JP2007005675A - Resin-sealing mold and semiconductor device - Google Patents
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Description
本発明は樹脂封止金型およびこの樹脂封止金型を用いて製造される半導体装置に関する。 The present invention relates to a resin sealing mold and a semiconductor device manufactured using the resin sealing mold.
樹脂封止型の半導体装置は、樹脂封止金型により被成形品をクランプし、キャビティに樹脂を充填して半導体チップを樹脂封止して製造される。図6は、基板10上に半導体チップを搭載した被成形品を樹脂封止して形成した半導体装置の例であり、図6(a)が半導体装置の平面図、図6(b)がA−A線断面図である。この半導体装置では、基板10の片面上に半導体チップを樹脂封止したパッケージ部12が形成されている。
このように被成形品を樹脂封止金型でクランプし、キャビティに樹脂を充填して樹脂封止する際には、キャビティに閉じこめられたエアが封止樹脂中に混入しないように樹脂封止金型にエアベントを設け、キャビティからエアを外部に排出させて樹脂封止する。
A resin-encapsulated semiconductor device is manufactured by clamping a molded product with a resin-encapsulated mold, filling a cavity with resin, and encapsulating a semiconductor chip. FIG. 6 shows an example of a semiconductor device formed by resin-sealing a molded product on which a semiconductor chip is mounted on a
In this way, when the product to be molded is clamped with a resin-sealing mold, and the resin is sealed by filling the cavity with resin, the resin is sealed so that the air trapped in the cavity does not enter the sealing resin. An air vent is provided in the mold, and the resin is sealed by discharging air from the cavity to the outside.
図6では、樹脂封止金型に設けられたエアベント部分にエアとともに排出された樹脂14aがパッケージ部12のコーナー部の外方に基板10に付着する様子を説明的に示している。エアベントは樹脂封止金型のクランプ面を僅かに研削してエアのみを通過させるように形成したもので、キャビティの縁部から外方に延出させるように形成する。図6に示す例では、キャビティのコーナー部にエアベントの一端を接続し、エアベントの他端を基板10の外縁位置まで引き出すように形成している。これによって、キャビティに樹脂を充填する際に、キャビティ内のエアをエアベント部分から外部に排出して樹脂封止することができる。
図6に示す半導体装置は、基板10に搭載した半導体チップを圧縮成形方法によって樹脂封止した片面樹脂封止製品であるが、樹脂封止金型にエアベントを設けて樹脂封止する方法は、圧縮成形方法に限らずトランスファモールド方法によって樹脂封止する場合にも同様に適用することができる。また、片面樹脂封止製品に限らず、リードフレームに半導体チップを搭載して樹脂封止する両面樹脂封止製品にも適用される。
The semiconductor device shown in FIG. 6 is a single-sided resin-encapsulated product in which a semiconductor chip mounted on a
しかしながら、樹脂封止金型に設けるエアベントは、キャビティ内から樹脂を排出させないようにする必要があり、実際には樹脂封止金型のクランプ面を極薄い深さ0.03mm程度研削して形成している。キャビティに樹脂が充填される際に、キャビティ内では樹脂によってエアが加圧されて圧縮され、エアベントからキャビティ内のエアが排出されるのであるが、樹脂封止金型に設けたエアベントはエアの排出路としては抵抗が大きく、必ずしも確実にエアが排出されるとは限らず、パッケージ部12に残留エアによるボイドが生じることがある。とくに、エアベントは被成形品の基板面(クランプ面)に設けるから、パッケージ部12の厚さとエアベントの深さに差があるため、パッケージ部12の外面近傍やコーナー部にエアがトラップされやすく、パッケージ部12のコーナー部にボイド12aが生じるといった問題があった。 However, it is necessary to prevent the resin vent from being discharged from the cavity of the air vent provided in the resin-sealed mold. Actually, the clamp surface of the resin-sealed mold is formed by grinding an extremely thin depth of about 0.03 mm. is doing. When resin is filled in the cavity, the air is pressurized and compressed by the resin in the cavity, and the air in the cavity is discharged from the air vent. The discharge path has a large resistance, and air is not necessarily discharged reliably, and a void due to residual air may occur in the package part 12. In particular, since the air vent is provided on the substrate surface (clamp surface) of the molded product, there is a difference in the thickness of the package portion 12 and the depth of the air vent, so that air is easily trapped near the outer surface of the package portion 12 or in the corner portion. There was a problem that a void 12a was generated at the corner of the package part 12.
本発明は、これらの課題を解決すべくなされたものであり、パッケージ部の本体にボイドが発生することを防止し、信頼性の高い製品として提供できる樹脂封止金型およびこの樹脂封止金型を用いて製造される半導体装置に関する。 The present invention has been made to solve these problems, and prevents the generation of voids in the body of the package part, and provides a resin-sealing mold that can be provided as a highly reliable product and the resin-sealing mold. The present invention relates to a semiconductor device manufactured using a mold.
本発明は、上記目的を達成するため次の構成を備える。
すなわち、樹脂封止装置に装着され、被成形品をクランプしてキャビティに樹脂を充填することにより被成形品を樹脂封止する樹脂封止金型において、前記被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられたことを特徴とする。ダミーキャビティは、樹脂封止時にキャビティ内に徐々に樹脂が充填される際にエアが追い込まれてトラップされ、キャビティにボイドが発生することを防止する。
The present invention has the following configuration in order to achieve the above object.
That is, in a resin-sealed mold that is mounted on a resin-sealing device and clamps the molded product and fills the cavity with resin to seal the molded product, the electronic component mounted on the molded product And a dummy cavity for trapping air, which is connected to the edge of the cavity. When the resin is sealed, the dummy cavity is trapped by trapping air when the resin is gradually filled into the cavity, thereby preventing voids from being generated in the cavity.
また、前記キャビティは、平面形状が矩形に形成され、前記ダミーキャビティが、前記キャビティのコーナー部に各々連結して設けられていることにより、樹脂封止時にダミーキャビティにエアをトラップして樹脂封止部にボイドを発生させずに樹脂封止することが可能になる。
また、前記ダミーキャビティに連通してエアベントが設けられていることにより、ダミーキャビティにエアをトラップする作用がさらに好適に作用し、ボイドを発生させずにさらに好適に樹脂封止することができる。
The cavity has a rectangular planar shape, and the dummy cavities are connected to the corners of the cavities so that air is trapped in the dummy cavities during resin sealing. Resin sealing can be performed without generating voids in the stopper.
In addition, since the air vent is provided in communication with the dummy cavity, the action of trapping air in the dummy cavity is more preferable, and the resin can be more preferably sealed without generating a void.
また、キャビティの平面形状に合わせて形成されたキャビティブロックと、該キャビティブロックを囲む配置に、型開閉方向に可動に設けられたクランパとを備え、被成形品を圧縮成形方法によって樹脂封止する樹脂封止金型であって、前記クランパのクランプ面に、該クランパの内側面に一端側を臨ませて前記ダミーキャビティを構成するためのダミーキャビティ凹部が設けられていることを特徴とする。
また、前記被成形品をクランプして樹脂封止する樹脂封止領域が、真空チェンバーによって包囲される配置に設けられ、該真空チェンバーの内部を真空排気する真空装置が設けられていることにより、樹脂封止部にボイドが発生することを抑制して好適な樹脂封止を行うことができる。
In addition, a cavity block formed in accordance with the planar shape of the cavity, and a clamper movably provided in the mold opening / closing direction in an arrangement surrounding the cavity block, the product to be molded is resin-sealed by a compression molding method. In the resin-sealed mold, a dummy cavity recess is provided on the clamp surface of the clamper so as to constitute the dummy cavity with one end facing the inner surface of the clamper.
In addition, a resin sealing region for clamping and molding the product to be molded is provided in an arrangement surrounded by a vacuum chamber, and a vacuum device for evacuating the inside of the vacuum chamber is provided. It is possible to perform suitable resin sealing while suppressing generation of voids in the resin sealing portion.
また、被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられた樹脂封止金型を用いて樹脂封止された半導体装置であって、前記電子部品の搭載領域が樹脂封止されたパッケージ部と、該パッケージ部の縁部に連結してダミー成形部が設けられたことを特徴とする。 In addition, a resin-sealing mold provided with a cavity for resin-sealing a mounting area of an electronic component mounted on a molded article, and a dummy cavity connected to the edge of the cavity and trapping air is used. A resin-sealed semiconductor device is characterized in that a mounting portion for mounting the electronic component is provided with a resin-sealed package portion, and a dummy molding portion is provided so as to be connected to an edge portion of the package portion.
本発明に係る樹脂封止金型によれば、被成形品の電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティに連結してダミーキャビティを設けたことにより、樹脂封止時にキャビティ内に残留するエアをダミーキャビティに追い込むようにして樹脂封止することができ、ダミーキャビティがエアのトラップとして作用することによって、電子部品の搭載領域にボイドを発生させないようにして被成形品を樹脂封止することができる。また、本発明に係る半導体装置は、信頼性の高い製品として提供することができる。 According to the resin-sealed mold according to the present invention, the air remaining in the cavity at the time of resin sealing is provided by connecting the mounting area of the electronic component of the molded product to the cavity for resin sealing and providing the dummy cavity. Can be encapsulated in the dummy cavity, and the dummy cavity can act as an air trap so that no voids are generated in the mounting area of the electronic component and the molded product is encapsulated. Can do. In addition, the semiconductor device according to the present invention can be provided as a highly reliable product.
以下、本発明に係る半導体装置およびこの半導体装置の製造に用いる樹脂封止金型の実施の形態について詳細に説明する。
(半導体装置の構成)
図1(a)は、本発明に係る半導体装置の一実施形態の構成を示す平面図、図1(b)は図1(a)のB−B線断面図である。
本実施形態の半導体装置20は基板10の一方の面に、半導体チップ等の電子部品が搭載された領域を樹脂封止するパッケージ部12が設けられ、パッケージ部12の4つのコーナー部にダミー成形部16が連結して形成されている。図1(b)に示すように、本実施形態においては、ダミー成形部16はパッケージ部12の厚さの1/2程度の厚さに設けられ、パッケージ部12と同様に、基板10の一方の面に被着している。
Hereinafter, embodiments of a semiconductor device according to the present invention and a resin-sealed mold used for manufacturing the semiconductor device will be described in detail.
(Configuration of semiconductor device)
FIG. 1A is a plan view showing a configuration of an embodiment of a semiconductor device according to the present invention, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG.
In the
図1(a)に示すように、ダミー成形部16は、パッケージ部12のコーナー部から対角線方向に所定長さ延出して形成される。ダミー成形部16はパッケージ部12を樹脂成形する際に同時に樹脂成形されるもので、パッケージ部12を樹脂成形するキャビティと、ダミー成形部16を樹脂成形するダミーキャビティを備えた樹脂封止金型を使用して樹脂成形することによって得られる。
As shown in FIG. 1A, the
本実施形態の半導体装置20は、パッケージ部12のコーナー部から外方にダミー成形部16を延出させた形状に樹脂成形部を設けたことにより、樹脂封止時にキャビティ内に残留するエアをダミー成形部16の側へ移動させ、ダミー成形部16へボイドを追い込むようにして樹脂封止することができ、これによって半導体チップが搭載されているパッケージ部12内には少なくともボイドを生じさせずに樹脂封止することが可能となり、信頼性の高い半導体装置として提供することが可能になる。
In the
(樹脂封止装置の構成)
図2〜4は上述した半導体装置20の製造に使用する樹脂封止装置の主要構成部分である樹脂封止金型の構成と、この樹脂封止金型を使用して樹脂封止する工程を示す。
以下では、まず、図2、3にしたがって樹脂封止金型の構成について説明する。
本実施形態の樹脂封止金型は、被成形品30がセットされる下型40と、下型40に対向して上型側に配置されたキャビティブロック42と、キャビティブロック42を囲む配置の矩形枠状に形成されたクランパ44とを備える。キャビティブロック42は上型ベース46に支持され、クランパ44は上型ベース46に支持された弾発スプリング48により、キャビティブロック42の端面よりもクランプ面を下型40に向けて突出させて支持されている。
(Configuration of resin sealing device)
2 to 4 show a configuration of a resin sealing mold which is a main component part of the resin sealing device used for manufacturing the
Below, first, the structure of the resin-sealed mold will be described with reference to FIGS.
The resin-sealed mold according to the present embodiment includes a
キャビティブロック42は被成形品30に搭載される半導体チップ等の電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティの平面配置に合わせて形成されている。
なお、本実施形態においては、被成形品30をクランプして樹脂封止する樹脂封止領域は真空チェンバー50によって包囲される形態に設けられ、真空チェンバー50はチェンバー排気路52を介して真空装置54に接続されている。
The cavity block 42 is formed in accordance with a planar arrangement of cavities for resin-sealing a mounting area of an electronic component such as a semiconductor chip mounted on the molded
In the present embodiment, the resin sealing region for clamping and molding the molded
本実施形態の樹脂封止金型において特徴的な構成は、クランパ44のクランプ面にダミーキャビティ凹部45aを形成したことにある。このダミーキャビティ凹部45aは、下型40との間で被成形品30をクランプした際に、被成形品30を樹脂封止するキャビティに連通してダミーキャビティ45を形成するためのものである。
図3に、キャビティブロック42とクランパ44を下型40側から見た状態を示す。前述したように、クランパ44はキャビティブロック42を囲む枠体状に形成され、ダミーキャビティ凹部45aはキャビティブロック42の各々のコーナー部に、クランパ44の内側面に一端側を臨ませるようにして設けられている。なお、キャビティブロック42はコーナー部を面取りして形成されており、ダミーキャビティ凹部45aはこの面取り位置に一端側を合わせて形成されている。
A characteristic configuration of the resin-sealed mold of this embodiment is that a dummy cavity recess 45 a is formed on the clamp surface of the
FIG. 3 shows a state in which the cavity block 42 and the
クランパ44のクランプ面にはリリースフィルム60をエア吸着するためのエア吸着孔44aが形成され、ダミーキャビティ凹部45aの内面にもエア吸着孔44bが形成される。これらのエア吸着孔44a、44bはクランパ44の内部に形成されたエア流路44cに連通して設けられ、エア流路44cはエア吸引機構56に接続される。
また、キャビティブロック42の外側面にはスリット溝が設けられ、キャビティブロック42をクランパ44の内側面に摺接するように装着した状態で、クランパ44の内側面との間でスリット孔42aが形成され、スリット孔42aはクランパ44の内部に形成されたエア流路44cに連通するように設けられる。
An air suction hole 44a for air suction of the
In addition, a slit groove is provided on the outer surface of the cavity block 42, and a slit hole 42 a is formed between the inner surface of the
なお、本実施形態では、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを共通のエア流路44cに連通させているが、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを別のエア流路に連通させ、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aとを別個にエア吸引機構に接続して、エア吸着孔44a、44bとスリット孔42aによるエア吸引操作を個別に制御するように構成することも可能である。 In the present embodiment, the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are communicated with a common air flow path 44c. However, the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are connected to different air flow paths. The air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a are separately connected to the air suction mechanism, and the air suction operation by the air suction holes 44a and 44b and the slit hole 42a is individually controlled. Is possible.
(樹脂封止工程)
続いて、上述した樹脂封止金型を備えた樹脂封止装置により被成形品30を樹脂封止する工程について説明する。
まず、樹脂封止金型を型開きした状態(図2)で、下型40に被成形品30をセットし、被成形品30の上にモールド用の樹脂32を供給する。本実施形態では圧縮成形方法によって被成形品30を樹脂封止する。したがって、所要量の樹脂32を計量して被成形品30の上に供給する。樹脂32としては液状樹脂、ペースト状樹脂等が使用できる。樹脂32は被成形品30を下型40にセットした後に供給してもよいし、金型外で被成形品30にあらかじめ樹脂32を供給して、樹脂32とともに被成形品30を金型内に搬入してセットしてもよい。
(Resin sealing process)
Then, the process of resin-sealing the to-
First, in a state where the resin-sealed mold is opened (FIG. 2), the molded
図2では、説明を簡略化するため、被成形品30を一つのキャビティによって樹脂封止する例を示すが、基板に搭載された複数の半導体チップごと、もしくは半導体チップをグループ化して樹脂封止するような場合には、各チップごとまたは各グループごとにキャビティを設け、各キャビティごとに所定量の樹脂32を供給して樹脂封止する。
FIG. 2 shows an example in which the molded
一方、上型には、クランパ44のクランプ面とキャビティ凹部の内側面および内底面にリリースフィルム60をエア吸着して支持する。クランパ44のクランプ面にはエア吸着孔44aによりリリースフィルム60がエア吸着され、ダミーキャビティ凹部45aにはエア吸着孔44bによりリリースフィルム60がエア吸着される。キャビティ凹部では、キャビティ凹部の底面側からキャビティブロック42の側面に位置するスリット孔42aによりリリースフィルム60がエア吸引され、キャビティ凹部の内面にならってリリースフィルム60がエア吸着される。
なお、リリースフィルム60には、樹脂32と容易に剥離し、金型の加熱温度に十分に耐えられる耐熱性を有し、エア吸引操作によってキャビティ凹部の内面に沿って容易にエア吸着される可撓性、伸縮性を備えているものが用いられる。
On the other hand, on the upper mold, the
The
下型40に被成形品30と樹脂32をセットし、上型にリリースフィルム60を支持した後、樹脂封止領域は外部から閉鎖された真空領域(真空チェンバー)に設定され、真空装置54が作動されて、チェンバー排気路52から真空チェンバー50内が真空排気される。
図2は、真空チェンバー50内が真空排気され、キャビティ凹部の内面にリリースフィルム60がエア吸着された状態を示す。クランパ44とキャビティブロック42とによって形成されたキャビティ凹部の内面に、リリースフィルム60を確実にエア吸着できるように、エア吸引機構56の真空度を真空チェンバー50の真空度よりも高真空に設定する。
After setting the molded
FIG. 2 shows a state in which the inside of the
真空チェンバー50内が所定の真空度に達したら、下型と上型のいずれか可動型側を被成形品30をクランプする位置まで移動させ、下型と上型とで被成形品30をクランプする。図4は、クランパ44のクランプ面が被成形品30の表面に当接した状態を示す。
クランパ44が被成形品30に当接することによって、キャビティ43が形成され、クランパ44のダミーキャビティ凹部45aが形成された部位ではダミーキャビティ45が形成される。樹脂32はキャビティ43内に収容される。
真空チェンバー50は真空装置54により続けて真空排気され、リリースフィルム60もエア吸引機構56により続けてエア吸引される。
When the inside of the
A
The
次に、図4に示す状態から、可動型側を型締め位置まで移動させ、キャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32を充填して被成形品30を樹脂封止する。図5は、被成形品30を樹脂封止した状態を示す。
可動型側を型締め位置(樹脂封止位置)まで移動させることにより、キャビティ43およびダミーキャビティ45に樹脂32が充填され、キャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32が充填された状態で保圧して樹脂32を硬化させる。
Next, from the state shown in FIG. 4, the movable mold side is moved to the mold clamping position, the
By moving the movable mold side to the mold clamping position (resin sealing position), the
なお、圧縮成形では、可動型を型締め位置まで徐々に移動させていくにしたがってキャビティ43とダミーキャビティ45に樹脂32が充填されていく。本実施形態では樹脂封止領域が真空チェンバー50に収容され、キャビティ43とダミーキャビティ45は減圧下で樹脂封止されるから、キャビティ43内の残留エアによって封止樹脂中にボイドが発生することを効果的に抑えることが可能である。
しかしながら、減圧下で樹脂封止した場合でも、実際には、僅かながらボイドが発生する。本実施形態の樹脂封止操作による場合は、可動型を型締め位置まで移動させる際に、樹脂32はキャビティ43側からダミーキャビティ45側に移動していき、最終的にダミーキャビティ45に樹脂32が充填されて樹脂封止される。したがって、樹脂32が硬化完了するまで真空チェンバー50内を真空排気するようにすると、樹脂32が最後に充填されるダミーキャビティ45からエアを吸引させる作用が生じ、キャビティ43内の残留エアがダミーキャビティ45に追い込まれるように作用することと、ダミーキャビティ45から残留エアが真空排気されることによって、キャビティ43およびダミーキャビティ45にエアが残留することを防止し、またダミーキャビティ45に残留エアをトラップさせる作用によって、樹脂成形部の本体であるパッケージ部12にボイドを生じさせないようにして樹脂封止することが可能となる。
In the compression molding, the resin 32 is filled into the
However, even when resin sealing is performed under reduced pressure, a slight void is actually generated. In the case of the resin sealing operation of the present embodiment, when the movable mold is moved to the mold clamping position, the resin 32 moves from the
このように、樹脂封止領域を減圧して樹脂封止する際に、キャビティ43に連通させてキャビティ43の外側にダミーキャビティ45を配する方法は、キャビティ43内の残留エアをダミーキャビティ45に導く作用があるが、ダミーキャビティ45にトラップされたエアをより積極的にキャビティ外に排出させる方法、あるいはダミーキャビティ45に残留エアをより積極的に導く方法として、ダミーキャビティ45にエアベントを接続させる方法が有効である。
As described above, when the resin sealing region is depressurized and sealed with resin, the
図1に、ダミー成形部16に接続してエアベント45bを設ける例を破線によって示している。すなわち、クランパ44にダミーキャビティ凹部45aを形成するとともに、ダミーキャビティ凹部45aに接続する配置にクランプ面にエアベント45bを設けておく。このように、クランパ44のクランプ面にダミーキャビティ凹部45aに連通するエアベント45bを設けると、減圧下においては、被成形品30を下型40とクランパ44とでクランプした際に、エアベント45bからダミーキャビティ45を介してキャビティ43からエアを排出させることができ、ダミーキャビティ45に残留エアを追い込む作用と同時にダミーキャビティ45に残留エアを引き込む作用が生じて、ダミーキャビティ45により効果的にエアをトラップさせ、ダミーキャビティ45から残留エアを排出させることが可能になる。これによって、封止樹脂中にボイドが発生することをさらに効果的に防止することができる。
In FIG. 1, the example which provides the air vent 45b by connecting to the dummy shaping | molding
本実施形態のようにキャビティ43の外側にダミーキャビティ45を連結する構成とし、樹脂封止時にキャビティに閉じこめられたエアをダミーキャビティ45側に移動させ、ダミーキャビティ45にエアをトラップさせて樹脂封止する方法は、上述した減圧操作を利用して樹脂封止する場合に限られるものではない。
キャビティ内のエアをダミーキャビティ側に移動させてダミーキャビティにトラップさせる方法としては、たとえばトランスファモールド方法のように、キャビティ内における樹脂の流れ方向(充填方向)がある程度予想できるものについては、最終的に樹脂が充填される側にダミーキャビティを配置して樹脂封止すればよい。また、圧縮成形による場合も、キャビティの周縁部側にダミーキャビティを設けることによって、ダミーキャビティには最後に樹脂が充填されるようになるから、ダミーキャビティにエアをトラップさせ、半導体素子が搭載されているパッケージ部12にはボイドを発生させずに樹脂封止することが可能になる。
As in this embodiment, the
As a method of moving the air in the cavity to the dummy cavity side and trapping it in the dummy cavity, for example, a method that can predict the resin flow direction (filling direction) in the cavity to some extent, such as the transfer molding method, is the final. A dummy cavity may be disposed on the side filled with resin and sealed with resin. Also in the case of compression molding, by providing a dummy cavity on the peripheral edge side of the cavity, the dummy cavity will be filled with resin at the end, so air is trapped in the dummy cavity and the semiconductor element is mounted. The package portion 12 can be sealed with resin without generating voids.
また、減圧操作を併用しないで樹脂封止する場合においても、ダミーキャビティを設ける際に、上述したと同様に、ダミーキャビティにエアベントを連通させる配置とすることにより、エアベントからキャビティ内のエアが排出されるから、キャビティ内の残留エアがダミーキャビティに導かれる作用が生じ、エアベントを設けない場合にくらべて、より効果的にダミーキャビティにエアをトラップさせて樹脂封止することが可能になる。 Even when resin sealing is performed without using a decompression operation, when the dummy cavity is provided, air in the cavity is discharged from the air vent by arranging the air vent to communicate with the dummy cavity, as described above. As a result, the residual air in the cavity is guided to the dummy cavity, and it becomes possible to trap the air in the dummy cavity and seal the resin more effectively than when no air vent is provided.
なお、樹脂封止金型に設けるキャビティに連結してダミーキャビティを設ける場合には、図1に示すように、キャビティのコーナー部に連結する場合に限るものではなく、キャビティの辺部分の中間にダミーキャビティを連結するといったことも可能である。また、キャビティに連結して配置するダミーキャビティの数も、適宜選択可能であり、たとえばキャビティのコーナー部のいくつかを選択して設けることも可能である。 In addition, when connecting with the cavity provided in a resin sealing metal mold | die and providing a dummy cavity, as shown in FIG. 1, it is not restricted to the case where it connects with the corner part of a cavity, It is in the middle of the side part of a cavity. It is also possible to connect dummy cavities. Further, the number of dummy cavities arranged in connection with the cavities can also be selected as appropriate, and for example, some of the corners of the cavities can be selected and provided.
また、キャビティの形状も、上述した実施形態のように平面形状が正方形のものの他に、長方形のもの、窓付き形状のもの、非対称形状のものであってもよく、その形状がとくに限定されるものではない。
なお、金型のダミーキャビティに対応して形成されるダミー成形部16は、金型のキャビティに対応して形成されるパッケージ部12と一体的に最終製品に残留し、ダミー成形部16が製造工程で除去されるものではない。したがって、ダミー成形部16を除去する工程が必要ないという利点もある。
Further, the shape of the cavity may be a rectangular shape, a shape with a window, or an asymmetric shape in addition to a square shape as in the above-described embodiment, and the shape is particularly limited. It is not a thing.
The
上述した実施形態ではリリースフィルム60を用いて樹脂封止する例について説明したが、本発明は、リリースフィルムを使用しない樹脂封止方法にももちろん適用することができる。
また、上記実施形態は基板10の片面に半導体チップが搭載され、基板10の片面を樹脂封止する例であるが、本発明は、基板の両面を樹脂封止する製品についても同様に適用することが可能である。また、樹脂封止する対象である被成形品についても配線基板に半導体チップを搭載した製品の他、リードフレームに半導体チップを搭載した製品等、樹脂封止方法によって製造する製品については同様に適用可能である。
In the embodiment described above, the example of resin sealing using the
Moreover, although the said embodiment is an example in which a semiconductor chip is mounted on one side of the
10 基板
12 パッケージ部
12a ボイド
14a 樹脂
16 ダミー成形部
20 半導体装置
30 被成形品
32 樹脂
40 下型
42 キャビティブロック
42a スリット孔
43 キャビティ
44 クランパ
44a、44b エア吸着孔
44c エア流路
45 ダミーキャビティ
45a ダミーキャビティ凹部
45b エアベント
50 真空チェンバー
54 真空装置
56 エア吸引機構
60 リリースフィルム
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記被成形品に搭載された電子部品の搭載領域を樹脂封止するキャビティと、該キャビティの縁部に連結して、エアをトラップするダミーキャビティが設けられたことを特徴とする樹脂封止金型。 In a resin-sealing mold that is mounted on a resin sealing device and clamps the molded product and fills the cavity with resin, thereby sealing the molded product with resin,
A resin-sealing metal, comprising: a cavity for resin-sealing a mounting area of an electronic component mounted on the molded article; and a dummy cavity for trapping air connected to an edge of the cavity Type.
前記ダミーキャビティが、前記キャビティのコーナー部に各々連結して設けられていることを特徴とする請求項1または2記載の樹脂封止金型。 The cavity has a rectangular planar shape,
3. The resin-sealed mold according to claim 1, wherein the dummy cavities are respectively connected to corner portions of the cavities.
該キャビティブロックを囲む配置に、型開閉方向に可動に設けられたクランパとを備え、被成形品を圧縮成形方法によって樹脂封止する樹脂封止金型であって、
前記クランパのクランプ面に、該クランパの内側面に一端側を臨ませて前記ダミーキャビティを構成するためのダミーキャビティ凹部が設けられていることを特徴とする請求項1記載の樹脂封止金型。 A cavity block formed in accordance with the planar shape of the cavity;
A resin-sealing mold that includes a clamper that is movably provided in the mold opening and closing direction in an arrangement surrounding the cavity block, and that seals a molded product by a compression molding method,
The resin-sealed mold according to claim 1, wherein a dummy cavity recess is provided on the clamp surface of the clamper so as to constitute one of the dummy cavities with one end facing the inner side surface of the clamper. .
該真空チェンバーの内部を真空排気する真空装置が設けられていることを特徴とする請求項4記載の樹脂封止装置。 A resin sealing area for clamping and molding the molded article with resin is provided in an arrangement surrounded by a vacuum chamber,
The resin sealing device according to claim 4, wherein a vacuum device for evacuating the inside of the vacuum chamber is provided.
前記電子部品の搭載領域が樹脂封止されたパッケージ部と、該パッケージ部の縁部に連結してダミー成形部が設けられたことを特徴とする半導体装置。 Resin sealing using a resin-sealing mold provided with a cavity for resin-sealing the mounting area of the electronic component mounted on the molded product and a dummy cavity connected to the edge of the cavity and trapping air A stopped semiconductor device,
A semiconductor device comprising: a package portion in which a mounting region of the electronic component is sealed with resin; and a dummy molding portion provided in connection with an edge portion of the package portion.
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KR20170009501A (en) * | 2015-07-17 | 2017-01-25 | 한미반도체 주식회사 | Semiconductor Molding Apparatus |
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