装置
JP2009218083A (ja) * 2008-03-11 2009-09-24 Jiima Kk プラズマ発生装置
CN104507249A (zh) * 2014-12-09 2015-04-08 吉林大学 一种矩形波导微波等离子体源发生装置
CN111380401A (zh) * 2020-04-13 2020-07-07 武汉大学 一种微波空气等离子体炮弹射击装置
CN111380401B (zh) * 2020-04-13 2021-05-04 武汉大学 一种微波空气等离子体炮弹射击装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5243457B2 (ja) マイクロ波プラズマ処理装置の天板、プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
TWI665712B (zh) 電漿處理裝置及電漿處理方法
KR101119627B1 (ko) 플라즈마 처리 장치
US8133348B2 (en) Plasma generating apparatus and plasma treatment apparatus
JP2002280196A (ja) マイクロ波を利用したプラズマ発生装置
JP2010258461A (ja) プラズマ処理装置、およびプラズマ処理装置用の天板
Nagatsu et al. Production of large-area surface-wave plasmas with an internally mounted planar cylindrical launcher
JP2007035604A (ja) マイクロ波プラズマ発生装置
JP3787297B2 (ja) プラズマ処理装置
US20060065195A1 (en) Microwave plasma generating device
JP3417328B2 (ja) プラズマ処理方法及び装置
JP2007258093A (ja) マイクロ波プラズマ発生装置
JP2005353364A (ja) プラズマ発生装置、プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
JP2007220638A (ja) マイクロ波導入器、プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
JP2007220639A (ja) マイクロ波導入器、プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
JP2004140391A (ja) プラズマ処理装置および方法
JPH0217636A (ja) ドライエッチング装置
JP2002222801A (ja) プラズマ処理装置および方法
JP2007018819A (ja) 処理装置および処理方法
JP3974553B2 (ja) プラズマ処理装置、プラズマ処理装置用アンテナおよびプラズマ処理方法
JPH05129095A (ja) プラズマ処理装置
JPH11238597A (ja) プラズマ処理方法及び装置
JP3208995B2 (ja) プラズマ処理方法及び装置
JP2018006257A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置
JP2018006256A (ja) マイクロ波プラズマ処理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080728

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20080731

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20080731

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110107

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110322

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110802