JP2006338879A

JP2006338879A - 光学情報の記録方法および記録装置

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Publication number: JP2006338879A
Application number: JP2006259653A
Authority: JP
Inventors: Takashi Ishida; 隆石田; Mamoru Shoji; 衛東海林; Shunji Ohara; 俊次大原
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1993-12-17
Filing date: 2006-09-25
Publication date: 2006-12-14
Anticipated expiration: 2023-03-26
Also published as: JP4067110B2

Abstract

【課題】所望の長さの記録マークを精度良く形成するための光学情報の記録方法を提供することを目的とする。
【解決手段】光駆動波形４０４１を、基準信号４１００に対して駆動開始時刻がＢ１８（２，２）だけ遅延し、駆動終了時刻がＥ１８（２，４）だけ早く終了するように構成する。Ｂ１８（２，２）は、マーク始端部分での熱的状態が記録パターンによらず一定になるように、直前の無記録部分のあるべき長さＴ４１０１と記録マークのあるべき長さＴ４１０２の関数として決定される。Ｂ１８（２，４）は、マーク終端部分での熱的状態が記録パターンによらず一定になるように、記録マークのあるべき長さＴ４１０２と直後の無記録部分のあるべき長さＴ４１０３の関数として決定される。したがって、マークに始端終端とも所望の位置に形成できる。
【選択図】図４１

Description

本発明は、光学的に記録再生を行うための光学情報の記録方法および記録装置に関するものである。

レーザ光線を利用して情報の記録をおこなう光ディスクはすでに実用化されているが、一層の高密度化が求められている。高密度化の手段として、記録マークのエッジに情報を持たせるＰＷＭ（パルス幅変調）記録が提案されている。

従来の記録方法を図４８に示す。記録信号（４８ａ）に対して、おなじ駆動波形（４８ｂ）でレーザが駆動される（例えば特許文献１参照）。
特開平５−２３４０７９号公報（全頁、全図）

しかしながら従来の方法では、以下の問題点があった。

従来の方法では、光駆動波形（４８ｂ）の立ち上がり、立ち下がりは、記録信号（４８ａ）の立ち上がり、立ち下がりと一致しているが、記録光スポット５７０１は大きさがあるので、記録光スポットの照射される範囲（４８ｃ）の長さＷ５７０１は所望の時間Ｔ５７０１より長くなる。

従って、形成される記録マーク（４８ｄ）において、マーク始端部分は所望の位置より、ｄ５７０１だけ長くなってしまい、マーク終端部分は所望の位置よりｄ５７０２だけ長くなってしまう。

また、長さの異なる記録信号Ｔ５７０２を記録するときにも、同様にマーク始端部分でｄ５７０３、マーク終端部分でｄ５７０４だけ長くなるが、マーク始端についてはマーク長さによりマーク始端部分での熱履歴、特に昇温後の冷却条件が異なるので、ｄ５７０３≠ｄ５７０１となり、マーク終端についてはマーク長さにより熱蓄積が異なるので、ｄ５７０４≠ｄ５７０２となる。

さらに、Ｔ５７０１と同じ長さの記録信号Ｔ５７０３でも、前のマークとの間隔が異なる（Ｂ５７０３≠Ｂ５７０１）と、前回の記録パワーが今回のマーク始端部分へ及ぼす熱の影響が異なるので、マーク始端の伸びは異なり（ｄ５７０５≠ｄ５７０１）、さらに、次のマークとの間隔が異なる（Ａ５７０３≠Ａ５７０１）と、マーク終端部での熱履歴が異なるので、マーク終端の伸びが異なる。（ｄ５７０６≠ｄ５７０２）
このように、従来の方法では、所望の長さと異なる記録マークが形成され、さらに、その差異の量は、マークの長さ、前後のマークとの間隔によって異なるという問題点を有していた。

本発明は上記問題点に鑑み、所望の長さの記録マークを所望の位置に、精度よく形成するための光学情報の記録方法および記録装置を提供するものである。

本発明は、上記の課題を解決するために、レーザ光源からの光照射によって、記録媒体上に記録マークを形成することにより、光学情報を記録する場合に、次のように構成する。

第１の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更する。

この第１の発明の実現手段として、今回の記録信号出力期間を測定する第１の測定手段と、この第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延された記録信号の立ち上がりから遅延前の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第２の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークの記録すべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうち少なくとも最初の駆動開始時刻を変更する。

この第２の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、今回の記録信号出力期間を測定する第１の測定手段と、この第１の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段を設ける。

第３の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更する。

この第３の発明の実現手段として、光学情報の記録のための前回の一つの記録信号出力から今回の記録信号出力までの間に挟まれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号出力期間を測定する第２の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延後の記録信号の立ち上がりから遅延前の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第４の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更する。

この第４の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、前回の一つの記録信号出力から今回の記録信号出力までの間に挟まれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号出力期間を測定する第２の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第５の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、その記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよびその無記録部分をはさむ状態で位置する前回形成の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更する。

この第５の発明の実現手段として、光学情報の記録のための前回の一つの記録信号出力から今回の記録信号出力までの間に挟まれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、無信号期間の直前の前回の記録信号の出力期間を測定する第２の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第３の測定手段と、この第１、第２、第３の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延後の記録信号の立ち上がりから遅延前の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第６の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよびその無記録部分をはさむ状態で位置する前回形成の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更する。

この第６の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、前回の一つの記録信号出力から今回の記録信号出力までの間に挟まれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、無信号期間の直前の前回の記録信号出力期間を測定する第２の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第３の測定手段と、この第１、第２、第３の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第７の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、その記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の駆動終了時刻を変更する。

この第７の発明の実現手段として、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、この第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる遅延手段と、遅延前の記録信号の立ち上がりから前記遅延手段で遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第８の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第８の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、この第１の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第９の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動終了時刻を変更する。

この第９の発明の実現手段として、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の直後の無信号期間を測定する第２の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる遅延手段と、遅延前の記録信号の立ち上がりから前記遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１０の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第１０の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の直後の無信号期間を測定する第２の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる遅延手段と、この遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１１の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動終了時刻を変更する。

この第１１の発明の実現手段として、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、前記第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第１の遅延手段と、前記第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第２の遅延手段と、前記第１の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち上がりから前記第２の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１２の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第１２の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、第１の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる第１の遅延手段と、第１の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる第２の遅延手段と、この第１、第２の遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１３の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動終了時刻を変更する。

この第１３の発明の実現手段として、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の直後の無信号期間を測定する第２の測定手段と、前記第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第１の遅延手段と、前記第１と第２の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第２の遅延手段と、前記第１の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち上がりから前記第２の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１４の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第１４の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の直後の無信号期間を測定する第２の測定手段と、第１の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる第１の遅延手段と、第１、第２の両測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる第２の遅延手段と、この第１、第２の遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１５の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動終了時刻を変更する。

この第１５の発明の実現手段として、前回の記録信号出力から今回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第２の測定手段と、前記第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第１の遅延手段と、前記第２の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第２の遅延手段と、前記第１の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち上がりから前記第２の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１６の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第１６の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、前回の記録信号出力から今回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第２の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる第１の遅延手段と、第２の測定手段の測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる第２の遅延手段と、この第１、第２の遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１７の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動終了時刻を変更する。

この第１７の発明の実現手段として、前回の記録信号出力から今回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第２の測定手段と、今回の記録信号出力から次回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第３の測定手段と、前記第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第１の遅延手段と、前記第２、第３の測定手段の両測定結果に応じて、今回の記録信号を遅延させる第２の遅延手段と、前記第１の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち上がりから前記第２の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１８の発明では、今回の一つの記録マークの形成に際して、前記光源を時分割で複数回にわたって記録パワーで駆動する。また、その際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最初の駆動開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録領域のあるべき長さに応じて、光源の複数回の駆動のうちの少なくとも最後の駆動終了時刻を変更する。

この第１８の発明の実現手段として、光学情報の記録のための各々一つの記録信号を、複数のパルスからなるパルス列信号に変換するパルス列信号変換手段と、前回の記録信号出力から今回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第１の測定手段と、今回の記録信号の出力期間を測定する第２の測定手段と、今回の記録信号出力から次回の記録信号出力までの間にはさまれた無信号期間を測定する第３の測定手段と、この第１、第２の測定手段の両測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最初のパルスを遅延させる第１の遅延手段と、第２、第３の測定手段の両測定結果に応じて、前記パルス列信号変換手段でえられたパルス列信号に含まれる各パルスのうちの少なくとも最後のパルスを遅延させる第２の遅延手段と、この第１、第２の遅延手段で遅延されたパルスを含むパルス列信号に基づいて、前記光源を記録パワーで駆動する駆動手段とを設ける。

第１９の発明では、変調データの反転間隔Ｔに相当する記録マークを形成するための記録波形を、第１番目のパルスとそれにつづく（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ個（Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）の後続パルスからなる複数のパルス列で構成し、前記変調データの立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔をｘ（０＜ｘ）、前記変調データの立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔をＴｍｉｎ＋ｙ（ｙ＜０．５Ｔｗ）とするとき、最大反転間隔のマークが所望の長さに形成されるように前記ｘを設定し、また、最小反転間隔のマークが所望の長さに形成されるように前記ｙを設定することを特徴とする。

この第１９の発明の実現手段として、周期が検出窓幅のクロックを発生するクロック発生器と、入力データを変調する変調器と、前記変調器の出力から最小反転間隔のパルスを出力するパルス発生回路と、前記パルス発生回路の出力パルスの立ち上がりエッジを遅延させたパルスを出力する第１の遅延回路と、前記第１の遅延回路の出力パルスの立ち下がりエッジを遅延させたパルスを出力する第２の遅延回路と、前記変調器の出力と前記パルス発生回路の出力と前記クロックとを用いて複数パルス列を出力するマルチパルス発生回路と、前記第２の遅延回路の出力と前記マルチパルス発生回路の出力との論理和を出力する論理和回路と、前記論理和回路の出力を用いて光学ヘッドのレーザを駆動するレーザ駆動回路と、そのレーザ駆動回路によって、記録可能な領域を有した光ディスクに信号の記録を行う光学ヘッドとを備える。

第１発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、記録マークの長さによるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正できるので、記録マークの始端部分を正しい位置に形成することが可能になる。

第２発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、記録マークの長さによるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正できるので、記録マークの始端部分を正しい位置に形成することが可能になる。

第３発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークの直前の無記録部分のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、前回の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第４発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、前回の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第５発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび前回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、前回の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第６発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび前回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、前回の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第７発明では、今回の記録マークを形成する際に、この記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。

第８発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異が補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。

第９発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異と、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。

第１０発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異と、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。

第１１発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１２発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異が補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異が補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１３発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正でき、かつ、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１４発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、前回の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正でき、かつ、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１５発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークの形成による今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１６発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークの形成による今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１７発明では、今回の記録マークを形成する際に、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の終了時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークの形成による今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正でき、かつ、次のマークとの間隔によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１８発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークの形成による今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正でき、かつ、次のマークとの間隔によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１９発明では、第１番目のパルスの立ち上がりエッジを遅延させることで最大反転間隔に相当する記録マークを所望の長さに形成でき、第１番目のパルスの立ち下がりエッジを遅延させることで最小反転間隔に相当する記録マークを所望の長さに形成できる。

第１発明では、今回の記録マークを形成する際に、この記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、記録マークの長さによる始端部分での熱履歴の差異を補正でき、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第２発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、今回の記録マークの長さによる始端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。さらに、パルス発光により、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化が軽減される効果もある。

第３発明では、今回の記録マークを形成する際に、この記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第４発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、この記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。さらに、パルス発光により、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化が軽減される効果もある。

第５発明では、今回の記録マークを形成する際に、この記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよびその無記録部分をはさむ状態で位置する一つ前の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成する場合の光照射の開始時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。

第６発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、この記録マークの直前の無記録部分の領域のあるべき長さおよびその無記録部分をはさむ状態で位置する一つ前の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更される。その結果、一つ前の記録マークを形成したときの熱が今回の記録マークの始端部分におよぼす影響を補正できるとともに、今回の記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異も補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端部分を形成することが可能になる。さらに、パルス発光により、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化が軽減される効果もある。

第８発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異が補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。さらに、パルス発光により、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化が軽減される効果もある。

第１０発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異と、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの終端部分を形成することが可能になる。

さらに、パルス発光により、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化が軽減される効果もある。

第１２発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異が補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異が補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１４発明では、レーザ等の光源がパルス発光されるので、今回の記録マークを形成する際に、その記録マークの一つ前の記録マークを形成した際の熱影響が減少されるとともに、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最初のパルスの開始時刻が変更され、かつ、今回の記録マークのあるべき長さおよび今回の記録マークの直後の無記録部分の領域のあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するためのパルス発光における少なくとも最後のパルスの終了時刻が変更される。その結果、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マークの長短によるマーク終端部分での熱蓄積の差異を補正でき、かつ、次の記録マークとの距離によるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正できるので、正しい位置に今回の記録マークの始端および終端部分を形成することが可能になる。

第１９発明では、最大反転間隔と最小反転間隔に相当する記録マークの長さを所望値にすることができる。

（実施例１）
図２の光駆動波形１１６は、本発明の実施例１における光駆動波形である。

光駆動波形１１６は、記録信号１０６に対して、駆動開始時刻が遅延している。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１に示すように、記録マークのあるべき長さと対応して決められる。

たとえば、記録マーク２０１のあるべき長さはＴ２０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、ｄ１（２）だけ遅延し、記録マーク２０２のあるべき長さはＴ２０２＝８Ｔｗであるので、ｄ１（８）だけ遅延する。

記録マーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ１（２）＞ｄ２（３）＞・・・＞ｄ１（８）の関係がある。

その結果、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異が補正でき、記録マーク２０１、２０２の始端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形１１６は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図１は、本発明の実施例１の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図１において１０１はクロック発生回路、１０２はチャネルクロック信号、１０３は記録信号発生回路、１０４は記録信号発生回路１０３から出力される記録信号、１０５はＨレベル期間長測定回路、１０６はＨレベル期間長測定回路１０５を通過後の記録信号、１０７はＨレベル期間測定結果出力、１０８は遅延回路で、メモリ１０９と可変遅延器１１１で構成される。１１２は遅延回路出力、１１３はアンド回路、１１４はその出力、１１５はレーザ駆動回路、１１６は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図２のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路１０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック１０２を出力する。ｄｕｔｙ（デューティ）は可変である。

クロック発生回路１０１からのチャネルクロック信号１０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路１０３から出力された記録信号１０４は、Ｈレベル期間長測定回路１０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路１０５は記録信号１０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号１０６と、測定結果１０７を出力する。測定結果１０７は、記録信号１０６の測定したＨレベルの立ち上がりで出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ２０１の長さは２であり、測定結果１０７はＴ２０１の立ち上がりで２になる。Ｈレベル期間Ｔ２０２の長さは８であり、測定結果１０７はＴ２０２の立ち上がりで８になる。

そして、測定結果１０７は、遅延回路１０８に入力する。

遅延回路１０８内で、測定結果１０７はメモリ１０９に入力され、メモリ１０９からメモリ出力１１０が出力される。ここでメモリ１０９には、表１のように、記録すべきマーク長に対応して値が格納されており、測定結果１０７に対応した格納値が出力される。

可変遅延器１１１はメモリ出力１１０に従って、記録信号１０６を遅延して信号１１２を出力する。

記録信号１０６と信号１１２はＡＮＤ回路１１３に入力し、信号１１４として出力する。

この出力信号１１４は、レーザ駆動回路１１５に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形１１６となり、記録マーク２０１、２０２が形成される。

このように、実施例１においては、記録マーク２０１あるいは２０２を形成するに際して、記録マークの記録すべき長さに応じて、光源の記録パワーでの駆動開始時刻を遅らせるので、記録マークの長短によるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正することができ、記録マークの始端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例２）
図４の光駆動波形３２３は、本発明の実施例２における光駆動波形である。

光駆動波形３２３は、先頭パルスとマルチパルスの複数のパルスからなる。さらに、光駆動波形３２３の先頭パルスの開始時刻は、記録信号３０６に対して、遅延している。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表２に示すように、記録マークのあるべき長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク４０１のあるべき長さはＴ４０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）なので、ｄ２（２）だけ遅延し、記録マーク４０２のあるべき長さはＴ４０２＝８Ｔｗなので、ｄ２（８）だけ遅延する。

記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ２（２）＞ｄ２（３）＞・・・＞ｄ２（８）の関係がある。

その結果、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異が補正でき、記録マーク４０１、４０２の始端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワー再生パワーの間、記録パワーと０の間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図３は、本発明の実施例２の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図３において３０１はクロック発生回路、３０２はチャネルクロック信号、３０３は記録信号発生回路、３０４は記録信号発生回路３０３から出力される記録信号、３０５はＨレベル期間長測定回路、３０６はＨレベル期間長測定回路３０５を通過後の記録信号、３０７はＨレベル期間長測定結果出力、３０８は遅延回路、３０９はメモリ、３１０はメモリ出力、３１１は可変遅延器、３１２はパルス分割回路、３１３は先頭パルス信号、３１４は後半パルス信号、３１５はマルチパルス生成回路で、本例では、反転回路３１６とアンド回路３１７から構成される。３１８はマルチパルス信号、３１９は遅延回路３０８の出力、３２０はオア回路、３２１はその出力信号、３２２はレーザ駆動回路、３２３は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図４のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路３０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのクロック３０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路３０１からのチャネルクロック信号３０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路３０３から出力された記録信号３０４は、Ｈレベル期間長測定回路３０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路３０５は記録信号３０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号３０６と、測定結果３０７を出力する。測定結果３０７は、記録信号３０６の測定したＨレベルの立ち上がりで出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ４０１の長さは２であり、測定結果３０７はＴ４０１の立ち上がりで２になる。Ｈレベル期間Ｔ４０２の長さは８であり、測定結果３０７はＴ４０２の立ち上がりで８になる。

そして、測定結果３０７は、遅延回路３０８に入力する。

遅延回路３０８内で、測定結果３０７はメモリ３０９に入力され、メモリ３０９からメモリ出力３１０が出力される。ここでメモリ３０９には、表２のように、記録マークのあるべき長さに対応して値が格納されており、測定結果３０７に対応した格納値が出力される。

メモリ出力３１０は可変遅延器３１１に入力される。

一方、Ｈレベル期間長測定回路３０５から出力された記録信号３０６は、パルス分割回路３１２に入力され、先頭パルス信号３１３と、後半パルス信号３１４とに分割される。

先頭パルス３１３は記録信号３０６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号である。

後半パルス３１４は記録信号３０６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり、記録信号３０６の立ち下がりで立ち下がる信号である。

先頭パルス信号３１３は遅延器３１１に入力され、遅延されて信号３１９として出力される。

後半パルス信号３１４は、マルチパルス生成回路３１５に入力され、マルチパルス３１８として出力される。

信号３１９とマルチパルス３１８はオア回路３２０で加算され、信号３２１として出力される。

信号３２１はレーザ駆動回路３２２に入力され、光駆動波形３２３となり、記録マーク４０１、４０２が形成される。

このように、実施例２においては、記録マーク４０１、４０２を形成するに際して、光源を複数回にわたってパルス発光するとともに、記録マークのあるべき長さに応じて、複数回のパルス発光のうちの最初のパルス発光の時刻を遅らせるので、記録マークの長短によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、記録マークの始端部分を正しい位置に形成できる。また、パルス状に発光するので、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。
（実施例３）
図６の光駆動波形５１８は、本発明の実施例３における光駆動波形である。

光駆動波形５１８は、記録信号５０８に対して、駆動開始時刻が遅延している。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表３に示すように、今回の記録マークのあるべき長さとその直前の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、マーク６０１のあるべき長さはＴ６０２＝５Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直前の無記録期間はＴ６０１＝２Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ３（２、５）だけ遅延し、マーク６０２のあるべき長さはＴ６０４＝８Ｔｗであり直前の無記録期間はＴ６０３＝６Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ３（６、８）だけ遅延する。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分のあるべき長さが小さいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、始端の伸びが大きくなる。従って、ｄ３（２，Ｎ）＞ｄ３（３，Ｎ）＞・・・＞ｄ３（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）の関係がある。

また、直前の無記録部分のあるべき長さが同じならば、今回の記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ３（Ｎ，２）＞ｄ３（Ｎ，３）＞・・・＞ｄ３（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）の関係がある。

その結果、ひとつ前の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク６０１、６０２の始端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図５は、本発明の実施例３の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図５において５０１はクロック発生回路、５０２はチャネルクロック信号、５０３は記録信号発生回路、５０４は記録信号発生回路５０３から出力される記録信号、５０５はＬレベル期間長測定回路、５０６はその測定結果出力、５０７はＨレベル期間長測定回路、５０８はＨレベル期間長測定回路５０７を通過後の記録信号、５０９はＨレベル期間長測定結果出力、５１０は遅延回路、５１１はメモリ、５１２はメモリ出力、５１３は可変遅延器、５１４は遅延器出力、５１５はアンド回路、５１６はその出力、５１７はレーザ駆動回路、５１８は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図６のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路５０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロッック５０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路５０１からのチャネルクロック信号５０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路５０３から出力された記録信号５０４は、Ｌレベル期間長測定回路５０５と、Ｈレベル期間長測定回路５０７に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路５０５は記録信号５０４のＬレベル期間長を測定し、測定したＬレベルの次のＨレベルの立ち上がりで測定結果５０６を出力する。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ６０１の長さは２であり、Ｔ６０２の立ち上がりで測定結果５０６は２になり、Ｌレベル期間Ｔ６０３の長さは６であり、Ｔ６０４の立ち上がりで測定結果５０６は６になる。

Ｈレベル期間長測定回路５０７は記録信号５０４のＨレベル期間長を測定し、測定した当該Ｈレベルの立ち上がりで測定結果５０９を出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ６０２の長さは５であり、Ｔ６０２の立ち上がりで測定結果５０９は５になり、Ｈレベル期間Ｔ６０４の長さは８であり、Ｔ６０４の立ち上がりで測定結果５０９は８になる。

そして測定結果５０６、５０９は遅延回路５１０に入力される。

遅延回路５１０内で、測定結果５０６、５０９はメモリ５１１に入力され、メモリ５１１からメモリ出力５１２が出力される。ここでメモリ５１１には表３のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果５０６に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果５０９に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

可変遅延器５１３はメモリ出力５１２に従って、記録信号５０８を遅延して信号５１４を出力する。

記録信号５０８と信号５１４はＡＮＤ回路５１５に入力し、信号５１６として出力する。

この出力信号５１６は、レーザ駆動回路５１７に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形５１８となり、記録マーク６０１、６０２が形成される。

このように、実施例３においては、記録マーク６０１あるいは６０２を形成するに際して、直前にあるべき無記録部分の長短と今回の記録マークの記録すべき長さとに応じて、光源の記録パワーでの駆動開始時刻を遅らせる。その結果、ひとつ前の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク６０１、６０２の始端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例４）
図８の光駆動波形７２５は、本発明の実施例４における光駆動波形である。

光駆動波形７２５は、先頭パルスとマルチパルスからなる。さらに、駆動開始時刻は記録信号７０８から遅延している。その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表４に示すように、今回の記録マークのあるべき長さとその直前の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、マーク８０１のあるべき長さはＴ８０２＝５Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直前の無記録期間はＴ８０１＝２Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ４（２、５）だけ遅延し、マーク８０２のあるべき長さはＴ８０４＝８Ｔｗであり直前の無記録期間はＴ８０３＝６Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ４（６、８）だけ遅延する。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分のあるべき長さが小さいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、始端の伸びが大きくなる。従って、ｄ４（２，Ｎ）＞ｄ４（３，Ｎ）＞・・・＞ｄ４（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

また、直前の無記録部分のあるべき長さが同じならば、今回の記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ４（Ｎ，２）＞ｄ４（Ｎ，３）＞・・・＞ｄ４（Ｎ，８）となる傾向がある。

その結果、ひとつ前の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク８０１、８０２の始端部分は、正しい位置に形成される。

図７は、本発明の実施例４の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図７において７０１はクロック発生回路、７０２はチャネルクロック信号、７０３は記録信号発生回路、７０４は記録信号発生回路７０３から出力される記録信号、７０５はＬレベル期間長測定回路、７０６はその測定結果出力、７０７はＨレベル期間長測定回路、７０８はＨレベル期間長測定回路７０７を通過後の記録信号、７０９はＨレベル期間長測定結果出力、７１０は遅延回路ブロック、７１１はメモリ、７１２はメモリ出力、７１３は可変遅延器、７１４はパルス分割回路、７１５は先頭パルス信号、７１６は後半パルス信号、７１７はマルチパルス生成回路で、反転回路７１８とアンド回路７１９で構成される。

７２０はマルチパルス、７２１は遅延器出力、７２２はオア回路、７２３はその出力、７２４はレーザ駆動回路、７２５は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図８のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路７０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック７０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路７０１からのチャネルクロック信号７０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路７０３から出力された記録信号７０４は、Ｌレベル期間長測定回路７０５と、Ｈレベル期間長測定回路７０７に入力する。

Ｈレベル期間長測定回路７０７は、あらためて記録信号７０８を出力する。

Ｌレベル期間長測定回路７０５は記録信号７０４のＬレベル期間長を測定し、測定したＬレベルの次のＨレベルの立ち上がりで測定結果７０６を出力する。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ８０１の長さは２であり、Ｔ８０２の立ち上がりで測定結果７０６は２になり、Ｌレベル期間Ｔ８０３の長さは６であり、Ｔ８０４の立ち上がりで測定結果７０６は６になる。

Ｈレベル期間長測定回路７０７は記録信号７０４のＨレベル期間長を測定し、測定した当該Ｈレベルの立ち上がりで測定結果７０９を出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ８０２の長さは５であり、Ｔ８０２の立ち上がりで測定結果７０９は５になり、Ｈレベル期間Ｔ８０４の長さは８であり、Ｔ８０４の立ち上がりで測定結果７０９は８になる。

そして測定結果７０６、７０９が遅延回路７１０に入力される。

遅延回路７１０内で、測定結果７０６、７０９はメモリ７１１に入力され、メモリ７１１からメモリ出力７１２が出力される。ここでメモリ７１１には表４のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果７０６に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果７０９に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号７０８は、パルス分割回路７１４に入力し、パルス幅がＴｗの先頭パルス７１５と、後半パルス７１６に分割される。

先頭パルス７１５は、可変遅延器７１３によりメモリ出力７１２に従って遅延され、信号７２１となる。

後半パルス信号７１６は、マルチパルス生成回路７１７に入力し、マルチパルス７２０となる。

信号７２１とマルチパルス７２０はＯＲ回路７２２に入力し、信号７２３として出力する。

この出力信号７２３は、レーザ駆動回路７２４に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形７２５となり、記録マーク８０１、８０２が形成される。

このように、実施例４においては、記録マーク８０１あるいは８０２を形成するに際して、先頭パルスとマルチパルスからなる複数のパルス状に記録パワーを駆動し、直前にあるべき無記録部分の長短と今回の記録マークの記録すべき長さとに応じて、先頭パルスの駆動開始時刻を遅らせる。その結果、ひとつ前の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク８０１、８０２の始端部分は、正しい位置に形成される。また、パルス状に駆動することで、媒体に与える熱負荷が軽減され、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例５）
図１０の光駆動波形９２０は、本発明の実施例５における光駆動波形である。

光駆動波形９２０は、記録信号９１０に対して、駆動開始時刻が遅延している。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表５に示すように、前回の記録マークのあるべき長さと、今回のマークの直前の無記録部分のあるべき長さと、今回の記録マークのあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、マーク１００１のあるべき長さはＴ１００３＝５Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直前の無記録期間はＴ１００２＝２Ｔｗであり、前回の記録マークはＴ１００１＝３Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ５（３，２，５）だけ遅延し、マーク１００２のあるべき長さはＴ１００５＝８Ｔｗであり直前の無記録期間はＴ１００４＝６Ｔｗであり、前回の記録マークはＴ１００３＝５Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ５（５，６，８）だけ遅延する。

記録すべきマーク長がおなじで、直前の無記録部分の長さがおなじならば、前回の記録マークが大きいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、始端の伸びが大きくなる。従って、ｄ５（８，Ｎ，Ｍ）＞ｄ５（７，Ｎ，Ｍ）＞・・・＞ｄ５（２，Ｎ，Ｍ）（Ｎ、Ｍは２から８の整数）となる。

また、記録すべきマーク長がおなじで、前回の記録マーク長が同じならば、直前の無記録部分の長さが小さいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、今回のマーク始端の伸びは大きくなる。従って、ｄ５（Ｎ，２，Ｍ）＞ｄ５（Ｎ，３，Ｍ）＞・・・＞ｄ５（Ｎ，８，Ｍ）（Ｎ，Ｍは２から８の整数）となる。

また、前回の記録マーク長がおなじで、直前の無記録部分の長さが同じならば、今回の記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ５（Ｎ，Ｍ，２）＞ｄ５（Ｎ，Ｍ，３）＞・・・＞ｄ５（Ｎ，Ｍ，８）、（Ｎ，Ｍは２から８の整数）となる。

その結果、前回の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、前回の記録マーク長さによる差異と直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク１００１、１００２の始端部分は、正しい位置に形成される。

図９は、本発明の実施例５の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図９において９０１はクロック発生回路、９０２はチャネルクロック信号、９０３は記録信号発生回路、９０４は記録信号発生回路９０３から出力される記録信号、９０５はＨレベル期間長測定回路１、９０６はその測定結果出力、９０７はＬレベル期間長測定回路、９０８はその測定結果出力、９０９はＨレベル期間長測定回路２、９１０はＨレベル期間長測定回路２を通過後の記録信号、９１１はＨレベル期間長測定回路２の測定結果出力、９１２は遅延回路、９１３はメモリ、９１４はメモリ出力、９１５は可変遅延器、９１６はその出力、９１７はアンド回路、９１８はその出力、９１９はレーザ駆動回路、９２０は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図１０のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路９０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック９０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路９０１からのチャネルクロック信号９０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路９０３から出力された記録信号９０４は、Ｈレベル期間長測定回路１（９０５）と、Ｌレベル期間長測定回路９０７と、Ｈレベル期間長測定回路２（９０９）に入力する。

Ｈレベル期間長測定回路１（９０５）は、記録信号９０４のＨレベル期間長を測定し、結果９０６を次のＨレベルの立ち上がりで出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１００１の長さは３であり、次のＨレベル期間Ｔ１００３の立ち上がりで３が出力され、Ｈレベル期間Ｔ１００３の長さは５であり、次のＨレベル期間Ｔ１００５の立ち上がりで５が出力される。

Ｌレベル期間長測定回路９０７は記録信号９０４のＬレベル期間長を測定し、結果９０８を当該Ｌレベルの次にくるＨレベルの立ち上がりで出力する。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ１００２の長さは２であり、次のＨレベル期間Ｔ１００３の立ち上がりで２が出力され、Ｌレベル期間Ｔ１００４の長さは６であり、次のＨレベル期間Ｔ１００５の立ち上がりで６が出力される。

Ｈレベル期間長測定回路２（９０９）は、記録信号９０４のＨレベル期間長を測定し、結果９１１を当該Ｈレベルの立ち上がりで出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１００３の長さは５であり、当該Ｈレベル期間Ｔ１００３の立ち上がりで５が出力され、Ｈレベル期間Ｔ１００５の長さは８であり、当該Ｈレベル期間Ｔ１００５の立ち上がりで８が出力される。

そして測定結果９０６、９０８、９１１が遅延回路９１２に入力される。

遅延回路９１２内で、測定結果９０６、９０８、９１１はメモリ９１３に入力され、メモリ９１３からメモリ出力９１４が出力される。ここでメモリ９１３には表５のように、前回の記録マークのあるべき長さ（測定結果９０６に対応）と、今回の記録マークの直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果９０８に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果９１１に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

可変遅延器９１５はメモリ出力９１４に従って、記録信号９１０を遅延して信号９１６を出力する。

記録信号９１０と信号９１６はＡＮＤ回路９１７に入力し、信号９１８として出力する。

この出力信号９１８は、レーザ駆動回路９１９に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形９２０となり、記録マーク１００１、１００２が形成される。

このように、実施例５においては、記録マーク１００１あるいは１００２を形成するに際して、前回の記録マークのあるべき長さと今回の記録マークの直前にあるべき無記録部分の長短と今回の記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、光源の記録パワーでの駆動開始時刻を遅らせる。その結果、前回の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、前回のマーク長による差異と今回の記録マークの直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正できるので、記録マーク１００１、１００２の始端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例６）
図１２の光駆動波形１１２７は、本発明の実施例６における光駆動波形である。

光駆動波形１１２７は、先頭パルスとマルチパルスからなる。さらに、光駆動波形１１２７は、記録信号１１１０に対して、駆動開始時刻が遅延している。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表６に示すように、前回の記録マークのあるべき長さと、今回のマークの直前の無記録部分のあるべき長さと、今回の記録マークのあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、マーク１２０１のあるべき長さはＴ１２０３＝５Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直前の無記録期間はＴ１２０２＝２Ｔｗであり、前回の記録マークはＴ１２０１＝３Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ６（３，２，５）だけ遅延し、マーク１２０２のあるべき長さはＴ１２０５＝８Ｔｗであり直前の無記録期間はＴ１２０４＝６Ｔｗであり、前回の記録マークはＴ１２０３＝５Ｔｗであるので、光駆動波形はｄ６（５，６，８）だけ遅延する。

記録すべきマーク長がおなじで、直前の無記録部分の長さがおなじならば、前回の記録マークが大きいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、始端の伸びが大きくなる。従って、ｄ６（８，Ｎ，Ｍ）＞ｄ６（７，Ｎ，Ｍ）＞・・・＞ｄ６（２，Ｎ，Ｍ）（Ｎ、Ｍは２から８の整数）となる傾向がある。

また、記録すべきマーク長がおなじで、前回の記録マーク長が同じならば、直前の無記録部分の長さが小さいほど、前回の記録パワーによる熱影響が大きく、マーク始端部分が昇温しやすいので、今回のマーク始端の伸びは大きくなる。従って、ｄ６（Ｎ，２，Ｍ）＞ｄ６（Ｎ，３，Ｍ）＞・・・＞ｄ６（Ｎ，８，Ｍ）（Ｎ，Ｍは２から８の整数）となる傾向がある。

また、前回の記録マーク長がおなじで、直前の無記録部分の長さが同じならば、今回の記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすいので、昇温後急冷して非晶質マークを形成する相変化媒体を用いた場合には、短いマークほど始端の伸びが大きい。従ってｄ６（Ｎ，Ｍ，２）＞ｄ６（Ｎ，Ｍ，３）＞・・・＞ｄ６（Ｎ，Ｍ，８）となる傾向がある。

図１１は、本発明の実施例６の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図１１において１１０１はクロック発生回路、１１０２はチャネルクロック信号、１１０３は記録信号発生回路、１１０４は記録信号発生回路１１０３から出力される記録信号、１１０５はＨレベル期間長測定回路１、１１０６はその測定結果出力、１１０７はＬレベル期間長測定回路、１１０８はその測定結果出力、１１０９はＨレベル期間長測定回路２、１１１０はＨレベル期間長測定回路２を通過後の記録信号、１１１１はＨレベル期間長測定回路２の測定結果出力、１１１２は遅延回路、１１１３はメモリ、１１１４はメモリ出力、１１１５は可変遅延器、１１１６はパルス分割回路、１１１７は先頭パルス信号、１１１８は後半パルス信号、１１１９はマルチパルス生成回路であり、反転回路１１２０とＡＮＤ回路１１２１から構成される。

１１２２はマルチパルス、１１２３は可変遅延器出力、１１２４はＯＲ回路、１１２５はその出力、１１２６はレーザ駆動回路、１１２７は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図１２のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路１１０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック１１０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路１１０１からのチャネルクロック信号１１０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路１１０３から出力された記録信号１１０４は、Ｈレベル期間長測定回路１（１１０５）と、Ｌレベル期間長測定回路１１０７と、Ｈレベル期間長測定回路２（１１０９）に入力する。

Ｈレベル期間長測定回路１（１１０５）は、記録信号１１０４のＨレベル期間長を測定し、結果１１０６を次のＨレベルの立ち上がりで出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１２０１の長さは３であり、次のＨレベル期間Ｔ１２０３の立ち上がりで３が出力され、Ｈレベル期間Ｔ１２０３の長さは５であり、次のＨレベル期間Ｔ１２０５の立ち上がりで５が出力される。

Ｌレベル期間長測定回路１１０７は記録信号１１０４のＬレベル期間長を測定し、結果１１０８を当該Ｌレベルの次にくるＨレベルの立ち上がりで出力する。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ１２０２の長さは２であり、次のＨレベル期間Ｔ１２０３の立ち上がりで２が出力され、Ｌレベル期間Ｔ１２０４の長さは６であり、次のＨレベル期間Ｔ１２０５の立ち上がりで６が出力される。

Ｈレベル期間長測定回路２（１１０９）は、記録信号１１０４のＨレベル期間長を測定し、結果１１１１を当該Ｈレベルの立ち上がりに同期して出力する。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１２０３の長さは５であり、当該Ｈレベル期間Ｔ１２０３の立ち上がりで５が出力され、Ｈレベル期間Ｔ１２０５の長さは８であり、当該Ｈレベル期間Ｔ１２０５の立ち上がりで８が出力される。

そして測定結果１１０６、１１０８、１１１１が遅延回路１１１２に入力される。

遅延回路１１１２内で、測定結果１１０６、１１０８、１１１１はメモリ１１１３に入力され、メモリ１１１３からメモリ出力１１１４が出力される。ここでメモリ１１１３には表６のように、前回の記録マークのあるべき長さ（測定結果１１０６に対応）と、今回の記録マークの直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果１１０８に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果１１１１に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号１１１０は、パルス分割回路１１１６で先頭パルス１１１７と後半パルス１１１８に分割される。

先頭パルスは記録信号１１１０の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、後半パルスは記録信号１１１０の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり、記録信号１１１０の立ち下がりで立ち下がる信号である。

後半パルス１１１８は、マルチパルス生成回路１１１９に入力し、マルチパルス１１２２が出力される。

先頭パルス１１１７は、可変遅延器１１１５でメモリ出力１１１４に従って、遅延され信号１１２３となる。

マルチパルス１１２２と信号１１２３はＯＲ回路１１２４に入力し、信号１１２５として出力する。

この出力信号１１２５は、レーザ駆動回路１１２６に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形１１２７となり、記録マーク１２０１、１２０２が形成される。

このように、実施例６においては、記録マーク１２０１あるいは１２０２を形成するに際して、光源をパルス状に発光し、前回の記録マークのあるべき長さと今回の記録マークの直前にあるべき無記録部分の長短と今回の記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、先頭パルスの駆動開始時刻を遅らせる。その結果、前回の記録マークを形成した記録パワーが今回の記録マークの始端部分におよぼす熱影響の、前回のマーク長による差異と今回の記録マークの直前の無記録部分の長短による差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク始端部分の熱履歴の差異も補正できるので、記録マーク１２０１、１２０２の始端部分は、正しい位置に形成される。また、パルス状に駆動することで媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例７）
図１４の光駆動波形１３１８は、本発明の実施例７における光駆動波形である。

光駆動波形１３１８は、記録信号１３０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準信号１３１４に対して、駆動終了時刻が早くなっている。

その変更量は、（１、７）変調を例にとれば、表７に示すように、記録すべき記録マークの長さと対応して決められる。

たとえば、記録マーク１４０１の記録すべき長さはＴ１４０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、ｄ７（２）だけはやく終了し、記録マーク１４０２の記録すべき長さはＴ１４０２＝８Ｔｗであるので、ｄ７（８）だけ早く終了する。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、ｄ７（８）＞ｄ７（７）＞・・・＞ｄ７（２）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正でき、記録マーク１４０１、１４０２の終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形１３１８は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図１３は、本発明の実施例７の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図１３において１３０１はクロック発生回路、１３０２はクロック信号、１３０３は記録信号発生回路、１３０４は記録信号発生回路１３０３から出力される記録信号、１３０５はＨレベル期間長測定回路、１３０６はＨレベル期間長測定回路１３０５を通過後の記録信号、１３０７はＨレベル期間測定結果出力、１３０８は遅延回路、１３０９はメモリ、１３１０はメモリ出力、１３１１は可変遅延器、１３１２は可変遅延器出力、１３１３は固定遅延器、１３１４はその出力、１３１５はアンド回路、１３１６はその出力、１３１７はレーザ駆動回路、１３１８は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図１４のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路１３０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック１３０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路１３０１からのチャネルクロック信号１３０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路１３０３から出力された記録信号１３０４は、Ｈレベル期間長測定回路１３０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路１３０５は記録信号１３０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号１３０６と、測定結果１３０７を出力する。測定結果１３０７は、記録信号１３０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１４０１の長さは２であり、測定結果１３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１４０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ１４０２の長さは８であり、測定結果１３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１４０２の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果１３０７は、遅延回路１３０８に入力する。

遅延回路１３０８内で、測定結果１３０７はメモリ１３０９に入力され、メモリ１３０９からメモリ出力１３１０が出力される。ここでメモリ１３０９には、表７のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果１３０７に対応）に対応して値が格納されており、測定結果１３０７に対応した格納値が出力される。

可変遅延器１３１１はメモリ出力１３１０に従って、記録信号１３０６を遅延して信号１３１２を出力する。

一方、記録信号１３０６は、遅延量Ｋの固定遅延器１３１３を通って、Ｋだけ遅延した出力１３１４になる。

出力１３１２と出力１３１４はＡＮＤ回路１３１５に入力し、信号１３１６として出力する。

この出力信号１３１６は、レーザ駆動回路１３１７に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形１３１８となり、記録マーク１４０１、１４０２が形成される。

このように、実施例７においては、記録マーク１４０１あるいは１４０２を形成するに際して、記録マークの記録すべき長さに応じて、光源の記録パワーでの駆動を早く終了するので、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正することができ、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例８）
図１６の光駆動波形１５３８は、本発明の実施例８における光駆動波形である。

光駆動波形１５３８は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形１５３８は、記録信号１５０６を固定量Ｋだけ遅延した信号１６００を基準とすると、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

その変更量は、（１、７）変調を例にとれば、表８に示すように、記録すべき記録マークの長さと対応して決められる。

たとえば、記録マーク１６０１の記録すべき長さはＴ１６０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、ｄ８（２）だけはやく終了し、記録マーク１６０２の記録すべき長さはＴ１６０２＝８Ｔｗであるので、ｄ８（８）だけ早く終了する。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、ｄ８（８）＞ｄ８（７）＞・・・＞ｄ８（２）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正でき、記録マーク１６０１、１６０２の終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形１５３８は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図１５は、本発明の実施例８の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図１５において１５０１はクロック発生回路、１５０２はクロック信号、１５０３は記録信号発生回路、１５０４は記録信号発生回路１５０３から出力される記録信号、１５０５はＨレベル期間長測定回路、１５０６はＨレベル期間長測定回路１５０５を通過後の記録信号、１５０７はＨレベル期間測定結果出力、１５０８はパルス分割回路、１５０９は先頭パルス、１５１０は中間パルス、１５１１はラストパルス、１５１２は固定遅延器、１５１３はその出力、１５１４はマルチパルス生成回路、１５１５は反転回路、１５１６はＡＮＤ回路、１５１７は中間マルチパルス、１５１８は固定遅延器、１５１９はその出力、１５２０はマルチパルス生成回路、１５２１は反転回路、１５２２はＡＮＤ回路、１５２３はラストマルチ回路、１５２４はセレクタ、１５２５はその出力、１５２６は遅延回路、１５２７はメモリ、１５２８はメモリ出力、１５２９は可変遅延器、１５３０はその出力、１５３１はＯＲ回路、１５３２はその出力、１５３３はＡＮＤ回路、１５３４はその出力、１５３５はセレクタ、１５３６はその出力、１５３７はレーザ駆動回路、１５３８は光駆動波形、１５３９はゲート発生回路、１５４０はその出力、１５４１はスイッチ、１５４２はセレクト信号である。ここで、セレクタ１５２４、１５３５は、セレクト信号１５４２がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。

はじめに、スイッチ１５４１がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号１５４２がＬレベルのときの動作について、図１６のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路１５０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック１５０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路１５０１からのチャネルクロック信号１５０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路１５０３から出力された記録信号１５０４は、Ｈレベル期間長測定回路１５０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路１５０５は記録信号１５０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号１５０６と、測定結果１５０７を出力する。測定結果１５０７は、記録信号１５０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１６０１の長さは２であり、測定結果１５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１６０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ１６０２の長さは８であり、測定結果１５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１６０２の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果１５０７は、遅延回路１５２６に入力する。遅延回路１５２６内で、測定結果１５０７はメモリ１５２７に入力され、メモリ１５２７からメモリ出力１５２８が出力される。ここでメモリ１５２７には、表８のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果１５０７に対応）に対応して値が格納されており、測定結果１５０７に対応した格納値が出力される。

一方、記録信号１５０６は、パルス分割回路１５０８で、先頭パルス１５０９と中間パルス１５１０とラストパルス１５１１に分割される。本例では、先頭パルス１５０９は記録信号１５０６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス１５１０は記録信号１５０６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号１５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス１５１１は記録信号１５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号１５０６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号１５０６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス１５０９は、遅延量Ｋの固定遅延器１５１２で遅延され、信号１５１３となる。

中間パルス１５１０は、マルチパルス生成回路１５１４に入力し、中間マルチパルス１５１７となり、遅延量Ｋの固定遅延器１５１８で遅延され、信号１５１９となる。

ラストパルス１５１１は、マルチパルス生成回路１５２０でラストマルチパルス１５２３となり、セレクタ１５２４で選択され、信号１５２５となり、可変遅延器１５２９で、メモリ出力１５２８にしたがって遅延され、信号１５３０となる。

信号１５１９と信号１５１３と信号１５３０のＯＲ回路１５３１による出力１５３２がセレクタ１５３５で選択され、レーザ駆動回路１５３７に入力し、光源が駆動され、光駆動波形１５３８となり、記録マーク１６０１、１６０２が形成される。

つぎに、スイッチ１５４１がＯＮのときを、図１７を用いて説明する。

ゲート発生回路１５３９は、測定結果１５０７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号１５４２が、測定結果１５０７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ１５２４、１５３５がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス１５１１が可変遅延器１５２９に入力し、遅延され、信号１５３０となり、さらに、信号１５１３と信号１５３０のＡＮＤ回路１５３３による出力１５３４が、レーザ駆動回路１５３７に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果１５０７が２以外のときは、スイッチ１５４１がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例８においては、記録マーク１６０１あるいは１６０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、記録マークの記録すべき長さに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了するので、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正することができ、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

また、パルス分割回路による、先頭パルス、中間パルス、ラストパルスの分割方法を変えることにより、各種パルスパターンに対応できる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例９）
図１９の光駆動波形１８２０は、本発明の実施例９における光駆動波形である。

光駆動波形１８２０は、記録信号１８０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準となる信号１８１６に対して、駆動終了時刻が早くなっている。

その変更量は、（１、７）変調を例にとれば、表９に示すように、記録すべき記録マークの長さと直後にあるべき無記録部分の長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク１９０１の記録すべき長さはＴ１９０１＝５Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分の長さはＴ１９０２＝６Ｔｗであるので、光駆動波形１８２０はｄ９（５，６）だけはやく終了し、記録マーク１９０２の記録すべき長さはＴ１９０３＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分の長さはＴ１９０４＝２Ｔｗであるので、ｄ９（８，２）だけ早く終了する。

直後の無記録部分の長さがおなじならば、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、ｄ９（８，Ｎ）＞ｄ９（７，Ｎ）＞・・・＞ｄ９（２，Ｎ）となる傾向がある。

また、記録マーク長がおなじならば、直後の無記録部分の長さが小さいほど、マーク終端部分の温度が下がりにくく、終端ののびがおおきくなる。したがって、ｄ９（Ｎ，２）＞ｄ９（Ｎ，３）＞・・・＞ｄ９（Ｎ，８）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異および直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異が補正でき、記録マーク１９０１、１９０２の終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形１８２０は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図１８は、本発明の実施例９の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図１８において１８０１はクロック発生回路、１８０２はクロック信号、１８０３は記録信号発生回路、１８０４は記録信号発生回路１８０３から出力される記録信号、１８０５はＨレベル期間長測定回路、１８０６はＨレベル期間長測定回路１８０５を通過後の記録信号、１８０７はＨレベル期間測定結果出力、１８０８はＬレベル期間長測定回路、１８０９はその測定結果出力、１８１０は遅延回路、１８１１はメモリ、１８１２はメモリ出力、１８１３は可変遅延器、１８１４は可変遅延器出力、１８１５は固定遅延器、１８１６はその出力、１８１７はアンド回路、１８１８はその出力、１８１９はレーザ駆動回路、１８２０は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図１９のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路１８０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック１８０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路１８０１からのチャネルクロック信号１８０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路１８０３から出力された記録信号１８０４は、Ｈレベル期間長測定回路１８０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路１８０５は記録信号１８０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号１８０６と、測定結果１８０７を出力する。測定結果１８０７は、記録信号１８０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ１９０１の長さは５であり、測定結果１８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１９０１の立ち上がりで５となり、Ｈレベル期間Ｔ１９０３の長さは８であり、測定結果１８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ１９０３の立ち上がりで８となる。

また、記録信号１８０４は、Ｌレベル期間長測定回路１８０８に入力される。Ｌレベル期間長測定回路１８０８は記録信号１８０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果１８０９を出力する。測定結果１８０９は、測定したＬレベルの一つ前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ１９０２の長さは６であり、測定結果１８０９は一つ前のＨレベル期間Ｔ１９０１の立ち上がりで６となり、Ｌレベル期間Ｔ１９０４の長さは８であり、測定結果１８０９は一つ前のＨレベル期間Ｔ１９０３の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果１８０７、１８０９は、遅延回路１８１０に入力する。

遅延回路１８１０内で、測定結果１８０７、１８０９はメモリ１８１１に入力され、メモリ１８１１からメモリ出力１８１２が出力される。ここでメモリ１８１１には、表９のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果１８０７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果１８０９に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

可変遅延器１８１３はメモリ出力１８１２に従って、記録信号１８０６を遅延して信号１８１４を出力する。

一方、記録信号１８０６は、遅延量Ｋの固定遅延器１８１５を通って、Ｋだけ遅延した信号１８１６になる。

信号１８１４と信号１８１６はＡＮＤ回路１８１７に入力し、信号１８１８として出力する。

この出力信号１８１８は、レーザ駆動回路１８１９に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形１８２０となり、記録マーク１９０１、１９０２が形成される。

このように、実施例９においては、記録マーク１９０１、１９０２を形成するに際して、記録マークの記録すべき長さと直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに応じて、光源の記録パワーでの駆動を早く終了するので、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正することができ、かつ、直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異を補正できるので、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１０）
図２１の光駆動波形２０３８は、本発明の実施例１０における光駆動波形である。

光駆動波形２０３８は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形２０３８は、記録信号２００６を固定量Ｋだけ遅延した信号２１００を基準とすると、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

その変更量は、（１、７）変調を例にとれば、表１０に示すように、記録すべき記録マークの長さと、直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク２１０１の記録すべき長さはＴ２１０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ２１０２＝４Ｔｗであるので、ｄ１０（２，４）だけはやく終了し、記録マーク２１０２の記録すべき長さはＴ２１０３＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ２１０４＝３Ｔｗであるので、ｄ１０（８，３）だけ早く終了する。

直後の無記録部分のあるべき長さがおなじなら、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、ｄ１０（８，Ｎ）＞ｄ１０（７，Ｎ）＞・・・＞ｄ１０（２，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

また、記録すべきマーク長がおなじなら、直後の無記録部分のあるべき長さが短いほど、マーク終端部分での温度が下がりにくく、終端の伸びが大きい。したがって、ｄ１０（Ｎ，２）＞ｄ１０（Ｎ，３）＞・・・＞ｄ１０（Ｎ、８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正でき、かつ、直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異も補正でき、記録マーク２１０１、２１０２の終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形２０３８は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図２０は、本発明の実施例１０の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図２０において２００１はクロック発生回路、２００２はクロック信号、２００３は記録信号発生回路、２００４は記録信号発生回路２００３から出力される記録信号、２００５はＨレベル期間長測定回路、２００６はＨレベル期間長測定回路２００５を通過後の記録信号、２００７はＨレベル期間測定結果出力、２００８はパルス分割回路、２００９は先頭パルス、２０１０は中間パルス、２０１１はラストパルス、２０１２は固定遅延器、２０１３はその出力、２０１４はマルチパルス生成回路、２０１５は反転回路、２０１６はＡＮＤ回路、２０１７は中間マルチパルス、２０１８は固定遅延器、２０１９はその出力、２０２０はマルチパルス生成回路、２０２１は反転回路、２０２２はＡＮＤ回路、２０２３はラストマルチ回路、２０２４はセレクタ、２０２５はその出力、２０２６は遅延回路、２０２７はメモリ、２０２８はメモリ出力、２０２９は可変遅延器、２０３０はその出力、２０３１はＯＲ回路、２０３２はその出力、２０３３はＡＮＤ回路、２０３４はその出力、２０３５はセレクタ、２０３６はその出力、２０３７はレーザ駆動回路、２０３８は光駆動波形、２０３９はゲート発生回路、２０４０はその出力、２０４１はスイッチ、２０４２はセレクト信号である。ここで、セレクタ２０２４、２０３５は、セレクト信号２０４２がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。２０４３はＬレベル期間長測定回路、２０４４はその測定結果出力である。

はじめに、スイッチ２０４１がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号２０４２がＬレベルのときの動作について、図２１のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路２００１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック２００２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路２００１からのチャネルクロック信号２００２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路２００３から出力された記録信号２００４は、Ｈレベル期間長測定回路２００５とＬレベル期間長測定回路２０４３に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路２００５は記録信号２００４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号２００６と、測定結果２００７を出力する。測定結果２００７は、記録信号２００６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ２１０１の長さは２であり、測定結果２００７は当該Ｈレベル期間Ｔ２１０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ２１０３の長さは８であり、測定結果２００７は当該Ｈレベル期間Ｔ２１０３の立ち上がりで８となる。

Ｌレベル期間長測定回路２０４３は記録信号２００４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果２０４４を出力する。測定結果２０４４は、記録信号２００６の測定したＬレベルの直前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ２１０２の長さは４であり、測定結果２０４４は直前Ｈレベル期間Ｔ２１０１の立ち上がりで４となり、Ｌレベル期間Ｔ２１０４の長さは３であり、測定結果２０４４は直前Ｈレベル期間Ｔ２１０３の立ち上がりで３となる。

そして、測定結果２００７、２０４４は、遅延回路２０２６に入力する。遅延回路２０２６内で、測定結果２００７、２０４４はメモリ２０２７に入力され、メモリ２０２７からメモリ出力２０２８が出力される。ここでメモリ２０２７には、表１０のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２００７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果２０４４に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号２００６は、パルス分割回路２００８で、先頭パルス２００９と中間パルス２０１０とラストパルス２０１１に分割される。本例では、先頭パルス２００９は記録信号２００６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス２０１０は記録信号２００６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号２００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス２０１１は記録信号２００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号２００６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号２００６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス２００９は、遅延量Ｋの固定遅延器２０１２で遅延され、信号２０１３となる。

中間パルス２０１０は、マルチパルス生成回路２０１４に入力し、中間マルチパルス２０１７となり、遅延量Ｋの固定遅延器２０１８で遅延され、信号２０１９となる。

ラストパルス２０１１は、マルチパルス生成回路２０２０でラストマルチパルス２０２３となり、セレクタ２０２４で選択され、信号２０２５となり、可変遅延器２０２９で、メモリ出力２０２８にしたがって遅延され、信号２０３０となる。

信号２０１９と信号２０１３と信号２０３０のＯＲ回路２０３１による出力２０３２がセレクタ２０３５で選択され、レーザ駆動回路２０３７に入力し、光源が駆動され、光駆動波形２０３８となり、記録マーク２１０１、２１０２が形成される。

つぎに、スイッチ２０４１がＯＮのときを、図２２を用いて説明する。

ゲート発生回路２０３９は、測定結果２００７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号２０４２が、測定結果２００７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ２０２４、２０３５がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス２０１１が可変遅延器２０２９に入力し、遅延され、信号２０３０となり、さらに、信号２０１３と信号２０３０のＡＮＤ回路２０３３による出力２０３４が、レーザ駆動回路２０３７に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果２００７が２以外のときは、スイッチ２０４１がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例１０においては、記録マーク２１０１あるいは２１０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、記録マークの記録すべき長さと、直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了するので、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正することができ、かつ、直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異も補正できるので、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１１）
図２４の光駆動波形２３２１は、本発明の実施例１１における光駆動波形である。光駆動波形２３２１は、記録信号２３０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準となる信号２４００に対して、記録パワーでの駆動開始時刻が遅延し、かつ、駆動終了時刻が早くなっている。

駆動開始時刻の遅延量および駆動終了時刻の変更量（どれだけはやく終了するか）は、（１、７）変調を例にとれば、表１１に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク２４０１の記録すべき長さはＴ２４０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、光駆動波形２３２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１１（２）だけ遅延し、終了時刻はＥ１１（２）だけはやく終了する。記録マーク２４０２の記録すべき長さはＴ２４０２＝８Ｔｗであるので、光駆動波形２３２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１１（８）だけ遅延し、終了時刻はＥ１１（８）だけはやく終了する。

記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での昇温後の急冷条件が得やすいので、相変化媒体を用いた場合にはマーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１１（２）＞Ｂ１１（３）＞・・・＞Ｂ１１（８）となる傾向がある。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１１（８）＞Ｅ１１（７）＞・・・＞Ｅ１１（２）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異および記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正でき、記録マーク２４０１、２４０２の始端、終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形２３２１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図２３は、本発明の実施例１１の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図２３において２３０１はクロック発生回路、２３０２はクロック信号、２３０３は記録信号発生回路、２３０４は記録信号発生回路２３０３から出力される記録信号、２３０５はＨレベル期間長測定回路、２３０６はＨレベル期間長測定回路２３０５を通過後の記録信号、２３０７はＨレベル期間測定結果出力、２３０８は第１遅延回路、２３０９は第１メモリ、２３１０は第１メモリ出力、２３１１は第１可変遅延器、２３１２はその出力、２３１３は第２遅延回路、２３１４は第２メモリ、２３１５は第２メモリ出力、２３１６は第２可変遅延器、２３１７はその出力、２３１８はＡＮＤ回路、２３１９はその出力、２３２０はレーザ駆動回路、２３２１は光駆動波形である。

上記構成の動作について、図２４のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路２３０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック２３０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路２３０１からのチャネルクロック信号２３０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路２３０３から出力された記録信号２３０４は、Ｈレベル期間長測定回路２３０５に入力される。Ｈレベル期間長測定回路２３０５は記録信号２３０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号２３０６と、測定結果２３０７を出力する。測定結果２３０７は、記録信号２３０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ２４０１の長さは２であり、測定結果２３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２４０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ２４０２の長さは８であり、測定結果２３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２４０２の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果２３０７は、第１遅延回路２３０８と第２遅延回路２３１３に入力する。

第１遅延回路２３０８内で、測定結果２３０７は第１メモリ２３０９に入力され、第１メモリ２３０９から第１メモリ出力２３１０が出力される。ここでメモリ２３０９には、表１１のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２３０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第１可変遅延器２３１１は第１メモリ出力２３１０に従って、記録信号２３０６を遅延して信号２３１２を出力する。

また、第２遅延回路２３１３内で、測定結果２３０７は第２メモリ２３１４に入力され、第２メモリ２３１４から第２メモリ出力２３１５が出力される。ここで第２メモリ２３１４には、表１１のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２３０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第２可変遅延器２３１６は第２メモリ出力２３１５に従って、記録信号２３０６を遅延して信号２３１７を出力する。

信号２３１２と信号２３１７はＡＮＤ回路２３１８に入力し、信号２３１９として出力する。

この出力信号２３１９は、レーザ駆動回路２３２０に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形２３２１となり、記録マーク２４０１、２４０２が形成される。

このように、実施例１１においては、記録マーク２４０１、２４０２を形成するに際して、記録マークの記録すべき長さに応じて、記録パワーでの駆動開始時刻を遅延して、記録マークの長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正し、かつ、記録パワーでの駆動終了時刻を早く終了して、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正するので、記録マークの始端、終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１２）
図２６の光駆動波形２５４１は、本発明の実施例１２における光駆動波形である。

光駆動波形２５４１は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形２５４１は、記録信号２５０６を固定量Ｋだけ遅延した信号２６００を基準とすると、最初のパルスの駆動開始時刻が遅延しており、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

その遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１２に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク２６０１の記録すべき長さはＴ２６０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、記録開始時刻はＢ１２（２）だけ遅延し、終了時刻はＥ１２（２）だけはやく終了する。記録マーク２６０２の記録すべき長さはＴ２６０２＝８Ｔｗであるので、記録開始時刻はＢ１２（８）だけ遅延し、終了時刻はＥ１２（８）だけはやく終了する。

記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすく、昇温後急冷することでマークを形成する相変化媒体の場合には、マーク始端の伸びが大きい。したがって、Ｂ１２（２）＞Ｂ１２（３）＞・・・＞Ｂ１２（８）となる傾向がある。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１２（８）＞Ｅ１２（７）＞・・・＞Ｅ１２（２）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異も補正できるので、記録マーク２６０１、２６０２の始端部分、終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形２５４１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図２５は、本発明の実施例１２の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図２５において２５０１はクロック発生回路、２５０２はクロック信号、２５０３は記録信号発生回路、２５０４は記録信号発生回路２５０３から出力される記録信号、２５０５はＨレベル期間長測定回路、２５０６はＨレベル期間長測定回路２５０５を通過後の記録信号、２５０７はＨレベル期間測定結果出力、２５０８はパルス分割回路、２５０９は先頭パルス、２５１０は中間パルス、２５１１はラストパルス、２５１２は第１遅延回路、２５１３は第１メモリ、２５１４は第１メモリ出力、２５１５は第１可変遅延器、２５１６はその出力、２５１７は第２遅延回路、２５１８は第２メモリ、２５１９は第２メモリ出力、２５２０は第２可変遅延器、２５２１はその出力、２５２２はマルチパルス生成回路、２５２３は反転回路、２５２４はＡＮＤ回路、２５２５は中間マルチパルス、２５２６は固定遅延器、２５２７はその出力、２５２８はマルチパルス生成回路、２５２９は反転回路、２５３０はＡＮＤ回路、２５３１はラストマルチパルス、２５３２はセレクタ、２５３３はその出力、２５３４はＯＲ回路、２５３５はその出力、２５３６はＡＮＤ回路、２５３７はその出力、２５３８はセレクタ、２５３９はその出力、２５４０はレーザ駆動回路、２５４１は光駆動波形、２５４２はゲート発生回路、２５４３はその出力、２５４４はスイッチ、２５４５はセレクト信号である。ここで、セレクタ２５３２、２５３８は、セレクト信号２５４５がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。

はじめに、スイッチ２５４４がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号２５４５がＬレベルのときの動作について、図２６のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路２５０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック２５０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路２５０１からのチャネルクロック信号２５０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路２５０３から出力された記録信号２５０４は、Ｈレベル期間長測定回路２５０５に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路２５０５は記録信号２５０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号２５０６と、測定結果２５０７を出力する。測定結果２５０７は、記録信号２５０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ２６０１の長さは２であり、測定結果２５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２６０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ２６０２の長さは８であり、測定結果２５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２６０２の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果２５０７は、第１遅延回路２５１２、第２遅延回路２５１７に入力する。

第１遅延回路２５１２内で、測定結果２５０７は第１メモリ２５１３に入力され、第１メモリ２５１３から第１メモリ出力２５１４が出力される。ここで第１メモリ２５１３には、表１２のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２５０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

第２遅延回路２５１７内で、測定結果２５０７は第２メモリ２５１８に入力され、第２メモリ２５１８から第２メモリ出力２５１９が出力される。ここで第２メモリ２５１８には、表１２のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２５０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号２５０６は、パルス分割回路２５０８で、先頭パルス２５０９と中間パルス２５１０とラストパルス２５１１に分割される。本例では、先頭パルス２５０９は記録信号２５０６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス２５１０は記録信号２５０６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号２５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス２５１１は記録信号２５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号２５０６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号２５０６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス２５０９は、第１可変遅延器２５１５で第１メモリ出力２５１４だけ遅延され、信号２５１６となる。

中間パルス２５１０は、マルチパルス生成回路２５２２に入力し、中間マルチパルス２５２５となり、遅延量Ｋの固定遅延器２５２６で遅延され、信号２５２７となる。

ラストパルス２５１１は、マルチパルス生成回路２５２８でラストマルチパルス２５３１となり、セレクタ２５３２で選択され、信号２５３３となり、第２可変遅延器２５２０で、第２メモリ出力２５１９にしたがって遅延され、信号２５２１となる。

信号２５１６と信号２５２７と信号２５２１のＯＲ回路２５３４による出力２５３５がセレクタ２５３８で選択され、レーザ駆動回路２５４０に入力し、光源が駆動され、光駆動波形２５４１となり、記録マーク２６０１、２６０２が形成される。

つぎに、スイッチ２５４４がＯＮのときを、図２７を用いて説明する。

ゲート発生回路２５４２は、測定結果２５０７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号２５４５が、測定結果２５０７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ２５３２、２５３８がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス２５１１が第２可変遅延器２５２０に入力し、遅延され、信号２５２１となり、さらに、信号２５２１と信号２５１６のＡＮＤ回路２５３６による出力２５３７が、レーザ駆動回路２５４０に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果２５０７が２以外のときは、スイッチ２５４４がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例１２においては、記録マーク２６０１あるいは２６０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、記録マークの記録すべき長さに応じて、最初のパルスの駆動開始時刻を遅延して記録マーク長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、マーク終端を正しい位置に形成でき、かつ、記録マークの記録すべき長さに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了して記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正するので、記録マークの終端部分も正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１３）
図２９の光駆動波形２８２１は、本発明の実施例１３における光駆動波形である。光駆動波形２８２１は、記録信号２８０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準となる信号２９００に対して、記録パワーでの駆動開始時刻が遅延し、かつ、駆動終了時刻が早くなっている。

駆動開始時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１３（ａ）に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク２９０１の記録すべき長さはＴ２９０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、光駆動波形２８２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１３（２）だけ遅延し、記録マーク２９０２の記録すべき長さはＴ２９０３＝８Ｔｗであるので、光駆動波形２８２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１３（８）だけ遅延する。

駆動終了時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１３（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直後の無記録部分のあるべき長さとの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク２９０１の記録すべき長さはＴ２９０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ２９０２＝４Ｔｗであるので、光駆動波形２８２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１３（２，４）だけ早く終了し、記録マーク２９０２の記録すべき長さはＴ２９０３＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ２９０４＝３Ｔｗであるので、光駆動波形２８２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１３（８，３）だけ早く終了する。

記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での昇温後の急冷条件が得やすいので、相変化媒体を用いた場合にはマーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１３（２）＞Ｂ１３（３）＞・・・＞Ｂ１３（８）となる傾向がある。

直後の無記録部分の長さがおなじならば、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１３（８，Ｎ）＞Ｅ１３（７，Ｎ）＞・・・＞Ｅ１３（２，Ｎ）となる傾向がある。（Ｎは２から８の整数）
記録すべきマーク長がおなじならば、直後の無記録部分の長さが短いほど、マーク終端部分の温度が下がりにくく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１３（Ｎ，２）＞Ｅ１３（Ｎ，３）＞・・・＞Ｅ１３（Ｎ，８）となる傾向がある。（Ｎは２から８の整数）
その結果、記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異が補正でき、マーク始端部分は正しい位置に形成される。また、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正でき、直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分での熱履歴の差異が補正できるので、マーク終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形２８２１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図２８は、本発明の実施例１３の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図２８において２８０１はクロック発生回路、２８０２はクロック信号、２８０３は記録信号発生回路、２８０４は記録信号発生回路２８０３から出力される記録信号、２８０５はＨレベル期間長測定回路、２８０６はＨレベル期間長測定回路２８０５を通過後の記録信号、２８０７はＨレベル期間測定結果出力、２８０８は第１遅延回路、２８０９は第１メモリ、２８１０は第１メモリ出力、２８１１は第１可変遅延器、２８１２はその出力、２８１３は第２遅延回路、２８１４は第２メモリ、２８１５は第２メモリ出力、２８１６は第２可変遅延器、２８１７はその出力、２８１８はＡＮＤ回路、２８１９はその出力、２８２０はレーザ駆動回路、２８２１は光駆動波形、２８２２はＬレベル期間長測定回路、２８２３はその測定結果出力である。

上記構成の動作について、図２９のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路２８０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック２８０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路２８０１からのチャネルクロック信号２８０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路２８０３から出力された記録信号２８０４は、Ｈレベル期間長測定回路２８０５とＬレベル期間長測定回路２８２２に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路２８０５は記録信号２８０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号２８０６と、測定結果２８０７を出力する。測定結果２８０７は、記録信号２８０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ２９０１の長さは２であり、測定結果２８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２９０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ２９０３の長さは８であり、測定結果２８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ２９０３の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果２８０７は、第１遅延回路２８０８と第２遅延回路２８１３に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路２８２２は記録信号２８０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果２８２３を出力する。測定結果２８２３は、記録信号２８０６の測定したＬレベルの直前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ２９０２の長さは４であり、測定結果２８２３は当該Ｌレベル期間の直前のＨレベル期間Ｔ２９０１の立ち上がりで４となり、Ｌレベル期間Ｔ２９０４の長さは３であり、測定結果２８２３は、直前Ｈレベル期間Ｔ２９０３の立ち上がりで３となる。

そして、測定結果２８２３は、第２遅延回路２８１３に入力する。

第１遅延回路２８０８内で、測定結果２８０７は第１メモリ２８０９に入力され、第１メモリ２８０９から第１メモリ出力２８１０が出力される。ここでメモリ２８０９には、表１３（ａ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２８０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第１可変遅延器２８１１は第１メモリ出力２８１０に従って、記録信号２８０６を遅延して信号２８１２を出力する。

また、第２遅延回路２８１３内で、測定結果２８０７、２８２３は第２メモリ２８１４に入力され、第２メモリ２８１４から第２メモリ出力２８１５が出力される。ここで第２メモリ２８１４には、表１３（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果２８０７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果２８２３に対応）との組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第２可変遅延器２８１６は第２メモリ出力２８１５に従って、記録信号２８０６を遅延して信号２８１７を出力する。

信号２８１２と信号２８１７はＡＮＤ回路２８１８に入力し、信号２８１９として出力する。

この出力信号２８１９は、レーザ駆動回路２８２０に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形２８２１となり、記録マーク２９０１、２９０２が形成される。

このように、実施例１３においては、記録マーク２９０１、２９０２を形成するに際して、記録マークの記録すべき長さに応じて、記録パワーでの駆動開始時刻を遅延して、記録マークの長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、記録マークの始端を正しい位置に形成できる。かつ、記録マークの記録すべき長さと直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに応じて、記録パワーでの駆動終了時刻を早く終了して、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正し、直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異を補正するので、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１４）
図３１の光駆動波形３０４１は、本発明の実施例１４における光駆動波形である。

光駆動波形３０４１は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形３０４１は、記録信号３００６を固定量Ｋだけ遅延した信号３１００を基準とすると、最初のパルスの駆動開始時刻が遅延しており、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

最初のパルスの駆動開始遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１４（ａ）に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３１０１の記録すべき長さはＴ３１０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、記録開始時刻はＢ１４（２）だけ遅延し、記録マーク３１０２の記録すべき長さはＴ３１０３＝８Ｔｗであるので、記録開始時刻はＢ１４（８）だけ遅延する。

最後のパルスの駆動終了遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１４（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３１０１の記録すべき長さはＴ３１０１＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ３１０２＝４Ｔｗであるので、終了時刻はＥ１４（２，４）だけ早くなり、記録マーク３１０２の記録すべき長さはＴ３１０３＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ３１０４＝３Ｔｗであるので、終了時刻はＥ１４（８、３）だけ早くる。

記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすく、昇温後急冷することでマークを形成する相変化媒体の場合には、マーク始端の伸びが大きい。したがって、Ｂ１４（２）＞Ｂ１４（３）＞・・・＞Ｂ１４（８）となる傾向がある。

直後の無記録部分の長さがおなじならば、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１４（８，Ｎ）＞Ｅ１４（７，Ｎ）＞・・・＞Ｅ１４（２，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

記録すべきマーク長がおなじならば、直後の無記録部分の長さが短いほど、マーク終端部分での温度がさがりにくく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１４（Ｎ，２）＞Ｅ１４（Ｎ，３）＞・・・＞Ｅ１４（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

その結果、記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異も補正でき、かつ直後の無記録部分の長短によるマーク終端部分での熱履歴も補正できるので、記録マーク３１０１、３１０２の始端部分、終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形３０４１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図３０は、本発明の実施例１４の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図３０において３００１はクロック発生回路、３００２はクロック信号、３００３は記録信号発生回路、３００４は記録信号発生回路３００３から出力される記録信号、３００５はＨレベル期間長測定回路、３００６はＨレベル期間長測定回路３００５を通過後の記録信号、３００７はＨレベル期間測定結果出力、３００８はパルス分割回路、３００９は先頭パルス、３０１０は中間パルス、３０１１はラストパルス、３０１２は第１遅延回路、３０１３は第１メモリ、３０１４は第１メモリ出力、３０１５は第１可変遅延器、３０１６はその出力、３０１７は第２遅延回路、３０１８は第２メモリ、３０１９は第２メモリ出力、３０２０は第２可変遅延器、３０２１はその出力、３０２２はマルチパルス生成回路、３０２３は反転回路、３０２４はＡＮＤ回路、３０２５は中間マルチパルス、３０２６は固定遅延器、３０２７はその出力、３０２８はマルチパルス生成回路、３０２９は反転回路、３０３０はＡＮＤ回路、３０３１はラストマルチパルス、３０３２はセレクタ、３０３３はその出力、３０３４はＯＲ回路、３０３５はその出力、３０３６はＡＮＤ回路、３０３７はその出力、３０３８はセレクタ、３０３９はその出力、３０４０はレーザ駆動回路、３０４１は光駆動波形、３０４２はゲート発生回路、３０４３はその出力、３０４４はスイッチ、３０４５はセレクト信号である。ここで、セレクタ３０３２、３０３８は、セレクト信号３０４５がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。さらに、３０４６はＬレベル期間長検出回路、３０４７はその測定結果出力である。

はじめに、スイッチ３０４４がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号３０４５がＬレベルのときの動作について、図３１のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路３００１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック３００２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路３００１からのチャネルクロック信号３００２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路３００３から出力された記録信号３００４は、Ｈレベル期間長測定回路３００５とＬレベル期間長測定回路３０４６に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路３００５は記録信号３００４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号３００６と、測定結果３００７を出力する。測定結果３００７は、記録信号３００６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ３１０１の長さは２であり、測定結果３００７は当該Ｈレベル期間Ｔ３１０１の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ３１０３の長さは８であり、測定結果３００７は当該Ｈレベル期間Ｔ３１０３の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果３００７は、第１遅延回路３０１２、第２遅延回路３０１７に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路３０４６は記録信号３００４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果３０４７を出力する。測定結果３０４７は、記録信号３００６の測定したＬレベルの直前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ３１０２の長さは４であり、測定結果３０４７は当該Ｌレベルの直前Ｈレベル期間Ｔ３１０１の立ち上がりで４となり、Ｌレベル期間Ｔ３１０４の長さは３であり、測定結果３０４７は直前のＨレベル期間Ｔ３１０３の立ち上がりで３となる。

そして、測定結果３０４７は、第２遅延回路３０１７に入力する。

第１遅延回路３０１２内で、測定結果３００７は第１メモリ３０１３に入力され、第１メモリ３０１３から第１メモリ出力３０１４が出力される。ここで第１メモリ３０１３には、表１４（ａ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３００７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

第２遅延回路３０１７内で、測定結果３００７、３０４７は第２メモリ３０１８に入力され、第２メモリ３０１８から第２メモリ出力３０１９が出力される。ここで第２メモリ３０１８には、表１４（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３００７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果３０４７に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号３００６は、パルス分割回路３００８で、先頭パルス３００９と中間パルス３０１０とラストパルス３０１１に分割される。本例では、先頭パルス３００９は記録信号３００６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス３０１０は記録信号３００６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号３００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス３０１１は記録信号３００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号３００６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号３００６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス３００９は、第１可変遅延器３０１５で第１メモリ出力３０１４だけ遅延され、信号３０１６となる。

中間パルス３０１０は、マルチパルス生成回路３０２２に入力し、中間マルチパルス３０２５となり、遅延量Ｋの固定遅延器３０２６で遅延され、信号３０２７となる。

ラストパルス３０１１は、マルチパルス生成回路３０２８でラストマルチパルス３０３１となり、セレクタ３０３２で選択され、信号３０３３となり、第２可変遅延器３０２０で、第２メモリ出力３０１９にしたがって遅延され、信号３０２１となる。

信号３０１６と信号３０２７と信号３０２１のＯＲ回路３０３４による出力３０３５がセレクタ３０３８で選択され、レーザ駆動回路３０４０に入力し、光源が駆動され、光駆動波形３０４１となり、記録マーク３１０１、３１０２が形成される。

つぎに、スイッチ３０４４がＯＮのときを、図３２を用いて説明する。

ゲート発生回路３０４２は、測定結果３００７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号３０４５が、測定結果３００７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ３０３２、３０３８がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス３０１１が第２可変遅延器３０２０に入力し、遅延され、信号３０２１となり、さらに、信号３０２１と信号３０１６のＡＮＤ回路３０３６による出力３０３７が、レーザ駆動回路３０４０に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果３００７が２以外のときは、スイッチ３０４４がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例１４においては、記録マーク３１０１あるいは３１０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、記録マークの記録すべき長さに応じて、最初のパルスの駆動開始時刻を遅延して記録マーク長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、マーク終端を正しい位置に形成でき、かつ、記録マークの記録すべき長さと直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了して、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異と直後の無記録部分の長さによるマーク終端部分の熱履歴の差異を補正するので、記録マークの終端部分も正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１５）
図３４の光駆動波形３３２１は、本発明の実施例１５における光駆動波形である。光駆動波形３３２１は、記録信号３３０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準となる信号３４００に対して、記録パワーでの駆動開始時刻が遅延し、かつ、駆動終了時刻が早くなっている。

駆動開始時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１５（ａ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直前の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３４０１の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３４０１＝３Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３４０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、光駆動波形３３２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１５（３，２）だけ遅延し、記録マーク３４０２の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３４０３＝４Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３４０４＝８Ｔｗであるので、光駆動波形３３２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１５（４，８）だけ遅延する。

駆動終了時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１５（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３４０１の記録すべき長さはＴ３４０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、光駆動波形３３２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１５（２）だけ早く終了し、記録マーク３４０２の記録すべき長さはＴ３４０４＝８Ｔｗであるので、光駆動波形３３２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１５（８）だけ早く終了する。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分のあるべき長さが短いほど、前回の記録パワーの今回のマーク始端部分に及ぼす熱影響が大きく、マーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１５（２，Ｎ）＞Ｂ１５（３，Ｎ）＞・・・＞Ｂ１５（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

直前の無記録部分のあるべき長さがおなじならば、記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での昇温後の急冷条件が得やすいので、相変化媒体を用いた場合にはマーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１５（Ｎ，２）＞Ｂ１５（Ｎ，３）＞・・・＞Ｂ１５（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１５（８）＞Ｅ１５（７）＞・・・＞Ｅ１５（２）となる傾向がある。

その結果、直前の無記録部分の長短によるマーク始端部分での前回の記録パワーの熱影響の差異と記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異が補正でき、マーク始端部分は正しい位置に形成される。また、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異が補正できるので、マーク終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形３３２１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図３３は、本発明の実施例１５の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図３３において３３０１はクロック発生回路、３３０２はクロック信号、３３０３は記録信号発生回路、３３０４は記録信号発生回路３３０３から出力される記録信号、３３０５はＨレベル期間長測定回路、３３０６はＨレベル期間長測定回路３３０５を通過後の記録信号、３３０７はＨレベル期間測定結果出力、３３０８は第１遅延回路、３３０９は第１メモリ、３３１０は第１メモリ出力、３３１１は第１可変遅延器、３３１２はその出力、３３１３は第２遅延回路、３３１４は第２メモリ、３３１５は第２メモリ出力、３３１６は第２可変遅延器、３３１７はその出力、３３１８はＡＮＤ回路、３３１９はその出力、３３２０はレーザ駆動回路、３３２１は光駆動波形、３３２２はＬレベル期間長測定回路、３３２３はその測定結果出力である。

上記構成の動作について、図３４のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路３３０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック３３０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路３３０１からのチャネルクロック信号３３０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路３３０３から出力された記録信号３３０４は、Ｈレベル期間長測定回路３３０５とＬレベル期間長測定回路３３２２に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路３３０５は記録信号３３０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号３３０６と、測定結果３３０７を出力する。測定結果３３０７は、記録信号３３０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ３４０２の長さは２であり、測定結果３３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３４０２の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ３４０４の長さは８であり、測定結果３３０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３４０４の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果３３０７は、第１遅延回路３３０８と第２遅延回路３３１３に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路３３２２は記録信号３３０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果３３２３を出力する。測定結果３３２３は、記録信号３３０６の測定したＬレベルの直後のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ３４０１の長さは３であり、測定結果３３２３は当該Ｌレベル期間の直後のＨレベル期間Ｔ３４０２の立ち上がりで３となり、Ｌレベル期間Ｔ３４０３の長さは４であり、測定結果３３２３は、直後Ｈレベル期間Ｔ３４０４の立ち上がりで４となる。

そして、測定結果３３２３は、第１遅延回路３３０８に入力する。

第１遅延回路３３０８内で、測定結果３３０７、３３２３は第１メモリ３３０９に入力され、第１メモリ３３０９から第１メモリ出力３３１０が出力される。ここでメモリ３３０９には、表１５（ａ）のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果３３２３に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３３０７に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第１可変遅延器３３１１は第１メモリ出力３３１０に従って、記録信号３３０６を遅延して信号３３１２を出力する。

また、第２遅延回路３３１３内で、測定結果３３０７は第２メモリ３３１４に入力され、第２メモリ３３１４から第２メモリ出力３３１５が出力される。ここで第２メモリ３３１４には、表１５（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３３０７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第２可変遅延器３３１６は第２メモリ出力３３１５に従って、記録信号３３０６を遅延して信号３３１７を出力する。

信号３３１２と信号３３１７はＡＮＤ回路３３１８に入力し、信号３３１９として出力する。

この出力信号３３１９は、レーザ駆動回路３３２０に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形３３２１となり、記録マーク３４０１、３４０２が形成される。

このように、実施例１５においては、記録マーク３４０１、３４０２を形成するに際して、直前の無記録部分のあるべき長さと今回の記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、記録パワーでの駆動開始時刻を遅延して、直前の無記録部分の長さによるマーク始端部分での熱影響の差異と今回の記録マークの長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、記録マークの始端を正しい位置に形成できる。かつ、記録マークの記録すべき長さに応じて、記録パワーでの駆動終了時刻を早く終了して、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正するので、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１６）
図３６の光駆動波形３５４１は、本発明の実施例１６における光駆動波形である。

光駆動波形３５４１は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形３５４１は、記録信号３５０６を固定量Ｋだけ遅延した信号３６００を基準とすると、最初のパルスの駆動開始時刻が遅延しており、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

最初のパルスの駆動開始遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１６（ａ）に示すように、直前の無記録部分のあるべき長さと記録すべき記録マークの長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３６０１の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３６０１＝２Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３６０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、記録開始時刻はＢ１６（２，２）だけ遅延し、記録マーク３６０２の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３６０３＝４Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３６０４＝８Ｔｗであるので、記録開始時刻はＢ１６（４，８）だけ遅延する。

最後のパルスの駆動終了遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１６（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３６０１の記録すべき長さはＴ３６０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、終了時刻はＥ１６（２）だけ早くなり、記録マーク３６０２の記録すべき長さはＴ３６０４＝８Ｔｗであるので、終了時刻はＥ１６（８）だけ早くる。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分の長さが短いほど、前回の記録パワーが今回の記録マークの始端部分に及ぼす熱影響が大きく、マーク始端の伸びは大きくなる。したがって、Ｂ１６（２，Ｎ）＞Ｂ１６（３，Ｎ）＞・・・＞Ｂ１６（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

直前の無記録部分の長さがおなじならば、記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすく、昇温後急冷することでマークを形成する相変化媒体の場合には、マーク始端の伸びが大きい。したがって、Ｂ１６（Ｎ，２）＞Ｂ１４（Ｎ，３）＞・・・＞Ｂ１４（Ｎ，８）となる傾向がある。

記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１６（８）＞Ｅ１６（７）＞・・・＞Ｅ１６（２）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

その結果、直前の無記録部分の長短によるマーク始端部分の熱影響の差異と記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異も補正できるので、記録マーク３６０１、３６０２の始端部分、終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形３５４１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図３５は、本発明の実施例１６の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図３５において３５０１はクロック発生回路、３５０２はクロック信号、３５０３は記録信号発生回路、３５０４は記録信号発生回路３５０３から出力される記録信号、３５０５はＨレベル期間長測定回路、３５０６はＨレベル期間長測定回路３５０５を通過後の記録信号、３５０７はＨレベル期間測定結果出力、３５０８はパルス分割回路、３５０９は先頭パルス、３５１０は中間パルス、３５１１はラストパルス、３５１２は第１遅延回路、３５１３は第１メモリ、３５１４は第１メモリ出力、３５１５は第１可変遅延器、３５１６はその出力、３５１７は第２遅延回路、３５１８は第２メモリ、３５１９は第２メモリ出力、３５２０は第２可変遅延器、３５２１はその出力、３５２２はマルチパルス生成回路、３５２３は反転回路、３５２４はＡＮＤ回路、３５２５は中間マルチパルス、３５２６は固定遅延器、３５２７はその出力、３５２８はマルチパルス生成回路、３５２９は反転回路、３５３０はＡＮＤ回路、３５３１はラストマルチパルス、３５３２はセレクタ、３５３３はその出力、３５３４はＯＲ回路、３５３５はその出力、３５３６はＡＮＤ回路、３５３７はその出力、３５３８はセレクタ、３５３９はその出力、３５４０はレーザ駆動回路、３５４１は光駆動波形、３５４２はゲート発生回路、３５４３はその出力、３５４４はスイッチ、３５４５はセレクト信号である。ここで、セレクタ３５３２、３５３８は、セレクト信号３５４５がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。さらに、３５４６はＬレベル期間長検出回路、３５４７はその測定結果出力である。

はじめに、スイッチ３５４４がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号３５４５がＬレベルのときの動作について、図３６のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路３５０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック３５０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路３５０１からのチャネルクロック信号３５０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路３５０３から出力された記録信号３５０４は、Ｈレベル期間長測定回路３５０５とＬレベル期間長測定回路３５４６に入力される。

Ｈレベル期間長測定回路３５０５は記録信号３５０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号３５０６と、測定結果３５０７を出力する。測定結果３５０７は、記録信号３５０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ３６０２の長さは２であり、測定結果３５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３６０２の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ３６０４の長さは８であり、測定結果３５０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３６０４の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果３５０７は、第１遅延回路３５１２、第２遅延回路３５１７に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路３５４６は記録信号３５０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果３５４７を出力する。測定結果３５４７は、記録信号３５０６の測定したＬレベルの直後のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ３６０１の長さは２であり、測定結果３５４７は当該Ｌレベルの直後Ｈレベル期間Ｔ３６０２の立ち上がりで２となり、Ｌレベル期間Ｔ３６０３の長さは４であり、測定結果３５４７は直後のＨレベル期間Ｔ３６０４の立ち上がりで４となる。

そして、測定結果３５４７は、第１遅延回路３５１２に入力する。

第１遅延回路３５１２内で、測定結果３５０７、３５４７は第１メモリ３５１３に入力され、第１メモリ３５１３から第１メモリ出力３５１４が出力される。ここで第１メモリ３５１３には、表１６（ａ）のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果３５４７に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３５０７に対応）との組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

第２遅延回路３５１７内で、測定結果３５０７は第２メモリ３５１８に入力され、第２メモリ３５１８から第２メモリ出力３５１９が出力される。ここで第２メモリ３５１８には、表１６（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３００７に対応）に対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号３５０６は、パルス分割回路３５０８で、先頭パルス３５０９と中間パルス３５１０とラストパルス３５１１に分割される。本例では、先頭パルス３５０９は記録信号３５０６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス３５１０は記録信号３５０６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号３５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス３５１１は記録信号３５０６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号３５０６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号３５０６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス３５０９は、第１可変遅延器３５１５で第１メモリ出力３５１４だけ遅延され、信号３５１６となる。

中間パルス３５１０は、マルチパルス生成回路３５２２に入力し、中間マルチパルス３５２５となり、遅延量Ｋの固定遅延器３５２６で遅延され、信号３５２７となる。

ラストパルス３５１１は、マルチパルス生成回路３５２８でラストマルチパルス３５３１となり、セレクタ３５３２で選択され、信号３５３３となり、第２可変遅延器３５２０で、第２メモリ出力３５１９にしたがって遅延され、信号３５２１となる。

信号３５１６と信号３５２７と信号３５２１のＯＲ回路３５３４による出力３５３５がセレクタ３５３８で選択され、レーザ駆動回路３５４０に入力し、光源が駆動され、光駆動波形３５４１となり、記録マーク３６０１、３６０２が形成される。

つぎに、スイッチ３５４４がＯＮのときを、図３７を用いて説明する。

ゲート発生回路３５４２は、測定結果３５０７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号３５４５が、測定結果３５０７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ３５３２、３５３８がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス３５１１が第２可変遅延器３５２０に入力し、遅延され、信号３５２１となり、さらに、信号３５２１と信号３５１６のＡＮＤ回路３５３６による出力３５３７が、レーザ駆動回路３５４０に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果３５０７が２以外のときは、スイッチ３５４４がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例１６においては、記録マーク３６０１あるいは３６０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、直前の無記録部分のあるべき長さと記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、最初のパルスの駆動開始時刻を遅延して、直前の無記録部分の長短による前回の記録パワーの熱影響の差異と記録マーク長さによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、マーク終端を正しい位置に形成でき、かつ、記録マークの記録すべき長さに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了して、記録マークの長さによるマーク終端部分の熱蓄積の差異を補正するので、記録マークの終端部分も正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１７）
図３９の光駆動波形３８２１は、本発明の実施例１７における光駆動波形である。光駆動波形３８２１は、記録信号３８０６を固定量Ｋだけ遅延した、基準となる信号３９００に対して、記録パワーでの駆動開始時刻が遅延し、かつ、駆動終了時刻が早くなっている。

駆動開始時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１７（ａ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直前の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３９０１の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３９０１＝２Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３９０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、光駆動波形３８２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１７（２，２）だけ遅延し、記録マーク３９０２の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ３９０３＝４Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ３９０４＝８Ｔｗであるので、光駆動波形３８２１の記録パワーの駆動開始時刻はＢ１７（４，８）だけ遅延する。

駆動終了時刻の遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１７（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直後の無記録部分のあるべき長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク３９０１の記録すべき長さはＴ３９０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ３９０３＝４Ｔｗであるので、光駆動波形３８２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１７（２，４）だけ早く終了し、記録マーク３９０２の記録すべき長さはＴ３９０４＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ３９０５＝３Ｔｗであるので、光駆動波形３８２１の記録パワーの駆動終了時刻はＥ１７（８，３）だけ早く終了する。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分のあるべき長さが短いほど、前回の記録パワーの今回のマーク始端部分に及ぼす熱影響が大きく、マーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１７（２，Ｎ）＞Ｂ１７（３，Ｎ）＞・・・＞Ｂ１７（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

直前の無記録部分のあるべき長さがおなじならば、記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での昇温後の急冷条件が得やすいので、相変化媒体を用いた場合にはマーク始端の伸びが大きくなる。したがって、Ｂ１７（Ｎ，２）＞Ｂ１７（Ｎ，３）＞・・・＞Ｂ１７（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

直後の無記録部分のあるべき長さがおなじならば、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１７（８，Ｎ）＞Ｅ１７（７，Ｎ）＞・・・＞Ｅ１７（２，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

記録すべきマーク長がおなじならば、直後の無記録部分のあるべき長さが短いほど、マーク終端部分の温度が下がりにくく、終端ののびが大きい。したがって、
Ｅ１７（Ｎ，２）＞Ｅ１７（Ｎ，３）＞・・・＞Ｅ１７（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

その結果、直前の無記録部分の長短によるマーク始端部分での前回の記録パワーの熱影響の差異と、記録マーク長によるマーク始端部分での熱履歴の差異が補正でき、マーク始端部分は正しい位置に形成される。また、記録マーク長によるマーク終端部分の熱蓄積の差異と直後の無記録部分の長短によるマーク終端部分での熱履歴の差異が補正できるので、マーク終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形３８２１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図３８は、本発明の実施例１７の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図３８において３８０１はクロック発生回路、３８０２はクロック信号、３８０３は記録信号発生回路、３８０４は記録信号発生回路３８０３から出力される記録信号、３８０５はＨレベル期間長測定回路、３８０６はＨレベル期間長測定回路３８０５を通過後の記録信号、３８０７はＨレベル期間測定結果出力、３８０８は第１遅延回路、３８０９は第１メモリ、３８１０は第１メモリ出力、３８１１は第１可変遅延器、３８１２はその出力、３８１３は第２遅延回路、３８１４は第２メモリ、３８１５は第２メモリ出力、３８１６は第２可変遅延器、３８１７はその出力、３８１８はＡＮＤ回路、３８１９はその出力、３８２０はレーザ駆動回路、３８２１は光駆動波形、３８２２はＬレベル期間長測定回路１、３８２３はその測定結果出力、３８２４はＬレベル期間長測定回路２、３８２５はその測定結果出力である。

上記構成の動作について、図３９のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路３８０１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック３８０２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路３８０１からのチャネルクロック信号３８０２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路３８０３から出力された記録信号３８０４は、Ｈレベル期間長測定回路３８０５とＬレベル期間長測定回路１（３８２２）とＬレベル期間長測定回路２（３８２４）に入力される。

Ｌレベル期間長測定回路１（３８２２）は記録信号３８０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果３８２３を出力する。測定結果３８２３は、記録信号３８０６の測定したＬレベルの直後のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ３９０１の長さは２であり、測定結果３８２３は当該Ｌレベル期間の直後のＨレベル期間Ｔ３９０２の立ち上がりで２となり、Ｌレベル期間Ｔ３９０３の長さは４であり、測定結果３８２３は、直後Ｈレベル期間Ｔ３９０４の立ち上がりで４となる。

そして、測定結果３８２３は、第１遅延回路３８０８に入力する。

Ｈレベル期間長測定回路３８０５は記録信号３８０４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号３８０６と、測定結果３８０７を出力する。測定結果３８０７は、記録信号３８０６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ３９０２の長さは２であり、測定結果３８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３９０２の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ３９０４の長さは８であり、測定結果３８０７は当該Ｈレベル期間Ｔ３９０４の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果３８０７は、第１遅延回路３８０８と第２遅延回路３８１３に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路２（３８２４）は記録信号３８０４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果３８２５を出力する。測定結果３８２５は、記録信号３８０６の測定したＬレベルの直前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ３９０３の長さは４であり、測定結果３８２５は当該Ｌレベル期間の直前のＨレベル期間Ｔ３９０２の立ち上がりで４となり、Ｌレベル期間Ｔ３９０５の長さは３であり、測定結果３８２５は、直後Ｈレベル期間Ｔ３９０４の立ち上がりで３となる。

そして、測定結果３８２５は、第２遅延回路３８１３に入力する。

第１遅延回路３８０８内で、測定結果３８０７、３８２３は第１メモリ３８０９に入力され、第１メモリ３８０９から第１メモリ出力３８１０が出力される。ここで第１メモリ３８０９には、表１７（ａ）のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果３８２３に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３８０７に対応）の組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第１可変遅延器３８１１は第１メモリ出力３８１０に従って、記録信号３８０６を遅延して信号３８１２を出力する。

また、第２遅延回路３８１３内で、測定結果３８０７、３８２５は第２メモリ３８１４に入力され、第２メモリ３８１４から第２メモリ出力３８１５が出力される。ここで第２メモリ３８１４には、表１７（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果３８０７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果３８２５に対応）との組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。第２可変遅延器３８１６は第２メモリ出力３８１５に従って、記録信号３８０６を遅延して信号３８１７を出力する。

信号３８１２と信号３８１７はＡＮＤ回路３８１８に入力し、信号３８１９として出力する。

この出力信号３８１９は、レーザ駆動回路３８２０に入力されて、光源が駆動され、光駆動波形３８２１となり、記録マーク３９０１、３９０２が形成される。

このように、実施例１７においては、記録マーク３９０１、３９０２を形成するに際して、直前の無記録部分のあるべき長さと今回の記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、記録パワーでの駆動開始時刻を遅延して、直前の無記録部分の長さの違いによるマーク始端部分での熱影響の差異と今回の記録マークの長さの違いによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、記録マークの始端を正しい位置に形成できる。かつ、記録マークの記録すべき長さと直後の無記録部分のあるべき長さとの組み合わせに応じて、記録パワーでの駆動終了時刻を早く終了して、記録マークの長さの違いによるマーク終端部分の熱蓄積の差異と、直後の無記録部分の長さの違いによるマーク終端部分での熱履歴の差異とを補正するので、記録マークの終端部分を正しい位置に形成することができる。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１８）
図４１の光駆動波形４０４１は、本発明の実施例１８における光駆動波形である。

光駆動波形４０４１は、複数のパルスから構成されている。さらに、光駆動波形４０４１は、記録信号４００６を固定量Ｋだけ遅延した信号４１００を基準とすると、最初のパルスの駆動開始時刻が遅延しており、最後のパルスの駆動終了時刻が早くなっている。

最初のパルスの駆動開始遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１８（ａ）に示すように、直前の無記録部分のあるべき長さと記録すべき記録マークの長さの組み合わせに対応して決められる。

たとえば、記録マーク４１０１の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ４１０１＝２Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ４１０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であるので、記録開始時刻はＢ１８（２，２）だけ遅延し、記録マーク４１０２の直前の無記録部分のあるべき長さはＴ４１０３＝４Ｔｗであり、記録すべき長さはＴ４１０４＝８Ｔｗであるので、記録開始時刻はＢ１８（４，８）だけ遅延する。

最後のパルスの駆動終了遅延量は、（１、７）変調を例にとれば、表１８（ｂ）に示すように、記録すべき記録マークの長さと直後の無記録部分のあるべき長さに対応して決められる。

たとえば、記録マーク４１０１の記録すべき長さはＴ４１０２＝２Ｔｗ（Ｔｗは検出窓幅）であり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ４１０３＝４Ｔｗであるので、終了時刻はＥ１８（２，４）だけ早くなり、記録マーク４１０２の記録すべき長さはＴ４１０４＝８Ｔｗであり、直後の無記録部分のあるべき長さはＴ４１０５＝３Ｔｗであるので、終了時刻はＥ１８（８，３）だけ早くなる。

記録すべきマーク長がおなじならば、直前の無記録部分の長さが短いほど、前回の記録パワーが今回の記録マークの始端部分に及ぼす熱影響が大きく、マーク始端の伸びは大きくなる。したがって、Ｂ１８（２，Ｎ）＞Ｂ１８（３，Ｎ）＞・・・＞Ｂ１８（８，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

直前の無記録部分の長さがおなじならば、記録すべきマーク長が短いほど、マーク始端部分での急冷条件が得られやすく、昇温後急冷することでマークを形成する相変化媒体の場合には、マーク始端の伸びが大きい。したがって、Ｂ１８（Ｎ，２）＞Ｂ１８（Ｎ，３）＞・・・＞Ｂ１８（Ｎ，８）となる傾向がある。

直後の無記録部分の長さがおなじなら、記録すべきマーク長が長いほど、マーク終端部分での熱蓄積の影響が大きく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１８（８，Ｎ）＞Ｅ１８（７，Ｎ）＞・・・＞Ｅ１８（２，Ｎ）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

記録すべきマーク長がおなじならば、直後の無記録部分の長さが短いほど、マーク終端部分の温度が下がりにくく、終端の伸びが大きい。したがって、Ｅ１８（Ｎ，２）＞Ｅ１８（Ｎ，３）＞・・・＞Ｅ１８（Ｎ，８）（Ｎは２から８の整数）となる傾向がある。

その結果、直前の無記録部分の長さの違いによるマーク始端部分の熱影響の差異と記録マーク長の違いによるマーク始端部分での熱履歴の差異を補正でき、かつ、記録マーク長の違いによるマーク終端部分の熱蓄積の差異と直後の無記録部分の長さの違いによるマーク終端部分での熱履歴の差異も補正できるので、記録マーク４１０１、４１０２の始端部分、終端部分は、正しい位置に形成される。

なお、ここでは光駆動波形４０４１は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、または、記録パワーと０との間など、記録媒体にあわせて駆動すればよい。

図４０は、本発明の実施例１８の光駆動波形がえられる光ディスク装置の記録系のブロック図である。

図４０において４００１はクロック発生回路、４００２はクロック信号、４００３は記録信号発生回路、４００４は記録信号発生回路４００３から出力される記録信号、４００５はＨレベル期間長測定回路、４００６はＨレベル期間長測定回路４００５を通過後の記録信号、４００７はＨレベル期間測定結果出力、４００８はパルス分割回路、４００９は先頭パルス、４０１０は中間パルス、４０１１はラストパルス、４０１２は第１遅延回路、４０１３は第１メモリ、４０１４は第１メモリ出力、４０１５は第１可変遅延器、４０１６はその出力、４０１７は第２遅延回路、４０１８は第２メモリ、４０１９は第２メモリ出力、４０２０は第２可変遅延器、４０２１はその出力、４０２２はマルチパルス生成回路、４０２３は反転回路、４０２４はＡＮＤ回路、４０２５は中間マルチパルス、４０２６は固定遅延器、４０２７はその出力、４０２８はマルチパルス生成回路、４０２９は反転回路、４０３０はＡＮＤ回路、４０３１はラストマルチパルス、４０３２はセレクタ、４０３３はその出力、４０３４はＯＲ回路、４０３５はその出力、４０３６はＡＮＤ回路、４０３７はその出力、４０３８はセレクタ、４０３９はその出力、４０４０はレーザ駆動回路、４０４１は光駆動波形、４０４２はゲート発生回路、４０４３はその出力、４０４４はスイッチ、４０４５はセレクト信号である。ここで、セレクタ４０３２、４０３８は、セレクト信号４０４５がＬレベルのときはＸ入力を選択して出力し、ＨレベルのときはＹ入力を選択して出力する。さらに、４０４６はＬレベル期間長測定回路１、４０４７はその測定結果出力、４０４８はＬレベル期間長測定回路２、４０４９はその測定結果出力である。

はじめに、スイッチ４０４４がＯＦＦ、すなわち、セレクト信号４０４５がＬレベルのときの動作について、図４１のタイミングチャートを参照して説明する。

クロック発生回路４００１は、周期が検出窓幅Ｔｗのチャネルクロック４００２を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

クロック発生回路４００１からのチャネルクロック信号４００２の立ち上がりに同期して、記録信号発生回路４００３から出力された記録信号４００４は、Ｈレベル期間長測定回路４００５とＬレベル期間長測定回路１（４０４６）とＬレベル期間長測定回路２（４０４８）に入力される。

Ｌレベル期間長測定回路１（４０４６）は記録信号４００４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果４０４７を出力する。測定結果４０４７は、記録信号４００６の測定したＬレベルの直後のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ４１０１の長さは２であり、測定結果３４０７は当該Ｌレベルの直後のＨレベル期間Ｔ４１０２の立ち上がりで２となり、Ｌレベル期間Ｔ４１０３の長さは４であり、測定結果４０４７は直後のＨレベル期間Ｔ４１０４の立ち上がりで４となる。

そして、測定結果４０４７は、第１遅延回路４０１２に入力する。

Ｈレベル期間長測定回路４００５は記録信号４００４のＨレベル期間の長さを測定し、あらためて記録信号４００６と、測定結果４００７を出力する。測定結果４００７は、記録信号４００６の測定したＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｈレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｈレベル期間Ｔ４１０２の長さは２であり、測定結果４００７は当該Ｈレベル期間Ｔ４１０２の立ち上がりで２となり、Ｈレベル期間Ｔ４１０４の長さは８であり、測定結果４００７は当該Ｈレベル期間Ｔ４１０４の立ち上がりで８となる。

そして、測定結果４００７は、第１遅延回路４０１２、第２遅延回路４０１７に入力する。

Ｌレベル期間長測定回路２（４０４８）は記録信号４００４のＬレベル期間の長さを測定し、測定結果４０４９を出力する。測定結果４０４９は、記録信号４００６の測定したＬレベルの直前のＨレベルの立ち上がりに同期して出力される。すなわち、Ｌレベル期間の長さをチャネルクロックの個数であらわすことにすれば、Ｌレベル期間Ｔ４１０３の長さは４であり、測定結果４０４９は当該Ｌレベルの直前のＨレベル期間Ｔ４１０２の立ち上がりで４となり、Ｌレベル期間Ｔ４１０５の長さは３であり、測定結果４０４９は直前のＨレベル期間Ｔ４１０４の立ち上がりで３となる。

そして、測定結果４０４９は、第２遅延回路４０１７に入力する。

第１遅延回路４０１２内で、測定結果４００７、４０４７は第１メモリ４０１３に入力され、第１メモリ４０１３から第１メモリ出力４０１４が出力される。ここで第１メモリ４０１３には、表１８（ａ）のように、直前の無記録部分のあるべき長さ（測定結果４０４７に対応）と今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果４００７に対応）との組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

第２遅延回路４０１７内で、測定結果４００７、４０４９は第２メモリ４０１８に入力され、第２メモリ４０１８から第２メモリ出力４０１９が出力される。ここで第２メモリ４０１８には、表１８（ｂ）のように、今回の記録マークのあるべき長さ（測定結果４００７に対応）と直後の無記録部分のあるべき長さ（測定結果４０４９に対応）との組み合わせに対応して値が格納されており、対応した格納値が出力される。

一方、記録信号４００６は、パルス分割回路４００８で、先頭パルス４００９と中間パルス４０１０とラストパルス４０１１に分割される。本例では、先頭パルス４００９は記録信号４００６の立ち上がりで立ち上がり、Ｔｗ後に立ち下がる信号であり、中間パルス４０１０は記録信号４００６の立ち上がりからＴｗ後に立ち上がり記録信号４００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち下がる信号であり、ラストパルス４０１１は記録信号４００６の立ち下がりのＴｗ前に立ち上がり、記録信号４００６の立ち下がりで立ち下がる信号である。記録信号４００６のＨレベル期間が２Ｔｗのときは中間パルスは発生しない。

先頭パルス４００９は、第１可変遅延器４０１５で第１メモリ出力４０１４だけ遅延され、信号４０１６となる。

中間パルス４０１０は、マルチパルス生成回路４０２２に入力し、中間マルチパルス４０２５となり、遅延量Ｋの固定遅延器４０２６で遅延され、信号４０２７となる。

ラストパルス４０１１は、マルチパルス生成回路４０２８でラストマルチパルス４０３１となり、セレクタ４０３２で選択され、信号４０３３となり、第２可変遅延器４０２０で、第２メモリ出力４０１９にしたがって遅延され、信号４０２１となる。

信号４０１６と信号４０２７と信号４０２１のＯＲ回路４０３４による出力４０３５がセレクタ４０３８で選択され、レーザ駆動回路４０４０に入力し、光源が駆動され、光駆動波形４０４１となり、記録マーク４１０１、４１０２が形成される。

つぎに、スイッチ４０４４がＯＮのときを、図４２を用いて説明する。

ゲート発生回路４０４２は、測定結果４００７が２のときのみＨレベルを出力する。よって、セレクト信号４０４５が、測定結果４００７が２のときに、Ｈレベルになり、セレクタ４０３２、４０３８がＹ入力を選択して出力する。そのため、ラストパルス４０１１が第２可変遅延器４０２０に入力し、遅延され、信号４０２１となり、さらに、信号４０２１と信号４０１６のＡＮＤ回路４０３６による出力４０３７が、レーザ駆動回路４０４０に導かれる。したがって、記録すべきマークが２Ｔｗのときに、Ｔｗ以下のパルス幅が作成でき、より小さいマークまで対応できる。

測定結果４００７が２以外のときは、スイッチ４０４４がＯＦＦのときと同じである。

このように、実施例１８においては、記録マーク４１０１あるいは４１０２を形成するに際して、複数のパルスで駆動し、直前の無記録部分のあるべき長さと記録マークの記録すべき長さの組み合わせに応じて、最初のパルスの駆動開始時刻を遅延して、直前の無記録部分の長さの違いによる前回の記録パワーの熱影響の差異と記録マークの長さの違いによるマーク始端部分の熱履歴の差異を補正するので、マーク始端を正しい位置に形成でき、かつ、記録マークの記録すべき長さに応じて、最後のパルスの駆動を早く終了して、記録マークの長さの違いによるマーク終端部分の熱蓄積の差異と直後の無記録部分の長さの違いによるマーク終端部分での熱履歴の差異を補正するので、記録マークの終端部分も正しい位置に形成することができる。また、複数のパルス状に駆動することにより、媒体に与える熱負荷を軽減でき、繰り返し記録による劣化を軽減する効果もある。

なお、ここでは光駆動波形は記録パワーと消去パワーの間で駆動しているが、記録パワーと再生パワーの間、記録パワーと０との間等、記録媒体にあわせて駆動すればよい。
（実施例１９）
図４３は本発明の第１９の実施例における光学情報の記録方法の記録波形を示すものである。（４３ａ）は最大反転間隔（以降Ｔｍａｘと表す）の変調データであり、（４３ｂ）は変調データ（４３ａ）に相当する記録マークを形成するための記録波形であり、（４３ｃ）は形成される記録マークである。

（４３ｄ）は最小反転間隔（以降Ｔｍｉｎと表す）の変調データであり、（４３ｅ）は変調データ（４３ｄ）に相当する記録マークを形成するための記録波形であり、（４３ｆ）は形成される記録マークである。

記録波形（４３ｂ）は、第１番目のパルスとそれに続く（Ｔｍａｘ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ個（Ｔｗは検出窓幅。以降Ｔｗで表す）の後続パルスから構成されており、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と前記第１番目のパルスの立ち上がり（Ｅ２）との間隔はｘ（０＜ｘ）であり、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と前記第１番目のパルスの立ち下がり（Ｅ３）との間隔はＴｍｉｎ＋ｙ（ｙ＜０．５Ｔｗ）であり、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と第１番目の後続パルスの立ち上がり（Ｅ４）との間隔はＴｍｉｎ＋０．５Ｔｗ−ｚ（０≦ｚ＜０．５Ｔｗ）であり、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と第１番目の後続パルスの立ち下がり（Ｅ５）との間隔はＴｍｉｎ＋Ｔｗであり、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と第ｎ番目の後続パルスの立ち上がり（ｎは整数、１≦ｎ≦（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ）との間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ（０≦ｚ＜０．５Ｔｗ）であり、変調データ（４３ａ）の立ち上がり（Ｅ１）と第ｎ番目（ｎは整数、１≦ｎ≦（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ）の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗである。

従って、第１番目のパルスの立ち下がり（Ｅ３）と最初の後続パルスの立ち上がり（Ｅ４）との間隔Ｔ１は、０．５Ｔｗ−ｚ−ｙであり、後続パルス間の間隔Ｔ２は、０．５Ｔｗ−ｚであるので、ｙ≠０のときに、Ｔ１≠Ｔ２という状態をとりうる。

ここで、ｘの設定により、記録マーク（４３ｃ）の伸び量ｄ１を補正できるので、Ｔｍａｘに相当する長さの記録マークが正しく記録できる。

なお、ｘの設定のさいには、ｙ＝０の状態で設定すればよい。

記録波形（４３ｅ）は、第１番目のパルスのみで構成されており、変調データ（４３ｄ）の立ち上がり（Ｅ６）と前記第１番目のパルスの立ち上がり（Ｅ７）との間隔は最大反転間隔のマークを正しく記録するよう設定したｘ（０＜ｘ）であり、変調データ（４３ｄ）の立ち上がり（Ｅ６）と前記第１番目のパルスの立ち下がり（Ｅ８）との間隔はＴｍｉｎ＋ｙ（ｙ＜０．５Ｔｗ）である。

ここで、記録マーク（４３ｆ）がＴｍｉｎに相当する長さになるようにｙを設定することができる。

以上のように、記録波形（４３ｂ）により形成される記録マークの長さが最大反転間隔Ｔｍａｘに相当する長さになるようにｘを設定することができ、記録波形（４３ｅ）により形成される記録マークの長さが最小反転間隔Ｔｍｉｎに相当する長さになるようにｙを設定することができるので、所望のマーク長を得ることができる。

なお、記録波形（４３ｂ）（４３ｅ）において、ピークパワーとバイアスパワーとの間でパワー変調しているが、ライトワンス媒体や光磁気媒体に記録する時はピークパワーを記録パワーにし、バイアスパワーを再生パワーに設定すれば良いし、相変化媒体に記録するときはピークパワーを記録パワーにし、バイアスパワーを消去パワーに設定すれば良い。

（図４４）は、第１９の実施例における光学情報の記録方法を（１、７）変調に応用したときの記録波形を示したものである。

ここで、Ｔｍａｘ＝８Ｔｗ、Ｔｍｉｎ＝２Ｔｗ、ｘ＝Ｔｗ、ｙ＝０．２５Ｔｗ、ｚ＝０とした。

（４４ａ）は最大反転間隔８Ｔｗの変調データであり、（４４ｂ）は変調データ（４４ａ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｃ）は７Ｔｗの変調データであり、（４４ｄ）は変調データ（４４ｃ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｅ）は６Ｔｗの変調データであり、（４４ｆ）は変調データ（４４ｅ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｇ）は５Ｔｗの変調データであり、（４４ｈ）は変調データ（４４ｇ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｉ）は４Ｔｗの変調データであり、（４４ｊ）は変調データ（４４ｉ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｋ）は３Ｔｗの変調データであり、（４４ｌ）は変調データ（４４ｋ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

（４４ｍ）は最小反転間隔２Ｔｗの変調データであり、（４４ｎ）は変調データ（４４ｍ）に相当する記録マークを形成するための記録波形である。

記録波形（４４ｂ）は、第１番目のパルスとそれに続く（８Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝６個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ａ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ａ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ａ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ａ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｄ）は、第１番目のパルスとそれに続く（７Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝５個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ｃ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｃ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ｃ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ｃ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｆ）は、第１番目のパルスとそれに続く（６Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝４個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ｅ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｅ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ｅ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ｅ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｈ）は、第１番目のパルスとそれに続く（５Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝３個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ｇ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｇ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ｇ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ｇ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｊ）は、第１番目のパルスとそれに続く（４Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝２個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ｉ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｉ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ｉ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ｉ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｌ）は、第１番目のパルスとそれに続く（３Ｔｗ−２Ｔｗ）／Ｔｗ＝１個の後続パルスから構成されており、変調データ（４４ｋ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｋ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗであり、変調データ（４４ｋ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ＝（１．５＋ｎ）Ｔｗであり、変調データ（４４ｋ）の立ち上がりと第ｎ番目の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ＝（２＋ｎ）Ｔｗである。

記録波形（４４ｎ）は、第１番目のパルスのみで構成されており、変調データ（４４ｍ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ＝Ｔｗであり、変調データ（４４ｍ）の立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ＝２．２５Ｔｗである。

また、以上の記録は計において、第１番目のパルスの立ち下がりと最初の後続パルスの立ち上がりとの間隔は、０．２５Ｔｗであり、後続パルス間の間隔は、０．５Ｔｗであり、両者は異なる。

実際に、書換可能な相変化光ディスクに図４４の記録方法で記録したときの、変調データ反転間隔にたいする形成された記録マークの長さを測定した結果を、従来方法と比較して、図４５に示した。

用いたディスクの記録膜はＧｅＴｅＳｂ系材料で、膜厚は２５０オングストロームとした。また記録膜の上下にＺｎＳ−ＳｉＯ２混合層が設けてある。基板はあらかじめトラックの形成してある５インチのポリカーボネイト基板を使用した。このディスクを回転させ、線速度６ｍ／ｓにおいて、レーザ波長８３０ｎｍ、対物レンズＮＡ０．５のヘッドを用いて、最短マーク長０．８μｍ（２Ｔｗ、Ｔｗ＝６７ｎｓ）で記録を行った。記録パワーは１５．６ｍＷ、消去パワーは８ｍＷである。

図４５において、白丸は従来の記録方法による結果であり、変調データでの反転間隔よりも長い記録マークが形成されてしまう。これに対して、黒丸は本発明の実施例である図４４の記録波形を用いた結果であり、変調データでの反転間隔とほぼ等しい長さの記録マークが形成された。即ち所望の長さの記録マークが得られた。

以上のように本実施例によれば、反転間隔Ｔに相当する記録マークを形成するための記録波形を、第１番目のパルスとそれに続く（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ個（Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）の後続パルスから成る複数のパルス列で構成し、変調データの立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち上がりとの間隔はｘ（０＜ｘ）であり、変調データの立ち上がりと前記第１番目のパルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｙ（Ｔｍｉｎは最小反転間隔、ｙ＜０．５Ｔｗ、Ｔｗは検出窓幅）であり、変調データの立ち上がりと第ｎ番目（ｎは整数、１≦ｎ≦（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ、Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）の後続パルスの立ち上がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ−０．５Ｔｗ−ｚ（０≦ｚ＜０．５Ｔｗ、Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）であり、変調データの立ち上がりと第ｎ番目（ｎは整数、１≦ｎ≦（Ｔ−Ｔｍｉｎ）／Ｔｗ、Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）の後続パルスの立ち下がりとの間隔はＴｍｉｎ＋ｎＴｗ（Ｔｍｉｎは最小反転間隔、Ｔｗは検出窓幅）であり、最大反転間隔のマークが所望の長さに形成されるようにｘを設定し、最小反転間隔のマークが所望の長さに形成されるようにｙを設定して構成することにより、所望の長さのマークを得ることができる。

図４６は本発明の第１９の実施例における記録波形が得られる光学情報の記録装置のブロック図を示すものである。図４６において、４６００は周期が検出窓幅に等しいクロックを発生するクロック発生器、４６０１は入力データを変調する変調器、４６０２は前記変調器４６０１の出力から最小反転間隔のパルスを出力するパルス発生回路、４６０３は前記パルス発生回路４６０２の出力パルスの立ち上がりエッジを遅延させたパルスを出力する第１遅延回路、４６０４は前記第１遅延回路４６０３の出力パルスの立ち下がりエッジを遅延させたパルスを出力する第２遅延回路、４６０５は前記クロックと前記変調器４６０１の出力と前記パルス発生回路４６０２の出力を用いて複数パルス列を出力するマルチパルス発生回路、４６０６は前記第２の遅延回路４６０４の出力と前記マルチパルス発生回路４６０５の出力との論理和を出力する論理和回路、４６０７は前記論理和回路４６０６の出力を用いて光学ヘッドのレーザを駆動するレーザ駆動回路、４６０８は光学ヘッド、４６０９は光ディスクである。

以上のように構成された光学情報の記録装置について、図４７を用いてその動作を説明する。

クロック発生器４６００は、周期が検出窓幅Ｔｗのクロック（４７ｂ）を出力する。ｄｕｔｙは可変である。

変調器４６０１は、前記クロック（４７ｂ）を入力して、前記クロックに同期した変調データ（４７ａ）を出力する。

パルス発生回路４６０２は、前記変調データ（４７ａ）を入力して、前記変調データ（４７ａ）の立ち上がりから最小反転間隔Ｔｍｉｎのパルス幅を有するパルス（４７ｃ）を出力する。

第１遅延回路４６０３は、前記パルス（４７ｃ）を入力して、前記パルス（４７ｃ）の立ち上がりエッジをｘだけ遅延させた第１遅延パルス（４７ｄ）を出力する。

第２遅延回路４６０４は、前記第１遅延パルス（４７ｄ）を入力して、前記第１遅延パルス（４７ｄ）の立ち下がりエッジをｙだけ遅延させた第２遅延パルス（４７ｅ）を出力する。

マルチパルス発生回路４６０５は、前記変調データ（４７ａ）と前記パルス（４７ｃ）と前記クロック（４７ｂ）とを入力して、前記パルス（４７ｃ）の立ち下がりから前記変調データ（４７ａ）の立ち下がりまでの期間で前記クロック（４７ｂ）と逆位相の信号を出力するようなマルチパルス（４７ｆ）を出力する。

論理和回路４６０６は、前記第２遅延パルス（４７ｅ）と前記マルチパルス（４７ｆ）を入力して、駆動信号（４７ｇ）を出力する。

レーザ駆動回路４６０８は、前記駆動信号（４７ｇ）に従って光学ヘッド８のレーザを光駆動波形（４７ｈ）のように駆動し、光ディスク４６０９に記録マークを形成する。

光駆動波形（４７ｈ）において、ピークパワーとバイアスパワーとの間でパワー変調しているが、ライトワンス媒体や光磁気媒体に記録する時はピークパワーを記録パワーにし、バイアスパワーを再生パワーに設定すれば良いし、相変化媒体に記録するときはピークパワーを記録パワーにし、バイアスパワーを消去パワーに設定すれば良い。

この構成により、第１遅延パルス（４７ｄ）の遅延量ｘにより最大反転間隔に相当する記録マークの長さを所望値にすることができ、かつ前記第２遅延パルス（４７ｅ）の遅延量ｙにより最小反転間隔に相当する記録マークの長さを所望値にすることができる。

本発明の実施例１に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図１の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例２に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図３の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例３に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例４に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図７の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例５に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図９の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例６に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図１１の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例７に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図１３の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例８に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図１５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図１５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例９に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図１８の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１０に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図２０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図２０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１１に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図２３の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１２に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図２５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図２５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１３に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図２８の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１４に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図３０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図３０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１５に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図３３の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１６に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図３５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図３５の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１７に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図３８の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１８に係る光ディスク装置の記録系のブロック図である。図４０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。図４０の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。本発明の実施例１９における記録波形図である。本発明の実施例１９における（１、７）変調での記録波形図である。本発明の実施例１９における変調データにたいする記録マークの長さを示した図である。本発明の実施例１９に係る光ディスク装置のブロック図である。図４６の装置の動作説明に供するタイミングチャートである。従来の記録方法での記録波形図。

符号の説明

４００１クロック発生回路
４００３記録信号発生回路
４００５Ｈレベル期間長測定回路
４００８パルス分割回路
４０１２第１遅延回路
４０１７第２遅延回路
４０２２マルチパルス生成回路
４０２８マルチパルス生成回路
４０３４ＯＲ回路
４０３６ＡＮＤ回路
４０４０レーザ駆動回路
４０４１光駆動波形

Claims

レーザ光源からの光照射によって、記録媒体上に記録マークを形成することにより、光学情報を記録する方法であって、
今回の一つの記録マークの形成に際して、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動の開始時刻を変更し、かつ、今回の記録マークのあるべき長さに応じて、今回の記録マークを形成するための前記光源の記録パワーでの駆動の終了時刻を変更することを特徴とする光学情報の記録方法。
記録信号を発生する記録信号発生手段と、
今回の記録マークを形成するための記録信号の出力期間を測定する第１の測定手段と、
前記第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録マークの記録のための記録信号を遅延させる第１の遅延手段と、
前記第１の測定手段の測定結果に応じて、今回の記録マークの記録のための記録信号を遅延させる第２の遅延手段と、
前記第１の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち上がりから、前記第２の遅延手段による遅延後の記録信号の立ち下がりまで光源を記録パワーで駆動する駆動手段と、
を備えることを特徴とする光学情報の記録装置。