JP2006343255A - 3次元形状測定装置及び方法 - Google Patents
3次元形状測定装置及び方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006343255A JP2006343255A JP2005170422A JP2005170422A JP2006343255A JP 2006343255 A JP2006343255 A JP 2006343255A JP 2005170422 A JP2005170422 A JP 2005170422A JP 2005170422 A JP2005170422 A JP 2005170422A JP 2006343255 A JP2006343255 A JP 2006343255A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- dimensional shape
- probes
- axis
- pair
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【解決手段】一対のプローブ20a,20bを、その先端同士が所定の間隔を開けて一直線状に対向するように配置し、被測定物1を、被測定物1の表面側及び裏面側がそれぞれ一対のプローブに対向するように位置させた後に、一対のプローブ20a,20bのお互いの位置関係を変更することなく、該一対のプローブ間における被測定物1の相対的な位置をスライド移動させて、一方のプローブにより被測定物1表面の3次元形状を測定し、次いで、他方のプローブにより被測定物1裏面の3次元形状を測定する。
【選択図】図1
Description
図6に示すように、従来の3次元形状測定装置100は、2組のプローブ101a,101bと、この2組のプローブを夫々独立に3次元的に移動させるためのX軸方向移動機構102と、該X方向移動機構102に直交するY軸方向移動機構103と、X軸方向及びY軸方向に直交し前記2組のプローブ101a,101bが取り付けられるZ軸方向移動機構104a,104bと、プローブの被測定物表面への接触圧を一定に制御する接触圧制御装置(図示せず)とを備えている。更に、被測定物200の周囲に、3つの基準球108a、108b、108cを備えている(例えば、特許文献1参照。)。
図1は、第1の実施の形態に係る3次元形状測定装置10の概略構成説明図である。
本実施の形態に係る3次元形状測定装置10は、一対のプローブ20a,20bと、一対のプローブ20a,20bが所定の間隔を開けて一直線状に対向するように取り付けられるプローブ固定部材20と、被測定物1を一対のプローブ20a,20b間で保持する被測定物保持部材30と、プローブ固定部材20に対する被測定物保持部材30の相対的な位置をスライド移動可能とするスライド機構41〜43と、プローブ固定部材20及び被測定物保持部材30の少なくとも一方を、スライド機構41〜43のスライド移動方向に移動させる移動手段51(スライド機構42及び43に対応する移動手段は不図示)と、プローブ固定部材20に対する被測定物保持部材30の相対的な移動量を測定する相対位置測定手段61〜63とを備えている。
本実施の形態に係る3次元形状測定装置11は、被測定物保持部材31が、スライド機構41の上面板24上に取り付けられている。また、枠状の枠体部71を有し、枠体部71の側板73、74には、プローブ固定部80a及び80bが取り付けられている。そして、プローブ固定部80a及び80bの対向面側には、一対のプローブ20a,20bが、その先端同士が所定の間隔を開けて、且つ、一直線状に対向するように取り付けられている。尚、プローブ20a,20bは、プローブ固定部80a及び80bに直接固定されていてもよいが、被測定物1に対する接触圧を測定する接触圧検知手段23a,23bを介して固定されることが好ましい。接触圧検知手段23a,23bとしては、第1の実施の形態におけるものと同様のものを選択することができる。その他の構成は、第1の実施の形態に係る3次元形状測定装置10と同様であるので、同一の部材には同一の符号を付して説明を省略する。
次に、本発明の実施の形態に係る3次元形状測定方法を説明する。
本発明の実施の形態に係る3次元形状測定方法は、所定の間隔を開けて一直線状に対向配置された一対のプローブ間に、被測定物を、被測定物の表面及び裏面がそれぞれ一対のプローブに対向するように位置させた後に、一対のプローブのお互いの位置関係を変更することなく、一対のプローブ間における被測定物の相対的な位置をスライド移動させて、一方のプローブによる被測定物の表面の3次元形状を測定し、次いで、他方のプローブによる被測定物の裏面の3次元形状を測定する。
まず、被測定物が、所定の間隔を開けて一直線状に対向配置された一対のプローブ間に、該被測定物の表面1a及び裏面1bが、一対のプローブの夫々に対向するように位置させられる(ステップS1)。
以上ステップS1からS3により、被測定物の表面1aと裏面1bの形状測定データを同一座標系のデータとして取得することができる。
20a,20b …プローブ
20、(80a,80b)…プローブ固定部材
30、31 …被測定物保持部材
41 …Z軸方向スライド機構
42 …X軸方向スライド機構
43 …Y軸方向スライド機構
51 …移動手段
61 …Z軸方向相対位置測定手段
62 …X軸方向相対位置測定手段
63 …Y軸方向相対位置測定手段
Claims (11)
- 被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定装置であって、
一対のプローブと、
前記一対のプローブが所定の間隔を開けて一直線状に対向するように取り付けられるプローブ固定部材と、
被測定物を前記一対のプローブ間で保持する被測定物保持部材と、
前記プローブ固定部材に対する前記被測定物保持部材の相対的な位置をスライド移動可能とするスライド機構と、
前記プローブ固定部材及び前記被測定物保持部材の少なくとも一方を、前記スライド機構のスライド移動方向に移動させる移動手段と、
前記プローブ固定部材に対する前記被測定物保持部材の相対的な移動量を測定する相対位置測定手段とを備えることを特徴とする3次元形状測定装置。 - 前記一対のプローブの配置方向と平行な方向をZ軸、該Z軸に直交する方向をX軸として、前記スライド機構が、Z軸方向及びX軸方向スライド機構を備える請求項1に記載の3次元形状測定装置。
- 前記Z軸及びX軸のそれぞれに直交する方向をY軸として、前記スライド機構が、Y軸方向スライド機構を備える請求項2に記載の3次元形状測定装置。
- 前記スライド機構が、前記被測定物保持部材に対して前記プローブ固定部材を移動させてなる請求項1から3のいずれかに記載の3次元形状測定装置。
- 前記スライド機構が、前記プローブ固定部材に対して前記被測定物保持部材を移動させてなる請求項1から3のいずれかに記載の3次元形状測定装置。
- 前記スライド機構が、前記プローブ固定部材及び前記被測定物保持部材を移動させてなる請求項1から3のいずれかに記載の3次元形状測定装置。
- 前記移動手段が、被測定物に対する前記プローブの接触圧が一定となるように、前記プローブ固定部材及び前記被測定物保持部材の少なくとも一方を移動させる請求項1から6のいずれかに記載の3次元形状測定装置。
- 被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方法であって、
所定の間隔を開けて一直線状に対向配置された一対のプローブ間に、被測定物を、該被測定物の表面及び裏面がそれぞれ該一対のプローブに対向するように位置させた後に、
前記一対のプローブのお互いの位置関係を変更することなく、前記一対のプローブ間における前記被測定物の相対的な位置をスライド移動させて、一方のプローブにより被測定物の表面の3次元形状を測定し、次いで、他方のプローブにより被測定物の裏面の3次元形状を測定することを特徴とする3次元形状測定方法。 - 前記一対のプローブの配置方向と平行な方向をZ軸、該Z軸に直交する方向をX軸として、前記一対のプローブ間における前記被測定物の相対的な位置を、Z軸方向及びX軸方向に移動させて被測定物の表面及び裏面の3次元形状を測定する請求項8に記載の3次元形状測定方法。
- 前記Z軸及びX軸のそれぞれに直交する方向をY軸として、前記一対のプローブ間における前記被測定物の相対的な位置を、Y軸方向に移動させて被測定物の表面及び裏面の3次元形状を測定する請求項9に記載の3次元形状測定方法。
- 前記一方のプローブを被測定物の表面に接触させて被測定物の3次元形状を測定し、次いで、前記他方のプローブを被測定物の裏面に接触させて被測定物の3次元形状を測定する請求項8から10のいずれかに記載の3次元形状測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005170422A JP2006343255A (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 3次元形状測定装置及び方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005170422A JP2006343255A (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 3次元形状測定装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006343255A true JP2006343255A (ja) | 2006-12-21 |
JP2006343255A5 JP2006343255A5 (ja) | 2008-08-07 |
Family
ID=37640316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005170422A Pending JP2006343255A (ja) | 2005-06-10 | 2005-06-10 | 3次元形状測定装置及び方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006343255A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101545750A (zh) * | 2008-03-25 | 2009-09-30 | 松下电器产业株式会社 | 透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法 |
CN114166119A (zh) * | 2021-11-29 | 2022-03-11 | 湖北亿纬动力有限公司 | 一种电池尺寸测量方法、装置、设备及存储介质 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0483101A (ja) * | 1990-07-26 | 1992-03-17 | Mitsubishi Materials Corp | 物品の寸法検査装置 |
JPH11160038A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-18 | Canon Inc | 3次元形状測定装置及び方法 |
JPH11344329A (ja) * | 1998-05-29 | 1999-12-14 | Canon Inc | 三次元形状測定装置 |
JP2000097684A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子の面間の位置関係を測定する方法および装置および同装置に用いる光学素子を保持する保持具 |
JP2002250622A (ja) * | 2000-12-18 | 2002-09-06 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子及びその型の形状測定方法及び装置 |
JP2005069775A (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Olympus Corp | 三次元形状測定方法 |
-
2005
- 2005-06-10 JP JP2005170422A patent/JP2006343255A/ja active Pending
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0483101A (ja) * | 1990-07-26 | 1992-03-17 | Mitsubishi Materials Corp | 物品の寸法検査装置 |
JPH11160038A (ja) * | 1997-12-02 | 1999-06-18 | Canon Inc | 3次元形状測定装置及び方法 |
JPH11344329A (ja) * | 1998-05-29 | 1999-12-14 | Canon Inc | 三次元形状測定装置 |
JP2000097684A (ja) * | 1998-09-22 | 2000-04-07 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子の面間の位置関係を測定する方法および装置および同装置に用いる光学素子を保持する保持具 |
JP2002250622A (ja) * | 2000-12-18 | 2002-09-06 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子及びその型の形状測定方法及び装置 |
JP2005069775A (ja) * | 2003-08-21 | 2005-03-17 | Olympus Corp | 三次元形状測定方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101545750A (zh) * | 2008-03-25 | 2009-09-30 | 松下电器产业株式会社 | 透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法 |
JP2009258098A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-11-05 | Panasonic Corp | レンズ測定装置、レンズ測定方法及びレンズ製造方法 |
TWI451065B (zh) * | 2008-03-25 | 2014-09-01 | Panasonic Corp | A lens measuring device, a lens measuring method, and a lens manufacturing method |
CN114166119A (zh) * | 2021-11-29 | 2022-03-11 | 湖北亿纬动力有限公司 | 一种电池尺寸测量方法、装置、设备及存储介质 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10648792B2 (en) | Measuring system and measuring method | |
CN109655023B (zh) | 用于确定工具定位机器的状态的系统 | |
CN109813336B (zh) | 惯性测量单元标定方法 | |
CN107407557B (zh) | 附接至坐标测量装置的可移动部分上的旋转装置的校准 | |
US6701268B2 (en) | Method for calibrating scanning probe and computer-readable medium therefor | |
JP5908102B2 (ja) | 接触走査式座標測定器の動作準備 | |
JPH1183438A (ja) | 光学式測定装置の位置校正方法 | |
CN108351203A (zh) | 利用基准模块对坐标测量机进行的误差补偿 | |
JP5297906B2 (ja) | 画像プローブの校正方法および形状測定機 | |
US7142313B2 (en) | Interaxis angle correction method | |
US9733056B2 (en) | Method for compensating lobing behavior of a CMM touch probe | |
Liu et al. | Binocular-vision-based error detection system and identification method for PIGEs of rotary axis in five-axis machine tool | |
US6701267B2 (en) | Method for calibrating probe and computer-readable medium | |
CN112697074B (zh) | 动态待测物角度测量仪及测量方法 | |
JP2000074662A (ja) | 座標軸直角度誤差の校正方法及び三次元形状測定装置 | |
JP2006145560A (ja) | 倣いプローブの校正プログラムおよび校正方法 | |
JP2005121370A (ja) | 表面形状測定装置および表面形状測定方法 | |
JP2006343255A (ja) | 3次元形状測定装置及び方法 | |
JP2000081329A (ja) | 形状測定方法及び装置 | |
JP2006078398A (ja) | 表裏面の偏心及び傾きの測定方法及びその装置 | |
JP3841273B2 (ja) | 倣いプローブの校正装置および校正プログラムおよび校正方法 | |
JP2018173349A (ja) | 表面形状測定機の校正装置 | |
JP6181935B2 (ja) | 座標測定機 | |
JP2006343256A (ja) | 3次元形状測定装置及び方法 | |
JP2009288227A (ja) | 三次元測定機 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080604 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080620 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100521 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100609 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20101026 |