JP2006504299A - フェイルセーフ方法及び回路 - Google Patents

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Abstract

ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成する方法及びフェイルセーフ回路は、一定スイッチレベルを供給する第1のインバータ段(10,18)と、前記入力パッド(28)の信号レベルに依存する可変スイッチレベルを供給し、前記第1のインバータ段(10,18)の前記一定スイッチレベルを前記第2のインバータ段(32,44)の前記可変スイッチレベルと比較し、前記第2のインバータ段(32,44)の前記可変スイッチレベルが前記一定スイッチレベルよりも高い場合に、出力信号をその出力端子(42)に供給する第2のインバータ段(32,44)と、前記第2のインバータ段(32,44)と直列に接続され、前記第2のインバータ段(32,44)の前記可変スイッチレベルを減少させる付加的な回路要素(52)と、を備えている。

Description

本発明は、ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成するフェイルセーフ方法及び回路に関する。
システムレベルでの望ましくない挙動は、入力ピンが接続されていない場合に起こる。これらの入力ピンが浮遊状態のまま放置されるならば、熱雑音に起因した望ましくないスイッチングを引き起こすであろう。スイッチング中の熱雑音を防止するため、開放フェイルセーフ機構が付加される。開放フェイルセーフ機構は、入力ピンが接続されていない場合に限り起動させられる。開放フェイルセーフ機構は、開放(無効信号レベル)が検出されたときに、切断されているケーブルの入力端子を規定されたレベルまで引っ張る。開放フェイルセーフ機構は、入力ピンが接続されていない場合におけるシステムレベルでの望ましくない挙動を防止する。コンパレータ、ダイオード、MOSFET又は高しきい値入力段等の複数の選択肢が考えられる。
開放フェイルセーフ機構は、低電圧差動通信(LVDS)製品において使用される。LVDSにおいて、小さい差動信号はデータ情報を伝達するために使用される。適用可能な規格は、TIA/EIA−644である。この規格TIA/EIA−644には、LVDSインタフェース回路の電気特性を使用する他の規格及び仕様は、特定の相互接続回路をある種の故障状態に対してフェイルセーフにさせなければならないことが記載されている。このような故障状態は、電源遮断状態のジェネレータ、ジェネレータに接続されていない受信機、開放状態の相互接続ケーブル、短絡状態の相互接続ケーブル、異常な期間(適用対象に依存)に亘って遷移領域の範囲内(±100mV)に留まる負荷への入力信号等の状態のうちの一つ以上の状態を含む。上記故障状態のうちの一つ以上の状態の検出が指定された適用対象により要求されるとき、負荷に付加的な対策を講じる必要があり、以下の項目、即ち、故障検出を必要とする相互接続回路、検出すべき故障、故障検出時に行われるべき動作、受信機に想定されるバイナリ状態、この規格に違反せずに実行されること、を決定し指定しなければならない。故障状態の検出方法は適用対象に依存し、この規格の適用範囲外であるため、これ以上は指定されない。
米国特許公報第6,288,577B1号(特許文献1)は、高い同相電圧を許容することができるフェイルセーフ回路を開示する。V+とV−との差動信号を受け入れる差動増幅器からの出力は、例えば、V+ライン、V−ラインが開放しているようなフェイルセーフ状態が検出されたとき、NORゲートによって阻止される。プルアップ抵抗は、開放故障の発生時にV+、V−をVCCまで引っ張る。コンパレータのペアは、非反転入力上の基準信号を受け取る。一方のコンパレータはV+ラインが上記基準電圧を上回るときにハイを出力し、もう一方のコンパレータはV−ラインが上記基準電圧を上回るときにハイを出力する。V+とV−が共に基準電圧を上回るとき、NORゲートは差動増幅器からの出力を阻止し、フェイルセーフ出力信号を供給する。基準電圧はVCCに非常に近いので、高い同相バイアスはフェイルセーフ回路を誤動作させることなくV+、V−に存在する。
米国特許公報第6,288,577B1号は、入力ラインが開放状態である場合に入力ラインをVCCまで引っ張るフェイルセーフ回路を使用する。さらに、この特許は、差動信号V+とV−の一方を、VCCの97%に一致する基準電圧と比較するためにアナログコンパレータを使用する。さらに、コンパレータから所要の性能を得るために、バイポーラトランジスタが必要とされる。
米国特許公報第6,320,406B1号(特許文献2)は、LVDS受信機に対して有効なフェイルセーフ方法及び装置を開示し、受信機の入力ピンで差動電圧を監視し、有効入力信号が無い場合に、即ち、入力差動信号が約80mVである選択されたしきい値未満であるときに、出力を従来の論理ハイ状態へ駆動するため、ウィンドウコンパレータを使用する。このような状態は、ケーブルが取り外されているか、又は、有効入力信号が現れないような形で破損しているときに起こる。有効入力信号が存在する場合、回路の出力は信号が劣化することなく差動入力に追従する。
米国特許公報第6,320,406B1号は、入力を妨げる非常に小さい差動電圧を検出するLVDS受信機を開示する。二つの差動入力AとBとの間でプル抵抗を用いることにより、両方の入力電圧は開放状態で相互に引き寄せられる。ウィンドウコンパレータは、この信号差が80mVを下回るかどうかをチェックする。コンパレータはアナログ回路であり、バイポーラトランジスタを組み込み、少なくとも一つの基準電流源を必要とする。タイマは、開放フェイルセーフが出力信号に直接的に影響することを防止する。タイマが省かれるならば、開放フェイルセーフ検出は、総ての信号遷移で動作させられるであろう。
米国特許公報第6,288,577B1号 米国特許公報第6,320,406B1号
本発明の目的は、ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成するフェイルセーフ方法及び回路を提供することである。
本発明の上記目的を達成するため、ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成する方法であって、第1のインバータ段において一定スイッチレベルを供給し、第2のインバータ段において前記入力パッドの信号レベルに依存する可変スイッチレベルを供給し、前記第1のインバータ段の前記一定スイッチレベルを前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルと比較し、前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルが前記一定スイッチレベルよりも高い場合に、出力信号をその出力端子に供給し、前記第2のインバータ段と直列に接続された付加的な回路要素によって前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルを減少させ、規定された出力が入力パッドの開放状態とは無関係に生成される、ことを含むことを特徴とする方法が開示される。
本発明の上記目的を達成するため、ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成するフェイルセーフ回路であって、一定スイッチレベルを供給する第1のインバータ段と、前記入力パッドの信号レベルに依存する可変スイッチレベルを供給し、前記第1のインバータ段の前記一定スイッチレベルを前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルと比較し、前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルが前記一定スイッチレベルよりも高い場合に、出力信号をその出力端子に供給する第2のインバータ段と、前記第2のインバータ段と直列に接続され、前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルを減少させる付加的な回路要素と、を備えていることを特徴とするフェイルセーフ回路が開示される。
上記の方法及び回路の有利な特長は、電流ミラー、バンドギャップ、又は、その他のアナログ部品が不必要であることである。本発明は、チューニングの必要がほとんどないので、容易に実施することができる。レイアウトをシミュレートし、レイアウトに適合させることが容易である。使用されるダイ面積は、非常に小さい。プロセスの依存関係が削減される。スイッチレベルは、プロセスパラメータ変動によってほとんど変化しないことがシミュレーションによって示された。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記第1のインバータ段はトランジスタ段であり、前記第1のインバータ段のトランジスタのゲート電極及びドレイン電極は相互接続されている。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記第2のインバータ段はトランジスタ段であり、前記第2のインバータ段のトランジスタのゲート電極は相互接続され、前記トランジスタのドレイン電極は相互接続されている。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記第2のインバータ段のゲート電極は、前記第1のインバータ段のゲート電極に接続されている。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記入力パッドは、前記第2のインバータ段のソース電極に接続されている。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記出力端子は、前記第2のインバータ段のドレイン電極に接続されている。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタである。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタであり、前記トランジスタのゲートはVCCに接続され且つソースは接地され、規定された信号はハイレベル信号である。
本発明の好ましい実施の形態によれば、前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタであり、前記トランジスタのゲートは接地され且つソースはVCCに接続され、規定された信号はローレベル信号である。
本発明の上記目的を達成するため、入力端子、プルアップ回路、フェイルセーフ回路、信号処理回路及び出力端子を備え、前記フェイルセーフ回路は、上述の回路を含むことを特徴とするディジタル回路ユニットが開示される。
本発明を特徴付ける新規性の上記及び多様なその他の効果並びに特徴は、本明細書に添付されその一部を構成する特許請求の範囲において詳細に指摘されている。しかし、本発明、その効果、及び、本発明の使用によって達成される目的をより良く理解するために、本明細書のさらなる一部を構成する図面、並びに、本発明の好ましい実施の形態が説明され記述された以下の記載事項が参照されるべきである。
図1は、本発明のブロック図である。このブロック図には、プルアップ回路2の入力及びフェイルセーフ段4の入力端子に接続された入力パッドが備えられている。プルアップ回路2の出力は、フェイルセーフ段4の入力に接続されている。フェイルセーフ段4の出力は、信号処理段6の入力端子に接続されている。複数のその他の信号が信号処理段6に供給される。信号処理段6は、その出力に開放フェイルセーフ信号を供給する。
入力パッドが接続されず、従って、浮遊状態であるならば、電圧レベルはプルアップ回路2によってVCCまで引っ張られる。プルアップ回路2は、VCCに接続された抵抗又はトランジスタでもよい。フェイルセーフ段4は、入力信号が決められた信号レベルを有するかどうかを検出し、決められた信号レベルが無い場合には、適用対象に応じてVCC又はGNDへ切り替える。フェイルセーフ段4は、入力信号が浮遊状態であるならば、決められた信号レベルを信号処理段6に供給する。この開放状態が検出されても検出されなくても、次に、フェイルセーフ段4の出力信号は、フェイルセーフ段4のその他の出力信号又は内部信号と共に信号処理段6において処理される。
図2は、本発明の回路図である。図示された回路は、VCCに近づけられたスイッチレベルを有する。この回路は、一方側がVCCに接続され、他方側がトランジスタ10のソース電極12に接続された抵抗8を備えている。トランジスタ10はp型MOSFETである。トランジスタ10のゲート電極14は、トランジスタ18のゲート電極22に接続されている。トランジスタ18はn型MOSFETトランジスタである。トランジスタ10のドレイン電極16は、トランジスタ18のドレイン電極20に接続されている。トランジスタ18のソース電極24は、抵抗26に接続されている。抵抗26は、一方側において接地されている。ゲート電極14及び22は、ドレイン電極16及び20に接続されている。トランジスタ10の基板端子30は、VCCに接続されている。入力端子28は、トランジスタ32のソース電極36に接続されている。トランジスタ32はp型MOSFETである。トランジスタ32の基板端子38は、入力端子28に接続されている。トランジスタ32のゲート電極34は、ドレイン電極16及び20とゲート電極14及び22とに接続されている。ゲート電極34は、トランジスタ44のゲート電極48に接続されている。トランジスタ44はn型MOSFETである。トランジスタ32のドレイン電極40は、出力端子42とトランジスタ44のソース電極46とに接続されている。トランジスタ44のソース電極50は、トランジスタ52のドレイン電極54に接続されている。トランジスタ52はn型MOSFETである。トランジスタ52のゲート電極56は、VCCに接続されている。トランジスタ52のソース電極58は、接地されている。
図2の回路の動作を次に説明する。n型ウェル抵抗8及び26が短絡されているとする。トランジスタ10及び18のドレイン16及び20と、ゲート14及び22とは、いずれも相互に接続されている。これにより、トランジスタ10及びトランジスタ18の両方が開放状態であり、ドレイン16及び20並びにゲート14及び22の電圧が一定レベルを維持する安定状態が得られる。これは、この特定の電源電圧(VSP|VCC)におけるp型MOSFET10とn型MOSFET18との組み合わせのための「特定スイッチレベル」として定義される。
トランジスタ32及びトランジスタ44は、それぞれ、トランジスタ10及び18と同じ寸法を有している。トランジスタ32及び44のゲート34及び48はまた、ドレイン16及び20とゲート14及び22とに接続されるので、このスイッチレベルは、トランジスタ32及び44のゲート34及び48にも供給される。しかし、トランジスタ32のソース36には、VCCではなく入力信号in1が供給される。
次に、トランジスタ52のドレインとソースとが回路内において短絡されている場合を考える。トランジスタ32及びトランジスタ44に対する特定スイッチレベルはVSP|IN1で表され、トランジスタ10及び18に対する値(VSP|VCC)と同じ値である。入力信号in1が上昇を開始するとき、トランジスタ32とトランジスタ44との組み合わせに対する特定スイッチレベルVSP|IN1は増加する。それにもかかわらず、このレベルはVSP|VCCを超えないので、出力out1は低電圧を維持するが、その理由は、VSP|VCCがトランジスタ32及びトランジスタ44のゲート上で「ハイ」入力電圧であると考えられるからである。
入力信号in1が最終的にVCCと同じレベルに達するとき、VSP|VCCはVSP|in1と等しい。ドレイン16、20及びゲート14、22、34、48における電圧は、この場合、トランジスタ32及びトランジスタ44のゲート上の「ロー」入力信号であると考えられるので、出力42はGNDからVCCへ切り替わる。
ところで、この回路にはトランジスタ52が含まれている。トランジスタ52のゲート56はVCCに接続されて動作状態のn型MOSFETとなり、それがダイオードのように動作する(即ち、飽和中に電圧VDS.transistor52は、定電流と組み合わせられてこのトランジスタ52の両端間で降下する)。この電圧降下は、VSD.transistor52として定義される。これは、VSP|in1を減少させ(VSP|in1’として定義される)、入力in1がVCCに達する前に、条件VSP|in1’<VSP|in1が達成される。トランジスタ44のゲート48とソース50との間の過剰な電圧降下は、これをスイッチレベルに減少させる。トランジスタ52のチャネル長は、スイッチレベルに影響を与える。トランジスタ52のゲート長が増加させられるならば、VSD.transistor52も減少し、その結果としてVGS.transistor44が高くなるので、スイッチレベルがより一層下げられる。本明細書における適用例では、スイッチレベルはVCCを0.3ボルト下回った。
抵抗8及び26は静止電流を減少させるために設けられる。トランジスタ10とトランジスタ18との組み合わせは、この動作モード中にかなりの電流を導通させている。これらの抵抗は、製品ICCの仕様を満たすために回路に合わせて調節される。しかし、これらの抵抗8及び26は、スイッチレベルと、スイッチレベルのプロセス依存性とに多少の影響を与える。
図3は、本発明の回路図である。図示された回路は、GNDに近づけられたスイッチレベルを有する。この回路は、一方側がVCCに接続された抵抗60を備えている。抵抗60は、もう一方側がp型MOSFETトランジスタ62のソース電極64に接続されている。トランジスタ62の基板端子65は、VCCに接続されている。トランジスタ62のゲート電極66は、トランジスタ70のゲート電極74に接続されている。トランジスタ62のドレイン電極68は、トランジスタ70のドレイン電極72と、ゲート電極66とゲート電極74とに接続されている。ソース電極76は抵抗78に接続されている。抵抗78は、もう一方側がGNDに接続されている。p型MOSFETトランジスタ80のソース電極82は、VCCに接続されている。トランジスタ80の基板端子88もまた、VCCに接続されている。トランジスタ80のゲート電極84は、GNDに接続されている。トランジスタ80のドレイン電極86は、p型MOSFETトランジスタ90のソース電極92に接続されている。トランジスタ90の基板端子92は、VCCに接続されている。トランジスタ90のゲート電極96は、ドレイン電極68及び72とゲート電極66及び74とに接続される。ゲート電極96はまた、n型MOSFETトランジスタ100のゲート電極104に接続されている。トランジスタ90のドレイン電極98は、出力端子108とトランジスタ100のドレイン電極102とに接続されている。ソース電極106は、入力端子110に接続されている。
図3に示された回路の動作は、図2の動作と類似している。図3の回路は、GNDに近づけられたスイッチレベルを有する。この回路は、プルダウン回路と組み合わせて使用される。
図2及び図3に示されたセルは、入力信号が電源レールの一方の近くに位置するかどうかを検出することが可能である。この近さは、トランジスタ52(図2)又はトランジスタ80(図3)によって取り入れられたある種のオフセットとして指定可能である。図2の回路及び図3の回路のどちらが使用されるかは適用対象に依存する。開放が存在し、信号をVCCの近くまで引っ張る必要があるとき、図2の回路がこの場合に当てはまる。開放が存在し、信号をGNDの近くまで引っ張る必要があるとき、図3の回路がこの場合に当てはまる。本発明の有利な特徴は、フェイルセーフ部のために5個のトランジスタしか使用されないことである。
図4は、本発明の適用例を表す。図4には、入力端子112及び114に接続された差動信号段120が示されている。抵抗116は、一方側がVDDに接続され、もう一方側が入力端子114に接続されている。抵抗118は、一方側がVDDに接続され、もう一方側が入力端子112に接続されている。入力端子112は、インバータ126に接続されている。インバータ126の出力端子は、論理ゲート130、例えば、NANDゲートの入力端子に接続されている。インバータ126の入力端子は、インバータ124の出力端子に接続されている。インバータ124の出力端子は、インバータ124の入力端子に接続されている。2台のインバータ124及び126は、図2又は図3の回路を表す。インバータ124は、例えば、図2の2個のトランジスタ10及び18を表す。インバータ126は、例えば、トランジスタ32、44及び52を表す。インバータ124の入力端子からインバータ124の出力端子及びインバータ126の入力端子までの接続は、ドレイン電極16及び20とゲート電極14、22、34及び48との間の接続を表す。インバータ126の出力端子は、出力端子42を表す。入力端子112に接続されたインバータ126の入力端子は、図2の入力端子28を表す。入力端子114は、インバータ128に接続されている。インバータ128は、インバータ126がインバータ124に接続されるのと同じように、インバータ127に接続されている。インバータ127及び128は、原理的に、インバータ124及び126と同じ回路を表す。インバータ128の出力端子はまた、論理ゲート130に接続されている。論理ゲート130は、インバータ126及びインバータ128の出力信号を合成する。論理ゲート130の出力は、出力ユニット122に接続されている。インバータ120の出力端子はまた、出力ユニット122に接続されている。出力ユニット122は、インバータ120の出力信号と論理ユニット130の出力信号とを合成し、共通出力信号を生成する。
図4の実施の形態は、プルアップ抵抗116及び118と組み合わせて本発明を使用する。抵抗116及び118が十分に大きければ、これは正常動作に影響を与えない。
インバータのp型MOSFET32のソース36を入力端子として使用することにより、p型MOSFET対n型MOSFETの非常に小さい比率を有する必要がなくなる。段内の小さい不均衡は、VCCからオフセットしたしきい値に到達するために十分である。インバータ124及びインバータ126を備えている第1のフェイルセーフ段の出力と、インバータ127及び128を備えている第2のフェイルセーフ段の出力とは、論理ゲート130の入力端子に接続され、論理ゲートは、出力信号を合成し、必要に応じて、出力を開放フェイルセーフ状態に導く。
本発明は、例えば、低電圧差動通信(LVDS)の電気特性を満たす高速差動線受信機内に実施することが可能である。LVDSは、一般に使用される媒体上でより高いデータレートを達成するために使用される。LVDSは、従来の差動通信技術の達成可能なスルーレートの限界、及び、電磁波障害(EMI)の制限を打開する。
図5は、三つの異なる場合に対する入力信号及び対応する出力信号を表す。第1の場合は、正常な場合である。正常な場合においては、総ての入力ピンは、規定された入力電圧を有する。出力信号は、入力信号に対応する。
第2の場合は、本発明のフェイルセーフ段が無く、入力値が浮遊する場合における出力信号を表す。出力信号は、全く役に立たない予測できない信号を示す。
最後の場合は、少なくとも1個の入力信号が浮遊状態であり、本発明のフェイルセーフ段が使用される場合における出力信号を表す。この第3の場合は、信号が、使用可能な出力信号を生じる高レベルに引っ張られる場合の例を表す。
本明細書が対象とする本発明の新しい特徴及び効果は上記の説明に示されている。しかし、この開示内容はあらゆる観点において実例に過ぎないことが理解されるであろう。詳細、特に、部品の形状、寸法及び配置は、本発明の範囲を逸脱することなく変更される。本発明の範囲は、勿論、特許請求の範囲が表現されている言語で記載されている。
本発明のブロック図である。 スイッチレベルがVCCに近づけられた本発明の回路図である。 スイッチレベルがGNDに近づけられた本発明の回路図である。 本発明の適用例の回路図である。 本発明の効果を実証する入力信号及び対応する出力信号を表す図である。

Claims (11)

  1. ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成する方法であって、
    第1のインバータ段において一定スイッチレベルを供給し、
    第2のインバータ段において前記入力パッドの信号レベルに依存する可変スイッチレベルを供給し、
    前記第1のインバータ段の前記一定スイッチレベルを前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルと比較し、
    前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルが前記一定スイッチレベルよりも高い場合に、出力信号をその出力端子に供給し、
    前記第2のインバータ段と直列に接続された付加的な回路要素によって前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルを減少させ、
    規定された出力が入力パッドの開放状態とは無関係に生成される、
    ことを含むことを特徴とする方法。
  2. ディジタル回路ユニットの入力パッドが開放状態である場合にフェイルセーフ出力信号を生成するフェイルセーフ回路であって、
    一定スイッチレベルを供給する第1のインバータ段と、
    前記入力パッドの信号レベルに依存する可変スイッチレベルを供給し、前記第1のインバータ段の前記一定スイッチレベルを前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルと比較し、前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルが前記一定スイッチレベルよりも高い場合に、出力信号をその出力端子に供給する第2のインバータ段と、
    前記第2のインバータ段と直列に接続され、前記第2のインバータ段の前記可変スイッチレベルを減少させる付加的な回路要素と、
    を備えていることを特徴とするフェイルセーフ回路。
  3. 前記第1のインバータ段はトランジスタ段であり、前記第1のインバータ段のトランジスタのゲート電極及びドレイン電極は相互接続されていることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  4. 前記第2のインバータ段はトランジスタ段であり、前記第2のインバータ段のトランジスタのゲート電極は相互接続され、前記トランジスタのドレイン電極は相互接続されていることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  5. 前記第2のインバータ段のゲート電極は、前記第1のインバータ段のゲート電極に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  6. 前記入力パッドは、前記第2のインバータ段のソース電極に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  7. 前記出力端子は、前記第2のインバータ段のドレイン電極に接続されていることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  8. 前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタであることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  9. 前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタであり、前記トランジスタのゲートはVCCに接続され且つソースは接地され、規定された信号はハイレベル信号であることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  10. 前記付加的な回路要素は、飽和モードのトランジスタであり、前記トランジスタのゲートは接地され且つソースはVCCに接続され、規定された信号はローレベル信号であることを特徴とする請求項2に記載の回路。
  11. 入力端子、プルアップ段、フェイルセーフ段、信号処理段及び出力端子を備え、前記フェイルセーフ段は、請求項2乃至10のいずれかに記載の回路を含むことを特徴とするディジタル回路ユニット。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006123768A1 (ja) * 2005-05-19 2006-11-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 異常検出装置
WO2006123769A1 (ja) * 2005-05-19 2006-11-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 異常検出装置
JP2010183168A (ja) * 2009-02-03 2010-08-19 Seiko Epson Corp 集積回路装置、及び電子機器

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006324997A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 映像システム
GB0518193D0 (en) * 2005-09-07 2005-10-12 Trw Lucasvarity Electric Steer Current measurement circuit and method of diagnosing faults in same
US10666231B2 (en) * 2016-10-27 2020-05-26 Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ) Balun arrangement

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4709172A (en) * 1985-08-19 1987-11-24 Dallas Semiconductor Corporation Input-voltage detector circuit for CMOS integrated circuit
US4918336A (en) * 1987-05-19 1990-04-17 Gazelle Microcircuits, Inc. Capacitor coupled push pull logic circuit
JPH0575430A (ja) * 1991-09-12 1993-03-26 Mitsubishi Electric Corp 入力回路
US6320406B1 (en) * 1999-10-04 2001-11-20 Texas Instruments Incorporated Methods and apparatus for a terminated fail-safe circuit
US6288577B1 (en) * 2001-03-02 2001-09-11 Pericom Semiconductor Corp. Active fail-safe detect circuit for differential receiver

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006123768A1 (ja) * 2005-05-19 2006-11-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 異常検出装置
WO2006123769A1 (ja) * 2005-05-19 2006-11-23 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 異常検出装置
JP2006324996A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 異常検出装置
JP2006324995A (ja) * 2005-05-19 2006-11-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 異常検出装置
JP2010183168A (ja) * 2009-02-03 2010-08-19 Seiko Epson Corp 集積回路装置、及び電子機器
JP4670972B2 (ja) * 2009-02-03 2011-04-13 セイコーエプソン株式会社 集積回路装置、及び電子機器

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