JP2007005675A - Resin-sealing mold and semiconductor device - Google Patents

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一彦 小林
Fumio Miyajima
文夫 宮島
Kazuhiko Kobayashi
Naoya Goto
直也 後藤
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device which can resin-seal an electronic component mounted on a product to be formed without causing a void in a package to be resin-molded and has high reliability. <P>SOLUTION: In the semiconductor device resin-sealed using a resin-sealing mold, a cavity resin-seals a mounting area of the electronic component mounted on the product 20 to be formed, and a dummy cavity to trap the air communicating with the edge of the cavity. A package portion 12 where the mounting area of the electronic component is resin-sealed, and a dummy forming portion 16 communicating with the edge portion of the package portion 12, are located. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は樹脂封止金型およびこの樹脂封止金型を用いて製造される半導体装置に関する。   The present invention relates to a resin sealing mold and a semiconductor device manufactured using the resin sealing mold.

樹脂封止型の半導体装置は、樹脂封止金型により被成形品をクランプし、キャビティに樹脂を充填して半導体チップを樹脂封止して製造される。図6は、基板10上に半導体チップを搭載した被成形品を樹脂封止して形成した半導体装置の例であり、図6(a)が半導体装置の平面図、図6(b)がA−A線断面図である。この半導体装置では、基板10の片面上に半導体チップを樹脂封止したパッケージ部12が形成されている。
このように被成形品を樹脂封止金型でクランプし、キャビティに樹脂を充填して樹脂封止する際には、キャビティに閉じこめられたエアが封止樹脂中に混入しないように樹脂封止金型にエアベントを設け、キャビティからエアを外部に排出させて樹脂封止する。
A resin-encapsulated semiconductor device is manufactured by clamping a molded product with a resin-encapsulated mold, filling a cavity with resin, and encapsulating a semiconductor chip. FIG. 6 shows an example of a semiconductor device formed by resin-sealing a molded product on which a semiconductor chip is mounted on a substrate 10, FIG. 6 (a) is a plan view of the semiconductor device, and FIG. FIG. In this semiconductor device, a package portion 12 in which a semiconductor chip is sealed with a resin is formed on one surface of a substrate 10.
In this way, when the product to be molded is clamped with a resin-sealing mold, and the resin is sealed by filling the cavity with resin, the resin is sealed so that the air trapped in the cavity does not enter the sealing resin. An air vent is provided in the mold, and the resin is sealed by discharging air from the cavity to the outside.

図6では、樹脂封止金型に設けられたエアベント部分にエアとともに排出された樹脂14aがパッケージ部12のコーナー部の外方に基板10に付着する様子を説明的に示している。エアベントは樹脂封止金型のクランプ面を僅かに研削してエアのみを通過させるように形成したもので、キャビティの縁部から外方に延出させるように形成する。図6に示す例では、キャビティのコーナー部にエアベントの一端を接続し、エアベントの他端を基板10の外縁位置まで引き出すように形成している。これによって、キャビティに樹脂を充填する際に、キャビティ内のエアをエアベント部分から外部に排出して樹脂封止することができる。
特開2000−260795号公報
FIG. 6 illustrates a state in which the resin 14 a discharged together with air adheres to the substrate 10 outside the corner portion of the package portion 12 in an air vent portion provided in the resin-sealed mold. The air vent is formed so as to allow only air to pass by slightly grinding the clamp surface of the resin-sealed mold, and is formed so as to extend outward from the edge of the cavity. In the example shown in FIG. 6, one end of the air vent is connected to the corner portion of the cavity, and the other end of the air vent is formed to be pulled out to the outer edge position of the substrate 10. Thus, when the resin is filled in the cavity, the air in the cavity can be discharged from the air vent portion to the outside and sealed with the resin.
JP 2000-260795 A

図6に示す半導体装置は、基板10に搭載した半導体チップを圧縮成形方法によって樹脂封止した片面樹脂封止製品であるが、樹脂封止金型にエアベントを設けて樹脂封止する方法は、圧縮成形方法に限らずトランスファモールド方法によって樹脂封止する場合にも同様に適用することができる。また、片面樹脂封止製品に限らず、リードフレームに半導体チップを搭載して樹脂封止する両面樹脂封止製品にも適用される。   The semiconductor device shown in FIG. 6 is a single-sided resin-encapsulated product in which a semiconductor chip mounted on a substrate 10 is resin-encapsulated by a compression molding method. The present invention is not limited to the compression molding method and can be similarly applied when resin sealing is performed by a transfer molding method. Further, the present invention is not limited to a single-sided resin-encapsulated product, but is also applied to a double-sided resin-encapsulated product in which a semiconductor chip is mounted on a lead frame and resin-encapsulated.

しかしながら、樹脂封止金型に設けるエアベントは、キャビティ内から樹脂を排出させないようにする必要があり、実際には樹脂封止金型のクランプ面を極薄い深さ0.03mm程度研削して形成している。キャビティに樹脂が充填される際に、キャビティ内では樹脂によってエアが加圧されて圧縮され、エアベントからキャビティ内のエアが排出されるのであるが、樹脂封止金型に設けたエアベントはエアの排出路としては抵抗が大きく、必ずしも確実にエアが排出されるとは限らず、パッケージ部12に残留エアによるボイドが生じることがある。とくに、エアベントは被成形品の基板面(クランプ面)に設けるから、パッケージ部12の厚さとエアベントの深さに差があるため、パッケージ部12の外面近傍やコーナー部にエアがトラップされやすく、パッケージ部12のコーナー部にボイド12aが生じるといった問題があった。   However, it is necessary to prevent the resin vent from being discharged from the cavity of the air vent provided in the resin-sealed mold. Actually, the clamp surface of the resin-sealed mold is formed by grinding an extremely thin depth of about 0.03 mm. is doing. When resin is filled in the cavity, the air is pressurized and compressed by the resin in the cavity, and the air in the cavity is discharged from the air vent. The discharge path has a large resistance, and air is not necessarily discharged reliably, and a void due to residual air may occur in the package part 12. In particular, since the air vent is provided on the substrate surface (clamp surface) of the molded product, there is a difference in the thickness of the package portion 12 and the depth of the air vent, so that air is easily trapped near the outer surface of the package portion 12 or in the corner portion. There was a problem that a void 12a was generated at the corner of the package part 12.

本発明は、これらの課題を解決すべくなされたものであり、パッケージ部の本体にボイドが発生することを防止し、信頼性の高い製品として提供できる樹脂封止金型およびこの樹脂封止金型を用いて製造される半導体装置に関する。   The present invention has been made to solve these problems, and prevents the generation of voids in the body of the package part, and provides a resin-sealing mold that can be provided as a highly reliable product and the resin-sealing mold. The present invention relates to a semiconductor device manufactured using a mold.

本発明は、上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、樹脂封止装置に装着され、被成形品をクランプしてキャビティに樹脂を充填することにより被成形品を樹脂封止する樹脂封止金型において、前記被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられたことを特徴とする。ダミーキャビティは、樹脂封止時にキャビティ内に徐々に樹脂が充填される際にエアが追い込まれてトラップされ、キャビティにボイドが発生することを防止する。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object.
That is, in a resin-sealed mold that is mounted on a resin-sealing device and clamps the molded product and fills the cavity with resin to seal the molded product, the electronic component mounted on the molded product And a dummy cavity for trapping air, which is connected to the edge of the cavity. When the resin is sealed, the dummy cavity is trapped by trapping air when the resin is gradually filled into the cavity, thereby preventing voids from being generated in the cavity.

また、前記キャビティは、平面形状が矩形に形成され、前記ダミーキャビティが、前記キャビティのコーナー部に各々連結して設けられていることにより、樹脂封止時にダミーキャビティにエアをトラップして樹脂封止部にボイドを発生させずに樹脂封止することが可能になる。
また、前記ダミーキャビティに連通してエアベントが設けられていることにより、ダミーキャビティにエアをトラップする作用がさらに好適に作用し、ボイドを発生させずにさらに好適に樹脂封止することができる。
The cavity has a rectangular planar shape, and the dummy cavities are connected to the corners of the cavities so that air is trapped in the dummy cavities during resin sealing. Resin sealing can be performed without generating voids in the stopper.
In addition, since the air vent is provided in communication with the dummy cavity, the action of trapping air in the dummy cavity is more preferable, and the resin can be more preferably sealed without generating a void.

また、キャビティの平面形状に合わせて形成されたキャビティブロックと、該キャビティブロックを囲む配置に、型開閉方向に可動に設けられたクランパとを備え、被成形品を圧縮成形方法によって樹脂封止する樹脂封止金型であって、前記クランパのクランプ面に、該クランパの内側面に一端側を臨ませて前記ダミーキャビティを構成するためのダミーキャビティ凹部が設けられていることを特徴とする。
また、前記被成形品をクランプして樹脂封止する樹脂封止領域が、真空チェンバーによって包囲される配置に設けられ、該真空チェンバーの内部を真空排気する真空装置が設けられていることにより、樹脂封止部にボイドが発生することを抑制して好適な樹脂封止を行うことができる。
In addition, a cavity block formed in accordance with the planar shape of the cavity, and a clamper movably provided in the mold opening / closing direction in an arrangement surrounding the cavity block, the product to be molded is resin-sealed by a compression molding method. In the resin-sealed mold, a dummy cavity recess is provided on the clamp surface of the clamper so as to constitute the dummy cavity with one end facing the inner surface of the clamper.
In addition, a resin sealing region for clamping and molding the product to be molded is provided in an arrangement surrounded by a vacuum chamber, and a vacuum device for evacuating the inside of the vacuum chamber is provided. It is possible to perform suitable resin sealing while suppressing generation of voids in the resin sealing portion.

また、被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられた樹脂封止金型を用いて樹脂封止された半導体装置であって、前記電子部品の搭載領域が樹脂封止されたパッケージ部と、該パッケージ部の縁部に連結してダミー成形部が設けられたことを特徴とする。   In addition, a resin-sealing mold provided with a cavity for resin-sealing a mounting area of an electronic component mounted on a molded article, and a dummy cavity connected to the edge of the cavity and trapping air is used. A resin-sealed semiconductor device is characterized in that a mounting portion for mounting the electronic component is provided with a resin-sealed package portion, and a dummy molding portion is provided so as to be connected to an edge portion of the package portion.

本発明に係る樹脂封止金型によれば、被成形品の電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティに連結してダミーキャビティを設けたことにより、樹脂封止時にキャビティ内に残留するエアをダミーキャビティに追い込むようにして樹脂封止することができ、ダミーキャビティがエアのトラップとして作用することによって、電子部品の搭載領域にボイドを発生させないようにして被成形品を樹脂封止することができる。また、本発明に係る半導体装置は、信頼性の高い製品として提供することができる。   According to the resin-sealed mold according to the present invention, the air remaining in the cavity at the time of resin sealing is provided by connecting the mounting area of the electronic component of the molded product to the cavity for resin sealing and providing the dummy cavity. Can be encapsulated in the dummy cavity, and the dummy cavity can act as an air trap so that no voids are generated in the mounting area of the electronic component and the molded product is encapsulated. Can do. In addition, the semiconductor device according to the present invention can be provided as a highly reliable product.

以下、本発明に係る半導体装置およびこの半導体装置の製造に用いる樹脂封止金型の実施の形態について詳細に説明する。
(半導体装置の構成)
図1(a)は、本発明に係る半導体装置の一実施形態の構成を示す平面図、図1(b)は図1(a)のB−B線断面図である。
本実施形態の半導体装置20は基板10の一方の面に、半導体チップ等の電子部品が搭載された領域を樹脂封止するパッケージ部12が設けられ、パッケージ部12の4つのコーナー部にダミー成形部16が連結して形成されている。図1(b)に示すように、本実施形態においては、ダミー成形部16はパッケージ部12の厚さの1/2程度の厚さに設けられ、パッケージ部12と同様に、基板10の一方の面に被着している。
Hereinafter, embodiments of a semiconductor device according to the present invention and a resin-sealed mold used for manufacturing the semiconductor device will be described in detail.
(Configuration of semiconductor device)
FIG. 1A is a plan view showing a configuration of an embodiment of a semiconductor device according to the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG.
In the semiconductor device 20 of the present embodiment, a package portion 12 is provided on one surface of the substrate 10 for resin-sealing a region where an electronic component such as a semiconductor chip is mounted, and dummy forming is performed at four corner portions of the package portion 12. The part 16 is formed by being connected. As shown in FIG. 1B, in the present embodiment, the dummy molding portion 16 is provided with a thickness of about ½ of the thickness of the package portion 12, and, like the package portion 12, one of the substrates 10 is provided. It is attached to the surface.

図1(a)に示すように、ダミー成形部16は、パッケージ部12のコーナー部から対角線方向に所定長さ延出して形成される。ダミー成形部16はパッケージ部12を樹脂成形する際に同時に樹脂成形されるもので、パッケージ部12を樹脂成形するキャビティと、ダミー成形部16を樹脂成形するダミーキャビティを備えた樹脂封止金型を使用して樹脂成形することによって得られる。   As shown in FIG. 1A, the dummy molding portion 16 is formed to extend from the corner portion of the package portion 12 by a predetermined length in the diagonal direction. The dummy molding part 16 is resin-molded at the same time as the package part 12 is resin-molded, and includes a cavity for resin-molding the package part 12 and a resin-sealed mold including a dummy cavity for resin-molding the dummy molding part 16. It is obtained by resin molding using

本実施形態の半導体装置20は、パッケージ部12のコーナー部から外方にダミー成形部16を延出させた形状に樹脂成形部を設けたことにより、樹脂封止時にキャビティ内に残留するエアをダミー成形部16の側へ移動させ、ダミー成形部16へボイドを追い込むようにして樹脂封止することができ、これによって半導体チップが搭載されているパッケージ部12内には少なくともボイドを生じさせずに樹脂封止することが可能となり、信頼性の高い半導体装置として提供することが可能になる。   In the semiconductor device 20 of the present embodiment, the resin molding part is provided in a shape in which the dummy molding part 16 is extended outward from the corner part of the package part 12, so that air remaining in the cavity at the time of resin sealing can be obtained. It can be moved to the dummy molding part 16 side and the resin can be sealed by pushing the void into the dummy molding part 16, whereby at least a void is not generated in the package part 12 on which the semiconductor chip is mounted. Therefore, it is possible to provide a highly reliable semiconductor device.

(樹脂封止装置の構成)
図2〜4は上述した半導体装置20の製造に使用する樹脂封止装置の主要構成部分である樹脂封止金型の構成と、この樹脂封止金型を使用して樹脂封止する工程を示す。
以下では、まず、図2、3にしたがって樹脂封止金型の構成について説明する。
本実施形態の樹脂封止金型は、被成形品30がセットされる下型40と、下型40に対向して上型側に配置されたキャビティブロック42と、キャビティブロック42を囲む配置の矩形枠状に形成されたクランパ44とを備える。キャビティブロック42は上型ベース46に支持され、クランパ44は上型ベース46に支持された弾発スプリング48により、キャビティブロック42の端面よりもクランプ面を下型40に向けて突出させて支持されている。
(Configuration of resin sealing device)
2 to 4 show a configuration of a resin sealing mold which is a main component part of the resin sealing device used for manufacturing the semiconductor device 20 described above, and a process of resin sealing using the resin sealing mold. Show.
Below, first, the structure of the resin-sealed mold will be described with reference to FIGS.
The resin-sealed mold according to the present embodiment includes a lower mold 40 in which the product 30 is set, a cavity block 42 disposed on the upper mold side facing the lower mold 40, and an arrangement surrounding the cavity block 42. And a clamper 44 formed in a rectangular frame shape. The cavity block 42 is supported by the upper mold base 46, and the clamper 44 is supported by a resilient spring 48 supported by the upper mold base 46 so that the clamp surface protrudes from the end face of the cavity block 42 toward the lower mold 40. ing.

キャビティブロック42は被成形品30に搭載される半導体チップ等の電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティの平面配置に合わせて形成されている。
なお、本実施形態においては、被成形品30をクランプして樹脂封止する樹脂封止領域は真空チェンバー50によって包囲される形態に設けられ、真空チェンバー50はチェンバー排気路52を介して真空装置54に接続されている。
The cavity block 42 is formed in accordance with a planar arrangement of cavities for resin-sealing a mounting area of an electronic component such as a semiconductor chip mounted on the molded product 30.
In the present embodiment, the resin sealing region for clamping and molding the molded product 30 is provided in a form surrounded by the vacuum chamber 50, and the vacuum chamber 50 is connected to the vacuum device via the chamber exhaust path 52. 54.

本実施形態の樹脂封止金型において特徴的な構成は、クランパ44のクランプ面にダミーキャビティ凹部45aを形成したことにある。このダミーキャビティ凹部45aは、下型40との間で被成形品30をクランプした際に、被成形品30を樹脂封止するキャビティに連通してダミーキャビティ45を形成するためのものである。
図3に、キャビティブロック42とクランパ44を下型40側から見た状態を示す。前述したように、クランパ44はキャビティブロック42を囲む枠体状に形成され、ダミーキャビティ凹部45aはキャビティブロック42の各々のコーナー部に、クランパ44の内側面に一端側を臨ませるようにして設けられている。なお、キャビティブロック42はコーナー部を面取りして形成されており、ダミーキャビティ凹部45aはこの面取り位置に一端側を合わせて形成されている。
A characteristic configuration of the resin-sealed mold of this embodiment is that a dummy cavity recess 45 a is formed on the clamp surface of the clamper 44. This dummy cavity recess 45a is for forming the dummy cavity 45 in communication with a cavity for resin-sealing the molded product 30 when the molded product 30 is clamped with the lower mold 40.
FIG. 3 shows a state in which the cavity block 42 and the clamper 44 are viewed from the lower mold 40 side. As described above, the clamper 44 is formed in a frame shape surrounding the cavity block 42, and the dummy cavity recess 45 a is provided at each corner portion of the cavity block 42 so that one end side faces the inner side surface of the clamper 44. It has been. The cavity block 42 is formed by chamfering the corner portion, and the dummy cavity concave portion 45a is formed by aligning one end side with this chamfering position.

クランパ44のクランプ面にはリリースフィルム60をエア吸着するためのエア吸着孔44aが形成され、ダミーキャビティ凹部45aの内面にもエア吸着孔44bが形成される。これらのエア吸着孔44a、44bはクランパ44の内部に形成されたエア流路44cに連通して設けられ、エア流路44cはエア吸引機構56に接続される。
また、キャビティブロック42の外側面にはスリット溝が設けられ、キャビティブロック42をクランパ44の内側面に摺接するように装着した状態で、クランパ44の内側面との間でスリット孔42aが形成され、スリット孔42aはクランパ44の内部に形成されたエア流路44cに連通するように設けられる。
An air suction hole 44a for air suction of the release film 60 is formed on the clamp surface of the clamper 44, and an air suction hole 44b is also formed on the inner surface of the dummy cavity recess 45a. These air suction holes 44 a and 44 b are provided in communication with an air flow path 44 c formed inside the clamper 44, and the air flow path 44 c is connected to an air suction mechanism 56.
In addition, a slit groove is provided on the outer surface of the cavity block 42, and a slit hole 42 a is formed between the inner surface of the clamper 44 in a state where the cavity block 42 is mounted so as to be in sliding contact with the inner surface of the clamper 44. The slit hole 42 a is provided so as to communicate with an air flow path 44 c formed inside the clamper 44.

なお、本実施形態では、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを共通のエア流路44cに連通させているが、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを別のエア流路に連通させ、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを別個にエア吸引機構に接続して、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aによるエア吸引操作を個別に制御するように構成することも可能である。   In the present embodiment, the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are communicated with a common air flow path 44c. However, the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are connected to different air flow paths. The air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are separately connected to the air suction mechanism, and the air suction operation by the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a is individually controlled. Is possible.

(樹脂封止工程)
続いて、上述した樹脂封止金型を備えた樹脂封止装置により被成形品30を樹脂封止する工程について説明する。
まず、樹脂封止金型を型開きした状態(図2)で、下型40に被成形品30をセットし、被成形品30の上にモールド用の樹脂32を供給する。本実施形態では圧縮成形方法によって被成形品30を樹脂封止する。したがって、所要量の樹脂32を計量して被成形品30の上に供給する。樹脂32としては液状樹脂、ペースト状樹脂等が使用できる。樹脂32は被成形品30を下型40にセットした後に供給してもよいし、金型外で被成形品30にあらかじめ樹脂32を供給して、樹脂32とともに被成形品30を金型内に搬入してセットしてもよい。
(Resin sealing process)
Then, the process of resin-sealing the to-be-molded product 30 with the resin sealing apparatus provided with the resin sealing metal mold | die mentioned above is demonstrated.
First, in a state where the resin-sealed mold is opened (FIG. 2), the molded product 30 is set on the lower mold 40, and the molding resin 32 is supplied onto the molded product 30. In this embodiment, the molded product 30 is resin-sealed by a compression molding method. Therefore, a required amount of resin 32 is weighed and supplied onto the product 30. As the resin 32, a liquid resin, a paste-like resin, or the like can be used. The resin 32 may be supplied after the molded product 30 is set in the lower mold 40, or the resin 32 is supplied in advance to the molded product 30 outside the mold, and the molded product 30 is placed in the mold together with the resin 32. You may set it in.

図2では、説明を簡略化するため、被成形品30を一つのキャビティによって樹脂封止する例を示すが、基板に搭載された複数の半導体チップごと、もしくは半導体チップをグループ化して樹脂封止するような場合には、各チップごとまたは各グループごとにキャビティを設け、各キャビティごとに所定量の樹脂32を供給して樹脂封止する。   FIG. 2 shows an example in which the molded product 30 is resin-sealed with a single cavity for the sake of simplification. However, a plurality of semiconductor chips mounted on a substrate or a group of semiconductor chips are resin-sealed. In such a case, a cavity is provided for each chip or for each group, and a predetermined amount of resin 32 is supplied for each cavity and resin sealing is performed.

一方、上型には、クランパ44のクランプ面とキャビティ凹部の内側面および内底面にリリースフィルム60をエア吸着して支持する。クランパ44のクランプ面にはエア吸着孔44aによりリリースフィルム60がエア吸着され、ダミーキャビティ凹部45aにはエア吸着孔44bによりリリースフィルム60がエア吸着される。キャビティ凹部では、キャビティ凹部の底面側からキャビティブロック42の側面に位置するスリット孔42aによりリリースフィルム60がエア吸引され、キャビティ凹部の内面にならってリリースフィルム60がエア吸着される。
なお、リリースフィルム60には、樹脂32と容易に剥離し、金型の加熱温度に十分に耐えられる耐熱性を有し、エア吸引操作によってキャビティ凹部の内面に沿って容易にエア吸着される可撓性、伸縮性を備えているものが用いられる。
On the other hand, on the upper mold, the release film 60 is supported by air suction on the clamp surface of the clamper 44 and the inner and inner bottom surfaces of the cavity recess. The release film 60 is air adsorbed to the clamp surface of the clamper 44 through the air adsorbing hole 44a, and the release film 60 is adsorbed into the dummy cavity recess 45a through the air adsorbing hole 44b. In the cavity recess, the release film 60 is air-sucked from the bottom surface side of the cavity recess by the slit hole 42 a located on the side surface of the cavity block 42, and the release film 60 is air adsorbed along the inner surface of the cavity recess.
The release film 60 is easily peeled off from the resin 32, has heat resistance sufficient to withstand the heating temperature of the mold, and can be easily adsorbed along the inner surface of the cavity recess by an air suction operation. What has flexibility and elasticity is used.

下型40に被成形品30と樹脂32をセットし、上型にリリースフィルム60を支持した後、樹脂封止領域は外部から閉鎖された真空領域(真空チェンバー)に設定され、真空装置54が作動されて、チェンバー排気路52から真空チェンバー50内が真空排気される。
図2は、真空チェンバー50内が真空排気され、キャビティ凹部の内面にリリースフィルム60がエア吸着された状態を示す。クランパ44とキャビティブロック42とによって形成されたキャビティ凹部の内面に、リリースフィルム60を確実にエア吸着できるように、エア吸引機構56の真空度を真空チェンバー50の真空度よりも高真空に設定する。
After setting the molded product 30 and the resin 32 on the lower mold 40 and supporting the release film 60 on the upper mold, the resin sealing area is set to a vacuum area (vacuum chamber) closed from the outside, and the vacuum device 54 is When operated, the inside of the vacuum chamber 50 is evacuated from the chamber exhaust passage 52.
FIG. 2 shows a state in which the inside of the vacuum chamber 50 is evacuated and the release film 60 is air adsorbed on the inner surface of the cavity recess. The degree of vacuum of the air suction mechanism 56 is set to be higher than the degree of vacuum of the vacuum chamber 50 so that the release film 60 can be securely adsorbed onto the inner surface of the cavity recess formed by the clamper 44 and the cavity block 42. .

真空チェンバー50内が所定の真空度に達したら、下型と上型のいずれか可動型側を被成形品30をクランプする位置まで移動させ、下型と上型とで被成形品30をクランプする。図4は、クランパ44のクランプ面が被成形品30の表面に当接した状態を示す。
クランパ44が被成形品30に当接することによって、キャビティ43が形成され、クランパ44のダミーキャビティ凹部45aが形成された部位ではダミーキャビティ45が形成される。樹脂32はキャビティ43内に収容される。
真空チェンバー50は真空装置54により続けて真空排気され、リリースフィルム60もエア吸引機構56により続けてエア吸引される。
When the inside of the vacuum chamber 50 reaches a predetermined degree of vacuum, the movable mold side of either the lower mold or the upper mold is moved to a position where the molded article 30 is clamped, and the molded article 30 is clamped by the lower mold and the upper mold. To do. FIG. 4 shows a state in which the clamp surface of the clamper 44 is in contact with the surface of the molded product 30.
A cavity 43 is formed by the clamper 44 coming into contact with the molded product 30, and a dummy cavity 45 is formed at a portion of the clamper 44 where the dummy cavity recess 45 a is formed. The resin 32 is accommodated in the cavity 43.
The vacuum chamber 50 is continuously evacuated by the vacuum device 54, and the release film 60 is also continuously sucked by the air suction mechanism 56.

次に、図4に示す状態から、可動型側を型締め位置まで移動させ、キャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32を充填して被成形品30を樹脂封止する。図5は、被成形品30を樹脂封止した状態を示す。
可動型側を型締め位置(樹脂封止位置)まで移動させることにより、キャビティ43およびダミーキャビティ45に樹脂32が充填され、キャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32が充填された状態で保圧して樹脂32を硬化させる。
Next, from the state shown in FIG. 4, the movable mold side is moved to the mold clamping position, the resin 43 is filled in the cavity 43 and the dummy cavity 45, and the molded product 30 is resin-sealed. FIG. 5 shows a state where the molded product 30 is sealed with resin.
By moving the movable mold side to the mold clamping position (resin sealing position), the cavity 43 and the dummy cavity 45 are filled with the resin 32, and the cavity 43 and the dummy cavity 45 are filled with the resin 32 to hold the pressure. The resin 32 is cured.

なお、圧縮成形では、可動型を型締め位置まで徐々に移動させていくにしたがってキャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32が充填されていく。本実施形態では樹脂封止領域が真空チェンバー50に収容され、キャビティ43とダミーキャビティ45は減圧下で樹脂封止されるから、キャビティ43内の残留エアによって封止樹脂中にボイドが発生することを効果的に抑えることが可能である。
しかしながら、減圧下で樹脂封止した場合でも、実際には、僅かながらボイドが発生する。本実施形態の樹脂封止操作による場合は、可動型を型締め位置まで移動させる際に、樹脂32はキャビティ43側からダミーキャビティ45側に移動していき、最終的にダミーキャビティ45に樹脂32が充填されて樹脂封止される。したがって、樹脂32が硬化完了するまで真空チェンバー50内を真空排気するようにすると、樹脂32が最後に充填されるダミーキャビティ45からエアを吸引させる作用が生じ、キャビティ43内の残留エアがダミーキャビティ45に追い込まれるように作用することと、ダミーキャビティ45から残留エアが真空排気されることによって、キャビティ43およびダミーキャビティ45にエアが残留することを防止し、またダミーキャビティ45に残留エアをトラップさせる作用によって、樹脂成形部の本体であるパッケージ部12にボイドを生じさせないようにして樹脂封止することが可能となる。
In the compression molding, the resin 32 is filled into the cavity 43 and the dummy cavity 45 as the movable mold is gradually moved to the mold clamping position. In this embodiment, since the resin sealing region is accommodated in the vacuum chamber 50 and the cavity 43 and the dummy cavity 45 are resin-sealed under reduced pressure, voids are generated in the sealing resin due to residual air in the cavity 43. Can be effectively suppressed.
However, even when resin sealing is performed under reduced pressure, a slight void is actually generated. In the case of the resin sealing operation of the present embodiment, when the movable mold is moved to the mold clamping position, the resin 32 moves from the cavity 43 side to the dummy cavity 45 side, and finally the resin 32 enters the dummy cavity 45. Is filled and resin-sealed. Accordingly, if the inside of the vacuum chamber 50 is evacuated until the resin 32 is completely cured, an action of sucking air from the dummy cavity 45 filled with the resin 32 lastly occurs, and the residual air in the cavity 43 is absorbed by the dummy cavity. 45 and the residual air is evacuated from the dummy cavity 45 to prevent the air from remaining in the cavity 43 and the dummy cavity 45 and trap the residual air in the dummy cavity 45. By the effect | action which makes it, it becomes possible to resin-seal so that a void may not be produced in the package part 12 which is the main body of a resin molding part.

このように、樹脂封止領域を減圧して樹脂封止する際に、キャビティ43に連通させてキャビティ43の外側にダミーキャビティ45を配する方法は、キャビティ43内の残留エアをダミーキャビティ45に導く作用があるが、ダミーキャビティ45にトラップされたエアをより積極的にキャビティ外に排出させる方法、あるいはダミーキャビティ45に残留エアをより積極的に導く方法として、ダミーキャビティ45にエアベントを接続させる方法が有効である。   As described above, when the resin sealing region is depressurized and sealed with resin, the dummy cavity 45 is arranged outside the cavity 43 by communicating with the cavity 43. Although there is an effect of guiding, air vents are connected to the dummy cavities 45 as a method of more actively discharging the air trapped in the dummy cavities 45 to the outside of the cavities or a method of more actively guiding residual air to the dummy cavities 45. The method is effective.

図1に、ダミー成形部16に接続してエアベント45bを設ける例を破線によって示している。すなわち、クランパ44にダミーキャビティ凹部45aを形成するとともに、ダミーキャビティ凹部45aに接続する配置にクランプ面にエアベント45bを設けておく。このように、クランパ44のクランプ面にダミーキャビティ凹部45aに連通するエアベント45bを設けると、減圧下においては、被成形品30を下型40とクランパ44とでクランプした際に、エアベント45bからダミーキャビティ45を介してキャビティ43からエアを排出させることができ、ダミーキャビティ45に残留エアを追い込む作用と同時にダミーキャビティ45に残留エアを引き込む作用が生じて、ダミーキャビティ45により効果的にエアをトラップさせ、ダミーキャビティ45から残留エアを排出させることが可能になる。これによって、封止樹脂中にボイドが発生することをさらに効果的に防止することができる。   In FIG. 1, the example which provides the air vent 45b by connecting to the dummy shaping | molding part 16 is shown with the broken line. That is, a dummy cavity recess 45a is formed in the clamper 44, and an air vent 45b is provided on the clamp surface in an arrangement connected to the dummy cavity recess 45a. When the air vent 45b communicating with the dummy cavity recess 45a is provided on the clamp surface of the clamper 44 as described above, when the molded product 30 is clamped by the lower mold 40 and the clamper 44 under reduced pressure, the air vent 45b Air can be discharged from the cavity 43 through the cavity 45, and the action of driving the residual air into the dummy cavity 45 and the action of drawing the residual air into the dummy cavity 45 occur, and the air is effectively trapped by the dummy cavity 45. Thus, the residual air can be discharged from the dummy cavity 45. This can more effectively prevent voids from being generated in the sealing resin.

本実施形態のようにキャビティ43の外側にダミーキャビティ45を連結する構成とし、樹脂封止時にキャビティに閉じこめられたエアをダミーキャビティ45側に移動させ、ダミーキャビティ45にエアをトラップさせて樹脂封止する方法は、上述した減圧操作を利用して樹脂封止する場合に限られるものではない。
キャビティ内のエアをダミーキャビティ側に移動させてダミーキャビティにトラップさせる方法としては、たとえばトランスファモールド方法のように、キャビティ内における樹脂の流れ方向(充填方向)がある程度予想できるものについては、最終的に樹脂が充填される側にダミーキャビティを配置して樹脂封止すればよい。また、圧縮成形による場合も、キャビティの周縁部側にダミーキャビティを設けることによって、ダミーキャビティには最後に樹脂が充填されるようになるから、ダミーキャビティにエアをトラップさせ、半導体素子が搭載されているパッケージ部12にはボイドを発生させずに樹脂封止することが可能になる。
As in this embodiment, the dummy cavity 45 is connected to the outside of the cavity 43, and the air confined in the cavity during resin sealing is moved to the dummy cavity 45 side, and the air is trapped in the dummy cavity 45 to seal the resin. The method of stopping is not limited to the case of resin sealing using the above-described decompression operation.
As a method of moving the air in the cavity to the dummy cavity side and trapping it in the dummy cavity, for example, a method that can predict the resin flow direction (filling direction) in the cavity to some extent, such as the transfer molding method, is the final. A dummy cavity may be disposed on the side filled with resin and sealed with resin. Also in the case of compression molding, by providing a dummy cavity on the peripheral edge side of the cavity, the dummy cavity will be filled with resin at the end, so air is trapped in the dummy cavity and the semiconductor element is mounted. The package portion 12 can be sealed with resin without generating voids.

また、減圧操作を併用しないで樹脂封止する場合においても、ダミーキャビティを設ける際に、上述したと同様に、ダミーキャビティにエアベントを連通させる配置とすることにより、エアベントからキャビティ内のエアが排出されるから、キャビティ内の残留エアがダミーキャビティに導かれる作用が生じ、エアベントを設けない場合にくらべて、より効果的にダミーキャビティにエアをトラップさせて樹脂封止することが可能になる。   Even when resin sealing is performed without using a decompression operation, when the dummy cavity is provided, air in the cavity is discharged from the air vent by arranging the air vent to communicate with the dummy cavity, as described above. As a result, the residual air in the cavity is guided to the dummy cavity, and it becomes possible to trap the air in the dummy cavity and seal the resin more effectively than when no air vent is provided.

なお、樹脂封止金型に設けるキャビティに連結してダミーキャビティを設ける場合には、図1に示すように、キャビティのコーナー部に連結する場合に限るものではなく、キャビティの辺部分の中間にダミーキャビティを連結するといったことも可能である。また、キャビティに連結して配置するダミーキャビティの数も、適宜選択可能であり、たとえばキャビティのコーナー部のいくつかを選択して設けることも可能である。   In addition, when connecting with the cavity provided in a resin sealing metal mold | die and providing a dummy cavity, as shown in FIG. 1, it is not restricted to the case where it connects with the corner part of a cavity, It is in the middle of the side part of a cavity. It is also possible to connect dummy cavities. Further, the number of dummy cavities arranged in connection with the cavities can also be selected as appropriate, and for example, some of the corners of the cavities can be selected and provided.

また、キャビティの形状も、上述した実施形態のように平面形状が正方形のものの他に、長方形のもの、窓付き形状のもの、非対称形状のものであってもよく、その形状がとくに限定されるものではない。
なお、金型のダミーキャビティに対応して形成されるダミー成形部16は、金型のキャビティに対応して形成されるパッケージ部12と一体的に最終製品に残留し、ダミー成形部16が製造工程で除去されるものではない。したがって、ダミー成形部16を除去する工程が必要ないという利点もある。
Further, the shape of the cavity may be a rectangular shape, a shape with a window, or an asymmetric shape in addition to a square shape as in the above-described embodiment, and the shape is particularly limited. It is not a thing.
The dummy molding part 16 formed corresponding to the mold dummy cavity remains in the final product integrally with the package part 12 formed corresponding to the mold cavity, and the dummy molding part 16 is manufactured. It is not removed in the process. Therefore, there is an advantage that the process of removing the dummy molding part 16 is not necessary.

上述した実施形態ではリリースフィルム60を用いて樹脂封止する例について説明したが、本発明は、リリースフィルムを使用しない樹脂封止方法にももちろん適用することができる。
また、上記実施形態は基板10の片面に半導体チップが搭載され、基板10の片面を樹脂封止する例であるが、本発明は、基板の両面を樹脂封止する製品についても同様に適用することが可能である。また、樹脂封止する対象である被成形品についても配線基板に半導体チップを搭載した製品の他、リードフレームに半導体チップを搭載した製品等、樹脂封止方法によって製造する製品については同様に適用可能である。
In the embodiment described above, the example of resin sealing using the release film 60 has been described, but the present invention can of course be applied to a resin sealing method that does not use a release film.
Moreover, although the said embodiment is an example in which a semiconductor chip is mounted on one side of the substrate 10 and the one side of the substrate 10 is resin-sealed, the present invention is similarly applied to a product in which both sides of the substrate 10 are resin-sealed. It is possible. The same applies to products manufactured by the resin sealing method, such as products with semiconductor chips mounted on the wiring board, as well as products with semiconductor chips mounted on the lead frame, for molded products that are to be sealed with resin. Is possible.

半導体装置の一実施形態の構成を示す平面図および断面図である。It is the top view and sectional view which show the structure of one Embodiment of a semiconductor device. 樹脂封止装置の構成を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the structure of a resin sealing apparatus. クランパとキャビティブロックの端面図である。It is an end view of a clamper and a cavity block. 図2の樹脂封止装置を用いた樹脂封止工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the resin sealing process using the resin sealing apparatus of FIG. 図2の樹脂封止装置を用いた樹脂封止工程を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the resin sealing process using the resin sealing apparatus of FIG. 従来の樹脂封止方法による半導体装置の平面図および断面図である。It is the top view and sectional drawing of the semiconductor device by the conventional resin sealing method.

符号の説明Explanation of symbols

10 基板
12 パッケージ部
12a ボイド
14a 樹脂
16 ダミー成形部
20 半導体装置
30 被成形品
32 樹脂
40 下型
42 キャビティブロック
42a スリット孔
43 キャビティ
44 クランパ
44a、44b エア吸着孔
44c エア流路
45 ダミーキャビティ
45a ダミーキャビティ凹部
45b エアベント
50 真空チェンバー
54 真空装置
56 エア吸引機構
60 リリースフィルム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Board | substrate 12 Package part 12a Void 14a Resin 16 Dummy molding part 20 Semiconductor device 30 Molded product 32 Resin 40 Lower mold 42 Cavity block 42a Slit hole 43 Cavity 44 Clamper 44a, 44b Air adsorption hole 44c Air flow path 45 Dummy cavity 45a Dummy Cavity recess 45b Air vent 50 Vacuum chamber 54 Vacuum device 56 Air suction mechanism 60 Release film

Claims (6)

樹脂封止装置に装着され、被成形品をクランプしてキャビティに樹脂を充填することにより被成形品を樹脂封止する樹脂封止金型において、
前記被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられたことを特徴とする樹脂封止金型。
In a resin-sealing mold that is mounted on a resin sealing device and clamps the molded product and fills the cavity with resin, thereby sealing the molded product with resin,
A resin-sealing metal, comprising: a cavity for resin-sealing a mounting area of an electronic component mounted on the molded article; and a dummy cavity for trapping air connected to an edge of the cavity Type.
前記キャビティは、平面形状が矩形に形成され、
前記ダミーキャビティが、前記キャビティのコーナー部に各々連結して設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の樹脂封止金型。
The cavity has a rectangular planar shape,
3. The resin-sealed mold according to claim 1, wherein the dummy cavities are respectively connected to corner portions of the cavities.
前記ダミーキャビティに連通してエアベントが設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の樹脂封止金型。   The resin-sealed mold according to claim 1, wherein an air vent is provided in communication with the dummy cavity. キャビティの平面形状に合わせて形成されたキャビティブロックと、
該キャビティブロックを囲む配置に、型開閉方向に可動に設けられたクランパとを備え、被成形品を圧縮成形方法によって樹脂封止する樹脂封止金型であって、
前記クランパのクランプ面に、該クランパの内側面に一端側を臨ませて前記ダミーキャビティを構成するためのダミーキャビティ凹部が設けられていることを特徴とする請求項1記載の樹脂封止金型。
A cavity block formed in accordance with the planar shape of the cavity;
A resin-sealing mold that includes a clamper that is movably provided in the mold opening and closing direction in an arrangement surrounding the cavity block, and that seals a molded product by a compression molding method,
The resin-sealed mold according to claim 1, wherein a dummy cavity recess is provided on the clamp surface of the clamper so as to constitute one of the dummy cavities with one end facing the inner side surface of the clamper. .
前記被成形品をクランプして樹脂封止する樹脂封止領域が、真空チェンバーによって包囲される配置に設けられ、
該真空チェンバーの内部を真空排気する真空装置が設けられていることを特徴とする請求項4記載の樹脂封止装置。
A resin sealing area for clamping and molding the molded article with resin is provided in an arrangement surrounded by a vacuum chamber,
The resin sealing device according to claim 4, wherein a vacuum device for evacuating the inside of the vacuum chamber is provided.
被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられた樹脂封止金型を用いて樹脂封止された半導体装置であって、
前記電子部品の搭載領域が樹脂封止されたパッケージ部と、該パッケージ部の縁部に連結してダミー成形部が設けられたことを特徴とする半導体装置。
Resin sealing using a resin-sealing mold provided with a cavity for resin-sealing the mounting area of the electronic component mounted on the molded product and a dummy cavity connected to the edge of the cavity and trapping air A stopped semiconductor device,
A semiconductor device comprising: a package portion in which a mounting region of the electronic component is sealed with resin; and a dummy molding portion provided in connection with an edge portion of the package portion.
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