JP2006524533A5 - - Google Patents

Claims (23)

1. 磁性粒子を投入された検査対象物の検査エリアにおける、機械的、物理的、化学的及び／又は生物学的な特性又は状態変数、及び／又は機械的、物理的、化学的及び／又は生物学的な特性又は状態変数の変化の空間分解測定を、
   ａ）前記検査エリアにおいて、相対的に低い磁場の強さを持つ第１の部分エリアとこれより高い磁場の強さを持つ第２の部分エリアとを生成するように、磁場の強さの空間プロファイルを用いて前記磁場を生成するステップ、
   ｂ）前記磁性粒子の少なくとも幾つかが振動又は回転するように、当該低い磁場の強さを持つ前記第１の部分エリアにおいて重ねられた振動又は回転磁場を少なくとも部分的に生成するステップ、
   ｃ）少なくとも１つの放射源を用いて前記検査エリアに電磁放射線を照射するステップ、及び
   ｄ）少なくとも１つの検出器を用いて反射及び／又は散乱した前記電磁放射線を検出し、前記反射及び／又は散乱した電磁放射線の強さ、吸収及び／又は偏光を判定するステップ
   を実行する装置の方法。
2. 前記検査エリアにおける前記２つの部分エリアの特に相対的な空間位置は、前記粒子の磁化が局部的に変化するように変更され、この変更により影響を及ぼされる前記検査エリアにおける磁化に依存する信号は、前記検査エリアにおける磁性粒子の空間分布及び空間分布の変化に関する情報を得るために、検出及び評価されることを特徴とする請求項１に記載の方法。
3. 前記磁性粒子は、有効な異方性を持つ超常磁性粒子、強磁性のモノドメイン粒子であって、当該粒子がなお懸濁液においてのみ超常磁性の態様をとるのに十分である有効な異方性を持つ強磁性のモノドメイン粒子、異方性を持つ軟質磁性粒子、及び／又は硬質磁性粒子であることを特徴とする請求項１又は２に記載の方法。
4. 前記磁性粒子は、前記検査エリアにおいて液体、粘性若しくはゲル状の外殼にあるか、又は前記外殼に投入されるかであることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の方法。
5. 使用される前記電磁放射線は、マイクロ波、赤外線、ＶＩＳ、紫外線及び／又はＸ線放射線であることを特徴とする請求項１、２、３又は４に記載の方法。
6. 少なくとも１つの光学造影剤、特に蛍光造影剤が前記検査エリアに投入される又は存在していることを特徴とする請求項１乃至５の何れか一項に記載の方法。
7. 前記散乱及び／又は反射した電磁放射線は、方向に依存して検出され評価されることを特徴とする請求項１乃至６の何れか一項に記載の方法。
8. 前記散乱及び／又は反射した電磁放射線の強さの変化は、振動モード又は回転速度の関数として検出されることを特徴とする請求項１乃至７の何れか一項に記載の方法。
9. 少なくとも１つの特定波長及び／又は波長スペクトルからなる電磁放射線が用いられることを特徴とする請求項１乃至８の何れか一項に記載の方法。
10. 前記放射源は、特にカテーテル又は内視鏡に組み込まれた光学ファイバ又は複数の光学ファイバであることを特徴とする請求項１乃至９の何れか一項に記載の方法。
11. 前記コイル装置を稼動させる及び／又は動かすことにより、低い磁場の強さを持つ前記部分エリアが移動するか、又は低い磁場の強さを持つ静止した部分エリアの場合、前記検査対象物が移動するか、若しくは前記検査対象物及び低い磁場の強さを持つ前記部分エリアが同時に相対的に移動するかであることを特徴とする請求項１乃至１０の何れか一項に記載の方法。
12. 請求項１乃至１１の何れか一項に記載の方法を実行する装置において、
    ａ）前記検査対象物の少なくとも１つの検査エリアに勾配磁場を生成するための少なくとも１つのデバイスであり、低い磁場の強さを持つ第１の部分エリアと、高い磁場の強さを持つ第２の部分エリアとを前記検査エリアに生成するように、磁場の強さの空間プロファイルを用いて前記磁場を生成する手段を有するデバイス、
    ｂ）前記磁性粒子の少なくとも幾つかが振動又は回転するように、低い磁場の強さを持つ前記第１の部分エリアにおいて重ねられた振動又は回転磁場を少なくとも部分的に生成する手段、
    ｃ）電磁放射線を生じさせるための少なくとも１つの放射源、及び
    ｄ）反射及び／又は散乱した前記電磁放射線を記録するための少なくとも１つの検出器
    を有する装置。
13. 前記粒子の磁化が局所的に変化するように、前記検査エリアにおける前記２つの部分エリアの特に相対的な空間位置を変更する手段と、この変更により影響が及ぼされる前記検査エリアにおける前記磁化に依存する信号を検出する手段と、前記検査エリアにおける前記磁性粒子の空間分布に関する情報を得るために、前記信号を評価する手段とをさらに有する請求項１２に記載の装置。
14. 前記磁場を生成する前記手段は、前記検査エリアの前記第１の部分エリアにおいて、その向きを反転させ、零交差を持つ勾配磁場を生成するための勾配コイル装置を有することを特徴とする請求項１２又は１３に記載の装置。
15. 前記検査エリアにおいて前記２つの部分エリアを動かすことを目的に、前記勾配磁場に重ねられる時間で変化する磁場を生成する手段を特徴とする請求項１２、１３又は１４に記載の装置。
16. 前記検査エリアにおいて時間による前記磁化の変化により誘導される信号を入力するためのコイル装置を特徴とする請求項１２、１３、１４又は１５に記載の装置。
17. 勾配磁場に重ねられる前記第１及び少なくとも第２の磁場を生成する手段を備え、前記第１の磁場は、時間に関し相対的に緩慢でかつ相対的に大なる振幅で変化し、前記第２の磁場は、時間に関しそれよりも俊敏でかつ小なる振幅で変化することを特徴とする請求項１２乃至１６の何れか一項に記載の装置。
18. 前記２つの磁場は本質的に前記検査エリアにおいて互いに直交していることを特徴とする請求項１７に記載の装置。
19. 前記放射源と前記検査エリアとの間に少なくとも１つのモノクロメータ、チョッパー及び／又は偏光子があることを特徴とする請求項１２乃至１８の何れか一項に記載の装置。
20. 前記放射源はレーザーであることを特徴とする請求項１２乃至１９の何れか一項に記載の装置。
21. 前記検出器と前記検査エリアとの間に特に偏光フィルタ形式である少なくとも１つの分析器及び／又は１つのモノクロメータがあることを特徴とする請求項１２乃至２０の何れか一項に記載の装置。
22. 検出された放射信号を決定及び／又は評価する評価ユニットを特徴とする請求項１２乃至２１の何れか一項に記載の装置。
23. 前記検出器は、カメラであるか、又はカメラ及び／又はマイクロプロセッサその他の評価ユニットに接続され若しくは有効接続状態にあることを特徴とする請求項１２乃至２２の何れか一項に記載の装置。